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JP2017183643A - Electronic device package, manufacturing method therefor and electronic device package tape - Google Patents

Electronic device package, manufacturing method therefor and electronic device package tape Download PDF

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JP2017183643A
JP2017183643A JP2016072254A JP2016072254A JP2017183643A JP 2017183643 A JP2017183643 A JP 2017183643A JP 2016072254 A JP2016072254 A JP 2016072254A JP 2016072254 A JP2016072254 A JP 2016072254A JP 2017183643 A JP2017183643 A JP 2017183643A
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二朗 杉山
Jiro Sugiyama
二朗 杉山
真沙美 青山
Masami Aoyama
真沙美 青山
透 佐野
Toru Sano
透 佐野
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Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic device package, a manufacturing method therefor and an electronic device package tape, capable of suppressing the peel of an adhesive layer and a metal layer by external force, and the deterioration of heat dissipation and reliability.SOLUTION: The electronic device package includes: a substrate; an electronic device which is connected to the substrate in such a manner that a first surface faces the substrate; an adhesive layer provided on a second surface of the electronic device on the opposite side to the first surface; and a metal layer adhered to the second surface of the electronic device through the adhesive layer. The electronic device package satisfies the following: the plane size of the metal layer≤the plane size of the adhesive layer<the plane size of the second surface of the electronic device.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、電子デバイスパッケージ、電子デバイスパッケージの製造方法、および電子デバイスパッケージ用テープに関し、特に、電子デバイスの裏面に金属層を有する電子デバイスパッケージ、該電子デバイスパッケージの製造方法、および該電子デバイスパッケージに用いる電子デバイスパッケージ用テープに関する。   The present invention relates to an electronic device package, an electronic device package manufacturing method, and an electronic device package tape, and more particularly, an electronic device package having a metal layer on the back surface of the electronic device, the electronic device package manufacturing method, and the electronic device. The present invention relates to a tape for an electronic device package used for a package.

近年、携帯電話やノートPCなどの電子機器は、更なる薄型化・小型化が求められている。そこで、電子機器に搭載する半導体パッケージ等の電子デバイスパッケージを薄型化・小型化するために、電子デバイスや回路基板の電極数を増加させ、さらにピッチも狭くさせている。このような電子デバイスパッケージには、例えば、フリップチップ(FC;Flip Chip)実装パッケージがある。   In recent years, electronic devices such as mobile phones and notebook PCs are required to be thinner and smaller. Therefore, in order to reduce the thickness and size of electronic device packages such as semiconductor packages mounted on electronic devices, the number of electrodes of electronic devices and circuit boards is increased, and the pitch is also narrowed. An example of such an electronic device package is a flip chip (FC) mounting package.

フリップチップ実装パッケージにおいては、上述のように、電極の数が増加したり狭ピッチ化したりしているため、発熱量の増加が問題となっている。そこで、フリップチップ実装パッケージの放熱構造として、電子デバイスの裏面に接着剤層を介して金属層を設けることが提案されている(例えば、特許文献1参照)。そして、特許文献1では、電子デバイスの平面の大きさと金属層および接着剤層の平面の大きさとが同じ電子デバイスパッケージが開示されている。   In the flip chip mounting package, as described above, since the number of electrodes is increased or the pitch is narrowed, an increase in the amount of heat generation is a problem. Thus, as a heat dissipation structure of the flip chip mounting package, it has been proposed to provide a metal layer on the back surface of the electronic device via an adhesive layer (see, for example, Patent Document 1). And in patent document 1, the electronic device package with the same magnitude | size of the plane of an electronic device and the magnitude | size of the plane of a metal layer and an adhesive bond layer is disclosed.

また、フリップチップ実装パッケージにおいては、電子デバイスの線膨張率と回路基板の線膨張率とが大きく異なる場合がある。この場合、電子デバイスパッケージの製造過程において、中間製品が加熱及び冷却された際に、電子デバイスと回路基板との間には膨張量及び収縮量に差が生じることになる。この差によって、電子デバイスパッケージには反りが発生することになる。このような反りを抑制する構造としても、電子デバイスの裏面に接着剤層を介して金属層を設けることが提案されている(例えば、特許文献2参照)。引用文献2においては、電子デバイスの平面の大きさよりも接着剤層の平面の大きさが大きい電子デバイスパッケージが開示されている。   Further, in the flip chip mounting package, the linear expansion coefficient of the electronic device and the linear expansion coefficient of the circuit board may be greatly different. In this case, when the intermediate product is heated and cooled in the manufacturing process of the electronic device package, there is a difference in the amount of expansion and contraction between the electronic device and the circuit board. This difference causes warpage in the electronic device package. As a structure for suppressing such warpage, it has been proposed to provide a metal layer on the back surface of an electronic device via an adhesive layer (see, for example, Patent Document 2). Cited Document 2 discloses an electronic device package in which the size of the plane of the adhesive layer is larger than the size of the plane of the electronic device.

さらに、フリップチップ実装パッケージにおいて、電子デバイスの裏面に接着剤層を介して金属層を設け、この金属層をレーザーマーキング用の保護層として用いることも提案されている(例えば、特許文献3参照)。特許文献3では、電子デバイスの平面の大きさと金属層および接着剤層の平面の大きさとが同じ電子デバイスパッケージが開示されている。   Furthermore, in flip chip mounting packages, it has also been proposed to provide a metal layer on the back surface of an electronic device via an adhesive layer and use this metal layer as a protective layer for laser marking (see, for example, Patent Document 3). . Patent Document 3 discloses an electronic device package in which the plane size of the electronic device is the same as the plane size of the metal layer and the adhesive layer.

特開2007−235022号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2007-233502 特許第5487847号公報Japanese Patent No. 5487847 特許第5419226号公報Japanese Patent No. 5419226

しかしながら、引用文献2のように電子デバイスの平面の大きさよりも接着剤層の平面の大きさが大きいと、接着剤層が電子デバイスの外縁から突出している部分に外力が加わった場合に、接着剤層が剥離してしまい、放熱性や信頼性が低下してしまう。例えば、電子デバイスパッケージを封止する際に、接着剤層が電子デバイスの外縁から突出している部分の下面側に入り込んだ封止用の樹脂の圧力により、電子デバイスの外縁部から接着剤層が剥離してしまい、放熱性や信頼性が低下するという問題があった。   However, if the size of the plane of the adhesive layer is larger than the size of the plane of the electronic device as in Cited Document 2, when an external force is applied to a portion where the adhesive layer protrudes from the outer edge of the electronic device, The agent layer is peeled off and heat dissipation and reliability are lowered. For example, when the electronic device package is sealed, the adhesive layer is formed from the outer edge portion of the electronic device by the pressure of the sealing resin that has entered the lower surface side of the portion protruding from the outer edge of the electronic device. There existed a problem that it peeled and heat dissipation and reliability fell.

また、特許文献1,3のように電子デバイスの平面の大きさと金属層および接着剤層の平面の大きさとが同じである場合、接着剤層を介して金属層を電子デバイスに貼合する際の位置合わせ誤差により、接着剤層が電子デバイスの外縁から突出している部分が発生してしまう。そうすると、上述の場合と同様に、外力により接着剤層が剥離し、放熱性や信頼性が低下するという問題があった。   When the size of the plane of the electronic device and the size of the plane of the metal layer and the adhesive layer are the same as in Patent Documents 1 and 3, when the metal layer is bonded to the electronic device via the adhesive layer Due to the positioning error, a portion where the adhesive layer protrudes from the outer edge of the electronic device is generated. Then, as in the case described above, there is a problem that the adhesive layer is peeled off by an external force and heat dissipation and reliability are lowered.

そこで、本願発明は、外力により接着剤層や金属層が剥離し、放熱性や信頼性が低下するのを抑制することができる電子デバイスパッケージ、電子デバイスパッケージの製造方法、および電子デバイスパッケージ用テープを提供することを目的とする。   Therefore, the present invention relates to an electronic device package, a method for manufacturing an electronic device package, and an electronic device package tape that can prevent the adhesive layer and the metal layer from being peeled off by an external force, thereby reducing heat dissipation and reliability. The purpose is to provide.

以上の課題を解決するため、本発明に係る電子デバイスパッケージは、基板と、第1面が前記基板と対向するように前記基板に接続された電子デバイスと、前記第1面とは反対側の前記電子デバイスの第2面に設けられた接着剤層と、前記接着剤層を介して前記電子デバイスの前記第2面に接着された金属層とを有し、前記金属層の平面の大きさ≦前記接着剤層の平面の大きさ<前記電子デバイスの第2面の平面の大きさであることを特徴とする。   In order to solve the above problems, an electronic device package according to the present invention includes a substrate, an electronic device connected to the substrate such that the first surface faces the substrate, and an opposite side of the first surface. An adhesive layer provided on the second surface of the electronic device, and a metal layer bonded to the second surface of the electronic device via the adhesive layer, the plane size of the metal layer ≦ Plane size of the adhesive layer <Plane size of the second surface of the electronic device.

上記電子デバイスパッケージは、前記金属層が銅またはアルミニウムを含むことが好ましい。   In the electronic device package, the metal layer preferably contains copper or aluminum.

また、以上の課題を解決するため、本発明に係る電子デバイスパッケージの製造方法は、第1面が前記基板と対向するように前記基板に電子デバイスを接続する工程と、前記第1面とは反対側の前記電子デバイスの第2面に、接着剤層を介して金属層を接着する工程とを有し、前記金属層の平面の大きさ≦前記接着剤層の平面の大きさ<前記電子デバイスの第2面の平面の大きさであることを特徴とする。   In addition, in order to solve the above problems, the method for manufacturing an electronic device package according to the present invention includes a step of connecting an electronic device to the substrate such that the first surface faces the substrate, and the first surface Bonding a metal layer to the second surface of the electronic device on the opposite side via an adhesive layer, wherein the plane size of the metal layer ≦ the plane size of the adhesive layer <the electron It is the size of the plane of the second surface of the device.

上記電子デバイスパッケージの製造方法は、前記金属層が銅またはアルミニウムを含むことが好ましい。   In the electronic device package manufacturing method, the metal layer preferably contains copper or aluminum.

また、以上の課題を解決するため、上記電子デバイスパッケージ用テープは、基材フィルムと粘着剤層とを有する粘着テープと、前記粘着剤層の前記基材フィルムと反対側に積層して設けられた接着剤層と金属層との積層体とを有し、前記金属層は、第1面が基板と対向するように前記基板に接続された電子デバイスの、前記第1面とは反対側の第2面に、前記接着剤層を介して接着される電子デバイスパッケージ用テープであって、前記金属層の平面の大きさ≦前記接着剤層の平面の大きさ<前記電子デバイスの第2面の平面の大きさとなるように、前記接着剤層および前記金属層が予め切断され個片化されていることを特徴とする。   Moreover, in order to solve the above-mentioned subject, the said tape for electronic device packages is laminated | stacked and provided in the opposite side to the said base film of the said adhesive layer and the adhesive tape which has a base film and an adhesive layer. A laminate of an adhesive layer and a metal layer, wherein the metal layer is opposite to the first surface of an electronic device connected to the substrate such that the first surface faces the substrate. An electronic device package tape bonded to the second surface via the adhesive layer, wherein the planar size of the metal layer ≦ the planar size of the adhesive layer <the second surface of the electronic device The adhesive layer and the metal layer are cut in advance and separated into pieces so as to be the size of the plane.

また、上記電子デバイスパッケージ用テープは、前記金属層が銅またはアルミニウムを含むことが好ましい。   In the electronic device package tape, the metal layer preferably contains copper or aluminum.

本発明によれば、外力により接着剤層や金属層が剥離し、放熱性や信頼性が低下するのを抑制することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it can suppress that an adhesive bond layer and a metal layer peel by external force, and heat dissipation and reliability fall.

本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージの構造を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the structure of the electronic device package which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージ用テープの構造を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the structure of the tape for electronic device packages which concerns on embodiment of this invention. (a)は、本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージ用テープの構造を模式的に示す平面図であり、(b)は、同断面図である。(A) is a top view which shows typically the structure of the tape for electronic device packages which concerns on embodiment of this invention, (b) is the same sectional drawing. 本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージ用テープの構造を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the structure of the tape for electronic device packages which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージ用テープの製造方法を模式的に示す説明図であり、(A)は金属層の貼合工程を示す長手方向断面図であり、(B)は接着剤層の貼合工程を示す長手方向断面図であり、(C)はプリカット工程を示す短手方向断面図であり、(D)は不要部分の除去工程を示す斜視図である。It is explanatory drawing which shows typically the manufacturing method of the tape for electronic device packages which concerns on embodiment of this invention, (A) is a longitudinal cross-sectional view which shows the bonding process of a metal layer, (B) is an adhesive agent It is longitudinal direction sectional drawing which shows the bonding process of a layer, (C) is a transversal direction sectional view which shows a precut process, (D) is a perspective view which shows the removal process of an unnecessary part. 本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージ用テープの製造方法を模式的に示す説明図であり、(A)は粘着テープの貼合工程を示す短手方向断面図であり、(B)はプリカット工程を示す短手方向断面図であり、(C)は不要部分の除去工程を示す短手方向断面図である。It is explanatory drawing which shows typically the manufacturing method of the tape for electronic device packages which concerns on embodiment of this invention, (A) is a transversal direction sectional drawing which shows the bonding process of an adhesive tape, (B) is a pre-cut. It is a transversal direction sectional view showing a process, and (C) is a transversal direction sectional view showing an unnecessary part removal process. 本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージの製造方法を模式的に説明する断面図である。It is sectional drawing which illustrates typically the manufacturing method of the electronic device package which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージの製造方法を模式的に説明する断面図である。It is sectional drawing which illustrates typically the manufacturing method of the electronic device package which concerns on embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係る電子デバイスパッケージの構造を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the structure of the electronic device package which concerns on other embodiment of this invention.

以下に、本発明の実施の形態について詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.

図1は、本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージ8の構造を模式的に示す断面図である。なお、本実施形態においては、電子デバイスパッケージ8として、被着体上にフリップチップ接続された半導体チップCを例にして説明する。   FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the structure of an electronic device package 8 according to an embodiment of the present invention. In the present embodiment, the electronic device package 8 will be described by taking a semiconductor chip C flip-chip connected to an adherend as an example.

この電子デバイスパッケージ8は、基板9を有しており、基板9には、第1面C1(回路が形成された回路面)が基板9と対向するように半導体チップCが、フリップチップボンディング方式(フリップチップ実装方式)により、半導体チップCのバンプ10と接続パッドに被着された接合用の導電材11(半田など)とを電気的に導通させることで、接続されている。   The electronic device package 8 has a substrate 9 on which the semiconductor chip C is flip-chip bonded so that the first surface C1 (circuit surface on which a circuit is formed) faces the substrate 9. The connection is made by electrically connecting the bump 10 of the semiconductor chip C and the bonding conductive material 11 (solder or the like) deposited on the connection pad by (flip chip mounting method).

半導体チップCの第1面C1とは反対側の第2面(裏面)には、接着剤層4が設けられており、この接着剤層4を介して金属層3が接着されている。半導体チップCの第2面C2、接着剤層4、金属層3の平面の大きさは、金属層3=接着剤層4<半導体チップCの第2面C2となっている。   An adhesive layer 4 is provided on the second surface (back surface) opposite to the first surface C 1 of the semiconductor chip C, and the metal layer 3 is bonded via the adhesive layer 4. The plane sizes of the second surface C2, the adhesive layer 4, and the metal layer 3 of the semiconductor chip C are such that the metal layer 3 = the adhesive layer 4 <the second surface C2 of the semiconductor chip C.

接着剤層4の平面の大きさ<半導体チップCの第2面C2の平面の大きさとすることにより、接着剤層4が半導体チップCの外縁から平面方向に突出する部分がないようになっている。したがって、接着剤層4に外力が加わり半導体チップCの外縁部から接着剤層4が剥離してしまうのを抑制することができる。また、金属層3の平面の大きさ=接着剤層4の平面の大きさとなっているため、金属層3が接着剤層4の外縁から平面方向に突出する部分もないようになっている。したがって金属層3に外力が加わり接着剤層4の外縁部から金属層3が剥離してしまうのを抑制することができる。   By setting the size of the plane of the adhesive layer 4 to the size of the plane of the second surface C2 of the semiconductor chip C, there is no portion where the adhesive layer 4 protrudes from the outer edge of the semiconductor chip C in the plane direction. Yes. Therefore, it can be suppressed that an external force is applied to the adhesive layer 4 and the adhesive layer 4 is peeled off from the outer edge portion of the semiconductor chip C. Further, since the size of the plane of the metal layer 3 is equal to the size of the plane of the adhesive layer 4, there is no portion where the metal layer 3 protrudes from the outer edge of the adhesive layer 4 in the plane direction. Therefore, it is possible to prevent the metal layer 3 from being peeled off from the outer edge portion of the adhesive layer 4 due to an external force applied to the metal layer 3.

接着剤層4の平面形状は、半導体チップCの平面形状と略相似形であることが好ましいが、相似形でなくてもよい。相似形でない場合、接着剤層4の平面形状を構成する辺の長さが、半導体チップCに貼合される向きにおいて対応する半導体チップCの平面形状を構成する辺の長さ以下である。接着剤層4の平面の面積が半導体チップCの平面の面積より小さければ、接着剤層4の平面形状を構成する辺の長さと半導体チップCに貼合される向きにおいて対応する半導体チップCの平面形状を構成する辺の長さが同じ辺があっても良いが、半導体チップC上に接着剤層4を搭載する際の位置合わせに高い精度が求められるため搭載性の観点からは、接着剤層4の平面形状を構成する辺の長さが、半導体チップCに貼合される向きにおいて対応する半導体チップCの平面形状を構成する辺の長さより小さいことが好ましい。接着剤層4の平面の面積は、半導体チップCの平面の面積の80%以上100%未満であることが好ましく、より好ましくは90%以上96%以下である。接着剤層4の平面の面積が、半導体チップCの平面の面積の80%以上であれば、放熱性や電子デバイスパッケージの反り抑制の効果が得られる。また、半導体チップC上に搭載する精度や製造上のバラつきを考慮すると、半導体チップCからはみ出しなく接着剤層4と金属層3を搭載することができるようにするには、接着剤層4の平面の面積が半導体チップCの平面の面積の96%以下であることが好ましい。   The planar shape of the adhesive layer 4 is preferably substantially similar to the planar shape of the semiconductor chip C, but may not be similar. When the shape is not similar, the length of the side constituting the planar shape of the adhesive layer 4 is equal to or less than the length of the side constituting the planar shape of the corresponding semiconductor chip C in the direction of being bonded to the semiconductor chip C. If the area of the plane of the adhesive layer 4 is smaller than the area of the plane of the semiconductor chip C, the length of the side constituting the planar shape of the adhesive layer 4 and the direction of the semiconductor chip C corresponding to the direction of bonding to the semiconductor chip C Although there may be sides having the same length constituting the planar shape, since high accuracy is required for alignment when mounting the adhesive layer 4 on the semiconductor chip C, from the viewpoint of mountability, bonding It is preferable that the length of the side constituting the planar shape of the agent layer 4 is smaller than the length of the side constituting the planar shape of the corresponding semiconductor chip C in the direction of being bonded to the semiconductor chip C. The plane area of the adhesive layer 4 is preferably 80% or more and less than 100%, more preferably 90% or more and 96% or less, of the plane area of the semiconductor chip C. If the area of the plane of the adhesive layer 4 is 80% or more of the area of the plane of the semiconductor chip C, an effect of suppressing heat dissipation and warping of the electronic device package can be obtained. In consideration of the accuracy of mounting on the semiconductor chip C and manufacturing variations, in order to allow the adhesive layer 4 and the metal layer 3 to be mounted without protruding from the semiconductor chip C, the adhesive layer 4 The area of the plane is preferably 96% or less of the area of the plane of the semiconductor chip C.

なお、本実施形態においては、金属層3の平面の大きさ=接着剤層4の平面の大きさとしたが、図9に示すように、金属層3の平面の大きさ<接着剤層4の平面の大きさとしてもよい。この場合、金属層3の平面形状は、接着剤層4の平面形状と略相似形であることが好ましいが、相似形でなくてもよい。相似形でない場合、金属層3の平面形状を構成する辺の長さが、接着剤層4に貼合される向きにおいて対応する接着剤層4の平面形状を構成する辺の長さ以下である。金属層3の平面の面積は、半導体チップCの平面の面積の80%以上100%未満であることが好ましく、より好ましくは90%以上95%以下である。金属層3の平面の面積が、半導体チップCの平面の面積の80%以上であれば、放熱性や電子デバイスパッケージの反り抑制の効果が得られる。   In the present embodiment, the plane size of the metal layer 3 is equal to the plane size of the adhesive layer 4. However, as shown in FIG. 9, the plane size of the metal layer 3 <the size of the adhesive layer 4. It may be the size of a plane. In this case, the planar shape of the metal layer 3 is preferably substantially similar to the planar shape of the adhesive layer 4, but may not be similar. When the shape is not similar, the length of the side constituting the planar shape of the metal layer 3 is equal to or less than the length of the side constituting the planar shape of the corresponding adhesive layer 4 in the direction to be bonded to the adhesive layer 4. . The plane area of the metal layer 3 is preferably 80% or more and less than 100%, more preferably 90% or more and 95% or less, of the plane area of the semiconductor chip C. If the area of the plane of the metal layer 3 is 80% or more of the area of the plane of the semiconductor chip C, the effect of suppressing heat dissipation and warping of the electronic device package can be obtained.

被着体としては、リードフレームや回路基板(配線回路基板など)等の各種基板9を用いることができる。このような基板9の材質としては、特に限定されるものではないが、セラミック基板や、プラスチック基板が挙げられる。プラスチック基板としては、例えば、エポキシ基板、ビスマレイミドトリアジン基板、ポリイミド基板等が挙げられる。また、他の半導体チップを被着体とし、上記半導体チップCをフリップチップ接続することにより、チップオンチップ構造とすることもできる。   As the adherend, various substrates 9 such as a lead frame and a circuit substrate (such as a wiring circuit substrate) can be used. The material of the substrate 9 is not particularly limited, and examples thereof include a ceramic substrate and a plastic substrate. Examples of the plastic substrate include an epoxy substrate, a bismaleimide triazine substrate, and a polyimide substrate. Also, a chip-on-chip structure can be obtained by using another semiconductor chip as an adherend and flip-chip connecting the semiconductor chip C.

図2は、本発明の実施形態に係る電子デバイスパッケージ用テープ1を示す断面図である。この電子デバイスパッケージ用テープ1は、上述の電子デバイスパッケージ8を製造するのに用いることができる。電子デバイスパッケージ用テープ1は、基材フィルム51と基材フィルム51上に設けられた粘着剤層52とからなる粘着テープ5を有しており、粘着剤層52上には、接着剤層4と金属層3との積層体が設けられている。本実施の形態においては、粘着剤層52上には、接着剤層4と、接着剤層4に積層して設けられた金属層3とが設けられている。接着剤層4と金属層3との積層体は、両者の密着性をよくするためのプライマ層等を介して間接的に積層されている態様を含む。   FIG. 2 is a cross-sectional view showing the electronic device package tape 1 according to the embodiment of the present invention. The electronic device package tape 1 can be used to manufacture the electronic device package 8 described above. The electronic device package tape 1 has a pressure-sensitive adhesive tape 5 including a base film 51 and a pressure-sensitive adhesive layer 52 provided on the base film 51, and the adhesive layer 4 is formed on the pressure-sensitive adhesive layer 52. And a laminated body of the metal layer 3 is provided. In the present embodiment, the adhesive layer 4 and the metal layer 3 provided by being laminated on the adhesive layer 4 are provided on the pressure-sensitive adhesive layer 52. The laminated body of the adhesive layer 4 and the metal layer 3 includes a mode in which they are indirectly laminated through a primer layer or the like for improving the adhesion between them.

本発明の電子デバイスパッケージ用テープ1は、図3および図4に示すように、粘着テープ5がリングフレームR(図8参照)に対応する形状に切断されており、金属層3および接着剤層4もこれに対応して所定形状に切断(プリカット加工)されていることが好ましく、本実施の形態においてはプリカット加工がなされている。   As shown in FIGS. 3 and 4, the electronic device package tape 1 of the present invention has an adhesive tape 5 cut into a shape corresponding to the ring frame R (see FIG. 8), and a metal layer 3 and an adhesive layer. Corresponding to this, 4 is preferably cut into a predetermined shape (pre-cut processing), and pre-cut processing is performed in this embodiment.

本発明の電子デバイスパッケージ用テープ1は、図3および図4に示すように、金属層3、接着剤層4、リングフレームRに対応する形状に切断された粘着テープ5(ラベル部5a)が積層された積層体が複数形成された長尺の基材テープ2を、ロール状に巻き取った形態であることが好ましく、本実施の形態においてはロール状に巻き取られているが、基材テープ2に設けられた積層体が1つずつ切断された形態であってもよい。   As shown in FIGS. 3 and 4, the electronic device package tape 1 of the present invention has an adhesive tape 5 (label part 5 a) cut into a shape corresponding to the metal layer 3, the adhesive layer 4, and the ring frame R. The long base tape 2 in which a plurality of laminated bodies are formed is preferably wound into a roll shape, and in the present embodiment, the base tape 2 is wound into a roll shape. The laminated body provided in the tape 2 may be cut one by one.

プリカット加工されロール状に巻き取られている場合、図3および図4に示すように、電子デバイスパッケージ用テープ1は、基材テープ2を有しており、基材テープ2上には、所定の平面形状を有する金属層3と、金属層3の基材テープ2側とは反対側に金属層3と積層して設けられ、所定の平面形状を有する接着剤層4と、接着剤層4を覆い、且つ、接着剤層4の周囲で基材テープ2に接触するように設けられた所定の平面形状のラベル部5aと該ラベル部5aの外側を囲むような周辺部5bとを有する粘着テープ5と、が設けられている。   When pre-cut and wound into a roll, the electronic device package tape 1 has a base tape 2 as shown in FIGS. 3 and 4, and the base tape 2 has a predetermined tape. A metal layer 3 having a planar shape, an adhesive layer 4 having a predetermined planar shape provided on the opposite side of the metal tape 3 to the base tape 2 side, and having a predetermined planar shape; And a label portion 5a having a predetermined planar shape provided so as to come into contact with the base tape 2 around the adhesive layer 4 and a peripheral portion 5b surrounding the outside of the label portion 5a Tape 5 is provided.

ラベル部5aは、ダイシング用のリングフレームRに対応する形状を有する。ダイシング用のリングフレームRの形状に対応する形状は、リングフレームRの内側と略同じ形状でリングフレームR内側の大きさより大きい相似形であることが好ましい。また、必ずしも円形でなくてもよいが、円形に近い形状が好ましく、円形であることがさらに好ましい。周辺部5bは、ラベル部5aの外側を完全に囲む形態と、図示のような完全には囲まない形態とを含む。なお、周辺部5bは、設けられていなくてもよい。   The label portion 5a has a shape corresponding to the ring frame R for dicing. The shape corresponding to the shape of the ring frame R for dicing is preferably similar in shape to the inside of the ring frame R and larger than the size inside the ring frame R. Moreover, although it does not necessarily need to be circular, the shape close | similar to circle is preferable and it is more preferable that it is circular. The peripheral part 5b includes a form that completely surrounds the outside of the label part 5a and a form that is not completely enclosed as shown. Note that the peripheral portion 5b may not be provided.

さらに、金属層3および接着剤層4は、金属層3の平面の大きさ=接着剤層4の平面の大きさ<金属層3および接着剤層4の貼合が予定されている電子デバイスの第2面の平面の大きさとなるように、予め切断され個片化されている。本実施形態においては、金属層3の平面の大きさ=接着剤層4の平面の大きさとしたが、金属層3の平面の大きさ<接着剤層4の平面の大きさとしてもよい。金属層3の平面の大きさ、接着剤層4の平面の大きさ、および電子デバイスの第2面の平面の大きさについては、上述の電子デバイスパッケージに係る実施形態において説明したとおりである。   Further, the metal layer 3 and the adhesive layer 4 are the size of the plane of the metal layer 3 = the size of the plane of the adhesive layer 4 <the bonding of the metal layer 3 and the adhesive layer 4 of the electronic device scheduled to be bonded. It is cut and separated into pieces so as to be the size of the plane of the second surface. In the present embodiment, the size of the plane of the metal layer 3 = the size of the plane of the adhesive layer 4, but the size of the plane of the metal layer 3 <the size of the plane of the adhesive layer 4 may be used. The size of the plane of the metal layer 3, the size of the plane of the adhesive layer 4, and the size of the plane of the second surface of the electronic device are as described in the embodiment related to the electronic device package.

接着剤層4は、個片が集合した全体形状が所定のラベル形状を有しており、このラベル形状の外縁は、粘着テープ5のラベル部5aの周縁部にリングフレームRを貼合し、ピックアップ装置の突き上げ部材で突き上げ可能なように(図8参照)ラベル部5aよりも小さい形状となっている。接着剤層4のラベル形状は、ラベル部5aと略同じ形状でラベル部5aの大きさより小さい相似形であることが好ましい。接着剤層4のラベル形状は、必ずしも円形でなくてもよいが、円形に近い形状が好ましく、円形であることがさらに好ましい。   The adhesive layer 4 has a predetermined label shape as a whole in which the pieces are gathered, and the outer edge of the label shape is bonded to the peripheral portion of the label portion 5a of the adhesive tape 5 with the ring frame R, The shape is smaller than the label portion 5a so that it can be pushed up by the push-up member of the pickup device (see FIG. 8). The label shape of the adhesive layer 4 is preferably similar to the label portion 5a and smaller than the size of the label portion 5a. The label shape of the adhesive layer 4 does not necessarily have to be a circle, but a shape close to a circle is preferable, and a circle is more preferable.

金属層3は、個片が集合した全体形状が接着剤層4とは同様の形状となっており、金属層3に接着剤層4が積層されている。ここでいう積層は、主要部分が積層されていればよく、金属層3と接着剤層4とが必ずしも同じ大きさである必要はないが、製造の利便性から、略同じ形状であることが好ましい。以下に、各構成要素について説明する。   The metal layer 3 has the same overall shape as the adhesive layer 4 in which the individual pieces are gathered, and the adhesive layer 4 is laminated on the metal layer 3. In this case, it is sufficient that the main portions are laminated, and the metal layer 3 and the adhesive layer 4 do not necessarily have the same size, but they may have substantially the same shape for convenience of manufacturing. preferable. Each component will be described below.

<基材テープ2>
基材テープ2は、公知のセパレータで構成することもできるが、電子デバイスパッケージ用テープのプリカット加工に使用する基材テープをそのまま使用することもできる。電子デバイスパッケージ用テープのプリカット加工に使用する基材テープをそのまま使用する場合、基材テープ2はプリカット加工時に金属層3を粘着保持する必要があるため、例えば、樹脂フィルムと樹脂フィルムの片面に設けられた基材テープ用粘着剤層とを有するテープを好適に使用することができる。
<Base tape 2>
Although the base tape 2 can also be comprised with a well-known separator, the base tape used for the pre-cut process of the tape for electronic device packages can also be used as it is. When the base tape used for the pre-cut processing of the tape for electronic device package is used as it is, the base tape 2 needs to hold the metal layer 3 at the time of the pre-cut processing, so for example, on one side of the resin film and the resin film. The tape which has the provided adhesive layer for base tapes can be used conveniently.

基材テープ2を構成する樹脂フィルムの素材には、公知の材料を用いることができるが、例示するのであれば、ポリエステル(PET、PBT、PEN、PBN、PTT)系、ポリオレフィン(PP、PE)系、共重合体(EVA、EEA、EBA)系、またこれらの材料を一部置換して、更に接着性や機械的強度を向上したフィルムが挙げられる。また、これらのフィルムの積層体であってもよい。耐熱性、平滑性、及び、入手し易さの点から、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、及び高密度ポリエチレンから選択されることが好ましい。   As the material of the resin film constituting the base tape 2, known materials can be used. For example, polyester (PET, PBT, PEN, PBN, PTT), polyolefin (PP, PE) Examples thereof include films obtained by partially replacing these materials, copolymers (EVA, EEA, EBA), and further improving adhesion and mechanical strength. Moreover, the laminated body of these films may be sufficient. From the viewpoint of heat resistance, smoothness, and availability, it is preferably selected from polyethylene terephthalate, polypropylene, and high-density polyethylene.

基材テープ2を構成する樹脂フィルムの厚さは、特に限定されるものではなく、適宜に設定してよいが、10〜150μmであることが好ましい。   The thickness of the resin film constituting the base tape 2 is not particularly limited and may be appropriately set, but is preferably 10 to 150 μm.

基材テープ用粘着剤層に使用される樹脂としては、粘着剤に使用される公知の塩素化ポリプロピレン樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂等を使用することができるが、アクリル系ポリマーをベースポリマーとするアクリル系粘着剤が好ましい。   As the resin used for the adhesive layer for the base tape, known chlorinated polypropylene resins, acrylic resins, polyester resins, polyurethane resins, epoxy resins, etc. used for adhesives can be used. An acrylic adhesive having a polymer as a base polymer is preferred.

アクリル系ポリマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸アルキルエステル(例えば、メチルエステル、エチルエステル、プロピルエステル、イソプロピルエステル、ブチルエステル、イソブチルエステル、s−ブチルエステル、t−ブチルエステル、ペンチルエステル、イソペンチルエステル、ヘキシルエステル、ヘプチルエステル、オクチルエステル、2−エチルヘキシルエステル、イソオクチルエステル、ノニルエステル、デシルエステル、イソデシルエステル、ウンデシルエステル、ドデシルエステル、トリデシルエステル、テトラデシルエステル、ヘキサデシルエステル、オクタデシルエステル、エイコシルエステル等のアルキル基の炭素数1〜30、特に炭素数4〜18の直鎖状又は分岐鎖状のアルキルエステル等)及び(メタ)アクリル酸シクロアルキルエステル(例えば、シクロペンチルエステル、シクロヘキシルエステル等)の1種又は2種以上を単量体成分として用いたアクリル系ポリマー等が挙げられる。尚、(メタ)アクリル酸エステルとはアクリル酸エステル及び/又はメタクリル酸エステルをいい、本発明の(メタ)とは全て同様の意味である。   Examples of the acrylic polymer include (meth) acrylic acid alkyl esters (for example, methyl ester, ethyl ester, propyl ester, isopropyl ester, butyl ester, isobutyl ester, s-butyl ester, t-butyl ester, pentyl ester, isopropyl ester). Pentyl ester, hexyl ester, heptyl ester, octyl ester, 2-ethylhexyl ester, isooctyl ester, nonyl ester, decyl ester, isodecyl ester, undecyl ester, dodecyl ester, tridecyl ester, tetradecyl ester, hexadecyl ester, (E.g., linear or branched alkyl ester having 1 to 30 carbon atoms, particularly 4 to 18 carbon atoms) of an alkyl group such as octadecyl ester and eicosyl ester) ) Acrylic acid cycloalkyl esters (e.g., cyclopentyl ester, acrylic polymer or the like using one or more of the monomer component cyclohexyl ester etc.). In addition, (meth) acrylic acid ester means acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester, and (meth) of the present invention has the same meaning.

アクリル系ポリマーは、凝集力、耐熱性等の改質を目的として、必要に応じ、前記(メタ)アクリル酸アルキルエステル又はシクロアルキルエステルと共重合可能な他のモノマー成分に対応する単位を含んでいてもよい。この様なモノマー成分として、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、カルボキシエチル(メタ)アクリレート、カルボキシペンチル(メタ)アクリレート、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸、クロトン酸等のカルボキシル基含有モノマー;無水マレイン酸、無水イタコン酸等の酸無水物モノマー;(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸6−ヒドロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸8−ヒドロキシオクチル、(メタ)アクリル酸10−ヒドロキシデシル、(メタ)アクリル酸12−ヒドロキシラウリル、(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシル)メチル(メタ)アクリレート等のヒドロキシル基含有モノマー;スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、2−(メタ)アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、(メタ)アクリルアミドプロパンスルホン酸、スルホプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロイルオキシナフタレンスルホン酸等のスルホン酸基含有モノマー;2−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェート等のリン酸基含有モノマー;アクリルアミド、アクリロニトリル等が挙げられる。これら共重合可能なモノマー成分は、1種又は2種以上使用できる。これら共重合可能なモノマーの使用量は、全モノマー成分の40重量%以下が好ましい。   The acrylic polymer contains units corresponding to other monomer components copolymerizable with the (meth) acrylic acid alkyl ester or cycloalkyl ester, if necessary, for the purpose of modifying cohesive force, heat resistance and the like. May be. Examples of such monomer components include, for example, carboxyl group-containing monomers such as acrylic acid, methacrylic acid, carboxyethyl (meth) acrylate, carboxypentyl (meth) acrylate, itaconic acid, maleic acid, fumaric acid, and crotonic acid; maleic anhydride Acid anhydride monomers such as itaconic anhydride; 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, 6-hydroxyhexyl (meth) acrylate Hydroxyl group-containing monomers such as 8-hydroxyoctyl (meth) acrylate, 10-hydroxydecyl (meth) acrylate, 12-hydroxylauryl (meth) acrylate, (4-hydroxymethylcyclohexyl) methyl (meth) acrylate; Styrene Contains sulfonic acid groups such as phonic acid, allylsulfonic acid, 2- (meth) acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, (meth) acrylamidepropanesulfonic acid, sulfopropyl (meth) acrylate, (meth) acryloyloxynaphthalenesulfonic acid Monomers; Phosphoric acid group-containing monomers such as 2-hydroxyethyl acryloyl phosphate; acrylamide, acrylonitrile and the like. One or more of these copolymerizable monomer components can be used. The amount of these copolymerizable monomers used is preferably 40% by weight or less based on the total monomer components.

更に、アクリル系ポリマーは、架橋されるため、多官能性モノマー等も必要に応じて共重合用モノマー成分として含むことができる。この様な多官能性モノマーとして、例えば、ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート、ポリエステル(メタ)アクリレート、ウレタン(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらの多官能性モノマーも1種又は2種以上用いることができる。多官能性モノマーの使用量は、粘着特性等の点から、全モノマー成分の30重量%以下が好ましい。   Furthermore, since the acrylic polymer is crosslinked, a polyfunctional monomer or the like can be included as a monomer component for copolymerization as necessary. Examples of such polyfunctional monomers include hexanediol di (meth) acrylate, (poly) ethylene glycol di (meth) acrylate, (poly) propylene glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, Pentaerythritol di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, epoxy (meth) acrylate, polyester (meth) acrylate, urethane (meth) An acrylate etc. are mentioned. These polyfunctional monomers can also be used alone or in combination of two or more. The amount of the polyfunctional monomer used is preferably 30% by weight or less of the total monomer components from the viewpoint of adhesive properties and the like.

アクリル系ポリマーの調製は、例えば1種又は2種以上の成分モノマーの混合物に溶液重合方式や乳化重合方式、塊状重合方式や懸濁重合方式等の適宜な方式を適用して行うことができる。基材テープ用粘着剤層は、ウエハの汚染防止等の点より低分子量物質の含有を抑制した組成が好ましく、かかる点より重量平均分子量が30万以上、特に40万〜300万のアクリル系ポリマーを主成分とするものが好ましいことから粘着剤は、内部架橋方式や外部架橋方式等による適宜な架橋タイプとすることもできる。   The acrylic polymer can be prepared, for example, by applying an appropriate method such as a solution polymerization method, an emulsion polymerization method, a bulk polymerization method, or a suspension polymerization method to a mixture of one or more component monomers. The adhesive layer for the base tape preferably has a composition that suppresses the inclusion of a low molecular weight substance from the standpoint of preventing contamination of the wafer. From this point, an acrylic polymer having a weight average molecular weight of 300,000 or more, particularly 400,000 to 3,000,000. Since the main component is preferable, the pressure-sensitive adhesive can be of an appropriate crosslinking type by an internal crosslinking method, an external crosslinking method, or the like.

また、基材テープ用粘着剤層の架橋密度を制御して粘着テープ5との剥離性を向上させるため、例えば多官能イソシアネート系化合物、多官能エポキシ系化合物、メラミン系化合物、金属塩系化合物、金属キレート系化合物、アミノ樹脂系化合物、又は過酸化物等の適宜な外部架橋剤を用いて架橋処理する方式や、炭素−炭素二重結合を2個以上有する低分子化合物を混合してエネルギー線の照射等により架橋処理する方式等の適亘な方式を採用することができる。外部架橋剤を使用する場合、その使用量は、架橋すべきベースポリマーとのバランスにより、更には、粘着剤としての使用用途によって適宜決定される。一般的には、前記ベースポリマー100重量部に対して、20重量部程度以下、更には0.1重量部〜20重量部配合するのが好ましい。   Moreover, in order to control the crosslinking density of the pressure-sensitive adhesive layer for the base tape and improve the peelability from the pressure-sensitive adhesive tape 5, for example, a polyfunctional isocyanate compound, a polyfunctional epoxy compound, a melamine compound, a metal salt compound, Energy beam by mixing a metal chelate compound, an amino resin compound, a method of crosslinking using an appropriate external crosslinking agent such as peroxide, or a low molecular compound having two or more carbon-carbon double bonds Appropriate methods such as a method of crosslinking by irradiation or the like can be employed. When using an external cross-linking agent, the amount used is appropriately determined depending on the balance with the base polymer to be cross-linked and further depending on the intended use as an adhesive. Generally, it is preferable to add about 20 parts by weight or less, and further 0.1 to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the base polymer.

基材テープ用粘着剤層の厚みは、特に制限されず適宜に決定できるが、一般的には5〜200μm程度である。また、基材テープ用粘着剤層は単層で構成されても複数層で構成されていてもよい。   The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer for the base tape is not particularly limited and can be appropriately determined, but is generally about 5 to 200 μm. Moreover, the adhesive layer for base tapes may be composed of a single layer or a plurality of layers.

<粘着テープ5>
粘着テープ5としては、特に制限はなく、従来の粘着テープを使用することができる。粘着テープ5として、例えば、基材フィルム51に粘着剤層52を設けたものを好適に使用できる。
<Adhesive tape 5>
There is no restriction | limiting in particular as the adhesive tape 5, A conventional adhesive tape can be used. As the adhesive tape 5, for example, a substrate film 51 provided with an adhesive layer 52 can be suitably used.

基材フィルム51としては、従来公知のものであれば特に制限することなく使用することができるが、後述の粘着剤層52として放射線硬化性の材料を使用する場合には、放射線透過性を有するものを使用することが好ましい。   The substrate film 51 can be used without particular limitation as long as it is a conventionally known one, but has radiation transparency when a radiation curable material is used as the adhesive layer 52 described later. It is preferable to use one.

例えば、その材料として、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、ポリブテン−1、ポリ−4−メチルペンテン−1、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−アクリル酸エチル共重合体、エチレン−アクリル酸メチル共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体、アイオノマーなどのα−オレフィンの単独重合体または共重合体あるいはこれらの混合物、ポリウレタン、スチレン−エチレン−ブテンもしくはペンテン系共重合体、ポリアミド−ポリオール共重合体等の熱可塑性エラストマー、及びこれらの混合物を列挙することができる。また、基材フィルムはこれらの群から選ばれる2種以上の材料が混合されたものでもよく、これらが単層又は複層化されたものでもよい。   For example, as the material, polyethylene, polypropylene, ethylene-propylene copolymer, polybutene-1, poly-4-methylpentene-1, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-ethyl acrylate copolymer, ethylene-acrylic Α-olefin homopolymer or copolymer such as acid methyl copolymer, ethylene-acrylic acid copolymer, ionomer or a mixture thereof, polyurethane, styrene-ethylene-butene or pentene copolymer, polyamide-polyol Listed are thermoplastic elastomers such as copolymers, and mixtures thereof. Further, the base film may be a mixture of two or more materials selected from these groups, or may be a single layer or a multilayer.

基材フィルム51の厚さは、特に限定されるものではなく、適宜に設定してよいが、50〜200μmであることが好ましい。   The thickness of the base film 51 is not particularly limited and may be appropriately set, but is preferably 50 to 200 μm.

基材フィルム51と粘着剤層52との密着性を向上させるために、基材フィルム51の表面に、クロム酸処理、オゾン暴露、火炎暴露、高圧電撃暴露、イオン化放射線処理等の化学的又は物理的表面処理を施してもよい。   In order to improve the adhesion between the base film 51 and the pressure-sensitive adhesive layer 52, the surface of the base film 51 is subjected to chemical or physical treatment such as chromic acid treatment, ozone exposure, flame exposure, high-voltage impact exposure, or ionizing radiation treatment. Surface treatment may be applied.

また、本実施の形態においては、基材フィルム51の上に直接的に粘着剤層52を設けたが、密着性をあげるためのプライマ層や、ダイシング時の切削性向上ためのアンカー層、応力緩和層、静電防止層等を介して間接的に設けてもよい。   In the present embodiment, the pressure-sensitive adhesive layer 52 is provided directly on the base film 51. However, a primer layer for increasing adhesion, an anchor layer for improving machinability during dicing, stress You may provide indirectly through a relaxation layer, an antistatic layer, etc.

粘着テープ5の粘着剤層52に使用される樹脂としては、特に限定されるものではなく、粘着剤に使用される公知の塩素化ポリプロピレン樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂等を使用することができるが、アクリル系ポリマーをベースポリマーとするアクリル系粘着剤が好ましい。   The resin used for the pressure-sensitive adhesive layer 52 of the pressure-sensitive adhesive tape 5 is not particularly limited, and known chlorinated polypropylene resins, acrylic resins, polyester resins, polyurethane resins, epoxy resins and the like used for pressure-sensitive adhesives can be used. Although it can be used, an acrylic adhesive having an acrylic polymer as a base polymer is preferred.

アクリル系ポリマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸アルキルエステル(例えば、メチルエステル、エチルエステル、プロピルエステル、イソプロピルエステル、ブチルエステル、イソブチルエステル、s−ブチルエステル、t−ブチルエステル、ペンチルエステル、イソペンチルエステル、ヘキシルエステル、ヘプチルエステル、オクチルエステル、2−エチルヘキシルエステル、イソオクチルエステル、ノニルエステル、デシルエステル、イソデシルエステル、ウンデシルエステル、ドデシルエステル、トリデシルエステル、テトラデシルエステル、ヘキサデシルエステル、オクタデシルエステル、エイコシルエステル等のアルキル基の炭素数1〜30、特に炭素数4〜18の直鎖状又は分岐鎖状のアルキルエステル等)及び(メタ)アクリル酸シクロアルキルエステル(例えば、シクロペンチルエステル、シクロヘキシルエステル等)の1種又は2種以上を単量体成分として用いたアクリル系ポリマー等が挙げられる。尚、(メタ)アクリル酸エステルとはアクリル酸エステル及び/又はメタクリル酸エステルをいい、本発明の(メタ)とは全て同様の意味である。   Examples of the acrylic polymer include (meth) acrylic acid alkyl esters (for example, methyl ester, ethyl ester, propyl ester, isopropyl ester, butyl ester, isobutyl ester, s-butyl ester, t-butyl ester, pentyl ester, isopropyl ester). Pentyl ester, hexyl ester, heptyl ester, octyl ester, 2-ethylhexyl ester, isooctyl ester, nonyl ester, decyl ester, isodecyl ester, undecyl ester, dodecyl ester, tridecyl ester, tetradecyl ester, hexadecyl ester, (E.g., linear or branched alkyl ester having 1 to 30 carbon atoms, particularly 4 to 18 carbon atoms) of an alkyl group such as octadecyl ester and eicosyl ester) ) Acrylic acid cycloalkyl esters (e.g., cyclopentyl ester, acrylic polymer or the like using one or more of the monomer component cyclohexyl ester etc.). In addition, (meth) acrylic acid ester means acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester, and (meth) of the present invention has the same meaning.

アクリル系ポリマーは、凝集力、耐熱性等の改質を目的として、必要に応じ、前記(メタ)アクリル酸アルキルエステル又はシクロアルキルエステルと共重合可能な他のモノマー成分に対応する単位を含んでいてもよい。この様なモノマー成分として、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、カルボキシエチル(メタ)アクリレート、カルボキシペンチル(メタ)アクリレート、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸、クロトン酸等のカルボキシル基含有モノマー;無水マレイン酸、無水イタコン酸等の酸無水物モノマー;(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸6−ヒドロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸8−ヒドロキシオクチル、(メタ)アクリル酸10−ヒドロキシデシル、(メタ)アクリル酸12−ヒドロキシラウリル、(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシル)メチル(メタ)アクリレート等のヒドロキシル基含有モノマー;スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、2−(メタ)アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、(メタ)アクリルアミドプロパンスルホン酸、スルホプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロイルオキシナフタレンスルホン酸等のスルホン酸基含有モノマー;2−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェート等のリン酸基含有モノマー;アクリルアミド、アクリロニトリル等が挙げられる。これら共重合可能なモノマー成分は、1種又は2種以上使用できる。これら共重合可能なモノマーの使用量は、全モノマー成分の40重量%以下が好ましい。   The acrylic polymer contains units corresponding to other monomer components copolymerizable with the (meth) acrylic acid alkyl ester or cycloalkyl ester, if necessary, for the purpose of modifying cohesive force, heat resistance and the like. May be. Examples of such monomer components include, for example, carboxyl group-containing monomers such as acrylic acid, methacrylic acid, carboxyethyl (meth) acrylate, carboxypentyl (meth) acrylate, itaconic acid, maleic acid, fumaric acid, and crotonic acid; maleic anhydride Acid anhydride monomers such as itaconic anhydride; 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, 6-hydroxyhexyl (meth) acrylate Hydroxyl group-containing monomers such as 8-hydroxyoctyl (meth) acrylate, 10-hydroxydecyl (meth) acrylate, 12-hydroxylauryl (meth) acrylate, (4-hydroxymethylcyclohexyl) methyl (meth) acrylate; Styrene Contains sulfonic acid groups such as phonic acid, allylsulfonic acid, 2- (meth) acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid, (meth) acrylamidepropanesulfonic acid, sulfopropyl (meth) acrylate, (meth) acryloyloxynaphthalenesulfonic acid Monomers; Phosphoric acid group-containing monomers such as 2-hydroxyethyl acryloyl phosphate; acrylamide, acrylonitrile and the like. One or more of these copolymerizable monomer components can be used. The amount of these copolymerizable monomers used is preferably 40% by weight or less based on the total monomer components.

更に、アクリル系ポリマーは、架橋されるため、多官能性モノマー等も必要に応じて共重合用モノマー成分として含むことができる。この様な多官能性モノマーとして、例えば、ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート、ポリエステル(メタ)アクリレート、ウレタン(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらの多官能性モノマーも1種又は2種以上用いることができる。多官能性モノマーの使用量は、粘着特性等の点から、全モノマー成分の30重量%以下が好ましい。   Furthermore, since the acrylic polymer is crosslinked, a polyfunctional monomer or the like can be included as a monomer component for copolymerization as necessary. Examples of such polyfunctional monomers include hexanediol di (meth) acrylate, (poly) ethylene glycol di (meth) acrylate, (poly) propylene glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, Pentaerythritol di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, epoxy (meth) acrylate, polyester (meth) acrylate, urethane (meth) An acrylate etc. are mentioned. These polyfunctional monomers can also be used alone or in combination of two or more. The amount of the polyfunctional monomer used is preferably 30% by weight or less of the total monomer components from the viewpoint of adhesive properties and the like.

アクリル系ポリマーの調製は、例えば1種又は2種以上の成分モノマーの混合物に溶液重合方式や乳化重合方式、塊状重合方式や懸濁重合方式等の適宜な方式を適用して行うことができる。粘着剤層52は、低分子量物質の含有を抑制した組成が好ましく、かかる点より重量平均分子量が30万以上、特に40万〜300万のアクリル系ポリマーを主成分とするものが好ましいことから粘着剤は、内部架橋方式や外部架橋方式等による適宜な架橋タイプとすることもできる。   The acrylic polymer can be prepared, for example, by applying an appropriate method such as a solution polymerization method, an emulsion polymerization method, a bulk polymerization method, or a suspension polymerization method to a mixture of one or more component monomers. The pressure-sensitive adhesive layer 52 preferably has a composition that suppresses the inclusion of a low molecular weight substance. From this point of view, the pressure-sensitive adhesive layer 52 is preferably composed mainly of an acrylic polymer having a weight average molecular weight of 300,000 or more, particularly 400,000 to 3,000,000. The agent may be of an appropriate crosslinking type by an internal crosslinking method, an external crosslinking method or the like.

また、粘着剤層52の架橋密度を制御してピックアップ性を向上させるため、例えば多官能イソシアネート系化合物、多官能エポキシ系化合物、メラミン系化合物、金属塩系化合物、金属キレート系化合物、アミノ樹脂系化合物、又は過酸化物等の適宜な外部架橋剤を用いて架橋処理する方式や、炭素−炭素二重結合を2個以上有する低分子化合物を混合してエネルギー線の照射等により架橋処理する方式等の適亘な方式を採用することができる。外部架橋剤を使用する場合、その使用量は、架橋すべきベースポリマーとのバランスにより、更には、粘着剤としての使用用途によって適宜決定される。一般的には、前記ベースポリマー100重量部に対して、20重量部程度以下、更には0.1重量部〜20重量部配合するのが好ましい。尚、粘着剤には、劣化防止等の観点から、必要により、前記成分のほかに、各種の粘着付与剤、老化防止剤等の添加剤を用いてもよい。   Moreover, in order to control the crosslinking density of the pressure-sensitive adhesive layer 52 to improve pickup properties, for example, a polyfunctional isocyanate compound, a polyfunctional epoxy compound, a melamine compound, a metal salt compound, a metal chelate compound, an amino resin system A method of crosslinking using an appropriate external crosslinking agent such as a compound or peroxide, or a method of mixing a low molecular compound having two or more carbon-carbon double bonds and crosslinking by irradiation with energy rays, etc. A suitable method such as the above can be adopted. When using an external cross-linking agent, the amount used is appropriately determined depending on the balance with the base polymer to be cross-linked and further depending on the intended use as an adhesive. Generally, it is preferable to add about 20 parts by weight or less, and further 0.1 to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the base polymer. In addition, from the viewpoint of preventing deterioration and the like, additives such as various tackifiers and anti-aging agents may be used for the pressure-sensitive adhesive in addition to the above components.

粘着剤層52を構成する粘着剤としては、放射線硬化型粘着剤が好適である。放射線硬化型粘着剤としては、前述の粘着剤に、放射線硬化性のモノマー成分や放射線硬化性のオリゴマー成分を配合した添加型の放射線硬化型粘着剤を例示できる。   As the pressure-sensitive adhesive constituting the pressure-sensitive adhesive layer 52, a radiation curable pressure-sensitive adhesive is suitable. Examples of the radiation-curable pressure-sensitive adhesive include additive-type radiation-curable pressure-sensitive adhesives in which a radiation-curable monomer component or a radiation-curable oligomer component is blended with the above-mentioned pressure-sensitive adhesive.

配合する放射線硬化性のモノマー成分としては、例えば、ウレタン(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリストールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリストールモノヒドロキシペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらのモノマー成分は、1種又は2種以上併用できる。   Examples of the radiation curable monomer component to be blended include urethane (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, tetramethylolmethane tetra (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra ( Examples thereof include (meth) acrylate, dipentaerythritol monohydroxypenta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, and 1,4-butanediol di (meth) acrylate. These monomer components can be used alone or in combination of two or more.

また、放射線硬化性のオリゴマー成分はウレタン系、ポリエーテル系、ポリエステル系、ポリカーボネート系、ポリブタジエン系等種々のオリゴマーがあげられ、その分子量が100〜30000程度の範囲のものが適当である。放射線硬化性のモノマー成分やオリゴマー成分の配合量は、前記粘着剤層52の種類に応じて、粘着剤層52の粘着力を低下できる量を、適宜に決定することができる。一般的には、粘着剤を構成するアクリル系ポリマー等のベースポリマー100重量部に対して、例えば5重量部〜500重量部、好ましくは70重量部〜150重量部程度である。   Examples of the radiation curable oligomer component include various oligomers such as urethane, polyether, polyester, polycarbonate, and polybutadiene, and those having a molecular weight in the range of about 100 to 30,000 are suitable. The amount of the radiation curable monomer component or oligomer component can be appropriately determined in accordance with the type of the pressure-sensitive adhesive layer 52, and the amount by which the pressure-sensitive adhesive strength of the pressure-sensitive adhesive layer 52 can be reduced. Generally, it is, for example, about 5 to 500 parts by weight, preferably about 70 to 150 parts by weight with respect to 100 parts by weight of a base polymer such as an acrylic polymer constituting the pressure-sensitive adhesive.

また、放射線硬化型粘着剤としては、前記添加型の放射線硬化型粘着剤の他に、ベースポリマーとして炭素−炭素二重結合をポリマー側鎖又は主鎖中もしくは主鎖末端に有するものを用いた内在型の放射線硬化型粘着剤も挙げられる。内在型の放射線硬化型粘着剤は、低分子成分であるオリゴマー成分等を含有する必要がなく、又は多くを含まないため、経時的にオリゴマー成分等が粘着剤在中を移動することなく、安定した層構造の粘着剤層52を形成することができるため好ましい。   As the radiation curable pressure-sensitive adhesive, in addition to the additive-type radiation curable pressure-sensitive adhesive, a base polymer having a carbon-carbon double bond in the polymer side chain or main chain or at the main chain terminal was used. An internal radiation-curable pressure-sensitive adhesive is also included. Intrinsic radiation curable adhesives do not need to contain oligomer components, which are low molecular components, or do not contain much, so they are stable without the oligomer components moving through the adhesive over time. This is preferable because the pressure-sensitive adhesive layer 52 having a layered structure can be formed.

炭素−炭素二重結合を有するベースポリマーは、炭素−炭素二重結合を有し、かつ粘着性を有するものを特に制限なく使用できる。この様なベースポリマーとしては、アクリル系ポリマーを基本骨格とするものが好ましい。アクリル系ポリマーの基本骨格としては、前記例示したアクリル系ポリマーが挙げられる。   As the base polymer having a carbon-carbon double bond, those having a carbon-carbon double bond and having adhesiveness can be used without particular limitation. As such a base polymer, those having an acrylic polymer as a basic skeleton are preferable. Examples of the basic skeleton of the acrylic polymer include the acrylic polymers exemplified above.

アクリル系ポリマーへの炭素−炭素二重結合の導入法は特に制限されず、様々な方法を採用できるが、炭素−炭素二重結合はポリマー側鎖に導入するのが分子設計の上で容易である。例えば、予め、アクリル系ポリマーに官能基を有するモノマーを共重合した後、この官能基と反応しうる官能基及び炭素−炭素二重結合を有する化合物を、炭素−炭素二重結合の放射線硬化性を維持したまま縮合又は付加反応させる方法が挙げられる。   The method for introducing the carbon-carbon double bond into the acrylic polymer is not particularly limited, and various methods can be adopted. However, it is easy in terms of molecular design to introduce the carbon-carbon double bond into the polymer side chain. is there. For example, after a monomer having a functional group is previously copolymerized with an acrylic polymer, a compound having a functional group capable of reacting with the functional group and a carbon-carbon double bond is converted into a radiation curable carbon-carbon double bond. A method of performing condensation or addition reaction while maintaining the above.

これら官能基の組合せの例としては、カルボン酸基とエポキシ基、カルボン酸基とアジリジル基、ヒドロキシル基とイソシアネート基等が挙げられる。これら官能基の組合せのなかでも反応追跡の容易さから、ヒドロキシル基とイソシアネート基との組合せが好適である。また、これら官能基の組み合わせにより、前記炭素−炭素二重結合を有するアクリル系ポリマーを生成するような組合せであれば、官能基はアクリル系ポリマーと前記化合物のいずれの側にあってもよいが、前記の好ましい組み合わせでは、アクリル系ポリマーがヒドロキシル基を有し、前記化合物がイソシアネート基を有する場合が好適である。この場合、炭素−炭素二重結合を有するイソシアネート化合物としては、例えば、メタクリロイルイソシアネート、2−メタクリロイルオキシエチルイソシアネート、m−イソプロペニル−α,α−ジメチルベンジルイソシアネート等が挙げられる。また、アクリル系ポリマーとしては、前記例示のヒドロキシ基含有モノマーや2−ヒドロキシエチルビニルエーテル、4−ヒドロキシブチルビニルエーテル、ジエチレングルコールモノビニルエーテルのエーテル系化合物等を共重合したものが用いられる。   Examples of combinations of these functional groups include carboxylic acid groups and epoxy groups, carboxylic acid groups and aziridyl groups, hydroxyl groups and isocyanate groups, and the like. Among these combinations of functional groups, a combination of a hydroxyl group and an isocyanate group is preferable because of easy tracking of the reaction. Moreover, the functional group may be on either side of the acrylic polymer and the compound as long as the acrylic polymer having the carbon-carbon double bond is generated by a combination of these functional groups. In the preferable combination, it is preferable that the acrylic polymer has a hydroxyl group and the compound has an isocyanate group. In this case, examples of the isocyanate compound having a carbon-carbon double bond include methacryloyl isocyanate, 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, m-isopropenyl-α, α-dimethylbenzyl isocyanate, and the like. Further, as the acrylic polymer, those obtained by copolymerizing the above-exemplified hydroxy group-containing monomers, ether compounds of 2-hydroxyethyl vinyl ether, 4-hydroxybutyl vinyl ether, diethylene glycol monovinyl ether, or the like are used.

内在型の放射線硬化型粘着剤は、前記炭素−炭素二重結合を有するベースポリマー(特にアクリル系ポリマー)を単独で使用することができるが、特性を悪化させない程度に前記放射線硬化性のモノマー成分やオリゴマー成分等の光重合性化合物を配合することもできる。当該光重合性化合物の配合量は、通常ベースポリマー100重量部に対して30重量部以下の範囲内であり、好ましくは0〜10重量部の範囲内である。   The internal radiation curable pressure-sensitive adhesive can use the base polymer (particularly acrylic polymer) having the carbon-carbon double bond alone, but the radiation curable monomer component does not deteriorate the characteristics. And photopolymerizable compounds such as oligomer components can also be blended. The compounding amount of the photopolymerizable compound is usually in the range of 30 parts by weight or less, preferably in the range of 0 to 10 parts by weight, with respect to 100 parts by weight of the base polymer.

放射線硬化型粘着剤には、紫外線等により硬化させる場合には光重合開始剤を含有させることが好ましい。   The radiation curable pressure-sensitive adhesive preferably contains a photopolymerization initiator when cured by ultraviolet rays or the like.

上述のアクリル系ポリマーの中でも、特にCH=CHCOOR(式中、Rは炭素数が4〜18のアルキル基である。)で表されるアクリル酸エステルと、ヒドロキシル基含有モノマーと、分子内にラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有するイソシアネート化合物とを含んで構成されるアクリル系ポリマーAが好ましい。 Among the acrylic polymers described above also, in particular CH 2 = CHCOOR (wherein, R a carbon number of alkyl groups of 4 to 18.) Acrylic acid ester represented by the hydroxyl group-containing monomer, in the molecule Acrylic polymer A comprising an isocyanate compound having a radical reactive carbon-carbon double bond is preferred.

アクリル酸アルキルエステルのアルキル基の炭素数が4未満であると、極性が高く剥離力が大きくなり過ぎてピックアップ性が低下する場合がある。一方、アクリル酸アルキルエステルのアルキル基の炭素数が18を超えると、粘着剤層52のガラス転移温度が高くなり過ぎて、常温での接着特性が低下し、その結果、ダイシングの際に金属層3の剥離が発生する場合がある。   When the number of carbon atoms in the alkyl group of the acrylic acid alkyl ester is less than 4, the polarity is high and the peeling force becomes too large, so that the pickup property may be lowered. On the other hand, when the number of carbon atoms in the alkyl group of the acrylic acid alkyl ester exceeds 18, the glass transition temperature of the pressure-sensitive adhesive layer 52 becomes too high, and the adhesive properties at room temperature are deteriorated. 3 peeling may occur.

上記アクリル系ポリマーAは、必要に応じ、他のモノマー成分に対応する単位を含んでいてもよい。   The acrylic polymer A may contain units corresponding to other monomer components as necessary.

アクリル系ポリマーAでは、ラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有するイソシアネート化合物が用いられる。すなわち、アクリルポリマーは、前記アクリル酸エステルやヒドロキシル基含有モノマー等のモノマー組成物によるポリマーに、二重結合含有イソシアネート化合物が付加反応された構成を有していることが好ましい。従って、アクリル系ポリマーは、その分子構造内に、ラジカル反応性炭素−炭素二重結合を有していることが好ましい。これにより、活性エネルギー線(紫外線など)の照射によって硬化する活性エネルギー線硬化型粘着剤層(紫外線硬化型粘着剤層など)とすることができ、金属層3と粘着剤層52との剥離力を低下させることができる。   In the acrylic polymer A, an isocyanate compound having a radical reactive carbon-carbon double bond is used. That is, it is preferable that the acrylic polymer has a configuration in which a double bond-containing isocyanate compound is subjected to an addition reaction with a polymer based on a monomer composition such as an acrylic ester or a hydroxyl group-containing monomer. Therefore, the acrylic polymer preferably has a radical reactive carbon-carbon double bond in its molecular structure. Thereby, it can be set as the active energy ray hardening-type adhesive layer (ultraviolet ray hardening-type adhesive layer etc.) hardened | cured by irradiation of an active energy ray (ultraviolet rays etc.), and the peeling force of the metal layer 3 and the adhesive layer 52 Can be reduced.

二重結合含有イソシアネート化合物としては、例えば、メタクリロイルイソシアネート、アクリロイルイソシアネート、2−メタクリロイルオキシエチルイソシアネート、2−アクリロイルオキシエチルイソシアネート、m−イソプロペニル−α,α−ジメチルベンジルイソシアネート等が挙げられる。二重結合含有イソシアネート化合物は単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。   Examples of the double bond-containing isocyanate compound include methacryloyl isocyanate, acryloyl isocyanate, 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, 2-acryloyloxyethyl isocyanate, m-isopropenyl-α, α-dimethylbenzyl isocyanate, and the like. A double bond containing isocyanate compound can be used individually or in combination of 2 or more types.

また、活性エネルギー線硬化型粘着剤には、活性エネルギー線照射前の粘着力や、活性エネルギー線照射後の粘着力を調整する為、外部架橋剤を適宜に用いることもできる。外部架橋方法の具体的手段としては、ポリイソシアネート化合物、エポキシ化合物、アジリジン化合物、メラミン系架橋剤等のいわゆる架橋剤を添加し反応させる方法が挙げられる。外部架橋剤を使用する場合、その使用量は、架橋すべきベースポリマーとのバランスにより、更には、粘着剤としての使用用途によって適宜決定される。外部架橋剤の使用量は、一般的には、前記ベースポリマー100重量部に対して、20重量部以下(好ましくは0.1重量部〜10重量部)である。更に、活性エネルギー線硬化型粘着剤には、必要により、前記成分のほかに、従来公知の各種の粘着付与剤、老化防止剤、発泡剤等の添加剤が配合されていてもよい。   Moreover, in order to adjust the adhesive force before active energy ray irradiation and the adhesive force after active energy ray irradiation to an active energy ray hardening-type adhesive, an external crosslinking agent can also be used suitably. Specific examples of the external crosslinking method include a method of adding a so-called crosslinking agent such as a polyisocyanate compound, an epoxy compound, an aziridine compound, a melamine crosslinking agent, and reacting them. When using an external cross-linking agent, the amount used is appropriately determined depending on the balance with the base polymer to be cross-linked and further depending on the intended use as an adhesive. The amount of the external crosslinking agent used is generally 20 parts by weight or less (preferably 0.1 to 10 parts by weight) with respect to 100 parts by weight of the base polymer. Further, the active energy ray-curable pressure-sensitive adhesive may contain various conventionally known additives such as tackifiers, anti-aging agents, and foaming agents in addition to the above components, if necessary.

粘着剤層52の厚みは、特に制限されず適宜に決定できるが、一般的には5〜200μm程度である。また、粘着剤層52は単層で構成されても複数層で構成されていてもよい。   The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 52 is not particularly limited and can be appropriately determined, but is generally about 5 to 200 μm. The pressure-sensitive adhesive layer 52 may be composed of a single layer or a plurality of layers.

<金属層3>
金属層3を構成する金属としては、特に限定されず、例えば、ステンレス、アルミニウム、鉄、チタン、スズ、ニッケル及び銅からなる群より選択される少なくとも1種であることが放熱性、電子デバイスパッケージ8の反り防止の点から好ましい。これらの中でも、熱伝導性が高く放熱の効果が得られる観点から、銅を含むことが特に好ましい。また、電子デバイスパッケージ8の反り防止の観点からは、アルミニウムを含むことが特に好ましい。
<Metal layer 3>
The metal constituting the metal layer 3 is not particularly limited. For example, the metal layer 3 is at least one selected from the group consisting of stainless steel, aluminum, iron, titanium, tin, nickel, and copper. 8 is preferable from the viewpoint of preventing warpage. Among these, it is particularly preferable to contain copper from the viewpoint of high thermal conductivity and obtaining a heat dissipation effect. In addition, from the viewpoint of preventing warpage of the electronic device package 8, it is particularly preferable to include aluminum.

金属層3の厚さは、5μm以上200μm未満である。5μm以上とすることにより、放熱効果やパッケージの反りの抑制効果を得ることができる。また、200μm未満であれば巻取り加工が容易である。   The thickness of the metal layer 3 is 5 μm or more and less than 200 μm. By setting the thickness to 5 μm or more, it is possible to obtain a heat dissipation effect and a package warpage suppressing effect. Moreover, if it is less than 200 micrometers, winding will be easy.

<接着剤層4>
接着剤層4は、接着剤を予めフィルム化したものである。
<Adhesive layer 4>
The adhesive layer 4 is a film obtained by previously forming an adhesive.

接着剤層4は、少なくとも熱硬化性樹脂により形成されており、少なくとも熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とにより形成されていることが好ましい。   The adhesive layer 4 is formed of at least a thermosetting resin, and is preferably formed of at least a thermosetting resin and a thermoplastic resin.

熱可塑性樹脂としては、例えば、天然ゴム、ブチルゴム、イソプレンゴム、クロロプレンゴム、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体、エチレン−アクリル酸エステル共重合体、ポリブタジエン樹脂、ポリカーボネート樹脂、熱可塑性ポリイミド樹脂、6−ナイロンや6,6−ナイロン等のポリアミド樹脂、フェノキシ樹脂、アクリル樹脂、PET(ポリエチレンテレフタレート)やPBT(ポリブチレンテレフタレート)等の飽和ポリエステル樹脂、ポリアミドイミド樹脂、又はフッ素樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂は単独で又は2種以上を併用して用いることができる。これらの熱可塑性樹脂のうち、イオン性不純物が少なく応力緩和性に優れる点でアクリル樹脂が、可とう性と強度を両立して高靭性である点でフェノキシ樹脂が、それぞれの観点で半導体素子の信頼性を確保しやすくできるため、特に好ましい。   Examples of the thermoplastic resin include natural rubber, butyl rubber, isoprene rubber, chloroprene rubber, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-acrylic acid copolymer, ethylene-acrylic acid ester copolymer, polybutadiene resin, polycarbonate resin, Thermoplastic polyimide resin, polyamide resin such as 6-nylon and 6,6-nylon, phenoxy resin, acrylic resin, saturated polyester resin such as PET (polyethylene terephthalate) and PBT (polybutylene terephthalate), polyamideimide resin, or fluorine resin Etc. A thermoplastic resin can be used individually or in combination of 2 or more types. Among these thermoplastic resins, acrylic resins are less ionic impurities and have excellent stress relaxation properties, phenoxy resins are both high flexibility and strength and high toughness. This is particularly preferable because reliability can be easily secured.

アクリル樹脂としては、特に限定されるものではなく、炭素数30以下(好ましくは炭素数1〜18)の直鎖若しくは分岐のアルキル基を有するアクリル酸又はメタクリル酸のエステルの1種又は2種以上を成分とする重合体等が挙げられる。すなわち、本発明では、アクリル樹脂とは、メタクリル樹脂も含む広義の意味である。前記アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、t−ブチル基、イソブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、へキシル基、ヘプチル基、2−エチルヘキシル基、オクチル基、イソオクチル基、ノニル基、イソノニル基、デシル基、イソデシル基、ウンデシル基、ドデシル基(ラウリル基)、トリデシル基、テトラデシル基、ステアリル基、オクタデシル基等が挙げられる。   The acrylic resin is not particularly limited, and one or more of esters of acrylic acid or methacrylic acid having a linear or branched alkyl group having 30 or less carbon atoms (preferably 1 to 18 carbon atoms). And the like. That is, in the present invention, acrylic resin has a broad meaning including methacrylic resin. Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, t-butyl group, isobutyl group, pentyl group, isopentyl group, hexyl group, heptyl group, and 2-ethylhexyl group. Octyl group, isooctyl group, nonyl group, isononyl group, decyl group, isodecyl group, undecyl group, dodecyl group (lauryl group), tridecyl group, tetradecyl group, stearyl group, octadecyl group and the like.

また、アクリル樹脂を形成するための他のモノマー(アルキル基の炭素数が30以下のアクリル酸又はメタクリル酸のアルキルエステル以外のモノマー)としては、特に限定されるものではなく、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、カルボキシエチルアクリレート、カルボキシペンチルアクリレート、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸若しくはクロトン酸等の様なカルボキシル基含有モノマー、無水マレイン酸若しくは無水イタコン酸等の様な酸無水物モノマー、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸6−ヒドロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸8−ヒドロキシオクチル、(メタ)アクリル酸10−ヒドロキシデシル、(メタ)アクリル酸12−ヒドロキシラウリル若しくは(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシル)−メチルアクリレート等の様なヒドロキシル基含有モノマー、スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、2−(メタ)アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、(メタ)アクリルアミドプロパンスルホン酸、スルホプロピル(メタ)アクリレート若しくは(メタ)アクリロイルオキシナフタレンスルホン酸等の様なスルホン酸基含有モノマー、又は2−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェート等の様な燐酸基含有モノマーなどが挙げられる。尚、(メタ)アクリル酸とはアクリル酸及び/又はメタクリル酸をいい、本発明の(メタ)とは全て同様の意味である。   In addition, the other monomer for forming the acrylic resin (a monomer other than an alkyl ester of acrylic acid or methacrylic acid having an alkyl group with 30 or less carbon atoms) is not particularly limited. For example, acrylic acid, Carboxyl group-containing monomers such as methacrylic acid, carboxyethyl acrylate, carboxypentyl acrylate, itaconic acid, maleic acid, fumaric acid or crotonic acid, acid anhydride monomers such as maleic anhydride or itaconic anhydride, (meth) 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, 6-hydroxyhexyl (meth) acrylate, 8-hydroxyoctyl (meth) acrylate, (meth) 10-hydroxydecyl acrylate Hydroxyl group-containing monomers such as (meth) acrylic acid 12-hydroxylauryl or (4-hydroxymethylcyclohexyl) -methyl acrylate, styrenesulfonic acid, allylsulfonic acid, 2- (meth) acrylamide-2-methylpropanesulfonic acid Sulfonic acid group-containing monomers such as (meth) acrylamide propane sulfonic acid, sulfopropyl (meth) acrylate or (meth) acryloyloxynaphthalene sulfonic acid, or phosphoric acid group-containing monomers such as 2-hydroxyethyl acryloyl phosphate Is mentioned. In addition, (meth) acrylic acid means acrylic acid and / or methacrylic acid, and (meth) of the present invention has the same meaning.

また、熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂の他、アミノ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、シリコーン樹脂、熱硬化性ポリイミド樹脂等が挙げられる。熱硬化性樹脂は、単独で又は2種以上併用して用いることができる。熱硬化性樹脂としては、特に、半導体素子を腐食させるイオン性不純物等含有が少ないエポキシ樹脂が好適である。また、エポキシ樹脂の硬化剤としてはフェノール樹脂を好適に用いることができる。   Examples of the thermosetting resin include an epoxy resin, a phenol resin, an amino resin, an unsaturated polyester resin, a polyurethane resin, a silicone resin, and a thermosetting polyimide resin. A thermosetting resin can be used individually or in combination of 2 or more types. As the thermosetting resin, an epoxy resin containing a small amount of ionic impurities that corrode semiconductor elements is particularly suitable. Moreover, a phenol resin can be used suitably as a hardening | curing agent of an epoxy resin.

エポキシ樹脂としては、特に限定は無く、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フルオンレン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、トリスヒドロキシフェニルメタン型エポキシ樹脂、テトラフェニロールエタン型エポキシ樹脂等の二官能エポキシ樹脂や多官能エポキシ樹脂、又はヒダントイン型エポキシ樹脂、トリスグリシジルイソシアヌレート型エポキシ樹脂若しくはグリシジルアミン型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂を用いることができる。   The epoxy resin is not particularly limited. For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, brominated bisphenol A type epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy. Bifunctional epoxy such as resin, biphenyl type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, fluorene type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, orthocresol novolak type epoxy resin, trishydroxyphenylmethane type epoxy resin, tetraphenylolethane type epoxy resin Epoxy resin such as resin, polyfunctional epoxy resin, hydantoin type epoxy resin, trisglycidyl isocyanurate type epoxy resin or glycidylamine type epoxy resin It can be used.

エポキシ樹脂としては、例示のうちノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、トリスヒドロキシフェニルメタン型エポキシ樹脂、テトラフェニロールエタン型エポキシ樹脂が特に好ましい。これらのエポキシ樹脂は、硬化剤としてのフェノール樹脂との反応性に富み、耐熱性等に優れるからである。   As examples of the epoxy resin, novolak type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, trishydroxyphenylmethane type epoxy resins, and tetraphenylolethane type epoxy resins are particularly preferable. This is because these epoxy resins are rich in reactivity with a phenol resin as a curing agent and are excellent in heat resistance and the like.

更に、フェノール樹脂は、エポキシ樹脂の硬化剤として作用するものであり、例えば、フェノールノボラック樹脂、フェノールアラルキル樹脂、クレゾールノボラック樹脂、tert−ブチルフェノールノボラック樹脂、ノニルフェノールノボラック樹脂等のノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂、ポリパラオキシスチレン等のポリオキシスチレン等が挙げられる。フェノール樹脂は単独で又は2種以上を併用して用いることができる。これらのフェノール樹脂のうちフェノールノボラック樹脂、フェノールアラルキル樹脂が特に好ましい。半導体装置の接続信頼性を向上させることができるからである。   Furthermore, the phenol resin acts as a curing agent for the epoxy resin. For example, a novolak type phenol resin such as a phenol novolak resin, a phenol aralkyl resin, a cresol novolak resin, a tert-butylphenol novolak resin, a nonylphenol novolak resin, or a resol type. Examples thereof include phenol resins and polyoxystyrene such as polyparaoxystyrene. A phenol resin can be used individually or in combination of 2 or more types. Of these phenol resins, phenol novolac resins and phenol aralkyl resins are particularly preferred. This is because the connection reliability of the semiconductor device can be improved.

エポキシ樹脂とフェノール樹脂の配合割合は、例えば、エポキシ樹脂成分中のエポキシ基1当量当たりフェノール樹脂中の水酸基が0.5当量〜2.0当量になるように配合することが好適である。より好適なのは、0.8当量〜1.2当量である。即ち、両者の配合割合が前記範囲を外れると、十分な硬化反応が進まず、エポキシ樹脂硬化物の特性が劣化し易くなるからである。   The mixing ratio of the epoxy resin and the phenol resin is preferably such that, for example, the hydroxyl group in the phenol resin is 0.5 equivalent to 2.0 equivalents per equivalent of epoxy group in the epoxy resin component. More preferred is 0.8 equivalent to 1.2 equivalent. That is, if the blending ratio of both is out of the above range, sufficient curing reaction does not proceed and the properties of the cured epoxy resin are likely to deteriorate.

また、エポキシ樹脂とフェノール樹脂の熱硬化促進触媒が用いられていても良い。熱硬化促進触媒としては、特に制限されず、公知の熱硬化促進触媒の中から適宜選択して用いることができる。熱硬化促進触媒は単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。熱硬化促進触媒としては、例えば、アミン系硬化促進剤、リン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、ホウ素系硬化促進剤、リン−ホウ素系硬化促進剤などを用いることができる。   Moreover, the thermosetting acceleration | stimulation catalyst of an epoxy resin and a phenol resin may be used. The thermosetting acceleration catalyst is not particularly limited, and can be appropriately selected from known thermosetting acceleration catalysts. A thermosetting acceleration | stimulation catalyst can be used individually or in combination of 2 or more types. As the thermosetting acceleration catalyst, for example, an amine curing accelerator, a phosphorus curing accelerator, an imidazole curing accelerator, a boron curing accelerator, a phosphorus-boron curing accelerator, or the like can be used.

エポキシ樹脂の硬化剤としては、上述のようにフェノール樹脂を用いることが好ましいが、イミダゾール類、アミン類、酸無水物類等の公知の硬化剤を使用することもできる。   As the curing agent for the epoxy resin, it is preferable to use a phenol resin as described above, but known curing agents such as imidazoles, amines, and acid anhydrides can also be used.

接着剤層4は、電子デバイスなどの被着体9に対して接着性(密着性)を有していることが重要である。そこで、接着剤層4を予めある程度架橋させておくため、重合体の分子鎖末端の官能基等と反応する多官能性化合物を架橋剤として添加させておいてもよい。これにより、高温下での接着特性を向上させ、耐熱性の改善を図ることができる。   It is important that the adhesive layer 4 has adhesiveness (adhesion) to the adherend 9 such as an electronic device. Therefore, in order to crosslink the adhesive layer 4 to some extent in advance, a polyfunctional compound that reacts with the functional group at the end of the molecular chain of the polymer may be added as a crosslinking agent. Thereby, the adhesive property under high temperature can be improved and heat resistance can be improved.

架橋剤としては、特に制限されず、公知の架橋剤を用いることができる。具体的には、例えば、イソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、メラミン系架橋剤、過酸化物系架橋剤の他、尿素系架橋剤、金属アルコキシド系架橋剤、金属キレート系架橋剤、金属塩系架橋剤、カルボジイミド系架橋剤、オキサゾリン系架橋剤、アジリジン系架橋剤、アミン系架橋剤などが挙げられる。架橋剤としては、イソシアネート系架橋剤やエポキシ系架橋剤が好適である。また、前記架橋剤は単独で又は2種以上組み合わせて使用することができる。   The crosslinking agent is not particularly limited, and a known crosslinking agent can be used. Specifically, for example, an isocyanate crosslinking agent, an epoxy crosslinking agent, a melamine crosslinking agent, a peroxide crosslinking agent, a urea crosslinking agent, a metal alkoxide crosslinking agent, a metal chelate crosslinking agent, a metal salt Examples thereof include a system crosslinking agent, a carbodiimide crosslinking agent, an oxazoline crosslinking agent, an aziridine crosslinking agent, and an amine crosslinking agent. As the crosslinking agent, an isocyanate crosslinking agent or an epoxy crosslinking agent is suitable. Moreover, the said crosslinking agent can be used individually or in combination of 2 or more types.

なお、本発明では、架橋剤を用いる代わりに、あるいは、架橋剤を用いるとともに、電子線や紫外線などの照射により架橋処理を施すことも可能である。   In the present invention, instead of using a cross-linking agent or using a cross-linking agent, it is possible to carry out a cross-linking treatment by irradiation with an electron beam or ultraviolet rays.

接着剤層4には、必要に応じて他の添加剤を適宜に配合することができる。他の添加剤としては、例えば、充填剤(フィラー)、難燃剤、シランカップリング剤、イオントラップ剤の他、増量剤、老化防止剤、酸化防止剤、界面活性剤などが挙げられる。   The adhesive layer 4 can be appropriately mixed with other additives as necessary. Examples of other additives include fillers (fillers), flame retardants, silane coupling agents, ion trapping agents, bulking agents, antioxidants, antioxidants, and surfactants.

充填剤としては、無機充填剤、有機充填剤のいずれであってもよいが、無機充填剤が好適である。無機充填剤等の充填剤の配合により、接着剤層4に熱伝導性の向上、弾性率の調節等を図ることができる。無機充填剤としては、例えば、シリカ、クレー、石膏、炭酸カルシウム、硫酸バリウム、アルミナ、酸化ベリリウム、炭化珪素、窒化珪素、窒化アルミニウム等のセラミック類、アルミニウム、銅、銀、金、ニッケル、クロム、鉛、錫、亜鉛、パラジウム、半田などの金属、又は合金類、その他カーボンなどからなる種々の無機粉末などが挙げられる。充填剤は単独で又は2種以上を併用して用いることができる。充填剤としては、なかでも、シリカまたはアルミナが、シリカとしては特に溶融シリカが好適である。なお、無機充填剤の平均粒径は0.001μm〜80μmの範囲内であることが好ましい。無機充填剤の平均粒径は、例えば、レーザー回折型粒度分布測定装置によって測定することができる。   The filler may be either an inorganic filler or an organic filler, but an inorganic filler is suitable. By blending a filler such as an inorganic filler, the adhesive layer 4 can be improved in thermal conductivity, adjusted in elastic modulus, and the like. Examples of the inorganic filler include silica, clay, gypsum, calcium carbonate, barium sulfate, alumina, beryllium oxide, silicon carbide, silicon nitride, aluminum nitride, and other ceramics, aluminum, copper, silver, gold, nickel, chromium, Examples include various inorganic powders made of metals such as lead, tin, zinc, palladium, solder, alloys, and other carbon. A filler can be used individually or in combination of 2 or more types. Among these, silica or alumina is particularly suitable as the filler, and fused silica is particularly suitable as the silica. In addition, it is preferable that the average particle diameter of an inorganic filler exists in the range of 0.001 micrometer-80 micrometers. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by, for example, a laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus.

充填剤(特に無機充填剤)の配合量は、有機樹脂成分に対して98重量%以下(0重量%〜98重量%)であることが好ましく、特にシリカの場合は0重量%〜70重量%、熱伝導や導電などの機能性無機充填剤の場合は10重量%〜98重量であることが好適である。   The blending amount of the filler (particularly inorganic filler) is preferably 98% by weight or less (0% by weight to 98% by weight) with respect to the organic resin component, and particularly in the case of silica, 0% by weight to 70% by weight. In the case of a functional inorganic filler such as heat conduction or conductivity, the content is preferably 10% by weight to 98% by weight.

また、難燃剤としては、例えば、三酸化アンチモン、五酸化アンチモン、臭素化エポキシ樹脂等が挙げられる。難燃剤は、単独で、又は2種以上を併用して用いることができる。シランカップリング剤としては、例えば、β−(3、4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン等が挙げられる。シランカップリング剤は、単独で又は2種以上を併用して用いることができる。イオントラップ剤としては、例えばハイドロタルサイト類、水酸化ビスマス等が挙げられる。イオントラップ剤は、単独で又は2種以上を併用して用いることができる。   Examples of the flame retardant include antimony trioxide, antimony pentoxide, and brominated epoxy resin. A flame retardant can be used individually or in combination of 2 or more types. Examples of the silane coupling agent include β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, and the like. A silane coupling agent can be used individually or in combination of 2 or more types. Examples of the ion trapping agent include hydrotalcites and bismuth hydroxide. An ion trap agent can be used individually or in combination of 2 or more types.

接着剤層4は、接着性と信頼性の観点から、特に(A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)アクリル樹脂またはフェノキシ樹脂、および(D)表面処理された無機充填材を含有することが好ましい。   The adhesive layer 4 contains, in particular, (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, (C) an acrylic resin or a phenoxy resin, and (D) a surface-treated inorganic filler from the viewpoints of adhesiveness and reliability. It is preferable to do.

(A)エポキシ樹脂を用いることにより、高い接着性、耐水性、耐熱性を得られる。エポキシ樹脂としては、上述の公知のエポキシ樹脂を用いることができる。(B)硬化剤は上述の公知の硬化剤を用いることができる。   (A) By using an epoxy resin, high adhesiveness, water resistance, and heat resistance can be obtained. As the epoxy resin, the above-described known epoxy resins can be used. (B) The above-mentioned well-known hardening | curing agent can be used for a hardening | curing agent.

(C)アクリル樹脂は、可とう性と強度を両立して高靭性である。好ましいアクリル樹脂は、Tg(ガラス転移温度)が−50℃〜50℃であり、エポキシ基、グリシジル基、アルコール性水酸基、フェノール性水酸基またはカルボキシル基を架橋性官能基として有するモノマーを重合して得た架橋性官能基含有(メタ)アクリル共重合体である。さらに、アクリロニトリル等を含有してゴム特性を示すとより高靭性が得られる。
また、(C)フェノキシ樹脂は、フェノキシ樹脂は分子鎖が長くエポキシ樹脂と構造が似ており、高架橋密度の組成物中で可とう性材料として作用し、高靭性を付与するので高強度でありながらタフネスな組成物が得られる。好ましいフェノキシ樹脂は、主骨格がビスフェノールA型のものであるが、その他にビスフェノールF型フェノキシ樹脂、ビスフェノールA/F混合型フェノキシ樹脂や臭素化フェノキシ樹脂等市販のフェノキシ樹脂が好ましいものとして挙げられる。
(C) Acrylic resin has both high flexibility and strength and high toughness. A preferable acrylic resin has a Tg (glass transition temperature) of −50 ° C. to 50 ° C., and is obtained by polymerizing a monomer having an epoxy group, a glycidyl group, an alcoholic hydroxyl group, a phenolic hydroxyl group or a carboxyl group as a crosslinkable functional group. It is a crosslinkable functional group-containing (meth) acrylic copolymer. Furthermore, higher toughness can be obtained by containing acrylonitrile or the like and exhibiting rubber properties.
In addition, (C) phenoxy resin has high strength because phenoxy resin has a long molecular chain and is similar in structure to epoxy resin, acts as a flexible material in a composition with high crosslink density, and imparts high toughness. However, a tough composition can be obtained. Preferable phenoxy resins are those having a main skeleton of bisphenol A type, and other preferable examples include commercially available phenoxy resins such as bisphenol F type phenoxy resin, bisphenol A / F mixed type phenoxy resin and brominated phenoxy resin.

(D)表面処理された無機充填材としては、カップリング剤で表面処理された無機充填剤が挙げられる。無機充填材としては、上述の公知の無機充填剤を用いることができ、例えば、シリカ、アルミナである。カップリング剤で表面処理されていることにより、無機充填剤の分散性が良好になる。このため、流動性に優れる接着剤層を得られるので金属層3との接着力を向上させることができる。また、無機充填剤を高充填させることができるようになるので、吸水率を下げ耐湿性を向上させることができる。   (D) As the surface-treated inorganic filler, an inorganic filler surface-treated with a coupling agent can be mentioned. As the inorganic filler, the above-mentioned known inorganic fillers can be used, for example, silica and alumina. Due to the surface treatment with the coupling agent, the dispersibility of the inorganic filler is improved. For this reason, since the adhesive bond layer excellent in fluidity | liquidity can be obtained, the adhesive force with the metal layer 3 can be improved. Further, since the inorganic filler can be highly filled, the water absorption rate can be lowered and the moisture resistance can be improved.

例えばシランカップリング剤による無機充填材の表面処理は、公知の方法により、シランカップリング剤溶液中に無機充填材を分散させることにより、無機充填剤の表面に存在する水酸基とシランカップリング剤のアルコキシ基等の加水分解基が加水分解されたシラノール基とを反応させて無機充填剤の表面にSi−O−Si結合を生成することにより行われる。   For example, the surface treatment of the inorganic filler with the silane coupling agent is performed by dispersing the inorganic filler in the silane coupling agent solution by a known method, so that the hydroxyl group and the silane coupling agent present on the surface of the inorganic filler are mixed. This is performed by reacting a hydrolyzable group such as an alkoxy group with a hydrolyzed silanol group to form a Si—O—Si bond on the surface of the inorganic filler.

接着剤層4の厚さは特に制限されるものではないが、通常取扱い性の観点および放熱性から、3μm以上が好ましく、5μm以上がより好ましく、半導体パッケージの薄型化に寄与するために150μm以下が好ましく、100μm以下がより好ましい。接着剤層4は単層で構成されても複数層で構成されていてもよい。   The thickness of the adhesive layer 4 is not particularly limited, but is usually 3 μm or more, more preferably 5 μm or more, from the viewpoint of easy handling and heat dissipation, and 150 μm or less in order to contribute to thinning of the semiconductor package. Is preferable, and 100 μm or less is more preferable. The adhesive layer 4 may be composed of a single layer or a plurality of layers.

また、接着剤層4は、Bステージ(未硬化状態または半硬化状態)において金属層3との剥離力(23℃、剥離角度180度、線速300mm/分)が0.3N以上であることが好ましい。剥離力が0.3N未満であると、個片化(ダイシング)の際に、接着剤層4と金属層3との間で剥離が生じてしまうおそれがある。   The adhesive layer 4 has a peeling force (23 ° C., peeling angle of 180 degrees, linear speed of 300 mm / min) with the metal layer 3 in the B stage (uncured state or semi-cured state) of 0.3 N or more. Is preferred. If the peeling force is less than 0.3 N, peeling may occur between the adhesive layer 4 and the metal layer 3 during singulation (dicing).

接着剤層4の吸水率は、1.5vol%以下であることが好ましい。吸水率の測定方法は次の通りである。すなわち、50×50mmの大きさの接着剤層4(フィルム状接着剤)をサンプルとし、サンプルを真空乾燥機中で、120℃、3時間乾燥させ、デシケータ中で放冷後、乾燥質量を測定しM1とする。サンプルを蒸留水に室温で24時間浸してから取出し、サンプル表面をろ紙でふき取り、すばやく秤量してM2とする。吸水率は、次式(1)により算出される。
吸水率(vol%)=[(M2−M1)/(M1/d)]×100 (1)
ここで、dはフィルムの密度である。
吸水率が1.5vol%を超えると、吸水した水分によりはんだリフロー時にパッケージクラックを生じるおそれがある。
The water absorption rate of the adhesive layer 4 is preferably 1.5 vol% or less. The method for measuring the water absorption rate is as follows. That is, using a 50 × 50 mm adhesive layer 4 (film adhesive) as a sample, the sample was dried in a vacuum dryer at 120 ° C. for 3 hours, allowed to cool in a desiccator, and then measured for dry mass. And M1. The sample is immersed in distilled water at room temperature for 24 hours and then taken out. The surface of the sample is wiped off with a filter paper and quickly weighed to obtain M2. The water absorption rate is calculated by the following equation (1).
Water absorption (vol%) = [(M2-M1) / (M1 / d)] × 100 (1)
Here, d is the density of the film.
If the water absorption exceeds 1.5 vol%, package cracks may occur during solder reflow due to the absorbed water.

接着剤層4の飽和吸湿率は、1.0vol%以下であることが好ましい。飽和吸湿率の測定方法は次の通りである。すなわち、直径100mmの円形の接着剤層4(フィルム状接着剤)をサンプルとし、サンプルを真空乾燥機中で120℃、3時間乾燥させ、デシケータ中で放冷後、乾燥質量を測定しM1とする。サンプルを85℃、85%RHの恒温恒湿槽中で168時間吸湿してから取り出し、すばやく秤量してM2とする。飽和吸湿率は、次式(2)により算出される。
飽和吸湿率(vol%)=[(M2−M1)/(M1/d)]×100 (2)
ここで、dはフィルムの密度である。
飽和吸湿率が1.0vol%を超えると、リフロー時の吸湿により蒸気圧の値が高くなり、良好なリフロー特性が得られないおそれがある。
The saturated moisture absorption rate of the adhesive layer 4 is preferably 1.0 vol% or less. The method for measuring the saturated moisture absorption rate is as follows. That is, a circular adhesive layer 4 (film adhesive) having a diameter of 100 mm was used as a sample, the sample was dried at 120 ° C. for 3 hours in a vacuum dryer, allowed to cool in a desiccator, and then the dry mass was measured. To do. The sample is absorbed in a constant temperature and humidity chamber at 85 ° C. and 85% RH for 168 hours, then taken out, and weighed quickly to obtain M2. The saturated moisture absorption rate is calculated by the following equation (2).
Saturated moisture absorption (vol%) = [(M2-M1) / (M1 / d)] × 100 (2)
Here, d is the density of the film.
When the saturated moisture absorption rate exceeds 1.0 vol%, the value of vapor pressure increases due to moisture absorption during reflow, and good reflow characteristics may not be obtained.

接着剤層4の残存揮発分は、3.0wt%以下であることが好ましい。残存揮発成分の測定方法は次の通りである。すなわち、50×50mmの大きさの接着剤層4(フィルム状接着剤)をサンプルとし、サンプルの初期の質量を測定しM1とし、サンプルを熱風循環恒温槽中で200℃、2時間加熱後、秤量してM2とする。残存揮発分は、次式(3)により算出される。
残存揮発分(wt%)=[(M2−M1)/M1]×100 (3)
残存揮発分が3.0wt%を超えると、パッケージングの際の加熱により溶媒が揮発し、接着剤層4の内部にボイドが発生して、パッケージクラックが発生するおそれがある。
The residual volatile content of the adhesive layer 4 is preferably 3.0 wt% or less. The method for measuring the remaining volatile components is as follows. That is, using an adhesive layer 4 (film adhesive) having a size of 50 × 50 mm as a sample, measuring the initial mass of the sample as M1, and heating the sample at 200 ° C. for 2 hours in a hot air circulating thermostat, Weigh to M2. The remaining volatile content is calculated by the following equation (3).
Residual volatile matter (wt%) = [(M2-M1) / M1] × 100 (3)
If the residual volatile content exceeds 3.0 wt%, the solvent is volatilized by heating during packaging, and voids are generated inside the adhesive layer 4, which may cause package cracks.

金属層3の線膨脹係数の接着剤層4の線膨脹係数に対する比(金属層3の線膨脹係数/接着剤層4の線膨脹係数)は、0.2以上であることが好ましい。当該比が0.2未満であると、金属層3と接着剤層4との間で剥離が生じやすくなり、パッケージングの際にパッケージクラックが発生し、信頼性が低下するおそれがある。   The ratio of the linear expansion coefficient of the metal layer 3 to the linear expansion coefficient of the adhesive layer 4 (the linear expansion coefficient of the metal layer 3 / the linear expansion coefficient of the adhesive layer 4) is preferably 0.2 or more. If the ratio is less than 0.2, peeling between the metal layer 3 and the adhesive layer 4 is likely to occur, and package cracking may occur during packaging, which may reduce reliability.

次に、本実施の形態に係る電子デバイスパッケージ用テープ1の製造方法について説明する。まず、長尺の金属層3を用意する。金属層3としては、市販の金属箔を用いればよい。次に、図5(A)に示すように、金属層3を、長尺の基材テープ2の粘着面に貼合ローラr等を用いて貼合する。   Next, a method for manufacturing the electronic device package tape 1 according to the present embodiment will be described. First, a long metal layer 3 is prepared. As the metal layer 3, a commercially available metal foil may be used. Next, as shown in FIG. 5A, the metal layer 3 is bonded to the adhesive surface of the long base tape 2 using a bonding roller r or the like.

別途、長尺フィルム状の接着剤層4を形成する。接着剤層4は、樹脂組成物を調製し、フィルム状の層に形成する慣用の方法を利用し形成することができる。具体的には、例えば、適当なセパレータ(剥離紙など)上に前記樹脂組成物を塗布して乾燥し(熱硬化が必要な場合などでは、必要に応じて加熱処理を施し乾燥して)、接着剤層4を形成する方法等が挙げられる。前記樹脂組成物は、溶液であっても分散液であってもよい。   Separately, a long film adhesive layer 4 is formed. The adhesive layer 4 can be formed using a conventional method of preparing a resin composition and forming it into a film-like layer. Specifically, for example, the resin composition is applied on a suitable separator (such as release paper) and dried (in the case where heat curing is necessary, heat treatment is performed as necessary to dry), Examples include a method of forming the adhesive layer 4. The resin composition may be a solution or a dispersion.

次に、図5(B)に示すように、基材テープ2に貼合された金属層3上に、セパレータから剥離された接着剤層4を貼合ローラr等を用いて貼合する。   Next, as shown in FIG. 5B, the adhesive layer 4 peeled from the separator is bonded onto the metal layer 3 bonded to the base tape 2 using a bonding roller r or the like.

なお、上述では、基材テープ2に金属層3を貼合した後、金属層3上に接着剤層4を貼合するようにしたが、金属層3と接着剤層4とを貼合した後、金属層3側の面を基材テープ2に貼合してもよい。   In addition, in the above, after bonding the metal layer 3 to the base tape 2, the adhesive layer 4 was bonded onto the metal layer 3, but the metal layer 3 and the adhesive layer 4 were bonded together. Then, the surface on the metal layer 3 side may be bonded to the base tape 2.

次いで、図5(C)に示すように、外縁が所定のラベル形状(ここでは円形形状)で格子状の押切歯を用いて、接着剤層4及び金属層3を所定の大きさに予め個片化するとともに、全体形状が所定のラベル形状となるようにプリカットし、図5(D)に示すように、周辺の不要部分6を基材テープ2から剥離して除去する。ここで、個片化は、金属層3の平面の大きさ=接着剤層4の平面の大きさ<半導体チップCの第2面の平面の大きさとなるように行う。   Next, as shown in FIG. 5C, the adhesive layer 4 and the metal layer 3 are preliminarily separated into a predetermined size by using a grid-like pressing tooth whose outer edge is a predetermined label shape (here circular shape). In addition to being singulated, it is pre-cut so that the overall shape becomes a predetermined label shape, and the surrounding unnecessary portion 6 is peeled off from the base tape 2 and removed as shown in FIG. Here, the singulation is performed so that the size of the plane of the metal layer 3 = the size of the plane of the adhesive layer 4 <the size of the plane of the second surface of the semiconductor chip C.

なお、基材テープ2上に所定形状の金属層3および接着剤層4を形成する方法としては、上記に限定されるものではなく、長尺の金属層3を長尺の基材テープ2に貼合して、所定形状に打ち抜き、不要部分6を除去した後、所定形状に形成された接着剤層4を、所定形状の金属層3上に貼合してもよいし、予めそれぞれ所定形状に形成された金属層3と接着剤層4を基材テープ2に貼合してもよい。特に、図9に示すように、金属層3の平面の大きさ<接着剤層4の平面の大きさとする場合、このような方法により製造する。しかしながら、製造工程の手順の簡便性から、上述の図5(A)〜(D)に示す工程により製造することが好ましい。また、上述の図5(A)〜(D)に示す工程にて、接着剤層4及び金属層3を所定の大きさに予め個片化すれば、金属層3の平面の大きさ=接着剤層4の平面の大きさの接着剤層4及び金属層3の積層体を得ることができ、この積層体の電子デバイスの裏面に位置合わせをして搭載するのみで、電子デバイスの裏面に接着剤層4および金属層3を一時に搭載できるので、電子デバイスへの接着剤層および金属層の搭載工程の手順の簡便性の点でも優れる。また、金属層3を位置合わせして接着剤層4に搭載する必要がないため、金属層3の搭載位置にずれを生じることがないので搭載性にも優れる。   The method for forming the metal layer 3 and the adhesive layer 4 having a predetermined shape on the base tape 2 is not limited to the above, and the long metal layer 3 is formed on the long base tape 2. After bonding and punching into a predetermined shape and removing the unnecessary portion 6, the adhesive layer 4 formed in a predetermined shape may be bonded onto the metal layer 3 having a predetermined shape, The metal layer 3 and the adhesive layer 4 formed in the above may be bonded to the base tape 2. In particular, as shown in FIG. 9, when the size of the plane of the metal layer 3 is smaller than the size of the plane of the adhesive layer 4, the metal layer 3 is manufactured by such a method. However, it is preferable to manufacture by the process shown to above-mentioned FIG. 5 (A)-(D) from the simplicity of the procedure of a manufacturing process. 5A to 5D, if the adhesive layer 4 and the metal layer 3 are separated into a predetermined size in advance, the size of the plane of the metal layer 3 = adhesion A laminate of the adhesive layer 4 and the metal layer 3 having a plane size of the agent layer 4 can be obtained, and only by positioning and mounting on the back surface of the electronic device of this laminate, Since the adhesive layer 4 and the metal layer 3 can be mounted at a time, the procedure of mounting the adhesive layer and the metal layer on the electronic device is excellent in terms of simplicity. Further, since it is not necessary to align the metal layer 3 and mount it on the adhesive layer 4, the mounting position of the metal layer 3 does not shift, and the mountability is excellent.

また別途、粘着テープ5を作製する。基材フィルムは、従来公知の製膜方法により製膜することができる。当該製膜方法としては、例えばカレンダー製膜法、有機溶媒中でのキャスティング法、密閉系でのインフレーション押出法、Tダイ押出法、共押出し法、ドライラミネート法等が例示できる。次に、基材フィルム51上に粘着剤層組成物を塗布し、乾燥させて(必要に応じて加熱架橋させて)粘着剤層52を形成する。塗布方式としては、ロール塗工、スクリーン塗工、グラビア塗工等が挙げられる。なお、粘着剤層組成物を直接基材フィルム51に塗布して、基材フィルム51上に粘着剤層52を形成してもよく、また、粘着剤層組成物を表面に剥離処理を行った剥離紙等に塗布して粘着剤層52を形成させた後、該粘着剤層を基材フィルム51に転写させてもよい。これにより、基材フィルム51上に粘着剤層52が形成された粘着テープ5が作製される。   Separately, the adhesive tape 5 is produced. The base film can be formed by a conventionally known film forming method. Examples of the film forming method include a calendar film forming method, a casting method in an organic solvent, an inflation extrusion method in a closed system, a T-die extrusion method, a co-extrusion method, and a dry lamination method. Next, the pressure-sensitive adhesive layer composition is applied on the base film 51 and dried (heat-crosslinked as necessary) to form the pressure-sensitive adhesive layer 52. Examples of the coating method include roll coating, screen coating, and gravure coating. The pressure-sensitive adhesive layer composition may be directly applied to the base film 51 to form the pressure-sensitive adhesive layer 52 on the base film 51, and the pressure-sensitive adhesive layer composition was subjected to a peeling treatment on the surface. After the pressure-sensitive adhesive layer 52 is formed by applying to release paper or the like, the pressure-sensitive adhesive layer may be transferred to the base film 51. Thereby, the adhesive tape 5 in which the adhesive layer 52 was formed on the base film 51 is produced.

その後、図6(A)に示すように、基材テープ2上に設けられた所定形状の金属層3および接着剤層4の接着剤層4側の面に、粘着テープ5の粘着剤層52側の面が接するように、粘着テープ5をラミネートする。   Thereafter, as shown in FIG. 6 (A), the pressure-sensitive adhesive layer 52 of the pressure-sensitive adhesive tape 5 is formed on the surface of the metal layer 3 and the adhesive layer 4 on the side of the adhesive layer 4 provided on the base tape 2. The adhesive tape 5 is laminated so that the side surface contacts.

次に、図6(B)に示すように、粘着テープ5を所定形状に押切刃等を用いてプリカットし、図6(C)に示すように、周辺の不要部分7を基材テープ2から剥離して除去することにより、電子デバイスパッケージ用テープ1が作られる。なお、その後、プリカット加工に用いた基材テープ2を剥離して、公知のセパレーターを粘着テープ5の粘着剤層52と貼り合わせるようにしてもよい。   Next, as shown in FIG. 6 (B), the adhesive tape 5 is pre-cut into a predetermined shape using a press cutting blade or the like, and the surrounding unnecessary portion 7 is removed from the base tape 2 as shown in FIG. 6 (C). The tape 1 for electronic device package is made by peeling and removing. After that, the base tape 2 used for the precut process may be peeled off and a known separator may be bonded to the adhesive layer 52 of the adhesive tape 5.

<使用方法>
次に、本実施形態の電子デバイスパッケージ用テープ1を使用して電子デバイスパッケージ8を製造する方法について、図7〜図8を参照しながら説明する。
<How to use>
Next, a method for manufacturing the electronic device package 8 using the electronic device package tape 1 of the present embodiment will be described with reference to FIGS.

[半導体ウエハWのマウント工程]
先ず、本発明の電子デバイスパッケージ用テープ1とは別体の粘着テープDを用意し、該粘着テープD上の中央部に、図7(A)で示されるように、半導体ウエハWを貼着して、これを粘着保持させ固定する(半導体ウエハWのマウント工程)とともに、粘着テープDの周縁部にリングフレームRを貼合する。このとき、粘着テープDは、半導体ウエハWの裏面に貼着される。半導体ウエハWの裏面とは、回路面とは反対側の面(非回路面、非電極形成面などとも称される)を意味する。貼着方法は特に限定されないが、加熱圧着による方法が好ましい。圧着は、通常、圧着ロール等の押圧手段により押圧しながら行われる。
[Mounting process of semiconductor wafer W]
First, an adhesive tape D separate from the electronic device package tape 1 of the present invention is prepared, and a semiconductor wafer W is attached to the center of the adhesive tape D as shown in FIG. Then, the ring frame R is bonded to the peripheral portion of the adhesive tape D while the adhesive is held and fixed (mounting process of the semiconductor wafer W). At this time, the adhesive tape D is attached to the back surface of the semiconductor wafer W. The back surface of the semiconductor wafer W means a surface opposite to the circuit surface (also referred to as a non-circuit surface or a non-electrode forming surface). Although the sticking method is not specifically limited, the method by thermocompression bonding is preferable. The crimping is usually performed while pressing with a pressing means such as a crimping roll.

[半導体ウエハWのダイシング工程」
次に、図7(B)で示されるように、半導体ウエハWのダイシングを行う。これにより、半導体ウエハWを所定のサイズに切断して個片化(小片化)し、半導体チップCを製造する。ダイシングは、例えば、半導体ウエハWの回路面側から常法に従い行われる。また、本工程では、例えば、粘着テープDまで切り込みを行うフルカットと呼ばれる切断方式等を採用できる。本工程で用いるダイシング装置としては特に限定されず、従来公知のものを用いることができる。なお、粘着テープDのエキスパンドを行う場合、該エキスパンドは従来公知のエキスパンド装置を用いて行うことができる。
[Dicing process of semiconductor wafer W]
Next, as shown in FIG. 7B, dicing of the semiconductor wafer W is performed. As a result, the semiconductor wafer W is cut into a predetermined size and divided into pieces (small pieces), whereby the semiconductor chip C is manufactured. For example, the dicing is performed from the circuit surface side of the semiconductor wafer W according to a conventional method. Further, in this step, for example, a cutting method called full cut that cuts up to the adhesive tape D can be adopted. It does not specifically limit as a dicing apparatus used at this process, A conventionally well-known thing can be used. In addition, when expanding the adhesive tape D, this expand can be performed using a conventionally well-known expand apparatus.

[半導体チップCのピックアップ工程]
図7(C)で示されるように、半導体チップCのピックアップを行って、半導体チップCを粘着テープDより剥離させる。ピックアップの方法としては特に限定されず、従来公知の種々の方法を採用できる。例えば、半導体チップCおよびリングフレームRが貼り合わされた粘着テープDを、基材フィルム側を下にして、ピックアップ装置のステージS上に載置し、リングフレームRを固定した状態で、中空円柱形状の突き上げ部材Tを上昇させ、粘着テープDを拡張する。この状態で、個々の半導体チップCを粘着テープDの基材フィルム側からピンNによって突き上げ、突き上げられた半導体チップCをピックアップ装置によってピックアップする方法等が挙げられる。
[Pickup process of semiconductor chip C]
As shown in FIG. 7C, the semiconductor chip C is picked up, and the semiconductor chip C is peeled off from the adhesive tape D. The pickup method is not particularly limited, and various conventionally known methods can be employed. For example, the adhesive tape D on which the semiconductor chip C and the ring frame R are bonded is placed on the stage S of the pickup device with the base film side down, and the ring frame R is fixed in a hollow cylindrical shape. The push-up member T is raised and the adhesive tape D is expanded. In this state, there is a method in which each semiconductor chip C is pushed up by a pin N from the base film side of the adhesive tape D, and the pushed-up semiconductor chip C is picked up by a pickup device.

[フリップチップ接続工程]
ピックアップした半導体チップCは、図7(D)で示されるように、基板等の被着体9に、フリップチップボンディング方式(フリップチップ実装方式)により固定させる。具体的には、半導体チップCを、半導体チップCの回路面(表面、回路パターン形成面、電極形成面などとも称される)が被着体9と対向する形態で、被着体9に常法に従い固定させる。例えば、まず半導体チップCの回路面側に形成されている接続部としてのバンプ10にフラックスを付着させる。次いで、半導体チップCのバンプ10を被着体9の接続パッドに被着された接合用の導電材11(半田など)に接触させて押圧しながらバンプ10及び導電材11を溶融させることにより、半導体チップCと被着体9との電気的導通を確保し、半導体チップCを被着体9に固定させることができる(フリップチップボンディング工程)。このとき、半導体チップCと被着体9との間には空隙が形成されており、その空隙間距離は、一般的に30μm〜300μm程度である。半導体チップCと被着体9との対向面や間隙に残存するフラックスは洗浄除去する。
[Flip chip connection process]
As shown in FIG. 7D, the picked-up semiconductor chip C is fixed to an adherend 9 such as a substrate by a flip chip bonding method (flip chip mounting method). Specifically, the semiconductor chip C is always placed on the adherend 9 such that the circuit surface (also referred to as a surface, a circuit pattern formation surface, an electrode formation surface, etc.) of the semiconductor chip C faces the adherend 9. Fix according to law. For example, first, flux is attached to the bumps 10 as connection portions formed on the circuit surface side of the semiconductor chip C. Next, the bump 10 and the conductive material 11 are melted while bringing the bump 10 of the semiconductor chip C into contact with the bonding conductive material 11 (solder or the like) attached to the connection pad of the adherend 9 and pressing it. The electrical conduction between the semiconductor chip C and the adherend 9 can be ensured, and the semiconductor chip C can be fixed to the adherend 9 (flip chip bonding step). At this time, a gap is formed between the semiconductor chip C and the adherend 9, and the air gap distance is generally about 30 μm to 300 μm. The flux remaining on the opposing surface or gap between the semiconductor chip C and the adherend 9 is removed by washing.

次に、図8に示すように、本実施形態に係る電子デバイスパッケージ8用の基材テープ2を剥離して、金属層3および粘着テープ5の粘着剤層を露出させ、粘着剤層の周縁部をリングフレームRに固定する。そして、個片化されている金属層3および接着剤層4をピックアップして、粘着テープ5より剥離させる。ピックアップは、上述の半導体チップCのピックアップ工程と同様の工程で行うことができる。   Next, as shown in FIG. 8, the base tape 2 for the electronic device package 8 according to the present embodiment is peeled to expose the pressure-sensitive adhesive layer of the metal layer 3 and the pressure-sensitive adhesive tape 5, and the periphery of the pressure-sensitive adhesive layer. The part is fixed to the ring frame R. Then, the separated metal layer 3 and adhesive layer 4 are picked up and separated from the adhesive tape 5. The pickup can be performed in the same process as the semiconductor chip C pickup process described above.

次に、ピックアップされた金属層3および接着剤層4の接着剤層4側を、フリップチップ接続された半導体チップCの裏面に貼合する。その後、金属層3付半導体チップCの周辺および半導体チップCと被着体9との間隙に封止材(封止樹脂など)を充填させて封止する。封止は、常法に従い行われる。このとき、金属層3の平面の大きさ=接着剤層4の平面の大きさ<半導体チップCの第2面の平面の大きさとなっており、接着剤層4が半導体チップCの外縁から平面方向に突出することがなく、金属層3が接着剤層4の外縁から平面方向に突出することもないため、電子デバイスパッケージを封止する際に、封止用の樹脂の圧力により、電子デバイスの外縁部から接着剤層4や金属層3が剥離してしまうことがない。したがって、フリップチップボンディング工程において半導体チップCと被着体9との熱膨張率差により生じた反りが、半導体チップCと金属層3との熱膨張率差により効果的に相殺される。また、電子デバイスとしての使用時の発熱が金属層3により効果的に放熱される。   Next, the picked-up metal layer 3 and the adhesive layer 4 side of the adhesive layer 4 are bonded to the back surface of the semiconductor chip C that is flip-chip connected. Thereafter, the periphery of the semiconductor chip C with the metal layer 3 and the gap between the semiconductor chip C and the adherend 9 are filled with a sealing material (such as a sealing resin) and sealed. Sealing is performed according to a conventional method. At this time, the size of the plane of the metal layer 3 = the size of the plane of the adhesive layer 4 <the size of the plane of the second surface of the semiconductor chip C, and the adhesive layer 4 is flat from the outer edge of the semiconductor chip C. The metal layer 3 does not protrude in the planar direction from the outer edge of the adhesive layer 4, and the electronic device is sealed by the pressure of the sealing resin when sealing the electronic device package. The adhesive layer 4 and the metal layer 3 are not peeled off from the outer edge portion. Therefore, the warp caused by the difference in thermal expansion coefficient between the semiconductor chip C and the adherend 9 in the flip chip bonding process is effectively offset by the difference in thermal expansion coefficient between the semiconductor chip C and the metal layer 3. Further, heat generated during use as an electronic device is effectively dissipated by the metal layer 3.

また、本実施の形態では、金属層3および接着剤層4が予め個片化された電子デバイスパッケージ用テープ1を用いたが、個片化されていない金属層3および接着剤層4の積層体を、半導体チップの第2面の平面の大きさより小さくなるようにダイシングした後にピックアップして、フリップチップ接続された半導体チップCの裏面に貼合してもよい。また、金属層3の平面の大きさ<接着剤層4の平面の大きさ<半導体チップCの第2面の平面の大きさとなるように、金属層3および接着剤層4をそれぞれダイシングして、接着剤層4、金属層3の順でそれぞれフリップチップ接続された半導体チップCの裏面に貼合してもよい。   In the present embodiment, the electronic device package tape 1 in which the metal layer 3 and the adhesive layer 4 are individually separated is used. However, the metal layer 3 and the adhesive layer 4 that are not individually separated are stacked. The body may be picked up after being diced so as to be smaller than the size of the plane of the second surface of the semiconductor chip, and bonded to the back surface of the flip-chip connected semiconductor chip C. Further, the metal layer 3 and the adhesive layer 4 are diced so that the size of the plane of the metal layer 3 <the size of the plane of the adhesive layer 4 <the size of the plane of the second surface of the semiconductor chip C. Alternatively, the adhesive layer 4 and the metal layer 3 may be bonded to the back surface of the semiconductor chip C flip-chip connected in this order.

また、本実施の形態では、粘着剤層52、接着剤層4、金属層3をこの順に設けるようにしたが、粘着剤層52、金属層3、接着剤層4をこの順に設けるようにしてもよい。   In this embodiment, the pressure-sensitive adhesive layer 52, the adhesive layer 4, and the metal layer 3 are provided in this order. However, the pressure-sensitive adhesive layer 52, the metal layer 3, and the adhesive layer 4 are provided in this order. Also good.

また、本実施の形態では、外形が円形ラベル形状の接着剤層4および金属層3を基材テープ2上に複数設けた電子デバイスパッケージ用テープ1を用いたが、幅が接着剤層4および金属層3の個片の幅(接着剤層4および金属層3を電子デバイスに貼合する際の幅)と同じで長尺のセパレーター上に、同じ幅で長尺の接着剤層と金属層とをこの順で積層してリール状に巻き取った電子デバイスパッケージ用テープを用いてもよい。セパレーターは公知のものを使用することができ、接着剤層および金属層は上述のものと同じものを使用することができる。このような電子デバイスパッケージ用テープを用いる場合、接着剤層および金属層を電子デバイスに貼合する長さに切断し、切断された接着剤層および金属層の個片をセパレーターから剥離して、該個片の接着剤層側を電子デバイスに貼り合わせる。この場合、金属層の平面の大きさ=接着剤層の平面の大きさとなるが、接着剤層および金属層の平面の大きさ<電子デバイスの第2面の平面の大きさとなるように設計する。   Further, in the present embodiment, the electronic device package tape 1 in which a plurality of adhesive layers 4 and metal layers 3 each having a circular label shape are provided on the base tape 2 is used. A long adhesive layer and a metal layer having the same width as the width of the individual pieces of the metal layer 3 (the width when the adhesive layer 4 and the metal layer 3 are bonded to an electronic device) May be used in this order, and a tape for an electronic device package may be used. A well-known thing can be used for a separator and the same thing as the above-mentioned thing can be used for an adhesive bond layer and a metal layer. When using such an electronic device packaging tape, cut the adhesive layer and the metal layer to a length to be bonded to the electronic device, peel off the cut pieces of the adhesive layer and the metal layer from the separator, The adhesive layer side of the piece is bonded to an electronic device. In this case, the size of the plane of the metal layer = the size of the plane of the adhesive layer, but the size of the plane of the adhesive layer and the metal layer <the size of the plane of the second surface of the electronic device is designed. .

また、幅が接着剤層4の個片の幅(電子デバイスに貼合する際の幅)と同じで長尺のセパレーター上に、同じ幅で長尺の接着剤層とセパレーターとをこの順で積層してリール状に巻き取った接着テープと、幅が金属層3の個片の幅(電子デバイスに搭載する際の幅)と同じで長尺の金属層をリール状に巻き取ったリール状金属層とを別個に用意してもよい。セパレーターは公知のものを使用することができ、接着剤層および金属層は上述のものと同じものを使用することができる。このような接着テープおよびリール状金属層を用いる場合、まず、接着テープの一方のセパレーターを剥離し、接着剤層を電子デバイスに貼合する長さに切断し、切断された接着剤層の個片を他方のセパレーターから剥離して電子デバイスに貼り合わせる。次に、リール状金属層を電子デバイスに搭載する長さに切断し、切断された金属層の個片を接着剤層を介して電子デバイスに貼り合わせて搭載する。この場合、金属層の平面の大きさ≦接着剤層の平面の大きさ<電子デバイスの第2面の平面の大きさとなるように設計する。   Moreover, the width | variety is the same as the width | variety of the piece of the adhesive bond layer 4 (width | variety at the time of bonding to an electronic device), and a long adhesive layer and a separator with the same width in this order on a long separator. Adhesive tape stacked and wound in a reel shape, and reel shape in which a long metal layer is wound in a reel shape with the same width as the width of the individual metal layer 3 (width when mounted on an electronic device) The metal layer may be prepared separately. A well-known thing can be used for a separator and the same thing as the above-mentioned thing can be used for an adhesive bond layer and a metal layer. When using such an adhesive tape and a reel-like metal layer, first, one separator of the adhesive tape is peeled off, and the adhesive layer is cut to a length to be bonded to an electronic device. The piece is peeled off from the other separator and attached to the electronic device. Next, the reel-shaped metal layer is cut into a length to be mounted on the electronic device, and the cut pieces of the metal layer are bonded to the electronic device through the adhesive layer and mounted. In this case, it is designed so that the size of the plane of the metal layer ≦ the size of the plane of the adhesive layer <the size of the plane of the second surface of the electronic device.

<実施例>
次に、本発明の効果をさらに明確にするために、実施例および比較例について詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
<Example>
Next, in order to further clarify the effects of the present invention, examples and comparative examples will be described in detail, but the present invention is not limited to these examples.

(1)粘着テープの作製
<粘着剤層組成物(1)>
官能基を有するアクリル系共重合体(A1)として、2−エチルヘキシルアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレートおよびメタクリル酸からなり、2−エチルヘキシルアクリレートの比率が60モル%、質量平均分子量70万の共重合体を調製した。次に、ヨウ素価が20となるように、2−イソシアナトエチルメタクリレートを添加して、ガラス転移温度−50℃、水酸基価10mgKOH/g、酸価5mgKOH/gのアクリル系共重合体(a1)を調製した。
(1) Preparation of adhesive tape <Adhesive layer composition (1)>
As the acrylic copolymer (A1) having a functional group, a copolymer comprising 2-ethylhexyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate and methacrylic acid, the ratio of 2-ethylhexyl acrylate being 60 mol%, and the weight average molecular weight being 700,000 Was prepared. Next, 2-isocyanatoethyl methacrylate is added so that the iodine value becomes 20, and an acrylic copolymer (a1) having a glass transition temperature of −50 ° C., a hydroxyl value of 10 mgKOH / g, and an acid value of 5 mgKOH / g. Was prepared.

上記アクリル系共重合体(a1)100質量部に対して、ポリイソシアネートとしてコロネートL(商品名、東ソー株式会社製)を5質量部加え、光重合開始剤としてEsacure KIP 150(商品名、Lamberti社製)を3質量部加えた混合物を、酢酸エチルに溶解させ、攪拌して粘着剤層組成物(1)を調製した。   To 100 parts by mass of the acrylic copolymer (a1), 5 parts by mass of Coronate L (trade name, manufactured by Tosoh Corporation) is added as a polyisocyanate, and Esacure KIP 150 (trade name, Lamberti) is used as a photopolymerization initiator. The mixture obtained by adding 3 parts by mass of the product was dissolved in ethyl acetate and stirred to prepare an adhesive layer composition (1).

基材フィルムとして以下のものを作製した。
<基材フィルム(1)>
エチレン−メタクリル酸共重合体の樹脂ビーズを200℃で溶融し、押出機を用いて厚さ100μm、ループスティフネス7mNの長尺フィルム状に成形して基材フィルム(1)を作製した。エチレン−メタクリル酸共重合体は、三井デュポンポリケミカル株式会社製のニュクレルNO35C(商品名)を使用した。
The following was produced as a base film.
<Base film (1)>
Resin beads of ethylene-methacrylic acid copolymer were melted at 200 ° C. and formed into a long film having a thickness of 100 μm and a loop stiffness of 7 mN using an extruder to prepare a base film (1). As the ethylene-methacrylic acid copolymer, Nucleol NO35C (trade name) manufactured by Mitsui DuPont Polychemical Co., Ltd. was used.

<粘着テープ(1)>
離型処理したポリエチレン−テレフタレートフィルムよりなる剥離ライナーに、上記粘着剤層組成物(1)を、乾燥後の厚さが10μmになるように塗工し、110℃で3分間乾燥させて粘着剤層とした後、上記基材フィルム(1)と貼り合わせ、粘着テープ(1)を作製した。
<Adhesive tape (1)>
The pressure-sensitive adhesive layer composition (1) is applied to a release liner made of a polyethylene-terephthalate film subjected to a release treatment so that the thickness after drying becomes 10 μm, and dried at 110 ° C. for 3 minutes to give a pressure-sensitive adhesive. After making it into a layer, it was bonded to the base film (1) to produce an adhesive tape (1).

(2)接着剤層の作製
<接着剤層(1)>
アクリル樹脂(ナガセケムテックス株式会社製、商品名「テイサンレジンSG−P3」、Mw85万、Tg12℃)80質量部と、ナフタレン型エポキシ樹脂(DIC株式会社製、商品名「HP−4700」)10質量部、硬化剤としてのフェノール樹脂(明和化成株式会社製、商品名「MEH7851」)10質量部とをメチルエチルケトンに溶解させ、接着剤層組成物溶液を調製した。この接着剤層組成物溶液を、シリコーン離型処理した厚さが50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム(剥離ライナー)上に塗布した後、130℃で5分間乾燥させた。これにより、厚さ10μmの接着剤層(1)を作製した。
(2) Preparation of adhesive layer <Adhesive layer (1)>
Acrylic resin (manufactured by Nagase ChemteX Corporation, trade name “Taisan Resin SG-P3”, Mw 850,000, Tg 12 ° C.) 80 parts by mass and naphthalene type epoxy resin (manufactured by DIC Corporation, trade name “HP-4700”) 10 An adhesive layer composition solution was prepared by dissolving 10 parts by mass of phenol resin (trade name “MEH7851”, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.) as a curing agent in methyl ethyl ketone. This adhesive layer composition solution was applied on a release film (release liner) made of a polyethylene terephthalate film having a thickness of 50 μm after the silicone release treatment, and then dried at 130 ° C. for 5 minutes. Thereby, an adhesive layer (1) having a thickness of 10 μm was produced.

(3)金属層の準備
<金属層(1)>
GTS−MP(商品名、古河電気工業株式会社製、銅箔、厚さ35μm)
(3) Preparation of metal layer <Metal layer (1)>
GTS-MP (trade name, manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd., copper foil, thickness 35 μm)

(4)基材テープの作製 (4) Production of base tape

基材テープとして以下のものを作製した。
(樹脂フィルムd−1)
スチレン−水添イソプレン−スチレンブロック共重合体(SEPS)(株式会社クラレ社製、商品名「セプトンKF−2104」)とホモプロピレン(PP)(宇部興産株式会社製、商品名「J−105G」)を40:60で示す配合比で混合した樹脂ビーズを200℃で溶融し、押出機を用いて厚さ90μmの長尺フィルム状に成形することにより、樹脂フィルムd−1を作製した。
The following was produced as a base tape.
(Resin film d-1)
Styrene-hydrogenated isoprene-styrene block copolymer (SEPS) (Kuraray Co., Ltd., trade name “Septon KF-2104”) and homopropylene (PP) (Ube Industries, Ltd., trade name “J-105G”) ) Was melted at 200 ° C. at a blending ratio of 40:60, and formed into a long film having a thickness of 90 μm using an extruder, thereby producing a resin film d-1.

(基材テープ用粘着剤層組成物e−1)
官能基を有するアクリル系共重合体(A2)として、2−エチルヘキシルアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレートおよびメタクリル酸からなり、2−エチルヘキシルアクリレートの比率が70モル%、質量平均分子量50万、ガラス転移温度−50℃、水酸基価30gKOH/g、酸価5mgKOH/gのアクリル系共重合体(a2)を調製した。
アクリル系共重合体(a2)100質量部に対して、ポリイソシアネート系化合物(商品名「コロネートL」、東ソー株式会社製)を8質量部加え、酢酸エチルに溶解させ、攪拌して、基材テープ用粘着剤層組成物e−1を得た。
<基材テープ(1)>
(Adhesive layer composition e-1 for substrate tape)
The acrylic copolymer (A2) having a functional group is composed of 2-ethylhexyl acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate and methacrylic acid, the ratio of 2-ethylhexyl acrylate is 70 mol%, the weight average molecular weight is 500,000, and the glass transition temperature. An acrylic copolymer (a2) having a hydroxyl value of 30 gKOH / g and an acid value of 5 mgKOH / g was prepared at -50 ° C.
8 parts by mass of a polyisocyanate compound (trade name “Coronate L”, manufactured by Tosoh Corporation) is added to 100 parts by mass of the acrylic copolymer (a2), dissolved in ethyl acetate, stirred, and the base material Tape adhesive layer composition e-1 was obtained.
<Base tape (1)>

調製した基材テープ用粘着剤層組成物e−1を、離型処理したポリエチレン−テレフタレートフィルムよりなる剥離ライナーに、乾燥後の厚さが10μmになるように塗工し、110℃で3分間乾燥させた後、上記樹脂フィルムd−1と貼り合わせ、樹脂フィルム上に基材テープ用粘着剤層が形成された基材テープ(1)を作製した。   The prepared pressure-sensitive adhesive layer composition for base tape e-1 was applied to a release liner made of a polyethylene-terephthalate film that had been subjected to a release treatment so that the thickness after drying would be 10 μm, and at 110 ° C. for 3 minutes. After making it dry, it bonded together with the said resin film d-1, and produced the base tape (1) in which the adhesive layer for base tapes was formed on the resin film.

(5)電子デバイスパッケージの作製
<実施例1>
以上のようにして得られた金属層(1)とセパレーター付き接着剤層(1)の接着剤層(1)側とを貼り合わせ角度120°、圧力0.2MPa、速度10mm/sの条件で貼り合わせた後、金属層上に基材テープ(1)を貼り合わせ角度120°、圧力0.2MPa、速度10mm/sの条件で貼り合わせた。接着剤層(1)と金属層(1)を粘着テープ(1)より小さい円形ラベル形状であって9.4×9.4mm角に個片化されるようにプリカットした。セパレーターを接着剤層から剥離し、露出させた接着剤層側と前記粘着テープ(1)の粘着剤層とを、金属層および接着剤層の周囲に粘着剤層が基材テープ(1)と接するように貼り合わせた。次いで、粘着テープを金属層および接着剤層と同心円状になるように円形形状にプリカットし、周辺の不要部分を基材テープ(1)から剥離して除去し、電子デバイスパッケージ用テープを作製した。
(5) Production of electronic device package <Example 1>
The metal layer (1) obtained as described above and the adhesive layer (1) side of the separator-attached adhesive layer (1) are bonded at a bonding angle of 120 °, a pressure of 0.2 MPa, and a speed of 10 mm / s. After the bonding, the base tape (1) was bonded onto the metal layer under the conditions of a bonding angle of 120 °, a pressure of 0.2 MPa, and a speed of 10 mm / s. The adhesive layer (1) and the metal layer (1) were pre-cut so as to have a circular label shape smaller than the adhesive tape (1) and to be separated into 9.4 × 9.4 mm squares. The separator is peeled from the adhesive layer and the exposed adhesive layer side and the adhesive layer of the adhesive tape (1) are separated from the base tape (1) around the metal layer and the adhesive layer. They were stuck together so that they touch. Next, the pressure-sensitive adhesive tape was pre-cut into a circular shape so as to be concentric with the metal layer and the adhesive layer, and unnecessary peripheral portions were peeled off and removed from the base tape (1) to produce an electronic device package tape. .

20mm×20mmの基板上に、ダイボンディング材(古河電気工業株式会社製、商品名「AF3836」)を用いて、10mm角のチップを基板との高低差が100μmになるよう貼合し、フリップチップ接続されたチップに見立てたサンプルを100個作製した。   Using a die bonding material (trade name “AF3836”, manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd.) on a 20 mm × 20 mm substrate, a 10 mm square chip is bonded so that the height difference from the substrate is 100 μm, and a flip chip One hundred samples were made as if they were connected chips.

(チップへの接着剤層および金属層の搭載工程)
上記電子デバイスパッケージ用テープの基材フィルム側から粘着剤層に空冷式高圧水銀灯(80W/cm、照射距離10cm)により紫外線を200mJ/cm照射した。電子デバイスパッケージ用テープ中央部の接着剤層および金属層の個片サンプル100個についてピックアップを行い、上記チップ上に接着剤層および金属層を搭載した。その後、封止材(京セラケミカル株式会社製、商品名「KE−G3000D」)でモールドし、実施例1に係る電子デバイスパッケージサンプルを作製した。
(Mounting process of adhesive layer and metal layer on chip)
The pressure-sensitive adhesive layer was irradiated with 200 mJ / cm 2 of ultraviolet rays from an air-cooled high pressure mercury lamp (80 W / cm, irradiation distance 10 cm) from the base film side of the electronic device package tape. Pickup was performed on 100 individual samples of the adhesive layer and metal layer in the central part of the electronic device package tape, and the adhesive layer and metal layer were mounted on the chip. Then, it molded with the sealing material (Kyocera Chemical Co., Ltd. make, brand name "KE-G3000D"), and produced the electronic device package sample which concerns on Example 1. FIG.

<実施例2>
上述のようにして得られた金属層(1)と基材テープ(1)の粘着剤層(1)側とを貼り合わせ角度120°、圧力0.2MPa、速度10mm/sの条件で貼り合わせた後、金属層(1)の表面から基材テープ(1)へ達するように金属層(1)を粘着テープ(1)より小さい円形ラベル形状であって9mm×8.4mmに個片化されるようにプリカットした。個片化された基材テープ(1)付き金属層(1)の金属層(1)側と粘着テープ(1)の粘着剤層とを貼り合わせ角度120°、圧力0.2MPa、速度10mm/sの条件で貼り合わせた後、基材フィルム(1)の表面からセパレーターへ達するように粘着テープ(1)を金属層(1)と同心円状になるように円形形状にプリカットし、周辺の不要部分をセパレーターから剥離して除去し、金属層付き粘着テープを作製した。
<Example 2>
The metal layer (1) obtained as described above and the pressure-sensitive adhesive layer (1) side of the base tape (1) are bonded together under the conditions of a bonding angle of 120 °, a pressure of 0.2 MPa, and a speed of 10 mm / s. After that, the metal layer (1) has a circular label shape smaller than the adhesive tape (1) so as to reach the base tape (1) from the surface of the metal layer (1), and is separated into 9 mm × 8.4 mm. So that it was pre-cut. The metal layer (1) side of the separated metal layer (1) with the base tape (1) and the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive tape (1) are bonded to each other at an angle of 120 °, a pressure of 0.2 MPa, and a speed of 10 mm / After bonding under the conditions of s, the adhesive tape (1) is pre-cut into a circular shape so as to be concentric with the metal layer (1) so as to reach the separator from the surface of the base film (1), and the surrounding area is unnecessary. The part was peeled off from the separator and removed to prepare an adhesive tape with a metal layer.

また、セパレーター付き接着剤層(1)の接着剤層(1)を粘着テープ(1)より小さい円形ラベル形状であって9mm×9.4mmに個片化されるようにプリカットした。そして、個片化されたセパレーター付き接着剤層(1)の接着剤層(1)側と粘着テープ(1)の粘着剤層とを貼り合わせ角度120°、圧力0.2MPa、速度10mm/sの条件で貼り合わせた後、基材フィルム(1)の表面からセパレーターへ達するように粘着テープ(1)を接着剤層(1)と同心円状になるように円形形状にプリカットし、周辺の不要部分をセパレーターから剥離して除去し、接着剤層付き粘着テープを作製した。   Moreover, the adhesive layer (1) of the adhesive layer with a separator (1) was pre-cut so as to have a circular label shape smaller than the pressure-sensitive adhesive tape (1) and to be separated into 9 mm × 9.4 mm. Then, the adhesive layer (1) side of the separated adhesive layer with separator (1) and the adhesive layer of the adhesive tape (1) are bonded to each other at an angle of 120 °, a pressure of 0.2 MPa, and a speed of 10 mm / s. After pasting together, the adhesive tape (1) is pre-cut into a circular shape so as to be concentric with the adhesive layer (1) so as to reach the separator from the surface of the base film (1), and the surrounding area is unnecessary. The part was peeled off from the separator and removed to prepare an adhesive tape with an adhesive layer.

また、実施例1と同じフリップチップ接続されたチップに見立てたサンプルを100個作製した。   In addition, 100 samples that were regarded as flip-chip connected chips as in Example 1 were produced.

(チップへの接着剤層および金属層の搭載工程)
上記接着剤層付き粘着テープの基材フィルム側から粘着剤層に空冷式高圧水銀灯(80W/cm、照射距離10cm)により紫外線を200mJ/cm照射した。接着剤層付き粘着テープ中央部の接着剤層の個片サンプル100個についてピックアップを行い、上記チップ上に接着剤層を搭載した。その後、上記金属層付き粘着テープの基材フィルム側から粘着剤層に空冷式高圧水銀灯(80W/cm、照射距離10cm)により紫外線を200mJ/cm照射した。金属層付き粘着テープ中央部の金属層の個片サンプル100個についてピックアップを行い、上記チップ上の接着剤層の上に金属層を搭載した。その後、封止材(京セラケミカル株式会社製、商品名「KE−G3000D」)でモールドし、実施例2に係る電子デバイスパッケージを作製した。
(Mounting process of adhesive layer and metal layer on chip)
The pressure-sensitive adhesive layer was irradiated with ultraviolet rays of 200 mJ / cm 2 from the base film side of the pressure-sensitive adhesive tape with the adhesive layer by an air-cooled high-pressure mercury lamp (80 W / cm, irradiation distance 10 cm). Pickup was performed on 100 individual samples of the adhesive layer at the center of the adhesive tape with the adhesive layer, and the adhesive layer was mounted on the chip. Thereafter, the pressure-sensitive adhesive layer was irradiated with ultraviolet rays of 200 mJ / cm 2 from the base film side of the metal layer-attached pressure-sensitive adhesive tape with an air-cooled high-pressure mercury lamp (80 W / cm, irradiation distance 10 cm). Pickup was performed on 100 individual samples of the metal layer at the center of the adhesive tape with the metal layer, and the metal layer was mounted on the adhesive layer on the chip. Then, it molded with the sealing material (Kyocera Chemical Co., Ltd. make, brand name "KE-G3000D"), and produced the electronic device package which concerns on Example 2. FIG.

<実施例3>
チップの大きさを4mm×20mm、接着剤層の大きさを4mm×18mm、金属層の大きさを3.6mm×18mmとした以外は、実施例2と同様にして、実施例3に係る電子デバイスパッケージを作製した。
<Example 3>
The electronic device according to Example 3 is the same as Example 2, except that the size of the chip is 4 mm × 20 mm, the size of the adhesive layer is 4 mm × 18 mm, and the size of the metal layer is 3.6 mm × 18 mm. A device package was fabricated.

<比較例1>
チップの大きさを10mm×10mm、接着剤層の大きさを10.4mm×10.4mm、金属層の大きさを10.4mm×10.4mmとした以外は、実施例1と同様にして、比較例1の電子デバイスパッケージを作製した。
<Comparative Example 1>
Except that the size of the chip was 10 mm × 10 mm, the size of the adhesive layer was 10.4 mm × 10.4 mm, and the size of the metal layer was 10.4 mm × 10.4 mm, the same as in Example 1, An electronic device package of Comparative Example 1 was produced.

<比較例2>
チップの大きさを10mm×10mm、接着剤層の大きさを9.4mm×9.4mm、金属層の大きさを10.4mm×10.4mmとした以外は、実施例2と同様にして、比較例2の電子デバイスパッケージを作製した。
<Comparative example 2>
Except that the size of the chip was 10 mm × 10 mm, the size of the adhesive layer was 9.4 mm × 9.4 mm, and the size of the metal layer was 10.4 mm × 10.4 mm, An electronic device package of Comparative Example 2 was produced.

<比較例3>
チップの大きさを10mm×10mm、接着剤層の大きさを10.4mm×10.4mm、金属層の大きさを9.4mm×9.4mmとした以外は、実施例2と同様にして、比較例3の電子デバイスパッケージを作製した。
<Comparative Example 3>
Except that the size of the chip was 10 mm × 10 mm, the size of the adhesive layer was 10.4 mm × 10.4 mm, and the size of the metal layer was 9.4 mm × 9.4 mm, An electronic device package of Comparative Example 3 was produced.

実施例1〜3及び比較例1〜3に係る電子デバイスパッケージについて以下の評価を行った。   The following evaluation was performed about the electronic device package which concerns on Examples 1-3 and Comparative Examples 1-3.

(作業性)
各実施例および比較例に係る電子デバイスパッケージを作製する際に、上記チップへの接着剤層および金属層の搭載工程について、次の観点から作業性を評価した。まず、手順の簡便性について、1工程で搭載できるものをポイント1、搭載に2工程以上かかる物をポイント0として評価した。その結果を表1に示す。また、搭載性について、接着剤層および金属層のチップへの搭載位置を光学顕微鏡で観察し、目標の搭載箇所からのずれを測定し、ずれが0.2mm以上のサンプル個数が0%のものをポイント2、0%超10%未満のものをポイント1、10%以上のものをポイント0として評価した。その結果を表1に示す。そして、手順の簡便性および搭載性のポイントの合計が、3のものを作業性において良品として○、1または2のものは許容品として△、0のものは不良品として×で評価した。その結果を表2に示す。
(Workability)
When manufacturing the electronic device package according to each of the examples and comparative examples, the workability of the mounting process of the adhesive layer and the metal layer on the chip was evaluated from the following viewpoints. First, for the simplicity of the procedure, points that can be mounted in one step were evaluated as point 1, and those that required two or more steps for mounting were evaluated as point 0. The results are shown in Table 1. Also, regarding the mountability, the mounting position of the adhesive layer and the metal layer on the chip is observed with an optical microscope, the deviation from the target mounting position is measured, and the number of samples with a deviation of 0.2 mm or more is 0% Were evaluated as point 2, points exceeding 0% and less than 10% as points 1, and points exceeding 10% as points 0. The results are shown in Table 1. The sum of points of simplicity of the procedure and mountability was evaluated as “good” in terms of workability as “3”, “1” or 2 as “acceptable”, and “0” as defective as “bad”. The results are shown in Table 2.

Figure 2017183643
Figure 2017183643

(剥離の有無)
各実施例および比較例に係る電子デバイスパッケージを切断し、断面を光学顕微鏡にて観察した。チップから接着剤層または金属層の剥離や浮きが確認されないものを良品として○、チップから接着剤層の剥離または浮きが確認されたものを不良品として×1、チップから金属層の剥離または浮きが確認されたものを不良品として×2として評価した。その結果を表2に示す。
(Presence or absence of peeling)
The electronic device package according to each example and comparative example was cut, and the cross section was observed with an optical microscope. ○ that the peeling or lifting of the adhesive layer or metal layer from the chip is not confirmed as a good product, x that the peeling or lifting of the adhesive layer from the chip is confirmed as defective, × 1, peeling or lifting of the metal layer from the chip Was confirmed as x2 as a defective product. The results are shown in Table 2.

Figure 2017183643
Figure 2017183643

表2に示すように、実施例1〜3に係る電子デバイスパッケージは、金属層の平面の大きさ≦接着剤層の平面の大きさ<電子デバイスの第2面の平面の大きさであるため、チップと接着剤層との間および接着剤層と金属層の間の剥離は発生しなかった。また、接着剤層の平面の大きさ<電子デバイスの第2面の平面の大きさであるため、チップへの搭載性も良好である結果となった。さらに、実施例1に係る電子デバイスパッケージは、金属層の平面の大きさ=接着剤層の平面の大きさであるため、チップへの搭載性に特に優れ、チップへの搭載手順の簡易性にも優れる結果となった。   As shown in Table 2, the electronic device packages according to Examples 1 to 3 have the size of the plane of the metal layer ≦ the size of the plane of the adhesive layer <the size of the plane of the second surface of the electronic device. No peeling occurred between the chip and the adhesive layer and between the adhesive layer and the metal layer. Moreover, since the size of the plane of the adhesive layer <the size of the plane of the second surface of the electronic device, the result was that the mounting property on the chip was good. Furthermore, since the electronic device package according to Example 1 has the plane size of the metal layer = the size of the plane of the adhesive layer, the electronic device package is particularly excellent in mountability on the chip, and simplifies the mounting procedure on the chip. Also gave excellent results.

これに対して、比較例1,3に係る電子デバイスパッケージは、接着剤層の平面の大きさ>電子デバイスの第2面の平面の大きさであるため、チップと接着剤層との間で剥離が生じた。比較例2に係る電子デバイスパッケージは、金属層の平面の大きさ>接着剤層の平面の大きさであるため、接着剤層と金属層の間で剥離が生じた。   On the other hand, in the electronic device package according to Comparative Examples 1 and 3, since the size of the plane of the adhesive layer> the size of the plane of the second surface of the electronic device, it is between the chip and the adhesive layer. Peeling occurred. In the electronic device package according to Comparative Example 2, since the size of the plane of the metal layer> the size of the plane of the adhesive layer, peeling occurred between the adhesive layer and the metal layer.

1:電子デバイスパッケージ用テープ
2:基材テープ
3:金属層
4:接着剤層
5:粘着テープ
5a:ラベル部
5b:周辺部
1: Tape for electronic device package 2: Base tape 3: Metal layer 4: Adhesive layer 5: Adhesive tape 5a: Label portion 5b: Peripheral portion

Claims (6)

基板と、
第1面が前記基板と対向するように前記基板に接続された電子デバイスと、
前記第1面とは反対側の前記電子デバイスの第2面に設けられた接着剤層と、
前記接着剤層を介して前記電子デバイスの前記第2面に接着された金属層とを有し、
前記金属層の平面の大きさ≦前記接着剤層の平面の大きさ<前記電子デバイスの第2面の平面の大きさであることを特徴とする電子デバイスパッケージ。
A substrate,
An electronic device connected to the substrate such that the first surface faces the substrate;
An adhesive layer provided on the second surface of the electronic device opposite to the first surface;
Having a metal layer adhered to the second surface of the electronic device via the adhesive layer;
The size of the plane of the metal layer ≦ the size of the plane of the adhesive layer <the size of the plane of the second surface of the electronic device.
前記金属層が銅またはアルミニウムを含むことを特徴とする請求項1に記載の電子デバイスパッケージ。   The electronic device package according to claim 1, wherein the metal layer includes copper or aluminum. 第1面が前記基板と対向するように前記基板に電子デバイスを接続する工程と、
前記第1面とは反対側の前記電子デバイスの第2面に、接着剤層を介して金属層を接着する工程とを有し、
前記金属層の平面の大きさ≦前記接着剤層の平面の大きさ<前記電子デバイスの第2面の平面の大きさであることを特徴とする電子デバイスパッケージの製造方法。
Connecting an electronic device to the substrate such that the first surface faces the substrate;
Adhering a metal layer to the second surface of the electronic device opposite to the first surface via an adhesive layer;
The size of the plane of the metal layer ≦ the size of the plane of the adhesive layer <the size of the plane of the second surface of the electronic device.
前記金属層が銅またはアルミニウムを含むことを特徴とする請求項3に記載の電子デバイスパッケージの製造方法。   The method for manufacturing an electronic device package according to claim 3, wherein the metal layer contains copper or aluminum. 基材フィルムと粘着剤層とを有する粘着テープと、
前記粘着剤層の前記基材フィルムと反対側に積層して設けられた接着剤層と金属層との積層体とを有し、前記金属層は、第1面が基板と対向するように前記基板に接続された電子デバイスの、前記第1面とは反対側の第2面に、前記接着剤層を介して接着される電子デバイスパッケージ用テープであって、
前記金属層の平面の大きさ≦前記接着剤層の平面の大きさ<前記電子デバイスの第2面の平面の大きさとなるように、前記接着剤層および前記金属層が予め切断され個片化されていることを特徴とする電子デバイスパッケージ用テープ。
An adhesive tape having a base film and an adhesive layer;
The adhesive layer has a laminate of a metal layer and an adhesive layer provided on the opposite side of the base film of the pressure-sensitive adhesive layer, and the metal layer has the first surface facing the substrate. An electronic device package tape that is bonded to the second surface of the electronic device connected to the substrate on the second surface opposite to the first surface via the adhesive layer,
The size of the plane of the metal layer ≦ the size of the plane of the adhesive layer <the size of the plane of the second surface of the electronic device is pre-cut and separated into pieces. An electronic device package tape characterized by being made.
前記金属層が銅またはアルミニウムを含むことを特徴とする請求項5に記載の電子デバイスパッケージ用テープ。
6. The electronic device package tape according to claim 5, wherein the metal layer contains copper or aluminum.
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