JP2016203290A - Machining device - Google Patents
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- 238000003754 machining Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
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- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
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- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Abstract
Description
本発明は、板状の被加工物を研削又は研磨する加工装置に関する。 The present invention relates to a processing apparatus for grinding or polishing a plate-shaped workpiece.
近年、小型軽量な半導体チップを製造するために、シリコン等の材料でなるウェーハを薄く加工することが求められている。例えば、研削用の砥石を含む研削ホイールや、不織布等でなる研磨パッドを回転させて、ウェーハの被加工面に押し当てることで、ウェーハを研削又は研磨して薄くできる。 In recent years, in order to manufacture a small and light semiconductor chip, it is required to thinly process a wafer made of a material such as silicon. For example, the wafer can be thinned by grinding or polishing the wafer by rotating a grinding wheel including a grinding wheel or a polishing pad made of a nonwoven fabric and pressing the grinding pad.
ところで、ウェーハのような板状の被加工物を研削又は研磨する際には、通常、被加工物を保持するチャックテーブルに対して、研削ホイールや研磨パッド等の加工工具を僅かに傾けている(例えば、特許文献1参照)。この傾きを調整することによって、加工工具から被加工物に加わる荷重を制御できる。 By the way, when grinding or polishing a plate-like workpiece such as a wafer, a machining tool such as a grinding wheel or a polishing pad is usually slightly inclined with respect to a chuck table that holds the workpiece. (For example, refer to Patent Document 1). By adjusting this inclination, the load applied to the workpiece from the machining tool can be controlled.
上述したチャックテーブルに対する加工工具の傾きは、加工後の被加工物の厚みに基づいて調整されている。例えば、加工時に荷重が加わり易い領域では、被加工物が相対的に薄くなるので、荷重を被加工面全体で均一化したい場合には、相対的に薄くなった領域で加工工具が被加工物から離れるように傾きを調整する。 The inclination of the processing tool with respect to the chuck table described above is adjusted based on the thickness of the workpiece after processing. For example, in a region where a load is easily applied during machining, the workpiece is relatively thin. Therefore, if you want to make the load uniform over the entire workpiece surface, the machining tool will work in the relatively thin region. Adjust the tilt away from the
しかしながら、この調整では、被加工物を実際に加工し厚みを測定する必要があるので、必ずしも効率的な加工を実現できない。本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、効率的な加工を実現可能な加工装置を提供することである。 However, in this adjustment, since it is necessary to actually process the workpiece and measure the thickness, it is not always possible to realize efficient machining. The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a machining apparatus capable of realizing efficient machining.
本発明によれば、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を研削又は研磨する加工工具が回転可能に装着された加工手段と、該加工手段をチャックテーブルの保持面に対し垂直な方向に加工送りする加工送り手段と、を備えた加工装置であって、該加工手段は、該加工工具が装着されるスピンドルを回転可能に支持するスピンドルハウジングと、該スピンドルハウジングが装着されるホルダーと、該ホルダーと該スピンドルハウジングとの間に介在し該スピンドルハウジングの傾きを制御する傾き制御手段と、各構成要素を制御する制御手段と、を含み、該傾き制御手段は、荷重検出手段と、圧電素子からなる傾き調整手段と、を含み、3箇所以上で該スピンドルハウジングを支持し、該制御手段は、該加工手段を加工送りして被加工物を加工する際に、該荷重検出手段で検出される荷重に応じた電圧を該傾き調整手段の該圧電素子に印加して該傾き調整手段を伸縮させることで、該スピンドルハウジングの傾きを制御して該加工工具から被加工物の被加工面に加わる荷重を調整することを特徴とする加工装置が提供される。 According to the present invention, a chuck table for holding a workpiece, a processing means on which a processing tool for grinding or polishing the workpiece held on the chuck table is rotatably mounted, and the processing means as a chuck table. A machining feed means for machining and feeding in a direction perpendicular to the holding surface, the machining means comprising: a spindle housing that rotatably supports a spindle on which the machining tool is mounted; A tilt control unit including a holder to which the spindle housing is mounted, an inclination control unit that is interposed between the holder and the spindle housing, and controls the tilt of the spindle housing; and a control unit that controls each component. The means includes a load detecting means and an inclination adjusting means comprising a piezoelectric element, and supports the spindle housing at three or more locations, and the control means When processing the workpiece by processing the processing means, a voltage corresponding to the load detected by the load detecting means is applied to the piezoelectric element of the tilt adjusting means to expand and contract the tilt adjusting means. Thus, there is provided a machining apparatus that controls the inclination of the spindle housing to adjust the load applied from the machining tool to the workpiece surface of the workpiece.
本発明において、該加工工具は、研削砥石又は研磨パッドであることが好ましい。 In the present invention, the processing tool is preferably a grinding wheel or a polishing pad.
本発明において、該傾き制御手段の該荷重検出手段は、圧電素子で構成されていることが好ましい。 In the present invention, it is preferable that the load detecting means of the inclination control means is constituted by a piezoelectric element.
本発明に係る加工装置は、ホルダーとスピンドルハウジングとの間に、圧電素子からなる傾き調整手段と荷重検出手段とを含む傾き制御手段を備えているので、荷重検出手段で検出される荷重に応じた電圧を傾き調整手段の圧電素子に印加して傾き調整手段を伸縮させることで、スピンドルハウジングの傾きを制御して加工工具から被加工物の被加工面に加わる荷重を調整できる。 The processing apparatus according to the present invention includes an inclination control means including an inclination adjustment means and a load detection means made of a piezoelectric element between the holder and the spindle housing, and therefore according to the load detected by the load detection means. By applying the applied voltage to the piezoelectric element of the tilt adjusting means to expand and contract the tilt adjusting means, it is possible to control the tilt of the spindle housing and adjust the load applied from the processing tool to the work surface of the work piece.
すなわち、本発明に係る加工装置では、被加工物の加工中に荷重を検出して調整できるので、従来のように被加工物を実際に加工して厚みを測定する必要がない。そのため、被加工物の加工が効率化される。このように、本発明によれば、効率的な加工を実現可能な加工装置を提供できる。 That is, in the processing apparatus according to the present invention, the load can be detected and adjusted during processing of the workpiece, so that it is not necessary to actually process the workpiece and measure the thickness as in the conventional case. Therefore, the processing of the workpiece is made efficient. Thus, according to this invention, the processing apparatus which can implement | achieve an efficient process can be provided.
添付図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係る研削装置(加工装置)の構造を模式的に示す図である。図1に示すように、研削装置(加工装置)2は、各構造が搭載される直方体状の基台4を備えている。基台4の後端には、上方に伸長する壁状の支持構造6が設けられている。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a diagram schematically showing the structure of a grinding apparatus (processing apparatus) according to this embodiment. As shown in FIG. 1, the grinding device (processing device) 2 includes a rectangular parallelepiped base 4 on which each structure is mounted. A wall-like support structure 6 extending upward is provided at the rear end of the base 4.
基台4の上面には、X軸方向(前後方向)に長い矩形状の開口4aが形成されている。この開口4a内には、X軸移動テーブル8、X軸移動テーブル8をX軸方向に移動させるX軸移動機構(不図示)、及びX軸移動機構を覆う防塵防滴カバー10が設けられている。
A
X軸移動機構は、X軸方向に平行な一対のX軸ガイドレール(不図示)を備えており、X軸ガイドレールには、X軸移動テーブル8がスライド可能に取り付けられている。X軸移動テーブル8の下面側には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、X軸ガイドレールと平行なX軸ボールネジ(不図示)が螺合されている。 The X-axis movement mechanism includes a pair of X-axis guide rails (not shown) parallel to the X-axis direction, and an X-axis movement table 8 is slidably attached to the X-axis guide rails. A nut portion (not shown) is provided on the lower surface side of the X-axis moving table 8, and an X-axis ball screw (not shown) parallel to the X-axis guide rail is screwed to the nut portion.
X軸ボールネジの一端部には、X軸パルスモータ(不図示)が連結されている。X軸パルスモータでX軸ボールネジを回転させることで、X軸移動テーブル8はX軸ガイドレールに沿ってX軸方向に移動する。 An X-axis pulse motor (not shown) is connected to one end of the X-axis ball screw. By rotating the X-axis ball screw with the X-axis pulse motor, the X-axis moving table 8 moves in the X-axis direction along the X-axis guide rail.
X軸移動テーブル8上には、被加工物11(図3、図4等参照)を吸引、保持するチャックテーブル12が設けられている。チャックテーブル12は、モータ等の回転駆動源(不図示)と連結されており、Z軸方向(鉛直方向)に対して概ね平行な回転軸の周りに回転する。また、チャックテーブル12は、上述したX軸移動機構によってX軸移動テーブル8と共にX軸方向に移動する。 On the X-axis moving table 8, there is provided a chuck table 12 that sucks and holds the workpiece 11 (see FIGS. 3 and 4). The chuck table 12 is connected to a rotation drive source (not shown) such as a motor, and rotates around a rotation axis that is substantially parallel to the Z-axis direction (vertical direction). Further, the chuck table 12 moves in the X-axis direction together with the X-axis moving table 8 by the above-described X-axis moving mechanism.
チャックテーブル12の上面は、被加工物11を吸引、保持する保持面12aとなっている。この保持面12aは、チャックテーブル12の内部に形成された流路(不図示)等を通じて吸引源(不図示)と接続されている。被加工物11は、保持面12aに作用する吸引源の負圧でチャックテーブル12に吸引、保持される。
The upper surface of the chuck table 12 is a
支持構造6の前面には、Z軸移動機構(加工送り手段)14が設けられている。Z軸移動機構14は、Z軸方向に平行な一対のZ軸ガイドレール16を備えており、Z軸ガイドレール16には、Z軸移動プレート18がスライド可能に取り付けられている。
On the front surface of the support structure 6, a Z-axis moving mechanism (processing feed means) 14 is provided. The Z-
Z軸移動プレート18の後面側(裏面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Z軸ガイドレール16に平行なZ軸ボールネジ20が螺合されている。Z軸ボールネジ20の一端部には、Z軸パルスモータ22が連結されている。Z軸パルスモータ22でZ軸ボールネジ20を回転させることにより、Z軸移動プレート18は、Z軸ガイドレール16に沿ってZ軸方向に移動する。
A nut portion (not shown) is provided on the rear surface side (back surface side) of the Z-
Z軸移動プレート18の前面(表面)には、前方に突き出たホルダー(加工手段)24が設けられている。このホルダー24には、傾き制御ユニット(傾き制御手段、加工手段)26を介して加工ユニット(加工手段)28が装着されている。
A holder (processing means) 24 that protrudes forward is provided on the front surface (front surface) of the Z-
図2は、ホルダー24、傾き制御ユニット26及び加工ユニット28を模式的に示す分解斜視図である。図2に示すように、ホルダー24の中央部には、ホルダー24を上下に貫通する円形の貫通穴24aが設けられている。この貫通穴24aには、加工ユニット28を構成する円筒状のスピンドルハウジング30が上方から挿入される。
FIG. 2 is an exploded perspective view schematically showing the
スピンドルハウジング30の側面30aには、円環状の鍔部32が設けられている。鍔部32の外径は、貫通穴24aの径よりも大きくなっている。また、鍔部32には、鍔部32を上下に貫通する複数(本実施形態では4個)の貫通穴32aが概ね等角度間隔に設けられている。
An
スピンドルハウジング30の内部には、回転軸を構成するスピンドル34が収容されている。スピンドル34の下端部は、スピンドルハウジング30の外部に露出している。このスピンドル34の下端部には、円盤状のマウント36が固定されている。マウント36の下面には、マウント36と概ね同径の研削ホイール38が装着されている。
Inside the spindle housing 30, a
研削ホイール38は、アルミニウム、ステンレス等の金属材料で形成されたホイール基台40を備えている。ホイール基台40の下面には、複数の研削砥石(加工工具)42が環状に配列されている。スピンドル34の上端側には、モータ等の回転駆動源(不図示)が連結されている。研削ホイール38は、この回転駆動源から伝達される回転力によって回転する。
The grinding
スピンドルハウジング30を貫通穴24aに挿入した状態で、ホルダー24と鍔部32との間には、傾き制御ユニット26が配置される。傾き制御ユニット26は、円筒状に形成された複数(本実施形態では4個)の荷重センサ付きアクチュエータ44を含んでいる。この荷重センサ付きアクチュエータ44は、例えば、荷重センサ部(荷重検出手段)44aとアクチュエータ部(傾き調整手段)44bとを備えている。
In a state where the
荷重センサ部44a及びアクチュエータ部44bは、例えば、圧電素子によって構成される。圧電素子は、チタン酸バリウム(BaTiO3)、チタン酸ジルコン酸鉛(Pb(Zi,Ti)O3)、リチウムナイオベート(LiNbO3)、リチウムタンタレート(LiTaO3)等の材料で形成されており、力学的な力と電圧とを相互に変換する。
The
各荷重センサ付きアクチュエータ44には、円柱状のガイドロッド46を通す挿入穴44cが設けられている。また、ホルダー24の貫通穴32aに対応する位置には、ガイドロッド46を通すガイド穴24b(図4参照)が設けられている。
Each
ガイドロッド46は、上端部にナット48が固定された状態で、貫通穴32a、挿入穴44c及びガイド穴24bに挿入される。これにより、スピンドルハウジング30の鍔部32は、複数の箇所(本実施形態では4箇所)で傾き制御ユニット26の荷重センサ付きアクチュエータ44に支持される。
The
この傾き制御ユニット26は、図1に示すように、制御装置(制御手段、加工手段)50に接続されている。制御装置50は、荷重センサ部44aの圧電素子から伝送される電圧に基づいて荷重センサ部44aに加わる荷重を検出し、また、検出された荷重に応じた電圧をアクチュエータ部44bの圧電素子に印加する。
The
荷重センサ部44aに加わる荷重は、研削砥石42から被加工物11に加わる荷重に対応している。そのため、荷重センサ部44aに加わる荷重に応じた電圧をアクチュエータ部44bの圧電素子に印加して、アクチュエータ部44bを伸縮させることで、被加工物11に加わる荷重に応じたスピンドルハウジング30の傾き制御が可能になる。
The load applied to the
なお、この制御装置50は、開口4aの前方に設置された操作パネル52や、X軸移動機構、チャックテーブル12、Z軸移動機構14、加工ユニット28等にも接続されており、操作パネル52を通じて設定される加工の条件等に基づいて各部の動作を制御する。
The
次に、本実施形態に係る研削装置2で被加工物11が研削される様子を説明する。図3(A)は、本実施形態の被加工物11を模式的に示す斜視図であり、図3(B)は、被加工物11に保護部材が貼り付けられる様子を模式的に示す斜視図であり、図3(C)は、被加工物11に保護部材が貼り付けられる様子を模式的に示す断面図である。
Next, how the
図3(A)に示すように、被加工物11は、例えば、シリコン、サファイア等の材料でなる円形のウェーハであり、表面11aは、中央のデバイス領域13と、デバイス領域13を囲む外周余剰領域15とに分けられる。デバイス領域13は、格子状に配列された分割予定ライン(ストリート)17でさらに複数の領域に区画されており、各領域には、IC、LED等のデバイス19が形成されている。
As shown in FIG. 3A, the
この被加工物11の裏面(被加工面)11b側を研削する際には、図3(B)及び図3(C)に示すように、被加工物11の表面11a側に保護部材21の第1面21a側を貼り付ける。保護部材21は、例えば、被加工物11と概ね同形の粘着テープ、樹脂基板、被加工物11と同種又は異種のウェーハ等である。このように、被加工物11の表面11a側に保護部材21を貼り付けることで、研削時に加わる荷重等によるデバイス19の破損を防止できる。
When grinding the back surface (work surface) 11b side of the
図4は、被加工物11が研削される様子を模式的に示す図である。研削装置2で被加工物11を研削する際には、まず、被加工物11に貼り付けられた保護部材21の第2面21bをチャックテーブル12の保持面12aに接触させて、吸引源の負圧を作用させる。これにより、被加工物11は、裏面11b側が上方に露出した状態でチャックテーブル12に吸引、保持される。
FIG. 4 is a diagram schematically illustrating how the
次に、チャックテーブル12を研削ホイール38の下方に移動させ、チャックテーブル12と研削ホイール38とをそれぞれ回転させつつ加工ユニット28(研削砥石42)を下降(加工送り)させる。加工ユニット28の下降速度(下降量)は、被加工物11の裏面11b側に研削砥石42の下面が押し付けられる程度とする。これにより、被加工物11の裏面11b側を研削できる。
Next, the chuck table 12 is moved below the grinding
本実施形態では、被加工物11の研削時に荷重センサ部44aで荷重を検出し、この荷重に応じた電圧をアクチュエータ部44bの圧電素子に印加する。上述のように、荷重センサ部44aに加わる荷重は、研削砥石42から被加工物11の裏面11bに加わる荷重に対応している。
In the present embodiment, a load is detected by the
そのため、荷重センサ部44aで検出される荷重に応じた電圧をアクチュエータ部44bの圧電素子に印加してアクチュエータ部44bを伸縮させることで、スピンドルハウジング30の傾きを制御して、研削砥石42から被加工物11の裏面11bに加わる荷重を調整できる。なお、この荷重の調整は、研削工程中において連続的に繰り返されても良いし、任意の間隔で断続的に行われても良い。
Therefore, by applying a voltage according to the load detected by the
また、スピンドルハウジング30の傾きは、裏面11b全体で荷重が均一化されるように制御されても良いし、裏面11b内で荷重の偏りができるように制御されても良い。例えば、裏面11b全体で荷重を均一化したい場合には、相対的に大きな荷重が検出された荷重センサ部44aに対応するアクチュエータ部44bを伸ばすような制御を行えば良い。
Further, the inclination of the
以上のように、本実施形態に係る研削装置(加工装置)2は、ホルダー24とスピンドルハウジング30との間に、荷重センサ部(荷重検出手段)44aと、圧電素子からなるアクチュエータ部(傾き調整手段)44bと、を含む傾き制御ユニット(傾き制御手段)26を備えるので、荷重センサ部44aで検出される荷重に応じた電圧をアクチュエータ部44bの圧電素子に印加してアクチュエータ部44bを伸縮させることで、スピンドルハウジング30の傾きを制御して研削砥石(加工工具)42から被加工物11の裏面(被加工面)11bに加わる荷重を調整できる。
As described above, the grinding device (processing device) 2 according to the present embodiment has the load sensor portion (load detection means) 44a and the actuator portion (tilt adjustment) composed of a piezoelectric element between the
すなわち、本実施形態に係る加工装置2では、被加工物11の加工中に荷重を検出して調整できるので、従来のように被加工物11を実際に加工してから厚みを測定する必要がない。そのため、被加工物11の加工が効率化される。
That is, in the processing apparatus 2 according to the present embodiment, since the load can be detected and adjusted during the processing of the
なお、本発明は上記実施形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記実施形態では、被加工物11を研削する研削装置2について説明しているが、本発明に係る加工装置は、被加工物11を研磨する研磨装置でも良い。図5は、研磨装置の構成例を模式的に示す図である。
In addition, this invention is not limited to description of the said embodiment, A various change can be implemented. For example, in the above-described embodiment, the grinding device 2 that grinds the
図5に示すように、研磨装置(加工装置)62の基本的な構成は、研削装置2と同様である。よって、研削装置2と同様の構成要素には、共通の符号を付して詳細な説明を省略する。なお、研磨装置62には、研削ホイール38の代わりに、不織布等でなる研磨パッド(加工工具)64が装着されている。また、研磨装置62は、研磨液を使用するCMP等の湿式研磨、研磨液を使用しない乾式研磨(ドライポリッシュ)のいずれにも適用可能である。
As shown in FIG. 5, the basic configuration of the polishing apparatus (processing apparatus) 62 is the same as that of the grinding apparatus 2. Therefore, the same components as those of the grinding apparatus 2 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. The polishing
この研磨装置62も、ホルダー24とスピンドルハウジング30との間に、荷重センサ部(荷重検出手段)44aと、圧電素子からなるアクチュエータ部(傾き調整手段)44bと、を含む傾き制御ユニット(傾き制御手段)26を備えるので、荷重センサ部44aで検出される荷重に応じた電圧をアクチュエータ部44bの圧電素子に印加してアクチュエータ部44bを伸縮させることで、スピンドルハウジング30の傾きを制御して研磨パッド64から被加工物11の裏面(被加工面)11bに加わる荷重を調整できる。
The polishing
また、上記実施形態及び変形例では、圧電素子によって構成された荷重センサ部(荷重検出手段)44a及びアクチュエータ部(傾き調整手段)44bを一体に備える荷重センサ付きアクチュエータ44を用いているが、任意の荷重センサ(荷重検出手段)と任意のアクチュエータ(傾き調整手段)とを組み合わせて用いることもできる。例えば、圧電素子によって構成された荷重センサ(荷重検出手段)の代わりに、応力によって歪む起歪体と、歪に応じて電気抵抗が変化する歪ゲージとで構成されたロードセル(荷重検出手段)を用いても良い。 In the above-described embodiment and the modification, the load sensor actuator (load detection means) 44a and the actuator section (tilt adjustment means) 44b that are integrally formed of piezoelectric elements are used. These load sensors (load detection means) and arbitrary actuators (tilt adjustment means) can also be used in combination. For example, instead of a load sensor (load detection means) constituted by a piezoelectric element, a load cell (load detection means) constituted by a strain generating body that is distorted by stress and a strain gauge whose electric resistance changes according to the strain. It may be used.
また、上記実施形態及び変形例において、スピンドルハウジング30は、4箇所で傾き制御ユニット(傾き制御手段)26に支持されているが、スピンドルハウジング30は、少なくとも3箇所以上で傾き制御ユニット26に支持されていれば良い。また、被加工物11に制限はなく、例えば、半導体、セラミック、樹脂、金属等の材料でなる任意の基板を、被加工物11として使用できる。
In the embodiment and the modification described above, the
その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。 In addition, the structure, method, and the like according to the above-described embodiment can be appropriately modified and implemented without departing from the scope of the object of the present invention.
2 研削装置(加工装置)
4 基台
4a 開口
6 支持構造
8 X軸移動テーブル
10 防塵防滴カバー
12 チャックテーブル
12a 保持面
14 Z軸移動機構(加工送り手段)
16 Z軸ガイドレール
18 Z軸移動プレート
20 Z軸ボールネジ
22 Z軸パルスモータ
24 ホルダー(加工手段)
24a 貫通穴
24b ガイド穴
26 傾き制御ユニット(傾き制御手段、加工手段)
28 加工ユニット(加工手段)
30 スピンドルハウジング
30a 側面
32 鍔部
32a 貫通穴
34 スピンドル
36 マウント
38 研削ホイール
40 ホイール基台
42 研削砥石(加工工具)
44 荷重センサ付きアクチュエータ
44a 荷重センサ部(荷重検出手段)
44b アクチュエータ部(傾き調整手段)
44c 挿入穴
46 ガイドロッド
48 ナット
50 制御装置(制御手段、加工手段)
52 操作パネル
11 被加工物
11a 表面
11b 裏面(被加工面)
13 デバイス領域
15 外周余剰領域
17 分割予定ライン(ストリート)
19 デバイス
21 保護部材
21a 第1面
21b 第2面
2 Grinding equipment (processing equipment)
4
16 Z-axis guide rail 18 Z-axis moving plate 20 Z-axis ball screw 22 Z-
24a Through
28 Processing unit (processing means)
30
44 Actuator with
44b Actuator section (tilt adjustment means)
52
13
19
Claims (3)
該加工手段は、該加工工具が装着されるスピンドルを回転可能に支持するスピンドルハウジングと、該スピンドルハウジングが装着されるホルダーと、該ホルダーと該スピンドルハウジングとの間に介在し該スピンドルハウジングの傾きを制御する傾き制御手段と、各構成要素を制御する制御手段と、を含み、
該傾き制御手段は、荷重検出手段と、圧電素子からなる傾き調整手段と、を含み、3箇所以上で該スピンドルハウジングを支持し、
該制御手段は、該加工手段を加工送りして被加工物を加工する際に、該荷重検出手段で検出される荷重に応じた電圧を該傾き調整手段の該圧電素子に印加して該傾き調整手段を伸縮させることで、該スピンドルハウジングの傾きを制御して該加工工具から被加工物の被加工面に加わる荷重を調整することを特徴とする加工装置。 A chuck table for holding a workpiece, a processing means rotatably mounted with a processing tool for grinding or polishing the workpiece held on the chuck table, and the processing means perpendicular to the holding surface of the chuck table A processing device comprising a processing feed means for processing and feeding in a specific direction,
The processing means includes a spindle housing that rotatably supports a spindle to which the processing tool is mounted, a holder to which the spindle housing is mounted, and an inclination of the spindle housing that is interposed between the holder and the spindle housing. Inclination control means for controlling the control unit, and control means for controlling each component,
The inclination control means includes a load detection means and an inclination adjustment means including a piezoelectric element, and supports the spindle housing at three or more locations.
The control means applies a voltage corresponding to the load detected by the load detecting means to the piezoelectric element of the inclination adjusting means when the workpiece is processed by feeding the processing means. A machining apparatus characterized by adjusting the load applied to the work surface of the work piece from the work tool by controlling the inclination of the spindle housing by expanding and contracting the adjusting means.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015086420A JP2016203290A (en) | 2015-04-21 | 2015-04-21 | Machining device |
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JP2016203290A true JP2016203290A (en) | 2016-12-08 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2015086420A Pending JP2016203290A (en) | 2015-04-21 | 2015-04-21 | Machining device |
Country Status (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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