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JP2016181597A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents

積層セラミックコンデンサ Download PDF

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幸宏 小西
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翔平 北村
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洋一 加藤
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裕介 小和瀬
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由 牧野
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Yoshinori Tanaka
美徳 田中
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Abstract

【課題】実効体積が高く、かつ、素体と外部電極との密着力が高い、大容量の積層セラミックコンデンサを提供する。【解決手段】誘電体層17と極性の異なる内部電極層18とが交互に積層されてなり、一対の主面、一対の端面及び一対の側面を有する略直方体形状の素体を備える積層セラミックコンデンサである。外部電極14が素体の一対の端面及び一方の主面に形成され、積層セラミックコンデンサの一方の端面近傍における端面に平行な断面において、端面側の外部電極に接続した内部電極層及び内部電極層の間に存在する誘電体層により構成される面積Aと、断面の外部電極を除いた部分の面積Bとの比率(A/B)が、0.75以上である。【選択図】図3

Description

本発明は、実効体積が大きく、かつ素体と外部電極との密着力が高い積層セラミックコンデンサに関するものである。
近年、携帯電話やタブレット端末などのデジタル電子機器に使用される電子回路の高密度化に伴う電子部品の小型化に対する要求は高く、当該回路を構成する積層セラミックコンデンサ(MLCC)の小型化、大容量化が急速に進んでいる。
積層セラミックコンデンサの容量は、当該コンデンサを構成する誘電体層の構成材料の誘電率や誘電体層の積層数、及び互い違いに外部電極に引き出される内部電極層のオーバーラップ部分である有効面積に比例し、誘電体層一層あたりの厚みに反比例する。そこで、小型化の要求にもこたえるため、材料の誘電率を高め、かつ誘電体層の厚みを薄くしてその積層数を増加させることなどが求められる。
さらに、積層セラミックコンデンサは基板との接続などのための外部電極を両端面に有しているが、この外部電極は一般に、両端面以外の他の四つの面にも回り込んでおり(いわゆる五面電極)、どの面でも基板などとの接続が可能な構成となっている。
そのため、積層セラミックコンデンサの外形寸法は、誘電体層と内部電極層の積層体である素体に、外部電極を加えた寸法となる。外部電極が大きい(厚い)と、積層セラミックコンデンサの容量を決める前記素体の割合(実効体積)が小さいため、容量が不十分となってしまう。
そこで、この実効体積を確保するため、外部電極を薄く形成する手法が研究開発され、更に特許文献1では、外部電極を、両端面と、それに接する四つの面のうち、対向する一対の面(つまり二面)に形成することを提案している(コの字型の三面電極)。通常外部電極が形成される残りの二面について、そこに外部電極が形成されなくなった分素体(内部電極層と誘電体層の積層体)を大きくすることができ、実効体積が大きくなる。
そして特許文献1の図13では、端面以外の外部電極が形成される対向する一対の面のうち、一方だけに外部電極を形成することが示唆されている(L字型二面電極)。
なお、図6は特許文献1において提案されたコの字型三面電極を有する積層セラミックコンデンサ100の概略斜視図であるが、一般に内部電極層が左右の外部電極104に引き出される面を端面102a,bと呼び、内部電極層及び誘電体層の積層方向上下の面を主面102c,dと呼び、残りの一対の面を側面102e,fと呼ぶ。
特開2012−4480号公報
特許文献1にて提案されたように外部電極を形成する面を減らすと、その分素体と外部電極との密着力が低下し、過酷な環境下ではこれらが剥離する可能性があり、積層セラミックコンデンサの信頼性が低下し得る。
そこで本発明は、実効体積が高く、かつ素体と外部電極との密着力が高い、大容量の積層セラミックコンデンサを提供することを課題とする。
本発明者らは上記課題を解決するために鋭意検討した結果、実効体積を高めるために、特許文献1にて提案された、両端面とそれに接する一対の面のうち一方に外部電極が形成されたL字型二面電極構成を採用した。しかしこの構成では素体と外部電極との密着力が不十分となり信頼性が低下し得るので、密着力を確保する手段を検討した。
積層セラミックコンデンサは一般に、内部電極層と誘電体層の積層方向上下の主面をカバー層で被覆し、さらに、側面にサイドマージンを形成する。前記カバー層及びサイドマージンは誘電体層と同様の素材で形成することが多い。
このため積層セラミックコンデンサの端面に平行な断面においては、内部電極層は誘電体により周囲を囲まれている。本発明者らは、外部電極に引き出される内部電極層と外部電極に接する誘電体の比率を所定のパラメータで表現し、このパラメータを一定の範囲に制御することで、外部電極と素体との密着力を確保しつつ、大容量の積層セラミックコンデンサを提供できることを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち本発明は、誘電体層と極性の異なる内部電極層とが交互に積層されてなり、一対の主面、一対の端面及び一対の側面を有する略直方体形状の素体を備える積層セラミックコンデンサであって、外部電極が前記素体の一対の端面及び一方の主面に形成され、前記積層セラミックコンデンサの一方の端面近傍における端面に平行な断面において、該端面側の外部電極に接続した内部電極層及び該内部電極層の間に存在する誘電体層により構成される面積Aと、前記断面の外部電極を除いた部分の面積Bとの比率(A/B)が、0.75以上である、積層セラミックコンデンサである。
前記比率(A/B)は、高温負荷試験における信頼性を確保する観点から、0.92以下であることが好ましい。
外部電極と素体との密着力を向上させる観点からは、前記内部電極層の厚さが前記誘電体層の厚さよりも大きいことが好ましい。
前記一方の主面に形成された外部電極の厚さが1〜30μmであると、外部電極が薄く、その分素体における内部電極層の積層数を増やすことができるので積層セラミックコンデンサの容量の点から好ましいとともに、積層数が増えることで外部電極と接する内部電極層の面積が大きくなるので、外部電極と素体の密着力の点からも好ましい。
また、前記誘電体層の厚さを0.2〜0.8μmとすると、素体における誘電体層と内部電極層の積層数を増やすことができるので、積層セラミックコンデンサの容量の点から好ましい。
前記比率(A/B)は、外部電極と素体との密着力を向上させる観点から、0.78以上であることが好ましい。
本発明によれば、実効体積が高く、かつ素体と外部電極との密着力が高い、大容量の積層セラミックコンデンサが提供される。
本発明の積層セラミックコンデンサの概略斜視図である。 本発明の積層セラミックコンデンサ10の、側面12e,fに平行な断面の模式図を示す。 図2におけるI−Iで示された、一方の端面12a近傍の、端面に平行な断面を、図2におけるXの方向からみた模式図である。 サイドマージンの形成方法の一例を示す模式図である。 サイドマージンの形成方法の一例を示す模式図である。 特許文献1において提案されたコの字型三面電極を有する積層セラミックコンデンサの概略斜視図である。
以下、本発明の一実施形態による積層セラミックコンデンサを説明する。図1は、本発明の積層セラミックコンデンサ10の概略斜視図である。本発明においても、従来と同様に、内部電極層が左右の外部電極14に引き出される面を端面12a,bと呼び、内部電極層及び誘電体層の積層方向上下の面を主面12c,dと呼び、残りの一対の面を側面12e,fと呼ぶ。
[積層セラミックコンデンサ]
図2に、本発明の積層セラミックコンデンサ10の、側面12e,fに平行な断面の模式図を示す。積層セラミックコンデンサ10は、規格で定められたチップ寸法及び形状(例えば1.0×0.5×0.5mmの略直方体)を有する素体16と、主に素体16の両端面側に形成される一対の外部電極14とから概ね構成される。素体16は、例えばBaTiO、CaTiO、SrTiO、CaZrOなどの粒子結晶を主成分とし、内部に誘電体層17と内部電極層18とが交互に積層されてなる積層体20と、積層方向上下の最外層として形成されるカバー層22とを有している。さらに、図示されないが、積層体20(の内部電極層18)が外部に露出しないようにこれをカバーして一対の側面12e,fを形成するサイドマージン24が存在する(図1参照)。
積層体20は、静電容量や要求される耐圧等の仕様に応じて、内部電極層18及び2枚の内部電極層18で挟まれる誘電体層17の厚さが所定の範囲に設定され、全体の積層数が数百〜千程度の高密度多層構造を有している。
積層体20の周囲に形成されるカバー層22及びサイドマージン24は、誘電体層17及び内部電極層18を外部からの湿気やコンタミ等の汚染から保護し、それらの経時的な劣化を防ぐ。
また、内部電極層18はその端縁が、誘電体層17の長さ方向両端部にある極性の異なる一対の外部電極14に交互に引き出され、電気的に接続している。
本発明の積層セラミックコンデンサ10においては、外部電極14が素体16の一対の端面12a,b及び一方の主面12dに形成される(他方の主面12cには形成されず、また一対の側面12e,fにも形成されていない、いわゆるL字型二面電極。図1参照)、という構成を採用する。これにより、積層セラミックコンデンサ10に占める素体16の比率(実効体積)を大きくして、大容量を達成している。
なお、他方の主面12cに形成されていないとは、主面12c上に全く外部電極14が存在しない場合だけでなく、例えば主面12cと端面12aの交点から(図2においては主面12cと端面12aの明確な終点がないが、ここでは端面12aの直線部分が終了したところから主面12c(及び主面12d)とする)、端面12b側に引き出された内部電極層18の端面12a側の終端に対応する位置30まで、主面12c上に外部電極14が形成されている場合も含む。反対側の端面12bについても同様である。なお、外部電極14が形成されている主面において、外部電極14が主面全体を被覆することはなく、端面12a側と端面12b側に、一定の距離をおいて分離して形成されている。
また、一対の側面12e,fに形成されていないとは、主面の場合と同様に、これら側面上に全く外部電極が存在しない場合だけでなく、例えば側面12eと端面12aの交点から、端面12b側に引き出された内部電極層18の端面12a側の終端に対応する位置まで、サイドマージン24上に外部電極14が形成されている場合も含む。反対側の端面12bや側面12fについても同様である。
上記の外部電極14が素体16の一対の端面12a,b及び一方の主面12dに形成されているL字型二面電極の構成では、外部電極14と素体16との接触面積が従来構成の積層セラミックコンデンサより小さい。そのためこれらの間の密着力が低下し、熱や物理的衝撃などによって、クラックが発生するなどしやすくなり、積層セラミックコンデンサの信頼性が低下し得る。
これに対応するため本発明の積層セラミックコンデンサ10においては、当該コンデンサの一方の端面12a近傍における端面12aに平行な断面において、該端面12a側の外部電極14に接続した内部電極層18及び該内部電極層18の間に存在する誘電体層17により構成される面積Aと、前記断面の外部電極14を除いた部分の面積Bとの比率(A/B)が、0.75以上である。
これをより詳細に説明するため、図3を参照する。図3は、図2におけるI−Iで示された、一方の端面12a近傍の、端面に平行な断面を、図2におけるXの方向からみた模式図である。
前記断面は、前記一方の端面12aに形成された外部電極14に引き出される内部電極層18は見えるが、反対側の端面12bに形成された外部電極14に引き出される内部電極層18は見えないような位置の断面とする。一つの基準として、図2において上から2番目の内部電極層の左側の終端(外部電極14に届いていない)と、側壁の外部電極14(つまり端面12a)との中点を通る断面を採用することが好ましい。
そしてそのような断面の模式図が図3であるが、図3においては、端面12b側の外部電極14に引き出されている内部電極層18が見えていない。また、図3に示された断面の内側では、対向する一対のカバー層22及び対向する一対のサイドマージン24により、誘電体層17と内部電極層18との積層体20が囲まれている。この積層体20の面積が、おおよそ上記の面積Aに対応する。本発明においては、Aは以下に定義されるWとLとの積として求められるものとする。
Wは、積層体20における複数の内部電極層18のうち中央に存在する内部電極32(前記断面において見えている内部電極層18の数nが偶数の場合には、中央の内部電極32として、n/2番目のもの、及び(n/2+1)番目のもののいずれを選択してもよい)の長さとする。
Lは、当該内部電極32の垂直二等分線34における、図3において最上部の内部電極層18の上面から最下部の内部電極層18の下面までの長さとする。
次に面積Bは、上記の通り前記断面の外部電極14を除いた部分の面積であるが、これは具体的には、前記断面において、積層体20、一対のカバー層22及び一対のサイドマージン24により構成される素体16の面積である。当該面積は、例えば図3に対応する積層セラミックコンデンサの光学顕微鏡写真やSEM写真をとり、それを所定のソフトウェアにより画像解析することにより求めることができる。
本発明においては、以上のようにして定義される面積A及びBの比率(A/B)が0.75以上である。一般に内部電極層18は誘電体層17に比較して外部電極14との密着性に優れ、このように比率を設定すると、外部電極14に接触する内部電極層18が大きくなり、外部電極14と素体16との密着力が高まる。
このため、本発明の積層セラミックコンデンサ10においては上記の通りL字型二面電極の大容量の構成を採用しているが、あわせて外部電極14と素体16との密着力も十分に確保しており、高い信頼性を達成し得るものである。この点からは、前記比率(A/B)は0.78以上であることが好ましい。
そして、本発明者らの検討により、A/Bを大きくしすぎると高温負荷試験における信頼性が低下することが見出されており、このような信頼性も確保するためには、A/Bを0.92以下に制御することが好ましい。
また、外部電極14と素体16との密着性を高めるため、内部電極層18の厚みを誘電体層17の厚みよりも大きく設定することが好ましい。このような構成とすることで外部電極14と接する内部電極層18の面積を十分に確保することができるからである。
同様な観点からは、誘電体層17の厚さが0.2〜0.8μmであることが好ましい。誘電体層17の厚さを薄くすることで外部電極14と接する内部電極層18の面積が大きくなるからである。また、このような構成とすると、誘電体層17が薄層化するとともに内部電極層18の積層数を増やすこともできるので、積層セラミックコンデンサ10の大容量化の観点からも好ましい。
さらに同様に内部電極層18の積層数を増やして積層セラミックコンデンサ10を大容量化する観点からは、一方の主面12に形成された外部電極14の厚さが1〜30μmであることが好ましい。なお、外部電極14の厚さは、図2において、外部電極14部分を通る主面12dの法線36(複数存在する)上の、主面12dとの交点から外部電極14の終わりの部分までの長さTの最大値とする。なお、図2においては主面12dの明確な始点がないが、このような場合には、端面12aの曲線部分が終了したところから主面12dとする。
その他、本発明の積層セラミックコンデンサ10において、カバー層22の厚さ、サイドマージン24の厚さ及び内部電極層18の厚さは特に制限されるものではないが、カバー層22の厚さは通常4〜50μmであり、サイドマージン24の厚さは通常4〜50μmであり、内部電極層18の厚さは通常0.26〜1.00μmである。
[積層セラミックコンデンサの製造方法]
次に、以上説明した本発明の積層セラミックコンデンサの製造方法について説明する。
まず、誘電体層を形成するための原料粉末を用意する。原料粉末としては、例えばBaTiO、CaTiO、SrTiO、CaZrOなど、セラミック焼結体を形成し得る各種の粉末を使用することができる。
これらは各種金属原料を反応させることで合成することができる。その合成方法としては従来種々の方法が知られており、例えば固相法、ゾルゲル法、水熱法等が知られている。本発明においては、これらのいずれも採用可能である。
得られた原料粉末には、目的に応じて副成分となる化合物を所定量添加してもよい。副成分としては、Nd,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Erの希土類酸化物、並びにMg,Mn,Ni,Co,Fe,Cr,Cu,Al,Mo,W,V及びSiの酸化物が挙げられる。
例えば上記のようにして得られた原料粉末について、必要に応じて粉砕処理して粒径を調節したり、あるいは分級処理と組み合わせることで粒径を整えてもよい。
そして原料粉末に、ポリビニルブチラール(PVB)樹脂等のバインダ、エタノール及びトルエン等の有機溶剤並びにフタル酸ジオクチル(DOP)等の可塑剤を加えて湿式混合する。得られたスラリーを使用して、例えばダイコータ法やドクターブレード法により、基材上に帯状の前記スラリーを塗工して乾燥させ、厚み1.2μm以下の誘電体グリーンシートを得る。そして、得られた誘電体グリーンシートの表面に、有機バインダを含む金属導電ペーストをスクリーン印刷やグラビア印刷により印刷することで、極性の異なる一対の外部電極に交互に引き出される内部電極層のパターンを配置する。前記金属としては、コストの観点からニッケルが広く採用されている。
その後、内部電極層パターンが印刷された誘電体グリーンシートを所定の大きさに打ち抜いて、打ち抜かれた前記誘電体グリーンシートを、基材を剥離した状態で、内部電極層と誘電体層とが互い違いになるように、かつ内部電極層が誘電体層の長さ方向両端面に端縁が交互に露出して極性の異なる一対の外部電極に交互に引き出されるように、所定層数(例えば100〜1000層)積層する。積層した誘電体グリーンシートの上下にカバー層となるカバーシートを圧着させ、所定チップ寸法(例えば1.2mm×0.7mm×0.7mm)にカットする。
ここで、サイドマージンを形成する方法としては、従来公知の各種の方法が特に制限なく採用可能であるが、例えば、前記所定チップ寸法にカットする際に、内部電極層のジャストの位置でカットするのではなく、それより若干幅をもたせて内部電極層に被覆されていない誘電体層の部分を含むようにカットすることで、積層体の両側面に所望の厚さのサイドマージンを形成して、焼成により素体16となる素体前駆体を得ることができる。
さらに、別の方法として、以下のようにサイドマージンを形成することも可能である。すなわち、図4(a)に示すように、所定の間隔(これが、図2において、外部電極14と、当該外部電極14と反対側の外部電極14に引き出された内部電極層18の端縁との距離の2倍に相当する)をあけてストライプ状に内部電極パターン200を印刷した複数の誘電体グリーンシートを、当該ストライプの中央部と内部電極パターン200同士の間隔があいている部分とが重ね合わされるように積層する。
これを、C−C線で示すようにストライプ状の内部電極パターン200を横断するように切断して、図4(b)に示す、一対の対向するサイドマージン204を除いた部分の棒状の積層体202を得る。ここで、切断幅(切断により生じる断面同士の距離)は、製造する積層セラミックコンデンサのサイズ、すなわち素体16の一対の側面12e,f間の距離に対応するものとする。
得られた棒状の積層体202の側面にサイドマージン204を形成して(サイドマージンは通常誘電体層17と同様の素材で形成される)、さらにC−C線で示すように個別のチップサイズにカットして(C−C線は、内部電極パターン200の中央部又は内部電極パターン200同士の間隔の中央部を通る)、個々の積層体チップ206を得る(図4(c))。当該チップ206においては、前記切断により生じた断面に交互に内部電極が引き出されており、当該チップ206は、焼成により素体16となる素体前駆体である。
また、別の方法として、以下のようにしてサイドマージンを形成することができる。すなわち、図5に示すように、誘電体グリーンシートの積層体において内部電極層のジャストの位置又はそれより内側でカットして、得られた積層体チップ300(側面において内部電極層が露出している)を、その側面が上になるようにして集合ステージ302上に配置する。そして集合ステージ302上で、図示の矢印で示す方向にスライドし得る複数のブロック材304a〜304dを集合ステージ302上で矢印方向にスライドさせる。このようにして、複数の積層体チップ300同士が密着された、平面形状が矩形の集合体を得ることができる。
そして、この状態でスキージ306を用いてセラミックペースト(通常誘電体層17の形成材料と同様の材料)を塗布することにより、集合体の上面に所定厚みのセラミックペースト層を形成し、これを乾燥させる。この厚みは、配置された積層体チップ300の高さと、ブロック材304の高さの差を調節することにより、調整することができる。
なお、セラミックペースト層は積層体チップ300の集合体全面上に形成されるので、ローラーを集合体の上面から圧接させ、走行させたり、積層体チップ300の境界に対応する位置にブレードを押し当てることによって、セラミックペースト層を個々の積層体チップ300に対応するように分割する。
以上のようにして積層体チップ300の一方の側面に所定の厚さのサイドマージンが形成され、これを反転させて上記と同じ操作を繰り返すことで、他方の側面にも同様にサイドマージンを形成し、焼成により素体16となる素体前駆体を得ることができる。
以上説明したようにして、素体前駆体が形成されるが、本発明で規定されるA/Bを達成するためには、例えば、カバー層及びサイドマージンの厚みを薄くし、A/Bを所定の範囲に調整すればよい。また、上記の誘電体グリーンシートにおける誘電体層の厚みを薄くし、内部電極層の厚みを厚くして積層セラミックコンデンサ10を製造することで、外部電極14と素体16との密着力を高めることができる。
また、カバー層及びサイドマージンを形成した後に、素体前駆体の角部分を面取りし、素体前駆体の各面の連結部分が湾曲した形状にしてもよい。これにより、素体前駆体の角部の欠けを抑制することができる。
このような形状とするためには、例えば、ポリエチレン等の材料からなる密閉回転ポットに水と複数の前記素体前駆体と研磨用のメディアを入れて、この密閉回転ポットを回転させることによって、前記素体前駆体の角部分の面取りを行えばよい。
以上のようにして得られた、誘電体層及び内部電極層の積層体と、当該積層体の上下主面をカバーするカバー層と、積層体の両側面を被覆するサイドマージンとからなる素体前駆体について、250〜500℃のN雰囲気中で脱バインダした後に、還元雰囲気中で1100〜1300℃で1分〜2時間焼成することで、上記誘電体グリーンシートを構成する各化合物が焼結して緻密化する。このようにして、本発明の積層セラミックコンデンサ10における素体16が得られる。
なお、本発明においてはさらに、600〜1000℃で再酸化処理を実施してもよい。
そして、得られた素体16の両端面及び一方の主面に外部電極14を形成する。このような特定の位置に外部電極を形成するためには、例えば以下の方法を採用することができる。
素体16の主面又は側面が下面に接するように整列し、Cu等の金属粒子とエチルセルロース等の有機バインダー、分散剤、溶剤にて構成される外部電極ペーストを一方の主面に印刷塗布、乾燥し、主面上に外部電極を形成する。その後、素体16の両端面に同様のペーストをディッピング塗布し、乾燥して、焼き付けを行う。その後、Ni、Snのめっき膜を形成する。
なお、主面上への外部電極14の形成は、カバー層の形成において、予め外部電極パターンを表面に印刷してあるカバーシートを使用することによっても可能である。
また、主面及び端面のどちらについても、スパッタや蒸着をすることにより、外部電極14を形成することが可能である。
このようにして、前記素体16の一対の端面及び一方の主面に外部電極14が形成され、A/Bが所定範囲にある、本発明の積層セラミックコンデンサ10が製造される。
以下、実施例により本発明をより詳細に説明する。しかしながら、本発明はこれら実施例に何ら限定されるものではない。
[積層セラミックコンデンサの製造]
平均粒径0.1μmのチタン酸バリウム100molに対し、Dy、Mgを1.0molずつ、VおよびMnを0.5molずつ添加し、これと、アルコールを主成分とする有機溶剤、ポリビニルブチラール樹脂、分散剤、及び可塑剤とを混合、分散して塗工スラリーを作製した。そしてこのスラリーをダイコーターにて基材上に塗工することで誘電体グリーンシートを作製した。このとき、ダイコーターへのスラリーの供給液量を調整することで、シート厚みを制御した。
続いて、平均粒径200nmのNi粉末とアルコールを主成分とする有機溶剤、エチルセルロース樹脂、分散剤、及び可塑剤を混合分散した導体ペーストを用いて、先の誘電体グリーンシート上にスクリーン印刷を行い、内部電極印刷誘電体グリーンシートを作製した。このとき、導体ペーストの固形分濃度をペースト溶剤量で調整し、内部電極の厚みの制御を行った。
複数層の誘電体グリーンシート(カバー層形成のため)、及び複数層の内部電極印刷誘電体グリーンシートを積層し、圧着、カットを行い、個片の未焼成積層体を作製した。このとき、誘電体グリーンシートの積層数を変えることで、カバー厚みを変えた。
未焼成積層体をサイドマージン面(側面)が上面になるように整列させ、平均粒径0.1μmのチタン酸バリウム100molに対し、Dy、Mgを1.0molずつ、VおよびMnを0.5molずつ添加し、これと、アルコールを主成分とする有機溶剤、エチルセルロース樹脂、分散剤、及び可塑剤とを混合、分散してセラミックペーストを作製した。そしてこのセラミックペーストを整列した未焼成積層体の上面に塗布乾燥させ、サイドマージン部を形成した。このとき、ペーストの塗布厚みを変えることで、サイドマージン厚みの制御を行った。また、対向するサイドマージン面にも同様の処理を行って、素体前駆体を得た。
密閉回転ポットに水と複数の前記素体前駆体と研磨用のメディアを入れて、この密閉回転ポットを回転させることによって、前記素体前駆体の角部分の面取りを行った。
以上のようにして得られた、誘電体層及び内部電極層の積層体と、当該積層体の上下主面をカバーするカバー層と、積層体の両側面を被覆するサイドマージンとからなる素体前駆体について、250〜500℃のN雰囲気中で脱バインダした後に、還元雰囲気中で1100〜1300℃で1分〜2時間焼成を行った。
得られた素体を主面又は側面が下面に接するように整列し、Cu粒子とエチルセルロース、分散剤、溶剤にて構成される外部電極ペーストを一方の主面に印刷塗布、乾燥し、主面上に外部電極を形成した。その後、素体の両端面に同様のペーストをディッピング塗布し、乾燥して、焼き付けを行った。その後、Ni、Snのめっき膜を形成した。
以上のようにして、下記に示す構成の積層セラミックコンデンサを製造した。
チップ寸法(縦×横×高さ) 1.2mm×0.7mm×0.7mm
誘電体層厚 0.16〜0.90μm
誘電体層数 427〜506層
内部電極層厚 0.26〜1.00μm
内部電極層数 427〜506層
カバー層厚 4〜50μm
サイドマージン厚 4〜50μm
外部電極厚(メッキ含む) 合計20〜30μm(Cu:Ni:Sn=14〜24μm:2μ
m:4μm)
面積A 下記表1に記載の通り
面積B 下記表1に記載の通り
なお、誘電体層及び内部電極層の厚さは、以下のようにして測定した。すなわち積層セラミックコンデンサについて、一方の端面から他方の端面までを4等分して端面に平行な断面を3枚作成し、当該断面ごとにおける任意の誘電体層及び内部電極層それぞれ20層の厚みを測定し、それらの平均値を求めて、それぞれ誘電体層厚及び内部電極層厚とした。
また、面積A及び面積Bを求めるための断面は、以下のようにして作製した。すなわち、各実施例及び比較例の積層セラミックコンデンサの一方の端面から鏡面研磨を行い、端面に形成された外部電極がなくなり、当該端面に引き出された内部電極が見え、反対側端面に引き出された内部電極は見えない位置まで研磨した。そのようにして得られた断面(鏡面)の、拡大倍率200倍にて観察した(光学顕微鏡)画像において、面積A及び面積Bを求めた。
得られた実施例及び比較例の各積層セラミックコンデンサについて、下記に示す各種評価を行った。
[密着性測定]
25mmあたり10Nの付着力を有する粘着テープ(ニチバン製CT-24)を、各実施例及び比較例の積層セラミックコンデンサの、端面に形成された外部電極に10N以上の力で押し当て、剥がした。各実施例及び比較例ごとに100個測定して、2個以上のコンデンサの外部電極に素体からの剥離が生じたものはNGと判定した。
[高温負荷試験]
各実施例及び比較例の積層セラミックコンデンサについて、高温負荷試験(105℃−9V)を実施した。各実施例及び比較例ごとに1000個の積層セラミックコンデンサについて試験を実施し、1000時間経過後に耐圧異常が生じたコンデンサの数を計測した。1000個測定して、2個以上のコンデンサにて耐圧異常が生じたものはNGと判定した。
以上の評価の結果を下記表1に示す。
比較例1及び2は、A/Bが0.75未満であるため、外部電極と接する内部電極の面積が不十分であり、外部電極と素体との密着性が不十分な結果となった。このように密着性が低いと、積層セラミックコンデンサの信頼性が低下し得る。
また、実施例1はA/Bが0.943と極めて大きく、高温負荷試験において耐圧異常が生じた。これと実施例2の結果より、A/Bが大きすぎると高温負荷条件での信頼性が不十分であり、A/Bは0.92以下であることが好ましいことがわかる。なお、実施例9は誘電体層が極めて薄いため、耐圧異常を起こしたものと考えられる。
10 積層セラミックコンデンサ
12a,b 端面
12c,d 主面
12e,f 側面
14 外部電極
16 素体
17 誘電体層
18 内部電極層
20 積層体
22 カバー層
24 サイドマージン
30 内部電極層の終端に対応する位置
32 中央の内部電極層
34 中央の内部電極層の垂直二等分線
36 主面dの法線
100 積層セラミックコンデンサ
102a,b 端面
102c,d 主面
102e,f 側面
104 外部電極
200 内部電極パターン
202 棒状の積層体
204 サイドマージン
206 積層体チップ
300 積層体チップ
302集合ステージ
304a〜d ブロック材
306 スキージ

Claims (6)

  1. 誘電体層と極性の異なる内部電極層とが交互に積層されてなり、一対の主面、一対の端面及び一対の側面を有する略直方体形状の素体を備える積層セラミックコンデンサであって、
    外部電極が前記素体の一対の端面及び一方の主面に形成され、
    前記積層セラミックコンデンサの一方の端面近傍における端面に平行な断面において、該端面側の外部電極に接続した内部電極層及び該内部電極層の間に存在する誘電体層により構成される面積Aと、前記断面の外部電極を除いた部分の面積Bとの比率(A/B)が、0.75以上である、積層セラミックコンデンサ。
  2. 前記比率(A/B)が0.92以下である、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
  3. 前記内部電極層の厚さが前記誘電体層の厚さよりも大きい、請求項1又は2に記載の積層セラミックコンデンサ。
  4. 前記一方の主面に形成された外部電極の厚さが1〜30μmである、請求項1〜3のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
  5. 前記誘電体層の厚さが0.2〜0.8μmである、請求項1〜4のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
  6. 前記比率(A/B)が0.78以上である、請求項1〜5のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
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