JP2016082454A - Imaging device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、撮像素子を用いた撮像装置に関する。 The present invention relates to an imaging apparatus using an imaging element.
デジタルカメラが具備するCCDセンサやCMOSセンサ等の撮像素子には、一部の画素に通常画素と出力信号レベルの異なる欠陥画素が存在している。この欠陥画素は、画像データの記録時や表示時に、いわゆるキズとして現れることとなり、画質性能劣化の一因になる。 In an image sensor such as a CCD sensor or a CMOS sensor included in a digital camera, a defective pixel having an output signal level different from that of a normal pixel exists in some pixels. This defective pixel appears as a so-called scratch at the time of recording or displaying image data, which causes a deterioration in image quality performance.
この欠陥画素の出力を、例えば周辺の非欠陥画素の画像情報を用いて補正することで、画質性能の劣化をある程度防ぐことができる。欠陥画素の位置は、主にデジタルカメラの製造過程で検出され、その位置情報がカメラ内に備えられたフラッシュROM等のメモリに記憶される。そして記憶された欠陥画素の位置情報に基づいて、撮影毎に欠陥画素出力の補正が行われる。 By correcting the output of the defective pixel using, for example, image information of peripheral non-defective pixels, it is possible to prevent deterioration in image quality performance to some extent. The position of the defective pixel is detected mainly during the manufacturing process of the digital camera, and the position information is stored in a memory such as a flash ROM provided in the camera. Then, based on the stored position information of the defective pixel, the defective pixel output is corrected for each photographing.
ところで、このような撮像素子における欠陥画素の中には、デジタルカメラが製品として出荷された後に発生するものが存在することがわかっている。このように製品出荷後に発生した欠陥画素に対しては、例えばユーザがその製品をサービスセンターに持ち込むか、あるいは、製品によってはユーザ自身で欠陥画素検出動作を行うプログラムを実行させることで対処する必要がある。 By the way, it is known that some defective pixels in such an image sensor are generated after the digital camera is shipped as a product. In this way, it is necessary to deal with defective pixels generated after product shipment, for example, by the user bringing the product into a service center or by executing a program for detecting defective pixels by the user depending on the product. There is.
特許文献1、2には、複数回、同一画素から欠陥画素を検出した場合、欠陥画素の位置情報を記録して補正を行う撮像装置が記載されている。この撮像装置によれば、後発性の欠陥画素の出力を補正することができる。
しかしながら、上記従来例において、後発性の欠陥画素を補正することができるものの、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴を持つ欠陥画素をも常に補正してしまう。そのため、その欠陥画素が発生していない時にも補正処理が行われ、被写体によっては画像の品質低下を招いてしまっているという問題があった。 However, although the late defective pixels can be corrected in the above-described conventional example, defective pixels having characteristics that occur or do not occur for a certain period are always corrected. Therefore, correction processing is performed even when the defective pixel is not generated, and there is a problem that the quality of the image is deteriorated depending on the subject.
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、複数の画素を備える撮像素子と、前記撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記撮像素子の欠陥画素の情報を記憶する欠陥画素情報記憶手段と、前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の検出頻度を数値化して判定値を生成する検出頻度数値化手段とを有し、前記検出頻度数値化手段によって生成された判定値を前記欠陥画素の情報として前記欠陥画素情報記憶手段に記憶させることを特徴とする。 The present invention has been made in order to solve the above-described problem. An image sensor including a plurality of pixels, a defective pixel detection unit that detects defective pixels of the image sensor, and information on defective pixels of the image sensor. A defective pixel information storage means for storing; and a detection frequency digitizing means for digitizing a detection frequency of the defective pixel detected by the defective pixel detection means to generate a determination value, and generated by the detection frequency digitizing means. The determined determination value is stored in the defective pixel information storage unit as information on the defective pixel.
欠陥画素の検出頻度を数値化した判定値を生成することにより、欠陥画素を適切に判定することが可能になる。 By generating a determination value obtained by quantifying the detection frequency of the defective pixel, it becomes possible to appropriately determine the defective pixel.
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。図1は、本発明の実施例の構成を示す図である。図1において、画像処理装置100は、デジタルカメラであり、以下に説明する各構成を備えている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention. In FIG. 1, an
撮影レンズ10は、光学像を電気信号に変換する撮像素子14上に被写体像を結像させる。機械式シャッター12は絞り機能を備え、撮像素子14への露光量を調節する。A/D変換器16は撮像素子14のアナログ信号出力をディジタル信号に変換する。
The taking
タイミング発生回路18は、撮像素子14、A/D変換器16、D/A変換器26にクロック信号や制御信号を供給し、メモリ制御回路22及びシステム制御回路50により制御される。機械式シャッター12以外にも、タイミング発生回路18による撮像素子14のリセットタイミングの制御によって、動画撮影などを行う際に電子シャッターとして撮像素子14の蓄積時間を制御することが可能である。
The
画像処理回路20は、A/D変換器16からのデータ或いはメモリ制御回路22からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また、画像処理回路20によって画像の切り出し、変倍処理を行うことで電子ズーム機能が実現される。
The
また、画像処理回路20においては、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいて、システム制御回路50が露光制御部40、測距制御部42を制御することで、TTL方式のAF処理、AE処理、EF処理を行っている。さらに、画像処理回路20においては、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてTTL方式のAWB(オートホワイトバランス)処理も行っている。
In the
メモリ制御回路22は、A/D変換器16、タイミング発生回路18、画像処理回路20、画像表示メモリ24、D/A変換器26、メモリ30、圧縮・伸長回路32を制御する。A/D変換器16のデータは、画像処理回路20、メモリ制御回路22を介して、或いは直接メモリ制御回路22を介して、画像表示メモリ24或いはメモリ30に書き込まれる。
The
画像表示メモリ24に書き込まれた表示用の画像データは、D/A変換器26を介してLCD等からなる画像表示部28により表示される。画像表示部28を用いて撮像した画像データを逐次表示すれば、電子ファインダー機能を実現することが可能である。また、画像表示部28は、システム制御回路50の指示により任意に表示をON/OFFすることが可能であり、表示をOFFにした場合には画像処理装置100の電力消費を大幅に低減することが出来る。
The display image data written in the
メモリ30は、撮影した静止画像や動画像を格納し、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶容量を備えている。これにより、複数枚の静止画像を連続して撮影する連射撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速かつ大量の画像書き込みをメモリ30に対して行うことが可能となる。また、メモリ30はシステム制御回路50の作業領域としても使用することが可能である。
The
圧縮・伸長回路32は、メモリ30に格納された画像データを読み込んで適応離散コサイン変換(ADCT)等により圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ30に書き込む。露光制御部40は、絞り機能を備えるシャッター12を制御し、フラッシュ48と連携することによりフラッシュ調光機能も有するものである。測距制御部42は、撮影レンズ10のフォーカシングを制御する。ズーム制御部44は、撮影レンズ10のズーミングを制御する。バリア制御部46は、保護手段であるバリア102の動作を制御する。フラッシュ48は、AF補助光の投光機能、フラッシュ調光機能も有する。
The compression /
露光制御部40、測距制御部42は、撮像した画像データを画像処理回路20によって演算した演算結果に基づき、システム制御回路50によりTTL方式を用いて制御される。システム制御回路50は、画像処理装置100全体を制御する。メモリ52は、システム制御回路50の動作用の定数、変数、プログラム等を記憶する。
The
表示部54は、システム制御回路50でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声等を用いて動作状態やメッセージ等を表示する。そして、画像処理装置100の操作部近辺の視認し易い位置に設置され、例えば液晶表示装置(LCD)やLED、スピーカー等の組み合わせにより構成されている。また、表示部54は、その一部の機能が光学ファインダー104内に設置されている。
The
表示部54の表示内容のうち、LCD等に表示するものとしては、シングルショット/連写撮影表示、セルフタイマー表示、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能枚数表示などである。また、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮影表示などを表示してもよい。さらに、ブザー設定表示、電池残量表示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、記録媒体200及び210の着脱状態表示、通信I/F動作表示等も可能である。また、表示部54の表示内容のうち、光学ファインダー104内に表示するものとしては、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示、等がある。不揮発性メモリ56は、電気的に消去・記録可能であり、例えばEEPROM等が用いられる。メモリ56は、後述するように撮像素子の欠陥画素の情報を記憶する。
Among the display contents of the
システム制御回路50の各種の動作指示を入力するための操作手段は、スイッチやダイアル、タッチパネル、視線検知によるポインティング、音声認識装置等の単数或いは複数の組み合わせで構成される。
The operation means for inputting various operation instructions of the
モードダイアルスイッチ60は、電源オフ、自動撮影モード、撮影モード、パノラマ撮影モード、動画撮影モード、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、PC接続モード、テレビ受信モード等の各機能モードを切り替え設定することが出来る。シャッタースイッチ62(SW1)は、シャッターボタンの操作途中でONとなり、AF(オートフォーカス)処理、AE(自動露出)処理、AWB(オートホワイトバランス)処理、EF(フラッシュプリ発光)処理等の動作開始を指示する。
The
シャッタースイッチ64(SW2)は、シャッターボタンの操作完了でONとなり、露光処理、現像処理、圧縮処理、記録処理という一連の処理の動作開始を指示する。露光処理は、撮像素子12から読み出した信号をA/D変換器16、メモリ制御回路22を介してメモリ30に画像データを書き込む処理である。現像処理は、画像処理回路20やメモリ制御回路22での演算による画像変換処理である。圧縮処理は、メモリ30から画像データを読み出し、圧縮・伸長回路32で圧縮する処理である。記録処理は、記録媒体200或いは210に画像データを書き込む処理である。
The shutter switch 64 (SW2) is turned on when the operation of the shutter button is completed, and instructs the start of a series of processing operations including exposure processing, development processing, compression processing, and recording processing. The exposure process is a process of writing image data into the
表示切替スイッチ66は、画像表示部28の表示を切替えることが出来る。この機能により、光学ファインダー104を用いて撮影を行う際に、TFT LCD等から成る画像表示部への電流供給を遮断することにより、省電力を図ることが可能となる。操作部70は、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、単写/連写/セルフタイマー切り替えボタン等の各種ボタンやタッチパネル等からなる。また、メニュー移動+(プラス)ボタン、メニュー移動−(マイナス)ボタン、再生画像移動+(プラス)ボタン、再生画像−(マイナス)ボタン、撮影画質選択ボタン、露出補正ボタン、日付/時間設定ボタン等もある。
The
ズームスイッチ72は、ユーザが撮像画像の倍率変更指示を行う。このズームスイッチ72は、撮像画角を望遠側に変更させるテレスイッチと、広角側に変更させるワイドスイッチからなる。このズームスイッチ72を用いることにより、ズーム制御部44に撮影レンズ10の撮像画角の変更を指示し、光学ズーム操作を行うトリガとなる。また、画像処理回路20による画像の切り出しや、画素補間処理などによる撮像画角の電子的な変更のトリガともなる。被写体検出部74は、被写体を検出する素子などがある。被写体として、顔検出する場合も考えられる。
In the
電源制御部80は、電源86と接続して通信するためのコネクタ82を備え、電池検出回路、DC−DCコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路等により構成されており、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行う。また、検出結果及びシステム制御回路50の指示に基づいてDC−DCコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部へ供給する。電源86は、電源制御部80と接続して通信するためのコネクタ84を備え、アルカリ電池やリチウム電池等の一次電池やNiCd電池やNiMH電池、Li電池等の二次電池、ACアダプター等からなる。
The power
インタフェース90及び94は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体との通信を行い、コネクタ92及び96は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体と接続を行う。なお、本実施例では記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタを2系統持つものとして説明している。もちろん、記録媒体を取り付けるインターフェース及びコネクタは、単数或いは複数、いずれの系統数を備える構成としても構わない。また、異なる規格のインターフェース及びコネクタを組み合わせて備える構成としても構わない。インターフェース及びコネクタとしては、SDカードやCFカード等の規格に準拠したものを用いて構成しても構わない。
さらに、インタフェース90及び94、コネクタ92及び96をPCMCIAカードやCF(コンパクトフラッシュ(登録商標))カード等の規格に準拠したものを用いて構成することも可能である。すなわち、LANカードやモデムカード、USBカード、IEEE1394カード、SCSIカード、PHS等の通信カード、等の各種通信カードを接続することにより、他のコンピュータやプリンタ等の周辺機器との間で画像データや画像データに付属した管理情報を転送し合うことが出来る。
Further, the
保護手段であるバリア102は、画像処理装置100のレンズ10を含む撮像部を覆う事により、撮像部の汚れや破損を防止する。光学ファインダー104は、画像表示部28による電子ファインダー機能を使用すること無しに、光学ファインダーのみを用いて撮影を行うことが可能である。また、光学ファインダー104内には、表示部54の一部の機能、例えば、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタースピード表示、絞り値表示、露出補正表示などが設置されている。
The
通信部110は、USB、IEEE1394、LAN、無線通信、等の各種通信機能を有する。コネクタ(無線通信の場合はアンテナ)112は、通信部110により画像処理装置100を他の機器と接続する。メモリカードやハードディスク等の記録媒体200は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部202、画像処理装置100とのインタフェース204、画像処理装置100と接続を行うコネクタ206を備えている。メモリカードやハードディスク等の記録媒体210は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部212、画像処理装置100とのインタフェース214、画像処理装置100と接続を行うコネクタ216を備えている。
The
以上のようなデジタルカメラ100において、使用者によりシャッタースイッチ64が押されると撮影が行われる。ここで、撮影感度が高感度であったり、高温、あるいはシャッター速度が遅いといったノイズが発生しやすい撮影条件であることが撮影条件取得手段により取得された場合には、通常画像を撮影した直後にシャッターを閉じて通常画像と同一条件で黒画像を撮影する。そして、通常画像から黒画像を減算するノイズリダクション処理を実行する。また、撮影された黒画像をメモリ30に保存し、メモリ30に保存した黒画像をもとに欠陥画素の検出を行う。図2、図3は、本実施例における黒画像に基づく欠陥画素検出処理のフローチャートである。
In the
まず、撮像素子14の画素数Xと画素位置xを取得する(S201)。前回までの検出で得た、その画素位置の判定値hと画素値Sxを取得する(S202)。ここで、判定値hとは、欠陥画素の検出頻度を数値化することで生成したものである(検出頻度数値化手段)。そして、判定値hに応じて、注目画素が後発性の欠陥画素であるのか、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素であるのかを判定することができる。
First, the number X of pixels and the pixel position x of the
次に、S202で得た画素位置xの画素値Sxと、欠陥画素であるかどうかを判定するための閾値Tkとを比較し、画素位置xの画素が欠陥画素であるか否かを判定する(S203)。S203で欠陥画素と判定された場合には、前回までの検出で得た判定値hにその検出時の条件に応じた値を加算することで増加させる(S207)。欠陥画素は撮影条件により検出のしやすさが異なるため、検出の難しい条件で欠陥画素と判定された場合は、通常加算する1に加えてさらに条件に応じた値を加算する。 Next, the pixel value Sx at the pixel position x obtained in S202 is compared with the threshold value Tk for determining whether or not the pixel is a defective pixel, and it is determined whether or not the pixel at the pixel position x is a defective pixel. (S203). If it is determined that the pixel is a defective pixel in S203, the value is increased by adding a value corresponding to the condition at the time of detection to the determination value h obtained in the previous detection (S207). Since defective pixels have different easiness of detection depending on shooting conditions, when a defective pixel is determined under difficult detection conditions, a value corresponding to the condition is further added in addition to 1 that is normally added.
S207の検出条件に応じた判定値の加算処理の詳細を図3に示す。撮影時の温度TmがS℃より低いかどうかを判定し(S301)、撮影時の温度TmがS℃未満である時は判定値hにsを加算(S305)する。また、温度がT℃より低いかどうかを判定し(S302)、温度がT℃未満(S<T)である時は判定値hにt(t<s)を加算する(S304)。 FIG. 3 shows details of the determination value adding process corresponding to the detection condition of S207. It is determined whether or not the temperature Tm at the time of shooting is lower than S ° C. (S301). When the temperature Tm at the time of shooting is lower than S ° C., s is added to the determination value h (S305). Further, it is determined whether the temperature is lower than T ° C. (S302). When the temperature is lower than T ° C. (S <T), t (t <s) is added to the determination value h (S304).
図2に戻り、S203で欠陥画素と判定されなかった場合には、前回までに欠陥画素として検出されたことのある画素であるかどうかを判定値hをもとに確認する(S204)。前回までに欠陥画素として検出されたことのある画素であった場合には、判定値hからuを減算することで減少させる(S206)。ここで減算処理を行うのは、この画素が後発性の欠陥画素である可能性が低いため、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素であることを明確にするためである。 Returning to FIG. 2, if it is not determined as a defective pixel in S203, it is confirmed based on the determination value h whether the pixel has been detected as a defective pixel until the previous time (S204). If the pixel has been detected as a defective pixel until the previous time, it is decreased by subtracting u from the determination value h (S206). The reason for performing the subtraction process here is to clarify that this pixel is a defective pixel having a feature that may or may not occur for a certain period of time because it is unlikely that this pixel is a late defective pixel. .
S204で前回までに欠陥画素として検出されたことのない画素に関しては通常画素であると判定し(S205)、全画素の検出が行われたどうかを確認する(S214)。全画素の検出が行われていない場合には画素位置xを進め(S215)、同様の処理を繰り返す。また、全画素の検出が行われていた場合には検出処理を終了する。 In S204, a pixel that has not been detected as a defective pixel until the previous time is determined to be a normal pixel (S205), and it is confirmed whether or not all pixels have been detected (S214). If all the pixels have not been detected, the pixel position x is advanced (S215), and the same processing is repeated. If all the pixels have been detected, the detection process ends.
一方、S206で判定値hの減算、またはS207で判定値hの加算を行った画素に関しては、減算、加算後の判定値hが欠陥画素種別判定閾値Hよりも大きい値であるかどうかを判定する(S208)。欠陥画素種別判定閾値Hとは、判定値hにより後発性の欠陥または一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥なのかを判断するための閾値である。この欠陥画素種別判定閾値Hと比較した結果、判定値hが欠陥画素種別判定閾値Hよりも大きい値である場合(h>H)には、後発性の欠陥画素(宇宙線傷)であると判定する(S210)。また、判定値hが欠陥画素種別判定閾値Hに及ばない場合(h≦H)には、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素(変動傷)であると判定する(S209)。 On the other hand, for the pixel for which the determination value h is subtracted in S206 or the determination value h is added in S207, it is determined whether or not the determination value h after subtraction and addition is larger than the defective pixel type determination threshold value H. (S208). The defective pixel type determination threshold value H is a threshold value for determining whether the defect is a late defect or a defect having a characteristic that occurs or does not occur for a certain period of time based on the determination value h. As a result of comparison with the defective pixel type determination threshold value H, if the determination value h is larger than the defective pixel type determination threshold value H (h> H), it is a late defective pixel (cosmic ray scar). Determine (S210). If the determination value h does not reach the defective pixel type determination threshold value H (h ≦ H), it is determined that the pixel is a defective pixel (variable flaw) having characteristics that occur or do not occur for a certain period (S209). ).
続いて、欠陥画素データを記憶するメモリ56(欠陥画素情報記憶手段)に空き領域があるかどうかを確認する(S211)。メモリ56内に空き領域がなければ、判定値hの低い画素データを削除し(S212)、今回判定された欠陥画素の判定値hと位置情報xを保存する(S213)。メモリ56内に空き領域があれば、そのまま今回判定された欠陥画素の判定値hと位置情報xを保存する(S213)。
Subsequently, it is confirmed whether or not there is an empty area in the memory 56 (defective pixel information storage means) that stores defective pixel data (S211). If there is no free space in the
次に、全画素の検出が終了したどうかを確認し(S214)、全画素の検出が行われていない場合には、画素位置xを進め(S215)、同様の処理を繰り返し、全画素の検出が行われていた場合には検出を終了する。 Next, it is confirmed whether or not all pixels have been detected (S214). If all pixels have not been detected, the pixel position x is advanced (S215), and the same processing is repeated to detect all pixels. If it has been performed, the detection is terminated.
同様の処理を動画モードにおいても実施することができる。ただし、動画では遮光状態で撮影する機会がないため、例えば起動時やシャットダウン時に撮像素子14を動画モードで動作させて黒画像を撮影し、欠陥画素の検出を行う。また、本実施例の静止画撮影モードで行う欠陥画素の検出データにより、静止画モードから動画モードへ画素位置を変換し、動画モードにおいて欠陥画素の補正を行うという例も考えられる。なお、その際にはh>Hの画素のみ補正すればよい。
Similar processing can also be performed in the moving image mode. However, since there is no opportunity to shoot a moving image in a light-shielded state, for example, when starting up or shutting down, the
次に、図2および図3のフローチャートによる全画素における欠陥画素の検出処理が終了すると、続いて補正処理を行う。図4を用いて欠陥画素の補正を行う実施例について説明する。画像処理回路20には、画素欠陥情報に基づいて欠陥画素と判定された画素を周辺画素から補間する欠陥画素補正回路と、撮影画像を解析してリアルタイムに欠陥画素を検出して補正するリアルタイム欠陥画素検出回路が存在しているものとする。リアルタイム欠陥画素検出回路は画像を入力して欠陥画素判定を実施するが、参考画素位置情報を入力すると参考情報のある画素の検出を通常画素よりも低い閾値で検出するものとする。
Next, when the detection process of defective pixels in all the pixels according to the flowcharts of FIGS. 2 and 3 is completed, a correction process is subsequently performed. An embodiment in which defective pixels are corrected will be described with reference to FIG. The
まず、対象となる欠陥画素の画素位置xを取得する(S401)。そして検出時に保存した、その画素の判定値hを取得する(S402)。S402で取得した判定値hにより後発性の欠陥画素(宇宙線傷)であるかどうかを判定し(S403)、後発性の欠陥画素であると判定された場合には、周辺の画素値をもとに補正処理を行う(S406)。S403において後発性の欠陥画素ではないと判定された場合には、S402で取得した判定値hにより一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素(変動傷)であるかどうかを判定する(S404)。一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥画素であると判定された場合には、リアルタイム欠陥画素補正の際の参考画素位置情報としてマークを付ける(S405)。 First, the pixel position x of the target defective pixel is acquired (S401). Then, the determination value h of the pixel saved at the time of detection is acquired (S402). It is determined whether or not the pixel is a late defective pixel (cosmic ray scar) based on the determination value h acquired in S402 (S403). If it is determined that the pixel is a late defective pixel, the surrounding pixel values are also included. Then, correction processing is performed (S406). If it is determined in S403 that the pixel is not a late defective pixel, it is determined whether or not it is a defective pixel (fluctuation flaw) having a feature that may or may not occur for a certain period of time based on the determination value h acquired in S402. (S404). If it is determined that the pixel is a defective pixel that may or may not occur for a certain period of time, a mark is attached as reference pixel position information for real-time defective pixel correction (S405).
S405およびS406においてそれぞれの処理を行ったら、全ての欠陥画素の補正が行われたどうかを確認する(S407)。全ての欠陥画素の補正が行われていない場合には、画素位置xを進めて(S408)、同様の処理を行う。全ての欠陥画素の補正が行われていた場合には補正処理を終了する。 When the respective processes are performed in S405 and S406, it is confirmed whether or not all defective pixels have been corrected (S407). If all defective pixels have not been corrected, the pixel position x is advanced (S408), and the same processing is performed. If all defective pixels have been corrected, the correction process ends.
本実施例によって検出した欠陥画素が後発性の欠陥であるのか、一定期間発生したり発生しなかったりする特徴をもつ欠陥であるのかを識別することができ、それぞれの欠陥に対して適切な補正処理を行うことで画像の品質を保つことが可能となるメリットが生じる。 It is possible to identify whether a defective pixel detected by the present embodiment is a late defect or a defect having a characteristic that may or may not occur for a certain period of time, and an appropriate correction for each defect. By performing the processing, there is a merit that the quality of the image can be maintained.
(その他の実施例)
以上、本発明をその好適な実施形態に基づいて詳述してきたが、本発明はこれら特定の実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。上述の実施形態の一部を適宜組み合わせてもよい。
(Other examples)
Although the present invention has been described in detail based on preferred embodiments thereof, the present invention is not limited to these specific embodiments, and various forms within the scope of the present invention are also included in the present invention. included. A part of the above-described embodiments may be appropriately combined.
また、上述の実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムを、記録媒体から直接、或いは有線/無線通信を用いてプログラムを実行可能なコンピュータを有するシステム又は装置に供給し、そのプログラムを実行する場合も本発明に含む。 Also, when a software program that realizes the functions of the above-described embodiments is supplied from a recording medium directly to a system or apparatus having a computer that can execute the program using wired / wireless communication, and the program is executed Are also included in the present invention.
従って、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、該コンピュータに供給、インストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も本発明に含まれる。 Accordingly, the program code itself supplied and installed in the computer in order to implement the functional processing of the present invention by the computer also realizes the present invention. That is, the computer program itself for realizing the functional processing of the present invention is also included in the present invention.
その場合、プログラムの機能を有していれば、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、OSに供給するスクリプトデータ等、プログラムの形態を問わない。 In this case, the program may be in any form as long as it has a program function, such as an object code, a program executed by an interpreter, or script data supplied to the OS.
プログラムを供給するための記録媒体としては、例えば、ハードディスク、磁気テープ等の磁気記録媒体、光/光磁気記憶媒体、不揮発性の半導体メモリでもよい。 The recording medium for supplying the program may be, for example, a magnetic recording medium such as a hard disk or a magnetic tape, an optical / magneto-optical storage medium, or a nonvolatile semiconductor memory.
また、プログラムの供給方法としては、コンピュータネットワーク上のサーバに本発明を形成するコンピュータプログラムを記憶し、接続のあったクライアントコンピュータがコンピュータプログラムをダウンロードしてプログラムするような方法も考えられる。 As a program supply method, a computer program that forms the present invention is stored in a server on a computer network, and a connected client computer downloads and programs the computer program.
14 撮像素子
20 画像処理回路
50 システム制御回路
56 メモリ
14
Claims (9)
前記撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記撮像素子の欠陥画素の情報を記憶する欠陥画素情報記憶手段と、
前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の検出頻度を数値化して判定値を生成する検出頻度数値化手段とを有し、
前記検出頻度数値化手段によって生成された判定値を前記欠陥画素の情報として前記欠陥画素情報記憶手段に記憶させることを特徴とする撮像装置。 An image sensor comprising a plurality of pixels;
A defective pixel detecting means for detecting a defective pixel of the image sensor;
Defective pixel information storage means for storing information of defective pixels of the image sensor;
Detection frequency quantification means for quantifying the detection frequency of defective pixels detected by the defective pixel detection means and generating a determination value;
An image pickup apparatus, wherein the determination value generated by the detection frequency digitizing unit is stored in the defective pixel information storage unit as information on the defective pixel.
前記検出頻度数値化手段によって生成された前記判定値に応じて、前記欠陥画素を補正するか否かを判定することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。 A defective pixel correcting means for correcting the defective pixel;
5. The imaging apparatus according to claim 1, wherein whether or not the defective pixel is to be corrected is determined according to the determination value generated by the detection frequency digitizing unit.
前記検出頻度数値化手段は、注目画素が前記欠陥画素検出手段により欠陥画素として検出された場合に、前記撮影条件に応じて前記判定値を増加させることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。 It further has photographing condition acquisition means for acquiring photographing conditions,
3. The imaging according to claim 2, wherein the detection frequency digitizing unit increases the determination value according to the imaging condition when a target pixel is detected as a defective pixel by the defective pixel detecting unit. apparatus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014213186A JP2016082454A (en) | 2014-10-17 | 2014-10-17 | Imaging device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2014213186A JP2016082454A (en) | 2014-10-17 | 2014-10-17 | Imaging device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2016082454A true JP2016082454A (en) | 2016-05-16 |
JP2016082454A5 JP2016082454A5 (en) | 2017-11-24 |
Family
ID=55959310
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2014213186A Pending JP2016082454A (en) | 2014-10-17 | 2014-10-17 | Imaging device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2016082454A (en) |
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