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JP2015153172A - Icカード - Google Patents

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JP2015153172A
JP2015153172A JP2014026684A JP2014026684A JP2015153172A JP 2015153172 A JP2015153172 A JP 2015153172A JP 2014026684 A JP2014026684 A JP 2014026684A JP 2014026684 A JP2014026684 A JP 2014026684A JP 2015153172 A JP2015153172 A JP 2015153172A
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JP
Japan
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card
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cards
recess
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JP2014026684A
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英朗 新井
Hideaki Arai
英朗 新井
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

【課題】複数の異なる大きさおよび厚さのカードを1つの支持基材から容易に得ることができるICカードを提供することである。
【解決手段】実施形態のICカードは、支持基材と、カード部と、ICモジュールと、薄厚部とを持つ。支持基材は、カード状である。カード部は、支持基材内に支持基材の一部によって形成されている。ICモジュールは、カード部内に設けられている。薄厚部は、支持基材内でカード部を含むとともにカード部よりも大きな領域において支持基材の厚さよりも小さな厚さを有する。
【選択図】図1

Description

本発明の実施形態は、ICカードに関する。
従来、カード状の支持基材を複数の異なる領域に区画するようにして、ICモジュールが装着された第1カードと、第1カードが装着される第2カードと、を設けたICカードがある。第1カードおよび第2カードの各々は、支持基材から折り取られることによって、ICカードとは異なる大きさのカードとなる。しかしながら、このICカードでは、第1カードおよび第2カードの各々の厚さは支持基材の厚さと同一であり、複数の異なる大きさおよび厚さのカードを1つの支持基材から容易に得ることが望まれている。
特開2005−267144号公報
本発明が解決しようとする課題は、複数の異なる大きさおよび厚さのカードを1つの支持基材から容易に得ることができるICカードを提供することである。
実施形態のICカードは、支持基材と、カード部と、ICモジュールと、薄厚部とを持つ。支持基材は、カード状である。カード部は、支持基材内に支持基材の一部によって形成されている。ICモジュールは、カード部内に設けられている。薄厚部は、支持基材内でカード部を含むとともにカード部よりも大きな領域において支持基材の厚さよりも小さな厚さを有する。
実施形態のICカードの構成を示す平面図。 図1のA−A線に沿った断面図。 実施形態の第1変形例のICカードの構成を示す断面図。 実施形態の第2変形例のICカードの構成を示す平面図。
以下、実施形態のICカードを、図面を参照して説明する。
実施形態のICカード10は、図1および図2に示すように、カード状の支持基材11と、支持基材11内に形成された第1〜第3カード12〜14と、ICモジュール15と、を備えている。このICカード10は、いわゆる接触型のICカードである。
支持基材11は、適宜の規格に応じた外形形状(例えば、ISO/IEC7810−1で規定されるID−1の矩形板状など)を有している。支持基材11は、例えば、ポリ塩化ビニル、非結晶コポリエステル、およびABS樹脂などの何れかによって形成されている。
第1〜第3カード12〜14は、支持基材11内に支持基材11の一部によって形成されている。第1〜第3カード12〜14は、互いに異なる大きさを有している。第1カード12と、第2および第3カード13,14とは、異なる厚さを有している。
第1カード12は、適宜の規格に応じた外形形状(例えば、ETSI TS 102 221で規定される4FFの矩形板状など)を有している。第1カード12の外形形状は、第1カード12の周縁に沿って支持基材11を厚さ方向に打ち抜くように設けられた第1スリット21によって形成されている。第1カード12は、第1スリット21を跨ぐように設けられた2つの第1ブリッジ22によって支持基材11に接続されている。2つの第1ブリッジ22の各々は、表面および裏面の各々から厚さ方向の内部に向かい切り込むように設けられた複数の第1ハーフカット23を備えている。複数の第1ハーフカット23の各々は、第1カード12の周縁に連続するように設けられている。これにより第1カード12は、各第1ブリッジ22が複数の第1ハーフカット23において切断されることによって、支持基材11から切り離される。
第1カード12は、表面12A上に後述するICモジュール15が装着される第1凹部24を備えている。第1カード12の表面12Aおよび第1凹部24に装着されたICモジュール15の表面15Aは、支持基材11の表面11Aに連続して同一平面を形成するように設けられている。
第1カード12の裏面12Bは、例えば支持基材11に対するざぐり加工などによって支持基材11の裏面11B上で一段凹むように設けられた凹部25の底面25Aの一部によって形成されている。凹部25は、支持基材11内で第1カード12を含むとともに第1カード12よりも大きな領域において支持基材11の厚さよりも小さな厚さを有する薄厚部26を形成している。薄厚部26は、支持基材11に比べて、例えば100μm程度薄く形成されている。
第2カード13は、適宜の規格に応じた外形形状(例えば、ETSI TS 102 221で規定されるPlug−in UICCの矩形板状など)を有している。第2カード13の外形形状は、第2カード13の周縁に沿って支持基材11を厚さ方向に打ち抜くように設けられた第2スリット31によって形成されている。第2カード13は、第2スリット31を跨ぐように設けられた2つの第2ブリッジ32によって支持基材11に接続されている。2つの第2ブリッジ32の各々は、表面および裏面の各々から厚さ方向の内部に向かい切り込むように設けられた複数の第2ハーフカット33を備えている。複数の第2ハーフカット33の各々は、第2カード13の周縁に連続するように設けられている。これにより第2カード13は、各第2ブリッジ32が複数の第2ハーフカット33において切断されることによって、支持基材11から切り離される。
第2カード13は、表面13A上に第1カード12が装着される第2凹部34を備えている。第2カード13の表面13Aおよび第2凹部34に装着された第1カード12の表面12Aは、支持基材11の表面11Aに連続して同一平面を形成するように設けられている。第2カード13の裏面13Bは、支持基材11の裏面11Bに連続して同一平面を形成するように設けられている。
第3カード14は、適宜の規格に応じた外形形状(例えば、ETSI TS 102 221で規定されるMini−UICCの矩形板状など)を有している。第3カード14の外形形状は、第3カード14の周縁に沿って支持基材11を厚さ方向に打ち抜くように設けられた第3スリット41によって形成されている。第3カード14は、第3スリット41を跨ぐように設けられた2つの第3ブリッジ42によって支持基材11に接続されている。2つの第3ブリッジ42の各々は、表面および裏面の各々から厚さ方向の内部に向かい切り込むように設けられた複数の第3ハーフカット43を備えている。複数の第3ハーフカット43の各々は、第3カード14の周縁に連続するように設けられている。これにより第3カード14は、各第3ブリッジ42が複数の第3ハーフカット43において切断されることによって、支持基材11から切り離される。
第3カード14は、表面14A上に第1カード12が装着される第3凹部44を備えている。第3カード14の表面14Aおよび第3凹部44に装着された第1カード12の表面12Aは、支持基材11の表面11Aに連続して同一平面を形成するように設けられている。第3カード14の裏面は、支持基材11の裏面11Bに連続して同一平面を形成するように設けられている。
ICモジュール15は、適宜の規格(例えば、ISO/IEC7816など)に応じた形状および位置の端子を備えるように、支持基材11の所定位置、つまり第1カード12の第1凹部24に装着されている。
以上説明した実施形態によれば、第1カード12よりも大きな領域に設けられた薄厚部26を持つことにより、ざぐり加工などの凹部25を形成する加工の加工精度が過大になることを防ぐことができる。この実施形態によれば、例えば第1カード12の周縁と同一の大きさの凹部25を形成する場合に比べて、凹部25の底面25A以外の部位(例えば、凹部25の壁面など)に対して必要とされる加工精度を低減することができる。さらに、凹部25において各第1ブリッジ22に複数の第1ハーフカット23を形成する加工を容易にすることができる。
さらに実施形態によれば、支持基材11内で第1カード12を含む領域に設けられた薄厚部26を持つことにより、第2および第3カード13,14よりも薄い第1カード12を1つの支持基材11から得ることができる。この実施形態によれば、例えば支持基材11よりも薄い基材を必要とせずに、第2および第3カード13,14と同一の厚さの支持基材11を流用して、より薄い第1カード12を形成することができる。
さらに実施形態によれば、支持基材11内で第1カード12を含む領域において支持基材11の裏面11B上に凹部25を持つことにより、ICモジュール15の表面15Aを支持基材11の表面11Aに連続した同一平面にすることができる。この実施形態によれば、第1カード12を備える支持基材11に発行処理および検査処理を行なう既存の装置を用いても、装着不良および接触不良の発生を防止することができる。例えば装着時における装置側の接触端子に対するひっかかりなどの装着不良が生じることを防止することができる。また、例えば装置側の接触端子に対する電気的な接触不良の発生を防止することができる。これらにより、発行処理および検査処理を適正に行なうことができる。また、梱包および出荷時などの各種の工程を既存の装置を用いて適正に行なうことができる。
以下、第1の変形例について説明する。
上述した実施形態では、支持基材11の裏面11B上で一段凹むように設けられた凹部25を備えるとしたが、これに限定されない。
第1の変形例のICカード10は、図3に示すように、支持基材11の表面11A上で一段凹むように設けられた凹部25を備えている。このICカード10は、ICモジュール15が装着される第1凹部24を、凹部25の底面25A上に備えている。
以上説明した第1の変形例によれば、支持基材11の表面11A上に設けられた凹部25を持つことにより、支持基材11の表面11A側から凹部25および第1凹部24をざぐり加工などによって形成することができる。この第1の変形例によれば、例えば支持基材11の裏面11B上に凹部25を備える場合に比べて、加工効率を向上させることができる。
以下、第2の変形例について説明する。
上述した実施形態では、第2および第3カード13,14の各々の外形形状は、第2および第3スリット31,41の各々によって形成されているとしたが、これに限定されない。
第2の変形例のICカード10は、図4に示すように、第2および第3カード13,14の各々の周縁の一部は、支持基材11の周縁の一部である。
以上説明した第2の変形例によれば、支持基材11の周縁の一部によって形成された第2および第3カード13,14の各々を持つことにより、第2および第3カード13,14を支持基材11から切り離す作業が容易になる。
以上説明した少なくともひとつの実施形態によれば、第1カード12よりも大きな領域に設けられた薄厚部26を持つことにより、ざぐり加工などの凹部25を形成する加工の加工精度が過大になることを防ぐことができる。例えば第1カード12の周縁と同一の大きさの凹部25を形成する場合に比べて、凹部25の底面25A以外の部位(例えば、凹部25の壁面など)に対して必要とされる加工精度を低減することができる。さらに、凹部25において各第1ブリッジ22に複数の第1ハーフカット23を形成する加工を容易にすることができる。
さらに、支持基材11内で第1カード12を含む領域に設けられた薄厚部26を持つことにより、第2および第3カード13,14よりも薄い第1カード12を1つの支持基材11から得ることができる。例えば支持基材11よりも薄い基材を必要とせずに、第2および第3カード13,14と同一の厚さの支持基材11を流用して、より薄い第1カード12を形成することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
10…ICカード、11…支持基材、12…第1カード、13…第2カード、14…第3カード、15…ICモジュール、25…凹部、26…薄厚部

Claims (3)

  1. カード状の支持基材と、
    前記支持基材内に前記支持基材の一部によって形成されたカード部と、
    前記カード部内に設けられたICモジュールと、
    前記支持基材内で前記カード部を含むとともに前記カード部よりも大きな領域において前記支持基材の厚さよりも小さな厚さを有する薄厚部と、
    を備える、
    ICカード。
  2. 前記支持基材内で前記カード部とは異なる位置に前記支持基材の一部によって形成された第2のカード部を備え、
    前記第2のカード部は、前記カード部が装着される凹部を備える、
    請求項1に記載のICカード。
  3. 前記第2のカード部の周縁の一部は、前記支持基材の周縁の一部である、
    請求項2に記載のICカード。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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