JP2015099080A - 電気部品用ソケット - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 117
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims abstract description 64
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims abstract description 64
- 238000003860 storage Methods 0.000 abstract description 3
- 239000011295 pitch Substances 0.000 abstract 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Abstract
【課題】プローブピンの配置を狭ピッチ化し、枠体に組み込まれる隣接プローブピンを絶縁すると共に該プローブピンの抜け止めをする。【解決手段】配線基板Pに接続される電気部品3の収容部を有する枠体と、この枠体にて、収容部の下方に設けられた支持プレート6の複数の挿入孔6hに挿入され、電気部品の端子11に上端部12が圧接され、配線基板の接続パッドに下端部8が圧接されて端子11及び接続パッドを接続する複数のプローブピン2とを有し、複数のプローブピンには、互いに隣接するもの(2a,2b)の軸方向にて上下に所定距離Dずれた位置に突起部9a,9bを形成し、支持プレートの隣接する挿入孔6h,6h’には、支持プレートの厚み内にてプローブピンの突起部と係合する段部10を上下に所定距離Dずれた位置に形成し、支持プレートの挿入孔により隣接するプローブピンの突起部を絶縁し、プローブピンの突起部により抜け止めをする。【選択図】図6
Description
本発明は、ICパッケージ等の電気部品の性能試験等に使用される電気部品用ソケットに関し、詳しくは、プローブピンの配置を狭ピッチ化することができ、ソケットの枠体に組み込まれる隣接プローブピンを絶縁すると共に該プローブピンの抜け止めを可能とする電気部品用ソケットに係るものである。
近年、試験対象のICパッケージ等の高集積化に伴い、電気部品用ソケットにおいて電気部品の端子と配線基板の接続パッドとを電気的に接続する複数のプローブピンの狭ピッチ化が求められており、例えば0.4mm以下のピッチでプローブピンを配置し、かつ、高荷重及び高寿命を出すために限られたスペースの中で出来る限り太径のプローブピンにしたいという要求がある。
従来のこの種の電気部品用ソケットとしては、配線基板に電気的に接続される電気部品の収容部を有する枠体と、前記枠体にて、収容部の下方に設けられた支持プレートの複数の挿入孔にそれぞれ挿入され、前記電気部品の端子に上端部が圧接されると共に、前記配線基板の接続パッドに下端部が圧接されて前記端子及び接続パッドを電気的に接続する複数のプローブピンとを有するものが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載の従来技術の電気部品用ソケットでは、絶縁支持体で支持されたプローブピンのフランジ部が隣のプローブピンのフランジ部側に出っ張るため、隣り合うプローブピンの先端側円柱部同士を近づけて配置することができない。このことから、プローブピンを或るピッチ以下に近づけることができなかった。
これに対して、前記特許文献1で提案された電気部品用ソケットでは、プローブピンのフランジ部は、プローブピンの軸方向から見て、先端側円柱部の側面の一部から外側に延びる一方、当該一部を除く部分からは外側に延びないため、二つのプローブピンを、先端側円柱部の側面のうち軸方向から見てフランジ部が外側に延びない部分同士が対面するように配置している。
しかし、特許文献1で提案された電気部品用ソケットにおいては、従来技術と比較してプローブピンの配置を狭ピッチ化することはできるが、前記プローブピンのフランジ部は、プローブピンの軸方向から見て、先端側円柱部の側面の一部から外側に延びる一方、当該一部を除く部分からは外側に延びないような特別の形状に形成する必要があった。このような特別の形状では、製造が容易ではないし、フランジ部を特定の方向に向けて組み合わせることから、組立作業性も良いとは言えないものであった。
そこで、このような問題点に対処し、本発明が解決しようとする課題は、プローブピンの配置を狭ピッチ化することができ、ソケットの枠体に組み込まれる隣接プローブピンを絶縁すると共に該プローブピンの抜け止めを可能とし、製造、組立作業性も改善する電気部品用ソケットを提供することにある。
前記課題を解決するために、本発明による電気部品用ソケットは、配線基板に電気的に接続される電気部品の収容部を有する枠体と、前記枠体にて、収容部の下方に設けられた支持プレートの複数の挿入孔にそれぞれ挿入され、前記電気部品の端子に上端部が圧接されると共に、前記配線基板の接続パッドに下端部が圧接されて前記端子及び接続パッドを電気的に接続する複数のプローブピンとを有する電気部品用ソケットであって、前記複数のプローブピンには、互いに隣接するものの軸方向にて上下に所定距離ずれた位置に突起部を形成し、前記支持プレートの隣接する挿入孔には、該支持プレートの厚み内にて前記プローブピンの突起部と係合する段部を上下に所定距離ずれた位置に形成し、前記支持プレートの挿入孔により隣接するプローブピンの突起部を絶縁し、前記プローブピンの突起部により抜け止めをするものである。
また、前記支持プレートは、前記段部を上下に所定距離ずれた位置に形成した隣接する挿入孔を、平面方向にて左右又は前後に交互に配列したものとしてもよい。
さらに、前記支持プレートは、前記段部を上下に所定距離ずれた位置に形成した隣接する挿入孔を、平面方向にて千鳥格子状に配列したものとしてもよい。
さらにまた、前記複数のプローブピンは、前記電気部品の端子に接続される端部、又は前記配線基板の接続パッドに接続される端部のうち、少なくとも一方の端部が伸縮可能に構成されたものとしてもよい。
本発明による電気部品用ソケットによれば、複数のプローブピンに、互いに隣接するものの軸方向にて上下に所定距離ずれた位置に突起部を形成し、支持プレートの隣接する挿入孔には、該支持プレートの厚み内にて前記プローブピンの突起部と係合する段部を上下に所定距離ずれた位置に形成することで、前記支持プレートの挿入孔により隣接するプローブピンの突起部を絶縁し、前記プローブピンの突起部により抜け止めをすることができる。したがって、プローブピンの配置を狭ピッチ化することができ、ソケットの枠体に組み込まれる隣接プローブピンを絶縁すると共に該プローブピンの抜け止めを可能とすることができる。また、プローブピンの突起部や、支持プレートの挿入孔の段部は、特別の形状や特定の方向性を有しないので、製造、組立作業性も改善することができる。
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
図1は、本発明による電気部品用ソケットの実施形態を示す平面図であり、図2は、図1のA−A線断面図である。この電気部品用ソケットは、ICパッケージ等の電気部品の性能試験等に使用されるもので、枠体1と、プローブピン2とを有している。
図1は、本発明による電気部品用ソケットの実施形態を示す平面図であり、図2は、図1のA−A線断面図である。この電気部品用ソケットは、ICパッケージ等の電気部品の性能試験等に使用されるもので、枠体1と、プローブピン2とを有している。
枠体1は、試験対象の電気部品としての、例えばICパッケージ3を収容する部材となるもので、図2に示すように、配線基板P上に配設されるようになっている。この枠体1は、図1及び図2に示すように、絶縁材料で矩形ブロック状に形成され、その例えば上面中央部にICパッケージ3の収容部4が形成されている。収容部4は、図2に示す配線基板Pに電気的に接続されるICパッケージ3を固定して収容するもので、ICパッケージ3の四隅部をコーナーガイド等で位置決めするようになっている。
枠体1にて、収容部4の下方には、図2に示すように、フローティングプレート5と、支持プレート6と、底部プレート7とが設けられている。フローティングプレート5は、その上面にICパッケージ3を収容すると共に後述のプローブピン2の上端部を支持するもので、絶縁材料で平板状に形成された板材から成り、図示省略のコイルスプリング等で上向きに付勢されて上下動自在とされている。支持プレート6は、プローブピン2の中間部を上下動可能に支持するもので、同じく絶縁材料で平板状に形成された板材から成り、フローティングプレート5の下方にて少し離れた位置に固定されている。底部プレート7は、プローブピン2の下端部を支持するもので、同じく絶縁材料で平板状に形成された板材から成り、支持プレート6の下方にて少し離れた位置に固定されている。
フローティングプレート5、支持プレート6及び底部プレート7のそれぞれには、図3に示すように、円形断面の挿入孔5h,6h,7hが上下方向に貫通して複数個形成されている。そして、これらの挿入孔5h,6h,7hには、それぞれプローブピン2が上下方向に挿入されている。なお、図3では、平板状の板材から成るフローティングプレート5、支持プレート6及び底部プレート7において、挿入孔5h,6h,7hが隣接したところに1本ずつのプローブピン2が挿入された部分だけを取り出して拡大断面図で示しているが、実際は横方向に平面的な拡がりをもったフローティングプレート5、支持プレート6及び底部プレート7に多数のプローブピン2が挿入されている。
フローティングプレート5、支持プレート6及び底部プレート7の複数の挿入孔5h,6h,7hにそれぞれ挿入されたプローブピン2は、ICパッケージ3の端子に上端部が圧接されると共に、配線基板Pの接続パッドに下端部が圧接されて、ICパッケージ3の端子及び配線基板Pの接続パッドを電気的に接続するもので、いわゆる表面圧接型に形成されている。そして、図3において、プローブピン2の少なくとも下端部のプランジャ8が、内蔵の導電性スプリングにより伸縮可能に構成されている。なお、プローブピン2は、下端部だけが伸縮するものに限られず、上下両端部が伸縮するものとしてもよい。
ここで、本発明においては、複数のプローブピン2には、互いに隣接するものの軸方向にて上下に所定距離ずれた位置に突起部を形成し、支持プレート6の隣接する挿入孔6hには、支持プレート6の厚み内にてプローブピン2の突起部と係合する段部を上下に所定距離ずれた位置に形成している。
すなわち、図3に示す隣接する2本のプローブピン2,2において、左側の第1のプローブピン2aの軸方向の中間部には、支持プレート6から上方への抜け止めをするリング状の突起部9aが形成されている。この突起部9aは、支持プレート6の挿入孔6hの下端縁部に当たって第1のプローブピン2aの抜け止めの役目をする。そして、右側の第2のプローブピン2bの軸方向の中間部には、第1のプローブピン2aの突起部9aから上方へ所定距離Dだけずれた位置にリング状の突起部9bが形成されている。この突起部9bは、第2のプローブピン2bが同じく支持プレート6から上方へ抜けるのを止める役目をするものである。
図3に示す支持プレート6において、隣接する挿入孔6h,6hのうち第2のプローブピン2bが挿入される右側の挿入孔6h’には、支持プレート6の厚み内にてその挿入孔6h’の下端から上方へ所定距離Dだけずれた位置に段部10が形成されている。この段部10は、第2のプローブピン2bの突起部9bと係合して第2のプローブピン2bの抜け止めをするものである。その段部10の形成は、隣接する挿入孔6h,6h’の間の支持プレート6の部材にて、その肉厚部に下面側から突起部9bが入り得る大きい内径の孔(大径の孔)を所定距離Dの深さで形成し、挿入孔6h’と大径の孔との境の部分を段部10としている。この場合、第2のプローブピン2bが挿入される挿入孔6h’の下半部に形成された大径の孔の深さは、第1のプローブピン2aの突起部9aと第2のプローブピン2bの突起部9bとが上下にずれた所定距離Dと等しくなる。
これにより、図2において枠体1の収容部4の下方に支持された多数のプローブピン2は、図3に示すように、隣接する第1のプローブピン2aと、第2のプローブピン2bとが、その下端部を底部プレート7で支持されると共に、その上端部をフローティングプレート5で支持され、かつ、中間部を支持プレート6で支持されて、全体として上下動可能に保持されている。そして、プローブピン2の中立状態で、第1のプローブピン2aの突起部9aが支持プレート6の左側の挿入孔6hの下端縁部に当たって第1のプローブピン2aが抜け止めされ、第2のプローブピン2bの突起部9bが右側の挿入孔6h’の段部10に係合して第2のプローブピン2bが抜け止めされる。この場合、左側の挿入孔6hの下端縁部が、第1のプローブピン2aの突起部9aと係合する段部になる。こうすることにより、挿入孔6hには段部10を設けることなく、挿入孔6h’のみに段部10を設けることで、第1のプローブピン2aと第2のプローブピン2bを一枚の支持プレート6で位置決めすることができる。
このとき、支持プレート6の挿入孔6h,6h’間の部材により、隣接する第1のプローブピン2aと第2のプローブピン2bの突起部9aと突起部9bとが絶縁される。ここで、突起部9aと突起部9bとは、上下に所定距離Dだけずれた位置に形成されていることと、第2のプローブピン2bの突起部9bと係合する段部10が、挿入孔6h,6h’間の部材の幅内で第1のプローブピン2a側に接近して形成されていることから、従来の電気部品用ソケットに比べて、隣接する第1のプローブピン2aと第2のプローブピン2bとのピッチが狭くなる。このことから、全体としてプローブピン2の配置を狭ピッチ化することができる。
図4は、支持プレート6に形成される複数の挿入孔6h,6h’の配置例を示す底面から見た説明図である。この実施形態では、図3に示す左側の挿入孔6hと、右側の挿入孔6h’とが平面方向にて左右に交互に配置されている。そして、右側の挿入孔6h’の外側縁部に段部10が形成されている。この挿入孔6h,6h’が左右に交互に配置された状態で、その左右方向に並んだ行が前後に複数列配列されている。
支持プレート6に形成される複数の挿入孔6h,6h’の配置は、図4に示すものに限られず、図5に示すように配置してもよい。この実施形態では、図3に示す左側の挿入孔6hと、右側の挿入孔6h’とが平面方向にて千鳥格子状に配列されている。すなわち、一行目においては、左側の挿入孔6hと右側の挿入孔6h’とが左右に交互に配置され、二行目においては、左側の挿入孔6hと右側の挿入孔6h’の位置が1ピッチだけ左右方向にずれて、一行目の挿入孔6hの列に挿入孔6h’が位置し、一行目の挿入孔6h’の列に挿入孔6hが位置して左右に交互に配置され、さらに三行目においては、一行目と同じ並びで左側の挿入孔6hと右側の挿入孔6h’とが左右に交互に配置されている。この場合は、外側縁部に段部10が形成された挿入孔6h’が隣接する行と行との間において同じ列に位置することがないので、図4の場合に比べて行と行との間をつめて配列することができる。したがって、プローブピン2の配置をさらに狭ピッチ化することができる。
次に、このように構成された電気部品用ソケットの使用及び動作について、図2及び図6を参照して説明する。まず、図2に示すように、電気部品用ソケットが配線基板P上に配設されている。このとき、図6(a)に示すように、枠体1の収容部4の下方に設けられた底部プレート7の下面が配線基板Pの上面に載せられ、図3に示すプローブピン2の下端部のプランジャ8が配線基板Pの接続パッド(図示省略)に圧接されて収縮する。
この状態で、図2に示すように、枠体1の収容部4に試験対象のICパッケージ3を矢印Bのように収容する。このとき、ロボットアーム等の機械装置でICパッケージ3を吸着等により保持して電気部品用ソケットまで搬送し、収容部4に収容する。すると、図6(a)に示すように、収容部4に設けられたフローティングプレート5の上面にICパッケージ3が収容され、フローティングプレート5に形成されたプローブピン2の挿入孔内にICパッケージ3の端子11が入り込む。なお、端子11は、バンプと呼ばれる球状端子であり、ICパッケージ3の下面に格子状(グリッド状)に配列されて下向きに突出している。そして、図6(a)において、第1のプローブピン2aの突起部9aが支持プレート6の左側の挿入孔6hの下端縁部に当たって第1のプローブピン2aが停止、抜け止めされ、第2のプローブピン2bの突起部9bが右側の挿入孔6h’の段部10に係合して第2のプローブピン2bが停止、抜け止めされている。
次に、図6(a)において、ロボットアーム等でICパッケージ3を矢印Cのように押し込む。すると、ICパッケージ3を収容したフローティングプレート5がコイルスプリング等の付勢力に抗して下降し、図6(b)に示すように、支持プレート6の上面に当接して停止する。このとき、ICパッケージ3の下面の端子11が、第1のプローブピン2a及び第2のプローブピン2bの上端に形成された食付き部12に押し付けられ、端子11と食付き部12とが食い付いた状態で接続される。この場合、ICパッケージ3の下面の端子11の押し付けにより、第1のプローブピン2a及び第2のプローブピン2bは下降するが、その下降量と、図3に示す挿入孔6h’側の大径の孔の深さDとが同等とされており、第2のプローブピン2bの突起部9bは支持プレート6の挿入孔6h’側から抜け出ることはない。これにより、ICパッケージ3の端子11にプローブピン2の上端部が圧接されると共に、配線基板Pの接続パッドにプローブピン2の下端部が圧接されて、ICパッケージ3の端子11及び配線基板Pの接続パッドを電気的に接続することができる。
この状態で、ロボットアーム等でICパッケージ3を、例えば20〜30秒間、電気部品用ソケットに押し込んで所定の試験を行い、その試験が終了したらロボットアーム等でICパッケージ3を抜き取って格納位置へ搬送して、一連の試験動作を終了する。これにより、電気部品用ソケットの枠体1に組み込まれた隣接プローブピン2,2を絶縁すると共に、該プローブピン2,2の抜け止めを可能として、電気部品について所定の試験を行うことができる。
なお、図3及び図6の説明では、プローブピン2は、中空棒状の軸部材からリング状の突起部を削り出しにより形成する切削型で製造したものとしたが、本発明はこれに限られず、平板状の板材に散点状の突起部を打ち出しにより形成して中空状に巻くプレス型で製造したものとしてもよい。
1…枠体
2…プローブピン
2a…第1のプローブピン
2b…第2のプローブピン
3…ICパッケージ(電気部品)
4…収容部
5…フローティングプレート
6…支持プレート
6h,6h’…支持プレートの挿入孔
7…底部プレート
8…プランジャ(プローブピンの下端部)
9a…第1のプローブピンの突起部
9b…第2のプローブピンの突起部
10…段部
11…ICパッケージの端子
12…食付き部(プローブピンの上端部)
P…配線基板
D…所定距離
2…プローブピン
2a…第1のプローブピン
2b…第2のプローブピン
3…ICパッケージ(電気部品)
4…収容部
5…フローティングプレート
6…支持プレート
6h,6h’…支持プレートの挿入孔
7…底部プレート
8…プランジャ(プローブピンの下端部)
9a…第1のプローブピンの突起部
9b…第2のプローブピンの突起部
10…段部
11…ICパッケージの端子
12…食付き部(プローブピンの上端部)
P…配線基板
D…所定距離
Claims (4)
- 配線基板に電気的に接続される電気部品の収容部を有する枠体と、
前記枠体にて、収容部の下方に設けられた支持プレートの複数の挿入孔にそれぞれ挿入され、前記電気部品の端子に上端部が圧接されると共に、前記配線基板の接続パッドに下端部が圧接されて前記端子及び接続パッドを電気的に接続する複数のプローブピンと、
を有する電気部品用ソケットであって、
前記複数のプローブピンには、互いに隣接するものの軸方向にて上下に所定距離ずれた位置に突起部を形成し、前記支持プレートの隣接する挿入孔には、該支持プレートの厚み内にて前記プローブピンの突起部と係合する段部を上下に所定距離ずれた位置に形成し、
前記支持プレートの挿入孔により隣接するプローブピンの突起部を絶縁し、前記プローブピンの突起部により抜け止めをすることを特徴とする電気部品用ソケット。 - 前記支持プレートは、前記段部を上下に所定距離ずれた位置に形成した隣接する挿入孔を、平面方向にて左右又は前後に交互に配列したことを特徴とする請求項1に記載の電気部品用ソケット。
- 前記支持プレートは、前記段部を上下に所定距離ずれた位置に形成した隣接する挿入孔を、平面方向にて千鳥格子状に配列したことを特徴とする請求項1に記載の電気部品用ソケット。
- 前記複数のプローブピンは、前記電気部品の端子に接続される端部、又は前記配線基板の接続パッドに接続される端部のうち、少なくとも一方の端部が伸縮可能に構成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の電気部品用ソケット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013238721A JP2015099080A (ja) | 2013-11-19 | 2013-11-19 | 電気部品用ソケット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013238721A JP2015099080A (ja) | 2013-11-19 | 2013-11-19 | 電気部品用ソケット |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015099080A true JP2015099080A (ja) | 2015-05-28 |
Family
ID=53375779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013238721A Pending JP2015099080A (ja) | 2013-11-19 | 2013-11-19 | 電気部品用ソケット |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP2015099080A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109975585A (zh) * | 2019-03-15 | 2019-07-05 | 华为技术有限公司 | 一种测试装置、测试针及测试针的安装结构 |
KR102223445B1 (ko) * | 2020-01-22 | 2021-03-05 | (주)티에스이 | 테스트 소켓 |
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- 2013-11-19 JP JP2013238721A patent/JP2015099080A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN109975585A (zh) * | 2019-03-15 | 2019-07-05 | 华为技术有限公司 | 一种测试装置、测试针及测试针的安装结构 |
KR102223445B1 (ko) * | 2020-01-22 | 2021-03-05 | (주)티에스이 | 테스트 소켓 |
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