[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2015094615A - Rotation detection device - Google Patents

Rotation detection device Download PDF

Info

Publication number
JP2015094615A
JP2015094615A JP2013232819A JP2013232819A JP2015094615A JP 2015094615 A JP2015094615 A JP 2015094615A JP 2013232819 A JP2013232819 A JP 2013232819A JP 2013232819 A JP2013232819 A JP 2013232819A JP 2015094615 A JP2015094615 A JP 2015094615A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
poles
angle
bridge circuit
magnetic pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013232819A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6207978B2 (en
Inventor
栄男 小関
Shigeo Koseki
栄男 小関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kohden Co Ltd
Original Assignee
Kohden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kohden Co Ltd filed Critical Kohden Co Ltd
Priority to JP2013232819A priority Critical patent/JP6207978B2/en
Publication of JP2015094615A publication Critical patent/JP2015094615A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6207978B2 publication Critical patent/JP6207978B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To allow a rotation detection device to be applied to even a rotating body pierced by a revolving shaft and allow an absolute rotation angle of a rotating body to be detected with high resolution.SOLUTION: A rotation detection device includes rotary magnets 21 and 22 attached to a revolving shaft 10. The rotary magnet 21 has a first magnetic pattern comprising magnetic poles at equal intervals, and the rotary magnet 22 has a second magnetic pattern including a first block 22a comprising magnetic poles at equal intervals and a second block 22b having a magnetization angle different from that of the first block 22a and comprising magnetic poles at equal intervals The sum total of the numbers of magnetic poles of the first and second blocks 22a and 22b is equal to the number of magnetic poles of the first magnetic pattern. A first magnetic sensor 30 is made to face the first magnetic pattern, and second and third magnetic sensors 40 and 50 are shifted by 90° and are made to face the second magnetic pattern. Each of the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 outputs two detection signals different in phase by 90°.

Description

本発明は、回転体の絶対回転角を検出する回転検出装置に関する。   The present invention relates to a rotation detection device that detects an absolute rotation angle of a rotating body.

従来から、回転体に永久磁石を設けるとともに、永久磁石による磁気パターンに磁気センサを対向させて配置して、磁気センサ出力を用いて回転体の回転角を検出することは知られている。例えば、下記特許文献1に示された回転検出装置は、SV−GMR型磁気センサからなって位相が90度ずれた一対の正弦波信号を出力する第1磁気センサを、回転体の回転軸と直交する回転面を回転軸回りに180度ずつ2極(N極及びS極)に着磁した第1磁気パターンに対向させて配置するとともに、磁気抵抗効果素子からなって位相が90度ずれた正弦波信号を出力する第2磁気センサを、回転体の側面を円周方向回りに小さな所定角度ずつ多極に着磁した第2磁気パターンに対向させて配置している。そして、第1磁気センサの出力を逆正接演算処理することにより回転体の1回転当たり1周期で変化する鋸歯状波信号を得るとともに、第2磁気センサの出力を逆正接演算処理することにより回転体の1回転当たり多周期で変化する鋸歯状波信号を得て、2つの鋸歯状波信号を用いて内挿演算処理により回転体の絶対回転角を計算するようにしている。   2. Description of the Related Art Conventionally, it has been known that a permanent magnet is provided on a rotating body, a magnetic sensor is disposed facing a magnetic pattern of the permanent magnet, and a rotation angle of the rotating body is detected using a magnetic sensor output. For example, the rotation detection device disclosed in Patent Document 1 below includes a SV-GMR type magnetic sensor that outputs a pair of sine wave signals whose phases are shifted by 90 degrees, and a rotation axis of a rotating body. An orthogonal rotating surface is arranged opposite to the first magnetic pattern magnetized in two poles (N pole and S pole) by 180 degrees around the rotation axis, and the phase is 90 degrees out of the magnetoresistive effect element. A second magnetic sensor that outputs a sine wave signal is disposed so that the side surface of the rotating body is opposed to a second magnetic pattern that is magnetized in multiple poles by a small predetermined angle around the circumferential direction. Then, the output of the first magnetic sensor is subjected to arctangent calculation processing to obtain a sawtooth wave signal that changes in one cycle per rotation of the rotating body, and the output of the second magnetic sensor is rotated by arctangent calculation processing. A sawtooth wave signal that changes in multiple cycles per rotation of the body is obtained, and the absolute rotation angle of the rotor is calculated by interpolation processing using the two sawtooth wave signals.

下記特許文献2に示された回転検出装置は、ホール素子からなって位相が90度ずれた一対の正弦波信号を出力する第1磁気センサを、回転体の側面を円周方向回りに小さな所定角度ずつ多極に着磁した第1磁気パターンに対向させて配置するとともに、ホール素子からなって位相が90度ずれた正弦波信号を出力する第2磁気センサを、回転体の側面を円周方向回りに小さな所定角度ずつ第1磁気パターンとは極数を異ならせて多極に着磁した第2磁気パターンに対向させて配置している。そして、第1及び第2磁気センサの出力をそれぞれ逆正接演算処理することにより回転体の1回転当たり異なる数の多周期で変化する2つの鋸歯状波信号をそれぞれ得て、2つの鋸歯状波信号の差信号を計算することにより回転体の絶対回転角を計算するようにしている。すなわち、第1及び第2磁気センサからの信号周期をそれぞれa周期及びb周期とすると、下記数1に示すバーニア演算により回転体の絶対回転角φを計算するようにしている。

Figure 2015094615
The rotation detection device disclosed in the following Patent Document 2 includes a first magnetic sensor that includes a Hall element and outputs a pair of sine wave signals whose phases are shifted by 90 degrees. A second magnetic sensor, which is a Hall element and outputs a sine wave signal that is 90 degrees out of phase, is arranged around the side of the rotating body. The first magnetic pattern is arranged so as to be opposed to the second magnetic pattern magnetized in multiple poles by changing the number of poles by a small predetermined angle around the direction. The outputs of the first and second magnetic sensors are each subjected to arc tangent calculation processing to obtain two sawtooth wave signals that change in different numbers of multiple periods per rotation of the rotating body, thereby obtaining two sawtooth waves. The absolute rotation angle of the rotating body is calculated by calculating the signal difference signal. That is, assuming that the signal periods from the first and second magnetic sensors are a period and b period, respectively, the absolute rotation angle φ of the rotating body is calculated by the vernier calculation shown in the following formula 1.
Figure 2015094615

この場合、第1及び第2磁気パターンは円周上に設けられているために、第1及び第2磁気パターンの極数は必ず偶数となる、すなわち前記値a,bは偶数となり、それらの差の最小値は±2となる。この回転検出装置の第1及び第2磁気センサはホール素子で構成されていて、第1及び第2磁気センサは2極(N極及びS極)で1対をなして1周期の信号を出力するので、前記最小値±2は半減されて最小値が±1となり、上記数1の演算(バーニア演算)が成立する。   In this case, since the first and second magnetic patterns are provided on the circumference, the number of poles of the first and second magnetic patterns is always an even number, that is, the values a and b are even numbers, The minimum difference is ± 2. The first and second magnetic sensors of this rotation detection device are composed of Hall elements, and the first and second magnetic sensors output a signal of one cycle with a pair of two poles (N pole and S pole). Therefore, the minimum value ± 2 is halved to a minimum value of ± 1, and the above calculation of 1 (vernier calculation) is established.

特開2012−215415号公報JP 2012-215415 A 特開2008−267867号公報JP 2008-267867 A

しかしながら、上記特許文献1に示された従来の回転検出装置においては、第1磁気センサは、回転体の中心軸の延長線上に配置されており、回転軸を貫通させるような構造の回転体装置には適用できないという問題がある。また、適用できたとしても、第1磁気センサを回転軸から離す必要があるために、回転角の誤差が大きくなる。また、上記特許文献2に示された従来の回転検出装置においては、第1及び第2磁気パターンは2極(N極及びS極)で1対をなして1周期の信号を出力するので、上記特許文献1の回転検出装置に比べて分解能が低下する。そして、上記特許文献1の回転検出装置による分解能と同等の分解能を達成するためには、第1及び第2磁気パターンの極数を上記特許文献1の第2磁気パターンの極数の2倍にする必要があるという問題がある。   However, in the conventional rotation detection device disclosed in Patent Document 1, the first magnetic sensor is disposed on an extension of the central axis of the rotation body, and the rotation body device has a structure that penetrates the rotation shaft. There is a problem that cannot be applied. Even if it can be applied, it is necessary to move the first magnetic sensor away from the rotation axis, so that an error in the rotation angle becomes large. In the conventional rotation detection device shown in Patent Document 2, the first and second magnetic patterns form a pair of two poles (N pole and S pole) and output a signal of one cycle. The resolution is lower than that of the rotation detection device disclosed in Patent Document 1. And in order to achieve the resolution equivalent to the resolution by the rotation detection apparatus of the said patent document 1, the pole number of the 1st and 2nd magnetic pattern is made into twice the pole number of the 2nd magnetic pattern of the said patent document 1. There is a problem that needs to be done.

本発明は前記問題に対処するためになされたもので、その目的は、回転軸を貫通させた回転体にも適用できるとともに、回転体の絶対回転角を高分解能すなわち高検出精度で検出できるようにした回転検出装置を提供することにある。なお、下記本発明の各構成要件の記載においては、本発明の理解を容易にするために、実施形態の対応箇所の符号を括弧内に記載しているが、本発明の各構成要件は、実施形態の符号によって示された対応箇所の構成に限定解釈されるべきものではない。   The present invention has been made to cope with the above-described problem, and the object thereof can be applied to a rotating body having a rotating shaft penetrated, and the absolute rotation angle of the rotating body can be detected with high resolution, that is, high detection accuracy. An object of the present invention is to provide a rotation detection device. In addition, in the description of each constituent element of the present invention below, in order to facilitate understanding of the present invention, reference numerals of corresponding portions of the embodiment are described in parentheses, but each constituent element of the present invention is The present invention should not be construed as being limited to the configurations of the corresponding portions indicated by the reference numerals of the embodiments.

上記目的を達成するために、本発明の構成上の特徴は、円形状又は環状に形成されて円周方向に沿ってN極とS極を交互に配置させた第1磁気パターンを有し、回転体(10,11)に取付けられて回転体の回転に応じて回転する第1回転磁石(21,21A)と、円形状又は環状に形成されて円周方向に沿ってN極とS極を交互に配置させた第2磁気パターンを有し、回転体に取付けられて回転体の回転に応じて第1回転磁石と共通の回転軸回りに回転する第2回転磁石(22,22A)と、第1磁気パターンに対向して配置され、第1磁気パターンによる磁界の変化を検出して、第1磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号(A0,B0)を出力する第1磁気センサ(30,30A)と、第2磁気パターンに対向して配置され、第2磁気パターンによる磁界の変化を検出して、第2磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号(A1,B1)を出力する第2磁気センサ(40,40A)と、第2磁気パターンに対向するとともに、第2磁気センサから第2回転磁石の円周方向に90度離れて配置され、第2磁気パターンによる磁界の変化を検出して、第2磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号(A2,B2)を出力する第3磁気センサ(50,50A)とを備えた回転検出装置であって、第1磁気パターンは、第1着磁角度で均等にN極及びS極に交互に着磁されて、偶数である極数を有し、第2磁気パターンは、第1着磁角度より小さな第2着磁角度で均等にN極及びS極に交互に着磁された第1ブロック(22a)と、第1着磁角度より大きな第3着磁角度で均等にN極及びS極に交互に着磁された第2ブロック(22b)とからなり、第1ブロックの極数と第2ブロックの極数の和が第1磁気パターンの極数に等しく設定されており、第1乃至第3着磁角度をそれぞれλ0,λ1,λ2とし、第1磁気パターンの極数と、第2磁気パターンの第1及び第2ブロックの合計極数とをそれぞれnとし、第1ブロックの極数と第2ブロックの極数の差を2・aとすると、(n+2a−2)/(n+2・a)≦λ1/λ0<1及び1<λ2/λ0≦(n−2・a+2) /(n−2・a)の不等式を満たすようにしたことある。   In order to achieve the above object, the structural feature of the present invention includes a first magnetic pattern formed in a circular shape or an annular shape, in which N poles and S poles are alternately arranged along the circumferential direction, A first rotating magnet (21, 21A) that is attached to the rotating body (10, 11) and rotates in accordance with the rotation of the rotating body, and is formed in a circular shape or an annular shape along the circumferential direction with an N pole and an S pole Second rotating magnets (22, 22A) having second magnetic patterns alternately arranged and rotating around a rotation axis common to the first rotating magnets according to the rotation of the rotating bodies. , Arranged opposite to the first magnetic pattern, detects a change in the magnetic field due to the first magnetic pattern, and outputs two detection signals (A0, B0) having different phases in one cycle per pole of the first magnetic pattern Facing the first magnetic sensor (30, 30A) and the second magnetic pattern The second magnetic sensors (40, 40) that detect the change of the magnetic field due to the second magnetic pattern and output two detection signals (A1, B1) having different phases in one cycle per pole of the second magnetic pattern. 40A), opposed to the second magnetic pattern, and disposed 90 degrees away from the second magnetic sensor in the circumferential direction of the second rotating magnet, and detects a change in the magnetic field due to the second magnetic pattern to detect the second magnetic pattern. A rotation detecting device including a third magnetic sensor (50, 50A) that outputs two detection signals (A2, B2) having different phases in one cycle per one pole of the pattern, wherein the first magnetic pattern The N and S poles are alternately magnetized evenly at one magnetization angle and have an even number of poles, and the second magnetic pattern is even at a second magnetization angle smaller than the first magnetization angle. The first block magnetized alternately on the N and S poles (22a) and a second block (22b) which is alternately magnetized alternately with N and S poles at a third magnetization angle larger than the first magnetization angle. The sum of the number of poles of the two blocks is set to be equal to the number of poles of the first magnetic pattern, the first to third magnetization angles are λ0, λ1, and λ2, respectively. When the total number of poles of the first and second blocks of the magnetic pattern is n, and the difference between the number of poles of the first block and the second block is 2 · a, (n + 2a−2) / (n + 2 · a) ≦ λ1 / λ0 <1 and 1 <λ2 / λ0 ≦ (n−2a + 2) / (n−2a) are satisfied.

この場合、例えば、第1磁気センサによって出力される2つの検出信号は位相が90度又はほぼ90度異なる正弦波状の信号であり、第2磁気センサによって出力される2つの検出信号は位相が90度又はほぼ90度異なる正弦波状の信号であり、かつ第3磁気センサによって出力される2つの検出信号は位相が90度又はほぼ90度異なる正弦波状の信号である。   In this case, for example, the two detection signals output from the first magnetic sensor are sinusoidal signals whose phases differ by 90 degrees or almost 90 degrees, and the two detection signals output by the second magnetic sensor have a phase of 90. The two detection signals output by the third magnetic sensor are sinusoidal signals whose phases differ by 90 degrees or almost 90 degrees.

前記のように構成した本発明においては、第1乃至第3磁気センサからの検出信号を信号処理回路に入力して演算処理すれば、後述するように、回転体の絶対回転角を計算することができる。この場合、第1磁気センサは、第1磁気パターンによる磁界の変化を検出して、第1磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号を出力し、第2及び第3磁気センサは、第2磁気パターンによる磁界の変化を検出して、第2磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号を出力する。したがって、上記特許文献2に示された回転検出装置に比べて、磁気パターンの極数を同じとするならば、2倍の分解能で絶対回転角を検出でき、回転体の絶対回転角を高い精度で検出できるようになる。また、前記構成の本発明では、第1乃至第3磁気センサは回転体の中心軸の延長線上には設けられていないので、回転軸を貫通させるような構造の回転体にも適用できる。なお、前記構成の回転検出装置は、もちろん回転軸を貫通させるような構造の回転体にも適用できるものであり、本発明は回転軸を貫通させない構造の回転体のみを適用対象とするものではない。   In the present invention configured as described above, if the detection signals from the first to third magnetic sensors are input to the signal processing circuit and processed, the absolute rotation angle of the rotating body is calculated as will be described later. Can do. In this case, the first magnetic sensor detects a change in the magnetic field due to the first magnetic pattern, outputs two detection signals having different phases in one cycle per pole of the first magnetic pattern, and outputs the second and third magnetic signals. The sensor detects a change in the magnetic field due to the second magnetic pattern, and outputs two detection signals having different phases in one cycle per pole of the second magnetic pattern. Therefore, if the number of poles of the magnetic pattern is the same as that of the rotation detection device disclosed in Patent Document 2, the absolute rotation angle can be detected with twice the resolution, and the absolute rotation angle of the rotating body can be detected with high accuracy. Can be detected. In the present invention having the above-described configuration, the first to third magnetic sensors are not provided on the extension line of the central axis of the rotating body, and therefore can be applied to a rotating body having a structure that allows the rotating shaft to pass therethrough. The rotation detection device having the above-described configuration can of course be applied to a rotating body having a structure that allows the rotation shaft to pass therethrough, and the present invention is not intended to be applied only to a rotating body having a structure that does not allow the rotation shaft to pass through. Absent.

また、本発明の他の特徴は、さらに、第1磁気センサによって出力される2つの検出信号、第2磁気センサによって出力される2つの検出信号、及び第3磁気センサによって出力される2つの検出信号を入力して、前記入力した検出信号を用いて回転体の回転角を演算する信号処理回路(80)を備えたことにある。   Another feature of the present invention is that two detection signals output by the first magnetic sensor, two detection signals output by the second magnetic sensor, and two detection signals output by the third magnetic sensor are further provided. A signal processing circuit (80) for inputting a signal and calculating a rotation angle of the rotating body using the input detection signal is provided.

この場合、信号処理回路は、例えば、第1磁気センサによって出力される2つの検出信号を逆正接演算して第1逆正接値(θ0)を計算し、第2磁気センサによって出力される2つの検出信号を逆正接演算して第2逆正接値(θ1)を計算し、かつ第3磁気センサによって出力される2つの検出信号を逆正接演算して第3逆正接値(θ2)を計算する逆正接演算処理(S14)と、第1逆正接値と第2逆正接値との位相差を第1位相差値(φ1)として計算し、かつ第1逆正接値と第2逆正接値との位相差を第2位相差値(φ2)として計算する位相差演算処理(S16)と、第1位相差値と第2位相差値とを用いて回転体の回転角を導出する回転角導出演算処理(S18〜S28)とを実行する。なお、第1逆正接値と第2逆正接値との位相差を第1位相差値として計算する処理、及び第1逆正接値と第2逆正接値との位相差を第2位相差値として計算する処理は、それぞれバーニア演算処理である。   In this case, for example, the signal processing circuit calculates the first arc tangent value (θ0) by performing an arc tangent operation on the two detection signals output by the first magnetic sensor, and outputs the two arc output signals output by the second magnetic sensor. The detection signal is subjected to arc tangent calculation to calculate the second arc tangent value (θ1), and the two detection signals output by the third magnetic sensor are subjected to arc tangent calculation to calculate the third arc tangent value (θ2). The arc tangent calculation process (S14), the phase difference between the first arc tangent value and the second arc tangent value is calculated as the first phase difference value (φ1), and the first arc tangent value and the second arc tangent value are calculated. A phase difference calculation process (S16) for calculating the phase difference of the rotating body as a second phase difference value (φ2), and a rotation angle derivation for deriving the rotation angle of the rotating body using the first phase difference value and the second phase difference value. Arithmetic processing (S18 to S28) is executed. The process of calculating the phase difference between the first arc tangent value and the second arc tangent value as the first phase difference value, and the phase difference between the first arc tangent value and the second arc tangent value is the second phase difference value. Are calculated as vernier operations.

前記のように構成した本発明においては、第1乃至第3磁気センサの各2つの検出信号を用いることにより、共に回転体の1回転に対して、直線的に増加した後に折り返して直線的に減少するように変化する1周期の2つの位相差値(前記第1及び第2位相差値に対応)を得ることができる。そして、一方の位相差値が最小値及び最大値となる回転角度における他方の両位相差値は一致する。したがって、この一致する他方の両位相差値の値をXとすれば、値X以上となる他方の位相差値の角度範囲では、一方の位相差値は最小値から最大値まで増加し(又は最大値から最小値まで減少し)、値X以下となる他方の位相差値の角度範囲では、一方の位相差は最大値から最小値まで減少する(又は最小値から最大値まで増加する)(図8,14,15参照)。そこで、一方の位相差値において、最大値以降の位相差値と最大値との差の絶対値を、最大値に加算するようにすれば、一方の位相差値が最大値まで変化する値と、最大値以降の前記加算値とを用いることにより、回転体の1回転に対する絶対回転角を計算して出力することができるようになる。   In the present invention configured as described above, by using each of the two detection signals of the first to third magnetic sensors, both increase linearly with respect to one rotation of the rotating body and then turn back and linearly. It is possible to obtain two phase difference values (corresponding to the first and second phase difference values) in one cycle that change so as to decrease. Then, the other phase difference values at the rotation angle at which one phase difference value becomes the minimum value and the maximum value coincide with each other. Therefore, if the value of the two other phase difference values that coincide is X, one phase difference value increases from the minimum value to the maximum value in the angle range of the other phase difference value that is equal to or greater than the value X (or In the angle range of the other phase difference value that is less than or equal to the value X, one phase difference decreases from the maximum value to the minimum value (or increases from the minimum value to the maximum value) ( (See FIGS. 8, 14, and 15). Therefore, in one phase difference value, if the absolute value of the difference between the phase difference value after the maximum value and the maximum value is added to the maximum value, one phase difference value changes to the maximum value. By using the added value after the maximum value, the absolute rotation angle for one rotation of the rotating body can be calculated and output.

また、本発明の他の特徴は、前記信号処理回路は、さらに、前記計算された第1逆正接値を用いて、前記導出された回転角の内挿演算処理(S30)を実行することにある。これによれば、回転体の絶対回転角を高分解能にすることができる。   Another feature of the present invention is that the signal processing circuit further executes the calculated rotation angle interpolation processing (S30) using the calculated first arc tangent value. is there. According to this, the absolute rotation angle of the rotating body can be made high resolution.

また、本発明の他の特徴は、前記第1ブロックの極数と前記第2ブロックの極数の差が「2」であることにある。これによれば、回転体の360度の回転角に対して、第1及び第2ブロックの角度範囲を360度の半分である180度又は180度近くにすることができる。したがって、回転体の360度の回転角に対する角度誤差(すなわち電気角と機械角との差)を小さくすることができ、絶対回転角の精度が向上させることができる。さらに、第1及び第2ブロックの角度範囲を180度に近づけるに従って、前述した第1及び第2位相差値を広範囲に渡って変化させることができ、高い精度を保ったままで絶対回転角の分解能を高めることもできる。   Another feature of the present invention is that the difference between the number of poles of the first block and the number of poles of the second block is “2”. According to this, with respect to the rotation angle of 360 degrees of the rotating body, the angle range of the first and second blocks can be 180 degrees, which is half of 360 degrees, or close to 180 degrees. Therefore, the angle error (that is, the difference between the electrical angle and the mechanical angle) with respect to the rotation angle of 360 degrees of the rotating body can be reduced, and the accuracy of the absolute rotation angle can be improved. Furthermore, as the angle range of the first and second blocks approaches 180 degrees, the first and second phase difference values described above can be changed over a wide range, and the resolution of the absolute rotation angle can be maintained with high accuracy. Can also be increased.

また、本発明の他の特徴は、第1乃至第3磁気センサを、同一平面内で延設させた複数の磁気抵抗素子(31a〜31d)をブリッジ接続した第1ブリッジ回路(31,41,51)と、同一平面内で延設させた複数の磁気抵抗素子(32a〜32d)をブリッジ接続した第2ブリッジ回路(32,42,52)でそれぞれ構成し、第1磁気センサの第1ブリッジ回路及び第2ブリッジ回路をそれぞれ構成する複数の磁気抵抗素子の感磁面を第1磁気パターンによる磁力線が進む平面内に配置し、第2磁気センサの第1ブリッジ回路及び第2ブリッジ回路をそれぞれ構成する複数の磁気抵抗素子の感磁面を第2磁気パターンによる磁力線が進む平面内に配置し、かつ第3磁気センサの第1ブリッジ回路及び第2ブリッジ回路をそれぞれ構成する複数の磁気抵抗素子の感磁面を前記第2磁気パターンによる磁力線が進む平面内に配置するようにしたことにある。   Another feature of the present invention is that the first to third magnetic sensors include a first bridge circuit (31, 41, 31) in which a plurality of magnetoresistive elements (31a to 31d) extending in the same plane are bridge-connected. 51) and a second bridge circuit (32, 42, 52) in which a plurality of magnetoresistive elements (32a to 32d) extended in the same plane are bridge-connected, and the first bridge of the first magnetic sensor The magnetosensitive elements of the plurality of magnetoresistive elements constituting the circuit and the second bridge circuit are arranged in a plane in which the lines of magnetic force due to the first magnetic pattern travel, and the first bridge circuit and the second bridge circuit of the second magnetic sensor are respectively provided. The magnetosensitive surfaces of the plurality of magnetoresistive elements are arranged in a plane along which the magnetic field lines of the second magnetic pattern travel, and the first bridge circuit and the second bridge circuit of the third magnetic sensor are configured, respectively. Certain sensitive surface of the plurality of magnetoresistance elements that have to be disposed in a plane which magnetic lines of force proceeds according to the second magnetic pattern.

この場合、例えば、第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の延設方向と、第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の延設方向とを、それぞれ45度ずつ異ならせるようにする。   In this case, for example, the extending direction of the plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit is different from the extending direction of the plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit by 45 degrees, respectively. To do.

これによれば、第1乃至第3磁気センサは、複数の磁気抵抗素子からそれぞれなる第1及び第2ブリッジ回路により磁界の変化を検出して2つの検出信号をそれぞれ出力するので、各2つの検出精度が向上して、検出される回転体の絶対回転角が高精度となる。   According to this, each of the first to third magnetic sensors detects a change in the magnetic field by the first and second bridge circuits each including a plurality of magnetoresistive elements and outputs two detection signals. The detection accuracy is improved, and the absolute rotation angle of the detected rotating body becomes high accuracy.

また、本発明の他の特徴は、第1磁気センサ乃至第3磁気センサのそれぞれにおいて、第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子と、第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子とを重ねて配置し、第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の重心位置(C1)が、前記第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の重心位置(C2)を通り、かつ第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子が配置された平面に直交する直線上に位置するようにしたことにある。これによれば、第1及び第2ブリッジ回路は、同じ大きさで変化する磁界の変化を検出するので、第1乃至第3磁気センサから出力される各2つの検出精度がさらに向上して、検出される回転体の絶対回転角がさらに高精度となる。   Another feature of the present invention is that in each of the first to third magnetic sensors, a plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit and a plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit are provided. Are arranged so that the center of gravity (C1) of the plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit passes through the center of gravity (C2) of the plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit. It exists in being located on the straight line orthogonal to the plane where the several magnetoresistive element which comprises a 2 bridge circuit is arrange | positioned. According to this, since the first and second bridge circuits detect a change in the magnetic field that changes with the same magnitude, each two detection accuracy output from the first to third magnetic sensors is further improved, The absolute rotation angle of the detected rotating body becomes even more accurate.

また、本発明の他の特徴は、第1乃至第3磁気センサのそれぞれにおいて、第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子と、第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子とを同一の平面内に配置し、第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の重心位置(C1)と、第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の重心位置(C2)とを一致させるようにしたことにある。   Another feature of the present invention is that in each of the first to third magnetic sensors, the plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit and the plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit are the same. The center of gravity (C1) of the plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit and the center of gravity (C2) of the plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit are made to coincide with each other. It is in that.

これによっても、前記場合と同様に、第1及び第2ブリッジ回路は、同じ大きさで変化する磁界の変化を検出するので、第1乃至第3磁気センサから出力される各2つの検出精度がさらに向上して、検出される回転体の絶対回転角がさらに高精度となる。また、第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子と、第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子とを同一の平面内に配置させているので、第1乃至第3磁気センサの製造工程において、第1及び第2ブリッジを一つの製造工程で同時に製造でき、第1乃至第3磁気センサを簡単かつ安価に製造できるようになる。   Also in this manner, as in the case described above, the first and second bridge circuits detect changes in the magnetic field that change with the same magnitude, so that each of the two detection accuracies output from the first to third magnetic sensors has high detection accuracy. Further improved, the absolute rotation angle of the detected rotating body becomes even more accurate. In addition, since the plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit and the plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit are arranged in the same plane, the manufacture of the first to third magnetic sensors is performed. In the process, the first and second bridges can be manufactured simultaneously in one manufacturing process, and the first to third magnetic sensors can be manufactured easily and inexpensively.

また、本発明の他の特徴は、第1回転磁石(21)及び第2回転磁石(22)は、回転軸方向に2列に配置されるとともに外径又は内径を一致させており、前記外径を一致させた第1及び第2回転磁石の外周面の外側又は前記内径を一致させた第1及び第2回転磁石の内周面の内側であって、第1回転磁石と第2回転磁石の境界位置に、円周方向に延設された平板状の基板を配置し、第1磁気センサ(30)を基板の一方の面に固定して第1磁気パターンに対向させ、かつ第2及び第3磁気センサを基板の他方の面に固定して第2磁気パターンに対向させるようにしたことにある。これによれば、第1乃至第3磁気センサを一つの基板上に搭載させることができるので、回転検出装置の構造が簡単になる。   Another feature of the present invention is that the first rotating magnet (21) and the second rotating magnet (22) are arranged in two rows in the rotation axis direction and have the same outer diameter or inner diameter. A first rotating magnet and a second rotating magnet that are outside the outer peripheral surfaces of the first and second rotating magnets having the same diameter or inside the inner peripheral surfaces of the first and second rotating magnets having the same inner diameter. A flat substrate extending in the circumferential direction is disposed at the boundary position of the substrate, the first magnetic sensor (30) is fixed to one surface of the substrate so as to face the first magnetic pattern, and the second and The third magnetic sensor is fixed to the other surface of the substrate so as to face the second magnetic pattern. According to this, since the first to third magnetic sensors can be mounted on one substrate, the structure of the rotation detection device is simplified.

また、本発明の他の特徴は、第1回転磁石(21A)及び第2回転磁石(21B)のうちの一方の回転磁石は円形又は環状に形成され、かつ第1回転磁石及び第2回転磁石のうちの他方の回転磁石は、一方の回転磁石の外径よりも大きな内径を有する環状に形成されていて、第1及び第2回転磁石は回転軸方向において一致した位置にて、径方向に2列に回転軸を同一にして配置されており、第1及び第2回転磁石の回転軸方向の一方の面から離れた位置に、前記一方の面に対向するように、円周方向に延設された平板状の基板を配置し、第1乃至第3磁気センサ(30A,40A,50A)を基板の第1及び第2回転磁石に対向する面に固定して、第1磁気センサを第1磁気パターンに対向させ、かつ第2及び第3磁気センサを第2磁気パターンに対向させるようにしたことにある。これによっても、第1乃至第3磁気センサを一つの基板上に搭載させることができるので、回転検出装置の構造が簡単になる。   Another feature of the present invention is that one of the first rotating magnet (21A) and the second rotating magnet (21B) has a circular or annular shape, and the first rotating magnet and the second rotating magnet. The other rotary magnet is formed in an annular shape having an inner diameter larger than the outer diameter of one of the rotary magnets, and the first and second rotary magnets are radially aligned at the same position in the rotational axis direction. The rotating shafts are arranged in the same manner in two rows, and extend in the circumferential direction so as to face the one surface at a position away from one surface in the rotating shaft direction of the first and second rotating magnets. The provided flat substrate is disposed, and the first to third magnetic sensors (30A, 40A, 50A) are fixed to the surfaces of the substrate facing the first and second rotating magnets, and the first magnetic sensor is fixed to the first magnetic sensor. 1 and the second and third magnetic sensors are opposed to the second magnetic pattern. In that so as to face the over down. This also makes it possible to mount the first to third magnetic sensors on one substrate, thereby simplifying the structure of the rotation detection device.

また、本発明の他の特徴は、第1磁気センサは、第1及び第2回転磁石の円周方向において、第2磁気センサと第3磁気センサの間に配置されている。これによれば、基板の円周方向の延設角度を90度よりも若干大きくするだけで、第1乃至第3磁気センサを基板に搭載できるので、基板を小型化できる。   Another feature of the present invention is that the first magnetic sensor is disposed between the second magnetic sensor and the third magnetic sensor in the circumferential direction of the first and second rotating magnets. According to this, the first to third magnetic sensors can be mounted on the substrate only by slightly increasing the circumferential extension angle of the substrate from 90 degrees, so that the substrate can be reduced in size.

(a)は回転検出装置の概略平面図であり、(b)は回転検出装置の概略側面図であり、(c)は回転検出装置の概略斜視図である。(A) is a schematic plan view of a rotation detection device, (b) is a schematic side view of the rotation detection device, and (c) is a schematic perspective view of the rotation detection device. (a)は回転磁石の着磁状態を説明するための説明図であり、(b)は第1磁気パターンの平面展開図であり、(c)は第2磁気パターンの平面展開図である。(A) is explanatory drawing for demonstrating the magnetization state of a rotating magnet, (b) is a plane | planar expansion | deployment figure of a 1st magnetic pattern, (c) is a plane | planar expansion | deployment figure of a 2nd magnetic pattern. (a)は磁気センサの第1フルブリッジ回路を説明するための磁気抵抗素子の配置図であり、(b)は磁気センサの第2フルブリッジ回路を説明するための磁気抵抗素子の配置図であり、(c)はブリッジ回路を構成する磁気抵抗素子を説明するための概略図であり、(d)はフルブリッジ回路と回転磁石の配置を説明するための概略図であり、(e)は第1及び第2フルブリッジ回路から出力される信号波形図である。(A) is a layout diagram of magnetoresistive elements for explaining the first full bridge circuit of the magnetic sensor, and (b) is a layout diagram of magnetoresistive elements for explaining the second full bridge circuit of the magnetic sensor. (C) is a schematic diagram for explaining the magnetoresistive elements constituting the bridge circuit, (d) is a schematic diagram for explaining the arrangement of the full bridge circuit and the rotating magnet, and (e) is It is a signal waveform diagram output from the 1st and 2nd full bridge circuit. 回転検出装置の電気回路のブロック図である。It is a block diagram of the electric circuit of a rotation detection apparatus. 図4の信号処理回路により実行されるプログラムを表すフローチャートである。It is a flowchart showing the program performed by the signal processing circuit of FIG. 磁気センサから出力される検出信号の波形図である。It is a wave form diagram of a detection signal outputted from a magnetic sensor. 図6に示した検出信号から求めた逆正接角度の変化を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows the change of the arctangent angle calculated | required from the detection signal shown in FIG. 図7の逆正接角度間の位相差を示すグラフである。It is a graph which shows the phase difference between the arctangent angles of FIG. 図8の位相差の変化から増加フラグを計算する処理を説明するためのグラフである。It is a graph for demonstrating the process which calculates an increase flag from the change of the phase difference of FIG. 絶対回転角の計算を説明するとともに第1シミュレーション結果を示すグラフである。It is a graph which demonstrates calculation of an absolute rotation angle, and shows a 1st simulation result. 内挿演算処理を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating an interpolation calculation process. 絶対回転角の計算を理論的に説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating theoretical calculation of an absolute rotation angle. 絶対回転角の計算を可能とする着磁角度の範囲を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the range of the magnetization angle which enables calculation of an absolute rotation angle. 第2シミュレーション結果を示すグラフである。It is a graph which shows a 2nd simulation result. 第3シミュレーション結果を示すグラフである。It is a graph which shows a 3rd simulation result. 第4シミュレーション結果を示すグラフである。It is a graph which shows a 4th simulation result. 第5シミュレーション結果を示すグラフである。It is a graph which shows a 5th simulation result. 第6シミュレーション結果を示すグラフである。It is a graph which shows a 6th simulation result. 第7乃至第9シミュレーション結果である絶対回転角の変化を示すグラフである。It is a graph which shows the change of the absolute rotation angle which is a 7th thru | or 9th simulation result. 他のフルブリッジ回路を説明するための磁気抵抗素子の配置図である。It is an arrangement view of magnetoresistive elements for explaining another full bridge circuit. ハーフブリッジ回路を説明するための磁気抵抗素子の配置図である。It is an arrangement view of magnetoresistive elements for explaining a half bridge circuit. ブリッジ回路の他の配置例を説明するためのブリッジ回路と回転磁石の位置関係を示す概略図である。It is the schematic which shows the positional relationship of the bridge circuit and rotary magnet for demonstrating the other example of arrangement | positioning of a bridge circuit. (a)は他の回転検出装置の概略上面図であり、(b)は他の回転検出装置の概略側面図であり、(c)は他の回転検出装置の概略下面図である。(A) is a schematic top view of another rotation detection device, (b) is a schematic side view of another rotation detection device, and (c) is a schematic bottom view of another rotation detection device. (a)(b)は、磁気センサの他の配置例を示す回転検出装置の上面図及び下面図である。(A) and (b) are the top views and bottom views of a rotation detector which show other examples of arrangement of a magnetic sensor. 磁気センサの他の配置例を示す回転検出装置の下面図である。It is a bottom view of the rotation detection device showing another arrangement example of the magnetic sensor.

a.実施形態
以下、本発明の一実施形態に係る回転検出装置の構成について図面を用いて説明する。図1(a)〜(c)は、回転検出装置を概略的に表しており、特に回転磁石と磁気センサの位置関係を表している。図1(a)は平面図であり、図1(b)は側面図であり、図1(c)は斜視図である。なお、図1(c)においては、基板60を省略して示している。回転検出装置は、回転磁石21,22と、回転磁石21,22の回転を検出する第1乃至第3磁気センサ30,40,50とを備えている。
a. Embodiment Hereinafter, a configuration of a rotation detection device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1A to 1C schematically show a rotation detection device, and particularly show the positional relationship between a rotary magnet and a magnetic sensor. FIG. 1A is a plan view, FIG. 1B is a side view, and FIG. 1C is a perspective view. In FIG. 1C, the substrate 60 is omitted. The rotation detection device includes rotating magnets 21 and 22 and first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 that detect the rotation of the rotating magnets 21 and 22.

回転磁石21,22は、環状に形成されていて、その内周面にて回転軸10の外周面に固定されている。回転磁石21,22は、回転軸10の軸線方向に2列に配置されていて、円周方向に沿って着磁された第1及び第2磁気パターンをそれぞれ有する。なお、以降の説明では、この回転軸10の軸線方向を上下方向とする。第1磁気パターンは、円周方向に全周(360度)に渡って等間隔にN極とS極とを交互に着磁した着磁パターンである。第2磁気パターンは、円周方向に180度に渡って等間隔にN極とS極とを交互に着磁した着磁パターンである第1ブロック22aと、残りの180度に渡って等間隔にN極とS極とを交互に着磁した着磁パターンである第2ブロック22bとからなる着磁パターンである。本実施形態では、第1磁気パターンにおけるN極とS極とを合計した極数nは「16」である。また、第1ブロックにおけるN極とS極とを合計した極数n1は[9]であり、第2ブロック22bにおけるN極とS極とを合計した極数n2は「7」である。したがって、第1ブロック22aの円周方向の着磁幅と、第2ブロック22bにおける円周方向の着磁幅とは異なる。   The rotating magnets 21 and 22 are formed in an annular shape, and are fixed to the outer peripheral surface of the rotating shaft 10 on the inner peripheral surface thereof. The rotating magnets 21 and 22 are arranged in two rows in the axial direction of the rotating shaft 10 and have first and second magnetic patterns magnetized along the circumferential direction, respectively. In the following description, the axial direction of the rotary shaft 10 is the vertical direction. The first magnetic pattern is a magnetized pattern in which N and S poles are alternately magnetized at equal intervals over the entire circumference (360 degrees) in the circumferential direction. The second magnetic pattern is a first block 22a that is a magnetized pattern in which N poles and S poles are alternately magnetized at equal intervals in the circumferential direction at 180 degrees, and the remaining 180 degrees at equal intervals. And a second block 22b which is a magnetization pattern in which N poles and S poles are alternately magnetized. In the present embodiment, the total number n of N poles and S poles in the first magnetic pattern is “16”. The total number n1 of N poles and S poles in the first block is [9], and the total number n2 of N poles and S poles in the second block 22b is “7”. Accordingly, the circumferential magnetization width of the first block 22a is different from the circumferential magnetization width of the second block 22b.

なお、本実施形態で、第1磁気パターン、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bにおける極数n,n1,n2をそれぞれ「16」、「9」、「7」としたが、詳しくは後述するように、第1磁気パターンの極数n、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2の間には、次の関係があればよい。すなわち、第1磁気パターンにおいて、隣合う極は異なる極(N極及びS極)となるので、極数nは偶数であって、極数n1と極数n2との加算値n1+n2に等しい。また、互いに隣合う第1ブロックの一端と第1ブロック22bの一端との磁極(N,S極)は異なるとともに、互いに隣合う第1ブロックの他端と第2ブロック22bの他端との磁極(N,S極)は異なるので、極数n1,n2は共に偶数であるか、又は共に奇数であり、極数n1,n2の差の絶対値|n1−n2|は「0」を含む2の倍数である。さらに、本実施形態では、説明を簡単にするために、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの角度を共に180度としたが、これに関しても、詳しくは後述するように、第1及び第2ブロック22a,22bの角度の合計が360度であれば、第1及び第2ブロック22a,22bの角度は180度でなくてもよい。   In the present embodiment, the number of poles n, n1, and n2 in the first and second blocks 22a and 22b of the first magnetic pattern and the second magnetic pattern are “16”, “9”, and “7”, respectively. As will be described in detail later, the following relationship may suffice between the number of poles n of the first magnetic pattern and the number of poles n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b of the second magnetic pattern. That is, in the first magnetic pattern, adjacent poles are different poles (N pole and S pole), so the number of poles n is an even number, and is equal to the added value n1 + n2 of the number of poles n1 and the number of poles n2. The magnetic poles (N and S poles) of one end of the first block adjacent to each other and one end of the first block 22b are different, and the magnetic poles of the other end of the first block adjacent to each other and the other end of the second block 22b. Since (N and S poles) are different, the number of poles n1 and n2 are both even or odd, and the absolute value | n1−n2 | of the difference between the number of poles n1 and n2 includes “0”. Is a multiple of. Furthermore, in this embodiment, for the sake of simplicity, the angles of the first and second blocks 22a and 22b of the second magnetic pattern are both set to 180 degrees, but this will also be described in detail later. If the sum of the angles of the first and second blocks 22a and 22b is 360 degrees, the angle of the first and second blocks 22a and 22b may not be 180 degrees.

この着磁パターンについて、図2を用いて説明する。着磁パターンは、図2(a)に示すように、回転磁石21,22の中心から径方向に所定の着磁角度λをもって着磁されている。第1磁気パターンにおいては、着磁パターンの外周面を横方向に延ばした図2(b)の平面展開図に示すように、着磁角度λ0(本実施形態では360/16=22.5度)で全周に渡って等分に着磁されている。第2磁気パターンにおいては、図2(b)と同様な図2(c)の平面展開図に示すように、第1ブロック22aでは着磁角度λ1(本実施形態では180/9=20度)で等分に着磁され、第2ブロック22bでは着磁角度λ2(本実施形態では180/7=25.71度)で等分に着磁されている。なお、着磁角度λ0,λ1,λ2は、λ1<λ0<λ2の関係にある。   This magnetization pattern will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 2A, the magnetization pattern is magnetized with a predetermined magnetization angle λ in the radial direction from the center of the rotating magnets 21 and 22. In the first magnetic pattern, the magnetization angle λ0 (360/16 = 22.5 degrees in the present embodiment) is shown in the plan development view of FIG. 2B in which the outer peripheral surface of the magnetization pattern extends in the lateral direction. ) Is evenly magnetized over the entire circumference. In the second magnetic pattern, as shown in the plan development view of FIG. 2C similar to FIG. 2B, the magnetization angle λ1 in the first block 22a (180/9 = 20 degrees in the present embodiment). The second block 22b is equally magnetized at a magnetization angle λ2 (180/7 = 25.71 degrees in this embodiment). The magnetization angles λ0, λ1, and λ2 have a relationship of λ1 <λ0 <λ2.

なお、回転磁石21,22は、一体である磁性体に第1磁気パターン及び第2磁気パターンを磁化するようにしてもよいし、第1磁気パターン及び第2磁気パターンをそれぞれ磁化した2つ磁性体を張り合わせて構成してもよい。また、前記例では、環状の回転磁石21,22を回転軸10の外周面上に固定するようにしたが、回転磁石21,22を円形状に構成して、回転磁石21,22の上面及び/又は下面に回転軸10を固定するようにしてもよい。   The rotating magnets 21 and 22 may magnetize the first magnetic pattern and the second magnetic pattern on an integral magnetic body, or two magnets that magnetize the first magnetic pattern and the second magnetic pattern, respectively. The body may be laminated. In the above example, the annular rotary magnets 21 and 22 are fixed on the outer peripheral surface of the rotary shaft 10, but the rotary magnets 21 and 22 are configured in a circular shape, and the upper surfaces of the rotary magnets 21 and 22 and Alternatively, the rotary shaft 10 may be fixed to the lower surface.

第1磁気センサ30は、基板60の上面に固定されて、回転磁石21の上下方向の中間位置にて径方向外側に配置されている。第2及び第3磁気センサ40,50は、基板60の下面に固定されて、回転磁石22の上下方向の中間位置にて径方向外側に配置されている。第1乃至第3磁気センサ30,40,50の回転磁石21,22の中心からの径方向距離は全て同じである。第2及び第3磁気センサ40,50の円周方向位置は、回転磁石22の中心回りに90度互いに異なる。第1磁気センサ30の円周方向位置は、回転磁石21の中心回りのいずれの位置でもよいが、基板60の面積を小さくするために、円周方向において第2及び第3磁気センサ40,50との間である。基板60は、平板状に構成されて、回転磁石21,22の外側位置にて、90度よりも若干大きな角度だけ円周方向に延設されていて、図示しない部材に固定されており、後述する電気回路を配置させている。   The first magnetic sensor 30 is fixed to the upper surface of the substrate 60, and is disposed radially outward at the intermediate position in the vertical direction of the rotating magnet 21. The second and third magnetic sensors 40, 50 are fixed to the lower surface of the substrate 60 and are arranged radially outside at the intermediate position in the vertical direction of the rotary magnet 22. The radial distances from the centers of the rotary magnets 21, 22 of the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 are all the same. The circumferential positions of the second and third magnetic sensors 40 and 50 are different from each other by 90 degrees around the center of the rotating magnet 22. The circumferential position of the first magnetic sensor 30 may be any position around the center of the rotating magnet 21, but the second and third magnetic sensors 40, 50 in the circumferential direction in order to reduce the area of the substrate 60. Between. The substrate 60 is formed in a flat plate shape, extends in the circumferential direction by an angle slightly larger than 90 degrees at an outer position of the rotary magnets 21 and 22, and is fixed to a member (not shown). The electric circuit to be arranged is arranged.

第1乃至第3磁気センサ30,40,50は、1磁極を1周期として、互いに90度の位相差をもった一対の正弦波信号(正弦波信号及び余弦波信号)をそれぞれ出力する(図6(a)〜(c)参照)。これらの第1乃至第3磁気センサ30,40,50の具体的構成について、図3を用いて説明する。第1磁気センサ30は、第1及び第2フルブリッジ回路31,32を有する。   The first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 each output a pair of sine wave signals (sine wave signal and cosine wave signal) having a phase difference of 90 degrees with one magnetic pole as one cycle (see FIG. 6 (a) to (c)). Specific configurations of the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 will be described with reference to FIG. The first magnetic sensor 30 includes first and second full bridge circuits 31 and 32.

第1フルブリッジ回路31は、図3(a)に示すように、強磁性層で形成された4個の異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dからなる。異方性磁気抵抗効果素子31a,31cは、図3(d)に太線で示すように、回転磁石21の回転面に平行な面内にて、回転磁石21の磁気センサ30と近接する外周面位置の接線方向に対して45度傾いた方向に延設されている。異方性磁気抵抗効果素子31b,31dは、図3(d)に太線で示すように、回転磁石21の回転面に平行な面内にて、異方性磁気抵抗効果素子31a,31cと直交する方向に延設されている。これらの異方性磁気抵抗効果素子31a,31c及び異方性磁気抵抗効果素子31b,31dの延設方向は必ずしも前記方向でなくてもよいが、異方性磁気抵抗効果素子31a,31cの延設方向と異方性磁気抵抗効果素子31b,31dの延設方向とは90度の角度を成す。   As shown in FIG. 3A, the first full bridge circuit 31 includes four anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, and 31d formed of ferromagnetic layers. The anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31c are outer peripheral surfaces that are close to the magnetic sensor 30 of the rotating magnet 21 in a plane parallel to the rotating surface of the rotating magnet 21, as indicated by thick lines in FIG. It extends in a direction inclined 45 degrees with respect to the tangential direction of the position. The anisotropic magnetoresistive elements 31b and 31d are orthogonal to the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31c in a plane parallel to the rotating surface of the rotating magnet 21, as indicated by a thick line in FIG. It is extended in the direction to do. The extending directions of the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31c and the anisotropic magnetoresistive elements 31b and 31d do not necessarily have to be the above-described directions, but the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31c are extended. The installation direction and the extending direction of the anisotropic magnetoresistive elements 31b and 31d form an angle of 90 degrees.

これらの異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dは、前記延設方向以外は同様に構成されている。具体的には、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dは、図3(c)に示すように、細く形成した長尺状かつ薄肉の前記強磁性層膜を折り返して延設させて構成されており、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dの前記延設方向はこの強磁性層膜の延設方向である。本明細書では、4個の異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dの強磁性層の延設面を磁気センサ(異方性磁気抵抗効果素子)の感磁面という。   These anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, and 31d are similarly configured except for the extending direction. Specifically, the anisotropic magnetoresistive effect elements 31a, 31b, 31c, and 31d extend the thin and long ferromagnetic layer film as shown in FIG. The extending direction of the anisotropic magnetoresistive effect elements 31a, 31b, 31c, and 31d is the extending direction of the ferromagnetic layer film. In the present specification, the extended surfaces of the ferromagnetic layers of the four anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, 31d are referred to as magnetosensitive surfaces of the magnetic sensor (anisotropic magnetoresistive element).

このように構成された異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dにおいては、異方性磁気抵抗効果素子31a,31bが直列に接続されるとともに、それらの両端に電圧Vccが印加されて、それらの接続点の電圧が電圧信号V1aとして取出される。また、異方性磁気抵抗効果素子31d,31cが直列に接続されるとともに、それらの両端に電圧Vccが印加されて、それらの接続点の電圧が電圧信号V2aとして取出される。そして、これらの電圧信号V1a,V2aは、後述する電気回路内の差動増幅器33により減算されて検出信号A0(=V1a−V2a)として出力される(図4参照)。   In the anisotropic magnetoresistive effect elements 31a, 31b, 31c, and 31d configured as described above, the anisotropic magnetoresistive effect elements 31a and 31b are connected in series, and a voltage Vcc is applied to both ends thereof. Thus, the voltage at these connection points is taken out as a voltage signal V1a. Further, the anisotropic magnetoresistive elements 31d and 31c are connected in series, and the voltage Vcc is applied to both ends thereof, and the voltage at the connection point is taken out as the voltage signal V2a. These voltage signals V1a and V2a are subtracted by a differential amplifier 33 in the electric circuit described later and output as a detection signal A0 (= V1a−V2a) (see FIG. 4).

この検出信号A0について、磁界の方向を矢印で示した図3(d)を用いて説明する。第1フルブリッジ回路31の異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dの延設面内の重心位置C1が回転磁石21の1極分の位置aから位置eまで等間隔ずつ位置a,b,c,d,eの順に移動したことを想定する。この場合、位置a,b,c,d,eは、磁気パターンの1極を1ピッチ(P)としたとき、位置aからの距離P/4,P/2,3P/4,4P/4だけ離れた位置を表す。位置bでは、異方性磁気抵抗効果素子31a,31cの抵抗値が最小かつ異方性磁気抵抗効果素子31b,31dの抵抗値が最大であるので、検出信号A0は最大(正)となる。位置dでは、異方性磁気抵抗効果素子31b,31dの抵抗値が最小かつ異方性磁気抵抗効果素子31a,31cの抵抗値が最大であるので、検出信号A0は最小(負)となる。位置a,c,eでは、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dの抵抗値がそれぞれ等しくなり、検出信号A0は「0」となる。その結果、検出信号A0は、図3(e)に太い実線で示すように、1極分を360度して正弦波状に変化する。なお、異方性磁気抵抗効果素子31a,31dと、異方性磁気抵抗効果素子31b,31cの回転磁石21に対する径方向位置の相違による誤差は、前記電圧信号V1a,V2aの減算により打ち消されて、高い検出精度となる。   The detection signal A0 will be described with reference to FIG. 3D in which the direction of the magnetic field is indicated by an arrow. The center-of-gravity position C1 in the extending surface of the anisotropic magnetoresistive effect elements 31a, 31b, 31c, 31d of the first full bridge circuit 31 is located at regular intervals from the position a corresponding to one pole of the rotating magnet 21 to the position e. , B, c, d, e. In this case, the positions a, b, c, d, and e are distances P / 4, P / 2, 3P / 4, 4P / 4 from the position a when one pole of the magnetic pattern is 1 pitch (P). Represents a position that is only a distance away. At the position b, since the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31c are minimum and the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 31b and 31d are maximum, the detection signal A0 is maximum (positive). At the position d, since the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 31b and 31d are minimum and the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31c are maximum, the detection signal A0 is minimum (negative). At the positions a, c, e, the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, 31d are equal to each other, and the detection signal A0 is “0”. As a result, as shown by a thick solid line in FIG. 3E, the detection signal A0 changes in a sine wave form by 360 degrees for one pole. The error due to the difference in the radial position of the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31d and the anisotropic magnetoresistive elements 31b and 31c with respect to the rotating magnet 21 is canceled by subtraction of the voltage signals V1a and V2a. High detection accuracy.

第2フルブリッジ回路32も、図3(b)に示すように、4個の異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dからなる。そして、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dは、回転磁石21の回転面に平行な面内にて異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dと同一位置にて、絶縁膜を挟んで重ねられて磁気センサ31と多層に構成されている。すなわち、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dの延設平面内における重心位置C1と、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dの延設平面内における重心位置C2が、感磁面に直交する同一直線上にある。異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dは、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dと同様に構成されているが、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dの各延設方向は、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dの各延設方向を45度だけ回転させた方向である。   As shown in FIG. 3B, the second full bridge circuit 32 also includes four anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, and 32d. The anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, and 32d are located at the same positions as the anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, and 31d in a plane parallel to the rotating surface of the rotating magnet 21. The magnetic sensor 31 and the magnetic sensor 31 are stacked in layers with an insulating film interposed therebetween. That is, the center-of-gravity position C1 in the extending plane of the anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, 31d and the center-of-gravity position C2 in the extending plane of the anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, 32d. Are on the same straight line perpendicular to the magnetosensitive surface. The anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, and 32d are configured similarly to the anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, and 31d, but the anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, The extending directions of 32c and 32d are directions in which the extending directions of the anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c and 31d are rotated by 45 degrees.

このように構成された異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dにおいては、異方性磁気抵抗効果素子32a,32bが直列に接続されるとともに、それらの両端に電圧Vccが印加されて、それらの接続点の電圧が電圧信号V1bとして取出される。また、異方性磁気抵抗効果素子32d,32cが直列に接続されるとともに、それらの両端に電圧Vccが印加されて、それらの接続点の電圧が電圧信号V2bとして取出される。そして、これらの電圧信号V1b,V2bは、後述する電気回路内の差動増幅器34により減算されて検出信号B0(=V1b−V2b)として出力される(図4参照)。   In the anisotropic magnetoresistive effect elements 32a, 32b, 32c, and 32d thus configured, the anisotropic magnetoresistive effect elements 32a and 32b are connected in series, and a voltage Vcc is applied to both ends thereof. Thus, the voltage at these connection points is taken out as a voltage signal V1b. Further, the anisotropic magnetoresistive elements 32d and 32c are connected in series, and the voltage Vcc is applied to both ends thereof, and the voltage at the connection point is taken out as the voltage signal V2b. These voltage signals V1b and V2b are subtracted by a differential amplifier 34 in an electric circuit described later and output as a detection signal B0 (= V1b−V2b) (see FIG. 4).

この場合、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dの重心位置C2が回転磁石21の1極分の位置aから位置eまで等間隔ずつ位置a,b,c,d,eの順に移動すると、位置a,eでは、異方性磁気抵抗効果素子32a,32cの抵抗値が最小かつ異方性磁気抵抗効果素子32b,32dの抵抗値が最大であるので、検出信号B0は最大(正)となる。位置cでは、異方性磁気抵抗効果素子32b,32dの抵抗値が最小かつ異方性磁気抵抗効果素子32a,32cの抵抗値が最大であるので、検出信号B0は最小(負)となる。位置b,dでは、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dの抵抗値がそれぞれ等しくなり、検出信号B0は「0」となる。その結果、検出信号B0は、図3(e)に細い実線で示すように、余弦波状(すなわち検出信号A0に対して位相遅れが90度である正弦波状)に変化する。なお、この場合も、異方性磁気抵抗効果素子32a,32dと、異方性磁気抵抗効果素子32b,32cの回転磁石21に対する径方向位置の相違による誤差は、前記電圧信号V1b,V2bの減算により打ち消されて、高い検出精度となる。   In this case, the center-of-gravity position C2 of the anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, and 32d is located at the positions a, b, c, d, and e at equal intervals from the position a corresponding to one pole of the rotating magnet 21 to the position e. When sequentially moving, at positions a and e, the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32c are minimum and the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 32b and 32d are maximum, so that the detection signal B0 is maximum. (Correct). At the position c, the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 32b and 32d are minimum and the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32c are maximum, so that the detection signal B0 is minimum (negative). At the positions b and d, the resistance values of the anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, and 32d are equal to each other, and the detection signal B0 is “0”. As a result, the detection signal B0 changes in a cosine wave shape (that is, a sine wave shape having a phase delay of 90 degrees with respect to the detection signal A0) as shown by a thin solid line in FIG. Also in this case, the error due to the difference in the radial position of the anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32d and the anisotropic magnetoresistive elements 32b and 32c with respect to the rotating magnet 21 is the subtraction of the voltage signals V1b and V2b. This cancels out and the detection accuracy becomes high.

このように、第1磁気センサ30は、第1及び第2フルブリッジ回路31,32により、第1磁気パターンにおける1極(N極又はS極)で1周期の相互に90度位相をもった正弦波状の検出信号A0,B0(正弦波信号A0及び余弦波信号B0)を出力する。そして、図6(a)に示すように、回転磁石21の1回転あたり、16周期の同一周期の検出信号A0,B0が第1磁気センサ30から出力されることになる。この場合、第1フルブリッジ回路31(異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31d)の重心位置C1と、第2フルブリッジ回路32(異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32d)の重心位置C2は、第1及び第2フルブリッジ回路31,32の感磁面に対して直交する同一直線上にあるので、第1及び第2フルブリッジ回路31,32は同じ大きさで変化する磁界の変化を検出し、検出信号A0,B0の振幅が一致する。   As described above, the first magnetic sensor 30 has a phase of 90 degrees with one period (N pole or S pole) in the first magnetic pattern by the first and second full bridge circuits 31 and 32. Sinusoidal detection signals A0 and B0 (sine wave signal A0 and cosine wave signal B0) are output. Then, as shown in FIG. 6A, detection signals A0 and B0 having the same period of 16 periods are output from the first magnetic sensor 30 per rotation of the rotating magnet 21. In this case, the center of gravity C1 of the first full bridge circuit 31 (anisotropic magnetoresistive effect elements 31a, 31b, 31c, 31d) and the second full bridge circuit 32 (anisotropic magnetoresistive effect elements 32a, 32b, 32c). , 32d) is located on the same straight line perpendicular to the magnetic sensitive surfaces of the first and second full bridge circuits 31, 32, so that the first and second full bridge circuits 31, 32 have the same size. A change in the magnetic field that changes at this time is detected, and the amplitudes of the detection signals A0 and B0 match.

第2磁気センサ40も、第1磁気センサ30の第1及び第2フルブリッジ回路31,32と同様な、第1及び第2フルブリッジ回路41,42を有する。そして、第1フルブリッジ回路41からの電圧信号V1a,V2aも電気回路内の差動増幅器43により減算されて正弦波状の検出信号A1として取出されるとともに、第2フルブリッジ回路42からの電圧信号V1b,V2bも電気回路内の差動増幅器44により減算されて検出信号A1と90度位相が異なる正弦波状(すなわち余弦波状)の検出信号B1として取出される(図4参照)。したがって、第2磁気センサ40は、第2磁気パターンにおける1極(N極又はS極)で1周期の相互に90度位相をもった検出信号A1,B1(正弦波信号A1及び余弦波信号B1)を出力する。ただし、第2磁気パターンは、9極の磁気パターンからなる第1ブロック22aと、7極の磁気パターンからなる第2ブロック22bとからなるので、図6(b)に示すように、回転磁石22の1回転当たり、第1ブロック22aに対応した9周期の同一周期の検出信号A1,B1と、第2ブロック22bに対応した7周期の同一周期の検出信号A1,B1が第2磁気センサ40から出力されることになる。   The second magnetic sensor 40 also has first and second full bridge circuits 41 and 42 similar to the first and second full bridge circuits 31 and 32 of the first magnetic sensor 30. The voltage signals V1a and V2a from the first full bridge circuit 41 are also subtracted by the differential amplifier 43 in the electric circuit and taken out as a sinusoidal detection signal A1, and the voltage signal from the second full bridge circuit 42 is taken. V1b and V2b are also subtracted by the differential amplifier 44 in the electric circuit, and are extracted as a sine wave (ie, cosine wave) detection signal B1 that is 90 degrees out of phase with the detection signal A1 (see FIG. 4). Accordingly, the second magnetic sensor 40 detects the detection signals A1 and B1 (sine wave signal A1 and cosine wave signal B1) having a phase of 90 degrees with each other at one pole (N pole or S pole) in the second magnetic pattern. ) Is output. However, since the second magnetic pattern is composed of the first block 22a composed of a 9-pole magnetic pattern and the second block 22b composed of a 7-pole magnetic pattern, as shown in FIG. Detection signal A1 and B1 of the same period of 9 periods corresponding to the first block 22a and detection signal A1 and B1 of the same period of 7 periods corresponding to the second block 22b from the second magnetic sensor 40. Will be output.

第3磁気センサ50も、第1磁気センサ30の第1及び第2フルブリッジ回路31,32と同様な、第1及び第2フルブリッジ回路51,52を有する。そして、第1フルブリッジ回路51からの電圧信号V1a,V2aも電気回路内の差動増幅器53によりに減算されて検出信号A2として取出されるとともに、第2フルブリッジ回路52からの電圧信号V1b,V2bも電気回路内の差動増幅器54により減算されて検出信号A2と90度位相が異なる正弦波状(すなわち余弦波状)の検出信号B2として取出される(図4参照)。したがって、第3磁気センサ50も、第1及び第2フルブリッジ回路51,52と後述する電気回路内の減算との協働により、第2磁気パターンにおける1極(N極又はS極)で1周期の相互に90度位相をもった検出信号A2,B2(正弦波信号A2及び余弦波信号B2)を出力する。ただし、この場合も、第2磁気パターンは、9極の磁気パターンからなる第1ブロック22aと、7極の磁気パターンからなる第2ブロック22bとからなるので、図6(c)に示すように、回転磁石22の1回転当たり、第1ブロック22aに対応した9周期の同一周期の検出信号A2,B2と、第2ブロック22bに対応した7周期の同一周期の検出信号A2,B2が第2磁気センサ40から出力されることになる。また、第2磁気センサ40と第3磁気センサ50とは90度の角度差をもって配置されているので、検出信号A2,B2の周期の変化点は、検出信号A2,B2の周期の変化点に対して、回転磁石22の1回転当たり90度だけ異なる。   The third magnetic sensor 50 also includes first and second full bridge circuits 51 and 52 similar to the first and second full bridge circuits 31 and 32 of the first magnetic sensor 30. The voltage signals V1a and V2a from the first full bridge circuit 51 are also subtracted by the differential amplifier 53 in the electric circuit and taken out as the detection signal A2, and the voltage signals V1b, V2b is also subtracted by the differential amplifier 54 in the electric circuit and taken out as a sine wave (ie, cosine wave) detection signal B2 that is 90 degrees out of phase with the detection signal A2 (see FIG. 4). Therefore, the third magnetic sensor 50 also has one pole (N pole or S pole) in the second magnetic pattern by cooperating with the first and second full bridge circuits 51 and 52 and subtraction in the electric circuit described later. Detection signals A2 and B2 (sine wave signal A2 and cosine wave signal B2) having a 90-degree phase with each other are output. However, in this case as well, the second magnetic pattern is composed of a first block 22a composed of a nine-pole magnetic pattern and a second block 22b composed of a seven-pole magnetic pattern, as shown in FIG. The detection signals A2 and B2 having the same period of 9 periods corresponding to the first block 22a and the detection signals A2 and B2 having the same period of 7 periods corresponding to the second block 22b are second per rotation of the rotating magnet 22. It is output from the magnetic sensor 40. In addition, since the second magnetic sensor 40 and the third magnetic sensor 50 are arranged with an angle difference of 90 degrees, the change point of the cycle of the detection signals A2 and B2 is the change point of the cycle of the detection signals A2 and B2. On the other hand, it differs by 90 degrees per rotation of the rotating magnet 22.

次に、基板60に配置された電気回路について、図4を用いて説明する。第1フルブリッジ回路31からの電圧信号V1a,V2aは差動増幅器33の非反転入力及び反転入力にそれぞれ供給される。差動増幅器33は、電圧信号V1aから電圧信号V2aを減算して検出信号A0として出力する。第2フルブリッジ回路32から出力される電圧信号V1b,V2bは、差動増幅器34の非反転入力及び反転入力にそれぞれ供給される。差動増幅器34は、電圧信号V1bから電圧信号V2bを減算して検出信号B0として出力する。したがって、第1磁気センサ30は、第1及び第2フルブリッジ回路31,32と、差動増幅器33,34とにより構成され、前述した相互に90度位相をもった正弦波状の検出信号A0,B0(正弦波信号A0及び余弦波信号B0)を出力する(図6(a)参照)。   Next, an electric circuit arranged on the substrate 60 will be described with reference to FIG. The voltage signals V1a and V2a from the first full bridge circuit 31 are supplied to the non-inverting input and the inverting input of the differential amplifier 33, respectively. The differential amplifier 33 subtracts the voltage signal V2a from the voltage signal V1a and outputs it as a detection signal A0. The voltage signals V1b and V2b output from the second full bridge circuit 32 are supplied to the non-inverting input and the inverting input of the differential amplifier 34, respectively. The differential amplifier 34 subtracts the voltage signal V2b from the voltage signal V1b and outputs it as a detection signal B0. Therefore, the first magnetic sensor 30 includes the first and second full bridge circuits 31 and 32 and the differential amplifiers 33 and 34, and the above-described sinusoidal detection signals A0, B0 (sine wave signal A0 and cosine wave signal B0) is output (see FIG. 6A).

第2磁気センサ40も、第1磁気センサ30と同様に、第1及び第2フルブリッジ回路41,42と、差動増幅器43,44とにより構成され、前述した相互に90度位相をもった正弦波状の検出信号A1,B1(正弦波信号A1及び余弦波信号B1)を出力する。第3磁気センサ50も、第1磁気センサ30と同様に、第1及び第2フルブリッジ回路51,52と、差動増幅器53,54とにより構成され、前述した相互に90度位相をもった正弦波状の検出信号A2,B2(正弦波信号A2及び余弦波信号B2)を出力する。   Similarly to the first magnetic sensor 30, the second magnetic sensor 40 is composed of the first and second full bridge circuits 41 and 42 and the differential amplifiers 43 and 44, and has the above-described 90-degree phase. Sinusoidal detection signals A1 and B1 (sine wave signal A1 and cosine wave signal B1) are output. Similarly to the first magnetic sensor 30, the third magnetic sensor 50 is composed of the first and second full bridge circuits 51 and 52 and the differential amplifiers 53 and 54, and has the above-described 90-degree phase. Sinusoidal detection signals A2 and B2 (sine wave signal A2 and cosine wave signal B2) are output.

第1乃至第3磁気センサ30,40,50には、A/D変換器70が接続されている。A/D変換器70は、第1乃至第3磁気センサ30,40,50からの検出信号A0,B0,A1,B1,A2,B2をそれぞれA/D変換して信号処理回路80に出力する。信号処理回路80は、CPU、ROM、RAM、記憶装置などからなるコンピュータ装置で構成されており、図5のフローチャートに対応したプログラムに従って演算処理を実行する。このプログラムの実行においては、バーニア演算処理を用いて、前記検出信号A0,B0,A1,B1,A2,B2に対応したディジタル信号を信号処理して、回転軸10の絶対回転角φ3を計算する。   An A / D converter 70 is connected to the first to third magnetic sensors 30, 40, 50. The A / D converter 70 A / D converts the detection signals A0, B0, A1, B1, A2, and B2 from the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50, and outputs the signals to the signal processing circuit 80. . The signal processing circuit 80 is configured by a computer device including a CPU, a ROM, a RAM, a storage device, and the like, and executes arithmetic processing according to a program corresponding to the flowchart of FIG. In execution of this program, digital signals corresponding to the detection signals A0, B0, A1, B1, A2, and B2 are signal-processed using vernier arithmetic processing to calculate the absolute rotation angle φ3 of the rotary shaft 10. .

次に、上記のように構成した回転検出装置の動作について説明する。回転軸10すなわち回転磁石21,22を回転させると、第1磁気センサ30から、回転磁石21の0〜360度(第1磁気パターンに対応)の1回転当たり、周期の等しい16周期の検出信号A0,B0が出力される(図6(a)参照)。また、第2磁気センサ40から、回転磁石22の0〜180度(第1ブロック22aに対応)の半回転当たりで周期の等しい9周期の出力信号と、回転磁石22の180〜360度(第2ブロック22bに対応)の半回転当たりで周期の等しい7周期の出力信号とからなる検出信号A1,B1が出力される(図6(b)参照)。さらに、第3磁気センサ50から、回転磁石22の0〜90,270〜360度(第1ブロック22aに対応)の半回転当たりで周期の等しい9周期の出力信号と、回転磁石22の90〜270度(第2ブロック22bに対応)の半回転当たりで周期の等しい7周期の出力信号とからなる検出信号A2,B2が出力される(図6(c)参照)。   Next, the operation of the rotation detection device configured as described above will be described. When the rotating shaft 10, that is, the rotating magnets 21 and 22 are rotated, detection signals of 16 periods equal in period per rotation of 0 to 360 degrees (corresponding to the first magnetic pattern) of the rotating magnet 21 from the first magnetic sensor 30. A0 and B0 are output (see FIG. 6A). Further, from the second magnetic sensor 40, an output signal of nine periods having the same period per half rotation of 0 to 180 degrees (corresponding to the first block 22a) of the rotating magnet 22, and 180 to 360 degrees (first of the rotating magnet 22). Detection signals A1 and B1 consisting of 7-cycle output signals having the same cycle per half rotation (corresponding to 2 blocks 22b) are output (see FIG. 6B). Furthermore, from the third magnetic sensor 50, an output signal of nine periods having the same period per half rotation of 0 to 90, 270 to 360 degrees of the rotating magnet 22 (corresponding to the first block 22a), and 90 to 90 of the rotating magnet 22 are output. Detection signals A2 and B2 consisting of output signals of seven periods having the same period per half rotation of 270 degrees (corresponding to the second block 22b) are output (see FIG. 6C).

これらの検出信号A0,B0,A1,B1,A2,B2は、A/D変換器70によってそれぞれディジタル信号に変換されて、信号処理回路80に供給される。信号処理回路80は、回転角の計測開始時に図5のステップS10にプログラムの実行を開始し、その後、ステップS12〜S30からなる循環処理を実行する。ステップS12においては、信号処理回路80は、供給された検出信号A0,B0,A1,B1,A2,B2の瞬時値をそれぞれ入力する。次に、信号処理回路80は、ステップS14にて、検出信号A0,B0,A1,B1,A2,B2を用いた下記数2〜4の逆正接演算により、逆正接角度θ0,θ1,θ2を計算する。これらの逆正接角度θ0,θ1,θ2は、第1及び第2磁気パターンの1極を1周期とする鋸歯状波状に変化する。これらの逆正接角度θ0,θ1,θ2の変化を図7(a)〜(c)にそれぞれ示す。

Figure 2015094615
Figure 2015094615
Figure 2015094615
These detection signals A 0, B 0, A 1, B 1, A 2, B 2 are converted into digital signals by the A / D converter 70 and supplied to the signal processing circuit 80. The signal processing circuit 80 starts execution of the program at step S10 in FIG. 5 at the start of measurement of the rotation angle, and then executes a circulation process including steps S12 to S30. In step S12, the signal processing circuit 80 inputs the instantaneous values of the supplied detection signals A0, B0, A1, B1, A2, and B2. Next, in step S14, the signal processing circuit 80 calculates the arc tangent angles θ0, θ1, and θ2 by the arctangent calculation of the following equations 2 to 4 using the detection signals A0, B0, A1, B1, A2, and B2. calculate. These arc tangent angles θ0, θ1, and θ2 change in a sawtooth wave shape with one pole of the first and second magnetic patterns as one cycle. Changes in the arc tangent angles θ0, θ1, and θ2 are shown in FIGS. 7A to 7C, respectively.
Figure 2015094615
Figure 2015094615
Figure 2015094615

前記ステップS14の処理後、信号処理回路80は、ステップS16にて、逆正接角度θ0,θ1,θ2を用いた下記数5,6の剰余演算により、逆正接角度θ0,θ1間の位相差φ1と、逆正接角度θ0,θ2の位相差φ2を計算する。

Figure 2015094615
Figure 2015094615
After the process of step S14, the signal processing circuit 80 performs the phase difference φ1 between the arc tangent angles θ0 and θ1 in step S16 by the remainder calculation of the following equations 5 and 6 using the arc tangent angles θ0, θ1, and θ2. Then, the phase difference φ2 between the arc tangent angles θ0 and θ2 is calculated.
Figure 2015094615
Figure 2015094615

前記数5,6におけるmod(x,y)の演算式は、xをyで割ったときの余剰を求める余剰演算を表している。そして、前記数5,6の演算では、yを2πとしているので、位相差φ1,φ2はラジアン単位で0〜2πに渡って変化する。しかし、yは基本単位を表しているだけであるので、このyは単に予め決められた定数とすればよい。例えば、このyを2πに代えて360度とすれば、位相差φ1,φ2は0〜360度に渡って変化することになる。なお、これらのステップS14,S16の演算が、バーニア演算である。   The arithmetic expression of mod (x, y) in Equations 5 and 6 represents a surplus operation for obtaining a surplus when x is divided by y. In the calculations of Equations 5 and 6, since y is 2π, the phase differences φ1 and φ2 change from 0 to 2π in radians. However, since y only represents a basic unit, this y may simply be a predetermined constant. For example, if this y is set to 360 degrees instead of 2π, the phase differences φ1 and φ2 change over 0 to 360 degrees. Note that the operations in steps S14 and S16 are vernier operations.

これらの位相差φ1,φ2を、回転磁石21,22の回転角度(0〜360度)に対応させて図8に示す。この場合、位相差φ1は、第1ブロック22a(0〜180度の範囲)では右上がりの直線となり、第2ブロック22b(180〜360度)では右下がりの直線となる。このことは、第2磁気センサ40が第1ブロック22aに対向している状態では位相差φ1が右上がりの直線上を変化し、かつ第2磁気センサ40が第2ブロック22bに対向している状態では位相差φ1が右下がりの直線上を変化することを意味する。一方、位相差φ2は、位相差φ1よりも90度位相が異なる。すなわち、位相差φ2は、第1ブロック22aの前半部分(0〜90度)及び第2ブロック22bの後半部分(270〜360度)では右上がりの直線となり、第1ブロック22aの後半部分(90〜180度)及び第2ブロック22bの前半部分(約180〜270度)では右下がりの直線となる。これらの位相差φ1,φ2の変化幅をKとする。なお、この変化幅Kは、本実施形態では2πである。   These phase differences φ1 and φ2 are shown in FIG. 8 corresponding to the rotation angles (0 to 360 degrees) of the rotating magnets 21 and 22. In this case, the phase difference φ1 is a straight line that rises to the right in the first block 22a (range of 0 to 180 degrees), and a straight line that falls to the right in the second block 22b (180 to 360 degrees). This means that in the state where the second magnetic sensor 40 faces the first block 22a, the phase difference φ1 changes on the straight line rising to the right, and the second magnetic sensor 40 faces the second block 22b. In the state, it means that the phase difference φ1 changes on the straight line that descends to the right. On the other hand, the phase difference φ2 is 90 degrees out of phase with the phase difference φ1. That is, the phase difference φ2 is a straight line that rises to the right in the first half (0 to 90 degrees) of the first block 22a and the second half (270 to 360 degrees) of the second block 22b, and the second half (90 of the first block 22a) ˜180 degrees) and the first half of the second block 22b (about 180 to 270 degrees) are straight to the right. The change width of these phase differences φ1 and φ2 is assumed to be K. Note that the change width K is 2π in this embodiment.

前記ステップS16の処理後、信号処理回路80は、ステップS18にて、位相差φ2から所定値Xを減算して、減算結果φ2−Xが「0」以上であるか否かを判定する。この場合、値Xは回転角度θが0度であるとき、すなわち位相差φ1が最小であるときの位相差φ2の値(位相差φ1が最大であるときの位相差φ2の値と同じ)であり、このプログラム処理とは別に検出して記憶しておいた値である。また、この値Xを、このプログラム処理の実行開始時に計算したり、又はこのプログラムの実行中に定期的に計算したりして記憶しておいてもよい。なお、本実施形態では、値Xは変化幅Kの半分であるK/2となるが、第2磁気パターンにおける第1及び第2ブロック22a,22bの各範囲がそれぞれ180度でない場合には、値Xは変化幅Kの半分であるK/2と異なる値となる。   After the processing in step S16, the signal processing circuit 80 subtracts the predetermined value X from the phase difference φ2 in step S18, and determines whether or not the subtraction result φ2-X is “0” or more. In this case, the value X is the value of the phase difference φ2 when the rotation angle θ is 0 degree, that is, when the phase difference φ1 is minimum (the same as the value of the phase difference φ2 when the phase difference φ1 is maximum). Yes, the value is detected and stored separately from this program processing. Further, the value X may be calculated and stored at the start of execution of the program processing or periodically during execution of the program. In the present embodiment, the value X is K / 2, which is half of the change width K. However, when the respective ranges of the first and second blocks 22a and 22b in the second magnetic pattern are not 180 degrees, The value X is different from K / 2, which is half of the change width K.

前記減算結果φ2−Xは、図9に破線で示すように変化し、第1ブロック22aにて正となり、第2ブロック22bにて負となる。そして、減算結果φ2−Xが「0」以上であれば、信号処理回路80は、前記ステップS18にて「Yes」と判定し、ステップS20にて増加フラグUPを“1”に設定する。また、減算結果φ2−Xが「0」未満であれば、信号処理回路80は、ステップS18にて「No」と判定し、ステップS22にて増加フラグUPを“0”に設定する。この増加フラグUPの値を、回転磁石21,22の1回転(0〜360度)に対応させて図9に太線で示す。これにより、増加フラグUPは、“1”により、第2磁気センサ40が第1ブロック22aに対向して位置し、位相差φ1が右上がりの直線(図8参照)上の値を取ることを示すことになる。また、増加フラグUPは、“0”により、第2磁気センサ40が第2ブロック22bに対向して位置し、位相差φ1が右下がり直線(図8参照)上の値を取ることを示すことになる。   The subtraction result φ2-X changes as indicated by a broken line in FIG. 9, and becomes positive in the first block 22a and negative in the second block 22b. If the subtraction result φ2-X is “0” or more, the signal processing circuit 80 determines “Yes” in Step S18, and sets the increase flag UP to “1” in Step S20. If the subtraction result φ2-X is less than “0”, the signal processing circuit 80 determines “No” in Step S18, and sets the increase flag UP to “0” in Step S22. The value of the increase flag UP is indicated by a thick line in FIG. 9 in association with one rotation (0 to 360 degrees) of the rotary magnets 21 and 22. As a result, the increase flag UP indicates that the second magnetic sensor 40 is positioned opposite to the first block 22a and the phase difference φ1 takes a value on a straight line that rises to the right (see FIG. 8). Will show. Further, the increase flag UP indicates by “0” that the second magnetic sensor 40 is positioned opposite to the second block 22b and the phase difference φ1 takes a value on the right-downward straight line (see FIG. 8). become.

前記ステップS20,S22の処理後、信号処理回路80は、ステップS24にて増加フラグUPが“1”であるか否かを判定する。第2磁気センサ40が第1ブロック22aに対向して位置し、増加フラグUPが“1”であれば、信号処理回路80は、ステップS24にて「Yes」と判定して、ステップS26にて位相差φ1を絶対回転角φ3として設定する。一方、第2磁気センサ40が第2ブロック22bに対向して位置し、増加フラグUPが“0”であれば、信号処理回路80は、ステップS24にて「No」と判定して、ステップS28にて変化幅Kを2倍した値2・Kから位相差φ1を減算した値2・K−φ1を絶対回転角φ3として設定する。   After the processes of steps S20 and S22, the signal processing circuit 80 determines whether or not the increase flag UP is “1” in step S24. If the second magnetic sensor 40 is located facing the first block 22a and the increase flag UP is “1”, the signal processing circuit 80 determines “Yes” in step S24, and in step S26. The phase difference φ1 is set as the absolute rotation angle φ3. On the other hand, if the second magnetic sensor 40 is located opposite to the second block 22b and the increase flag UP is “0”, the signal processing circuit 80 determines “No” in step S24, and step S28. The value 2 · K−φ1 obtained by subtracting the phase difference φ1 from the value 2 · K obtained by doubling the change width K is set as the absolute rotation angle φ3.

この場合も、変化幅Kは、回転磁石21,22の180度の回転に対応した位相差φ1、すなわち位相差φ1の最大値(位相差φ2の変化幅Kである最大値にも等しい)でもあり、予め検出して記憶しておいた値である。そして、値K−φ1は、図10(a)に示すように、第2ブロック22bにおける最大値Kと位相差φ1との差であり、値2・K−φ1(=K+K−φ1)は最大値Kを中心に位相差φ1を折り返した値である。したがって、回転磁石21,22の180〜360度の角度の範囲、すなわち第2磁気センサ40が第2ブロック22bに対向して位置する状態における絶対回転角φ3が前記ステップS28の処理によって計算される。その結果、回転磁石21,22の1回転(0〜360度)に対して、0〜2・K(本実施形態では、0〜4π)に渡って変化する絶対回転角φ3が計算されることになる。この絶対回転角φ3の変化を図10(b)に示す。また、図10(c)は、前記計算で求めた絶対回転角φ3である電気角と、回転磁石21,22の実際の回転角度である機械角との差、すなわち絶対回転角φ3の角度誤差Δφ3を示している。なお、この実施形態では、第1及び第2ブロック22a,22bの角度範囲は共に180度であるので、角度誤差Δφ3は生じない。   Also in this case, the change width K is a phase difference φ1 corresponding to the 180 ° rotation of the rotating magnets 21 and 22, that is, the maximum value of the phase difference φ1 (equal to the maximum value that is the change width K of the phase difference φ2). Yes, the value is detected and stored in advance. As shown in FIG. 10A, the value K−φ1 is the difference between the maximum value K and the phase difference φ1 in the second block 22b, and the value 2 · K−φ1 (= K + K−φ1) is the maximum. This is a value obtained by folding the phase difference φ1 around the value K. Therefore, the angle range of 180 to 360 degrees of the rotating magnets 21 and 22, that is, the absolute rotation angle φ3 in the state where the second magnetic sensor 40 is located facing the second block 22b is calculated by the process of step S28. . As a result, the absolute rotation angle φ3 that changes over 0 to 2 · K (0 to 4π in the present embodiment) for one rotation (0 to 360 degrees) of the rotating magnets 21 and 22 is calculated. become. The change in the absolute rotation angle φ3 is shown in FIG. FIG. 10C shows the difference between the electrical angle, which is the absolute rotation angle φ3 obtained by the above calculation, and the mechanical angle, which is the actual rotation angle of the rotating magnets 21, 22, that is, the angle error of the absolute rotation angle φ3. Δφ3 is shown. In this embodiment, since the angle ranges of the first and second blocks 22a and 22b are both 180 degrees, the angle error Δφ3 does not occur.

なお、前記ステップS18〜S28からなる演算処理によって絶対回転角φ3を検出できる理由は、位相差φ1が最小値及び最大値となる2つの回転角度θにおける位相差φ2の2つの値は一致するとともに、位相差φ2が最小値及び最大値となる2つの回転角度θにおける位相差φ1の2つの値は一致することを前提とするものである。そして、前記ステップS18では、位相差φ1が最小値及び最大値となる回転角度θにおける位相差φ2を値Xとしたものである。したがって、前記絶対回転角φ3の計算は、値X以上となる位相差φ2の角度範囲では、位相差φ1は最小値から最大値まで増加し、値X以下となる位相差2の角度範囲では、位相差φ1は最大値から最小値まで減少することを利用している。なお、前記前提は、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの両角度範囲が異なる場合を含む多くのシミュレーション結果により確認された事実である。   The reason why the absolute rotation angle φ3 can be detected by the arithmetic processing consisting of the steps S18 to S28 is that the two values of the phase difference φ2 at the two rotation angles θ at which the phase difference φ1 becomes the minimum value and the maximum value coincide with each other. It is assumed that the two values of the phase difference φ1 at the two rotation angles θ at which the phase difference φ2 is the minimum value and the maximum value are the same. In step S18, the phase difference φ2 at the rotation angle θ at which the phase difference φ1 is the minimum value and the maximum value is the value X. Therefore, in the calculation of the absolute rotation angle φ3, the phase difference φ1 increases from the minimum value to the maximum value in the angle range of the phase difference φ2 that is not less than the value X, and in the angle range of the phase difference 2 that is not more than the value X, The phase difference φ1 uses a decrease from the maximum value to the minimum value. In addition, the said premise is the fact confirmed by many simulation results including the case where both angle ranges of the 1st and 2nd blocks 22a and 22b of a 2nd magnetic pattern differ.

前記ステップS26,S28の処理後、信号処理回路80は、ステップS30にて、絶対回転角φ3及び逆正接角度θ0を用いた内挿演算処理を実行する。具体的には、図11に示すように、前記計算した絶対回転角φ3を所定数のビットで表して内挿後の絶対回転角φ3’の上位ビットとし、逆正接角度θ0(=tan-1(A0/B0))を所定数のビットで表して内挿後の絶対回転角φ3’の下位ビット(絶対回転角φ3の最下位ビットに続く下位ビット)とする。例えば、内挿後の絶対回転角φ3’を15ビットとする場合、内挿後の絶対回転角φ3’の上位10ビットを10ビットで表した絶対回転角φ3とし、内挿後の絶対回転角φ3’の下位5ビットを5ビットで表した逆正接角度θ0とする(φ3’=φ3・25+θ0)。これにより、回転磁石21,22の回転角度を細かな間隔(角度)、すなわち高分解能で表すことができ、全体として高精度の回転検出装置が実現される。 After the processes in steps S26 and S28, the signal processing circuit 80 executes an interpolation calculation process using the absolute rotation angle φ3 and the arctangent angle θ0 in step S30. Specifically, as shown in FIG. 11, the calculated absolute rotation angle φ3 is represented by a predetermined number of bits to be the upper bits of the absolute rotation angle φ3 ′ after interpolation, and the arctangent angle θ0 (= tan −1). (A0 / B0)) is represented by a predetermined number of bits and is the lower bit of the absolute rotation angle φ3 ′ after interpolation (the lower bit following the least significant bit of the absolute rotation angle φ3). For example, when the absolute rotation angle φ3 ′ after the interpolation is 15 bits, the upper 10 bits of the absolute rotation angle φ3 ′ after the interpolation is the absolute rotation angle φ3 represented by 10 bits, and the absolute rotation angle after the interpolation The lower tangent angle θ0 in which the lower 5 bits of φ3 ′ are represented by 5 bits is set to φ0 (φ3 ′ = φ3 · 2 5 + θ0). Thereby, the rotation angle of the rotating magnets 21 and 22 can be expressed with a fine interval (angle), that is, with high resolution, and a high-accuracy rotation detecting device is realized as a whole.

前記ステップS30の処理後、信号処理回路80は、ステップS12の実行に戻り、以降、ステップS12〜S30の処理を繰返し実行して、絶対回転角φ3を内挿演算処理した回転角φ3’を計算し続ける。なお、高分解能の絶対回転角φ3’を必要としない場合には、前記ステップS30の処理は不要である。   After the process of step S30, the signal processing circuit 80 returns to the execution of step S12, and thereafter repeats the processes of steps S12 to S30 to calculate the rotation angle φ3 ′ obtained by interpolating the absolute rotation angle φ3. Keep doing. Note that if the high-resolution absolute rotation angle φ3 'is not required, the process of step S30 is not necessary.

上記実施形態のように構成するとともに動作する回転検出装置においては、第1磁気センサ30は、第1磁気パターンによる磁界の変化を検出して、第1磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号A0,B0を出力し、第2及び第3磁気センサ40,50は、第2及び第3磁気パターンによる磁界の変化を検出して、第2及び第2磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号A1,B1,A2,B2をそれぞれ出力する。そして、信号処理回路80は、第1乃至第3磁気センサ30,40,50からの検出信号を用いたバーニア演算処理(逆正接演算処理及び位相差演算処理)により、回転軸10の絶対回転角φ3を計算する。この場合、第1乃至第3磁気パターンの各1極当たり1周期の検出信号A0,B0,A1,B1,A2,B2を用いて絶対回転角φ3を計算するので、高分解能で絶対回転角φ3を検出でき、回転軸10の絶対回転角φ3を高い精度で検出できる。また、第1乃至第3磁気センサ30,40,50は回転軸10の中心軸の延長線上には設けられていないので、回転軸10を貫通させるような構造の回転体にも適用できる。もちろん、回転軸を貫通させるような構造の回転体にも適用できる。   In the rotation detection device configured and operated as in the above embodiment, the first magnetic sensor 30 detects a change in the magnetic field due to the first magnetic pattern, and has a phase of one cycle per pole of the first magnetic pattern. Two different detection signals A0 and B0 are output, and the second and third magnetic sensors 40 and 50 detect a change in the magnetic field due to the second and third magnetic patterns, and detect one pole of the second and second magnetic patterns. Two detection signals A1, B1, A2, and B2 having different phases in one cycle are output. Then, the signal processing circuit 80 performs an absolute rotation angle of the rotary shaft 10 by vernier calculation processing (inverse tangent calculation processing and phase difference calculation processing) using detection signals from the first to third magnetic sensors 30, 40, 50. Calculate φ3. In this case, since the absolute rotation angle φ3 is calculated using the detection signals A0, B0, A1, B1, A2, and B2 of one cycle for each pole of the first to third magnetic patterns, the absolute rotation angle φ3 with high resolution. And the absolute rotation angle φ3 of the rotary shaft 10 can be detected with high accuracy. Further, since the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 are not provided on the extension line of the central axis of the rotating shaft 10, the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 can be applied to a rotating body having a structure that allows the rotating shaft 10 to pass therethrough. Of course, the present invention can also be applied to a rotating body having a structure in which the rotating shaft passes therethrough.

また、上記実施形態においては、信号処理回路80は、さらに、計算された逆正接角度θ0を用いて、絶対回転角φ3の内挿演算処理を実行して内挿絶対回転角φ3‘を計算するので、回転軸10の絶対回転角φ3を高分解能にすることができる。   In the above-described embodiment, the signal processing circuit 80 further calculates the interpolation absolute rotation angle φ3 ′ by executing the interpolation calculation process of the absolute rotation angle φ3 by using the calculated arctangent angle θ0. Therefore, the absolute rotation angle φ3 of the rotating shaft 10 can be made high resolution.

また、上記実施形態においては、第1乃至第3磁気センサ30,40,50を、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dからなる第1フルブリッジ回路31,41,51と、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dからなる第2フルブリッジ回路32,42,52とで構成したので、第1乃至第3磁気センサ30,40,50によって検出される電圧信号V1a,V2a,V1b,V2bの精度が高くなり、絶対回転角φ3が高精度となる。   Moreover, in the said embodiment, 1st thru | or 3rd magnetic sensor 30,40,50 is 1st full bridge circuit 31,41,51 which consists of anisotropic magnetoresistive effect element 31a, 31b, 31c, 31d, The voltage signal detected by the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 is constituted by the second full bridge circuits 32, 42, and 52 including the anisotropic magnetoresistive elements 32 a, 32 b, 32 c, and 32 d. The accuracy of V1a, V2a, V1b, and V2b is increased, and the absolute rotation angle φ3 is highly accurate.

さらに、第1乃至第3磁気センサ30,40,50のそれぞれにおいて、第1フルブリッジ回路31,41,51を構成する異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31と、第2フルブリッジ回路32,42,52を構成する異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dとを絶縁膜を介して重ねて配置し、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31の重心位置C1が、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dの重心位置C2を通り、かつ異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31が配置された平面に直交する直線上に位置するようにした。これにより、第1及び第2フルブリッジ回路31,32,41,42,51,52は、同じ大きさで変化する磁界の変化を検出することになり、第1乃至第3磁気センサ30,40,50によって検出される電圧信号V1a,V2a,V1b,V2bがさらに高精度となり、絶対回転角φ3がさらに高精度となる。   Further, in each of the first to third magnetic sensors 30, 40, 50, anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, 31 constituting the first full bridge circuits 31, 41, 51, and the second full The anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, and 32d that constitute the bridge circuits 32, 42, and 52 are arranged so as to overlap each other through an insulating film, and the anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, and 31 are arranged. The center-of-gravity position C1 passes through the center-of-gravity position C2 of the anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, and 32d, and is orthogonal to the plane on which the anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, and 31 are disposed. It was located on a straight line. As a result, the first and second full bridge circuits 31, 32, 41, 42, 51, 52 detect changes in the magnetic field that change with the same magnitude, and the first to third magnetic sensors 30, 40 are detected. , 50, the voltage signals V1a, V2a, V1b, V2b detected with higher accuracy and the absolute rotation angle φ3 with higher accuracy.

また、上記実施形態においては、回転磁石21,22は、回転軸方向に2列に配置されるとともに外径を一致させており、回転磁石21,22の外周面の外側に回転磁石21,22の境界位置にて円周方向に延設された平板状の基板60を配置して、第1磁気センサ30を基板60の上面に固定して回転磁石21の第1磁気パターンに対向させ、かつ第2及び第3磁気センサ30,40を基板60の下面に固定して第2磁気パターンに対向させるようにした。これにより、第1乃至第3磁気センサ30,40,50を一つの基板60上に搭載させることができるので、回転検出装置の構造が簡単になる。さらに、第1磁気センサ30は、回転磁石21,22の円周方向において、第2磁気センサ40と第3磁気センサ50の間に配置されているので、基板60の円周方向の延設角度を90度よりも若干大きくするだけで、第1乃至第3磁気センサ30,40,50を基板60に搭載できるので、基板60を小型化できる。   In the above embodiment, the rotating magnets 21 and 22 are arranged in two rows in the rotating shaft direction and have the same outer diameter, and the rotating magnets 21 and 22 are arranged outside the outer peripheral surfaces of the rotating magnets 21 and 22. A flat plate-like substrate 60 extending in the circumferential direction at the boundary position, and fixing the first magnetic sensor 30 to the upper surface of the substrate 60 so as to face the first magnetic pattern of the rotating magnet 21, and The second and third magnetic sensors 30 and 40 are fixed to the lower surface of the substrate 60 so as to face the second magnetic pattern. Thereby, since the 1st thru | or 3rd magnetic sensors 30, 40, and 50 can be mounted on the one board | substrate 60, the structure of a rotation detection apparatus becomes simple. Further, since the first magnetic sensor 30 is disposed between the second magnetic sensor 40 and the third magnetic sensor 50 in the circumferential direction of the rotary magnets 21 and 22, the extending angle of the substrate 60 in the circumferential direction. Since the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 can be mounted on the substrate 60 only by making the angle slightly larger than 90 degrees, the substrate 60 can be reduced in size.

b.第1及び第2磁気パターンの極数及び着磁角度について
上記実施形態では、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの角度範囲を共に180度とした。また、第1磁気パターンの極数nを「16」に設定するとともに、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2をそれぞれ「9」、「7」に設定した。しかし、上述のように、本発明は、第1及び第2ブロック22a,22bの角度範囲の合計が360度であれば、第1及び第2ブロック22a,22bの角度範囲は180度でなくてもよい。また、第1磁気パターンの極数nと、第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2とにおいては、極数nが偶数であり、極数n1,n2が共に偶数又は奇数であって、n=n1+n2の関係にあればよい。
b. Regarding the number of poles and the magnetization angle of the first and second magnetic patterns In the above embodiment, the angle ranges of the first and second blocks 22a and 22b of the second magnetic pattern are both 180 degrees. In addition, the number of poles n of the first magnetic pattern is set to “16”, and the number of poles n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b of the second magnetic pattern are set to “9” and “7”, respectively. did. However, as described above, according to the present invention, if the sum of the angle ranges of the first and second blocks 22a and 22b is 360 degrees, the angle range of the first and second blocks 22a and 22b is not 180 degrees. Also good. Further, in the number n of poles of the first magnetic pattern and the number of poles n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b, the number of poles n is an even number, and the number of poles n1 and n2 are both even or odd. Therefore, it is only necessary that n = n1 + n2.

この点について、図12及び図13を用いて説明する。図12及び図13においては、図面を見易くするために、第1磁気パターンの極数nを「8」にし、第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2の合計値n1+n2を「8」として示している。   This point will be described with reference to FIGS. In FIG. 12 and FIG. 13, in order to make the drawings easy to see, the number of poles n of the first magnetic pattern is set to “8”, and the total value n1 + n2 of the number of poles n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b is set to “ 8 ".

まず、第1及び第2ブロック22a,22bの角度範囲を180度からずらした場合について説明する。図12(a)は、第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2が「5」,「3」であり、第1ブロック22aと第2ブロック22bの境界が第1磁気パターンの5番目の磁極範囲内にある場合を示している。この場合、逆正接角度θ0,θ1,θ2は図12(b)に示すように変化し、逆正接角度θ1の5周期目の終点は逆正接角度θ0の4周期目の終点と5周期目の終点との間に位置し、逆正接角度θ2の5周期目の終点は逆正接角度θ0の2周期目の終点と3周期目の終点との間に位置する。したがって、位相差φ1,φ2は図12(c)に示すように0〜Kの間で折り返し変化し、位相差φ1は逆正接角度θ0の4周期目の終点と5周期目の終点との間で最大値となり、増加傾向から減少傾向に折り返し変化する。この折り返し点をTPとする。そして、この場合も、位相差φ2は位相差φ1から90度遅れて変化するので、増加フラグUPは折り返し点TPで“1”から“0”に反転する。   First, a case where the angle range of the first and second blocks 22a and 22b is shifted from 180 degrees will be described. In FIG. 12A, the pole numbers n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b are “5” and “3”, and the boundary between the first block 22a and the second block 22b is the first magnetic pattern. The case where it exists in the 5th magnetic pole range is shown. In this case, the inverse tangent angles θ0, θ1, and θ2 change as shown in FIG. 12B, and the end point of the fifth cycle of the inverse tangent angle θ1 is the end point of the fourth cycle and the fifth cycle of the inverse tangent angle θ0. The end point of the fifth cycle of the arc tangent angle θ2 is located between the end point of the second cycle and the end point of the third cycle of the arc tangent angle θ0. Therefore, the phase differences φ1 and φ2 change back and forth between 0 and K as shown in FIG. 12C, and the phase difference φ1 is between the end point of the fourth cycle and the end point of the fifth cycle of the arctangent angle θ0. It becomes the maximum value at, and turns back from an increasing trend to a decreasing trend. This turning point is designated as TP. Also in this case, since the phase difference φ2 changes 90 degrees behind the phase difference φ1, the increase flag UP is inverted from “1” to “0” at the turnaround point TP.

この場合、逆正接角度θ1の5周期目の終点位置の逆正接角度θ0に対する位相差φ1は、0〜2πの間の値であるので、折り返し点TPの位相差φ1である値Kは0〜2πの間の値であり、また位相差φ1は回転磁石21,22の1回転で0〜Kの間を1往復するだけであるので、位相差φ1は回転磁石21,22の回転角を表すことになる。しかし、折り返し点TPは180度位置にはないので、位相差θ1の増加時の傾斜は減少時の傾斜に比べて小さく、位相差φ1を折り返して得られる絶対回転角φ3は図12(d)の実線で示すように、折り返し点TPで傾斜角が変化する。これに対して、上記実施形態の場合には、折り返し点TPは180度位置にあり、位相差φ1の増加時及び減少時の傾斜は等しいので、絶対回転角φ3は図12(d)の破線で示すようになる。したがって、この場合には、上記実施形態の場合に比べて、絶対回転角φ3の検出精度が悪化する。このことは、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの角度範囲を180度に近い値に設定することが望ましいことを意味する。   In this case, since the phase difference φ1 with respect to the arc tangent angle θ0 of the end point position of the fifth cycle of the arc tangent angle θ1 is a value between 0 and 2π, the value K that is the phase difference φ1 of the turning point TP is 0 to 0. The phase difference φ1 is a value between 2π, and the phase difference φ1 is only one reciprocation between 0 and K in one rotation of the rotating magnets 21 and 22. Therefore, the phase difference φ1 represents the rotation angle of the rotating magnets 21 and 22. It will be. However, since the turning point TP is not at the 180 degree position, the inclination when the phase difference θ1 increases is smaller than the inclination when the phase difference θ1 decreases, and the absolute rotation angle φ3 obtained by turning back the phase difference φ1 is as shown in FIG. As shown by the solid line, the inclination angle changes at the turning point TP. On the other hand, in the case of the above embodiment, the turning point TP is at the 180 degree position, and the slopes when the phase difference φ1 increases and decreases are equal, so the absolute rotation angle φ3 is the broken line in FIG. As shown in Therefore, in this case, the detection accuracy of the absolute rotation angle φ3 is deteriorated as compared with the case of the above embodiment. This means that it is desirable to set the angle range of the first and second blocks 22a and 22b of the second magnetic pattern to a value close to 180 degrees.

また、前述のように、折り返し点TPの位相差φ1である値Kは0〜2πの間の値であり、2πより小さい。これに対して、上記実施形態の場合には、折り返し点TPの位相差φ1である値Kは2πである。したがって、この場合には、上記実施形態の場合に比べて、回転磁石21,22の1回転当たりの絶対回転角φ3の変化量が小さくなり、絶対回転角φ3の検出精度が悪化する。このことは、折り返し点TPが、逆正接角度θ1の5周期目の終点位置が逆正接角度θ0の4周期目の終点位置と一致、すなわち第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの境界角度が第1磁気パターンの極の終点位置に一致させることが、回転磁石21,22の1回転当たりの絶対回転角φ3の変化量を最大にできることを意味する。また、着磁角度λ1を大きくして、折り返し点TPすなわち逆正接角度θ1の5周期目の終点位置を、逆正接角度θ0の5周期目の終点位置に近づけることは、値K(位相差θ1−θ0)が徐々に小さくなり、回転磁石21,22の1回転当たりの絶対回転角φ3の変化量を小さくして、絶対回転角φ3の検出精度を悪化させることを意味する。なお、第1ブロック22aの着磁角度λ1は第1磁気パターンの着磁角度λ0よりも小さいので、逆正接角度θ1の5周期目が逆正接角度θ0の5周期目に達することはあり得ない。   Further, as described above, the value K that is the phase difference φ1 of the turning point TP is a value between 0 and 2π, and is smaller than 2π. On the other hand, in the case of the above embodiment, the value K, which is the phase difference φ1 of the turning point TP, is 2π. Therefore, in this case, the amount of change in the absolute rotation angle φ3 per rotation of the rotating magnets 21 and 22 is smaller than in the case of the above embodiment, and the detection accuracy of the absolute rotation angle φ3 is deteriorated. This means that the turn-back point TP matches the end point position of the fifth cycle of the arctangent angle θ1 with the end point position of the fourth cycle of the arctangent angle θ0, that is, the first and second blocks 22a and 22b of the second magnetic pattern. Is equal to the end position of the pole of the first magnetic pattern, which means that the amount of change of the absolute rotation angle φ3 per rotation of the rotating magnets 21 and 22 can be maximized. Further, increasing the magnetization angle λ1 to bring the turn point TP, that is, the end point position of the fifth cycle of the arctangent angle θ1, closer to the end point position of the fifth cycle of the arctangent angle θ0 is a value K (phase difference θ1 −θ0) is gradually reduced, which means that the amount of change in the absolute rotation angle φ3 per rotation of the rotary magnets 21 and 22 is reduced to deteriorate the detection accuracy of the absolute rotation angle φ3. Since the magnetization angle λ1 of the first block 22a is smaller than the magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern, the fifth cycle of the inverse tangent angle θ1 cannot reach the fifth cycle of the inverse tangent angle θ0. .

一方、折り返し点TPすなわち逆正接角度θ1の5周期目の終点位置を、逆正接角度θ0の4周期目の終点位置よりも図示左側にすると、すなわち逆正接角度θ1の5周期を逆正接角度θ0の4周期よりも短くすると、折り返し点TPの位相差φ1(=θ1−θ0)は、逆正接角度θ1の5周期目で2πを超えてしまう。したがって、この場合には、逆正接角度θ1は折り返し点TPに達する前に急激に減少し、絶対回転角φ3を検出できなくなる。   On the other hand, when the end point position of the fifth cycle of the turning point TP, that is, the arc tangent angle θ1, is set to the left side of the end point position of the fourth cycle of the arc tangent angle θ0, that is, the 5 cycles of the arc tangent angle θ1 are the arc tangent angle θ0. Shorter than 4 periods, the phase difference φ1 (= θ1−θ0) of the turning point TP exceeds 2π in the fifth period of the arctangent angle θ1. Therefore, in this case, the arc tangent angle θ1 decreases rapidly before reaching the turn-back point TP, and the absolute rotation angle φ3 cannot be detected.

以上の点を整理すると、極数nが「8」であり、極数n1が「5」である場合には、逆正接角度θ1の5周期目の終点位置が図13(a)のP5min〜P5maxの範囲、すなわち逆正接角度θ1の5周期が逆正接角度θ0の4周期以上かつ5周期未満の範囲であることを条件に、絶対回転角φ3の検出が可能となる。そして、逆正接角度θ1の5周期と逆正接角度θ0の4周期とが一致する場合に、絶対回転角φ3は最大に変化する。   To summarize the above points, when the number of poles n is “8” and the number of poles n1 is “5”, the end point position of the fifth cycle of the arctangent angle θ1 is P5min˜ in FIG. The absolute rotation angle φ3 can be detected on the condition that the range of P5max, that is, the 5 cycles of the arctangent angle θ1 is a range of 4 cycles or more and less than 5 cycles of the arctangent angle θ0. When the five cycles of the arc tangent angle θ1 and the four cycles of the arc tangent angle θ0 coincide, the absolute rotation angle φ3 changes to the maximum.

次に、極数nが「8」であり、極数n1が「4」である場合について説明すると、この場合には、逆正接角度θ1の4周期目の終点位置が図13(a)のP4min〜P4maxの範囲、すなわち逆正接角度θ1の4周期が逆正接角度θ0の3周期以上かつ4周期未満の範囲であることを条件に、絶対回転角φ3の検出が可能となる。そして、この場合も、逆正接角度θ1の4周期と逆正接角度θ0の3周期とが一致する場合に、絶対回転角φ3は最大に変化する。   Next, the case where the pole number n is “8” and the pole number n1 is “4” will be described. In this case, the end point position of the fourth cycle of the arctangent angle θ1 is as shown in FIG. The absolute rotation angle φ3 can be detected on the condition that the range of P4min to P4max, that is, the four cycles of the arctangent angle θ1 is in the range of 3 cycles or more and less than 4 cycles of the arctangent angle θ0. Also in this case, the absolute rotation angle φ3 changes to the maximum when the four periods of the arctangent angle θ1 coincide with the three periods of the arctangent angle θ0.

また、極数nが「8」であり、極数n1が「6」である場合について説明すると、この場合には、逆正接角度θ1の6周期目の終点位置が図13(a)のP6min〜P6maxの範囲、すなわち逆正接角度θ1の6周期が逆正接角度θ0の5周期以上かつ6周期未満の範囲であることを条件に、絶対回転角φ3の検出が可能となる。そして、この場合も、逆正接角度θ1の6周期と逆正接角度θ0の5周期とが一致する場合に、絶対回転角φ3は最大に変化する。   The case where the number of poles n is “8” and the number of poles n1 is “6” will be described. In this case, the end point position of the sixth cycle of the arctangent angle θ1 is P6min in FIG. The absolute rotation angle φ3 can be detected on the condition that the range of .about.P6max, that is, the 6 cycles of the arctangent angle θ1 is the range of 5 cycles or more and less than 6 cycles of the arctangent angle θ0. Also in this case, the absolute rotation angle φ3 changes to the maximum when the six periods of the arctangent angle θ1 coincide with the five periods of the arctangent angle θ0.

また、極数nが「8」であり、極数n1が「7」である場合について説明すると、この場合には、逆正接角度θ1の7周期目の終点位置が図13(a)のP7min〜P7maxの範囲、すなわち逆正接角度θ1の6周期が逆正接角度θ0の6周期以上かつ7周期未満の範囲であることを条件に、絶対回転角φ3の検出が可能となる。そして、この場合も、逆正接角度θ1の7周期と逆正接角度θ0の6周期とが一致する場合に、絶対回転角φ3は最大に変化する。   Further, the case where the number of poles n is “8” and the number of poles n1 is “7” will be described. In this case, the end point position of the seventh cycle of the arctangent angle θ1 is P7min in FIG. The absolute rotation angle φ3 can be detected on the condition that the range of .about.P7max, that is, the 6 cycles of the arc tangent angle θ1 is 6 cycles or more and less than 7 cycles of the arc tangent angle θ0. Also in this case, the absolute rotation angle φ3 changes to the maximum when the seven periods of the arctangent angle θ1 coincide with the six periods of the arctangent angle θ0.

このように、第1磁気パターンの極数nが「8」である場合、第2磁気パターンの第1ブロック22aの極数n1が「4」、「5」、「6」及び「7」のいずれであっても、次の条件を満足すれば、絶対回転角φ3の検出は可能である。すなわち、第1ブロック22aの角度すなわち極数n1に着磁角度λ1を乗算した値n1・λ1が、前記極数n1よりも「1」だけ小さな極数n1−1の第1磁気パターンの角度すなわち極数n1−1に着磁角度λ0を乗算した値(n1−1)・λ0以上、かつ前記極数n1の第1磁気パターンの角度すなわち極数n1に着磁角度λ0を乗算した値n1・λ0未満であれば、絶対回転角φ3の検出は可能である。なお、この場合の極数n1は、第2ブロック22bの極数n2以上であることを前提としているので、極数n1が「1」、「2」及び「3」はあり得ない。言い換えれば、第1及び第2ブロック22a,22bが相対的であるので、極数n1が「1」、「2」及び「3」を考慮する必要はない。   Thus, when the pole number n of the first magnetic pattern is “8”, the pole number n1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is “4”, “5”, “6”, and “7”. In any case, the absolute rotation angle φ3 can be detected if the following condition is satisfied. In other words, the angle of the first block 22a, that is, the value n1 · λ1 obtained by multiplying the number of poles n1 by the magnetization angle λ1 is the angle of the first magnetic pattern having the number of poles n1-1 smaller by “1” than the number of poles n1. A value obtained by multiplying the number of poles n1-1 by the magnetization angle λ0 (n1-1) · λ0 or more, and a value obtained by multiplying the angle of the first magnetic pattern of the number of poles n1, ie, the number of poles n1 by the magnetization angle λ0. If it is less than λ0, the absolute rotation angle φ3 can be detected. In this case, since the number of poles n1 is assumed to be equal to or more than the number of poles n2 of the second block 22b, the number of poles n1 cannot be “1”, “2”, or “3”. In other words, since the first and second blocks 22a and 22b are relative, it is not necessary to consider “1”, “2”, and “3” as the number of poles n1.

ただし、極数n1を「4」、「6」又は「7」に設定すると、極数n1が「5」である場合に比べて、図13(b)に示すように、折り返し点TPが回転磁石21,22の180度位置からのずれが大きくなり、角度誤差が大きくなる。また、図13(c)には、極数n1を「5」にした場合において、逆正接角度θ1の5周期目の終点位置を図13(a)のP5min〜P5maxに変化させた場合の値Kの変化範囲を示している。これにより、前述のように、逆正接角度θ1の5周期目の終点位置を逆正接角度θ0の4周期目の終点位置に近づけるほど、位相差φ1及び絶対回転角φ3の変化範囲を大きくすることができる。また、この点に関しては、極数n1を「4」、「6」及び「7」に設定した場合も同様であり、逆正接角度θ1の4周期目、6周期目及び7周期目の終点位置を、それぞれ度θ0の3周期目、5期目及び6周期目の終点位置に近づけるほど、位相差φ1及び絶対回転角φ3の変化範囲を大きくすることができる。さらに、前記例では極数nを「8」に設定した場合について説明したが、極数nを「8」以外の偶数に設定した場合にも同様な理論が成立する。   However, when the number of poles n1 is set to “4”, “6”, or “7”, the turning point TP rotates as shown in FIG. 13B compared to the case where the number of poles n1 is “5”. The deviation of the magnets 21 and 22 from the 180 degree position increases, and the angle error increases. FIG. 13C shows values when the end point position of the fifth cycle of the arctangent angle θ1 is changed from P5min to P5max in FIG. 13A when the number of poles n1 is “5”. The change range of K is shown. As a result, as described above, the change range of the phase difference φ1 and the absolute rotation angle φ3 is increased as the end point position of the fifth cycle of the arctangent angle θ1 approaches the end point position of the fourth cycle of the arctangent angle θ0. Can do. This is the same when the number of poles n1 is set to “4”, “6”, and “7”, and the end point positions of the fourth, sixth, and seventh periods of the arc tangent angle θ1. Are closer to the end positions of the third period, the fifth period, and the sixth period of the degree θ0, respectively, the change ranges of the phase difference φ1 and the absolute rotation angle φ3 can be increased. Furthermore, although the case where the number of poles n is set to “8” has been described in the above example, the same theory holds true when the number of poles n is set to an even number other than “8”.

次に、前記絶対回転角φ3の検出が可能である極数及び着磁角度について理論的な説明をしておく。ここで、第1磁気パターンの極数及び着磁角度をn,λ0とする。また、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの極数の差を2・aとして、第2磁気パターンの第1ブロック22aの極数及び着磁角度を(n/2)+a(=n1),λ1とし、第2磁気パターンの第2ブロック22bの極数及び着磁角度を(n/2)−a(=n2),λ2とする。なお、値nは偶数であり、値aはn/2未満の「0」を含む自然数である。   Next, a theoretical description will be given of the number of poles and the magnetization angle at which the absolute rotation angle φ3 can be detected. Here, the number of poles and the magnetization angle of the first magnetic pattern are n and λ0. Further, the difference in the number of poles of the first and second blocks 22a, 22b of the second magnetic pattern is 2 · a, and the number of poles and the magnetization angle of the first block 22a of the second magnetic pattern are (n / 2) + a (= N1) and λ1, and the number of poles and the magnetization angle of the second block 22b of the second magnetic pattern are (n / 2) −a (= n2) and λ2. The value n is an even number, and the value a is a natural number including “0” less than n / 2.

この場合、前記説明から明らかなように、前記絶対回転角φ3の検出を可能とするためには、下記数7が成立すればよい。また、この場合、下記数8も成立する。

Figure 2015094615
Figure 2015094615
In this case, as is apparent from the above description, the following Equation 7 may be established to enable detection of the absolute rotation angle φ3. In this case, the following equation 8 is also established.
Figure 2015094615
Figure 2015094615

前記数8を前記数7に代入して変形すれば、下記数9が成立する。なお、この数9は、前記第1磁気パターンの極数n,第2磁気パターンの第1ブロック22aの極数(n/2)+a、及び着角度λ0,λ1の関係と同様に、前記第1磁気パターンの極数n,第2磁気パターンの第2ブロック22bの極数(n/2)−a、及び着角度λ0,λ2の関係を考慮しても導き出せるものである。

Figure 2015094615
Substituting the equation 8 into the equation 7 for modification, the following equation 9 is established. The number 9 is the same as the relationship between the number n of the first magnetic pattern, the number (n / 2) + a of the first block 22a of the second magnetic pattern, and the landing angles λ0 and λ1. This can also be derived by considering the relationship between the number n of poles of one magnetic pattern, the number of poles (n / 2) -a of the second block 22b of the second magnetic pattern, and the landing angles λ0 and λ2.
Figure 2015094615

そして、前記数7と前記数9を変形すれば下記数10及び数11が成立する。

Figure 2015094615
Figure 2015094615
したがって、前記数10,11が成立すれば、絶対回転角φ3の検出が可能となる。 Then, if Equation 7 and Equation 9 are modified, the following Equation 10 and Equation 11 are established.
Figure 2015094615
Figure 2015094615
Therefore, if Equations 10 and 11 are established, the absolute rotation angle φ3 can be detected.

ただし、上述した説明からも分かるように、第1ブロック22aの極数と第2ブロック22bの極数との差aが「0」又は「2」であれば、折り返し点TPを180度又は180度近くにすることができる。また、前記差aが「0」である場合には、折り返し点TPを180度から離すに従って、値K(すなわち位相差φ1、φ2)は2πに近づく。一方、前記差aが「2」である場合には、折り返し点TPを180度に近づけるに従って、値K(すなわち位相差φ1、φ2)は2πに近づく。したがって、高い精度を保ったままで絶対回転角の分解能を高めるためには、前記差aは「2」であることが好ましい。   However, as can be seen from the above description, if the difference a between the number of poles of the first block 22a and the number of poles of the second block 22b is “0” or “2”, the turning point TP is set to 180 degrees or 180 degrees. Can be close. When the difference a is “0”, the value K (that is, the phase differences φ1, φ2) approaches 2π as the turning point TP is moved away from 180 degrees. On the other hand, when the difference a is “2”, the value K (that is, the phase differences φ1 and φ2) approaches 2π as the turning point TP approaches 180 degrees. Therefore, in order to increase the resolution of the absolute rotation angle while maintaining high accuracy, the difference a is preferably “2”.

c.シミュレーション例
上記実施形態の説明、並びに上記第1及び第2磁気パターンの極数及び着磁角度では、着磁角度λ0,λ1,λ2の制限については触れなかった。しかし、実際の製品化においては、着磁角度λ0,λ1,λ2の精度の問題があるので、製品化における着磁角度λ0,λ1,λ2の制限を考慮して行った複数のシミュレーション結果について説明しておく。
c. Simulation Example In the description of the above embodiment, and the number of poles and the magnetization angle of the first and second magnetic patterns, no limitation was imposed on the magnetization angles λ0, λ1, and λ2. However, since there is a problem with the accuracy of the magnetization angles λ0, λ1, and λ2 in actual production, a plurality of simulation results performed considering the limitations on the magnetization angles λ0, λ1, and λ2 in commercialization will be described. Keep it.

c1.絶対回転角φ3を検出可能なシミュレーション例
まず、絶対回転角φ3を検出可能な第1乃至第3シミュレーション例について説明する。第1シミュレーション例としては、第1磁気パターンの極数nは「16」であり、第2磁気パターンにおける第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2はそれぞれ「9」、「7」である。そして、第1磁気パターンの着磁角度λ0は22.5度であり、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は20.05度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は25.65度である。この条件は前記数10,11の条件を満足する。また、第1ブロック22aの角度範囲は180.45度であり、第2ブロック22bの角度範囲は179.55度であり、両角度範囲は180度に極めて近い。したがって、位相差φ1,φ2及び増加フラグUP、絶対回転角φ3、並びに角度誤差Δφ3は上述した図10(a)(b)(c)とほぼ同じになり、絶対回転角φ3の変化範囲及び誤差も極めて小さくなる。
c1. Simulation examples capable of detecting the absolute rotation angle φ3 First, first to third simulation examples capable of detecting the absolute rotation angle φ3 will be described. As a first simulation example, the number of poles n of the first magnetic pattern is “16”, and the number of poles n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b in the second magnetic pattern are “9” and “7”, respectively. It is. The magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern is 22.5 degrees, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 20.05 degrees, and the second block 22b of the second magnetic pattern. The magnetization angle λ2 is 25.65 degrees. This condition satisfies the conditions of Equations 10 and 11 above. The angle range of the first block 22a is 180.45 degrees, the angle range of the second block 22b is 179.55 degrees, and both angle ranges are extremely close to 180 degrees. Therefore, the phase differences φ1, φ2, the increase flag UP, the absolute rotation angle φ3, and the angle error Δφ3 are substantially the same as those in FIGS. 10A, 10B, and 10C, and the change range and error of the absolute rotation angle φ3. Is also extremely small.

第2シミュレーション例としては、第1磁気パターンの極数nは「16」であり、第2磁気パターンにおける第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2はそれぞれ「8」、「8」である。そして、第1磁気パターンの着磁角度λ0は22.5度であり、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は19.75度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は25.25度である。この条件も前記数10,11の条件を満足する。また、第1ブロック22aの角度範囲は158.00度であり、第2ブロック22bの角度範囲は202.00度となる。   As a second simulation example, the number of poles n of the first magnetic pattern is “16”, and the number of poles n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b in the second magnetic pattern are “8” and “8”, respectively. It is. The magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern is 22.5 degrees, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 19.75 degrees, and the second block 22b of the second magnetic pattern. The magnetization angle λ2 is 25.25 degrees. This condition also satisfies the conditions of Equations 10 and 11 above. The angle range of the first block 22a is 158.00 degrees, and the angle range of the second block 22b is 202.00 degrees.

この第2シミュレーション例における位相差φ1,φ2及び増加フラグUP、絶対回転角φ3、並び角度誤差Δφ3を図14(a)(b)(c)にそれぞれ示す。この場合、位相差φ1の折り返し点TPは180度から小さい側にずれて、絶対回転角の傾斜も前記折り返し点TPで変化し、角度誤差Δφ3も比較的大きくなる。なお、位相差φ1及び絶対回転角φ3の変化範囲も前記第1シミュレーション例の場合よりも小さくなる。その結果、この第2シミュレーション例に検出精度は、前記第1シミュレーション例の検出精度よりも悪化する。しかし、このような第2シミュレーション例による回転検出装置でも、回転角度θとして360度を必要とせずに、特定角度範囲の精度を要求する用途(例えば、ロボットアーム等)とっては、有効である。   FIGS. 14A, 14B, and 14C show the phase differences φ1, φ2, the increase flag UP, the absolute rotation angle φ3, and the alignment angle error Δφ3 in the second simulation example, respectively. In this case, the turning point TP of the phase difference φ1 shifts from 180 degrees to the smaller side, the inclination of the absolute rotation angle also changes at the turning point TP, and the angle error Δφ3 becomes relatively large. Note that the change ranges of the phase difference φ1 and the absolute rotation angle φ3 are also smaller than in the first simulation example. As a result, the detection accuracy in the second simulation example is worse than the detection accuracy in the first simulation example. However, the rotation detection device according to the second simulation example is effective for an application (for example, a robot arm) that requires the accuracy of a specific angle range without requiring 360 degrees as the rotation angle θ. .

第3シミュレーション例としては、第1磁気パターンの極数nは「16」であり、第2磁気パターンにおける第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2はそれぞれ「10」、「6」である。そして、第1磁気パターンの着磁角度λ0は22.5度であり、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は20.37度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は26.05度である。この条件も前記数10,11の条件を満足する。また、第1ブロック22aの角度範囲は203.70度であり、第2ブロック22bの角度範囲は156.30度となる。   As a third simulation example, the number of poles n of the first magnetic pattern is “16”, and the number of poles n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b in the second magnetic pattern are “10” and “6”, respectively. Is. The magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern is 22.5 degrees, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 20.37 degrees, and the second block 22b of the second magnetic pattern. The magnetization angle λ2 is 26.05 degrees. This condition also satisfies the conditions of Equations 10 and 11 above. The angle range of the first block 22a is 203.70 degrees, and the angle range of the second block 22b is 156.30 degrees.

この第3シミュレーション例における位相差φ1,φ2及び増加フラグUP、絶対回転角φ3、並び角度誤差Δφ3を図15(a)(b)(c)にそれぞれ示す。この場合、位相差φ1の折り返し点TPは180度から大きい側にずれて、絶対回転角の傾斜も前記折り返し点TPで変化し、角度誤差Δφ3も比較的大きくなる。なお、位相差φ1及び絶対回転角φ3の変化範囲も前記第1シミュレーション例の場合よりも小さくなる。その結果、この第3シミュレーション例に検出精度は、前記第1シミュレーション例の検出精度よりも悪化する。しかし、このような第3シミュレーション例による回転検出装置でも、回転角度θとして360度を必要とせずに、特定角度範囲の精度を要求する用途(例えば、ロボットアーム等)とっては、有効である。   FIGS. 15A, 15B, and 15C show the phase differences φ1, φ2, the increase flag UP, the absolute rotation angle φ3, and the alignment angle error Δφ3 in the third simulation example, respectively. In this case, the turning point TP of the phase difference φ1 shifts from 180 degrees to the larger side, the inclination of the absolute rotation angle also changes at the turning point TP, and the angle error Δφ3 becomes relatively large. Note that the change ranges of the phase difference φ1 and the absolute rotation angle φ3 are also smaller than in the first simulation example. As a result, the detection accuracy in this third simulation example is worse than that in the first simulation example. However, the rotation detection device according to the third simulation example is effective for an application (for example, a robot arm) that requires the accuracy of a specific angle range without requiring 360 degrees as the rotation angle θ. .

c2.絶対回転角φ3を検出不能なシミュレーション例
次に、絶対回転角φ3を検出不能な第4乃至第6シミュレーション例について説明する。第4シミュレーション例としては、第1磁気パターンの極数nは「16」であり、第2磁気パターンにおける第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2はそれぞれ「9」、「7」である。そして、第1磁気パターンの着磁角度λ0は22.5度であり、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は19.970度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は25.753度である。この条件は前記数10,11の条件を満足しない。なお、第1ブロック22aの角度範囲は179.73度であり、第2ブロック22bの角度範囲は180.27度となる。
c2. Next, fourth to sixth simulation examples in which the absolute rotation angle φ3 cannot be detected will be described. As a fourth simulation example, the pole number n of the first magnetic pattern is “16”, and the pole numbers n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b in the second magnetic pattern are “9” and “7”, respectively. It is. The magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern is 22.5 degrees, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 19.970 degrees, and the second block 22b of the second magnetic pattern. The magnetization angle λ2 is 25.753 degrees. This condition does not satisfy the conditions of Equations 10 and 11. The angle range of the first block 22a is 179.73 degrees, and the angle range of the second block 22b is 180.27 degrees.

この第4シミュレーション例における位相差φ1及び増加フラグUP、並び絶対回転角φ3を図16(a)(b)にそれぞれ示す。この場合、位相差φ1が最大値に達した位置で急激に減少して折り返し点TPが存在しなくなり、かつ増加フラグUPも回転角度の180度までの範囲で“1”から“0”に2回変化する。そして、絶対回転角φ3は、急激に変化する回転角度が存在する。したがって、この第4シミュレーション例では、絶対回転角φ3の検出が不能となる。   FIGS. 16A and 16B show the phase difference φ1, the increase flag UP, and the absolute rotation angle φ3 in the fourth simulation example, respectively. In this case, at the position where the phase difference φ1 reaches the maximum value, the turn-back point TP does not exist and the increase flag UP also changes from “1” to “0” in the range of the rotation angle of 180 degrees. Change times. The absolute rotation angle φ3 has a rotation angle that changes rapidly. Therefore, in the fourth simulation example, the absolute rotation angle φ3 cannot be detected.

第5シミュレーション例としては、第1磁気パターンの極数nは「18」であり、第2磁気パターンにおける第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2はそれぞれ「10」、「8」である。そして、第1磁気パターンの着磁角度λ0は20.0度であり、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は17.930度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は22.588度である。この条件も前記数10,11の条件を満足しない。なお、第1ブロック22aの角度範囲は179.30度であり、第2ブロック22bの角度範囲は180.70度となる。この第5シミュレーション例における位相差φ1及び増加フラグUP、並び絶対回転角φ3を図17(a)(b)にそれぞれ示す。この場合も、前記第4シミュレーション例の場合と同様に、絶対回転角φ3の検出が不能となる。   As a fifth simulation example, the pole number n of the first magnetic pattern is “18”, and the pole numbers n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b in the second magnetic pattern are “10” and “8”, respectively. Is. The magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern is 20.0 degrees, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 17.930 degrees, and the second block 22b of the second magnetic pattern. Is 22.588 degrees. This condition also does not satisfy the conditions of Equations 10 and 11. The angle range of the first block 22a is 179.30 degrees, and the angle range of the second block 22b is 180.70 degrees. FIGS. 17A and 17B show the phase difference φ1, the increase flag UP, and the absolute rotation angle φ3 in the fifth simulation example, respectively. Also in this case, as in the case of the fourth simulation example, the absolute rotation angle φ3 cannot be detected.

第6シミュレーション例としては、第1磁気パターンの極数nは「20」であり、第2磁気パターンにおける第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2はそれぞれ「11」、「9」である。そして、第1磁気パターンの着磁角度λ0は18.0度であり、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は16.310度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は20.066度である。この条件も前記数10,11の条件を満足しない。なお、第1ブロック22aの角度範囲は179.41度であり、第2ブロック22bの角度範囲は180.59度となる。この第6シミュレーション例における位相差φ1及び増加フラグUP、並び絶対回転角φ3を図18(a)(b)にそれぞれ示す。この場合も、前記第4シミュレーション例の場合と同様に、絶対回転角φ3の検出が不能となる。   As a sixth simulation example, the number of poles n of the first magnetic pattern is “20”, and the number of poles n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b in the second magnetic pattern are “11” and “9”, respectively. Is. The magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern is 18.0 degrees, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 16.310 degrees, and the second block 22b of the second magnetic pattern. Is 20.066 degrees. This condition also does not satisfy the conditions of Equations 10 and 11. The angle range of the first block 22a is 179.41 degrees, and the angle range of the second block 22b is 180.59 degrees. FIGS. 18A and 18B show the phase difference φ1, the increase flag UP, and the absolute rotation angle φ3 in the sixth simulation example, respectively. Also in this case, as in the case of the fourth simulation example, the absolute rotation angle φ3 cannot be detected.

c3.検出可能な絶対回転角φ3の変化範囲を示すシミュレーション例
次に、絶対回転角φ3を検出可能であるが、着磁角度λ1,λ2の関係を異ならせて場合、すなわち前記折り返し点TPを異ならせた第7乃至第9シミュレーション例について説明する。第7乃至第9シミュレーション例のいずれの場合も、第1磁気パターンの極数nは「16」であり、第2磁気パターンにおける第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2はそれぞれ「9」、「7」であり、第1磁気パターンの着磁角度λ0は22.5度である。
c3. Example of simulation showing change range of detectable absolute rotation angle φ3 Next, the absolute rotation angle φ3 can be detected, but when the relationship between the magnetization angles λ1 and λ2 is different, that is, the folding point TP is changed. Next, seventh to ninth simulation examples will be described. In any of the seventh to ninth simulation examples, the pole number n of the first magnetic pattern is “16”, and the pole numbers n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b in the second magnetic pattern are respectively “9” and “7”, and the magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern is 22.5 degrees.

第7シミュレーション例では、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は20.010度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は25.701度である。この条件は前記数10,11の条件を満足する。また、第1ブロック22aの角度範囲は180.09度であり、第2ブロック22bの角度範囲は179.91度となる。   In the seventh simulation example, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 20.010 degrees, and the magnetization angle λ2 of the second block 22b of the second magnetic pattern is 25.701 degrees. This condition satisfies the conditions of Equations 10 and 11 above. The angle range of the first block 22a is 180.09 degrees, and the angle range of the second block 22b is 179.91 degrees.

第8シミュレーション例では、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は20.690度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は24.827度である。この条件も前記数10,11の条件を満足する。また、第1ブロック22aの角度範囲は186.21度であり、第2ブロック22bの角度範囲は173.79度となる。   In the eighth simulation example, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 20.690 degrees, and the magnetization angle λ2 of the second block 22b of the second magnetic pattern is 24.827 degrees. This condition also satisfies the conditions of Equations 10 and 11 above. The angle range of the first block 22a is 186.21 degrees, and the angle range of the second block 22b is 173.79 degrees.

第9シミュレーション例では、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1は21.200度であり、第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2は24.171度である。この条件も前記数10,11の条件を満足する。また、第1ブロック22aの角度範囲は190.80度であり、第2ブロック22bの角度範囲は169.20度となる。   In the ninth simulation example, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern is 21.200 degrees, and the magnetization angle λ2 of the second block 22b of the second magnetic pattern is 24.171 degrees. This condition also satisfies the conditions of Equations 10 and 11 above. The angle range of the first block 22a is 190.80 degrees, and the angle range of the second block 22b is 169.20 degrees.

図19は、第7乃至第9シミュレーション例における絶対回転角φ3の変化を示す。この場合、絶対回転角φ3の変化範囲が第7シミュレーション例から第9シミュレーションに向かって徐々に小さくなる。これは、上述したように、折り返して位置TPが180度から離れるに従って(図示矢印参照)、位相差φ1の最大値Kが2πから徐々に減少するためである(図13参照)。したがって、これらの第7乃至第9シミュレーション結果は、上述した着磁角度λ1,λ2と極数n1,n2との関係で述べたことと一致する。   FIG. 19 shows changes in the absolute rotation angle φ3 in the seventh to ninth simulation examples. In this case, the change range of the absolute rotation angle φ3 gradually decreases from the seventh simulation example toward the ninth simulation. This is because, as described above, the maximum value K of the phase difference φ1 gradually decreases from 2π as the position TP is turned back from 180 degrees (see the arrow in the figure) (see FIG. 13). Accordingly, the seventh to ninth simulation results are in agreement with the above-described relationship between the magnetization angles λ1 and λ2 and the pole numbers n1 and n2.

d.変形例
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変形も可能である。
d. Modifications The embodiment of the present invention has been described above. However, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the object of the present invention.

d1.磁気抵抗素子に関する変形例
上記実施形態の第1乃至第3磁気センサ30,40,50においては、第1フルブリッジ回路31,41,51を4個の異方性磁気抵抗効果素子(第1フルブリッジ回路31の場合には、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31d)をフルブリッジ接続して構成するとともに、第2フルブリッジ回路32,42,52を4個の異方性磁気抵抗効果素子((第2フルブリッジ回路32の場合には、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32d)をフルブリッジ接続して構成するようにした。しかし、本発明においては、第1フルブリッジ回路31,41,51及び第2フルブリッジ回路32,42,52が、第1及び第2磁気パターンの1極当たり1周期であって、位相が90度異なる1対の正弦波状の検出信号をそれぞれ出力するものであれば、フルブリッジ回路を異方性磁気抵抗効果素子で構成しなくても、他の磁気抵抗素子で構成するようにしてもよい。
d1. Modified Example Regarding Magnetoresistive Element In the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 of the above embodiment, the first full bridge circuit 31, 41, 51 is composed of four anisotropic magnetoresistive elements (first full resistance element). In the case of the bridge circuit 31, the anisotropic magnetoresistive effect elements 31a, 31b, 31c, and 31d) are configured by full-bridge connection, and the second full-bridge circuits 32, 42, and 52 are formed by four anisotropic elements. The magnetoresistive effect element ((in the case of the second full bridge circuit 32, anisotropic magnetoresistive effect elements 32a, 32b, 32c, 32d) is configured by full bridge connection. The first full bridge circuit 31, 41, 51 and the second full bridge circuit 32, 42, 52 have one cycle per pole of the first and second magnetic patterns, and the phases are different by 90 degrees. As long as it outputs a pair of sinusoidal detection signals, the full bridge circuit may not be composed of anisotropic magnetoresistive elements, but may be composed of other magnetoresistive elements.

例えば、第1フルブリッジ回路31,41,51及び第2フルブリッジ回路32,42,52を、それぞれ下記(1)乃至(3)の磁気抵抗素子で構成してもよい。
(1)強磁性層と非磁性層との多層膜からなる人工格子型磁気抵抗素子
(2)強磁性金属からなるnmサイズの微粒子と、非磁性金属からなる粒界相とを備えた金属−金属系ナノグラニュラー磁気抵抗素子
(3)nmサイズの強磁性金属合金微粒子と、非磁性・絶縁性材料からなる粒界相とを備えた金属−絶縁体系ナノグラニュラー磁気抵抗素子
これらの(1)乃至(3)の磁気抵抗素子においては、上記実施形態の異方性磁気抵抗効果素子に比べて異方性は弱いので、素子のアスペクト比を大きくするか、透磁率の高い磁性体を素子近傍に置くことにより集磁効果によって異方性を高めるようにするとよい。
For example, the first full bridge circuits 31, 41, 51 and the second full bridge circuits 32, 42, 52 may be constituted by the following magnetoresistive elements (1) to (3).
(1) Artificial lattice type magnetoresistive element composed of a multilayer film of a ferromagnetic layer and a nonmagnetic layer (2) Metal having nm size fine particles composed of a ferromagnetic metal and a grain boundary phase composed of a nonmagnetic metal Metal-based nanogranular magnetoresistive element (3) Metal-insulator nanogranular magnetoresistive element comprising nanometer-sized ferromagnetic metal alloy fine particles and a grain boundary phase made of a nonmagnetic insulating material. ), The anisotropy is less than that of the anisotropic magnetoresistive element of the above embodiment. Therefore, increase the aspect ratio of the element or place a magnetic material having high permeability near the element. Therefore, the anisotropy may be increased by the magnetic flux collecting effect.

d2.磁気抵抗素子の配置の変形例
また、上記実施形態の第1乃至第3磁気センサ30,40,50においては、第1フルブリッジ回路31,41,51と第2フルブリッジ回路32,42,52を同一位置にて重ねて、第1フルブリッジ回路31,41,51の4個の異方性磁気抵抗素子が配置された第1平面と、第2フルブリッジ回路32,42,52の4個の異方性磁気抵抗素子が配置された第2平面とが平行であり、かつ第1フルブリッジ回路31,41,51の4個の異方性磁気抵抗素子の重心位置C1(以下、単に第1フルブリッジ回路の重心位置C1という)が、第2フルブリッジ回路32,42,52の4個の異方性磁気抵抗素子の重心位置C2(以下、単に第2フルブリッジ回路の重心位置C2という)を通り、かつ第2平面(及び第1平面)と直交する直線上に位置するようにした。すなわち、第1フルブリッジ回路の重心位置C1と、第2フルブリッジ回路の重心位置C2とが、第1及び第2平面を構成する2次元座標の同一座標位置に位置するようにした。
d2. Modified Examples of Arrangement of Magnetoresistive Elements In the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 of the above-described embodiment, the first full bridge circuits 31, 41, 51 and the second full bridge circuits 32, 42, 52 are provided. Are stacked at the same position, and the first plane on which the four anisotropic magnetoresistive elements of the first full bridge circuits 31, 41, 51 are arranged, and the four pieces of the second full bridge circuits 32, 42, 52. Of the four anisotropic magnetoresistive elements of the first full-bridge circuits 31, 41, 51 (hereinafter simply referred to as the first plane). 1 is the center of gravity position C2 of the four anisotropic magnetoresistive elements of the second full bridge circuits 32, 42, 52 (hereinafter simply referred to as the center of gravity position C2 of the second full bridge circuit). ) And the second plane ( And on the straight line perpendicular to the first plane). That is, the gravity center position C1 of the first full bridge circuit and the gravity center position C2 of the second full bridge circuit are located at the same coordinate position of the two-dimensional coordinates constituting the first and second planes.

しかし、これに代えて、第1フルブリッジ回路31と同一構成のフルブリッジ回路を45度回転させて第2フルブリッジ回路32とし、両重心位置C1,C2を前記ように一致させて、第1フルブリッジ回路31と前記45度回転させた第2フルブリッジ回路32とを重ねることにより第1磁気センサ30を構成してもよい。また、逆に、第2フルブリッジ回路32と同一構成のフルブリッジ回路を45度回転させて第1フルブリッジ回路31とし、両重心位置C1,C2を前記ように一致させて、前記45度回転させた第1フルブリッジ回路31と第2フルブリッジ回路32とを重ねることにより第1磁気センサ30を構成してもよい。第2及び第3磁気センサ40,50も前記と同様に構成してもよい。   However, instead of this, a full bridge circuit having the same configuration as that of the first full bridge circuit 31 is rotated by 45 degrees to form the second full bridge circuit 32, and both the center of gravity positions C1 and C2 are made to coincide with each other as described above. The first magnetic sensor 30 may be configured by overlapping the full bridge circuit 31 and the second full bridge circuit 32 rotated by 45 degrees. Conversely, the full bridge circuit having the same configuration as the second full bridge circuit 32 is rotated by 45 degrees to form the first full bridge circuit 31, and both the center of gravity positions C1 and C2 are made coincident as described above and rotated by 45 degrees. The first magnetic sensor 30 may be configured by overlapping the first full-bridge circuit 31 and the second full-bridge circuit 32 that have been made to overlap each other. The second and third magnetic sensors 40 and 50 may be configured in the same manner as described above.

また、第1フルブリッジ回路31(又は第1フルブリッジ回路41,51)を構成する4個の異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dと、第2フルブリッジ回路32(又は第2フルブリッジ回路42,52)を構成する4個の異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dとを同一平面上に配置して、第1フルブリッジ回路の重心位置C1と第2フルブリッジ回路の重心位置C2を一致させるようにしてもよい。以下、同一平面上に設けた4個の異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dと4個の異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dとの配置例について説明するが、この場合の「上下」及び「左右」は図面上における位置関係を示す。   Further, the four anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, 31d constituting the first full bridge circuit 31 (or the first full bridge circuits 41, 51) and the second full bridge circuit 32 (or the first full bridge circuit 41, 51). The four anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, 32d constituting the two full bridge circuits 42, 52) are arranged on the same plane, and the center of gravity position C1 of the first full bridge circuit and the second You may make it make the gravity center position C2 of a full bridge circuit correspond. Hereinafter, an arrangement example of four anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, 31d and four anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, 32d provided on the same plane will be described. However, “upper and lower” and “left and right” in this case indicate a positional relationship on the drawing.

例えば、図20(a)に示すように、異方性磁気抵抗効果素子32a,32cを重心位置Co(重心位置C1,C2と同じ)を挟んで上下に配置し、異方性磁気抵抗効果素子32a,32cの右側に異方性磁気抵抗効果素子31a,31bを重心位置Coを挟んで上下に配置し、異方性磁気抵抗効果素子32a,32cの左側に異方性磁気抵抗効果素子31d,31cを重心位置Coを挟んで上下に配置し、異方性磁気抵抗効果素子31a,31bの右側に異方性磁気抵抗効果素子32aを重心位置Coを中心にして配置し、かつ異方性磁気抵抗効果素子31d,31cの左側に異方性磁気抵抗効果素子32bを重心位置Coを中心にして配置する。   For example, as shown in FIG. 20 (a), anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32c are arranged above and below the center of gravity position Co (same as the center of gravity positions C1 and C2). Anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31b are arranged above and below the center of gravity Co on the right side of 32a and 32c, and anisotropic magnetoresistive elements 31d and 31c are arranged on the left side of the anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32c. 31c is arranged above and below the center of gravity position Co, and the anisotropic magnetoresistive element 32a is arranged on the right side of the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31b with the center of gravity position Co as the center. An anisotropic magnetoresistance effect element 32b is arranged on the left side of the resistance effect elements 31d and 31c with the center of gravity position Co as the center.

また、図20(b)に示すように、異方性磁気抵抗効果素子32a,32dを重心位置Coの上側にて重心位置Coを挟んで左右に配置し、異方性磁気抵抗効果素子31a,31dを重心位置Coの下側にて重心位置Coを挟んで左右に配置し、異方性磁気抵抗効果素子31b,31cを重心位置Coの上側にて異方性磁気抵抗効果素子32a,32dの左右外側に配置し、異方性磁気抵抗効果素子32b,32cを重心位置Coの下側にて異方性磁気抵抗効果素子31a、31dの左右外側に配置してもよい。   Further, as shown in FIG. 20B, the anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32d are arranged on the left and right sides of the center of gravity position Co above the center of gravity position Co so that the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31a, 31d is arranged on the lower side of the center of gravity position Co on the right and left sides of the center of gravity position Co, and the anisotropic magnetoresistive elements 31b and 31c are arranged on the upper side of the center of gravity position Co with respect to the anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32d. The anisotropic magnetoresistive elements 32b and 32c may be arranged on the left and right outer sides of the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31d below the gravity center position Co.

また、図20(c)に示すように、異方性磁気抵抗効果素子32d,31d,32c,31a,32b,31b,32a,31cを、重心位置Coを中心にして上から時計方向回りに配置してもよい。   Also, as shown in FIG. 20 (c), the anisotropic magnetoresistive elements 32d, 31d, 32c, 31a, 32b, 31b, 32a, 31c are arranged clockwise from above about the center of gravity position Co. May be.

また、図20(d)に示すように、異方性磁気抵抗効果素子31d,31c,31b,31aを重心位置Coを中心にして上から時計方向回りに配置し、異方性磁気抵抗効果素子32a,32b及び異方性磁気抵抗効果素子32d,32cを異方性磁気抵抗効果素子31d,31c,31b,31aの外側にて重心位置Coを中心に左右両側に配置してもよい。これらによっても、第1乃至第3磁気センサ30,40,50から出力される検出信号A0、B0,A1,B1,A2,B2は上記実施形態と同じになる。   Also, as shown in FIG. 20 (d), anisotropic magnetoresistive elements 31d, 31c, 31b, 31a are arranged clockwise from above about the center of gravity position Co, and the anisotropic magnetoresistive elements The 32a and 32b and the anisotropic magnetoresistive elements 32d and 32c may be arranged on the left and right sides of the center of gravity center Co outside the anisotropic magnetoresistive elements 31d, 31c, 31b and 31a. Also by these, the detection signals A0, B0, A1, B1, A2, and B2 output from the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 are the same as those in the above embodiment.

前記のような変形例では、第1乃至第3磁気センサ30,40,50のそれぞれにおいて、第1ブリッジ回路31,41,51を構成する複数の異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dと、第2ブリッジ回路32,42,52を構成する複数の異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dとを同一の平面内に配置し、複数の異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dの重心位置C1と、複数の異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dの重心位置C2とを一致させるようにした。これにより、上記実施形態の場合と同様に、第1及び第2フルブリッジ回路31,32,41,42,51,52は、同じ大きさで変化する磁界の変化を検出するので、第1乃至第3磁気センサ30,40,50から出力される各2つの検出信号A0、B0,A1,B1,A2,B2の精度が向上して、検出される回転軸10の絶対回転角φ3が高精度となる。また、複数の異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,31c,31dと複数の異方性磁気抵抗効果素子32a,32b,32c,32dは、同一の平面内に配置させているので、第1乃至第3磁気センサ30,40,50の製造工程において、第1及び第2フルブリッジ31,32,41,42,51,52を一つの製造工程で同時に製造でき、第1乃至第3磁気センサ30,40,50を簡単かつ安価に製造できるという効果もある。   In the modified example as described above, in each of the first to third magnetic sensors 30, 40, 50, the plurality of anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c constituting the first bridge circuits 31, 41, 51 are provided. , 31d and a plurality of anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, 32d constituting the second bridge circuits 32, 42, 52 are arranged in the same plane, and a plurality of anisotropic magnetoresistive effects are arranged. The centroid position C1 of the elements 31a, 31b, 31c, 31d and the centroid position C2 of the plurality of anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, 32d are made to coincide with each other. Thus, as in the case of the above-described embodiment, the first and second full bridge circuits 31, 32, 41, 42, 51, and 52 detect changes in the magnetic field that change with the same magnitude. The accuracy of each of the two detection signals A0, B0, A1, B1, A2, and B2 output from the third magnetic sensors 30, 40, and 50 is improved, and the detected absolute rotation angle φ3 of the rotary shaft 10 is highly accurate. It becomes. Further, since the plurality of anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 31c, 31d and the plurality of anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b, 32c, 32d are arranged in the same plane, the first In the manufacturing process of the third magnetic sensor 30, 40, 50, the first and second full bridges 31, 32, 41, 42, 51, 52 can be manufactured simultaneously in one manufacturing process. There is also an effect that 30, 40, 50 can be manufactured easily and inexpensively.

なお、この変形例に係る第1乃至第3磁気センサ30,40,50においても、上記(1)乃至(3)の人工格子型磁気抵抗素子、金属−金属系ナノグラニュラー磁気抵抗素子又は属−絶縁体系ナノグラニュラー磁気抵抗素子を用いて、第1及び第2フルブリッジ31,32,41,42,51,52を構成してもよい。   In the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 according to this modification, the artificial lattice type magnetoresistive element, the metal-metal nanogranular magnetoresistive element or the genus-insulator of the above (1) to (3) are also used. The first and second full bridges 31, 32, 41, 42, 51, 52 may be configured using systematic nano-granular magnetoresistive elements.

d3.ハーフブリッジ回路の採用
また、上記実施形態では、第1乃至第3磁気センサ30,40,50をそれぞれ第1フルブリッジ回路31,41,51及び第2フルブリッジ回路32,42,52で構成するようにした。しかし、これに代えて、第1乃至第3磁気センサ30,40,50をそれぞれハーフブリッジ回路で構成してもよい。
d3. In the above embodiment, the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 are configured by the first full bridge circuits 31, 41, and 51 and the second full bridge circuits 32, 42, and 52, respectively. I did it. However, instead of this, the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 may each be constituted by a half-bridge circuit.

この場合、上記第1フルブリッジ回路31,41,51に代えて、図21(a)に示すように、上記実施形態と同様な異方性磁気抵抗効果素子31a,31bで第1ハーフブリッジ回路を構成する。そして、異方性磁気抵抗効果素子31a,31bの両端に電源電圧+Vcc,−Vccを印加して、異方性磁気抵抗効果素子31a,31bの接続点の電圧信号を取り出し、この取出した電圧信号を上記実施形態の検出信号A0,A1,A2としてA/D変換器70に供給するようにする。また、第2フルブリッジ回路32,42,52に代えて、図21(b)に示すように、上記実施形態と同様な異方性磁気抵抗効果素子32a,32bで第2ハーフブリッジ回路を構成する。そして、異方性磁気抵抗効果素子32a,32bの両端に電源電圧+Vcc,−Vccを印加して、異方性磁気抵抗効果素子32a,32bの接続点の電圧信号を取り出し、この取出した電圧信号を上記実施形態の検出信号B0,B1,B2としてA/D変換器70に供給するようにする。   In this case, instead of the first full-bridge circuits 31, 41, 51, as shown in FIG. 21A, the first half-bridge circuit is composed of anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b similar to those of the above-described embodiment. Configure. Then, power supply voltages + Vcc and -Vcc are applied to both ends of the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31b to extract voltage signals at the connection points of the anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31b. Are supplied to the A / D converter 70 as the detection signals A0, A1, A2 of the above embodiment. Further, in place of the second full bridge circuits 32, 42, 52, as shown in FIG. 21B, the second half bridge circuit is configured by anisotropic magnetoresistive elements 32a, 32b similar to those of the above embodiment. To do. Then, power supply voltages + Vcc and -Vcc are applied to both ends of the anisotropic magnetoresistive effect elements 32a and 32b to extract a voltage signal at the connection point of the anisotropic magnetoresistive effect elements 32a and 32b. Are supplied to the A / D converter 70 as the detection signals B0, B1, and B2 of the above embodiment.

この場合も、第1ハーフブリッジ回路と第2ハーフブリッジ回路を同一位置にて重ねて配置する場合には、第1ハーフブリッジ回路の2個の異方性磁気抵抗素子31a,31bが配置された第1平面と、第2ハーフブリッジ回路の2個の異方性磁気抵抗素子32a,32bが配置された第2平面とが平行であり、かつ第1ハーフブリッジ回路の2個の異方性磁気抵抗素子31a,31bの重心位置C1(中点位置)が、第2ハーフブリッジ回路の2個の異方性磁気抵抗素子32a,32bの重心位置C2(中点位置)を通り、かつ第2平面(及び第1平面)に直交する直線上に位置するようにするとよい。また、第1ハーフブリッジ回路の2個の異方性磁気抵抗素子31a,31bと、第2ハーフブリッジ回路の2個の異方性磁気抵抗素子32a,32bとを同一平面上に配置する場合には、第1ハーフブリッジ回路の2個の異方性磁気抵抗素子31a,31bの重心位置C1と、第2ハーフブリッジ回路の2個の異方性磁気抵抗素子32a,32bの重心位置C2とが同一平面上で同じになるようにするとよい。   Also in this case, when the first half bridge circuit and the second half bridge circuit are arranged to overlap at the same position, the two anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31b of the first half bridge circuit are arranged. The first plane and the second plane on which the two anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32b of the second half bridge circuit are arranged are parallel, and the two anisotropic magnetism of the first half bridge circuit The gravity center position C1 (middle point position) of the resistance elements 31a and 31b passes through the gravity center position C2 (middle point position) of the two anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32b of the second half bridge circuit, and the second plane. It may be located on a straight line orthogonal to (and the first plane). Further, when the two anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31b of the first half bridge circuit and the two anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32b of the second half bridge circuit are arranged on the same plane. Is the center of gravity C1 of the two anisotropic magnetoresistive elements 31a and 31b of the first half bridge circuit and the center of gravity C2 of the two anisotropic magnetoresistive elements 32a and 32b of the second half bridge circuit. It is good to make it the same on the same plane.

このように、第1乃至第3磁気センサ30,40,50をそれぞれ第1及び第2ハーフブリッジで構成することにより、上記第1乃至第3磁気センサ30,40,50をそれぞれ第1及び第2フルブリッジ回路31,32,41,42,51,52で構成した場合に比べて、精度は悪くなるが、第1乃至第3磁気センサ30,40,50を簡単に構成することができる。なお、この場合も、前記両重心位置C1,C2がずれていると多少の誤差はでるが、両重心位置C1,C2は近くにあれば実用上は問題ない。さらに、この第1乃至第3磁気センサ30,40,50をそれぞれ第1及び第2ハーフブリッジで構成した場合でも、異方性磁気抵抗効果素子31a,31b,32a,32bに代えて、上記(1)乃至(3)の人工格子型磁気抵抗素子、金属−金属系ナノグラニュラー磁気抵抗素子又は属−絶縁体系ナノグラニュラー磁気抵抗素子を用いてもよい。   As described above, the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 are configured by the first and second half bridges, respectively, so that the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 are respectively the first and second half sensors. The first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 can be easily configured, although the accuracy is lower than that of the two full-bridge circuits 31, 32, 41, 42, 51, and 52. In this case as well, there is a slight error if both the center of gravity positions C1 and C2 are shifted, but there is no practical problem as long as both center of gravity positions C1 and C2 are close. Further, even when the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 are configured by the first and second half bridges, respectively, instead of the anisotropic magnetoresistive elements 31a, 31b, 32a, and 32b, the above ( The artificial lattice type magnetoresistive element, metal-metal nanogranular magnetoresistive element or genus-insulator nanogranular magnetoresistive element of 1) to (3) may be used.

d4.ブリッジ回路の配置の変形例
上記実施形態及び変形例の第1乃至第3磁気センサ30,40,50においては、第1フルブリッジ回路31,41,51(又は第1ハーフブリッジ回路)及び第2フルブリッジ回路32,42,52(又は第2ハーフブリッジ回路)を異なる構成(位相が90度異なる正弦波信号を発生する構成)にして、第1フルブリッジ回路31,41,51(又は第1ハーフブリッジ回路)及び第2フルブリッジ回路32,42,52(又は第2ハーフブリッジ回路)の両重心位置C1,C2を、回転磁石21,22の回転軸に対して円周方向及び径方向の同一位置に配置するようにした。しかし、前記第1フルブリッジ回路31,41,51(又は第1ハーフブリッジ回路)及び第2フルブリッジ回路32,42,52(又は第2ハーフブリッジ回路)を同一の構成にして、回転磁石21,22の1極の1/4の角度だけ離れた位置(90度離れた位置)にそれぞれ配置するようにしてもよい。
d4. Modified Examples of Arrangement of Bridge Circuits In the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 of the above-described embodiment and modified examples, the first full bridge circuits 31, 41, 51 (or the first half bridge circuit) and the second The full bridge circuits 32, 42, 52 (or the second half bridge circuit) have different configurations (configurations that generate sine wave signals having a phase difference of 90 degrees), and the first full bridge circuits 31, 41, 51 (or the first The center-of-gravity positions C1, C2 of the half bridge circuit) and the second full bridge circuit 32, 42, 52 (or the second half bridge circuit) are set in the circumferential direction and the radial direction with respect to the rotation axes of the rotating magnets 21, 22. It was arranged at the same position. However, the first full bridge circuit 31, 41, 51 (or the first half bridge circuit) and the second full bridge circuit 32, 42, 52 (or the second half bridge circuit) have the same configuration, and the rotating magnet 21 , 22 may be arranged at positions separated by a quarter angle of one pole (position 90 degrees apart).

例えば、上述した図3に対応させた図22に示すように、上述した第1フルブリッジ回路31と同一構成のフルブリッジ回路を第1フルブリッジ回路31’として位置aに配置し、かつ上述した第1フルブリッジ回路31と同一構成のフルブリッジ回路を第2フルブリッジ回路31”として位置bに配置する。これによっても、第1及び第2フルブリッジ回路31’,31”の出力信号は、回転磁石21,22の回転に伴って共に正弦波状に変化し、90度位相差を有することになる。その結果、これによっても、上記実施形態及び各種変形例の場合と同様に、絶対回転角φ3の検出が可能となる。また、この場合も、第1及び第2フルブリッジ回路31’,32”に代えて、上述した第2フルブリッジ回路32を用いてもよいし、他のフルブリッジ回路を用いてもよい。また、フルブリッジ回路に代えてハーフブリッジ回路を用いてもよい。   For example, as shown in FIG. 22 corresponding to FIG. 3 described above, a full bridge circuit having the same configuration as the first full bridge circuit 31 described above is arranged at the position a as the first full bridge circuit 31 ′, and the above described A full bridge circuit having the same configuration as that of the first full bridge circuit 31 is arranged as the second full bridge circuit 31 ″ at the position b. Also by this, the output signals of the first and second full bridge circuits 31 ′ and 31 ″ are As the rotary magnets 21 and 22 rotate, they both change in a sine wave shape and have a 90-degree phase difference. As a result, this also makes it possible to detect the absolute rotation angle φ3 as in the case of the above embodiment and various modifications. Also in this case, the second full bridge circuit 32 described above may be used instead of the first and second full bridge circuits 31 ′ and 32 ″, or another full bridge circuit may be used. Instead of the full bridge circuit, a half bridge circuit may be used.

ただし、第1磁気パターンの着磁角度λ0、第2磁気パターンの第1ブロック22aの着磁角度λ1、及び第2磁気パターンの第2ブロック22bの着磁角度λ2はそれぞれ異なり、λ1<λ0<λ2の関係にある。したがって、前述のように、第1及び第2フルブリッジ回路31’,31”を回転磁石21,22の1極の1/4の角度だけ離れた位置(90度離れた位置)にそれぞれ配置するとは言っても、一義的には定まらない。この場合、着磁角度λ1,λ2の間の角度である着磁角度λ0に着目して、第1磁気パターンの1極の1/4の角度だけ離れた位置(90度離れた位置)に、第1及び第2フルブリッジ回路31’、32”を配置する。これによれば、第1磁気センサ30からの正弦波状の検出信号A0,B0の位相差、第2磁気センサ40からの正弦波状の検出信号A1,B1の位相差、及び第3磁気センサ50からの正弦波状の検出信号A2,B2間の位相差は、それぞれほぼ90度となる。したがって、第1乃至第3磁気センサ30,40,50から出力される検出信号A0,B0,A1,B1,A2、B2の誤差を小さくすることができる。特に、第1磁気パターンの着磁角度λ0と、第2磁気パターンの第1及び第2ブロック22a,22bの着磁角度λ1,λ2とのそれぞれの差λ0−λ1,λ2−λ0を小さくすれば、この誤差を小さくすることができる。   However, the magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern, the magnetization angle λ1 of the first block 22a of the second magnetic pattern, and the magnetization angle λ2 of the second block 22b of the second magnetic pattern are different, and λ1 <λ0 < There is a relationship of λ2. Therefore, as described above, when the first and second full bridge circuits 31 ′ and 31 ″ are arranged at positions separated by a quarter angle of one pole of the rotating magnets 21 and 22 (positions separated by 90 degrees), respectively. However, in this case, paying attention to the magnetization angle λ0, which is the angle between the magnetization angles λ1 and λ2, only the quarter angle of one pole of the first magnetic pattern is used. The first and second full bridge circuits 31 ′ and 32 ″ are arranged at positions separated (positions separated by 90 degrees). According to this, the phase difference between the sinusoidal detection signals A0 and B0 from the first magnetic sensor 30, the phase difference between the sinusoidal detection signals A1 and B1 from the second magnetic sensor 40, and the third magnetic sensor 50 The phase difference between the sinusoidal detection signals A2 and B2 is approximately 90 degrees. Therefore, errors in the detection signals A0, B0, A1, B1, A2, and B2 output from the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 can be reduced. In particular, if the respective differences λ0−λ1, λ2−λ0 between the magnetization angle λ0 of the first magnetic pattern and the magnetization angles λ1 and λ2 of the first and second blocks 22a and 22b of the second magnetic pattern are reduced. This error can be reduced.

d5.回転磁石の配置の変形例
上記実施形態及び各種変形例においては、回転磁石21,22を回転軸方向に2列に設けるようにしたが、回転磁石21,22を径方向に2列に設けるようにしてもよい。図23(a)〜(c)は、この変形例に係る回転検出装置を概略的に表している。図23(a)は平面図であり、図23(b)は側面図であり、図23(c)は下面図である。なお、図23(c)においては、基板60を省略してその位置を仮想線で示している。
d5. Variations of Arrangement of Rotating Magnets In the embodiment and various variations described above, the rotating magnets 21 and 22 are provided in two rows in the direction of the rotation axis, but the rotating magnets 21 and 22 are provided in two rows in the radial direction. It may be. 23A to 23C schematically show a rotation detection device according to this modification. 23 (a) is a plan view, FIG. 23 (b) is a side view, and FIG. 23 (c) is a bottom view. In FIG. 23 (c), the substrate 60 is omitted and the position thereof is indicated by a virtual line.

この回転検出装置は、回転軸10を有する円形の回転板11の下面に、環状に形成した第1及び第2回転磁石21A,22Aをその上面にて同心円状に固定して、第1及び第2回転磁石21A,22Aを回転板11の下方に突出させている。第1及び第2回転磁石21A,22Aは、上記実施形態と同様な第1及び第2磁気パターンを有する。すなわち、第1磁気パターンは、円周方向に全周(360度)に渡って等間隔(着磁角度λ0)でN極とS極とを交互に着磁した着磁パターンである。第2磁気パターンは、所定角度に渡って等間隔(着磁角度λ1)でN極とS極とを交互に着磁した着磁パターンである第1ブロック22aと、360度から前記所定角度を減算した角度に渡って等間隔(着磁角度λ2)でN極とS極とを交互に着磁した着磁パターンである第2ブロック22bとからなる着磁パターンである。   In the rotation detection device, first and second rotating magnets 21A and 22A formed in an annular shape are fixed concentrically on the lower surface of a circular rotating plate 11 having a rotating shaft 10, and the first and first rotating magnets are fixed. Two rotating magnets 21 </ b> A and 22 </ b> A are projected below the rotating plate 11. The first and second rotating magnets 21A and 22A have the same first and second magnetic patterns as in the above embodiment. That is, the first magnetic pattern is a magnetization pattern in which N and S poles are alternately magnetized at equal intervals (magnetization angle λ0) over the entire circumference (360 degrees) in the circumferential direction. The second magnetic pattern is a first block 22a that is a magnetized pattern in which N and S poles are alternately magnetized at equal intervals (magnetization angle λ1) over a predetermined angle, and the predetermined angle from 360 degrees. This is a magnetization pattern comprising a second block 22b which is a magnetization pattern in which N and S poles are alternately magnetized at equal intervals (magnetization angle λ2) over the subtracted angle.

図23では、第1磁気パターンの極数nは「16」であり、第1及び第2ブロック22a,22bの極数n1,n2は[9]、「7」であり、かつ前記所定角度は180度である。しかし、これらの極数n,n1,n2は、上述したように、極数nが偶数であるとともに極数n1,n2の加算値n1+n2に等しく、かつ極数n1,n2が共に偶数であるか、又は共に奇数であればよい。また、第1及び第2ブロック22a,22bの角度の合計が360度であれば、第1及び第2ブロック22a,22bの角度は180度でなくてもよい。なお、極数n,n1,n2及び着磁角度λ0,λ1,λ2の関係も上述した数10,11の関係にあればよい。   In FIG. 23, the pole number n of the first magnetic pattern is “16”, the pole numbers n1 and n2 of the first and second blocks 22a and 22b are [9] and “7”, and the predetermined angle is 180 degrees. However, as described above, the number of poles n, n1, and n2 is equal to the number n of poles, and is equal to the added value n1 + n2 of the number of poles n1 and n2, and both the numbers of poles n1 and n2 are even. Or both may be odd numbers. If the sum of the angles of the first and second blocks 22a and 22b is 360 degrees, the angle of the first and second blocks 22a and 22b may not be 180 degrees. It should be noted that the relationship between the number of poles n, n1, and n2 and the magnetization angles λ0, λ1, and λ2 may be in the relationship of the above-described equations 10 and 11.

なお、この場合、第1磁気パターン及び第2磁気パターンをそれぞれ磁化した回転磁石21A,22Aを径方向に隔離して設けたり、張り合わせて構成したりしてもよい。また、回転磁石21A,22Aを、一体である磁性体に第1磁気パターン及び第2磁気パターンを磁化して構成してもよい。   In this case, the rotating magnets 21A and 22A magnetized with the first magnetic pattern and the second magnetic pattern may be provided separately in the radial direction, or may be configured to be bonded together. Further, the rotary magnets 21A and 22A may be configured by magnetizing the first magnetic pattern and the second magnetic pattern on an integral magnetic body.

また、この変形例に係る回転検出装置においても、第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aを備えている。第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aは、上記実施形態又はその変形例の場合と同様に構成されている。第1磁気センサ30Aは、その感磁面に対して回転磁石21Aの回転軸が直交するように基板60の上面に固定されて、回転磁石21A(第1磁気パターン)の上下方向の中間位置にて、回転磁石21Aの径方向内側に配置されている。第2及び第3磁気センサ40,50は、その感磁面に対して回転磁石22Aの回転軸が直交するように基板60の上面に固定されて、回転磁石22A(第2磁気パターン)の上下方向の中間位置にて、回転磁石22Aの径方向外側に配置されている。なお、基板60の上面には、第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aを支持する支持部60a,60b,60cが一体的に設けられている。   The rotation detection device according to this modification also includes first to third magnetic sensors 30A, 40A, and 50A. The 1st thru | or 3rd magnetic sensors 30A, 40A, 50A are comprised similarly to the case of the said embodiment or its modification. The first magnetic sensor 30A is fixed to the upper surface of the substrate 60 so that the rotation axis of the rotating magnet 21A is orthogonal to the magnetic sensitive surface, and is positioned at an intermediate position in the vertical direction of the rotating magnet 21A (first magnetic pattern). And it is arrange | positioned at the radial inside of the rotating magnet 21A. The second and third magnetic sensors 40 and 50 are fixed to the upper surface of the substrate 60 so that the rotation axis of the rotating magnet 22A is orthogonal to the magnetic sensing surface, and the upper and lower surfaces of the rotating magnet 22A (second magnetic pattern) are fixed. It is arranged on the radially outer side of the rotating magnet 22A at an intermediate position in the direction. On the upper surface of the substrate 60, support portions 60a, 60b, and 60c that support the first to third magnetic sensors 30A, 40A, and 50A are integrally provided.

第1磁気センサ30Aの中心位置(重心位置)から回転磁石21Aの内面までの径方向距離と、第2及び第3磁気センサ40A,50Aの中心位置(重心位置)から回転磁石22Aの外面までの径方向距離は全て同じである。また、この場合も、第2及び第3磁気センサ40A,50Aの円周方向位置は回転磁石21A,22Aの回転軸回りに90度互いに異なり、第1磁気センサ30Aの円周方向位置は回転磁石21A,22Aの回転軸回りのいずれの位置でもよいが、基板60の面積を小さくするために、円周方向において第2及び第3磁気センサ40A,50A間であるとよい。基板60は、回転磁石21Aの内面よりも若干内側の位置から回転磁石22Aの外面から若干外側位置まで径方向に延設されるとともに、90度よりも若干大きな角度だけ円周方向に延設されて平板状に構成されており、図示しない部材に固定されている。なお、この基板60上に前述した電気回路が配置されている点も上記実施形態と同じである。   The radial distance from the center position (center of gravity position) of the first magnetic sensor 30A to the inner surface of the rotating magnet 21A, and from the center position (center of gravity position) of the second and third magnetic sensors 40A, 50A to the outer surface of the rotating magnet 22A. All radial distances are the same. Also in this case, the circumferential positions of the second and third magnetic sensors 40A and 50A are different from each other by 90 degrees around the rotation axis of the rotating magnets 21A and 22A, and the circumferential position of the first magnetic sensor 30A is the rotating magnet. Although it may be any position around the rotation axis of 21A and 22A, in order to reduce the area of the substrate 60, it may be between the second and third magnetic sensors 40A and 50A in the circumferential direction. The substrate 60 extends in a radial direction from a position slightly inside the inner surface of the rotating magnet 21A to an outer position from the outer surface of the rotating magnet 22A, and extends in the circumferential direction by an angle slightly larger than 90 degrees. And is fixed to a member (not shown). The point that the above-described electric circuit is disposed on the substrate 60 is the same as that in the above embodiment.

他の構成は、上記実施形態及びその変形例の場合と同じであり、この変形例に係る回転検出装置も上記実施形態及びその変形例と同様に動作する。したがって、この変形例に係る回転検出装置によっても、上記実施形態及びその変形例と同様な機能的効果が期待される。   Other configurations are the same as those of the above-described embodiment and its modification, and the rotation detection device according to this modification also operates in the same manner as the above-described embodiment and its modification. Therefore, also with the rotation detection device according to this modification, the same functional effect as that of the above embodiment and the modification is expected.

また、この変形例においては、回転磁石21A,22Aを環状に形成し、回転磁石21A,22Aの回転軸方向において一致した位置にて径方向に2列に配置されており、回転磁石21A,22Aの下面から離れた位置にて、前記下面に対向するように、円周方向に延設された平板状の基板60を配置し、第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aを基板60の上面に固定して、第1磁気センサ30Aを回転磁石21Aの第1磁気パターンに対向させ、かつ第2及び第3磁気センサ30A,40Aを回転磁石22Aの第2磁気パターンに対向させるようにした。したがって、この変形例においても、第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aを一つの基板60上に搭載させることができるので、回転検出装置の構造が簡単になる。さらに、この変形例でも、第1磁気センサ30Aは、回転磁石21A,22Aの円周方向において、第2及び第3磁気センサ40A,50A間に配置されているので、基板60の円周方向の延設角度を90度よりも若干大きくするだけで、第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aを基板60に搭載できて、基板60を小型化できる。   In this modification, the rotating magnets 21A and 22A are formed in an annular shape, and are arranged in two rows in the radial direction at positions that coincide with each other in the rotating shaft direction of the rotating magnets 21A and 22A. A plate-like substrate 60 extending in the circumferential direction is disposed at a position away from the lower surface of the substrate so as to face the lower surface, and the first to third magnetic sensors 30A, 40A, and 50A are disposed on the substrate 60. Fixed to the upper surface, the first magnetic sensor 30A is opposed to the first magnetic pattern of the rotating magnet 21A, and the second and third magnetic sensors 30A, 40A are opposed to the second magnetic pattern of the rotating magnet 22A. . Therefore, also in this modification, the first to third magnetic sensors 30A, 40A, and 50A can be mounted on one substrate 60, so that the structure of the rotation detection device is simplified. Further, in this modification as well, the first magnetic sensor 30A is disposed between the second and third magnetic sensors 40A and 50A in the circumferential direction of the rotating magnets 21A and 22A. The first to third magnetic sensors 30A, 40A, and 50A can be mounted on the substrate 60 by making the extension angle slightly larger than 90 degrees, and the substrate 60 can be reduced in size.

d6.磁気センサの配置の変形例
上記実施形態及びその変形例では、第1磁気センサ30を基板60の上面に固定するとともに、第2及び第3磁気センサ40,50を基板60の下面に固定した。しかし、これに代えて、基板60を回転磁石21,22の下方に設けて、第1乃至第3磁気センサ30,40,50の全てを基板60の上面に固定するようにしてもよい。また、基板60を回転磁石21,22の上方に設けて、第1乃至第3磁気センサ30,40,50の全てを基板60の下面に固定するようにしてもよい。この場合、基板60の上面又は下面に、前記d5の変形例で説明したような支持部60a,60b,60cを設けるようにすればよい。なお、この場合の第1乃至第3磁気センサ30,40,50の回転軸10に対する軸線方向位置、径方向位置及び円周方向位置は上記実施形態の場合と同じである。
d6. Modified Example of Arrangement of Magnetic Sensor In the embodiment and the modified example thereof, the first magnetic sensor 30 is fixed to the upper surface of the substrate 60, and the second and third magnetic sensors 40, 50 are fixed to the lower surface of the substrate 60. However, instead of this, the substrate 60 may be provided below the rotary magnets 21, 22, and all of the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 may be fixed to the upper surface of the substrate 60. Further, the substrate 60 may be provided above the rotary magnets 21 and 22 so that all of the first to third magnetic sensors 30, 40 and 50 are fixed to the lower surface of the substrate 60. In this case, the support portions 60a, 60b, and 60c as described in the modified example of d5 may be provided on the upper surface or the lower surface of the substrate 60. In this case, the axial position, radial position, and circumferential position of the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 with respect to the rotating shaft 10 are the same as those in the above embodiment.

また、回転磁石21,22を環状に形成すれば、回転磁石21,22の第1及び第2磁気パターンは回転磁石21,22の内側においても、回転磁石21,22の回転軸が直交する平行な面内にて磁界を発生する。なお、この場合には、前記d5の変形例で説明したような回転軸10と一体回転する回転板11の上面又は下面に、回転磁石21,22をその下面又は上面にて固定する。そして、このように回転磁石21,22を環状に形成した場合には、第1乃至第3磁気センサ30,40,50の一部又は全てを、回転磁石21,22の内側に配置するようにしてもよい。なお、この場合の第1乃至第3磁気センサ30,40,50の回転軸10に対する軸線方向位置及び円周方向位置は上記実施形態と同じであり、第1乃至第3磁気センサ30,40,50の一部又は全ての回転軸10に対する径方向位置を回転磁石21,22の内側にする。   Further, if the rotary magnets 21 and 22 are formed in an annular shape, the first and second magnetic patterns of the rotary magnets 21 and 22 are parallel to the rotary magnets 21 and 22 so that the rotation axes of the rotary magnets 21 and 22 are orthogonal to each other. A magnetic field is generated in a smooth plane. In this case, the rotating magnets 21 and 22 are fixed to the upper or lower surface of the rotating plate 11 that rotates integrally with the rotating shaft 10 as described in the modified example of d5. When the rotary magnets 21 and 22 are formed in an annular shape as described above, a part or all of the first to third magnetic sensors 30, 40 and 50 are arranged inside the rotary magnets 21 and 22. May be. In this case, the axial position and the circumferential position of the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 with respect to the rotating shaft 10 are the same as those in the above embodiment, and the first to third magnetic sensors 30, 40, The radial position with respect to a part or all of the rotation shafts 50 is set inside the rotary magnets 21 and 22.

さらに、上記実施形態及びその変形例では、第1乃至第3磁気センサ30,40,50を、回転磁石21,22の回転軸が第1乃至第3磁気センサ30,40,50の感磁面に対して直交するように、回転磁石21,22の側面の外側又は内側に配置した。しかし、回転磁石21,22の第1及び第2磁気パターンは回転磁石21,22の上面側及び下面側においても、回転磁石21,22の回転軸と平行な面内にて磁界を発生する。したがって、図24(a)の上面図に示すように、第1磁気センサ30を、感磁面が回転磁石21,22の接線方向と平行になるように、回転磁石21,22の上面の上側に配置するようにしてもよい。また、図24(b)の下面図に示すように、第2及び第2磁気センサ40,50を、感磁面が回転磁石21,22の接線方向と平行になるように、回転磁石21,22の下面の下側に配置するようにしてもよい。この場合も、第1乃至第3磁気センサ30,40,50の径方向及び円周方向の位置関係は上記第1実施形態及びその変形例の場合と同じである。これによっても、絶対回転角φ3の検出が可能である。   Furthermore, in the above-described embodiment and the modification thereof, the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50 have the rotational axes of the rotary magnets 21 and 22 and the magnetic sensitive surfaces of the first to third magnetic sensors 30, 40, and 50. It arrange | positioned on the outer side or inner side of the side surface of the rotating magnets 21 and 22 so that it might orthogonally cross with respect to. However, the first and second magnetic patterns of the rotating magnets 21 and 22 generate a magnetic field on the upper surface side and the lower surface side of the rotating magnets 21 and 22 in a plane parallel to the rotation axis of the rotating magnets 21 and 22. Therefore, as shown in the top view of FIG. 24 (a), the first magnetic sensor 30 is placed on the upper side of the upper surface of the rotating magnets 21, 22 so that the magnetic sensitive surface is parallel to the tangential direction of the rotating magnets 21, 22. You may make it arrange | position to. Further, as shown in the bottom view of FIG. 24B, the second and second magnetic sensors 40 and 50 are arranged so that the magnetosensitive surfaces are parallel to the tangential direction of the rotary magnets 21 and 22. You may make it arrange | position below the lower surface of 22. Also in this case, the positional relationship between the radial direction and the circumferential direction of the first to third magnetic sensors 30, 40, 50 is the same as that of the first embodiment and the modification thereof. This also makes it possible to detect the absolute rotation angle φ3.

また、前記d5の変形例においては、第1磁気センサ30Aを回転磁石21Aの内側に設けるとともに、第2及び第3磁気センサ40A,50Aを回転磁石22Aの外側に設けるようにした。しかし、回転磁石21Aの着磁パターンと回転磁石22Aの着磁パターンを入れ替えれば、第1磁気センサ30Aを回転磁石22Aの外側に設けるとともに、第2及び第3磁気センサ40A,50Aを回転磁石21Aの内側に設けるようにしてもよい。なお、この場合の第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aの回転軸10に対する軸線方向位置及び円周方向位置は前記d5の変形例と同じである。   In the modified example of d5, the first magnetic sensor 30A is provided inside the rotating magnet 21A, and the second and third magnetic sensors 40A, 50A are provided outside the rotating magnet 22A. However, if the magnetization pattern of the rotary magnet 21A and the magnetization pattern of the rotary magnet 22A are interchanged, the first magnetic sensor 30A is provided outside the rotary magnet 22A, and the second and third magnetic sensors 40A, 50A are provided as the rotary magnet 21A. You may make it provide inside. In this case, the axial position and the circumferential position of the first to third magnetic sensors 30A, 40A, 50A with respect to the rotating shaft 10 are the same as in the modified example of d5.

また、前記d5の変形例における回転磁石21A,22A間に間隔を設けるとともに磁気遮蔽部材を設け、又は回転磁石21A,22A間の径方向の間隔を充分に大きくすれば、回転磁石21A,22Aは、回転磁石21A,22Aの内外両側において、回転磁石21A,22Aの回転軸10が直交する平行な面内にて磁界を発生する。したがって、この場合には、第1磁気センサ30Aを回転磁石21Aの外側に設けたり、第2及び/又は第3磁気センサ40A,50Aを回転磁石22Aの内側に設けるようにしてもよい。なお、この場合も、第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aの回転軸10に対する軸線方向位置及び円周方向位置は前記d5の変形例と同じである。   Further, if a gap is provided between the rotating magnets 21A and 22A and a magnetic shielding member is provided in the modified example of d5, or the radial gap between the rotating magnets 21A and 22A is sufficiently increased, the rotating magnets 21A and 22A are On both the inner and outer sides of the rotating magnets 21A and 22A, magnetic fields are generated in parallel planes where the rotating shafts 10 of the rotating magnets 21A and 22A are orthogonal to each other. Therefore, in this case, the first magnetic sensor 30A may be provided outside the rotating magnet 21A, or the second and / or third magnetic sensors 40A, 50A may be provided inside the rotating magnet 22A. In this case as well, the axial position and the circumferential position of the first to third magnetic sensors 30A, 40A, 50A with respect to the rotating shaft 10 are the same as in the modified example of d5.

また、前記のように、回転磁石21A,22A間の径方向の間隔を充分に大きくして、回転磁石21Aの外側に第1磁気センサ21Aを配置し、又は回転磁石21A,22A間若しくは回転磁石22Aの外側に第2及び第2磁気センサ30A,30Bを配置する場合には、回転磁石21Aを環状でなく円形状に形成してもよい。これらの変形例をまとめると、回転磁石21Aに第1磁気パターンを形成するとともに、回転磁石22Aに第2磁気パターンを形成し、回転磁石21Aを円形状又は環状に形成し、かつ回転磁石22Aを回転磁石21Aの外径よりも大きな内径を有する環状に形成し、回転磁石21A,22Aを回転軸方向において一致した位置にて径方向に2列に回転軸を同一にして配置する。そして、第1磁気センサ30Aを回転磁石21Aの第1磁気パターンの外周面の外側又は第1磁気パターンの内周面の内側に対向させて配置し、かつ第2及び第3磁気センサ40A,50Aを回転磁石22Aの第2磁気パターンの外周面の外側又は第2磁気パターンの内周面の内側に対向させて配置するようにしてもよい。また、回転磁石21Aに第2磁気パターンを形成するとともに、回転磁石22Aに第1磁気パターンを形成し、第2及び第3磁気センサ40A、50Aを回転磁石21Aの第2磁気パターンの外周面の外側又は第2磁気パターンの内周面の内側にて対向させて配置し、かつ第1磁気センサ30Aを回転磁石22Aの第1磁気パターンの外周面の外側又は第1磁気パターンの内周面の内側に対向させて配置するようにしてもよい。   Further, as described above, the radial interval between the rotating magnets 21A and 22A is sufficiently large, and the first magnetic sensor 21A is disposed outside the rotating magnet 21A, or between the rotating magnets 21A and 22A or the rotating magnet. When the second and second magnetic sensors 30A and 30B are arranged outside 22A, the rotating magnet 21A may be formed in a circular shape instead of an annular shape. To summarize these modifications, the first magnetic pattern is formed on the rotating magnet 21A, the second magnetic pattern is formed on the rotating magnet 22A, the rotating magnet 21A is formed in a circular shape or an annular shape, and the rotating magnet 22A is formed. The rotary magnet 21A is formed in an annular shape having an inner diameter larger than the outer diameter, and the rotary magnets 21A and 22A are arranged in two rows in the radial direction with the same rotary shaft at the same position in the rotary shaft direction. The first magnetic sensor 30A is disposed opposite the outer peripheral surface of the first magnetic pattern of the rotating magnet 21A or the inner peripheral surface of the first magnetic pattern, and the second and third magnetic sensors 40A, 50A. May be arranged to face the outside of the outer peripheral surface of the second magnetic pattern of the rotating magnet 22A or the inner side of the inner peripheral surface of the second magnetic pattern. Further, the second magnetic pattern is formed on the rotating magnet 21A, the first magnetic pattern is formed on the rotating magnet 22A, and the second and third magnetic sensors 40A and 50A are arranged on the outer peripheral surface of the second magnetic pattern of the rotating magnet 21A. The first magnetic sensor 30A is arranged on the outer side or on the inner side of the inner peripheral surface of the second magnetic pattern, and the first magnetic sensor 30A is disposed on the outer side of the outer peripheral surface of the first magnetic pattern of the rotating magnet 22A or You may make it arrange | position facing an inner side.

さらに、前記d5の変形例においても、第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aを、回転磁石21A,22Aの回転軸が感磁面に対して直交するように、回転磁石21,22の側面の内側及び外側に配置した。しかし、この場合も、回転磁石21A,22A(第1及び第2磁気パターン)は、回転磁石21,22の下面側においても、回転磁石21,22の回転軸と平行な面内にて磁界を発生する。したがって、図25の下面図に示すように、第1磁気センサ30Aを、感磁面が回転磁石21A(第1磁気パターン)の接線方向と平行になるように、回転磁石21Aの下面の下側に配置するようにしてもよい。また、第2及び第2磁気センサ40A,50Aを、感磁面が回転磁石22A(第2磁気パターン)の接線方向と平行になるように、回転磁石22Aの下面の下側に配置するようにしてもよい。この場合も、第1乃至第3磁気センサ30A,40A,50Aの径方向及び円周方向の位置関係は上記第1実施形態及びその変形例の場合と同じである。これらの各種変形例によっても、絶対回転角φ3の検出が可能である。   Further, also in the modified example of d5, the first to third magnetic sensors 30A, 40A, 50A are arranged so that the rotating magnets 21 and 22 are arranged so that the rotational axes of the rotating magnets 21A and 22A are orthogonal to the magnetic sensitive surface. Arranged inside and outside the side. However, also in this case, the rotating magnets 21A and 22A (first and second magnetic patterns) generate a magnetic field in a plane parallel to the rotation axis of the rotating magnets 21 and 22 also on the lower surface side of the rotating magnets 21 and 22. Occur. Therefore, as shown in the bottom view of FIG. 25, the first magnetic sensor 30A is placed under the lower surface of the rotating magnet 21A so that the magnetic sensitive surface is parallel to the tangential direction of the rotating magnet 21A (first magnetic pattern). You may make it arrange | position to. Further, the second and second magnetic sensors 40A and 50A are arranged below the lower surface of the rotating magnet 22A so that the magnetosensitive surface is parallel to the tangential direction of the rotating magnet 22A (second magnetic pattern). May be. Also in this case, the positional relationship in the radial direction and the circumferential direction of the first to third magnetic sensors 30A, 40A, 50A is the same as in the case of the first embodiment and its modification. Also by these various modifications, the absolute rotation angle φ3 can be detected.

d7.その他の変形例
さらに、上記実施形態及び各種変形例においては、本発明に係る回転検出装置を回転軸を貫通させた回転検出装置について説明したが、当然、本発明に係る回転検出装置は回転軸を貫通させない回転検出装置にも適用されるものである。
d7. Other Modifications Furthermore, in the above-described embodiment and various modifications, the rotation detection device according to the present invention has been described with respect to the rotation detection device. However, naturally, the rotation detection device according to the present invention has a rotation shaft. The present invention is also applied to a rotation detection device that does not pass through.

10…回転軸、11…回転板、21,22,21A,22A…回転磁石、30,30A…第1磁気センサ、40,40A…第2磁気センサ、50,50A…第3磁気センサ、31,41,51…第1フルブリッジ回路、32,42,52…第2フルブリッジ回路、33,34,43,44,53,54…差動増幅器、60…基板、70…A/D変換器、80…信号処理回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Rotating shaft, 11 ... Rotating plate, 21, 22, 21A, 22A ... Rotating magnet, 30, 30A ... 1st magnetic sensor, 40, 40A ... 2nd magnetic sensor, 50, 50A ... 3rd magnetic sensor, 31, 41, 51 ... first full bridge circuit, 32, 42, 52 ... second full bridge circuit, 33, 34, 43, 44, 53, 54 ... differential amplifier, 60 ... substrate, 70 ... A / D converter, 80. Signal processing circuit

Claims (13)

円形状又は環状に形成されて円周方向に沿ってN極とS極を交互に配置させた第1磁気パターンを有し、回転体に取付けられて前記回転体の回転に応じて回転する第1回転磁石と、
円形状又は環状に形成されて円周方向に沿ってN極とS極を交互に配置させた第2磁気パターンを有し、前記回転体に取付けられて前記回転体の回転に応じて前記第1回転磁石と共通の回転軸回りに回転する第2回転磁石と、
前記第1磁気パターンに対向して配置され、前記第1磁気パターンによる磁界の変化を検出して、前記第1磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号を出力する第1磁気センサと、
前記第2磁気パターンに対向して配置され、前記第2磁気パターンによる磁界の変化を検出して、前記第2磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号を出力する第2磁気センサと、
前記第2磁気パターンに対向するとともに、前記第2磁気センサから前記第2回転磁石の円周方向に90度離れて配置され、前記第2磁気パターンによる磁界の変化を検出して、前記第2磁気パターンの1極当たり1周期の位相の異なる2つの検出信号を出力する第3磁気センサとを備えた回転検出装置であって、
前記第1磁気パターンは、第1着磁角度で均等にN極及びS極に交互に着磁されて、偶数である極数を有し、
前記第2磁気パターンは、前記第1着磁角度より小さな第2着磁角度で均等にN極及びS極に交互に着磁された第1ブロックと、前記第1着磁角度より大きな第3着磁角度で均等にN極及びS極に交互に着磁された第2ブロックとからなり、
前記第1ブロックの極数と前記第2ブロックの極数の和が前記第1磁気パターンの極数に等しく設定されており、
前記第1乃至第3着磁角度をそれぞれλ0,λ1,λ2とし、前記1磁気パターンの極数と、前記第2磁気パターンの第1及び第2ブロックの合計極数とをそれぞれnとし、前記1ブロックの極数と前記第2ブロックの極数の差を2・aとすると、
(n+2a−2)/(n+2・a)≦λ1/λ0<1及び
1<λ2/λ0≦(n−2・a+2) /(n−2・a)
の不等式を満たすようにした回転検出装置。
A first magnetic pattern formed in a circular shape or in an annular shape and having N poles and S poles arranged alternately along the circumferential direction, and is attached to a rotating body and rotates according to the rotation of the rotating body; One rotating magnet,
A second magnetic pattern formed in a circular shape or in an annular shape and having N and S poles arranged alternately along a circumferential direction, and is attached to the rotating body, and the second magnetic pattern is rotated according to the rotation of the rotating body; A second rotating magnet that rotates about a rotation axis common to the one rotating magnet;
The first magnetic pattern is disposed opposite to the first magnetic pattern, detects a change in the magnetic field due to the first magnetic pattern, and outputs two detection signals having different phases of one cycle per pole of the first magnetic pattern. A magnetic sensor;
The second magnetic pattern is disposed opposite to the second magnetic pattern, detects a change in the magnetic field due to the second magnetic pattern, and outputs two detection signals having different phases of one cycle per pole of the second magnetic pattern. A magnetic sensor;
The second magnetic pattern is opposed to the second magnetic sensor and is disposed 90 degrees away from the second magnetic sensor in the circumferential direction of the second rotating magnet. A rotation detection device comprising: a third magnetic sensor that outputs two detection signals having different phases in one cycle per pole of a magnetic pattern;
The first magnetic pattern is evenly magnetized alternately with N and S poles at a first magnetization angle, and has an even number of poles;
The second magnetic pattern includes a first block that is evenly magnetized alternately at N and S poles at a second magnetization angle smaller than the first magnetization angle, and a third block that is larger than the first magnetization angle. A second block that is magnetized alternately at N and S poles evenly at a magnetization angle;
The sum of the number of poles of the first block and the number of poles of the second block is set equal to the number of poles of the first magnetic pattern;
The first to third magnetization angles are λ0, λ1, and λ2, respectively, the number of poles of the one magnetic pattern and the total number of poles of the first and second blocks of the second magnetic pattern are each n, If the difference between the number of poles in one block and the number of poles in the second block is 2 · a,
(n + 2a-2) / (n + 2 · a) ≦ λ1 / λ0 <1 and 1 <λ2 / λ0 ≦ (n-2 · a + 2) / (n-2 · a)
Rotation detector that satisfies the inequality of
前記第1磁気センサによって出力される2つの検出信号は位相が90度又はほぼ90度異なる正弦波状の信号であり、前記第2磁気センサによって出力される2つの検出信号は位相が90度又はほぼ90度異なる正弦波状の信号であり、かつ前記第3磁気センサによって出力される2つの検出信号は位相が90度又はほぼ90度異なる正弦波状の信号である請求項1に記載した回転検出装置。   The two detection signals output by the first magnetic sensor are sinusoidal signals that are 90 degrees or approximately 90 degrees out of phase, and the two detection signals output by the second magnetic sensor are 90 degrees or approximately the phase. 2. The rotation detection device according to claim 1, wherein the two detection signals output by the third magnetic sensor are sinusoidal signals having phases different by 90 degrees or almost 90 degrees, which are sinusoidal signals different by 90 degrees. さらに、前記第1磁気センサによって出力される2つの検出信号、前記第2磁気センサによって出力される2つの検出信号、及び前記第3磁気センサによって出力される2つの検出信号を入力して、前記入力した検出信号を用いて前記回転体の回転角を演算する信号処理回路を備えた請求項1又は2に記載した回転検出装置。   Furthermore, the two detection signals output by the first magnetic sensor, the two detection signals output by the second magnetic sensor, and the two detection signals output by the third magnetic sensor are input, The rotation detection device according to claim 1, further comprising a signal processing circuit that calculates a rotation angle of the rotating body using an input detection signal. 前記信号処理回路は、
前記第1磁気センサによって出力される2つの検出信号を逆正接演算して第1逆正接値を計算し、前記第2磁気センサによって出力される2つの検出信号を逆正接演算して第2逆正接値を計算し、かつ前記第3磁気センサによって出力される2つの検出信号を逆正接演算して第3逆正接値を計算する逆正接演算処理と、
前記第1逆正接値と前記第2逆正接値との位相差を第1位相差値として計算し、かつ前記第1逆正接値と前記第2逆正接値との位相差を第2位相差値として計算する位相差演算処理と、
前記第1位相差値と前記第2位相差値とを用いて前記回転体の回転角を導出する回転角導出演算処理とを実行する請求項3に記載した回転検出装置。
The signal processing circuit includes:
Two detection signals output from the first magnetic sensor are subjected to arc tangent to calculate a first arc tangent value, and two detection signals output from the second magnetic sensor are subjected to arc tangent to calculate a second inverse tangent. Arc tangent calculation processing for calculating a tangent value and calculating a third arc tangent value by calculating an arc tangent of two detection signals output by the third magnetic sensor;
The phase difference between the first arc tangent value and the second arc tangent value is calculated as the first phase difference value, and the phase difference between the first arc tangent value and the second arc tangent value is calculated as the second phase difference. Phase difference calculation processing to calculate as a value;
The rotation detection device according to claim 3, wherein a rotation angle deriving calculation process for deriving a rotation angle of the rotating body using the first phase difference value and the second phase difference value is performed.
前記信号処理回路は、さらに、前記計算された第1逆正接値を用いて、前記導出された回転角の内挿演算処理を実行する請求項4に記載した回転検出装置。   The rotation detection device according to claim 4, wherein the signal processing circuit further performs an interpolation calculation process of the derived rotation angle using the calculated first arc tangent value. 前記1ブロックの極数と前記第2ブロックの極数の差が「2」であることを特徴とする請求項1乃至5のうちのいずれか一つに記載した回転検出装置。   The rotation detection device according to claim 1, wherein a difference between the number of poles of the one block and the number of poles of the second block is “2”. 前記第1磁気センサ乃至第3磁気センサを、同一平面内で延設させた複数の磁気抵抗素子をブリッジ接続した第1ブリッジ回路と、同一平面内で延設させた複数の磁気抵抗素子をブリッジ接続した第2ブリッジ回路でそれぞれ構成し、
前記第1磁気センサの第1ブリッジ回路及び第2ブリッジ回路をそれぞれ構成する複数の磁気抵抗素子の感磁面を前記第1磁気パターンによる磁力線が進む平面内に配置し、前記第2磁気センサの第1ブリッジ回路及び第2ブリッジ回路をそれぞれ構成する複数の磁気抵抗素子の感磁面を前記第2磁気パターンによる磁力線が進む平面内に配置し、かつ前記第3磁気センサの第1ブリッジ回路及び第2ブリッジ回路をそれぞれ構成する複数の磁気抵抗素子の感磁面を前記第2磁気パターンによる磁力線が進む平面内に配置するようにした請求項1乃至6のうちのいずれか一つに記載した回転検出装置。
The first magnetic sensor to the third magnetic sensor are bridged with a first bridge circuit in which a plurality of magnetoresistive elements extending in the same plane are bridge-connected, and a plurality of magnetoresistive elements extended in the same plane. Each consists of a connected second bridge circuit,
Magnetic sensing surfaces of a plurality of magnetoresistive elements that respectively constitute the first bridge circuit and the second bridge circuit of the first magnetic sensor are arranged in a plane along which magnetic lines of force due to the first magnetic pattern travel, and the second magnetic sensor Magnetic sensing surfaces of a plurality of magnetoresistive elements respectively constituting the first bridge circuit and the second bridge circuit are arranged in a plane along which magnetic lines of force due to the second magnetic pattern travel, and the first bridge circuit of the third magnetic sensor, 7. The magnetic sensing surfaces of a plurality of magnetoresistive elements that respectively constitute the second bridge circuit are arranged in a plane along which a magnetic force line by the second magnetic pattern travels. Rotation detection device.
前記第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の延設方向と、前記第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の延設方向とを、それぞれ45度ずつ異ならせるようにした請求項7に記載した回転検出装置。   The extending direction of the plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit is different from the extending direction of the plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit by 45 degrees, respectively. 7. A rotation detection device according to 7. 前記第1磁気センサ乃至第3磁気センサのそれぞれにおいて、
前記第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子と、前記第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子とを重ねて配置し、
前記第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の重心位置が、前記第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の重心位置を通り、かつ前記第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子が配置された平面に直交する直線上に位置するようにした請求項7又は8に記載した回転検出装置。
In each of the first to third magnetic sensors,
Arranging a plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit and a plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit,
The plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit pass through the center of gravity of the plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit, and the plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit. The rotation detection device according to claim 7 or 8, wherein the rotation detection device is positioned on a straight line orthogonal to a plane in which the elements are arranged.
前記第1磁気センサ乃至第3磁気センサのそれぞれにおいて、
前記第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子と、前記第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子とを同一の平面内に配置し、
前記第1ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の重心位置と、前記第2ブリッジ回路を構成する複数の磁気抵抗素子の重心位置とを一致させるようにした請求項7又は8に記載した回転検出装置。
In each of the first to third magnetic sensors,
A plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit and a plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit are arranged in the same plane;
The rotation according to claim 7 or 8, wherein the gravity center positions of the plurality of magnetoresistive elements constituting the first bridge circuit and the gravity center positions of the plurality of magnetoresistive elements constituting the second bridge circuit are made to coincide with each other. Detection device.
前記第1回転磁石及び前記第2回転磁石は、回転軸方向に2列に配置されるとともに外径又は内径を一致させており、
前記外径を一致させた第1及び第2回転磁石の外周面の外側又は前記内径を一致させた第1及び第2回転磁石の内周面の内側であって、前記第1回転磁石と前記第2回転磁石の境界位置に、円周方向に延設された平板状の基板を配置し、
前記第1磁気センサを前記基板の一方の面に固定して前記第1磁気パターンに対向させ、かつ
前記第2及び第3磁気センサを前記基板の他方の面に固定して前記第2磁気パターンに対向させるようにした請求項1乃至10のうちのいずれか一つに記載した回転検出装置。
The first rotating magnet and the second rotating magnet are arranged in two rows in the rotation axis direction and have the same outer diameter or inner diameter,
Outside the outer peripheral surfaces of the first and second rotating magnets having the same outer diameter or inside the inner peripheral surfaces of the first and second rotating magnets having the same inner diameter, the first rotating magnet and the A plate-like substrate extending in the circumferential direction is arranged at the boundary position of the second rotating magnet,
The first magnetic sensor is fixed to one surface of the substrate and is opposed to the first magnetic pattern, and the second and third magnetic sensors are fixed to the other surface of the substrate and the second magnetic pattern is fixed. The rotation detection device according to any one of claims 1 to 10, wherein the rotation detection device is opposed to the rotation detection device.
前記第1回転磁石及び前記第2回転磁石のうちの一方の回転磁石は円形又は環状に形成され、かつ前記第1回転磁石及び前記第2回転磁石のうちの他方の回転磁石は、前記一方の回転磁石の外径よりも大きな内径を有する環状に形成されていて、前記第1及び第2第2回転磁石は回転軸方向において一致した位置にて、径方向に2列に回転軸を同一にして配置されており、
前記第1及び第2回転磁石の回転軸方向の一方の面から離れた位置に、前記一方の面に対向するように、円周方向に延設された平板状の基板を配置し、
前記第1乃至第3磁気センサを前記基板の前記第1及び第2回転磁石に対向する面に固定して、前記第1磁気センサを前記第1磁気パターンに対向させ、かつ前記第2及び第3磁気センサを前記第2磁気パターンに対向させるようにした請求項1乃至10のうちのいずれか一つに記載した回転検出装置。
One of the first rotating magnet and the second rotating magnet is formed in a circular or annular shape, and the other rotating magnet of the first rotating magnet and the second rotating magnet is the one rotating magnet. It is formed in an annular shape having an inner diameter larger than the outer diameter of the rotating magnet, and the first and second second rotating magnets have the same rotating shaft in two rows in the radial direction at the same position in the rotating shaft direction. Arranged,
A plate-like substrate extending in the circumferential direction is arranged at a position away from one surface in the rotation axis direction of the first and second rotating magnets so as to face the one surface,
The first to third magnetic sensors are fixed to the surface of the substrate facing the first and second rotating magnets, the first magnetic sensor is opposed to the first magnetic pattern, and the second and second magnetic sensors are fixed. The rotation detection device according to any one of claims 1 to 10, wherein three magnetic sensors are arranged to face the second magnetic pattern.
前記第1磁気センサは、前記第1及び第2回転磁石の円周方向において、前記第2磁気センサと前記第3磁気センサの間に配置されている請求項10又は11に記載した回転検出装置。   The rotation detection device according to claim 10 or 11, wherein the first magnetic sensor is disposed between the second magnetic sensor and the third magnetic sensor in a circumferential direction of the first and second rotating magnets. .
JP2013232819A 2013-11-11 2013-11-11 Rotation detector Active JP6207978B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013232819A JP6207978B2 (en) 2013-11-11 2013-11-11 Rotation detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013232819A JP6207978B2 (en) 2013-11-11 2013-11-11 Rotation detector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015094615A true JP2015094615A (en) 2015-05-18
JP6207978B2 JP6207978B2 (en) 2017-10-04

Family

ID=53197114

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013232819A Active JP6207978B2 (en) 2013-11-11 2013-11-11 Rotation detector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6207978B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020034392A (en) * 2018-08-29 2020-03-05 富士電機株式会社 Encoder, processing device, and processing method
DE102021106095B4 (en) 2021-03-12 2023-10-05 Sensitec Gmbh Device for determining the angular position of a rotating element

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60140158A (en) * 1983-12-28 1985-07-25 Sony Corp Rotation detecting apparatus
JPS6275318A (en) * 1985-09-30 1987-04-07 Toshiba Corp Displacement encoder
JP2002343638A (en) * 2001-05-21 2002-11-29 Sanyo Special Steel Co Ltd Magnet material for encoder
US20050257625A1 (en) * 2004-02-28 2005-11-24 Silvester Roessner Angle of rotation sensor
JP2006023179A (en) * 2004-07-08 2006-01-26 Tdk Corp Magnetic position detection device
JP2008233069A (en) * 2007-02-23 2008-10-02 Ntn Corp Rotation detecting apparatus and bearing provided therewith

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60140158A (en) * 1983-12-28 1985-07-25 Sony Corp Rotation detecting apparatus
JPS6275318A (en) * 1985-09-30 1987-04-07 Toshiba Corp Displacement encoder
JP2002343638A (en) * 2001-05-21 2002-11-29 Sanyo Special Steel Co Ltd Magnet material for encoder
US20050257625A1 (en) * 2004-02-28 2005-11-24 Silvester Roessner Angle of rotation sensor
JP2006023179A (en) * 2004-07-08 2006-01-26 Tdk Corp Magnetic position detection device
JP2008233069A (en) * 2007-02-23 2008-10-02 Ntn Corp Rotation detecting apparatus and bearing provided therewith
US20090315544A1 (en) * 2007-02-23 2009-12-24 Ntn Corporation Rotation detection device and rotation detector equipped bearing assembly

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020034392A (en) * 2018-08-29 2020-03-05 富士電機株式会社 Encoder, processing device, and processing method
DE102021106095B4 (en) 2021-03-12 2023-10-05 Sensitec Gmbh Device for determining the angular position of a rotating element

Also Published As

Publication number Publication date
JP6207978B2 (en) 2017-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5120384B2 (en) Rotation angle detection device, rotator, and rotation angle detection method
JP6549676B2 (en) Measurement of absolute angular position
JP5801566B2 (en) Rotation angle detector
CN102893131B (en) The position sensor improved
JP6288481B2 (en) Angle sensor and angle sensor system
JP6278050B2 (en) Rotation angle detection device and rotary machine device
JP6969581B2 (en) Rotation angle detector
JP6350834B2 (en) Angle sensor and angle sensor system
JP2008151774A (en) Rotation angle detector and rotating machine
JP2012032234A (en) Rotation angle detector
JP5201493B2 (en) Position detection device and linear drive device
JP6207978B2 (en) Rotation detector
TW201944031A (en) Encoder that comprises multiple magneto-sensitive element transducer sections each including a first magneto-sensitive element and a second magneto-sensitive element
JP4900838B2 (en) Position detection device and linear drive device
JP2013234939A (en) Magnetic detection device and magnetic encoder
JP2019095373A (en) Arithmetic processing device, angle sensor and steering device
JP2015049046A (en) Angle detector
JP5455761B2 (en) Magnetic rotation angle detector
JP5920386B2 (en) Magnet for rotation angle sensor and rotation angle sensor
TWI683990B (en) Encoder
JP2012189350A (en) Encoder device and correction method for encoder device
JP2009229314A (en) Rotation angle detector
JP6064816B2 (en) Rotation sensor
JP5767917B2 (en) Encoder device and correction method for encoder device
JP2005172441A (en) Angle and angular velocity integrated detector

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161019

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170705

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170808

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170906

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6207978

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250