JP2014162055A - Resin sealing mold and resin sealing method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、樹脂封止金型及び樹脂封止方法に関し、特に生産効率と製品品質の向上に好適なモールド金型とリードフレームとを備えた半導体装置の製造方法に関するものである。 The present invention relates to a resin sealing mold and a resin sealing method, and more particularly to a method for manufacturing a semiconductor device including a mold mold and a lead frame suitable for improving production efficiency and product quality.
図9に従来の樹脂封止金型の平面図を示す。金型内に、モールド樹脂を押圧供給するためのポット10を備え、複数のポットに互いに独立したランナー12を設け、これら各ランナーから枝分かれするように複数のキャビティ17を設け、これらの各キャビティ17内にモールドすべき電気部品、例えば半導体チップ20を配置して、ポット10から複数個の各キャビティ17にモールド樹脂を押圧供給するように構成している。(例えば、特許文献1参照)。さらに、図10に示すように、金型流路内の圧力を均等化するための方策として、ポット間に連通路15を設けるという技術も開示されている。(例えば、特許文献2参照)。
FIG. 9 shows a plan view of a conventional resin-sealed mold. A
近年の半導体装置のコストの低減化を目的として、リードフレームにおける半導体チップを多数個に配置する傾向にある。そのためにリードフレームの幅および長さを大きくして、リードフレーム1枚あたりの半導体チップの取り個数を確保している。しかしながら、リードフレームの幅に合わせてランナー12を延ばすと、末端において種々の課題が発生する。
There is a tendency to arrange a large number of semiconductor chips in a lead frame for the purpose of reducing the cost of semiconductor devices in recent years. For this purpose, the width and length of the lead frame are increased to ensure the number of semiconductor chips to be taken per lead frame. However, when the
リードフレームを大きくした場合の問題を図7、8にて説明する。図7は、フィラー含有率の異なる2種類の樹脂AおよびBを用いて樹脂充填を行った場合の樹脂に含まれるフィラーの含有率の変化を表したもので、カル中心から距離が40mmをすぎると、フィラー含有率が急激に上昇することがわかる。この場合、フィラー含有率が上昇することで樹脂硬度が上がり、レーザーマーク時の刻印深さが浅くなり、マーク不良が発生する可能性がある。図8はフィラーの粒径(メジアン径)を調査した結果であるが、封止樹脂Aではカル中心から60mmの距離で粒径が幾分小さくなる傾向を示す。封止樹脂Bでは20mm程度の距離から粒径小の傾向を示し、樹脂充填不良に至るという不具合が発生する可能性がある。 The problem when the lead frame is enlarged will be described with reference to FIGS. FIG. 7 shows the change in the content of the filler contained in the resin when resin filling is performed using two types of resins A and B having different filler contents, and the distance from the center of the kull is too much 40 mm. It can be seen that the filler content rapidly increases. In this case, the resin content increases due to an increase in the filler content, the marking depth at the time of laser marking becomes shallow, and a mark defect may occur. FIG. 8 shows the results of investigating the particle size (median diameter) of the filler. In the sealing resin A, the particle size tends to be somewhat smaller at a distance of 60 mm from the center of the cull. The sealing resin B tends to have a small particle diameter from a distance of about 20 mm, which may cause a defect that leads to poor resin filling.
本発明は、上記不具合を解決することができる樹脂封止金型および樹脂封止方法を提供することを課題とする。 This invention makes it a subject to provide the resin sealing metal mold | die and the resin sealing method which can solve the said malfunction.
上記課題を解決するために、以下のような手段を用いた。
まず、上下駆動可能なプランジャする複数のポットおよび前記ポットの上部に設けられたカルからなる樹脂供給部と、前記樹脂供給部から樹脂が供給されるランナーと、前記ランナーに接続して前記ランナーから樹脂が供給されるキャビティとからなる樹脂封止金型であって、前記ランナーの両端に前記樹脂供給部を有することを特徴とする樹脂封止金型を用いた。
In order to solve the above problems, the following means were used.
First, a plurality of pots that can be driven up and down, and a resin supply part that is formed on the top of the pot, a runner that is supplied with resin from the resin supply part, and connected to the runner from the runner A resin-sealed mold comprising a cavity to which resin is supplied, wherein the resin-sealed mold has the resin supply portions at both ends of the runner.
また、前記両端の樹脂供給部から等距離にある前記ランナーの中心に接続してダミーキャビティを設けたことを特徴とする樹脂封止金型を用いた。
また、前記両端の樹脂供給部から等距離にある前記ランナーの中心に、脱樹脂孔を設けたことを特徴とする樹脂封止金型を用いた。
In addition, a resin-sealed mold characterized in that a dummy cavity is provided connected to the center of the runner that is equidistant from the resin supply portions at both ends.
Further, a resin-sealing mold characterized in that a resin removal hole is provided in the center of the runner that is equidistant from the resin supply portions at both ends.
また、上下駆動可能なプランジャする複数のポットおよび前記ポットの上部に設けられたカルからなる樹脂供給部と、前記樹脂供給部から樹脂が供給されるランナーと、前記ランナーに接続して前記ランナーから樹脂が供給されるキャビティとからなる樹脂封止金型を用いる樹脂封止方法であって、前記ランナーの両端に前記樹脂供給部を有する樹脂封止金型を準備する工程と、前記樹脂封止金型内の半導体チップを搭載したリードフレームおよび固形樹脂をセットする工程と、前記固形樹脂を溶解して前記樹脂供給部から前記ランナーおよび前記キャビティに供給してする工程と、前記リードフレームを樹脂封止する工程と、前記樹脂封止されたリードフレームを前記樹脂封止金型から取出す工程とからなることを特徴とする樹脂封止方法とした。 In addition, a plurality of pots that can be driven up and down, a resin supply unit that includes a cull provided on the top of the pot, a runner that is supplied with resin from the resin supply unit, and a connection to the runner from the runner A resin sealing method using a resin sealing mold including a cavity to which resin is supplied, the step of preparing a resin sealing mold having the resin supply portions at both ends of the runner, and the resin sealing A step of setting a lead frame on which a semiconductor chip in a mold is mounted and a solid resin; a step of dissolving the solid resin and supplying the solid resin from the resin supply unit to the runner and the cavity; A resin sealing method comprising: a sealing step; and a step of taking out the resin-sealed lead frame from the resin sealing mold. It was.
また、前記樹脂封止金型を準備する工程において、前記ランナーの両端に前記樹脂供給部を有し、前記両端の樹脂供給部から等距離にある前記ランナーの中心に接続してダミーキャビティを設けた樹脂封止金型を準備することを特徴とする樹脂封止方法とした。
さらに、前記樹脂封止金型を準備する工程において、前記ランナーの両端に前記樹脂供給部を有し、前記両端の樹脂供給部から等距離にある前記ランナーの中心に、脱樹脂孔を設けた樹脂封止金型を準備することを特徴とする樹脂封止方法とした。
Further, in the step of preparing the resin sealing mold, the runner has the resin supply portions at both ends of the runner, and is provided with a dummy cavity connected to the center of the runner that is equidistant from the resin supply portions at both ends. The resin sealing method is characterized in that a resin sealing mold is prepared.
Further, in the step of preparing the resin sealing mold, the runner has the resin supply portions at both ends of the runner, and a resin removal hole is provided at the center of the runner that is equidistant from the resin supply portions at both ends. A resin sealing method is characterized by preparing a resin sealing mold.
上記手段を用いることにより、リードフレームの幅および長さを大きくなっても樹脂充填不良が無い樹脂封止型半導体装置を得ることができる。 By using the above means, it is possible to obtain a resin-encapsulated semiconductor device that does not have defective resin filling even when the width and length of the lead frame are increased.
以下、図を用いて発明を実施するための形態について説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る樹脂封止金型の構成を示す図である。図1(a)は、断面図であり、図1(b)は、本発明の第1の実施形態に係る樹脂封止金型の平面図である。図1(a)は、図1(b)のA−A線における断面図にあたる。また、図1(c)は、本発明の第2の実施形態に係る樹脂封止金型の平面図である。
Hereinafter, embodiments for carrying out the invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a view showing a configuration of a resin-sealed mold according to an embodiment of the present invention. Fig.1 (a) is sectional drawing, FIG.1 (b) is a top view of the resin sealing metal mold | die which concerns on the 1st Embodiment of this invention. FIG. 1A is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. Moreover, FIG.1 (c) is a top view of the resin sealing metal mold | die which concerns on the 2nd Embodiment of this invention.
図1(a)に示すように、金型は上下に対を成す上金型2と下金型3を備えており、樹脂封止装置に装着される。下金型3にはポット10と呼ばれる溝を備え、ポット10を上下方向に駆動可能なプランジャ19が備わっている。図では、ポット10のプランジャ19上には、ペレット状固形樹脂1が置かれ、複数のポット10の間にはリードフレーム21が載置されている。上金型2のポット10と対応するように凹形状のカル11が設けられている。上金型2と下金型3の間には所定の空間を設けた複数のランナー12やゲート13が形成されている。なお、ランナー12はカル11に連通している。ランナー12の両端には複数のポット10と、ポット10内を上下方向に駆動されるプランジャ19およびその上部に設けられたカル11からなる複数の樹脂供給部が配置される。ここで、ランナー12の両端に配置された複数のプランジャ19は同一の駆動系により上下駆動し、複数のプランジャ19には同一の圧力がかかるようになっている。
As shown in FIG. 1A, the mold includes an
図1(b)に示すように、ふたつのポット10の間には複数のランナー12が設けられ連通しており、個々のランナー12から枝分かれしてキャビティ17が設けられている。キャビティ17にはリードフレーム上に搭載され、ワイヤによって端子と接続された半導体チップ20が収められている。なお、ランナー12の中心付近に小点により図示されている脱樹脂孔6は圧力弁の付いた微孔であって所定の圧力になると微量の樹脂を排出する構成である。本構成は樹脂充填不良を防止するもので、必要に応じて設ければ良い。
As shown in FIG. 1 (b), a plurality of
図1(c)に示す実施形態が図1(b)と異なる点は、ランナー12の中心付近のキャビティ20に代えてダミーキャビティ31とした点である。ランナー12の両端に配置されたポット10、カル11などからなる樹脂供給部からランナーに流れ込む溶解樹脂は、ランナー12のほぼ中心付近で合流するが、合流点では樹脂充填不良が発生する可能性もあり、ダミーキャビティ31を配置することにより不良の発生を防止している。
The embodiment shown in FIG. 1C differs from FIG. 1B in that a
以上説明したように、上記構成とすることにより、リードフレームの幅および長さが大きくなり、ランナーなどの樹脂流路が長くなっても樹脂充填不良を防止することができ、1枚のリードフレームからより多くの樹脂封止型半導体装置を得ることができる。 As described above, with the above configuration, the width and length of the lead frame increase, and even if the resin flow path of the runner or the like becomes long, it is possible to prevent a resin filling failure and one lead frame. More resin-encapsulated semiconductor devices can be obtained.
次に、上記のように構成された樹脂封止金型4を用いた樹脂封止方法について、図2〜図6を用いて詳細に説明する。
図2は、本発明の実施形態に係る樹脂封止方法を示す製造工程フロー図である。図3〜図6は、本発明の実施形態に係る樹脂封止方法を示す製造工程断面図である。
図2には、一連の樹脂モールド工程を示した。まず、金型内にリードフレームおよび固形樹脂をセットし、次に上下金型を型締めしたのち、樹脂を溶解し、所定時間加圧・保持することで樹脂封止型半導体装置を形成することができる。
Next, a resin sealing method using the
FIG. 2 is a manufacturing process flowchart showing the resin sealing method according to the embodiment of the present invention. 3 to 6 are manufacturing process cross-sectional views illustrating the resin sealing method according to the embodiment of the present invention.
FIG. 2 shows a series of resin molding steps. First, a lead frame and a solid resin are set in a mold, and then the upper and lower molds are clamped, and then the resin is dissolved, and a resin-encapsulated semiconductor device is formed by pressing and holding for a predetermined time. Can do.
図3以降で樹脂モールド工程の詳細説明を行う。
まず、図3に示すように、半導体チップ(図示せず)を搭載したリードフレーム21を下金型3のキャビティ17内にセットすると共に、下金型3のポット10にペレット状固形樹脂1をセットする。ここでは、上金型を図示していないが、下金型3の上方に所定の距離をもって配置されている。
The resin molding process will be described in detail with reference to FIG.
First, as shown in FIG. 3, the
次いで、図4に示すように、下金型3を上昇させ、この下金型3を上金型2と嵌合させて、型締めを行う。このとき、上金型2と下金型3は、ランナー12を確保しながら、部分的に接触する。また、固形樹脂1の下のプランジャ19は下がった位置にある。
Next, as shown in FIG. 4, the
次に、ポット部10内のプランジャ19を上方へ押し上げて、加熱溶解した樹脂5をカル11内に注入する。このとき、ランナー12の両端に位置する複数のプランジャ19は同時に同一圧力で押し上げられる。これにより、両端のポット10から均等に樹脂供給が行われることになる。図5は、樹脂注入途中の図である。プランジャ19の押上げ加減により、溶解樹脂5の樹脂流路14への入り込み方が調整される。図5(b)は平面図であり、図1(c)に示した本発明の第2の実施形態に係る樹脂封止金型の場合を示したものである。ランナー12中心付近のダミーキャビティ31までは溶解樹脂5が注入されていない時点での図である。
Next, the
さらに、プランジャ19を押上げ、所定位置に達すると、図6に示すように、樹脂供給部から流れ込んだ溶解樹脂5がダミーキャビティ31で合流し、その隅々まで行き渡り充填がほぼ終了する。このとき、半導体チップ20を搭載したリードフレーム21は、溶解樹脂5により樹脂封止された状態となる。この状態で所定時間加圧・保持すると、キャビティ17、ダミーキャビティ31、カル11などの各空間に充填した溶解樹脂5は重合して硬化する。その後、下金型3を下方に下げて型を開き、下金型3の押出しピンで上方へ突出させて、成形された樹脂で封止されたリードフレームを取り出す。
Further, when the
以上のように、本実施形態に係る樹脂封止方法によれば、リードフレーム両方向から流れ込んだ溶解樹脂がダミーキャビティ31で合流することになり、品質の安定した樹脂封止型半導体装置を得ることができる。
As described above, according to the resin sealing method according to the present embodiment, the molten resin flowing in from both directions of the lead frame is merged in the
また、以上説明したように、本発明の樹脂封止金型およびそれを用いた樹脂封止方法によれば、リードフレームの幅および長さを大きくなって、ランナーなどの樹脂流路が長くなっても、実質的な樹脂流動距離を短いままとすることができ、1枚のリードフレームからより多くの樹脂封止型半導体装置を得ることができる。 Further, as described above, according to the resin sealing mold of the present invention and the resin sealing method using the same, the width and length of the lead frame are increased and the resin flow path of the runner and the like is increased. However, the substantial resin flow distance can be kept short, and more resin-encapsulated semiconductor devices can be obtained from one lead frame.
なお、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものでなく、本発明の技術的思想に基づく各種の変形は可能である。例えば、本実施形態では、下金型にプランジャを設ける構造であるが、上金型にプランジャを設ける構造であっても良いし、また、ハンマーゲート方式に代えて、スルーゲート方式の金型構造に適用しても構わない。 In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above, The various deformation | transformation based on the technical idea of this invention is possible. For example, in this embodiment, the plunger is provided in the lower mold, but the plunger may be provided in the upper mold, or a through-gate mold structure may be used instead of the hammer gate system. You may apply to.
1 固形樹脂
2 上金型
3 下金型
4 樹脂封止金型
5 溶融樹脂
6 脱樹脂孔
10 ポット
11 カル
12 ランナー
13 ゲート
14 樹脂流路
15 連通路
17 キャビティ
19 プランジャ
20 半導体チップ
21 リードフレーム
31 ダミーキャビティ
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記樹脂供給部から樹脂が供給されるランナーと、
前記ランナーに接続して前記ランナーから樹脂が供給されるキャビティと、
からなる樹脂封止金型であって、
前記ランナーの両端に前記樹脂供給部を有することを特徴とする樹脂封止金型。 A plurality of pots having plungers that can be driven up and down, and a resin supply unit comprising a cull provided on top of the pots;
A runner to which resin is supplied from the resin supply unit;
A cavity connected to the runner and supplied with resin from the runner;
A resin-sealed mold comprising:
A resin-sealed mold having the resin supply portions at both ends of the runner.
前記ランナーの両端に前記樹脂供給部を有する樹脂封止金型を準備する工程と、
前記樹脂封止金型内の半導体チップを搭載したリードフレームおよび固形樹脂をセットする工程と、
前記固形樹脂を溶解して前記樹脂供給部から前記ランナーおよび前記キャビティに供給してする工程と、
前記リードフレームを樹脂封止する工程と、
前記樹脂封止されたリードフレームを前記樹脂封止金型から取出す工程と、
からなることを特徴とする樹脂封止方法。 A plurality of pots that can be driven up and down, and a resin supply unit that is provided at the top of the pot, a runner that is supplied with resin from the resin supply unit, and a resin that is connected to the runner and receives resin from the runner A resin sealing method using a resin sealing mold comprising a cavity to be supplied,
Preparing a resin sealing mold having the resin supply part at both ends of the runner;
A step of setting a lead frame on which a semiconductor chip in the resin-sealed mold is mounted and a solid resin;
Dissolving the solid resin and supplying the runner and the cavity from the resin supply unit;
A step of resin-sealing the lead frame;
Removing the resin-encapsulated lead frame from the resin-encapsulated mold;
A resin sealing method comprising:
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