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JP2014007919A - Recharging system, electronic device, and recharging device - Google Patents

Recharging system, electronic device, and recharging device Download PDF

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JP2014007919A
JP2014007919A JP2012143957A JP2012143957A JP2014007919A JP 2014007919 A JP2014007919 A JP 2014007919A JP 2012143957 A JP2012143957 A JP 2012143957A JP 2012143957 A JP2012143957 A JP 2012143957A JP 2014007919 A JP2014007919 A JP 2014007919A
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power supply
voltage
charging
deterioration
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JP2012143957A
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Yukihiro Niekawa
幸大 贄川
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Konica Minolta Inc
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Konica Minolta Inc
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a recharging system which can correctly determine the degree of deterioration of a built-in power source without changing the configuration of an electronic device, and provide an electronic device and a recharging device.SOLUTION: A recharging system 100 comprises: an electronic device 1 which has a chargeable built-in power source 24; a recharge control unit 81 for controlling recharging of the built-in power source; a voltage detection unit 82 for detecting the voltage of the built-in power source 24; a recharging device 60 for supplying power to the built-in power source 24 through the charging control unit 81; and a determination unit 22a for calculating and determining a degree of deterioration C/Cin of the built-in power source 24 on the basis of ratio ΔVin/ΔV of voltage increase rate ΔVin which was acquired in the past to the voltage increase rate ΔV of the built-in power source 24 which is acquired based on the voltage V of the built-in power source 24 detected at the time of recharging a constant current. When the voltage V of the built-in power source 24 detected by the voltage detection unit 82 is within a voltage increase rate acquisition range R0, the determination unit 22a obtains the voltage increase rate ΔV of the built-in power source 24.

Description

本発明は、充電システム、電子機器および充電装置に関する。   The present invention relates to a charging system, an electronic device, and a charging device.

電子機器に内蔵された充電可能な内蔵電源(キャパシターやバッテリー、二次電池、蓄電デバイス等ともいう。)を充電するための充電装置や充電制御装置等が種々開発されている(例えば特許文献1〜4等参照)。   Various charging devices, charging control devices, and the like have been developed for charging a rechargeable built-in power source (also referred to as a capacitor, a battery, a secondary battery, and a power storage device) built in an electronic device (for example, Patent Document 1). -4 etc.).

このような充電装置等は、例えば図14(A)、(B)に示すように、内蔵電源の電圧V[V]が目標電圧V1(以下、上限電圧V1という場合がある。)に達するまで、充電電流Iが一定になるように充電を行う定電流充電を行うとともに、内蔵電源の電圧Vが目標電圧V1に達した場合に当該内蔵電源の電圧Vが一定になるように充電を行う定電圧充電に切り替えて、内部電源への充電を制御する充電制御部を備えるように構成されている場合がある。また、電子機器側に、このような充電制御部が設けられている場合もある。   In such a charging device or the like, for example, as shown in FIGS. 14A and 14B, the voltage V [V] of the built-in power supply reaches a target voltage V1 (hereinafter sometimes referred to as an upper limit voltage V1). The constant current charging is performed so that the charging current I is constant, and the charging is performed so that the voltage V of the built-in power supply becomes constant when the voltage V of the built-in power supply reaches the target voltage V1. There is a case where it is configured to include a charge control unit that switches to voltage charging and controls charging to the internal power source. Moreover, such a charge control part may be provided in the electronic device side.

ところで、内蔵電源が劣化すると、内部抵抗が増加したり、満充電容量が減少したりする。そのため、内蔵電源は、その使用温度環境と使用する電圧と使用頻度から予め交換周期を予測し当該交換周期に応じて交換されたり、或いは、内蔵電源の劣化をリアルタイムで判定し当該判定結果に基づいて交換されたりしている(例えば特許文献5参照)。   By the way, when the built-in power supply deteriorates, the internal resistance increases or the full charge capacity decreases. Therefore, the built-in power supply is preliminarily predicted for the replacement cycle from the use temperature environment, the voltage to be used, and the use frequency, and is replaced according to the replacement cycle, or the deterioration of the built-in power supply is determined in real time and based on the determination result. (See, for example, Patent Document 5).

特許文献5には、内蔵電源(キャパシター)の劣化をリアルタイムで判定する手法として、内蔵電源の電圧V(内蔵電源がキャパシターの場合はキャパシター電圧V)の上昇の傾きから内蔵電源の劣化を判定するとともに、内蔵電源の電圧Vの電圧上昇の傾きと所定の閾値とを比較して内蔵電源が劣化していると判定する手法等が提案されている。   In Patent Document 5, as a technique for determining deterioration of a built-in power supply (capacitor) in real time, the deterioration of the built-in power supply is determined from the rising slope of the voltage V of the built-in power supply (capacitor voltage V when the built-in power supply is a capacitor). At the same time, there has been proposed a method for determining that the built-in power supply has deteriorated by comparing the slope of the voltage increase of the voltage V of the built-in power supply with a predetermined threshold.

劣化により満充電容量(内蔵電源がキャパシターの場合はキャパシター容量)が低下すると、充電できる電荷量が少なくなるため、充電電流Iを同じとした場合には、例えば図14(A)に破線で示すように、内蔵電源の電圧Vの上昇が早くなる。そのため、内蔵電源の電圧Vの電圧上昇の傾きが所定の閾値よりも大きいときは、内蔵電源が劣化していると判定することができる。   When the full charge capacity (capacitor capacity when the built-in power supply is a capacitor) decreases due to deterioration, the amount of charge that can be charged decreases. Therefore, when the charge current I is the same, for example, a broken line is shown in FIG. As described above, the voltage V of the built-in power supply increases rapidly. Therefore, when the slope of the voltage increase of the voltage V of the built-in power supply is larger than a predetermined threshold, it can be determined that the built-in power supply has deteriorated.

特開2009−77501号公報JP 2009-77501 A 特開2008−104270号公報JP 2008-104270 A 特開2007−306654号公報JP 2007-306654 A 特開2006−33917号公報JP 2006-33917 A 特開2008−43174号公報JP 2008-43174 A

ところで、内蔵電源が、例えばリチウムイオンキャパシターである場合、図15に示すように、内蔵電源の電圧Vが高くなるほど(すなわち図15のグラフで右側に行くほど)、劣化が進んでいる内蔵電源における電圧Vの上昇の傾きすなわち電圧上昇率ΔV[V/min]と、正常品における電圧上昇率ΔVとの違いが小さくなる傾向がある。逆の言い方をすれば、内蔵電圧Vの電圧Vが低くなるほど(すなわち図15のグラフで左側に行くほど)、劣化が進んでいる内蔵電源における電圧上昇率ΔVと、正常品における電圧上昇率ΔVとの違いが大きくなる傾向がある。   By the way, when the built-in power supply is a lithium ion capacitor, for example, as shown in FIG. 15, as the voltage V of the built-in power supply increases (that is, as it goes to the right side in the graph of FIG. 15), There is a tendency that the difference between the slope of the increase in voltage V, that is, the voltage increase rate ΔV [V / min], and the voltage increase rate ΔV in a normal product is reduced. In other words, as the voltage V of the built-in voltage V becomes lower (that is, as it goes to the left in the graph of FIG. 15), the voltage rise rate ΔV in the built-in power supply that has deteriorated, and the voltage rise rate ΔV in the normal product There is a tendency for the difference to be greater.

そして、内蔵電源であるキャパシターの下限電圧V0に近い電圧領域まで使い切った後で充電するような使い方をする場合には、内蔵電源の充電の際に、劣化度合いの違いによる傾きの違いが顕著に現れる低い電圧領域での定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得することが可能となり、内蔵電源の劣化度合いを精度良く判定することが可能となる。   And, when the usage is such that charging is performed after the voltage range close to the lower limit voltage V0 of the capacitor that is the built-in power supply is used up, the difference in slope due to the difference in the degree of deterioration is remarkable when charging the built-in power supply. The voltage increase rate ΔV can be acquired during constant current charging in the low voltage region that appears, and the degree of deterioration of the built-in power supply can be accurately determined.

しかし、実際の電子機器の使用状況では、低い電圧領域まで使い切ることは稀で、寧ろ高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされることの方が多い。   However, in the actual usage situation of electronic devices, it is rare to use up to a low voltage region, and rather, it is often used such that charging and discharging are repeated in a high voltage region.

そこで、例えば内蔵電源の劣化度合いを判定するために、内蔵電源の充電の前に、意図的に内蔵電源から放電させて内蔵電源の電圧Vを下げてから充電を行って、上記のように制度良く内蔵電源の劣化度合いを判定するように構成することも考えられなくはない。   Therefore, for example, in order to determine the degree of deterioration of the built-in power supply, before charging the built-in power supply, the charge is intentionally discharged from the built-in power supply and the voltage V of the built-in power supply is lowered, and then charged. It can be considered that the configuration is such that the degree of deterioration of the built-in power supply is well determined.

しかし、このように構成する場合、内蔵電源に蓄えられた電力が無駄に放電されてしまうほか、電子機器を、内蔵電源を意図的に放電させて内蔵電源の電圧Vを一旦大きく下げるような動作モードを設定することができるように構成しなければならなくなる。また、内蔵電源の電圧Vを一旦大きく下げてから充電するため、充電時間が非常に長くなり、長い充電時間中、ユーザーが電子機器を使えなくなる等の種々の不自由な制約が生じてしまう。   However, in such a configuration, the power stored in the internal power supply is discharged unnecessarily, and the electronic device is intentionally discharged to temporarily reduce the voltage V of the internal power supply. It will have to be configured to be able to set the mode. In addition, since charging is performed after the voltage V of the built-in power supply is once greatly reduced, the charging time becomes very long, and various inconveniences such as the user being unable to use the electronic device during a long charging time occur.

本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、電子機器の構成を変更することなく、内蔵電源の劣化度合いを的確に判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and provides a charging system, an electronic device, and a charging device that can accurately determine the degree of deterioration of a built-in power supply without changing the configuration of the electronic device. The purpose is to provide.

前記の問題を解決するために、本発明の充電システム、電子機器および充電装置は、
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする。
In order to solve the above problems, the charging system, the electronic device, and the charging device of the present invention include:
An electronic device with a built-in rechargeable power supply,
A charge control unit that controls charging to the built-in power supply so as to perform constant current charging until the voltage of the built-in power supply reaches a target voltage;
A voltage detector for detecting the voltage of the internal power supply;
A charging device for supplying power to the built-in power supply via the charging control unit;
Based on the voltage of the internal power supply detected by the voltage detection unit during the constant current charging by the charge control unit, the voltage increase rate of the internal power supply is acquired, and the acquired voltage increase rate and the voltage increase acquired in the past A determination unit that calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on a ratio to the rate;
With
The determination unit is a voltage region in which the voltage of the built-in power source detected by the voltage detection unit is lower than the target voltage and higher than an allowable lower limit voltage, and according to the degree of deterioration of the built-in power source. The voltage increase rate of the built-in power supply is acquired when the ratio is in a voltage region where the ratio is significantly different.

本発明のような方式の充電システム、電子機器および充電装置によれば、判定部は、内蔵電源の劣化の進み具合に応じて内蔵電源の劣化度合いを明確に区別して算出することが可能となる。また、この内蔵電源の劣化度合いの算出、判定処理を、電子機器に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて行うことが可能となる。   According to the charging system, the electronic apparatus, and the charging device of the system as in the present invention, the determination unit can clearly calculate the degree of deterioration of the built-in power supply according to the progress of deterioration of the built-in power supply. . In addition, the calculation and determination processing of the deterioration degree of the built-in power supply can be performed using each function unit existing in the electronic device without making any changes to the electronic device.

このように、本発明のような方式の充電システム、電子機器および充電装置によれば、電子機器に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源の劣化度合いを数値化して算出し、内蔵電源の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。そして、電子機器において、内蔵電源を低い電圧領域まで使い切ることなく、高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされる場合であっても、内蔵電源の劣化の進み具合に応じて内蔵電源の劣化度合いを明確に区別して算出し、内蔵電源の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。   Thus, according to the charging system, electronic device, and charging device of the system as in the present invention, the internal power supply is deteriorated by using each function unit existing in the electronic device without making any changes to the electronic device. It is possible to calculate the degree by quantifying it and accurately determine how much deterioration of the built-in power supply has progressed. Even when electronic devices are used in such a way that charging and discharging are repeated in the high voltage range without using the built-in power supply to the low voltage range, the built-in power supply is used according to the progress of deterioration of the built-in power supply. It is possible to accurately determine the degree of deterioration of the built-in power supply by clearly distinguishing and calculating the degree of deterioration.

電子機器の例としての放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external appearance of the radiographic imaging apparatus as an example of an electronic device. 図1のX−X線に沿う断面図である。It is sectional drawing which follows the XX line of FIG. 図1の放射線画像撮影装置の回路構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the circuit structure of the radiographic imaging apparatus of FIG. 充電装置の例としてのクレードルの外観を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external appearance of the cradle as an example of a charging device. 図4に示すクレードルに放射線画像撮影装置が挿入された状態を示した斜視図である。It is the perspective view which showed the state by which the radiographic imaging apparatus was inserted in the cradle shown in FIG. 図4のクレードルの内部構成を模式的に示した図であり、クレードルに放射線画像撮影装置を挿入しようとする状態を示している。It is the figure which showed typically the internal structure of the cradle of FIG. 4, and has shown the state which is going to insert a radiographic imaging apparatus in a cradle. 図4のクレードルの内部構成を模式的に示した図であり、クレードルに放射線画像撮影装置が挿入された状態を示している。It is the figure which showed typically the internal structure of the cradle of FIG. 4, and has shown the state by which the radiographic imaging apparatus was inserted in the cradle. 充電システムの構成を概略的に表すブロック図である。It is a block diagram showing the composition of a charge system roughly. 電圧上昇率取得領域R0を説明するグラフである。It is a graph explaining voltage rise rate acquisition area | region R0. 図9に示した電圧上昇率取得領域R0を複数の電圧領域R1〜R3に区分した場合の複数の電圧領域の例を示すグラフである。10 is a graph showing an example of a plurality of voltage regions when the voltage increase rate acquisition region R0 shown in FIG. 9 is divided into a plurality of voltage regions R1 to R3. 算出した内蔵電源の劣化度合いを充電のサイクルタイムごとプロットした場合のプロファイルをイメージ的に表すグラフである。It is a graph showing the profile at the time of plotting the degradation degree of the calculated internal power supply for every cycle time of charge. 内蔵電源の劣化度合いの低下の程度が急に大きくなった時点で内蔵電源の交換時期を推定することを説明する図11のグラフの拡大図である。FIG. 12 is an enlarged view of the graph of FIG. 11 for explaining the estimation of the replacement time of the built-in power supply when the degree of deterioration of the built-in power supply suddenly increases. 充電システムの構成の変形例を概略的に表すブロック図であり、充電制御回路等を充電装置であるクレードルに設けた場合を示す図である。It is a block diagram showing a modification of the composition of a charging system roughly, and is a figure showing the case where a charging control circuit etc. are provided in a cradle which is a charging device. 定電流充電および定電圧充電における内蔵電源の(A)電圧および(B)電流の時間的推移を表すグラフである。It is a graph showing the time transition of (A) voltage and (B) current of a built-in power supply in constant current charge and constant voltage charge. 内蔵電源の電圧と電圧上昇率との関係を表すグラフである。It is a graph showing the relationship between the voltage of a built-in power supply, and a voltage increase rate.

以下、図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。ただし、本発明を適用可能な実施形態はこれに限定されるものではない。また、本発明は図示例に限定されるものでもない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, embodiments to which the present invention is applicable are not limited to this. Further, the present invention is not limited to the illustrated example.

なお、以下では、電子機器が放射線画像撮影装置であり、充電装置がクレードルである場合について説明するが、本発明は、この形態に限定されない。   Hereinafter, a case where the electronic apparatus is a radiographic imaging apparatus and the charging apparatus is a cradle will be described, but the present invention is not limited to this mode.

また、以下では、放射線画像撮影装置として、シンチレーター等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得る、いわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレーター等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。   In the following, a so-called indirect radiation image capturing apparatus that includes a scintillator or the like as a radiation image capturing apparatus and converts an emitted radiation into an electromagnetic wave of another wavelength such as visible light to obtain an electric signal will be described. However, the present invention can also be applied to a so-called direct type radiographic imaging apparatus in which radiation is directly detected by a radiation detection element without using a scintillator or the like.

さらに、放射線画像撮影装置が可搬型の放射線画像撮影装置である場合について説明するが、本発明は、支持台等と一体的に形成された固定型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。   Furthermore, although the case where the radiographic imaging device is a portable radiographic imaging device will be described, the present invention is also applicable to a stationary radiographic imaging device formed integrally with a support base or the like. Can do.

本実施形態では、充電制御回路81(後述する図8参照)が、電子機器としての放射線画像撮影装置1に設けられている場合について説明する。   In the present embodiment, a case where the charge control circuit 81 (see FIG. 8 described later) is provided in the radiographic image capturing apparatus 1 as an electronic device will be described.

[放射線画像撮影装置の構成例について]
まず、電子機器の一例である放射線画像撮影装置1の構成例について説明する。図1は、放射線画像撮影装置1の外観を示す斜視図である。また、図2は、図1のX−X線に沿う断面図である。
[Configuration example of radiation imaging apparatus]
First, a configuration example of the radiation image capturing apparatus 1 that is an example of an electronic apparatus will be described. FIG. 1 is a perspective view showing an appearance of the radiation image capturing apparatus 1. 2 is a cross-sectional view taken along line XX in FIG.

本実施形態では、放射線画像撮影装置1は、いわゆるフラットパネルディテクターを可搬型に構成したカセッテ型の放射線画像撮影装置であり、放射線画像撮影に用いられ、放射線を検出して当該放射線の線量に応じた画像データを生成して取得するものである。   In the present embodiment, the radiographic image capturing apparatus 1 is a cassette type radiographic image capturing apparatus in which a so-called flat panel detector is configured to be portable, and is used for radiographic image capturing to detect radiation and respond to the dose of the radiation. Image data is generated and acquired.

放射線画像撮影装置1は、図1や図2に示すように、筐体2内にシンチレーター3や基板4等で構成されるセンサーパネルSPが収納されて構成されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the radiation image capturing apparatus 1 is configured by housing a sensor panel SP including a scintillator 3 and a substrate 4 in a housing 2.

本実施形態では、筐体2のうち、放射線入射面Rを有する中空の角筒状のハウジング本体部2Aは、放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されている。このハウジング本体部2Aの両側の開口部をカバー部材2B、2Cで閉塞することで筐体2が形成されている。なお、筐体2をこのようないわゆるモノコック型として形成する代わりに、例えば、フロント板とバック板とで形成された、いわゆる弁当箱型とすることも可能である。   In the present embodiment, a hollow rectangular tube-shaped housing body 2A having a radiation incident surface R in the housing 2 is formed of a material such as a carbon plate or plastic that transmits radiation. The housing 2 is formed by closing openings on both sides of the housing main body 2A with cover members 2B and 2C. Instead of forming the casing 2 as such a so-called monocoque type, for example, a so-called lunch box type formed of a front plate and a back plate can be used.

本実施形態では、筐体2の一方側のカバー部材2Bには、電源スイッチ37や切替スイッチ38等が配置されている。また、本実施形態では、カバー部材2Bには、内蔵電源24(図2や後述する図3参照)の状態や放射線画像撮影装置1の稼働状態等を表示するLED等で構成されたインジケーター40が配置されている。   In the present embodiment, a power switch 37, a changeover switch 38, and the like are disposed on the cover member 2B on one side of the housing 2. In the present embodiment, the cover member 2B has an indicator 40 composed of an LED or the like for displaying the state of the built-in power supply 24 (see FIG. 2 or FIG. 3 to be described later), the operating state of the radiographic imaging device 1, and the like. Has been placed.

また、本実施形態では、カバー部材2Bには、クレードル60のコネクター71(後述する図6や図7参照)と接続可能なコネクター39が配置されている。このコネクター39が、クレードル60のコネクター71と接続することで、充電装置としてのクレードル60から放射線画像撮影装置1に電力が供給されるようになっている。   In the present embodiment, the cover member 2B is provided with a connector 39 that can be connected to a connector 71 of the cradle 60 (see FIGS. 6 and 7 described later). The connector 39 is connected to the connector 71 of the cradle 60 so that power is supplied from the cradle 60 as a charging device to the radiation image capturing apparatus 1.

また、図示を省略するが、本実施形態では、筐体2の他方側のカバー部材2Cには、外部装置との間で無線通信を行うためのアンテナ装置41a(後述する図8参照)が、例えばカバー部材2Cに埋め込まれる等して設けられている。   Although not shown, in the present embodiment, the cover member 2C on the other side of the housing 2 has an antenna device 41a (see FIG. 8 described later) for wireless communication with an external device. For example, it is provided by being embedded in the cover member 2C.

図2に示すように、筐体2の内部には、基板4の下方側に鉛の薄板等(図示省略)を介して基台31が配置されている。この基台31には、電子部品32等が配設されたPCB基板33や内蔵電源24等が取り付けられている。   As shown in FIG. 2, a base 31 is disposed inside the housing 2 on the lower side of the substrate 4 via a thin lead plate or the like (not shown). A PCB substrate 33 on which electronic components 32 and the like are disposed, a built-in power supply 24 and the like are attached to the base 31.

また、基板4やシンチレーター3の放射線入射面R側の面には、それらを保護するためのガラス基板34が配設されている。また、本実施形態では、センサーパネルSPと筐体2の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材35が設けられている。   Further, a glass substrate 34 for protecting the substrate 4 and the scintillator 3 on the radiation incident surface R side is disposed. Moreover, in this embodiment, the buffer material 35 for preventing that they collide between the sensor panel SP and the side surface of the housing | casing 2 is provided.

図示を省略するが、基板4の検出部P上には、フォトダイオード等からなる複数の放射線検出素子7が二次元状(マトリクス状)に配列されている。各放射線検出素子7には、スイッチ手段としての薄膜トランジスター(Thin Film Transistor。以下、TFTという。)8や走査線5、信号線6、バイアス線9等が接続されている。また、基板4の検出部Pは、シンチレーター3に対向するように設けられている。   Although not shown, a plurality of radiation detection elements 7 made of photodiodes or the like are arranged in a two-dimensional shape (matrix shape) on the detection portion P of the substrate 4. Each radiation detection element 7 is connected with a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) 8, a scanning line 5, a signal line 6, a bias line 9, and the like as switching means. The detection part P of the substrate 4 is provided so as to face the scintillator 3.

次に、放射線画像撮影装置1の回路構成について説明する。図3は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の等価回路を表すブロック図である。   Next, the circuit configuration of the radiation image capturing apparatus 1 will be described. FIG. 3 is a block diagram showing an equivalent circuit of the radiation image capturing apparatus 1 according to this embodiment.

複数の放射線検出素子7が基板4上に二次元状に配列されて検出部Pが形成されている。また、各放射線検出素子7の第2電極7bにはそれぞれバイアス線9が接続されており、各バイアス線9は結線10に結束されてバイアス電源14に接続されている。そして、バイアス電源14は、結線10および各バイアス線9を介して各放射線検出素子7の第2電極7bにそれぞれ逆バイアス電圧を印加する。   A plurality of radiation detection elements 7 are two-dimensionally arranged on the substrate 4 to form a detection unit P. In addition, a bias line 9 is connected to the second electrode 7 b of each radiation detection element 7, and each bias line 9 is bound to a connection 10 and connected to a bias power supply 14. The bias power supply 14 applies a reverse bias voltage to the second electrode 7 b of each radiation detection element 7 via the connection 10 and each bias line 9.

走査駆動回路15では、電源回路15aからゲートドライバー15bに配線15cを介してオン電圧やオフ電圧が供給される。そして、ゲートドライバー15bで走査線5の各ラインL1〜Lxに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧との間で切り替えて、各TFT8のオン状態とオフ状態とを切り替えることで、各放射線検出素子7からの画像データの読み出し処理等を行うように構成されている。   In the scanning drive circuit 15, an on voltage or an off voltage is supplied from the power supply circuit 15a to the gate driver 15b via the wiring 15c. And each radiation detection element is switched by switching the voltage applied to each line L1-Lx of the scanning line 5 by the gate driver 15b between ON voltage and OFF voltage, and switching each TFT8 ON state and OFF state. 7 is configured to perform a process of reading image data from the image data 7.

各信号線6は、読み出しIC16内に形成された各読み出し回路17にそれぞれ接続されている。読み出し回路17は、増幅回路18や相関二重サンプリング回路19等で構成されている。読み出しIC16内には、さらに、アナログマルチプレクサー21が設けられている。また、読み出しIC16は、A/D変換部20を介して制御手段22に接続されている。   Each signal line 6 is connected to each readout circuit 17 formed in the readout IC 16. The readout circuit 17 includes an amplification circuit 18 and a correlated double sampling circuit 19. An analog multiplexer 21 is further provided in the read IC 16. Further, the reading IC 16 is connected to the control means 22 via the A / D conversion unit 20.

そして、例えば、各放射線検出素子7からの画像データの読み出し処理の際には、ゲートドライバー15bからオン電圧が印加された走査線5に接続されているTFT8がオン状態になり、オン状態になったTFT8に接続されている放射線検出素子7から信号線6に電荷が放出され、放出された電荷が読み出し回路17の増幅回路18で電荷電圧変換される。   Then, for example, in the process of reading the image data from each radiation detection element 7, the TFT 8 connected to the scanning line 5 to which the on voltage is applied from the gate driver 15b is turned on and turned on. Charge is discharged from the radiation detection element 7 connected to the TFT 8 to the signal line 6, and the discharged charge is converted into a charge voltage by the amplifier circuit 18 of the readout circuit 17.

そして、増幅回路18の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路19で、放射線検出素子7から電荷が放出される前後の増幅回路18からの出力値の差分を算出し、算出した差分をアナログ値の画像データとして出力する。そして、出力されたアナログ値の画像データが、アナログマルチプレクサー21を介して順次A/D変換部20に送信され、A/D変換部20で順次デジタル値の画像データに変換されて出力され、記憶手段23に順次保存される。このようにして、各放射線検出素子7からの画像データの読み出し処理が順次行われる。   Then, the correlated double sampling circuit 19 provided on the output side of the amplifier circuit 18 calculates the difference between the output values from the amplifier circuit 18 before and after the charge is released from the radiation detection element 7, and the calculated difference is analog Output as value image data. Then, the output analog value image data is sequentially transmitted to the A / D conversion unit 20 via the analog multiplexer 21, and is converted into digital value image data by the A / D conversion unit 20 and output. The data are sequentially stored in the storage unit 23. In this way, the image data reading process from each radiation detection element 7 is sequentially performed.

制御手段22は、放射線画像撮影装置1の各機能部の動作等を制御するようになっている。具体的には、制御手段22は、CPU(Central Processing Unit)等により構成される本体制御部22a(後述する図8参照)、ROM(Read Only Memory。図示省略)、RAM(Random Access Memory)22b(後述する図8参照)、入出力インターフェース(図示省略)等がバスに接続されたコンピューターや、FPGA(Field Programmable Gate Array)等により構成されている。なお、制御手段22は、専用の制御回路で構成されていてもよい。   The control means 22 controls the operation of each functional unit of the radiographic image capturing apparatus 1. Specifically, the control means 22 includes a main body control unit 22a (see FIG. 8 described later) configured by a CPU (Central Processing Unit) and the like, a ROM (Read Only Memory, not shown), and a RAM (Random Access Memory) 22b. (See FIG. 8 described later), an input / output interface (not shown) and the like are configured by a computer connected to a bus, an FPGA (Field Programmable Gate Array), and the like. The control means 22 may be configured with a dedicated control circuit.

また、制御手段22には、SRAM(Static RAM)やSDRAM(Synchronous DRAM)等で構成される記憶手段23が接続されている。また、本実施形態では、制御手段22には、アンテナ装置41aを有する通信部41や信号処理部25(後述する図8参照)、電源スイッチ37、切替スイッチ38、コネクター39、インジケーター40等も接続されている。   The control means 22 is connected to a storage means 23 composed of SRAM (Static RAM), SDRAM (Synchronous DRAM) or the like. In the present embodiment, the control unit 22 is also connected to the communication unit 41 having the antenna device 41a, the signal processing unit 25 (see FIG. 8 described later), the power switch 37, the changeover switch 38, the connector 39, the indicator 40, and the like. Has been.

ここで、通信部41は、コンソール101等の外部装置との間で各種信号の送受信を行う。具体的には、通信部41は、アンテナ装置41aにより、無線アクセスポイント(図示省略)を介して無線方式でコンソール101等の外部装置との間で通信を行うことが可能となっている。また、通信部41は、放射線画像撮影装置1のコネクター39とクレードル60のコネクター71とが接続されている場合に、クレードル60を介して有線方式でコンソール101等の外部装置との間で通信を行うことも可能となっている。   Here, the communication unit 41 transmits / receives various signals to / from an external device such as the console 101. Specifically, the communication unit 41 can communicate with an external device such as the console 101 in a wireless manner via a wireless access point (not shown) by the antenna device 41a. The communication unit 41 communicates with an external device such as the console 101 in a wired manner via the cradle 60 when the connector 39 of the radiation image capturing apparatus 1 and the connector 71 of the cradle 60 are connected. It is also possible to do.

また、信号処理部25は、各放射線検出素子7から読み出されA/D変換部20でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データに所定の信号処理を施すことによって、画像データを外部に送信するのに適した形式のデータに変換する。   In addition, the signal processing unit 25 performs predetermined signal processing on the image data read from each radiation detection element 7 and converted from analog value data to digital value data by the A / D conversion unit 20, thereby obtaining an image. Convert the data into a format suitable for sending to the outside.

すなわち、本実施形態では、各放射線検出素子7から読み出されA/D変換部20でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データは、信号処理部25で外部に送信するのに適した形式のデータに変換されて、その後、通信部41からコンソール101等の外部装置に送信されるようになっている。   That is, in this embodiment, image data read from each radiation detection element 7 and converted from analog value data to digital value data by the A / D conversion unit 20 is transmitted to the outside by the signal processing unit 25. The data is converted into data in a format suitable for the data, and then transmitted from the communication unit 41 to an external device such as the console 101.

また、本実施形態では、制御手段22には、制御手段22や走査駆動回路15、読み出し回路17、記憶手段23、バイアス電源14等の各機能部に電力を供給するための内蔵電源24が接続されている。   In the present embodiment, the control means 22 is connected to a built-in power supply 24 for supplying power to the function sections such as the control means 22, the scanning drive circuit 15, the readout circuit 17, the storage means 23, and the bias power supply 14. Has been.

なお、本実施形態では、内蔵電源24として、リチウムイオンキャパシター(LIC)が用いられているが、本発明はこれに限定されるものではない。内蔵電源24は、充電可能な内蔵電源であれば、電気二重層キャパシター等の蓄電デバイスや通常のバッテリーや二次電池等であってもよい。   In the present embodiment, a lithium ion capacitor (LIC) is used as the built-in power supply 24, but the present invention is not limited to this. The built-in power supply 24 may be an electric storage device such as an electric double layer capacitor, a normal battery, a secondary battery, or the like as long as it can be charged.

また、図3では図示を省略したが、本実施形態では、内蔵電源24には、内蔵電源24への充電を制御する充電制御回路81(後述する図8参照)が接続されている。この点については、後で詳しく説明する。   Although not shown in FIG. 3, in this embodiment, the built-in power supply 24 is connected to a charge control circuit 81 (see FIG. 8 described later) that controls charging of the built-in power supply 24. This point will be described in detail later.

[クレードルの構成例について]
次に、充電装置の一例であるクレードル60の構成例について説明する。
[Cradle configuration example]
Next, a configuration example of the cradle 60 that is an example of the charging device will be described.

図4は、クレードル60の外観を示す斜視図である。また、図5は、図4に示すクレードル60に放射線画像撮影装置1が挿入された状態を示した斜視図である。また、図6および図7は、クレードル60の内部構成を模式的に示した図であり、図6はクレードル60に放射線画像撮影装置1を挿入しようとする状態を示しており、図7はクレードル60に放射線画像撮影装置1を挿入した状態を示している。   FIG. 4 is a perspective view showing the external appearance of the cradle 60. FIG. 5 is a perspective view showing a state in which the radiation image capturing apparatus 1 is inserted into the cradle 60 shown in FIG. 6 and 7 are diagrams schematically showing the internal configuration of the cradle 60. FIG. 6 shows a state in which the radiographic imaging apparatus 1 is to be inserted into the cradle 60, and FIG. 7 shows the cradle. 60 shows a state in which the radiation image capturing apparatus 1 is inserted.

図4や図5に示すように、クレードル60はほぼ直方体形状に形成され上面に開口部61aを有する筐体61と、この筐体61の開口部61aを被覆する被覆部材62とを備えている。また、筐体61の一端部には、クレードル60を動作させる各種のスイッチ63が設けられている。   As shown in FIGS. 4 and 5, the cradle 60 includes a casing 61 that is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape and has an opening 61 a on the upper surface, and a covering member 62 that covers the opening 61 a of the casing 61. . Various switches 63 for operating the cradle 60 are provided at one end of the housing 61.

図6や図7に示すように、筐体61の内部には、筐体61の長手方向に延在し、放射線画像撮影装置1を鉛直方向に収容する装置収容部64が設けられている。また、筐体61には基板65上に配置された各種電子部品66が収納されている。   As shown in FIGS. 6 and 7, the housing 61 is provided with a device housing portion 64 that extends in the longitudinal direction of the housing 61 and houses the radiographic imaging device 1 in the vertical direction. The casing 61 houses various electronic components 66 arranged on the substrate 65.

電子部品66には、例えば放射線画像撮影装置1の充電制御回路81(後述する図8参照)に一定の電圧の直流電圧を供給するために、外部の交流電源から供給された交流電圧を直流電圧に変換するAC/DCコンバーター等を備えた安定化電源回路66a(後述する図8参照)等が含まれている。   The electronic component 66 is supplied with an AC voltage supplied from an external AC power source, for example, in order to supply a constant DC voltage to the charging control circuit 81 (see FIG. 8 to be described later) of the radiation imaging apparatus 1. A stabilized power supply circuit 66a (see FIG. 8 to be described later) including an AC / DC converter or the like for conversion to the above is included.

また、装置収容部64は、装置収容部64の側壁を構成する前側壁部材67と奥側壁部材68とを備えている。前側壁部材67の上端部と奥側壁部材68の上端部とによって放射線画像撮影装置1が挿入される挿入口69(図6参照)が形成されている。放射線画像撮影装置1は、挿入口69から前側壁部材67と奥側壁部材68の間に挿入されるように構成されている。   Further, the device housing portion 64 includes a front side wall member 67 and a back side wall member 68 that constitute the side wall of the device housing portion 64. An insertion port 69 (see FIG. 6) into which the radiographic imaging device 1 is inserted is formed by the upper end portion of the front side wall member 67 and the upper end portion of the back side wall member 68. The radiographic imaging device 1 is configured to be inserted between the front side wall member 67 and the back side wall member 68 from the insertion port 69.

前側壁部材67の内側部には、放射線画像撮影装置1を装置収容部64内部に案内する案内部材67aが取り付けられている。奥側壁部材68の内側面には、緩衝部材68aが長手方向の全面に亘って設けられている。   A guide member 67 a that guides the radiographic imaging apparatus 1 into the apparatus housing part 64 is attached to the inner side of the front side wall member 67. A buffer member 68 a is provided on the entire inner surface of the back side wall member 68 in the longitudinal direction.

装置収容部64は、その厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置1の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっている。また、装置収容部64内の挿入口69付近には、挿入口69から挿入された放射線画像撮影装置1を一時的に保持する装置保持手段70が配置されている。   The device housing portion 64 has an inner dimension in the thickness direction that matches the outer dimension in the thickness direction of the radiation imaging apparatus 1. An apparatus holding means 70 for temporarily holding the radiographic imaging apparatus 1 inserted from the insertion opening 69 is disposed near the insertion opening 69 in the apparatus housing portion 64.

装置収容部64内の底部には、放射線画像撮影装置1側のコネクター39と接続可能なクレードル60側のコネクター71が配置されている。クレードル60側のコネクター71は、ケーブル(図示省略)を介して電子部品66と電気的に接続されている。   A connector 71 on the cradle 60 side that can be connected to the connector 39 on the radiographic imaging apparatus 1 side is disposed on the bottom of the apparatus housing 64. The connector 71 on the cradle 60 side is electrically connected to the electronic component 66 via a cable (not shown).

本実施形態では、図6に示すように、放射線画像撮影装置1がクレードル60に斜めに挿入されると、放射線画像撮影装置1に押されて挿入口69を被覆する蓋部材72が、被覆部材62に沿って奥側(図中では左側)に退避する。   In the present embodiment, as shown in FIG. 6, when the radiographic image capturing apparatus 1 is inserted into the cradle 60 obliquely, the lid member 72 that is pushed by the radiographic image capturing apparatus 1 and covers the insertion port 69 is a covering member. Retreat to the back side (left side in the figure) along 62.

そして、略鉛直方向に向けられた放射線画像撮影装置1が挿入口69から挿入されると、放射線画像撮影装置1のコネクター39が設けられた側のカバー部材2Bが一旦装置保持手段70に当接して保持された後、図7に示すように装置保持手段70が下方に回動することで、放射線画像撮影装置1が装置収容部64内に収容される。   When the radiographic image capturing apparatus 1 oriented in the substantially vertical direction is inserted from the insertion port 69, the cover member 2B on the side where the connector 39 of the radiographic image capturing apparatus 1 is provided once comes into contact with the apparatus holding means 70. Then, as shown in FIG. 7, the apparatus holding means 70 is rotated downward so that the radiographic image capturing apparatus 1 is accommodated in the apparatus accommodating portion 64.

そして、前述したように、装置収容部64の厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置1の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっているため、装置収容部64内に収容された放射線画像撮影装置1側のコネクター39が、自動的にクレードル60側のコネクター71に接続可能な位置に適切に位置決めされた状態で接続されるように構成されている。   As described above, since the inner dimension in the thickness direction of the device accommodating portion 64 is a dimension that matches the outer dimension in the thickness direction of the radiographic image capturing apparatus 1, the radiographic image accommodated in the apparatus accommodating portion 64. The connector 39 on the photographing apparatus 1 side is configured to be connected in a state where it is appropriately positioned at a position where it can be automatically connected to the connector 71 on the cradle 60 side.

[充電システムの構成例について]
次に、本実施形態に係る充電システム100の構成について説明する。また、以下、本実施形態に係る充電システム100および放射線画像撮影装置1の作用についてもあわせて説明する。図8は、充電システム100の構成を概略的に表すブロック図である。
[Configuration example of charging system]
Next, the configuration of the charging system 100 according to the present embodiment will be described. Hereinafter, the operation of the charging system 100 and the radiation image capturing apparatus 1 according to the present embodiment will also be described. FIG. 8 is a block diagram schematically showing the configuration of the charging system 100.

図8に示すように、本実施形態では、放射線画像撮影装置1における内蔵電源24と各機能部との間には、電圧検出回路82と電源回路83とが設けられている。電圧検出回路82は、内蔵電源24の電圧V、すなわち内蔵電源24に充電されている充電電圧Vを検出する電圧検出部として機能するようになっている。また、電源回路83は、内蔵電源24から供給される電力を供給先の各機能部に適するように、その電圧値等を適宜変換、調整するようになっている。   As shown in FIG. 8, in the present embodiment, a voltage detection circuit 82 and a power supply circuit 83 are provided between the built-in power supply 24 and each functional unit in the radiographic image capturing apparatus 1. The voltage detection circuit 82 functions as a voltage detection unit that detects the voltage V of the built-in power supply 24, that is, the charging voltage V charged in the built-in power supply 24. In addition, the power supply circuit 83 appropriately converts and adjusts the voltage value and the like so that the power supplied from the built-in power supply 24 is suitable for each functional unit of the supply destination.

また、図8に示すように、本実施形態では、放射線画像撮影装置1におけるコネクター39と内蔵電源24との間には、充電制御回路81が設けられている。充電制御回路81は、内蔵電源24の電圧Vが目標電圧V1(図14(A)参照。例えば、内蔵電源24の定格電圧)に達するまで定電流充電を行うとともに、内蔵電源24の電圧Vが目標電圧V1に達した場合に定電圧充電に切り替えて、内蔵電源24への充電を制御する充電制御部として機能するようになっている。   Further, as shown in FIG. 8, in the present embodiment, a charging control circuit 81 is provided between the connector 39 and the built-in power supply 24 in the radiographic image capturing apparatus 1. The charging control circuit 81 performs constant current charging until the voltage V of the built-in power supply 24 reaches the target voltage V1 (see FIG. 14A. For example, the rated voltage of the built-in power supply 24). When the target voltage V1 is reached, it switches to constant voltage charging and functions as a charge control unit that controls charging to the built-in power supply 24.

また、本実施形態では、放射線画像撮影装置1が備える制御手段22の本体制御部22aは、充電制御回路81による定電流充電時に電圧検出回路82が検出した内蔵電源24の電圧Vに基づいて内蔵電源24の電圧上昇率ΔV、すなわち単位時間あたりの電圧上昇値を取得するようになっている。なお、電圧上昇率を、電圧Vの単位上昇分の充電に要する時間として定義することも可能である。   In the present embodiment, the main body control unit 22 a of the control unit 22 included in the radiographic image capturing apparatus 1 is built in based on the voltage V of the built-in power supply 24 detected by the voltage detection circuit 82 during constant current charging by the charge control circuit 81. The voltage increase rate ΔV of the power supply 24, that is, the voltage increase value per unit time is acquired. It is also possible to define the voltage increase rate as the time required for charging for the unit increase of the voltage V.

そして、本体制御部22aは、取得した電圧上昇率ΔVと、過去に取得した電圧上昇率ΔVoldとの比に基づいて内蔵電源の劣化度合いを算出して判定するようになっている。すなわち、本実施形態では、本体制御部22aが、内蔵電源24の劣化度合いを判定する判定部として機能するようになっている。   The main body control unit 22a calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on the ratio between the acquired voltage increase rate ΔV and the previously acquired voltage increase rate ΔVold. That is, in the present embodiment, the main body control unit 22a functions as a determination unit that determines the degree of deterioration of the built-in power supply 24.

以下、判定部である本体制御部22aにおける内蔵電源24の劣化度合いの判定処理について具体的に説明する。   Hereinafter, the determination process of the deterioration degree of the built-in power supply 24 in the main body control unit 22a which is a determination unit will be specifically described.

本実施形態では、本体制御部22aは、過去の電圧上昇率ΔVとして、例えば電子機器である放射線画像撮影装置1の生産時や工場出荷時、或いは病院等への施設の導入時に、内蔵電源24を定電流充電する際に、電圧検出回路82が検出する内蔵電源24の電圧Vを監視し、例えば1分等の単位時間あたりの電圧Vの上昇値として電圧上昇率ΔV[V/min]を取得して、RAM22bに記憶しておく。   In the present embodiment, the main body control unit 22a uses the built-in power supply 24 as the past voltage increase rate ΔV, for example, at the time of production of the radiographic imaging device 1 that is an electronic device, at the time of factory shipment, or at the introduction of a facility to a hospital or the like. When the constant current charging is performed, the voltage V of the built-in power supply 24 detected by the voltage detection circuit 82 is monitored, and the voltage increase rate ΔV [V / min] is set as an increase value of the voltage V per unit time such as 1 minute. It is acquired and stored in the RAM 22b.

なお、以下、この工場出荷時等に取得された電圧上昇率ΔVを、初期の電圧上昇率ΔVinという。   Hereinafter, the voltage increase rate ΔV acquired at the time of factory shipment or the like is referred to as an initial voltage increase rate ΔVin.

また、放射線画像撮影装置1の使用開始後の内蔵電源24の充電時における電圧上昇率ΔVの取得の際も同様であるが、上記のようにして電圧上昇率ΔVを取得する場合、図15に示したように、内蔵電源の電圧Vが高い電圧領域では、劣化が進んでいる場合と進んでいない場合とで電圧上昇率ΔVの差異が小さくなる。そのため、電圧上昇率ΔVに基づいて劣化度合いを判定し難くなる。   The same applies to the acquisition of the voltage increase rate ΔV during charging of the built-in power supply 24 after the start of use of the radiographic imaging apparatus 1, but when the voltage increase rate ΔV is acquired as described above, FIG. As shown, in the voltage region where the voltage V of the built-in power supply is high, the difference in the voltage increase rate ΔV is small between the case where the deterioration is advanced and the case where the deterioration is not advanced. This makes it difficult to determine the degree of deterioration based on the voltage increase rate ΔV.

そこで、本実施形態では、図15に現れている特性、すなわち、内蔵電源24の上限電圧V1(例えば4[V])と下限電圧V0(例えば2[V])の中間の電圧(例えば3[V])より若干高い電圧から下限電圧V0までの電圧領域では、劣化が進んでいる内蔵電源24における電圧上昇率ΔVと正常品における電圧上昇率ΔVとの差異が大きくなるという特性を利用する。   Therefore, in the present embodiment, the characteristics appearing in FIG. 15, that is, an intermediate voltage (for example, 3 [V]) between the upper limit voltage V1 (for example 4 [V]) and the lower limit voltage V0 (for example 2 [V]) of the built-in power supply 24 are shown. V]) in the voltage range from a slightly higher voltage to the lower limit voltage V0, the characteristic that the difference between the voltage increase rate ΔV in the built-in power supply 24 and the voltage increase rate ΔV in the normal product becomes large is utilized.

なお、以下では、この電圧領域を、電圧上昇率取得領域という。この電圧上昇率取得領域は、例えば図15と同じグラフを表す図9に示す電圧領域R0のような電圧領域として設定される。すなわち、電圧上昇率取得領域R0は、上限電圧V1である目標電圧V1より低く、許容される下限電圧V0より高い電圧である電圧領域であり、かつ、内蔵電源24の劣化度合いに応じて電圧上昇率ΔVが有意に異なる値になる電圧領域として定義される。   Hereinafter, this voltage region is referred to as a voltage increase rate acquisition region. This voltage increase rate acquisition region is set as a voltage region such as a voltage region R0 shown in FIG. 9 representing the same graph as FIG. That is, the voltage increase rate acquisition region R0 is a voltage region that is lower than the target voltage V1 that is the upper limit voltage V1 and higher than the allowable lower limit voltage V0, and the voltage increases according to the degree of deterioration of the built-in power supply 24. It is defined as a voltage region in which the rate ΔV is significantly different.

そして、判定部である本体制御部22aは、電圧検出回路82が検出する内蔵電源24の電圧Vが、この電圧上昇率取得領域R0内にある場合に、上記のようにして内蔵電源24の電圧上昇率ΔVを取得するようになっている。   When the voltage V of the built-in power supply 24 detected by the voltage detection circuit 82 is within the voltage increase rate acquisition region R0, the main body control unit 22a, which is a determination unit, determines the voltage of the built-in power supply 24 as described above. An increase rate ΔV is acquired.

逆に、本実施形態では、本体制御部22aは、例えば図9に示した例における3[V]よりも若干高い電圧以上の電圧領域(すなわち図9中の電圧上昇率取得領域R0よりも右側の電圧領域)のように、内蔵電源24の劣化度合いが異なる場合の各電圧上昇率ΔVの差異が小さくなり、ほとんど同じ値になってしまう電圧領域では、内蔵電源24の電圧上昇率ΔVの取得処理を行わない。   Conversely, in the present embodiment, the main body control unit 22a, for example, has a voltage region slightly higher than 3 [V] in the example shown in FIG. 9 (that is, the right side of the voltage increase rate acquisition region R0 in FIG. 9). The voltage increase rate ΔV of the built-in power supply 24 is obtained in a voltage region in which the difference between the voltage increase rates ΔV when the degree of deterioration of the built-in power supply 24 is different, as shown in FIG. Do not process.

一方、図9を見れば分かるように、内蔵電源24の劣化が進んでいる場合も進んでいない場合も、いずれの場合も、電圧上昇率ΔVは一定の値にならず、内蔵電源24の電圧Vの大きさに応じて変化する値になる。   On the other hand, as can be seen from FIG. 9, the voltage increase rate ΔV does not become a constant value in both cases, whether the deterioration of the internal power supply 24 is advanced or not, and the voltage of the internal power supply 24 The value varies according to the magnitude of V.

そのため、例えば図10に示すように、例えば電圧上昇率取得領域R0を、内蔵電源24の電圧Vに応じて仮に複数の電圧領域R1、R2、R3に区分した場合、1回の充電時に取得した場合であっても、各電圧領域R1、R2、R3でそれぞれ取得される電圧上昇率ΔVは、通常、それぞれ異なる値になる。   Therefore, for example, as shown in FIG. 10, when the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into a plurality of voltage regions R1, R2, R3 according to the voltage V of the built-in power supply 24, for example, it is acquired at the time of one charge. Even in this case, the voltage increase rate ΔV acquired in each of the voltage regions R1, R2, and R3 usually has different values.

そこで、図10に示すように、電圧上昇率取得領域R0を、内蔵電源24の電圧Vに応じて複数の電圧領域(例えば電圧領域R1、R2、R3)に区分しておき、判定部である本体制御部22aは、区分した電圧領域ごとにそれぞれ電圧上昇率ΔVを取得し、後述するようにそれらに基づいてそれぞれ内蔵電源の劣化度合いを算出するように構成することが望ましい。   Therefore, as shown in FIG. 10, the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into a plurality of voltage regions (for example, voltage regions R1, R2, R3) according to the voltage V of the built-in power supply 24, and is a determination unit. It is desirable that the main body control unit 22a is configured to acquire the voltage increase rate ΔV for each divided voltage region, and to calculate the degree of deterioration of the built-in power source based on them, as will be described later.

このように構成すると、本実施形態における電子機器である放射線画像撮影装置1では、例えば放射線画像撮影があまり多く行われずに内蔵電源24の充電が行われた場合には、より高い電圧領域R1で電圧上昇率ΔVの取得等が行われるようになる。   If comprised in this way, in the radiographic imaging apparatus 1 which is an electronic device in this embodiment, for example, when the built-in power supply 24 is charged without performing radiographic imaging much, the higher voltage region R1 is used. The voltage increase rate ΔV is acquired.

また、放射線画像撮影装置1が長時間使用されたり連続撮影が行われたような場合には、内蔵電源24の電力がより多く消費されるため、より低い電圧領域である電圧領域R2や電圧領域R3の電圧を充電開始電圧として充電が行われるようになる。そして、電圧領域R2から充電が行われた場合には電圧領域R2、R1で、また、電圧領域R3から充電が行われた場合には電圧領域R3、R2、R1で、それぞれ電圧上昇率ΔVの取得等が行われるようになる。   In addition, when the radiographic image capturing apparatus 1 is used for a long time or when continuous imaging is performed, the power of the built-in power supply 24 is consumed more. Therefore, the voltage region R2 and the voltage region which are lower voltage regions are consumed. Charging is performed using the voltage of R3 as the charging start voltage. When the charging is performed from the voltage region R2, the voltage increase rate ΔV is obtained in the voltage regions R2 and R1, and when the charging is performed from the voltage region R3, in the voltage regions R3, R2, and R1, respectively. Acquisition etc. will be performed.

なお、図10では、電圧上昇率取得領域R0を、3つの電圧領域R1、R2、R3に区分する場合を例示したが、電圧上昇率取得領域R0の複数の電圧領域への区分の仕方はこれに限定されず、電圧上昇率取得領域R0を2つの電圧領域に区分したり、或いは4つ以上の電圧領域に区分するように構成することも可能である。   FIG. 10 illustrates the case where the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into three voltage regions R1, R2, and R3. However, the method of dividing the voltage increase rate acquisition region R0 into a plurality of voltage regions is illustrated here. However, the voltage increase rate acquisition region R0 may be divided into two voltage regions, or may be configured to be divided into four or more voltage regions.

また、以下では、電圧上昇率取得領域R0を図9に示したような1つの電圧領域として設定する場合について説明する。しかし、上記のように、電圧上昇率取得領域R0を複数の電圧領域R1〜R3に区分し、各電圧領域R1〜R3でそれぞれ以下で説明する処理を行い、各電圧領域R1〜R3の処理結果を比較して用いるように構成してもよい。このように構成すれば、前述したように、より低い電圧領域R2、R3での定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得することが可能となり、後述する内蔵電源24の劣化度合いの判定処理等の各処理を精度良く行うことが可能となるといったメリットがある。   Hereinafter, a case where the voltage increase rate acquisition region R0 is set as one voltage region as illustrated in FIG. 9 will be described. However, as described above, the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into a plurality of voltage regions R1 to R3, and the processing described below is performed in each voltage region R1 to R3, and the processing result of each voltage region R1 to R3. May be used in comparison. With this configuration, as described above, it is possible to acquire the voltage increase rate ΔV during constant current charging in the lower voltage regions R2 and R3. There is an advantage that each process can be performed with high accuracy.

さらに、電圧上昇率取得領域R0を複数の電圧領域に区分する場合には、上記のように電子機器である放射線画像撮影装置1の工場出荷時等に取得する初期の電圧上昇率ΔVinも、各電圧領域ごとにそれぞれ予め取得しておき、それぞれRAM22bに記憶しておくように構成される。   Further, when the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into a plurality of voltage regions, the initial voltage increase rate ΔVin acquired at the time of factory shipment of the radiographic imaging device 1 as an electronic device as described above, Each voltage region is acquired in advance and stored in the RAM 22b.

本実施形態では、判定部である本体制御部22aは、上記のようにして取得した電圧上昇率ΔVを用いて、以下の各処理を行うように構成されている。なお、判定部である本体制御部22aで、以下で説明する各処理の全てを行うように構成する必要はなく、各処理のいずれかの処理のみ、或いはそのうちの複数の処理のみを行うように構成することも可能である。   In the present embodiment, the main body control unit 22a, which is a determination unit, is configured to perform the following processes using the voltage increase rate ΔV acquired as described above. The main body control unit 22a, which is a determination unit, does not have to be configured to perform all of the processes described below, and performs only one of the processes or only a plurality of processes. It is also possible to configure.

[内蔵電源の劣化度合いの判定処理]
判定部である本体制御部22aは、上記のようにして内蔵電源24の定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得すると、取得した電圧上昇率ΔVと、過去に取得した電圧上昇率ΔVである上記の初期の電圧上昇率ΔVinとの比ΔVin/ΔVに基づいて内蔵電源24の劣化度合いを算出して判定するように構成されている。
[Built-in power supply deterioration judgment process]
When the main body control unit 22a, which is the determination unit, acquires the voltage increase rate ΔV during constant current charging of the built-in power supply 24 as described above, the acquired voltage increase rate ΔV and the voltage increase rate ΔV acquired in the past are the above. The deterioration degree of the built-in power supply 24 is calculated and determined based on the ratio ΔVin / ΔV with the initial voltage increase rate ΔVin.

本実施形態では、現時点での内蔵電源24の容量Cの大きさが、電子機器である放射線画像撮影装置1の工場出荷時等における容量Cinと比較してどの程度の割合(比)であるかによって内蔵電源24の劣化度合いを表すようになっている。よく知られているように、電荷Qと容量Cと電圧Vとの間にはQ=C・Vの関係があり、この関係はC=Q/Vと変形できる。   In the present embodiment, what is the ratio (ratio) of the capacity C of the built-in power supply 24 at the present time compared to the capacity Cin of the radiographic imaging apparatus 1 that is an electronic device at the time of factory shipment or the like. Represents the degree of deterioration of the built-in power supply 24. As is well known, there is a relationship Q = C · V between the charge Q, the capacitance C, and the voltage V, and this relationship can be transformed to C = Q / V.

そして、定電流充電の際には、内蔵電源24に供給される電流Iは一定である(図14(B)参照)。また、電流Iは、単位時間あたりに内蔵電源24に供給される電荷Qであるから、電流Iが一定であれば単位時間あたりに内蔵電源24に供給される電荷Qも一定である。   During constant current charging, the current I supplied to the built-in power supply 24 is constant (see FIG. 14B). Since the current I is the charge Q supplied to the built-in power supply 24 per unit time, if the current I is constant, the charge Q supplied to the built-in power supply 24 per unit time is also constant.

そのため、現時点での内蔵電源24の容量Cと、初期状態での内蔵電源24の容量Cinとの比C/Cinは、
C/Cin=(Q/ΔV)/(Q/ΔVin)
∴C/Cin=ΔVin/ΔV …(1)
すなわち、現時点で取得された電圧上昇率ΔVに対する、初期状態で取得されRAM22aに保存されている初期の電圧上昇率ΔVinの比ΔVin/ΔVとして算出することができる。
Therefore, the ratio C / Cin between the current capacity C of the internal power supply 24 and the capacity Cin of the internal power supply 24 in the initial state is:
C / Cin = (Q / ΔV) / (Q / ΔVin)
∴C / Cin = ΔVin / ΔV (1)
That is, it can be calculated as the ratio ΔVin / ΔV of the initial voltage increase rate ΔVin acquired in the initial state and stored in the RAM 22a with respect to the voltage increase rate ΔV acquired at the present time.

そこで、判定部である本体制御部22aは、上記のようにして内蔵電源24の定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得すると、RAM22aから初期の電圧上昇率ΔVinを読み出し、取得した電圧上昇率ΔVと初期の電圧上昇率ΔVinとを上記(1)式に代入して、現時点での内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出して判定するようになっている。   Therefore, when the main body control unit 22a, which is a determination unit, acquires the voltage increase rate ΔV during the constant current charging of the built-in power supply 24 as described above, it reads the initial voltage increase rate ΔVin from the RAM 22a and acquires the acquired voltage increase rate ΔV. And the initial voltage increase rate ΔVin are substituted into the above equation (1), and the degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24 at the present time is calculated and determined.

このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを数値として算出して内蔵電源24の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。   With this configuration, the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 can be set as a numerical value by using each function unit existing in the electronic device without making any changes to the radiographic imaging device 1 that is the electronic device. It is possible to accurately determine how much the deterioration of the internal power supply 24 has been calculated.

そして、本実施形態では、判定部である本体制御部22aは、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを、劣化度合い通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。   In this embodiment, the main body control unit 22a, which is a determination unit, notifies the determined degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24 to a radiologist or the like via the deterioration degree notification unit.

劣化度合い通知部として、例えば電子機器である放射線画像撮影装置1のインジケーター40(図1や図8参照)を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部22aは、例えば、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが70%より大きい値であれば、インジケーター40の1つのLEDを、青色または緑色等の、内蔵電源24の劣化がさほど進んでいないことを表す色で点灯させる。   For example, the indicator 40 (see FIGS. 1 and 8) of the radiographic imaging device 1 that is an electronic device can be used as the deterioration degree notification unit. In this case, the main body control unit 22a, which is a determination unit, sets, for example, one LED of the indicator 40 to be blue or green if the determined deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is greater than 70%. The internal power supply 24 is lit in a color indicating that the deterioration of the built-in power supply 24 has not progressed so much.

また、判定部である本体制御部22aは、例えば、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが60%より大きく70%以下の値であれば、インジケーター40の同じLEDを、黄色等の、内蔵電源24の劣化が進んでいることを表す色で点灯させて、内蔵電源24の劣化度合いを放射線技師等に通知するように構成される。   Further, the main body control unit 22a as the determination unit, for example, if the determined deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is a value greater than 60% and equal to or less than 70%, the same LED of the indicator 40 is changed to yellow, etc. The built-in power supply 24 is lit in a color indicating that the deterioration of the built-in power supply 24 is progressing, and the degree of deterioration of the built-in power supply 24 is notified to a radiologist.

このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1の内蔵電源24の劣化がどの程度進んでいるかを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。   With this configuration, it is possible to accurately notify a radiographer or the like how much the built-in power supply 24 of the radiographic imaging apparatus 1 that is an electronic device has deteriorated.

なお、劣化度合い通知部として、例えばコンソール101(図8参照)を用い、例えば、コンソール101の図示しない表示部上に、算出して判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinをパーセント表示するように構成することも可能である。その際、例えば、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの数値範囲に応じて、上記と同様に、表示する数値を色付きで表示する等して、放射線技師等の注意を喚起するように構成することも可能である。   Note that, for example, the console 101 (see FIG. 8) is used as the deterioration degree notification unit, and for example, the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 calculated and determined is displayed as a percentage on a display unit (not shown) of the console 101, for example. It is also possible to configure. In that case, for example, according to the numerical value range of the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24, the numerical value to be displayed is displayed in a colored manner in the same manner as described above so as to call the radiologist or the like. It is also possible.

[内蔵電源が交換時期に達したことを通知する処理]
また、内蔵電源の劣化度合いの判定処理の延長として、例えば、判定部である本体制御部22aは、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが、例えば60%等の、内蔵電源24の交換の目安となる数値として予め設定された所定の劣化度合いまで低下している場合には、交換時期通知部を介して放射線技師等に内蔵電源24が交換時期に達したことを通知するように構成することが可能である。
[Process to notify that the internal power supply has reached the time for replacement]
As an extension of the determination process of the deterioration level of the built-in power supply, for example, the main body control unit 22a, which is a determination unit, replaces the built-in power supply 24 such that the determined deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is 60%, for example. If the internal power supply 24 has reached the replacement time, it is configured to notify the radiologist or the like via the replacement time notifying unit when the degree of deterioration has been set in advance as a numerical value serving as a guideline for Is possible.

この場合も、交換時期通知部として、例えば電子機器である放射線画像撮影装置1のインジケーター40を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部22aは、例えば、インジケーター40の同じLEDを、赤色等の、内蔵電源24の劣化が進んで交換時期に達していることを表す色で点灯させる。   Also in this case, as the replacement time notification unit, for example, the indicator 40 of the radiographic image capturing apparatus 1 that is an electronic device can be used. In this case, for example, the main body control unit 22a that is the determination unit lights the same LED of the indicator 40 in a color such as red, which indicates that the replacement of the built-in power supply 24 has progressed and the replacement time has been reached.

また、この場合も、交換時期通知部として、例えばコンソール101を用いるように構成し、例えば、コンソール101の表示部上に、算出して判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを赤色等でパーセント表示する等して、内蔵電源24が交換時期に達していることを放射線技師等に的確に通知するように構成することも可能である。   Also in this case, for example, the console 101 is used as the replacement time notification unit. For example, the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 determined by calculation on the display unit of the console 101 is displayed in red or the like. It is also possible to configure such that the radiologist or the like is accurately notified that the built-in power supply 24 has reached the replacement time by, for example, displaying a percentage.

このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1の内蔵電源24の劣化が進んで交換時期に達している場合に、それを的確に検出し、内蔵電源24が交換時期に達していることを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。そして、放射線技師等は、交換時期に達した内蔵電源24を新品に的確に交換することが可能となる。   With this configuration, when the built-in power supply 24 of the radiographic imaging apparatus 1 that is an electronic device has deteriorated and has reached the replacement time, it is accurately detected, and the built-in power supply 24 has reached the replacement time. It is possible to accurately notify the radiologist or the like that A radiographer or the like can accurately replace the built-in power supply 24 that has reached the replacement time with a new one.

[内蔵電源の交換時期の推定処理]
一方、上記のようにして内蔵電源24の充電時ごとに算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを、仮に充電のサイクルタイムTcごとプロットすると、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが図11にイメージ的に示すように変化する場合があることが本発明者らの研究で分かってきた。
[Internal power supply replacement time estimation process]
On the other hand, when the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 calculated every time the built-in power supply 24 is charged as described above is plotted for each charge cycle time Tc, the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is shown in FIG. It has been found by the present inventors that there is a case where it changes as shown in the image.

すなわち、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinは、初期の100%の状態から徐々に一定の割合で低下していく(すなわち劣化が進んでいく)場合もあるが(図11中の点線参照)、内蔵電源24によっては、内蔵電源24の使用が進み、充電のあるサイクルタイムTcから急に内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの低下の程度が大きくなる場合がある。つまり、内蔵電源24の劣化が急激に進み始める場合があることが分かってきた。   That is, the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 may gradually decrease at a constant rate from the initial 100% state (that is, the deterioration progresses) (see the dotted line in FIG. 11). Depending on the built-in power supply 24, the use of the built-in power supply 24 may progress, and the degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24 may suddenly increase from the cycle time Tc when charging is performed. In other words, it has been found that the deterioration of the built-in power supply 24 may begin to advance rapidly.

このような場合、内蔵電源24は、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが一定の割合で低下していく場合に比べてより早期に交換時期τに達する。そのため、内蔵電源24の交換時期τを注意して見ていかないと、すでに交換時期に達している内蔵電源24を、まだ交換時期に達していないと誤って判断して使用し続けることになる。   In such a case, the built-in power supply 24 reaches the replacement time τ earlier than when the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 decreases at a constant rate. Therefore, if the replacement time τ of the built-in power supply 24 is not watched carefully, the built-in power supply 24 that has already reached the replacement time is erroneously determined to have not yet reached the replacement time and continues to be used.

そのため、例えば放射線画像撮影装置1を用いて放射線画像撮影を行うとしても行えなくなる等の種々の問題を生じさせてしまうことになりかねない。そこで、電子機器の電源として内蔵電源24を用いる場合、内蔵電源24の交換時期τを的確に把握することが必要となる。   For this reason, for example, even if radiographic imaging is performed using the radiographic imaging device 1, various problems such as inability to perform radiographic imaging may occur. Therefore, when the built-in power supply 24 is used as the power supply of the electronic device, it is necessary to accurately grasp the replacement time τ of the built-in power supply 24.

本実施形態では、内蔵電源24の定電流充電の際に行われる上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で、判定部である本体制御部22aは電圧上昇率ΔVを取得する。そこで、これを利用して、内蔵電源24の交換時期τを推定することが可能である。   In the present embodiment, the main body control unit 22a, which is a determination unit, acquires the voltage increase rate ΔV in the determination process of the degree of deterioration of the built-in power supply performed at the time of constant current charging of the built-in power supply 24. Therefore, it is possible to estimate the replacement time τ of the built-in power supply 24 using this.

具体的には、判定部である本体制御部22aは、上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出するごとに、RAM22bに、算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを保存していく。そして、RAM22bに保存されている内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの履歴の中から、前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastを読み出す。   Specifically, every time the main body control unit 22a, which is a determination unit, calculates the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 in the above-described determination process of the deterioration degree of the built-in power supply, the RAM 22b stores the calculated built-in power supply 24. The degree of deterioration C / Cin is stored. Then, the deterioration degree C / Cin_last of the built-in power supply 24 calculated at the previous charging is read out from the history of the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 stored in the RAM 22b.

そして、例えば、今回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと、前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastとの差分ΔC/Cinを下記(2)式に従って算出する。
ΔC/Cin=C/Cin_last−C/Cin …(2)
Then, for example, the difference ΔC / Cin between the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 calculated at the current charging and the deterioration degree C / Cin_last of the built-in power supply 24 calculated at the previous charging is calculated according to the following equation (2). To do.
ΔC / Cin = C / Cin_last−C / Cin (2)

すると、内蔵電源24の劣化がさほど進んでいない場合には、図11に示したように、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinは緩やかに減少していくため、算出された差分ΔC/Cin(或いはその絶対値。以下同じ。)は、小さな値に設定された数値範囲内に収まる。しかし、内蔵電源24の劣化が進み、前述したように、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの低下の程度が急に大きくなると、上記の内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの差分ΔC/Cinが大きくなり、上記の数値範囲に収まらなくなる。   Then, when the deterioration of the built-in power supply 24 has not progressed so much, as shown in FIG. 11, the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 gradually decreases, so that the calculated difference ΔC / Cin ( Or its absolute value (the same shall apply hereinafter)) falls within the numerical range set to a small value. However, when the deterioration of the built-in power supply 24 progresses and, as described above, the degree of deterioration of the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 suddenly increases, the difference ΔC / Cin between the deterioration degrees C / Cin of the built-in power supply 24 described above. Becomes larger and falls outside the above numerical range.

そこで、判定部である本体制御部22aは、例えば、上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出するごとに、RAM22bから前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastを読み出し、上記の差分ΔC/Cinを算出する。   Therefore, the main body control unit 22a serving as a determination unit, for example, every time the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is calculated by the above-described determination process of the deterioration degree of the built-in power supply, the built-in power supply calculated from the RAM 22b during the previous charging. The deterioration degree C / Cin_last of 24 is read, and the difference ΔC / Cin is calculated.

そして、算出した差分ΔC/Cinが、例えば予め小さな値に設定された閾値ΔC/Cin_th以上になった時点で、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの低下の程度が急に大きくなったと判断し、その時点における内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと算出した差分ΔC/Cinから、例えばあと何回充電を行ったら図12に示すように内蔵電源24が交換時期τに達するかを算出して、内蔵電源24の交換時期τを推定するように構成することが可能である。   Then, when the calculated difference ΔC / Cin becomes equal to or greater than a threshold ΔC / Cin_th set to a small value in advance, for example, it is determined that the degree of decrease in the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 has suddenly increased. Then, from the degree of deterioration C / Cin of the internal power supply 24 at that time and the calculated difference ΔC / Cin, for example, how many more times charging is performed, as shown in FIG. 12, the internal power supply 24 reaches the replacement time τ. The replacement time τ of the built-in power supply 24 can be estimated.

その際、内蔵電源24の交換の目安となる内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが例えば60%である場合、現時点での内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと60%との差を、上記の差分ΔC/Cinで除算することによって、あと何回充電を行うことができるか、すなわち内蔵電源24の交換時期τを推定することが可能である。   At this time, when the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 which is a guide for replacement of the built-in power supply 24 is 60%, for example, the difference between the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 and 60% at the present time is calculated as described above. By dividing by the difference ΔC / Cin, it is possible to estimate how many times charging can be performed, that is, the replacement time τ of the built-in power supply 24.

また、このように、内蔵電源24の交換時期τを単純な除算で算出する代わりに、例えばRAM22bに保存された内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの履歴に基づいて、図11に示したような内蔵電源24の劣化度合いC/Cinのプロファイルを形成し、そのプロファイル、特に内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの低下の程度が急に大きくなり始めた部分のプロファイルを曲線近似する等して、内蔵電源24の交換時期τを推定するように構成することも可能である。   Further, instead of calculating the replacement time τ of the built-in power supply 24 by simple division as described above, for example, based on the history of the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 stored in the RAM 22b, as shown in FIG. A profile of the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is formed, and the profile, in particular, the profile of the portion where the degree of deterioration of the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 starts to suddenly increase is approximated by a curve, etc. The replacement time τ of the built-in power supply 24 can be estimated.

このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源24の交換時期τを的確に推定することが可能となる。   With this configuration, the replacement time τ of the built-in power supply 24 is accurately estimated using each function unit existing in the electronic device without making any changes to the radiographic imaging device 1 that is the electronic device. It becomes possible.

そして、本実施形態では、判定部である本体制御部22aは、推定した内蔵電源24の交換時期τを、交換時期通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。   In this embodiment, the main body control unit 22a, which is a determination unit, notifies the estimated replacement time τ of the built-in power supply 24 to a radiologist or the like via the replacement time notification unit.

交換時期通知部としては、例えば、コンソール101(図8参照)の図示しない表示部を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部22aは、例えば、推定した内蔵電源24の交換時期τの情報をコンソール101に送信する。そして、コンソール101は、判定部である本体制御部22aが推定した内蔵電源24の交換時期τを表示部上に表示させる。   As the replacement time notification unit, for example, a display unit (not shown) of the console 101 (see FIG. 8) can be used. In this case, the main body control unit 22 a serving as a determination unit transmits, for example, information on the estimated replacement time τ of the built-in power supply 24 to the console 101. Then, the console 101 displays the replacement time τ of the built-in power supply 24 estimated by the main body control unit 22a, which is a determination unit, on the display unit.

このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1の内蔵電源24の推定された交換時期τを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。そして、放射線技師等は、それを受けて古い内蔵電源24と交換する新しい内蔵電源24を取り寄せる等の必要な措置をとることが可能となる。   With this configuration, the estimated replacement time τ of the built-in power supply 24 of the radiographic imaging apparatus 1 that is an electronic device can be accurately notified to a radiologist or the like. Then, the radiographer or the like can take necessary measures such as obtaining a new built-in power supply 24 to be replaced with the old built-in power supply 24.

[内蔵電源の異常判定処理]
また、上記の内蔵電源の交換時期の推定処理で示した技術を、内蔵電源24の異常判定処理に応用することが可能である。
[Built-in power supply abnormality judgment processing]
Further, the technique shown in the process for estimating the replacement time of the built-in power supply can be applied to the abnormality determination process for the built-in power supply 24.

すなわち、内蔵電源24に何らかの異常が発生すると、算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが、例えば図11に示したようなプロファイルから大きく逸脱する状態になる。そして、内蔵電源24が異常を来たした場合、少なくともその内蔵電源24が用いられている電子機器である放射線画像撮影装置1の使用を停止して、内蔵電源24の交換等の適切な措置をとることが必要となる。   That is, if any abnormality occurs in the built-in power supply 24, the calculated deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 greatly deviates from the profile as shown in FIG. When the built-in power supply 24 becomes abnormal, at least the use of the radiographic imaging apparatus 1 which is an electronic device using the built-in power supply 24 is stopped, and appropriate measures such as replacement of the built-in power supply 24 are taken. It is necessary to take.

そこで、内蔵電源24の異常判定処理では、判定部である本体制御部22aは、上記の内蔵電源の交換時期の推定処理の場合と同様に、内蔵電源24の定電流充電の際に取得した電圧上昇率ΔV等に基づいて内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出し、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出するごとに、RAM22bに、算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを保存していく。   Therefore, in the abnormality determination process of the built-in power supply 24, the main body control unit 22a, which is a determination unit, acquires the voltage acquired during the constant current charging of the built-in power supply 24, as in the case of the above-described estimation process of the replacement time of the built-in power supply. Each time the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is calculated based on the increase rate ΔV and the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is calculated, the calculated deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is stored in the RAM 22b. Save it.

そして、例えば、上記と同様に、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出するごとに、RAM22bから前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastを読み出し、上記(2)式に従って差分ΔC/Cinを算出する。そして、例えば、算出した差分ΔC/Cinの絶対値が、正常な内蔵電源24の場合に取り得る値として予め設定された閾値ΔC/Cin_th2を越えて大きく変動した場合に、内蔵電源24が異常であると判定するように構成することが可能である。   Then, for example, every time the degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24 is calculated, the degree of deterioration C / Cin_last of the built-in power supply 24 calculated at the previous charging is read from the RAM 22b, and the above equation (2) is followed. The difference ΔC / Cin is calculated. For example, when the absolute value of the calculated difference ΔC / Cin greatly fluctuates beyond a preset threshold ΔC / Cin_th2 as a value that can be taken in the case of a normal built-in power supply 24, the built-in power supply 24 is abnormal. It can be configured to determine that there is.

内蔵電源24が正常である場合には、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinは、例えば図11に示したように滑らかに変動するはずであるのに、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinがその範囲を越えて異常に大きくなったり小さくなったりする場合には、内蔵電源24が異常を来たしたと見るべきである。   When the built-in power supply 24 is normal, the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 should change smoothly as shown in FIG. 11, for example, but the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is If it becomes abnormally large or small beyond that range, it should be considered that the built-in power supply 24 has become abnormal.

本実施形態では、上記のように構成することにより、算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinに基づいて内蔵電源24が異常であるか否かを的確に判定することが可能となる。   In the present embodiment, by configuring as described above, it is possible to accurately determine whether or not the internal power supply 24 is abnormal based on the calculated deterioration degree C / Cin of the internal power supply 24.

そして、本実施形態では、判定部である本体制御部22aは、内蔵電源24が異常であると判定した場合には、その旨を、異常通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。   In the present embodiment, when it is determined that the built-in power supply 24 is abnormal, the main body control unit 22a that is a determination unit notifies the radiation engineer or the like via the abnormality notification unit. ing.

異常通知部としては、例えば電子機器である放射線画像撮影装置1のインジケーター40(図1や図8参照)を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部22aは、例えば、内蔵電源24が異常であると判定した場合には、インジケーター40の1つのLEDを、例えば赤色等の、異常を表す色で点灯させるとともに、例えば当該LEDを点滅させる等して、放射線技師等の注意を喚起するように構成することが可能である。   As the abnormality notification unit, for example, an indicator 40 (see FIG. 1 or FIG. 8) of the radiographic imaging device 1 which is an electronic device can be used. In this case, when the main body control unit 22a, which is a determination unit, determines that the built-in power supply 24 is abnormal, for example, one LED of the indicator 40 is lit in a color indicating abnormality such as red. In addition, for example, the LED can be flashed to alert the radiologist or the like.

また、異常通知部として、例えばコンソール101(図8参照)を用い、内蔵電源24が異常であると判定した場合には、例えばコンソール101の図示しない表示部上に、その旨を特定の色で着色する等して表示するように構成することも可能である。   Further, for example, the console 101 (see FIG. 8) is used as the abnormality notification unit, and when it is determined that the built-in power supply 24 is abnormal, for example, the fact is displayed on the display unit (not shown) of the console 101 in a specific color. It is also possible to configure to display by coloring or the like.

このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1の内蔵電源24が異常である場合に、放射線技師等にその旨を的確に通知することが可能となり、放射線技師等に、当該内蔵電源24が用いられている電子機器である放射線画像撮影装置1の使用を停止して、内蔵電源24の交換等の適切な措置をとることが可能となる。   With this configuration, when the built-in power supply 24 of the radiographic imaging device 1 that is an electronic device is abnormal, it is possible to accurately notify the radiologist and the like, and to the radiologist It is possible to stop using the radiographic imaging apparatus 1 that is an electronic device using the built-in power supply 24 and take appropriate measures such as replacement of the built-in power supply 24.

以上のように、本実施形態に係る充電システム100および電子機器としての放射線画像撮影装置1によれば、判定部である放射線画像撮影装置1の本体制御部22aは、充電制御部である充電制御回路81による定電流充電時に、電圧検出部である電圧検出回路82が検出した内蔵電源24の電圧Vに基づいて内蔵電源24の電圧上昇率ΔVを取得し、取得した電圧上昇率ΔVと過去に取得した電圧上昇率ΔVinとの比ΔVin/ΔVに基づいて、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出して判定する。   As described above, according to the charging system 100 and the radiographic imaging apparatus 1 as an electronic apparatus according to the present embodiment, the main body control unit 22a of the radiographic imaging apparatus 1 that is a determination unit is a charging control that is a charging control unit. During constant current charging by the circuit 81, the voltage increase rate ΔV of the built-in power supply 24 is acquired based on the voltage V of the built-in power supply 24 detected by the voltage detection circuit 82 which is a voltage detection unit, and the acquired voltage increase rate ΔV and the past Based on the ratio ΔVin / ΔV with the acquired voltage increase rate ΔVin, the degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24 is calculated and determined.

その際、判定部である本体制御部22aは、電圧検出回路82が検出する内蔵電源24の電圧Vが、目標電圧V1(すなわち上限電圧1)より低く、許容される下限電圧V0より高い電圧である電圧領域であり、かつ、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinに応じて比ΔVin/ΔVが有意に異なる値になる電圧領域、すなわち前述した電圧上昇率取得領域R0(図9参照)内にある場合に、内蔵電源24の電圧上昇率ΔVを取得するように構成される。   At that time, the main body control unit 22a, which is a determination unit, determines that the voltage V of the built-in power supply 24 detected by the voltage detection circuit 82 is lower than the target voltage V1 (that is, the upper limit voltage 1) and higher than the allowable lower limit voltage V0. Within a certain voltage region, and within the voltage region where the ratio ΔVin / ΔV is significantly different depending on the degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24, that is, within the above-described voltage increase rate acquisition region R0 (see FIG. 9). In some cases, the voltage increase rate ΔV of the built-in power supply 24 is obtained.

そのため、判定部である本体制御部22aは、内蔵電源24の劣化の進み具合に応じて内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを明確に区別して算出することが可能となる。また、この内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの算出、判定処理を、電子機器である放射線画像撮影装置1に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて行うことが可能となる。   Therefore, the main body control unit 22a, which is a determination unit, can calculate the degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24 by clearly distinguishing according to the progress of deterioration of the built-in power supply 24. Further, the calculation and determination processing of the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 is performed by using each function unit existing in the electronic device without making any changes to the radiographic image capturing apparatus 1 that is the electronic device. Is possible.

このようにして、本実施形態に係る充電システム100および電子機器としての放射線画像撮影装置1によれば、電子機器である放射線画像撮影装置1に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを数値化して算出し、内蔵電源24の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。   As described above, according to the charging system 100 and the radiographic imaging apparatus 1 as an electronic apparatus according to the present embodiment, the radiographic imaging apparatus 1 that is an electronic apparatus does not have any changes, and the existing electronic equipment is not changed. Using each functional unit, the degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24 is calculated and calculated, and it is possible to accurately determine how much the deterioration of the built-in power supply 24 has progressed.

そして、電子機器において、内蔵電源24を低い電圧領域まで使い切ることなく、高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされる場合であっても、内蔵電源24の劣化の進み具合に応じて内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを明確に区別し、数値化して算出して、内蔵電源24の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。   Even in a case where the electronic device is used such that charging and discharging are repeated in a high voltage region without using the built-in power source 24 to a low voltage region, depending on the progress of deterioration of the built-in power source 24. The degree of deterioration C / Cin of the built-in power supply 24 can be clearly distinguished and numerically calculated to accurately determine how much deterioration of the built-in power supply 24 has progressed.

なお、内蔵電源24は、その種類(機種等)に応じて、満充電容量や充電特性等が異なり、また、内蔵電源24の電圧Vに対する電圧上昇率ΔVの関係(例えば図9参照)も、通常、内蔵電源24の種類等によってその傾向が異なる。そのため、上記の電圧上昇率取得領域R0は、図9に示したような電圧領域に限定されず、内蔵電源24の種類等に応じて適切な電圧領域に設定される。   The built-in power supply 24 differs in full charge capacity, charging characteristics, etc. depending on the type (model, etc.), and the relationship between the voltage increase rate ΔV and the voltage V of the built-in power supply 24 (see, for example, FIG. 9) Usually, the tendency varies depending on the type of the built-in power supply 24 and the like. Therefore, the voltage increase rate acquisition region R0 is not limited to the voltage region as shown in FIG. 9, but is set to an appropriate voltage region according to the type of the built-in power supply 24 and the like.

また、上記の実施形態のように電圧上昇率取得領域R0を複数の電圧領域R1〜R3等に区分せずに設定する場合も、或いは電圧上昇率取得領域R0をさらに複数の電圧領域R1〜R3に区分するように構成する場合も、いずれの場合でも、上記の各処理における閾値等を、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成することが可能である。   Further, when the voltage increase rate acquisition region R0 is set without being divided into a plurality of voltage regions R1 to R3 as in the above embodiment, the voltage increase rate acquisition region R0 is further divided into a plurality of voltage regions R1 to R3. In any case, it is possible to configure the threshold value or the like in each of the above processes as a function of the voltage V of the built-in power supply 24.

すなわち、例えば、上記の[内蔵電源の交換時期の推定処理]では、上記のように、今回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと、前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastとの差分ΔC/Cinを上記(2)式に従って算出し、算出した差分ΔC/Cinが閾値ΔC/Cin_th(図12参照)以上になった場合に、内蔵電源24の交換時期τの推定処理を行う。   That is, for example, in the above-mentioned “estimation process of the replacement time of the built-in power supply”, as described above, the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 calculated at the time of the current charging and the built-in power supply 24 calculated at the previous charging time. The difference ΔC / Cin with respect to the degree of deterioration C / Cin_last is calculated according to the above equation (2), and when the calculated difference ΔC / Cin is equal to or greater than the threshold value ΔC / Cin_th (see FIG. 12), the replacement time of the built-in power supply 24 τ is estimated.

そこで、例えばその判断基準となる閾値ΔC/Cin_thを、内蔵電源24の電圧Vの関数として予め設定しておくことが可能である。そして、この場合には、判定部である本体制御部22aは、今回の充電時にける内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの算出の基となる[内蔵電源24の劣化度合いの判定処理]を行い、内蔵電源24の定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得した時点での内蔵電源24の電圧Vに基づいて、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定されている閾値ΔC/Cin_thを算出する。   Therefore, for example, the threshold value ΔC / Cin_th serving as the determination criterion can be set in advance as a function of the voltage V of the built-in power supply 24. In this case, the main body control unit 22a, which is a determination unit, performs [determination process of the deterioration degree of the built-in power supply 24] that is a basis for calculating the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 during the current charging. The threshold value ΔC / Cin_th set as a function of the voltage V of the built-in power supply 24 is calculated based on the voltage V of the built-in power supply 24 at the time when the voltage increase rate ΔV is acquired at the time of constant current charging of the built-in power supply 24.

そして、算出した差分ΔC/Cinが、算出した閾値ΔC/Cin_th以上になったか否かを判定するように構成される。この場合、算出した差分ΔC/Cinが、算出した閾値ΔC/Cin_th以上になっていれば上記の[内蔵電源の交換時期の推定処理]を行い、それ以外の場合には[内蔵電源の交換時期の推定処理]は行わない。   Then, it is configured to determine whether or not the calculated difference ΔC / Cin is equal to or greater than the calculated threshold value ΔC / Cin_th. In this case, if the calculated difference ΔC / Cin is equal to or greater than the calculated threshold value ΔC / Cin_th, the above-mentioned [Internal power supply replacement time estimation process] is performed, and otherwise, [Built-in power supply replacement time]. Is not performed.

また、例えば、上記の[内蔵電源の異常判定処理]における閾値ΔC/Cin_th2を、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成することも可能である。この場合も、判定部である本体制御部22aは、[内蔵電源の異常判定処理]の基となる[内蔵電源24の劣化度合いの判定処理]を行い、内蔵電源24の定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得した時点での内蔵電源24の電圧Vに基づいて、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定されている閾値ΔC/Cin_th2を算出する。   Further, for example, the threshold value ΔC / Cin_th2 in [Built-in power supply abnormality determination process] may be set as a function of the voltage V of the built-in power supply 24. Also in this case, the main body control unit 22a, which is a determination unit, performs [determination process of the deterioration degree of the built-in power supply 24], which is the basis of the [determination process of built-in power supply], and the voltage rises when the built-in power supply 24 is charged with constant current. Based on the voltage V of the internal power supply 24 at the time of obtaining the rate ΔV, the threshold value ΔC / Cin_th2 set as a function of the voltage V of the internal power supply 24 is calculated.

そして、今回算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと、前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastとの差分ΔC/Cinを上記(2)式に従って算出し、算出した差分ΔC/Cinの絶対値が、上記のようにして算出した閾値ΔC/Cin_th2を越えて大きく変動していれば、内蔵電源24が異常であると判定するように構成される。   Then, the difference ΔC / Cin between the deterioration degree C / Cin of the built-in power supply 24 calculated this time and the deterioration degree C / Cin_last of the built-in power supply 24 calculated at the previous charging is calculated according to the above equation (2), and the calculated difference If the absolute value of ΔC / Cin greatly fluctuates beyond the threshold value ΔC / Cin_th2 calculated as described above, the built-in power supply 24 is determined to be abnormal.

また、上記以外の各処理に関する閾値等も、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成することが可能である。例えば、上記の[内蔵電源が交換時期に達したことを通知する処理]等では、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが60%まで低下した時点で内蔵電源24が交換時期τに達したと判断する場合について説明したが、この60%を、例えば内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成することも可能である。   Further, it is possible to configure the threshold values and the like related to the processes other than those described above as a function of the voltage V of the built-in power supply 24. For example, in the above-mentioned [processing for notifying that the internal power source has reached the replacement time], etc., the internal power source 24 reaches the replacement time τ when the determined deterioration degree C / Cin of the internal power source 24 is reduced to 60%. However, it is also possible to configure such that 60% is set as a function of the voltage V of the built-in power supply 24, for example.

そして、上記のように、各処理における閾値等を内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成すれば、図9等に示したように、内蔵電源24の電圧上昇率ΔVが、内蔵電源24の電圧Vに対して必ずしも一定ではなく、内蔵電源24の電圧Vに応じて特徴的に変化する場合に、少なくとも電圧上昇率取得領域R0内では、特徴的に変化する内蔵電源24の電圧Vに応じて的確に閾値等を設定することが可能となり、内蔵電源24の電圧Vに応じて変化する内蔵電源24の電圧上昇率ΔVに応じた的確な処理を行うことが可能となる。   As described above, if the threshold value in each process is set as a function of the voltage V of the built-in power supply 24, the voltage increase rate ΔV of the built-in power supply 24 is set as shown in FIG. The voltage of the internal power supply 24 that is not necessarily constant with respect to the voltage V of the power supply 24 and that changes characteristically according to the voltage V of the internal power supply 24, at least in the voltage increase rate acquisition region R0. It is possible to accurately set a threshold value or the like according to V, and it is possible to perform accurate processing according to the voltage increase rate ΔV of the built-in power supply 24 that changes according to the voltage V of the built-in power supply 24.

一方、上記の実施形態では、劣化度合い通知部や交換時期通知部、異常通知部として、電子機器である放射線画像撮影装置1のインジケーター40やコンソール101の図示しない表示部を用いる場合について説明したが、この他にも、例えば、クレードル60(図8参照)に図示しない表示部を設けたり、或いは、放射線画像撮影装置1を用いた放射線画像撮影が行われる撮影室内等に表示手段を設け、それに表示する等して通知するように構成することも可能である。   On the other hand, in the above-described embodiment, the case where the indicator 40 of the radiographic image capturing apparatus 1 that is an electronic device or the display unit (not shown) of the console 101 is used as the deterioration degree notification unit, the replacement time notification unit, and the abnormality notification unit has been described. In addition to this, for example, a display unit (not shown) is provided in the cradle 60 (see FIG. 8), or a display unit is provided in an imaging room where radiographic imaging using the radiographic imaging apparatus 1 is performed. It is also possible to configure to notify by displaying or the like.

さらに、上記の実施形態では、充電制御回路81(後述する図8参照)が、電子機器としての放射線画像撮影装置1に設けられている場合について説明した。しかし、例えば図13に示すように、充電制御部としての充電制御回路81を充電装置であるクレードル60に設けるように構成することも可能である。   Furthermore, in the above-described embodiment, the case where the charging control circuit 81 (see FIG. 8 described later) is provided in the radiographic imaging device 1 as an electronic device has been described. However, for example, as shown in FIG. 13, a charging control circuit 81 as a charging control unit may be provided in the cradle 60 that is a charging device.

この場合、例えば、クレードル60の筐体61(図7等参照)内部の基板65上の、各種電子部品66が収納されている部分に充電制御回路81を設けることが可能である。   In this case, for example, the charge control circuit 81 can be provided on a portion of the board 65 inside the casing 61 (see FIG. 7 and the like) of the cradle 60 in which various electronic components 66 are stored.

このように、充電制御部としての充電制御回路81を充電装置であるクレードル60に設ける場合、当該充電制御回路81が内蔵電源24の劣化度合いを判定する判定部としても機能するように構成することも可能であるし、判定部として機能する制御部等を充電装置であるクレードル60に別途備えるように構成することも可能である。   As described above, when the charging control circuit 81 as the charging control unit is provided in the cradle 60 as the charging device, the charging control circuit 81 is configured to function also as a determination unit that determines the degree of deterioration of the built-in power supply 24. It is also possible to provide a control unit or the like that functions as a determination unit in the cradle 60 that is a charging device.

また、図13では、電圧検出部としての電圧検出回路82も充電装置であるクレードル60に設けるように構成した。しかし、充電制御部としての充電制御回路81を充電装置であるクレードル60に設ける場合、電圧検出部としての電圧検出回路82は、電子機器である放射線画像撮影装置1に設けるように構成することも可能である。また、充電装置であるクレードル60に設けるように構成することも可能である。   In FIG. 13, the voltage detection circuit 82 as the voltage detection unit is also provided in the cradle 60 that is a charging device. However, when the charge control circuit 81 as the charge control unit is provided in the cradle 60 as the charging device, the voltage detection circuit 82 as the voltage detection unit may be configured to be provided in the radiographic imaging device 1 as the electronic device. Is possible. Moreover, it is also possible to comprise so that it may provide in the cradle 60 which is a charging device.

なお、電圧検出回路82をクレードル60に設ける場合、例えば、クレードル60の筐体61(図7等参照)内部の基板65上の、各種電子部品66が収納されている部分に電圧検出回路82を設けることが可能である。   In the case where the voltage detection circuit 82 is provided in the cradle 60, for example, the voltage detection circuit 82 is provided on a portion of the board 65 inside the casing 61 (see FIG. 7 and the like) of the cradle 60 in which various electronic components 66 are accommodated. It is possible to provide.

ここで、充電制御部としての充電制御回路81を充電装置であるクレードル60に設ける場合、例えば、電子機器である放射線画像撮影装置1に、当該放射線画像撮影装置1が内蔵する内蔵電源24の種類を識別するための識別情報を担持するものを備えるように構成する。そして、クレードル60に、放射線画像撮影装置1から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。   Here, when the charging control circuit 81 serving as a charging control unit is provided in the cradle 60 that is a charging device, for example, the type of the built-in power supply 24 built in the radiographic imaging device 1 is included in the radiographic imaging device 1 that is an electronic device. It comprises so that the thing which carries the identification information for identifying may be provided. The cradle 60 is provided with identification information acquisition means for acquiring identification information from the radiographic image capturing apparatus 1.

また、クレードル60に、クレードル60に挿入可能な放射線画像撮影装置1が内蔵する内蔵電源24の識別情報や、当該識別情報の内蔵電源24について工場出荷時等に取得された前述した初期の電圧上昇率ΔVin等の必要な情報を予め記憶しておくように構成する。   Further, in the cradle 60, the identification information of the built-in power supply 24 built in the radiographic imaging device 1 that can be inserted into the cradle 60, and the above-described initial voltage increase acquired at the time of factory shipment of the built-in power supply 24 of the identification information. Necessary information such as the rate ΔVin is stored in advance.

そして、クレードル60側で、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する初期の電圧上昇率ΔVin等を抽出し、抽出した初期の電圧上昇率ΔVin等に基づいて、上記の各処理を行うように構成することも可能である。   Then, on the cradle 60 side, an initial voltage increase rate ΔVin or the like corresponding to the identification information acquired by the identification information acquisition unit is extracted, and each of the above processes is performed based on the extracted initial voltage increase rate ΔVin or the like. It is also possible to configure as described above.

また、例えば、クレードル60が、クレードル60側のコネクター71および放射線画像撮影装置1側のコネクター39を介して放射線画像撮影装置1との間で通信を行って、当該放射線画像撮影装置1が内蔵する内蔵電源24の種類を識別するための識別情報を取得するように構成することも可能である。   Further, for example, the cradle 60 communicates with the radiographic image capturing apparatus 1 via the connector 71 on the cradle 60 side and the connector 39 on the radiographic image capturing apparatus 1 side, and the radiographic image capturing apparatus 1 is built in. It is also possible to configure to acquire identification information for identifying the type of the built-in power supply 24.

また、上記の実施形態では、電子機器が放射線画像撮影装置1であり、充電装置がクレードル60である場合について説明した。しかし、この他にも、充電可能な内蔵電源24を内蔵する電子機器であれば、ノート型パソコンや携帯電話、携帯情報端末等についても本発明を適用することが可能である。また、それらの充電装置についても本発明を適用することが可能である。   In the above-described embodiment, the case where the electronic apparatus is the radiation image capturing apparatus 1 and the charging apparatus is the cradle 60 has been described. However, the present invention can also be applied to notebook computers, mobile phones, portable information terminals, and the like as long as the electronic device has a built-in rechargeable power supply 24. The present invention can also be applied to those charging devices.

なお、本発明が上記の実施形態や変形例に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜変更可能であることは言うまでもない。   Needless to say, the present invention is not limited to the above-described embodiments and modifications, and can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention.

1 放射線画像撮影装置(電子機器)
22a 本体制御部(判定部)
24 内蔵電源
40 インジケーター(劣化度合い通知部、交換時期通知部、異常通知部)
60 クレードル(充電装置)
81 充電制御回路(充電制御部)
82 電圧検出回路(電圧検出部)
100 充電システム
101 コンソール(劣化度合い通知部、交換時期通知部、異常通知部)
C/Cin 内蔵電源の劣化度合い
R0 電圧上昇率取得領域(電圧領域)
R1〜R3 複数の電圧領域
V 内蔵電源の電圧
V1 目的電圧
ΔC/Cin 差分
ΔV 電圧上昇率
ΔVin 過去に取得した電圧上昇率
ΔVin/ΔV 比
τ 内蔵電源の交換時期
1 Radiation imaging equipment (electronic equipment)
22a Main body control unit (determination unit)
24 Built-in power supply 40 Indicator (deterioration degree notification unit, replacement time notification unit, abnormality notification unit)
60 Cradle (charging device)
81 Charge control circuit (charge control unit)
82 Voltage detection circuit (voltage detection unit)
100 Charging system 101 Console (deterioration degree notification unit, replacement time notification unit, abnormality notification unit)
C / Cin Degree of degradation of built-in power supply R0 Voltage increase rate acquisition area (voltage area)
R1 to R3 Multiple voltage regions V Built-in power supply voltage V1 Target voltage ΔC / Cin Difference ΔV Voltage increase rate ΔVin Voltage acquisition rate ΔVin / ΔV ratio τ acquired in the past τ Internal power supply replacement time

Claims (15)

充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする充電システム。
An electronic device with a built-in rechargeable power supply,
A charge control unit that controls charging to the built-in power supply so as to perform constant current charging until the voltage of the built-in power supply reaches a target voltage;
A voltage detector for detecting the voltage of the internal power supply;
A charging device for supplying power to the built-in power supply via the charging control unit;
Based on the voltage of the internal power supply detected by the voltage detection unit during the constant current charging by the charge control unit, the voltage increase rate of the internal power supply is acquired, and the acquired voltage increase rate and the voltage increase acquired in the past A determination unit that calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on a ratio to the rate;
With
The determination unit is a voltage region in which the voltage of the built-in power source detected by the voltage detection unit is lower than the target voltage and higher than an allowable lower limit voltage, and according to the degree of deterioration of the built-in power source. And a voltage increase rate of the built-in power supply is acquired when the ratio is in a voltage range where the ratio is significantly different.
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧を複数の電圧領域に区分し、区分した前記電圧領域ごとに前記比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出することを特徴とする請求項1に記載の充電システム。   The determination unit divides the voltage of the built-in power supply detected by the voltage detection unit into a plurality of voltage regions, and calculates the degree of deterioration of the built-in power supply based on the ratio for each of the divided voltage regions. The charging system according to claim 1. 前記内蔵電源の劣化度合いを通知する劣化度合い通知部を備え、
前記判定部は、判定した前記内蔵電源の劣化度合いを、前記劣化度合い通知部に通知させることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の充電システム。
A deterioration degree notification unit for notifying the deterioration degree of the built-in power supply;
The charging system according to claim 1, wherein the determination unit causes the deterioration degree notification unit to notify the determined deterioration degree of the built-in power supply.
前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知する交換時期通知部を備え、
前記判定部は、算出した前記内蔵電源の劣化度合いが予め設定された所定の劣化度合いまで低下している場合には、前記交換時期通知部に、前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知させることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の充電システム。
A replacement time notification unit for notifying that the built-in power supply has reached the replacement time,
The determination unit notifies the replacement time notification unit that the built-in power source has reached the replacement time when the calculated deterioration level of the built-in power supply has decreased to a predetermined deterioration level set in advance. The charging system according to any one of claims 1 to 3, wherein:
前記判定部は、前記内蔵電源の劣化度合いを算出するごとに、算出した前記内蔵電源の劣化度合いの履歴を保存するように構成されており、前記履歴に基づいて前記内蔵電源の交換時期を推定することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の充電システム。   The determination unit is configured to store a history of the calculated degree of deterioration of the built-in power supply every time the degree of deterioration of the built-in power supply is calculated, and estimates the replacement time of the built-in power supply based on the history The charging system according to any one of claims 1 to 4, wherein: 前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知する交換時期通知部を備え、
前記判定部は、推定した前記内蔵電源の交換時期を、前記交換時期通知部に通知させることを特徴とする請求項5に記載の充電システム。
A replacement time notification unit for notifying that the built-in power supply has reached the replacement time,
The charging system according to claim 5, wherein the determination unit causes the replacement time notification unit to notify the estimated replacement time of the built-in power source.
前記判定部は、前記内蔵電源の劣化度合いを算出するごとに、算出した前記内蔵電源の劣化度合いの履歴を保存するように構成されており、今回算出した前記内蔵電源の劣化度合いと、その直前の前期内蔵電源の充電時に算出した前記内蔵電源の劣化度合いとの差分が、前記履歴から推定される正常な範囲を越えている場合には、前記内蔵電源が異常である判定することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の充電システム。   The determination unit is configured to save a history of the calculated degree of deterioration of the built-in power supply every time the degree of deterioration of the built-in power supply is calculated. When the difference between the deterioration level of the built-in power supply calculated at the time of charging the built-in power supply in the previous period exceeds a normal range estimated from the history, it is determined that the built-in power supply is abnormal. The charging system according to any one of claims 1 to 6. 前記内蔵電源が異常であることを通知する異常通知部を備え、
前記判定部は、前記内蔵電源が異常であると判定すると、その旨を前記異常通知部に通知させることを特徴とする請求項7に記載の充電システム。
An abnormality notification unit for notifying that the built-in power supply is abnormal,
The charging system according to claim 7, wherein when the determination unit determines that the built-in power supply is abnormal, the determination unit notifies the abnormality notification unit to that effect.
前記充電制御部は、前記電子機器に設けられていることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to claim 1, wherein the charging control unit is provided in the electronic device. 前記充電制御部は、前記充電装置に設けられていることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to claim 1, wherein the charging control unit is provided in the charging device. 前記内蔵電源は、リチウムイオンキャパシターであることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to claim 1, wherein the built-in power source is a lithium ion capacitor. 前記電子機器は放射線画像撮影装置であることを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to any one of claims 1 to 11, wherein the electronic device is a radiographic imaging device. 前記充電装置はクレードルであることを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか一項に記載の充電システム。   The charging system according to any one of claims 1 to 12, wherein the charging device is a cradle. 充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする電子機器。
In electronic devices with a built-in rechargeable power supply,
A charge control unit that controls charging to the built-in power supply so as to perform constant current charging until the voltage of the built-in power supply reaches a target voltage;
A voltage detector for detecting the voltage of the internal power supply;
A charging device for supplying power to the built-in power supply via the charging control unit;
Based on the voltage of the internal power supply detected by the voltage detection unit during the constant current charging by the charge control unit, the voltage increase rate of the internal power supply is acquired, and the acquired voltage increase rate and the voltage increase acquired in the past A determination unit that calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on a ratio to the rate;
With
The determination unit is a voltage region in which the voltage of the built-in power source detected by the voltage detection unit is lower than the target voltage and higher than an allowable lower limit voltage, and according to the degree of deterioration of the built-in power source. When the ratio is in a voltage range where the ratio is significantly different, the voltage increase rate of the built-in power supply is acquired.
電子機器が内蔵する内蔵電源に電力を供給する充電装置において、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする充電装置。
In a charging device that supplies power to a built-in power supply built in an electronic device,
A charge control unit that controls charging to the built-in power supply so as to perform constant current charging until the voltage of the built-in power supply reaches a target voltage;
A voltage detector for detecting the voltage of the internal power supply;
A charging device for supplying power to the built-in power supply via the charging control unit;
Based on the voltage of the internal power supply detected by the voltage detection unit during the constant current charging by the charge control unit, the voltage increase rate of the internal power supply is acquired, and the acquired voltage increase rate and the voltage increase acquired in the past A determination unit that calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on a ratio to the rate;
With
The determination unit is a voltage region in which the voltage of the built-in power source detected by the voltage detection unit is lower than the target voltage and higher than an allowable lower limit voltage, and according to the degree of deterioration of the built-in power source. And a voltage increase rate of the built-in power supply is acquired when the ratio is in a voltage range where the ratio is significantly different.
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