JP2014007919A - Recharging system, electronic device, and recharging device - Google Patents
Recharging system, electronic device, and recharging device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014007919A JP2014007919A JP2012143957A JP2012143957A JP2014007919A JP 2014007919 A JP2014007919 A JP 2014007919A JP 2012143957 A JP2012143957 A JP 2012143957A JP 2012143957 A JP2012143957 A JP 2012143957A JP 2014007919 A JP2014007919 A JP 2014007919A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- built
- power supply
- voltage
- charging
- deterioration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
- Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
Abstract
Description
本発明は、充電システム、電子機器および充電装置に関する。 The present invention relates to a charging system, an electronic device, and a charging device.
電子機器に内蔵された充電可能な内蔵電源(キャパシターやバッテリー、二次電池、蓄電デバイス等ともいう。)を充電するための充電装置や充電制御装置等が種々開発されている(例えば特許文献1〜4等参照)。 Various charging devices, charging control devices, and the like have been developed for charging a rechargeable built-in power source (also referred to as a capacitor, a battery, a secondary battery, and a power storage device) built in an electronic device (for example, Patent Document 1). -4 etc.).
このような充電装置等は、例えば図14(A)、(B)に示すように、内蔵電源の電圧V[V]が目標電圧V1(以下、上限電圧V1という場合がある。)に達するまで、充電電流Iが一定になるように充電を行う定電流充電を行うとともに、内蔵電源の電圧Vが目標電圧V1に達した場合に当該内蔵電源の電圧Vが一定になるように充電を行う定電圧充電に切り替えて、内部電源への充電を制御する充電制御部を備えるように構成されている場合がある。また、電子機器側に、このような充電制御部が設けられている場合もある。 In such a charging device or the like, for example, as shown in FIGS. 14A and 14B, the voltage V [V] of the built-in power supply reaches a target voltage V1 (hereinafter sometimes referred to as an upper limit voltage V1). The constant current charging is performed so that the charging current I is constant, and the charging is performed so that the voltage V of the built-in power supply becomes constant when the voltage V of the built-in power supply reaches the target voltage V1. There is a case where it is configured to include a charge control unit that switches to voltage charging and controls charging to the internal power source. Moreover, such a charge control part may be provided in the electronic device side.
ところで、内蔵電源が劣化すると、内部抵抗が増加したり、満充電容量が減少したりする。そのため、内蔵電源は、その使用温度環境と使用する電圧と使用頻度から予め交換周期を予測し当該交換周期に応じて交換されたり、或いは、内蔵電源の劣化をリアルタイムで判定し当該判定結果に基づいて交換されたりしている(例えば特許文献5参照)。 By the way, when the built-in power supply deteriorates, the internal resistance increases or the full charge capacity decreases. Therefore, the built-in power supply is preliminarily predicted for the replacement cycle from the use temperature environment, the voltage to be used, and the use frequency, and is replaced according to the replacement cycle, or the deterioration of the built-in power supply is determined in real time and based on the determination result. (See, for example, Patent Document 5).
特許文献5には、内蔵電源(キャパシター)の劣化をリアルタイムで判定する手法として、内蔵電源の電圧V(内蔵電源がキャパシターの場合はキャパシター電圧V)の上昇の傾きから内蔵電源の劣化を判定するとともに、内蔵電源の電圧Vの電圧上昇の傾きと所定の閾値とを比較して内蔵電源が劣化していると判定する手法等が提案されている。
In
劣化により満充電容量(内蔵電源がキャパシターの場合はキャパシター容量)が低下すると、充電できる電荷量が少なくなるため、充電電流Iを同じとした場合には、例えば図14(A)に破線で示すように、内蔵電源の電圧Vの上昇が早くなる。そのため、内蔵電源の電圧Vの電圧上昇の傾きが所定の閾値よりも大きいときは、内蔵電源が劣化していると判定することができる。 When the full charge capacity (capacitor capacity when the built-in power supply is a capacitor) decreases due to deterioration, the amount of charge that can be charged decreases. Therefore, when the charge current I is the same, for example, a broken line is shown in FIG. As described above, the voltage V of the built-in power supply increases rapidly. Therefore, when the slope of the voltage increase of the voltage V of the built-in power supply is larger than a predetermined threshold, it can be determined that the built-in power supply has deteriorated.
ところで、内蔵電源が、例えばリチウムイオンキャパシターである場合、図15に示すように、内蔵電源の電圧Vが高くなるほど(すなわち図15のグラフで右側に行くほど)、劣化が進んでいる内蔵電源における電圧Vの上昇の傾きすなわち電圧上昇率ΔV[V/min]と、正常品における電圧上昇率ΔVとの違いが小さくなる傾向がある。逆の言い方をすれば、内蔵電圧Vの電圧Vが低くなるほど(すなわち図15のグラフで左側に行くほど)、劣化が進んでいる内蔵電源における電圧上昇率ΔVと、正常品における電圧上昇率ΔVとの違いが大きくなる傾向がある。 By the way, when the built-in power supply is a lithium ion capacitor, for example, as shown in FIG. 15, as the voltage V of the built-in power supply increases (that is, as it goes to the right side in the graph of FIG. 15), There is a tendency that the difference between the slope of the increase in voltage V, that is, the voltage increase rate ΔV [V / min], and the voltage increase rate ΔV in a normal product is reduced. In other words, as the voltage V of the built-in voltage V becomes lower (that is, as it goes to the left in the graph of FIG. 15), the voltage rise rate ΔV in the built-in power supply that has deteriorated, and the voltage rise rate ΔV in the normal product There is a tendency for the difference to be greater.
そして、内蔵電源であるキャパシターの下限電圧V0に近い電圧領域まで使い切った後で充電するような使い方をする場合には、内蔵電源の充電の際に、劣化度合いの違いによる傾きの違いが顕著に現れる低い電圧領域での定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得することが可能となり、内蔵電源の劣化度合いを精度良く判定することが可能となる。 And, when the usage is such that charging is performed after the voltage range close to the lower limit voltage V0 of the capacitor that is the built-in power supply is used up, the difference in slope due to the difference in the degree of deterioration is remarkable when charging the built-in power supply. The voltage increase rate ΔV can be acquired during constant current charging in the low voltage region that appears, and the degree of deterioration of the built-in power supply can be accurately determined.
しかし、実際の電子機器の使用状況では、低い電圧領域まで使い切ることは稀で、寧ろ高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされることの方が多い。 However, in the actual usage situation of electronic devices, it is rare to use up to a low voltage region, and rather, it is often used such that charging and discharging are repeated in a high voltage region.
そこで、例えば内蔵電源の劣化度合いを判定するために、内蔵電源の充電の前に、意図的に内蔵電源から放電させて内蔵電源の電圧Vを下げてから充電を行って、上記のように制度良く内蔵電源の劣化度合いを判定するように構成することも考えられなくはない。 Therefore, for example, in order to determine the degree of deterioration of the built-in power supply, before charging the built-in power supply, the charge is intentionally discharged from the built-in power supply and the voltage V of the built-in power supply is lowered, and then charged. It can be considered that the configuration is such that the degree of deterioration of the built-in power supply is well determined.
しかし、このように構成する場合、内蔵電源に蓄えられた電力が無駄に放電されてしまうほか、電子機器を、内蔵電源を意図的に放電させて内蔵電源の電圧Vを一旦大きく下げるような動作モードを設定することができるように構成しなければならなくなる。また、内蔵電源の電圧Vを一旦大きく下げてから充電するため、充電時間が非常に長くなり、長い充電時間中、ユーザーが電子機器を使えなくなる等の種々の不自由な制約が生じてしまう。 However, in such a configuration, the power stored in the internal power supply is discharged unnecessarily, and the electronic device is intentionally discharged to temporarily reduce the voltage V of the internal power supply. It will have to be configured to be able to set the mode. In addition, since charging is performed after the voltage V of the built-in power supply is once greatly reduced, the charging time becomes very long, and various inconveniences such as the user being unable to use the electronic device during a long charging time occur.
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、電子機器の構成を変更することなく、内蔵電源の劣化度合いを的確に判定することが可能な充電システム、電子機器および充電装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and provides a charging system, an electronic device, and a charging device that can accurately determine the degree of deterioration of a built-in power supply without changing the configuration of the electronic device. The purpose is to provide.
前記の問題を解決するために、本発明の充電システム、電子機器および充電装置は、
充電可能な内蔵電源を内蔵する電子機器と、
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする。
In order to solve the above problems, the charging system, the electronic device, and the charging device of the present invention include:
An electronic device with a built-in rechargeable power supply,
A charge control unit that controls charging to the built-in power supply so as to perform constant current charging until the voltage of the built-in power supply reaches a target voltage;
A voltage detector for detecting the voltage of the internal power supply;
A charging device for supplying power to the built-in power supply via the charging control unit;
Based on the voltage of the internal power supply detected by the voltage detection unit during the constant current charging by the charge control unit, the voltage increase rate of the internal power supply is acquired, and the acquired voltage increase rate and the voltage increase acquired in the past A determination unit that calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on a ratio to the rate;
With
The determination unit is a voltage region in which the voltage of the built-in power source detected by the voltage detection unit is lower than the target voltage and higher than an allowable lower limit voltage, and according to the degree of deterioration of the built-in power source. The voltage increase rate of the built-in power supply is acquired when the ratio is in a voltage region where the ratio is significantly different.
本発明のような方式の充電システム、電子機器および充電装置によれば、判定部は、内蔵電源の劣化の進み具合に応じて内蔵電源の劣化度合いを明確に区別して算出することが可能となる。また、この内蔵電源の劣化度合いの算出、判定処理を、電子機器に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて行うことが可能となる。 According to the charging system, the electronic apparatus, and the charging device of the system as in the present invention, the determination unit can clearly calculate the degree of deterioration of the built-in power supply according to the progress of deterioration of the built-in power supply. . In addition, the calculation and determination processing of the deterioration degree of the built-in power supply can be performed using each function unit existing in the electronic device without making any changes to the electronic device.
このように、本発明のような方式の充電システム、電子機器および充電装置によれば、電子機器に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源の劣化度合いを数値化して算出し、内蔵電源の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。そして、電子機器において、内蔵電源を低い電圧領域まで使い切ることなく、高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされる場合であっても、内蔵電源の劣化の進み具合に応じて内蔵電源の劣化度合いを明確に区別して算出し、内蔵電源の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。 Thus, according to the charging system, electronic device, and charging device of the system as in the present invention, the internal power supply is deteriorated by using each function unit existing in the electronic device without making any changes to the electronic device. It is possible to calculate the degree by quantifying it and accurately determine how much deterioration of the built-in power supply has progressed. Even when electronic devices are used in such a way that charging and discharging are repeated in the high voltage range without using the built-in power supply to the low voltage range, the built-in power supply is used according to the progress of deterioration of the built-in power supply. It is possible to accurately determine the degree of deterioration of the built-in power supply by clearly distinguishing and calculating the degree of deterioration.
以下、図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。ただし、本発明を適用可能な実施形態はこれに限定されるものではない。また、本発明は図示例に限定されるものでもない。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, embodiments to which the present invention is applicable are not limited to this. Further, the present invention is not limited to the illustrated example.
なお、以下では、電子機器が放射線画像撮影装置であり、充電装置がクレードルである場合について説明するが、本発明は、この形態に限定されない。 Hereinafter, a case where the electronic apparatus is a radiographic imaging apparatus and the charging apparatus is a cradle will be described, but the present invention is not limited to this mode.
また、以下では、放射線画像撮影装置として、シンチレーター等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得る、いわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレーター等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。 In the following, a so-called indirect radiation image capturing apparatus that includes a scintillator or the like as a radiation image capturing apparatus and converts an emitted radiation into an electromagnetic wave of another wavelength such as visible light to obtain an electric signal will be described. However, the present invention can also be applied to a so-called direct type radiographic imaging apparatus in which radiation is directly detected by a radiation detection element without using a scintillator or the like.
さらに、放射線画像撮影装置が可搬型の放射線画像撮影装置である場合について説明するが、本発明は、支持台等と一体的に形成された固定型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。 Furthermore, although the case where the radiographic imaging device is a portable radiographic imaging device will be described, the present invention is also applicable to a stationary radiographic imaging device formed integrally with a support base or the like. Can do.
本実施形態では、充電制御回路81(後述する図8参照)が、電子機器としての放射線画像撮影装置1に設けられている場合について説明する。
In the present embodiment, a case where the charge control circuit 81 (see FIG. 8 described later) is provided in the radiographic
[放射線画像撮影装置の構成例について]
まず、電子機器の一例である放射線画像撮影装置1の構成例について説明する。図1は、放射線画像撮影装置1の外観を示す斜視図である。また、図2は、図1のX−X線に沿う断面図である。
[Configuration example of radiation imaging apparatus]
First, a configuration example of the radiation
本実施形態では、放射線画像撮影装置1は、いわゆるフラットパネルディテクターを可搬型に構成したカセッテ型の放射線画像撮影装置であり、放射線画像撮影に用いられ、放射線を検出して当該放射線の線量に応じた画像データを生成して取得するものである。
In the present embodiment, the radiographic
放射線画像撮影装置1は、図1や図2に示すように、筐体2内にシンチレーター3や基板4等で構成されるセンサーパネルSPが収納されて構成されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the radiation
本実施形態では、筐体2のうち、放射線入射面Rを有する中空の角筒状のハウジング本体部2Aは、放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されている。このハウジング本体部2Aの両側の開口部をカバー部材2B、2Cで閉塞することで筐体2が形成されている。なお、筐体2をこのようないわゆるモノコック型として形成する代わりに、例えば、フロント板とバック板とで形成された、いわゆる弁当箱型とすることも可能である。
In the present embodiment, a hollow rectangular tube-shaped
本実施形態では、筐体2の一方側のカバー部材2Bには、電源スイッチ37や切替スイッチ38等が配置されている。また、本実施形態では、カバー部材2Bには、内蔵電源24(図2や後述する図3参照)の状態や放射線画像撮影装置1の稼働状態等を表示するLED等で構成されたインジケーター40が配置されている。
In the present embodiment, a
また、本実施形態では、カバー部材2Bには、クレードル60のコネクター71(後述する図6や図7参照)と接続可能なコネクター39が配置されている。このコネクター39が、クレードル60のコネクター71と接続することで、充電装置としてのクレードル60から放射線画像撮影装置1に電力が供給されるようになっている。
In the present embodiment, the
また、図示を省略するが、本実施形態では、筐体2の他方側のカバー部材2Cには、外部装置との間で無線通信を行うためのアンテナ装置41a(後述する図8参照)が、例えばカバー部材2Cに埋め込まれる等して設けられている。
Although not shown, in the present embodiment, the
図2に示すように、筐体2の内部には、基板4の下方側に鉛の薄板等(図示省略)を介して基台31が配置されている。この基台31には、電子部品32等が配設されたPCB基板33や内蔵電源24等が取り付けられている。
As shown in FIG. 2, a
また、基板4やシンチレーター3の放射線入射面R側の面には、それらを保護するためのガラス基板34が配設されている。また、本実施形態では、センサーパネルSPと筐体2の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材35が設けられている。
Further, a
図示を省略するが、基板4の検出部P上には、フォトダイオード等からなる複数の放射線検出素子7が二次元状(マトリクス状)に配列されている。各放射線検出素子7には、スイッチ手段としての薄膜トランジスター(Thin Film Transistor。以下、TFTという。)8や走査線5、信号線6、バイアス線9等が接続されている。また、基板4の検出部Pは、シンチレーター3に対向するように設けられている。
Although not shown, a plurality of radiation detection elements 7 made of photodiodes or the like are arranged in a two-dimensional shape (matrix shape) on the detection portion P of the
次に、放射線画像撮影装置1の回路構成について説明する。図3は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の等価回路を表すブロック図である。
Next, the circuit configuration of the radiation
複数の放射線検出素子7が基板4上に二次元状に配列されて検出部Pが形成されている。また、各放射線検出素子7の第2電極7bにはそれぞれバイアス線9が接続されており、各バイアス線9は結線10に結束されてバイアス電源14に接続されている。そして、バイアス電源14は、結線10および各バイアス線9を介して各放射線検出素子7の第2電極7bにそれぞれ逆バイアス電圧を印加する。
A plurality of radiation detection elements 7 are two-dimensionally arranged on the
走査駆動回路15では、電源回路15aからゲートドライバー15bに配線15cを介してオン電圧やオフ電圧が供給される。そして、ゲートドライバー15bで走査線5の各ラインL1〜Lxに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧との間で切り替えて、各TFT8のオン状態とオフ状態とを切り替えることで、各放射線検出素子7からの画像データの読み出し処理等を行うように構成されている。
In the
各信号線6は、読み出しIC16内に形成された各読み出し回路17にそれぞれ接続されている。読み出し回路17は、増幅回路18や相関二重サンプリング回路19等で構成されている。読み出しIC16内には、さらに、アナログマルチプレクサー21が設けられている。また、読み出しIC16は、A/D変換部20を介して制御手段22に接続されている。
Each
そして、例えば、各放射線検出素子7からの画像データの読み出し処理の際には、ゲートドライバー15bからオン電圧が印加された走査線5に接続されているTFT8がオン状態になり、オン状態になったTFT8に接続されている放射線検出素子7から信号線6に電荷が放出され、放出された電荷が読み出し回路17の増幅回路18で電荷電圧変換される。
Then, for example, in the process of reading the image data from each radiation detection element 7, the
そして、増幅回路18の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路19で、放射線検出素子7から電荷が放出される前後の増幅回路18からの出力値の差分を算出し、算出した差分をアナログ値の画像データとして出力する。そして、出力されたアナログ値の画像データが、アナログマルチプレクサー21を介して順次A/D変換部20に送信され、A/D変換部20で順次デジタル値の画像データに変換されて出力され、記憶手段23に順次保存される。このようにして、各放射線検出素子7からの画像データの読み出し処理が順次行われる。
Then, the correlated
制御手段22は、放射線画像撮影装置1の各機能部の動作等を制御するようになっている。具体的には、制御手段22は、CPU(Central Processing Unit)等により構成される本体制御部22a(後述する図8参照)、ROM(Read Only Memory。図示省略)、RAM(Random Access Memory)22b(後述する図8参照)、入出力インターフェース(図示省略)等がバスに接続されたコンピューターや、FPGA(Field Programmable Gate Array)等により構成されている。なお、制御手段22は、専用の制御回路で構成されていてもよい。
The control means 22 controls the operation of each functional unit of the radiographic
また、制御手段22には、SRAM(Static RAM)やSDRAM(Synchronous DRAM)等で構成される記憶手段23が接続されている。また、本実施形態では、制御手段22には、アンテナ装置41aを有する通信部41や信号処理部25(後述する図8参照)、電源スイッチ37、切替スイッチ38、コネクター39、インジケーター40等も接続されている。
The control means 22 is connected to a storage means 23 composed of SRAM (Static RAM), SDRAM (Synchronous DRAM) or the like. In the present embodiment, the
ここで、通信部41は、コンソール101等の外部装置との間で各種信号の送受信を行う。具体的には、通信部41は、アンテナ装置41aにより、無線アクセスポイント(図示省略)を介して無線方式でコンソール101等の外部装置との間で通信を行うことが可能となっている。また、通信部41は、放射線画像撮影装置1のコネクター39とクレードル60のコネクター71とが接続されている場合に、クレードル60を介して有線方式でコンソール101等の外部装置との間で通信を行うことも可能となっている。
Here, the
また、信号処理部25は、各放射線検出素子7から読み出されA/D変換部20でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データに所定の信号処理を施すことによって、画像データを外部に送信するのに適した形式のデータに変換する。
In addition, the
すなわち、本実施形態では、各放射線検出素子7から読み出されA/D変換部20でアナログ値のデータからデジタル値のデータに変換された画像データは、信号処理部25で外部に送信するのに適した形式のデータに変換されて、その後、通信部41からコンソール101等の外部装置に送信されるようになっている。
That is, in this embodiment, image data read from each radiation detection element 7 and converted from analog value data to digital value data by the A /
また、本実施形態では、制御手段22には、制御手段22や走査駆動回路15、読み出し回路17、記憶手段23、バイアス電源14等の各機能部に電力を供給するための内蔵電源24が接続されている。
In the present embodiment, the control means 22 is connected to a built-in
なお、本実施形態では、内蔵電源24として、リチウムイオンキャパシター(LIC)が用いられているが、本発明はこれに限定されるものではない。内蔵電源24は、充電可能な内蔵電源であれば、電気二重層キャパシター等の蓄電デバイスや通常のバッテリーや二次電池等であってもよい。
In the present embodiment, a lithium ion capacitor (LIC) is used as the built-in
また、図3では図示を省略したが、本実施形態では、内蔵電源24には、内蔵電源24への充電を制御する充電制御回路81(後述する図8参照)が接続されている。この点については、後で詳しく説明する。
Although not shown in FIG. 3, in this embodiment, the built-in
[クレードルの構成例について]
次に、充電装置の一例であるクレードル60の構成例について説明する。
[Cradle configuration example]
Next, a configuration example of the
図4は、クレードル60の外観を示す斜視図である。また、図5は、図4に示すクレードル60に放射線画像撮影装置1が挿入された状態を示した斜視図である。また、図6および図7は、クレードル60の内部構成を模式的に示した図であり、図6はクレードル60に放射線画像撮影装置1を挿入しようとする状態を示しており、図7はクレードル60に放射線画像撮影装置1を挿入した状態を示している。
FIG. 4 is a perspective view showing the external appearance of the
図4や図5に示すように、クレードル60はほぼ直方体形状に形成され上面に開口部61aを有する筐体61と、この筐体61の開口部61aを被覆する被覆部材62とを備えている。また、筐体61の一端部には、クレードル60を動作させる各種のスイッチ63が設けられている。
As shown in FIGS. 4 and 5, the
図6や図7に示すように、筐体61の内部には、筐体61の長手方向に延在し、放射線画像撮影装置1を鉛直方向に収容する装置収容部64が設けられている。また、筐体61には基板65上に配置された各種電子部品66が収納されている。
As shown in FIGS. 6 and 7, the
電子部品66には、例えば放射線画像撮影装置1の充電制御回路81(後述する図8参照)に一定の電圧の直流電圧を供給するために、外部の交流電源から供給された交流電圧を直流電圧に変換するAC/DCコンバーター等を備えた安定化電源回路66a(後述する図8参照)等が含まれている。
The
また、装置収容部64は、装置収容部64の側壁を構成する前側壁部材67と奥側壁部材68とを備えている。前側壁部材67の上端部と奥側壁部材68の上端部とによって放射線画像撮影装置1が挿入される挿入口69(図6参照)が形成されている。放射線画像撮影装置1は、挿入口69から前側壁部材67と奥側壁部材68の間に挿入されるように構成されている。
Further, the
前側壁部材67の内側部には、放射線画像撮影装置1を装置収容部64内部に案内する案内部材67aが取り付けられている。奥側壁部材68の内側面には、緩衝部材68aが長手方向の全面に亘って設けられている。
A
装置収容部64は、その厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置1の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっている。また、装置収容部64内の挿入口69付近には、挿入口69から挿入された放射線画像撮影装置1を一時的に保持する装置保持手段70が配置されている。
The
装置収容部64内の底部には、放射線画像撮影装置1側のコネクター39と接続可能なクレードル60側のコネクター71が配置されている。クレードル60側のコネクター71は、ケーブル(図示省略)を介して電子部品66と電気的に接続されている。
A
本実施形態では、図6に示すように、放射線画像撮影装置1がクレードル60に斜めに挿入されると、放射線画像撮影装置1に押されて挿入口69を被覆する蓋部材72が、被覆部材62に沿って奥側(図中では左側)に退避する。
In the present embodiment, as shown in FIG. 6, when the radiographic
そして、略鉛直方向に向けられた放射線画像撮影装置1が挿入口69から挿入されると、放射線画像撮影装置1のコネクター39が設けられた側のカバー部材2Bが一旦装置保持手段70に当接して保持された後、図7に示すように装置保持手段70が下方に回動することで、放射線画像撮影装置1が装置収容部64内に収容される。
When the radiographic
そして、前述したように、装置収容部64の厚み方向の内寸法が放射線画像撮影装置1の厚み方向の外寸法に合わせた寸法となっているため、装置収容部64内に収容された放射線画像撮影装置1側のコネクター39が、自動的にクレードル60側のコネクター71に接続可能な位置に適切に位置決めされた状態で接続されるように構成されている。
As described above, since the inner dimension in the thickness direction of the
[充電システムの構成例について]
次に、本実施形態に係る充電システム100の構成について説明する。また、以下、本実施形態に係る充電システム100および放射線画像撮影装置1の作用についてもあわせて説明する。図8は、充電システム100の構成を概略的に表すブロック図である。
[Configuration example of charging system]
Next, the configuration of the
図8に示すように、本実施形態では、放射線画像撮影装置1における内蔵電源24と各機能部との間には、電圧検出回路82と電源回路83とが設けられている。電圧検出回路82は、内蔵電源24の電圧V、すなわち内蔵電源24に充電されている充電電圧Vを検出する電圧検出部として機能するようになっている。また、電源回路83は、内蔵電源24から供給される電力を供給先の各機能部に適するように、その電圧値等を適宜変換、調整するようになっている。
As shown in FIG. 8, in the present embodiment, a
また、図8に示すように、本実施形態では、放射線画像撮影装置1におけるコネクター39と内蔵電源24との間には、充電制御回路81が設けられている。充電制御回路81は、内蔵電源24の電圧Vが目標電圧V1(図14(A)参照。例えば、内蔵電源24の定格電圧)に達するまで定電流充電を行うとともに、内蔵電源24の電圧Vが目標電圧V1に達した場合に定電圧充電に切り替えて、内蔵電源24への充電を制御する充電制御部として機能するようになっている。
Further, as shown in FIG. 8, in the present embodiment, a charging
また、本実施形態では、放射線画像撮影装置1が備える制御手段22の本体制御部22aは、充電制御回路81による定電流充電時に電圧検出回路82が検出した内蔵電源24の電圧Vに基づいて内蔵電源24の電圧上昇率ΔV、すなわち単位時間あたりの電圧上昇値を取得するようになっている。なお、電圧上昇率を、電圧Vの単位上昇分の充電に要する時間として定義することも可能である。
In the present embodiment, the main
そして、本体制御部22aは、取得した電圧上昇率ΔVと、過去に取得した電圧上昇率ΔVoldとの比に基づいて内蔵電源の劣化度合いを算出して判定するようになっている。すなわち、本実施形態では、本体制御部22aが、内蔵電源24の劣化度合いを判定する判定部として機能するようになっている。
The main
以下、判定部である本体制御部22aにおける内蔵電源24の劣化度合いの判定処理について具体的に説明する。
Hereinafter, the determination process of the deterioration degree of the built-in
本実施形態では、本体制御部22aは、過去の電圧上昇率ΔVとして、例えば電子機器である放射線画像撮影装置1の生産時や工場出荷時、或いは病院等への施設の導入時に、内蔵電源24を定電流充電する際に、電圧検出回路82が検出する内蔵電源24の電圧Vを監視し、例えば1分等の単位時間あたりの電圧Vの上昇値として電圧上昇率ΔV[V/min]を取得して、RAM22bに記憶しておく。
In the present embodiment, the main
なお、以下、この工場出荷時等に取得された電圧上昇率ΔVを、初期の電圧上昇率ΔVinという。 Hereinafter, the voltage increase rate ΔV acquired at the time of factory shipment or the like is referred to as an initial voltage increase rate ΔVin.
また、放射線画像撮影装置1の使用開始後の内蔵電源24の充電時における電圧上昇率ΔVの取得の際も同様であるが、上記のようにして電圧上昇率ΔVを取得する場合、図15に示したように、内蔵電源の電圧Vが高い電圧領域では、劣化が進んでいる場合と進んでいない場合とで電圧上昇率ΔVの差異が小さくなる。そのため、電圧上昇率ΔVに基づいて劣化度合いを判定し難くなる。
The same applies to the acquisition of the voltage increase rate ΔV during charging of the built-in
そこで、本実施形態では、図15に現れている特性、すなわち、内蔵電源24の上限電圧V1(例えば4[V])と下限電圧V0(例えば2[V])の中間の電圧(例えば3[V])より若干高い電圧から下限電圧V0までの電圧領域では、劣化が進んでいる内蔵電源24における電圧上昇率ΔVと正常品における電圧上昇率ΔVとの差異が大きくなるという特性を利用する。
Therefore, in the present embodiment, the characteristics appearing in FIG. 15, that is, an intermediate voltage (for example, 3 [V]) between the upper limit voltage V1 (for example 4 [V]) and the lower limit voltage V0 (for example 2 [V]) of the built-in
なお、以下では、この電圧領域を、電圧上昇率取得領域という。この電圧上昇率取得領域は、例えば図15と同じグラフを表す図9に示す電圧領域R0のような電圧領域として設定される。すなわち、電圧上昇率取得領域R0は、上限電圧V1である目標電圧V1より低く、許容される下限電圧V0より高い電圧である電圧領域であり、かつ、内蔵電源24の劣化度合いに応じて電圧上昇率ΔVが有意に異なる値になる電圧領域として定義される。
Hereinafter, this voltage region is referred to as a voltage increase rate acquisition region. This voltage increase rate acquisition region is set as a voltage region such as a voltage region R0 shown in FIG. 9 representing the same graph as FIG. That is, the voltage increase rate acquisition region R0 is a voltage region that is lower than the target voltage V1 that is the upper limit voltage V1 and higher than the allowable lower limit voltage V0, and the voltage increases according to the degree of deterioration of the built-in
そして、判定部である本体制御部22aは、電圧検出回路82が検出する内蔵電源24の電圧Vが、この電圧上昇率取得領域R0内にある場合に、上記のようにして内蔵電源24の電圧上昇率ΔVを取得するようになっている。
When the voltage V of the built-in
逆に、本実施形態では、本体制御部22aは、例えば図9に示した例における3[V]よりも若干高い電圧以上の電圧領域(すなわち図9中の電圧上昇率取得領域R0よりも右側の電圧領域)のように、内蔵電源24の劣化度合いが異なる場合の各電圧上昇率ΔVの差異が小さくなり、ほとんど同じ値になってしまう電圧領域では、内蔵電源24の電圧上昇率ΔVの取得処理を行わない。
Conversely, in the present embodiment, the main
一方、図9を見れば分かるように、内蔵電源24の劣化が進んでいる場合も進んでいない場合も、いずれの場合も、電圧上昇率ΔVは一定の値にならず、内蔵電源24の電圧Vの大きさに応じて変化する値になる。
On the other hand, as can be seen from FIG. 9, the voltage increase rate ΔV does not become a constant value in both cases, whether the deterioration of the
そのため、例えば図10に示すように、例えば電圧上昇率取得領域R0を、内蔵電源24の電圧Vに応じて仮に複数の電圧領域R1、R2、R3に区分した場合、1回の充電時に取得した場合であっても、各電圧領域R1、R2、R3でそれぞれ取得される電圧上昇率ΔVは、通常、それぞれ異なる値になる。
Therefore, for example, as shown in FIG. 10, when the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into a plurality of voltage regions R1, R2, R3 according to the voltage V of the built-in
そこで、図10に示すように、電圧上昇率取得領域R0を、内蔵電源24の電圧Vに応じて複数の電圧領域(例えば電圧領域R1、R2、R3)に区分しておき、判定部である本体制御部22aは、区分した電圧領域ごとにそれぞれ電圧上昇率ΔVを取得し、後述するようにそれらに基づいてそれぞれ内蔵電源の劣化度合いを算出するように構成することが望ましい。
Therefore, as shown in FIG. 10, the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into a plurality of voltage regions (for example, voltage regions R1, R2, R3) according to the voltage V of the built-in
このように構成すると、本実施形態における電子機器である放射線画像撮影装置1では、例えば放射線画像撮影があまり多く行われずに内蔵電源24の充電が行われた場合には、より高い電圧領域R1で電圧上昇率ΔVの取得等が行われるようになる。
If comprised in this way, in the
また、放射線画像撮影装置1が長時間使用されたり連続撮影が行われたような場合には、内蔵電源24の電力がより多く消費されるため、より低い電圧領域である電圧領域R2や電圧領域R3の電圧を充電開始電圧として充電が行われるようになる。そして、電圧領域R2から充電が行われた場合には電圧領域R2、R1で、また、電圧領域R3から充電が行われた場合には電圧領域R3、R2、R1で、それぞれ電圧上昇率ΔVの取得等が行われるようになる。
In addition, when the radiographic
なお、図10では、電圧上昇率取得領域R0を、3つの電圧領域R1、R2、R3に区分する場合を例示したが、電圧上昇率取得領域R0の複数の電圧領域への区分の仕方はこれに限定されず、電圧上昇率取得領域R0を2つの電圧領域に区分したり、或いは4つ以上の電圧領域に区分するように構成することも可能である。 FIG. 10 illustrates the case where the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into three voltage regions R1, R2, and R3. However, the method of dividing the voltage increase rate acquisition region R0 into a plurality of voltage regions is illustrated here. However, the voltage increase rate acquisition region R0 may be divided into two voltage regions, or may be configured to be divided into four or more voltage regions.
また、以下では、電圧上昇率取得領域R0を図9に示したような1つの電圧領域として設定する場合について説明する。しかし、上記のように、電圧上昇率取得領域R0を複数の電圧領域R1〜R3に区分し、各電圧領域R1〜R3でそれぞれ以下で説明する処理を行い、各電圧領域R1〜R3の処理結果を比較して用いるように構成してもよい。このように構成すれば、前述したように、より低い電圧領域R2、R3での定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得することが可能となり、後述する内蔵電源24の劣化度合いの判定処理等の各処理を精度良く行うことが可能となるといったメリットがある。 Hereinafter, a case where the voltage increase rate acquisition region R0 is set as one voltage region as illustrated in FIG. 9 will be described. However, as described above, the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into a plurality of voltage regions R1 to R3, and the processing described below is performed in each voltage region R1 to R3, and the processing result of each voltage region R1 to R3. May be used in comparison. With this configuration, as described above, it is possible to acquire the voltage increase rate ΔV during constant current charging in the lower voltage regions R2 and R3. There is an advantage that each process can be performed with high accuracy.
さらに、電圧上昇率取得領域R0を複数の電圧領域に区分する場合には、上記のように電子機器である放射線画像撮影装置1の工場出荷時等に取得する初期の電圧上昇率ΔVinも、各電圧領域ごとにそれぞれ予め取得しておき、それぞれRAM22bに記憶しておくように構成される。
Further, when the voltage increase rate acquisition region R0 is divided into a plurality of voltage regions, the initial voltage increase rate ΔVin acquired at the time of factory shipment of the
本実施形態では、判定部である本体制御部22aは、上記のようにして取得した電圧上昇率ΔVを用いて、以下の各処理を行うように構成されている。なお、判定部である本体制御部22aで、以下で説明する各処理の全てを行うように構成する必要はなく、各処理のいずれかの処理のみ、或いはそのうちの複数の処理のみを行うように構成することも可能である。
In the present embodiment, the main
[内蔵電源の劣化度合いの判定処理]
判定部である本体制御部22aは、上記のようにして内蔵電源24の定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得すると、取得した電圧上昇率ΔVと、過去に取得した電圧上昇率ΔVである上記の初期の電圧上昇率ΔVinとの比ΔVin/ΔVに基づいて内蔵電源24の劣化度合いを算出して判定するように構成されている。
[Built-in power supply deterioration judgment process]
When the main
本実施形態では、現時点での内蔵電源24の容量Cの大きさが、電子機器である放射線画像撮影装置1の工場出荷時等における容量Cinと比較してどの程度の割合(比)であるかによって内蔵電源24の劣化度合いを表すようになっている。よく知られているように、電荷Qと容量Cと電圧Vとの間にはQ=C・Vの関係があり、この関係はC=Q/Vと変形できる。
In the present embodiment, what is the ratio (ratio) of the capacity C of the built-in
そして、定電流充電の際には、内蔵電源24に供給される電流Iは一定である(図14(B)参照)。また、電流Iは、単位時間あたりに内蔵電源24に供給される電荷Qであるから、電流Iが一定であれば単位時間あたりに内蔵電源24に供給される電荷Qも一定である。
During constant current charging, the current I supplied to the built-in
そのため、現時点での内蔵電源24の容量Cと、初期状態での内蔵電源24の容量Cinとの比C/Cinは、
C/Cin=(Q/ΔV)/(Q/ΔVin)
∴C/Cin=ΔVin/ΔV …(1)
すなわち、現時点で取得された電圧上昇率ΔVに対する、初期状態で取得されRAM22aに保存されている初期の電圧上昇率ΔVinの比ΔVin/ΔVとして算出することができる。
Therefore, the ratio C / Cin between the current capacity C of the
C / Cin = (Q / ΔV) / (Q / ΔVin)
∴C / Cin = ΔVin / ΔV (1)
That is, it can be calculated as the ratio ΔVin / ΔV of the initial voltage increase rate ΔVin acquired in the initial state and stored in the
そこで、判定部である本体制御部22aは、上記のようにして内蔵電源24の定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得すると、RAM22aから初期の電圧上昇率ΔVinを読み出し、取得した電圧上昇率ΔVと初期の電圧上昇率ΔVinとを上記(1)式に代入して、現時点での内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出して判定するようになっている。
Therefore, when the main
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを数値として算出して内蔵電源24の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。
With this configuration, the deterioration degree C / Cin of the built-in
そして、本実施形態では、判定部である本体制御部22aは、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを、劣化度合い通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。
In this embodiment, the main
劣化度合い通知部として、例えば電子機器である放射線画像撮影装置1のインジケーター40(図1や図8参照)を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部22aは、例えば、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが70%より大きい値であれば、インジケーター40の1つのLEDを、青色または緑色等の、内蔵電源24の劣化がさほど進んでいないことを表す色で点灯させる。
For example, the indicator 40 (see FIGS. 1 and 8) of the
また、判定部である本体制御部22aは、例えば、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが60%より大きく70%以下の値であれば、インジケーター40の同じLEDを、黄色等の、内蔵電源24の劣化が進んでいることを表す色で点灯させて、内蔵電源24の劣化度合いを放射線技師等に通知するように構成される。
Further, the main
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1の内蔵電源24の劣化がどの程度進んでいるかを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。
With this configuration, it is possible to accurately notify a radiographer or the like how much the built-in
なお、劣化度合い通知部として、例えばコンソール101(図8参照)を用い、例えば、コンソール101の図示しない表示部上に、算出して判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinをパーセント表示するように構成することも可能である。その際、例えば、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの数値範囲に応じて、上記と同様に、表示する数値を色付きで表示する等して、放射線技師等の注意を喚起するように構成することも可能である。
Note that, for example, the console 101 (see FIG. 8) is used as the deterioration degree notification unit, and for example, the deterioration degree C / Cin of the built-in
[内蔵電源が交換時期に達したことを通知する処理]
また、内蔵電源の劣化度合いの判定処理の延長として、例えば、判定部である本体制御部22aは、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが、例えば60%等の、内蔵電源24の交換の目安となる数値として予め設定された所定の劣化度合いまで低下している場合には、交換時期通知部を介して放射線技師等に内蔵電源24が交換時期に達したことを通知するように構成することが可能である。
[Process to notify that the internal power supply has reached the time for replacement]
As an extension of the determination process of the deterioration level of the built-in power supply, for example, the main
この場合も、交換時期通知部として、例えば電子機器である放射線画像撮影装置1のインジケーター40を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部22aは、例えば、インジケーター40の同じLEDを、赤色等の、内蔵電源24の劣化が進んで交換時期に達していることを表す色で点灯させる。
Also in this case, as the replacement time notification unit, for example, the
また、この場合も、交換時期通知部として、例えばコンソール101を用いるように構成し、例えば、コンソール101の表示部上に、算出して判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを赤色等でパーセント表示する等して、内蔵電源24が交換時期に達していることを放射線技師等に的確に通知するように構成することも可能である。
Also in this case, for example, the
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1の内蔵電源24の劣化が進んで交換時期に達している場合に、それを的確に検出し、内蔵電源24が交換時期に達していることを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。そして、放射線技師等は、交換時期に達した内蔵電源24を新品に的確に交換することが可能となる。
With this configuration, when the built-in
[内蔵電源の交換時期の推定処理]
一方、上記のようにして内蔵電源24の充電時ごとに算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを、仮に充電のサイクルタイムTcごとプロットすると、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが図11にイメージ的に示すように変化する場合があることが本発明者らの研究で分かってきた。
[Internal power supply replacement time estimation process]
On the other hand, when the deterioration degree C / Cin of the built-in
すなわち、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinは、初期の100%の状態から徐々に一定の割合で低下していく(すなわち劣化が進んでいく)場合もあるが(図11中の点線参照)、内蔵電源24によっては、内蔵電源24の使用が進み、充電のあるサイクルタイムTcから急に内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの低下の程度が大きくなる場合がある。つまり、内蔵電源24の劣化が急激に進み始める場合があることが分かってきた。
That is, the deterioration degree C / Cin of the built-in
このような場合、内蔵電源24は、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが一定の割合で低下していく場合に比べてより早期に交換時期τに達する。そのため、内蔵電源24の交換時期τを注意して見ていかないと、すでに交換時期に達している内蔵電源24を、まだ交換時期に達していないと誤って判断して使用し続けることになる。
In such a case, the built-in
そのため、例えば放射線画像撮影装置1を用いて放射線画像撮影を行うとしても行えなくなる等の種々の問題を生じさせてしまうことになりかねない。そこで、電子機器の電源として内蔵電源24を用いる場合、内蔵電源24の交換時期τを的確に把握することが必要となる。
For this reason, for example, even if radiographic imaging is performed using the
本実施形態では、内蔵電源24の定電流充電の際に行われる上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で、判定部である本体制御部22aは電圧上昇率ΔVを取得する。そこで、これを利用して、内蔵電源24の交換時期τを推定することが可能である。
In the present embodiment, the main
具体的には、判定部である本体制御部22aは、上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出するごとに、RAM22bに、算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを保存していく。そして、RAM22bに保存されている内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの履歴の中から、前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastを読み出す。
Specifically, every time the main
そして、例えば、今回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと、前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastとの差分ΔC/Cinを下記(2)式に従って算出する。
ΔC/Cin=C/Cin_last−C/Cin …(2)
Then, for example, the difference ΔC / Cin between the deterioration degree C / Cin of the built-in
ΔC / Cin = C / Cin_last−C / Cin (2)
すると、内蔵電源24の劣化がさほど進んでいない場合には、図11に示したように、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinは緩やかに減少していくため、算出された差分ΔC/Cin(或いはその絶対値。以下同じ。)は、小さな値に設定された数値範囲内に収まる。しかし、内蔵電源24の劣化が進み、前述したように、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの低下の程度が急に大きくなると、上記の内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの差分ΔC/Cinが大きくなり、上記の数値範囲に収まらなくなる。
Then, when the deterioration of the built-in
そこで、判定部である本体制御部22aは、例えば、上記の内蔵電源の劣化度合いの判定処理で内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出するごとに、RAM22bから前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastを読み出し、上記の差分ΔC/Cinを算出する。
Therefore, the main
そして、算出した差分ΔC/Cinが、例えば予め小さな値に設定された閾値ΔC/Cin_th以上になった時点で、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの低下の程度が急に大きくなったと判断し、その時点における内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと算出した差分ΔC/Cinから、例えばあと何回充電を行ったら図12に示すように内蔵電源24が交換時期τに達するかを算出して、内蔵電源24の交換時期τを推定するように構成することが可能である。
Then, when the calculated difference ΔC / Cin becomes equal to or greater than a threshold ΔC / Cin_th set to a small value in advance, for example, it is determined that the degree of decrease in the deterioration degree C / Cin of the built-in
その際、内蔵電源24の交換の目安となる内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが例えば60%である場合、現時点での内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと60%との差を、上記の差分ΔC/Cinで除算することによって、あと何回充電を行うことができるか、すなわち内蔵電源24の交換時期τを推定することが可能である。
At this time, when the deterioration degree C / Cin of the built-in
また、このように、内蔵電源24の交換時期τを単純な除算で算出する代わりに、例えばRAM22bに保存された内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの履歴に基づいて、図11に示したような内蔵電源24の劣化度合いC/Cinのプロファイルを形成し、そのプロファイル、特に内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの低下の程度が急に大きくなり始めた部分のプロファイルを曲線近似する等して、内蔵電源24の交換時期τを推定するように構成することも可能である。
Further, instead of calculating the replacement time τ of the built-in
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源24の交換時期τを的確に推定することが可能となる。
With this configuration, the replacement time τ of the built-in
そして、本実施形態では、判定部である本体制御部22aは、推定した内蔵電源24の交換時期τを、交換時期通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。
In this embodiment, the main
交換時期通知部としては、例えば、コンソール101(図8参照)の図示しない表示部を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部22aは、例えば、推定した内蔵電源24の交換時期τの情報をコンソール101に送信する。そして、コンソール101は、判定部である本体制御部22aが推定した内蔵電源24の交換時期τを表示部上に表示させる。
As the replacement time notification unit, for example, a display unit (not shown) of the console 101 (see FIG. 8) can be used. In this case, the main
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1の内蔵電源24の推定された交換時期τを、放射線技師等に的確に通知することが可能となる。そして、放射線技師等は、それを受けて古い内蔵電源24と交換する新しい内蔵電源24を取り寄せる等の必要な措置をとることが可能となる。
With this configuration, the estimated replacement time τ of the built-in
[内蔵電源の異常判定処理]
また、上記の内蔵電源の交換時期の推定処理で示した技術を、内蔵電源24の異常判定処理に応用することが可能である。
[Built-in power supply abnormality judgment processing]
Further, the technique shown in the process for estimating the replacement time of the built-in power supply can be applied to the abnormality determination process for the built-in
すなわち、内蔵電源24に何らかの異常が発生すると、算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが、例えば図11に示したようなプロファイルから大きく逸脱する状態になる。そして、内蔵電源24が異常を来たした場合、少なくともその内蔵電源24が用いられている電子機器である放射線画像撮影装置1の使用を停止して、内蔵電源24の交換等の適切な措置をとることが必要となる。
That is, if any abnormality occurs in the built-in
そこで、内蔵電源24の異常判定処理では、判定部である本体制御部22aは、上記の内蔵電源の交換時期の推定処理の場合と同様に、内蔵電源24の定電流充電の際に取得した電圧上昇率ΔV等に基づいて内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出し、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出するごとに、RAM22bに、算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを保存していく。
Therefore, in the abnormality determination process of the built-in
そして、例えば、上記と同様に、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出するごとに、RAM22bから前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastを読み出し、上記(2)式に従って差分ΔC/Cinを算出する。そして、例えば、算出した差分ΔC/Cinの絶対値が、正常な内蔵電源24の場合に取り得る値として予め設定された閾値ΔC/Cin_th2を越えて大きく変動した場合に、内蔵電源24が異常であると判定するように構成することが可能である。
Then, for example, every time the degree of deterioration C / Cin of the built-in
内蔵電源24が正常である場合には、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinは、例えば図11に示したように滑らかに変動するはずであるのに、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinがその範囲を越えて異常に大きくなったり小さくなったりする場合には、内蔵電源24が異常を来たしたと見るべきである。
When the built-in
本実施形態では、上記のように構成することにより、算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinに基づいて内蔵電源24が異常であるか否かを的確に判定することが可能となる。
In the present embodiment, by configuring as described above, it is possible to accurately determine whether or not the
そして、本実施形態では、判定部である本体制御部22aは、内蔵電源24が異常であると判定した場合には、その旨を、異常通知部を介して放射線技師等に通知するようになっている。
In the present embodiment, when it is determined that the built-in
異常通知部としては、例えば電子機器である放射線画像撮影装置1のインジケーター40(図1や図8参照)を用いるように構成することが可能である。そして、この場合、判定部である本体制御部22aは、例えば、内蔵電源24が異常であると判定した場合には、インジケーター40の1つのLEDを、例えば赤色等の、異常を表す色で点灯させるとともに、例えば当該LEDを点滅させる等して、放射線技師等の注意を喚起するように構成することが可能である。
As the abnormality notification unit, for example, an indicator 40 (see FIG. 1 or FIG. 8) of the
また、異常通知部として、例えばコンソール101(図8参照)を用い、内蔵電源24が異常であると判定した場合には、例えばコンソール101の図示しない表示部上に、その旨を特定の色で着色する等して表示するように構成することも可能である。
Further, for example, the console 101 (see FIG. 8) is used as the abnormality notification unit, and when it is determined that the built-in
このように構成することで、電子機器である放射線画像撮影装置1の内蔵電源24が異常である場合に、放射線技師等にその旨を的確に通知することが可能となり、放射線技師等に、当該内蔵電源24が用いられている電子機器である放射線画像撮影装置1の使用を停止して、内蔵電源24の交換等の適切な措置をとることが可能となる。
With this configuration, when the built-in
以上のように、本実施形態に係る充電システム100および電子機器としての放射線画像撮影装置1によれば、判定部である放射線画像撮影装置1の本体制御部22aは、充電制御部である充電制御回路81による定電流充電時に、電圧検出部である電圧検出回路82が検出した内蔵電源24の電圧Vに基づいて内蔵電源24の電圧上昇率ΔVを取得し、取得した電圧上昇率ΔVと過去に取得した電圧上昇率ΔVinとの比ΔVin/ΔVに基づいて、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを算出して判定する。
As described above, according to the
その際、判定部である本体制御部22aは、電圧検出回路82が検出する内蔵電源24の電圧Vが、目標電圧V1(すなわち上限電圧1)より低く、許容される下限電圧V0より高い電圧である電圧領域であり、かつ、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinに応じて比ΔVin/ΔVが有意に異なる値になる電圧領域、すなわち前述した電圧上昇率取得領域R0(図9参照)内にある場合に、内蔵電源24の電圧上昇率ΔVを取得するように構成される。
At that time, the main
そのため、判定部である本体制御部22aは、内蔵電源24の劣化の進み具合に応じて内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを明確に区別して算出することが可能となる。また、この内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの算出、判定処理を、電子機器である放射線画像撮影装置1に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて行うことが可能となる。
Therefore, the main
このようにして、本実施形態に係る充電システム100および電子機器としての放射線画像撮影装置1によれば、電子機器である放射線画像撮影装置1に何らの変更を加えることなく、電子機器に既存の各機能部を用いて、内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを数値化して算出し、内蔵電源24の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。
As described above, according to the
そして、電子機器において、内蔵電源24を低い電圧領域まで使い切ることなく、高い電圧領域で充電と放電を繰り返すような使い方がなされる場合であっても、内蔵電源24の劣化の進み具合に応じて内蔵電源24の劣化度合いC/Cinを明確に区別し、数値化して算出して、内蔵電源24の劣化がどの程度進んでいるかを的確に判定することが可能となる。
Even in a case where the electronic device is used such that charging and discharging are repeated in a high voltage region without using the built-in
なお、内蔵電源24は、その種類(機種等)に応じて、満充電容量や充電特性等が異なり、また、内蔵電源24の電圧Vに対する電圧上昇率ΔVの関係(例えば図9参照)も、通常、内蔵電源24の種類等によってその傾向が異なる。そのため、上記の電圧上昇率取得領域R0は、図9に示したような電圧領域に限定されず、内蔵電源24の種類等に応じて適切な電圧領域に設定される。
The built-in
また、上記の実施形態のように電圧上昇率取得領域R0を複数の電圧領域R1〜R3等に区分せずに設定する場合も、或いは電圧上昇率取得領域R0をさらに複数の電圧領域R1〜R3に区分するように構成する場合も、いずれの場合でも、上記の各処理における閾値等を、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成することが可能である。
Further, when the voltage increase rate acquisition region R0 is set without being divided into a plurality of voltage regions R1 to R3 as in the above embodiment, the voltage increase rate acquisition region R0 is further divided into a plurality of voltage regions R1 to R3. In any case, it is possible to configure the threshold value or the like in each of the above processes as a function of the voltage V of the built-in
すなわち、例えば、上記の[内蔵電源の交換時期の推定処理]では、上記のように、今回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと、前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastとの差分ΔC/Cinを上記(2)式に従って算出し、算出した差分ΔC/Cinが閾値ΔC/Cin_th(図12参照)以上になった場合に、内蔵電源24の交換時期τの推定処理を行う。
That is, for example, in the above-mentioned “estimation process of the replacement time of the built-in power supply”, as described above, the deterioration degree C / Cin of the built-in
そこで、例えばその判断基準となる閾値ΔC/Cin_thを、内蔵電源24の電圧Vの関数として予め設定しておくことが可能である。そして、この場合には、判定部である本体制御部22aは、今回の充電時にける内蔵電源24の劣化度合いC/Cinの算出の基となる[内蔵電源24の劣化度合いの判定処理]を行い、内蔵電源24の定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得した時点での内蔵電源24の電圧Vに基づいて、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定されている閾値ΔC/Cin_thを算出する。
Therefore, for example, the threshold value ΔC / Cin_th serving as the determination criterion can be set in advance as a function of the voltage V of the built-in
そして、算出した差分ΔC/Cinが、算出した閾値ΔC/Cin_th以上になったか否かを判定するように構成される。この場合、算出した差分ΔC/Cinが、算出した閾値ΔC/Cin_th以上になっていれば上記の[内蔵電源の交換時期の推定処理]を行い、それ以外の場合には[内蔵電源の交換時期の推定処理]は行わない。 Then, it is configured to determine whether or not the calculated difference ΔC / Cin is equal to or greater than the calculated threshold value ΔC / Cin_th. In this case, if the calculated difference ΔC / Cin is equal to or greater than the calculated threshold value ΔC / Cin_th, the above-mentioned [Internal power supply replacement time estimation process] is performed, and otherwise, [Built-in power supply replacement time]. Is not performed.
また、例えば、上記の[内蔵電源の異常判定処理]における閾値ΔC/Cin_th2を、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成することも可能である。この場合も、判定部である本体制御部22aは、[内蔵電源の異常判定処理]の基となる[内蔵電源24の劣化度合いの判定処理]を行い、内蔵電源24の定電流充電時に電圧上昇率ΔVを取得した時点での内蔵電源24の電圧Vに基づいて、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定されている閾値ΔC/Cin_th2を算出する。
Further, for example, the threshold value ΔC / Cin_th2 in [Built-in power supply abnormality determination process] may be set as a function of the voltage V of the built-in
そして、今回算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinと、前回の充電時に算出した内蔵電源24の劣化度合いC/Cin_lastとの差分ΔC/Cinを上記(2)式に従って算出し、算出した差分ΔC/Cinの絶対値が、上記のようにして算出した閾値ΔC/Cin_th2を越えて大きく変動していれば、内蔵電源24が異常であると判定するように構成される。
Then, the difference ΔC / Cin between the deterioration degree C / Cin of the built-in
また、上記以外の各処理に関する閾値等も、内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成することが可能である。例えば、上記の[内蔵電源が交換時期に達したことを通知する処理]等では、判定した内蔵電源24の劣化度合いC/Cinが60%まで低下した時点で内蔵電源24が交換時期τに達したと判断する場合について説明したが、この60%を、例えば内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成することも可能である。
Further, it is possible to configure the threshold values and the like related to the processes other than those described above as a function of the voltage V of the built-in
そして、上記のように、各処理における閾値等を内蔵電源24の電圧Vの関数として設定するように構成すれば、図9等に示したように、内蔵電源24の電圧上昇率ΔVが、内蔵電源24の電圧Vに対して必ずしも一定ではなく、内蔵電源24の電圧Vに応じて特徴的に変化する場合に、少なくとも電圧上昇率取得領域R0内では、特徴的に変化する内蔵電源24の電圧Vに応じて的確に閾値等を設定することが可能となり、内蔵電源24の電圧Vに応じて変化する内蔵電源24の電圧上昇率ΔVに応じた的確な処理を行うことが可能となる。
As described above, if the threshold value in each process is set as a function of the voltage V of the built-in
一方、上記の実施形態では、劣化度合い通知部や交換時期通知部、異常通知部として、電子機器である放射線画像撮影装置1のインジケーター40やコンソール101の図示しない表示部を用いる場合について説明したが、この他にも、例えば、クレードル60(図8参照)に図示しない表示部を設けたり、或いは、放射線画像撮影装置1を用いた放射線画像撮影が行われる撮影室内等に表示手段を設け、それに表示する等して通知するように構成することも可能である。
On the other hand, in the above-described embodiment, the case where the
さらに、上記の実施形態では、充電制御回路81(後述する図8参照)が、電子機器としての放射線画像撮影装置1に設けられている場合について説明した。しかし、例えば図13に示すように、充電制御部としての充電制御回路81を充電装置であるクレードル60に設けるように構成することも可能である。
Furthermore, in the above-described embodiment, the case where the charging control circuit 81 (see FIG. 8 described later) is provided in the
この場合、例えば、クレードル60の筐体61(図7等参照)内部の基板65上の、各種電子部品66が収納されている部分に充電制御回路81を設けることが可能である。
In this case, for example, the
このように、充電制御部としての充電制御回路81を充電装置であるクレードル60に設ける場合、当該充電制御回路81が内蔵電源24の劣化度合いを判定する判定部としても機能するように構成することも可能であるし、判定部として機能する制御部等を充電装置であるクレードル60に別途備えるように構成することも可能である。
As described above, when the charging
また、図13では、電圧検出部としての電圧検出回路82も充電装置であるクレードル60に設けるように構成した。しかし、充電制御部としての充電制御回路81を充電装置であるクレードル60に設ける場合、電圧検出部としての電圧検出回路82は、電子機器である放射線画像撮影装置1に設けるように構成することも可能である。また、充電装置であるクレードル60に設けるように構成することも可能である。
In FIG. 13, the
なお、電圧検出回路82をクレードル60に設ける場合、例えば、クレードル60の筐体61(図7等参照)内部の基板65上の、各種電子部品66が収納されている部分に電圧検出回路82を設けることが可能である。
In the case where the
ここで、充電制御部としての充電制御回路81を充電装置であるクレードル60に設ける場合、例えば、電子機器である放射線画像撮影装置1に、当該放射線画像撮影装置1が内蔵する内蔵電源24の種類を識別するための識別情報を担持するものを備えるように構成する。そして、クレードル60に、放射線画像撮影装置1から識別情報を取得するための識別情報取得手段を備えておく。
Here, when the charging
また、クレードル60に、クレードル60に挿入可能な放射線画像撮影装置1が内蔵する内蔵電源24の識別情報や、当該識別情報の内蔵電源24について工場出荷時等に取得された前述した初期の電圧上昇率ΔVin等の必要な情報を予め記憶しておくように構成する。
Further, in the
そして、クレードル60側で、識別情報取得手段により取得された識別情報に対応する初期の電圧上昇率ΔVin等を抽出し、抽出した初期の電圧上昇率ΔVin等に基づいて、上記の各処理を行うように構成することも可能である。
Then, on the
また、例えば、クレードル60が、クレードル60側のコネクター71および放射線画像撮影装置1側のコネクター39を介して放射線画像撮影装置1との間で通信を行って、当該放射線画像撮影装置1が内蔵する内蔵電源24の種類を識別するための識別情報を取得するように構成することも可能である。
Further, for example, the
また、上記の実施形態では、電子機器が放射線画像撮影装置1であり、充電装置がクレードル60である場合について説明した。しかし、この他にも、充電可能な内蔵電源24を内蔵する電子機器であれば、ノート型パソコンや携帯電話、携帯情報端末等についても本発明を適用することが可能である。また、それらの充電装置についても本発明を適用することが可能である。
In the above-described embodiment, the case where the electronic apparatus is the radiation
なお、本発明が上記の実施形態や変形例に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜変更可能であることは言うまでもない。 Needless to say, the present invention is not limited to the above-described embodiments and modifications, and can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention.
1 放射線画像撮影装置(電子機器)
22a 本体制御部(判定部)
24 内蔵電源
40 インジケーター(劣化度合い通知部、交換時期通知部、異常通知部)
60 クレードル(充電装置)
81 充電制御回路(充電制御部)
82 電圧検出回路(電圧検出部)
100 充電システム
101 コンソール(劣化度合い通知部、交換時期通知部、異常通知部)
C/Cin 内蔵電源の劣化度合い
R0 電圧上昇率取得領域(電圧領域)
R1〜R3 複数の電圧領域
V 内蔵電源の電圧
V1 目的電圧
ΔC/Cin 差分
ΔV 電圧上昇率
ΔVin 過去に取得した電圧上昇率
ΔVin/ΔV 比
τ 内蔵電源の交換時期
1 Radiation imaging equipment (electronic equipment)
22a Main body control unit (determination unit)
24 Built-in
60 Cradle (charging device)
81 Charge control circuit (charge control unit)
82 Voltage detection circuit (voltage detection unit)
100
C / Cin Degree of degradation of built-in power supply R0 Voltage increase rate acquisition area (voltage area)
R1 to R3 Multiple voltage regions V Built-in power supply voltage V1 Target voltage ΔC / Cin Difference ΔV Voltage increase rate ΔVin Voltage acquisition rate ΔVin / ΔV ratio τ acquired in the past τ Internal power supply replacement time
Claims (15)
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする充電システム。 An electronic device with a built-in rechargeable power supply,
A charge control unit that controls charging to the built-in power supply so as to perform constant current charging until the voltage of the built-in power supply reaches a target voltage;
A voltage detector for detecting the voltage of the internal power supply;
A charging device for supplying power to the built-in power supply via the charging control unit;
Based on the voltage of the internal power supply detected by the voltage detection unit during the constant current charging by the charge control unit, the voltage increase rate of the internal power supply is acquired, and the acquired voltage increase rate and the voltage increase acquired in the past A determination unit that calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on a ratio to the rate;
With
The determination unit is a voltage region in which the voltage of the built-in power source detected by the voltage detection unit is lower than the target voltage and higher than an allowable lower limit voltage, and according to the degree of deterioration of the built-in power source. And a voltage increase rate of the built-in power supply is acquired when the ratio is in a voltage range where the ratio is significantly different.
前記判定部は、判定した前記内蔵電源の劣化度合いを、前記劣化度合い通知部に通知させることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の充電システム。 A deterioration degree notification unit for notifying the deterioration degree of the built-in power supply;
The charging system according to claim 1, wherein the determination unit causes the deterioration degree notification unit to notify the determined deterioration degree of the built-in power supply.
前記判定部は、算出した前記内蔵電源の劣化度合いが予め設定された所定の劣化度合いまで低下している場合には、前記交換時期通知部に、前記内蔵電源が交換時期に達したことを通知させることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の充電システム。 A replacement time notification unit for notifying that the built-in power supply has reached the replacement time,
The determination unit notifies the replacement time notification unit that the built-in power source has reached the replacement time when the calculated deterioration level of the built-in power supply has decreased to a predetermined deterioration level set in advance. The charging system according to any one of claims 1 to 3, wherein:
前記判定部は、推定した前記内蔵電源の交換時期を、前記交換時期通知部に通知させることを特徴とする請求項5に記載の充電システム。 A replacement time notification unit for notifying that the built-in power supply has reached the replacement time,
The charging system according to claim 5, wherein the determination unit causes the replacement time notification unit to notify the estimated replacement time of the built-in power source.
前記判定部は、前記内蔵電源が異常であると判定すると、その旨を前記異常通知部に通知させることを特徴とする請求項7に記載の充電システム。 An abnormality notification unit for notifying that the built-in power supply is abnormal,
The charging system according to claim 7, wherein when the determination unit determines that the built-in power supply is abnormal, the determination unit notifies the abnormality notification unit to that effect.
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする電子機器。 In electronic devices with a built-in rechargeable power supply,
A charge control unit that controls charging to the built-in power supply so as to perform constant current charging until the voltage of the built-in power supply reaches a target voltage;
A voltage detector for detecting the voltage of the internal power supply;
A charging device for supplying power to the built-in power supply via the charging control unit;
Based on the voltage of the internal power supply detected by the voltage detection unit during the constant current charging by the charge control unit, the voltage increase rate of the internal power supply is acquired, and the acquired voltage increase rate and the voltage increase acquired in the past A determination unit that calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on a ratio to the rate;
With
The determination unit is a voltage region in which the voltage of the built-in power source detected by the voltage detection unit is lower than the target voltage and higher than an allowable lower limit voltage, and according to the degree of deterioration of the built-in power source. When the ratio is in a voltage range where the ratio is significantly different, the voltage increase rate of the built-in power supply is acquired.
前記内蔵電源の電圧が目標電圧に達するまで定電流充電を行うように前記内蔵電源への充電を制御する充電制御部と、
前記内蔵電源の電圧を検出する電圧検出部と、
前記充電制御部を介して前記内蔵電源に電力を供給する充電装置と、
前記充電制御部による前記定電流充電時に前記電圧検出部が検出した前記内蔵電源の電圧に基づいて前記内蔵電源の電圧上昇率を取得し、取得した前記電圧上昇率と過去に取得した前記電圧上昇率との比に基づいて前記内蔵電源の劣化度合いを算出して判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記電圧検出部が検出する前記内蔵電源の電圧が、前記目標電圧より低く、許容される下限電圧より高い電圧である電圧領域であり、かつ、前記内蔵電源の劣化度合いに応じて前記比が有意に異なる値になる電圧領域内にある場合に、前記内蔵電源の電圧上昇率を取得することを特徴とする充電装置。 In a charging device that supplies power to a built-in power supply built in an electronic device,
A charge control unit that controls charging to the built-in power supply so as to perform constant current charging until the voltage of the built-in power supply reaches a target voltage;
A voltage detector for detecting the voltage of the internal power supply;
A charging device for supplying power to the built-in power supply via the charging control unit;
Based on the voltage of the internal power supply detected by the voltage detection unit during the constant current charging by the charge control unit, the voltage increase rate of the internal power supply is acquired, and the acquired voltage increase rate and the voltage increase acquired in the past A determination unit that calculates and determines the degree of deterioration of the built-in power supply based on a ratio to the rate;
With
The determination unit is a voltage region in which the voltage of the built-in power source detected by the voltage detection unit is lower than the target voltage and higher than an allowable lower limit voltage, and according to the degree of deterioration of the built-in power source. And a voltage increase rate of the built-in power supply is acquired when the ratio is in a voltage range where the ratio is significantly different.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012143957A JP2014007919A (en) | 2012-06-27 | 2012-06-27 | Recharging system, electronic device, and recharging device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012143957A JP2014007919A (en) | 2012-06-27 | 2012-06-27 | Recharging system, electronic device, and recharging device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014007919A true JP2014007919A (en) | 2014-01-16 |
Family
ID=50105198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012143957A Pending JP2014007919A (en) | 2012-06-27 | 2012-06-27 | Recharging system, electronic device, and recharging device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014007919A (en) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002350521A (en) * | 2001-03-16 | 2002-12-04 | Yuasa Corp | Apparatus and method of diagnosing storage battery life |
JP2005224020A (en) * | 2004-02-05 | 2005-08-18 | Ricoh Co Ltd | Charger, heater, fixing device and image forming device |
JP2006300561A (en) * | 2005-04-15 | 2006-11-02 | Ntt Facilities Inc | Degradation determination device and method |
JP2007166789A (en) * | 2005-12-14 | 2007-06-28 | Toyota Motor Corp | Method of determining fully charged capacity of secondary battery and determining device thereof |
WO2011007805A1 (en) * | 2009-07-17 | 2011-01-20 | 本田技研工業株式会社 | Monitoring system for lithium ion secondary cell and monitoring method for lithium ion secondary cell |
WO2011135813A1 (en) * | 2010-04-26 | 2011-11-03 | 日本電気株式会社 | System for managing state of secondary battery, battery charger, method for managing state of secondary battery, and method for measuring electrical characteristics |
JP2011242707A (en) * | 2010-05-21 | 2011-12-01 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | Radiation image imaging device, radiation image imaging system and charging method of radiation image imaging device |
-
2012
- 2012-06-27 JP JP2012143957A patent/JP2014007919A/en active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002350521A (en) * | 2001-03-16 | 2002-12-04 | Yuasa Corp | Apparatus and method of diagnosing storage battery life |
JP2005224020A (en) * | 2004-02-05 | 2005-08-18 | Ricoh Co Ltd | Charger, heater, fixing device and image forming device |
JP2006300561A (en) * | 2005-04-15 | 2006-11-02 | Ntt Facilities Inc | Degradation determination device and method |
JP2007166789A (en) * | 2005-12-14 | 2007-06-28 | Toyota Motor Corp | Method of determining fully charged capacity of secondary battery and determining device thereof |
WO2011007805A1 (en) * | 2009-07-17 | 2011-01-20 | 本田技研工業株式会社 | Monitoring system for lithium ion secondary cell and monitoring method for lithium ion secondary cell |
WO2011135813A1 (en) * | 2010-04-26 | 2011-11-03 | 日本電気株式会社 | System for managing state of secondary battery, battery charger, method for managing state of secondary battery, and method for measuring electrical characteristics |
JP2011242707A (en) * | 2010-05-21 | 2011-12-01 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | Radiation image imaging device, radiation image imaging system and charging method of radiation image imaging device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20210345031A1 (en) | Charging Case for Earbuds and Interchangeable, Rechargeable Batteries | |
EP2756715B1 (en) | Monitoring a battery in a portable electronic device | |
US11239684B2 (en) | Electronic device and control method | |
JP5843051B2 (en) | Pack battery and secondary battery discharge control method | |
US20160336762A1 (en) | An instrumented super-cell | |
US10587014B2 (en) | Lithium ion secondary battery charging control method and charging mechanism | |
US8183822B2 (en) | Digital cassette charging apparatus, digital cassette charging system, and digital cassette charging method | |
EP3955014B1 (en) | Method and apparatus for obtaining residual electric quantity, and electronic device | |
JP2006245012A (en) | Power supply battery formation | |
US20160181839A1 (en) | System and Method for Battery Charging | |
BRPI0809456A2 (en) | ULTRA-QUICK BATTERY CHARGER WITH BATTERY DETECTION | |
JP6504544B2 (en) | Control method of display device and display system | |
JP2012235551A (en) | Charging system and electronic apparatus | |
TWI474533B (en) | Battery system, controller and monitoring method | |
JP2015001411A (en) | Electronic device and charging system | |
JP6330372B2 (en) | Radiation imaging equipment | |
US20110309787A1 (en) | Terminal device and charging control method | |
JP6485001B2 (en) | Electronic device, built-in power supply deterioration estimation system, and built-in power supply deterioration estimation method | |
JP2012227983A (en) | Charging system, electronic device and charging device | |
JP2014007919A (en) | Recharging system, electronic device, and recharging device | |
JP2012165546A (en) | Charging system, electronic apparatus and charging apparatus | |
US8577219B2 (en) | Imaging apparatus and method of calculating usable time of imaging apparatus | |
JP2014241664A (en) | Charging system, electronic apparatus and charging device | |
JP2013038833A (en) | Charging control content display method and battery pack | |
JP2008170169A (en) | Electronic device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150113 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151021 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20151104 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151222 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160614 |