JP2013256401A - 単結晶の製造装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】放電の発生を抑制可能な単結晶の製造装置を提供する。
【解決手段】単結晶の製造装置10は、成長容器1と、加熱部2と、電流導入部3と、断熱部4とを有している。成長容器1は、原料14を収容するためのものである。加熱部2は、成長容器1を加熱するためのものである。電流導入部3は、加熱部2に電流を供給するためのものである。断熱部4は、成長容器1を外部から断熱するためのものである。電流導入部3は加熱部2よりも断熱部4の近くに配置されている。電流導入部3の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積は、加熱部2の当該平面における断面積よりも大きい。
【選択図】図1
【解決手段】単結晶の製造装置10は、成長容器1と、加熱部2と、電流導入部3と、断熱部4とを有している。成長容器1は、原料14を収容するためのものである。加熱部2は、成長容器1を加熱するためのものである。電流導入部3は、加熱部2に電流を供給するためのものである。断熱部4は、成長容器1を外部から断熱するためのものである。電流導入部3は加熱部2よりも断熱部4の近くに配置されている。電流導入部3の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積は、加熱部2の当該平面における断面積よりも大きい。
【選択図】図1
Description
この発明は、単結晶の製造装置に関し、より特定的には原料を収容する成長容器と、成長容器を加熱する加熱部とを有する単結晶の製造装置に関する。
近年、半導体装置の製造用に炭化珪素基板が用いられ始めている。炭化珪素は珪素に比べて大きなバンドギャップを有する。そのため、炭化珪素基板を用いた半導体装置は、耐圧が高く、オン抵抗が低く、また高温環境下での特性の劣化が小さいといった利点を有する。
たとえば特開平06−1699号公報(特許文献1)、特表2003−527295号公報(特許文献2)および特開2000−219594号公報(特許文献3)において、昇華法により炭化珪素単結晶を成長させる技術が記載されている。
上記方法では、2000℃程度の高温および低い雰囲気圧力条件において単結晶が成長する。それゆえ、カーボンヒータからの熱電子が放出されることによって、ヒータと断熱材との間で放電が起こりやすくなっている。放電が発生すると、ヒータ電流が不安定になるので、単結晶を成長させる坩堝の温度が変動する。これにより、複数の結晶多形が発生し、所望の結晶を得ることが困難となる。また、放電により、断熱材や坩堝などの部材が破損する場合もあった。
この発明は、上記のような課題を解決するために成されたものであり、その目的は、放電の発生を抑制可能な単結晶の製造装置を提供することである。
本発明に係る単結晶の製造装置は、成長容器と、加熱部と、電流導入部と、断熱部とを有している。成長容器は、原料を収容するためのものである。加熱部は、成長容器を加熱するためのものである。電流導入部は、加熱部に電流を供給するためのものである。断熱部は、成長容器を外部から断熱するためのものである。電流導入部は加熱部よりも断熱部の近くに配置されている。電流導入部の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積は、加熱部の当該平面における断面積よりも大きい。
本発明に係る単結晶の製造装置において、電流導入部は加熱部よりも断熱部の近くに配置されている。また、電流導入部の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積は、加熱部の平面における断面積よりも大きい。これにより、電流導入部における電流密度が加熱部における電流密度よりも小さくなるので、電流導入部における電位差は加熱部における電位差よりも低くなる。これにより、電流導入部と断熱部との間で放電が発生することを効率的に抑制することができる。
上記の単結晶の製造装置において好ましくは、加熱部は成長容器の温度を2000℃以上に加熱可能である。これにより、2000℃以上の高温で放電が発生し易い状況においても、電流導入部と断熱部との間で放電が発生することをより効率的に抑制することができる。
上記の単結晶の製造装置において好ましくは、電流導入部と断熱部との間に絶縁体部が設けられている。これにより、電流導入部と断熱部との間には電流が流れづらくなる。それゆえ、電流導入部と断熱部との間で放電が発生することをより効率的に抑制することができる。
上記の単結晶の製造装置において好ましくは、成長容器、加熱部、電流導入部および断熱部を収容する金属容器をさらに有する。断熱部は金属容器に接して設けられている。これにより、断熱部は金属容器を介してアース(接地)された状況になる。断熱部がアースされた状況においても、電流導入部と断熱部との間で放電が発生することを効率的に抑制することができる。
上記の単結晶の製造装置において好ましくは、成長容器、加熱部、電流導入部および断熱部を収容する金属容器をさらに有する。断熱部および金属容器の間に絶縁材が設けられている。これにより、断熱部および金属容器の間には電流が流れづらくなる。それゆえ、電流導入部と断熱部との間で放電が発生することをより効率的に抑制することができる。
本発明によれば、放電の発生を抑制可能な単結晶の製造装置を提供することができる。
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。なお、以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付しその説明は繰返さない。
(実施の形態1)
図1および図2を参照して、本発明の実施の形態1に係る単結晶の製造装置の構成について説明する。
図1および図2を参照して、本発明の実施の形態1に係る単結晶の製造装置の構成について説明する。
実施の形態1に係る単結晶の製造装置は、成長容器1と、加熱部2と、電流導入部3と、断熱部4と、金属容器6とを主に有している。成長容器1は、たとえば炭化珪素からなる原料14と、原料14に対向して配置された種基板13とを収容するための坩堝である。成長容器1は、原料14が配置される収容部15と、種基板13を保持するための種基板保持部12とを有している。種基板保持部12は、収容部15と接しており、収容部15の蓋である。
加熱部2は、成長容器1の収容部15に収容されている原料14を加熱するためのものであり、収容部15に対向して配置されている。加熱部2は、たとえば抵抗型の発熱体からなり薄板形状を有している。発熱体とは、たとえばカーボンである。好ましくは、加熱部2は、成長容器1を2000℃以上に加熱可能である。加熱部2には、加熱部2に電流を印加するための電流導入部3が接続されている。電流導入部3は電極5と電気的に接続されている。電極5から電流導入部3を通って加熱部2に電流が供給可能である。
断熱部4は、成長容器1を囲うように形成されており、成長容器1を外部から断熱するためのものである。断熱部4は、たとえばカーボン繊維成形材やフェルトなどからなる。断熱部4aは、加熱部2と金属容器6との間に配置されている。断熱部4aは、金属容器6と接して配置されている。断熱部4bは、成長容器1を取り囲むように配置されている。電流導入部3は、加熱部2よりも断熱部4aの近くに配置されている。なお、電流導入部3は加熱部よりも金属容器6に接している断熱部4aの近くに配置されていればよく、金属容器6に接していない断熱部4bの近くに配置されていなくてもよい。本実施の形態において断熱部4aは、金属容器6を介してアースされている。また、成長容器1は図示されていない支持具によって断熱部4に支持され、加熱部2に接しないようにしている。
金属容器6は、成長容器1、加熱部2、電流導入部3および断熱部4を有している。金属容器6には、図示しないガス供給口およびガス排気口が設けられており、金属容器6内にアルゴンなどの気体を導入可能である。また、金属容器6は内部に導入された気体の圧力を調整可能に構成されている。
図2(A)を参照して、加熱部2は平面的に見て幅L1を有している。加熱部2の左右には、ねじ9が配置されるねじ穴が形成されている。電流導入部3は平面的にみて幅L2を有している。本実施の形態において、電流導入部3の幅L2は、加熱部2の幅よりも小さい。
図2(B)を参照して、加熱部2は断面的に見て高さt1を有している。加熱部2の下方に接して電流導入部3が配置されている。電流導入部3は、加熱部2の左右に配置されている。電流導入部3は断面的に見て高さt2を有している。本実施の形態において、加熱部2の高さt1は、電流導入部3の高さt2よりも小さい。電流導入部3はねじ9によって加熱部2の下部に固定されている。電流導入部3は加熱部2に対して電流を供給可能に設けられている。
本実施の形態において、電流導入部3の電流が流れる方向(図2において左右方向)に垂直な平面における断面積は、加熱部2の電流が流れる(図2において左右方向)に垂直な平面における断面積よりも大きい。つまり電流導入部3の断面積(L2×t2)は、加熱部2の断面積(L1×t1)よりも大きい。加熱部2の高さt1はたとえば0.5〜3mm程度であり、電流導入部3の高さt2はたとえば20〜40mm程度である。加熱部2の幅L1はたとえば200〜300mm程度であり、電流導入部3の幅L2はたとえば20〜40mm程度である。
好ましくは、電流導入部3の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積は、加熱部2の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積の2倍以上であり、より好ましくは5倍以上であり、さらに好ましくは10倍以上である。
図1を参照して、実施の形態1に係る炭化珪素単結晶の製造方法について説明する。
図1を参照して、種基板保持工程(図6:S10)が実施される。種基板保持工程(S10)においては、種基板13が種基板保持部12により保持される。種基板13は、たとえば円板状であり炭化珪素単結晶から成る。また、種基板13のポリタイプはたとえば4Hであり、直径はたとえば6インチである。収容部15には、たとえば多結晶炭化珪素からなる原料14が配置される。原料14は、種基板13に対向して配置される。
図1を参照して、種基板保持工程(図6:S10)が実施される。種基板保持工程(S10)においては、種基板13が種基板保持部12により保持される。種基板13は、たとえば円板状であり炭化珪素単結晶から成る。また、種基板13のポリタイプはたとえば4Hであり、直径はたとえば6インチである。収容部15には、たとえば多結晶炭化珪素からなる原料14が配置される。原料14は、種基板13に対向して配置される。
次に、単結晶成長工程(図6:S20)が実施される。具体的には、金属容器6を真空排気しながら成長容器1の温度を1500℃程度にまで昇温する。金属容器6にアルゴン(Ar)を充填して内圧をたとえば90kPaにする。成長容器1を加熱部2によって加熱することで、成長容器1の温度をたとえば2000℃以上2400℃以下程度に昇温する。昇温中、1slm程度のArガスを流しながら成長炉の圧力をたとえば90kPaに保持する。上記成長温度に到達した後、Arの圧力をたとえば0.1kPa以上5kPa以下程度に減圧することにより、炭化珪素からなる原料14が昇華して、種基板13上に炭化珪素単結晶の成長が開始される。一定時間経過後、種基板上に所定の厚みを有する炭化珪素単結晶が成長する。なお、炭化珪素単結晶が成長する工程においては、原料14の温度は種基板13の温度よりも高く設定される。
なお、本実施の形態において、単結晶として炭化珪素単結晶を例に挙げて説明したがこの材料に限定されない。単結晶としては、炭化珪素の他にたとえばシリコンや窒化ガリウムなどが挙げられる。
また、本実施の形態では、昇華法による炭化珪素単結晶を成長させる場合について説明したがこれに限定されない。たとえば炭化珪素単結晶の成長は、ガス成長法または高温CVD(Chemical Vapor Deposition)法によって行われても構わない。
次に、実施の形態1の作用効果について説明する。
実施の形態1に係る単結晶の製造装置10において、電流導入部3は加熱部2よりも断熱部4aの近くに配置されている。高温低圧下の単結晶の製造条件においては、放電が発生しやすい状況にある。断熱部4aがアースされており、電流導入部3が加熱部2よりも断熱部4aに近い配置の場合、電流導入部3と断熱部4aとの間で放電が発生しやすくなる。実施の形態1に係る単結晶の製造装置10において、電流導入部3の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積は、加熱部2の当該平面における断面積よりも大きい。これにより、電流導入部3における電流密度が加熱部2における電流密度よりも小さくなるので、電流導入部3における電位差は加熱部2における電位差よりも低くなる。これにより、電流導入部3から断熱部4aに対して放電が発生することを効率的に抑制することができる。
実施の形態1に係る単結晶の製造装置10において、電流導入部3は加熱部2よりも断熱部4aの近くに配置されている。高温低圧下の単結晶の製造条件においては、放電が発生しやすい状況にある。断熱部4aがアースされており、電流導入部3が加熱部2よりも断熱部4aに近い配置の場合、電流導入部3と断熱部4aとの間で放電が発生しやすくなる。実施の形態1に係る単結晶の製造装置10において、電流導入部3の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積は、加熱部2の当該平面における断面積よりも大きい。これにより、電流導入部3における電流密度が加熱部2における電流密度よりも小さくなるので、電流導入部3における電位差は加熱部2における電位差よりも低くなる。これにより、電流導入部3から断熱部4aに対して放電が発生することを効率的に抑制することができる。
また実施の形態1に係る単結晶の製造装置10において、加熱部2は成長容器1の温度を2000℃以上に加熱可能である。これにより、2000℃以上の高温で放電が発生し易い状況においても、電流導入部3から断熱部4bに対して放電が発生することをより効率的に抑制することができる。
さらに実施の形態1に係る単結晶の製造装置において、成長容器1、加熱部2、電流導入部3および断熱部4を収容する金属容器6をさらに有する。断熱部4aは金属容器6に接して設けられている。これにより、断熱部4aは金属容器6を介してアースされた状況になる。断熱部4aがアースされた状況においても、電流導入部3から断熱部4aに対して放電が発生することを効率的に抑制することができる。
(実施の形態2)
図3を参照して、本発明の実施の形態2に係る単結晶の製造装置の構成について説明する。
図3を参照して、本発明の実施の形態2に係る単結晶の製造装置の構成について説明する。
実施の形態2に係る単結晶の製造装置は、電流導入部3と断熱部4aとの間に絶縁体部7を有している点において実施の形態1に係る単結晶の製造装置と異なっており、他の点については実施の形態1に係る単結晶の製造装置と同様の構成を有している。
図3に示すように、実施の形態2に係る単結晶の製造装置10の電流導入部3と断熱部4aとの間に絶縁体部7が配置されている。実施の形態2において、絶縁体部7は、電流導入部3および断熱部4aに接しており、断熱部4aは金属容器6に接している。好ましくは、絶縁体部7は、電流導入部3の断熱部4aに対向する表面全体を覆うように配置されている。
図4に示すように、絶縁体部7は、金属容器6と接している断熱部4aと電流導入部3との間および金属容器6と接していない断熱部4bと電流導入部3との間に配置されていても構わない。好ましくは、絶縁体部7は管状であり、電流導入部3の表面および側面を取り囲むように配置されている。なお、絶縁体部7を構成する材料は、たとえばアルミナや石英などである。
次に、実施の形態2の作用効果について説明する。
実施の形態2に係る単結晶の製造装置10において、電流導入部3と断熱部4aとの間に絶縁体部7が設けられている。これにより、電流導入部3と断熱部4aとの間には電流が流れづらくなる。それゆえ、電流導入部3と断熱部4aとの間で放電が発生することをより効率的に抑制することができる。
実施の形態2に係る単結晶の製造装置10において、電流導入部3と断熱部4aとの間に絶縁体部7が設けられている。これにより、電流導入部3と断熱部4aとの間には電流が流れづらくなる。それゆえ、電流導入部3と断熱部4aとの間で放電が発生することをより効率的に抑制することができる。
(実施の形態3)
図5を参照して、本発明の実施の形態3に係る単結晶の製造装置の構成について説明する。
図5を参照して、本発明の実施の形態3に係る単結晶の製造装置の構成について説明する。
実施の形態3に係る単結晶の製造装置は、断熱部4aと金属容器6との間に絶縁材を有している点において実施の形態1に係る単結晶の製造装置と異なっており、他の点については実施の形態1に係る単結晶の製造装置と同様の構成を有している。
図5に示すように、実施の形態3に係る単結晶の製造装置10は、断熱部4aと金属容器6との間に絶縁材としてのライナー11を有している。本実施の形態のライナー11は、金属容器6および断熱部4aに接して設けられている部分と、金属容器6にのみ接して設けられている部分とを有する。ライナー11は、金属容器6の内壁のほぼ全体に接して設けられており、ライナー11には、電極5から電流導入部3に電流を流すための開口が設けられていても構わない。
なお、ライナー11を構成する材料は、たとえばアルミナや石英などである。また、ライナー11は、金属容器6と断熱部4aとの間に配置されていれば、金属容器6や断熱部4aと接していなくても構わない。好ましくは、ライナー11の断熱部4aに対向する部分の面積は、当該断熱部4aの面積よりも大きい。また、単結晶の製造装置10は、実施の形態3で説明したライナー11および実施の形態2で説明した絶縁体部7の両方を有していても構わない。
次に、実施の形態3の作用効果について説明する。
実施の形態3に係る単結晶の製造装置10において、成長容器1、加熱部2、電流導入部3および断熱部4を収容する金属容器6をさらに有する。断熱部4aおよび金属容器6の間にライナー11が設けられている。これにより、断熱部4aおよび金属容器6の間には電流が流れづらくなる。それゆえ、電流導入部3と断熱部4aとの間で放電が発生することをより効率的に抑制することができる。
実施の形態3に係る単結晶の製造装置10において、成長容器1、加熱部2、電流導入部3および断熱部4を収容する金属容器6をさらに有する。断熱部4aおよび金属容器6の間にライナー11が設けられている。これにより、断熱部4aおよび金属容器6の間には電流が流れづらくなる。それゆえ、電流導入部3と断熱部4aとの間で放電が発生することをより効率的に抑制することができる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味、および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 成長容器、2 加熱部、3 電流導入部、4,4a,4b 断熱部、5 電極、6 金属容器、7 絶縁体部、10 製造装置、11 ライナー、12 種基板保持部、13 種基板、14 原料、15 収容部。
Claims (5)
- 原料を収容するための成長容器と、
前記成長容器を加熱するための加熱部と、
前記加熱部に電流を供給するための電流導入部と、
前記成長容器を外部から断熱するための断熱部とを備え、
前記電流導入部は前記加熱部よりも前記断熱部の近くに配置されており、
前記電流導入部の電流が流れる方向に垂直な平面における断面積は、前記加熱部の前記平面における断面積よりも大きい、単結晶の製造装置。 - 前記加熱部は前記成長容器の温度を2000℃以上に加熱可能である、請求項1に記載の単結晶の製造装置。
- 前記電流導入部と前記断熱部との間に絶縁体部が設けられている、請求項1または2に記載の単結晶の製造装置。
- 前記成長容器、前記加熱部、前記電流導入部および前記断熱部を収容する金属容器をさらに備え、
前記断熱部は前記金属容器に接して設けられている、請求項1〜3のいずれか1項に記載の単結晶の製造装置。 - 前記成長容器、前記加熱部、前記電流導入部および前記断熱部を収容する金属容器をさらに備え、
前記断熱部および前記金属容器の間に絶縁材が設けられている、請求項1〜3のいずれか1項に記載の単結晶の製造装置。
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Cited By (2)
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JP2016088801A (ja) * | 2014-11-04 | 2016-05-23 | 住友電気工業株式会社 | 炭化珪素単結晶の製造装置および炭化珪素単結晶の製造方法 |
JP2019073441A (ja) * | 2019-02-20 | 2019-05-16 | 住友電気工業株式会社 | 炭化珪素単結晶の製造装置および炭化珪素単結晶の製造方法 |
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