JP2013160555A5 - - Google Patents
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Claims (6)
- 光を受光して、第1個数の所定の波長での光強度を表すスペクトルを計測する分光計測方法であって、
通過する光の波長を変更可能な光学フィルターに前記受光した光を通過させることによって、該受光した光を第2個数の所定の波長である計測波長の光に分光する分光工程と、
前記第2個数の前記計測波長での光強度を検出することによって、前記第2個数の光強度を有する計測スペクトルを測定する計測スペクトル測定工程と、
前記分光に用いられた光学フィルターの分光特性である計測分光特性を測定する分光特性測定工程と、
基準として定められた前記光学フィルターである基準光学フィルターについての分光特性である基準分光特性を記憶しておく基準分光特性記憶工程と、
前記計測分光特性と前記基準分光特性とを用いて、前記計測スペクトルを、前記基準光学フィルターを用いて測定される計測スペクトルである基準計測スペクトルに変換する計測スペクトル変換工程と、
前記基準計測スペクトルを前記スペクトルに変換するための変換行列を決定する変換行列決定工程と、
前記基準計測スペクトルに前記変換行列を作用させることによって、前記基準計測スペクトルを前記スペクトルに変換する基準計測スペクトル変換工程と、
を備え、
前記変換行列決定工程は、
前記スペクトルが既知の光である既知光についての前記基準計測スペクトルである既知光計測スペクトルを取得する工程と、
前記既知光についての前記スペクトルである既知光スペクトルを取得する工程と、
前記既知光計測スペクトルに前記変換行列を作用させて得られた前記スペクトルである推定スペクトルと、前記既知光スペクトルとの偏差が極値となる条件に基づいて前記変換行列を決定する工程と、
を備えることを特徴とする分光計測方法。 - 請求項1に記載の分光計測方法であって、
前記計測スペクトル変換工程は、更に、
前記計測分光特性に校正行列を作用させて得られた校正分光特性と、前記基準分光特性との偏差が極値となる条件に基づいて、前記校正行列を決定する工程と、
前記計測スペクトルに校正行列を作用させることによって前記基準計測スペクトルに変換する工程と、
を備えることを特徴とする分光計測方法。 - 請求項1に記載の分光計測方法であって、
前記変換行列決定工程は、更に、
前記既知光スペクトルに主成分分析を行って、前記第1個数よりも少ない第3個数の主成分ベクトルを選択する工程と、
前記変換行列を、前記第3個数の主成分ベクトルによって構成される線形空間に線形射影することによって、前記変換行列を修正する工程と、
を備えることを特徴とする分光計測方法。 - 光を受光すると、第1個数の所定の波長での光強度を表すスペクトルを出力する分光計測器であって、
通過する光の波長を変更可能な光学フィルターと、
前記受光した光を前記光学フィルターに通過させることによって、該受光した光を第2個数の所定の波長である計測波長の光に分光する分光手段と、
前記第2個数の前記計測波長での光強度を検出することによって、前記第2個数の光強度を有する計測スペクトルを測定する計測スペクトル測定手段と、
前記計測スペクトルを、基準として定められた前記光学フィルターである基準光学フィルターを用いて測定される基準計測スペクトルに変換する計測スペクトル変換手段と、
前記基準計測スペクトルに所定の変換行列を作用させることによって、前記基準計測スペクトルを前記スペクトルに変換する計測スペクトル変換手段と、
を備え、
前記変換行列は、前記スペクトルが既知の光である既知光についての前記計測スペクトルである既知光計測スペクトルを取得して、前記既知光計測スペクトルに前記変換行列を作用させて得られた前記スペクトルである推定スペクトルと、前記既知光の前記スペクトルである既知光スペクトルとの偏差が極値となる条件に基づいて決定された行列であり、
前記計測スペクトル変換手段は、前記計測スペクトルの計測に用いた前記分光に用いられた光学フィルターの分光特性である計測分光特性と、前記基準光学フィルターの分光特性である基準分光特性とに基づいて、前記計測スペクトルを前記基準計測スペクトルに変換する
ことを特徴とする分光計測器。 - 請求項4に記載の分光計測器であって、
前記計測スペクトル変換手段は、更に、
前記計測分光特性に校正行列を作用させて得られた校正分光特性と、前記基準分光特性との偏差が極値となる条件に基づいて決定された前記校正行列を記憶している校正行列記憶手段と、
前記計測スペクトルに校正行列を作用させることによって前記基準計測スペクトルに変換する変換手段と、
を備えることを特徴とする分光計測器。 - 請求項4に記載の分光計測器であって、
前記変換行列は、
前記推定スペクトルと、前記既知光の前記スペクトルである既知光スペクトルとの偏差が極値となる条件に基づいて決定された行列を、
前記既知光スペクトルの前記第1個数よりも少ない第3個数の主成分ベクトルが構成する線形空間に線形射影することによって修正された行列である
ことを特徴とする分光計測器。
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