JP2013074368A - 撮像装置及び撮像方法 - Google Patents

Abstract

【課題】固体撮像素子（イメージセンサー）の温度を固体撮像素子のＯＢ領域画素の出力値から推定する際、ＯＢ領域の画素出力値からＯＢ領域の欠陥画素の出力値を除外した値を用いることで、固体撮像素子の温度推定の精度を向上させることができる撮像装置及び撮像方法を提供すること。
【解決手段】撮像領域内に遮光領域（ＯＢ領域）を含む固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度による欠陥画素の位置情報を予め求めておいて、撮影時に欠陥画素の位置情報を元に固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を求て、この求めた温度に基づき補正条件を変更して欠陥画素を補正する。しかも、遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を算出する。
【選択図】 図２

Description

この発明は、固体撮像素子（イメージセンサー）の温度を推定して、固体撮像素子の欠陥画素を補正させるようにした撮像装置及び撮像方法に関するものである。

ＣＣＤやＣＭＯＳ等の半導体にて形成した固体撮像素子等のイメージセンサーでは、半導体により構成される多数の画素により、多数の画素からなる撮像面（結像面）を形成している。このようなイメージセンサーでは、製造に際して或いは経年変化等により、撮像面を構成する半導体に局部的な結晶欠陥が生じる。

また、このようなイメージセンサーでは、上述した半導体の局部的な結晶欠陥等により入射光量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算されてしまう欠陥画素を生じ、上記欠陥画素からの撮像出力に起因する画質劣化を生じることが知られている。この画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処理されると、モニタ画面上に高輝度のスポットとして現れるので白傷欠陥と呼ばれている。

ところで、近年、このようなイメージセンサー（ＣＣＤやＣＭＯＳ等）を用いたディジタルスチルカメラ（以下、ディジタルカメラという）等の撮像装置が主流になっている。このようなイメージセンサーは、総画素領域のうち撮影に利用される有効画素領域と撮影に利用されないＯＢ領域（オプティカルブラック領域）を有している。

このようなイメージセンサーを用いた撮像装置においては、生産・検査工程であらかじめイメージセンサーの欠陥画素位置情報をメモリに記憶させ、メモリに記憶させた欠陥画素位置情報を欠陥画素の補正に用いることが知られている。例えば、イメージセンサーのＯＢ領域（オプティカルブラック領域）の出力値からイメージセンサーの温度を推定し、その結果に応じた補正条件を欠陥画素補正に適用する技術が既に知られている（例えば、特許文献１参照）。

しかし、近年のディジタルカメラのイメージセンサーでは、高画素数化に伴うセルサイズの小型化により、ＯＢ領域での欠陥画素発生率が上がること、また推定に用いるＯＢ領域の画素数が少ない事から、ＯＢ領域中の欠陥画素が画素出力値へ与える割合が大きく、イメージセンサーの温度の推定精度が落ちるという問題があった。

そこで、本発明は、固体撮像素子（イメージセンサー）の温度を固体撮像素子のＯＢ領域画素の出力値から推定する際、ＯＢ領域の画素出力値からＯＢ領域の欠陥画素の出力値を除外した値を用いることで、固体撮像素子の温度推定の精度を向上させることができる撮像装置及び撮像方法を提供することを目的とする。

この目的を達成するため、この発明の撮像装置は、撮像領域内に遮光領域を含む固体撮像素子と、前記固体撮像素子の温度による欠陥画素の位置情報を予め求めて記憶させた欠陥画素位置記憶手段と、撮影時に、前記欠陥画素記憶手段に記憶されている前記欠陥画素の位置情報を元に前記固体撮像素子の温度を算出すると共に、この算出した温度に基づいて補正条件を変更する温度算出手段と、前記補正条件に基づいて前記欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段と、を備えている。しかも、前記温度算出手段は、前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して前記固体撮像素子の温度を算出することを特徴とする。

また、上述した目的を達成するため、この発明の撮像方法は、撮像領域内に遮光領域を含む固体撮像素子の温度による欠陥画素の位置情報を予め求めておいて、撮影時に前記欠陥画素の位置情報を元に前記固体撮像素子の温度を求て、この求めた温度に基づき補正条件を変更して前記欠陥画素を補正する撮像方法であって、
前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して前記固体撮像素子の温度を算出することを特徴とする。

この発明にかかる撮像装置及び撮像方法によれば、固体撮像素子（イメージセンサー）の温度を固体撮像素子のＯＢ領域画素の出力値から推定する際、ＯＢ領域の画素出力値からＯＢ領域の欠陥画素の出力値を除外した値を用いているので、固体撮像素子の温度推定の精度を向上させることができる。

（ａ）はこの発明に係る撮像装置であるディジタルカメラの正面図、（ｂ）は（ａ）のデジカメの背面図、（ｃ）は（ａ）のディジタルカメラの平面図である。 図１に示したディジタルカメラの制御回路図である。 図１に示したディジタルカメラの欠陥補正処理のフローチャートである。 欠陥補正処理における演算対象であるＯＢ領域について説明する図である。 図４のＯＢ領域の出力平均値を求める時に欠陥画素を含めた場合と含めない（除外した）場合について説明する図である。 欠陥画素位置記憶手段の欠陥画素補正座標登録領域Ａ、Ｂ、Ｃの説明図である。 この発明に係るディジタルカメラの他の実施例を示すもので、ディジタルカメラに用いられるＲＧＢフィルタを模式的に示す説明図である。 欠陥画素記憶手段に格納された欠陥画素のアドレスのデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す説明図である。 この実施例の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートである。 固体撮像素子の温度が１０°Ｃのとき欠陥画素記憶手段に格納された欠陥画素のアドレス（固体撮像素子の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）を示した説明図である。 固体撮像素子の温度が２０°Ｃのとき欠陥画素記憶手段に格納された欠陥画素のアドレス（固体撮像素子の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）を示した説明図である。 固体撮像素子の温度が３０°Ｃのとき欠陥画素記憶手段に格納された欠陥画素のアドレス（固体撮像素子の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）を示した説明図である。 固体撮像素子の温度が４０°Ｃのとき欠陥画素記憶手段に格納された欠陥画素のアドレス（固体撮像素子の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）を示した説明図である。 欠陥画素補正処理に際して算出される固体撮像素子の温度情報をＬＣＤモニタに表示させる際のフローチャートである。 図１４の欠陥画素補正処理に際して算出される温度情報をＬＣＤモニタに表示させた例を示す説明図である。

以下、この発明に係る撮像装置としてのディジタルカメラを図面に基づいて説明する。

［構成］
＜ディジタルカメラ本体の外観構成＞
図１（ａ）〜図１（ｃ）は、本発明の実施形態におけるディジタルカメラの外観を示したものである。この図１（ａ）はディジタルカメラの正面図、図１（ｂ）はディジタルカメラの背面図、図１（ｃ）はディジタルカメラの平面図である。

ディジタルカメラ本体２の上面には、図１（ａ）〜図１（ｃ）に示すように、レリーズスイッチ（レリーズ操作キー）ＳＷ１、モードダイヤルスイッチ（モード操作キー）ＳＷ２、およびジョグダイヤル１スイッチ（操作キー）ＳＷ３が配設されている。

また、ディジタルカメラ本体２の正面には、図１（ａ）に示すように、ストロボ発光部３、測距ユニット５、光学ファインダＦ、撮影レンズである鏡胴ユニット７が設けられている。

ディジタルカメラ本体２の背面には、図１（ｂ）に示すように、ＬＣＤモニタ（表示装置、表示部）１０、ジョグダイヤル２スイッチ（操作キー）ＳＷ４、ズームスイッチＳＷ５［ＴＥＬＥ操作キー］、ズームスイッチＳＷ６［ＷＩＤＥ操作キー］、上スイッチ（上操作キー）ＳＷ７、右スイッチ（右操作キー）ＳＷ８、ＯＫスイッチ（ＯＫ操作キー）ＳＷ９、左スイッチ（左操作キー）ＳＷ１０、下スイッチ／マクロスイッチ（下／マクロ操作キー）ＳＷ１１、ディスプレイスイッチ（ディスプレイ操作キー）ＳＷ１２、削除スイッチ（削除操作キー）ＳＷ１３、メニュースイッチ（メニュー操作キー）ＳＷ１４、電源スイッチ（電源操作キー）ＳＷ１５が設けられている。また、ディジタルカメラ本体２の側面には、図１（ｂ）に示すように電池蓋４が設けられている。
＜ディジタルカメラ本体２内のシステムの概略構成＞
図２は、図１に示した鏡胴ユニット７の具体的な構成を示すと共に、この鏡胴ユニット７を介して被写体像が結像されるＣＣＤ１０１（固体撮像素子であるイメージセンサー）と、ＣＣＤ１０１からの映像信号（画像信号）を処理する制御回路等のシステム構成を示したものである。このＣＣＤ１０１や制御回路等は図１のディジタルカメラ本体２内に設けられている。

この制御回路は、図２に示したフロントエンドＩＣ回路（画像信号制御回路）であるＦ／Ｅ−ＩＣ１０２、メモリ（記憶装置）であるＳＤＲＡＭ１０３、装置制御手段（装置制御回路）であるプロセッサ（ディジタルスチルカメラプロセッサ）１０４を有する。
・鏡胴ユニット７
鏡胴ユニット７は、ズーム光学系すなわちＺＯＯＭ光学（ＺＯＯＭ光学ユニット）７−１、フォーカス光学系すなわちＦＯＣＡＳ光学系（ＦＯＣＡＳ光学ユニット）７−２、絞りユニット７−３、メカシャッタユニット７−４、モータドライバ７−５を備えている。

図２では、ＺＯＯＭ光学系７−１は、ＺＯＯＭレンズ７−１ａと、ＺＯＯＭレンズ７−１ａを光軸方向に駆動するＺＯＯＭモータ７−１ｂを有する。また、ＦＯＣＡＳ光学系７−２は、ＦＯＣＡＳレンズ７−２ａと、ＦＯＣＡＳレンズ７−２ａを光軸方向に駆動するＦＯＣＡＳモータ７−２ｂを有する。絞りユニット７−３は、絞り７−３ａと、絞り７−３ａを駆動する絞りモータ７−３ｂを有する。メカシャッタユニット７−４は、メカシャッタ７−４ａと、メカシャッタ７−４ａを駆動するメカシャッタモータ７−４ｂを有する。各モータ７−１ｂ〜７−４ｂは、モータードライバ７−５によって駆動される。モータードライバ７−５は、プロセッサ１０４からの駆動信号により駆動制御される。
・ＣＣＤ１０１
このＣＣＤ１０１は、鏡胴ユニット７の各撮影レンズ系を通して入射される被写体画像を受光面上に結像して、被写体画像信号をＦ／Ｅ−ＩＣ１０２に出力する。
・Ｆ／Ｅ−ＩＣ１０２
Ｆ／Ｅ−ＩＣ１０２は、ＣＣＤ１０１から入射される被写体画像信号に基づいて、ＣＣＤ１０１への入射光に応じた信号レベルの差分をとるＣＤＳ相関二重サンプリング１０２−１と、入力信号の強弱を補正するＡＧＣ１０２−２、アナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部１０２−３を備えている。そして、Ｆ／Ｅ−ＩＣ１０２は、Ａ／Ｄ変換部１０２−３により変換されるディジタル信号をＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１に出力する。
・ＳＤＲＡＭ１０３
このＳＤＲＡＭ１０３は、プロセッサ１０４を介して得られるＲＡＷ−ＲＧＢ画像データ（ＲＡＷ−ＲＧＢデータ）、ＹＵＶ画像データ、ＪＰＥＧ画像データを記憶する。
・プロセッサ１０４
プロセッサ１０４は、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２、欠陥画素補正手段である欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａ、各部の制御を実質的に行う制御手段（制御装置）であるＣＰＵブロック１０４−３を有する。また、プロセッサ１０４は、ＬＯＣＡＬ ＳＲＡＭ１０４−４、ＵＳＢブロック１０４−５、シリアルブロック１０４−１１、ＪＰＥＧ・ＣＯＤＥＣブロックＪＰＥＧ圧縮・伸長を行うブロック１０４−７、ＲＥＳＩＺＥブロック１０４−８を有する。更に、プロセッサ１０４は、ＴＶ信号表示ブロック画像データを液晶モニタ・ＴＶ等の表示機器に表示させるためのビデオ信号に変換するＴＶ信号表示ブロック１０４−９、メモリカードコントローラブロック撮影画像データを記録するメモリカードの制御を行うメモリカードコントローラブロック１０４−１０を有している。これらの各ブロックは相互にバスライン符号省略で接続されている。
（プロセッサ１０４の各部の機能および制御回路のその他の構成）
Ｆ／Ｅ−ＩＣ１０２は、ＣＣＤ１０１を駆動するＴＧ（タイミング信号発生部）１０２−４、ＣＣＤ１０１から出力される電気信号（アナログＲＧＢ画像信号）をサンプリングするＣＤＳ（相関２重サンプリング部）１０２−１、ＣＤＳ１０２−１にてサンプリングされた信号のゲインを調整するＡＧＣ（アナログ利得制御部）１０２−２、ＡＧＣ１０２−２でゲイン調整された信号をディジタル信号（以下、「ＲＡＷ−ＲＧＢデータ」という）に変換するＡ／Ｄ変換部１０２−３を有する。

そして、プロセッサ１０４における信号制御処理は、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１から出力される垂直同期信号ＶＤ・水平同期信号ＨＤによりＴＧ１０２−４を介して行われる。即ち、プロセッサ１０４のＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１は、Ｆ／Ｅ−ＩＣ１０２のＴＧ１０２−４へ画面水平同期信号ＨＤと画面垂直同期信号ＶＤの出力を行うと共に、これらの同期信号に合わせてＦ／Ｅ−ＩＣ１０２のＡ／Ｄ変換部１０２−３から出力されるディジタル信号であるＲＡＷ−ＲＧＢデータを取り込む。そして、このＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１に取り込まれたＲＡＷ−ＲＧＢデータはＳＤＲＡＭ１０３に保存される。
・ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２
また、ＳＤＲＡＭ１０３には、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２で変換処理されたＹＵＶデータ（ＹＵＶ形式の画像データ）が保存され、さらにＪＰＥＧＣＯＤＥＣブロック１０４−７で圧縮処理されたＪＰＥＧ形式等の画像データが保存される。

尚、前記ＹＵＶデータのＹＵＶは輝度データＹと、色差輝度データと青色Ｂ成分データの差分と、輝度データと赤色Ｒ成分データの差分Ｖの情報で色を表現するものである。
・操作キー（操作Ｋｅｙ）ユニットＫ＿Ｕ（ＳＷ１−ＳＷ１５）
この操作キーユニットＫ＿Ｕ（ＳＷ１−ＳＷ１５）は、図１（ａ）〜図１（ｃ）のディジタルカメラ本体２の外観表面に設けられているレリーズスイッチＳＷ１、モードダイヤルスイッチＳＷ２、望遠側ズームスイッチ［ＴＥＬＥ］ＳＷ５、広角側ズームスイッチ［ＷＩＤＥ］ＳＷ６、上スイッチＳＷ７、右スイッチＳＷ８、ＯＫスイッチＳＷ９、左スイッチＳＷ１０、下スイッチ／マクロスイッチＳＷ１１、ディスプレイスイッチＳＷ１２、削除スイッチＳＷ１３、メニュースイッチＳＷ１４、電源スイッチＳＷ１５等である。この操作キーユニットＫ＿Ｕ（ＳＷ１−ＳＷ１５）は、撮影者の操作に応じた動作指示信号をＳＵＢ−ＣＰＵ１０９を介してプロセッサ１０４に入力する。
・ＣＰＵブロック１０４−３
このＣＰＵブロック１０４−３は、Ｆ／Ｅ−ＩＣ１０２を制御すると共に、鏡胴ユニット７のモータドライバ７−５を制御する。また、ＣＰＵブロック１０４−３は、ストロボ回路１１４を制御することによってストロボ発光部３から照明光を発光させる。これに加えて、ＣＰＵブロック１０４−３は、測距ユニット５も制御する。更に、ＣＰＵブロック１０４−３は、プロセッサ１０４のＳＵＢ−ＣＰＵ１０９に接続され、ＳＵＢ−ＣＰＵ１０９はＬＣＤドライバ１１１を介して図２のサブＬＣＤ１（図１には図示しない）の表示制御を行う。しかも、ＣＰＵブロック１０４−３は、音声記録回路１１５−１や音声再生回路１１６−１を作動制御する。

尚、サブＣＰＵ１０９は、更に、ＡＦＬＥＤ８、ストロボＬＥＤ９、リモコン受光部６、スイッチＳＷ１〜ＳＷ１５からなる操作キーユニットＫ＿Ｕ（ＳＷ１−ＳＷ１５）、ブザー１１３に接続されている。
・欠陥画素補正ブロック（欠陥画素補正手段）１０４−３Ａ
この欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａは、ＣＣＤ１０１のＯＢ領域出力平均値とＣＣＤ１０１の温度の相関テーブル、即ち図５に示したようなＣＣＤ１０１のＯＢ領域出力平均値とＣＣＤ１０１の温度の相関を示す特性線Ｆ１，Ｆ２を得るためのテーブルを用いて、ＣＣＤ１０１の欠陥画素補正処理を行う。

また、このＣＣＤ１０１のＯＢ領域出力平均値とＣＣＤ１０１の温度の相関テーブル、即ち図５に示したようなＣＣＤ１０１のＯＢ領域出力平均値とＣＣＤ１０１の温度の相関を示す特性線Ｆ１を得るためのテーブルは、内蔵メモリ１２０又はＲＯＭ１０８若しくはＬＯＣＡＬ ＳＲＡＭ１０４−４等の温度相関テーブル記憶用のテーブルメモリ（テーブル記憶装置）に予め求めて記憶されている。尚、図５の特性線Ｆ２は、特性線Ｆ１との比較のためのものである。

しかも、ディジタルカメラの生産・検査工程で、ＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の温度に対応する欠陥画素位置情報は上述の温度相関テーブル記憶用のテーブルメモリ（テーブル記憶装置）に記憶させて、このテーブルメモリに記憶させた欠陥画素位置情報を欠陥画素の補正に用いるようになっている。

即ち、ＣＰＵブロック１０４−３は、ディジタルカメラの電源スイッチＳＷ１５がオンされたときに、上述の温度相関テーブル記憶用のテーブルメモリ（テーブル記憶装置）に予め求め記憶されている特性線Ｆ１のテーブルを読み込んでＲＡＭ１０７に記憶させると共に、上述の温度相関テーブル記憶用のテーブルメモリ（テーブル記憶装置）に予め求め記憶されているＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の温度に対応する欠陥画素位置情報（欠陥画素のアドレス）を読み込んで欠陥画素記憶手段としてのＲＡＭ１０７に記憶させ、ＣＣＤ１０１による撮影時にＣＣＤ１０１の温度に対応する欠陥画素位置情報を欠陥画素の補正に用いるようになっている。尚、以下の説明では、便宜上、上述の温度相関テーブル記憶用のテーブルメモリ（テーブル記憶装置）として内蔵メモリ１２０を用いた場合について説明する。

このＲＡＭ１０７には、欠陥画素補正座標登録領域Ａ，Ｂ，Ｃが設けられている。この欠陥画素補正座標登録領域Ａには温度ＴＥＭＰが閾値ＴＨ２より小さい場合の欠陥画素が登録（記憶）され、欠陥画素補正座標登録領域Ｂには温度ＴＥＭＰが閾値ＴＨ２より大きく且つ閾値ＴＨ２より小さい場合の欠陥画素が登録（記憶）され、欠陥画素補正座標登録領域Ｃには温度ＴＥＭＰが閾値ＴＨ３より大きい場合の欠陥画素が登録（記憶）されている。尚、ＲＡＭ１０７とは別に欠陥画素メモリに設けておいて、この欠陥画素メモリに欠陥画素補正座標登録領域Ａ，Ｂ，Ｃを記憶させることもできる。尚、上述の温度相関テーブル記憶用のテーブルメモリ（テーブル記憶装置）にも、ＲＡＭ１０７に設けた欠陥画素補正座標登録領域Ａ，Ｂ，Ｃと同様な欠陥画素補正座標登録領域が設けられている。
・ＵＳＢブロック１０４−５
このＵＳＢブロック１０４−５はＵＳＢコネクタ１２２に接続され、シリアルブロック１０４−１１はシリアルドライバ回路１２３−１を介してＲＳ‐２３２Ｃコネクタ１２３−２に接続されている。
・ＴＶ信号表示ブロック１０４−９
このＴＶ信号表示ブロック１０４−９は、ＬＣＤドライバ１１７を介してＬＣＤモニタ１０に接続されると共に、ＴＶ信号表示ブロック１０４−９から出力されたビデオ信号を７５Ωインピーダンスに変換するためのビデオＡＭＰ（アンプリファイア）１１８を介してビデオジャックカメラをＴＶ等の外部表示機器に接続するためのビデオジャック１１９に接続されている。
・メモリカードコントローラブロック１０４−１０
このメモリカードコントローラブロック１０４−１０はメモリカードスロット１２１のカード接点との接点に接続されている。
・ＬＣＤドライバ１１７
このＬＣＤドライバ１１７はＬＣＤモニタ１０を駆動すると共に、ＴＶ信号表示ブロック１０４−９から出力されたビデオ信号をＬＣＤモニタ１０に表示させる信号に変換する役割を果たす。

ＬＣＤモニタ１０は撮影前の被写体の状態監視、撮影画像確認及びメモリカード又は内蔵メモリ１２０に記録された画像データ表示のために用いられる。

撮影者がモードダイアルＳＷ２を撮影モードに設定して電源ＳＷ１５をＯＮすることで、カメラが撮影モードで起動する。この動作をＲＯＭ１０８の制御プログラムが検知することにより、モータードライバ７−５に制御信号を出力し、鏡胴ユニット７を撮影可能位置にディジタルカメラ本体２の正面から進出移動させ、ＣＣＤ１０１、Ｆ／Ｅ−ＩＣ１０２、プロセッサ１０４等を起動させる。

この状態で鏡胴ユニット７を被写体に向けることにより、被写体画像がＣＣＤ１０１の各画素の受光面上に結像されＣＣＤ１０１より出力された電気信号アナログＲＧＢ画像信号は、Ｆ／Ｅ−ＩＣ１０２を介し１２ビットｂｉｔのＲＡＷ−ＲＧＢデータに変換される。

このＲＡＷ−ＲＧＢデータは、プロセッサ１０４のＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１に取り込まれ、ＳＤＲＡＭ１０３に保存される。そしてＳＤＲＡＭ１０３から読み出されたＲＡＷ−ＲＧＢ画像データは、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２にて表示可能な形式であるＹＵＶデータに変換された後に、ＳＤＲＡＭ１０３にＹＵＶデータが保存される。

その後ＳＤＲＡＭ１０３から読み出されたＹＵＶデータは、ＴＶ信号表示ブロック１０４−９を介して、ＬＣＤモニタに送られ、撮影画像が表示される。前記したＬＣＤモニタ１０に画像を表示しているモニタリング時においては、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１による画素数の間引き処理により、１／３０秒の時間で１フレームを読み出している。ここでいうモニタリングとは、電子ファインダとして機能する、ＬＣＤモニタ１０に撮影画像がリアルタイムで表示されているだけで、撮影者のレリーズスイッチＳＷ１操作が行われていない状態である。

この撮影画像のＬＣＤモニタ１０への表示により、撮影画像を撮影者が確認することが出来る。なおＴＶ信号表示ブロック１０４−９からビデオＡＭＰ１１８を、ビデオジャック１１９からケーブルを介し外部ＴＶテレビに、撮影画像を表示させることもできる。

ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１は、取り込まれたＲＡＷ−ＲＧＢデータにより、ＡＦ自動合焦評価値、ＡＥ自動露出評価値、ＡＷＢオートホワイトバランス評価値を算出する。
（ＡＦ処理）
ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１によるＡＦ評価値は、例えば高周波成分抽出フィルタの出力積分値や、近接画素の輝度差の積分値によって算出される。合焦状態にあるときは、被写体のエッジ部分がはっきりとしているため、高周波成分が一番高くなる。これを利用して、ＡＦ動作時合焦検出動作時には、ＦＯＣＡＳ光学系７−２のＦＯＣＡＳレンズ７−２ａ位置におけるＡＦ評価値を取得して、高周波成分が一番高くなる点を合焦検出位置として、ＡＦ動作（ＡＦ処理）が実行される。

即ち、このＡＦ動作（ＡＦ処理）では、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１がＦＯＣＡＳレンズ７−２ａの位置におけるＡＦ評価値を取得すると共にこのＡＦ評価値の高周波成分が一番高くなる点を合焦検出位置となるように、プロセッサ１０４のＣＰＵブロック１０４−３がモータドライバ７−５を介してＦＯＣＡＳモータ７−２ｂを動作制御して、このモータドライバ７−５によりＦＯＣＡＳレンズ７−２ａが光軸方向に駆動させる。
（ＡＥ評価値、ＡＷＢ評価値）
ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１によるＡＥ評価値とＡＷＤ評価値は、ＲＡＷ−ＲＧＢデータにおけるＲＧＢ値のそれぞれの積分値から算出される。例えば、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１は、ＣＣＤ１０１の全画素の撮像面（受光面）に対応した画面を複数の２５６エリアに等分割する。即ち、ＣＣＤ１０１の全画素の撮像面（受光面）を水平方向に１６分割し且つ垂直方向に１６分割することにより、ＣＣＤ１０１の全画素の撮像面（受光面）に対応した画面を２５６エリアに分割する。また、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１は、分割した複数の２５６エリアのそれぞれのＲＧＢ積算を算出する。
（ＡＥ処理）
そして、ＲＯＭ１０８に存在する制御プログラムは、プロセッサ１０４により読み出されてＲＡＭ１０７に常駐し、算出されたＲＧＢ積算値を読み出す。そして、この制御プログラムは、ＡＥ処理においてＣＣＤ１０１の撮像面（結像面）の複数のエリアの輝度をそれぞれ算出して、この算出した輝度分布から適正なＣＣＤ１０１の複数のエリアの露光量をそれぞれ決定する。このＡＥ処理には、周知の技術を採用できるのでその詳細な説明は省略する。
（ＡＷＢ処理）
決定した露光量に基づいて、露光条件ＣＣＤ１０１の電子シャッタ回数、絞りユニット７−３の絞り値等を設定する。またＡＷＢ処理では、ＲＧＢの分布から被写体の光源の色に合わせた制御値を決定する。このＡＷＢ処理により、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２でＹＵＶデータに変換するときのホワイトバランスをあわせている。尚、前記した、ＡＥ処理とＡＷＢ処理は、前記モニタリング時には、連続的に実行されている。
＜レリーズスイッチＳＷ１の操作による撮影処理＞
そして、前記したモニタリング動作時に、レリーズスイッチＳＷ１が押圧半押しから全押し操作され、静止画撮影動作が開始されると、合焦位置検出動作であるＡＦ動作と静止画記録処理が行われる。
（撮影動作）
即ち、プロセッサ１０４のＣＰＵブロック１０４−３は、レリーズスイッチＳＷ１が押圧半押しから全押しされると、ＲＯＭ１０８の制御プログラムに基づいてモータードライバ７−５を動作制御してモータードライバ７−５によりＦＯＣＡＳモータ７−２ｂを駆動させることにより、ＦＯＣＡＳレンズ７−２ａを光軸方向に移動させて合焦させる。この合焦後、ＡＥ処理が行われ、ＣＣＤ１０１の露光が開始される。

そして、プロセッサ１０４のＣＰＵブロック１０４−３は、前記したＡＥ処理が行われ、ＣＣＤ１０１の露光開始時点で、ＲＯＭ１０８制御プログラムからモータードライバ７−５への駆動指令により、メカシャッタ７−４ａが閉じさせる。これに伴い、ＣＣＤ１０１から静止画用のアナログＲＧＢ画像信号が出力され、アナログＲＧＢ画像信号がＦ／Ｅ−ＩＣ１０２のＡ／Ｄ変換部１０２−３でＲＡＷ−ＲＧＢデータに変換される。

このＲＡＷ−ＲＧＢデータは、プロセッサ１０４のＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１に取り込まれ、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２でＹＵＶ変換されてＳＤＲＡＭ１０３に保存される。しかも、このＹＵＶデータはＳＤＲＡＭ１０３から読み出されてＲＥＳＩＺＥブロック１０４−８で記録画素数に対応するサイズに変換され、ＪＰＥＧＣＯＤＥＣブロック１０４−７でＪＰＥＧ形式等の画像データへと圧縮される。圧縮されたＪＰＥＧ形式等の画像データは、ＳＤＲＡＭ１０３に書き戻された後、メモリカードコントローラブロック１０４−１０を介して、メモリカード１２１−１等のメディアに保存される。
[作用]
このような構成のディジタルカメラにおけるＯＢ領域のＯＢ画素値から欠陥画素補正条件を変更する方法を図３に示したフローチャート基づいて説明する。

ここで、ＯＢ領域とは、ＣＣＤ（イメージセンサー）１０１の撮像面の総画素領域（撮像領域）のうち遮光膜により遮光されて撮影に利用されない領域で、オプティカルブラック領域と呼ばれている。尚、この撮像領域は、遮光膜により遮光されて撮影に利用されないＯＢ領域と、撮影に利用される有効画素領域（有効撮像領域）を有する。

電源スイッチＳＷ１５の操作により、カメラ電源（図示せず）がＯＮされると、図２のプロセッサ（制御装置）１０４による制御動作が開始される。この際、プロセッサ（制御装置）１０４のＣＰＵブロック１０４−３は、上述の温度相関テーブル記憶用のテーブルメモリ（テーブル記憶装置）に予め求め記憶されている特性線Ｆ１のテーブルを読み込んでＲＡＭ１０７に記憶させる。また、これに伴いＣＰＵブロック１０４−３は、上述の温度相関テーブル記憶用のテーブルメモリ（テーブル記憶装置）に予め求め記憶されているＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の温度に対応する欠陥画素位置情報（欠陥画素のアドレス）を読み込んで欠陥画素記憶手段としてのＲＡＭ１０７に記憶させる。

また、このような電源スイッチＳＷ１５の操作により、カメラ電源（図示せず）がＯＮされると、図３のステップＳ１０において図２のプロセッサ（制御装置）１０４のＣＰＵのブロック１０４−３による撮影動作の制御が開始される。即ち、ＣＰＵのブロック１０４−３は、カメラ電源（図示せず）がＯＮされると、上述した撮影動作すなわちＡＦ処理およびＡＥ処理，ＡＷＢ処理を開始させて、ＲＯＭ１０８の制御プログラムに基づいてモータードライバ７−５を動作制御してモータードライバ７−５によりＦＯＣＡＳモータ７−２ｂを駆動させると共に、ＦＯＣＡＳレンズ７−２ａを光軸方向に移動させて合焦動作をさせる。

これに伴い、ＣＰＵのブロック１０４−３は、ＣＣＤ１−信号処理ブロック１０４−１を動作制御し、ＣＣＤ１０１からの画像信号をＦ／Ｅ−ＩＣ１０２を介してＣＣＤ１−信号処理ブロック１０４−１に取り込ませる。このＣＰＵのブロック１０４−３は、取り込まれた画像信号に基づいて、ＴＶ信号表示ブロック１０４−９およびＬＣＤドライバ１１７を介してＬＣＤモニタ１０に被写体像を表示させる。

この状態から、ＣＰＵのブロック１０４−３は、レリーズスイッチＳＷ１が押されて半押しから全押しされると、ステップＳ１１で撮影要求と判断し、ステップＳ１２に移行する。このステップＳ１２においてＣＰＵのブロック１０４−３は、ＣＣＤ１−信号処理ブロック１０４−１を動作制御し、ＣＣＤ１０１からの画像信号をＦ／Ｅ−ＩＣ１０２を介してＣＣＤ１−信号処理ブロック１０４−１に取り込ませ、ステップＳ１３に移行する。この際、ＣＰＵのブロック１０４−３は、ＣＣＤ１−信号処理ブロック１０４−１に取り込まれた画像信号から水平・垂直ＯＢ画素のうち欠陥画素を除いた画素のみをＣＣＤ２−信号処理ブロック１０４−２に積算させてステップＳ１４に移行する。ここで、水平・垂直ＯＢ画素とは、ＯＢ領域の画素を言う。

そして、ステップＳ１４においてＣＰＵのブロック１０４−３は、水平・垂直ＯＢ画素値がある値（閾値）ＴＨ以上であるか否かを判断する。この判断において、水平・垂直ＯＢ画素値がある値ＴＨより小さい場合には、ステップＳ１５に移行する。また、この判断において、水平・垂直ＯＢ画素値がある値ＴＨ以上の場合には、欠陥画素温度キズと判断され積算対象とならないので、ステップＳ１６に移行する。

ここで、水平・垂直ＯＢは、ＣＣＤ１０１の全画面（撮像面）のうちの水平ＯＢ領域及び垂直ＯＢ領域である。ここでＣＣＤ１０１の全画面（撮像面）のうち撮像の際に露光に用いられる撮像エリアを有効撮像面（有効画素領域）とすると、水平ＯＢ領域はＣＣＤ１０１の全画面（撮像面）の水平方向において有効撮像面（有効画素領域）の左右の部分に存在し、垂直ＯＢ領域はＣＣＤ１０１の全画面（撮像面）の垂直方向において有効撮像面（有効画素領域）の上下の部分に存在する。

また、水平・垂直ＯＢ画素値は水平ＯＢ画素値および垂直ＯＢ画素値を意味し、水平ＯＢ画素値は水平ＯＢ領域の画素値であり、垂直ＯＢ画素値は垂直ＯＢ領域の画素値である。また、欠陥画素温度キズとは、温度依存性の高い欠陥画素を意味し、即ちイメージセンサーの温度により出力値が変化する欠陥画素（後述する）を言う。

そして、ＣＰＵのブロック１０４−３は、ステップＳ１４において積算対象とならなかった画素数をステップＳ１６でカウントしてＲＡＭ１０７に記憶させ、それ以外の画素の画素値をステップＳ１５で積算（演算）してＲＡＭ１０７に記憶させて、ステップＳ１７に移行する。

このステップＳ１７においてＣＰＵのブロック１０４−３は、水平・垂直ＯＢの画素が全て積算されたか否か、即ちＯＢ領域に演算対象画素があるか否かを判断する。この判断において、積算対象の水平・垂直ＯＢの画素が全て積算されていないと判断された場合にはステップＳ１７−１に移行し、積算対象の水平・垂直ＯＢの画素が全て積算されたと判断された場合にはステップＳ１８に移行する。

このステップＳ１７−１においてＣＰＵのブロック１０４−３は、欠陥画素温度キズと判断され積算対象とならない画素を除いて（除外して）、水平・垂直ＯＢ領域の画素値を積算してＲＡＭ１０７に記憶させ、ステップＳ１８に移行する。

ステップＳ１８においてＣＰＵのブロック１０４−３は、水平・垂直ＯＢ領域の出力画素値の平均値を算出して、この算出した水平・垂直ＯＢ領域の出力画素値の平均値をＲＡＭ１０７に記憶させ、ステップＳ１９に移行する。この水平・垂直ＯＢ領域の出力画素値の平均値を算出する式は、「積算値／積算対象ＯＢ総画素数−Ｄ欠陥画素数」となる。

ステップＳ１９においてＣＰＵのブロック１０４−３は、ステップＳ１８で算出された予め記憶されているＣＣＤ１０１のＯＢ領域出力平均値と固体撮像素子であるＣＣＤ１０１の温度の相関テーブルから、固体撮像素子であるＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の温度ＴＥＭＰを算出してＲＡＭ１０７に記憶させ、ステップＳ２０に移行する。

ステップＳ２０においてＣＰＵのブロック１０４−３は、固体撮像素子であるＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の温度ＴＥＭＰとあらかじめ決められたスレッシュＴＨ２、ＴＨ３とを比較し、この比較によりステップＳ２１〜Ｓ２３の分岐処理を行う。即ち、ステップＳ２０において固体撮像素子であるＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の温度ＴＥＭＰがＴＨ２より小さい時はステップＳ２１に移行し、ステップＳ２０において固体撮像素子であるＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の温度ＴＥＭＰがＴＨ２とＴＨ３の中間の時はステップＳ２２に移行し、ステップＳ２０において固体撮像素子であるＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の温度ＴＥＭＰがＴＨ３より大きい時はステップＳ２３に移行する。

ステップＳ２１においてＣＰＵのブロック１０４−３は、欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａを動作制御して、条件１の欠陥画素補正すなわちＲＡＭ１０７の欠陥画素補正座標登録領域Ａに登録されている欠陥画素の補正を欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａに実行させ、ステップＳ２２では条件２の欠陥画素補正すなわちＲＡＭ１０７の欠陥画素補正座標登録領域Ｂに登録されている欠陥画素の補正を欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａに実行させ、ステップＳ２３では条件３の欠陥画素補正すなわちＲＡＭ１０７の欠陥画素補正座標登録領域Ｃに登録されている欠陥画素の補正を欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａに実行させて、終了する。尚、この欠陥画素の補正は、欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａを設けずに、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１により行わせることもできる。また、欠陥画素補正の具体的な方法は公知技術と同様であるため説明を省略する。

このようにして、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１に取り込まれた画像信号から欠陥画素の補正処理が行われたＲＡＷ−ＲＧＢ画像データがＳＤＲＡＭに記録される。
（補足説明）
図４は、図３記載のステップＳ１３の演算対象（積算対象）について説明する図である。

この図４は、図３に記載のステップＳ１４で演算処理（積算処理）がされる時の画素イメージを表している。そして、白抜きの四角形は固体撮像素子であるＣＣＤ１０１（イメージセンサー）の欠陥画素を示している。近年の固体撮像素子であるＣＣＤ（イメージセンサー）では、高画素数化に伴うセルサイズの小型化により、ＯＢ領域での欠陥画素発生率が上がっている。図４に示す通り、水平・垂直ＯＢ領域（水平ＯＢ領域および垂直ＯＢ領域）の画素数は、有効画素領域に比べ格段に小さいため、画素値の積算等を行う際に、欠陥画素が含まれている場合、結果に与える影響が大きくなる。

図５は、ＯＢ領域の出力平均値を求める時に、欠陥画素を含めた場合と含めない（除外した）場合について説明する図である。即ち、図５は、ＯＢ領域の画素出力平均値を求める際に、図４で示した水平・垂直ＯＢ領域の欠陥画素を含めて計算した場合を（ａ）の特性線Ｆ２で示し、含めないで（除外して）計算した場合を（ｂ）の特性線Ｆ１で示しで表している。

一般的に温度キズの様な、温度依存性の高い欠陥画素では、固体撮像素子であるＣＣＤ（イメージセンサー）の温度が１０℃上がると２倍になるといわれている。

このため、図５の（ａ）の特性線Ｆ２で示した通り、ＯＢ領域の画素出力平均値を計算する時に、欠陥画素を含めると、温度が高くなるほど平均値が非線形に上がってしまい、正確に温度との相関がとれなくなる。逆に、図５の（ｂ）の特性線Ｆ１で示した通り、ＯＢ領域出力平均値を求める際に、ＯＢ領域の欠陥画素を含めないで計算する事により、欠陥画素の値の影響が無くなり、線形に温度との相関がとれる。

図５では、ＯＢ領域に欠陥画素がある場合のＯＢ出力平均値をＯＢＡＶＥ−Ａとして、ＯＢ領域に欠陥画素が無い場合または欠陥画素を含めない場合のＯＢ出力平均値をＯＢＡＶＥ−Ａと比較したものである。この図５に示すように、ＯＢ領域に欠陥画素がない場合にＯＢ出力平均値は出力特性線Ｆ１で示したように一定の傾斜で直線的に変化し、ＯＢ領域に欠陥画素がある場合にＯＢ出力平均値は出力特性線Ｆ２で示したように温度が上昇すると変化が大きくなる。

この出力特性線Ｆ１から分かるように、ＯＢ領域に欠陥画素が無い場合、または欠陥画素を含めない場合の平均値ＯＢＡＶＥ−Ａから算出される温度は４０℃となる。

また、出力特性線Ｆ２から分かるように、ＯＢ領域に欠陥画素がある場合には平均値ＯＢＡＶＥ−Ａから算出される温度は３０℃となる。

この温度を比較すると、ＯＢ領域に欠陥画素がある場合に平均値ＯＢＡＶＥ−Ａなる温度はＯＢ領域に欠陥画素がない場合（含めない婆アイ）の平均値ＯＢＡＶＥ−Ａなる温度と１０℃の推定誤差があることがわかる。この推定誤差は、図５から固体撮像素子であるＣＣＤ（イメージセンサー）の温度が高くなる程大きくなる。

図６は、図３のステップＳ２１，Ｓ２２，Ｓ２３における欠陥画素補正条件について説明する図である。

この図６に記載の、閾値ＴＨ２〜ＴＨ３の大小関係は、ＴＨ２＜ＴＨ３となる。図６に示す通り、算出された温度ＴＥＭＰが閾値ＴＨ２より小さい場合には、欠陥画素補正座標登録領域Ａに登録されている欠陥画素が補正される。算出された温度ＴＥＭＰが閾値ＴＨ２と閾値ＴＨ３の間の時は、欠陥画素補正座標登録領域ＡとＢに登録されている欠陥画素が補正される。また、算出された温度ＴＥＭＰが閾値ＴＨ３より大きい時は、欠陥画素補正座標登録領域Ａ、Ｂ、Ｃ全てに登録されている欠陥画素が補正される。このように、算出された温度に従って、欠陥画素の補正条件を変更する。

図７〜図９は、この発明に係る撮像装置の他の実施例を示すものである。そして、図７は、ディジタルカメラに用いられるＲＧＢフィルタを模式的に示す説明図である。図８は、各優先補正画素群ＰＮにおけるＲＡＭ１０７に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す説明図である。図９は、この実施例の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートである。

図７において、ＣＣＤ１０１は、結像された被写体像を電気信号（画像データ）に変換して出力する固体撮像素子である。このＣＣＤ１０１は、受光面全体が画素（ピクセル）と呼ばれる格子状の領域（以下、画素１０１ａ（図７参照）ともいう）に分割されており、ディジタルデータである画素データの集合で構成される画像データを、電気信号として出力する。

ＣＣＤ１０１では、分割された各領域（画素）にベイヤー配列を構成するように色フィルタ（ＲＧＢ、ＣＹＭ等）が設けられており、実施例では、図７に示すように、ベイヤー配列のＲＧＢ原色フィルタ（以下、「ＲＧＢフィルタ」という）が配置されている。このため、ＣＣＤ１０１は、各画素１０１ａからＲＧＢ３原色に対応した電気信号（アナログＲＧＢ画像信号）を出力する。なお、ＣＣＤ１０１は、固体撮像素子としてのＣＭＯＳ型イメージセンサ等で構成することもできる。

そして、図１，図２の鏡胴ユニット７が被写体に向けられることにより、図２の鏡胴ユニット７のＺＯＯＭレンズ７−１ａに入射される被写体画像がＣＣＤ１０１の各画素の受光面上に結像する。そして、ＣＣＤ１０１から出力される被写体画像に応じた電気信号（アナログＲＧＢ画像信号）は、ＣＤＳ１０２−１、ＡＧＣ１０２−２を介してＡ／Ｄ変換部１０２−３に入力され、Ａ／Ｄ変換部１０２−３により１２ビット（ｂｉｔ）のＲＡＷ−ＲＧＢデータに変換される。

このＲＡＷ−ＲＧＢデータは、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１に取り込まれてＳＤＲＡＭ１０３に保存される。そして、ＳＤＲＡＭ１０３から読み出されたＲＡＷ−ＲＧＢデータは、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２でＹＵＶデータ（ＹＵＶ信号）に変換された後に、ＳＤＲＡＭ１０３にＹＵＶデータとして保存される。

そして、ＳＤＲＡＭ１０３から読み出されるＹＵＶデータは、ＴＶ信号表示ブロック１０４−９を介して液晶モニタ（ＬＣＤ）１０へ送られ、液晶モニタ（ＬＣＤ）１０において撮影画像が表示される。その液晶モニタ（ＬＣＤ）１０に撮影画像を表示しているモニタリング時においては、画素数の間引き処理により１／３０秒の時間で１フレームが読み出されている。

なお、このモニタリング動作時は、電子ファインダとして機能する液晶モニタ（ＬＣＤ）１０に撮影画像が表示されているだけで、まだレリーズスイッチＳＷ１が押圧（半押も含む）操作されていない状態である。

この撮影画像の液晶モニタ（ＬＣＤ）１０への表示によって、撮影者は、静止画を撮影するための構図の確認等を行うことができる。
（欠陥画素とその検出方法）
ディジタルスチルカメラに使用される撮像素子（上記したＣＣＤ１０１等）では、半導体の製造工程において、全ての受光素子が完全に同一性能で形成されるわけではなく、一部の受光素子に欠陥が生じてしまうことがある。この欠陥が生じてしまった受光素子に相当する画素を、以下では欠陥画素という。

よって、撮像素子を備えたディジタルスチルカメラ等の機器は、所定の数以下の個数の欠陥画素をその撮像素子に有する場合がある。このため、ディジタルカメラでは、その欠陥画素のＣＣＤ１０１上における縦横座標（アドレス）等（以下、欠陥画素データ）を予めＲＡＭ１０７等に格納しておき、撮影時に、撮像データにおけるＲＡＭ１０７等に格納された欠陥画素のアドレスに相当する画素データに対して欠陥画素補正処理を実施する。

この欠陥画素は、例えば、画像全体の輝度値の平均値であるＡＥ評価値が１２８程度の真白な画像を取得させ、当該画像データの各画素データにおいて、輝度値の１２８からの差異が所定の値よりも大きいか否かを判断することにより、検出することができる。ここで、輝度値が１２８よりも低いものを黒キズといい、輝度値が１２８よりも高いものを白キズという。

また、上述の欠陥画素とは別に、暗電流特性の悪い画素（温度キズ）である欠陥画素も存在する。この温度キズは、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、すなわち撮像素子の温度が上昇したり露光時間が長くなったりするほど影響が大きくなるという動的な欠陥要因である。

このため、この温度キズの欠陥画素では、通常１秒程度の露光では問題とならないが、露光時間が長くなるに従って暗電流の増加が大きくなり、それが画像データに重畳され、画像上において輝点となって見える。夜景撮影等の長時間露光撮影による画像において、点々の星状のノイズとして現れるものがこれである。この温度キズの欠陥画素は、３００万画素の撮像素子に対して６０個程度であり、個々の欠陥画素のアドレスをＲＡＭ１０７等に格納しておくことができる。しかし、温度キズの欠陥画素は、上述したように動的な欠陥要因であることから、露光秒時などの撮影パラメータによって補正しなければならない。

この温度キズの欠陥画素は、例えば、遮光して真暗な画像を取得させ、当該画像データの各画素データにおいて、輝度値が所定の値よりも大きいか否かを判断することにより、検出することができる。この温度キズの欠陥画素は、第1実施例と同様にして温度を推定することにより、補正することができる。
（欠陥画素の補正方法の一例）
欠陥画素の補正は基本的に以下の方法で行われる。先ず、ディジタルカメラでは、上記したように検出してＲＡＭ１０７等に格納した欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータを、ＲＡＭ（記憶部）１０７に登録（記憶若しくは記録等の格納）する。

その後、レリーズスイッチＳＷ１（図１参照）が押し下げられて、上述したようにＣＣＤ１０１により取得された画像データがプロセッサ１０４内を伝播される過程において、当該画像データ（生成過程の画像データである画像生成データ）が欠陥画素補正部として用いられるＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２へと送られる。ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２では、当該画像データ（その各画素データ）において、ＲＡＭ（記憶部）１０７に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間する。

基本的には、注目した欠陥画素（補正対象としての欠陥画素）の水平方向に隣接する両隣の画素データの平均値を、当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補間する。ここで、注目した欠陥画素が、画像データにおける左端または右端に位置していた場合は、水平方向に隣接する画素データを、当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補正する。

また、ＲＧＢフィルタで見て同色の欠陥画素が、水平方向に２つ並んでいる場合（以下では、連続２画素の欠陥画素ともいう）であっても、補正することができる。この注目した連続２画素の欠陥画素を補正する場合、一方の欠陥画素が他方の欠陥画素とは逆側で隣接する画素データを、当該一方の欠陥画素の画素データとし、他方の欠陥画素が一方の欠陥画素とは逆側で隣接する画素データを、当該他方の欠陥画素の画素データとすることにより、補間する。ここで、注目した連続２画素の欠陥画素が、画像データにおける左端または右端に位置していた場合は、水平方向に隣接する画素データとそれに隣接する画素データとの２画素分の画素データを、当該注目した連続２画素の欠陥画素の画素データとすることにより補正する。
（欠陥画素補正処理）
この欠陥画素補正処理について、以下の説明では理解容易のために、ＲＡＭ（記憶部）１０７に登録（格納）可能な欠陥画素数（登録限度数）を５００としている。

また、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間としている。この判断基準となる露光時間は、ＣＣＤ１０１の遮光領域の真暗な画像（ダーク画像）の輝度値（欠陥画素レベル）を補正判断値としたとき、この補正判断値を用いて決定される。

即ち、ＣＣＤ１０１における欠陥画素の検出の際、遮光して真暗な画像（ダーク画像の画像データ）を取得（撮影）させて、この取得した当該画像（ダーク画像の画像データ）における画素（画素データ）の輝度値（欠陥画素レベル）とすると共に、この取得した当該画像（画像データ）において輝点として現れる輝度値（欠陥画素レベル）を補正判断値としたとき、この補正判断値を用いて露光時間の設定条件が決定される。

例えば、実施例では、欠陥画素レベル（輝度値）が２４０以上であると、露光時間が２秒の場合に画像（画像データ）において輝点として現れる。このことから、欠陥画素レベル（輝度値）が２４０以上のときは、その補正判断値を２４０〜２５５としている。

また、欠陥画素レベル（輝度値）が２２０以上であると、露光時間が４秒の場合に画像（画像データ）において輝点として現れる。このことから、欠陥画素レベル（輝度値）が２２０以上のときは、補正判断値を２４０〜２５０としている。

更に、欠陥画素レベル（輝度値）が２００以上であると、露光時間が８秒の場合に画像（画像データ）において輝点として現れる。このことから、欠陥画素レベル（輝度値）が２００以上のときは、補正判断値を２００〜２３９とし、
また、欠陥画素レベル（輝度値）が１８０以上であると、露光時間が１６秒の場合に画像（画像データ）において輝点として現れることから、欠陥画素レベル（輝度値）が１８０以上のときは、その補正判断値を１８０〜１９９としている。

また、実施例では、当該欠陥画素レベル（輝度値）が高いものほど、補正優先度の高い欠陥画素（温度キズ）であるものとしている。なお、欠陥画素レベルとしての輝度値は、出力のフルスケールを２５５とした出力値を示しており、数値が大きくなるほど大きな（高い）出力であることを示している。

欠陥画素の数は撮像素子（センサ）の特性に依存する。例えば、ＣＭＯＳでは、同条件下であってもＣＣＤより１０倍も多い欠陥画素が出現すると言われている。このため、実際にディジタルスチルカメラ（実施例ではディジタルカメラ）にセンサ（実施例ではＣＣＤ１０１）を搭載した状態において、露光２秒で出現する欠陥画素の数、露光４秒で出現する欠陥画素の数、・・・・というように、設定された各露光時間で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、露光時間に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、露光時間に応じた補正画素数として設定する。このため、上記した露光時間に対する補正判断値すなわち欠陥画素レベル（輝度値）の各数値は、露光時間に応じた補正画素数の設定のための目安であるということができる。この欠陥画素補正処理においては、欠陥画素レベルが高い画素から順に、露光時間に応じた補正画素数だけ、欠陥画素補正を行う。

この実施例では、露光時間が２秒の場合の補正画素数を２００とし、露光時間が４秒の場合の補正画素数を５００とし、露光時間が８秒の場合の補正画素数を７００とし、露光時間が１６秒の場合の補正画素数を１０００としている（図８参照）。

すなわち、統計的に、欠陥画素レベル（輝度値）が２４０〜２５５となる画素数が２００以下であり、欠陥画素レベル（輝度値）が２２０〜２５５となる画素数が５００以下であり、欠陥画素レベル（輝度値）が２００〜２５５となる画素数が７００以下であり、欠陥画素レベル（輝度値）が１８０〜２５５となる画素数が１０００以下であることを意味している。

プロセッサ１０４は、設定された露光時間に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、欠陥画素データとして、検出した欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータを、それぞれの欠陥画素レベルおよび設定された露光時間に関連付けて、以下のようにＲＡＭ１０７に格納する。なお、実施例では、後述するようにＲＡＭ１０７に適宜登録するための欠陥画素データをＲＡＭ１０７に格納しているが、プロセッサ１０４が適宜データを格納および読み出すことが可能とされたメモリであればよい。

先ず、図８に示すように、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に２００個の画素を欠陥画素として検出し、第１優先補正画素群Ｐ１の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ１０７に格納する。この第１優先補正画素群Ｐ１として検出された２００個の欠陥画素は、そのまま露光時間が２秒の場合に補正する２００個の欠陥画素となる。

次に、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に５００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した５００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第２優先補正画素群Ｐ２の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ１０７に格納する。これは、例えば、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に５００個の画素を検出する過程において、それらのうち第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第２優先補正画素群Ｐ２の欠陥画素として、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い５００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素を減算した、残りの３００個の画素を検出することとなる。この第２優先補正画素群Ｐ２として検出された３００個の欠陥画素は、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が４秒の場合に補正する５００個の欠陥画素となる。また、このような欠陥画素補正処理では、ＲＡＭ１０７に登録（格納）可能な欠陥画素数を、後述するように、欠陥画素レベルが高い方から順に補正優先度の高い欠陥画素として設定することから、実施例では、ＲＡＭ１０７に登録（格納）可能な欠陥画素数が５００であるので、露光時間が４秒の場合に補正する５００個の欠陥画素が、そのまま補正優先度の高い欠陥画素となる。

次に、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に７００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した７００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第３優先補正画素群Ｐ３の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ１０７に格納する。これは、例えば、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に７００個の画素を検出する過程において、それらのうち第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第３優先補正画素群Ｐ３の欠陥画素として、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い７００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素を減算した、残りの２００個の画素を検出することとなる。この第３優先補正画素群Ｐ３として検出された２００個の欠陥画素は、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素および第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が８秒の場合に補正する７００個の欠陥画素となる。

次に、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に１０００個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した１０００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素および第３優先補正画素群Ｐ３の２００個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第４優先補正画素群Ｐ４の欠陥画素のアドレスデータとして、ＲＡＭ１０７に格納する。これは、例えば、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に１０００個の画素を検出する過程において、それらのうち第３優先補正画素群Ｐ３の２００個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第４優先補正画素群Ｐ４の欠陥画素として、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い１０００個の画素から、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素および第３優先補正画素群Ｐ３の２００個の欠陥画素を減算した、残りの３００個の画素を検出することとなる。この第４優先補正画素群Ｐ４として検出された３００個の欠陥画素は、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素、第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素および第３優先補正画素群Ｐ３の２００個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が１６秒の場合に補正する１０００個の欠陥画素となる。

なお、上記したように補正画素数を設定していることから、各優先補正画素群ＰＮ（Ｎ＝１〜４）の各欠陥画素では、ＣＣＤ１０１の全ての画素の中において、補正判断値すなわち設定の目安としての欠陥画素レベル（輝度値）の範囲にある欠陥画素レベルの画素の全てを漏らすことなく含むものではあるが、設定の目安としての欠陥画素レベル（輝度値）よりも小さな欠陥画素レベルの画素が含まれている場合はあり得る。

実施例のプロセッサ１０４では、上述したようにＲＡＭ１０７に格納した各優先補正画素群ＰＮ（Ｎ＝１〜４）のアドレスデータ（図８参照）すなわち各欠陥画素データを利用して、欠陥画素補正処理を行う。図９は、このプロセッサ１０４にて実行される実施例の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートである。

ステップＳ１では、設定された露光時間を取得して、ステップＳ２へ進む。このステップＳ１では、レリーズスイッチＳＷ１が押し下げられて撮影動作が開始されると、それにより得ることが可能となる当該撮影時の露光時間の情報を取得する。この露光時間は、撮影モードや撮影現場の雰囲気等に応じてプロセッサ１０４が設定する場合もあれば、操作キーユニットＫ＿Ｕ（ＳＷ１−ＳＷ１５）への操作により設定される場合もあるが、撮影動作が開始されると当該撮影時の露光時間が決まることから、撮影動作の開始に伴って露光時間の情報を取得する。

ステップＳ２では、ステップＳ１での設定された露光時間の取得に続き、取得した露光時間が８秒以上であるか否かを判定し、Ｙｅｓの場合はステップＳ３へ進み、Ｎｏの場合はステップＳ４へ進む。このステップＳ２では、欠陥画素補正処理の内容の切り換え、すなわちＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２による欠陥画素補正動作の回数の切り換えのために、ステップＳ１で取得した露光時間の長さ（数値）を判断している。これは、上述したように、露光時間に応じた補正画素数が予め設定されていることと、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２のＲＡＭ１０７に登録（格納）可能な欠陥画素数（登録限度数）には限度があることと、による。実施例では、ＲＡＭ１０７に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）が５００であるのに対し、露光時間が４秒の場合の補正画素数が５００に設定されかつ露光時間が８秒の場合の補正画素数が７００に設定されていることから、露光時間が８秒以上であると設定された補正画素数が登録限度数を越えるので、欠陥画素補正動作を２回とすべくステップＳ３へ進み、露光時間が４秒以下であると設定された補正画素数が登録限度数以下であるので、欠陥画素補正動作を１回とすべくステップＳ４へ進む。

ステップＳ３では、ステップＳ２での露光時間が８秒以上であるとの判断に続き、補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行して、ステップＳ４へ進む。このステップＳ３では、ステップＳ２にて露光時間が８秒以上であると判断したことから、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２のＲＡＭ１０７に登録可能な欠陥画素数（登録限度数）よりも多くの欠陥画素を補正する必要があるので、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２は補正優先度の高い順すなわち欠陥画素レベル（輝度値）の大きい順からＲＡＭ１０７の登録限度数の欠陥画素を補正する。実施例においてＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２は、ＲＡＭ１０７の登録限度数が５００であることから、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素のアドレスデータと、第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素のアドレスデータと、をＲＡＭ１０７から読み出して、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２のＲＡＭ１０７に登録（格納）する。

その後、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２は、送られてきた画像データ（その各画素データ）において、ＲＡＭ１０７に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のＲＧＢフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、第１優先補正画素群Ｐ１の２００個の欠陥画素と、第２優先補正画素群Ｐ２の３００個の欠陥画素と、の合計５００個の欠陥画素の補正を行う。ここで、当該５００個の欠陥画素のアドレスデータは、その全てがＲＡＭ１０７に登録可能であることから、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２では一度の欠陥画素補正動作で、補正優先度の高い５００個の欠陥画素の全てを補正することができる。なお、各優先補正画素群ＰＮ（Ｎ＝１〜４）の欠陥画素の個数の区切りが、ＲＡＭ１０７の登録限度数に対応していない場合、補正優先度の高い方から順に登録可能な登録限度数の欠陥画素のアドレスデータを、ＲＡＭ１０７への登録を可能とする状態で予めＲＡＭ１０７に格納しておくことが望ましい。

ステップＳ４では、ステップＳ２での露光時間が８秒以上ではないとの判断、あるいは、ステップＳ３での補正優先度の高い欠陥画素の補正の実行に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップＳ５へ進む。このステップＳ４では、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素を補正するために、各優先補正画素群ＰＮ（Ｎ＝１〜４）のアドレスデータをＲＡＭ１０７から適宜読み出して、ＲＡＭ１０７に登録（格納）することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う（これを処理Ａとする）。すなわち、実質的な補正画素数の設定を行う。
（高速な撮影処理での欠陥画素補正処理）
ここで、撮影モードや撮影現場の雰囲気等により、高速な撮影処理が必要な場合（例えば、連写等）、上記した欠陥画素補正処理の実行によりＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２で繰り返し（上記した実施例では２回）欠陥画素補正動作を行うと、その欠陥画素補正の処理時間が問題となる。このため、欠陥画素補正処理では、連写等の高速な撮影処理が必要な場合、欠陥画素レベルが高い画素（補正優先度の高い欠陥画素）を優先的に補正することを前提として、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２での欠陥画素補正動作を１回だけ行う。これは、欠陥画素レベルが高い画素は、欠陥画素として画像（画像データ）に表れやすい画素であることによる。この場合、例えば、図９のフローチャートにおいてステップＳ３で欠陥画素補正動作を実行した場合はステップＳ４へと進むことなく、欠陥画素補正処理を終了するようにすることができる。これにより、連写等の高速な撮影処理が必要な場合、欠陥画素補正に要する処理時間を短縮しつつ画像（画像データ）に出現し易い欠陥画素を補正することができる。
（欠陥画素補正処理の作用）
この欠陥画素補正処理では、上述したように、撮像素子（ＣＣＤ１０１）において補正対象とすべき欠陥画素の数が、ＲＡＭ１０７に登録可能な欠陥画素数を超える場合、当該ＲＡＭ１０７への登録内容を書き換えつつ、すなわちＲＡＭ１０７における欠陥画素データの登録内容を変更しつつ、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２での欠陥画素補正の動作を繰り返すことから、撮像素子（ＣＣＤ１０１）の全ての欠陥画素を補正することができる。詳細には、実施例では、ＲＡＭ１０７に登録（格納）可能な登録限度数が５００であるのに対し、露光時間に応じて必要な補正画素数を、露光時間が２秒の場合の補正画素数を２００とし、露光時間が４秒の場合の補正画素数を５００とし、露光時間が８秒の場合の補正画素数を７００とし、露光時間が１６秒の場合の補正画素数を１０００としている（図８参照）ことから、露光時間が２秒もしくは４秒の場合、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数の補正を実行し、露光時間が８秒もしくは１６秒の場合、１回目のＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２での欠陥画素補正動作としてステップＳ３にて５００個の補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行し、ステップＳ３に続く２回目のＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２での欠陥画素補正動作として、ステップＳ１で取得した露光時間に応じた補正画素数から、ステップＳ３で実行した欠陥画素補正の補正画素数５００を減算した残りの補正画素数の補正をステップＳ５にて実行する。このように、ＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２のＲＡＭ１０７に登録可能な欠陥画素数を超える場合（実施例では露光時間が８秒もしくは１６秒の場合）であっても、その超えた画素数を２回目（設定条件によっては複数回）のＣＣＤ２信号処理ブロック１０４−２での欠陥画素補正動作により補正するので、補正が必要とされる欠陥画素数とＲＡＭ１０７の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子（ＣＣＤ１０１）の全ての欠陥画素を補正することができる。

また、露光時間に応じて補正対象とする画素数を変更していることから、露光時間に応じた必要な補正画素数だけ補正すること、換言すると過不足のなく適切に補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。これは、補正不足により、画像（画像データ）において出現する欠陥画素が補正されていないと、画像上にて当該欠陥画素が認識されてしまう虞があり、過補正により、画像（画像データ）において出現しない画素を欠陥画素として補正してしまうと、補正前の画像において問題とはならない画素（およびその周辺）であったにも拘らず当該画素の周辺を実質的に平滑化することによる空間解像度の劣化等を招いてしまう虞があることによる。

さらに、欠陥画素レベルが高い画素を優先的に補正することから、画像（画像データ）上において欠陥画素と認識され易い画素を優先的に補正することができるので、より効率的に画質を向上させることができる。

このため、上述したディジタルカメラでは、ＲＡＭ１０７での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を適切に補正することができる。これにより、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、例えば、撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度が上昇したり露光時間が長い状況で撮影された画像（画像データ）であっても、その品質を向上させることができる。

また、上記した実施例では、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間とし、露光時間に応じた補正画素数が設定されている例を示したが、動的な欠陥要因である温度キズの影響が変化する要因を判断基準として補正画素数を設定するものであればよく、実施例に限定されるものではない。例えば、ＩＳＯ感度に応じた補正画素数の設定に基づいて欠陥画素補正処理を行うものとすることができる。この場合、露光時間と同様に、実際にディジタルスチルカメラ（実施例ではディジタルカメラ）にセンサ（実施例ではＣＣＤ１０１）を搭載した状態において、ＩＳＯ感度１００で出現する欠陥画素の数、ＩＳＯ感度２００で出現する欠陥画素の数、・・・・というように、設定された各ＩＳＯ感度で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、ＩＳＯ感度に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、ＩＳＯ感度に応じた補正画素数として設定すればよい。この一例として、露光時間がＩＳＯ１００の補正画素数を２００とし、ＩＳＯ２００の場合の補正画素数を５００とし、ＩＳＯ４００の場合の補正画素数を７００とし、ＩＳＯ８００の場合の補正画素数を１０００とすることにより、上記した露光時間に対応して補正画素数が設定されている場合と同様に欠陥画素補正処理を行うことができる。この場合であっても、制御部２８は、設定されたＩＳＯ感度に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、検出した欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータを、ＲＡＭ１０７に格納する。

このような点から露光時間とＩＳＯ感度の組み合わせから欠陥画素補正処理を行うようにすることにより、よりきめ細かな欠陥画素補正処理を行うことができる。この場合、ＲＡＭ１０７に格納する欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を少なくするのが望ましい。図１０〜図１３は、露光時間とＩＳＯ感度の組み合わせから欠陥画素補正処理を行うようにする際に、ＲＡＭ１０７に格納する欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を少なくするための説明図である。

ここで、図１０〜図１３は、ＣＣＤ１０１の温度がそれぞれ１０°Ｃ，２０°Ｃ，３０°Ｃ，４０°Ｃのとき、ＲＡＭ１０７に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）をそれぞれ示したものである。しかも、この図１０〜図１３において、縦軸は露光時間に応じた補正画素数のための組み合わせの説明のための露光時間（２ｓ，４ｓ，８ｓ，１６ｓ）を示し、横軸はＩＳＯ感度設定に応じた補正画素数のための組み合わせの説明のためのＩＳＯ感度（１００，２００，４００，８００）を示している。

このような露光時間に応じた変数をｘとし、ＩＳＯ感度設定に応じた変数をｙとすると共に、ＣＣＤ１０１の温度に応じた変数をｚとしたとき、ＲＡＭ１０７に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）は図１０〜図１３に示したような補正画素群Ｐｘｙｚで示すアドレスで表すことができる。

この図１０〜図１３において、補正画素群Ｐｘｙｚと変数ｘ，ｙ，ｚとの関係を説明する。

図１０〜図１３において、露光時間２ｓのとき「ｘ＝１」とし、露光時間４ｓのとき「ｘ＝２」とし、露光時間８ｓのとき「ｘ＝３」とし、露光時間１６ｓのとき「ｘ＝４」とする。また、図１０〜図１３において、ＩＳＯ感度が１００のとき「ｙ＝１」とし、ＩＳＯ感度が２００のとき「ｙ＝２」とし、ＩＳＯ感度が３００のとき「ｙ＝３」とし、ＩＳＯ感度が４００のとき「ｙ＝４」とする。

また、ＣＣＤ１０１の温度が１０°Ｃのとき「ｚ＝１」とし、ＣＣＤ１０１の温度が２０°Ｃのとき「ｚ＝２」とし、ＣＣＤ１０１の温度が３０°Ｃのとき「ｚ＝３」とし、ＣＣＤ１０１の温度が４０°Ｃのとき「ｚ＝４」とする。

従って、例えば、図１０においてＰ１１１は、補正画素群Ｐｘｙｚのｘ，ｙ，ｚをｘ＝１（露光時間２ｓ）、ｙ＝１（ＩＳＯ１００）、ｚ＝１（ＣＣＤ１０１の温度１０°Ｃ）としたときのアドレスを示している。また、例えば、図１１においてＰ３４２は、補正画素群Ｐｘｙｚのｘ，ｙ，ｚをｘ＝３（露光時間８ｓ）、ｙ＝４（ＩＳＯ８００）、ｚ＝２（ＣＣＤ１０１の温度２０°Ｃ）としたときのアドレスを示している。このような補正画素群Ｐｘｙｚで示すアドレスに、欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）が格納される。

このように図１０〜図１３は、各補正画素群ＰｘｙｚにおけるＲＡＭ１０７に格納された欠陥画素のアドレス（ＣＣＤ１０１上の縦横座標）のデータの個数（欠陥画素のデータ数）等を表で示す説明図である。この図１０〜図１３は変数が１≦ｘ≦４、１≦ｙ≦４、１≦ｚ≦４の範囲をもっている場合のすべての組み合わせを表で示す説明図である。

ところで、このように変数ｘ，ｙ，ｚが４つある場合、各補正画素群Ｐｘｙｚは４ｘ４ｘ４＝６４通りにもなってしまう。（実際のディジタルスチルカメラでは１≦ｘ≦９、１≦ｙ≦７、１≦ｚ≦５の範囲をもっている場合もあるため、さらに多くの補正画素群Ｐｘｙｚを必要としてしまう。）
このような補正画素群Ｐｘｙｚの数を少なくするため、「露光時間１（２，３，４，・・・）段分の補正画素群Ｐｘｙｚ＝撮像素子の温度では、ｔ（ｔ＋ｋ，ｔ＋２ｋ，ｔ＋３ｋ，・・・）℃分の補正画素群Ｐｘｙｚ＝撮像素子のアナログゲイン１（２，３，４，・・・）段分の補正画素群Ｐｘｙｚ」とする。

図１０〜図１３に示したようにＡ〜Ｊで示す組み合わせ線を考えたとき、各組み合わせ線Ａ〜Ｊが係る補正画素群Ｐｘｙｚの部分は、同一の補正画素群と成すことができる。例えば組み合わせ線Ｆの係る網掛けをしたセル（Ｐ４３１，Ｐ３４１，Ｐ４２２，Ｐ３３２，Ｐ２４２，Ｐ４１３，Ｐ３２３，Ｐ２３３，Ｐ１４３，Ｐ３１４，Ｐ２２４，Ｐ１３４）を同一の補正画素群と成すことができる。

図１０〜図１３は、同一の補正画素群と成した考え方をその他の補正画素群にも適応させる場合の考え方を示した図である。このようにすることで、６４通りもあった補正画素群ＰｘｙｚはＡ〜Ｊまでの１０通りに圧縮することができる。

上述した実施例１では欠陥画素補正処理についてのみ説明したが、欠陥画素補正処理のみに限定されるものではない。図１４，図１５は、欠陥画素補正処理に際して算出されるＣＣＤ（イメージセンサー）１０１の温度情報をＬＣＤモニタ１０に表示させるようにした例を示したものである。

図１４のステップＳ１０においてＣＰＵのブロック１０４−３は、電源スイッチＳＷ１５の操作により、カメラ電源（図示せず）がＯＮされると、図２のプロセッサ（制御装置）１０４のＣＰＵのブロック１０４−３による撮影制御が開始される。このＣＰＵのブロック１０４−３は、カメラ電源（図示せず）がＯＮされると、図１４のステップＳ１０−１におけるようにモニタリング動作を開始して、ステップＳ１０−２に移行する。このモニタリング動作においてＣＰＵのブロック１０４−３は、上述した撮影動作すなわちＡＦ処理およびＡＥ処理，ＡＷＢ処理を開始させて、ＲＯＭ１０８の制御プログラムに基づいてモータードライバ７−５を動作制御してモータードライバ７−５によりＦＯＣＡＳモータ７−２ｂの駆動させると共に、ＦＯＣＡＳレンズ７−２ａを光軸方向に移動させて合焦動作をさせる。これに伴い、ＣＰＵのブロック１０４−３は、ＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１を動作制御し、ＣＣＤ１０１からの画像信号をＦ／Ｅ−ＩＣ１０２を介してＣＣＤ１信号処理ブロック１０４−１に取り込ませる。このＣＰＵのブロック１０４−３は、取り込まれた画像信号に基づいて、ＴＶ信号表示ブロック１０４−９およびＬＣＤドライバ１１７を介してＬＣＤモニタ１０に被写体像を表示させる。

そして、ステップＳ１０−２においてＣＰＵのブロック１０４−３は、ＬＣＤモニタ１０に固体撮像素子であるＣＣＤ（イメージセンサー）１０１の温度情報を表示するか否かの判断をする。この判断は、ステップＳ１０で電源スイッチＳＷ１５の操作により、カメラ電源がONされたとき、カメラの設定が「センサーの温度表示をする」になっていたるか否かで行われる。この設定は、メニュースイッチ（メニュー操作キー）ＳＷ１４を操作して、ＬＣＤモニタ１０にカメラ設定の多数の項目を表示させ、この項目のなかの「センサーの温度表示をする」をスイッチＳＷ７〜ＳＷ１０等により選択することで、行われる。

そして、ステップＳ１０−２においてＣＰＵのブロック１０４−３は、温度情報を表示しない場合にステップＳ１０−１に戻ってループし、温度情報を表示する場合に実施例１のステップＳ１３〜Ｓ１９を実行する。このステップＳ１９では、図３に記載したフロー同様に、イメージセンサーの温度（TEMP）が算出され、ステップＳ１９−１に移行する。

このステップＳ１９においてＣＰＵのブロック１０４−３は、ステップ１９（S19）で算出された温度情報を図１５に示したようにＬＣＤモニタ１０に表示させる。この図１５では、温度情報を表示させるマークＭｔをＬＣＤモニタ１０に表示させると共に、ＬＣＤモニタ１０に温度表示バーＢｔを表示させている。そして、ステップＳ１９で算出された温度が低い場合は、図１５（a）のように温度表示バーＢｔの黒で示した部分が短く、温度が高い場合には図１５(b)のように温度表示バーＢｔの黒で示した部分が長く表示される。これにより撮影者は、ＣＣＤ（イメージセンサー）１０１の温度を把握することが出来、温度が高い場合は、ノイズや欠陥画素が発生し、画質劣化が発生することを認識できる。

以上説明したように、この発明の実施の形態の撮像装置は、撮像領域内に遮光領域（ＯＢ領域）を含む固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）と、前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度による欠陥画素の位置情報を予め求めて記憶させた欠陥画素位置記憶手段（ＲＡＭ１０７）と、撮影時に、前記欠陥画素記憶手段（ＲＡＭ１０７）に記憶されている前記欠陥画素の位置情報を元に前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度を算出すると共に、この算出した温度に基づいて補正条件を変更する温度算出手段（ＣＰＵブロック１０４−３）と、前記補正条件に基づいて前記欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段（欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａ）と、を備えている。しかも、前記温度算出手段（ＣＰＵブロック１０４−３）は、前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度を算出するようになっている。

この構成によれば、固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）のＯＢ領域画素の出力値から推定する際、ＯＢ領域の画素出力値からＯＢ領域の欠陥画素の出力値を除外した値を用いているので、固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度推定の精度を向上させることができる。

また、この発明の実施の形態の撮像装置において、前記温度算出手段（ＣＰＵブロック１０４−３）は、複数の補正条件を予め記憶し、温度算出の結果により補正条件を切り替えるようになっている。

この構成によれば、メモリ等に予め記憶された複数の補正条件と温度算出の結果により補正条件を切り替えるので、補正条件を簡易且つ迅速に変更できる。

更に、この発明の実施の形態の撮像装置において、前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外した前記遮光領域の画素の平均値と前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度との相関テーブルが前記欠陥画素位置記憶手段（ＲＡＭ１０７）に予め記憶されている。しかも、前記温度算出手段（ＣＰＵブロック１０４−３）は、撮影時に前記遮光領域の画素のうち所定の閾値以上の画素値のものを除外して前記遮光領域の出力の平均値を求めて、この求めた出力の平均値と前記欠陥画素位置記憶手段（ＲＡＭ１０７）に予め記憶されている遮光領域の画素の平均値と固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度との相関テーブルにより前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度を算出するようになっている。

この構成によれば、固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）のＯＢ領域画素の出力値から推定する際、前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外した遮光領域の画素の平均値と固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度との相関テーブルを用いて、前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度を算出するので、固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度推定の精度を向上させることができる。即ち、図５の（ａ）の特性線Ｆ２で示した通り、ＯＢ領域の画素出力平均値を計算する時に、欠陥画素を含めると、温度が高くなるほど平均値が非線形に上がってしまい、正確に温度との相関がとれなくなる。しかし、この実施の形態におけるように、図５の（ｂ）の特性線Ｆ１で示した通り、ＯＢ領域出力平均値を求める際に、ＯＢ領域の欠陥画素を含めないで計算する事により、欠陥画素の値の影響が無くなり、線形に温度との相関がとれる。

また、ディジタルスチルカメラなどの撮像装置において、生産・検査工程であらかじめ、撮像素子の欠陥画素位置情報をメモリに記憶し、撮影時に記録してある欠陥画素位置情報を元に欠陥画素を補正する技術があり、それを応用したものとして、長秒時露光の露光時間毎に発生する画素欠陥位置情報をグループ化して登録することで使用するメモリ容量を節約つつ適切な画素欠陥補正をする技術が考えられている。しかし、長秒時露光の露光時間毎に発生する画素欠陥位置情報をグループ化して登録することで使用するメモリ容量を節約しつつ適切な画素欠陥補正をする技術では、撮像素子の温度やアナログゲインの変化を考慮していない。撮像素子の画素欠陥の発生は露光時間にも大きく影響するが、撮像素子の温度やアナログゲインにも大きく影響をするため、その影響も考慮しなければならない。

このような点を考慮して、この発明の実施の形態の撮像装置において、前記欠陥画素位置記憶手段（ＲＡＭ１０７）は前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度、露光時間、及びＩＳＯ感度の組み合わせに応じた前記欠陥画素の位置が重複させることなく記憶している。また、前記欠陥画素補正手段（欠陥画素補正ブロック１０４−３Ａ）は前記欠陥画素位置記憶手段（ＲＡＭ１０７）に記憶されている前記欠陥画素の位置情報をもとに前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度、露光時間、及びＩＳＯ感度に応じて欠陥画素補正を行うようになっている。

この構成によれば、生産・検査工程であらかじめ撮像素子の欠陥画素位置情報をメモリに記憶する際に、撮像素子の画素欠陥の発生を露光時間の影響だけでなく、温度やアナログゲインの影響も考慮して、グループ化することで撮像素子の温度やＩＳＯ感度設定に変化が生じた場合でも、使用するメモリ容量を節約しつつ適切な画素欠陥補正をすることができる。

更に、この発明の実施の形態の撮像装置は、前記表示装置（ＬＣＤモニター１０）は前記算出された前記固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度情報を表示するようになっている。

この構成によれば、推定した固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度をLCDモニター１０に表示して撮影者に知らせることで、撮影者はいつでもイメージセンサーの温度状態を把握することが出来る。そして、高温時には、撮影者がカメラの電源を切る等の対策をし固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を下げることで、ノイズや欠陥画素の少ない状態で撮影できる効果がある。

また、この発明の実施の形態の撮像方法は、撮像領域内に遮光領域（ＯＢ領域）を含む固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度による欠陥画素の位置情報を予め求めておいて、撮影時に前記欠陥画素の位置情報を元に前記固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を求て、この求めた温度に基づき補正条件を変更して前記欠陥画素を補正する。しかも、前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して前記固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を算出するようにしている。

この撮像方法によれば、固体撮像素子（イメージセンサーであるＣＣＤ１０１）の温度を固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）のＯＢ領域画素の出力値から推定する際、ＯＢ領域の画素出力値からＯＢ領域の欠陥画素の出力値を除外した値を用いているので、固体撮像素子（ＣＣＤ１０１）の温度推定の精度を向上させることができる。

１０・・・ＬＣＤモニター（表示装置）
１０１・・・ＣＣＤ（固体撮像素子）
１０７・・・ＲＡＭ（欠陥画素位置記憶手段）
１０４・・・ディジタルスチルカメラプロセッサ（プロセッサ）
１０４−３・・・ＣＰＵブロック（温度算出手段）
１０４−３Ａ・・・欠陥画素補正ブロック（欠陥画素補正手段）

特開２００９−３３５５０号公報

Claims (6)

1. 撮像領域内に遮光領域を含む固体撮像素子と、
   前記固体撮像素子の温度による欠陥画素の位置情報を予め求めて記憶させた欠陥画素位置記憶手段と、
   撮影時に、前記欠陥画素記憶手段に記憶されている前記欠陥画素の位置情報を元に前記固体撮像素子の温度を算出すると共に、この算出した温度に基づいて補正条件を変更する温度算出手段と、
   前記補正条件に基づいて前記欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段と、を備える撮像装置であって、
   前記温度算出手段は、前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して前記固体撮像素子の温度を算出することを特徴とする撮像装置。
2. 請求項１の撮像装置において、前記温度算出手段は、複数の補正条件を予め記憶し、温度算出の結果により補正条件を切り替えることを特徴とする撮像装置。
3. 請求項１の撮像装置において、前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外した前記遮光領域の画素の平均値と前記固体撮像素子の温度との相関テーブルが前記欠陥画素位置記憶手段に予め記憶されていると共に、前記温度算出手段は、撮影時に前記遮光領域の画素のうち所定の閾値以上の画素値のものを除外して前記遮光領域の出力の平均値を求めて、この求めた出力の平均値と前記欠陥画素位置記憶手段に予め記憶されている遮光領域の画素の平均値と固体撮像素子の温度との相関テーブルにより前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して前記固体撮像素子の温度を算出することを特徴とする撮像装置。
4. 前記欠陥画素位置記憶手段は前記固体撮像素子の温度、露光時間、及びＩＳＯ感度の組み合わせに応じた前記欠陥画素の位置が重複させることなく記憶していると共に、前記欠陥画素補正手段は前記欠陥画素位置記憶手段に記憶されている前記欠陥画素の位置情報をもとに前記固体撮像素子の温度、露光時間、及びＩＳＯ感度に応じて欠陥画素補正を行うことを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
5. 請求項１に記載の撮像装置は、算出した前記固体撮像素子の温度情報を表示装置に表示することを特徴とする撮像装置。
6. 撮像領域内に遮光領域を含む固体撮像素子の温度による欠陥画素の位置情報を予め求めておいて、撮影時に前記欠陥画素の位置情報を元に前記固体撮像素子の温度を求て、この求めた温度に基づき補正条件を変更して前記欠陥画素を補正する撮像方法であって、
   前記遮光領域の画素のうちの欠陥画素を除外して前記固体撮像素子の温度を算出することを特徴とする撮像方法。