JP2012000873A - 液体噴射ヘッドの製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 56
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 144
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims abstract description 104
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 63
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 18
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical group [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 6
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 abstract description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 113
- 238000000034 method Methods 0.000 description 46
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 23
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 23
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 description 18
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 11
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 11
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 10
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 8
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 5
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 3
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 3
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- HSXKFDGTKKAEHL-UHFFFAOYSA-N tantalum(v) ethoxide Chemical compound [Ta+5].CC[O-].CC[O-].CC[O-].CC[O-].CC[O-] HSXKFDGTKKAEHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000018 DNA microarray Methods 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004121 SrRuO Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 239000013212 metal-organic material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006200 vaporizer Substances 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
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- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B41J2/135—Nozzles
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- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1626—Manufacturing processes etching
- B41J2/1629—Manufacturing processes etching wet etching
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
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- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1631—Manufacturing processes photolithography
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
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- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1632—Manufacturing processes machining
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
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- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1632—Manufacturing processes machining
- B41J2/1634—Manufacturing processes machining laser machining
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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Abstract
【課題】リード電極と配線基板との間の導通不良の生じにくい、製造コストの低減した液体噴射ヘッドの製造方法を提供すること。
【解決手段】CVD法により保護膜16を形成する前に、COF基板210が挿入される貫通孔33が蓋部34で塞がれているので、蓋部34によって貫通孔33内にCVD法で用いる原料ガスが侵入できず、貫通孔33に引き出されたリード電極90に保護膜16が形成されない。したがって、リード電極90とCOF基板210との接続で導通不良が生じにくく、製造コストの低減したインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
【選択図】図8
【解決手段】CVD法により保護膜16を形成する前に、COF基板210が挿入される貫通孔33が蓋部34で塞がれているので、蓋部34によって貫通孔33内にCVD法で用いる原料ガスが侵入できず、貫通孔33に引き出されたリード電極90に保護膜16が形成されない。したがって、リード電極90とCOF基板210との接続で導通不良が生じにくく、製造コストの低減したインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
【選択図】図8
Description
本発明は、ヘッド液体流路内に耐液体性の保護膜を備えた液体噴射ヘッドの製造方法に関する。
液体噴射ヘッドとして、例えば、インク滴を吐出するノズル開口と連通する圧力発生室の一部を振動板で構成し、振動板を圧電素子により変形させて圧力発生室のインクを加圧して、ノズル開口からインク滴を吐出させるインクジェット式記録ヘッド等がある。
圧電素子が形成された流路形成基板上に保護基板が接合された液体噴射ヘッドが知られている。圧電素子の電極と駆動回路が実装された配線基板であるCOF(Chip On Film)基板とを接続するために、保護基板には貫通孔が形成され、圧電素子からは、リード電極が貫通孔へ引き出され、リード電極にはCOF基板が貫通孔内で接続されている(例えば、特許文献1参照)。
液体噴射ヘッドでは、液体の接するマニホールド(リザーバー)等の液体流路の内面に、耐液体性(耐インク性)を有する材料、例えば、五酸化タンタルからなる保護膜をCVD(Chemical Vapor Deposition)法によって形成する製造方法が知られている(例えば、特許文献2参照)。
また、エッチングによって圧力発生室等を形成する際に、エッチング液から圧電素子等を保護するために、保護テープである有機フィルムを熱溶着によって接合することにより貫通孔等を封止してエッチング液の進入を防ぎ、エッチング液から圧電素子等を保護する製造方法が知られている(例えば、特許文献3参照)。
圧電素子が形成された流路形成基板上に保護基板が接合された液体噴射ヘッドが知られている。圧電素子の電極と駆動回路が実装された配線基板であるCOF(Chip On Film)基板とを接続するために、保護基板には貫通孔が形成され、圧電素子からは、リード電極が貫通孔へ引き出され、リード電極にはCOF基板が貫通孔内で接続されている(例えば、特許文献1参照)。
液体噴射ヘッドでは、液体の接するマニホールド(リザーバー)等の液体流路の内面に、耐液体性(耐インク性)を有する材料、例えば、五酸化タンタルからなる保護膜をCVD(Chemical Vapor Deposition)法によって形成する製造方法が知られている(例えば、特許文献2参照)。
また、エッチングによって圧力発生室等を形成する際に、エッチング液から圧電素子等を保護するために、保護テープである有機フィルムを熱溶着によって接合することにより貫通孔等を封止してエッチング液の進入を防ぎ、エッチング液から圧電素子等を保護する製造方法が知られている(例えば、特許文献3参照)。
複雑な液体流路内であっても、耐液体性を十分に得られるように保護膜を形成する必要がある。そのために、保護膜の成分を含有する原料ガスによって流路内に保護膜を形成しようとするが、原料ガスの回りこみにより貫通孔内のリード電極にも保護膜が形成されてしまう。少なくともリード電極の配線基板との接続箇所に絶縁性の保護膜が形成されると、配線基板をリード電極に接続しようとする際に、リード電極と配線基板との間に、導通不良が生じる。したがって、導通不良により歩留まりが低下し、製造コストの低減した液体噴射ヘッドの製造方法を得るのが困難になる。
本発明は、上述の課題を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。
[適用例1]
液体を噴射するノズル開口に連通した圧力発生室、前記圧力発生室の圧力を変化させる圧電素子および前記圧力発生室に前記液体を供給する液体供給路を有する流路形成基板と、前記圧電素子を保護する圧電素子保持部および前記圧電素子から引き出されたリード電極の配線基板と電気的に接続する箇所を露出させる貫通孔を有する保護基板とが接着された液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記圧電素子保持部と前記貫通孔を塞ぐ蓋部を残して前記貫通孔の一部とを形成する保護基板加工工程と、前記流路形成基板と加工後の前記保護基板とを接着する接着工程と、前記流路形成基板に、前記圧力発生室および前記液体供給路を形成する流路形成基板加工工程と、接着された前記流路形成基板および前記保護基板の表面に蒸着法により保護膜を形成する保護膜形成工程と、前記蓋部を除去し前記貫通孔を形成する貫通孔形成工程とを含むことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
液体を噴射するノズル開口に連通した圧力発生室、前記圧力発生室の圧力を変化させる圧電素子および前記圧力発生室に前記液体を供給する液体供給路を有する流路形成基板と、前記圧電素子を保護する圧電素子保持部および前記圧電素子から引き出されたリード電極の配線基板と電気的に接続する箇所を露出させる貫通孔を有する保護基板とが接着された液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記圧電素子保持部と前記貫通孔を塞ぐ蓋部を残して前記貫通孔の一部とを形成する保護基板加工工程と、前記流路形成基板と加工後の前記保護基板とを接着する接着工程と、前記流路形成基板に、前記圧力発生室および前記液体供給路を形成する流路形成基板加工工程と、接着された前記流路形成基板および前記保護基板の表面に蒸着法により保護膜を形成する保護膜形成工程と、前記蓋部を除去し前記貫通孔を形成する貫通孔形成工程とを含むことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例によれば、蒸着法により保護膜を形成する前に、リード電極の配線基板と電気的に接続する箇所を露出させる貫通孔が蓋部で塞がれているので、蓋部によって貫通孔内に蒸着法で用いる原料ガスが侵入せず、貫通孔に引き出されたリード電極に保護膜が形成されない。したがって、リード電極と配線基板との接続で導通不良が生じにくく、製造コストの低減した液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
[適用例2]
上記液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記蓋部の外周に沿ってレーザー光を照射するレーザー照射工程を含み、前記貫通孔形成工程は、前記保護膜形成工程および前記レーザー照射工程後に、前記蓋部に接着剤付テープを貼り付けて、前記接着剤付テープとともに前記蓋部を除去し前記貫通孔を形成することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例では、蓋部の外周にレーザー光を照射するので、蓋部の外周の除去または改質が起こり、強度がその他の領域と比較して弱くなり、接着剤付テープにより容易に蓋部が除去できる。
また、接着剤付テープは、熱の加わる保護膜形成工程およびレーザー照射工程後に使用するので、耐熱性の要求されない接着剤残りの少ないテープを用いることができ、テープの接着剤残りの少ない液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
上記液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記蓋部の外周に沿ってレーザー光を照射するレーザー照射工程を含み、前記貫通孔形成工程は、前記保護膜形成工程および前記レーザー照射工程後に、前記蓋部に接着剤付テープを貼り付けて、前記接着剤付テープとともに前記蓋部を除去し前記貫通孔を形成することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例では、蓋部の外周にレーザー光を照射するので、蓋部の外周の除去または改質が起こり、強度がその他の領域と比較して弱くなり、接着剤付テープにより容易に蓋部が除去できる。
また、接着剤付テープは、熱の加わる保護膜形成工程およびレーザー照射工程後に使用するので、耐熱性の要求されない接着剤残りの少ないテープを用いることができ、テープの接着剤残りの少ない液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
[適用例3]
上記液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記レーザー照射工程は、前記保護基板の表面下の内部にレーザー光の焦点を合わせて改質領域を形成する工程を含むことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例では、レーザー照射によって、保護基板の内部に改質領域を形成するので、レーザー照射で起こる表面溶解による塵の発生が少ない。したがって、ノズル開口、圧力発生室および液体供給路内の塵の量が減少し、液体の流れが塵によって阻害されることが少ない液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
上記液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記レーザー照射工程は、前記保護基板の表面下の内部にレーザー光の焦点を合わせて改質領域を形成する工程を含むことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例では、レーザー照射によって、保護基板の内部に改質領域を形成するので、レーザー照射で起こる表面溶解による塵の発生が少ない。したがって、ノズル開口、圧力発生室および液体供給路内の塵の量が減少し、液体の流れが塵によって阻害されることが少ない液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
[適用例4]
上記液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記圧電素子保持部を形成する工程で、前記貫通孔を塞ぐ前記蓋部を残して前記貫通孔の一部を形成することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例では、保護基板加工工程において、圧電素子保持部を形成する工程で、貫通孔を塞ぐ蓋部を残して貫通孔の一部を形成するので、新たな工程を加える必要がなく、製造コストの低減した液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
上記液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記圧電素子保持部を形成する工程で、前記貫通孔を塞ぐ前記蓋部を残して前記貫通孔の一部を形成することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例では、保護基板加工工程において、圧電素子保持部を形成する工程で、貫通孔を塞ぐ蓋部を残して貫通孔の一部を形成するので、新たな工程を加える必要がなく、製造コストの低減した液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
[適用例5]
上記液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記液体はアルカリ性の液体であり、前記保護膜は、酸化タンタルであることを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例では、酸化タンタルはアルカリに対して侵されにくいので、耐アルカリ性に優れた液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
上記液体噴射ヘッドの製造方法であって、前記液体はアルカリ性の液体であり、前記保護膜は、酸化タンタルであることを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
この適用例では、酸化タンタルはアルカリに対して侵されにくいので、耐アルカリ性に優れた液体噴射ヘッドの製造方法が得られる。
以下、実施形態を図面に基づいて詳しく説明する。
図1は、液体噴射装置としてのインクジェット式記録装置1000の一例を示す概略斜視図である。インクジェット式記録装置1000は、液体噴射ヘッドとしてのインクジェット式記録ヘッド1を備えている。
図1において、インクジェット式記録装置1000は、記録ヘッドユニット1Aおよび1Bを備えている。記録ヘッドユニット1Aおよび1Bには、インク供給手段を構成するカートリッジ2Aおよび2Bが着脱可能に設けられ、この記録ヘッドユニット1Aおよび1Bを搭載したキャリッジ3は、装置本体4に取り付けられたキャリッジ軸5に軸方向移動自在に設けられている。
図1は、液体噴射装置としてのインクジェット式記録装置1000の一例を示す概略斜視図である。インクジェット式記録装置1000は、液体噴射ヘッドとしてのインクジェット式記録ヘッド1を備えている。
図1において、インクジェット式記録装置1000は、記録ヘッドユニット1Aおよび1Bを備えている。記録ヘッドユニット1Aおよび1Bには、インク供給手段を構成するカートリッジ2Aおよび2Bが着脱可能に設けられ、この記録ヘッドユニット1Aおよび1Bを搭載したキャリッジ3は、装置本体4に取り付けられたキャリッジ軸5に軸方向移動自在に設けられている。
記録ヘッドユニット1Aおよび1Bは、例えば、それぞれブラックインク組成物およびカラーインク組成物を吐出する。そして、駆動モーター6の駆動力が図示しない複数の歯車およびタイミングベルト7を介してキャリッジ3に伝達されることで、記録ヘッドユニット1Aおよび1Bを搭載したキャリッジ3はキャリッジ軸5に沿って移動する。一方、装置本体4にはキャリッジ軸5に沿ってプラテン8が設けられており、図示しない給紙ローラーなどにより給紙された紙等の記録媒体である記録シートSがプラテン8上を搬送されるようになっている。
記録ヘッドユニット1Aおよび1Bは、インクジェット式記録ヘッド1を記録シートSに対向する位置に備えている。図では、インクジェット式記録ヘッド1は、記録ヘッドユニット1Aおよび1Bの記録シートS側に位置しており、直接図示されていない。
図2に、実施形態にかかるインクジェット式記録ヘッド1を示す分解部分斜視図を示した。インクジェット式記録ヘッド1の形状は略直方体であり、図2は、インクジェット式記録ヘッド1の長手方向(図中の白抜き矢印方向)に直交する面で切断した分解部分斜視図である。
また、図3(a)には、インクジェット式記録ヘッド1の部分平面図を、(b)には、(a)におけるA−A断面図を示した。
また、図3(a)には、インクジェット式記録ヘッド1の部分平面図を、(b)には、(a)におけるA−A断面図を示した。
図2および図3において、インクジェット式記録ヘッド1は、流路形成基板10とノズルプレート20と保護基板30とコンプライアンス基板40と駆動回路200が実装された配線基板である2つのCOF(Chip On Film)基板210とを備えている。
流路形成基板10とノズルプレート20と保護基板30とは、流路形成基板10をノズルプレート20と保護基板30とで挟むように積み重ねられ、保護基板30上には、コンプライアンス基板40が形成されている。
また、2つのCOF基板210は、スペーサー220を挟んで配置され、保護基板30に差し込まれている。
流路形成基板10とノズルプレート20と保護基板30とは、流路形成基板10をノズルプレート20と保護基板30とで挟むように積み重ねられ、保護基板30上には、コンプライアンス基板40が形成されている。
また、2つのCOF基板210は、スペーサー220を挟んで配置され、保護基板30に差し込まれている。
流路形成基板10は、面方位(110)のシリコン単結晶板からなる。流路形成基板10には、異方性エッチングによって、複数の圧力発生室12が2つの列13をなすように形成されている。ここで、列13は、インクジェット式記録ヘッド1の幅方向(長手方向に直交する方向)に並設されている。圧力発生室12のインクジェット式記録ヘッド1の幅方向の断面形状は台形状で、圧力発生室12は、インクジェット式記録ヘッド1の幅方向に長く形成されている。
また、流路形成基板10の圧力発生室12の長手方向外側の領域には連通部14が形成され、さらに、連通部14と各圧力発生室12とが、各圧力発生室12に設けられた液体供給路としてのインク供給路15を介して連通されている。インク供給路15は、圧力発生室12よりも狭い幅で形成されており、連通部14から圧力発生室12に流入するインクの流路抵抗を一定に保持している。
ノズルプレート20には、各圧力発生室12のインク供給路15とは反対側の端部近傍に、外部と連通するノズル開口21が穿設されている。
なお、ノズルプレート20は、ガラスセラミックス、シリコン単結晶基板又は不錆鋼などからなる。
流路形成基板10とノズルプレート20とは、保護膜16を介して、接着剤や熱溶着フィルム等によって固着されている。
なお、ノズルプレート20は、ガラスセラミックス、シリコン単結晶基板又は不錆鋼などからなる。
流路形成基板10とノズルプレート20とは、保護膜16を介して、接着剤や熱溶着フィルム等によって固着されている。
流路形成基板10のノズルプレート20が固着された面と対向する面には、振動板を構成する弾性膜50が形成されている。弾性膜50は、熱酸化により形成された酸化膜からなる。
流路形成基板10の弾性膜50上には、酸化膜からなる絶縁体膜55が形成されている。さらに、この絶縁体膜55上には、白金(Pt)などの金属やルテニウム酸ストロンチウム(SrRuO)などの金属酸化物からなる下電極60と、ペロブスカイト構造の圧電体層70と、Au、Irなどの金属からなる上電極80とが形成され、圧電素子300を構成している。ここで、圧電素子300は、下電極60、圧電体層70および上電極80を含む部分をいう。
流路形成基板10の弾性膜50上には、酸化膜からなる絶縁体膜55が形成されている。さらに、この絶縁体膜55上には、白金(Pt)などの金属やルテニウム酸ストロンチウム(SrRuO)などの金属酸化物からなる下電極60と、ペロブスカイト構造の圧電体層70と、Au、Irなどの金属からなる上電極80とが形成され、圧電素子300を構成している。ここで、圧電素子300は、下電極60、圧電体層70および上電極80を含む部分をいう。
一般的には、圧電素子300のいずれか一方の電極を共通電極とし、他方の電極および圧電体層70を各圧力発生室12にパターニングして構成する。そして、ここではパターニングされたいずれか一方の電極および圧電体層70から構成され、両電極への電圧の印加により圧電歪みが生じる部分を圧電体能動部という。
なお、実施形態では、下電極60を圧電素子300の共通電極とし、上電極80を圧電素子300の個別電極としているが、駆動回路や配線の都合でこれを逆にしても支障はない。いずれの場合においても、圧力発生室12毎に圧電体能動部が形成されていることになる。また、ここでは、圧電素子300と当該圧電素子300の駆動により変位が生じる弾性膜50および絶縁体膜55(振動板)とを合わせて圧電アクチュエーターと称する。
なお、実施形態では、下電極60を圧電素子300の共通電極とし、上電極80を圧電素子300の個別電極としているが、駆動回路や配線の都合でこれを逆にしても支障はない。いずれの場合においても、圧力発生室12毎に圧電体能動部が形成されていることになる。また、ここでは、圧電素子300と当該圧電素子300の駆動により変位が生じる弾性膜50および絶縁体膜55(振動板)とを合わせて圧電アクチュエーターと称する。
また、このような各圧電素子300を構成する上電極80には、例えば、金(Au)等からなる引き出し電極としてのリード電極90が接続されており、このリード電極90は、圧力発生室12の列13の間の領域まで引き出されている。
圧電素子300が形成された流路形成基板10上には、保護基板30が接着剤56によって接着されている。
保護基板30は、圧電素子300に対向する領域に、圧電素子300の運動を阻害しない程度の空間を確保した状態の圧電素子保持部31を有する。圧電素子保持部31は、各圧力発生室12の2つの列13に対応して2つ設けられている。
なお、実施形態では、各圧電素子保持部31は、各圧力発生室12の列13に対応する領域に一体的に設けられているが、圧電素子300毎に独立して設けられていてもよい。
保護基板30の材料としては、例えば、ガラス、セラミックス材料、金属、樹脂等が挙げられるが、流路形成基板10の熱膨張率と略同一の材料で形成されていることがより好ましく、実施形態では、流路形成基板10と同一材料のシリコン単結晶基板を用いて形成する。
保護基板30は、圧電素子300に対向する領域に、圧電素子300の運動を阻害しない程度の空間を確保した状態の圧電素子保持部31を有する。圧電素子保持部31は、各圧力発生室12の2つの列13に対応して2つ設けられている。
なお、実施形態では、各圧電素子保持部31は、各圧力発生室12の列13に対応する領域に一体的に設けられているが、圧電素子300毎に独立して設けられていてもよい。
保護基板30の材料としては、例えば、ガラス、セラミックス材料、金属、樹脂等が挙げられるが、流路形成基板10の熱膨張率と略同一の材料で形成されていることがより好ましく、実施形態では、流路形成基板10と同一材料のシリコン単結晶基板を用いて形成する。
また、保護基板30には、流路形成基板10の連通部14に対応する領域にリザーバー部32が設けられている。このリザーバー部32は、実施形態では、保護基板30を厚さ方向に貫通して圧力発生室12の列13に沿って設けられており、流路形成基板10の連通部14と連通されて各圧力発生室12の共通のインク室となるマニホールド100を構成している。
さらに、保護基板30の長手方向(図中の白抜き矢印方向)に直交する方向の略中央部、すなわち、圧力発生室12の列13間の対向する領域には、保護基板30を厚さ方向に貫通する貫通孔33が設けられている。
圧電素子300から引き出されたリード電極90は、少なくともその先端部(リード電極端子)が貫通孔33の底部に露出している。貫通孔33に露出したリード電極90の先端部は、COF基板210に形成された図示しない配線と電気的に接続されている。COF基板210に実装された駆動回路200によって、各圧電素子300は駆動する。
ここでは、COF基板210の配線とリード電極90が直接的に接続されることを記載したが、例えば、COF基板210からリード電極90の先端部(リード電極端子)との間に別部材を配置して、COF基板210の配線とリード電極90が間接的に接続される構成を採用しても構わない。つまり、リード電極90が貫通孔内に露出し、かつ、配線基板と電気的に接続される形態であれば、上記形態に限定されない。
圧電素子300から引き出されたリード電極90は、少なくともその先端部(リード電極端子)が貫通孔33の底部に露出している。貫通孔33に露出したリード電極90の先端部は、COF基板210に形成された図示しない配線と電気的に接続されている。COF基板210に実装された駆動回路200によって、各圧電素子300は駆動する。
ここでは、COF基板210の配線とリード電極90が直接的に接続されることを記載したが、例えば、COF基板210からリード電極90の先端部(リード電極端子)との間に別部材を配置して、COF基板210の配線とリード電極90が間接的に接続される構成を採用しても構わない。つまり、リード電極90が貫通孔内に露出し、かつ、配線基板と電気的に接続される形態であれば、上記形態に限定されない。
駆動信号は、例えば、駆動電源信号等の駆動ICを駆動させるための駆動系信号のほか、シリアル信号(SI)等の各種制御系信号を含み、配線は、それぞれの信号が供給される複数の配線で構成される。
保護基板30上には、封止膜41および固定板42とからなるコンプライアンス基板40が接合されている。ここで、封止膜41は、剛性が低く可撓性を有する材料(例えば、厚さが6μmのポリフェニレンサルファイド(PPS)フィルム)からなり、この封止膜41によってリザーバー部32の一方面が封止されている。また、固定板42は、金属等の硬質の材料(例えば、厚さが30μmのステンレス鋼(SUS)等)で形成されている。この固定板42のマニホールド100に対向する領域は、厚さ方向に完全に除去された開口部43となっているため、マニホールド100の一方面は可撓性を有する封止膜41のみで封止されている。
流路形成基板10の圧力発生室12、インク供給路15およびマニホールド100などの液体流路の内面と保護基板30の表面にアルカリ性の液体であるインクに対する耐エッチング性(耐インク性)を有する材料からなる保護膜16が設けられている。
保護膜16の材料は、耐インク性を有する材料であれば特に限定されず、酸化タンタル、酸化ジルコニウム、ニッケルおよびクロム等が挙げられる。例えば、本実施形態では、蒸着法(例えば、CVD法)を用いて形成することが出来る五酸化タンタルを用いる。
なお、本実施形態では、保護基板30のインクの接しない表面にも保護膜16が設けられているが、インクの接しない保護基板30の表面には、保護膜16は設けられていなくてもよい。
保護膜16の材料は、耐インク性を有する材料であれば特に限定されず、酸化タンタル、酸化ジルコニウム、ニッケルおよびクロム等が挙げられる。例えば、本実施形態では、蒸着法(例えば、CVD法)を用いて形成することが出来る五酸化タンタルを用いる。
なお、本実施形態では、保護基板30のインクの接しない表面にも保護膜16が設けられているが、インクの接しない保護基板30の表面には、保護膜16は設けられていなくてもよい。
インクジェット式記録ヘッド1では、カートリッジ2Aおよび2Bからインクを取り込み、マニホールド100からノズル開口21に至るまで内部をインクで満たした後、駆動回路200からの記録信号に従い、圧力発生室12に対応するそれぞれの下電極60と上電極80との間に電圧が印加される。電圧の印加によって、弾性膜50および圧電体層70がたわみ変形し、各圧力発生室12内の圧力が高まりノズル開口21からインク滴が吐出する。
以下、インクジェット式記録ヘッド1の製造方法について、図4〜図8を参照して説明する。
インクジェット式記録ヘッド1は、ウェハー状態で複数形成した後に、図2および図3に示すような一つのチップサイズの流路形成基板10等に分割することによって得られる。以下の説明は、一つのインクジェット式記録ヘッド1を取り出して製造方法の説明を行なう。
ウェハー状態で複数形成した場合は、外周縁部の不要部分を、例えば、ダイシング等により切断することによって除去する。
インクジェット式記録ヘッド1は、ウェハー状態で複数形成した後に、図2および図3に示すような一つのチップサイズの流路形成基板10等に分割することによって得られる。以下の説明は、一つのインクジェット式記録ヘッド1を取り出して製造方法の説明を行なう。
ウェハー状態で複数形成した場合は、外周縁部の不要部分を、例えば、ダイシング等により切断することによって除去する。
図4は、インクジェット式記録ヘッド1の製造方法を表すフローチャート図であり、図5〜図8は、長手方向に直交する面で切断したインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を表す部分断面図である。
図4において、インクジェット式記録ヘッド1の製造方法は、保護基板加工工程としてのステップ1(S1)と、接着工程としてのステップ2(S2)と、流路形成基板加工工程としてのステップ3(S3)と、保護膜形成工程としてのステップ4(S4)と、レーザー照射工程としてのステップ5(S5)と、貫通孔形成工程としてのステップ6(S6)とを含む。
図4において、インクジェット式記録ヘッド1の製造方法は、保護基板加工工程としてのステップ1(S1)と、接着工程としてのステップ2(S2)と、流路形成基板加工工程としてのステップ3(S3)と、保護膜形成工程としてのステップ4(S4)と、レーザー照射工程としてのステップ5(S5)と、貫通孔形成工程としてのステップ6(S6)とを含む。
図5(a)〜図5(e)は保護基板加工工程(S1)を、図6(f)は接着工程(S2)を、図6(g)〜図7(i)は流路形成基板加工工程(S3)を、図7(j)は保護膜形成工程(S4)を、図8(l)はレーザー照射工程(S5)を、図8(m)は貫通孔形成工程(S6)を表している。
図5(a)において、保護基板加工工程(S1)では、シリコン基板である保護基板30を約1100℃の拡散炉で熱酸化し、その表面に二酸化シリコン膜130を形成する。保護基板30は、例えば、400μm程度の厚さを有するものを用いる。
図5(b)において、保護基板加工工程(S1)では、二酸化シリコン膜130をパターンニングする。パターンニングは、レジストを塗布し、露光、現像後、二酸化シリコン膜130のエッチングを行なう、よく知られたフォトレジスト工程によって行なう。
図5(c)において、保護基板加工工程(S1)では、保護基板30のエッチングを行ない、図2、図3に示した圧電素子保持部31と貫通孔33を塞ぐ蓋部34を残して貫通孔33の一部とを同一のエッチング工程にて形成する。
図5(d)において、保護基板加工工程(S1)では、二酸化シリコン膜130を除去する。
なお、圧電素子保持部31を形成するエッチング条件と貫通孔33の一部のエッチング条件とを異なるように行なってもよい。また、図に示したエッチング形状は簡略に示したものであり、実際の形状はこれらの形状に限らない。
図5(d)において、保護基板加工工程(S1)では、二酸化シリコン膜130を除去する。
なお、圧電素子保持部31を形成するエッチング条件と貫通孔33の一部のエッチング条件とを異なるように行なってもよい。また、図に示したエッチング形状は簡略に示したものであり、実際の形状はこれらの形状に限らない。
図5(e)において、保護基板加工工程(S1)では、エッチング後の保護基板30を再び熱酸化し、絶縁膜としての二酸化シリコン膜131を形成する。二酸化シリコン膜131は、図5(a)に示した二酸化シリコン膜130の形成方法と同様の方法で行なうことができる。以下の説明では、個々で形成した二酸化シリコン膜131は図示しないで説明する。
図6(f)において、接着工程(S2)では、保護基板30とは別に用意した圧電素子300が形成された流路形成基板10と保護基板30とを、圧電素子300が圧電素子保持部31に収まるように向かい合わせ、接着剤56によって接着する。
接着は、接着面をプライマーで処理後、接着剤56を保護基板30の接着面に転写後、流路形成基板10と保護基板30とを貼り合せ、仮接着し硬化することで行なう。
保護基板30は、例えば、400μm程度の厚さを有するため、保護基板30を接合することによって流路形成基板10の剛性は著しく向上することになる。
接着は、接着面をプライマーで処理後、接着剤56を保護基板30の接着面に転写後、流路形成基板10と保護基板30とを貼り合せ、仮接着し硬化することで行なう。
保護基板30は、例えば、400μm程度の厚さを有するため、保護基板30を接合することによって流路形成基板10の剛性は著しく向上することになる。
例えば、流路形成基板10は以下のように用意する。
流路形成基板10を約1100℃の拡散炉で熱酸化し、その表面に弾性膜50を構成する二酸化シリコン膜を形成する。
次に、弾性膜50上に、ジルコニウム膜を形成する。ジルコニウム膜は、スパッタリング法等により形成できる。ジルコニウム膜を500〜1200℃の拡散炉で熱酸化することにより酸化ジルコニウムからなる絶縁体膜55を形成する。ここで、弾性膜50と絶縁体膜55とで振動板が構成される。
流路形成基板10を約1100℃の拡散炉で熱酸化し、その表面に弾性膜50を構成する二酸化シリコン膜を形成する。
次に、弾性膜50上に、ジルコニウム膜を形成する。ジルコニウム膜は、スパッタリング法等により形成できる。ジルコニウム膜を500〜1200℃の拡散炉で熱酸化することにより酸化ジルコニウムからなる絶縁体膜55を形成する。ここで、弾性膜50と絶縁体膜55とで振動板が構成される。
白金(Pt)、イリジウム(Ir)等からなる下電極膜を絶縁体膜55の表面に形成後、所定形状にパターニングする。
例えば、イリジウムからなる膜と、白金からなる膜とをスパッタリング法により積層し、積層された複数の膜を所定形状にパターニングすることにより、図2および図3に示した下電極60が得られる。
次に、下電極60および絶縁体膜55上に、圧電材料からなる圧電体層膜を形成する。圧電材料としては、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)からなる圧電体層膜を用いることができる。
圧電体層膜の製造方法としては、金属有機物を触媒に溶解・分散したいわゆるゾルを塗布乾燥してゲル化し、さらに高温で焼成することで金属酸化物からなる圧電体層膜を得る、いわゆるゾル−ゲル法を用いることができる。
なお、ゾル−ゲル法に限定されず、例えば、MOD(Metal−Organic Decomposition)法等を用いてもよい。さらに、これらの液相法による圧電体層膜の製造方法に限定されず、スパッタリングなどの蒸着法を用いた圧電体層膜の製造方法であってもよい。
例えば、イリジウムからなる膜と、白金からなる膜とをスパッタリング法により積層し、積層された複数の膜を所定形状にパターニングすることにより、図2および図3に示した下電極60が得られる。
次に、下電極60および絶縁体膜55上に、圧電材料からなる圧電体層膜を形成する。圧電材料としては、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)からなる圧電体層膜を用いることができる。
圧電体層膜の製造方法としては、金属有機物を触媒に溶解・分散したいわゆるゾルを塗布乾燥してゲル化し、さらに高温で焼成することで金属酸化物からなる圧電体層膜を得る、いわゆるゾル−ゲル法を用いることができる。
なお、ゾル−ゲル法に限定されず、例えば、MOD(Metal−Organic Decomposition)法等を用いてもよい。さらに、これらの液相法による圧電体層膜の製造方法に限定されず、スパッタリングなどの蒸着法を用いた圧電体層膜の製造方法であってもよい。
ゾル−ゲル法を詳しく説明すると、まず金属有機化合物を含むゾル(溶液)を塗布する。次いで、塗布により得られる圧電体前駆体膜を、所定温度に加熱して一定時間乾燥させ、ゾルの溶媒を蒸発させることで圧電体前駆体膜を乾燥させる。さらに、大気雰囲気下において一定の温度で一定時間、圧電体前駆体膜を脱脂する。
なお、ここで言う脱脂とは、ゾル膜の有機成分を、例えば、NO2、CO2、H2O等として離脱させることである。
なお、ここで言う脱脂とは、ゾル膜の有機成分を、例えば、NO2、CO2、H2O等として離脱させることである。
このような塗布・乾燥・脱脂の工程を、所定回数、例えば、2回繰り返すことで、圧電体前駆体膜を所定厚に形成し、この圧電体前駆体膜を拡散炉等で加熱処理することによって結晶化させて圧電体膜を形成する。すなわち、圧電体前駆体膜を焼成することで結晶が成長して圧電体膜が形成される。
焼成温度は、650〜850℃程度であることが好ましく、例えば、約700℃で30分間、圧電体前駆体膜を焼成して圧電体膜を形成する。このような条件で形成した圧電体膜の結晶は(100)面に優先配向する。
上述した塗布・乾燥・脱脂・焼成の工程を、複数回繰り返すことにより、多層の圧電体膜からなる所定厚さの圧電体層膜を形成する。
焼成温度は、650〜850℃程度であることが好ましく、例えば、約700℃で30分間、圧電体前駆体膜を焼成して圧電体膜を形成する。このような条件で形成した圧電体膜の結晶は(100)面に優先配向する。
上述した塗布・乾燥・脱脂・焼成の工程を、複数回繰り返すことにより、多層の圧電体膜からなる所定厚さの圧電体層膜を形成する。
圧電体層膜の材料としては、例えば、チタン酸ジルコン酸鉛等の強誘電性圧電性材料に、ニオブ、ニッケル、マグネシウム、ビスマス又はイットリウム等の金属を添加したリラクサ強誘電体等を用いてもよい。また、鉛を圧電材料に含まない、いわゆる非鉛の圧電材料からなる圧電素子を用いてもよい。
圧電体層膜形成した後は、例えば、イリジウムからなる上電極膜を圧電体層膜の全面に形成する。上電極膜は、スパッタリング法、例えば、DCまたはRFスパッタリング法によって形成することができる。
圧電体層膜および上電極膜を、各圧力発生室12に対向する領域にパターニングして、下電極60、圧電体層70および上電極80を備えた圧電素子300を形成する。
流路形成基板10の全面に亘って、例えば、金(Au)等からなる金属層を形成し、その後、例えば、レジスト等からなる図示しないマスクパターンを介して金属層を圧電素子300毎にパターニングすることによってリード電極90を形成する。
図6(g)において、流路形成基板加工工程(S3)では、流路形成基板10をある程度の厚さとなるまで研磨した後、さらにフッ硝酸によってウェットエッチングすることにより流路形成基板10を所定の厚みにする。例えば、約70μm厚になるように流路形成基板10をエッチング加工することができる。
ここで、ウェットエッチングによる破壊を防ぐため、テープ400を保護基板30に貼り付ける。
ここで、ウェットエッチングによる破壊を防ぐため、テープ400を保護基板30に貼り付ける。
図6(h)および図7(i)において、流路形成基板加工工程(S3)では、流路形成基板10の液滴の吐出面側の面上に、例えば、窒化シリコン(SiN)からなるマスク膜52を新たに形成し、所定形状にパターニングする。そして、このマスク膜52を介して流路形成基板10を異方性エッチングすることにより、流路形成基板10に圧力発生室12、連通部14およびインク供給路15等を形成する。
その後。テープ400とマスク膜52とを取り除く。テープ400は、保護膜形成工程(S4)前に取り除くので、耐熱性の低いテープであってもよい。
その後。テープ400とマスク膜52とを取り除く。テープ400は、保護膜形成工程(S4)前に取り除くので、耐熱性の低いテープであってもよい。
図7(j)において、保護膜形成工程(S4)では、保護膜16を成膜する。保護膜16は、接着された流路形成基板10および保護基板30の表面である、リザーバー部32、連通部14など複雑な液体流路の内面に形成する必要があるので、回り込みのよい蒸着法で行なうのが好ましい。ここではCVD法を用いて成膜した。成膜は、複数のウェハーに1バッジで行なうことができる。
原料ガスとしては、例えば、液体であるペンタエトキシタンタル(Ta(OC2H5)5)を用いることができる。保護膜の成分を含有する原料ガスは、気化器によって気化され、キャリアガスN2とともに反応室に導入される。またそれと同時に酸素も導入され、ペンタエトキシタンタルは反応室内で熱分解され、酸化タンタル薄膜である五酸化タンタル薄膜が成膜される。この他、例えば、窒化膜を保護膜の材料とする場合には、PVD(Physical Vapor Deposition)法を用いても良い。つまり、乾式法と呼ばれるものであればよく、湿式法(液体塗布)以外の方法であれば良い。
原料ガスとしては、例えば、液体であるペンタエトキシタンタル(Ta(OC2H5)5)を用いることができる。保護膜の成分を含有する原料ガスは、気化器によって気化され、キャリアガスN2とともに反応室に導入される。またそれと同時に酸素も導入され、ペンタエトキシタンタルは反応室内で熱分解され、酸化タンタル薄膜である五酸化タンタル薄膜が成膜される。この他、例えば、窒化膜を保護膜の材料とする場合には、PVD(Physical Vapor Deposition)法を用いても良い。つまり、乾式法と呼ばれるものであればよく、湿式法(液体塗布)以外の方法であれば良い。
図7(k)において、流路形成基板10の保護基板30が接着される面とは反対側の面に、ノズル開口21が穿設されたノズルプレート20を接合する。
図8(l)において、レーザー照射工程(S5)では、蓋部34の外周に沿ってレーザー光を照射する。レーザー光の照射には、保護基板30の内部にレーザー光の焦点を合わせて改質領域を形成する工程を含むのが好ましい。
図8(m)において、貫通孔形成工程(S6)では、蓋部34を取り除き貫通孔33を形成する。
図8(m)において、貫通孔形成工程(S6)では、蓋部34を取り除き貫通孔33を形成する。
図9は、レーザー照射工程(S5)と貫通孔形成工程(S6)とを合わせて詳しく示した部分断面図である。保護膜16は省略して図示していない。
図9(a)において、レーザー照射工程(S5)では、赤外の波長領域のレーザー光L1、例えば、YAGレーザー(Nd)の1064nmの波長のレーザー光L1をシリコン基板である保護基板30の内部に焦点が合うように照射する。焦点は、保護基板30の内部で、圧電素子保持部31および貫通孔33の一部が形成されている側の蓋部34の外周に沿った内部の位置に合わせる。そして、外周に沿って走査する。レーザー光L1の照射により、保護基板30の内部に多結晶シリコンからなる改質領域35が形成される。
図9(a)において、レーザー照射工程(S5)では、赤外の波長領域のレーザー光L1、例えば、YAGレーザー(Nd)の1064nmの波長のレーザー光L1をシリコン基板である保護基板30の内部に焦点が合うように照射する。焦点は、保護基板30の内部で、圧電素子保持部31および貫通孔33の一部が形成されている側の蓋部34の外周に沿った内部の位置に合わせる。そして、外周に沿って走査する。レーザー光L1の照射により、保護基板30の内部に多結晶シリコンからなる改質領域35が形成される。
図9(b)において、レーザー照射工程(S5)では、可視の波長領域のレーザー光L2、例えば、YAGレーザー(Nd)の第2高調波532nmの波長のレーザー光L2を保護基板30に照射する。照射は、圧電素子保持部31および貫通孔33の一部が形成されている側とは反対側から、蓋部34の外周に沿った位置に行なう。照射によって、溝36が形成されるが、溝36の形成は、改質領域35が残るように行なう。
図9(c)において、貫通孔形成工程(S6)では、接着剤付テープとしての紫外線(UV)硬化型テープ500を、保護基板30の圧電素子保持部31および貫通孔33の一部が形成されている側とは反対側に貼り付ける。
図9(d)において、貫通孔形成工程(S6)では、マスク600を用いて接着されている紫外線硬化型テープ500の蓋部34と接着している領域520を除いた領域510に紫外線の照射を行なう。領域510の紫外線(UV)硬化型テープ500は、紫外線の照射により硬化し接着剤の接着力が低下する。
図9(e)において、貫通孔形成工程(S6)では、紫外線硬化型テープ500を保護基板30から引き剥がす。この時、接着力の低下した領域510は容易に剥がれる。一方、蓋部34と紫外線硬化型テープ500とは、接着力を維持した領域520によって接着しており、蓋部34は紫外線硬化型テープ500とともに保護基板30から取り除かれ、貫通孔33が保護基板30に形成される。
図9(d)において、貫通孔形成工程(S6)では、マスク600を用いて接着されている紫外線硬化型テープ500の蓋部34と接着している領域520を除いた領域510に紫外線の照射を行なう。領域510の紫外線(UV)硬化型テープ500は、紫外線の照射により硬化し接着剤の接着力が低下する。
図9(e)において、貫通孔形成工程(S6)では、紫外線硬化型テープ500を保護基板30から引き剥がす。この時、接着力の低下した領域510は容易に剥がれる。一方、蓋部34と紫外線硬化型テープ500とは、接着力を維持した領域520によって接着しており、蓋部34は紫外線硬化型テープ500とともに保護基板30から取り除かれ、貫通孔33が保護基板30に形成される。
最後に、保護基板30にコンプライアンス基板40を接合し、流路形成基板10等を図2および図3に示すような一つのチップサイズの流路形成基板10等に分割し、COF基板210を接続することによって、インクジェット式記録ヘッド1が得られる。
インクジェット式記録ヘッド1は、インク供給手段であるインクカートリッジ等と連通するインク流路を具備する記録ヘッドユニットの一部を構成して、インクジェット式記録装置に搭載される。
このような実施形態によれば、以下の効果がある。
(1)CVD法により保護膜16を形成する前に、COF基板210が挿入される貫通孔33が蓋部34で塞がれているので、蓋部34によって貫通孔33内にCVD法で用いる原料ガスが侵入できず、貫通孔33に引き出されたリード電極90に保護膜16が形成されない。したがって、リード電極90とCOF基板210との接続で導通不良が生じにくく、製造コストの低減したインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
(1)CVD法により保護膜16を形成する前に、COF基板210が挿入される貫通孔33が蓋部34で塞がれているので、蓋部34によって貫通孔33内にCVD法で用いる原料ガスが侵入できず、貫通孔33に引き出されたリード電極90に保護膜16が形成されない。したがって、リード電極90とCOF基板210との接続で導通不良が生じにくく、製造コストの低減したインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
(2)蓋部34の外周にレーザー光L1,L2を照射するので、蓋部34の外周の除去または改質が起こり、強度をその他の領域と比較して弱くでき、紫外線硬化型テープ500により容易に蓋部34が除去できる。
また、紫外線硬化型テープ500貼り付け後に、熱の加わる工程を行うことなく紫外線硬化型テープ500を除去するので、接着剤の残りの少ない紫外線硬化型テープ500を用いることができ、紫外線硬化型テープ500の接着剤の残りの少ないインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
さらに、紫外線硬化型テープ500を用いて、選択的な紫外線の照射により蓋部34以外の接着剤の接着力を弱めることにより、接着剤の残りをより少なくでき、より容易に蓋部34が除去できる。
また、紫外線硬化型テープ500貼り付け後に、熱の加わる工程を行うことなく紫外線硬化型テープ500を除去するので、接着剤の残りの少ない紫外線硬化型テープ500を用いることができ、紫外線硬化型テープ500の接着剤の残りの少ないインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
さらに、紫外線硬化型テープ500を用いて、選択的な紫外線の照射により蓋部34以外の接着剤の接着力を弱めることにより、接着剤の残りをより少なくでき、より容易に蓋部34が除去できる。
(3)レーザー光L1の照射によって、保護基板30の内部に改質領域35を形成して、蓋部34の除去を行うので、レーザー光L1の照射で起こる表面溶解による塵の発生を少なくできる。したがって、圧力発生室12、インク供給路15、ノズル開口21およびマニホールド100内の塵の量を減少でき、インクの流れが塵によって阻害されることが少ないインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
(4)保護基板加工工程(S1)において、圧電素子保持部31と同時に貫通孔33を塞ぐ蓋部34を残して貫通孔33の一部を形成するので、新たな工程を加える必要がなく、製造コストの低減したインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
(5)酸化タンタルはアルカリに対して侵されにくいので、耐インク性に優れたインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
実施形態以外にも、種々の変更を行うことが可能である。
例えば、レーザー照射工程(S5)は、貫通孔形成工程(S6)前に行なえばよく、例えば、保護基板加工工程(S1)の中で行なってもよい。
例えば、レーザー照射工程(S5)は、貫通孔形成工程(S6)前に行なえばよく、例えば、保護基板加工工程(S1)の中で行なってもよい。
また、レーザー照射工程(S5)におけるレーザー照射は、YAGレーザー(Nd)の1064nmの波長のレーザー光L1を用いて、保護基板30の内部にレーザー光L1の焦点を合わせて改質領域35を形成する工程のみで行なってもよい。このとき、レーザー照射は、焦点を合わせる深さを変えて複数回に分けて行い、深さ方向の内部のほとんどに改質領域を形成する。
これにより、レーザー光によって保護基板30の表面が溶解されないので、塵等がより少ないインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
これにより、レーザー光によって保護基板30の表面が溶解されないので、塵等がより少ないインクジェット式記録ヘッド1の製造方法を得ることができる。
また、テープは、紫外線硬化型テープ500に限らず、テープ400と同様に耐熱性の低いテープであっても良い。
レーザー照射工程(S5)では、蓋部34を他の部材に保持した状態で、レーザー光で蓋部34の外周をすべて取り除いた後、蓋部34を取り除いてもよい。
蓋部34の除去は、レーザー照射工程(S5)およびテープを用いたものに限らない。例えば、蓋部34は、カッターで切り取っても良いし、打ち抜いて取り除いてもよい。
レーザー照射工程(S5)では、蓋部34を他の部材に保持した状態で、レーザー光で蓋部34の外周をすべて取り除いた後、蓋部34を取り除いてもよい。
蓋部34の除去は、レーザー照射工程(S5)およびテープを用いたものに限らない。例えば、蓋部34は、カッターで切り取っても良いし、打ち抜いて取り除いてもよい。
上述した実施形態では、液体噴射ヘッドの一例としてインクジェット式記録ヘッドを挙げて説明したが、本発明は広く液体噴射ヘッド全般を対象としたものであり、インク以外の液体を噴射する液体噴射ヘッドにも勿論適用することができる。
その他の液体噴射ヘッドとしては、例えば、プリンター等の画像記録装置に用いられる各種の記録ヘッド、液晶ディスプレイ等のカラーフィルターの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレイ、FED(電界放出ディスプレイ)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオchip製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。
その他の液体噴射ヘッドとしては、例えば、プリンター等の画像記録装置に用いられる各種の記録ヘッド、液晶ディスプレイ等のカラーフィルターの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレイ、FED(電界放出ディスプレイ)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオchip製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。
1…液体噴射ヘッドとしてのインクジェット式記録ヘッド、1A,1B…記録ヘッドユニット、2A,2B…カートリッジ、3…キャリッジ、4…装置本体、5…キャリッジ軸、6…駆動モーター、7…タイミングベルト、8…プラテン、10…流路形成基板、12…圧力発生室、13…列、14…連通部、15…液体供給路としてのインク供給路、16…保護膜、20…ノズルプレート、21…ノズル開口、30…保護基板、31…圧電素子保持部、32…リザーバー部、33…貫通孔、34…蓋部、35…改質領域、36…溝、40…コンプライアンス基板、41…封止膜、42…固定板、43…開口部、50…弾性膜、52…マスク膜、55…絶縁体膜、56…接着剤、60…下電極、80…上電極、90…リード電極、100…液体供給路としてのマニホールド、130…二酸化シリコン膜、131…二酸化シリコン膜、200…駆動回路、210…配線基板としてのCOF基板、220…スペーサー、300…圧電素子、400…テープ、500…接着剤付テープとしての紫外線硬化型テープ、510…領域、520…領域、600…マスク、1000…液体噴射装置としてのインクジェット式記録装置。
Claims (5)
- 液体を噴射するノズル開口に連通した圧力発生室、前記圧力発生室の圧力を変化させる圧電素子および前記圧力発生室に前記液体を供給する液体供給路を有する流路形成基板と、前記圧電素子を保護する圧電素子保持部および前記圧電素子から引き出されたリード電極の配線基板と電気的に接続する箇所を露出させる貫通孔を有する保護基板とが接着された液体噴射ヘッドの製造方法であって、
前記圧電素子保持部と前記貫通孔を塞ぐ蓋部を残して前記貫通孔の一部とを形成する保護基板加工工程と、
前記流路形成基板と加工後の前記保護基板とを接着する接着工程と、
前記流路形成基板に、前記圧力発生室および前記液体供給路を形成する流路形成基板加工工程と、
接着された前記流路形成基板および前記保護基板の表面に蒸着法により保護膜を形成する保護膜形成工程と、
前記蓋部を除去し前記貫通孔を形成する貫通孔形成工程とを含む
ことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。 - 請求項1に記載の液体噴射ヘッドの製造方法において、
前記蓋部の外周に沿ってレーザー光を照射するレーザー照射工程を含み、
前記貫通孔形成工程は、前記保護膜形成工程および前記レーザー照射工程後に、前記蓋部に接着剤付テープを貼り付けて、前記接着剤付テープとともに前記蓋部を除去し前記貫通孔を形成する
ことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。 - 請求項2に記載の液体噴射ヘッドの製造方法において、
前記レーザー照射工程は、前記保護基板の表面下の内部にレーザー光の焦点を合わせて改質領域を形成する工程を含む
ことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。 - 請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の液体噴射ヘッドの製造方法において、
前記圧電素子保持部を形成する工程で、前記貫通孔を塞ぐ前記蓋部を残して前記貫通孔の一部を形成する
ことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。 - 請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の液体噴射ヘッドの製造方法において、
前記液体はアルカリ性の液体であり、前記保護膜は、酸化タンタルである
ことを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010137994A JP2012000873A (ja) | 2010-06-17 | 2010-06-17 | 液体噴射ヘッドの製造方法 |
US13/079,287 US8819935B2 (en) | 2010-06-17 | 2011-04-04 | Method for producing liquid-ejecting head |
CN201110163495.6A CN102285230B (zh) | 2010-06-17 | 2011-06-17 | 喷液头的制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012000873A true JP2012000873A (ja) | 2012-01-05 |
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ID=45327628
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---|---|---|---|
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Country Status (3)
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---|---|
US (1) | US8819935B2 (ja) |
JP (1) | JP2012000873A (ja) |
CN (1) | CN102285230B (ja) |
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CN104441990B (zh) * | 2013-09-23 | 2016-03-02 | 珠海赛纳打印科技股份有限公司 | 液体喷射装置及其制造方法 |
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Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP4591005B2 (ja) | 2004-09-17 | 2010-12-01 | セイコーエプソン株式会社 | 液体噴射ヘッドの製造方法 |
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JP5344142B2 (ja) | 2008-03-18 | 2013-11-20 | セイコーエプソン株式会社 | 液体噴射ヘッド及び液体噴射装置 |
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-
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-
2011
- 2011-04-04 US US13/079,287 patent/US8819935B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-06-17 CN CN201110163495.6A patent/CN102285230B/zh not_active Expired - Fee Related
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---|---|---|---|---|
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JP7087521B2 (ja) | 2018-03-22 | 2022-06-21 | ブラザー工業株式会社 | 液体吐出ヘッド及び液体吐出ヘッドの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8819935B2 (en) | 2014-09-02 |
US20110308715A1 (en) | 2011-12-22 |
CN102285230A (zh) | 2011-12-21 |
CN102285230B (zh) | 2014-05-07 |
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