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JP2012073225A - Foreign matter detector and method for detecting foreign matter - Google Patents

Foreign matter detector and method for detecting foreign matter Download PDF

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JP2012073225A
JP2012073225A JP2011141467A JP2011141467A JP2012073225A JP 2012073225 A JP2012073225 A JP 2012073225A JP 2011141467 A JP2011141467 A JP 2011141467A JP 2011141467 A JP2011141467 A JP 2011141467A JP 2012073225 A JP2012073225 A JP 2012073225A
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JP
Japan
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heat
detection
foreign matter
foreign
heat generation
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JP2011141467A
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Japanese (ja)
Inventor
Koichi Yanagisawa
浩一 柳沢
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Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To securely detect foreign matter even if it is extremely small, while reducing cost necessary for detecting foreign matters having conductivity.SOLUTION: The foreign matter detector comprises: a micro wave radiation part 3 which performs heating treatment of irradiating a resin film 20 formed of a non-conductive material with micro waves Wm to selectively make a conductive foreign matter X contained in the resin film 20 generate heat; a thermo camera 4 for imaging the resin film 20 and detecting temperature of each part of the resin film 20; and a processing part 6 which controls the heating treatment by the micro wave radiation part 3 and imaging of the resin film 20 (detecting of temperature at each part of the resin film 20) by the thermo camera, and which analyzes an imaging result of the thermo camera 4 as a temperature detection result and detects that the foreign matter X exists at a heat generating area where heat is generated by the heating processing.

Description

本発明は、検出対象体内の異物を検出する異物検出装置および異物検出方法に関するものである。   The present invention relates to a foreign object detection device and a foreign object detection method for detecting a foreign object in a detection target body.

この種の異物検出装置として、「Cu、Auなどの導電性粒子(球状粒子)を高密度に含んだフィルム(フィルム樹脂層)」内に存在する「Al、Niなどの金属種の異物や、樹脂種の塊異物」等を光学的に検出可能に構成された異物検査装置が特開2003−65966号公報に開示されている。この異物検査装置は、フィルム樹脂層をフィルム基材層に貼り付けた被検査対象を連続的に移動させる送り機構と、被検査対象におけるフィルム樹脂層内に存在する異物(黒異物)を光学的に検出する第1の光学検出部と、被検査対象におけるフィルム樹脂層内に存在する異物(白異物)を光学的に検出する第2の光学検出部と、両光学検出部からの画像信号を基に画像処理して異物を検査・解析する検査・解析部とを備えている。また、両光学検出部は、光源および撮像装置(ラインセンサ、またはTDI(Time Delay and Integration)センサ)を備えて構成されている。   As this kind of foreign matter detecting device, “foreign matter of metallic species such as Al, Ni, etc. present in“ film (film resin layer) containing conductive particles (spherical particles) such as Cu, Au ”at high density, JP-A-2003-65966 discloses a foreign matter inspection apparatus configured to be able to optically detect a resin type lump foreign matter. This foreign matter inspection apparatus optically transfers a foreign object (black foreign matter) existing in a film resin layer in a subject to be inspected, and a feed mechanism that continuously moves the subject to be inspected with a film resin layer attached to a film base layer. A first optical detection unit that detects the first optical detection unit, a second optical detection unit that optically detects foreign matter (white foreign matter) present in the film resin layer in the inspection target, and image signals from both optical detection units. And an inspection / analysis unit for inspecting / analyzing foreign matter by image processing based on the image processing. In addition, both optical detection units are configured to include a light source and an imaging device (line sensor or TDI (Time Delay and Integration) sensor).

この異物検査装置によるフィルム樹脂層の検査に際しては、搬送用ピンチローラを回転駆動させることによって被検査対象を長手方向に沿って走行させて搬送しつつ、両光学検出部において光源から被検査対象に光を照射した状態で撮像装置によってフィルム樹脂層を撮像する。この際には、両光学検出部の撮像装置から検査・解析部に画像信号が出力される。これに応じて、検査・解析部は、両撮像装置からの画像信号を画像処理して異物を検査・解析する。この際には、第1の光学検出部における撮像装置からの画像信号を検査・解析することで黒色の異物(黒異物)の有無が検査され、第2の光学検出部における撮像装置からの画像信号を検査・解析することで白色の異物(白異物)の有無が検査される。これにより、被検査対象のフィルム樹脂層を破壊することなく、異物の有無が検査される。   When the film resin layer is inspected by the foreign substance inspection apparatus, the optical inspection unit moves the inspection object along the longitudinal direction by rotating the conveyance pinch roller and conveys the inspection object from the light source to the inspection object. The film resin layer is imaged by an imaging device in a state where light is irradiated. At this time, image signals are output from the imaging devices of both optical detection units to the inspection / analysis unit. In response to this, the inspection / analysis unit performs image processing on the image signals from both imaging apparatuses to inspect / analyze the foreign matter. At this time, the presence or absence of black foreign matter (black foreign matter) is inspected by inspecting and analyzing the image signal from the imaging device in the first optical detection unit, and the image from the imaging device in the second optical detection unit. The presence / absence of white foreign matter (white foreign matter) is inspected by inspecting and analyzing the signal. Thereby, the presence or absence of a foreign substance is inspected without destroying the film resin layer to be inspected.

特開2003−65966号公報(第4−9頁、第1−21図)JP 2003-65966 A (page 4-9, FIG. 1-21)

ところが、従来の異物検査装置には、以下の問題点が存在する。すなわち、従来の異物検査装置では、フィルム樹脂層をフィルム基材層に貼りつけた被検査対象を走行させながら撮像し、その画像信号を検査・解析することによって、光透過性を有するフィルム基材層内に黒色または白色の異物が存在するかを検査する構成が採用されている。この場合、この種の異物検査装置の被検査対象としては、上記公開公報に開示されている「液晶表示装置などの電子回路基板上の電極に半導体素子の電極を接続するのに用いられるフィルム(フィルム樹脂層)」だけでなく、「電池やコンデンサなどの電子部品に用いられて、隣接する導体間を絶縁するための絶縁フィルム」などの各種フィルムが存在する。   However, the conventional foreign matter inspection apparatus has the following problems. That is, in a conventional foreign matter inspection apparatus, a film base material having light transmissivity is obtained by capturing an image of an object to be inspected while a film resin layer is bonded to the film base material layer, and inspecting and analyzing the image signal. A configuration in which black or white foreign matter is present in the layer is employed. In this case, the object to be inspected by this kind of foreign substance inspection apparatus is disclosed in the above-mentioned publication as “film used for connecting an electrode of a semiconductor element to an electrode on an electronic circuit board such as a liquid crystal display device ( In addition to “film resin layer”, various films such as “insulating film used for electronic parts such as batteries and capacitors to insulate adjacent conductors” exist.

上記のような絶縁フィルムを被検査対象とする場合には、絶縁能力を低下させる原因となる「導電性を有する異物」がフィルム内に存在するか否かが非常に重要な検査項目となる。しかしながら、従来の異物検査装置では、黒色の異物、または、白色の異物が存在するか否かを検査することができるものの、その異物が導電性を有する異物であるか否かを特定するのが困難となっている。したがって、従来の異物検査装置では、絶縁能力の低下を招くおそれのない非導電性の異物であっても、その異物が黒色または白色の場合には、画像信号の解析によって異物が存在する不良のフィルムであると検査される。このため、従来の異物検査装置には、フィルム製造の歩留まりが悪化しているという問題点がある。   When an insulating film as described above is an object to be inspected, it is a very important inspection item whether or not “contaminating foreign matter” that causes a decrease in insulating ability is present in the film. However, although the conventional foreign matter inspection apparatus can inspect whether a black foreign matter or a white foreign matter exists, it is specified whether the foreign matter is a conductive foreign matter. It has become difficult. Accordingly, in the conventional foreign matter inspection apparatus, even if the foreign matter is black or white even if it is a non-conductive foreign matter that does not cause a decrease in the insulation capacity, it is a defect that the foreign matter is present by analysis of the image signal. Inspected to be film. For this reason, the conventional foreign matter inspection apparatus has a problem that the yield of film production is deteriorated.

また、従来の異物検査装置では、撮像装置によって撮像した画像信号を解析することで、フィルム基材層内に黒色または白色の異物が存在するかを検査する構成が採用されている。この場合、絶縁フィルムを被検査対象とする場合には、極く小さな異物であっても、その異物が導電性を有している場合には、絶縁能力の低下を招くおそれがあるため、これを確実に検出する必要がある。しかしながら、極く小さな異物を光学的に検出する(画像信号の解析によって検出する)には、解像度の高い撮像装置が必要となる。したがって、従来の異物検査装置には、極く小さな異物を確実に検出するために、高価な撮像装置が必要となるだけでなく、解像度の高い撮像装置から大量の情報を短時間で解析するために、解析能力が高い(演算速度が速い)高価な解析装置が必要となるため、その検査コストの低減が困難になっているという問題点がある。   Moreover, in the conventional foreign material inspection apparatus, the structure which test | inspects whether a black or white foreign material exists in a film base material layer by analyzing the image signal imaged with the imaging device is employ | adopted. In this case, when an insulating film is an object to be inspected, even if it is a very small foreign object, if the foreign object has conductivity, there is a possibility that the insulation capacity may be reduced. Must be detected reliably. However, in order to optically detect a very small foreign object (detected by analyzing an image signal), an imaging device with high resolution is required. Therefore, the conventional foreign matter inspection apparatus not only requires an expensive imaging device to reliably detect extremely small foreign matter, but also analyzes a large amount of information in a short time from a high-resolution imaging device. In addition, an expensive analysis device with high analysis capability (high calculation speed) is required, which makes it difficult to reduce the inspection cost.

さらに、従来の異物検査装置では、光透過性を有するフィルム樹脂層内に黒色または白色の異物が存在するかを検査する構成が採用されている。したがって、従来の異物検査装置では、例えば、黒色のフィルム樹脂層内に黒色の異物が存在する場合や、白色のフィルム樹脂層内に白色の異物が存在するときに、これら異物を検出することが困難になっているという問題点も存在する。   Furthermore, in the conventional foreign material inspection apparatus, the structure which test | inspects whether the black or white foreign material exists in the film resin layer which has a light transmittance is employ | adopted. Therefore, in the conventional foreign matter inspection apparatus, for example, when a black foreign matter is present in the black film resin layer or when a white foreign matter is present in the white film resin layer, the foreign matter can be detected. There is also the problem that it has become difficult.

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、導電性を有する異物の検出に要するコストの低減を図りつつ、極く小さな異物であっても確実に検出し得る異物検出装置および異物検出方法を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of such problems, and a foreign object detection device and a foreign object that can reliably detect even a very small foreign object while reducing the cost required to detect a conductive foreign object. The main purpose is to provide a detection method.

上記目的を達成すべく請求項1記載の異物検出装置は、非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行する発熱処理部と、前記検出対象体における各部の温度を検出する温度検出部と、前記発熱処理部による前記発熱処理および前記温度検出部による前記検出対象体における各部の温度の検出を制御する制御部と、前記温度検出部の温度検出結果を分析して、前記発熱処理によって発熱した発熱部位に前記異物が存在すると検出する分析検出部とを備えている。   In order to achieve the above object, the foreign object detection device according to claim 1 performs a heat generation process for performing a heat generation process for selectively generating heat from a conductive foreign substance contained in a detection object formed of a non-conductive material. A temperature detection unit that detects the temperature of each part in the detection target body, a control unit that controls the heat generation processing by the heat generation processing unit and the temperature detection of each part in the detection target body by the temperature detection unit, An analysis detection unit that analyzes a temperature detection result of the temperature detection unit and detects that the foreign matter is present in a heat generation portion that has generated heat by the heat generation process;

また、請求項2記載の異物検出装置は、請求項1記載の異物検出装置において、前記熱検出部として、前記検出対象体を撮像するサーモカメラを備え、前記分析検出部は、前記サーモカメラの撮像結果を前記温度検出結果として分析して、前記発熱部位に前記異物が存在すると検出する。   Further, the foreign matter detection device according to claim 2 is the foreign matter detection device according to claim 1, further comprising a thermo camera that images the detection target body as the heat detection unit, and the analysis detection unit is provided on the thermo camera. The imaging result is analyzed as the temperature detection result, and it is detected that the foreign matter is present in the heat generation part.

さらに、請求項3記載の異物検出装置は、請求項1または2記載の異物検出装置において、前記非導電性材料で帯状に形成された前記検出対象体を前記制御部の制御に従って長手方向に沿って走行させて搬送する搬送機構を備えている。   Furthermore, the foreign matter detection device according to claim 3 is the foreign matter detection device according to claim 1 or 2, wherein the detection object formed in a band shape with the non-conductive material is arranged along a longitudinal direction according to control of the control unit. And a transport mechanism for transporting and transporting.

また、請求項4記載の異物検出装置は、非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行する発熱処理部と、温度に応じて変色する感熱記録材料が少なくとも表面部位に配設された感熱部を有すると共に前記発熱処理が実行された前記検出対象体に当該感熱部の当該表面部位を接触させて当該感熱記録材料における当該検出対象体の発熱部位に接した部位を変色させる感熱処理を実行する感熱処理部と、当該感熱部の前記表面部位を撮像する光学カメラと、前記発熱処理部による前記発熱処理、前記感熱処理部による前記感熱処理、および前記光学カメラによる前記感熱部の撮像を制御する制御部と、前記光学カメラの撮像結果を分析して、前記感熱記録材料における変色部位に対応する当該検出対象体の部位に前記異物が存在すると検出する分析検出部とを備えている。   In addition, the foreign matter detection device according to claim 4 includes a heat generation processing unit that performs heat generation processing for selectively generating heat in the conductive foreign matter contained in the detection target body formed of a nonconductive material, and a temperature. The heat-sensitive recording material that changes color according to the heat-sensitive recording material has at least a heat-sensitive portion disposed on the surface portion, and the surface portion of the heat-sensitive portion is brought into contact with the detection object that has been subjected to the heat generation process. A heat-sensitive part that performs heat-sensitive heat treatment for changing the color of the part of the detection object that is in contact with the heat-generating part; an optical camera that images the surface part of the heat-sensitive part; A control unit for controlling the thermal treatment by the optical unit and the imaging of the thermal unit by the optical camera, and analyzing the imaging result of the optical camera to obtain a discoloration site in the thermal recording material. And a analytical detection unit for detecting said foreign substance to the site of the detection object is present to respond.

また、請求項5記載の異物検出装置は、請求項4記載の異物検出装置において、前記非導電性材料で帯状に形成された前記検出対象体を前記制御部の制御に従って長手方向に沿って走行させて搬送する搬送機構を備え、前記感熱処理部は、温度に応じて可逆的に変色する前記感熱記録材料が少なくとも周面に配設されてロール状に形成されると共に前記発熱処理が実行された前記検出対象体に当該周面が接触し、かつ、前記搬送機構による当該検出対象体の搬送に合わせて回転可能に配置された感熱ロールを前記感熱部として備えている。   Further, the foreign object detection device according to claim 5 is the foreign object detection device according to claim 4, wherein the detection object formed in a band shape with the non-conductive material runs along the longitudinal direction according to the control of the control unit. The heat-sensitive heat treatment unit is formed in a roll shape with the heat-sensitive recording material reversibly discolored according to the temperature disposed at least on the peripheral surface, and the heat generation process is performed. In addition, a heat-sensitive roll is provided as the heat-sensitive part, the heat-sensitive roll being arranged so that the peripheral surface is in contact with the detection object and rotated in accordance with the conveyance of the detection object by the conveyance mechanism.

さらに、請求項6記載の異物検出装置は、請求項5記載の異物検出装置において、前記光学カメラによる撮像が完了した前記周面を冷却する冷却部を備えている。   Further, a foreign object detection device according to a sixth aspect is the foreign object detection device according to the fifth aspect, further comprising a cooling unit that cools the peripheral surface that has been imaged by the optical camera.

また、請求項7記載の異物検出装置は、請求項1から6のいずれかに記載の異物検出装置において、前記発熱処理部は、前記検出対象体にマイクロ波を照射するマイクロ波照射部、当該検出対象体に電子線を照射する電子線照射部、および当該検出対象体の周囲に高周波磁界を生じさせる高周波磁界生成部のいずれかで構成されている。   The foreign matter detection device according to claim 7 is the foreign matter detection device according to any one of claims 1 to 6, wherein the heat generation processing unit is a microwave irradiation unit that irradiates the detection object with microwaves, The electron beam irradiation unit irradiates the detection target body with an electron beam and the high frequency magnetic field generation unit that generates a high frequency magnetic field around the detection target body.

さらに、請求項8記載の異物検出装置は、請求項7記載の異物検出装置において、前記発熱処理部は、前記マイクロ波照射部を備えて構成されて、前記マイクロ波照射部は、周波数が相違する複数種類の前記マイクロ波を前記検出対象体に照射する。   Furthermore, the foreign matter detection device according to claim 8 is the foreign matter detection device according to claim 7, wherein the heat generation processing unit is configured to include the microwave irradiation unit, and the microwave irradiation unit has a different frequency. The detection object is irradiated with a plurality of types of microwaves.

また、請求項9記載の異物検出装置は、請求項7記載の異物検出装置において、前記発熱処理部は、前記高周波磁界生成部を備えて構成されて、前記高周波磁界生成部は、周波数が相違する複数種類の前記高周波磁界を前記検出対象体の周囲に生じさせる。   The foreign matter detection device according to claim 9 is the foreign matter detection device according to claim 7, wherein the heat generation processing unit includes the high frequency magnetic field generation unit, and the high frequency magnetic field generation unit has a different frequency. A plurality of types of high-frequency magnetic fields are generated around the detection object.

さらに、請求項10記載の異物検出装置は、請求項1から9のいずれかに記載の異物検出装置において、前記検出対象体において前記異物が存在すると特定した部位を特定可能にマーキングするマーキング部を備えている。   Furthermore, the foreign matter detection device according to claim 10 is the foreign matter detection device according to any one of claims 1 to 9, wherein a marking portion is provided for marking the portion that is specified as the foreign matter is present in the detection target body so as to be specified. I have.

また、請求項11記載の異物検出方法は、非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行し、かつ、当該発熱処理を実行した前記検出対象体における各部の温度を検出すると共に、その温度検出結果を分析して、前記発熱処理によって発熱した発熱部位に前記異物が存在すると検出する。   The foreign matter detection method according to claim 11 performs a heat generation process for selectively generating heat in a conductive foreign substance contained in a detection object formed of a non-conductive material, and the heat generation process. And detecting the temperature of each part in the detection target body that has performed the above, and analyzing the temperature detection result to detect that the foreign matter is present in the heat generation portion that has generated heat by the heat generation processing.

さらに、請求項12記載の異物検出方法は、請求項11記載の異物検出方法において、前記発熱処理を実行した前記検出対象体をサーモカメラによって撮像すると共に、当該サーモカメラの撮像結果を前記温度検出結果として分析して、前記発熱部位に前記異物が存在すると検出する。   Furthermore, the foreign object detection method according to claim 12 is the foreign object detection method according to claim 11, wherein the detection target object that has performed the heat generation process is imaged by a thermo camera, and the imaging result of the thermo camera is detected by the temperature detection. As a result of the analysis, it is detected that the foreign matter is present in the heat generating portion.

また、請求項13記載の異物検出方法は、非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行すると共に、温度に応じて変色する感熱記録材料が少なくとも表面部位に配設された感熱部における当該表面部位を前記発熱処理を実行した前記検出対象体に接触させて当該感熱記録材料における当該検出対象体の発熱部位に接した部位を変色させる感熱処理を実行し、かつ、前記感熱部の前記表面部位を光学カメラによって撮像すると共に、当該光学カメラの撮像結果を分析して、前記感熱記録材料における変色部位に対応する当該検出対象体の部位に前記異物が存在すると検出する。   In addition, the foreign matter detection method according to claim 13 performs a heat generation process for selectively heating the conductive foreign matter contained in the detection object formed of the nonconductive material, and according to the temperature. The surface portion in the heat sensitive portion where the heat-sensitive recording material to be discolored is disposed at least on the surface portion is brought into contact with the detection target body that has performed the heat generation process to come into contact with the heat generation portion of the detection target body in the thermal recording material The detection corresponding to the discoloration part in the thermosensitive recording material is performed by performing heat-sensitive heat treatment for changing the part and imaging the surface part of the thermosensitive part with an optical camera and analyzing the imaging result of the optical camera. It detects that the said foreign material exists in the site | part of a target object.

さらに、請求項14記載の異物検出方法は、請求項11から13のいずれかに記載の異物検出方法において、前記検出対象体にマイクロ波を照射するマイクロ波照射処理、当該検出対象体に電子線を照射する電子線照射処理、および当該検出対象体の周囲に高周波磁界を生じさせる高周波磁界生成処理のいずれかを前記発熱処理として実行する。   Furthermore, the foreign matter detection method according to claim 14 is the foreign matter detection method according to any one of claims 11 to 13, wherein the detection target body is irradiated with a microwave, and the detection target body is an electron beam. Or the high frequency magnetic field generating process for generating a high frequency magnetic field around the detection object is executed as the heat generation process.

請求項1記載の異物検出装置では、発熱処理部が非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行し、温度検出部が検出対象体における各部の温度を検出し、分析検出部が温度検出部の温度検出結果を分析して、発熱処理によって発熱した発熱部位に異物が存在すると検出する。また、請求項11記載の異物検出方法では、非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行し、かつ、発熱処理を実行した検出対象体における各部の温度を検出すると共に、その温度検出結果を分析して、発熱処理によって発熱した発熱部位に異物が存在すると検出する。   The foreign matter detection apparatus according to claim 1, wherein the heat generation processing unit performs heat generation processing for selectively generating heat in the conductive foreign matter contained in the detection target body formed of a nonconductive material, and the temperature detection unit. Detects the temperature of each part in the detection object, and the analysis detection part analyzes the temperature detection result of the temperature detection part, and detects that there is a foreign object in the heat generation part that has generated heat by the heat generation process. Further, in the foreign matter detection method according to claim 11, a heat generation process for selectively generating heat is performed on the conductive foreign matter contained in the detection object formed of the nonconductive material, and the heat generation process is performed. While detecting the temperature of each part in the executed detection target object, the temperature detection result is analyzed, and it is detected that a foreign substance exists in the heat generation part that has generated heat by the heat generation process.

したがって、請求項1記載の異物検出装置、および請求項11記載の異物検出方法によれば、光学的撮像装置によって検出処理対象のフィルム樹脂層を撮像した画像信号を解析することでフィルム樹脂層内の異物を検出する従来の異物検査装置とは異なり、発熱処理によって発熱する「導電性を有する異物」だけを容易に検出することができるだけでなく、発熱処理によって発熱した異物、および異物の周囲の領域を含む十分に広い領域(発熱部位)の有無に基づいて異物の有無を特定することで、検出対象体における各部の温度をある程度広ピッチで検出したとしても、極く小さな異物についても確実に検出することができると共に、検出対象体における各部の温度を狭ピッチで検出する温度検出部や、大量のデータを短時間で処理し得る高い処理能力の分析検出部が不要となる結果、異物の検出に要するコストを十分に低減することができる。   Therefore, according to the foreign matter detection device according to claim 1 and the foreign matter detection method according to claim 11, the inside of the film resin layer is analyzed by analyzing the image signal obtained by imaging the film resin layer to be detected by the optical imaging device. Unlike conventional foreign matter inspection devices that detect foreign matter, it is possible not only to easily detect “conductive foreign matter” that generates heat due to heat generation processing, but also to foreign matter generated by heat generation processing and surroundings of foreign matters. By identifying the presence or absence of foreign matter based on the presence or absence of a sufficiently wide region (heating part) including the region, even if the temperature of each part of the detection target is detected at a certain wide pitch, it is possible to reliably detect extremely small foreign matter. It is possible to detect the temperature detection unit that detects the temperature of each part of the detection target object at a narrow pitch, and to process a large amount of data in a short time. Results analytical detection of the stomach capacity is not required, it is possible to sufficiently reduce the cost required for the detection of the foreign matter.

請求項2記載の異物検出装置、および請求項12記載の異物検出方法によれば、サーモカメラの撮像結果を温度検出結果として分析して、発熱部位に異物が存在すると検出することにより、検出対象体に対して非接触で各部の温度を検出することができるため、検出対象体を傷付けることなく、異物を検出することができると共に、発熱処理によって発熱した異物、および異物の周囲の領域を含む十分に広い領域(発熱部位)の有無に基づいて異物の有無を特定することで、比較的低解像度のサーモカメラによって極く小さな異物についても確実に検出することができるため、高解像度の撮像装置や、大量のデータを短時間で処理し得る高い処理能力の分析検出部が不要となる結果、異物の検出に要するコストを一層低減することができる。   According to the foreign matter detection device according to claim 2 and the foreign matter detection method according to claim 12, the detection result is analyzed by analyzing the imaging result of the thermo camera as a temperature detection result and detecting the presence of the foreign matter in the heat generation part. Since the temperature of each part can be detected in a non-contact manner with respect to the body, foreign objects can be detected without damaging the detection target body, and the foreign object generated by the heat generation process and the surrounding area of the foreign object are included. By identifying the presence or absence of a foreign substance based on the presence or absence of a sufficiently wide area (heating part), it is possible to reliably detect even a very small foreign object with a relatively low resolution thermo camera. In addition, as a result of eliminating the need for an analysis detection unit having a high processing capacity capable of processing a large amount of data in a short time, the cost required for detecting foreign matter can be further reduced.

請求項3記載の異物検出装置によれば、非導電性材料で帯状に形成された検出対象体を長手方向に沿って走行させて搬送する搬送機構を備えたことにより、検出対象体を静止させた状態で発熱処理および温度検出部による温度の検出を実行する構成と比較して、搬送機構によって検出対象体を走行させつつ、発熱処理や温度の検出を実行することで、帯状で長い検出対象体の全体を対象とする異物の検出を短時間で完了させることができる。   According to the foreign object detection device of claim 3, the detection target body is made stationary by including a transport mechanism that transports the detection target body formed in a strip shape with a non-conductive material along the longitudinal direction. Compared with a configuration that performs heat generation processing and temperature detection by the temperature detection unit in a state where the detection target body is run by the transport mechanism, the heat generation processing and temperature detection are performed while the detection target body is running, thereby detecting a long and long detection target. It is possible to complete the detection of a foreign object for the entire body in a short time.

請求項4記載の異物検出装置では、発熱処理部が非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行し、感熱処理部が温度に応じて変色する感熱記録材料が少なくとも表面部位に配設された感熱部の表面部位を発熱処理が実行された検出対象体に接触させて感熱記録材料における検出対象体の発熱部位に接した部位を変色させる感熱処理を実行し、光学カメラが感熱部の表面部位を撮像し、分析検出部が光学カメラの撮像結果を分析して、感熱記録材料における変色部位に対応する検出対象体の部位に異物が存在すると検出する。   5. The foreign matter detection apparatus according to claim 4, wherein the heat generation processing section performs heat generation processing for selectively generating heat in the conductive foreign matter contained in the detection target body formed of a non-conductive material, and the heat treatment processing section. The heat sensitive recording material whose color changes depending on the temperature is brought into contact with the detection target object on which the heat generation processing has been performed by contacting at least the surface part of the heat sensitive part where the heat sensitive recording material is disposed on the surface part. The optical camera images the surface part of the thermal part, the analysis detection part analyzes the imaging result of the optical camera, and the detection object corresponding to the color change part in the thermal recording material is executed. It is detected that a foreign object exists in the part.

また、請求項13記載の異物検出方法では、非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行すると共に、温度に応じて変色する感熱記録材料が少なくとも表面部位に配設された感熱部における表面部位を発熱処理を実行した検出対象体に接触させて感熱記録材料における検出対象体の発熱部位に接した部位を変色させる感熱処理を実行し、かつ、感熱部の表面部位を光学カメラによって撮像すると共に、光学カメラの撮像結果を分析して、感熱記録材料における変色部位に対応する検出対象体の部位に異物が存在すると検出する。   In the foreign matter detection method according to claim 13, a heat generation process for selectively generating heat from the conductive foreign matter contained in the detection target body formed of a non-conductive material is performed, and in accordance with the temperature. Sensation of changing the color of the part of the thermal recording material in contact with the heat generating part of the detection target by bringing the surface part in the thermal part where the heat sensitive recording material to be discolored is disposed at least on the surface part into contact with the target to be heated. Executes heat treatment and images the surface part of the heat sensitive part with an optical camera and analyzes the imaging result of the optical camera to detect the presence of foreign matter in the part of the detection target corresponding to the discolored part in the thermal recording material To do.

したがって、請求項4記載の異物検出装置、および請求項13記載の異物検出方法によれば、光学的撮像装置によって検出処理対象のフィルム樹脂層を撮像した画像信号を解析することでフィルム樹脂層内の異物を検出する従来の異物検査装置とは異なり、発熱処理によって発熱する「導電性を有する異物」だけを容易に検出することができるだけでなく、発熱処理によって発熱した異物、および異物の周囲の領域(発熱部位)に接した十分に広い領域(変色部位)の有無に基づいて異物の有無を特定することで、比較的低解像度の光学カメラによって極く小さな異物についても確実に検出することができると共に、高解像度の撮像装置や、大量のデータを短時間で処理し得る高い処理能力の分析検出部が不要となる結果、異物の検出に要するコストを十分に低減することができる。また、例えばサーモカメラによって発熱部位の有無を特定する構成と比較して光学カメラが安価であるため、異物の検出に要するコストを一層低減することができる。   Therefore, according to the foreign matter detection device according to claim 4 and the foreign matter detection method according to claim 13, the image signal in the film resin layer is analyzed by analyzing the image signal obtained by imaging the film resin layer to be detected by the optical imaging device. Unlike conventional foreign matter inspection devices that detect foreign matter, it is possible not only to easily detect “conductive foreign matter” that generates heat due to heat generation processing, but also to foreign matter generated by heat generation processing and surroundings of foreign matters. By identifying the presence / absence of a foreign substance based on the presence / absence of a sufficiently wide area (discolored part) in contact with the area (heating part), even a very small foreign substance can be reliably detected by a relatively low resolution optical camera. As a result, a high-resolution imaging device and a high-throughput analysis detector that can process a large amount of data in a short time are not required. Cost can be sufficiently reduced. In addition, since the optical camera is less expensive than a configuration in which the presence or absence of a heat generating part is specified by a thermo camera, for example, the cost required for detecting a foreign object can be further reduced.

請求項5記載の異物検出装置によれば、非導電性材料で帯状に形成された検出対象体を長手方向に沿って走行させて搬送する搬送機構を備えると共に、感熱処理部が、温度に応じて可逆的に変色する感熱記録材料が少なくとも周面に配設されてロール状に形成されると共に発熱処理が実行された検出対象体に周面が接触し、かつ、搬送機構による検出対象体の搬送に合わせて回転可能に配置された感熱ロールを感熱部として備えたことにより、検出対象体を静止させた状態で発熱処理、感熱処理、および光学カメラによる感熱部の撮像を実行する構成と比較して、搬送機構によって検出対象体を走行させつつ、発熱処理、感熱処理、および光学カメラによる感熱ロールの撮像を実行することで、帯状で長い検出対象体の全体を対象とする異物の検出を短時間で完了させることができる。   According to the foreign object detection device of claim 5, while including a transport mechanism that transports the detection target body formed in a strip shape with a non-conductive material along the longitudinal direction, the heat-sensitive part is in accordance with the temperature. The heat-sensitive recording material that is reversibly discolored is disposed at least on the peripheral surface, is formed in a roll shape, and the peripheral surface is in contact with the detection target body on which heat generation processing has been performed. Compared to a configuration that performs heat generation, heat treatment, and imaging of the heat sensitive part with an optical camera while the detection target is stationary by providing a heat sensitive roll as a heat sensitive part that can be rotated to be transported. Then, while the detection target body is caused to travel by the transport mechanism, the heat generation process, heat-sensitive processing, and imaging of the heat-sensitive roll by the optical camera are executed, thereby the foreign object targeting the entire long detection target body in a belt shape It can be completed quickly detect.

請求項6記載の異物検出装置によれば、光学カメラによる撮像が完了した周面を冷却する冷却部を備えたことにより、検出対象体における発熱部位に接触して変色した変色部位を感熱ロールの1回転につき1回の周期でリセットして変色前の色に戻すことができるため、変色部位の有無に基づく異物の検出精度を十分に高めることができる。   According to the foreign matter detection device of the sixth aspect, the cooling unit that cools the peripheral surface that has been imaged by the optical camera is provided. Since it is possible to reset to the color before the color change by one cycle per one rotation, it is possible to sufficiently increase the foreign matter detection accuracy based on the presence or absence of the color change part.

請求項7記載の異物検出装置では、発熱処理部が、検出対象体にマイクロ波を照射するマイクロ波照射部、検出対象体に電子線を照射する電子線照射部、および検出対象体の周囲に高周波磁界を生じさせる高周波磁界生成部のいずれかで構成されている。また、請求項14記載の異物検出方法では、検出対象体にマイクロ波を照射するマイクロ波照射処理、検出対象体に電子線を照射する電子線照射処理、および検出対象体の周囲に高周波磁界を生じさせる高周波磁界生成処理のいずれかを発熱処理として実行する。   In the foreign matter detection device according to claim 7, the heat generation processing unit includes a microwave irradiation unit that irradiates the detection target object with microwaves, an electron beam irradiation unit that irradiates the detection target object with an electron beam, and a periphery of the detection target object. The high-frequency magnetic field generating unit generates a high-frequency magnetic field. In the foreign matter detection method according to claim 14, a microwave irradiation process for irradiating the detection target object with microwaves, an electron beam irradiation process for irradiating the detection target object with an electron beam, and a high-frequency magnetic field around the detection target object One of the generated high-frequency magnetic field generation processes is executed as a heat generation process.

したがって、請求項7記載の異物検出装置、および請求項14記載の異物検出方法によれば、発熱処理に際して検出対象体に対して非接触で異物を発熱させることができるため、検出対象体を傷付けることなく、異物を検出することができる。   Therefore, according to the foreign matter detection device according to claim 7 and the foreign matter detection method according to claim 14, since the foreign matter can be heated without contact with the detection target body during the heat generation process, the detection target body is damaged. The foreign matter can be detected without any trouble.

請求項8記載の異物検出装置によれば、発熱処理部が、マイクロ波照射部を備えて構成されて、マイクロ波照射部は、周波数が相違する複数種類のマイクロ波を検出対象体に照射することにより、大きさや組成が相違する各種の異物を確実に検出することができる。   According to the foreign object detection device of claim 8, the heat generation processing unit is configured to include a microwave irradiation unit, and the microwave irradiation unit irradiates the detection target body with a plurality of types of microwaves having different frequencies. Thus, various foreign substances having different sizes and compositions can be reliably detected.

請求項9記載の異物検出装置によれば、発熱処理部が、高周波磁界生成部を備えて構成されて、高周波磁界生成部は、周波数が相違する複数種類の高周波磁界を検出対象体の周囲に生じさせることにより、大きさや組成が相違する各種の異物を確実に検出することができる。   According to the foreign object detection device of claim 9, the heat generation processing unit is configured to include a high frequency magnetic field generation unit, and the high frequency magnetic field generation unit has a plurality of types of high frequency magnetic fields having different frequencies around the detection target body. By generating it, various foreign substances having different sizes and compositions can be reliably detected.

また、請求項10記載の異物検出装置によれば、検出対象体において異物が存在すると特定した部位を特定可能にマーキングするマーキング部を備えたことにより、検出処理の完了後に、異物が存在する検出対象体のすべてを不良品として破棄することなく、異物が存在する部位を不良箇所特定用のマーキングに基づいて特定して、異物が存在する部位だけを破棄することができる。このため、検出対象体の製造の歩留まりを十分に向上させることができる。   In addition, according to the foreign object detection device of claim 10, the detection of the presence of foreign matter after the completion of the detection process is provided by providing a marking unit for marking the portion identified as foreign matter in the detection target. Without discarding all of the target objects as defective products, it is possible to identify a portion where foreign matter exists based on the marking for specifying the defective portion, and discard only the portion where foreign matter exists. For this reason, the yield of manufacture of a detection target body can fully be improved.

異物検出装置1の構成を示す構成図である。1 is a configuration diagram illustrating a configuration of a foreign object detection device 1. FIG. 「発熱部位」について説明するための説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating for demonstrating "a heat-generating part." 不良箇所特定用マークMを付した状態の樹脂フィルム20の平面図である。It is a top view of the resin film 20 of the state which attached | subjected the defect location identification mark M. FIG. 異物検出装置1Aの構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows the structure of 1 A of foreign material detection apparatuses. 他の「発熱部位」について説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating another "heat-generating part." 「変色部位」について説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating a "discoloration site | part."

以下、異物検出装置および異物検出方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of a foreign object detection device and a foreign object detection method will be described with reference to the accompanying drawings.

図1に示す異物検出装置1は、樹脂フィルム20(「検出対象体(検査対象体)」の一例)を対象として導電性を有する異物X(図2,3参照)を検出可能に構成された非破壊型の検出装置であって、搬送機構2、マイクロ波照射部3、サーモカメラ4、マーキング部5および処理部6を備えて構成されている。この場合、樹脂フィルム20は、一例として、電池やコンデンサ等の各種電子部品に用いられて隣接する導体間を絶縁するための絶縁フィルムであって、ポリプロピレンやポリエチレン等の樹脂材料(「非導電性材料」の一例)で長尺帯状に形成されて反物状に巻回されている。一方、図1に示すように、搬送機構2は、樹脂フィルム20が巻回された繰出し側ロール20a(検出処理前の樹脂フィルム20が巻回されているロール)を巻取り側ロール20b(検出処理後の樹脂フィルム20が巻回されるロール)に巻き取ることで樹脂フィルム20を長手方向に沿って矢印Bの向きに走行させて搬送可能に構成されている。   The foreign object detection device 1 shown in FIG. 1 is configured to be able to detect a conductive foreign object X (see FIGS. 2 and 3) for a resin film 20 (an example of “detection object (inspection object)”). This is a non-destructive detection device, and includes a transport mechanism 2, a microwave irradiation unit 3, a thermo camera 4, a marking unit 5, and a processing unit 6. In this case, as an example, the resin film 20 is an insulating film used for various electronic components such as a battery and a capacitor to insulate between adjacent conductors, and is a resin material such as polypropylene or polyethylene (“non-conductive” An example of “material” is formed into a long band shape and wound into a fabric. On the other hand, as shown in FIG. 1, the transport mechanism 2 is configured so that the feeding-side roll 20 a around which the resin film 20 is wound (the roll around which the resin film 20 before the detection process is wound) is wound around the winding-side roll 20 b (detection). The resin film 20 is made to run in the direction of the arrow B along the longitudinal direction by being wound on a roll around which the treated resin film 20 is wound.

具体的には、搬送機構2は、一例として、処理部6からの制御信号S2に従って、上記の巻取り側ロール20bを回転させるモータ2aを備えて構成されている。なお、「搬送機構」については、巻取り側ロール20bを回転させるためのモータ2aだけでなく、繰出し側ロール20aを回転させるためのモータ(図示せず)を備えて構成することもできる。また、図1では、異物検出装置1の構成についての理解を容易とするために、繰出し側ロール20aから巻取り側ロール20bに向けて樹脂フィルム20を直線的に走行させる構成の搬送機構2を図示しているが、実際の「搬送機構」には、樹脂フィルム20の走行方向を変化させたり、走行時に生じる振動を軽減したりするためのガイドローラや、樹脂フィルム20に対して所望の張力を付与するためのテンション機構などを備えている。   Specifically, the transport mechanism 2 includes, as an example, a motor 2a that rotates the winding-side roll 20b according to a control signal S2 from the processing unit 6. The “conveying mechanism” may be configured to include not only the motor 2a for rotating the winding side roll 20b but also a motor (not shown) for rotating the feeding side roll 20a. Moreover, in FIG. 1, in order to make an understanding about the structure of the foreign material detection apparatus 1 easy, the conveyance mechanism 2 of the structure which linearly travels the resin film 20 toward the winding side roll 20b from the delivery side roll 20a is shown. Although illustrated, the actual “conveying mechanism” includes a guide roller for changing the traveling direction of the resin film 20 and reducing vibration generated during traveling, and a desired tension with respect to the resin film 20. A tension mechanism or the like is provided for imparting.

マイクロ波照射部3は、繰出し側ロール20aと巻取り側ロール20bとの間に配置されている。このマイクロ波照射部3は、「発熱処理部」の一例であって、処理部6からの制御信号S3に従って、樹脂フィルム20にマイクロ波Wm(波長100μm〜1mの範囲内の電磁波:一例として、波長1000μmの電磁波)を照射することにより、上記の異物Xを選択的に発熱させる(「発熱処理」としての「マイクロ波照射処理」の一例)。なお、「異物Xを選択的に発熱させる」との処理には、「異物Xだけを発熱させる(樹脂フィルム20の樹脂材料を発熱させない)」との処理だけでなく、「異物Xを発熱させる際に樹脂フィルム20についても僅かに発熱する」との処理がこれに含まれる。   The microwave irradiation unit 3 is disposed between the feeding side roll 20a and the winding side roll 20b. The microwave irradiation unit 3 is an example of a “heat generation processing unit”, and in accordance with a control signal S3 from the processing unit 6, a microwave Wm (electromagnetic wave within a wavelength range of 100 μm to 1 m: as an example: The foreign matter X is selectively heated by irradiation with electromagnetic waves having a wavelength of 1000 μm (an example of “microwave irradiation processing” as “heat generation processing”). Note that the process of “heating the foreign matter X selectively” not only includes the process of “heating only the foreign matter X (not causing the resin material of the resin film 20 to generate heat)”, but also “heating the foreign matter X. In this case, the process of “the resin film 20 slightly generates heat” is included.

サーモカメラ4は、温度検出部の一例であって、マイクロ波照射部3と巻取り側ロール20bとの間に配置されると共に、処理部6からの制御信号S4に従って、マイクロ波照射部3によってマイクロ波Wmが照射された樹脂フィルム20を撮像することで樹脂フィルム20における各部の温度を検出し、その撮像データDa(一例として、赤外線画像のデータ)を「温度検出結果」として処理部6に出力する。マーキング部5は、一例として、図示しないインクジェットノズルを備えて、サーモカメラ4と巻取り側ロール20bとの間に配置されると共に、処理部6からの制御信号S5に従い、樹脂フィルム20に不良箇所特定用マークM(図3参照)を印刷する(「異物が存在すると特定した部位を特定可能にマーキングする」との処理の一例)。   The thermo camera 4 is an example of a temperature detection unit, and is disposed between the microwave irradiation unit 3 and the winding-side roll 20b, and is controlled by the microwave irradiation unit 3 in accordance with a control signal S4 from the processing unit 6. The temperature of each part in the resin film 20 is detected by imaging the resin film 20 irradiated with the microwave Wm, and the imaging data Da (infrared image data as an example) is sent to the processing unit 6 as a “temperature detection result”. Output. As an example, the marking unit 5 includes an inkjet nozzle (not shown), and is disposed between the thermo camera 4 and the take-up roll 20b, and in accordance with the control signal S5 from the processing unit 6, the resin film 20 has a defective portion. The identification mark M (see FIG. 3) is printed (an example of a process of “marking a specified region when a foreign object is present”).

処理部6は、異物検出装置1を総括的に制御する。具体的には、処理部6は、「制御部」に相当し、搬送機構2(モータ2a)を制御して樹脂フィルム20を搬送させると共に、マイクロ波照射部3を制御して樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射させ(上記の「発熱処理」としての「マイクロ波照射処理」を実行させ)、サーモカメラ4を制御して樹脂フィルム20を撮像させる(樹脂フィルム20における各部の温度を検出させる)。また、処理部6は、「分析検出部」に相当し、サーモカメラ4からの撮像データDa(「温度検出結果」としての「サーモカメラの撮像結果」の一例)を分析することにより、樹脂フィルム20においてマイクロ波Wmの照射によって発熱した発熱部位を特定し、特定した発熱部位に導電性を有する異物Xが存在すると特定する。さらに、処理部6は、樹脂フィルム20に異物Xが存在すると特定したときに、マーキング部5を制御して樹脂フィルム20に不良箇所特定用マークMを印刷させる。   The processing unit 6 controls the foreign object detection device 1 as a whole. Specifically, the processing unit 6 corresponds to a “control unit”, controls the transport mechanism 2 (motor 2a) to transport the resin film 20, and controls the microwave irradiation unit 3 to the resin film 20. Irradiate the microwave Wm (execute the “microwave irradiation process” as the “heat generation process”), and control the thermo camera 4 to image the resin film 20 (detect the temperature of each part in the resin film 20). ). The processing unit 6 corresponds to an “analysis detection unit”, and analyzes the imaging data Da from the thermo camera 4 (an example of the “imaging result of the thermo camera” as the “temperature detection result”) to thereby obtain a resin film. 20, the heat generating part that generates heat by the irradiation of the microwave Wm is specified, and it is specified that the foreign substance X having conductivity exists in the specified heat generating part. Further, when the processing unit 6 specifies that the foreign material X exists in the resin film 20, the processing unit 6 controls the marking unit 5 to print the defect location specifying mark M on the resin film 20.

この異物検出装置1による異物Xの検出処理に際しては、樹脂フィルム20が巻回された繰出し側ロール20aから樹脂フィルム20の端部を引き出して、モータ2aに固定されている巻取り側ロール20bにセットする。次いで、図示しない操作部の処理開始スイッチを操作する。この際に、処理部6は、まず、搬送機構2(モータ2a)に制御信号S2を出力して樹脂フィルム20の搬送を開始させる。この際には、モータ2aが巻取り側ロール20bを回転させることにより、樹脂フィルム20が繰出し側ロール20aから繰り出されて巻取り側ロール20bに巻き取られ、これにより、樹脂フィルム20が、その長手方向に沿って矢印Bの向きに走行させられて繰出し側ロール20aから巻取り側ロール20bに向けて搬送される。   When the foreign matter X is detected by the foreign matter detection device 1, the end portion of the resin film 20 is pulled out from the feeding side roll 20a around which the resin film 20 is wound, and the winding side roll 20b fixed to the motor 2a is pulled out. set. Next, a process start switch of an operation unit (not shown) is operated. At this time, the processing unit 6 first outputs a control signal S2 to the transport mechanism 2 (motor 2a) to start transporting the resin film 20. At this time, the motor 2a rotates the take-up roll 20b, so that the resin film 20 is drawn out from the take-up roll 20a and taken up by the take-up roll 20b. It is made to travel in the direction of arrow B along the longitudinal direction and is conveyed from the feeding side roll 20a toward the winding side roll 20b.

次いで、処理部6は、マイクロ波照射部3に制御信号S3を出力することにより、樹脂フィルム20に対するマイクロ波Wmの照射を開始させる。また、処理部6は、サーモカメラ4に制御信号S4を出力することにより、マイクロ波照射部3によってマイクロ波Wmが照射された樹脂フィルム20を撮像させる。これにより、マイクロ波Wmが照射されてから所定時間が経過した時点(「発熱処理」が実行されてから所定時間が経過した時点:マイクロ波Wmの照射位置からサーモカメラ4による撮像位置まで樹脂フィルム20が搬送されるのに要する時間が経過した時点)の樹脂フィルム20を撮像した撮像データDaがサーモカメラ4から順次出力される。   Next, the processing unit 6 starts to irradiate the resin film 20 with the microwave Wm by outputting the control signal S3 to the microwave irradiating unit 3. Further, the processing unit 6 outputs a control signal S4 to the thermo camera 4 so that the resin film 20 irradiated with the microwave Wm by the microwave irradiation unit 3 is imaged. Thus, when a predetermined time has elapsed since the microwave Wm was irradiated (when a predetermined time has elapsed since the “heat generation process” was performed: the resin film from the irradiation position of the microwave Wm to the imaging position of the thermo camera 4 The imaging data Da obtained by imaging the resin film 20 at the time when the time required for transporting 20 has elapsed is sequentially output from the thermo camera 4.

この場合、樹脂フィルム20内に導電性を有する異物Xが存在するときには、この異物Xがマイクロ波照射部3からのマイクロ波Wmを受けて発熱する。また、樹脂フィルム20内の異物Xが発熱したときには、異物Xに生じた熱が、上記の「所定時間」内において、その異物Xの周囲の樹脂材料(樹脂フィルム20の母材)に伝熱する。このため、樹脂フィルム20内に異物Xが存在し、この異物Xの存在部位にマイクロ波Wmが照射されたときには、図2に示すように、異物Xだけでなく、異物X、および異物Xの周囲の領域Aaの温度が、その周囲(領域Aaの周囲)の温度よりも高温となる。   In this case, when the conductive foreign matter X exists in the resin film 20, the foreign matter X receives the microwave Wm from the microwave irradiation unit 3 and generates heat. Further, when the foreign matter X in the resin film 20 generates heat, the heat generated in the foreign matter X is transferred to the resin material (the base material of the resin film 20) around the foreign matter X within the “predetermined time”. To do. For this reason, when the foreign matter X exists in the resin film 20 and the microwave Wm is irradiated to the existence site of the foreign matter X, not only the foreign matter X but also the foreign matter X and the foreign matter X are shown in FIG. The temperature of the surrounding area Aa is higher than the temperature of the surrounding area (around the area Aa).

したがって、処理部6は、サーモカメラ4から出力された撮像データDaを、樹脂フィルム20における各部の温度の検出結果(温度検出結果)として解析することにより、サーモカメラ4による撮像範囲内(樹脂フィルム20の長手方向の一部)に、周囲よりも高温の部位(すなわち、マイクロ波Wmの照射によって発熱した部位:「発熱部位」)が存在するか否かを判別する。また、処理部6は、発熱部位が存在すると判別したときに、マイクロ波Wmを受けて発熱する異物X、すなわち、導電性を有する異物Xが発熱部位に存在すると特定する。この場合、上記したように、樹脂フィルム20内に異物Xが存在し、この異物Xにマイクロ波Wmが照射されたときには、異物Xだけでなく、異物Xの周囲の領域Aaの温度が、その周囲よりも高温となる。したがって、樹脂フィルム20内に存在する異物Xが極く小さな場合であっても、比較的低解像度のサーモカメラ4(樹脂フィルム20における各部の温度をある程度広ピッチで検出する「温度検出部」の一例)によって、発熱部位を十分に特定することが可能となっている。   Therefore, the processing unit 6 analyzes the imaging data Da output from the thermo camera 4 as a temperature detection result (temperature detection result) of each part in the resin film 20, so that it is within the imaging range of the thermo camera 4 (resin film It is determined whether or not a part having a higher temperature than the surroundings (that is, a part that generates heat by irradiation with the microwave Wm: “heating part”) exists in a part of the longitudinal direction of 20. In addition, when the processing unit 6 determines that the heat generation site exists, the processing unit 6 specifies that the foreign material X that generates heat upon receiving the microwave Wm, that is, the conductive foreign material X exists in the heat generation site. In this case, as described above, when the foreign matter X exists in the resin film 20 and the foreign matter X is irradiated with the microwave Wm, not only the foreign matter X but also the temperature of the area Aa around the foreign matter X is It becomes hotter than the surroundings. Therefore, even if the foreign matter X present in the resin film 20 is extremely small, the relatively low resolution thermo camera 4 (a “temperature detection unit” for detecting the temperature of each part in the resin film 20 at a certain degree of wide pitch). (Example) makes it possible to sufficiently specify the heat generation site.

一方、異物Xが存在すると特定したときには、処理部6は、マーキング部5に制御信号S5を出力することにより、図3に示すように、異物Xが存在すると特定した部位に不良箇所特定用マークMを印刷させる(「異物が存在すると特定した部位を特定可能にマーキングする」との処理の一例)。この後、処理部6は、繰出し側ロール20aに巻回されているすべての樹脂フィルム20が巻取り側ロール20bに巻き取られるまで、樹脂フィルム20に対するマイクロ波Wmの照射、およびサーモカメラ4による撮像を継続して実行させる。また、処理部6は、サーモカメラ4から出力された撮像データDaを解析して、異物Xの有無を判別すると共に、異物Xが存在すると特定したときには、マーキング部5を制御して不良箇所特定用マークMを印刷させる。これにより、樹脂フィルム20を対象とする「導電性を有する異物X」の検出処理が完了する。   On the other hand, when it is specified that the foreign object X exists, the processing unit 6 outputs a control signal S5 to the marking unit 5, thereby, as shown in FIG. M is printed (an example of a process of “marking a specified part when a foreign object is present”). Thereafter, the processing unit 6 applies the microwave Wm to the resin film 20 and the thermo camera 4 until all the resin films 20 wound around the feeding side roll 20a are wound around the winding side roll 20b. Continue to perform imaging. Further, the processing unit 6 analyzes the imaging data Da output from the thermo camera 4 to determine the presence or absence of the foreign matter X. When the processing unit 6 identifies that the foreign matter X exists, the processing unit 6 controls the marking unit 5 to identify the defective portion. Mark M is printed. Thereby, the detection process of the “conductive foreign matter X” for the resin film 20 is completed.

このように、この異物検出装置1では、マイクロ波照射部3が樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射することで樹脂フィルム20に含まれている導電性を有する異物Xを選択的に発熱させる「発熱処理」を実行し、サーモカメラ4によって樹脂フィルム20を撮像することで樹脂フィルム20における各部の温度を検出し、処理部6がサーモカメラ4の撮像結果(温度検出結果:この例では、撮像データDa)を分析して、上記の「発熱処理」によって発熱した発熱部位に異物Xが存在すると検出する。また、この異物検出装置1による異物検出方法では、樹脂フィルム20に含まれている導電性を有する異物Xを選択的に発熱させる「発熱処理」を実行し、かつ、「発熱処理」を実行した樹脂フィルム20をサーモカメラ4によって撮像することで樹脂フィルム20における各部の温度を検出すると共に、サーモカメラの撮像結果(温度検出結果:この例では、撮像データDa)を分析して、「発熱処理」によって発熱した発熱部位に異物Xが存在すると検出する。   As described above, in the foreign object detection apparatus 1, the microwave irradiation unit 3 irradiates the resin film 20 with the microwave Wm, so that the conductive foreign substance X included in the resin film 20 is selectively heated. The temperature of each part in the resin film 20 is detected by imaging the resin film 20 with the thermo camera 4 and the processing unit 6 detects the imaging result of the thermo camera 4 (temperature detection result: in this example, imaging) Data Da) is analyzed, and it is detected that the foreign matter X is present in the heat generating portion that has generated heat by the above “heat generation processing”. Further, in the foreign matter detection method by the foreign matter detection device 1, the “heat generation process” for selectively heating the conductive foreign matter X contained in the resin film 20 is executed and the “heat generation process” is executed. The temperature of each part in the resin film 20 is detected by imaging the resin film 20 with the thermo camera 4, and the imaging result of the thermo camera (temperature detection result: imaging data Da in this example) is analyzed to obtain “heat generation processing”. It detects that the foreign material X exists in the heat-generating part which generated heat | fever.

したがって、この異物検出装置1、および異物検出装置1による異物検出方法によれば、光学的撮像装置によって検出処理対象のフィルム樹脂層を撮像した画像信号を解析することでフィルム樹脂層内の異物を検出する従来の異物検査装置とは異なり、「発熱処理(この例では、マイクロ波Wmの照射)」によって発熱する「導電性を有する異物X」だけを容易に検出することができるだけでなく、「発熱処理」によって発熱した異物X、および異物Xの周囲の領域Aaを含む十分に広い領域(発熱部位)の有無に基づいて異物Xの有無を特定することで、樹脂フィルム20における各部の温度をある程度広ピッチで検出したとしても、極く小さな異物Xについても確実に検出することができると共に、樹脂フィルム20における各部の温度を狭ピッチで検出する温度検出部や、大量のデータを短時間で処理し得る高い処理能力の「分析検出部」が不要となる結果、異物Xの検出に要するコストを十分に低減することができる。   Therefore, according to the foreign matter detection device 1 and the foreign matter detection method using the foreign matter detection device 1, the foreign matter in the film resin layer is analyzed by analyzing the image signal obtained by imaging the film resin layer to be detected by the optical imaging device. Unlike the conventional foreign matter inspection apparatus to detect, not only can “conductive foreign matter X” that generates heat by “heat generation processing (in this example, irradiation with microwave Wm)” be easily detected, The temperature of each part in the resin film 20 is determined by specifying the presence or absence of the foreign matter X based on the presence or absence of the foreign matter X generated by the heat generation process and the sufficiently large region (heating portion) including the region Aa around the foreign matter X. Even if it is detected at a certain wide pitch, it is possible to reliably detect even a very small foreign matter X, and the temperature of each part in the resin film 20. As a result of eliminating the need for a temperature detection unit that detects at a narrow pitch and a high-performance “analysis detection unit” that can process a large amount of data in a short time, the cost required to detect foreign matter X can be sufficiently reduced. .

また、この異物検出装置1、および異物検出装置1による異物検出方法によれば、サーモカメラ4の撮像結果(この例では、撮像データDa)を「温度検出結果」として分析して、発熱部位に異物Xが存在すると検出することにより、樹脂フィルム20に対して非接触で各部の温度を検出することができるため、樹脂フィルム20を傷付けることなく、異物Xを検出することができると共に、発熱処理によって発熱した異物X、および異物Xの周囲の領域を含む十分に広い領域(発熱部位)の有無に基づいて異物Xの有無を特定することで、比較的低解像度のサーモカメラ4によって極く小さな異物Xについても確実に検出することができるため、高解像度の撮像装置や、大量のデータを短時間で処理し得る高い処理能力の「分析検出部」が不要となる結果、異物の検出に要するコストを一層低減することができる。   Further, according to the foreign matter detection device 1 and the foreign matter detection method by the foreign matter detection device 1, the imaging result of the thermocamera 4 (in this example, the imaging data Da) is analyzed as a “temperature detection result” to generate a heat generation site. By detecting the presence of the foreign matter X, the temperature of each part can be detected in a non-contact manner with respect to the resin film 20, so that the foreign matter X can be detected without damaging the resin film 20, and heat generation processing is performed. By specifying the presence or absence of the foreign matter X based on the presence or absence of the foreign matter X that has generated heat and the sufficiently large area (heating part) including the surrounding area of the foreign matter X, the thermocamera 4 having a relatively low resolution is extremely small. Since foreign matter X can be reliably detected, a high-resolution imaging device and a high-processing “analysis detection unit” capable of processing a large amount of data in a short time Essential to become a result, it is possible to further reduce the cost required for the detection of the foreign matter.

さらに、この異物検出装置1によれば、非導電性材料で帯状に形成された樹脂フィルム20を長手方向に沿って走行させて搬送する搬送機構2を備えたことにより、樹脂フィルム20を静止させた状態で「発熱処理(例えば、マイクロ波Wmの照射)」および「温度検出部」による温度の検出(サーモカメラ4による撮像)を実行する構成と比較して、搬送機構2によって樹脂フィルム20を走行させつつ、「発熱処理」や「温度の検出(サーモカメラ4による撮像)」を実行することで、帯状で長い樹脂フィルム20の全体を対象とする異物Xの検出を短時間で完了させることができる。   Furthermore, according to the foreign matter detection device 1, the resin film 20 is stopped by providing the transport mechanism 2 that transports the resin film 20 formed in a strip shape of a non-conductive material along the longitudinal direction. Compared to a configuration in which “heating processing (for example, irradiation of microwave Wm)” and “temperature detection by the temperature detection unit” (imaging by the thermo camera 4) is performed, the transport mechanism 2 causes the resin film 20 to be removed. By executing “heat generation processing” and “temperature detection (imaging by the thermo camera 4)” while running, detection of the foreign matter X targeting the entire belt-like long resin film 20 is completed in a short time. Can do.

また、この異物検出装置1では、樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射するマイクロ波照射部3によって「発熱処理部」が構成されている。さらに、この異物検出装置1による異物検出方法では、樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射する「マイクロ波照射処理」を「発熱処理」として実行する。 したがって、この異物検出装置1、および異物検出装置1による異物検出方法によれば、「発熱処理」に際して樹脂フィルム20に対して非接触で異物Xを発熱させることができるため、樹脂フィルム20を傷付けることなく、異物Xを検出することができる。   In the foreign matter detection apparatus 1, a “heat generation processing unit” is configured by the microwave irradiation unit 3 that irradiates the resin film 20 with the microwave Wm. Further, in the foreign matter detection method by the foreign matter detection device 1, “microwave irradiation processing” for irradiating the resin film 20 with the microwave Wm is executed as “heat generation processing”. Therefore, according to the foreign matter detection device 1 and the foreign matter detection method using the foreign matter detection device 1, the foreign matter X can be heated in a non-contact manner with respect to the resin film 20 during the “heat generation process”, and thus the resin film 20 is damaged. The foreign matter X can be detected without any problem.

また、この異物検出装置1によれば、樹脂フィルム20において異物Xが存在すると特定した部位を特定可能にマーキングする(この例では、不良箇所特定用マークMを印刷する)マーキング部5を備えたことにより、検出処理の完了後に、異物Xが存在する樹脂フィルム20のすべてを不良品として破棄することなく、異物Xが存在する部位を不良箇所特定用マークMに基づいて特定して、異物Xが存在する部位だけを破棄することができる。このため、樹脂フィルム20の製造の歩留まりを十分に向上させることができる。   Moreover, according to this foreign material detection apparatus 1, the marking part 5 which marks the site | part specified that the foreign material X exists in the resin film 20 so that identification is possible (in this example, the defect location identification mark M is printed) was provided. Thus, after the detection process is completed, the part where the foreign substance X exists is specified based on the defective part specifying mark M without discarding all of the resin film 20 where the foreign substance X exists as a defective product. It is possible to discard only the part where the exists. For this reason, the yield of manufacture of the resin film 20 can fully be improved.

次に、異物検出装置および異物検出方法の他の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。なお、前述した異物検出装置1と同様の構成要素については、同一の符号を付して重複する説明を省略する。   Next, another embodiment of the foreign object detection device and the foreign object detection method will be described with reference to the accompanying drawings. In addition, about the component similar to the foreign material detection apparatus 1 mentioned above, the same code | symbol is attached | subjected and the overlapping description is abbreviate | omitted.

図4に示す異物検出装置1Aは、前述した異物検出装置1と同様にして樹脂フィルム20を破壊することなく異物Xを検出可能な非破壊型の検出装置であって、搬送機構2、マイクロ波照射部3、マーキング部5、処理部6、感熱ロール11、クリーナ12、冷却部13および光学カメラ14を備えて構成されている。   A foreign matter detection apparatus 1A shown in FIG. 4 is a non-destructive detection apparatus that can detect the foreign matter X without destroying the resin film 20 in the same manner as the foreign matter detection apparatus 1 described above. The irradiation unit 3, the marking unit 5, the processing unit 6, the thermal roll 11, the cleaner 12, the cooling unit 13, and the optical camera 14 are configured.

感熱ロール11は、「感熱部」の一例であって、温度に応じて可逆的に変色する感熱記録材料が周面に配設されてロール状に形成されると共に、マイクロ波Wmが照射された樹脂フィルム20に周面が接触し、かつ、搬送機構2による樹脂フィルム20の搬送に合わせて回転可能に図示しない支持部材によって軸支されて、マイクロ波照射部3と巻取り側ロール20bとの間に配置されている。この場合、感熱ロール11の周面に配設された感熱記録材料は、一例として、常温(例えば25℃)において白色で、予め規定された規定温度(例えば、100℃)を超えて温度上昇させられたときに黒色に変色する発色型可逆感熱材料で構成されている。また、この感熱ロール11では、上記の感熱記録材料として、マイクロ波Wmの照射によって発熱しない材料が用いられると共に、感熱記録材料以外の部位についてもマイクロ波Wmの照射によって発熱しない材料(一例として、樹脂材料)で形成されている。   The heat-sensitive roll 11 is an example of a “heat-sensitive part”, and a heat-sensitive recording material that reversibly discolors according to temperature is disposed on the peripheral surface to be formed into a roll shape and irradiated with a microwave Wm. The peripheral surface is in contact with the resin film 20 and is pivotally supported by a support member (not shown) so as to be rotatable in accordance with the conveyance of the resin film 20 by the conveyance mechanism 2, so that the microwave irradiation unit 3 and the take-up roll 20 b Arranged between. In this case, the heat-sensitive recording material disposed on the peripheral surface of the heat-sensitive roll 11 is, for example, white at normal temperature (for example, 25 ° C.), and the temperature is increased over a predetermined temperature (for example, 100 ° C.). It is composed of a coloring type reversible thermosensitive material that turns black when applied. In the thermal roll 11, a material that does not generate heat due to irradiation with the microwave Wm is used as the above-described thermal recording material, and a material that does not generate heat due to irradiation with the microwave Wm also as a part other than the thermal recording material (for example, Resin material).

クリーナ12は、一例としてブラシで構成されて感熱ロール11の周面に付着した塵埃を除去する。なお、この異物検出装置1Aでは、上記の感熱ロール11と、感熱ロール11を軸支する支持部材と、クリーナ12とが相まって「感熱処理部」を構成する。冷却部13は、感熱ロール11の周面に対向配置されると共に、処理部6からの制御信号S13に従い、後述するように光学カメラ14による撮像が完了した部位(感熱ロール11の周面)を冷却する。この場合、上記したように、感熱ロール11の周面には、温度に応じて可逆的に変色する感熱記録材料が配設されている。したがって、感熱ロール11の周面において温度上昇に伴って変色した(この例では、黒色に変色した)部位が、その周囲(変色した部位の周囲)と共に冷却部13によって冷却されることで、感熱ロール11の周面に配設された感熱記録材料が常温のときと同じ色(この例では、白色)に変色(元の白色に復帰)させられる。光学カメラ14は、感熱ロール11と巻取り側ロール20bとの間に配置されると共に、処理部6からの制御信号S14に従って、感熱ロール11の周面を撮像して撮像データDb(一例として、モノクロ画像のデータ)を処理部6に出力する。   The cleaner 12 is configured by a brush as an example, and removes dust attached to the peripheral surface of the thermal roll 11. In this foreign matter detection apparatus 1A, the above-mentioned heat-sensitive roll 11, the support member that pivotally supports the heat-sensitive roll 11, and the cleaner 12 constitute a “heat-sensitive part”. The cooling unit 13 is disposed so as to face the peripheral surface of the thermal roll 11, and in accordance with a control signal S13 from the processing unit 6, a part (peripheral surface of the thermal roll 11) that has been imaged by the optical camera 14 as described later. Cooling. In this case, as described above, the thermal recording material that reversibly discolors according to the temperature is disposed on the peripheral surface of the thermal roll 11. Accordingly, the portion of the peripheral surface of the heat-sensitive roll 11 that has changed color as the temperature increases (in this example, changed to black) is cooled by the cooling unit 13 together with its surroundings (around the portion that has changed color). The heat-sensitive recording material disposed on the peripheral surface of the roll 11 is changed to the same color (white in this example) as that at normal temperature (returned to the original white). The optical camera 14 is disposed between the heat-sensitive roll 11 and the take-up roll 20b, and images the peripheral surface of the heat-sensitive roll 11 according to a control signal S14 from the processing unit 6 to obtain image data Db (for example, Monochrome image data) is output to the processing unit 6.

この異物検出装置1Aによる異物Xの検出処理に際しては、前述した異物検出装置1による異物Xの検出処理時と同様にして、搬送機構2のモータ2aが処理部6からの制御信号S2に従って巻取り側ロール20bを回転させることで樹脂フィルム20を繰り出して巻取り側ロール20bに巻き取る。これにより、樹脂フィルム20が、その長手方向に沿って走行させられて繰出し側ロール20aから巻取り側ロール20bに向けて矢印Bの向きに搬送される。次いで、処理部6は、マイクロ波照射部3に制御信号S3を出力することにより、樹脂フィルム20に対するマイクロ波Wmの照射を開始させる。また、処理部6は、光学カメラ14に制御信号S14を出力することにより、感熱ロール11の周面を撮像させる。これにより、樹脂フィルム20に対してマイクロ波Wmが照射されてから所定時間が経過した(「発熱処理」が実行されてから所定時間が経過した:マイクロ波Wmの照射位置から感熱ロール11の周面に接する位置まで樹脂フィルム20が搬送されるのに要する時間が経過した)の樹脂フィルム20に接した感熱ロール11を撮像した撮像データDbが光学カメラ14から順次出力される。   When the foreign object X is detected by the foreign object detection device 1A, the motor 2a of the transport mechanism 2 is wound in accordance with the control signal S2 from the processing unit 6 in the same manner as the foreign object X detection process by the foreign object detection device 1 described above. By rotating the side roll 20b, the resin film 20 is drawn out and taken up on the take-up side roll 20b. Thereby, the resin film 20 is made to run along the longitudinal direction, and is conveyed in the direction of arrow B toward the winding side roll 20b from the supply side roll 20a. Next, the processing unit 6 starts to irradiate the resin film 20 with the microwave Wm by outputting the control signal S3 to the microwave irradiating unit 3. In addition, the processing unit 6 outputs a control signal S14 to the optical camera 14 to image the peripheral surface of the thermal roll 11. As a result, a predetermined time has elapsed since the microwave Wm was applied to the resin film 20 (a predetermined time has elapsed since the “heating process” was performed: the circumference of the thermal roll 11 from the irradiation position of the microwave Wm. Imaging data Db obtained by imaging the thermal roll 11 in contact with the resin film 20 (the time required for the resin film 20 to be conveyed to a position in contact with the surface) is sequentially output from the optical camera 14.

この際に、樹脂フィルム20内に異物Xが存在するときには、マイクロ波Wmの照射によって異物Xが発熱し、図5に示すように、異物X、および異物Xの周囲の領域Ab1が、上記の「所定時間」内において、その周囲(領域Ab1の周囲)よりも高温となる。また、この異物検出装置1Aでは、感熱記録材料が配設されている周面を樹脂フィルム20に接触させた状態で感熱ロール11を樹脂フィルム20の搬送に合わせて回転させる構成が採用されている。このため、図4に示す矢印Bの向きに樹脂フィルム20が搬送されて、マイクロ波Wmの照射によって温度上昇した部位(異物Xおよびその周囲の領域Ab)が感熱ロール11の周面に接したときには、図6に示すように、樹脂フィルム20における上記の発熱部位に接した領域Ab2の感熱記録材料が黒色に変色する(「感熱処理」の一例)。   At this time, when the foreign matter X exists in the resin film 20, the foreign matter X is heated by the irradiation of the microwave Wm, and as shown in FIG. 5, the foreign matter X and the region Ab1 around the foreign matter X are Within the “predetermined time”, the temperature is higher than the surrounding area (around the area Ab1). Further, the foreign matter detection apparatus 1A employs a configuration in which the thermal roll 11 is rotated in accordance with the conveyance of the resin film 20 in a state where the peripheral surface on which the thermal recording material is disposed is in contact with the resin film 20. . For this reason, the resin film 20 is conveyed in the direction of the arrow B shown in FIG. 4, and the portion (foreign matter X and the surrounding region Ab) whose temperature is increased by the irradiation with the microwave Wm is in contact with the peripheral surface of the thermal roll 11. In some cases, as shown in FIG. 6, the heat-sensitive recording material in the region Ab <b> 2 in contact with the heat-generating portion of the resin film 20 turns black (an example of “heat-sensitive”).

したがって、処理部6は、光学カメラ14から出力された撮像データDbを解析することにより、光学カメラ14による撮像範囲内(感熱ロール11の周面の一部)に、周囲よりも高温の部位(マイクロ波Wmの照射による樹脂フィルム20の発熱部位)に接触して変色した部位(領域Ab2:変色部位)が存在するか否かを判別する。また、処理部6は、変色部位が存在すると判別したときに、その変色部位に接触した樹脂フィルム20の対応する部位に、マイクロ波Wmを受けて発熱する異物X、すなわち、導電性を有する異物Xが存在すると特定する。この場合、上記したように、樹脂フィルム20内に異物Xが存在し、この異物Xにマイクロ波Wmが照射されたときには、異物Xだけでなく、異物Xの周囲の領域Ab1の温度が、その周囲よりも高温となる。このため、感熱ロール11の周面において、異物Xおよび領域Ab1に接した十分に広い領域Ab2が温度に応じて変色することとなる。したがって、樹脂フィルム20内に存在する異物Xが極く小さな場合であっても、比較的低解像度の光学カメラ14によって、変色部位(領域Ab2)を確実に特定することが可能となっている。   Therefore, the processing unit 6 analyzes the imaging data Db output from the optical camera 14, and thereby, within the imaging range by the optical camera 14 (part of the peripheral surface of the thermal roll 11) It is determined whether or not there is a portion (region Ab2: discolored portion) that has changed color in contact with the heat generation portion of the resin film 20 due to irradiation with the microwave Wm. In addition, when the processing unit 6 determines that a discolored part exists, the foreign substance X that generates heat by receiving the microwave Wm at the corresponding part of the resin film 20 in contact with the discolored part, that is, a conductive foreign substance. Specify that X exists. In this case, as described above, when the foreign matter X exists in the resin film 20 and the foreign matter X is irradiated with the microwave Wm, the temperature of not only the foreign matter X but also the region Ab1 around the foreign matter X is It becomes hotter than the surroundings. For this reason, on the peripheral surface of the heat-sensitive roll 11, a sufficiently large region Ab2 in contact with the foreign matter X and the region Ab1 changes color according to the temperature. Therefore, even when the foreign matter X present in the resin film 20 is extremely small, the discoloration portion (region Ab2) can be reliably specified by the optical camera 14 having a relatively low resolution.

一方、異物Xが存在すると特定したときには、処理部6は、マーキング部5に制御信号S5を出力することにより、図3に示すように、異物Xが存在すると特定した部位に不良箇所特定用マークMを印刷させる。また、感熱ロール11の回転に伴って、上記の発熱部位に接触して黒色に変色した変色部位が冷却部13の位置まで到達したときには、周面に配設されている感熱記録材料が冷却部13による冷却によって冷却されて白色に変色する。この後、処理部6は、繰出し側ロール20aに巻回されているすべての樹脂フィルム20が巻取り側ロール20bに巻き取られるまで、樹脂フィルム20に対するマイクロ波Wmの照射および光学カメラ14による感熱ロール11の撮像を継続して実行させる。また、処理部6は、光学カメラ14から出力された撮像データDbを解析して、異物Xの有無を判別すると共に、異物Xが存在すると特定したときには、マーキング部5を制御して不良箇所特定用マークMを印刷させる。これにより、樹脂フィルム20を対処とする「導電性を有する異物X」の検出処理が完了する。   On the other hand, when it is specified that the foreign object X exists, the processing unit 6 outputs a control signal S5 to the marking unit 5, thereby, as shown in FIG. M is printed. Further, when the discolored portion that has changed to black due to the rotation of the heat-sensitive roll 11 reaches the position of the cooling unit 13 when it contacts the heat generating portion and reaches the position of the cooling unit 13, the heat-sensitive recording material disposed on the peripheral surface becomes the cooling unit. It is cooled by cooling with 13 and turns white. Thereafter, the processing unit 6 irradiates the resin film 20 with the microwave Wm and heats the optical camera 14 until all the resin films 20 wound around the feeding side roll 20a are wound around the winding side roll 20b. The imaging of the roll 11 is continuously executed. Further, the processing unit 6 analyzes the imaging data Db output from the optical camera 14 to determine the presence or absence of the foreign matter X. When the processing unit 6 identifies that the foreign matter X exists, the processing unit 6 controls the marking unit 5 to identify the defective portion. Mark M is printed. Thereby, the detection process of “contaminating foreign matter X” with the resin film 20 as a countermeasure is completed.

このように、この異物検出装置1Aでは、マイクロ波照射部3が樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射することで樹脂フィルム20に含まれている導電性を有する異物Xを選択的に発熱させる「発熱処理」を実行し、「感熱処理部(本例では、感熱ロール11、感熱ロール11の支持部材、およびクリーナ12)」が感熱ロール11の表面部位を「発熱処理」が実行された樹脂フィルム20に接触させて感熱ロール11の感熱記録材料における樹脂フィルム20の発熱部位に接した部位を変色させる「感熱処理」を実行し、光学カメラ14が感熱ロール11の表面部位を撮像し、処理部6が光学カメラ14の撮像結果(この例では、撮像データDb)を分析して、感熱記録材料における変色部位に対応する樹脂フィルム20の部位に異物Xが存在すると検出する。   Thus, in this foreign matter detection apparatus 1A, the microwave irradiating unit 3 irradiates the resin film 20 with the microwave Wm, whereby the conductive foreign matter X contained in the resin film 20 is selectively heated. “Heat treatment” (in this example, the heat sensitive roll (the heat sensitive roll 11, the supporting member of the heat sensitive roll 11, and the cleaner 12) ”is the resin film on which the heat generating roll 11 is subjected to the“ heat treatment ”. 20, a “heat-sensitive heat treatment” is performed in which the portion of the heat-sensitive recording material of the heat-sensitive roll 11 in contact with the heat-generating portion of the resin film 20 is discolored, and the optical camera 14 images the surface portion of the heat-sensitive roll 11, and the processing unit 6 shows an imaging result of the optical camera 14 (in this example, imaging data Db), and a foreign matter is detected on the portion of the resin film 20 corresponding to the discolored portion in the heat-sensitive recording material. There is detected to be present.

また、この異物検査装置1Aによる異物検出方法では、樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射することで樹脂フィルム20に含まれている導電性を有する異物Xを選択的に発熱させる「発熱処理」を実行すると共に、温度に応じて変色する感熱記録材料が少なくとも表面部位に配設された感熱ロール11の表面部位(周面)を、「発熱処理」を実行した樹脂フィルム20に接触させて感熱記録材料における樹脂フィルム20の発熱部位に接した部位を変色させる「感熱処理」を実行し、かつ、感熱ロール11の表面部位を光学カメラ14によって撮像すると共に、光学カメラ14の撮像結果(この例では、撮像データDb)を分析して、感熱記録材料における変色部位に対応する樹脂フィルム20の部位に異物Xが存在すると検出する。   Further, in the foreign matter detection method by the foreign matter inspection apparatus 1A, a “heat generation process” for selectively heating the conductive foreign matter X contained in the resin film 20 by irradiating the resin film 20 with the microwave Wm is performed. The surface portion (peripheral surface) of the heat-sensitive roll 11 in which the heat-sensitive recording material that changes color according to temperature is disposed at least on the surface portion is brought into contact with the resin film 20 on which “exothermic treatment” has been performed. “Heat-sensitive heat treatment” for changing the color of the part of the resin film 20 in contact with the heat-generating part is performed, and the surface part of the heat-sensitive roll 11 is imaged by the optical camera 14, and the imaging result of the optical camera 14 (in this example) Then, the imaging data Db) is analyzed, and it is detected that the foreign matter X is present in the portion of the resin film 20 corresponding to the discolored portion in the thermosensitive recording material.

したがって、この異物検出装置1A、および異物検出装置1Aによる異物検出方法によれば、光学的撮像装置によって検出処理対象のフィルム樹脂層を撮像した画像信号を解析することでフィルム樹脂層内の異物を検出する従来の異物検査装置とは異なり、「発熱処理(この例では、マイクロ波Wmの照射)」によって発熱する「導電性を有する異物X」だけを容易に検出することができるだけでなく、「発熱処理」によって発熱した異物X、および異物Xの周囲の領域Ab1(発熱部位)に接した十分に広い領域Ab2(変色部位)の有無に基づいて異物Xの有無を特定することで、比較的低解像度の光学カメラ14によって極く小さな異物Xについても確実に検出することができると共に、高解像度の撮像装置や、大量のデータを短時間で処理し得る高い処理能力の「分析検出部」が不要となる結果、異物Xの検出に要するコストを十分に低減することができる。また、前述した異物検出装置1におけるサーモカメラ4と比較して光学カメラ14が安価であるため、異物Xの検出に要するコストを一層低減することができる。   Therefore, according to the foreign matter detection device 1A and the foreign matter detection method by the foreign matter detection device 1A, the foreign matter in the film resin layer is analyzed by analyzing the image signal obtained by imaging the film resin layer to be detected by the optical imaging device. Unlike the conventional foreign matter inspection apparatus to detect, not only can “conductive foreign matter X” that generates heat by “heat generation processing (in this example, irradiation with microwave Wm)” be easily detected, By specifying the presence / absence of the foreign matter X based on the presence / absence of the foreign matter X generated by the heat generation process and the sufficiently large region Ab2 (discoloration portion) in contact with the region Ab1 (heating portion) around the foreign matter X, An extremely small foreign object X can be reliably detected by the low-resolution optical camera 14, and a high-resolution imaging device or a large amount of data can be quickly detected. Results "analytical detection portion" of the high throughput that can be treated is not required, it is possible to sufficiently reduce the cost required for the detection of the foreign matter X. Further, since the optical camera 14 is less expensive than the thermo camera 4 in the foreign object detection device 1 described above, the cost required for detecting the foreign object X can be further reduced.

また、この異物検出装置1Aによれば、非導電性材料で帯状に形成された樹脂フィルム20を長手方向に沿って走行させて搬送する搬送機構2を備えると共に、「感熱処理部」が、温度に応じて可逆的に変色する感熱記録材料が少なくとも周面に配設されてロール状に形成されると共に「発熱処理」が実行された樹脂フィルム20に周面が接触し、かつ、搬送機構2による樹脂フィルム20の搬送に合わせて回転可能に配置された感熱ロール11を「感熱部」として備えたことにより、樹脂フィルム20を静止させた状態で「発熱処理(例えば、マイクロ波Wmの照射)」、「感熱処理(樹脂フィルム20に感熱部を接触させる処理)」、および光学カメラ14による「感熱部」の撮像を実行する構成と比較して、搬送機構2によって樹脂フィルム20を走行させつつ、「発熱処理」、「感熱処理(この例では、樹脂フィルム20に感熱ロール11を接触させる処理)、および光学カメラ14による感熱ロール11の撮像を実行することで、帯状で長い樹脂フィルム20の全体を対象とする異物Xの検出を短時間で完了させることができる。   In addition, according to the foreign matter detection device 1A, the transport mechanism 2 that transports the resin film 20 formed in a strip shape with a non-conductive material by traveling along the longitudinal direction is provided, and the “heat treatment part” has a temperature A heat-sensitive recording material that reversibly discolors in response to the film is disposed at least on the peripheral surface to form a roll, and the peripheral surface comes into contact with the resin film 20 on which “exothermic treatment” has been performed. The heat-sensitive roll 11 disposed so as to be able to rotate in accordance with the transport of the resin film 20 is provided as a “heat-sensitive part”, so that the resin film 20 remains stationary while “heat generation treatment (for example, irradiation of microwave Wm)” ”,“ Thermal processing (processing in which the thermal part is brought into contact with the resin film 20) ”, and a configuration in which imaging of the“ thermal part ”by the optical camera 14 is performed, the transport mechanism 2 causes the resin While running the rumm 20, “exothermic treatment”, “thermal processing (in this example, processing to bring the thermal roll 11 into contact with the resin film 20), and imaging of the thermal roll 11 with the optical camera 14, Thus, the detection of the foreign matter X for the entire long resin film 20 can be completed in a short time.

また、この異物検出装置1Aによれば、光学カメラ14による撮像が完了した周面を冷却する冷却部13を備えたことにより、樹脂フィルム20における発熱部位に接触して変色した変色部位を感熱ロール11の1回転につき1回の周期でリセットして変色前の色に戻すことができるため、変色部位の有無に基づく異物Xの検出精度を十分に高めることができる。   In addition, according to the foreign matter detection device 1A, the cooling unit 13 that cools the peripheral surface that has been imaged by the optical camera 14 is provided, so that the discolored portion that is discolored in contact with the heat generating portion in the resin film 20 is heated. 11 can be reset at a cycle of once per rotation and returned to the color before the color change, so that the detection accuracy of the foreign matter X based on the presence or absence of the color change part can be sufficiently increased.

また、この異物検出装置1Aでは、樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射するマイクロ波照射部3によって「発熱処理部」が構成されている。さらに、この異物検出装置1Aによる異物検出方法では、樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射する「マイクロ波照射処理」を「発熱処理」として実行する。 したがって、この異物検出装置1A、および異物検出装置1Aによる異物検出方法によれば、前述した異物検出装置1A、および異物検出装置1Aによる異物検出方法と同様にして、「発熱処理」に際して樹脂フィルム20に対して非接触で異物Xを発熱させることができるため、樹脂フィルム20を傷付けることなく、異物Xを検出することができる。   In this foreign matter detection apparatus 1A, the “heat generation processing unit” is configured by the microwave irradiation unit 3 that irradiates the resin film 20 with the microwave Wm. Furthermore, in the foreign matter detection method by the foreign matter detection device 1A, the “microwave irradiation process” for irradiating the resin film 20 with the microwave Wm is executed as the “heat generation process”. Therefore, according to the foreign matter detection method by this foreign matter detection device 1A and foreign matter detection device 1A, in the same way as the foreign matter detection method by foreign matter detection device 1A and foreign matter detection device 1A described above, the resin film 20 is used in the “heating process”. In contrast, since the foreign matter X can be heated without contact, the foreign matter X can be detected without damaging the resin film 20.

さらに、この異物検出装置1Aによれば、樹脂フィルム20において異物Xが存在すると特定した部位を特定可能にマーキングする(この例では、不良箇所特定用マークMを印刷する)マーキング部5を備えたことにより、上記の異物検出装置1と同様にして、検出処理の完了後に、異物Xが存在する樹脂フィルム20のすべてを不良品として破棄することなく、異物Xが存在する部位を不良箇所特定用マークMに基づいて特定して、異物Xが存在する部位だけを破棄することができるため、樹脂フィルム20の製造の歩留まりを十分に向上させることができる。   Furthermore, according to the foreign matter detection device 1A, the marking portion 5 is provided for marking the portion specified as the foreign matter X in the resin film 20 so as to be specified (in this example, the defect location specifying mark M is printed). Thus, in the same manner as the foreign matter detection apparatus 1 described above, after the detection process is completed, the portion where the foreign matter X exists is used for identifying the defective portion without discarding all of the resin film 20 containing the foreign matter X as defective products. Since it can identify based on the mark M and discard only the site | part which the foreign material X exists, the yield of manufacture of the resin film 20 can fully be improved.

なお、異物検出装置の構成および異物検出方法は、上記の異物検出装置1,1Aの構成およびその検出方法に限定されない。例えば、樹脂フィルム20においてマイクロ波Wmを照射した面をサーモカメラ4によって撮像する構成の異物検出装置1を例に挙げて説明したが、マイクロ波Wmを照射する面、およびサーモカメラ4によって撮像する面は同一面に限定されず、マイクロ波Wmを照射した面の裏面をサーモカメラ4によって撮像する構成および方法を採用することもできる。また、樹脂フィルム20においてマイクロ波Wmを照射した面の裏面側に感熱ロール11の周面を接触させる構成の異物検出装置1Aを例に挙げて説明したが、感熱ロール11の周面を接触させる面は、マイクロ波Wmを照射した面の裏面側に限定されず、マイクロ波Wmを照射した面と同一面に感熱ロール11の周面を接触させる構成および方法を採用することもできる。   The configuration of the foreign matter detection device and the foreign matter detection method are not limited to the configuration of the foreign matter detection devices 1 and 1A and the detection method thereof. For example, the foreign object detection device 1 configured to image the surface of the resin film 20 irradiated with the microwave Wm with the thermo camera 4 has been described as an example, but the surface irradiated with the microwave Wm and the image is captured with the thermo camera 4. The surfaces are not limited to the same surface, and a configuration and a method for imaging the back surface of the surface irradiated with the microwave Wm with the thermo camera 4 may be employed. Moreover, although the foreign material detection apparatus 1A of the structure which contacts the surrounding surface of the thermal roll 11 to the back surface side of the surface irradiated with the microwave Wm in the resin film 20 was described as an example, the peripheral surface of the thermal roll 11 is contacted. The surface is not limited to the back surface side of the surface irradiated with the microwave Wm, and a configuration and a method in which the peripheral surface of the thermal roll 11 is brought into contact with the same surface as the surface irradiated with the microwave Wm can also be adopted.

また、「温度検出部」としてのサーモカメラ4を備えた構成、およびサーモカメラ4によって撮像することで各部の温度を検出する例について説明したが、サーモカメラ4に代えて、例えば、複数の温度センサ(一例として、熱電対)を用いて構成することもできる。具体的には、複数の温度センサをライン状、またはマトリクス状に配置した温度センサアレイを「温度検出部」として配設すると共に、「発熱処理部」による「発熱処理」が完了した「検出対象体」に対して、温度センサアレイを接触させるか、または、極く近傍に近接させることで「検出対象体」における各部の温度を検出し、温度センサアレイから出力されたセンサ信号を「温度検出結果」として分析して、「発熱処理によって発熱した発熱部位」に「異物」が存在すると検出する構成および方法を採用することができる。このような構成および方法を採用した場合においても、上記の異物検出装置1、および異物検出装置1による異物検出方法と同様の効果を奏することができる。   Moreover, although the structure provided with the thermo camera 4 as a "temperature detection part" and the example which detects the temperature of each part by imaging with the thermo camera 4, it replaced with the thermo camera 4 and, for example, several temperature is demonstrated. A sensor (as an example, a thermocouple) can also be used. Specifically, a temperature sensor array in which a plurality of temperature sensors are arranged in a line or matrix is arranged as a “temperature detection unit”, and “exothermic processing” by the “exothermic processing unit” is completed. The temperature of each part of the “detection target body” is detected by bringing the temperature sensor array into contact with or in close proximity to the “body”, and the sensor signal output from the temperature sensor array is detected as “temperature detection”. It is possible to adopt a configuration and method for analyzing as a “result” and detecting that “foreign matter” is present in “a heat generating part generated by heat generation processing”. Even when such a configuration and method are employed, the same effects as those of the foreign object detection device 1 and the foreign object detection method by the foreign object detection device 1 can be obtained.

さらに、「検出対象体」としての樹脂フィルム20にマイクロ波Wmを照射することにより、マイクロ波Wmの照射によって発熱する「導電性を有する異物X」だけを検出する異物検出装置1,1A、およびその異物検出方法について説明したが、「異物検出装置」の構成、および「異物検出方法」はこれに限定されない。例えば、前述した異物検出装置1,1Aにおけるマイクロ波照射部3に代えて樹脂フィルム20に電子線を照射する電子線照射部(図示せず)を「発熱処理部」として配設すると共に、この電子線照射部によって樹脂フィルム20に電子線を照射することで「導電性を有する異物X」を選択的に発熱させる処理(「発熱処理」の他の一例である「電子線照射処理」の一例)を実行する構成および方法を採用することができる(図示せず)。このような構成を採用した異物検出装置、およびその異物検出方法によれば、前述した異物検出装置1A、および異物検出装置1Aによる異物検出方法と同様にして、「発熱処理」に際して樹脂フィルム20に対して非接触で異物Xを発熱させることができるため、樹脂フィルム20を傷付けることなく、異物Xを検出することができる。   Further, by irradiating the resin film 20 as the “detection object” with the microwave Wm, the foreign matter detection devices 1 and 1A for detecting only the “conductive foreign matter X” that generates heat by the irradiation of the microwave Wm, and Although the foreign matter detection method has been described, the configuration of the “foreign matter detection device” and the “foreign matter detection method” are not limited to this. For example, an electron beam irradiation unit (not shown) that irradiates the resin film 20 with an electron beam instead of the microwave irradiation unit 3 in the foreign matter detection device 1 or 1A described above is disposed as a “heat generation processing unit”. An example of “electron beam irradiation process”, which is another example of “heat generation process”, by selectively radiating “contaminating foreign matter X” by irradiating the resin film 20 with an electron beam by the electron beam irradiation unit ) Can be employed (not shown). According to the foreign object detection device and the foreign object detection method adopting such a configuration, in the same way as the foreign object detection method by the foreign object detection device 1A and the foreign object detection device 1A described above, the resin film 20 is applied to the heat generation process. On the other hand, since the foreign matter X can be generated without contact, the foreign matter X can be detected without damaging the resin film 20.

また、前述した異物検出装置1,1Aにおけるマイクロ波照射部3に代えて搬送機構2による樹脂フィルム20の搬送路に100kHz〜3GHzの範囲内の高周波磁界を生じさせる高周波磁界生成部を「発熱処理部」として配設すると共に、非導電性材料で帯状に形成された樹脂フィルム20を長手方向に沿って走行させて搬送しつつ、樹脂フィルム20の搬送路に高周波磁界を生じさせて樹脂フィルム20を高周波磁界に晒すことによって「導電性を有する異物X」を選択的に発熱させる処理(「発熱処理」のさらに他の一例である「高周波磁界生成処理」の一例)を実行する構成および方法を採用することができる(図示せず)。このような構成を採用した異物検出装置、およびその異物検出方法によれば、前述した異物検出装置1A、および異物検出装置1Aによる異物検出方法と同様にして、「発熱処理」に際して樹脂フィルム20に対して非接触で異物Xを発熱させることができるため、樹脂フィルム20を傷付けることなく、異物Xを検出することができる。   Further, a high-frequency magnetic field generation unit that generates a high-frequency magnetic field in the range of 100 kHz to 3 GHz in the transport path of the resin film 20 by the transport mechanism 2 instead of the microwave irradiation unit 3 in the foreign matter detection device 1 or 1A described above is referred to as “heating process”. In addition, the resin film 20 formed in a band shape with a non-conductive material is transported while traveling along the longitudinal direction, and a high-frequency magnetic field is generated in the transport path of the resin film 20 to transport the resin film 20. A configuration and a method for performing a process of selectively heating the “conductive foreign matter X” by exposing the film to a high-frequency magnetic field (an example of a “high-frequency magnetic field generation process” which is still another example of the “heat generation process”) It can be employed (not shown). According to the foreign object detection device and the foreign object detection method adopting such a configuration, in the same way as the foreign object detection method by the foreign object detection device 1A and the foreign object detection device 1A described above, the resin film 20 is applied to the heat generation process. On the other hand, since the foreign matter X can be generated without contact, the foreign matter X can be detected without damaging the resin film 20.

一方、「検出対象体」に含まれている「異物」は、その大きさや組成によって、好適に発熱するマイクロ波の周波数や、好適に発熱する高周波磁界の周波数が相違する。したがって、「発熱処理部」として「マイクロ波照射部」を備えた異物検出装置、および「発熱処理」として「マイクロ波照射処理」を実行する異物検出方法においては、周波数が相違する複数種類のマイクロ波を「検出対象体」に照射するするのが好ましい。また、「発熱処理部」として「高周波磁界生成部」を備えた異物検出装置、および「発熱処理」として「高周波磁界生成処理」を実行する異物検出方法においては、周波数が相違する複数種類の高周波磁界を「検出対象体」の周囲に生じさせるのが好ましい。このような構成を採用することにより、大きさや組成が相違する各種の「異物」を確実に検出することができる。   On the other hand, the “foreign matter” included in the “detection object” differs in the frequency of the microwave that suitably generates heat and the frequency of the high-frequency magnetic field that preferably generates heat depending on the size and composition. Therefore, in the foreign object detection apparatus including the “microwave irradiation unit” as the “heat generation processing unit” and the foreign object detection method for executing the “microwave irradiation process” as the “heat generation process”, a plurality of types of micros with different frequencies are used. It is preferable to irradiate the “detection object” with a wave. Further, in the foreign object detection apparatus including the “high-frequency magnetic field generation unit” as the “heat generation processing unit” and the foreign object detection method for executing the “high-frequency magnetic field generation process” as the “heat generation process”, a plurality of types of high-frequency waves with different frequencies are used. It is preferable to generate a magnetic field around the “detection target”. By adopting such a configuration, various “foreign substances” having different sizes and compositions can be reliably detected.

なお、上記の「周波数が相違する複数種類のマイクロ波」については、複数の照射源から周波数が互いに相違する複数種類のマイクロ波を出射して、複数種類のマイクロ波を「検出対象体」に対して同時(または、順に)照射する構成・方法と、1つの照射源から周波数が相違する複数のマイクロ波を順次出射して(例えば、周波数をスイープさせて出射して)、複数種類のマイクロ波を「検出対象体」に対して順に照射する構成・方法とのいずれかを採用することができる。同様にして、「周波数が相違する複数種類の高周波磁界」については、複数の磁界発生源によって周波数が互いに相違する複数種類の高周波磁界を「検出対象体」の周囲に同時(または、順に)生じさせる構成・方法と、1つの磁界発生源によって周波数が互いに相違する複数種類の高周波磁界を「検出対象体」の周囲に順に生じさせる構成・方法とのいずれかを採用することができる。   As for the above-mentioned “plurality of types of microwaves having different frequencies”, a plurality of types of microwaves having different frequencies are emitted from a plurality of irradiation sources, and the plurality of types of microwaves are used as “detection objects”. A configuration / method for simultaneous (or sequential) irradiation and a plurality of microwaves having different frequencies from one irradiation source (for example, by sweeping the frequency) and a plurality of types of microwaves Any of a configuration and a method for sequentially irradiating a wave to a “detection target” can be employed. Similarly, for “a plurality of types of high-frequency magnetic fields having different frequencies”, a plurality of types of high-frequency magnetic fields having different frequencies are generated simultaneously (or sequentially) around the “detection target” by a plurality of magnetic field generation sources. Either a configuration / method to be generated, or a configuration / method to sequentially generate a plurality of types of high-frequency magnetic fields having different frequencies by a single magnetic field generation source around the “detection target” can be employed.

また、帯状の樹脂フィルム20を「検出対象体」とし、この樹脂フィルム20を搬送機構2によって走行させつつ、異物Xを検出する構成・方法について説明したが、例えば、樹脂フィルム20を所定の長さに切断した絶縁シート(短尺の「検査対象体」の一例:図示せず)についても異物Xが含まれているか否かを検出することもできる。具体的には、絶縁シートを静止させた状態において、前述した各種の「発熱処理」のいずれかを実行し、その後に、絶縁シートをサーモカメラ4によって撮像し、サーモカメラ4の撮像結果(前述した撮像データDaと同様のデータ)を分析して、「発熱処理」によって発熱した発熱部位に異物Xが存在すると検出する構成・方法を採用することができる。   Further, the configuration / method of detecting the foreign matter X while the belt-shaped resin film 20 is set as a “detection target” and the resin film 20 is caused to travel by the transport mechanism 2 has been described. It is also possible to detect whether or not the foreign material X is contained in an insulating sheet (an example of a short “inspection object”: not shown) that has been cut. Specifically, in a state where the insulating sheet is stationary, any one of the above-described various “heat generation processes” is executed, and thereafter, the insulating sheet is imaged by the thermo camera 4, and the imaging result of the thermo camera 4 (described above) (Similar data to the captured image data Da) can be analyzed, and a configuration / method for detecting that the foreign matter X is present in the heat generation portion that has generated heat by the “heat generation processing” can be employed.

このような構成・方法を採用した場合においても、従来の異物検査装置とは異なり、「発熱処理」によって発熱する「導電性を有する異物X」だけを容易に検出することができるだけでなく、「発熱処理」によって発熱した異物X、および異物Xの周囲の領域を含む十分に広い領域(発熱部位)の有無に基づいて異物Xの有無を特定することで、比較的低解像度のサーモカメラ4によって極く小さな異物Xについても確実に検出することができると共に、高解像度の撮像装置や、大量のデータを短時間で処理し得る高い処理能力の「分析検出部」が不要となる結果、異物Xの検出に要するコストを十分に低減することができる。   Even in the case of adopting such a configuration / method, unlike the conventional foreign matter inspection apparatus, not only the “conductive foreign matter X” that generates heat by “heat generation processing” can be easily detected, By identifying the presence or absence of the foreign matter X based on the presence or absence of the foreign matter X generated by the “heat generation process” and a sufficiently wide area (heat generation part) including the surrounding area of the foreign matter X, the relatively low-resolution thermo camera 4 As a result, it is possible to reliably detect even a very small foreign object X, and a high-resolution imaging device and a high-performance “analysis detection unit” capable of processing a large amount of data in a short time are eliminated. It is possible to sufficiently reduce the cost required for the detection.

また、絶縁シートを静止させた状態において、前述した各種の「発熱処理」のいずれかを実行した後に、絶縁シートに対して「感熱部(一例として、感熱紙)」を接触させ(「感熱処理」の他の一例)、その後に、「感熱部」を光学カメラ14によって撮像すると共に、光学カメラ14の撮像結果(前述した撮像データDbと同様のデータ)を分析して、「感熱部(感熱記録材料)」における変色部位に対応する絶縁シートの部位に異物Xが存在すると検出する構成・方法を採用することができる。   In addition, in a state where the insulating sheet is stationary, after performing any of the above-mentioned various “exothermic treatments”, a “heat-sensitive part (for example, thermal paper)” is brought into contact with the insulating sheet (“thermal treatment”). After that, the “thermosensitive part” is imaged by the optical camera 14 and the imaging result of the optical camera 14 (data similar to the above-described imaging data Db) is analyzed. It is possible to employ a configuration / method for detecting the presence of the foreign matter X in the portion of the insulating sheet corresponding to the discolored portion in “Recording material)”.

このような構成・方法を採用した場合においても、従来の異物検査装置とは異なり、「発熱処理」によって発熱する「導電性を有する異物X」だけを容易に検出することができるだけでなく、「発熱処理」によって発熱した異物X、および異物Xの周囲の領域(発熱部位)に接した十分に広い領域(変色部位)の有無に基づいて異物Xの有無を特定することで、比較的低解像度の光学カメラ14によって極く小さな異物Xについても確実に検出することができると共に、高解像度の撮像装置や、大量のデータを短時間で処理し得る高い処理能力の「分析検出部」が不要となる結果、異物Xの検出に要するコストを十分に低減することができる。また、例えばサーモカメラ4と比較して光学カメラ14が安価であるため、異物Xの検出に要するコストを一層低減することができる。   Even in the case of adopting such a configuration / method, unlike the conventional foreign matter inspection apparatus, not only the “conductive foreign matter X” that generates heat by “heat generation processing” can be easily detected, Relatively low resolution by identifying the presence or absence of the foreign matter X based on the presence or absence of the foreign matter X generated by the “heat generation process” and a sufficiently large region (discolored portion) in contact with the surrounding region (heating portion) of the foreign matter X The optical camera 14 can reliably detect even a very small foreign object X, and there is no need for a high-resolution imaging device or a high-performance “analysis detection unit” that can process a large amount of data in a short time. As a result, the cost required for detecting the foreign matter X can be sufficiently reduced. Further, for example, since the optical camera 14 is less expensive than the thermo camera 4, the cost required for detecting the foreign matter X can be further reduced.

また、「制御部」に相当すると共に「分析検出部」に相当する処理部6を備えた異物検出装置1,1Aを例に挙げて説明したが、「制御部」および「分析検出部」を別個独立して備えた構成を採用することもできる。   Further, the foreign object detection devices 1 and 1A including the processing unit 6 corresponding to the “control unit” and the “analysis detection unit” have been described as examples. However, the “control unit” and the “analysis detection unit” A configuration provided separately and independently can also be employed.

1,1A 異物検出装置
2 搬送機構
2a モータ
3 マイクロ波照射部
4 サーモカメラ
5 マーキング部
6 処理部
11 感熱ロール
12 クリーナ
13 冷却部
14 光学カメラ
20 樹脂フィルム
20a 繰出し側ロール
20b 巻取り側ロール
Aa,Ab1,Ab2 領域
Da,Db 撮像データ
M 不良箇所特定用マーク
S2〜S5,S13,S14 制御信号
Wm マイクロ波
X 異物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,1A Foreign object detection apparatus 2 Conveyance mechanism 2a Motor 3 Microwave irradiation part 4 Thermo camera 5 Marking part 6 Processing part 11 Thermal roll 12 Cleaner 13 Cooling part 14 Optical camera 20 Resin film 20a Feeding side roll 20b Winding side roll Aa, Ab1, Ab2 area Da, Db Imaging data M Defective point identification mark S2-S5, S13, S14 Control signal Wm Microwave X Foreign object

Claims (14)

非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行する発熱処理部と、前記検出対象体における各部の温度を検出する温度検出部と、前記発熱処理部による前記発熱処理および前記温度検出部による前記検出対象体における各部の温度の検出を制御する制御部と、前記温度検出部の温度検出結果を分析して、前記発熱処理によって発熱した発熱部位に前記異物が存在すると検出する分析検出部とを備えている異物検出装置。   A heat generation processing unit that performs a heat generation process for selectively generating heat from a foreign substance having conductivity contained in a detection object formed of a non-conductive material, and a temperature detection that detects the temperature of each part of the detection object The heat generation processing by the heat generation processing unit, the control unit for controlling the detection of the temperature of each part in the detection target body by the temperature detection unit, and the temperature detection result of the temperature detection unit is analyzed, the heat generation processing A foreign matter detection apparatus comprising: an analysis detection unit that detects that the foreign matter is present in a heat generation portion generated by heat. 前記熱検出部として、前記検出対象体を撮像するサーモカメラを備え、
前記分析検出部は、前記サーモカメラの撮像結果を前記温度検出結果として分析して、前記発熱部位に前記異物が存在すると検出する請求項1記載の異物検出装置。
As the heat detection unit, comprising a thermo camera that images the detection object,
The foreign matter detection device according to claim 1, wherein the analysis detection unit analyzes an imaging result of the thermo camera as the temperature detection result and detects that the foreign matter is present in the heat generation portion.
前記非導電性材料で帯状に形成された前記検出対象体を前記制御部の制御に従って長手方向に沿って走行させて搬送する搬送機構を備えている請求項1または2記載の異物検出装置。   The foreign object detection device according to claim 1, further comprising a transport mechanism that transports the detection object formed in a strip shape of the nonconductive material along the longitudinal direction according to control of the control unit. 非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行する発熱処理部と、温度に応じて変色する感熱記録材料が少なくとも表面部位に配設された感熱部を有すると共に前記発熱処理が実行された前記検出対象体に当該感熱部の当該表面部位を接触させて当該感熱記録材料における当該検出対象体の発熱部位に接した部位を変色させる感熱処理を実行する感熱処理部と、当該感熱部の前記表面部位を撮像する光学カメラと、前記発熱処理部による前記発熱処理、前記感熱処理部による前記感熱処理、および前記光学カメラによる前記感熱部の撮像を制御する制御部と、前記光学カメラの撮像結果を分析して、前記感熱記録材料における変色部位に対応する当該検出対象体の部位に前記異物が存在すると検出する分析検出部とを備えている異物検出装置。   A heat generation processing unit for performing heat generation processing to selectively generate heat from a foreign substance having conductivity contained in a detection object formed of a non-conductive material, and at least a surface portion of a heat-sensitive recording material that changes color according to temperature A portion of the thermosensitive recording material that is in contact with the heat generating portion of the detection target body by bringing the surface portion of the heat sensitive portion into contact with the detection target body that has the heat sensitive portion disposed thereon A heat-sensitive part for performing heat-sensitive heat treatment to change the color, an optical camera for imaging the surface portion of the heat-sensitive part, the heat-generating process by the heat-generating part, the heat-sensitive part by the heat-sensitive part, and the optical camera by the optical camera A control unit that controls imaging of the thermosensitive part and an imaging result of the optical camera are analyzed, and the part of the detection object corresponding to the discolored part in the thermosensitive recording material is analyzed. There foreign matter detecting device comprising an analysis detection unit for detecting a present. 前記非導電性材料で帯状に形成された前記検出対象体を前記制御部の制御に従って長手方向に沿って走行させて搬送する搬送機構を備え、
前記感熱処理部は、温度に応じて可逆的に変色する前記感熱記録材料が少なくとも周面に配設されてロール状に形成されると共に前記発熱処理が実行された前記検出対象体に当該周面が接触し、かつ、前記搬送機構による当該検出対象体の搬送に合わせて回転可能に配置された感熱ロールを前記感熱部として備えている請求項4記載の異物検出装置。
A transport mechanism that transports the detection object formed in a strip shape with the non-conductive material along the longitudinal direction according to the control of the control unit;
The heat-sensitive portion is arranged on the detection target body on which the heat-sensitive recording material that is reversibly discolored according to temperature is disposed at least on the peripheral surface to form a roll and the heat generation process is performed. The foreign object detection device according to claim 4, further comprising, as the heat-sensitive portion, a heat-sensitive roll that is in contact with the heat-sensitive roller and is rotatably arranged in accordance with the conveyance of the detection object by the conveyance mechanism.
前記光学カメラによる撮像が完了した前記周面を冷却する冷却部を備えている請求項5記載の異物検出装置。   The foreign object detection device according to claim 5, further comprising a cooling unit that cools the peripheral surface that has been imaged by the optical camera. 前記発熱処理部は、前記検出対象体にマイクロ波を照射するマイクロ波照射部、当該検出対象体に電子線を照射する電子線照射部、および当該検出対象体の周囲に高周波磁界を生じさせる高周波磁界生成部のいずれかで構成されている請求項1から6のいずれかに記載の異物検出装置。   The heat generation processing unit includes a microwave irradiation unit that irradiates the detection object with a microwave, an electron beam irradiation unit that irradiates the detection object with an electron beam, and a high frequency that generates a high-frequency magnetic field around the detection object. The foreign matter detection device according to claim 1, wherein the foreign matter detection device is configured by any one of the magnetic field generation units. 前記発熱処理部は、前記マイクロ波照射部を備えて構成されて、前記マイクロ波照射部は、周波数が相違する複数種類の前記マイクロ波を前記検出対象体に照射する請求項7記載の異物検出装置。   The foreign object detection according to claim 7, wherein the heat generation processing unit is configured to include the microwave irradiation unit, and the microwave irradiation unit irradiates the detection object with a plurality of types of microwaves having different frequencies. apparatus. 前記発熱処理部は、前記高周波磁界生成部を備えて構成されて、前記高周波磁界生成部は、周波数が相違する複数種類の前記高周波磁界を前記検出対象体の周囲に生じさせる請求項7記載の異物検出装置。   The heat generation processing unit includes the high-frequency magnetic field generation unit, and the high-frequency magnetic field generation unit generates a plurality of types of the high-frequency magnetic fields having different frequencies around the detection target body. Foreign object detection device. 前記検出対象体において前記異物が存在すると特定した部位を特定可能にマーキングするマーキング部を備えている請求項1から9のいずれかに記載の異物検出装置。   The foreign object detection device according to claim 1, further comprising a marking unit that marks a part that is specified as being present when the foreign object is present in the detection object. 非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行し、かつ、当該発熱処理を実行した前記検出対象体における各部の温度を検出すると共に、その温度検出結果を分析して、前記発熱処理によって発熱した発熱部位に前記異物が存在すると検出する異物検出方法。   A heat generation process for selectively generating heat in a foreign object having conductivity contained in the detection target body formed of a non-conductive material is performed, and the temperature of each part in the detection target body that has performed the heat generation process is determined. A foreign matter detection method that detects the presence of the foreign matter in a heat generation part that generates heat by the heat generation process while detecting the temperature detection result. 前記発熱処理を実行した前記検出対象体をサーモカメラによって撮像すると共に、当該サーモカメラの撮像結果を前記温度検出結果として分析して、前記発熱部位に前記異物が存在すると検出する請求項11記載の異物検出方法。   The detection target body that has performed the heat generation process is imaged by a thermo camera, and the imaging result of the thermo camera is analyzed as the temperature detection result to detect that the foreign matter is present in the heat generation portion. Foreign object detection method. 非導電性材料で形成された検出対象体に含まれている導電性を有する異物を選択的に発熱させる発熱処理を実行すると共に、温度に応じて変色する感熱記録材料が少なくとも表面部位に配設された感熱部における当該表面部位を前記発熱処理を実行した前記検出対象体に接触させて当該感熱記録材料における当該検出対象体の発熱部位に接した部位を変色させる感熱処理を実行し、かつ、前記感熱部の前記表面部位を光学カメラによって撮像すると共に、当該光学カメラの撮像結果を分析して、前記感熱記録材料における変色部位に対応する当該検出対象体の部位に前記異物が存在すると検出する異物検出方法。   A heat-sensitive recording material that selectively generates heat from conductive foreign substances contained in the detection target formed of a non-conductive material is executed, and a heat-sensitive recording material that changes color according to temperature is disposed at least on the surface. Performing a heat-sensitive heat treatment to change the portion of the heat-sensitive recording material in contact with the heat generation portion of the detection target body by bringing the surface portion of the heat-sensitive portion into contact with the detection target body that has performed the heat generation processing, and The surface portion of the heat sensitive part is imaged by an optical camera, and the imaging result of the optical camera is analyzed to detect that the foreign matter is present in the portion of the detection target corresponding to the discolored portion in the heat sensitive recording material. Foreign object detection method. 前記検出対象体にマイクロ波を照射するマイクロ波照射処理、当該検出対象体に電子線を照射する電子線照射処理、および当該検出対象体の周囲に高周波磁界を生じさせる高周波磁界生成処理のいずれかを前記発熱処理として実行する請求項11から13のいずれかに記載の異物検出方法。   Any of a microwave irradiation process for irradiating the detection object with microwaves, an electron beam irradiation process for irradiating the detection object with an electron beam, and a high-frequency magnetic field generation process for generating a high-frequency magnetic field around the detection object The foreign object detection method according to claim 11, wherein the method is executed as the heat generation process.
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