[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2011238728A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

半導体装置およびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011238728A
JP2011238728A JP2010108038A JP2010108038A JP2011238728A JP 2011238728 A JP2011238728 A JP 2011238728A JP 2010108038 A JP2010108038 A JP 2010108038A JP 2010108038 A JP2010108038 A JP 2010108038A JP 2011238728 A JP2011238728 A JP 2011238728A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin material
cooler
thermosetting
heating element
housing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010108038A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Hirota
崇 広田
Takashi Hozumi
剛史 保住
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissan Motor Co Ltd filed Critical Nissan Motor Co Ltd
Priority to JP2010108038A priority Critical patent/JP2011238728A/ja
Publication of JP2011238728A publication Critical patent/JP2011238728A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/2612Auxiliary members for layer connectors, e.g. spacers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】冷却器を変形させることなく表面に絶縁層を圧着して構成することができる半導体装置およびその製造方法の提供を図る。
【解決手段】冷却器3を構成する筺体9の表面に熱硬化性の第1樹脂材4を備える。筺体9内の複数の冷却フィン11の先端と、その対向面との間には、第1樹脂材4よりも硬化温度が低い熱硬化性の第2樹脂材12が介在する。第1樹脂材4と第2樹脂材12は、第1樹脂材4の加熱プレスによる熱硬化成形時に、該第1樹脂材4の熱硬化に先立って第2樹脂材12を熱硬化させている。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体モジュールを冷却する冷却器と半導体モジュールとの界面に絶縁層を持つ半導体装置およびその製造方法に関する。
特許文献1には、シート状の絶縁材を冷却器に直接接触するように載せて、高温環境下で加圧することにより冷却器に密着させて、絶縁層を構成する技術が知られている。
特開2009−158919号公報
しかしながら、冷却器の内部で冷却フィンの先端とその対向面との間に隙間が存在する場合、特許文献1の開示技術では、絶縁材を圧着させるときの圧力によって冷却器表面に変形が生じてしまう。この冷却器表面の変形により絶縁材は冷却器と密着できなくなり、絶縁材と冷却器との間の空隙により熱抵抗が悪化してしまう問題がある。
そこで、本発明は冷却器内の冷却フィンの先端とその対向面との間に隙間が存在している場合でも、冷却器を変形させることなくその表面に絶縁層を圧着して構成することができる半導体装置およびその製造方法を提供するものである。
本発明の半導体装置は、発熱素子と、該発熱素子を冷却する冷却器とを備える。冷却器の発熱素子を装着する部位の筺体表面に熱硬化性の第1樹脂材を配置してある一方、筺体の冷却媒体が循環する流路内に延出した複数の冷却フィンの先端と、その対向面との間に第1樹脂材よりも硬化温度が低い熱硬化性の第2樹脂材を配置してある。これら第1樹脂材と第2樹脂材は、第1樹脂材の加熱プレスによる熱硬化成形時に、該第1樹脂材の熱硬化に先立って第2樹脂材を熱硬化させるようにしている。
筺体の冷却フィン先端とその対向面との間の隙間に、第1樹脂材よりも硬化温度の低い熱硬化性の第2樹脂材を設けることにより、高温環境下で、第2樹脂材が第1樹脂材よりも先に硬化する。そして、第1樹脂材を筺体表面に密着させるように加圧処理する際に、硬化した第2樹脂材が冷却フィンを支持するため、筺体表面の変形を防止することができる。従って、第1樹脂材が冷却器の筺体表面に密着して絶縁層を構成することができ、熱抵抗の悪化を防止することができる。
本発明に係る半導体装置の第1実施形態を示す断面説明図。 本発明に係る半導体装置の第2実施形態を示す断面説明図。 本発明に係る半導体装置の第3実施形態を示す断面説明図。
以下、本発明の実施形態を図面と共に詳述する。
図1に示す本発明の第1実施形態の半導体装置1は、非絶縁型半導体モジュール2と、この非絶縁型半導体モジュール2を冷却する冷却器3と、を備えている。
非絶縁型半導体モジュール2と冷却器3との間には、冷却器3の表面に直接接触させて絶縁層4Aを形成している。
非絶縁型半導体モジュール2は、半導体チップ5と、バスバー7とを備え、半導体チップ5の図外のチップ電極とバスバー7は、はんだ6を介して接合している。
絶縁層4Aと、非絶縁型半導体モジュール2のバスバー7とは、グリース層8を介して接合して、グリース層8によりバスバー7の表面の微細な凹凸を埋めて、バスバー7と絶縁層4Aとを密着させている。
絶縁層4Aは、例えば、エポキシ樹脂等の熱硬化性の第1樹脂材4で構成される。非絶縁型半導体モジュール2の冷却効果を高める上からは、この第1樹脂材4を母材として、その母材中に母材よりも熱伝導率の高い、例えば、酸化アルミニウム等の充填材を含有させたものが好ましい。
この絶縁層4Aは、半硬化のシート状の第1樹脂材4を冷却器3の表面に直接接触するように載置し、加熱プレスにより高温環境下で加圧することにより、冷却器3の表面の微細な凹凸を埋めて、絶縁層4Aの熱抵抗を上昇させる原因となる空隙をなくして、絶縁層4Aを冷却器3の表面に密着して形成させることができる。
冷却器3は、アルミニウムや銅等の熱伝導性のよい金属材料で構成している。この冷却器3は、矩形断面の筺体9と、筺体9の内部に形成されて冷却媒体を循環する流路10と、筺体9の冷却面である前記非絶縁型半導体モジュール2を配置した側壁の内面から、流路10内に延出した複数の冷却フィン11と、を備えている。そして、この冷却フィン11の先端とその対向面との間に、第2樹脂材12を介装してある。
第2樹脂材12は、絶縁層4Aを構成する第1樹脂材4よりも硬化温度が低い、例えば、フェノール樹脂等の熱硬化性樹脂材が用いられる。
この第2樹脂材12は、液状、もしくは半硬化のシート状にして冷却フィン11とその対向面との間の隙間を埋めて配置し、第1樹脂材4の加熱プレスによる筺体表面への密着成形時の加熱により熱硬化させている。
非絶縁型半導体モジュール2は、上述のように第1樹脂材4および第2樹脂材12を熱硬化処理した後、第1樹脂材4で構成された絶縁層4A上に載置して、ボルト・ナット等の締結手段により冷却器3に結合される。
この第1実施形態の構成によれば、筺体9の冷却フィン11の先端とその対向面との間に、第1樹脂材4よりも硬化温度の低い熱硬化性の第2樹脂材12を設けることにより、高温環境下で、第2樹脂材12が第1樹脂材4よりも先に硬化する。
そして、第1樹脂材4を筺体表面に密着させるように加圧処理する際に、硬化した第2樹脂材12が冷却フィン11を支持するため、筺体表面の変形を防止することができる。
これにより、第1樹脂材4が冷却器3の筺体表面に確実に密着して、該筺体表面との間に空隙のない絶縁層4Aを構成することができ、熱抵抗の悪化を防止することができる。
図2は、本発明の半導体装置1の第2実施形態を示している。
本実施形態では、冷却器3の筺体9を、複数の冷却フィン11を備えたヒートシンク部9Aと、ヒートシンク部9Aを結合して支持するベース部9Bとで構成している。
ヒートシンク部9Aは、アルミニウムや銅等の熱伝導性のよい金属材料で板状に形成され、その一側面に複数の冷却フィン11を一体成形してある。
ベース部9Bは、ヒートシンク部9Aと同質材、もしくは他の金属材料をもってコ字形断面に形成している。
ヒートシンク部9Aは、実質的に冷却器3の冷却面、即ち、非絶縁型半導体モジュール2の取付面を構成する。このヒートシンク部9Aは、ベース部9Bの立上がり壁の端縁上に重合し、ろう付け、あるいは高周波振動溶接等の加熱処理によって接合Wしてある。
第2樹脂材12は、ヒートシンク部9Aとベース部9Bとの接合Wを行う前にベース部9Bの内底面上に配置してもよいし、接合Wの終了後に冷却フィン11の先端とその対向面との間に介在させるようにしてもよく、何れにしても、絶縁層4Aの加熱プレス加工前に設けられる。
第2樹脂材12を、ヒートシンク部9Aとベース部9Bとの接合前に配置した場合、接合Wを行う加熱処理時の熱で硬化することもあるが、絶縁層4Aのヒートシンク部9Aの表面上への高温環境下での加圧成形時には、既に硬化しているため、ヒートシンク部9Aの反り等の変形が防止される。
この第2実施形態のように、冷却器3を構成する筺体9を、ヒートシンク部9Aとベース部9Bとからなるセパレート構造とすることにより、第1実施形態と同様の効果が得られる他、第2樹脂材12の配設を容易に行うことができる。また、ヒートシンク部9Aのみを高熱伝導率の金属材料で形成することもできるので、コスト的に有利に得ることが可能となる。
また、ヒートシンク部9Aとベース部9Bとの結合を加熱処理による接合とすることによって、この接合時の加熱で第2樹脂材12を予め熱硬化させることが可能で、第1樹脂材4の加熱プレスによる筺体表面上への密着成形加工時における筺体9の変形防止を有効に行わせることができる。しかも、前記接合時における第2樹脂材12の熱硬化が不完全であっても、前記加熱プレスによって、第1樹脂材4の熱硬化に先立って第2樹脂材12を完全に熱硬化させることができるので、筺体9の変形防止を確実なものとすることができる。
第2実施形態では、ヒートシンク部9Aとベース部9Bとを、加熱処理により接合Wして結合しているが、図3に示す第3実施形態のように、ヒートシンク部9Aとベース部9Bとを、ボルト13によって締結固定するようにしてもよい。この場合、ヒートシンク部9Aとベース部9Bの結合手段が簡易となり、より一層コスト的に有利に得ることができる。
なお、各実施形態と各請求項の構成との対応関係において、非絶縁型半導体モジュール2が発熱素子に相当する。
1…半導体装置
2…非絶縁型半導体モジュール(発熱素子)
3…冷却器
4…第1樹脂材
9…筺体
9A…ヒートシンク部
9B…ベース部
10…流路
11…冷却フィン
12…第2樹脂材
W…接合

Claims (4)

  1. 発熱素子と、
    前記発熱素子を装着して、該発熱素子の冷却を行う冷却器と、
    前記冷却器の表面に形成されて、該冷却器と前記発熱素子との間に介在する第1樹脂材と、を備え、
    前記冷却器は、筺体と、
    前記筺体内に設けられて、冷却媒体を循環する流路と、
    前記筺体の前記発熱素子を配置した側の内面から前記流路内に延出した複数の冷却フィンと、
    前記筺体の前記冷却フィンの先端が対向する内面と、該冷却フィンの先端との間に介装した第2樹脂材と、を備え、
    前記第1樹脂材と第2樹脂材は熱硬化性樹脂材であって、前記第1樹脂材の硬化温度が第2樹脂材の硬化温度以上であることを特徴とする半導体装置。
  2. 前記筺体が、前記冷却フィンを備えたヒートシンク部と、
    前記ヒートシンク部を結合して支持するベース部とからなることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記ヒートシンク部と、前記ベース部とを、加熱処理により接合したことを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
  4. 冷却器の発熱素子を装着する部位の表面に熱硬化性の第1樹脂材を配置する一方、
    前記冷却器の冷却媒体が循環する流路内で、前記発熱素子を装着する側の内面から延出した複数の冷却フィンの先端と、該冷却フィンの先端が対向する内面との間に前記第1樹脂材よりも硬化温度が低い熱硬化性の第2樹脂材を配置し、
    前記第1樹脂材の加熱プレスによる熱硬化成形時に、該第1樹脂材の熱硬化に先立って前記第2樹脂材を熱硬化させることを特徴とする半導体装置の製造方法。
JP2010108038A 2010-05-10 2010-05-10 半導体装置およびその製造方法 Pending JP2011238728A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010108038A JP2011238728A (ja) 2010-05-10 2010-05-10 半導体装置およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010108038A JP2011238728A (ja) 2010-05-10 2010-05-10 半導体装置およびその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011238728A true JP2011238728A (ja) 2011-11-24

Family

ID=45326396

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010108038A Pending JP2011238728A (ja) 2010-05-10 2010-05-10 半導体装置およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011238728A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020241314A1 (ja) * 2019-05-28 2020-12-03 三井化学株式会社 冷却装置及び冷却装置の製造方法
JP2023511772A (ja) * 2020-02-03 2023-03-22 エルエス、エレクトリック、カンパニー、リミテッド 冷却プレート及びその製造方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020241314A1 (ja) * 2019-05-28 2020-12-03 三井化学株式会社 冷却装置及び冷却装置の製造方法
KR20210101277A (ko) * 2019-05-28 2021-08-18 미쯔이가가꾸가부시끼가이샤 냉각 장치 및 냉각 장치의 제조 방법
JPWO2020241314A1 (ja) * 2019-05-28 2021-11-04 三井化学株式会社 冷却装置及び冷却装置の製造方法
JP7249408B2 (ja) 2019-05-28 2023-03-30 三井化学株式会社 冷却装置及び冷却装置の製造方法
KR102570354B1 (ko) * 2019-05-28 2023-08-25 미쯔이가가꾸가부시끼가이샤 냉각 장치 및 냉각 장치의 제조 방법
EP3979316A4 (en) * 2019-05-28 2023-10-25 Mitsui Chemicals, Inc. COOLING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
TWI855080B (zh) * 2019-05-28 2024-09-11 日商三井化學股份有限公司 冷卻裝置及冷卻裝置之製造方法
US12219735B2 (en) 2019-05-28 2025-02-04 Mitsui Chemicals, Inc. Cooling device and method for manufacturing the same
JP2023511772A (ja) * 2020-02-03 2023-03-22 エルエス、エレクトリック、カンパニー、リミテッド 冷却プレート及びその製造方法
JP7460781B2 (ja) 2020-02-03 2024-04-02 エルエス、エレクトリック、カンパニー、リミテッド 冷却プレート及びその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4617209B2 (ja) 放熱装置
JP5813137B2 (ja) 電力用半導体装置及びその製造方法
JP2011091106A5 (ja) 放熱用部品及びその製造方法、半導体パッケージ
JP5344888B2 (ja) 半導体装置
JP4958735B2 (ja) パワー半導体モジュールの製造方法、パワー半導体モジュールの製造装置、パワー半導体モジュール、及び接合方法
CN101794741B (zh) 散热装置及功率模块
JP5379816B2 (ja) 電力用半導体装置
JP6424573B2 (ja) 半導体装置
CN110364497A (zh) 用于功率控制的电子器件模块和其制造的方法
JP2011091088A (ja) 発熱体の放熱構造、および該放熱構造を用いた半導体装置
WO2013114647A1 (ja) 半導体装置とその製造方法
JP2006245479A (ja) 電子部品冷却装置
JP6421549B2 (ja) パワーモジュール
CN102714198B (zh) 电力模块制造方法以及由之制造的电力模块
JP5392196B2 (ja) 半導体装置
JP2010192591A (ja) 電力用半導体装置とその製造方法
JP2012138475A (ja) 半導体モジュールおよび半導体モジュールの製造方法
JP6382784B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2002064168A (ja) 冷却装置、冷却装置の製造方法および半導体装置
JP2011238728A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP5899680B2 (ja) パワー半導体モジュール
JP4506692B2 (ja) 両面冷却型半導体装置
JP5062189B2 (ja) 半導体装置の実装構造
JP2010141034A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP4415988B2 (ja) パワーモジュール、ヒートシンク及びヒートシンクの製造方法