JP2011133354A - コンタクトプローブおよびプローブユニット - Google Patents
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Abstract
【課題】荷重によってたわみを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供する。
【解決手段】荷重によって弾性座屈する弾性座屈部22の所定方向における幅を弾性座屈部22の長手方向に沿って変化させ、弾性座屈部22の長手方向に沿って第1接触部21の荷重作用点Tを通過する平面が弾性座屈部22の所定方向における幅の変化が大きい箇所における幅の中点Mを通過しないようにオフセットするとともに、弾性座屈部22を含む柱状部分と直交する方向へ板状に延びた腕部24を設ける。
【選択図】図3
【解決手段】荷重によって弾性座屈する弾性座屈部22の所定方向における幅を弾性座屈部22の長手方向に沿って変化させ、弾性座屈部22の長手方向に沿って第1接触部21の荷重作用点Tを通過する平面が弾性座屈部22の所定方向における幅の変化が大きい箇所における幅の中点Mを通過しないようにオフセットするとともに、弾性座屈部22を含む柱状部分と直交する方向へ板状に延びた腕部24を設ける。
【選択図】図3
Description
本発明は、半導体集積回路や液晶パネルなどの電子部品における導通状態検査や動作特性検査を行う際に、その電子部品の電極や端子に接触して電気信号の送受信を行うコンタクトプローブおよびプローブユニットに関する。
従来、半導体集積回路や液晶パネルなどの検査対象の導通状態検査や動作特性検査を行う際には、検査対象と検査用信号を出力する信号処理装置との間の電気的な接続を図るために、導電性のコンタクトプローブを複数収容するプローブユニットが用いられる。プローブユニットにおいては、近年の半導体集積回路や液晶パネルの高集積化、微細化の進展に伴い、コンタクトプローブ間のピッチを狭小化することにより、高集積化、微細化された検査対象にも適用可能な技術が進歩してきている。
コンタクトプローブ間のピッチを狭小化する技術として、例えばコンタクトプローブの外部からの荷重に応じて屈曲可能な弾性を備えたワイヤー型のコンタクトプローブに関する技術が知られている。ワイヤー型のコンタクトプローブは、バネを用いたピン型のコンタクトプローブと比較して細径化が容易であるが、荷重が加わった時に撓む方向が揃っていないと、隣接するコンタクトプローブ同士が接触したり被接触体との接触にバラツキが生じたりしてしまう恐れがある。このため、ワイヤー型のコンタクトプローブにおいては、荷重によって撓む方向を一様に揃えるための様々な工夫が施されている(例えば、特許文献1〜4を参照)。
このうち、特許文献1、2では、プローブの形状を湾曲した形状とする技術が開示されている。また、特許文献3では、プローブの形状をくの字状に屈曲した形状とする技術が開示されている。また、特許文献4では、直線状のコンタクトプローブの両端部を異なる2つのプレートの貫通孔へそれぞれ挿通した後、一方のプレートをコンタクトプローブの延在方向と直交する方向にシフトし、コンタクトプローブに対して初期たわみを強制的に加えることによってコンタクトプローブのたわみ方向を揃える技術が開示されている。
しかしながら、上述した特許文献1〜3に記載の従来技術では、コンタクトプローブが初めから湾曲または屈曲しているため、コンタクトプローブをプローブホルダへ取り付けるのに手間がかかるという問題があった。加えて、コンタクトプローブを交換するリペア作業を行うのも容易ではなく、メインテナンスを効率よく行うことができなかった。
また、上述した特許文献4に記載の従来技術では、コンタクトプローブに初期たわみを加える際にシフトするプレートの位置合わせを高い精度で行わなければならず、プローブユニットの組立に時間がかかるという問題があった。さらに、リペア作業を行う場合にはプローブユニットを分解しなければならないため、メインテナンスの効率が悪かった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、荷重によってたわみを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係るコンタクトプローブは、両端で異なる2つの回路構造とそれぞれ接触し、該2つの回路構造を電気的に接続する導電性のコンタクトプローブにおいて、一端が先鋭化した柱状をなす第1接触部と、前記第1接触部の他端から前記第1接触部の長手方向に沿って略柱状をなして延び、この延びる方向と直交する方向のうち少なくとも一つの方向の幅は前記延びる方向に沿って変化する一方、前記一つの方向と直交する方向の幅は前記延びる方向に沿って一定であり、荷重によって弾性座屈を生じる弾性座屈部と、前記弾性座屈部が延びる方向の端部であって前記第1接触部に連なる端部とは異なる端部から前記延びる方向に沿って柱状をなして延びる接続部と、前記接続部から前記一つの方向に沿って板状をなして延びる腕部と、前記腕部の端面のうち前記第1接触部の先鋭化した一端に対して最も遠くに位置する端面から該端面と直交する方向へ突出し、先端が先鋭化した第2接触部と、前記腕部の端面のうち前記第1接触部の先鋭化した一端に対して最も近くに位置する端面から該端面と直交する方向へ柱状をなして突出する柱状部と、を備え、前記第1接触部の先鋭化した一端を通過して前記延びる方向に平行な平面と、前記一つの方向における前記弾性座屈部の幅のうち当該方向における前記第1接触部の最大幅との差が最も大きい幅の中点を通過して前記延びる方向に平行な平面とは異なることを特徴とする。
また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記弾性座屈部は、前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側でくぼんだ形状をなしていることを特徴とする。
また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記弾性座屈部は、前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側と反対側でくぼんだ形状をなしていることを特徴とする。
また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記柱状部は、前記腕部における前記接続部との境界を始端とするときの前記腕部の終端付近に設けられたことを特徴とする。
また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記柱状部の先端を通過し、前記腕部が延びる方向と平行な平面は、前記弾性座屈部を通過することを特徴とする。
また、本発明に係るコンタクトプローブは、上記発明において、前記柱状部の先端を通過し、前記腕部が延びる方向と平行な平面は、前記接続部を通過することを特徴とする。
また、本発明に係るプローブユニットは、上記発明に記載の複数のコンタクトプローブと、各々が前記接続部を挿通する複数の第1挿通孔と、各々が前記柱状部を挿通する複数の保持部とを有し、少なくとも表面が絶縁性材料からなる平板状の第1ホルダと、各々が前記第1接触部を挿通する複数の保持部を有し、少なくとも表面が絶縁性材料からなる平板状の第2ホルダと、を備えたことを特徴とする。
また、本発明に係るプローブユニットは、上記発明において、前記第1ホルダ表面のうち前記腕部が載置される表面と、前記第2ホルダの表面のうち前記第1ホルダと対向する表面との距離は、前記第1接触部の先端を通過し、前記腕部が延びる方向に平行な平面と、前記柱状部の先端を通過し、前記腕部が延びる方向に平行な平面との間の距離よりも大きいことを特徴とする。
本発明によれば、荷重によって弾性座屈する弾性座屈部の所定方向における幅を弾性座屈部の長手方向に沿って変化させ、弾性座屈部の長手方向に沿って第1接触部の荷重作用点を通過する平面が弾性座屈部の所定方向における幅の変化が大きい箇所における幅の中点を通過しないようにオフセットしているため、荷重が加わった時、幅が変化する方向に沿って撓ませることができる。また、弾性座屈部が延びる方向と直交する方向に延びた腕部を設け、この腕部の端部から突出する柱状部を第1ホルダに挿通する構成としているため、コンタクトプローブの位置決めを容易に行うことができ、プローブホルダへの取り付けも簡単である。加えて、コンタクトプローブを取り外す際にプローブホルダを分解する必要がないため、取り外しも容易である。したがって、荷重によってたわみを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができる。
以下、添付図面を参照して本発明を実施するための形態(以下、「実施の形態」という)を説明する。なお、図面は模式的なものであって、各部分の厚みと幅との関係、それぞれの部分の厚みの比率などは現実のものとは異なる場合もあることに留意すべきであり、図面の相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれる場合があることは勿論である。
図1は、本発明の一実施の形態に係るプローブユニットの構成を示す斜視図である。同図に示すプローブユニット1は、半導体集積回路や液晶パネル等の検査対象の配線パターンにおける短絡や断線の有無を検査する導通検査や検査対象に信号を入力したときの動作特性検査を行う際、検査対象と検査用の信号を生成出力する信号処理装置との電気的な接続を図る装置である。具体的には、プローブユニット1は、検査対象側および信号処理装置側にそれぞれ設けられた電極または端子と両端で接触する複数の導電性のコンタクトプローブ2と、複数のコンタクトプローブ2を収容して保持するプローブホルダ3とを備える。
図2は、コンタクトプローブ2の構成を示す斜視図である。図3は、コンタクトプローブ2およびプローブホルダ3の要部の構成を示す部分断面図である。コンタクトプローブ2は、一端が先鋭化した角柱状をなす第1接触部21と、第1接触部21の他端から第1接触部21の長手方向であるz軸方向に沿って略角柱状をなして延び、この延びる方向であるz軸方向と直交する方向のうち少なくとも一つの方向であるx軸方向の幅はz軸方向に沿って変化する一方、x軸方向と直交するy軸方向の幅は延びる方向に沿って一定であり、コンタクトプローブ2の外部からの荷重によって弾性座屈を生じる弾性座屈部22と、弾性座屈部22が延びるz軸方向の端部であって第1接触部21に連なる端部とは異なる端部からz軸方向に沿って角柱状をなして延びる接続部23と、接続部23からx軸方向に沿って板状をなして延びる腕部24と、腕部24の端面のうち第1接触部21の先鋭化した一端に対して最も遠くに位置する端面から該端面と直交する方向(z軸正の方向)へ突出し、先端が先鋭化した第2接触部25と、腕部24の端面のうち第1接触部21の先鋭化した一端に対して最も近くに位置する端面から該端面と直交する方向(z軸負の方向)へ柱状をなして突出する柱状部26と、を備える。
弾性座屈部22は、x軸方向の幅を含む断面が、腕部24が延びている側で円弧状にくぼんだ形状をなしている。また、図3に示すように、弾性座屈部22のx軸方向の幅のうち最も小さい幅(第1接触部21の柱状部分のx軸方向における最大幅Rとの差が最も大きい幅)の中点M1を通過してz軸と平行な平面P1は、第1接触部21の先鋭化した先端T-1を通過してz軸と平行な平面P2と異なっている。また、平面P1は平面P2よりも腕部24から遠くに位置している。
柱状部26は、腕部24における接続部23との境界を始端とするときの腕部24の終端付近に設けられる。柱状部26の先端を通過し、腕部24が延びる方向と平行な平面H1は、弾性座屈部22を通過する。
以上の構成を有するコンタクトプローブ2は、ニッケル合金の電気鋳造によって形成されている。なお、コンタクトプローブ2を形成する際には、エッチング、プレス加工およびそれらの組み合わせによって形成しても構わない。また、コンタクトプローブ2の材質として、銅、鉄(ステンレス)、タングステン、ベリリウム系の合金などを用いて形成してもよい。
プローブホルダ3は、コンタクトプローブ2の接続部23を挿通するとともに腕部24を保持する平板状の第1ホルダ31と、第1ホルダ31と離間して設けられ、コンタクトプローブ2の第1接触部21を保持する平板状の第2ホルダ32と、第1ホルダ31および第2ホルダ32をそれぞれ挟持して固定する二つのホルダ固定部材33、34とを有する。第1ホルダ31の表面と第2ホルダ32の表面とは互いに平行である。
図4は、プローブホルダ3を第1ホルダ31の上方から見た平面図である。第1ホルダ31は、各々が厚さ方向に貫通され、接続部23を挿通する中空円柱状の複数の第1挿通孔311と、各々が厚さ方向に貫通され、柱状部26を保持する中空円柱状の複数の保持部312とを有する。複数の第1挿通孔311の開口は一列に並んでいる。また、複数の保持部312の開口も一列に並んでいる。図4に示すように、複数の第1挿通孔311の開口がなす列と、複数の保持部312の開口がなす列とは平行である。
第2ホルダ32は、各々が厚さ方向に貫通され、第1接触部21を挿通する中空円柱状の複数の第2挿通孔321を有する。第2挿通孔321の径は第1挿通孔311の径と等しい。第2挿通孔321は、第1挿通孔311と軸線が一致している。
ホルダ固定部材33、34は、第1挿通孔311および保持部321が列をなして並んでいる方向と直交する方向の第1ホルダ31および第2ホルダ32の端面を挟持し、この挟持した端面を固定して支持する。
以上の構成を有するプローブホルダ3は、アルミナ(Al2O3)や窒化珪素(Si3N4)等のセラミックス、プラスチック樹脂等の絶縁性材料を用いて形成される。なお、プローブホルダ3の原材料として、金属等の導電性材料の表面を絶縁被膜によってコーティングしてもよい。
図3に示すように、第1ホルダ31の上面と第2ホルダ32の上面との距離a(第1ホルダ31の表面のうち腕部24が載置される表面と、第2ホルダ32の表面のうち第1ホルダ31と対向する表面との距離a)は、第1接触部21の先端T1を通過し、腕部24が延びる方向(x軸方向)に平行な平面H1と、柱状部26の先端を通過し、腕部24が延びる方向に平行な平面H2との距離bよりも大きい(a>b)。このため、プローブホルダ3にコンタクトプローブ2を取り付ける際には、第1接触部21を第1挿通孔311に挿通し、その先端を第2ホルダ32へ近づけていくと、第1接触部21の先端が第2ホルダ32に達する前に、柱状部26の先端が保持部312に達することとなる。したがって、柱状部26の先端を保持部312に位置合わせして挿入していくと、第1接触部21の先端を第2ホルダ32へ近づけていけば、第1接触部21の先端を第2挿通孔321へほぼ自動的に挿入させることができ、取り付けが容易となる。
なお、図1や図4に示すコンタクトプローブ2の配置パターンはあくまでも一例に過ぎない。すなわち、プローブホルダ3の配線パターンは検査対象の電極または端子の配線パターンに応じて定められるものであり、適宜設計変更を施すことが可能である。
図5は、以上の構成を有するプローブユニット1を用いた検査時の状態を示す図である。図5に示すように、第1接触部21は半導体集積回路100の電極101と接触する一方、第2接触部25は信号処理回路との電気的な接続を確立する配線基板200の電極201と接触する。配線基板200は、ポリイミドなどからなるシート状の基材の一方の表面に、ニッケル等からなる多数の配線および接続用の電極が形成されている。配線基板200は、第2接触部25と接触するように位置決めされた後、プローブホルダ3と同様の材料からなる固定部材300および第1ホルダ31によって挟持され、ネジ止め等によって固定されている。なお、配線基板200と第1ホルダ31との間に適宜スペーサを設けるようにしてもよい。
弾性座屈部22は、z軸方向に平行でありかつx軸方向の最小幅の中点M1を通過する平面P1が第1接触部21の先端(荷重作用点)T1のx軸方向の中心を通過する平面P2よりも腕部24から遠くに位置しているため、第1接触部21が受ける荷重によって弾性座屈を生じ、x軸負の方向にさらにくぼんだ形状に変形している。このように、コンタクトプローブ2は一方向(図5のx軸方向)にのみ撓む性質を有しているため、複数のコンタクトプローブ2のたわみ方向を揃えるのが容易である。
図5において、弾性座屈部22が外部からの荷重に応じて変形するのに伴い、第1接触部21は半導体集積回路100の電極101をx軸方向に摺動する。したがって、電極101が酸化膜で覆われていたり、電極101の表面に汚れが付着したりしている場合には、これらの酸化膜または汚れを削り取ることができる。
コンタクトプローブ2は、たわみが大きくなるにつれて荷重の変化が少なくなるという荷重−たわみ特性を有している。本実施の形態では、たわみによらず荷重が大きく変化しないような状態で検査を行うことができるようにコンタクトプローブ2の形状等を調整する。
以上説明した本発明の一実施の形態によれば、荷重によって弾性座屈する弾性座屈部22の所定方向における幅を弾性座屈部22の長手方向に沿って変化させ、弾性座屈部22の長手方向に沿って第1接触部21の荷重作用点Tを通過する平面が弾性座屈部22の所定方向における幅の変化が大きい箇所における幅の中点Mを通過しないようにオフセットしているため、荷重が加わった時、幅が変化する方向に沿って撓ませることができる。また、弾性座屈部22が延びる方向と直交する方向に延びた腕部24を設け、この腕部24の端部から突出する柱状部26を第1ホルダ31に挿通する構成としているため、コンタクトプローブ2の位置決めを容易に行うことができ、プローブホルダ3への取り付けも簡単である。加えて、コンタクトプローブ2を取り外す際にプローブホルダ3を分解する必要がないため、取り外しも容易である。したがって、荷重によってたわみを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができる。
(変形例)
図6は、本実施の形態の第1変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ4は、第1接触部41、弾性座屈部42、接続部43、腕部44、第2接触部45、および柱状部46を備える。このうち、第1接触部41、弾性座屈部42、接続部43、腕部44、第2接触部45は、コンタクトプローブ2の第1接触部21、弾性座屈部22、接続部23、腕部24、第2接触部25とそれぞれ同じ形状を有する。これに対し、柱状部46は、腕部44の端面のうち第1接触部41の先鋭化した一端に対して最も近くに位置する端面から該端面と直交する方向(z軸負の方向)へ柱状をなして突出しているが、その突出位置は、腕部44が延びる方向の中間部である。
図6は、本実施の形態の第1変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ4は、第1接触部41、弾性座屈部42、接続部43、腕部44、第2接触部45、および柱状部46を備える。このうち、第1接触部41、弾性座屈部42、接続部43、腕部44、第2接触部45は、コンタクトプローブ2の第1接触部21、弾性座屈部22、接続部23、腕部24、第2接触部25とそれぞれ同じ形状を有する。これに対し、柱状部46は、腕部44の端面のうち第1接触部41の先鋭化した一端に対して最も近くに位置する端面から該端面と直交する方向(z軸負の方向)へ柱状をなして突出しているが、その突出位置は、腕部44が延びる方向の中間部である。
弾性座屈部42のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M2を通過してz軸と平行な平面P3は、第1接触部41の先鋭化した先端T2を通過してz軸と平行な平面P4と異なっている。また、平面P3は平面P4よりも腕部44から遠くに位置している。
図6において、コンタクトプローブ4の接続部43を挿通するとともに腕部44を保持する平板状の第1ホルダ35は、接続部43を挿通する複数の第1挿通孔351と、第1挿通孔351と平行に貫通され、柱状部46を保持する複数の保持部352とを有する。
図7は、本実施の形態の第2変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ5は、第1接触部51、弾性座屈部52、接続部53、腕部54、第2接触部55、および柱状部56を備える。このうち、第1接触部51、弾性座屈部52、接続部53、腕部54、第2接触部55は、コンタクトプローブ2の第1接触部21、弾性座屈部22、接続部23、腕部24、第2接触部25とそれぞれ同じ形状を有する。これに対し、柱状部56は、腕部54の端面のうち第1接触部51の先鋭化した一端に対して最も近くに位置する端面から該端面と直交する方向(z軸負の方向)へ柱状をなして突出しているが、その先端を通過し、腕部54が延びる方向と平行な平面H3が弾性座屈部52を通過する。
弾性座屈部52のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M3を通過してz軸と平行な平面P5は、第1接触部51の先鋭化した先端T3を通過してz軸と平行な平面P6と異なっている。また、平面P5は平面P6よりも腕部54から遠くに位置している。
図7において、コンタクトプローブ5の接続部53を挿通するとともに腕部54を保持する板状の第1ホルダ36は、接続部53を挿通する複数の第1挿通孔361と、第1挿通孔361と平行に穿設され、柱状部56を保持する保持部362とを有する。
この第2変形例においても、柱状部の先端を通過し、腕部が延びる方向と平行な平面と、第1接触部の先端を通過し、腕部が延びる方向と平行な平面との距離を、第1ホルダの表面のうち腕部が載置される表面と、第2ホルダの表面のうち第1ホルダと対向する表面との距離よりも大きくすることができる。
図8は、本実施の形態の第3変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ6は、第1接触部61、弾性座屈部62、接続部63、腕部64、第2接触部65、および柱状部66を備える。このうち、第1接触部61、弾性座屈部62、接続部63、腕部64、柱状部66は、コンタクトプローブ2の第1接触部21、弾性座屈部22、接続部23、腕部24、柱状部26とそれぞれ同じ形状を有する。これに対し、第2接触部65は、腕部64の端面のうち第1接触部61の先鋭化した一端に対して最も近くに位置する端面から該端面と直交する方向(z軸正の方向)へ柱状をなして突出しているが、その突出位置は、腕部64が延びる方向の中間部である。
弾性座屈部62のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M4を通過してz軸と平行な平面P7は、第1接触部61の先鋭化した先端T4を通過してz軸と平行な平面P8と異なっている。また、平面P7は平面P8よりも腕部64から遠くに位置している。
図9は、本実施の形態の第4変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ7は、第1接触部71、弾性座屈部72、接続部73、腕部74、第2接触部75、および柱状部76を備える。このうち、第1接触部71、接続部73、腕部74、第2接触部75および柱状部76は、コンタクトプローブ2の第1接触部21、接続部23、腕部24、第2接触部25および柱状部26とそれぞれ同じ形状を有する。これに対して、弾性座屈部72は、x軸方向において腕部74が延びている側と反対側が円弧状にくぼんでいる。したがって、コンタクトプローブ7の場合、外部から荷重が加わると、弾性座屈部72の長手方向の中心部が図9でx軸正の方向へ撓むこととなる。
弾性座屈部72のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M5を通過してz軸と平行な平面P9は、第1接触部71の先鋭化した先端T5を通過してz軸と平行な平面P10と異なっている。また、平面P9は平面P10よりも腕部74から近くに位置している。
図10は、本実施の形態の第5変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ8は、第1接触部81、弾性座屈部82、接続部83、腕部84、第2接触部85、および柱状部86を備える。このうち、第1接触部81、接続部83、腕部84、第2接触部85および柱状部86は、コンタクトプローブ2の第1接触部21、接続部23、腕部24、第2接触部25および柱状部26とそれぞれ同じ形状を有する。これに対して、弾性座屈部82は、x軸方向において腕部84が延びている側がくぼんでおり、このx軸方向で幅が小さくなった中央部付近は均一な幅を有している。
弾性座屈部82のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M7を通過してz軸と平行な平面P11は、第1接触部81の先鋭化した先端T7を通過してz軸と平行な平面P12と異なっている。また、平面P11は平面P12よりも腕部84から遠くに位置している。
図11は、本実施の形態の第6変形例に係るコンタクトプローブの構成を示す図である。同図に示すコンタクトプローブ9は、第1接触部91、弾性座屈部92、接続部93、腕部94、第2接触部95、および柱状部96を備える。このうち、第1接触部91、接続部93、腕部94、第2接触部95および柱状部96は、コンタクトプローブ2の第1接触部21、接続部23、腕部24、第2接触部25および柱状部26とそれぞれ同じ形状を有する。これに対して、弾性座屈部92は、x軸方向において腕部94が延びている側と反対側がくぼんでおり、このx軸方向で幅が小さくなった中央部付近は均一な幅を有している。
弾性座屈部92のx軸方向の幅のうちもっとも小さい幅の中点M8を通過してz軸と平行な平面P13は、第1接触部91の先鋭化した先端T9を通過してz軸と平行な平面P14と異なっている。また、平面P13は平面P14よりも腕部94から近くに位置している。
以上説明した本実施の形態の第1〜第6変形例によれば、上述した実施の形態と同様、コンタクトプローブの外部から加わる荷重によってたわみを生じる方向を制御することができ、ユニット化する際の組立を容易に行うことができ、ユニット化した後のメインテナンスを効率よく行うことができる。
ここまで、本発明を実施するための形態を説明してきたが、本発明は上述した一実施の形態によって限定されるべきものではない。すなわち、本発明は、ここでは記載していない様々な実施の形態等を含みうるものであり、特許請求の範囲により特定される技術的思想を逸脱しない範囲内において種々の設計変更等を施すことが可能である。
本発明は、半導体集積回路や液晶パネルなどの電子部品における導通状態検査や動作特性検査を行う際に有用である。
1 プローブユニット
2、4、5、6、7 コンタクトプローブ
3 プローブホルダ
21、41、51、61、71、81、91 第1接触部
22、42、52、62、72、82、92 弾性座屈部
23、43、53、63、73、83、93 接続部
24、44、54、64、74、84、94 腕部
25、45、55、65、75、85、95 第2接触部
26、46、56、66、76、86、96 柱状部
31、35、36 第1ホルダ
32 第2ホルダ
33、34 ホルダ固定部材
100 半導体集積回路
101、201 電極
200 配線基板
300 固定部材
311、351、361 第1挿通孔
312、352、362 保持部
321 第2挿通孔
2、4、5、6、7 コンタクトプローブ
3 プローブホルダ
21、41、51、61、71、81、91 第1接触部
22、42、52、62、72、82、92 弾性座屈部
23、43、53、63、73、83、93 接続部
24、44、54、64、74、84、94 腕部
25、45、55、65、75、85、95 第2接触部
26、46、56、66、76、86、96 柱状部
31、35、36 第1ホルダ
32 第2ホルダ
33、34 ホルダ固定部材
100 半導体集積回路
101、201 電極
200 配線基板
300 固定部材
311、351、361 第1挿通孔
312、352、362 保持部
321 第2挿通孔
Claims (8)
- 両端で異なる2つの回路構造とそれぞれ接触し、該2つの回路構造を電気的に接続する導電性のコンタクトプローブにおいて、
一端が先鋭化した柱状をなす第1接触部と、
前記第1接触部の他端から前記第1接触部の長手方向に沿って略柱状をなして延び、この延びる方向と直交する方向のうち少なくとも一つの方向の幅は前記延びる方向に沿って変化する一方、前記一つの方向と直交する方向の幅は前記延びる方向に沿って一定であり、荷重によって弾性座屈を生じる弾性座屈部と、
前記弾性座屈部が延びる方向の端部であって前記第1接触部に連なる端部とは異なる端部から前記延びる方向に沿って柱状をなして延びる接続部と、
前記接続部から前記一つの方向に沿って板状をなして延びる腕部と、
前記腕部の端面のうち前記第1接触部の先鋭化した一端に対して最も遠くに位置する端面から該端面と直交する方向へ突出し、先端が先鋭化した第2接触部と、
前記腕部の端面のうち前記第1接触部の先鋭化した一端に対して最も近くに位置する端面から該端面と直交する方向へ柱状をなして突出する柱状部と、
を備え、
前記第1接触部の先鋭化した一端を通過して前記延びる方向に平行な平面と、前記一つの方向における前記弾性座屈部の幅のうち当該方向における前記第1接触部の最大幅との差が最も大きい幅の中点を通過して前記延びる方向に平行な平面とは異なることを特徴とするコンタクトプローブ。 - 前記弾性座屈部は、
前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側でくぼんだ形状をなしていることを特徴とする請求項1記載のコンタクトプローブ。 - 前記弾性座屈部は、
前記一つの方向の幅を含む断面が、前記腕部が延びている側と反対側でくぼんだ形状をなしていることを特徴とする請求項1記載のコンタクトプローブ。 - 前記柱状部は、
前記腕部における前記接続部との境界を始端とするときの前記腕部の終端付近に設けられたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載のコンタクトプローブ。 - 前記柱状部の先端を通過し、前記腕部が延びる方向と平行な平面は、前記弾性座屈部を通過することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載のコンタクトプローブ。
- 前記柱状部の先端を通過し、前記腕部が延びる方向と平行な平面は、前記接続部を通過することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載のコンタクトプローブ。
- 請求項1〜6のいずれか一項記載の複数のコンタクトプローブと、
各々が前記接続部を挿通する複数の第1挿通孔と、各々が前記柱状部を挿通する複数の保持部とを有し、少なくとも表面が絶縁性材料からなる平板状の第1ホルダと、
各々が前記第1接触部を挿通する複数の保持部を有し、少なくとも表面が絶縁性材料からなる平板状の第2ホルダと、
を備えたことを特徴とするプローブユニット。 - 前記第1ホルダ表面のうち前記腕部が載置される表面と、前記第2ホルダの表面のうち前記第1ホルダと対向する表面との距離は、前記第1接触部の先端を通過し、前記腕部が延びる方向に平行な平面と、前記柱状部の先端を通過し、前記腕部が延びる方向に平行な平面との間の距離よりも大きいことを特徴とする請求項7記載のプローブユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009293111A JP2011133354A (ja) | 2009-12-24 | 2009-12-24 | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009293111A JP2011133354A (ja) | 2009-12-24 | 2009-12-24 | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011133354A true JP2011133354A (ja) | 2011-07-07 |
Family
ID=44346246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009293111A Pending JP2011133354A (ja) | 2009-12-24 | 2009-12-24 | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011133354A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017119676A1 (en) * | 2016-01-04 | 2017-07-13 | Isc Co., Ltd. | Semiconductor test contactor |
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-
2009
- 2009-12-24 JP JP2009293111A patent/JP2011133354A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101813006B1 (ko) | 2016-01-04 | 2017-12-28 | 주식회사 아이에스시 | 반도체 테스트용 콘택터 |
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JP7149312B2 (ja) | 2020-07-08 | 2022-10-06 | 中華精測科技股▲ふん▼有限公司 | プローブカード装置及びそのファンアウト型プローブ |
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JP2022083380A (ja) * | 2020-11-24 | 2022-06-03 | 中華精測科技股▲ふん▼有限公司 | プローブカード装置及び自己整列プローブ |
JP7277505B2 (ja) | 2020-11-24 | 2023-05-19 | 中華精測科技股▲ふん▼有限公司 | プローブカード装置及び自己整列プローブ |
KR102535938B1 (ko) | 2020-11-24 | 2023-05-26 | 충화 프레시전 테스트 테크 컴퍼티 리미티드 | 프로브 카드 장치 |
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