JP2011169861A - Device for detecting surface defect and defect under surface skin, and method for detecting the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、棒鋼や鋼片の表面及び表面皮下に存在する欠陥を検出する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置、及びその検出方法に関する。 The present invention relates to a surface defect and a surface subcutaneous defect detection apparatus for detecting defects existing on the surface and surface of a steel bar or a steel piece, and a detection method thereof.
金属材料である棒鋼や鋼片などの表面や表面皮下に存在する欠陥を非破壊で検出する方法として、磁粉探傷法、浸透探傷法、渦流探傷法、超音波探傷法などが知られている。
磁粉探傷法は、磁化された被検査体に蛍光特性を有する磁粉を散布し、その磁粉に紫外光源を照射して得られる磁粉指示模様を観察することで表面欠陥を検出するものである。
浸透探傷法は、被検査体の表面に蛍光浸透剤を塗布してクラックに染み込ませ、クラック内の浸透剤が被検査体表面ににじみ出してできた指示模様に紫外線を当てて得られる蛍光を観察することで表面欠陥を検出するものである。
As a method for nondestructively detecting defects existing on the surface of a metal material such as steel bars or steel pieces, or a subsurface surface, a magnetic particle inspection method, a penetrating flaw detection method, an eddy current flaw detection method, an ultrasonic flaw detection method, or the like is known.
In the magnetic particle flaw detection method, surface defects are detected by observing a magnetic particle indicating pattern obtained by spraying magnetic particles having fluorescence characteristics on a magnetized inspection object and irradiating the magnetic powder with an ultraviolet light source.
In the penetrant flaw detection method, a fluorescent penetrant is applied to the surface of the object to be infiltrated and soaked into the crack, and the fluorescence obtained by irradiating the indicator pattern formed by the penetrant in the crack oozing out onto the surface of the inspected object By observing, surface defects are detected.
このような磁粉探傷法や浸透探傷法は湿式検査であり、磁粉液や蛍光浸透剤の散布量変化による輝度の変動、被検査体の表面粗度分布などの影響を大きく受けるため、検査結果の再現性が良くない。そのため、検査作業者によって検査結果が異なるという問題と、検査対象の表面に開口している欠陥しか検出できないという問題がある。
また、渦流探傷法は、被検査体の表面に検出コイルを近付けて被検査体表面に渦電流を流し、その検出コイルを被検査体上で移動させながら誘導電流の変化を検出することで被検査体の欠陥とその深さを検出するものである。
These magnetic particle inspection methods and penetrant flaw detection methods are wet inspections, and are greatly affected by fluctuations in brightness due to changes in the amount of magnetic powder and fluorescent penetrant applied, and the surface roughness distribution of the test object. Reproducibility is not good. Therefore, there are a problem that the inspection result varies depending on the inspection operator, and a problem that only a defect opened on the surface to be inspected can be detected.
In the eddy current flaw detection method, a detection coil is brought close to the surface of an object to be inspected, an eddy current is caused to flow on the surface of the object to be inspected, and a change in induced current is detected while the detection coil is moved on the object to be inspected. It detects the defect and depth of the inspection object.
この渦流探傷法では、金属材料の表層部分の検査が可能であるものの、欠陥以外の組織変化や磁気変化も検出してしまうので、検出結果における欠陥の弁別が難しいという問題がある。
そこで、一般的には、特許文献1に示すような超音波表面探傷法が用いられることが多い。超音波探傷法は、超音波探触子から被検査体内に表面波となる超音波を送出し、被検査体内で反射して戻ってきた超音波を超音波探触子で受信することで、被検査体の表面欠陥及び表面皮下欠陥を検出するものである。このとき、探傷領域内の超音波伝播経路に、超音波探触子で用いられる接触媒質が存在していたり、水滴や粉塵などが付着していたりすると、欠陥ではないこれら接触媒質や付着物で超音波が反射するので、探傷領域内の接触媒質や付着物などをエアブロアで吹き飛ばすか、ワイパーで除去している。このような超音波表面探傷法は、欠陥の検出精度が良く、また検査作業者にとっての作業性も良いという利点がある。
Although this eddy current flaw detection method can inspect the surface layer portion of a metal material, it has a problem that it is difficult to discriminate defects in detection results because it detects structural changes and magnetic changes other than defects.
Therefore, in general, an ultrasonic surface flaw detection method as shown in Patent Document 1 is often used. The ultrasonic flaw detection method sends out ultrasonic waves that become surface waves from the ultrasonic probe into the body to be inspected, and receives the ultrasonic waves reflected back from the body under inspection by the ultrasonic probe. It detects a surface defect and a surface subcutaneous defect of an object to be inspected. At this time, if there is a contact medium used by the ultrasonic probe in the ultrasonic propagation path in the flaw detection area, or if water droplets or dust adheres, the contact medium or deposits that are not defects Since the ultrasonic waves are reflected, the contact medium or deposits in the flaw detection area are blown off with an air blower or removed with a wiper. Such an ultrasonic surface flaw detection method has the advantage that the defect detection accuracy is good and the workability for the inspection worker is also good.
図10は、特許文献1に示される円柱体表面検査装置の構成を示す図である。図10(a)において、円柱体100の表面には探触子101が配置されおり、円柱体の周方向(実線の矢印で示される方向)に沿った超音波の伝播方向には、この伝播方向に沿って円柱体の表面にエアを噴射するエアノズル102が配置されている。図10(b)において、円柱体100の表面で斜線で示される付着物は超音波探触子が用いた接触媒質であり、円柱体100は紙面に向かって時計回りに回転し、エアノズル102からは、円柱体100に向かってエアが吹き出してしている。このような構成により、図10(b)の破線で示す探傷領域には接触媒質が存在しなくなる。
FIG. 10 is a diagram showing the configuration of the cylindrical body surface inspection apparatus disclosed in Patent Document 1. As shown in FIG. In FIG. 10A, a
超音波探傷法において、超音波探触子から被検査体内に超音波を伝播するために用いる接触媒質や表面付着物が完全に取り除かれずに伝播経路に残っていると、それら接触媒質や表面付着物から超音波の反射信号がかえってくるため、欠陥ではないそれら表面付着物からの反射信号を検出してしまうという問題がある。
そこで特許文献1に開示されるように、探傷領域の伝播経路内に接触媒質や表面付着物が入らないようにエアノズルで吹き飛ばして除去するという手段が採られる。特許文献1に開示される方法では、被検査体を回転させながら、回転方向とは逆向きにエアを噴射して、探傷領域に接触媒質が進入しないようにしている。しかしこの方法では、探傷領域から除去した又は除去できなかった接触媒質や表面付着物が、常に超音波の伝播方向に存在し、外乱となる。これにより、図10(b)の破線で示すように、接触媒質を除去できた一部の領域でしか検査できず、1度の検査で欠陥を検出できる探傷領域が、被検査体の一部分のみに限定される。よって、被検査体の周方向の検査を数度に分けて行わねばならず、その周方向の検査を終えるまで、被検査体を被検査体の長さ方向に移動させることができないという問題がある。
In the ultrasonic flaw detection method, if the contact medium or surface deposit used for propagating ultrasonic waves from the ultrasonic probe into the body to be inspected remains in the propagation path without being completely removed, the contact medium or surface attachment Since the reflected signal of the ultrasonic wave is returned from the kimono, there is a problem that the reflected signal from the surface deposit that is not a defect is detected.
Therefore, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-228688, a means is adopted in which the contact medium and surface deposits are blown off by an air nozzle so as not to enter the propagation path of the flaw detection area. In the method disclosed in Patent Document 1, air is jetted in the direction opposite to the rotation direction while rotating the object to be inspected so that the contact medium does not enter the flaw detection area. However, in this method, the contact medium and surface deposits that have been removed or cannot be removed from the flaw detection area always exist in the propagation direction of the ultrasonic waves, resulting in disturbance. As a result, as shown by a broken line in FIG. 10B, only a part of the area where the contact medium can be removed can be inspected, and a flaw detection area where a defect can be detected by one inspection is only a part of the inspection object. It is limited to. Therefore, the circumferential inspection of the object to be inspected must be performed in several degrees, and the problem that the object to be inspected cannot be moved in the length direction of the object to be inspected until the circumferential inspection is finished. is there.
また、ワイパーを使って接触媒質や表面付着物を除去する場合でも、ワイパー自体が超音波の伝播経路内にあるため、欠陥の擬似信号として検出されてしまうという問題がある。
そこで本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、探傷する被検査体の通材方向、表面波の伝播方向、エアノズルの位置と噴射方向のそれぞれを適切に設定することで、超音波の表面波を被検査体の周方向に一周させて全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法を提供することを目的とする。
In addition, even when the contact medium or surface deposits are removed using a wiper, the wiper itself is in the ultrasonic wave propagation path, so that there is a problem that it is detected as a defect pseudo signal.
Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and by appropriately setting each of the material passing direction of the inspection object to be inspected, the propagation direction of the surface wave, the position of the air nozzle and the injection direction, the ultrasonic wave It is an object of the present invention to provide a detection device and a method for detecting a surface defect and a surface subcutaneous defect that can detect the entire surface of the object to be inspected by making one surface wave of the surface to be inspected in the circumferential direction and reduce reflected waves from other than the defect. .
上述の目的を達成するため、本発明においては以下の技術的手段を講じた。
すなわち、本発明に係る表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置は、被検査体に対して被検査体の表面直下を伝播する超音波を送出する送信部、及び送出された超音波のうち、少なくとも被検査体内の欠陥で反射して戻った超音波を受信する受信部を備えた探触子と、前記送信部から送出される超音波の伝播方向にある被検査体の表面付着物を、前記伝播方向に対して略垂直方向へ除去する除去手段と、を具備することを特徴とする。
In order to achieve the above-described object, the present invention takes the following technical means.
That is, the surface defect and the surface subcutaneous defect detection apparatus according to the present invention includes at least one of the transmitted ultrasonic wave and the transmitted ultrasonic wave that transmits the ultrasonic wave propagating directly under the surface of the test object to the test object. A probe having a receiving unit for receiving ultrasonic waves reflected and returned by a defect in the inspected object, and a surface deposit on the inspected object in the propagation direction of the ultrasonic waves transmitted from the transmitting unit, Removing means for removing in a direction substantially perpendicular to the propagation direction.
また、本発明に係る表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置は、被検査体が長尺物である際に、前記探触子は、被検査体の周方向に超音波を送出するように配置されており、前記除去手段は、被検査体の全周にわたって配備されていることを特徴とする。
また、本発明に係る表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置は、前記探触子を2つ有しており、該2つの探触子は、被検査体の長手方向において異なる位置に配置され、被検査対象の周方向において互いに対向する方向に超音波を送出することを特徴とする。
Further, the surface defect and subcutaneous surface defect detection apparatus according to the present invention is arranged such that when the object to be inspected is a long object, the probe transmits ultrasonic waves in the circumferential direction of the object to be inspected. The removing means is provided over the entire circumference of the object to be inspected.
Further, the surface defect and subcutaneous surface defect detection apparatus according to the present invention has the two probes, and the two probes are arranged at different positions in the longitudinal direction of the inspection object, Ultrasonic waves are transmitted in directions opposite to each other in the circumferential direction of the object to be inspected.
ここで前記除去手段は、被検査対象の探傷範囲に対して、前記探触子から送出された超音波の伝播方向に対して略垂直方向にエアを噴射するエア噴射手段であってもよい。
本発明に係る表面欠陥及び表面皮下欠陥検出方法は、超音波を用いて被検査体内の欠陥を検出する方法であって、超音波の伝播方向にある被検査体の表面付着物を、前記伝播方向に対して略垂直方向へ除去し、被検査体に対して、被検査体の表面直下を伝播する超音波を送出し、被検査体に送出された超音波のうち、少なくとも被検査体内の欠陥で反射した超音波を受信することを特徴とする。
Here, the removing unit may be an air ejecting unit that ejects air in a direction substantially perpendicular to a propagation direction of an ultrasonic wave transmitted from the probe with respect to a flaw detection range to be inspected.
A surface defect and subcutaneous surface defect detection method according to the present invention is a method for detecting a defect in an inspected body using ultrasonic waves, and the surface deposit on the inspected object in the propagation direction of ultrasonic waves The ultrasonic wave propagating directly below the surface of the object to be inspected is transmitted to the object to be inspected, and at least of the ultrasonic waves sent to the object to be inspected. The ultrasonic wave reflected by the defect is received.
また、本発明に係る表面欠陥及び表面皮下欠陥検出方法は、被検査体が長尺物である際に、被検査体の周方向に超音波を送出し、被検査体の全周にわたって同時に、前記伝播方向に対して略垂直方向へ、表面付着物を除去することを特徴とする。
また、本発明に係る表面欠陥及び表面皮下欠陥検出方法は、超音波の送出を開始する被検査体上の伝播方向前方に存する探傷範囲を、被検査体の長手方向へ移動させることを特徴とする。
Moreover, the surface defect and the surface subcutaneous defect detection method according to the present invention, when the object to be inspected is a long object, send ultrasonic waves in the circumferential direction of the object to be inspected, and simultaneously over the entire circumference of the object to be inspected. Surface deposits are removed in a direction substantially perpendicular to the propagation direction.
Further, the surface defect and subcutaneous surface defect detection method according to the present invention is characterized in that the flaw detection range existing ahead in the propagation direction on the object to be inspected starts to be transmitted in the longitudinal direction of the object to be inspected. To do.
また、本発明に係る表面欠陥及び表面皮下欠陥検出方法は、被検査体の長手方向における異なる位置から、被検査体の周方向において互いに対向する方向に超音波を送出することを特徴とする。
ここで、超音波の伝播方向に対して略垂直方向となるように、被検査対象の探傷範囲へエアを噴射してもよい。
In addition, the surface defect and subcutaneous surface defect detection method according to the present invention is characterized in that ultrasonic waves are transmitted from different positions in the longitudinal direction of the object to be inspected toward each other in the circumferential direction of the object to be inspected.
Here, air may be injected into the flaw detection range to be inspected so as to be in a direction substantially perpendicular to the propagation direction of the ultrasonic waves.
本発明に係る表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法によれば、欠陥以外からの反射波を低減することができ、探傷する被検査体の通材方向、表面波の伝播方向、エアブロアの位置と噴射方向のそれぞれを適切に設定することで、超音波の表面波を被検査体の周方向に一周させて全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減することができる。 According to the apparatus and method for detecting a surface defect and a surface subcutaneous defect according to the present invention, reflected waves from other than the defect can be reduced, the material passing direction of the inspection object to be inspected, the propagation direction of the surface wave, the air blower By appropriately setting each of the position and the jetting direction, it is possible to detect the entire surface by making one round of the surface wave of the ultrasonic wave in the circumferential direction of the object to be inspected, and to reduce the reflected wave from other than the defect .
以下、本発明による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置の実施形態を、図を基に説明する。
本発明による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aは、金属材料である棒鋼や鋼片などの被検査体2に対して被検査体2の表面直下を伝播する超音波を送出する送信部、及び送出された超音波のうち、少なくとも被検査体2内の欠陥で反射して戻った超音波を受信する受信部を備えた探触子10と、送信部から送出される超音波の伝播方向にある被検査体2の表面付着物を、前記伝播方向に対して略垂直方向へ除去する除去手段3aと、を具備するものである。
[第1実施形態]
図1を参照して、表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aの構成を説明する。図1は、本発明の第1実施形態による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1a及び被検査体2の構成と配置を示す概略図である。
Hereinafter, embodiments of a detection apparatus for surface defects and surface subcutaneous defects according to the present invention will be described with reference to the drawings.
The surface defect and surface subcutaneous
[First Embodiment]
With reference to FIG. 1, the structure of the
表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aは、除去手段としてのエアブロア3a、探触子10とセンサホルダ4からなるセンサヘッド15、工場エア供給部5、接触媒質供給回収部6、超音波探傷器7、及び信号記録処理装置8を有するものである。
表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aは、略四角柱の棒鋼である被検査体2の製造ラインに固定及び設置されている。
An
The
まず、表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出に用いるセンサヘッド15の構成について説明する。図1に示すセンサヘッド15は、探触子10及び探触子10を保持するセンサホルダ4からなるものである。
センサホルダ4は、例えば略立方体で下方が開放された箱型の筐体であって、その箱型の内部において、超音波である表面波(レーリー波)を送受信する探触子10を有する。さらにセンサホルダ4は、探触子10と被検査体2との間で超音波を伝達する接触媒質を供給するための接触媒質供給管11、及びその接触媒質を回収するための接触媒質回収管12を有するものである。
First, the configuration of the
The
探触子10は、図示しないが、例えば圧電素子による探触子である。なお、ローレンツ型横波発生用センサなどの電磁超音波センサは、表面波を送出する送信部である送信コイルと、送出された表面波を受信する受信部である受信コイルとを有している。電磁超音波センサでは、接触媒質が不要であるが、本発明の実施形態においては、表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出により適した圧電素子による探触子を用いる。ここで表面波とは、被検査体の表面または表面直下を伝播する超音波である。
Although not shown, the
次に、図2を参照して、センサヘッド15の構成をさらに詳細に説明する。
図2は、センサヘッド15の構成を示す断面図である。被検査体2の側面(検査面)上に配置されたセンサヘッド15のセンサホルダ4内において、探触子10は、図2に示すように、被検査体2との間に所定の空間を確保するように浮き上がって設けられている。つまり、被検査体2に接するセンサホルダ4内で、探触子10は、被検査体2から所定の間隔だけ上方に離れている。
Next, the configuration of the
FIG. 2 is a cross-sectional view showing the configuration of the
センサホルダ4の側壁は、探触子10の周囲を取り囲み、探触子10は、センサホルダ4で形成された空間内にある。
欠陥検出の際には、接触媒質供給管11からこの空間内に接触媒質が供給され、供給された接触媒質は、接触媒質回収管12へ回収される。
図1に示す接触媒質供給回収部6は、センサヘッド15で用いられる接触媒質を、センサホルダ4の接触媒質供給管11を通してセンサホルダ4内の空間に供給すると共に、センサホルダ4の接触媒質回収管12を通してセンサホルダ4内の空間から接触媒質を回収するものである。そのため、接触媒質供給回収部6は、センサホルダ4の接触媒質供給管11及び接触媒質回収管12に接続される。ここで接触媒質とは、水、グリセリンペースト、油など超音波を伝達する物質である。
The side wall of the
When detecting a defect, the contact medium is supplied into the space from the contact
The contact medium supply /
図3を参照しつつ、上記した探触子10が内蔵されたセンサヘッド15の配置について説明する。図中、被検査体2が移動する方向を、通材方向として矢印で示している。
被検査体2は、通材方向を示す矢印の始端から終端に向かって移動する。本実施形態では、この矢印の始端側を上流側といい、その終端側を下流側という。
図3(a)は、被検査体2に対するセンサヘッド15及び後述するエアブロア3aの配置を示す斜視図であり、図3(b)は、図3(a)に示す構成を、被検査体2の通材方向の上流側から見たときの状態を示す図である。
With reference to FIG. 3, the arrangement of the
The
FIG. 3A is a perspective view showing the arrangement of the
図3(a)に示すように、センサヘッド15は、被検査体2の検査面の一端側の位置にセンサホルダ4の下方開放面側壁の下端面又は下端辺が接するように、表面波の送出方向を被検査体2の周方向に向けて配置される。これによってセンサヘッド15は、被検査体2の側面上の1点から、矢印で示すように被検査体2の周方向に向かって表面波を送出する。図中、通材方向におけるセンサヘッド15の幅で、被検査体2の周方向の全周にわたって描かれている2本の細線に挟まれた領域は、送出された表面波の伝播範囲を示しており、センサヘッド15から送出された表面波は、被検査体2の表面を全周にわたって伝播する。この伝播範囲が、表面欠陥及び表面皮下欠陥の検査範囲である。
As shown in FIG. 3A, the
被検査体2は通材方向に移動するが、センサヘッド15は、表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aに配備されており通材方向には移動しないので、被検査体2に対して相対的に上流側へ移動することになる。
図1に示す超音波探傷器7は、探触子10の送信コイルへのパルス電流の送出と、受信コイルからのパルス電流の受信を制御するものであって、センサヘッド15に接続されている。超音波探傷器7でパルス電流を調整することで、被検査体2の全周にわたって伝播する強度の超音波を発生させることができる。
The
The
図1に示す信号記録処理装置8は、探触子10の受信コイルから超音波探傷器7を経て得たエコー(反射波)信号をもとに、エコーの到達時間、すなわち、欠陥の位置などを算出するものであり、超音波探傷器7に接続されている。信号記録処理装置8は、例えばPC(パーソナルコンピュータ)で構成される。
続いて、表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aにおける、除去手段としてのエアブロア3aの構成について説明する。エアブロア3aは、被検査体2の側面の幅とほぼ同じ幅を持つ略直方体の筐体と、該筐体の長手方向に沿って設けられた複数のエアノズル9と、エア導入口(図示せず)とから構成される。図3に示すエアブロア3aは、7個のエアノズル9を有している。
The signal
Next, the configuration of the
また、図3に示すように、エアブロア3aは、センサヘッド15が配置された検査面上で、センサヘッド15から所定の距離だけ離れた下流側の位置に配置される。このとき、エアブロア3aは、該側面との間に大きな摩擦が生じないように、該側面との間に所定の間隔を確保して浮き上がった状態で配置される。また、このような位置でエアブロア3aは、エアノズル9を被検査体2の周方向に沿った表面波の伝播範囲に向けて配置されている。
As shown in FIG. 3, the
図3(b)に示すように、上記のようなセンサヘッド15とエアブロア3aの配置を被検査体2の上流側から見ると、センサヘッド15とエアブロア3aは重なり合うように配置されている。
このときエアブロア3aは、エアノズル9の噴射方向が、通材方向の下流側から上流側に向かって、表面波の伝播方向に対して略垂直となるように、且つ図3(a)に2本の細線で挟まれた伝播範囲を含んで下流側から上流側にエアが噴射されるように配置されている。
As shown in FIG. 3B, when the arrangement of the
At this time, two
工場エア供給部5は、表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aが設置される工場全体での使用を目的としたエアを供給する工場圧力配管やコンプレッサ等である。この工場エア供給部5は、エアブロア3aのエア導入口に接続されて、エアを供給する。
上述のように構成及び配置されたエアブロア3aに、工場エア供給部5からエアが供給されると、エアブロア3aは、図3(a)で矢印で示すように、エア導入口に供給されたエアを、図中矢印で示すように通材方向の下流側から上流側に向けて、複数のエアノズル9から噴射する。
The factory
When air is supplied from the factory
図3(a)及び図3(b)に示すように、センサヘッド15のサイズは、エアブロア3aの長手方向の幅に対して相対的に小さい。しかし、図3(b)に示すように、両者の配置がエアの噴射方向において重なり合っているので、エアブロア3aからセンサヘッド15に向かってエアが噴射されると、センサヘッド15にもエアが吹き付けられる。このときは、探触子10と被検査体2との間に設けられた空間を取り囲むセンサホルダ4が風防の役割を果たすので、エアブロア3aからのエアとともに該空間内の接触媒質が吹き飛ばされることはない。また、それだけにとどまらず、センサヘッド15にエアが吹き付けられることで、センサホルダ4直近の接触媒質を確実に除去することができる。
As shown in FIGS. 3A and 3B, the size of the
空間内の接触媒質の一部は、接触媒質回収管12へ回収されず、センサホルダ4と被検査体2が接する部分から、矢印で示すようにセンサホルダ4の外側へ漏出するが、この漏出分は、エアブロア3aからのエアで吹き飛ばされ、表面波の伝播範囲には残らない。
このような構成の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aは、被検査体2を回転させることなく通材させ、センサヘッド15から被検査体2の周方向に表面波を伝播させると共に、被検査体2の通材方向に逆向きに、エアブロア3aからエアを噴射する。
A part of the contact medium in the space is not recovered to the contact
The surface defect and subsurface
このようにすることで、表面波の伝播範囲内の接触媒質を、伝播方向に対して略垂直方向に且つ伝播範囲外に除去できると共に、工場内の粉塵などの付着を防ぐことができるので表面欠陥及び表面皮下欠陥の誤検出を低減できる。また、表面波の伝播方向が被検査体2の周方向であることと共に、エアブロア3aからのエア噴射方向が表面波の伝播方向に略垂直であることにより、表面波の伝播範囲に不要な接触媒質が存在しなくなるので、従来のように被検査体2の全周を分割することなく、一回の探傷で、被検査体2の幅方向全周を探傷することができる。このような探傷検査を、被検査体2を通材方向に移動させながら連続的に行うと、被検査体2の全長にわたる連続的な探傷が可能となり、探傷にかかる時間を短縮することができるので、探傷効率が向上する。
By doing so, the contact medium within the propagation range of the surface wave can be removed in a direction substantially perpendicular to the propagation direction and out of the propagation range, and adhesion of dust and the like in the factory can be prevented. It is possible to reduce false detection of defects and surface subcutaneous defects. In addition, since the propagation direction of the surface wave is the circumferential direction of the object to be inspected 2 and the air injection direction from the
上記の説明では、図4(a)に示すように、エアブロア3aを、センサヘッド15に対して通材方向の下流側に配置したが、図4(b)に示すように、エアブロア3aを、センサヘッド15に対して通材方向の上流側で、エアノズル9が上流側を向くように配置してもよい。このときも、エアブロア3aは、エアノズル9の噴射方向が、通材方向の下流側から上流側に向かうように、且つ被検査体2の表面にエアが噴射されるように配置されている。この配置によっても、表面波の伝播範囲に接触媒質や粉塵が付着しないようにして、一回の探傷で、被検査体2の幅方向全周を探傷することができる。また、センサヘッド15は、エアブロア3aからの風の影響を全く受けないので、探触子10をセンサホルダ4に収納することなく露出させて使うこともできる。
[第2実施形態]
次に、図5を参照して、本発明の第2実施形態による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1bについて説明する。
In the above description, as shown in FIG. 4 (a), the
[Second Embodiment]
Next, a surface defect and surface subcutaneous
本実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1bは、第1実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aにおいてエアブロア3aの代わりに、被検査体2の4つの検査面に対応する第1除去手段〜第4除去手段である4つのエアブロア3b〜3eを採用した構成を有している。エアブロア3b〜3e以外の構成は、第1実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aと同様である。
The surface defect and surface subcutaneous
図5(a)は、本発明の第2実施形態による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1bのエアブロア3b〜3e及びセンサヘッド15と、被検査体2の配置構成を通材方向の上流側から見た図である。
エアブロア3b〜3eは、第1実施形態で説明したエアブロア3aと同様の構成を有しており、それぞれ、第1実施形態で説明した工場エア供給部5に接続されている。
FIG. 5A shows the arrangement of the
The
また、センサヘッド15には、第1実施形態で説明した接触媒質供給回収部6、超音波探傷器7、及び信号記録処理装置8が接続されている。
第1実施形態と同様にして、センサヘッド15を被検査体2の検査面に配置し、エアブロア3b〜3eを、センサヘッド15に対して通材方向の下流側に配置する。エアブロア3b〜3eのそれぞれは、図5(a)に示すように、表面波の伝播範囲から所定の距離だけ離れた位置で周方向に被検査体2を取り囲むように配置される。また、エアブロア3b〜3eのそれぞれは、被検査体2の検査面から所定の間隔を空けて浮き上がるとともに、エアノズル9の噴射方向が、通材方向の下流側から上流側に向かって表面波の伝播方向に対して略垂直となるように、且つ表面波の伝播範囲を含んで下流側から上流側にエアが噴射されるように配置される。
Further, the contact medium supply /
In the same manner as in the first embodiment, the
このような配置構成において、センサヘッド15は表面波を送出し、送出された表面波は、被検査体2に示されている略円状の矢印の方向に伝播する。これと同時に、エアブロア3a〜3dは、矢印で示す噴射方向に沿ってエアを噴射し、送出された表面波の伝播範囲にある接触媒質や粉塵を除去する。
このように、エアブロア3a〜3dを被検査体2の検査面に対応させて全周に配置することで、被検査体2の全周にわたって表面波の伝播範囲にある粉塵等を除くことができるので、欠陥以外の粉塵などからの反射波を低減することができる。
In such an arrangement, the
As described above, by arranging the
図5(b)を参照して、第2実施形態の変形例である表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1cについて説明する。
本変形例における表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1cは、本発明の第2実施形態による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1bにおいて、4つのエアブロア3b〜3eの代わりに、エアブロア3fを採用した構成を有している。本変形例において、被検査体2bは円柱状の棒鋼である。
With reference to FIG.5 (b), the detection apparatus 1c of the surface defect which is a modification of 2nd Embodiment, and a surface subcutaneous defect is demonstrated.
The surface defect and surface subcutaneous defect detection device 1c in the present modification employs an
表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1cにおいて、エアブロア3f以外の構成要素は、第2実施形態による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1bと同様の構成となっている。
図5(b)に示すように、エアブロア3fは、被検査体2bが通過するための開口を有する円環状の筐体を有しており、エア導入口(図示せず)を有するとともに、該筐体の円環状の平面に複数のエアノズル9を有するものである。図5(b)では、22個のエアノズル9が示されている。エアブロア3fは、エア導入口に供給されたエアを、図中矢印で示すように複数のエアノズル9から噴射する。
In the surface defect and surface subcutaneous defect detection device 1c, the components other than the
As shown in FIG. 5B, the
このようなエアブロア3fを、エアノズル9をセンサヘッド15に向けて、被検査体2の通材方向下流側に配置する。エアブロア3fは、その開口に被検査体2bを通過させるので、図5(b)に示すように、センサヘッド15から所定の距離だけ離れた位置で、被検査体2の側面から所定の間隔を空けて、周方向に被検査体2bを取り囲むように配備される。
Such an
また、このような位置でエアブロア3fは、エアノズル9を被検査体2bの周方向に沿った表面波の伝播範囲に向けて配置されている。
このときエアブロア3fは、エアノズル9の噴射方向が、通材方向の下流側から上流側に向かって、表面波の伝播方向に対して略垂直となるように、且つ該伝播範囲を含んで下流側から上流側にエアが噴射されるように配置されている。
Further, at such a position, the
At this time, the
なお、図5(b)に示すように、上記のようなセンサヘッド15とエアブロア3fの配置を被検査体2bの上流側から見ると、センサヘッド15とエアブロア3fは重なり合うように配置されている。
このような配置構成において、センサヘッド15は表面波を送出し、送出された表面波は、被検査体2bに示されている略円状の矢印の方向に伝播する。これと同時に、エアブロア3fは、矢印で示す噴射方向にエアを噴射し、送出された表面波の伝播範囲にある接触媒質や粉塵を除去する。
As shown in FIG. 5B, when the arrangement of the
In such an arrangement, the
このように、エアブロア3fを、被検査体2bの全周を取り囲むように配置することで、被検査体2b上の不要な接触媒質のみでなく、工場内の粉塵の付着等を除くことができるので、表面波の伝播範囲にある欠陥以外の粉塵などからの反射波を、被検査体2bの全周にわたって低減することができる。
本変形例において、被検査体2bは円柱状の棒鋼であるとしたが、被検査体2bが被検査体2aと同様の略四角柱の棒鋼であっても、被検査体2aの全周にわたって表面波の伝播範囲にある粉塵等を除くことができる。
Thus, by arranging the
In this modification, the
ところで、本発明の第1及び第2実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置は、被検査体2の表面欠陥及び表面皮下欠陥を検出するものであるが、実際に被検査体2の探傷を行う際には、磁粉探傷装置14や、垂直及び斜角に超音波を送出して内部欠陥を探傷する内部欠陥探傷装置も同一ライン上に設置されることがある。
磁粉探傷法とは、まず被検査体2を所定の方法で磁化し、蛍光特性を有する磁粉を分散させた磁粉液を被検査体2に散布し、被検査体2の表面欠陥から漏れ出る漏洩磁束によって磁粉を引き寄せる。その後に、表面欠陥の周辺に凝集した磁粉に紫外光源を照射して蛍光発光させ、磁粉指示模様を観察して表面欠陥を検出する検査方法である。
By the way, the surface defect and surface subcutaneous defect detection apparatus according to the first and second embodiments of the present invention detects the surface defect and the surface subcutaneous defect of the inspected
In the magnetic particle flaw detection method, first, the object to be inspected 2 is magnetized by a predetermined method, and a magnetic powder liquid in which magnetic particles having fluorescent properties are dispersed is sprayed on the
例えば図6に示すように、本発明の第1実施形態による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aを、磁粉探傷装置14の下流側に設置する場合、磁粉探傷で使った磁粉液が被検査体2の全長及び全周にわたって付着する。また、本発明の第1実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aを、内部欠陥探傷装置の下流側に設置する場合、超音波の送出に使った接触媒質が被検査体2の全長及び全周にわたって付着する。これら磁粉液や接触媒質が、被検査体2のどこに付着しているのかを知ることはできないので、これら検査の後に第1実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aによる検査をしても、エアブロア3aしか備えられていなければ、被検査体2の全周にわたって付着した磁粉液等を除去することができない。これでは、磁粉液や接触媒質から反射した信号を多く検出してしまうので、欠陥の位置を正確に検出することはできない。
For example, as shown in FIG. 6, when the surface defect and surface subcutaneous
そこで、図5(a)に示したような第2実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1bを用いて、エアブロア3b〜3eを、被検査体2の全周にわたって各検査面に対応するように設置すれば、上記磁粉液や接触媒質の乾燥を待たずに、それらを除去して表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出を行うことができるので、検査に要する時間を短縮でき、探傷効率の向上と共に、生産ラインの生産性も向上する。さらには、被検査体2の全長及び全周にわたって水滴も除去することができるので、被検査体2の錆び付きを防ぐことができる。
Therefore, using the surface defect and surface subcutaneous
尚、図7に示すように、本発明の第1実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aを、磁粉探傷装置14の上流側に設置する場合は、必ずしも被検査体2の全周にわたってエアブロアを設置する必要はないが、エアブロア3a〜3dを被検査体2の全周にわたって各検査面に対応するように配置することで、被検査体2の全周にわたって、表面波の伝播範囲にある不要な接触媒質のみでなく、工場内の粉塵の付着等も除くことができるので、欠陥以外の粉塵などからの反射波を低減することができる。
[第3実施形態]
次に、図8を参照して、本発明の第3実施形態による表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1dについて説明する。本実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1dは、第1実施形態の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1aにおける、エアブロア3a及びセンサヘッド15を、2つずつ採用した構成を有している。
As shown in FIG. 7, when the surface defect and surface subcutaneous
[Third Embodiment]
Next, a surface defect and surface subcutaneous defect detection device 1d according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The surface defect and surface subcutaneous defect detection device 1d of the present embodiment has a configuration in which two
図8(a)は、エアブロア3aとセンサヘッド15の組合せを、被検査体2の隣り合う検査面に1組ずつ配置した構成を示している。1つの組合せにおけるエアブロア3aとセンサヘッド15の配置構成は、第1実施形態で説明したものと同様であり、エアブロア3aは、エアノズル9の噴射方向が、通材方向の下流側から上流側に向かって、表面波の伝播方向に対して略垂直となるように、且つ該伝播範囲を含んで下流側から上流側にエアが噴射されるように配置されている。
FIG. 8A shows a configuration in which a combination of the
その上で、2つのセンサヘッド15の表面波の送出方向が、被検査体2の周方向において反対向きとなると共に、各々の表面波の伝播範囲が重ならないように、エアブロア3aとセンサヘッド15の各組合せを配備する。
図8(b)は、2組のエアブロア3aとセンサヘッド15の組合せを、被検査体2の同一検査面上に、通材方向に連続するように配置した構成を示している。1つの組合せにおけるエアブロア3aとセンサヘッド15の配置構成は、第1実施形態で説明したものと同様であり、エアブロア3aは、エアブロア3aの噴射方向が、通材方向の下流側から上流側に向かって、表面波の伝播方向に対して略垂直となるように、且つ該伝播範囲を含んで下流側から上流側にエアが噴射されるように配置されている。
In addition, the
FIG. 8B shows a configuration in which two combinations of the
その上で、2つのセンサヘッド15は、それぞれの表面波の送出方向が、被検査体2の周方向において反対向きとなるように配備されている。
このように配備された2つのセンサヘッド15がそれぞれ表面波を送出すると、1つのセンサヘッド15だけを用いる場合では検出できない欠陥を検出することができる。この理由を、図9を用いて説明する。
In addition, the two sensor heads 15 are arranged so that the surface wave sending directions are opposite in the circumferential direction of the device under
When the two sensor heads 15 arranged in this way each transmit a surface wave, a defect that cannot be detected when only one
図9は、欠陥13を有する被検査体2の同一検査面上に2つのセンサヘッド15を配備し、それぞれ対向する方向に表面波を送出した状態を示す図である。図中、被検査体2の皮下に示される矢印は、センサヘッド15から送出された表面波を示している。
図9に示すように、紙面右上から左下に向かって傾斜した欠陥13は、紙面右側のセンサヘッド15が送出した表面波を被検査体2の内部に向かって反射してしまうので、右側のセンサヘッド15は、欠陥13を検出することが困難である。しかし、紙面左側のセンサヘッド15が送出した表面波は、欠陥13と被検査体2の表面に閉じこめられる向きに反射するため、被検査体2の表面を伝わってセンサヘッド15に戻る。これによって左側のセンサヘッド15は、欠陥13を検出することができる。
FIG. 9 is a diagram illustrating a state in which two sensor heads 15 are provided on the same inspection surface of the
As shown in FIG. 9, the
このように欠陥の形状は複雑であるため、表面波の伝播方向に対して有効な散乱断面積が小さい欠陥であったり、上記したように傾いた欠陥である場合でも、2つのセンサヘッド15から互いに反対向きに表面波を送出する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置1dによれば、確実に欠陥を検出することができる。
その際、ひし形搬送されている被検査体2に対しては、被検査体2の上側を向く面に探触子を設置することで、接触媒質が表面波の伝播方向に侵入することを防げるので、より検出の効果が高くなる。なお、ひし形搬送とは、被検査体2の通材方向に垂直な断面における1つの対角線を水平にして、断面視ひし形形状となるように下側を向く面をピンチローラ等で支持しつつ被検査体2を搬送する方法のことである。
As described above, since the shape of the defect is complicated, even if the defect has a small scattering cross section effective with respect to the propagation direction of the surface wave or is a defect inclined as described above, the two sensor heads 15 According to the surface defect and surface subcutaneous defect detection device 1d that sends surface waves in the opposite directions, the defect can be reliably detected.
At that time, by placing a probe on the surface of the object to be inspected 2 that is transported in a rhombus shape, the contact medium can be prevented from entering the surface wave propagation direction. Therefore, the detection effect becomes higher. The rhombus conveyance means that one diagonal line in the cross section perpendicular to the material passing direction of the object to be inspected 2 is horizontal and the surface facing downward is supported by a pinch roller or the like so as to form a rhombus shape in cross section. It is a method of transporting the
以上、本発明の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置について、第1実施形態から第3実施形態にかけて説明してきたが、各実施形態は、適宜組み合わせることができる。例えば、第1実施形態において図4(b)に示したエアブロア3aとセンサヘッド15の配置を、第2及び第3実施形態に適用することができる。つまり、第2実施形態におけるエアブロア3b〜3eを、そのエアの噴射方向は変えずに、センサヘッド15に対して通材方向の上流側に配置することもできる。また、第3実施形態における2つのエアブロア3aを、それらのエアの噴射方向は変えずに、組となっているセンサヘッド15に対して通材方向の上流側に配置することもできる。
As mentioned above, although the detection apparatus of the surface defect and the surface subcutaneous defect of this invention has been demonstrated from 1st Embodiment to 3rd Embodiment, each embodiment can be combined suitably. For example, the arrangement of the
また、第2実施形態において図5(a)及び5(b)に示したエアブロア3b〜3e及びエアブロア3fを、第3実施形態に適用することもできる。つまり、第3実施形態における2つのエアブロア3aの代わりに、第2実施形態におけるエアブロア3b〜3eを、被検査体2の全周にわたって各検査面に対応するように配置することもできる。このときのエアブロア3b〜3eは、エアの噴射方向が、2つのエアブロア3aと同じ方向で、通材方向の下流側から上流側に向くように配置される。また、第3実施形態における2つのエアブロア3aの代わりに、第2実施形態におけるエアブロア3fを、2つのセンサヘッド15に対して通材方向の下流側に配置することもできる。このときのエアブロア3fは、エアの噴射方向が、2つのエアブロア3aと同じ方向で、通材方向の下流側から上流側に向くように配置される。
Moreover, the
これによって、第3実施形態においても、第2実施形態と同様に、被検査体2の全周にわたって表面波の伝播範囲にある粉塵等を除くことができ、欠陥以外の粉塵などからの反射波を低減することができる。
さらに各実施形態では、被検査体2の例として鋼片や棒鋼を開示しているが、これに限ることなく表面波が伝播できる材質のものであれば、例えば板状の部材や鍛造品でも被検査体2として適用することができる。
As a result, in the third embodiment, as in the second embodiment, dust and the like in the propagation range of the surface wave can be removed over the entire circumference of the
Furthermore, in each embodiment, steel slabs and steel bars are disclosed as examples of the object to be inspected 2. However, the present invention is not limited to this, and any material that can propagate surface waves can be used. It can be applied as the
1 表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置
2 被検査体
3a〜3e エアブロア
4 センサホルダ
5 工場エア供給部
6 接触媒質供給回収部
7 超音波探傷器
8 信号記録処理装置
9 エアノズル
10 探傷子
11 接触媒質供給管
12 接触媒質回収管
13 欠陥
14 磁粉探傷装置
15 センサヘッド
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Detection apparatus of surface defect and surface
Claims (9)
前記送信部から送出される超音波の伝播方向にある被検査体の表面付着物を、前記伝播方向に対して略垂直方向へ除去する除去手段と、を具備することを特徴とする表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置。 A transmitter that transmits ultrasonic waves propagating directly under the surface of the object to be inspected, and reception of ultrasonic waves that are reflected and returned by at least a defect in the object to be inspected. A probe with a section,
A surface defect comprising: removal means for removing surface deposits on the object in the direction of propagation of the ultrasonic wave transmitted from the transmitter in a direction substantially perpendicular to the direction of propagation; and Detection device for surface subcutaneous defects.
前記探触子は、被検査体の周方向に超音波を送出するように配置されており、
前記除去手段は、被検査体の全周にわたって配備されていることを特徴とする請求項1に記載の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置。 When the object to be inspected is a long object,
The probe is arranged to send ultrasonic waves in the circumferential direction of the object to be inspected,
The apparatus for detecting a surface defect and a surface subcutaneous defect according to claim 1, wherein the removing unit is provided over the entire circumference of the object to be inspected.
該2つの探触子は、被検査体の長手方向において異なる位置に配置され、被検査対象の周方向において互いに対向する方向に超音波を送出することを特徴とする請求項1〜2のいずれかに記載の表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置。 Having two of the probes,
The two probes are arranged at different positions in the longitudinal direction of the object to be inspected, and transmit ultrasonic waves in directions opposite to each other in the circumferential direction of the object to be inspected. An apparatus for detecting surface defects and surface subcutaneous defects according to claim 1.
超音波の伝播方向にある被検査体の表面付着物を、前記伝播方向に対して略垂直方向へ除去し、
被検査体に対して、被検査体の表面直下を伝播する超音波を送出し、
被検査体に送出された超音波のうち、少なくとも被検査体内の欠陥で反射した超音波を受信することを特徴とする表面欠陥及び表面皮下欠陥検出方法。 A method for detecting defects in an inspected body using ultrasound,
The surface deposit on the object to be inspected in the ultrasonic propagation direction is removed in a direction substantially perpendicular to the propagation direction,
Sending ultrasonic waves propagating directly under the surface of the object to be inspected,
A method for detecting a surface defect and a surface subcutaneous defect, comprising: receiving at least an ultrasonic wave reflected by a defect in a body to be inspected among ultrasonic waves transmitted to the body to be inspected.
被検査体の周方向に超音波を送出し、
被検査体の全周にわたって同時に、前記伝播方向に対して略垂直方向へ、表面付着物を除去することを特徴とする請求項5に記載の表面欠陥及び表面皮下欠陥検出方法。 When the object to be inspected is a long object,
Sends out ultrasonic waves in the circumferential direction of the test object,
6. The surface defect and surface subcutaneous defect detection method according to claim 5, wherein surface deposits are removed in a direction substantially perpendicular to the propagation direction simultaneously over the entire circumference of the object to be inspected.
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