JP2011002278A - 光学式計測装置および光学式計測方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】被測定物の計測中に、被測定物の計測部分が計測者に把握しやすい光学式計測装置および光学式計測方法を提供することを目的としている。
【解決手段】光学式計測装置は、アクチュエーター10、ステージ11、ラインレーザー12、カメラ13、信号処理・制御ユニット20、画像表示装置30から構成され、信号処理・制御ユニット20は、制御部101、フレーム画像データ取り込み部102、A/D変換部、画像記憶部104、輝度検出部105、輝度記憶部106、座標記憶部107、座標変換部108、座標変換式記憶部109、ラインデータ生成部110、ラインデータ蓄積記憶部111、表示画像補正部112、表示画像生成部113、D/A変換部114、画像出力部115、カメラ座標取り込み部121、ステージ座標取り込み部122から構成されている。
【選択図】図2
【解決手段】光学式計測装置は、アクチュエーター10、ステージ11、ラインレーザー12、カメラ13、信号処理・制御ユニット20、画像表示装置30から構成され、信号処理・制御ユニット20は、制御部101、フレーム画像データ取り込み部102、A/D変換部、画像記憶部104、輝度検出部105、輝度記憶部106、座標記憶部107、座標変換部108、座標変換式記憶部109、ラインデータ生成部110、ラインデータ蓄積記憶部111、表示画像補正部112、表示画像生成部113、D/A変換部114、画像出力部115、カメラ座標取り込み部121、ステージ座標取り込み部122から構成されている。
【選択図】図2
Description
本発明は、光学式計測装置および光学式計測方法に関する。
非接触の三次元計測方法として、レーザー投光器のレーザー光を、スリットを通して被測定物に照射し、被測定物を一定速度で移動しながら、カメラでスリット光に照らし出された断面の輪郭を一定間隔で1フレームずつ取得する。そして、取得したスリット光に照らし出された断面の輪郭の画像(以下、光切断画像)をレーザー投光器の取り付け位置と角度、およびカメラの取り付け位置と角度を用いて、三角測距法により演算して、被測定物の計測を行う光切断法がある。
この光切断法による光学式計測装置は、被測定物上の光切断画像を、カメラが一定間隔で1フレームずつ撮影して画像を取り込む。次に、取り込まれた光切断画像を演算処理し、各フレームについて1つの最大輝度が選択されて、これを画像表示装置上で表示する上での1ライン分のデータとして画像メモリーに記憶する。すべてのフレームについて計測が終了後、画像メモリーに記憶されている1ライン化された最大輝度による画像を合成して表示する方法がある(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1の光学式計測装置では、すべての計測が終了した後に、取り込まれた計測画像を合成して表示するようにしていたため、計測中に、被測定物のどの部分を計測しているのかが計測者にとって把握しづらいという課題があった。また、表示される計測結果は、1フレーム中で1つの最大輝度のみが選択されて合成されたものなので、被測定物が三次元的に表示されないため被測定物の全体像が把握しにくいという課題があった。また、合成され表示される計測結果は、被測定物の光切断画像における1ラインのピッチが予め定められた定数であるため、被測定物をカメラ位置から俯瞰した場合と異なり、画像表示装置上に表示される被測定物の寸法の比率が適正でないという課題があった。
また、被測定物の計測している位置を確認するために、計測中に被測定物に照射されているレーザー光の照射位置を目視で直接観測することも考えられるが、計測に使用されているレーザー光に対する安全対策のためと、計測中のステージの動作に振動等を与えないようにするために計測装置がケースに覆われている光学式計測装置もある。このような光学式計測装置においては、計測中に被測定物に照射されているレーザーを目視で直接観測することが困難であるため計測位置を確認できないという課題があった。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、被測定物の計測中に、被測定物のどの部分を計測しているのかが計測者に把握しやすく、さらに計測結果をカメラ位置から俯瞰したように、画像表示装置上に表示される被測定物の寸法の比率を適正に表示する光学式計測装置および光学式計測方法を提供することを目的としている。
本発明にかかる光学式計測装置は、被測定物の表面にスリット光を照射する投光部と、
前記被測定物の表面に照射された前記スリット光による反射光を受光して、前記被測定物表面を撮像する撮像部と、
前記撮像部で撮像されたフレーム画像データを取り込むフレーム画像取り込み部と、
前記フレーム画像取り込み部で取り込まれたフレーム画像を前記スリット光に対して垂直方向に分割し、前記分割されたフレーム画像内の最大輝度部分の輝度と座標を検出する輝度検出部と、
前記輝度検出部で検出された輝度情報を用いて、1フレーム分のフレーム画像を1ライン分の濃淡または少なくとも2色以上で表わすラインデータを生成するラインデータ生成部と、
前記ラインデータ生成部で生成されたラインデータを、前記フレーム画像取得部で取得された順に追加して記憶するラインデータ蓄積記憶部と、
前記ラインデータ蓄積記憶部で蓄積記憶されたラインデータを読み出し、読み出された前記フレーム画像と前記蓄積されたラインデータを表示する表示画像を生成する表示画面生成部と、
を備えることを特徴とする。
前記被測定物の表面に照射された前記スリット光による反射光を受光して、前記被測定物表面を撮像する撮像部と、
前記撮像部で撮像されたフレーム画像データを取り込むフレーム画像取り込み部と、
前記フレーム画像取り込み部で取り込まれたフレーム画像を前記スリット光に対して垂直方向に分割し、前記分割されたフレーム画像内の最大輝度部分の輝度と座標を検出する輝度検出部と、
前記輝度検出部で検出された輝度情報を用いて、1フレーム分のフレーム画像を1ライン分の濃淡または少なくとも2色以上で表わすラインデータを生成するラインデータ生成部と、
前記ラインデータ生成部で生成されたラインデータを、前記フレーム画像取得部で取得された順に追加して記憶するラインデータ蓄積記憶部と、
前記ラインデータ蓄積記憶部で蓄積記憶されたラインデータを読み出し、読み出された前記フレーム画像と前記蓄積されたラインデータを表示する表示画像を生成する表示画面生成部と、
を備えることを特徴とする。
また、本発明にかかる光学式計測装置は、前記ラインデータ生成部で生成された複数のラインデータ表示するピッチを、前記スリット光の照射位置間隔と、前記撮像部の受光角度との関係を用いて補正する表示画像補正部と、
を備えることを特徴とする。
を備えることを特徴とする。
さらにまた、本発明にかかる光学式計測装置は、寸法が既知の被測定物の計測により生成された座標変換式を記憶する座標変換式記憶部と、
前記座標変換式記憶部に記憶されている前記座標変換式を用いて、前記ライン検出部で検出されたライン情報を変換する座標変換部と、
を備えることを特徴とする。
前記座標変換式記憶部に記憶されている前記座標変換式を用いて、前記ライン検出部で検出されたライン情報を変換する座標変換部と、
を備えることを特徴とする。
さらにまた、本発明にかかる光学式計測方法は、被測定物の表面にスリット光を照射する投光工程と、
前記被測定物の表面に照射された前記スリット光による反射光を受光して、前記被測定物表面を撮像する撮像工程と、
前記撮像手段で撮像されたフレーム画像データを取り込むフレーム画像取り込み工程と、
前記フレーム画像取り込み工程で取り込まれたフレーム画像を前記スリット光に対して垂直方向に分割し、前記分割されたフレーム画像内の最大輝度部分の輝度と座標を検出する輝度検出工程と、
前記輝度検出工程で検出された輝度情報を用いて、1フレーム分のフレーム画像を1ライン分の濃淡または少なくとも2色以上で表わすラインデータを生成するラインデータ生成工程と、
前記ラインデータ生成手段で生成されたラインデータを、前記フレーム画像取得工程で取得された順に追加して記憶するラインデータ蓄積記憶工程と、
前記ラインデータ蓄積記憶工程で蓄積記憶されたラインデータを読み出し、読み出された前記フレーム画像と前記蓄積されたラインデータを表示する表示画像を生成する表示画面生成工程と、
を備えることを特徴とする。
前記被測定物の表面に照射された前記スリット光による反射光を受光して、前記被測定物表面を撮像する撮像工程と、
前記撮像手段で撮像されたフレーム画像データを取り込むフレーム画像取り込み工程と、
前記フレーム画像取り込み工程で取り込まれたフレーム画像を前記スリット光に対して垂直方向に分割し、前記分割されたフレーム画像内の最大輝度部分の輝度と座標を検出する輝度検出工程と、
前記輝度検出工程で検出された輝度情報を用いて、1フレーム分のフレーム画像を1ライン分の濃淡または少なくとも2色以上で表わすラインデータを生成するラインデータ生成工程と、
前記ラインデータ生成手段で生成されたラインデータを、前記フレーム画像取得工程で取得された順に追加して記憶するラインデータ蓄積記憶工程と、
前記ラインデータ蓄積記憶工程で蓄積記憶されたラインデータを読み出し、読み出された前記フレーム画像と前記蓄積されたラインデータを表示する表示画像を生成する表示画面生成工程と、
を備えることを特徴とする。
本発明によれば、計測中にカメラにより撮影された光切断画像か、あるいは、取り込まれた光切断画像を演算して画像処理した後の画像かを切り替えずに計測中の状態が把握でき、また、計測中に目視で直接観測せずに計測位置を把握しながら計測することが可能な光学式計測装置および光学式計測方法を提供することが可能になる。
以下、本発明の実施形態について、図1〜12を用いて説明する。なお、本発明は係る実施形態に限定されず、その技術思想の範囲内で種々の変更が可能である。
図1は、本実施形態における光学式計測装置のシステム全体の構成例を示す概略図である。光学式計測装置は、アクチュエーター10、ステージ11、ラインレーザー12、カメラ13、信号処理・制御ユニット20、画像表示装置30から構成されている。
被測定物1は、本発明の光学式計測装置で計測される被測定物の例である。
アクチュエーター10は、信号処理・制御ユニット20に制御され、アクチュエーター10の上に設置されているステージ11を一定速度で移動させる。
ステージ11は、被測定物1を乗せて計測を行い、アクチュエーター10の上に設置され、アクチュエーター10により一定速度で移動が行われる。
ラインレーザー12は、スリット状のレーザー光を発生させ、このスリット状のレーザー光を被測定物1の表面に照射する。また、ラインレーザー12は、信号処理・制御ユニット20によりレーザー照射のオンとオフ、被測定物1への照射角度、被測定物1との距離が制御される。
カメラ13は、例えば受光レンズとCCDカメラ等で構成され、信号処理・制御ユニット20からの撮影タイミング制御により、被測定物1の表面の光切断画像を1フレームずつ撮影して、信号処理・制御ユニット20にフレーム画像データとして送信する。また、カメラ13は、信号処理・制御ユニット20により、被測定物1との撮影角度、被測定物1に対する焦点調整、被測定物1との距離が制御される。
光切断画像14は、ラインレーザー12から被測定物1にスリット状のレーザー光が照射された時の、レーザー光により形成される光切断像である。
信号処理・制御ユニット20は、アクチュエーター10、ラインレーザー12、カメラ13の制御を行う。また、信号処理・制御ユニット20は、カメラ13から撮影された1フレームずつのフレーム画像データを受信して、受信されたフレーム画像データを取り込む。また、信号処理・制御ユニット20は、取り込んだフレーム画像データのライン検出、座標変換、ラインデータ生成、表示画像補正、表示画像生成を行い、計測結果の画像を画像表示装置30に出力する。
画像表示装置30は、信号処理・制御ユニット20から生成された表示用の画像を受け取り表示する。
次に、信号処理・制御ユニット20の内部構成の例を、図2の本実施形態における光学式計測装置の構成の一例を示すブロック図を用いて説明する。信号処理・制御ユニット20は、制御部101、フレーム画像データ取り込み部102、A/D変換部103、画像記憶部104、輝度検出部105、輝度記憶部106、座標記憶部107、座標変換部108、座標変換式記憶部109、ラインデータ生成部110、ラインデータ蓄積記憶部111、表示画像補正部112、表示画像生成部113、D/A変換部114、画像出力部115、カメラ座標取り込み部121、ステージ座標取り込み部122から構成されている。
制御部101は、アクチュエーター10を制御して、ステージ11を一定速度で移動させる。また、制御部101は、ラインレーザー12に対して、レーザー照射のオンとオフ、被測定物1へのレーザー光の照射角度、被測定物1とラインレーザー12との距離の制御を行う。また、制御部101は、カメラ13に対して被測定物1との撮影角度、被測定物1に対する焦点調整、被測定物1との距離の制御を行う。また、制御部101は、A/D変換器103でデジタル信号に変換された1フレーム分のフレーム画像データを、画像記憶部104に記憶させる。また、制御部101は、輝度検出部105が画像記憶部104から1フレーム分のフレーム画像データを読み出すタイミングを制御する。また、制御部101は、ラインデータ生成部110がラインデータを生成し、ラインデータ蓄積部111に書き込むタイミングを制御する。また、制御部101は、表示画像補正部112がラインデータ蓄積記憶部111からラインデータを読み出すタイミングを制御する。
フレーム画像取り込み部102は、制御部101からの一定間隔Tの取り込みタイミング制御により、カメラ13から光切断画像の1フレーム分のフレーム画像データを受信し、受信したフレーム画像データを取り込む。また、フレームフレーム画像取り込み部102は、取り込まれた1フレーム分のフレーム画像データをA/D変換器103に送る。
A/D変換器103は、フレーム画像取り込み部102から受け取った1フレーム分のフレーム画像データをアナログ信号からデジタル信号に変換して、制御部101が一定間隔Tの取り込みタイミングに合わせて、デジタル信号に変換された1フレーム分のフレーム画像データを画像記憶部104に記憶させる。
画像記憶部104は、A/D変換器103から受け取ったデジタル信号に変換された1フレーム分のフレーム画像データを、制御部101の制御により記憶する。
輝度検出部105は、制御部101の読み出しタイミングにより、画像記憶部104から1フレーム分のフレーム画像データを読み出す。また、輝度検出部105は、読み出された1フレーム分のフレーム画像データについて、図8において、例えば1列毎に画像データを縦に順番に切り出し、切り出された列の中で一番高い輝度を検出する。この輝度をbiとする。また、輝度検出部105は、検出された輝度bi画素の画像中の座標を検出する。次に、輝度検出部105は、輝度biと予め設定された輝度閾値bt(例えば40)とを比較する。輝度biと輝度閾値btの比較の結果、輝度biが輝度閾値bt以上の場合、輝度検出部105は、検出された輝度を輝度記憶部106に記憶させ、検出された座標を座標記憶部107に記憶させる。輝度検出部105は、この作業を、1フレーム分のフレーム画像データについて、図8において横方向i=0からimaxまで、すべての列に対して順番に行うことで、1フレーム分のフレーム画像データの輝度検出を行う。また、輝度検出部105は、上記の処理で検出された1フレーム分の各列の最大輝度とその座標情報を座標変換部108に受け渡す。
輝度記憶部106は、輝度検出部105で検出された1フレーム分のフレーム画像データの輝度情報を記憶する。
座標記憶部107は、輝度検出部105で検出された1フレーム分のフレーム画像データの座標情報を記憶する。
座標変換部108は、まず、寸法が既知の被測定物を用いて、座標変換式を生成し、座標変換式記憶部109に記憶させる。次に、座標変換部108は、計測したい被測定物1を用いて、計測時に座標変換式記憶部109に記憶されている座標変換式により、輝度検出部105で検出されたライン情報を変換する。
まず、寸法が既知の被測定物のライン検出における座標変換部108の動作について説明する。この寸法が既知の被測定物の輝度情報と座標情報は、輝度検出部105により検出されて、それぞれ輝度記憶部106と座標記憶部107に記憶されている。この計測時に、座標変換部108は、カメラ座標取り込み部121が取り込んだカメラ13の座標を受け取る。また、座標変換部108は、ステージ座標取り込み部122が取り込んだステージ11の座標を受け取る。次に、座標変換部108は、カメラ座標取り込み部121から受け取ったカメラ座標と、ステージ座標取り込み部122から受け取ったステージ座標と、輝度記憶部106から読み出した輝度情報と、座標記憶部107から読み出した座標情報を用いて、ステージ11上の座標と、寸法が既知の被測定物における座標とを対比させて、ステージ11上の座標を実寸の値になるように表示するための座標変換式を生成する。また、座標変換部108は、生成された座標変換式を座標変換式記憶部109に記憶する。
まず、寸法が既知の被測定物のライン検出における座標変換部108の動作について説明する。この寸法が既知の被測定物の輝度情報と座標情報は、輝度検出部105により検出されて、それぞれ輝度記憶部106と座標記憶部107に記憶されている。この計測時に、座標変換部108は、カメラ座標取り込み部121が取り込んだカメラ13の座標を受け取る。また、座標変換部108は、ステージ座標取り込み部122が取り込んだステージ11の座標を受け取る。次に、座標変換部108は、カメラ座標取り込み部121から受け取ったカメラ座標と、ステージ座標取り込み部122から受け取ったステージ座標と、輝度記憶部106から読み出した輝度情報と、座標記憶部107から読み出した座標情報を用いて、ステージ11上の座標と、寸法が既知の被測定物における座標とを対比させて、ステージ11上の座標を実寸の値になるように表示するための座標変換式を生成する。また、座標変換部108は、生成された座標変換式を座標変換式記憶部109に記憶する。
次に、被測定物1の計測時における座標変換部108の動作について説明する。座標変換部108は、座標変換式記憶部109から、座標変換式を読み込む。また、座標変換部108は、輝度検出部105から受け取った被測定物1の1フレーム画像分の各列の最大輝度とその座標情報を、読み込んだ座標変換式を用いて実寸の値に変換する。また、座標変換部108は、変換された実寸の値に基づいた被測定物1の1フレーム画像分の各列の最大輝度とその座標情報をラインデータ生成部110に受け渡す。
座標変換式記憶部109は、座標変換部108が生成した座標変換式を記憶する。
ラインデータ生成部110は、座標変換部108で変換された被測定物1の1フレーム分の各列の最大輝度とその座標情報を受け取る。また、ラインデータ生成部110は、受け取った被測定物1の1フレーム分の各列の最大輝度とその座標情報を、ラインデータ生成部110に予め記憶されている変換式を用いて、ラインレーザー12側から見た場合の奥行き方向に対応した値となる明度vに変換し、ラインデータを生成する。また、ラインデータ生成部110は、生成されたラインデータを制御部101の制御により、時系列順にラインデータ蓄積記憶部111に追加して記憶していく。
ラインデータ蓄積記憶部111は、ラインデータ生成部110で生成されたラインデータを時系列順に追加して記憶する。
表示画像補正部112は、ラインデータ蓄積記憶部111に記憶されているラインデータを、制御部101の読み出しタイミングで読み出す。また、表示画像補正部112は、読み出したラインデータを画像表示装置30に表示した場合に、利用者が見たときに後述する方法で補正することで自然に見えるように、表示画像補正部112に予め保存されている変換式でラインデータの間隔、すなわち、ラインデータの高さを補正する。また、表示画像補正部112は、補正されたラインデータを表示画像情報として表示画像生成部113に受け渡す。
表示画像生成部113は、表示画像補正部112から表示画像情報を受け取り、カメラ13で撮影され取り込まれた1フレーム分の画像情報をA/D変換器103から受け取る。また、表示画像生成部113は、受け取った1フレーム分の画像情報を画像表示装置30の画面上の左側に表示するように表示画像情報を生成し、また、補正された表示画像情報を右側に表示するように表示画像情報を生成する。また、表示画像生成部113は、生成された表示画像情報をD/A変換部114に受け渡す。
D/A変換部114は、表示画像生成部113から表示画像情報をデジタル信号からアナログ信号に変換して、画像出力部115に受け渡す。
画像出力部115は、D/A変換部114から受け取ったアナログ信号に変換された表示画面用の画像出力信号を受け取る。また、画像出力部115は、D/A変換部114から受け取った画像出力信号を用いて、画像表示装置30で表示可能なビデオ信号を生成する。また、画像出力部115は、信号処理・制御ユニット20に接続されている画像表示装置30に、生成された画像出力信号を送信する。
カメラ座標取り込み部121は、カメラ13の座標を読み込み、座標変換部108に受け渡す。
ステージ座標取り込み部122は、アクチュエーター10上のステージ11の座標を読み込み、座標変換部108に受け渡す。
次に、本実施形態において、光学式計測装置の計測手順を、図3〜7を用いて説明する。図3は、計測中のレーザー位置を説明する図である。図4は、Pnの位置においてレーザーが照射された状態を示す図である。図5は、各位置でのフレーム毎のフレーム画像データを説明する図である。図6は、計測手順のフローチャートである。図7は、ライン検出処理のフローチャートである。
図6において、前準備処理の場合(S1 Yes)、ステージ11上に寸法が既知の被測定物1を測定者が設置する(S2)。なお、被測定物1は、アクチュエーター10の移動方向、カメラ13の光軸、ラインレーザー12の光軸が、すべてステージ11の面に垂直な同一面A内に入るように設置する。
次に、信号処理・制御ユニット20の制御部101は、被測定物1とラインレーザー12との距離と、被測定物1へのレーザー光の照射角度を調整する(S3)。
次に、制御部101は、カメラ13と被測定物1との距離を調整する。また、制御部101により、カメラ13の光軸をラインレーザー12の光軸と直交する角度に調整する(S4)。
次に、制御部101は、ラインレーザー12のスリット状に照射されるラインと、カメラ13内のCCDカメラの長辺を、各々面Aに垂直になる方向に調整する(S5)。
次に、制御部101は、アクチュエーター10を制御して、ステージ11を速度Vで移動開始する(S6)。
次に、制御部101は、カメラ13から画像取り込み間隔Tで、フレーム画像取り込み部102に計測されたフレーム画像データを送信する。また、フレーム画像取り込み部102は、カメラ13からのフレーム画像データを制御部101の制御により取り込む(S7)。
具体的には、図3のように、被測定物1に対して、光切断画像14の位置がP1、P2・・・Pmaxとなる取り込み間隔Tのタイミングで、フレーム画像取り込み部102が制御部101の制御によりフレーム画像データを取り込む。例えば、測定時刻=tnにおいて、ラインレーザー12によるレーザー光の照射により、被測定物1上には図4のような光切断画像14が生じる。測定時刻=tnの場合、カメラ13から撮影した映像は、例えば図5(c)のようなフレーム画像データになる。
具体的には、図3のように、被測定物1に対して、光切断画像14の位置がP1、P2・・・Pmaxとなる取り込み間隔Tのタイミングで、フレーム画像取り込み部102が制御部101の制御によりフレーム画像データを取り込む。例えば、測定時刻=tnにおいて、ラインレーザー12によるレーザー光の照射により、被測定物1上には図4のような光切断画像14が生じる。測定時刻=tnの場合、カメラ13から撮影した映像は、例えば図5(c)のようなフレーム画像データになる。
フレーム画像取り込み部102は、カメラ13から受信したフレーム画像データをA/D変換部103に送る。また、A/D変換部103は、受信したフレーム画像データをアナログ信号からデジタル信号に変換する。また、デジタル信号に変換されたフレーム画像データは、制御部101の制御によりA/D変換部103から画像記憶部104に記憶される(S8)。また、A/D変換部103でデジタル信号に変換されたフレーム画像データは、制御部101の制御により表示画像生成部113に受け渡される。
輝度検出部105は、制御部101によりフレーム画像データを画像記憶部104から読み出し、輝度検出処理を行う(S9)。
輝度検出部105が行うライン検出処理について、図7のフローチャートを用いて説明する。まず、制御部101による読み出しタイミングで、輝度検出部105が画像記憶部104に記憶されているフレーム画像データを読み出す(S101)。
次に、ライン検出部105は、読み込まれたフレーム画像データを、図8のように、画像の横方向にi=0から、例えば1列毎に縦に切り出し、切り出された1列の中で一番高い輝度を検出して輝度biに設定する。また、ライン検出部105は、輝度biに設定された画素の画像中の座標(i、j)を検出して(ibmax、jbmax)に設定する(S102)。なお、本実施形態においては、フレーム画像データの縦軸jの座標の範囲をj=0〜jmax−1、横軸の座標の範囲をi=0〜imax―1とする。
次に、輝度検出部105は、輝度biと予め設定された輝度の閾値bt(例えば40)と比較する(S103)。輝度biと閾値btの比較の結果、輝度biの値が閾値bt以上の場合(S103 Yes)、輝度biを輝度記憶部106に記憶する。また、座標(ibmax、jbmax)を座標記憶部107に記憶する(S104)。輝度biと輝度の閾値btの比較の結果、輝度biの値が閾値bt未満の場合(S103 No)、輝度検出部105は輝度biの輝度記憶部106への記憶と座標(ibmax、jbmax)の座標記憶部107への記憶は行わない。
以上のように、輝度検出部105による輝度検出処理により、1フレーム分のすべてのフレーム画像データの輝度検出がS101〜S104により、列単位で順番に行われる。この処理により、検出された1フレーム分の輝度情報は、輝度情報と座標情報を伴った例えば図8(b)のようになる。また、輝度検出部105は、検出された被測定物1の1フレーム画像分の各列の最大輝度とその座標情報を座標変換部109に受け渡す。
次に、前準備処理の場合(S10 Yes)、座標変換部108は、既知の寸法の被測定物1の計測したときのアクチュエーター座標(r)をステージ座標取り込み部122から取り込む。座標記憶部107に記憶されている座標(ibmax、jbmax)を用いて、ステージ上10の座標系と実際の寸法とを対比する。また、座標変換部108は、ステージ上10の座標系を演算するために、カメラ13と被測定物1との距離等の情報をカメラ座標取り込み部121から読み込む。座標変換部108は、これらの値を用いて、実際の寸法とステージ上10の座標を対比させ、ステージ10上の計測された値を実寸の値に変換する変換式を生成し、座標変換式記憶部109に記憶する(S11)。
以上で、前準備を終了する。
以上で、前準備を終了する。
次に、被測定物1の計測を開始する。S1に戻り、前準備が終了したため(S1 No)、ステージ11上に計測を行いたい被測定物1を計測者が設置する(S12)。以下、被測定物1を用いて、S6〜S9を繰り返す。
被測定物1の1フレーム分の輝度検出処理終了後(S9)、前準備ではないため(S10 No)、座標変換部108が座標変換を行う(S13)。座標変換部108は、取得された各フレーム画像データにおいて、各列で検出された被測定物1の1フレーム画像分の各列の最大輝度とその座標情報を、座標変換式記憶部109に記憶されている座標変換式を用いて、実際の寸法に基づいた座標系に変換する。また、座標変換部108は、変換された被測定物1の1フレーム画像分の各列の最大輝度とその座標情報をラインデータ生成部110に受け渡す。
続けて、ラインデータ生成部110は、座標変換部108で変換されたライン情報を受け取る。また、ラインデータ生成部110は、受け取ったライン情報を、例えば256分解能の場合、式(1)を用いて明度vに変換を行う。
v=191×(jmax−1−j)/(jmax−1)+64・・・式(1)
ただし、輝度検出部105で輝度検出されなかった場合、すなわち、輝度情報がない場合は、v=0とする。この画像表示器30上に表示される明度は、ラインレーザー12側から見た場合の奥行き方向に対応した値となる。
以上のように、各フレーム画像データのライン情報を、式(1)で明度vに置き換えることで、図8(b)の輝度情報は、図9のように、明度vで表現される濃淡で表現されるラインデータに置き換えられる。また、ラインデータ生成部110は、生成されたラインデータを制御部101の制御により、時系列順にラインデータ蓄積記憶部111に順次追加して記憶していく。
v=191×(jmax−1−j)/(jmax−1)+64・・・式(1)
ただし、輝度検出部105で輝度検出されなかった場合、すなわち、輝度情報がない場合は、v=0とする。この画像表示器30上に表示される明度は、ラインレーザー12側から見た場合の奥行き方向に対応した値となる。
以上のように、各フレーム画像データのライン情報を、式(1)で明度vに置き換えることで、図8(b)の輝度情報は、図9のように、明度vで表現される濃淡で表現されるラインデータに置き換えられる。また、ラインデータ生成部110は、生成されたラインデータを制御部101の制御により、時系列順にラインデータ蓄積記憶部111に順次追加して記憶していく。
次に、画像表示装置30上で、被測定物1の計測されたデータを画像表示装置30に表示する場合、測定者が見たときにより自然に見えるようにするための画像補正処理を、図10の画像処理の説明図を用いて説明する。図10(a)において、カメラ13の焦点距離をf、カメラ13内の1画素間隔をd、そしてカメラ13の焦点面の位置から、計測しようとしている光切断画像14までの距離をWDとすると、被測定物1上での長さPは、式(2)のように表される。
P=d×WD/f・・・式(2)
また、アクチュエーター10の移動速度はV、フレーム画像データを取り込む間隔はTであるので、ラインレーザー12により照射される光切断画像14の間隔Qは、式(3)のように表される。
Q=V×T・・・式(3)
次に、カメラ13が撮影する、光切断画像14の間隔Qを、ステージが移動することで被測定物1が移動して生成されるスリット光が投影される投影面上の長さQ’に換算する。ラインレーザー12と垂線のなす角をθとすると、式(4)のように表される。
Q’=Qcosθ・・・式(4)
次に、カメラ13が撮影し、画像表示装置30上に表示する場合の、画面について考える。図10(b)のように、横の1画素の長さをp、縦の1画素の高さをqとしたとき、この画面内で、被測定物1に投影されている光切断画像14をカメラ13で撮影して利用者から見て、自然に見えるようにするには、投影面上の長さQ’を画面内の縦の1画素qと一致するように補正すればよい。p、q、P、Q’の関係は、式(5)のような比で表されるので、qとQ’の関係は式(6)のように表される。
p:q=P:Q’・・・式(5)
q=Q’×p/P
=(V×T)cosθ×p/(d×WD/f)・・・式(6)
この式(6)を用いて、各フレーム画像データをラインデータに変換した時のラインデータの間隔、すなわち、1ラインデータの高さとして用いて、表示画像補正部112が画像補正演算を行う(S14)。また、表示画像補正部112は、画像補正演算したデータを表示画像生成部113に受け渡す。
P=d×WD/f・・・式(2)
また、アクチュエーター10の移動速度はV、フレーム画像データを取り込む間隔はTであるので、ラインレーザー12により照射される光切断画像14の間隔Qは、式(3)のように表される。
Q=V×T・・・式(3)
次に、カメラ13が撮影する、光切断画像14の間隔Qを、ステージが移動することで被測定物1が移動して生成されるスリット光が投影される投影面上の長さQ’に換算する。ラインレーザー12と垂線のなす角をθとすると、式(4)のように表される。
Q’=Qcosθ・・・式(4)
次に、カメラ13が撮影し、画像表示装置30上に表示する場合の、画面について考える。図10(b)のように、横の1画素の長さをp、縦の1画素の高さをqとしたとき、この画面内で、被測定物1に投影されている光切断画像14をカメラ13で撮影して利用者から見て、自然に見えるようにするには、投影面上の長さQ’を画面内の縦の1画素qと一致するように補正すればよい。p、q、P、Q’の関係は、式(5)のような比で表されるので、qとQ’の関係は式(6)のように表される。
p:q=P:Q’・・・式(5)
q=Q’×p/P
=(V×T)cosθ×p/(d×WD/f)・・・式(6)
この式(6)を用いて、各フレーム画像データをラインデータに変換した時のラインデータの間隔、すなわち、1ラインデータの高さとして用いて、表示画像補正部112が画像補正演算を行う(S14)。また、表示画像補正部112は、画像補正演算したデータを表示画像生成部113に受け渡す。
次に、表示画像生成部113は、表示画像補正部112から画像補正演算されたデータと、カメラ13から取り込まれデジタル信号に変換された画像データをA/D変換器103から受け取る。また、表示画像生成部113は、表示画像補正部112から受け取った画像補正演算されたデータを画面の右に表示し、A/D変換器103から受け取ったデジタル信号に変換された画像データを左側に表示する表示画像データを生成する(S14)。また、表示画像生成部113は、生成された表示画像データをD/A変換部114に受け渡す。
次に、D/A変換部114は、表示画像生成部113から受け取った表示用画像データを、デジタル信号からアナログ信号に変換し、画像出力部115に受け渡す。
次に、画像出力部115は、D/A変換部114から受け取った表示用画像データを用いて、画像表示装置30で表示可能なビデオ信号を生成する。また、画像出力部115は、生成されたビデオ信号を画像表示装置30に出力する(S16)。
以上により、被測定物1の一連の計測処理を終了する。
以上により、被測定物1の一連の計測処理を終了する。
図11は、計測中のディスプレイ30に表示されている表示画面201の構成例である。カメラモニター部202は、カメラ13が撮影し、信号処理・制御ユニット20が取り込んだフレーム画像データである。光切断モニター部203は、表示画像補正部112により生成された被測定物1を計測が完了した順に追加された画像データである。インジケーター204は、光切断モニター203に表示されている被測定物1の計測データの濃淡と被測定物1の高さの対応を示すものである。中止ボタン205は、利用者が、表示画像データ201を観測している中で、計測中になんらかの不都合が生じた際などに計測を中止する際に選択するボタンである。
図12は、被測定物1の計測が終了した後の画面表示201の構成例である。光切断モニター部203には、計測された被測定物1の全体像が三次元で表示され、また、表示は被測定物1を利用者が実際に俯瞰した時と同様の寸法比で適正に表示されている。
以上、本発明によれば、計測されて取り込まれたフレーム画像データから濃淡によるもしくは複数の色を用いたラインデータに生成する。次に、この生成された濃淡もしくは複数の色によるラインデータを表示する画像装置30に順次追加しながら表示するようにしたので、計測結果を三次元で表示でき、計測中にラインレーザー12の光切断画像14が被測定物1に照射されているか測定者が把握できる。
また、寸法が既知の被測定物の計測により生成された座標変換式を用いて座標変換するようにしたので、計測された結果を表示する画像表示装置30上で、実際の寸法の値に基づいた表示が行われるため、測定者が被測定物を俯瞰した時と同様に自然な比率で画像表示装置30上に表示できる。
さらにまた、被測定物1上の投影面と計測結果を表示する画像表示装置30の画面の画素数とを対比して生成された変換式により、生成されたラインデータを順次追加して表示するようにしたので、測定者が被測定物を俯瞰した時と同様に適正な比率で画像表示装置30上に表示できる。
また、寸法が既知の被測定物の計測により生成された座標変換式を用いて座標変換するようにしたので、計測された結果を表示する画像表示装置30上で、実際の寸法の値に基づいた表示が行われるため、測定者が被測定物を俯瞰した時と同様に自然な比率で画像表示装置30上に表示できる。
さらにまた、被測定物1上の投影面と計測結果を表示する画像表示装置30の画面の画素数とを対比して生成された変換式により、生成されたラインデータを順次追加して表示するようにしたので、測定者が被測定物を俯瞰した時と同様に適正な比率で画像表示装置30上に表示できる。
また、本実施形態では、ラインデータ生成部110で生成されたラインデータをラインデータ蓄積記憶部111に記憶し、ラインデータ蓄積記憶部111から読み出したラインデータを表示画像補正装置112で補正する例について説明したが、ラインデータ生成部110で生成されたラインデータを表示画像補正部112で受け取り、受け取ったラインデータを表示画像補正部112で補正した後にラインデータ蓄積記憶部111に記憶するようにしても良い。
さらにまた、本実施形態では、ラインデータ生成部110で生成されるラインデータについて、明度として濃淡をつける例について説明したが、明度の濃淡は、例えばグレースケールでも良く、あるいは、白黒以外の色を用いた濃淡でも良く、さらには、2色以上の色を用いて濃淡を表現するようにしても良い。
さらにまた、本実施形態では、計測を1台のカメラ13で行う例について説明したが、複数のカメラを用いて計測を行う場合、カメラからのフレーム画像データを時分割処理して取り込み、取り込まれた各々のフレーム画像について本実施形態と同様の処理を行うようにしても良い。
さらにまた、本実施形態では、計測された結果を画像表示装置30に表示する例について説明したが、表示画像生成部113で生成された画像データを図示しない信号処理・制御ユニット内もしくは信号処理・制御ユニット外の記憶部に記憶させ、計測者が必要に応じて適時読み出して使用することも可能である。また、表示画像生成部113で生成された画像データを、信号処理・制御ユニットに接続された図示しないプリンタ装置に出力してプリントして使用することも可能である。
なお、実施形態の図2の機能の全て、もしくは一部を、光学式計測装置の図示しないCPU(中央演算装置)に接続されたROM(Read Only Memory)、HDD(Hard Disk Drive)もしくはUSB(Universal Serial Bus) I/Fを介して接続されるUSBメモリー等に保存されているプログラムにより実行することも可能である。
1・・・被測定物
10・・・アクチュエーター
11・・・ステージ
12・・・ラインレーザー
13・・・カメラ
14・・・光切断画像
20・・・信号処理・制御ユニット
30・・・画像表示装置
101・・・制御部
102・・・フレーム画像データ取り込み部
103・・・A/D変換部
104・・・画像記憶部
105・・・輝度検出部
106・・・輝度記憶部
107・・・座標記憶部
108・・・座標変換部
109・・・座標変換式記憶部
110・・・ラインデータ生成部
111・・・ラインデータ蓄積記憶部
112・・・表示画像補正部
113・・・表示画像生成部
114・・・D/A変換部
115・・・画像出力部
121・・・カメラ座標取り込み部
122・・・ステージ座標取り込み部
201・・・表示画面
202・・・カメラモニター部
203・・・光切断モニター部
204・・・インジケーター
205・・・中止ボタン
10・・・アクチュエーター
11・・・ステージ
12・・・ラインレーザー
13・・・カメラ
14・・・光切断画像
20・・・信号処理・制御ユニット
30・・・画像表示装置
101・・・制御部
102・・・フレーム画像データ取り込み部
103・・・A/D変換部
104・・・画像記憶部
105・・・輝度検出部
106・・・輝度記憶部
107・・・座標記憶部
108・・・座標変換部
109・・・座標変換式記憶部
110・・・ラインデータ生成部
111・・・ラインデータ蓄積記憶部
112・・・表示画像補正部
113・・・表示画像生成部
114・・・D/A変換部
115・・・画像出力部
121・・・カメラ座標取り込み部
122・・・ステージ座標取り込み部
201・・・表示画面
202・・・カメラモニター部
203・・・光切断モニター部
204・・・インジケーター
205・・・中止ボタン
Claims (4)
- 被測定物の表面にスリット光を照射する投光部と、
前記被測定物の表面に照射された前記スリット光による反射光を受光して、前記被測定物表面を撮像する撮像部と、
前記撮像部で撮像されたフレーム画像データを取り込むフレーム画像取り込み部と、
前記フレーム画像取り込み部で取り込まれたフレーム画像を前記スリット光に対して垂直方向に分割し、前記分割されたフレーム画像内の最大輝度部分の輝度と座標を検出する輝度検出部と、
前記輝度検出部で検出された輝度情報を用いて、1フレーム分のフレーム画像を1ライン分の濃淡または少なくとも2色以上で表わすラインデータを生成するラインデータ生成部と、
前記ラインデータ生成部で生成されたラインデータを、前記フレーム画像取得部で取得された順に追加して記憶するラインデータ蓄積記憶部と、
前記ラインデータ蓄積記憶部で蓄積記憶されたラインデータを読み出し、読み出された前記フレーム画像と前記蓄積されたラインデータを表示する表示画像を生成する表示画面生成部と、
を備えることを特徴とする光学式計測装置。 - 前記ラインデータ生成手段で生成された複数のラインデータ表示するピッチを、前記スリット光の照射位置間隔と、前記撮像部の受光角度との関係を用いて補正する表示画像補正部と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の光学式計測装置。 - 寸法が既知の被測定物の計測により生成された座標変換式を記憶する座標変換式記憶部と、
前記座標変換式記憶部に記憶されている前記座標変換式を用いて、前記ライン検出部で検出されたライン情報を変換する座標変換部と、
を備えることを特徴とする請求項1または2いずれか1項に記載の光学式計測装置。 - 被測定物の表面にスリット光を照射する投光工程と、
前記被測定物の表面に照射された前記スリット光による反射光を受光して、前記被測定物表面を撮像する撮像工程と、
前記撮像手段で撮像されたフレーム画像データを取り込むフレーム画像取り込み工程と、
前記フレーム画像取り込み工程で取り込まれたフレーム画像を前記スリット光に対して垂直方向に分割し、前記分割されたフレーム画像内の最大輝度部分の輝度と座標を検出する輝度検出工程と、
前記輝度検出工程で検出された輝度情報を用いて、1フレーム分のフレーム画像を1ライン分の濃淡または少なくとも2色以上で表わすラインデータを生成するラインデータ生成工程と、
前記ラインデータ生成手段で生成されたラインデータを、前記フレーム画像取得工程で取得された順に追加して記憶するラインデータ蓄積記憶工程と、
前記ラインデータ蓄積記憶工程で蓄積記憶されたラインデータを読み出し、読み出された前記フレーム画像と前記蓄積されたラインデータを表示する表示画像を生成する表示画面生成工程と、
を備えることを特徴とする光学式計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009143987A JP2011002278A (ja) | 2009-06-17 | 2009-06-17 | 光学式計測装置および光学式計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009143987A JP2011002278A (ja) | 2009-06-17 | 2009-06-17 | 光学式計測装置および光学式計測方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011002278A true JP2011002278A (ja) | 2011-01-06 |
Family
ID=43560353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009143987A Withdrawn JP2011002278A (ja) | 2009-06-17 | 2009-06-17 | 光学式計測装置および光学式計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011002278A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103075976A (zh) * | 2012-12-27 | 2013-05-01 | 天津大学 | 一种高速列车动态包络线测量方法 |
CN108759714A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-11-06 | 华中科技大学 | 一种多线激光轮廓传感器坐标系融合及转轴标定方法 |
-
2009
- 2009-06-17 JP JP2009143987A patent/JP2011002278A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
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CN108759714A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-11-06 | 华中科技大学 | 一种多线激光轮廓传感器坐标系融合及转轴标定方法 |
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---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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