JP2011077287A - Device and method for determining reliability, and computer program for determining reliability - Google Patents
Device and method for determining reliability, and computer program for determining reliability Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011077287A JP2011077287A JP2009227060A JP2009227060A JP2011077287A JP 2011077287 A JP2011077287 A JP 2011077287A JP 2009227060 A JP2009227060 A JP 2009227060A JP 2009227060 A JP2009227060 A JP 2009227060A JP 2011077287 A JP2011077287 A JP 2011077287A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- section
- actual measurement
- estimation model
- reliability
- estimation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
Description
本発明は、統計的手法によって得られる推定モデルの信頼度を判断する技術に関する。 The present invention relates to a technique for determining the reliability of an estimation model obtained by a statistical method.
近年、加工中のプロセス装置の各種センサーデータに対して統計的手法を行うことによって、プロセスを推定するためのモデル(以下、「推定モデル」という。)を構築する取り組みが行われている。具体的には、推定モデルとは、多数のプロセス評価用ロットを用いた実測値からなる教師データ(目的変数及び説明変数の組み合わせ)を予め用意し、複数の教師データに対して統計的手法(多変量解析の重回帰分析など)を行うことによって得られる予測式である。推定モデルを用いることによって、検査装置にて実際に検査を行うことなく加工プロセス結果を判断することが可能であり、さらにテスト品の投入も削減できるため、今後も多く使われていくものである。 In recent years, efforts have been made to construct a model for estimating a process (hereinafter referred to as an “estimated model”) by performing a statistical method on various sensor data of a process apparatus being processed. Specifically, an estimation model is prepared in advance with teacher data (combination of objective variables and explanatory variables) consisting of actual measurement values using a large number of process evaluation lots. This is a prediction formula obtained by performing multiple regression analysis of multivariate analysis). By using the estimation model, it is possible to judge the machining process result without actually inspecting with the inspection equipment, and also reduce the input of test products, so it will continue to be used in the future. .
従来、量産現場で構築される推定モデルは、ある一定の短期間での目的変数及び説明変数を収集して構築されている。そのため、推定モデルを用いて製品を生産する中で、推定モデルの適正状態が維持できているか否かを適当な時期に判断する必要があった。 Conventionally, an estimation model constructed at a mass production site is constructed by collecting objective variables and explanatory variables in a certain short period of time. Therefore, during production of products using the estimation model, it is necessary to determine at an appropriate time whether or not the appropriate state of the estimation model can be maintained.
例えば、1年で新製品が導入される環境では、モデル生成のための目的変数及び説明変数のデータを半年や1年かけて収集していたのでは、推定モデルが完成したときにはそれを活用すべき機会が無くなってしまう。そのため、例えば1カ月のように短い期間に目的変数と相関が高い説明変数を選択し、推定モデルを構築しなければならない。したがって、推定モデルの構築用にデータを収集した期間よりも長い期間で変動する説明変数が存在した場合や、メンテナンス等により相関が高い説明変数の関係が変化した場合には、推定モデルの精度が低下してしまう可能性がある。もちろん、推定モデルを随時最新データに更新して構築し直すことが可能であればよいが、実際には教師データは容易に集められない場合が多い。そのため、推定モデル自体の信頼度を定期的に確認する必要があった。 For example, in an environment where a new product is introduced in one year, data of objective variables and explanatory variables for model generation was collected over half a year or one year. Opportunities should disappear. Therefore, for example, an explanatory variable having a high correlation with the objective variable is selected in a short period such as one month, and an estimation model must be constructed. Therefore, if there is an explanatory variable that fluctuates over a longer period than the period for which the data was collected for constructing the estimation model, or if the relationship of explanatory variables with high correlation changes due to maintenance, etc., the accuracy of the estimation model There is a possibility of lowering. Of course, it is sufficient if the estimation model can be updated to the latest data and reconstructed at any time, but in practice, teacher data is often not easily collected. Therefore, it was necessary to regularly check the reliability of the estimation model itself.
一般的なプロセスの推定モデルでは、推定モデルの信頼度自体を確認するのではなく、推定モデルによって得られる予測値と、実際に測定して得られる実測値との差分を算出し、その差分が閾値以上となった場合にアラームを出すことが行われている。例えば、特許文献1では、半導体のCMP(Chemical Mechanical Polishing)装置にて、研磨時間を予測するモデル構築し、予測値と実測値の差が閾値以上となった場合にエラー判断を行うことが記述されている。また、特許文献2では、各種データ間の相関関係を抽出する方法が開示されている。 In the general process estimation model, the reliability of the estimation model is not confirmed, but the difference between the predicted value obtained by the estimation model and the actual measurement value obtained by actual measurement is calculated. An alarm is issued when the threshold is exceeded. For example, Patent Document 1 describes that a model for predicting a polishing time is constructed in a semiconductor CMP (Chemical Mechanical Polishing) apparatus, and an error judgment is made when the difference between the predicted value and the actual measurement value exceeds a threshold value. Has been. Patent Document 2 discloses a method for extracting a correlation between various data.
しかし、特許文献1に開示された技術では、単純に予測値と実測値の差分を見るだけであり、推定モデルの信頼度については判断されない。そのため、閾値設定問題となり、誤報との判断が難しい。また、特許文献2に開示された技術は、様々な条件の中から集められたデータの中からデータ間の関係を見つける事を目的としているため、データ群の分割・抽出があるだけで、推定モデルの信頼度を判断することはできない。 However, in the technique disclosed in Patent Document 1, the difference between the predicted value and the actual measurement value is simply viewed, and the reliability of the estimation model is not determined. Therefore, it becomes a threshold setting problem and it is difficult to judge it as a false alarm. In addition, the technique disclosed in Patent Document 2 is intended to find a relationship between data from data collected from various conditions. The reliability of the model cannot be determined.
上記事情に鑑み、本発明は、推定モデルの信頼度を判断することが可能な信頼度判断装置、信頼度判断方法、及び信頼度判断用コンピュータプログラムを提供することを目的としている。 In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a reliability determination apparatus, a reliability determination method, and a reliability determination computer program capable of determining the reliability of an estimation model.
本発明の一態様は、信頼度判断装置であって、複数の実測値に基づいて統計的に求められた推定モデルについて、前記複数の実測値における説明変数の値の範囲を、各実測値の間の距離に基づいて、前記複数の区間に分割する区間分割部と、実測値が予め得られている推定対象物について、当該推定対象物における説明変数の値が、前記複数の区間のうちどの区間に属するか判定する区間判定部と、前記区間判定部によって判定された区間に属する前記複数の実測値と、当該区間における前記推定モデルによる推定結果とに基づいて、当該推定モデルの信頼度を判断する判断部と、を備える。 One aspect of the present invention is a reliability determination apparatus, and for an estimated model statistically obtained based on a plurality of actually measured values, a range of values of explanatory variables in the plurality of actually measured values is calculated. Based on the distance between the section dividing unit that divides into a plurality of sections and the estimation object for which the actual measurement value is obtained in advance, the value of the explanatory variable in the estimation object The reliability of the estimation model is determined based on the section determination unit that determines whether it belongs to the section, the plurality of actually measured values that belong to the section determined by the section determination unit, and the estimation result of the estimation model in the section. A determination unit for determining.
本発明の一態様は、信頼度判断方法であって、情報処理装置が、複数の実測値に基づいて統計的に求められた推定モデルについて、前記複数の実測値における説明変数の値の範囲を、各実測値の間の距離に基づいて、前記複数の区間に分割する区間分割ステップと、前記情報処理装置が、実測値が予め得られている推定対象物について、当該推定対象物における説明変数の値が、前記複数の区間のうちどの区間に属するか判定する区間判定ステップと、前記情報処理装置が、前記区間判定ステップによって判定された区間に属する前記複数の実測値と、当該区間における前記推定モデルによる推定結果とに基づいて、当該推定モデルの信頼度を判断する判断ステップと、を備える。 One aspect of the present invention is a reliability determination method, in which an information processing device calculates a range of values of explanatory variables in a plurality of actually measured values for an estimated model statistically obtained based on a plurality of actually measured values. The section dividing step of dividing into the plurality of sections based on the distance between each measured value, and the information processing apparatus, with respect to the estimated object for which the measured value is obtained in advance, the explanatory variable in the estimated object A section determination step for determining which section of the plurality of sections belongs to the value, the plurality of measured values belonging to the section determined by the section determination step, and the information in the section And a determination step of determining the reliability of the estimation model based on the estimation result of the estimation model.
本発明の一態様は、信頼度判断用コンピュータプログラムであって、複数の実測値に基づいて統計的に求められた推定モデルについて、前記複数の実測値における説明変数の値の範囲を、各実測値の間の距離に基づいて、前記複数の区間に分割する区間分割ステップと、実測値が予め得られている推定対象物について、当該推定対象物における説明変数の値が、前記複数の区間のうちどの区間に属するか判定する区間判定ステップと、前記区間判定ステップによって判定された区間に属する前記複数の実測値と、当該区間における前記推定モデルによる推定結果とに基づいて、当該推定モデルの信頼度を判断する判断ステップと、をコンピュータに対して実行させるためのものである。 One aspect of the present invention is a computer program for reliability determination, and for an estimation model statistically obtained based on a plurality of actual measurement values, ranges of values of explanatory variables in the plurality of actual measurement values are measured. Based on the distance between the values, the section dividing step for dividing into the plurality of sections, and the estimation object for which the actual measurement value is obtained in advance, the value of the explanatory variable in the estimation object is the value of the plurality of sections. The section determination step for determining which section of the sections belongs, the plurality of actual measurement values belonging to the section determined by the section determination step, and the estimation result of the estimation model in the section, the reliability of the estimation model And a determination step for determining the degree of the computer.
本発明により、推定モデルの信頼度を判断することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to determine the reliability of the estimation model.
図1は、信頼度判断装置1の機能構成を表す概略ブロック図である。信頼度判断装置1は、バスで接続されたCPU(Central Processing Unit)やメモリや補助記憶装置などを備え、信頼度判断用コンピュータプログラムを実行することによって、区間分割部100、分布係数算出部101、区間判定部102、判定部103、寄与率算出部104、分散比算出部105、比較部106、出力部107を備える装置として機能する。なお、信頼度判断装置1の各機能の全て又は一部は、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)やPLD(Programmable Logic Device)等のハードウェアを用いて実現されても良い。
FIG. 1 is a schematic block diagram illustrating a functional configuration of the reliability determination apparatus 1. The reliability determination apparatus 1 includes a CPU (Central Processing Unit) connected via a bus, a memory, an auxiliary storage device, and the like, and executes a reliability determination computer program to thereby obtain an
推定モデルは、多数のプロセス評価用ロットを用いた実測値からなる複数の教師データ(目的変数及び説明変数の組み合わせ)を予め用意し、複数の教師データに対して統計的手法(多変量解析の重回帰分析など)を行うことによって得られる予測式である。このようにして得られる推定モデルは、例えば生産を続ける中で良品判定や消耗状態などのプロセスの変化状態の特徴を表すために用いられる。ある頻度でテスト評価用ロットを装置にて処理することで、データ(以下、「テストデータ」という。)が得られる。テストデータは、テスト評価用ロットについての説明変数の値と、テスト評価用ロットについて実際に測定を行うことによって得られる目的変数の実測値とを有する。信頼度判断装置1は、多変量解析の重回帰分析などの統計的手法により構築された推定モデルと推定モデルの構築に用いられた全ての教師データとテストデータとを入力として受け付け、教師データ及びテストデータに基づいて推定モデルの信頼度を判断し、判断結果を出力する。このような処理を行うため、信頼度判断装置1の各機能部は以下のように動作する。 The estimation model prepares a plurality of teacher data (combinations of objective variables and explanatory variables) consisting of actual measurement values using a large number of process evaluation lots, and uses a statistical method (multivariate analysis) for a plurality of teacher data. This is a prediction formula obtained by performing multiple regression analysis or the like. The estimation model obtained in this way is used, for example, to represent the characteristics of a process change state such as a non-defective product determination or a wear state while continuing production. Data (hereinafter referred to as “test data”) can be obtained by processing the test evaluation lots with the apparatus at a certain frequency. The test data includes an explanatory variable value for the test evaluation lot and an actual measurement value of the objective variable obtained by actually performing the measurement for the test evaluation lot. The reliability determination apparatus 1 receives an estimation model constructed by a statistical method such as multiple regression analysis of multivariate analysis and all the teacher data and test data used to construct the estimation model as inputs. The reliability of the estimation model is determined based on the test data, and the determination result is output. In order to perform such processing, each functional unit of the reliability determination apparatus 1 operates as follows.
区間分割部100は、区間分割処理を実行することによって、推定モデルを生成した際に用いられた説明変数の値の範囲を分割し複数の区間を形成する。区間分割処理の詳細については後述する。分布係数算出部101は、分布係数算出処理を実行することによって、各区間での分布係数を算出する。分布係数算出処理の詳細については後述する。区間判定部102は、入力されたテストデータが区間分割部100によって形成された複数の区間のどの区間に所属するか判定する。判定部103は、テストデータが所属する区間において、推定モデル生成時に十分なデータ分布が存在していたか否かを判定する。寄与率算出部104は、テストデータが所属する区間の寄与率を算出する。分散比算出部105は、テストデータが所属する区間の分散比を計算する。比較部106は、テストデータが所属する区間について寄与率と分散比とを比較し信頼度の判断を行う。出力部107は、音声出力部や表示部によって、判定部103による判定結果、又は比較部106による判断結果を信頼度判断装置1のユーザーに対して出力する。また、出力部107は、ユーザーに対してではなく、他の装置に対して判断結果を表すデータを出力するように構成されても良い。
The section dividing
図2は、目的変数と、説明変数と、推定モデルとの例を表す図である。教師データとなる目的変数及び説明変数は、図2における各黒い点であり、例えば半導体製造装置がプロセス評価用ロットを処理した際に得られる。推定モデルは、図2における直線であり、目的変数及び説明変数から多変量解析の重回帰分析などによって得られる。なお、図2では、目的変数及び説明変数の種類がそれぞれ一つであるが、それぞれ複数であっても良い。また、推定モデルとは、線形あるいは非線形を含めた実測に対する近似直線や曲線を意味する。 FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an objective variable, an explanatory variable, and an estimation model. The objective variable and the explanatory variable serving as the teacher data are black dots in FIG. 2 and are obtained, for example, when the semiconductor manufacturing apparatus processes the process evaluation lot. The estimation model is a straight line in FIG. 2, and is obtained from the objective variable and the explanatory variable by multiple regression analysis of multivariate analysis. In FIG. 2, the number of the objective variable and the explanatory variable is one, but there may be a plurality of types. In addition, the estimation model means an approximate straight line or curve for actual measurement including linear or non-linear.
図2において、縦に伸びる複数の波線は各区間の境界を表す。各区間の境界は、区間分割部100の区間分割処理によって決定される。各区間の幅、即ち境界の間の区間の長さは一律ではなく、区間毎に決まる。また、各区間に含まれる教師データの数も一律ではなく、区間毎に決まる。
In FIG. 2, a plurality of vertically extending wavy lines represent the boundaries of each section. The boundary of each section is determined by the section dividing process of the
図3は、信頼度判断装置1の処理の流れを表すフローチャートである。まず、区間分割部100は、推定モデルの説明変数のデータ範囲を、区間分割処理の実行によって複数の区間に分割する。そして、分布係数算出部102は、各区間について分布係数算出処理を実行することによって分布係数を算出する(ステップS101)。分割後の区間は、図3のように隣同士でオーバーラップしないように設定されても良いし、隣同士で一部がオーバーラップするように(重なり合うように)設定されても良い。分布係数は、推定モデルの構築時の教師データの数が十分であったか否か、且つ、1点に集中せずに分散していたか否かを表す。
FIG. 3 is a flowchart showing a process flow of the reliability determination apparatus 1. First, the
図4は、区間分割部100及び分布係数算出部101による区間分割処理及び分布係数算出処理の流れを表すフローチャートである。まず、ユーザーによってランクが決定される(ステップS201)。ランクとは、同一区間に含まれるデータ点同士の距離の許容値を表す値である。ランクが大きいほど、大きく離れたデータ点同士が同一区間に含まれることとなり、ランクが小さいほど、接近したデータ同士のみが同一区間に含まれることとなる。例えば、予め複数のランクが設定されており、ユーザーはその中から一つのランクを選択するように構成されても良い。また、ランクの値は、隣接するデータ点間の距離の平均値の整数倍や、最頻値の整数倍や、中央値の整数倍や、平均値のべき乗や、最頻値のべき乗や、中央値のべき乗などに設定されても良い。
FIG. 4 is a flowchart showing the flow of the section dividing process and the distribution coefficient calculating process by the
区間分割部100は、一つの基準点と一つの隣接点とを選択する。具体的には、区間分割部100は、一つ前の区間の終端の次のデータ点(一つ前の区間が無い場合は、最初のデータ点)から順番に基準点として選択し、さらに基準点の次の順番のデータ点を隣接点として選択する(ステップS202)。データ点とは、一つの教師データを表す点であり、図2に表される一つの黒い点である。また、上記の順番とは、説明変数の軸にそって小さい方から大きい方への順でも良いし、目的変数の軸や両方の軸にそって小さい方から大きい方への順でも良いし、いずれかの軸に沿って大きい方から小さい方への順でも良いし、その他の順であっても良い。
The
次に、区間分割部100は、基準点と隣接点との間の距離(以下、「隣接間距離」という。)を算出する(ステップS203)。次に、区間分割部100は、算出された隣接間距離が、ステップS201において選択されたランクの値よりも大きいか否か判定する(ステップS204)。隣接間距離がランクの値以下である場合(ステップS204−NO)、区間分割部100は、現在の処理対象となっている基準点と隣接点とが同一の区間に属するデータ点であると判定し、基準点及び隣接点をそれぞれ次の点に移す(ステップS205)。具体的には、区間分割部100は、それまで隣接点だったデータ点を新たな基準点とし、この基準点の次の順のデータ点を新たな隣接点としてそれぞれ選択する。そして、分布係数算出部101は、新たな基準点と隣接点との隣接間距離を算出し(ステップS203)、ランクの値との比較を行う(ステップS204)。
Next, the
一方、ステップS204の処理において隣接間距離がランクの値よりも大きい場合(ステップS204−YES)、区間分割部100は、現在の処理対象となっている基準点を区間の終端に位置するデータ点であると判定し、現在の処理対象となっている隣接点との間に区間の境界線を設定する(ステップS206)。次に、分布係数算出部101は、区間分割部100によって新たに設定された区間について、隣接間距離の累計を算出し(ステップS207)、区間内に存在するデータ点の個数をカウントする(ステップS208)。
On the other hand, when the adjacent distance is larger than the rank value in the process of step S204 (step S204-YES), the
そして、分布係数算出部101は、ステップS207で算出された累計を、ステップS208でカウントされたデータ数から1を減算した値で除算することによって、この区間の分布係数を算出する(ステップS209)。具体的には、ステップS207で算出された累計をΣDとし、ステップS208でカウントされたデータ数をnとすると、この区間の分布係数Mは以下の式によって表される。
M=ΣD/(n−1) ・・・(式0)
Then, the distribution
M = ΣD / (n−1) (Formula 0)
次に、区間分割部100は、全てのデータ点を基準点又は隣接点としてステップS202〜S209の処理を行ったか否か判定し(ステップS210)、基準点又は隣接点として選択されていないデータ点が残らなくなるまでステップS202〜S209の処理を繰り返し実行する(ステップS210−NO)。なお、ステップS202に処理が戻った場合には、区間分割部100は、最後に隣接点として選択された点を新たな基準点として選択し、さらに新たな基準点の次の順のデータ点を新たな隣接点として処理を行う。
Next, the
一方、基準点又は隣接点として選択されていないデータ点がなくなると(ステップS210−YES)、区間分割部100及び分布係数算出部101は、区間分割処理及び分布係数算出処理を終える。なお、ステップS202の処理において、新たに選択する隣接点が存在しない場合は、その時点でステップS206の処理に飛び、ステップS206以降の処理を実行する。
On the other hand, when there is no data point not selected as the reference point or the adjacent point (step S210—YES), the
分布係数算出処理が終了すると、区間判定部102が、テストデータが区間分割部100によって形成された複数の区間のどの区間に所属するか判定する(ステップS102)。次に、判定部103が、ステップS102で判定された区間における分布係数が閾値以上であるか否か判定する(ステップS103)。分布係数が閾値未満である場合(ステップS103−NO)、すなわち推定モデル生成時に十分な数の教師データが存在していなかった場合、判定部103は、推定モデル生成時の教師データが少ないためモデル信頼度を判断できないと判断する(ステップS104)。この場合、出力部107は、判定部103による「モデル信頼度判断不能」という判断結果を出力する。
When the distribution coefficient calculation process ends, the
一方、分布係数が閾値より大きい場合(ステップS103−YES)、すなわち推定モデル生成時に十分な数の教師データが存在していた場合、寄与率算出部104が、ステップS102で判定された区間の推定モデルの寄与率を算出する(ステップS105)。具体的には、寄与率算出部104は以下の式1にしたがって推定モデルの寄与率を算出する。なお、式1におけるiの値は、各教師データの識別情報を表す。Yipreは説明変数がXiであるときに推定モデルによって算出される予測値を表し、a+bXiに等しい。Yiは説明変数がXiであるときの実測値を表し、教師データから得られる。また、Yaveは、実測値の平均値を表す。また、式1に用いられる説明変数Xiは、教師データとして存在する説明変数Xiのうち、ステップS102で判定された区間に属するもの全てである。したがって、Yaveは、教師データのうちその説明変数XiがステップS102で判定された区間に属するもの全ての教師データにおける目的変数の実測値の平均値を表す。
On the other hand, when the distribution coefficient is larger than the threshold value (step S103-YES), that is, when there is a sufficient number of teacher data at the time of generating the estimation model, the contribution
式1では、ステップS102で判定された区間に属する各教師データの実測値と平均値との差分の二乗の累積値を、各予測値と平均値との差分の二乗の累積値で除算した値が寄与率として得られる。ここで、寄与率は、推定モデルの適合度を示す値である。寄与率の算出方法は、数1にしたがった方法に限定されず、実測値に対する予測値の適合度合いを表す値が算出できれば、例えば実測値と予測値との差分値を寄与率とするように他の算出方法であっても良い。 In Formula 1, a value obtained by dividing the cumulative value of the square of the difference between the measured value and the average value of each teacher data belonging to the section determined in step S102 by the cumulative value of the square of the difference between each predicted value and the average value Is obtained as a contribution rate. Here, the contribution rate is a value indicating the fitness of the estimation model. The method of calculating the contribution rate is not limited to the method according to Equation 1, and if a value representing the degree of fit of the predicted value with the actual measurement value can be calculated, for example, the difference value between the actual measurement value and the predicted value is used as the contribution rate. Other calculation methods may be used.
次に、分散比算出部105が、ステップS102で判定された区間での推定モデル生成時の教師データの中心に対して、テスト評価用ロットの予測値と実測値との分散の比率を計算する。具体的には、分散比算出部105は以下の式2にしたがって分散比を算出する。なお、Ytpreは、説明変数がテストデータの説明変数Xtであるときに推定モデルによって算出される予測値を表し、a+bXtに等しい。Ytは説明変数がXtであるときの実測値を表し、テストデータから得られる。また、Yaveは、実測値の平均値を表す。また、式2に用いられる説明変数Xtは、テストデータとして存在する説明変数Xtのうち、ステップS102で判定された区間に属するもの全てである。したがって、Yaveは、テストデータのうちその説明変数XtがステップS102で判定された区間に属するもの全てのテストデータにおける目的変数の実測値の平均値を表す。
Next, the variance
式2では、ステップS102で判定された区間に属する各テストデータの実測値と平均値との差分の二乗の累積値を、各予測値と平均値との差分の二乗の累積値で除算した値が分散比として得られる。ここで、分散比は、推定モデルの適合度を示す値である。分散比の算出方法は、数2にしたがった方法に限定されず、実測値に対する予測値の適合度合いを表す値が算出できれば、例えば実測値と予測値との差分値を分散比とするように他の算出方法であっても良い。 In Expression 2, a value obtained by dividing the cumulative value of the square of the difference between the measured value and the average value of each test data belonging to the section determined in step S102 by the cumulative value of the square of the difference between each predicted value and the average value Is obtained as a dispersion ratio. Here, the dispersion ratio is a value indicating the degree of fitness of the estimation model. The calculation method of the dispersion ratio is not limited to the method according to Equation 2, and if a value representing the degree of fit of the predicted value with the actual measurement value can be calculated, for example, the difference value between the actual measurement value and the predicted value is set as the dispersion ratio. Other calculation methods may be used.
比較部106は、寄与率算出部104によって算出された寄与率と分散比算出部105によって算出された分散比とを比較する(ステップS107)。分散比が寄与率よりも大きい場合(ステップ107−YES)、比較部106は、推定モデルの信頼度は高いと判断し、推定モデルの再構築は不要と判断する(ステップS108)。一方、分散比が寄与率以下である場合(ステップ107−NO)、比較部106は、推定モデルの信頼度は低いと判断し、推定モデルの再構築が必要と判断する(ステップS109)。ステップS108又はステップS109の処理の後、出力部107は判断結果を出力する。
The
信頼度判断装置1は、実際の製造装置内の演算装置や個々の製造装置とは関係ない独立の情報処理装置として実現されても良い。
このように構成された信頼度判断装置1によれば、一度構築した推定モデルの安定性を、新たなプロセス評価用ロットに基づいた新たな教師データを改めて準備することなく容易に判定することが可能となり、推定モデルの信頼度を容易に確認することが可能となる。特に、ユーザーによって選択されたランクの値に基づいて区間分割部100が区間を動的に決定するため、ユーザーは用途や環境などに応じてランクを適宜選択することによって信頼度判断の精度を選択することが可能となる。
The reliability determination device 1 may be realized as an independent information processing device that is not related to an arithmetic device in an actual manufacturing device or individual manufacturing devices.
According to the reliability determination device 1 configured as described above, it is possible to easily determine the stability of the estimation model once constructed without newly preparing new teacher data based on a new process evaluation lot. This makes it possible to easily confirm the reliability of the estimation model. In particular, since the
また、信頼度判断装置1によれば、一度構築した推定モデルの信頼度を、教師データの区間別に判断しており、教師データが少ない区間については推定モデルの信頼度を判断することなく「判断不能」とするため、教師データが少ない区間において誤報を出力してしまうことを防ぐことが可能となる。 Moreover, according to the reliability determination apparatus 1, the reliability of the estimation model once constructed is determined for each section of the teacher data, and “determination” is performed without determining the reliability of the estimation model for the section with less teacher data. Since it is “impossible”, it is possible to prevent an erroneous report from being output in a section with a small amount of teacher data.
また、信頼度判断装置1によれば、推定モデルの信頼度の判断において、推定モデルの再構築に必要な程度の多くのプロセス評価用ロットを用いた多くの教師データによって判断を行うのではなく、少ない数のテスト評価用ロットを用いた少ないテストデータによって判断を行う。そのため、実測を行うテスト評価用ロットの数を減らすことが可能であり、テスト評価用ロットではなく実際の製品に係る処理の効率を向上させることが可能となる。 In addition, according to the reliability determination apparatus 1, in determining the reliability of the estimation model, the determination is not performed using a lot of teacher data using a lot of process evaluation lots necessary to reconstruct the estimation model. Judgment is made with a small amount of test data using a small number of test evaluation lots. Therefore, it is possible to reduce the number of test evaluation lots to be actually measured, and it is possible to improve the processing efficiency related to the actual product instead of the test evaluation lot.
また、信頼度判断装置1によれば以下のようなことも可能となる。すなわち、ある短期間で相関が高いパラメータを選択して構築した推定モデルは、より長い期間で検討した場合に本来は必要である相関パラメータを入れずに構築している場合が存在する。しかしながら、信頼度が低下した場合にはすぐに再構築が必要であることを判断することが可能であるため、そのような短期間に得られた教師用データにより構築された推定モデルであっても実運用することが可能となる。したがって、推定モデルが完成した時には該当製品の生産が終了していたというような状況を避ける事が可能となる。 Moreover, according to the reliability determination apparatus 1, the following can also be performed. That is, there are cases where an estimation model constructed by selecting a parameter having a high correlation in a short period is constructed without including a correlation parameter that is originally necessary when the parameter is examined in a longer period. However, since it is possible to immediately determine that the reconstruction is necessary when the reliability decreases, the estimation model is constructed by the teacher data obtained in such a short period of time. Can also be used in practice. Therefore, it is possible to avoid a situation in which the production of the corresponding product is finished when the estimation model is completed.
なお、信頼度判断装置1の活用例としては、装置のセンサーデータを活用してプロセス内容を推定する半導体装置が挙げられる。 In addition, as an application example of the reliability determination apparatus 1, a semiconductor apparatus that estimates process contents by using sensor data of the apparatus can be cited.
<変形例>
比較部106は、ステップS107の評価ロットの分散比が寄与率より小さい回数が一定回数以上繰り返された場合に、推定モデルの再構築が必要と判断しても良い。
<Modification>
The
分布係数算出部101は、ステップS207において隣接間距離の区間累計を算出する際に、ある基準点と隣接点との隣接間距離が所定の閾値よりも小さい場合には、この隣接間距離を累計に用いずに、所定の閾値を超える隣接間距離が得られるまで基準点はそのままで次の順番の点を新たな隣接点として隣接間距離を算出し、所定の閾値を超えた隣接間距離のみを累計に用いるように構成されても良い。この場合、分布係数算出部101は、ステップS208においてデータ数をカウントする際に、ステップS207において累計に用いられなかった隣接点の数をカウントから外すように構成されても良い。
The distribution
図4のフローチャートでは、区間分割部100が一つの区間を設定する度に当該区間について分布係数算出部101が分布係数を算出する流れとなっているが、区間分割部100がステップS202〜ステップS206の処理を繰り返し実行することによって全ての区間を設定し、その後に分布係数算出部101がステップS207〜209の処理を繰り返し実行することによって全ての区間について分布係数を算出しても良い。
以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。
In the flowchart of FIG. 4, every time the
The embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to this embodiment, and includes designs and the like that do not depart from the gist of the present invention.
1…信頼度判断装置, 100…区間分割部, 101…分布係数算出部, 102…区間判定部, 103…判定部, 104…寄与率算出部, 105…分散比算出部, 106…比較部(判断部), 107…出力部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Reliability judgment apparatus, 100 ... Section division part, 101 ... Distribution coefficient calculation part, 102 ... Section determination part, 103 ... Determination part, 104 ... Contribution rate calculation part, 105 ... Dispersion ratio calculation part, 106 ... Comparison part ( Judgment unit), 107 ... output unit
Claims (4)
実測値が予め得られている推定対象物について、当該推定対象物における説明変数の値が、前記複数の区間のうちどの区間に属するか判定する区間判定部と、
前記区間判定部によって判定された区間に属する前記複数の実測値と、当該区間における前記推定モデルによる推定結果とに基づいて、当該推定モデルの信頼度を判断する判断部と、
を備える信頼度判断装置。 A section that divides a range of explanatory variable values in the plurality of actual measurement values into the plurality of sections based on a distance between the actual measurement values for an estimation model that is statistically obtained based on the plurality of actual measurement values. A dividing section;
A section determination unit that determines which section of the plurality of sections the value of the explanatory variable in the estimation target belongs to the estimation target for which the actual measurement value is obtained in advance,
A determination unit that determines the reliability of the estimation model based on the plurality of actual measurement values belonging to the section determined by the section determination unit and the estimation result of the estimation model in the section;
A reliability determination apparatus comprising:
前記情報処理装置が、実測値が予め得られている推定対象物について、当該推定対象物における説明変数の値が、前記複数の区間のうちどの区間に属するか判定する区間判定ステップと、
前記情報処理装置が、前記区間判定ステップによって判定された区間に属する前記複数の実測値と、当該区間における前記推定モデルによる推定結果とに基づいて、当該推定モデルの信頼度を判断する判断ステップと、
を備える信頼度判断方法。 For the estimation model statistically obtained based on the plurality of actual measurement values, the information processing apparatus determines the range of the value of the explanatory variable in the plurality of actual measurement values based on the distance between the respective actual measurement values. An interval dividing step to divide into intervals;
A section determination step in which the information processing apparatus determines which section of the plurality of sections the value of the explanatory variable in the estimation object belongs to the estimation object for which an actual measurement value is obtained in advance.
A determination step in which the information processing apparatus determines the reliability of the estimation model based on the plurality of actually measured values belonging to the section determined by the section determination step and an estimation result by the estimation model in the section; ,
A reliability determination method comprising:
実測値が予め得られている推定対象物について、当該推定対象物における説明変数の値が、前記複数の区間のうちどの区間に属するか判定する区間判定ステップと、
前記区間判定ステップによって判定された区間に属する前記複数の実測値と、当該区間における前記推定モデルによる推定結果とに基づいて、当該推定モデルの信頼度を判断する判断ステップと、
をコンピュータに対して実行させるための信頼度判断用コンピュータプログラム。 A section that divides a range of explanatory variable values in the plurality of actual measurement values into the plurality of sections based on a distance between the actual measurement values for an estimation model that is statistically obtained based on the plurality of actual measurement values. Splitting step;
A section determination step for determining which section of the plurality of sections the value of the explanatory variable in the estimation target belongs to the estimation target for which the actual measurement value is obtained in advance;
A determination step of determining the reliability of the estimation model based on the plurality of actual measurement values belonging to the section determined by the section determination step and the estimation result of the estimation model in the section;
A computer program for determining the degree of reliability for causing a computer to execute.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009227060A JP5532804B2 (en) | 2009-09-30 | 2009-09-30 | Reliability determination device, reliability determination method, and reliability determination computer program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009227060A JP5532804B2 (en) | 2009-09-30 | 2009-09-30 | Reliability determination device, reliability determination method, and reliability determination computer program |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011077287A true JP2011077287A (en) | 2011-04-14 |
JP5532804B2 JP5532804B2 (en) | 2014-06-25 |
Family
ID=44020965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009227060A Expired - Fee Related JP5532804B2 (en) | 2009-09-30 | 2009-09-30 | Reliability determination device, reliability determination method, and reliability determination computer program |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5532804B2 (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014235481A (en) * | 2013-05-31 | 2014-12-15 | Jfeスチール株式会社 | Influence factor extraction method and program |
US8943444B2 (en) | 2013-06-20 | 2015-01-27 | International Business Machines Corporation | Semiconductor device reliability model and methodologies for use thereof |
US9354953B2 (en) | 2014-07-24 | 2016-05-31 | International Business Machines Corporation | System integrator and system integration method with reliability optimized integrated circuit chip selection |
US9489482B1 (en) | 2015-06-15 | 2016-11-08 | International Business Machines Corporation | Reliability-optimized selective voltage binning |
US9639645B2 (en) | 2015-06-18 | 2017-05-02 | Globalfoundries Inc. | Integrated circuit chip reliability using reliability-optimized failure mechanism targeting |
US9891275B2 (en) | 2015-06-24 | 2018-02-13 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit chip reliability qualification using a sample-specific expected fail rate |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08184546A (en) * | 1994-12-28 | 1996-07-16 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | Method and apparatus for estimating true density of material and method for estimating amount of void in material |
JP2005050000A (en) * | 2003-07-30 | 2005-02-24 | Ricoh Co Ltd | Predictive control device, predictive control method, program described to execute method on information processing device, and storage medium with program stored |
JP2007140694A (en) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Nippon Steel Corp | Device and method for analyzing relevance of operation and quality in manufacturing process, computer program and computer-readable recording medium |
JP2007274266A (en) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Sharp Corp | Digital gamma correction circuit, and digital gamma correction method |
-
2009
- 2009-09-30 JP JP2009227060A patent/JP5532804B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08184546A (en) * | 1994-12-28 | 1996-07-16 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | Method and apparatus for estimating true density of material and method for estimating amount of void in material |
JP2005050000A (en) * | 2003-07-30 | 2005-02-24 | Ricoh Co Ltd | Predictive control device, predictive control method, program described to execute method on information processing device, and storage medium with program stored |
JP2007140694A (en) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Nippon Steel Corp | Device and method for analyzing relevance of operation and quality in manufacturing process, computer program and computer-readable recording medium |
JP2007274266A (en) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Sharp Corp | Digital gamma correction circuit, and digital gamma correction method |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014235481A (en) * | 2013-05-31 | 2014-12-15 | Jfeスチール株式会社 | Influence factor extraction method and program |
US8943444B2 (en) | 2013-06-20 | 2015-01-27 | International Business Machines Corporation | Semiconductor device reliability model and methodologies for use thereof |
US9064087B2 (en) | 2013-06-20 | 2015-06-23 | International Business Machines Corporation | Semiconductor device reliability model and methodologies for use thereof |
US9354953B2 (en) | 2014-07-24 | 2016-05-31 | International Business Machines Corporation | System integrator and system integration method with reliability optimized integrated circuit chip selection |
US9489482B1 (en) | 2015-06-15 | 2016-11-08 | International Business Machines Corporation | Reliability-optimized selective voltage binning |
US9639645B2 (en) | 2015-06-18 | 2017-05-02 | Globalfoundries Inc. | Integrated circuit chip reliability using reliability-optimized failure mechanism targeting |
US9891275B2 (en) | 2015-06-24 | 2018-02-13 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit chip reliability qualification using a sample-specific expected fail rate |
US10539611B2 (en) | 2015-06-24 | 2020-01-21 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit chip reliability qualification using a sample-specific expected fail rate |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5532804B2 (en) | 2014-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5532804B2 (en) | Reliability determination device, reliability determination method, and reliability determination computer program | |
CN104901823B (en) | A kind of alarm threshold generation method, service feature index monitoring method and device | |
JP6777069B2 (en) | Information processing equipment, information processing methods, and programs | |
JP5696354B2 (en) | Reliability judgment device | |
WO2014208002A1 (en) | System analysis device, system analysis method and system analysis program | |
JP2015529813A (en) | Estimating remaining useful life from predictive features discovered using genetic programming | |
CN104615866B (en) | A kind of life-span prediction method based on physical-statistical model | |
Zhang et al. | Design and application of exponential chart for monitoring time-between-events data under random process shift | |
JP6164311B1 (en) | Information processing apparatus, information processing method, and program | |
US8831911B2 (en) | Device and method for monitoring a gas turbine | |
JP2014203228A (en) | Project management support system | |
JP5928104B2 (en) | Performance monitoring device, performance monitoring method, and program thereof | |
JP2010283000A (en) | Detection method of predictive sign of device abnormalities in semiconductor manufacturing | |
JP2013084057A (en) | Management method for product quality and management device for product quality | |
US20160321553A1 (en) | Methods and systems that estimate a degree of abnormality of a complex system | |
JP2008102816A (en) | Energy saving report preparation device and method of predicting energy consumption by using the same | |
JP5064259B2 (en) | Degradation evaluation apparatus and degradation evaluation method | |
CN106595563B (en) | Method for measuring landslide deformation slip period significance parameter | |
CN105678089A (en) | Model-self-matching and fusion health forecasting method | |
JP2016091271A (en) | Communication quality prediction device and communication quality prediction program | |
Warburton et al. | Critical Analysis of Linear and Nonlinear Project Duration Forecasting Methods | |
JP6733656B2 (en) | Information processing apparatus, information processing system, plant system, information processing method, and program | |
CN106683001A (en) | Thermal power plant set identification data selection method based on historical operation data | |
CN111258863B (en) | Data anomaly detection method, device, server and computer readable storage medium | |
WO2016017171A1 (en) | Flow rate prediction device, mixing ratio estimation device, method, and computer-readable recording medium |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120806 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140107 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140207 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140401 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5532804 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140414 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |