[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2010252164A - Solid-state image sensing device - Google Patents

Solid-state image sensing device Download PDF

Info

Publication number
JP2010252164A
JP2010252164A JP2009101006A JP2009101006A JP2010252164A JP 2010252164 A JP2010252164 A JP 2010252164A JP 2009101006 A JP2009101006 A JP 2009101006A JP 2009101006 A JP2009101006 A JP 2009101006A JP 2010252164 A JP2010252164 A JP 2010252164A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solid
state imaging
imaging device
wiring board
multilayer wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2009101006A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiko Kato
昭彦 加藤
Hiroshi Sugawara
宏 菅原
Yasushi Nakagiri
康司 中桐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2009101006A priority Critical patent/JP2010252164A/en
Publication of JP2010252164A publication Critical patent/JP2010252164A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a solid-state image sensing device securing the strength of a solid-state image sensing element mounted on a glass board, facilitating the adjustment of an optic axis and facilitating the terminal connection of an automatic focusing mechanism. <P>SOLUTION: The connection of electrical equipment is formed to a cavity, a reference hole and the inner wall of the reference hole in a printed-wiring board. The solid-state image sensing element mounted on the glass board is mounted on the bottom of the cavity while a lens box body including a reference projection is inserted and fitted into the reference hole. Consequently, the adjustment of the optic axis and the connection of an electrical terminal for the automatic focusing mechanism are conducted simultaneously. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、固体撮像装置に係り、特に、監視カメラ、医療用カメラ、車載用カメラ、情報通信端末用カメラなどの固体撮像素子を用いて形成される小型の固体撮像装置に関するものである。   The present invention relates to a solid-state imaging device, and more particularly to a small-sized solid-state imaging device formed using a solid-state imaging device such as a surveillance camera, a medical camera, an in-vehicle camera, and an information communication terminal camera.

近年、携帯電話、車載部品等で小型カメラの需要が急速に進展している。この種の小型カメラは固体撮像素子によりレンズなどの光学系を介して入力される画像を電気信号として出力する固体撮像装置が使用されている。そしてこの撮像装置の小型化、高性能化に伴い、カメラがより小型化し各方面での使用が増え、映像入力装置としての市場を広げている。従来の半導体撮像素子を用いた撮像装置は、レンズ、半導体撮像素子、その駆動回路および信号処理回路などを搭載したLSI等の部品を夫々筐体あるいは構造体に形成してこれらを組み合わせている。   In recent years, the demand for small cameras for mobile phones, in-vehicle components, etc. has been rapidly increasing. This type of small camera uses a solid-state imaging device that outputs an image input as an electric signal by an optical system such as a lens by a solid-state imaging device. With the downsizing and high performance of this image pickup apparatus, the camera has become smaller and the use in various fields has increased, expanding the market as a video input apparatus. 2. Description of the Related Art Conventional imaging devices using a semiconductor imaging element are formed by combining parts such as an LSI mounted with a lens, a semiconductor imaging element, a driving circuit thereof, a signal processing circuit, and the like in a housing or a structure.

このような組み合わせによる実装構造は、平板上のプリント基板上に各素子を搭載することによって形成されていた。しかし、携帯電話等のさらなる薄型化への要求から個別のデバイスに対する薄型化への要求が年々高くなってきており、その要求に答えるために、フレキシブル配線板を用いたり、透光性部材に直接ICをフリップチップ実装したりして、より薄い撮像装置とする試みが行われている。   The mounting structure by such a combination is formed by mounting each element on a printed circuit board on a flat plate. However, the demand for further thinning of individual devices has been increasing year by year due to the demand for further thinning of cellular phones and the like, and in order to respond to the demand, a flexible wiring board is used, or a transparent member is directly applied. Attempts have been made to make the imaging device thinner by flip-chip mounting the IC.

特許文献1の構造は、透光性基板に固体撮像素子を実装し、その透光性基板に直接レンズユニットを搭載したものである。また、特許文献2の構造は、固体撮像素子を実装した透光性基板をプリント回路基板に実装し、その上にやはりレンズユニットを直接搭載したものである。   In the structure of Patent Document 1, a solid-state imaging device is mounted on a light-transmitting substrate, and a lens unit is directly mounted on the light-transmitting substrate. The structure of Patent Document 2 is such that a translucent substrate on which a solid-state image sensor is mounted is mounted on a printed circuit board, and a lens unit is directly mounted thereon.


特開2001−203913号公報JP 2001-203913 A 特開2007−288755号公報JP 2007-288755 A

しかしながら、特許文献1、2に示される固体撮像装置においては、いずれも透光性基板に直接、レンズユニットを搭載している。このような構成においては、光軸調整が困難であると共に、装置自体の強度が確保できないという課題が発生していた。また、レンズに自動焦点調節機構がある場合に、その電気配線は、別途取り出して半田配線を行なわなければならないといった製造上の困難性を伴うといった課題があった。   However, in each of the solid-state imaging devices disclosed in Patent Documents 1 and 2, a lens unit is mounted directly on a light-transmitting substrate. In such a configuration, there are problems that it is difficult to adjust the optical axis and that the strength of the apparatus itself cannot be secured. In addition, when the lens has an automatic focusing mechanism, there is a problem in that the electrical wiring is accompanied by manufacturing difficulties that must be taken out separately and soldered.

本発明は、前記実情に鑑みてなされたものであり、固体撮像素子を実装した透光性基板を多層配線基板に実装すると共に、実装用の配線パターンを基準とした貫通孔を開け、レンズ筐体をその貫通孔を基準穴として挿入するものである。さらに、その貫通孔挿入時に自動焦点調節機構用の電気端子の接続も同時に行なうというものである。
そのため、光軸調整が容易になると共に、装置の強度が確保でき、さらに、自動焦点調節機構用電気端子の接続も行うことができる。その結果、小型で薄型な固体撮像装置を容易に製造することが出来る優れた固体撮像装置を提供することができる。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and a translucent board on which a solid-state imaging device is mounted is mounted on a multilayer wiring board, and a through-hole based on a wiring pattern for mounting is opened to form a lens housing. The body is inserted with the through hole as a reference hole. Furthermore, when the through hole is inserted, the electrical terminal for the automatic focus adjustment mechanism is also connected at the same time.
Therefore, the optical axis can be easily adjusted, the strength of the apparatus can be ensured, and the electrical terminal for the automatic focusing mechanism can be connected. As a result, an excellent solid-state imaging device capable of easily manufacturing a small and thin solid-state imaging device can be provided.

本発明の固体撮像装置は、凹部を持つ配線基板と、表面に配線パターンを持つ透光性部材に実装された固体撮像素子部と、光学レンズとレンズ筐体からなる固体撮像装置であり、前記固体撮像素子が実装された透光性部材が前記凹部に形成された電気端子部に設置され、光学レンズおよびレンズ筐体が前記固体撮像素子に対向するように配線基板に設置されていることを特徴としている。この構成により、低背でも強度を確保した固体撮像装置を提供することができる。   The solid-state imaging device of the present invention is a solid-state imaging device comprising a wiring substrate having a recess, a solid-state imaging element portion mounted on a light-transmitting member having a wiring pattern on the surface, an optical lens and a lens housing, A translucent member on which a solid-state image sensor is mounted is installed in an electric terminal portion formed in the recess, and an optical lens and a lens housing are installed on a wiring board so as to face the solid-state image sensor. It is a feature. With this configuration, it is possible to provide a solid-state imaging device that ensures strength even with a low profile.

また、本発明の固体撮像装置は、キャビティ部を持つ多層配線基板を用い、前記固体撮像素子が実装された透光性部材が前記キャビティ部の底部の電気端子部上に実装されていることを特徴としている。この構成により、より低背で強度を確保することが出来る。すなわち、多層配線基板の凹部はキャビティ部を構成している。   The solid-state imaging device of the present invention uses a multilayer wiring board having a cavity portion, and the translucent member on which the solid-state imaging element is mounted is mounted on the electrical terminal portion at the bottom of the cavity portion. It is a feature. With this configuration, the strength can be secured with a lower height. That is, the concave portion of the multilayer wiring board constitutes a cavity portion.

また、本発明の固体撮像装置は、段差部があるキャビティ部を持つ多層配線基板を用い、前記固体撮像素子が実装された透光性部材が前記キャビティ部の段差部の電気端子部上に実装されていることを特徴としている。この構成により、多層配線基板表面高さよりも透光性部材を低く出来るので、多層配線基板表面を基準としてレンズ筐体を設置することが出来る。   The solid-state imaging device of the present invention uses a multilayer wiring board having a cavity portion with a stepped portion, and a translucent member on which the solid-state imaging element is mounted is mounted on an electric terminal portion of the stepped portion of the cavity portion. It is characterized by being. With this configuration, the translucent member can be made lower than the height of the multilayer wiring board surface, so that the lens housing can be installed with the multilayer wiring board surface as a reference.

また、本発明の固体撮像装置は、段差部がある貫通開口部を持つ多層配線基板を用い、前記固体撮像素子が実装された透光性部材が前記貫通開口部の段差部の電気端子部上に設置されていることを特徴としている。この構成により、より一層の低背化を図ることが出来る。   Further, the solid-state imaging device of the present invention uses a multilayer wiring board having a through-opening portion having a stepped portion, and the translucent member on which the solid-state imaging element is mounted is on the electric terminal portion of the stepped portion of the through-opening portion. It is characterized by being installed in. With this configuration, the height can be further reduced.

また、本発明の固体撮像装置は、多層配線基板の凹部に形成された電気端子部を基準として、位置決め用穴が形成されていることを特徴としている。この構成により、固体撮像素子とレンズの光軸を容易に合わせることが出来る。   In addition, the solid-state imaging device of the present invention is characterized in that a positioning hole is formed on the basis of an electric terminal portion formed in a concave portion of the multilayer wiring board. With this configuration, the optical axes of the solid-state imaging device and the lens can be easily aligned.

また、本発明の固体撮像装置は、前記位置決め用穴の内部壁に電気伝導性の膜が形成され、多層配線基板の配線パターンと電気的に接続していることを特徴としている。この構成により、レンズ筐体からの自動焦点調節機構用の電気端子をその膜と接続することにより、簡便に、自動焦点調節機構用の電気端子接続を行うことができる。   In the solid-state imaging device of the present invention, an electrically conductive film is formed on the inner wall of the positioning hole and is electrically connected to the wiring pattern of the multilayer wiring board. With this configuration, the electrical terminal for the automatic focusing mechanism can be easily connected by connecting the electrical terminal for the automatic focusing mechanism from the lens housing to the film.

また、本発明の固体撮像装置は、前記レンズ筐体に突起部があり、前記位置決め用穴に挿入して位置決めを行い、前記突起部表面にはレンズの自動焦点調節用電気端子と電気的導通がある配線パターンが形成されていることを特徴としている。この構成により、前記突起部を基準貫通穴に挿入するだけで、レンズ筐体からの自動焦点調節機構用の電気端子を電気接続できるので、別途、端子を取り出して半田付け等の手間をかけることなく、簡便に自動焦点調節機構用の電気端子接続を行うことができる。   In the solid-state imaging device of the present invention, the lens housing has a protrusion, and the lens housing is inserted into the positioning hole for positioning, and the surface of the protrusion is electrically connected to an electric terminal for automatic focusing of the lens. A certain wiring pattern is formed. With this configuration, it is possible to electrically connect the electrical terminal for the automatic focus adjustment mechanism from the lens housing simply by inserting the protrusion into the reference through hole. In addition, the electric terminal connection for the automatic focusing mechanism can be easily performed.

また、本発明の固体撮像装置に用いる透光性部材は光学フィルタを用いて、光学特性を向上することが出来る。さらに、配線基板の凹部にチップ部品を搭載して、固体撮像素子の近傍にチップ部品を置くことにより電気特性を向上することが出来る。   Moreover, the translucent member used for the solid-state imaging device of the present invention can improve optical characteristics by using an optical filter. Furthermore, it is possible to improve electrical characteristics by mounting a chip component in the recess of the wiring board and placing the chip component in the vicinity of the solid-state imaging device.

このように、本発明の固体撮像装置を用いることにより、光軸調整が容易になると共に、装置の強度が確保でき、さらに、自動焦点調節機構用電気端子の接続も行うことができる。その結果、小型で薄型な固体撮像装置を容易に製造することが出来る優れた固体撮像装置を提供することができる。   As described above, by using the solid-state imaging device of the present invention, the optical axis can be easily adjusted, the strength of the device can be secured, and the electrical terminal for the automatic focusing mechanism can be connected. As a result, an excellent solid-state imaging device capable of easily manufacturing a small and thin solid-state imaging device can be provided.

本実施の形態1の固体撮像装置の部分分解斜視図Partially exploded perspective view of the solid-state imaging device of Embodiment 1 本実施の形態1の固体撮像装置の部分組立図Partial assembly diagram of solid-state imaging device according to Embodiment 1 本実施の形態1の固体撮像装置の分解斜視図1 is an exploded perspective view of the solid-state imaging device according to the first embodiment. 本実施の形態1の固体撮像装置の組立て完成図Assembly completed drawing of solid-state imaging device of Embodiment 1 本実施の形態1の固体撮像装置の組立て完成図の断面図Sectional drawing of the assembly completion figure of the solid-state imaging device of this Embodiment 1 本実施の形態2の固体撮像装置の断面図Sectional drawing of the solid-state imaging device of this Embodiment 2. 本実施の形態3の固体撮像装置の断面図Sectional drawing of the solid-state imaging device of this Embodiment 3.

以下、本発明に係る実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
(実施の形態1)
実施の形態1を図1から図5に基づいて説明する。
図1は、本実施の形態1の固体撮像装置の部分分解斜視図である。
透明ガラス基板1に電極パッド2、4が形成されており、電極パッド2と電極パッド4は、それぞれがガラス基板1表面上で配線パターン3により配線され、電気接続されている。電極パッド2は固体撮像素子5との接続用であり、電極パッド4は固体撮像素子5の信号を外部に取り出すプリント配線基板との電気接続用である。固体撮像素子5は、撮像領域6が透明ガラス電極に対向した状態となっている。そして、裏面の電気配線パッド上に金属バンプが形成され(図示せず)、電極パッド2に実装される。このときに、固体撮像素子5の密着強度と電気接続信頼性を確保するために絶縁性封止樹脂を注入する(図示せず)。
Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
(Embodiment 1)
The first embodiment will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a partially exploded perspective view of the solid-state imaging device according to the first embodiment.
Electrode pads 2 and 4 are formed on the transparent glass substrate 1, and the electrode pads 2 and the electrode pads 4 are wired by the wiring pattern 3 on the surface of the glass substrate 1 and are electrically connected. The electrode pad 2 is for connection with the solid-state image sensor 5, and the electrode pad 4 is for electrical connection with a printed wiring board that takes out the signal of the solid-state image sensor 5 to the outside. The solid-state imaging device 5 is in a state where the imaging region 6 faces the transparent glass electrode. Then, metal bumps (not shown) are formed on the electrical wiring pads on the back surface and mounted on the electrode pads 2. At this time, insulative sealing resin is injected (not shown) in order to secure the adhesion strength and electrical connection reliability of the solid-state imaging device 5.

図2は、本実施の形態1の固体撮像装置の部分組立図である。
図1で説明したように透明ガラス基板1上に固体撮像素子5が実装され、絶縁性封止樹脂7が注入されている。絶縁性封止樹脂7は、撮像領域へ漏れ出すことなく、固体撮像素子5の金属バンプ(図示せず)の周囲を取り囲んで、密着強度を確保している。また、電極パッド4上には、半田ボール8が取り付けられている。
FIG. 2 is a partial assembly diagram of the solid-state imaging device according to the first embodiment.
As described with reference to FIG. 1, the solid-state imaging device 5 is mounted on the transparent glass substrate 1, and the insulating sealing resin 7 is injected. The insulating sealing resin 7 surrounds the periphery of the metal bump (not shown) of the solid-state imaging device 5 without leaking to the imaging region, and ensures the adhesion strength. A solder ball 8 is attached on the electrode pad 4.

図3は、本実施の形態1の固体撮像装置の分解斜視図である。
プリント配線基板9には、キャビティ部10が形成されており、キャビティ部10の底部には実装用の電極パッド(図示せず)が形成されている。さらに基準穴11が開けられており、この基準穴11はキャビティ部10の底部の電極パッドを基準として形成されており、その周囲には配線パターン12があり、基準穴11の内壁13には電気伝導性の膜が形成され周囲の配線パターン12と電気的に接続されている。この配線パターン12は、プリント配線基板9の多層配線とつながっている。
FIG. 3 is an exploded perspective view of the solid-state imaging device according to the first embodiment.
A cavity portion 10 is formed on the printed wiring board 9, and a mounting electrode pad (not shown) is formed on the bottom of the cavity portion 10. Further, a reference hole 11 is formed. The reference hole 11 is formed with reference to the electrode pad at the bottom of the cavity portion 10, and there is a wiring pattern 12 around the reference hole 11, and the inner wall 13 of the reference hole 11 is electrically connected. A conductive film is formed and electrically connected to the surrounding wiring pattern 12. The wiring pattern 12 is connected to the multilayer wiring of the printed wiring board 9.

固体撮像素子5が実装され半田ボール8が取り付けられた透明ガラス基板1は、反転してプリント配線基板9に半田実装され、アンダーフィル(図示せず) により強度補強されている。透明ガラス基板1の横には、同時にチップ部品14が半田実装され、電気回路的につながっている。   The transparent glass substrate 1 on which the solid-state imaging device 5 is mounted and the solder balls 8 are attached is inverted and solder mounted on the printed wiring board 9, and is reinforced by underfill (not shown). Next to the transparent glass substrate 1, chip components 14 are simultaneously solder-mounted and connected in an electric circuit.

この状態で上部からレンズ15が設置されているレンズ筐体16を準備する。レンズ筐体16には、基準穴11に嵌合するための基準突起17が形成され、その表面には自動焦点調節機構用の電極端子18が引き回されてきている。この基準突起17はレンズ15の光軸を基準として形成されている。   In this state, a lens housing 16 in which the lens 15 is installed from above is prepared. A reference protrusion 17 for fitting into the reference hole 11 is formed on the lens housing 16, and an electrode terminal 18 for an automatic focus adjustment mechanism has been drawn around the surface. The reference protrusion 17 is formed with the optical axis of the lens 15 as a reference.

図4は、本実施の形態1の固体撮像装置の組立完成図である。
レンズ筐体16を、透明ガラス基板1の固体撮像素子5が実装されているプリント配線基板9と一体化して固体撮像装置が完成する。基準穴11に基準突起17が挿入嵌合されることにより、固体撮像素子5とレンズ15の光軸調整が簡便化される。また、基準穴11の内壁13と基準突起17表面の電極端子18との電気接続も同時に行うことができる。
FIG. 4 is an assembled view of the solid-state imaging device according to the first embodiment.
The lens housing 16 is integrated with the printed wiring board 9 on which the solid-state imaging device 5 of the transparent glass substrate 1 is mounted, thereby completing a solid-state imaging device. By inserting and fitting the reference protrusion 17 into the reference hole 11, the optical axis adjustment of the solid-state imaging device 5 and the lens 15 is simplified. In addition, electrical connection between the inner wall 13 of the reference hole 11 and the electrode terminal 18 on the surface of the reference protrusion 17 can be performed simultaneously.

図5は、本実施の形態1の固体撮像装置の組立て完成図の断面図である。
プリント配線基板9のキャビティ部10の底部に、半田ボール8を介して透明ガラス基板1が実装されており、半田ボール8の周囲は絶縁性封止樹脂19により強度補強がなされている。透明ガラス基板1には、撮像領域6を持つ固体撮像素子5が金属バンプで形成された接続部20を介して実装され、その周囲には絶縁性封止樹脂7が注入硬化されている。また、絶縁性封止樹脂7は、固体撮像素子5の撮像領域6へ漏れ出していない。これは、製造時に絶縁性封止樹脂7にUV硬化性の材料を用い、撮像領域6にUV光を照射しながら封止注入することにより達成している。さらに、チップ部品14が実装され、上部からはレンズ筐体16が基準穴11に基準突起17を挿入嵌合することにより組み立てられ、同時に自動焦点調節機構用の電極端子18も電気接続される。
FIG. 5 is a cross-sectional view of the completed assembly of the solid-state imaging device according to the first embodiment.
The transparent glass substrate 1 is mounted on the bottom of the cavity portion 10 of the printed wiring board 9 via the solder balls 8, and the periphery of the solder balls 8 is reinforced with an insulating sealing resin 19. A solid-state imaging device 5 having an imaging region 6 is mounted on the transparent glass substrate 1 via a connection portion 20 formed of a metal bump, and an insulating sealing resin 7 is injected and cured around the solid imaging device 5. Further, the insulating sealing resin 7 does not leak into the imaging region 6 of the solid-state imaging device 5. This is achieved by using a UV curable material for the insulating sealing resin 7 during manufacturing and injecting the imaging region 6 while irradiating the imaging region 6 with UV light. Further, the chip component 14 is mounted, and the lens housing 16 is assembled from the upper part by inserting and fitting the reference protrusion 17 into the reference hole 11, and at the same time, the electrode terminal 18 for the automatic focusing mechanism is electrically connected.

このような構造をとることにより、レンズ筐体16が透明ガラス基板1に直接ではなく、プリント配線基板9に固定されるので、破損のおそれもなく強固に固定することが出来る。また、光軸調整も容易に行うことができる。さらに、自動焦点調節機構の電極端子も別途取り出して半田付けを行なうことなく、レンズ筐体16の挿入嵌合により容易に行うことができる。
すなわち、本発明を実施することにより、撮像特性が良好で、高強度性を持ち、電気接続信頼性が高い固体撮像装置を得ることが出来る。
なお、透明ガラス基板1には、光学フィルタ膜、あるいは反射防止膜を形成したものを用いても構わない。その場合には、より光学特性を向上させることが出来る。
By adopting such a structure, the lens housing 16 is not fixed directly to the transparent glass substrate 1 but is fixed to the printed wiring board 9, so that it can be firmly fixed without fear of breakage. Also, the optical axis can be adjusted easily. Furthermore, the electrode terminal of the automatic focusing mechanism can be easily performed by inserting and fitting the lens housing 16 without separately taking out and soldering.
That is, by implementing the present invention, it is possible to obtain a solid-state imaging device having favorable imaging characteristics, high strength, and high electrical connection reliability.
The transparent glass substrate 1 may be an optical filter film or an antireflection film. In that case, the optical characteristics can be further improved.

また前記実施の形態では多層配線基板を用いた例について説明したが、多層配線基板に限定されることなく、単層配線基板でもよい。   Moreover, although the example using a multilayer wiring board has been described in the above embodiment, the present invention is not limited to a multilayer wiring board, and may be a single-layer wiring board.

また、固体撮像素子チップの薄型化は進む一方であり、裏面からの光りの回りこみを防止するために、キャビティ部を有する基板としては、遮光性基板を用いるのが望ましく、樹脂基板であればエポキシ樹脂などの遮光性樹脂を用いるのが望ましい。また、セラミック基板、遮光膜を形成したガラス基板なども適用可能である。
また基板構造としては、配線パターンを形成した下層基板上に、貫通穴を有する上層基板を積層してもよく、またキャビティ部を切削加工あるいはエッチング加工などで形成したものも有効である。
In addition, the solid-state imaging device chip is becoming thinner, and it is desirable to use a light-shielding substrate as a substrate having a cavity portion in order to prevent light from wrapping around from the back surface. It is desirable to use a light shielding resin such as an epoxy resin. Further, a ceramic substrate, a glass substrate on which a light-shielding film is formed, and the like are also applicable.
As the substrate structure, an upper layer substrate having a through hole may be laminated on a lower layer substrate on which a wiring pattern is formed, and a cavity formed by cutting or etching is also effective.

(実施の形態2)
図6は、本実施の形態2の固体撮像装置の断面図である。
実施の形態1とは違って、プリント配線基板9に段差部21を持つキャビティ部22が形成されたものを用いている。そして、透明ガラス基板1の実装はキャビティ部22の底部ではなく、段差部21への実装としている。この場合、実施の形態1のように半田ボール8を用いるのではなく、金属バンプで形成された接続部23を介して実装し、周囲には絶縁性封止樹脂24が注入硬化されている。また、段差部21上には、チップ部品25が実装されている。実装以外のレンズ筐体の嵌合部分は実施の形態1と同様の構造である。
このような構造を持っているために、実施例1での効果に加えて、固体撮像装置全体をより薄くすることが出来る効果が得られる。
(Embodiment 2)
FIG. 6 is a cross-sectional view of the solid-state imaging device according to the second embodiment.
Unlike Embodiment 1, a printed wiring board 9 having a cavity portion 22 having a stepped portion 21 is used. The transparent glass substrate 1 is mounted not on the bottom portion of the cavity portion 22 but on the step portion 21. In this case, instead of using the solder balls 8 as in the first embodiment, the solder balls 8 are mounted via the connection portions 23 formed of metal bumps, and the insulating sealing resin 24 is injected and cured around the periphery. A chip component 25 is mounted on the step portion 21. The fitting part of the lens housing other than the mounting has the same structure as that of the first embodiment.
Since it has such a structure, in addition to the effect in the first embodiment, the effect of making the entire solid-state imaging device thinner can be obtained.

(実施の形態3)
図7は、本実施の形態3の固体撮像装置の断面図である。
構造は、実施の形態2とほぼ同じであるが、プリント配線基板9に開口部26が形成され、絶縁性封止樹脂27が固体撮像素子5の裏面から注入され、実装部まで充填されている。
このような構造を持つことにより、実施の形態1および2の効果に加えて、さらに固体撮像装置の薄型化を図ることが出来、また固体撮像素子5の固定強度を増加させることが出来るという効果を有している。
(Embodiment 3)
FIG. 7 is a cross-sectional view of the solid-state imaging device according to the third embodiment.
Although the structure is almost the same as that of the second embodiment, an opening 26 is formed in the printed wiring board 9, and an insulating sealing resin 27 is injected from the back surface of the solid-state imaging device 5 to fill the mounting portion. .
By having such a structure, in addition to the effects of the first and second embodiments, the solid-state imaging device can be further thinned, and the fixing strength of the solid-state imaging element 5 can be increased. have.

本発明の固体撮像装置は、製造方法が簡易で高精度性に富み、装置の強度が確保できるという効果を有している。その結果、小型で薄型な優れた固体撮像装置を提供することが出来、産業上の利用可能性が高く、有用な発明である。   The solid-state imaging device of the present invention has an effect that the manufacturing method is simple and highly accurate, and the strength of the device can be secured. As a result, a small and thin excellent solid-state imaging device can be provided, which is highly useful in industry and is a useful invention.

1 透明ガラス基板
2、4 電極パッド
3、12 配線パターン
5 固体撮像素子
6 撮像領域
7、19、24、27 絶縁性封止樹脂
8 半田ボール
9 プリント配線基板
10、22 キャビティ部
11 基準穴
13 内壁
14 チップ部品
15 レンズ
16 レンズ筐体
17 基準突起
18 電極端子
20、23 接続部
26 開口部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Transparent glass substrate 2, 4 Electrode pad 3, 12 Wiring pattern 5 Solid-state image sensor 6 Imaging area 7, 19, 24, 27 Insulating sealing resin
8 Solder ball 9 Printed circuit board 10, 22 Cavity part 11 Reference hole 13 Inner wall 14 Chip part 15 Lens 16 Lens housing 17 Reference protrusion 18 Electrode terminal 20, 23 Connection part 26 Opening part

Claims (9)

凹部を持つ配線基板と、表面に配線パターンを持つ透光性部材に実装された固体撮像素子部と、光学レンズとレンズ筐体からなる固体撮像装置であり、
前記固体撮像素子が実装された透光性部材が前記凹部に形成された電気端子部に実装され、光学レンズおよびレンズ筐体が前記固体撮像素子に対向するように前記多層配線基板に設置された固体撮像装置。
A solid-state imaging device comprising a wiring board having a recess, a solid-state imaging device portion mounted on a translucent member having a wiring pattern on the surface, an optical lens and a lens housing,
The translucent member on which the solid-state image sensor is mounted is mounted on the electric terminal portion formed in the recess, and the optical lens and the lens housing are installed on the multilayer wiring board so as to face the solid-state image sensor. Solid-state imaging device.
請求項1記載の固体撮像装置であって、
前記配線基板は多層配線基板で構成され、
前記多層配線基板の前記凹部はキャビティ部を構成しており、
前記固体撮像素子が実装された透光性部材が前記キャビティ部の底部の電気端子部上に実装された固体撮像装置。
The solid-state imaging device according to claim 1,
The wiring board is composed of a multilayer wiring board,
The concave portion of the multilayer wiring board constitutes a cavity portion;
A solid-state imaging device in which a translucent member on which the solid-state imaging element is mounted is mounted on an electric terminal portion at the bottom of the cavity portion.
請求項1記載の固体撮像装置であって、
前記配線基板は多層配線基板で構成され、
前記多層配線基板の前記凹部は、段差部をもつキャビティ部を構成しており、
前記固体撮像素子が実装された透光性部材が前記キャビティ部の段差部の電気端子部上に実装された固体撮像装置。
The solid-state imaging device according to claim 1,
The wiring board is composed of a multilayer wiring board,
The concave portion of the multilayer wiring board constitutes a cavity portion having a stepped portion,
A solid-state imaging device in which a translucent member on which the solid-state imaging element is mounted is mounted on an electric terminal portion of a step portion of the cavity portion.
請求項1記載の固体撮像装置であって、
前記配線基板は多層配線基板で構成され、
前記多層配線基板の前記凹部は、段差部をもつ貫通開口部を構成しており、
前記固体撮像素子が実装された透光性部材が前記貫通開口部の段差部の電気端子部上に設置された固体撮像装置。
The solid-state imaging device according to claim 1,
The wiring board is composed of a multilayer wiring board,
The concave portion of the multilayer wiring board constitutes a through opening having a stepped portion,
A solid-state imaging device in which a translucent member on which the solid-state imaging element is mounted is installed on an electric terminal portion of a step portion of the through opening.
請求項2乃至4のいずれかに記載の固体撮像装置であって、
前記多層配線基板の凹部に形成された電気端子部を基準として、位置決め用穴が形成されている固体撮像装置。
The solid-state imaging device according to any one of claims 2 to 4,
A solid-state imaging device in which a positioning hole is formed with reference to an electric terminal portion formed in a concave portion of the multilayer wiring board.
請求項2乃至5のいずれかに記載の固体撮像装置であって、
前記位置決め用穴の内部壁に電気伝導性の膜が形成され、前記多層配線基板の配線パターンと電気的に接続している固体撮像装置。
A solid-state imaging device according to any one of claims 2 to 5,
A solid-state imaging device in which an electrically conductive film is formed on an inner wall of the positioning hole and is electrically connected to a wiring pattern of the multilayer wiring board.
請求項1乃至6のいずれかに記載の固体撮像装置であって、
前記レンズ筐体は突起部を具備し、
前記突起部を前記位置決め用穴に挿入して位置決めを行い、
前記突起部表面にはレンズの自動焦点調節用電気端子と電気的接続のなされた配線パターンが形成された固体撮像装置。
The solid-state imaging device according to any one of claims 1 to 6,
The lens housing includes a protrusion,
Insert the protrusion into the positioning hole to perform positioning,
A solid-state image pickup device in which a wiring pattern electrically connected to an electric terminal for automatic focusing of a lens is formed on the surface of the protrusion.
請求項1乃至7のいずれかに記載の固体撮像装置であって、
前記透光性部材は、光学フィルタである固体撮像装置。
The solid-state imaging device according to claim 1,
The translucent member is a solid-state imaging device which is an optical filter.
請求項1乃至8のいずれかに記載の固体撮像装置であって、
前記配線基板の凹部にチップ部品が搭載された固体撮像装置。
The solid-state imaging device according to any one of claims 1 to 8,
A solid-state imaging device in which a chip component is mounted in a recess of the wiring board.
JP2009101006A 2009-04-17 2009-04-17 Solid-state image sensing device Withdrawn JP2010252164A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009101006A JP2010252164A (en) 2009-04-17 2009-04-17 Solid-state image sensing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009101006A JP2010252164A (en) 2009-04-17 2009-04-17 Solid-state image sensing device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010252164A true JP2010252164A (en) 2010-11-04

Family

ID=43313979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009101006A Withdrawn JP2010252164A (en) 2009-04-17 2009-04-17 Solid-state image sensing device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010252164A (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013027464A1 (en) * 2011-08-19 2013-02-28 富士フイルム株式会社 Imaging element module and method for manufacturing same
US8981514B2 (en) 2012-01-17 2015-03-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package having a blocking pattern between a light transmissive cover and a substrate, and method for fabricating the same
CN104900599A (en) * 2015-04-16 2015-09-09 歌尔声学股份有限公司 Packaging structure and method of integrated sensor
JP2017038040A (en) * 2015-08-10 2017-02-16 大日本印刷株式会社 Image sensor module
JP2017037962A (en) * 2015-08-10 2017-02-16 大日本印刷株式会社 Image sensor module
WO2017026317A1 (en) * 2015-08-10 2017-02-16 大日本印刷株式会社 Image sensor module
US10009523B2 (en) 2015-05-11 2018-06-26 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Electronic module and method of manufacturing the same
US10164602B2 (en) 2015-09-14 2018-12-25 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Acoustic wave device and method of manufacturing the same
JP2020113772A (en) * 2020-03-03 2020-07-27 大日本印刷株式会社 Interposer substrate

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013027464A1 (en) * 2011-08-19 2013-02-28 富士フイルム株式会社 Imaging element module and method for manufacturing same
CN103765865A (en) * 2011-08-19 2014-04-30 富士胶片株式会社 Imaging element module and method for manufacturing same
JPWO2013027464A1 (en) * 2011-08-19 2015-03-19 富士フイルム株式会社 Image sensor module and manufacturing method thereof
US8981514B2 (en) 2012-01-17 2015-03-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package having a blocking pattern between a light transmissive cover and a substrate, and method for fabricating the same
CN104900599A (en) * 2015-04-16 2015-09-09 歌尔声学股份有限公司 Packaging structure and method of integrated sensor
US10602036B2 (en) 2015-05-11 2020-03-24 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Electronic module and method of manufacturing the same
US10009523B2 (en) 2015-05-11 2018-06-26 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Electronic module and method of manufacturing the same
JP2017204891A (en) * 2015-08-10 2017-11-16 大日本印刷株式会社 Image sensor module
WO2017026317A1 (en) * 2015-08-10 2017-02-16 大日本印刷株式会社 Image sensor module
CN107924924A (en) * 2015-08-10 2018-04-17 大日本印刷株式会社 Image sensor module
JP2017037962A (en) * 2015-08-10 2017-02-16 大日本印刷株式会社 Image sensor module
US20180205858A1 (en) * 2015-08-10 2018-07-19 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Image sensor module
JP2017038040A (en) * 2015-08-10 2017-02-16 大日本印刷株式会社 Image sensor module
US10681256B2 (en) 2015-08-10 2020-06-09 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Image sensor module including a light-transmissive interposer substrate having a through-hole
US11153471B2 (en) 2015-08-10 2021-10-19 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Through-hole electrode substrate
CN107924924B (en) * 2015-08-10 2022-12-06 大日本印刷株式会社 Image sensor module
US10164602B2 (en) 2015-09-14 2018-12-25 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Acoustic wave device and method of manufacturing the same
JP2020113772A (en) * 2020-03-03 2020-07-27 大日本印刷株式会社 Interposer substrate
JP7014244B2 (en) 2020-03-03 2022-02-01 大日本印刷株式会社 Interposer board

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102278123B1 (en) Imaging unit and imaging apparatus
JP2010252164A (en) Solid-state image sensing device
JP3887162B2 (en) Imaging semiconductor device
JP3607160B2 (en) Imaging device
JP5982380B2 (en) Image sensor module and manufacturing method thereof
JP2012182491A (en) Glass cap molding package, method of manufacturing thereof, and camera module
JP5730678B2 (en) IMAGING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE USING THE SAME
JP2008258949A (en) Solid-state imaging apparatus
WO2017090223A1 (en) Image pickup element package, image pickup device, and method for manufacturing image pickup element package
JP2007116560A (en) Imaging device and method of manufacturing the same
KR20050026491A (en) Camera module, holder for use in a camera module, camera system and method of manufacturing a camera module
JP2009222740A (en) Lens module and camera module
JP2008277593A (en) Circuit board, optical device employing the same, camera module, and manufacturing method for the circuit board
JP2005210628A (en) Substrate for mounting semiconductor for imaging device, and imaging device
JP2005292242A (en) Imaging apparatus and method for manufacturing the same
JP2010034668A (en) Solid-state imaging device and electronic apparatus equipped with the same
US7429783B2 (en) Image sensor package
JP2003179217A (en) Solid-state imaging device and method of manufacturing the same
JP2009111334A (en) Optical device and method of manufacturing the same, and semiconductor device
JP3839019B2 (en) Imaging device
JP2006147916A (en) Optical device and optical equipment
JP2008263551A (en) Solid-state imaging device and manufacturing method therefor
KR102172437B1 (en) Camera module
TW201505441A (en) Image sensor module
JP3821831B2 (en) Imaging device

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20120703