JP2010167143A - Magnetic resonance imaging apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、核磁気共鳴現象を利用した磁気共鳴イメージング装置に関する。 The present invention relates to a magnetic resonance imaging apparatus using a nuclear magnetic resonance phenomenon.
磁気共鳴イメージング装置(MRI装置)による撮像においては公知のように、スライス方向の傾斜磁場を印加しながら所定のタイミングでRadio Frequencyパルス(RF)を照射することで特定のスライス断面を励起し、続いて位相・周波数の2方向に傾斜磁場をかけながら2次元的に周波数変調して得られるエコー信号を所定のタイミングでADサンプリングして収集し、フーリエ変換によって画像再構成することでMR画像を作成する。 As is well known in imaging by a magnetic resonance imaging apparatus (MRI apparatus), a specific slice cross-section is excited by irradiating a radio frequency pulse (RF) at a predetermined timing while applying a gradient magnetic field in the slice direction. Echo signals obtained by two-dimensional frequency modulation while applying a gradient magnetic field in two directions of phase and frequency are collected by AD sampling at a predetermined timing, and an MR image is created by image reconstruction by Fourier transform To do.
RF照射はスライス傾斜磁場強度の時間積分値(面積)が所定の値になるタイミングで実行されなければならず、ADサンプリングは周波数方向の傾斜磁場(読み出し傾斜磁場)強度の面積が所定の値になるタイミングで実行されなければならない。 The RF irradiation must be performed at a timing when the time integral value (area) of the slice gradient magnetic field strength becomes a predetermined value, and AD sampling is performed so that the area of the gradient magnetic field (read gradient magnetic field) strength in the frequency direction becomes a predetermined value. It must be executed at the timing.
しかしながら、実際のシステムにおいては、システム応答による時遅れや、傾斜磁場波形の歪みに起因して理想的なタイミングには実行されないことが多い。 However, in an actual system, it is often not executed at an ideal timing due to a time delay due to a system response or distortion of a gradient magnetic field waveform.
このため、システム応答の時遅れや傾斜磁場の極性や立ち上がり・下がりに応じた傾斜磁場の歪みの違いを高い精度での補正(例えば、特許文献1、非特許文献1、非特許文献2に記載された技術)は、それが必要となるシーケンスに限り独立して行われている。
For this reason, the difference in the gradient magnetic field distortion according to the time delay of the system response, the polarity of the gradient magnetic field, and the rise / fall is corrected with high accuracy (for example, described in
MRI装置にあっては、近年の高磁場化に伴うSNRの向上や高機能化に伴い、システム応答による時間遅れ等の調整が必要になるシーケンスの数が増加している。 In the MRI apparatus, the number of sequences that need to be adjusted such as a time delay due to the system response is increasing as the SNR is improved and the functions are increased with the recent increase in the magnetic field.
しかし、従来技術におけるMRI装置整においては、傾斜磁場の極性、スリューレート、立ち上がり・下がりに応じた歪みに起因したエコーピークのずれを高い精度で、かつ、短時間で補正する技術は確立されておらず、必要な場合にはシーケンス毎に調整が行われている。 However, in the MRI apparatus preparation in the prior art, a technique for correcting the deviation of the echo peak due to the gradient magnetic field polarity, slew rate, and distortion according to the rise and fall with high accuracy and in a short time has been established. However, adjustments are made for each sequence if necessary.
本発明の目的は、システム応答の遅れ等によるエコーピークのずれの調整を、高精度で、かつ、短時間で行うことが可能なMRI装置を実現することである。 An object of the present invention is to realize an MRI apparatus capable of adjusting an echo peak shift due to a delay in system response or the like with high accuracy and in a short time.
上記目的を達成するため、本発明は、次のように構成される。 In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.
本発明の磁気共鳴イメージング装置は、予め計測された、複数の傾斜磁場強度及び複数のスリューレートにおける磁気共鳴信号の信号ピークと、上記受信手段の磁気共鳴信号の受信タイミングとの時間ずれに対応するデータを、上記傾斜磁場強度、スリューレート毎に記憶する記憶手段を備え、撮影に用いる傾斜磁場強度及びスリューレートに対応する上記時間ずれを上記記憶手段から読み出し、読み出した時間ずれに基づいて、傾斜磁場の印加タイミングと、傾斜磁場面積を調整する。 The magnetic resonance imaging apparatus of the present invention copes with a time lag between a signal peak of a magnetic resonance signal measured in advance and a plurality of gradient magnetic field strengths and a plurality of slew rates, and a reception timing of the magnetic resonance signal of the receiving means. Storage means for storing the gradient data for each gradient magnetic field strength and slew rate, reading the time shift corresponding to the gradient magnetic field strength and slew rate used for imaging from the storage means, and based on the read time shift The gradient magnetic field application timing and the gradient magnetic field area are adjusted.
システム応答の遅れ等によるエコーピークのずれの調整を、高精度で、かつ、短時間で行うことが可能なMRI装置を実現することができる。 It is possible to realize an MRI apparatus capable of adjusting an echo peak shift due to a delay in system response or the like with high accuracy and in a short time.
以下、本発明の実施形態について、添付図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
実施例の説明に先立って、システムの応答遅れ等によるエコーピーク(磁気共鳴信号のピーク)のずれの発生について説明する。 Prior to the description of the embodiment, the occurrence of a shift in the echo peak (magnetic resonance signal peak) due to the response delay of the system will be described.
例えば、エコープラナー法に代表されるような読み出し傾斜磁場の極性を正反転しながら、複数のエコーを連続的に収集するシーケンスの例を図12に示す。図12の(a)に示すように、第一番目の読み出し傾斜磁場で計測される第1エコーのピーク位置がシステム応答の時遅れによって、A/D変換器のサンプリングタイミング(受信手段の受信タイミング)に対してdelay1だけ、ずれが生じる場合がある。
For example, FIG. 12 shows an example of a sequence in which a plurality of echoes are continuously collected while the polarity of the readout gradient magnetic field as represented by the echo planar method is positively inverted. As shown in FIG. 12 (a), the peak position of the first echo measured by the first readout gradient magnetic field depends on the time delay of the system response, and the sampling timing of the A / D converter (the reception timing of the receiving means). ) With respect to
また、図12の(b)に示すように、第1番目の読み出し傾斜磁場で計測される第1エコーのピーク位置は、渦電流、ハードウェア制御の限界、ソフトウェアのディジタル処理による丸め誤差などの要因で、図中のAのディフェーズ傾斜磁場面積とBの読み出し傾斜磁場面積間に不一致が生じた場合に、ADサンプリングタイミングに対してdelay2だけ時間的なずれが生じることがある。つまり、第1エコーは、傾斜磁場を印加するタイミングのずれと面積ずれとによって、エコーピークのタイミングが時間的にずれることになる。 Further, as shown in FIG. 12B, the peak position of the first echo measured by the first readout gradient magnetic field is a factor such as eddy current, limit of hardware control, and rounding error due to digital processing of software. Thus, when a mismatch occurs between the dephasing gradient magnetic field area A and the readout gradient magnetic field area B in the drawing, there may be a time lag of delay2 with respect to the AD sampling timing. That is, in the first echo, the timing of the echo peak is shifted in time due to the shift in the timing of applying the gradient magnetic field and the shift in area.
次に、図12の(c)に示すように、第2番目の読み出し傾斜磁場で計測される第2エコーは、第1エコーと同様にピーク位置がシステム応答の時遅れによってADタイミングに対してdelay1だけずれが生じる場合がある。また、図12の(d)に示すように、第1エコーと同様にして、第2番目の読み出し傾斜磁場で計測される第2エコーは、図中のB、Cの正極性の傾斜磁場面積の和と、A、Dの負極性の傾斜磁場面積の和とが一致しない場合にADサンプリングタイミングに対してdelay3だけ時間的なずれが生じることがある。つまり、この場合も、傾斜磁場印加の時間ずれと面積ずれとが調整されないと、エコーのピーク位置が時間的にずれることになる。 Next, as shown in FIG. 12 (c), the second echo measured by the second readout gradient magnetic field has a peak position with respect to the AD timing due to the time delay of the system response, like the first echo. There may be a shift by delay1. As shown in FIG. 12 (d), the second echo measured with the second readout gradient magnetic field is the positive gradient magnetic field area of B and C in the figure as in the first echo. And the sum of the negative gradient magnetic field areas of A and D may not be the same as the AD sampling timing. That is, also in this case, if the time lag and the area lag of application of the gradient magnetic field are not adjusted, the peak position of the echo is shifted in time.
次に、水選択励起法に代表されるようなスライス傾斜磁場の極性を正・反転しながら、同時に複数のRFサブパルスでRF励起する手法の例を図13に示す。この手法においては、第1RFによって発生したエコーがCの傾斜磁場によってディフェーズし、Dの傾斜磁場によってリフェーズすることで、第2RFパルスの励起タイミングで、磁化の位相を再収束させておく必要がある。 Next, FIG. 13 shows an example of a technique in which RF excitation is performed simultaneously with a plurality of RF subpulses while the polarity of the slice gradient magnetic field represented by the water selective excitation method is forward / reverse. In this method, it is necessary that the echo generated by the first RF is dephased by the gradient magnetic field of C and rephased by the gradient magnetic field of D, so that the magnetization phase is refocused at the excitation timing of the second RF pulse. is there.
そのためには、CとDの面積が一致する必要があるが、一致しない場合には、第1RFによって発生するエコーのピーク位置が、第2RFパルスの励起タイミングに対して、delay4だけ時間的にずれた状態で観測される。RFとADサンプリングタイミングのずれは同一とみなされる(もしくは事前に調整される)ので、図13に示したC、Dの面積と、図12の(d)のリードアウト面積のC、Dとは同一と考えることができる。
For this purpose, the areas of C and D need to match, but if they do not match, the peak position of the echo generated by the first RF is shifted in time by
また、図12、13に示したdelay1〜4は傾斜磁場強度や、スリューレート(Slew Rate)によって変化する場合がある。これらdelay1〜4は、被検体に依存して変化するものではないため、ファントムを用いた計測により、システム調整がなされる。
In addition,
本発明は、上記delay1〜4に対して、ファントムを用いて予め計測し、種々のシーケンスに適用可能なデータを記憶しておき、シーケンスの変更に関係なく、記憶したデータを使用することにより、シーケンスの変更毎の上記遅延時間(delay1〜4)の計測を不要とし、被検体の全体撮影時間を短縮することができるものである。
The present invention measures the
以下、本発明の実施形態について具体的に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described.
図1は、本発明の一実施形態が適用されるMRI装置の全体概略構成図である。図1に示すように、MRI装置は、静磁場発生磁気回路1と、傾斜磁場発生系2と、送信系3と、受信系4と、信号処理系5と、シーケンサ6と、中央処理装置(CPU)7と、操作部8とを備える。
FIG. 1 is an overall schematic configuration diagram of an MRI apparatus to which an embodiment of the present invention is applied. As shown in FIG. 1, the MRI apparatus includes a static magnetic field generation
静磁場発生磁気回路1は、被検体9の周りにその体軸方向または体軸と直交する方向に均一な静磁場を発生させるもので、被検体9の周りのある広がりをもった空間に永久磁石方式又は常電導方式あるいは超電導方式の磁場発生手段が配置されている。傾斜磁場発生系2は、X、Y、Zの三軸方向に巻かれた傾斜磁場コイル10と、それぞれのコイルを駆動する電力を供給する傾斜磁場電源11とを備える。そして、後述するシーケンサ6から命令に従って、それぞれのコイルの傾斜磁場電源11を駆動することにより、X、Y、Zの三軸方向の傾斜磁場Gs、Gp、Gfを被検体9に印加する。
The static magnetic field generating
この傾斜磁場の加え方により、被検体9に対するスライス面を設定することができる。送信系3は、後述するシーケンサ6から送出される高周波磁場パルスにより被検体9の生体組織を構成する原子の原子核に核磁気共鳴を起こさせるために高周波信号を照射するもので、高周波発振器12と、変調器13と、高周波増幅器14と、送信側の高周波コイル15とを備える。
By applying this gradient magnetic field, the slice plane for the
高周波発振器12から出力された高周波パルスは、高周波増幅器14で増幅された後に、被検体9に近接して配置された受信側の高周波コイル16に供給されることにより、電磁波が被検体9に照射される。
The high-frequency pulse output from the high-
受信系4は、被検体9の生体組織の原子核の核磁気共鳴により放出されるエコー信号(NMR信号)を検出するもので、受信側の高周波コイル16と、増幅器17と、直交位相検波器18と、A/D変換器19とを備える。送信側の高周波コイル15から照射された電磁波による被検体9の応答の電磁波(NMR信号)は被検体9に近接して配置された高周波コイル16で検出され、増幅器17及び直交位相検波器18を介してA/D変換器19に入力してディジタル量に変換される。そして、シーケンサ6からの命令によるタイミングで直交位相検波器18によりサンプリングされた二系列の収集データとされ、その信号が信号処理系5に送られる。
The receiving
この信号処理系5は、受信系4で検出したエコー信号を用いて画像再構成演算を行うと共に画像表示をする。そして、この信号処理系5は、エコー信号についてフーリエ変換、補正係数計算、画像再構成等の処理及びシーケンサ6の制御を行うCPU7と、経時的な画像解析処理及び計測を行うプログラムやその実行において用いる不変のパラメータなどを記憶するROM(読み出し専用メモリ)20と、前計測で得た計測パラメータや受信系4で検出したエコー信号、及び関心領域設定に用いる画像を一時保管すると共にその関心領域を設定するためのパラメータなどを記憶するRAM(随時書き込み読み出しメモリ)21とを備える。
The
さらに、信号処理系5は、CPU7で再構成された画像データを記録するデータ格納部となる光磁気ディスク22及び磁気ディスク23と、これらの光磁気ディスク22又は磁気ディスク23から読み出した画像データを映像化して断層像として表示する表示部となるディスプレイ24とを備える。
Further, the
シーケンサ6は、被検体9の生体組織を構成する原子核に核磁気共鳴を起こさせる高周波磁場パルスを所定のパルスシーケンスで繰り返し印加する制御手段であって、CPU7の制御で動作し、被検体9の断層像のデータ収集に必要な種々の命令を送信系3及び傾斜磁場発生系2並びに受信系4に送る。
The
また、操作部8は、信号処理系5で行う処理の制御情報を入力するもので、マウス25と、キーボード26とを備える。
The
図2は、図1に示したCPU7の機能ブロック図であり、本願発明の一実施形態の要部に関する機能を示した図である。
FIG. 2 is a functional block diagram of the
図2において、CPU7は、A/D変換器19から入力された信号波形と、A/D変換器19のサンプリングタイミングとから、エコー信号のピーク位置とA/D変化器19のサンプリングタイムとのずれを測定する時間ずれ測定部71と、この時間ずれ測定部71によって測定された時間ずれに基づいて、システム応答遅れによる遅れ時間、面積ずれによる遅れ時間を算出するディレータイム算出部72と、スリューレート及び傾斜磁場強度を設定するスリューレート・傾斜磁場強度設定部74と、ディレータイム算出部72及びスリューレート・傾斜磁場強度設定部74からの出力に基づいて、ディレータイム・スリューレート・傾斜磁場強度のグラフを作成するディレータイム・スリューレート・傾斜磁場強度グラフ作成部73とを備える。このディレータイム・スリューレート・傾斜磁場強度グラフ作成部73により作成されたグラフは、記憶部80(RAM21、光磁気ディスク22、磁気ディスク24)に格納される。
In FIG. 2, the
さらに、CPU7は、記憶部80に記憶されたグラフ及びディレータイム・スリューレート・傾斜磁場強度グラフ作成部73から出力されたスリューレート及び傾斜磁場強度に基づいて、ディレータイムを読み出すディレータイム読み出し部75と、ディレータイム読み出し部75からのディレータイムに基づいて補正パルスを算出する補正パルス算出部76と、この補正パルス算出部76及びディレータイム読み出し部75から出力された補正パルス及びディレータイムに従った指令信号をシーケンサ6に出力するシーケンサ制御部77とを備える。
Further, the
次に、図3を参照して、エコーピークのずれ計測(delay計測)するための撮像シーケンスを説明する。尚、本シーケンスを用いた調整はMRI装置の設置箇所への据付時に一回だけ、例えばNiCl水溶液ファントムを用いて実行すればよい。 Next, an imaging sequence for measuring echo peak deviation (delay measurement) will be described with reference to FIG. The adjustment using this sequence may be executed only once, for example, using a NiCl aqueous solution phantom at the time of installing the MRI apparatus at the installation location.
図3において、被検体9に第1RFパルス101とスライス選択傾斜磁場102とを印加することでプロトンの磁化を励起し、スライスリフェーズ傾斜磁場103にてスライス方向のリフェーズを行った後、リードアウト方向のディフェーズ傾斜磁場104を印加し、その後、所定のスリューレートと強度でリードアウト傾斜磁場を立ち上げ、リードアウト傾斜磁場105の間にエコー106を収集する。
In FIG. 3, the
ここで、収集されるエコーのピークが計測される時間と、AD窓の中心108(A/D変換器のサンプリングタイム)との時間的なずれ107を、dT1として計測する。エコーのピーク時間とAD窓中心108との時間ずれは、取得したエコー信号に対してフーリエ変換を行い、実空間にて位相の1次の傾きとして計測することも可能である。
Here, a
次に、リードアウト傾斜磁場105に続き、傾斜磁場極性を反転したリードアウト傾斜磁場109を印加し、エコー110を収集する。ここで、エコー110のピーク時間と、AD窓の中心112(A/D変換器のサンプリングタイム)との時間的なずれ111をdT2として計測する。エコーピーク位置とAD窓中心112との時間ずれは、上述したように、実空間にて位相の1次傾斜として観測することもできる。リードアウト傾斜磁場の印加後にはクラッシャー傾斜磁場113、114を印加し、磁化の位相を分散させる。
Next, following the readout gradient
次に、第2RFパルス115を照射しながら、スリューレート及び傾斜磁場強度がリードアウト傾斜磁場105と同一のスライス選択傾斜磁場116を立ちあげる。そして、スライス選択傾斜磁場116とは逆極性で同一な強度をもつスライス傾斜磁場117を印加し、エコー118を収集する。それと同時に、A/D変換器19によるAD変換を実行し、エコー118のピーク時間と、AD窓の中心120との時間的なずれ119をdT3として計測する。
Next, while irradiating the
図3に示した例では、第1シーケンスのスライス選択傾斜磁場102をGx軸に印加し、第1、第2シーケンスの極性反転傾斜磁場109、117をGy軸に印加し、Gz軸には何も印加していないが、これら3軸の関係を入れ替えて、第1、第2シーケンスの極性反転傾斜磁場を印加する軸を、Gx以外にGy、Gz軸としたシーケンスも、図3に示した例と同様に行う。
In the example shown in FIG. 3, the slice selection gradient
また、極性反転傾斜磁場の強度とスリューレートに依存したエコーピーク位置の変化を計測するため、図3に示した傾斜磁場105、109、116、117の4つの傾斜磁場の強度とスリューレートとを変えながらエコーピークを計測する。
Further, in order to measure the change of the echo peak position depending on the strength of the polarity reversal gradient magnetic field and the slew rate, the strength and slew rate of the four gradient
上記処理の流れを図4に示す。なお、処理の流れは、調整軸の切り替えループと極性反転傾斜磁場ループとスリューレートループの3つのループで構成される。 The flow of the above process is shown in FIG. The processing flow is composed of three loops: an adjustment axis switching loop, a polarity reversal gradient magnetic field loop, and a slew rate loop.
図4のステップS1にて、処理が開始されると、シーケンサ制御部77は、調整軸を最初の軸Axis♯1(例えば、X軸)に設定し、極性反転傾斜磁場をG♯1(Gx)に設定する(ステップS2、S3)。そして、スリューレート・傾斜磁場強度設定部74がスリューレートをSlew♯1に設定する(ステップS4)。
When the process is started in step S1 of FIG. 4, the
そして、時間ずれ測定部71が時間ずれdT1、dT2、dT3を計測し(ステップS5)、ディレータイム算出部72が、後述する式に基づいてディレータイムdelay1、delay2、delay3を算出する(ステップS6)。 Then, the time lag measuring unit 71 measures the time lags dT1, dT2, and dT3 (step S5), and the delay time calculating unit 72 calculates the delay times delay1, delay2, and delay3 based on formulas described later (step S6). .
次に、シーケンサ制御部77は、スリューレート番号が所定の値か否かを判断し、所定の値で無ければ、スリューレート番号をインクリメントし、ステップS5に戻る(ステップS7、S8)。
Next, the
ステップS7で、スリューレート番号が所定の値であれば、ステップS9に進み、シーケンサ制御部77は、現在の傾斜磁場強度の番号が、所定の値か否かを判断し、所定の値で無ければ、傾斜磁場強度番号をインクリメントし、ステップS4に戻る(ステップS9、S11)。
If it is determined in step S7 that the slew rate number is a predetermined value, the process proceeds to step S9, and the
ステップS9で、傾斜磁場強度番号が所定の値であれば、ステップS10に進み、シーケンサ制御部77は、現在の調整軸が所定の調整軸番号であるか否かを判断する。
If the gradient magnetic field strength number is a predetermined value in step S9, the process proceeds to step S10, and the
所定の調整軸番号であれば、処理を終了し、所定の調整軸番号でなければ、シーケンス制御部77は、調整軸番号をインクリメントして、ステップS3に戻る(ステップS10、S12)。
If it is a predetermined adjustment axis number, the process is terminated, and if it is not a predetermined adjustment axis number, the
図5は、X軸に対して10パターンのスリューレート(Slew1〜Slew10)と、10パターンの極性反転傾斜磁場強度(G1〜G10)でdelay計測を行う場合の動作フローチャートである。
FIG. 5 is an operation flowchart when performing delay measurement with 10 patterns of slew rate (
まず、調整軸をX軸、傾斜磁場強度をG1、スリューレートをSlew1に設定し、図3に示した3つの時間ずれ(dT1―x―g1―s1、dT2―x―g1―s1、dT3―x―g1―s1)を計測する(ステップS20〜S23)。
ただし、(−x−g1−s1)は、調整軸はX軸、傾斜磁場強度はg1、スリューレートはs1を意味する。
First, the adjustment axis is set to the X axis, the gradient magnetic field strength is set to G1, the slew rate is set to Slew1, and the three time shifts (dT1-x-g1-s1, dT2-x-g1-s1, dT3) shown in FIG. -X-g1-s1) is measured (steps S20 to S23).
However, (-x-g1-s1) means that the adjustment axis is the X axis, the gradient magnetic field strength is g1, and the slew rate is s1.
その後、各エコーの時間ずれからシステム応答と傾斜磁場面積誤差に起因した要素に切り分けるために、ステップS24において、ディレータイムDelay1−x−g1−s1、Delay2―x―g1―s1、Delay3―x―g1―s1を算出する(算出方法については後述する)。 Thereafter, in order to separate the time lag of each echo into elements caused by the system response and the gradient magnetic field area error, in step S24, delay times Delay1-x-g1-s1, Delay2-x-g1-s1, Delay3-x- g1-s1 is calculated (the calculation method will be described later).
続いて、X軸に対して傾斜磁場強度G1、スリューレートSlew2の極性反転傾斜磁場を印加して、3つの時間ずれ(dT1―x―g1―s2、dT2―x―g1―s2、dT3―x―g1―s2)を計測する(ステップS25、S26)。
ただし、(−x−g1−s2)は、調整軸はX軸、傾斜磁場強度はg1、スリューレートはs2を意味する。
Subsequently, a polarity reversal gradient magnetic field having a gradient magnetic field strength G1 and a slew rate Slew2 is applied to the X axis, and three time shifts (dT1-x-g1-s2, dT2-x-g1-s2, dT3- x-g1-s2) is measured (steps S25 and S26).
However, (-x-g1-s2) means that the adjustment axis is the X axis, the gradient magnetic field strength is g1, and the slew rate is s2.
その後、各エコーの時間ずれからシステム応答と傾斜磁場面積誤差に起因した要素に切り分けるために、ステップS27において、ディレータイムDelay1−x−g1−s2、Delay2―x―g1―s2、Delay3―x―g1―s2を算出する。 Thereafter, in order to separate the time lag of each echo into elements due to the system response and the gradient magnetic field area error, in step S27, delay times Delay1-x-g1-s2, Delay2-x-g1-s2, Delay3-x- g1-s2 is calculated.
上述と同様にして、スリューレートをSlew1〜Slew10まで変化させて時間ずれを計測した後(ステップS28、S29、S30)、上位ループ(ステップS31〜S34)に移動して極性反転傾斜磁場の強度をG2として同様にスリューレート毎に時間ずれを計測する。
In the same manner as described above, the slew rate is changed from
そして、ステップS21〜S41の処理により、傾斜磁場強度をG1〜G10まで変化させて時間ずれを計測し、さらに、スリューレートをSlew1〜Slew10まで変化させて時間ずれを計測する。 Then, by the processing of steps S21 to S41, the time lag is measured by changing the gradient magnetic field strength from G1 to G10, and the slew rate is changed from Slew1 to Slew10 to measure the time lag.
Y軸、Z軸に対しても、X軸と同様に調整する場合には、さらに上位ループに移動して、ステップS20において、調整軸をY軸、Z軸と切り替えて、時間ずれを計測する。つまり、この場合には全部で300パターン(10・10・3)の時間ずれを計測する。 When adjusting the Y-axis and the Z-axis in the same manner as the X-axis, the process further moves to the upper loop, and in step S20, the adjustment axis is switched between the Y-axis and the Z-axis to measure the time lag. . That is, in this case, a total of 300 patterns (10 · 10 · 3) are measured.
時間ずれの計測に要する時間は、図3に示した第1シーケンスと第2シーケンスとのTR(繰り返し時間)の和と、繰り返しパターン回数で決まり、第1、第2シーケンスの和は、数10ms程度であるため、数100パターン繰り返しても全工程にかかる時間は数秒であり、長時間を必要としない。 The time required for measuring the time lag is determined by the sum of the TR (repetition time) of the first sequence and the second sequence shown in FIG. 3 and the number of repetition patterns, and the sum of the first and second sequences is several tens of ms. Therefore, even if several hundreds of patterns are repeated, the time required for the entire process is several seconds, and a long time is not required.
次に、計測した数100パターンのdT1、dT2、dT3を用いてシステム応答による時遅れと傾斜磁場面積誤差による時間遅れとの要素に切り分ける計算を行う。この計算は、ディレータイム・スリューレート傾斜磁場強度グラフ作成部73が実行する。 Next, calculation is performed using the measured hundreds of patterns of dT1, dT2, and dT3 to separate into elements of time delay due to system response and time delay due to gradient magnetic field area error. This calculation is executed by the delay time / slew rate gradient magnetic field strength graph creation unit 73.
図12に示したように、第1エコーはシステムの時間遅れに起因したdelay1と、図12のA、B面積誤差によるdelay2によって決まるため、dT1はdelay1とdelay2とを用いて次式(1)のようにあらわされる。
As shown in FIG. 12, since the first echo is determined by
dT1=delay1+delay2 ・・・(1)
また、第2エコーのdT2はシステムの時間遅れdelay1と、図12に示したA、Bの面積誤差による時遅れdelay2と、図12に示したCとDの面積誤差による時間遅れであるdelay3によって発生する。ただし、第2エコーは、ADを反転するため、各delayは時間的に反転し、下式(2)で表される。
dT1 = delay1 + delay2 (1)
Further, dT2 of the second echo is determined by the time delay delay1 of the system, the time delay delay2 due to the area error of A and B shown in FIG. 12, and the delay3 which is the time delay due to the area error of C and D shown in FIG. appear. However, since the second echo inverts AD, each delay is inverted in time and is expressed by the following equation (2).
dT2=−delay1−delay2−delay3 ・・・(2)
次に、第2RFパルスによって発生する第3エコーは、システム応答による時遅れと、図13のCとDの面積誤差による時遅れによって発生するため下式(3)で表すことができる。
dT2 = -delay1-delay2-delay3 (2)
Next, since the third echo generated by the second RF pulse is generated by the time delay due to the system response and the time delay due to the area error of C and D in FIG. 13, it can be expressed by the following equation (3).
dT3=delay1+delay3 ・・・(3)
よって、上記式(1)、(2)、(3)の連立方程式を解くことでdelay1、delay2、delay3は、下式(4)、(5)、(6)のように算出することができる。なお、delay1がシステム応答の遅れとなる。
dT3 = delay1 + delay3 (3)
Therefore, delay1, delay2, and delay3 can be calculated as the following equations (4), (5), and (6) by solving the simultaneous equations of the above equations (1), (2), and (3). . Note that delay1 delays the system response.
delay1=dT1+dT2+dT3 ・・・(4)
delay2=−(dT2+dT3) ・・・(5)
delay3=−(dT1+dT2) ・・・(6)
以上より、エコーピークの発生要素であるdelay1〜delay3を各スリューレート・傾斜磁場強度で求めることができ、これらから、図6に示すようなdelayテーブルを作成することができる。このdelayテーブルは、記憶部80に記憶される。
delay1 = dT1 + dT2 + dT3 (4)
delay2 = − (dT2 + dT3) (5)
delay3 = − (dT1 + dT2) (6)
From the above, delay1 to delay3, which are echo peak generating elements, can be obtained from each slew rate and gradient magnetic field strength, and from these, a delay table as shown in FIG. 6 can be created. The delay table is stored in the
上記delayは、離散的な傾斜磁場強度、スリューレートで計測した離散的な値であるが、線形処理や近似曲線を用いて中間値を補間した上でテーブルに保有することも可能である。 The delay is a discrete value measured with a discrete gradient magnetic field strength and slew rate, but can be stored in a table after interpolating an intermediate value using linear processing or an approximate curve.
記憶部80に記憶されたdelayテーブルを用いることで、全てのシーケンスに対して、システム応答による時間遅れと、ディフェーズ傾斜磁場面積、傾斜磁場の立ち上がり側の面積間の誤差および、傾斜磁場の立ち下がり・上がり間の傾斜磁場面積誤差の調整を行うことができる。
By using the delay table stored in the
つまり、ディレータイム読み出し部75が、スリューレート・傾斜磁場強度設定部74で設定されたスリューレート及び傾斜磁場強度に従って、記憶部80に記憶されたディレータイムを読み出し、delay1については、シーケンサ制御部77に供給し、delay2、delay3については、補正パルス算出部76に供給する。ここで、記憶部80に記憶されたグラフは、ディスプレイ23に表示させることも可能である。
That is, the delay
補正パルス算出部76は、後述するように、磁場強度面積、delay2、delay3を用いて、補正パルスを算出し、シーケンサ制御部77に供給する。シーケンサ制御部77は、ディレータイム読み出し部75から供給されるDelay1、補正パルス算出部76から供給される補正パルスを用いて、シーケンサ6の動作を制御する。
The correction
具体的な調整について、例えば、Gradient Echoシーケンスの場合を例として、図7を参照して説明する。 Specific adjustment will be described with reference to FIG. 7 by taking, for example, a gradient echo sequence as an example.
上記(4)式で算出したシステム応答の時遅れを予め、傾斜磁場印加タイミングをdelay1だけ、Gx、Gy、Gzで早める。 The time delay of the system response calculated by the above equation (4) is advanced in advance by the delay magnetic field application timing G1, Gy, and Gz.
delay2、3に関しては、面積誤差に起因したdelayであるため、再度delay2、3と、傾斜磁場強度設定部74の設定傾斜磁場強度Gから下式(7)、(8)を用いて、ディフェーズリードアウト傾斜磁場とリードアウトの立ち上がり傾斜磁場面積の間の面積誤差dS1と、立下り側の傾斜磁場面積と立ち上がり側の傾斜磁場面積の間の面積誤差dS2を算出する。
Since
dS1=delay2・G ・・・(7)
dS2=delay3・G ・・・(8)
上記式(7)、(8)で計算される面積誤差を用いてリードアウト軸のディフェーズ傾斜磁場と立ち上がり側の面積誤差をキャンセルするようにdS1の面積を持つ補償傾斜磁場パルス1を印加する。
dS1 = delay2 · G (7)
dS2 = delay3 · G (8)
A compensation gradient
第2エコーのGradient Echoシーケンスを補正するには、図8に示すように、上記式(4)で算出したシステム応答の時遅れを予め傾斜磁場印加タイミングをdelay1だけ、Gx、Gy、Gzで早めた上で、リードアウト軸のディフェーズ傾斜磁場と立ち上がり側の面積誤差と、立下り側と立ち上がり側の面積誤差をキャンセルするようにdS1とdS2の面積を持つ補償傾斜磁場パルス1、2を印加する。
In order to correct the gradient echo sequence of the second echo, as shown in FIG. 8, the time delay of the system response calculated by the above equation (4) is advanced in advance by the gradient magnetic field application timing by delay1, Gx, Gy, and Gz. In addition, the compensation gradient
3エコー以上のGradient Echoシーケンスを補正するには、2エコーの場合と同様に、図9に示すように、delay1だけ、Gx、Gy、Gzで時間的に早めた上で、リードアウト軸のディフェーズ傾斜磁場と立ち上がり側の面積誤差と、立下り側と立ち上がり側の面積誤差をキャンセルするようにdS1とdS2の面積を持つ補償傾斜磁場パルス1、2を印加する。
To correct a gradient echo sequence of 3 echoes or more, as in the case of 2 echoes, as shown in FIG. Compensating gradient
また、2つのRFサブパルスを用いてRF励起するシーケンスにおいては、図10に示すように、上記(4)式で算出したシステム応答の時遅れを予め傾斜磁場印加タイミングをdelay1だけ、Gx、Gy、Gzで時間的に早めた上で、スライス選択傾斜磁場の立ち上がり側と立下り側の面積誤差をキャンセルするようにdS2の面積を持つ補償傾斜磁場パルス2を印加する。
Further, in the sequence of RF excitation using two RF subpulses, as shown in FIG. 10, the time delay of the system response calculated by the above equation (4) is set to the gradient magnetic field application timing as delay1, Gx, Gy, After being advanced in time by Gz, the compensation gradient
また、リードアウト軸にはディフェーズ傾斜磁場とリードアウト傾斜磁場の立ち上がり側の面積との誤差をキャンセルするようにdS1の面積を持つ補償傾斜磁場パルス1を印加する。
A compensation gradient
3つ以上のRFサブパルスを用いてRF励起するシーケンスにおいては図11に示すように、上記(4)式で算出したシステム応答の時遅れを予め傾斜磁場印加タイミングをdelay1だけ、Gx、Gy、Gzで時間的に早めた上で、スライス選択傾斜磁場の立ち上がり側と立下り側の面積誤差をキャンセルするようにdS2の面積を持つ補償傾斜磁場パルス2を複数印加する。
In the sequence of RF excitation using three or more RF sub-pulses, as shown in FIG. 11, the time delay of the system response calculated by the above equation (4) is preliminarily set to the gradient magnetic field application timing as delay1, Gx, Gy, Gz. Then, a plurality of compensation gradient
また、リードアウト軸にはディフェーズ傾斜磁場とリードアウト傾斜磁場の立ち上がり側の面積との誤差をキャンセルするようにdS1の面積を持つ補償傾斜磁場パルス1を印加する。
A compensation gradient
上記例では、補償傾斜磁場パルスをX、Y、Zの物理座標系で印加しているが、スライス、位相、周波数の論理座標系で印加することも可能である。また、上述した補正では、上述した公知例(非特許文献1)に示されるように、オブリーク計測やRadial計測のようなスライス、位相、リードアウト軸が複数の物理軸にまたがって分配される計測においても、分配率から傾斜磁場強度を計算することで補償傾斜磁場パルスを適用することができる。 In the above example, the compensation gradient magnetic field pulse is applied in the physical coordinate system of X, Y, and Z, but can be applied in the logical coordinate system of slice, phase, and frequency. In the above-described correction, as shown in the above-described known example (Non-Patent Document 1), measurement in which slice, phase, and readout axes are distributed over a plurality of physical axes, such as oblique measurement and radial measurement. In FIG. 4, the compensation gradient magnetic field pulse can be applied by calculating the gradient magnetic field strength from the distribution rate.
リードアウト傾斜磁場の面積誤差に限れば、面積誤差は、k空間上のTrajectoryシフトとして一意に計算できる。リードアウト傾斜磁場の面積誤差に起因した第1エコーのdelayは、dT1−delay1であるため、下式(9)からリードアウト方向(X方向)のTrajectoryシフト量dkx1が求まる。 As long as the area error of the readout gradient magnetic field is limited, the area error can be uniquely calculated as a Trajectory shift in the k space. Since the delay of the first echo due to the area error of the readout gradient magnetic field is dT1-delay1, the trajectory shift amount dkx1 in the readout direction (X direction) is obtained from the following equation (9).
dkx1=γ・G・(dT1−delay1) ・・・(9)
また、第2エコーのリードアウト方向のTrajectoryシフト量dkx2は、第2エコーのdelayがdT2−delay1であることから下式(10)となる。
dkx1 = γ · G · (dT1-delay1) (9)
Further, the Trajectory shift amount dkx2 in the readout direction of the second echo is expressed by the following equation (10) because the delay of the second echo is dT2-delay1.
dkx2=γ・G・(dT2−delay1) (10)
ここで、γは回転磁気比、Gはリードアウト傾斜磁場強度を意味する。
dkx2 = γ · G · (dT2-delay1) (10)
Here, γ is the rotational magnetic ratio, and G is the readout gradient magnetic field strength.
よって、取得後のk−spaceデータに対して上記Trajectoryシフト量に応じて、k−spaceをシフトし、シフト量に対してMatrixサイズが十分に大きくない場合には補間処理を行うことで、傾斜磁場面積誤差を補正することも可能である。 Therefore, the k-space is shifted according to the Trajectory shift amount with respect to the acquired k-space data, and when the Matrix size is not sufficiently large with respect to the shift amount, an interpolation process is performed to It is also possible to correct the magnetic field area error.
以上のように、本発明によれば、スリューレート、傾斜磁場強度、及び傾斜磁場の面積ずれによる、エコーピークとADサンプリングタイミングとの時間遅れを予め計測し、計測した結果を、スリューレート値、傾斜磁場強度値について、X軸、Y軸、Z軸毎にデータとして記憶しておき、記憶したデータに基づいて、システム応答遅れによるエコーピーク検出遅れを補正すると供に、傾斜磁場面積誤差による時間遅れを補正すため、傾斜磁場パスルの補正パルスを算出して、印加している。 As described above, according to the present invention, the time delay between the echo peak and the AD sampling timing due to the slew rate, the gradient magnetic field strength, and the area deviation of the gradient magnetic field is measured in advance, and the measured result is obtained as a slew rate. Values and gradient magnetic field strength values are stored as data for each of the X-axis, Y-axis, and Z-axis, and the echo peak detection delay due to the system response delay is corrected based on the stored data. In order to correct the time delay due to the above, a correction pulse for the gradient magnetic field pulse is calculated and applied.
したがって、シーケンス毎に、エコーピーク検出遅れの調整を行う必要がなく、システム応答の遅れ等によるエコーピークのずれの調整を、高精度で、かつ、短時間で行うことが可能なMRI装置を実現することができる。 Therefore, there is no need to adjust the echo peak detection delay for each sequence, and an MRI apparatus capable of adjusting echo peak deviation due to system response delay etc. with high accuracy and in a short time is realized. can do.
なお、上述した例においては、計測した時間ずれdT1、dT2、dT3からディレータイムdelay1、2、3(時間ずれに対応するデータ)を算出し、記憶部80に記憶するように構成したが、スリューレート及び傾斜磁場強度と、時間ずれdT1、dT2、dT3(時間ずれに対応するデータ)との関係をグラフ化して、記憶部80に記憶させておき、dT1、dT2、dT3を読み出した後に、時間ずれdT1、dT2、dT3からディレータイムdelay1、2、3を計算する構成も可能である。
In the above example, the delay times delays 1, 2, and 3 (data corresponding to the time shift) are calculated from the measured time shifts dT1, dT2, and dT3, and stored in the
1・・・静磁場発生磁気回路、2・・・傾斜磁場発生系、3・・・送信系、4・・・受信系、5・・・信号処理系、6・・・シーケンス、7・・・CPU、8・・・操作部、9・・・被検体、10・・・傾斜磁場コイル、11・・・傾斜磁場電源、12・・・高周波発振器、13・・・変調器、14・・・高周波増幅器、15・・・高周波照射コイル、16・・・受信用高周波照射コイル、17・・・(高周波)増幅器、18・・・直交位相検波器、19・・・A/D変換器、20・・・ROM、21・・・RAM、22・・・光磁気ディスク、23・・・ディスプレイ、24・・・磁気ディスク、 25・・・トラックボール又はマウス、26・・・キーボード、 71・・・時間ずれ測定部、 72・・・ディレータイム算出部、 73・・・ディレータイム・スリューレート・傾斜磁場強度グラフ作成部、 74・・・スリューレート・傾斜磁場強度設定部、 75・・・ディレータイム読み出し部、 76・・・補正パルス算出部、 77・・・シーケンサ制御部、80・・・記憶部、 101、115・・・高周波パルス(RFパルス)、 102・・・スライス選択傾斜磁場、 103・・・スライス方向リフェーズ傾斜磁場、 104・・・読み出し方向のディフェーズ傾斜磁場、 105・・・正極性の読み出し傾斜磁場、 106・・・第1エコー信号、 107・・・エコーピークのずれdT1、 108、112、120・・・A/D窓、 109・・・負極性の読み出し傾斜磁場、 110・・・第2エコー信号、 111・・・エコーピークのずれdT2、 113、114、121・・・クラッシャー傾斜磁場、 116・・・スライス選択傾斜磁場、 117・・・第2スライス選択傾斜磁場、 118・・・第3エコー信号、 119・・・エコーピークのずれdT3
DESCRIPTION OF
Claims (5)
予め計測された、複数の傾斜磁場強度及び複数のスリューレートにおける磁気共鳴信号の信号ピークと、上記受信手段の磁気共鳴信号の受信タイミングとの時間ずれに対応するデータを、上記傾斜磁場強度、スリューレート毎に記憶する記憶手段を備え、
上記制御手段は、撮影に用いる傾斜磁場強度及びスリューレートに対応する上記時間ずれを上記記憶手段から読み出し、読み出した時間ずれに基づいて、傾斜磁場の印加タイミングと、傾斜磁場面積を調整することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 A static magnetic field generation means, a gradient magnetic field generation means, a high-frequency magnetic field pulse irradiation means, a reception means for receiving a magnetic resonance signal generated from a subject, a signal processing means for reconstructing an image based on the magnetic resonance signal, In a magnetic resonance imaging apparatus, comprising: the static magnetic field generating means, the gradient magnetic field generating means, the high-frequency magnetic field pulse irradiating means, the receiving means and the signal processing means to control the imaging sequence.
Pre-measured data corresponding to the time lag between the signal peak of the magnetic resonance signal at a plurality of gradient magnetic field strengths and a plurality of slew rates and the reception timing of the magnetic resonance signal of the receiving means, the gradient magnetic field strength, A storage means for storing each slew rate is provided.
The control means reads the time lag corresponding to the gradient magnetic field strength and slew rate used for imaging from the storage means, and adjusts the application timing of the gradient magnetic field and the gradient magnetic field area based on the read time lag. A magnetic resonance imaging apparatus.
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