JP2010092665A - 有機el表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】安定して画像を表示できる有機EL表示装置を提供する。
【解決手段】有機EL表示装置は、複数の画素部PXと、複数の配線部WPとを備えている。各画素部PXは、Al若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに第2導電膜を含んだ導電層と、導電層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜9と、Ag若しくはAgを主成分とする導電材料で形成された第4導電膜10と、ITOで形成された第5導電膜11とを有している。各配線部WPは、Al若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに第2導電膜を含んだ配線層WLと、配線層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜efcと、を有している。
【選択図】 図1
【解決手段】有機EL表示装置は、複数の画素部PXと、複数の配線部WPとを備えている。各画素部PXは、Al若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに第2導電膜を含んだ導電層と、導電層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜9と、Ag若しくはAgを主成分とする導電材料で形成された第4導電膜10と、ITOで形成された第5導電膜11とを有している。各配線部WPは、Al若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに第2導電膜を含んだ配線層WLと、配線層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜efcと、を有している。
【選択図】 図1
Description
この発明は、有機EL表示装置に関する。
近年、薄型、軽量、低消費電力の特徴を活かして、液晶表示装置に代表される平面表示装置の需要が急速に伸びている。中でも、オン画素とオフ画素とを電気的に分離し、かつオン画素への映像信号を保持する機能を有する画素スイッチを各画素に設けたアクティブマトリクス型表示装置は、隣接画素間でのクロストークのない良好な表示品位が得られることから、携帯情報機器を始め、種々のディスプレイに利用されるようになってきた。
このような平面型のアクティブマトリクス型表示装置として、自己発光素子を用いた有機エレクトロルミネセンス(EL)表示装置が注目され、盛んに研究開発が行われている。有機EL表示装置は、薄型軽量化の妨げとなるバックライトを必要とせず、高速な応答性から動画再生に適し、広視野角化が可能であり、さらに低温で輝度低下しないために寒冷地でも使用できるという特徴を備えている。
有機EL表示装置は、各画素に有機EL素子と、有機EL素子へ駆動電流を供給する画素回路とを含み、有機EL素子の発光輝度を制御することにより表示動作を行なうものである(例えば、特許文献1、2参照)。
米国特許第6229506号明細書
特開2005−31630号公報
ところで、上記有機EL表示装置は、Ag(銀)を用いて形成されている。しかしながら、Agは、材料の安定性が低く、硫黄、水及び酸素等と反応して変質し、コンタクト不良や、マイグレーション等を起こしやすいという欠点を有している。このため、有機EL表示装置の安定した動作の妨げになる恐れがある。
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、安定して画像を表示できる有機EL表示装置を提供することにある。
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、安定して画像を表示できる有機EL表示装置を提供することにある。
上記課題を解決するため、本発明の態様に係る有機EL表示装置は、
基板上に設けられた複数の画素部と、前記複数の画素部から外れた複数の配線部と、を備え、
前記各画素部は、
基板上にAl若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに前記第1導電膜に対して前記基板の反対側である最上部に位置し金属で形成された第2導電膜を含んだ導電層と、
前記導電層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜と、
前記第3導電膜の一部の領域上に形成されAg若しくはAgを主成分とする導電材料で形成された第4導電膜と、
前記第4導電膜上に形成されITOで形成された第5導電膜と、を有し、
前記各配線部は、
基板上にAl若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに前記第1導電膜に対して前記基板の反対側である最上部に位置し金属で形成された第2導電膜を含んだ配線層と、
前記配線層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜と、を有している。
基板上に設けられた複数の画素部と、前記複数の画素部から外れた複数の配線部と、を備え、
前記各画素部は、
基板上にAl若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに前記第1導電膜に対して前記基板の反対側である最上部に位置し金属で形成された第2導電膜を含んだ導電層と、
前記導電層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜と、
前記第3導電膜の一部の領域上に形成されAg若しくはAgを主成分とする導電材料で形成された第4導電膜と、
前記第4導電膜上に形成されITOで形成された第5導電膜と、を有し、
前記各配線部は、
基板上にAl若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに前記第1導電膜に対して前記基板の反対側である最上部に位置し金属で形成された第2導電膜を含んだ配線層と、
前記配線層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜と、を有している。
この発明によれば、安定して画像を表示できる有機EL表示装置を提供することができる。
以下、図面を参照しながらこの発明の実施の形態に係る有機EL表示装置について詳細に説明する。
図1に示すように、有機EL表示装置は、表示領域を有したアレイ基板Aと、アレイ基板に所定の隙間を置いて対向配置された封止基板としての封止ガラス16とを備えている。封止ガラス16の周縁に沿ってシール材17が設けられ、アレイ基板Aの表示領域外側及び封止ガラス16はこのシール材17により貼り合わされている。このため、封止ガラス16及びシール材17は、アレイ基板Aの表示領域との間の雰囲気を気密に保持している。
図1に示すように、有機EL表示装置は、表示領域を有したアレイ基板Aと、アレイ基板に所定の隙間を置いて対向配置された封止基板としての封止ガラス16とを備えている。封止ガラス16の周縁に沿ってシール材17が設けられ、アレイ基板Aの表示領域外側及び封止ガラス16はこのシール材17により貼り合わされている。このため、封止ガラス16及びシール材17は、アレイ基板Aの表示領域との間の雰囲気を気密に保持している。
アレイ基板Aの表示領域及び封止ガラス16で囲まれた空間は、N2等の不活性ガスで満たされている。また、その空間内部には、乾燥剤15が配置され、後述する有機EL素子OLEDに悪影響を与えない程度の乾燥状態に維持されている。ここでは、乾燥剤15は、封止ガラス16に貼り付けられている。
アレイ基板Aは、ガラス等の透明な絶縁性の基板1を有している。基板1の表示領域上には、複数の画素部PXがマトリクス状に設けられている。各画素部PXは、スイッチング素子としての薄膜トランジスタSW及び有機EL素子OLEDを有している。
表示領域において、基板1上には、例えばポリシリコン(以下、p−Siと称する)からなるチャネル層2が形成されている。基板1及びチャネル層2上に、ゲート絶縁膜3が成膜されている。ゲート絶縁膜3上に、チャネル層2に重なったゲート電極4が形成されている。ゲート絶縁膜3及びゲート電極4上に、層間絶縁膜5が成膜されている。
層間絶縁膜5上に、ソース電極6a及びドレイン電極6bが形成されている。ソース電極6aは、ゲート絶縁膜3及び層間絶縁膜5に形成されたコンタクトホールを介してチャネル層2のソース領域に接続されている。ドレイン電極6bは、ゲート絶縁膜3及び層間絶縁膜5に形成された他のコンタクトホールを介してチャネル層2のドレイン領域に接続されている。
図示しないが、ソース電極6a及びドレイン電極6bは、Al(アルミニウム)で形成された第1導電膜ef1、並びに第1導電膜ef1に対して基板1の反対側である最上部に位置し高融点金属で形成された第2導電膜ef2を含む導電層である。
この実施の形態において、ソース電極6a及びドレイン電極6bは、TATの導電材料により形成されている。ここで、TATは、Ti(チタン)/Al/Tiの略称で3層構造の導電層である。Tiは、膜厚50nmにそれぞれ形成され、Alは、膜厚300nmに形成されている。このため、ここでは、上記第1導電膜ef1が膜厚300nmのAlで形成され、第2導電膜ef2が膜厚50nmのTiで形成されている。
上記チャネル層2、ゲート絶縁膜3、ゲート電極4、層間絶縁膜5、ソース電極6a及びドレイン電極6bは、上記薄膜トランジスタSWを形成している。
上記チャネル層2、ゲート絶縁膜3、ゲート電極4、層間絶縁膜5、ソース電極6a及びドレイン電極6bは、上記薄膜トランジスタSWを形成している。
層間絶縁膜5、ソース電極6a及びドレイン電極6b上に、絶縁材料で形成された保護膜7が成膜されている。保護膜7上に、絶縁材料で形成された平坦化膜8が成膜されている。
平坦化膜8上に、第3導電膜9が形成されている。第3導電膜9は、100nmの膜厚を有し、ITO(インジウム・スズ・オキサイド)で形成され、保護膜7及び平坦化膜8に形成されたコンタクトホールを介してドレイン電極6bの最上面に接続されている。
第3導電膜9の一部の領域上に、第4導電膜10が形成されている。第4導電膜10は、100nmの膜厚を有し、Ag(銀)で形成されている。ここでは、第4導電膜10は、光反射膜として機能している。光利用効率を高めるため、上記したように、第4導電膜10は、低光吸収、高光反射率のAgで形成されている。
第4導電膜10上に、第5導電膜11が形成されている。第5導電膜11は、20nmの膜厚を有し、ITOで形成されている。第5導電膜11は、画素電極を形成している。ここでは、第5導電膜11は、陽極である。この実施の形態において、第4導電膜10及び第5導電膜11は、同等のパターンに形成されている。
平坦化膜8上に、隔壁絶縁層12が形成されている。隔壁絶縁層12には、第5導電膜11に対応した位置に貫通孔が設けられているか、或いは、第5導電膜11が形成する列又は行に対応した位置にスリットが設けられている。ここでは、一例として、隔壁絶縁層12は、第5導電膜11に対応した位置に貫通孔を有している。
第5導電膜11上には、有機活性層として、発光層を含んだ有機物層13が形成されている。有機活性層は、例えば、発光色が赤色、緑色、又は青色のルミネセンス性有機化合物を含んだ薄膜である。この有機物層13は、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層を含んでいる。
隔壁絶縁層12及び有機物層13は、対向電極14で被覆されている。この例では、対向電極14は、画素部PX間で互いに接続された電極、すなわち共通電極である。また、この例では、対向電極14は、陰極であり且つ光透過性の電極である。対向電極14は、例えばMgAg合金で形成されている。対向電極14は、例えば、保護膜7に形成されたコンタクトホールを介して低電位電源配線20に電気的に接続されている。
上記、第5導電膜11(画素電極)、対向電極14、並びに第5導電膜11及び対向電極14間に挟持され発光体となる有機物層13は、有機EL素子OLEDを形成している。
上記、第5導電膜11(画素電極)、対向電極14、並びに第5導電膜11及び対向電極14間に挟持され発光体となる有機物層13は、有機EL素子OLEDを形成している。
一方、表示領域の外側において、基板1上に、複数の画素部PXから外れた複数の配線部WPが形成されている。配線部WPは、画素部PXに接続されているとともに、表示領域を跨いで基板1の周縁部まで延出して形成されている。
より詳しくは、表示領域の外側において、基板1上に、ゲート絶縁膜3及び層間絶縁膜5が成膜されている。層間絶縁膜5上に、複数の配線層WLが形成されている。図示しないが、配線層WLは、Alで形成された第1導電膜efa、並びに第1導電膜efaに対して基板1の反対側である最上部に位置し高融点金属で形成された第2導電膜efbを含んでいる。
この実施の形態において、配線層WLは、TATの導電材料により形成されている。Tiは、膜厚50nmにそれぞれ形成され、Alは、膜厚300nmに形成されている。このため、ここでは、上記第1導電膜efaが膜厚300nmのAlで形成され、第2導電膜efbが膜厚50nmのTiで形成されている。
層間絶縁膜5及び配線層WL上に、保護膜7が成膜されている。保護膜7上に、第3導電膜efcが形成されている。第3導電膜efcは、100nmの膜厚を有し、ITO(インジウム・スズ・オキサイド)で形成され、保護膜7に形成されたコンタクトホールを介して配線層WLの最上面に接続されている。
この実施の形態において、配線層WLは引き出し配線であり、第3導電膜efcはボンディングパッドである。
上記配線層WL及び第3導電膜efcは、配線部WPを形成している。
層間絶縁膜5及び配線層WL上に、保護膜7が成膜されている。保護膜7上に、第3導電膜efcが形成されている。第3導電膜efcは、100nmの膜厚を有し、ITO(インジウム・スズ・オキサイド)で形成され、保護膜7に形成されたコンタクトホールを介して配線層WLの最上面に接続されている。
この実施の形態において、配線層WLは引き出し配線であり、第3導電膜efcはボンディングパッドである。
上記配線層WL及び第3導電膜efcは、配線部WPを形成している。
上記したように有機EL表示装置は構成されている。なお、有機EL素子OLEDは、水や酸素の暴露により特性が劣化するため、封止ガラス16で覆われている。これにより、有機EL素子OLEDを、水や酸素の進入を抑制する封止構造の中に置くことができる。
次に、上記のように構成された有機EL表示装置の製造方法について説明する。
まず、用意した基板1上に、成膜やパターニングを繰り返す等、通常の製造工程により、p−Si層、ゲート絶縁膜3及びゲート電極4を形成する。p−Si層のソース領域及びドレイン領域に所定のドーパントを導入し、P型領域又はN型領域にする。
まず、用意した基板1上に、成膜やパターニングを繰り返す等、通常の製造工程により、p−Si層、ゲート絶縁膜3及びゲート電極4を形成する。p−Si層のソース領域及びドレイン領域に所定のドーパントを導入し、P型領域又はN型領域にする。
続いて、基板1上に層間絶縁膜5を成膜した後、例えば600℃の熱処理により、p−Si層のドーパントを活性化させる。これにより、p−Si層はチャネル層2となる。次いで、ゲート絶縁膜3及び層間絶縁膜5に、チャネル層2のソース領域及びドレイン領域の表面を露出させるコンタクトホールをそれぞれ形成する。
その後、層間絶縁膜5上に、Tiを膜厚50nmに、Alを膜厚300nmに、Tiを膜厚50nmに、順に成膜し、パターニングする。これにより、Ti/Al/Tiの3層構造のソース電極6a、ドレイン電極6b、低電位電源配線20及び配線層WLが形成される。続いて、層間絶縁膜5、ソース電極6a、ドレイン電極6b、低電位電源配線20及び配線層WL上に、保護膜7及び平坦化膜8を順に成膜する。
次いで、基板1上に、ITOを膜厚100nmに成膜及びパターニングし、エッチング耐性を向上させるために200℃で熱処理し結晶化を促進させる。これにより、保護膜7及び平坦化膜8に形成されたコンタクトホールを介してドレイン電極6bの最上面に接続された第3導電膜9と、保護膜7に形成されたコンタクトホールを介して配線層WLの最上面に接続された第3導電膜efcとが形成される。
続いて、基板1上に、Agを膜厚100nmに、ITOを膜厚20nmに、順に成膜し、パターニングする。これにより、第3導電膜9の一部の領域上に、第4導電膜10及び第5導電膜11が同等のパターンに形成される。第4導電膜10及び第5導電膜11の製造工程におけるエッチングの際、第3導電膜9も僅かにエッチングされるが膜厚と結晶化状態により、膜が全てエッチングされないように設定すれば良い。
その後、基板1上に隔壁絶縁層12を形成し、続いて、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層及び電子注入層を含んだ有機物層13を形成する。次いで、基板1上に、メタルマスク蒸着でMgAg合金を形成する。これにより、有機物層13に重ねられ、保護膜7に形成されたコンタクトホールを介して低電位電源配線20に電気的に接続された対向電極14が形成される。
これにより、基板1上に、薄膜トランジスタSW及び有機EL素子OLED等を有した画素部PX、並びに配線部WP等が形成され、アレイ基板Aが完成する。その後、アレイ基板A及び乾燥剤15を貼り付けた封止ガラス16を、図示しないが、内部がN2雰囲気のグローブボックスの中に搬入する。そして、シール材17を用いてアレイ基板A及び封止ガラス16を貼り合わせ、接合する。そして、図示しないが、例えばアレイ基板Aに外部回路を搭載する。外部回路は、ボンディングパッドとして機能する第3導電膜efcに接続する。
これにより、有機EL表示装置が完成する。
これにより、有機EL表示装置が完成する。
以上のように構成された有機EL表示装置によれば、第4導電膜10の上層に第5導電膜11を形成し、下層に第3導電膜9を形成し、サンドイッチ構造(ITO/Ag/ITO)を採っている。第3導電膜9及び第5導電膜11は、Agの持つ低い安定性をカバーすることができるため、第4導電膜10の安定性を向上させることができる。
また、ITOで形成された第3導電膜9は下地膜との密着性を向上させることができ、ITOで形成された第5導電膜11は有機EL素子OLEDの画素電極として用いることができる。第4導電膜10及び第5導電膜11に比べて第3導電膜9の面積を大きく残し、ソース電極6a及びドレイン電極6bの表面を出さないことにより、製造時の電池効果を抑制することができる。
配線部WPの第3導電膜efcは、ITOで形成され、ボンディングパッドとして機能している。勿論、第3導電膜efcの表面はITOで形成され、TATで形成された配線層WL自体はボンディングパッドとして機能しないため、第3導電膜efcは、電気的接続が容易に安定して得られるボンディングパッドとして機能することができる。これにより、第3導電膜efcは、有機EL表示装置の安定した動作に寄与することができる。
これに対し、例えば、第3導電膜efcがITO/Ag/ITOの3層構造である場合、その端面や傷ついた表面を起点としてAgの変質によるコンタクト異常やマイグレーションによる端子間リーク等により、有機EL表示装置の安定した動作の妨げになる恐れがあるものである。
上記したことから、安定して画像を表示できる有機EL表示装置を得ることができる。
上記したことから、安定して画像を表示できる有機EL表示装置を得ることができる。
なお、この発明は上記実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化可能である。また、上記実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。
例えば、第3導電膜9、第3導電膜efc、第4導電膜10及び第5導電膜11を形成する際、例えば、基板1上に、ITOを膜厚100nmに、Agを膜厚100nmに、ITOを膜厚20nmに、順に成膜し、PEPにより第4導電膜10及び第5導電膜11を形成した後、2PEPにより第3導電膜9及び第3導電膜efcを形成しても良い。なお、第3導電膜9及び第3導電膜efcを形成する際、これらを形成するためのITO膜が全面に残っている状態であれば、電池効果を抑制してパターニングすることができる。
ソース電極6a及びドレイン電極6b等は、MAMの導電材料により形成されていても良い。ここで、MAMは、Mo(モリブデン)/Al/Moの略称で3層構造の導電層である。
ソース電極6a及びドレイン電極6bの第1導電膜ef1、並びに配線層WLの第1導電膜efaは、Al又はAlを主成分とする導電材料で形成されていれば良い。第4導電膜10は、Ag又はAgを主成分とする導電材料で形成されていれば良い。このため、第4導電膜10は、Ag−Pd等の合金で形成されていても良い。
1…基板、2…チャネル層、3…ゲート絶縁膜、4…ゲート電極、5…層間絶縁膜、6a…ソース電極、6b…ドレイン電極、9…第3導電膜、10…第4導電膜、11…第5導電膜、13…有機物層、14…対向電極、16…封止ガラス、17…シール材、A…アレイ基板、PX…画素部、SW…薄膜トランジスタ、ef1…第1導電膜、ef2…第2導電膜、OLED…有機EL素子、WP…配線部、WL…配線層、efa…第1導電膜、efb…第2導電膜、efc…第3導電膜。
Claims (4)
- 基板上に設けられた複数の画素部と、前記複数の画素部から外れた複数の配線部と、を備え、
前記各画素部は、
基板上にAl若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに前記第1導電膜に対して前記基板の反対側である最上部に位置し金属で形成された第2導電膜を含んだ導電層と、
前記導電層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜と、
前記第3導電膜の一部の領域上に形成されAg若しくはAgを主成分とする導電材料で形成された第4導電膜と、
前記第4導電膜上に形成されITOで形成された第5導電膜と、を有し、
前記各配線部は、
基板上にAl若しくはAlを主成分とする導電材料で形成された第1導電膜、並びに前記第1導電膜に対して前記基板の反対側である最上部に位置し金属で形成された第2導電膜を含んだ配線層と、
前記配線層の最上面に接続されITOで形成された第3導電膜と、を有している有機EL表示装置。 - 前記第4導電膜及び第5導電膜は、同等のパターンに形成されている請求項1に記載の有機EL表示装置。
- 前記各画素部は、
画素電極、前記画素電極に対向した対向電極、並びに前記画素電極及び対向電極間に挟持され発光体となる有機活性層を有した有機EL素子をさらに有し、
前記画素電極は、前記第5導電膜で形成されている請求項1に記載の有機EL表示装置。 - 前記各配線部の第3導電膜は、ボンディングパッドを形成している請求項1に記載の有機EL表示装置。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20111206 |