JP2010071946A - Substrate surface displacement measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光センサにより被測定物の表面に光を照射しその表面からの反射光を受けて、その被測定物の表面の高さ方向の変位を非接触で測定する基板表面変位測定装置に関する。特に、被測定物もしくは光センサを駆動機構により移動させて被測定物の表面における照射位置を、順次変えつつ測定するときに、駆動機構の速度が変わっても一定距離間隔で測定データを取得して、変位を測定する技術に係る。 The present invention relates to a substrate surface displacement measuring device that irradiates light on the surface of an object to be measured by an optical sensor, receives reflected light from the surface, and measures the displacement in the height direction of the surface of the object to be measured in a non-contact manner. About. In particular, when measuring the object to be measured or the optical sensor by moving it with the driving mechanism and sequentially changing the irradiation position on the surface of the object to be measured, even if the speed of the driving mechanism changes, measurement data is acquired at a constant distance interval. Thus, it relates to a technique for measuring displacement.
一般的な基板表面変位測定装置として、三角測量の原理に基づき、測定対象物の対象面の変位を測定するものが知られている。その場合の被測定物もしくは光センサによる相対的な移動は、例えば、図8に示すような手順で行われることが多い。図8(a)では、例えば、被測定物である基板10の表面の高さ方向の変位を測定するのに、図で上から順に、X軸に沿って左から右へ、右から左へ、繰り返しながらY軸方向の下部までの全範囲を光センサが移動して測定する。図8(b)では、光センサが一方向に走査する手段を有し、基板10と光センサの位置を図のY軸に沿って上から順に下まで移動し(以下、「主走査」と言う。)、その途中過程でX軸に沿って右方向へ光センサによる光学的な走査(光センサのセンシング方向を変えながら走査)を行う(以下、「副走査」と言う。)。
As a general substrate surface displacement measuring apparatus, an apparatus that measures the displacement of the target surface of a measurement object based on the principle of triangulation is known. In this case, the relative movement by the object to be measured or the optical sensor is often performed by a procedure as shown in FIG. 8, for example. In FIG. 8A, for example, to measure the displacement in the height direction of the surface of the
このような被測定物もしくは光センサによる相対的な移動(或いは走査)によって、取得された測定データは、図8の基板10の例で言えば縦方向であれ、横方向であれ、それぞれ一定の距離間隔における変位データとして扱い処理される。なお変位データの処理にあたっては一定距離間隔或いはそれに対応する一定の時間間隔で処理される。その理由は、今日、光センサからのアナログ信号をA/D変換手段で一定時間間隔のクロックでデジタルのデータに変換し、そのデータの処理をCPU等で行うことが便利であり、合理的であるからである。
The measurement data obtained by such relative movement (or scanning) by the optical sensor or the optical sensor is constant regardless of whether it is vertical or horizontal in the example of the
一方、被測定物もしくは光センサによる相対的な移動(光学的走査を除く)を行わせる駆動機構には、一般的に、モータが用いられる。このモータが一定速度で移動させる時間領域を使用して、一定距離間隔の測定データを取得している。
被測定物もしくは光センサの移動をモータで行う場合は、移動の方向を変える度に、モータは、開始、加速回転、等速回転、減速回転、停止の繰り返しで動作することになる。その動作状態を図9に示す。例えば、図9の加速期間や減速期間では時間Δtのステップに対して、モータによる移動距離は一定にはならない。ここの加速期間及び減速期間の変位データを一定距離間隔(一定時間間隔)で処理すると、距離に対する誤差が出てしまう。そこで、従来は、変位データを取得する場合は、モータの加速期間を過ぎた等速期間(図9のΔt6からkΔtの期間)を変位データを取得する有効な移動期間とするような構成を採用していた。 When the object to be measured or the optical sensor is moved by the motor, the motor operates by repeating the start, acceleration rotation, constant speed rotation, deceleration rotation, and stop each time the movement direction is changed. The operation state is shown in FIG. For example, in the acceleration period and the deceleration period in FIG. 9, the moving distance by the motor is not constant with respect to the step of time Δt. If the displacement data of the acceleration period and the deceleration period is processed at a constant distance interval (a constant time interval), an error with respect to the distance is generated. Therefore, conventionally, when obtaining displacement data, a configuration is adopted in which a constant speed period (a period from Δt6 to kΔt in FIG. 9) after the motor acceleration period is set as an effective movement period for obtaining the displacement data. Was.
しかしながら、この加速期間や減速期間は、被測定物の測定対象範囲が広くなり、移動の方向を切り替える回数が多いほど、この加速期間や減速期間のトータル的な期間が大きくなり、測定時間の短縮が困難な一要因になっていた。 However, during this acceleration period and deceleration period, the measurement target range of the object to be measured becomes wider, and the greater the number of times the direction of movement is changed, the greater the total period of this acceleration period and deceleration period, and the shorter the measurement time. Was a difficult factor.
そこで、本発明は上述した課題を解決するため、光センサの駆動機構による相対的な移動速度の変化に拘わらず変位データを取得し、その後に、一定距離間隔の有効な変位データだけを抽出する(抜き取る)構成とすることで、測定時間の短縮を図れる基板表面変位測定装置を提供することを目的とする。 Therefore, in order to solve the above-described problem, the present invention acquires displacement data regardless of a change in relative moving speed by the drive mechanism of the optical sensor, and then extracts only effective displacement data at a fixed distance interval. An object of the present invention is to provide a substrate surface displacement measuring device that can shorten the measuring time by adopting the (extracting) configuration.
次に、上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、基板の表面に光を照射させ、その反射光を受光する光センサを有し、該光センサの出力を受けて該表面の高さ方向の変位を示すデジタルの変位データを出力する変位測定部(30)と、該光センサと該基板とを相対的に移動させることにより、該基板に対する該光センサの相対位置を走査する走査部(40)とを有し、該基板の表面における変位を測定する基板表面変位測定装置において、前記走査部内に備えられ、前記光センサ又は前記基板のいずれかを移動させ、かつ該移動させる速度が変化する移動機構手段(42)と、該移動機構手段が移動するときの移動量を基に、前記変位測定部からの前記変位データから、該移動量の所定間隔毎に変位データを抽出するデータ取得部(50)と、抽出された該所定間隔毎の変位データを基に、前記基板の表面上の形状を示す画像データを生成する画像生成手段(60)と、を備えた。
Next, in order to solve the above-mentioned problem, the invention according to
請求項2記載の基板表面変位測定装置は、請求項1に記載の発明において、前記移動機構手段は、前記光センサ又は前記基板のいずれかを移動させるモータ(42a)を有し、
前記データ取得部は、該モータによる移動量に応じた信号を出力する移動データ出力手段(51)と、該移動データ出力手段からの該信号をカウントして、該移動量の所定間隔を検出する間隔検出用カウンタ(52)と、前記変位測定部から検出された該所定間隔毎に前記変位データを抽出して取得する抽出手段(53)と、を備えた。
The substrate surface displacement measuring apparatus according to
The data acquisition unit detects a predetermined interval of the movement amount by counting the signal from the movement data output means (51) that outputs a signal corresponding to the movement amount by the motor and the movement data output means. An interval detection counter (52) and an extraction means (53) for extracting and acquiring the displacement data at the predetermined intervals detected from the displacement measuring unit.
請求項3記載の基板表面変位測定装置は、請求項2に記載の発明において、前記モータは、回転により前記光センサ又は前記基板のいずれかを該基板に平行な第1の方向に移動させ、
該光センサは、前記第1の方向と略直交する第2の方向へ、前記光センサ又は前記基板が前記第1の方向へ移動する時間に比べ早い周期で繰り返し光学的走査をして前記変位を検出するとともに、その周期を表す周期タイミング信号を出力する構成を有しており、
前記抽出手段は、前記所定間隔における最初の該周期タイミングにおける前記光学的走査に基づく前記変位データを取得する構成とした。
The substrate surface displacement measuring apparatus according to
The optical sensor repeats optical scanning in a second direction substantially orthogonal to the first direction and repeats optical scanning at an earlier period than the time required for the optical sensor or the substrate to move in the first direction. And a period timing signal representing the period is output,
The extraction unit is configured to acquire the displacement data based on the optical scanning at the first periodic timing in the predetermined interval.
請求項4記載の基板表面変位測定装置は、請求項3に記載の発明において、前記抽出手段は、前記所定間隔の数をカウントする間隔アドレスカウンタ(53c)と、前記周期タイミングに同期して前記クロックをカウントするクロックアドレスカウンタ(53b)と、該間隔アドレスカウンタとクロックアドレスカウンタのカント値で決定されるアドレス値に該当するタイミングの変位データを記憶することによって、該変位データを取得するデータ記憶手段(53d)とを備えた。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the substrate surface displacement measuring apparatus according to the third aspect, wherein the extracting means includes an interval address counter (53c) for counting the number of the predetermined intervals and the period timing in synchronization with the cycle timing. A clock address counter (53b) that counts the clock, and a data storage that acquires the displacement data by storing the displacement data at a timing corresponding to the address value determined by the interval address counter and the cant value of the clock address counter Means (53d).
請求項5記載の基板表面変位測定装置は、請求項1に記載の発明において、前記移動機構手段は、前記光センサ又は前記基板のいずれかを移動させるモータ(42a)を有し、
前記データ取得部は、該モータによる移動量に応じた信号を出力する移動データ出力手段(51)と、該移動データ出力手段からの該信号をカウントして、該移動量の所定間隔を検出する間隔検出用カウンタ(52)と、前記所定間隔の数をカウントする間隔アドレスカウンタ(53c)と、該間隔アドレスカウンタの値を前記変位測定部からの該当する変位データに付して又は対応させて一時記憶手段(54ey)に記憶させ、該一時記憶手段から前記所定間隔毎に該所定間隔に対応する前記変位データを抽出して取得する抽出手段(54)と、を備えた。
The substrate surface displacement measuring apparatus according to
The data acquisition unit detects a predetermined interval of the movement amount by counting the signal from the movement data output means (51) that outputs a signal corresponding to the movement amount by the motor and the movement data output means. The interval detection counter (52), the interval address counter (53c) for counting the number of the predetermined intervals, and the value of the interval address counter are attached to or correspond to the corresponding displacement data from the displacement measuring unit. Extraction means (54) for storing in the temporary storage means (54ey) and extracting and acquiring the displacement data corresponding to the predetermined interval from the temporary storage means for each predetermined interval.
請求項6記載の基板表面変位測定装置は、請求項5に記載の発明において、前記モータは、回転により前記光センサ又は前記基板のいずれかを該基板に平行な第1の方向に移動させ、
該光センサは、前記第1の方向と略直交する第2の方向へ、前記光センサ又は前記基板が前記第1の方向へ移動する時間に比べ早い周期で繰り返し光学的走査をして前記変位を検出するとともに、その周期を表す周期タイミング信号を出力する構成を有し、
前記抽出手段は、前記周期タイミングに同期して前記クロックをカウントするクロックアドレスカウンタ(53b)を有し、該クロックアドレスカウンタの値と前記間隔アドレスカウンタの値とを、前記クロックに応答して前記変位測定部から出力される前記変位データに付して、又は対応させて前記一時記憶手段に記憶させて、該一時記憶手段から読み出すときに、予め決められた前記所定間隔にある間隔アドレスカウンタの値に該当する変位データを読み出すことにより抽出する構成とした。
The substrate surface displacement measuring apparatus according to
The optical sensor repeats optical scanning in a second direction substantially orthogonal to the first direction and repeats optical scanning at an earlier period than the time required for the optical sensor or the substrate to move in the first direction. And a period timing signal representing the period is output,
The extraction unit includes a clock address counter (53b) that counts the clock in synchronization with the cycle timing, and the value of the clock address counter and the value of the interval address counter are set in response to the clock. The interval address counter is located at the predetermined interval when the displacement data output from the displacement measuring unit is attached to or correspondingly stored in the temporary storage unit and read from the temporary storage unit. It was set as the structure extracted by reading the displacement data applicable to a value.
本発明によれば、駆動機構により光センサを移動(及び走査)させて測定する一方で、その駆動機構による光センサと被測定物間の移動量を基に、移動速度にかかわりなく、測定して得られた変位データから所望のデータを抽出する構成としているので、所望のほぼ一定距離間隔の変位データを取得できる。 According to the present invention, measurement is performed by moving (and scanning) the optical sensor by the driving mechanism, while measuring regardless of the moving speed based on the amount of movement between the optical sensor and the object to be measured by the driving mechanism. Since desired data is extracted from the displacement data obtained in this way, desired displacement data at a substantially constant distance can be acquired.
以下、本発明に係る基板表面変位測定装置の好適な実施の形態として、印刷はんだ検査装置に適用した構成例を、図面を参照して詳細に説明する。 Hereinafter, as a preferred embodiment of a substrate surface displacement measuring apparatus according to the present invention, a configuration example applied to a printed solder inspection apparatus will be described in detail with reference to the drawings.
図1は本発明に係る基板表面変位測定装置の全体の機能構成図である。図2は図1の光センサの詳細構成図である。図3は図1のデータ取得部の一実施形態の機能構成を示す図である。図4は、図1のデータ取得部の他の実施形態の機能構成を示す図である。図5は、図3の一実施形態の動作タイミングを示す図である。図6は、図4におけるデータ記憶手段の動作例を説明するための図である。図7は、図4におけるデータ記憶手段の他の動作例を説明するための図である。図8は走査の移動及び走査の順序(軌跡)を説明するための図である。図9はモータの動作を説明するための図である。図8及び図9は、「背景技術」の欄でも説明している。 FIG. 1 is an overall functional configuration diagram of a substrate surface displacement measuring apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a detailed configuration diagram of the photosensor of FIG. FIG. 3 is a diagram showing a functional configuration of an embodiment of the data acquisition unit of FIG. FIG. 4 is a diagram showing a functional configuration of another embodiment of the data acquisition unit of FIG. FIG. 5 is a diagram showing the operation timing of the embodiment of FIG. FIG. 6 is a diagram for explaining an operation example of the data storage means in FIG. FIG. 7 is a diagram for explaining another example of the operation of the data storage unit in FIG. FIG. 8 is a diagram for explaining scanning movement and scanning order (trajectory). FIG. 9 is a diagram for explaining the operation of the motor. 8 and 9 are also described in the “Background Art” column.
図1において、基板10は、被測定物の一例であるが、ここでは配線パターンのあるプリント板、はんだが印刷されたプリント板、もしくは部品を搭載したプリント板等を検査できる。基板表面変位測定装置は、これらのプリント板の表面の高さ方向(パターン、はんだや部品のある場合はそれらの高さ)の変位を測定する。
In FIG. 1, a
台20は、基板10を搭載している。基板表面変位測定装置として、変位測定部30における光センサ31で一時に測定できる範囲は点(或いは線)状に狭いので、基板10の表面を幅広く測定する上では、光センサ31と基板10の相対的な位置を移動させつつ、測定する必要がある。したがって、少なくとも台20又は光センサ31の一方が移動可能にされている。ここでは、光センサ31が移動可能にされ、走査部40により制御されて移動するものとして説明する。
The base 20 carries the
光センサ31は種々のものがあるが、ここでいわゆる三角測量を行う手段を挙げる。光センサ31が図8(a)又は図8(b)のいずれ手順で移動(走査)しながら測定するかで、センサ31の構成も変わる。図8(b)の場合は、光センサが光学的走査を行う必要があり、図8(a)の場合は、それがないからである。 There are various types of optical sensors 31. Here, a means for performing so-called triangulation is given. The configuration of the sensor 31 also changes depending on whether the optical sensor 31 performs measurement while moving (scanning) according to the procedure of FIG. 8A or FIG. 8B. In the case of FIG. 8B, the optical sensor needs to perform optical scanning, and in the case of FIG. 8A, it is not.
図8(a)のように光センサが基板10の測定範囲、全体を移動しながら測定を行う場合は、例えば、光センサ31は、一般的な三角測量の手法に用いられるセンサであって、光源からの光を集光して基板10の測定点を照射し、その測定点からの光を受光部(PSD:PositionSensitive Detectorで構成される。)に集光させる構成のセンサである(不図示)。例えば、特許第3893132号公報に記載のセンサヘッド(光センサ)を用いることができる。
When the optical sensor performs measurement while moving the entire measurement range of the
図8(b)のように光センサ31が移動しながら、かつ光学的走査を行う構成の1例を図2に示す。以下、図2の構成について説明する。 FIG. 2 shows an example of a configuration for performing optical scanning while the optical sensor 31 moves as shown in FIG. Hereinafter, the configuration of FIG. 2 will be described.
図2に示す光センサ31の構成は、主に基板10に光を照射する投光系と、基板10からの反射光を受ける受光系とで略構成されている。投光系は、光源1、偏向器4、レンズ5で概略構成されている。光源1は、例えばレーザダイオード等で構成され、偏向器4に対しミラ−2A、2Bを介して光(ビーム)を出射する。偏向器4としては、例えばポリゴンミラーが採用される。ポリゴンミラーは、円盤状の周囲に複数の鏡面部4aを有し、その回転によって光源1から入射された光を偏向させ、所望の走査対象範囲(図2のSL)を走査する。このポリゴンミラーからなる偏向器4では、光を片道(一方向)走査する。レンズ5は、偏向器4により扇形に走査される光を、平行になるようにして、基板20を照射する。ここで、光源1からの光を2つに分けて偏光器4にミラー2A及び2Bで照射しているのは、特許第4043258号公報に記載されているように、1つの鏡面部4aで2つの走査を行うためで、1つの鏡面部4aで1つの走査を行う場合は、ミラー2A及び2Bを介することなく直接に偏光器4に入力させても良い。光学的走査の速度或いは周期は、上記偏光器4を構成するポリゴンミラーのミラーの数、回転速度等で決定される。このポリゴンミラーは、走査部40による光センサ31の移動とは関係無く、一定速度で回転している。
The configuration of the optical sensor 31 shown in FIG. 2 is mainly configured by a light projecting system that irradiates light mainly on the
受光系は、集光レンズアレイ6、結像レンズ7、受光部8(PSD)で構成されている。集光レンズアレイ6は、互いに等しい焦点距離f1(例えば20mm)を有する複数(図2では6個)の集光レンズ部6a〜6fが走査ラインに平行に一列に並ぶように合成樹脂あるいはガラスで形成されている。各集光レンズ部6a〜6fは、その光軸に直交する面が球面状に形成され、測定光を光軸廻りに均等に絞り込むことができるレンズである。結像レンズ7は、走査の奥行き限界位置である照射点Sの走査幅より大きい径を有し、集光レンズアレイ6からのビームを収束して、受光部8の受光面8a上に結像させる。
The light receiving system includes a
また、図2では、走査終了又は開始の区切りを認識するために、片道走査の終点側となる上記走査対象範囲SLの奥側に検出用ミラー9aが配されている。走査対象範囲SLの奥側に来た光は、検出用ミラー9aで折り返され、受光手段を含む走査タイミング検出手段9bに入力される。走査タイミング検出手段9bは、検出用ミラー9aからの光を受ける都度、パルスを出力する。このパルスは、先の走査の終了時期であり、かつ次の走査の開始時期に相当するので、走査の周期Tsを示す走査タイミングでもある。これは、後にデータ取得部50aで利用される。 In FIG. 2, a detection mirror 9a is arranged on the far side of the scan target range SL, which is the end point side of the one-way scan, in order to recognize the end of the scan or the start break. The light that has come to the far side of the scanning target range SL is folded back by the detection mirror 9a and input to the scanning timing detection means 9b including the light receiving means. The scanning timing detection means 9b outputs a pulse each time it receives light from the detection mirror 9a. Since this pulse is the end time of the previous scan and corresponds to the start time of the next scan, it is also a scan timing indicating the scan cycle Ts. This is used later by the data acquisition unit 50a.
走査部40は、移動制御手段41と移動機構手段42備えている。移動制御手段41は、設計情報記憶部80に記憶されている被測定物である基板10の測定範囲を示すレイアウト情報を受けて、その測定範囲を光センサ31が移動もしくは走査可能に移動機構手段42を制御する。移動機構手段42は、この例では回転形のモータ42a、及び光センサ31に連結されてモータ42aからの回転力を伝達して移動させる、ギヤ等で構成される伝達機構(不図示)を備えている。モータ42aの回転角と光センサ31が伝達機構により移動する移動量(移動距離)は、リニアな比例関係にある。
The
また、モータ42aは、光センサ31を図8(a)のように移動させるときは、図8(a)で左端(右端)で始動し(1ラインの移動を開始させ)、加速、等速、減速、そして右端(左端)で停止する(1ラインの移動を終了させる)動作を行う。モータ42aは、光センサ31を図8(b)のように移動させるときは、図8(b)で上端で始動し(移動を開始させ)、加速、等速、減速、そして下端で停止する(移動を終了させる)動作を行う。つまり、移動期間中のモータ42aの速度が変化している。
Further, when moving the optical sensor 31 as shown in FIG. 8A, the
変位測定部30は、上記の光センサ31の外、測定手段32を有する。測定手段32は、変位算出手段32a及びA/D変換手段32bを有する。A/D変換手段32bは、一定周期Tcのクロックで信号光センサ31内のPSD8(受光手段)から逐次出力される2つのアナログデータのそれぞれをデジタルのデータに変換する(この2つをAとBとする)。そして、変位算出手段32aは、このデジタルデータA、Bを基に変位示すデータ(A−B)/(A+B)を算出し、これをデータ取得部50へ送る。クロック信号の周期Tcは、光センサ31が図2の構成を採る場合は、光が図2の走査範囲を走査する間(光学的走査の周期Ts)に複数ポイントのデータを取得するので、それに見合った周期である必要がある。つまり、光学的走査の周期Ts≧n×クロック周期Tc(nは、2以上の整数)にされている。このnは、いわば、周期Ts間に取得するデータのポイント数でもあり、実際は、例えば、2000ポイントに及ぶことがある。なお、変位算出手段32aをオペアンプを使用したアナログ演算で行い、その後に、A/D変換手段32bでデジタルの変位データに変換しても良い。
The
このような変位測定部30では、光センサ31が図8(a)のようにX方向及びY方向移動して、或いは図8(b)のように光センサ31がY方向に移動しつつ、X方向に走査して、それぞれ基板10上の位置(X、Y)におけるZ軸方向(高さ方向)の変位を取得することができる。つまり、三次元の変位データを得ることが可能となる。
In such a
データ取得部50aは、変位測定部32から受けたデジタルの変位データを、移動機構手段42が移動するときの移動量を基に、つまりモータ42aが回転する回転角(移動量に相当)を基に、或いはモータ42aが光センサ31を移動させた移動量(距離)を基に、移動量の所定間隔毎に取得する。つまり、移動量の所定間隔に対応する変位データだけ抽出する(他の変位データを間引く)。以下、データ取得部50aの構成の態様を示す図3、図4を基に、次の(1)、(2)、(3)に分けて詳細を説明する。次の(1)、(2)の例は、主に、光センサ31の移動,走査が図8(b)と同様な動きとする場合であり、(3)は、図8(a)と同様な動作をする場合である。
The data acquisition unit 50a uses digital displacement data received from the
(1)図3の構成で、図5(a)(図8(b)と同様)のように光センサ31が主走査(移動)し、かつその主走査の過程で副走査(光学的走査)が行われる場合について説明する。図3で、図1、及び図2と同一符号のブロックは同一機能を有する。 (1) In the configuration of FIG. 3, the optical sensor 31 performs main scanning (moving) as shown in FIG. 5A (similar to FIG. 8B), and sub-scanning (optical scanning) in the main scanning process. ) Will be described. In FIG. 3, blocks having the same reference numerals as those in FIGS. 1 and 2 have the same functions.
図5(a)は、光センサ31の移動方向(主走査方向:図5(a)の横方向)と自身の光学的走査方向(副走査方向:図5(a)の縦方向)を示す。測定手段32は、光センサ31が測定して得たアナログデータをA/D変換手段32bで所定周期Tcのデジタルのデータに変換し、そのデジタルのデータを基に変位算出手段32aが算出した変位データをデータ取得部50aの抽出手段53へ送っている。そのA/D変換器32bがクロックでデジタルの変位データにして送るタイミングは、抽出手段53側の動作タイミングを関係なく独自のタイミングである。その変位データのタイミング(=クロックのタイミング)を図5(b)(イ)に示す。図5(b)(ロ)は、上記した図2の走査タイミング検出手段9bが検出した光学的走査の周期タイミングTsを示すパルスである。この周期タイミングの一つのパルス間隔が光学的走査の一周期Tsである。図5(b)(イ)と図5(b)(ロ)とは、光学的走査の一周期内に複数(n固)の変位データが取得されていることを示している。 FIG. 5A shows the moving direction of the optical sensor 31 (main scanning direction: horizontal direction of FIG. 5A) and its own optical scanning direction (sub-scanning direction: vertical direction of FIG. 5A). . The measuring means 32 converts analog data obtained by measurement by the optical sensor 31 into digital data having a predetermined period Tc by the A / D conversion means 32b, and the displacement calculated by the displacement calculating means 32a based on the digital data. The data is sent to the extraction means 53 of the data acquisition unit 50a. The timing that the A / D converter 32b sends as digital displacement data with a clock is a unique timing regardless of the operation timing on the extraction means 53 side. The displacement data timing (= clock timing) is shown in FIGS. FIGS. 5B and 5B are pulses showing the optical scanning cycle timing Ts detected by the scanning timing detection means 9b shown in FIG. One pulse interval of this cycle timing is one cycle Ts of optical scanning. FIGS. 5B and 5B and FIG. 5B and FIG. 5B show that a plurality of (n solid) displacement data are acquired within one optical scanning cycle.
一方、図3において、データ取得部50aは、エンコーダ51、間隔検出用カウンタ、及び抽出手段53を備えている。エンコーダ51(請求項に記載の「移動データ検出手段」に相当)は、移動機構手段42のモータ42aが回転した回転角(請求項に記載の「移動量」に相当)に応じた信号を検出する。エンコーダ51は、モータ42aの回転軸に取り付けられ、回転角を移動量として直接検出してもよいし、モータ42aの回転力を光センサ42aの直線運動に変えて伝達する途中の伝達機構に設けても良い。高分解能のエンコーダを搭載した市販のモータを利用することもできる。
On the other hand, in FIG. 3, the data acquisition unit 50 a includes an
間隔検出用カウンタ52は、エンコーダ51が出力する移動量を受けてその移動量の所定間隔(ΔL)毎の変化を検出する。つまり、移動量をカウントし、その移動量が一定量変化する毎にパルスを出力する。モータ42aの回転角、つまりエンコーダ51が出力する移動量と、光センサ31の移動量(移動距離)とは、リニアに対応しているので、図5(b)に示すように、間隔検出用カウンタ52は、光センサ31の移動距離が一定の移動距離間隔ΔL(図5(b)(ニ))だけ変化するのを検出して、検出した時点でパルスを出力する(図5(b)(ハ))。その間隔検出用カウンタ52が出力するパルスの時間間隔Twは、上記したようにモータ42aが、始動、加速、等速、減速、停止の一連の動作を行い、その速度が変化するので、その速度の変化に対応している(図5(b)(ハ)のΔt1,Δt2,・・・・)。時間間隔Twは、モータ42aが等速回転しているときに、一番小さく値(以下、「minTw」と言う。)となり、等速期間中は一定になる。図5(b)(ハ)のΔt4がminTwに相当する。この最小の時間間隔minTwは、光学的走査の周期Ts(例えば、250μs)、及びクロック周期Tc(例えば、20μs)とは次の大小関係がある。
最小時間間隔minTw≧m×光学的走査の周期Ts(mは、2以上の整数)、
光学的走査の周期Ts≧n×クロック周期Tc(nは、2以上の整数)
なお、予めこの関係が成り立つように、モータ42a、偏光器4を構成するポリゴンミラー、クロックを発生するクロック発生器等の動作条件が設定されている。
The
Minimum time interval minTw ≧ m × period Ts of optical scanning (m is an integer of 2 or more),
Optical scanning period Ts ≧ n × clock period Tc (n is an integer of 2 or more)
It should be noted that operating conditions such as a
間隔アドレスカウンタ53cは、間隔検出用カウンタ52が出力する、一定間隔の移動距離ΔLを示すパルスをカウントして、データ記憶手段53dにアドレス情報として出力する(図5(b)(ホ)を参照)。
The
ゲート手段53aは、間隔検出用カウンタ52が出力するパルスの時間間隔Twに入る、走査タイミング検出手段9bからの周期タイミングTsの内、1周期分を抜き取り、その1周期分を示す信号をクロックアドレスカウンタ53bに出力する。この1周期分は、時間間隔Twに入るm個の周期タイミングTsの内、いずれでも良い。例えば、ゲート手段53は、カウンタを備え、そのカウンタに間隔検出用カウンタ52からのパルスを受けてカウント開始状態にさせ、その後の走査タイミング検出手段9bからの周期タイミングTsを示すパルスの2個目(1周期分)をカウントして終了し、次の間隔検出用カウンタ52からのパルスを待つ状態にさせる動作を繰り返えさせれば、間隔検出用カウンタ52からのパルスを受けた直後の周期タイミングTsの1周期分を検出できる(図5(b)(ヘ)を参照)。
The gate unit 53a extracts one cycle from the cycle timing Ts from the scanning timing detection unit 9b that enters the time interval Tw of the pulse output by the
クロックアドレスカウンタ53bは、クロックの中から、ゲート手段53aが周期タイミングの中から抜き取った周期タイミングTsの1周期の期間内のクロックだけをカウントし、それをアドレス情報としてデータ記憶手段53dへ送る。図5(b)(ヘ)に、ゲート手段53aが周期タイミングの中から抜き取った1周期の期間内のクロックを示す。図5(b)(ヘ)は、そのクロックに対応する変位データのタイミングでもある。
The
抽出手段53のデータ記憶手段53dは、測定手段32から受ける変位データの内、間隔アドレスカウンタ53cからのアドレス情報とクロックアドレスカウンタ53bからのアドレス情報に対応する変位データだけをそれらのアドレス情報にしたがったアドレスに記憶する。図5(b)(ヘ)のタイミングに相当する変位データが記憶される。なお、抽出手段53としては、データ記憶手段53dに記憶された変位データが、どの光学的走査(図5(a)の主走査の位置、つまり横方向の位置)における何番目のクロック(図5(a)の副走査の位置、つまり縦方向の位置)に対応する変位データかを特定できれば良い。つまり、基板10のどの位置における変位データかを特定できるように記憶できれば良い。したがって、例えば、間隔アドレスカウンタ53cからのアドレス情報を取得データの上位ビット、クロックアドレスカウンタ53bからのアドレス情報を取得データの中位ビット、それらに対応する変位データを取得データの下位ビットとして一連の取得データとして、順次読みだせるように記憶しておく構成であっても良い。
The data storage means 53d of the extracting means 53 uses only the displacement data corresponding to the address information from the
(2)図4の構成で、図5(a)(図8(b)と同様)のように光センサ31が主走査(移動)し、かつその主走査の過程で副走査(光学的走査)が行われる場合について説明する。ただし、上記(1)の場合は、データ記憶手段53dの前でほぼ抽出する変位データの対象を絞って記憶させることにより抽出していたが、(2)の場合は、データ記憶手段54eに全変位データを記憶させ、読み出すときに必要な移動間隔に対応する変位データを抽出(間引き)しようとするものである。図1、図2及び図3と同一符号のブロックは同一機能を有する。図3と異なる部分である、データ取得部50b内のデータ抽出手段54を中心に説明する。 (2) In the configuration of FIG. 4, the optical sensor 31 performs main scanning (moving) as shown in FIG. 5A (similar to FIG. 8B), and sub-scanning (optical scanning) in the course of the main scanning. ) Will be described. However, in the case of (1) above, the displacement data to be extracted is extracted by narrowing down the target in front of the data storage means 53d. However, in the case of (2), all data is stored in the data storage means 54e. It is intended to extract (thinning out) displacement data corresponding to the movement interval necessary for storing and reading out the displacement data. The blocks having the same reference numerals as those in FIGS. 1, 2 and 3 have the same functions. The description will focus on the data extraction means 54 in the data acquisition unit 50b, which is different from FIG.
なお、時間間隔、最小の時間間隔minTw、光学的走査の周期Ts、及びクロック周期Tc並びにそれらの関係も(1)と同一である。 The time interval, the minimum time interval minTw, the optical scanning cycle Ts, the clock cycle Tc, and their relationship are also the same as in (1).
図4におけるクロックアドレスカウンタ53bは、周期タイミングを受ける毎にカウンタ値をセットし、クロックをカウントする。つまり、副走査が行われる毎に、クロックをカウントし、変位データのアドレス情報(1,2,3、・・n−1、n)を生成する。
The
書込手段54exは、周期タイミングを基準として、周期タイミング、クロックアドレスカウンタ53bが出力するアドレス情報、及び間隔アドレスカウンタ53cが出力するアドレス情報で決定されるアドレスに対応する時間の変位データを一時記憶手段54eyに記憶させる。それを表形式で示した図が図6に記載の書込データである。それぞれのアドレス情報で決定されるアドレスに記憶させる形式でも良いが、変位データ、周期タイミング及び各アドレス情報を対応させて記憶させるようにしてもよい。図6で間隔アドレスは、モータ42aが加速度を上げて等速になるにしたがって、同一値を示す期間が長い方から短い方へ変化し、そして一定になる。
The writing unit 54ex temporarily stores the displacement data of the time corresponding to the address determined by the cycle timing, the address information output from the
読出手段54ezは、次段の画像生成手段60からの予め決められた指示、例えば、間隔アドレスが同一値の範囲にある周期タイミングの内、その同一値の範囲の内2番目の周期タイミングにあるクロックアドレスの変位データを取得する指示を受けて、指示の変位データを読み出す。例えば、図6の読出データ○印が付してある欄の変位データ(いわばこれが有効データである。)を読み出して、画像生成手段60へ送る。
The reading unit 54ez is in a predetermined instruction from the next-stage
なお、図4に点線で示すように間隔アドレスカウンタ53cを使用せずに、間隔検出用カウンタ52の値もしくはエンコーダ51の値を書込手段54exに入力して、図7のように間隔検出用カウンタ52の値もしくはエンコーダ51の値を対応する時間における周期タイミングや変位データとともに記憶させても良い。この場合は、エンコーダ51の絶対値を記憶することになるので、読み出し指示は、例えば、図7では、間隔検出用カウンタの値が10置きに越えたあとの2番目の周期タイミングにおける変位データを読みとる指示であれば良い。つまり、図6では、書込側で読み出し間隔情報も記憶していたが、図7では、読み出し間隔の情報は記憶させないで指示側で指定する行う構成としたものである。
As shown by a dotted line in FIG. 4, without using the
(3)光センサ31が図8(a)と同様に移動して変位を測定する場合
この場合は光センサ31における光学的走査がないので、いわば図5(b)(ロ)の周期タイミングが無い。そのため例えば、図4の構成では、間隔検出用カウンタ52の出力がクロックアドレスカウンタ53bに送られる。そして、クロックアドレスカウンタ53bは、間隔検出用カウンタ52の出力を受けるたびに、リセットして測定手段32からの変位データをカウントする。
(3) When the optical sensor 31 moves and measures displacement in the same manner as in FIG. 8 (a) In this case, since there is no optical scanning in the optical sensor 31, the cycle timing in FIG. No. Therefore, for example, in the configuration of FIG. 4, the output of the
そして、書込手段54exは、クロックアドレスカウンタ53bのカウンタ値と間隔アドレスカウンタ53cのカウンタ値で決定されるアドレスに、対応するタイミングにある変位データを一時記憶手段54eに記憶させる。この記憶状態は、いわば、図6及び図7のそれぞれにおいて、周期タイミングの項が無い状態である。読出手段54ezは、間隔アドレスカウンタ53cのカウンタ値が変化した後(図6の場合)、もしくは間隔検出用カウンタ52のカウンタ値(出力)が変化した後(図7の場合)の1つの変位データを読み出す指示を受けて読み出せばよい。この場合は、光センサ31が一定距離間隔ΔLだけ変化する毎に1つの変位データだけ取得すれば良い。
Then, the writing means 54ex causes the temporary storage means 54e to store the displacement data at the timing corresponding to the address determined by the counter value of the
図1に戻って、画像生成手段60は、データ取得部50(50a,50b)で取得された変位データを受けて、或いは読み出して、変位データが測定されたときの位置情報(X、Y)で示される座標位置にその変位データに相当する高さ(Z)を有する画像データを生成する。これを各座標について行うことにより、基板10の表面の形状を測定した画像を三次元画像データとして表す。なお、位置情報は、上記(1)(2)の場合は、間隔アドレスカウンタ53cのカウンタ値(図5(a)のX軸)とクロックアドレスカウンタ53bのカウンタ値(図5(a)のY軸)で表されているので、走査部40による最初の走査開始位置、方向を予め決めて置けば、生成できる。なお、上記(3)の場合は、走査部40による、図8(a)の移動方向、順序、及び変位データの取得時の一定の距離間隔さえ決めておけば、データ取得部で取得した変位データをその順序で、かつ一定距離間隔でプロットしていくことで、生成できる。
Returning to FIG. 1, the image generation means 60 receives or reads out the displacement data acquired by the data acquisition unit 50 (50a, 50b), and positional information (X, Y) when the displacement data is measured. Image data having a height (Z) corresponding to the displacement data is generated at the coordinate position indicated by. By performing this for each coordinate, an image obtained by measuring the shape of the surface of the
判定手段70は、基板10の表面の形状が許容範囲にあるかどうかを判定するのである。予め、基板10のレイアウトに沿って、設計上の(或いは理想的な)表面形状を示す三次元画像データを基準データとして設計情報記憶部80に記憶されているので、その基準データと、画像生成手段60が測定値に基づいて作成した三次元データと、を比較して、それらの差が許容値内か否かを判定し、許容値内であれば合格の判定をする。例えば、基板10がはんだ印刷された基板であれば、そのはんだ箇所毎に合否判定が行われる。
The
ユーザインタフェース90は、表示制御手段91、表示手段92及び走査手段93を備えている。表示制御手段91は、基板10の合否の判定結果を表示手段93に表示させるとともに、例えば、不合格と判定されたはんだ箇所あれば、基板10のはんだ箇所を示すレイアウトを表示するとともに、その不合格と判定された箇所に認識可能な表示(色又はマーク)をする。
The
また、表示制御手段91は、測定の案内画面を表示させて、操作者による走査手段93による操作をガイド、支援する。 Further, the display control means 91 displays a measurement guidance screen to guide and support the operation of the scanning means 93 by the operator.
設計情報記憶手段80は、既に上記したように、被測定物である基板10の寸法、印刷はんだの位置等を示すレイアウト、判定の基準となる基準データ等を記憶している。
As already described above, the design
本発明は上記のように、光センサによる変位データの取得動作においては、走査部40の移動速度とは関係なく変位データを取得し、その後で、走査部40のモータの回転角(移動量)を基に、取得された変位データから所定距離間隔の変位データのみを抽出する構成とした。
As described above, according to the present invention, in the displacement data acquisition operation by the optical sensor, the displacement data is acquired regardless of the moving speed of the
1 投光手段、8 PSD(受光手段)、9a 検出用ミラー、9b 走査タイミング検出手段、10 基板(プリント基板)、20 台、30 変位測定部、31 光センサ、
32 測定手段、32a 変位算出手段、32b A/D変換手段、40 走査部、
41 移動制御手段、42 移動機構手段、50、50a、50b データ取得部、
51 エンコーダ(移動データ出力手段)、52 間隔検出用カウンタ、
53 抽出手段、53a ゲート手段、53b クロックアドレスカウンタ、
53c 間隔アドレスカウンタ、53d データ記憶手段、54 抽出手段、
54e データ記憶手段、60 画像生成手段、70 判定手段、
80 設計情報記憶手段、90 ユーザインタフェース、91 表示制御手段、
92 表示手段、93 操作手段
DESCRIPTION OF
32 measurement means, 32a displacement calculation means, 32b A / D conversion means, 40 scanning unit,
41 movement control means, 42 movement mechanism means, 50, 50a, 50b data acquisition unit,
51 encoder (movement data output means), 52 interval detection counter,
53 extraction means, 53a gate means, 53b clock address counter,
53c interval address counter, 53d data storage means, 54 extraction means,
54e data storage means, 60 image generation means, 70 determination means,
80 design information storage means, 90 user interface, 91 display control means,
92 display means, 93 operation means
Claims (6)
前記走査部内に備えられ、前記光センサ又は前記基板のいずれかを移動させ、かつ該移動させる速度が変化する移動機構手段(42)と、該移動機構手段が移動するときの移動量を基に、前記変位測定部からの前記変位データから、該移動量の所定間隔毎に変位データを抽出するデータ取得部(50)と、抽出された該所定間隔毎の変位データを基に、前記基板の表面上の形状を示す画像データを生成する画像生成手段(60)と、を備えたことを特徴とする基板表面変位測定装置。 A displacement measuring unit that has a light sensor that irradiates light on the surface of the substrate and receives the reflected light, and outputs digital displacement data indicating the displacement in the height direction of the surface in response to the output of the light sensor. 30) and a scanning section (40) for scanning the relative position of the photosensor with respect to the substrate by moving the photosensor and the substrate relative to each other, and measuring displacement on the surface of the substrate In the substrate surface displacement measuring device to
Based on the moving mechanism means (42) that is provided in the scanning unit and moves either the optical sensor or the substrate and changes the moving speed, and the amount of movement when the moving mechanism means moves. A data acquisition unit (50) for extracting displacement data from the displacement data from the displacement measuring unit at predetermined intervals of the movement amount, and based on the extracted displacement data at the predetermined intervals, A substrate surface displacement measuring apparatus comprising: image generation means (60) for generating image data indicating a shape on the surface.
前記データ取得部は、該モータによる移動量に応じた信号を出力する移動データ出力手段(51)と、該移動データ出力手段からの該信号をカウントして、該移動量の前記所定間隔を検出する間隔検出用カウンタ(52)と、前記変位測定部から検出された該所定間隔毎に前記変位データを抽出する抽出手段(53)と、を備えたことを特徴とする請求項1に記載の基板表面変位測定装置。 The moving mechanism means includes a motor (42a) that moves either the optical sensor or the substrate,
The data acquisition unit counts the signal from the movement data output means (51) that outputs a signal corresponding to the movement amount by the motor, and detects the predetermined interval of the movement amount. 2. The apparatus according to claim 1, further comprising: an interval detection counter (52) that performs detection, and an extraction unit (53) that extracts the displacement data for each predetermined interval detected from the displacement measurement unit. Substrate surface displacement measuring device.
該光センサは、前記第1の方向と略直交する第2の方向へ、前記光センサ又は前記基板が前記第1の方向へ移動する時間に比べ早い周期で繰り返し光学的走査をして前記変位を検出するとともに、その周期を表す周期タイミング信号を出力する構成を有しており、
前記抽出手段は、各前記所定間隔における特定の該周期タイミングにおける前記光学的走査に基づく前記変位データを抽出することを特徴とする請求項2に記載の基板表面変位測定装置。 The motor moves either the optical sensor or the substrate by rotation in a first direction parallel to the substrate,
The optical sensor repeats optical scanning in a second direction substantially orthogonal to the first direction and repeats optical scanning at an earlier period than the time required for the optical sensor or the substrate to move in the first direction. And a period timing signal representing the period is output,
3. The substrate surface displacement measuring apparatus according to claim 2, wherein the extracting unit extracts the displacement data based on the optical scanning at a specific cycle timing at each predetermined interval.
前記データ取得部は、該モータによる移動量に応じた信号を出力する移動データ出力手段(51)と、該移動データ出力手段からの該信号をカウントして、該移動量の所定間隔を検出する間隔検出用カウンタ(52)と、前記所定間隔の数をカウントする間隔アドレスカウンタ(53c)と、該間隔アドレスカウンタの値を前記変位測定部からの該当する変位データに付して又は対応させて一時記憶手段(54ey)に記憶させ、該一時記憶手段から前記所定間隔毎に該所定間隔に対応する前記変位データを抽出して取得する抽出手段(54)と、を備えたことを特徴とする請求項1に記載の基板表面変位測定装置。 The moving mechanism means includes a motor (42a) that moves either the optical sensor or the substrate,
The data acquisition unit detects a predetermined interval of the movement amount by counting the signal from the movement data output means (51) that outputs a signal corresponding to the movement amount by the motor and the movement data output means. The interval detection counter (52), the interval address counter (53c) for counting the number of the predetermined intervals, and the value of the interval address counter are attached to or correspond to the corresponding displacement data from the displacement measuring unit. And an extracting means (54) for storing in the temporary storage means (54ey) and extracting and acquiring the displacement data corresponding to the predetermined interval from the temporary storage means at every predetermined interval. The substrate surface displacement measuring apparatus according to claim 1.
該光センサは、前記第1の方向と略直交する第2の方向へ、前記光センサ又は前記基板が前記第1の方向へ移動する時間に比べ早い周期で繰り返し光学的走査をして前記変位を検出するとともに、その周期を表す周期タイミング信号を出力する構成を有し、
前記抽出手段は、前記周期タイミングに同期して前記クロックをカウントするクロックアドレスカウンタ(53b)を有し、該クロックアドレスカウンタの値と前記間隔アドレスカウンタの値とを、前記クロックに応答して前記変位測定部か出力される前記変位データに付して、又は対応させて前記一時記憶手段に記憶させて、該一時記憶手段から読み出すときに、予め決められた前記所定間隔にある間隔アドレスカウンタの値に該当する変位データを読み出すことにより抽出することを特徴とする請求項5に記載の基板表面変位測定装置。 The motor moves either the optical sensor or the substrate by rotation in a first direction parallel to the substrate,
The optical sensor repeats optical scanning in a second direction substantially orthogonal to the first direction and repeats optical scanning at an earlier period than the time required for the optical sensor or the substrate to move in the first direction. And a period timing signal representing the period is output,
The extraction unit includes a clock address counter (53b) that counts the clock in synchronization with the cycle timing, and the value of the clock address counter and the value of the interval address counter are set in response to the clock. The interval address counter of the predetermined interval that is predetermined when the displacement data outputted from the displacement measuring unit is stored in the temporary storage means in association with or corresponding to the displacement data and is read from the temporary storage means. 6. The substrate surface displacement measuring device according to claim 5, wherein the displacement data corresponding to the value is extracted by reading.
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