JP2009239188A - Method of manufacturing printed circuit board - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、プリント配線板に関し、詳細には、高放熱性と、フィルドビアによる高密度構造とを備え、しかも高精度な表層回路を有するプリント配線板の製造方法に関する。 The present invention relates to a printed wiring board, and more particularly to a method for manufacturing a printed wiring board having high heat dissipation and a high-density structure using filled vias and having a highly accurate surface layer circuit.
半導体素子を搭載するプリント配線板は、高密度が進むとともに、搭載する半導体素子も高性能となり、より発熱を伴うものとなっている。このため、高放熱性を有するプリント配線板が要求されている。高放熱性を実現する手段としては、貫通孔にめっきを形成し、基板表面に搭載した半導体素子の熱を、貫通孔を通して裏面に設けたヒートシンクへ放熱するものが知られている(特許文献1、2)。 A printed wiring board on which a semiconductor element is mounted has a high density, and the semiconductor element to be mounted has a high performance and more heat generation. For this reason, the printed wiring board which has high heat dissipation is requested | required. As means for realizing high heat dissipation, there is known a method in which plating is formed in a through hole and the heat of a semiconductor element mounted on a substrate surface is radiated to a heat sink provided on the back surface through the through hole (Patent Document 1). 2).
他方、高性能な半導体素子を搭載するために、より高密度なプリント配線板が要求されている。高密度化の要求に応えるプリント配線板としては、表層回路と内層回路とを、非貫通孔や貫通孔で層間接続するプリント配線板がある。このようなプリント配線板では、非貫通孔の上下に他の層の非貫通孔を積み重ねて形成することを可能にすることにより、より高密度化に対応できる、いわゆるフィルドビアを備えたプリント配線板が考案されている(特許文献3)。フィルドビアとは、銅めっきを充填した非貫通孔を言い、非貫通孔に銅めっきを充填するためのめっきを、フィルドビアめっきと言う。 On the other hand, in order to mount a high-performance semiconductor element, a higher-density printed wiring board is required. As a printed wiring board that meets the demand for higher density, there is a printed wiring board that connects a surface layer circuit and an inner layer circuit between non-through holes and through holes. In such a printed wiring board, a printed wiring board provided with a so-called filled via, which can cope with higher density by allowing non-through holes of other layers to be stacked and formed above and below the non-through holes. Has been devised (Patent Document 3). The filled via refers to a non-through hole filled with copper plating, and plating for filling the non-through hole with copper plating is referred to as filled via plating.
上記のプリント配線板では、貫通孔を介した高放熱化や、フィルドビアによる高密度化を図るためには、貫通孔や非貫通孔に銅めっきを厚く形成する必要があり、基板表面も同時にめっきされるため、基板表面の銅厚も厚くなってしまう。また、電気めっきで厚付けするため、表層のめっき厚のばらつきがどうしても大きくなってしまい、エッチングによって形成される表層回路の精度が確保し難い問題がある。 In the above printed wiring board, in order to achieve high heat dissipation through the through-holes and high density by filled vias, it is necessary to form copper plating thickly in the through-holes and non-through-holes, and the substrate surface is also plated at the same time. Therefore, the copper thickness on the substrate surface is also increased. Further, since the thickness is increased by electroplating, the variation in the plating thickness of the surface layer inevitably increases, and there is a problem that it is difficult to ensure the accuracy of the surface layer circuit formed by etching.
このため、フィルドビアを形成する方法としては、基板表面の銅箔上に保護フィルムを貼っておき、この上からレーザ加工で非貫通孔を形成し、この非貫通孔に電気銅めっきでフィルドビアを形成し、その後、表面の保護フィルムを剥離することで、基板表層に電気銅めっきを形成しないようにして、表層めっきの厚みとそのばらつきを抑制したものがある(特許文献4)。また、非貫通孔を形成後、非貫通孔とそのランド以外にはめっきが着かないように、めっきレジストを形成した上で、電気銅めっきだけでフィルドビアめっきを行うものがある(特許文献5)。
しかしながら、特許文献4では、非貫通孔と保護フィルムの開口が同等の大きさなので、非貫通孔以外にはほとんどめっきされない。このため、非貫通孔のめっきと表層銅箔との接続は、表層銅箔の端面のみとなり、接続信頼性の確保が難しい問題がある。特許文献5では、ランドとなる表層までめっきは形成されるものの、ランドとそれ以外の表層との間に段差が生じるため、フォトリソグラフ法により回路を形成する際に、フォトレジストが追従、密着し難く、表層回路の仕上り精度に支障が生じる問題がある。
However, in
本願発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、貫通孔には高放熱性を確保可能な厚みの銅めっきを形成し、非貫通孔には銅めっきを充填したフィルドビアを形成しつつ、表層の銅の厚みばらつきを低減することにより、高放熱性で、高密度構造を形成可能であり、しかも、表層回路を高精度で形成することが可能なプリント配線板の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, while forming a copper plating with a thickness capable of ensuring high heat dissipation in the through hole, and forming a filled via filled with copper plating in the non-through hole, To provide a method of manufacturing a printed wiring board capable of forming a high-density structure with high heat dissipation and forming a surface layer circuit with high accuracy by reducing variations in surface copper thickness. With the goal.
本発明は、次のものに関する。
(1) 内層回路を形成した内層基板の上に、絶縁層と表層となる銅箔とを積層し、多層板を形成する工程と、前記多層板に、層間接続のための非貫通孔および貫通孔を形成する工程と、前記非貫通孔内、貫通孔内、および表層の銅箔上に、無電解銅めっきと電気銅めっきの両めっきを形成する工程とを有し、前記両めっきを形成する工程においては、前記貫通穴内には、前記無電解銅めっきの厚みが、前記電気銅めっきの厚みと同等以上となるように形成されるとともに、前記非貫通孔内には、前記両めっきによりフィルドビアが形成されるプリント配線板の製造方法。
(2) (1)において、電気銅めっきを行った後の貫通孔に、孔埋め樹脂を充填する工程と、表層の電気銅めっき表面からハーフエッチングすることにより、前記表層の無電解銅めっきの厚みが、貫通孔内の無電解銅めっきの厚みよりも薄くなるように減少させる工程と、前記貫通穴から突出した孔埋め樹脂を研磨する工程と、研磨後の孔埋め樹脂および表層にふためっきを形成する工程と、このふためっきを形成した表層をエッチングして回路を形成する工程と、を有するプリント配線板の製造方法。
The present invention relates to the following.
(1) A step of laminating an insulating layer and a copper foil as a surface layer on an inner layer substrate on which an inner layer circuit is formed, and forming a multilayer board; and a non-through hole and a through hole for interlayer connection in the multilayer board Forming a hole, and forming both the electroless copper plating and the electrolytic copper plating on the non-through hole, in the through hole, and on the surface copper foil, and forming both the platings In the step of forming, in the through hole, the thickness of the electroless copper plating is equal to or greater than the thickness of the electrolytic copper plating, and in the non-through hole, A method of manufacturing a printed wiring board on which filled vias are formed.
(2) In (1), the step of filling the through hole after electrolytic copper plating with a hole filling resin, and half etching from the surface of the electrolytic copper plating surface, the electroless copper plating of the surface layer A step of reducing the thickness to be thinner than the thickness of the electroless copper plating in the through hole, a step of polishing the filling resin protruding from the through hole, and a plating on the filling resin and the surface layer after polishing And a step of etching the surface layer on which the lid is formed to form a circuit.
本発明によれば、貫通孔には高放熱性を確保可能な厚みの銅めっきを形成し、非貫通孔には銅めっきを充填したフィルドビアを形成しつつ、表層の銅の厚みを薄く形成することにより、高放熱性で、高密度構造を形成可能であり、しかも、表層回路を高精度で形成することが可能なプリント配線板の製造方法を提供することができる。 According to the present invention, a copper plating having a thickness capable of ensuring high heat dissipation is formed in the through hole, and a filled via filled with copper plating is formed in the non-through hole, and the copper thickness of the surface layer is formed thin. Accordingly, it is possible to provide a method of manufacturing a printed wiring board that can form a high-density structure with high heat dissipation and can form a surface layer circuit with high accuracy.
図1から図4に、本発明のプリント配線板の製造方法の一例を示す。まず、図1(a)、(b)に示すように、コア層2と銅箔4からなる銅張積層板にNC穴明けにより貫通孔15を設ける。つぎに図1(c)、(d)に示すように、貫通孔15および銅箔4に電解銅めっき層5を設け、エッチング等により内層回路16を形成して内層基板を作製する。つぎに、図2(a)に示すように、内層回路16の上に絶縁層6を設け、絶縁層6の上に表層20となる銅箔7を設ける。つぎに、図2(b)に示すように、表層20の銅箔7にエッチングにより開口を設けて絶縁層6を露出させた後、非貫通孔17をレーザにより形成する。また、貫通孔18をNC穴明けにより形成する。つぎに、図2(c)、(d)に示すように、貫通孔18、および表層20の銅箔7に無電解銅めっき層19および電気銅めっき層24を設けると同時に、非貫通孔17にフィルドビア23を形成する。無電解銅めっき19と電気銅めっき24を形成する工程においては、貫通孔18内には、無電解銅めっき19の厚みが、電気銅めっき24の厚みと同等以上となるように形成されるとともに、非貫通孔17内には、両めっきによりフィルドビア23が形成される。
1 to 4 show an example of a method for producing a printed wiring board according to the present invention. First, as shown in FIGS. 1A and 1B, a through-
これにより、貫通孔には高放熱性を確保可能な厚みの銅めっきを形成し、非貫通孔には銅めっきを充填したフィルドビアを形成しつつ、表層の銅の厚みばらつきを低減することにより、高放熱性で、高密度構造を形成可能であり、しかも、表層に高精度回路を形成することが可能なプリント配線板の製造方法を提供することができる。 Thereby, by forming copper plating with a thickness capable of ensuring high heat dissipation in the through hole, and forming a filled via filled with copper plating in the non-through hole, by reducing the thickness variation of the copper of the surface layer, It is possible to provide a printed wiring board manufacturing method capable of forming a high-density structure with high heat dissipation and capable of forming a high-precision circuit on the surface layer.
つぎに、図3(a)、(b)に示すように、貫通孔18内に孔埋め樹脂25を充填後、ハーフエッチングにより表層20の銅厚を減少させる。このとき、表層20の無電解銅めっき19の厚みが、貫通孔18内の無電解銅めっき19の厚みよりも薄くなるようにする。つまり、表層20は、最上面が電気銅めっき24であり、その下側に無電解銅めっき19、さらにその下側に銅箔7という構造であるが、ハーフエッチングは、最上面の電気銅めっき24を完全に除去し、さらにその下側の無電解銅めっき19まで達するように行われるのが望ましい。つぎに、図3(c)、(d)に示すように、突出した孔埋め樹脂25を機械研磨機で除去し、孔埋め樹脂25の表面、およびハーフエッチ後に残った表層20に、電気めっきによってふためっき26を形成し、その後エッチングにより表層回路22を形成する。
Next, as shown in FIGS. 3A and 3B, after filling the
これにより、貫通孔には高放熱性を確保可能な厚みの銅めっきを形成し、非貫通孔には銅めっきを充填したフィルドビアを形成しつつ、表層の銅の厚みばらつきを低減し、この表層の銅厚を減少させてからエッチングにより回路形成を行うことにより、表層回路を形成する際のラインスペースの寸法精度が優れたプリント配線板の製造方法を提供することができる。 As a result, copper plating having a thickness capable of ensuring high heat dissipation is formed in the through-hole, and filled vias filled with copper plating are formed in the non-through-hole, while reducing the thickness variation of the copper on the surface layer. By forming a circuit by etching after reducing the copper thickness, a method for manufacturing a printed wiring board having excellent line space dimensional accuracy when forming a surface layer circuit can be provided.
最後に、図4(a)、(b)に示すように、表層回路22にソルダレジスト層27を形成し、表層回路22の露出した部分にニッケル・金めっき層28を設ける。
Finally, as shown in FIGS. 4A and 4B, a
図5に、本発明の製造方法を用いて製造したプリント配線板の一例を示す。このプリント配線板は、表層回路22と、内層回路16と、これらの層間に層間接続孔(貫通孔18、非貫通孔17)を有し、この層間接続孔18、17内に無電解銅めっき19と電気銅めっき24の両者が形成されるプリント配線板1であって、前記層間接続孔18、17内の無電解銅めっき19の厚みが、電気銅めっき24の厚み以上に形成される。
FIG. 5 shows an example of a printed wiring board manufactured using the manufacturing method of the present invention. This printed wiring board has a
本発明の製造方法により製造されたプリント配線板は、半導体素子を搭載して一般の半導体パッケージを構成する用途に使用することができるが、特には、搭載する半導体素子の発熱が大きいために高放熱性を要求され、しかも、表層回路には高い精度が要求される用途に使用するのが望ましい。これにより、層間接続孔を介した放熱性が高く、しかも表層回路を高精度で形成可能なメリットをより発揮できる。 The printed wiring board manufactured by the manufacturing method of the present invention can be used for an application in which a semiconductor element is mounted to constitute a general semiconductor package. It is desirable to use in applications where heat dissipation is required and high accuracy is required for the surface layer circuit. Thereby, the heat dissipation through an interlayer connection hole is high, and the merit which can form a surface layer circuit with high precision can be exhibited more.
本発明における表層回路は、多層プリント配線板において、最表面に形成された導体回路である。本発明によって製造されるプリント配線板の表層回路は、例えば、ライン/スペースが、100μm/100μmの設計値に対して、約±20μm以下(設計値に対するばらつきが約±20%以下)の精度に形成される。ここで、本発明におけるばらつきとは、標準偏差に3を乗じた値をいい、設計値に対する割合(%)で表わす。 The surface layer circuit in the present invention is a conductor circuit formed on the outermost surface in a multilayer printed wiring board. The surface layer circuit of the printed wiring board manufactured according to the present invention has, for example, a line / space accuracy of about ± 20 μm or less (the variation with respect to the design value is about ± 20% or less) with respect to a design value of 100 μm / 100 μm. It is formed. Here, the variation in the present invention refers to a value obtained by multiplying the standard deviation by 3, and is represented by a ratio (%) to the design value.
本発明における内層回路は、多層プリント配線板において、最表面ではない内部の層の導体部に形成された回路のことである。 The inner layer circuit in the present invention is a circuit formed in a conductor portion of an inner layer that is not the outermost surface in a multilayer printed wiring board.
本発明における層間接続孔は、プリント配線板の層間を電気的に接続するために形成される孔であり、貫通孔と非貫通孔とがある。本発明における層間接続孔は、これらの両者を有する。貫通孔は、プリント配線板を厚さ方向に貫通する孔であり、この貫通孔にめっき等を行うことにより、表裏の表層同士、表層と内層、内層と他の内層とを電気的に接続することができる。非貫通孔は、プリント配線板を厚さ方向に開けられるが、貫通はせず途中で行き止まりとなる孔である。この非貫通孔にめっき等を行うことにより、表層と内層、内層と他の内層とを電気的に接続することができる。 The interlayer connection hole in the present invention is a hole formed to electrically connect the layers of the printed wiring board, and includes a through hole and a non-through hole. The interlayer connection hole in the present invention has both of these. The through-hole is a hole that penetrates the printed wiring board in the thickness direction, and by electrically plating the through-hole, the front and back surface layers, the surface layer and the inner layer, and the inner layer and the other inner layer are electrically connected. be able to. The non-through-hole is a hole that can open the printed wiring board in the thickness direction but does not penetrate but stops on the way. By plating the non-through hole, the surface layer and the inner layer, and the inner layer and the other inner layer can be electrically connected.
本発明における貫通孔は、例えば、プリント配線板の貫通孔を形成するのに一般的に用いられるような、NC加工機によるドリル穴あけによって形成することができる。貫通孔の孔径は直径0.15〜0.25mm、穴あけ直後のアスペクト比は1.5〜2.5とするのが、後述する無電解銅めっきと電気銅めっきとを組み合わせためっきを行う際のつきまわりを確保する上で望ましい。 The through hole in the present invention can be formed, for example, by drilling with an NC processing machine, which is generally used to form a through hole of a printed wiring board. The diameter of the through hole is 0.15 to 0.25 mm, and the aspect ratio immediately after drilling is 1.5 to 2.5. When plating is performed by combining electroless copper plating and electrolytic copper plating, which will be described later, It is desirable to secure the throwing power.
本発明における非貫通孔は、例えば、プリント配線板の非貫通孔を形成するのに一般的に用いられるコンフォーマル工法により形成することができる。すなわち、エッチングにより表層の銅箔に開口を設けて絶縁層を露出させておき、この絶縁層が露出した部分を狙ってレーザを照射し、内層回路に達する深さまで孔を形成することで形成することができる。非貫通孔の孔径は直径80〜150μm、深さは30〜100μmとするのが、後述する無電解銅めっきと電気銅めっきとを組み合わせためっきを行う際のビアの充填性を確保する上で望ましい。 The non-through hole in the present invention can be formed by, for example, a conformal method generally used for forming a non-through hole of a printed wiring board. That is, an opening is formed in the surface copper foil by etching to expose the insulating layer, and a laser is irradiated to aim at the exposed portion of the insulating layer, and a hole is formed to a depth reaching the inner layer circuit. be able to. The diameter of the non-through hole is 80 to 150 μm, and the depth is 30 to 100 μm, in order to ensure the fillability of vias when performing a combination of electroless copper plating and electrolytic copper plating described later. desirable.
本発明における無電解銅めっきは、外部から電流を供給することなく、めっき液中の銅イオンを、化学還元剤を用いた還元反応によって析出させるものである。本発明では、めっき液をコントロールすることで、10μm以上の厚みまでめっき可能な、いわゆる厚付け用の無電解銅めっきを使用する。このような無電解銅めっきとしては、硫酸銅、錯化剤、ホルマリン、水酸化ナトリウムを主成分とする、厚付け用の一般的な無電解銅めっき液を用いることができる。 The electroless copper plating in the present invention deposits copper ions in the plating solution by a reduction reaction using a chemical reducing agent without supplying an electric current from the outside. In the present invention, so-called thick electroless copper plating that can be plated to a thickness of 10 μm or more by controlling the plating solution is used. As such electroless copper plating, a general electroless copper plating solution for thickening, which contains copper sulfate, a complexing agent, formalin, and sodium hydroxide as main components, can be used.
本発明における電気めっきは、一般の電気銅めっきと同様に外部から電流を供給して行うものであるが、非貫通孔と貫通孔とが混在する状態で、これらを一括してめっきした場合に、非貫通孔には銅めっきを充填したフィルドビアめっきが可能であって、貫通孔には銅めっきを充填しない通常のスルーホールめっきが同時に形成可能なものである。このような電気めっきとしては、硫酸銅と添加剤を含む、いわゆる一般的なフィルドビアめっきを挙げることができる。 The electroplating in the present invention is performed by supplying an electric current from the outside in the same manner as general electrolytic copper plating. However, when these are plated together in a state where non-through holes and through holes are mixed, The filled via plating filled with copper plating is possible in the non-through holes, and the normal through hole plating not filled with the copper plating can be simultaneously formed in the through holes. Examples of such electroplating include so-called general filled via plating containing copper sulfate and an additive.
本発明においては、層間接続孔内に無電解銅めっきと電気銅めっきの両めっきが形成される。つまり、貫通孔および非貫通孔の何れについても、孔内への銅めっきは、無電解銅めっきと電気銅めっきの両者を組み合わせて行う。これにより、貫通孔や非貫通孔内のつきまわりを確保しつつ、貫通孔と非貫通孔が混在する場合でも、貫通孔にはスルーホールめっきを形成し、非貫通孔にはフィルドビアを形成することが可能になる。ここで、スルーホールめっきとは、貫通孔内に形成されるめっきであり、貫通孔がめっきで充填されないめっきである。フィルドビアとは、銅めっきを充填した非貫通孔をいい、非貫通孔に銅めっきを充填するためのめっきを、フィルドビアめっきという。 In the present invention, both electroless copper plating and electrolytic copper plating are formed in the interlayer connection holes. That is, for both the through hole and the non-through hole, copper plating into the hole is performed by combining both electroless copper plating and electrolytic copper plating. As a result, through holes and non-through holes are mixed, while through holes and non-through holes are mixed, through-hole plating is formed in the through holes and filled vias are formed in the non-through holes. It becomes possible. Here, the through-hole plating is plating formed in the through hole and is plating in which the through hole is not filled with plating. The filled via refers to a non-through hole filled with copper plating, and plating for filling the non-through hole with copper plating is referred to as filled via plating.
本発明においては、非貫通孔が、無電解銅めっきと電気銅めっきの両めっきにより充填される。これにより、非貫通孔にはフィルドビアを形成することができ、また貫通孔には、放熱性を満足する十分な厚みの銅めっきを形成することができる。このため、高密度構造と高放熱性を備えたプリント配線板を提供することができる。このように、非貫通孔が、無電解銅めっきと電気銅めっきの両めっきにより充填されるようにするためには、例えば、以下のような方法が挙げられる。 In the present invention, the non-through hole is filled by both electroless copper plating and electrolytic copper plating. As a result, filled vias can be formed in the non-through holes, and copper plating having a sufficient thickness that satisfies heat dissipation can be formed in the through holes. For this reason, the printed wiring board provided with the high-density structure and high heat dissipation can be provided. Thus, in order to fill the non-through hole by both electroless copper plating and electrolytic copper plating, for example, the following method may be mentioned.
めっき前の層間接続孔の内壁は何れも絶縁物である基材が露出した状態となっている。このため、まず、この基材上にもめっきが可能な無電解銅めっきを行う。無電解銅めっきを形成する方法は、一般的な方法と同様に、触媒を付与した後、無電解銅めっき液に浸漬し、触媒上で生じた還元反応を継続させ、銅を所定の厚みまで析出させる。外部から電流を供給しないので、電流分布によるめっき厚のばらつきが生じにくく、均一な厚みのめっきが形成可能である。このため、無電解銅めっきは、層間接続孔の内壁につきまわりの良い銅めっきを形成でき、表層に対しても、厚みのばらつきが小さい銅めっきを形成することができる。 The inner wall of the interlayer connection hole before plating is in a state where the base material that is an insulator is exposed. For this reason, first, electroless copper plating capable of plating on this base material is performed. The method for forming the electroless copper plating is the same as the general method. After applying the catalyst, the electroless copper plating is immersed in the electroless copper plating solution, and the reduction reaction generated on the catalyst is continued. Precipitate. Since no current is supplied from the outside, variations in plating thickness due to current distribution are unlikely to occur, and plating with a uniform thickness can be formed. For this reason, the electroless copper plating can form a good copper plating around the inner wall of the interlayer connection hole, and can also form a copper plating with a small thickness variation on the surface layer.
しかしながら、無電解銅めっきは、電気銅めっきに比べて析出速度が遅く、またコストがかかる上、厚く形成していくと非貫通孔内ではボイド等が発生することがある。また、めっき厚が均一なため、同時に表層の銅めっきも厚くなるので、たとえ厚みのばらつきが小さくても、エッチングでの高精度回路の形成が難しくなる。このため、非貫通孔の孔径や深さにもよるが、非貫通孔の孔径が直径80〜120μmで深さが30〜100μmの場合、無電解銅めっきの厚さは、貫通孔の内壁において15〜25μmとするのが望ましい。特には、17〜20μmが望ましい。これにより、非貫通孔内へのボイドの発生がなく、かつ、この後で行う電気めっきによるフィルドビアの形成が容易になる。 However, the electroless copper plating has a slower deposition rate than the electrolytic copper plating, is costly, and when it is formed thick, voids or the like may occur in the non-through holes. Further, since the plating thickness is uniform, the copper plating on the surface layer is also increased at the same time, so that even if the thickness variation is small, it is difficult to form a high-precision circuit by etching. For this reason, although depending on the hole diameter and depth of the non-through hole, when the hole diameter of the non-through hole is 80 to 120 μm and the depth is 30 to 100 μm, the thickness of the electroless copper plating is on the inner wall of the through hole. It is desirable to set it as 15-25 micrometers. In particular, 17 to 20 μm is desirable. As a result, voids are not generated in the non-through holes, and the formation of filled vias by subsequent electroplating is facilitated.
そこで、無電解銅めっきを所定の厚みまで形成した後に、この無電解銅めっきの上に重ねて、電気銅めっきを行う。電気銅めっきは、銅の析出速度が速く、無電解銅めっきに比べて低コストであり、さらに、めっき液中に添加剤を加えたり、めっき条件を調整することにより、非貫通孔内には銅めっきを充填しつつ、貫通孔内には通常のスルーホールめっきを形成し、一方で比較的に表層には銅めっきを付き難くすることができる。つまり、表層や貫通孔内に比べて、特に非貫通孔内に優先的に銅めっきが析出するようにすることができる。このため、非貫通孔にフィルドビアを形成しつつ、同時に貫通孔内のスルーホールめっきの厚みを稼ぐことができる。これにより、非貫通孔ではフィルドビアを形成することにより、高密度構造に対応可能となる。また、貫通孔では、スルーホールめっきが厚くなることにより、放熱性を確保することが可能となる。 Therefore, after forming the electroless copper plating to a predetermined thickness, the copper electroplating is performed on the electroless copper plating. Electro copper plating has a high copper deposition rate and is lower in cost than electroless copper plating. In addition, by adding additives to the plating solution or adjusting the plating conditions, While filling the copper plating, a normal through-hole plating can be formed in the through hole, while the surface layer can be made relatively hard to attach the copper plating. That is, it is possible to preferentially deposit copper plating in the non-through hole compared to the surface layer and the through hole. For this reason, the thickness of the through-hole plating in the through hole can be increased while forming the filled via in the non-through hole. Thereby, it becomes possible to cope with a high-density structure by forming filled vias in the non-through holes. In addition, in the through hole, heat dissipation can be ensured by increasing the thickness of the through hole plating.
しかしながら、電気銅めっきは、電流分布によるめっき厚のばらつきが生じやすく、均一な厚みのめっきが形成困難である。このため、特に、表層においては、めっき厚のばらつきが大きくなることにより、回路形成の際のエッチング量が部位によって異なるため、高精度回路の形成が困難になる傾向がある。このため、非貫通孔の孔径や深さ、電気銅めっきの添加剤や条件等にもよるが、非貫通孔の孔径が直径80〜120μmで深さが30〜100μmの場合、電気銅めっきの厚さは、貫通孔の内壁において、15〜25μmとするのが望ましい。 However, electrolytic copper plating tends to cause variations in plating thickness due to current distribution, and it is difficult to form uniform thickness plating. For this reason, in particular, in the surface layer, the variation in plating thickness increases, and the etching amount at the time of circuit formation differs depending on the part, so that it is difficult to form a high-precision circuit. For this reason, although depending on the hole diameter and depth of the non-through hole, the additive and conditions of electrolytic copper plating, etc., if the non-through hole has a diameter of 80 to 120 μm and a depth of 30 to 100 μm, The thickness is desirably 15 to 25 μm on the inner wall of the through hole.
本発明においては、貫通穴内は、無電解銅めっきの厚みが、電気銅めっきの厚みと同等以上に形成される。このとき、貫通孔と同時にめっきされる表層の銅箔上に形成される無電解銅めっきの厚みが、電気銅めっきの厚みと同等以上になる。つまり、高密度構造を有する高放熱プリント配線板では、非貫通孔へのフィルドビアの形成と貫通孔の放熱性を考慮して、必要な銅めっき厚が設定されるが、このような層間接続孔への銅めっきを行うと、同時に、表層の銅箔上にも銅めっきが形成される。 In the present invention, the thickness of the electroless copper plating is equal to or greater than the thickness of the electrolytic copper plating in the through hole. At this time, the thickness of the electroless copper plating formed on the surface copper foil plated simultaneously with the through hole is equal to or greater than the thickness of the electrolytic copper plating. In other words, in a high heat dissipation printed wiring board having a high-density structure, the necessary copper plating thickness is set in consideration of the formation of filled vias in the non-through holes and the heat dissipation of the through holes. At the same time, copper plating is also formed on the surface copper foil.
このように、層間接続孔に必要な厚さの銅めっきを行った時でも、表層に形成される銅めっきの厚さのうち、無電解めっきによって形成される銅めっき厚が、電気めっきによって形成される銅めっき厚と同等以上であるため、表層の銅めっき厚のばらつきをなるべく小さく抑えることが可能になる。このため、貫通孔では高放熱性を確保可能な厚みの銅めっきを形成し、非貫通孔には高密度構造のためのフィルドビアを形成しつつ、表層にはエッチングでの高精度回路をすることが可能なプリント配線板を提供することが可能となる。 Thus, even when copper plating of the thickness required for the interlayer connection hole is performed, the copper plating thickness formed by electroless plating is formed by electroplating out of the copper plating thickness formed on the surface layer. Since the thickness is equal to or greater than the copper plating thickness, the variation in the copper plating thickness of the surface layer can be suppressed as small as possible. For this reason, copper plating with a thickness that can ensure high heat dissipation is formed in the through holes, filled vias for high-density structures are formed in the non-through holes, and a high precision circuit by etching is formed on the surface layer. Therefore, it is possible to provide a printed wiring board that can be used.
なお、本発明において、無電解銅めっきの厚みが電気銅めっきの厚みと同等以上とは、無電解銅めっきの厚さが電気銅めっきの厚さの約70%以上の場合も含まれる。コストや生産効率の点から、一般のプリント配線板では、例えば必要なめっき厚が20〜35μmの場合に、無電解銅めっきは約1μm以下で残りの厚みは電気銅めっきで形成される。つまり、無電解銅めっきの厚みは、電気銅めっきの厚みの5%以下である。本発明においては、無電解銅めっきの厚さが電気銅めっきの厚さの約70%以上に形成されるが、この比率は従来のプリント配線板に比べて各段に大きいことから、無電解銅めっきの厚さと電気銅めっきの厚さは同等と扱う。このため、例えば必要なめっき厚が20μmの場合に、無電解銅めっきが約8μmで電気銅めっきが12μmである場合や、必要なめっき厚が35μmの場合に、無電解銅めっきが約14μmで電気銅めっきが21μmの場合が、無電解銅めっきの厚みが電気銅めっきの厚みと同等に含まれる。 In the present invention, the case where the thickness of the electroless copper plating is equal to or more than the thickness of the electrolytic copper plating includes the case where the thickness of the electroless copper plating is about 70% or more of the thickness of the electrolytic copper plating. In terms of cost and production efficiency, in a general printed wiring board, for example, when a necessary plating thickness is 20 to 35 μm, the electroless copper plating is about 1 μm or less and the remaining thickness is formed by electrolytic copper plating. That is, the thickness of electroless copper plating is 5% or less of the thickness of electrolytic copper plating. In the present invention, the thickness of the electroless copper plating is formed to be about 70% or more of the thickness of the electrolytic copper plating, but this ratio is larger in each stage than the conventional printed wiring board. The thickness of copper plating and the thickness of electrolytic copper plating are treated as equivalent. Therefore, for example, when the required plating thickness is 20 μm, when the electroless copper plating is about 8 μm and the electrolytic copper plating is 12 μm, or when the required plating thickness is 35 μm, the electroless copper plating is about 14 μm. When the electrolytic copper plating is 21 μm, the thickness of the electroless copper plating is included equivalent to the thickness of the electrolytic copper plating.
本発明においては、貫通穴は、無電解銅めっきの厚みが電気銅めっきの厚みと同等以上に形成されているが、さらに、表層回路の無電解銅めっきの厚みが、貫通孔の無電解銅めっきの厚みより小さくなるようにするのが望ましい。上述したように、貫通孔内において、無電解銅めっきの厚さは、電気銅めっきの厚さと同等以上の場合、この貫通孔と同時にめっきされる表層の銅箔上においても、やはり無電解銅めっきの厚みは、電気銅めっきの厚みと同等以上になるのが通常である。しかしながら、高精度回路の形成にとっては、表層の銅の厚さは、薄い方が有利である。そこで、表層の銅を表面からハーフエッチングして表層の銅厚を減少させるが、本発明は、このハーフエッチングを行った後の表層の無電解銅めっきの厚さが、貫通孔内の無電解銅めっきの厚さよりも小さくなるようにするのが望ましい。つまり、表層回路は、最上面が電気銅めっきであり、その下側に無電解銅めっき、さらにその下側に銅箔という構造であるが、ハーフエッチングは、最上面の電気銅めっきを完全に除去し、さらにその下側の無電解銅めっきまで達するように行われるのが望ましい。これにより、表層回路の構造が3層から2層になり、単純化できるため、サブトラクト法による回路形成の際に、層ごとのエッチング特性の差異によるエッチング精度の変動を抑制することができる。このように、貫通穴は、無電解銅めっきの厚みが電気銅めっきの厚みと同等以上に形成されていることにより、表層の銅厚のばらつきを低減しておくことができ、一方で、表層は、表層回路の無電解銅めっきの厚みが、貫通孔の無電解銅めっきの厚みより小さくなるまでハーフエッチングすることにより、表層の銅厚をばらつきの小さい状態のまま薄くすることが可能となり、しかも、表層回路の構造を単純化することができる。このため、表層に形成する回路の精度が向上する。 In the present invention, the through hole is formed such that the thickness of the electroless copper plating is equal to or greater than the thickness of the electro copper plating. It is desirable to make it smaller than the thickness of the plating. As described above, when the thickness of the electroless copper plating in the through hole is equal to or greater than the thickness of the electrolytic copper plating, the electroless copper is also deposited on the surface copper foil plated simultaneously with the through hole. The thickness of the plating is usually equal to or greater than the thickness of the electrolytic copper plating. However, for the formation of a high-precision circuit, it is advantageous that the surface copper is thin. Therefore, the surface layer copper is half-etched from the surface to reduce the copper thickness of the surface layer, but the present invention is such that the thickness of the electroless copper plating on the surface layer after this half-etching is It is desirable to make it smaller than the thickness of the copper plating. In other words, the surface circuit has a structure in which the uppermost surface is electrolytic copper plating, the lower side thereof is electroless copper plating, and the lower side is copper foil, but half-etching completely forms the uppermost electrolytic copper plating. It is desirable that the removal be carried out so as to reach the electroless copper plating below it. As a result, the structure of the surface layer circuit is changed from three layers to two layers, which can be simplified. Therefore, when the circuit is formed by the subtract method, variation in etching accuracy due to a difference in etching characteristics for each layer can be suppressed. In this way, the through hole can reduce the variation in the copper thickness of the surface layer by forming the thickness of the electroless copper plating to be equal to or greater than the thickness of the electrolytic copper plating, It is possible to reduce the copper thickness of the surface layer with little variation by half-etching until the thickness of the electroless copper plating of the surface layer circuit becomes smaller than the thickness of the electroless copper plating of the through hole, In addition, the structure of the surface layer circuit can be simplified. For this reason, the accuracy of the circuit formed on the surface layer is improved.
本発明においては、貫通孔に孔埋め樹脂が充填され、この孔埋め樹脂の表層に露出した部分にふためっきが形成されるのが望ましい。これにより、貫通孔の直上に半導体素子を配置することができるので高密度化に対応でき、また高放熱の貫通孔の近傍に発熱素子を搭載するので放熱効率がよい。このため、高密度で高放熱の要求に対応可能なプリント配線板を提供することができる。なお、本発明におけるふためっきは、プリント配線板で一般的に用いられる薄付用の無電解銅めっきと電気銅めっきにより形成することができる。 In the present invention, it is desirable that the through hole is filled with a hole filling resin, and the lid plating is formed on the exposed portion of the surface of the hole filling resin. As a result, the semiconductor element can be arranged immediately above the through hole, so that it is possible to cope with high density, and since the heat generating element is mounted in the vicinity of the high heat radiating through hole, the heat radiation efficiency is good. For this reason, the printed wiring board which can respond to the request | requirement of high density and high heat dissipation can be provided. In addition, the lid plating in this invention can be formed by the electroless copper plating for thin attachment generally used with a printed wiring board, and electrolytic copper plating.
本発明の製造方法で製造したプリント配線板は、一例として、図6に示すような携帯電話用のパワーアンプモジュールとして使用することができる。つまり、貫通孔18の直上に半導体素子29を配置し、その裏面側にはヒートシンク30を配置する。これにより、貫通孔18の直上のスペースを使用できるため高密度化に対応でき、また高放熱の貫通孔18の直上に発熱する半導体素子29を搭載するので放熱効率がよい。このため、高密度で高放熱の要求に対応可能なプリント配線板を提供することができる。
As an example, the printed wiring board manufactured by the manufacturing method of the present invention can be used as a power amplifier module for a mobile phone as shown in FIG. That is, the
以下に、本発明を実施例に基づいて説明するが、本発明は本実施例に限定されない。 Hereinafter, the present invention will be described based on examples, but the present invention is not limited to the examples.
(実施例1)
12μmの銅箔を有した厚さ0.1mmのMCL−E−679FG(日立化成工業株式会社製 商品名)の銅張積層板を準備し、銅箔を12μmから5μmまでハーフエッチングした後、直径0.15mmのドリルを用いてNC穴明けで貫通孔を設ける。
Example 1
After preparing a copper clad laminate of MCL-E-679FG (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a thickness of 12 μm and having a copper foil of 12 mm, the copper foil is half-etched from 12 μm to 5 μm, and then the diameter A through hole is provided by drilling NC using a 0.15 mm drill.
貫通孔を設けた銅張積層板に、電解銅めっきで約15μmの銅めっきを施し、サブトラクティブ法により内層回路を形成して内層基板を作製する。 A copper-clad laminate having through holes is subjected to copper plating of about 15 μm by electrolytic copper plating, and an inner layer circuit is formed by a subtractive method to produce an inner layer substrate.
内層回路を形成した内層基板の両面に、厚さ0.06mmのGEA−679FG(日立化成工業株式会社製 商品名)のプリプレグを重ね、さらにその両面に厚さ5μmのMT18S5DH(三井金属鉱業株式会社製 商品名)の銅箔を重ね、185℃、90分間積層プレスを行い、4層基板を得る。 A prepreg of GEA-679FG (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a thickness of 0.06 mm is stacked on both sides of the inner layer substrate on which the inner layer circuit is formed, and MT18S5DH (Mitsui Metal Mining Co., Ltd.) having a thickness of 5 μm is further formed on both sides. Product name) copper foil is stacked and laminated press is performed at 185 ° C. for 90 minutes to obtain a 4-layer substrate.
この4層基板の表層の銅箔に、サブトラクティブ法により、直径約100μmの円形の開口を形成し、そこにレーザを照射することにより直径約100μmの非貫通孔を形成する。さらに直径0.15mmと直径0.25mmの2種類のドリルを用い貫通孔を形成する。 A circular opening having a diameter of about 100 μm is formed in the copper foil on the surface layer of the four-layer substrate by a subtractive method, and a non-through hole having a diameter of about 100 μm is formed by irradiating a laser there. Furthermore, a through hole is formed using two types of drills having a diameter of 0.15 mm and a diameter of 0.25 mm.
貫通孔および非貫通孔を形成した4層基板に、無電解銅めっきで約15μmの銅めっきを施し、さらに電気銅めっきで約20μmの銅めっきを施した。これらのめっき厚は、貫通孔内で測定した値である。これにより、貫通孔には内壁上で約35μmの厚みの銅めっきが形成され、非貫通孔にはフィルドビアが形成された。このときの貫通孔内の銅めっきの断面積は、直径0.15mmでは約0.0126mm2、直径0.25mmでは約0.0236mm2であった。この銅めっきの断面積は、貫通孔の水平断面を観察し、貫通孔内壁のめっき厚、めっきの外側の径、めっきの内側の径を測定することにより算出した(以下、同様。)。 A four-layer substrate having through-holes and non-through-holes was subjected to about 15 μm copper plating by electroless copper plating and further to about 20 μm copper plating by electrolytic copper plating. These plating thicknesses are values measured in the through holes. As a result, copper plating having a thickness of about 35 μm was formed on the inner wall in the through hole, and filled vias were formed in the non-through hole. Sectional area of the copper plating in the through hole of the case is about 0.0126Mm 2 in diameter 0.15 mm, was about 0.0236Mm 2 in diameter 0.25 mm. The cross-sectional area of the copper plating was calculated by observing the horizontal cross section of the through hole and measuring the plating thickness of the inner wall of the through hole, the outer diameter of the plating, and the inner diameter of the plating (the same applies hereinafter).
PHP900IR10F(三栄化学株式会社製 商品名)の孔埋めインクを使用し、貫通孔内に孔埋めインクを充填し、160℃40分間で孔埋めインクを硬化した後、表層の銅厚(約40μm)を約25μmになるまで除去し、表層銅厚を減少させた後に突出した孔埋めインクをバフ研磨機にて除去する。 Using a hole filling ink of PHP900IR10F (trade name, manufactured by Sanei Chemical Co., Ltd.), filling the through hole with the hole filling ink, curing the hole filling ink at 160 ° C. for 40 minutes, and then copper thickness of the surface layer (about 40 μm) Are removed until the thickness of the surface layer copper is reduced, and the ink which is projected after the hole filling is removed with a buffing machine.
表層銅厚を減少させた後に残った表層、および表面に露出した孔埋めインクに、薄付用無電解銅めっきと電気銅めっきで約10μmの銅めっきを施し、ふためっきを形成した後、サブトラクティブ法により表層回路を形成する。このとき表面回路の銅厚は、設計値35μmに対してばらつきが約±17%であり、表層回路のライン/スペースの寸法精度は、設計値100μmに対してばらつきが約±20%であった。めっき厚およびライン/スペースの測定は、ロット毎に1枚ずつ抜き取った500×400mmサイズの基板6枚に対して、表裏の各9箇所について行った(以下、同様。)。 About 10 μm of copper plating is applied to the surface layer remaining after the reduction of the surface copper thickness and the hole-filling ink exposed on the surface by electroless copper plating for thinning and electrolytic copper plating to form a lid plating. A surface layer circuit is formed by the active method. At this time, the copper thickness of the surface circuit has a variation of about ± 17% with respect to the design value of 35 μm, and the dimensional accuracy of the line / space of the surface layer circuit has a variation of about ± 20% with respect to the design value of 100 μm. . The measurement of plating thickness and line / space was carried out at 9 locations on the front and back sides of 6 substrates of 500 × 400 mm size extracted one by one for each lot (the same applies hereinafter).
表層回路を形成した両面に、ロールコート法にてPSR−4000AUS308(太陽インキ製造株式会社製 商品名)の現像型ソルダーレジストインクを塗布し、現像後160℃で約120分間熱処理を施し、インクを硬化させ、レジスト形成をする。 The development type solder resist ink of PSR-4000AUS308 (trade name, manufactured by Taiyo Ink Manufacturing Co., Ltd.) is applied to both surfaces on which the surface layer circuit is formed by a roll coating method. Curing and resist formation.
表層に露出している銅表面上に、無電解ニッケルめっきを約5μm施し、その後、無電解金めっきを約0.3μm施し、本発明のプリント配線板を得る。 About 5 μm of electroless nickel plating is applied on the copper surface exposed on the surface layer, and then about 0.3 μm of electroless gold plating is applied to obtain the printed wiring board of the present invention.
(実施例2)
実施例1と同様に、4層基板を作製し、非貫通孔と貫通孔を設け、無電解銅めっきと電気めっきを行った。
(Example 2)
In the same manner as in Example 1, a four-layer substrate was prepared, a non-through hole and a through hole were provided, and electroless copper plating and electroplating were performed.
PHP900IR10F(三栄化学株式会社製 商品名)の孔埋めインクを使用し、貫通孔内に孔埋めインクを充填し、160℃40分間で孔埋めインクを硬化した後、表層の銅厚(約40μm)を約12μmになるまで除去し、表層銅厚を減少させた後に突出した孔埋めインクをバフ研磨機にて除去する。このとき、このハーフエッチングを行った後の表層の無電解銅めっきの厚さは、貫通孔内の無電解銅めっきの厚さよりも小さくなる。つまり、ハーフエッチングは、最上面の電気銅めっきを完全に除去し、さらにその下側の無電解銅めっきまで達するように行われる。 Using a hole filling ink of PHP900IR10F (trade name, manufactured by Sanei Chemical Co., Ltd.), filling the through hole with the hole filling ink, curing the hole filling ink at 160 ° C. for 40 minutes, and then copper thickness of the surface layer (about 40 μm) Is removed until the thickness of the surface layer copper is reduced, and the protruding ink which is projected after the surface copper thickness is reduced is removed by a buffing machine. At this time, the thickness of the electroless copper plating on the surface layer after the half etching is performed is smaller than the thickness of the electroless copper plating in the through hole. That is, the half etching is performed so as to completely remove the uppermost electrolytic copper plating and further reach the lower electroless copper plating.
表層銅厚を減少させた後に残った表層、および表面に露出した孔埋めインクに、電気銅めっきで約10μmの銅めっきを施し、ふためっきを形成した後、サブトラクティブ法により表層回路を形成する。このとき表面回路の銅厚は、設計値22μmに対してばらつきが約±24%であり、表層回路のライン/スペースの寸法精度は、設計値100μm対してばらつきが約±15%であった。 About 10 μm copper plating is applied to the surface layer remaining after reducing the surface copper thickness and the hole-filling ink exposed on the surface by electrolytic copper plating to form a lid plating, and then a surface circuit is formed by a subtractive method. . At this time, the copper thickness of the surface circuit had a variation of about ± 24% with respect to the design value of 22 μm, and the line / space dimensional accuracy of the surface layer circuit had a variation of about ± 15% with respect to the design value of 100 μm.
(比較例1)
貫通孔および非貫通孔を形成した4層基板に、無電解銅めっきで約5μmの銅めっきを施し、さらに電気銅めっきで約30μmの銅めっきを施した。これらのめっき厚は、貫通孔内で測定した値である。これにより、貫通孔には内壁上で約35μmの厚みの銅めっきが形成され、非貫通孔にはフィルドビアが形成された。これ以外の工程は、実施例1と同様に行った。このときの貫通孔内の銅めっきの断面積は、直径0.15mmでは約0.0126mm2、直径0.25mmでは約0.0236mm2であった。
(Comparative Example 1)
About 4 micrometers copper plating was performed by electroless copper plating to the 4 layer board | substrate in which the through-hole and the non-through-hole were formed, and also about 30 micrometers copper plating was performed by the electrolytic copper plating. These plating thicknesses are values measured in the through holes. As a result, copper plating having a thickness of about 35 μm was formed on the inner wall in the through hole, and filled vias were formed in the non-through hole. The other steps were the same as in Example 1. Sectional area of the copper plating in the through hole of the case is about 0.0126Mm 2 in diameter 0.15 mm, was about 0.0236Mm 2 in diameter 0.25 mm.
表層銅厚を減少させた後に残った表層、および表面に露出した孔埋めインクに、電気銅めっきで約10μmの銅めっきを施し、ふためっきを形成した後、サブトラクティブ法により表層回路を形成する。このとき表面回路の銅厚は、設計値35μに対してばらつきが約±29%であり、表層回路のライン/スペースの寸法精度は、設計値100μmに対してばらつきが約±24%であった。 About 10 μm of copper plating is applied to the surface layer remaining after the reduction of the surface copper thickness and the hole-filling ink exposed on the surface by electrolytic copper plating to form a lid plating, and then a surface circuit is formed by a subtractive method. . At this time, the copper thickness of the surface circuit has a variation of about ± 29% with respect to the design value of 35 μ, and the dimensional accuracy of the line / space of the surface layer circuit has a variation of about ± 24% with respect to the design value of 100 μm. .
(比較例2)
貫通孔および非貫通孔を形成した4層基板に、無電解銅めっきで約5μmの銅めっきを施し、さらに電気銅めっきで約30μmの銅めっきを施した。これらのめっき厚は、貫通孔内で測定した値である。これにより、貫通孔には内壁上で約35μmの厚みの銅めっきが形成され、非貫通孔にはフィルドビアが形成された。これ以外の工程は、実施例2と同様に行った。このときの貫通孔内の銅めっきの断面積は、直径0.15mmでは約0.0126mm2、直径0.25mmでは約0.0236mm2であった。
(Comparative Example 2)
About 4 micrometers copper plating was performed by electroless copper plating to the 4 layer board | substrate in which the through-hole and the non-through-hole were formed, and also about 30 micrometers copper plating was performed by the electrolytic copper plating. These plating thicknesses are values measured in the through holes. As a result, copper plating having a thickness of about 35 μm was formed on the inner wall in the through hole, and filled vias were formed in the non-through hole. The other steps were the same as in Example 2. Sectional area of the copper plating in the through hole of the case is about 0.0126Mm 2 in diameter 0.15 mm, was about 0.0236Mm 2 in diameter 0.25 mm.
表層銅厚を減少させた後に残った表層、および表面に露出した孔埋めインクに、電気銅めっきで約10μmの銅めっきを施し、ふためっきを形成した後、サブトラクティブ法により表層回路を形成する。このとき表面回路の銅厚は、設計値22μに対してばらつきが約±28%であり、表層回路のライン/スペースの寸法精度は、設計値100μmに対してばらつきが約±19%であった。 About 10 μm copper plating is applied to the surface layer remaining after reducing the surface copper thickness and the hole-filling ink exposed on the surface by electrolytic copper plating to form a lid plating, and then a surface circuit is formed by a subtractive method. . At this time, the copper thickness of the surface circuit has a variation of about ± 28% with respect to the design value of 22 μm, and the dimensional accuracy of the line / space of the surface layer circuit has a variation of about ± 19% with respect to the design value of 100 μm. .
(比較例3)
貫通孔および非貫通孔を形成した4層基板に、無電解銅めっきで約10μmの銅めっきを施し、さらに電気銅めっきで約25μmの銅めっきを施した。これらのめっき厚は、貫通孔内で測定した値である。これにより、貫通孔には内壁上で約35μmの厚みの銅めっきが形成され、非貫通孔にはフィルドビアが形成された。これ以外の工程は、実施例1と同様に行った。このときの貫通孔内の銅めっきの断面積は、直径0.15mmでは約0.0126mm2、直径0.25mmでは約0.0236mm2であった。
(Comparative Example 3)
A four-layer substrate having through-holes and non-through-holes was subjected to about 10 μm copper plating by electroless copper plating and further to about 25 μm copper plating by electrolytic copper plating. These plating thicknesses are values measured in the through holes. As a result, copper plating having a thickness of about 35 μm was formed on the inner wall in the through hole, and filled vias were formed in the non-through hole. The other steps were the same as in Example 1. Sectional area of the copper plating in the through hole of the case is about 0.0126Mm 2 in diameter 0.15 mm, was about 0.0236Mm 2 in diameter 0.25 mm.
表層銅厚を減少させた後に残った表層、および表面に露出した孔埋めインクに、電気銅めっきで約10μmの銅めっきを施し、ふためっきを形成した後、サブトラクティブ法により表層回路を形成する。このとき表面回路の銅厚は、設計値35μmに対してばらつきが約±23%であり、表層回路のライン/スペースの寸法精度は、設計値100μmに対してばらつきが約±22%であった。 About 10 μm copper plating is applied to the surface layer remaining after reducing the surface copper thickness and the hole-filling ink exposed on the surface by electrolytic copper plating to form a lid plating, and then a surface circuit is formed by a subtractive method. . At this time, the copper thickness of the surface circuit has a variation of about ± 23% with respect to the design value of 35 μm, and the line / space dimensional accuracy of the surface layer circuit has a variation of about ± 22% with respect to the design value of 100 μm. .
(比較例4)
貫通孔および非貫通孔を形成した4層基板に、無電解銅めっきで約10μmの銅めっきを施し、さらに電気銅めっきで約25μmの銅めっきを施した。これらのめっき厚は、貫通孔内で測定した値である。これにより、貫通孔には内壁上で約35μmの厚みの銅めっきが形成され、非貫通孔にはフィルドビアが形成された。これ以外の工程は、実施例2と同様に行った。このときの貫通孔内の銅めっきの断面積は、直径0.15mmでは約0.0126mm2、直径0.25mmでは約0.0236mm2であった。
(Comparative Example 4)
A four-layer substrate having through-holes and non-through-holes was subjected to about 10 μm copper plating by electroless copper plating and further to about 25 μm copper plating by electrolytic copper plating. These plating thicknesses are values measured in the through holes. As a result, copper plating having a thickness of about 35 μm was formed on the inner wall in the through hole, and filled vias were formed in the non-through hole. The other steps were the same as in Example 2. Sectional area of the copper plating in the through hole of the case is about 0.0126Mm 2 in diameter 0.15 mm, was about 0.0236Mm 2 in diameter 0.25 mm.
表層銅厚を減少させた後に残った表層、および表面に露出した孔埋めインクに、電気銅めっきで約10μmの銅めっきを施し、ふためっきを形成した後、サブトラクティブ法により表層回路を形成する。このとき表面回路の銅厚は、設計値35μに対してばらつきが約±26%であり、表層回路のライン/スペースの寸法精度は、設計値100μmに対してばらつきが約±17%であった。 About 10 μm copper plating is applied to the surface layer remaining after reducing the surface copper thickness and the hole-filling ink exposed on the surface by electrolytic copper plating to form a lid plating, and then a surface circuit is formed by a subtractive method. . At this time, the copper thickness of the surface circuit has a variation of about ± 26% with respect to the design value of 35 μm, and the dimensional accuracy of the line / space of the surface layer circuit has a variation of about ± 17% with respect to the design value of 100 μm. .
(比較例5)
貫通孔および非貫通孔を形成した4層基板に、無電解銅めっきで約5μmの銅めっきを施し、さらに電気銅めっきで約15μmの銅めっきを施した。これらのめっき厚は、貫通孔内で測定した値である。これにより、貫通孔には内壁上で約20μmの厚みの銅めっきが形成され、非貫通孔にはフィルドビアが形成された。これ以外の工程は、実施例1と同様に行った。このときの貫通孔内の銅めっきの断面積は、直径0.15mmでは約0.0082mm2、直径0.25mmでは約0.0145mm2であった。
(Comparative Example 5)
About 4 micrometers copper plating was performed to the 4 layer board | substrate in which the through-hole and the non-through-hole were formed by electroless copper plating, and also about 15 micrometers copper plating was performed by the electro copper plating. These plating thicknesses are values measured in the through holes. Thereby, copper plating with a thickness of about 20 μm was formed on the inner wall in the through hole, and filled vias were formed in the non-through hole. The other steps were the same as in Example 1. Sectional area of the copper plating in the through hole of the case is about 0.0082Mm 2 in diameter 0.15 mm, was about 0.0145Mm 2 in diameter 0.25 mm.
表1は、上記の実施例1、2、および比較例1〜3をまとめた結果を示す。 Table 1 shows the results of the above Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 to 3.
表層の銅厚が35μm仕様である実施例1、比較例1、3についてみると、実施例1(無電解銅めっき/電気銅めっき=約75%)では、ライン/スペースの精度は±20%であった。他方、比較例1(無電解銅めっき/電気銅めっき=約17%)では±24%、比較例2(無電解銅めっき/電気銅めっき=約40%)では±22%であった。このように、無電解銅めっきと電気銅めっきの厚みを同等とすることで、ライン/スペースの精度が向上した。 As for Example 1 and Comparative Examples 1 and 3 in which the copper thickness of the surface layer is 35 μm, in Example 1 (electroless copper plating / electrolytic copper plating = about 75%), the accuracy of the line / space is ± 20%. Met. On the other hand, it was ± 24% in Comparative Example 1 (electroless copper plating / electrolytic copper plating = about 17%), and ± 22% in Comparative Example 2 (electroless copper plating / electrolytic copper plating = about 40%). Thus, the line / space accuracy was improved by making the thicknesses of electroless copper plating and electrolytic copper plating equal.
表層の銅厚が22μm仕様である実施例2、比較例3、4についてみると、実施例2(無電解銅めっき/電気銅めっき=約75%)では、ライン/スペースの精度は±15%であった。他方、比較例2(無電解銅めっき/電気銅めっき=約17%)では±19%、比較例4(無電解銅めっき/電気銅めっき=約40%)では±17%であった。このように、無電解銅めっきと電気銅めっきの厚みを同等とすることで、ライン/スペースの精度が向上した。 Looking at Example 2 and Comparative Examples 3 and 4 in which the copper thickness of the surface layer is 22 μm, in Example 2 (electroless copper plating / electrolytic copper plating = about 75%), the accuracy of the line / space is ± 15%. Met. On the other hand, it was ± 19% in Comparative Example 2 (electroless copper plating / electrolytic copper plating = about 17%) and ± 17% in Comparative Example 4 (electroless copper plating / electrolytic copper plating = about 40%). Thus, the line / space accuracy was improved by making the thicknesses of electroless copper plating and electrolytic copper plating equal.
貫通孔内の銅厚が35μmである実施例1と、22μmである比較例5についてみてみると、実施例1では、貫通孔内の銅めっきの断面積が、φ0.15mmで0.0126mm2、φ0.25mm0.0236mm2であるのに対して、比較例5では、φ0.15mmで0.0082mm2、φ0.25mm0.0145mm2であった。このように、貫通孔内の銅めっきの断面積が大きく、貫通孔を介する放熱性が向上することがわかった。
Looking at Example 1 in which the copper thickness in the through hole is 35 μm and Comparative Example 5 in which the copper thickness is 22 μm, in Example 1, the cross-sectional area of the copper plating in the through hole is 0.0126
1…プリント配線板、2…コア層、4…銅箔、5…(内層の)電解銅めっき(層)、6…絶縁層、7…銅箔、15…(内層の)貫通孔、16…内層回路、17…非貫通孔、18…(プリント配線板の)貫通孔、19…無電解銅めっき(層)、20…表層、22…表層回路、23…フィルドビア、24…電気銅めっき(層)、25…孔埋め樹脂、26…ふためっき(層)、27…ソルダレジスト層、28…ニッケル・金めっき(層)、29…半導体素子、30…ヒートシンク
DESCRIPTION OF
Claims (2)
前記多層板に、層間接続のための非貫通孔および貫通孔を形成する工程と、
前記非貫通孔内、貫通孔内、および表層の銅箔上に、無電解銅めっきと電気銅めっきの両めっきを形成する工程とを有し、
前記両めっきを形成する工程においては、前記貫通穴内には、前記無電解銅めっきの厚みが、前記電気銅めっきの厚みと同等以上となるように形成されるとともに、
前記非貫通孔内には、前記両めっきによりフィルドビアが形成されるプリント配線板の製造方法。 A step of laminating an insulating layer and a copper foil as a surface layer on the inner layer substrate on which the inner layer circuit is formed, and forming a multilayer board;
Forming a non-through hole and a through hole for interlayer connection in the multilayer board;
Forming both electroless copper plating and electrolytic copper plating in the non-through hole, in the through hole, and on the surface copper foil,
In the step of forming both the platings, in the through hole, the thickness of the electroless copper plating is formed to be equal to or greater than the thickness of the electrolytic copper plating,
A method for manufacturing a printed wiring board, wherein filled vias are formed in the non-through holes by the plating.
電気銅めっきを行った後の貫通孔に、孔埋め樹脂を充填する工程と、
表層の電気銅めっき表面からハーフエッチングすることにより、前記表層の無電解銅めっきの厚みが、貫通孔内の無電解銅めっきの厚みよりも薄くなるように減少させる工程と、
前記貫通穴から突出した孔埋め樹脂を研磨する工程と、
研磨後の孔埋め樹脂および表層にふためっきを形成する工程と、
このふためっきを形成した表層をエッチングして回路を形成する工程と、
を有するプリント配線板の製造方法。 In claim 1,
Filling the through hole after electrolytic copper plating with a hole filling resin;
A step of reducing the thickness of the electroless copper plating of the surface layer to be thinner than the thickness of the electroless copper plating in the through hole by half-etching from the surface of the electro copper plating surface of the surface layer;
Polishing the hole filling resin protruding from the through hole;
A step of forming a lid plating on the hole filling resin and the surface layer after polishing;
Etching the surface layer on which the lid plating is formed to form a circuit;
The manufacturing method of the printed wiring board which has this.
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Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012038772A (en) * | 2010-08-03 | 2012-02-23 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | Printed wiring board manufacturing method and printed wiring board |
CN102573335A (en) * | 2010-12-23 | 2012-07-11 | 北大方正集团有限公司 | Method for manufacturing core plate of initial layer |
JP2015222805A (en) * | 2014-04-30 | 2015-12-10 | 京セラサーキットソリューションズ株式会社 | Printed-circuit board and manufacturing method thereof |
CN105263274A (en) * | 2015-10-28 | 2016-01-20 | 深圳崇达多层线路板有限公司 | Manufacture method of high density interconnection board |
JP2016527725A (en) * | 2013-08-02 | 2016-09-08 | 北大方正集▲団▼有限公司Peking University Founder Group Co., Ltd | Method for manufacturing back drill hole on PCB substrate and PCB substrate |
CN107278042A (en) * | 2017-08-07 | 2017-10-20 | 大连崇达电路有限公司 | A kind of circuit board VCP's accompanies plating plate |
CN108521726A (en) * | 2018-06-19 | 2018-09-11 | 惠州中京电子科技有限公司 | A kind of production method of super-thick copper PCB multilayer board |
CN110933856A (en) * | 2019-12-30 | 2020-03-27 | 东莞市五株电子科技有限公司 | High-frequency blind hole plate manufacturing process and high-frequency blind hole plate |
CN114501805A (en) * | 2021-12-08 | 2022-05-13 | 江苏普诺威电子股份有限公司 | Manufacturing process of microphone carrier plate with integrally metalized edge sealing |
CN114710878A (en) * | 2022-03-02 | 2022-07-05 | 业成科技(成都)有限公司 | Double-sided conductive laminated structure and manufacturing method thereof |
CN114867191A (en) * | 2022-05-17 | 2022-08-05 | 高德(江苏)电子科技股份有限公司 | Printed circuit board with double-sided substrate selectively plated with copper block and manufacturing method thereof |
CN115835531A (en) * | 2022-12-14 | 2023-03-21 | 江苏博敏电子有限公司 | Direct blind co-plating method for HDI (high Density interconnection) board |
-
2008
- 2008-03-28 JP JP2008086410A patent/JP2009239188A/en active Pending
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20130096222A (en) | 2010-08-03 | 2013-08-29 | 미쓰이금속광업주식회사 | Method for producing printed wiring board, and printed wiring board |
US9144157B2 (en) | 2010-08-03 | 2015-09-22 | Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. | Manufacturing method of printed wiring board and printed wiring board |
JP2012038772A (en) * | 2010-08-03 | 2012-02-23 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | Printed wiring board manufacturing method and printed wiring board |
CN102573335A (en) * | 2010-12-23 | 2012-07-11 | 北大方正集团有限公司 | Method for manufacturing core plate of initial layer |
JP2016527725A (en) * | 2013-08-02 | 2016-09-08 | 北大方正集▲団▼有限公司Peking University Founder Group Co., Ltd | Method for manufacturing back drill hole on PCB substrate and PCB substrate |
JP2015222805A (en) * | 2014-04-30 | 2015-12-10 | 京セラサーキットソリューションズ株式会社 | Printed-circuit board and manufacturing method thereof |
CN105263274A (en) * | 2015-10-28 | 2016-01-20 | 深圳崇达多层线路板有限公司 | Manufacture method of high density interconnection board |
CN107278042B (en) * | 2017-08-07 | 2023-09-12 | 大连崇达电路有限公司 | Accompanying plating board of circuit board VCP |
CN107278042A (en) * | 2017-08-07 | 2017-10-20 | 大连崇达电路有限公司 | A kind of circuit board VCP's accompanies plating plate |
CN108521726A (en) * | 2018-06-19 | 2018-09-11 | 惠州中京电子科技有限公司 | A kind of production method of super-thick copper PCB multilayer board |
CN110933856A (en) * | 2019-12-30 | 2020-03-27 | 东莞市五株电子科技有限公司 | High-frequency blind hole plate manufacturing process and high-frequency blind hole plate |
CN114501805A (en) * | 2021-12-08 | 2022-05-13 | 江苏普诺威电子股份有限公司 | Manufacturing process of microphone carrier plate with integrally metalized edge sealing |
CN114501805B (en) * | 2021-12-08 | 2024-02-02 | 江苏普诺威电子股份有限公司 | Manufacturing process of integral metallized edge-sealed microphone carrier plate |
CN114710878A (en) * | 2022-03-02 | 2022-07-05 | 业成科技(成都)有限公司 | Double-sided conductive laminated structure and manufacturing method thereof |
CN114867191A (en) * | 2022-05-17 | 2022-08-05 | 高德(江苏)电子科技股份有限公司 | Printed circuit board with double-sided substrate selectively plated with copper block and manufacturing method thereof |
CN115835531A (en) * | 2022-12-14 | 2023-03-21 | 江苏博敏电子有限公司 | Direct blind co-plating method for HDI (high Density interconnection) board |
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