JP2009203505A - Electroless plating method, and electronic component - Google Patents
Electroless plating method, and electronic component Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009203505A JP2009203505A JP2008045501A JP2008045501A JP2009203505A JP 2009203505 A JP2009203505 A JP 2009203505A JP 2008045501 A JP2008045501 A JP 2008045501A JP 2008045501 A JP2008045501 A JP 2008045501A JP 2009203505 A JP2009203505 A JP 2009203505A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electroless plating
- conductive layer
- layer
- iodine
- electroless
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
Abstract
Description
この発明は、一般的には無電解めっき方法と電子部品に関し、特定的には、基材の表面上に形成された銀を主成分とする導電層の表面上に無電解めっき層を形成するための無電解めっき方法とそれによって得られた電子部品に関するものである。 The present invention generally relates to an electroless plating method and an electronic component, and specifically, forms an electroless plating layer on the surface of a conductive layer mainly composed of silver formed on the surface of a substrate. The present invention relates to an electroless plating method and an electronic component obtained thereby.
従来から、配線パターン層等の導電層が基材の表面上に形成された回路基板や電子部品では、その導電層の表面上に無電解めっき層が形成される。無電解めっき層は、たとえば、ニッケル層と、ニッケル層の上に形成された金層とから構成される。金層は、高い導電率を有し、かつ、電子部品の実装時においてはんだ濡れ性が良好であるので、配線パターン層等の表面層を構成するために用いられる。金層の下地層を構成するニッケル層は、耐はんだ食われ性が高いという性質を有する。 Conventionally, in a circuit board or electronic component in which a conductive layer such as a wiring pattern layer is formed on the surface of a base material, an electroless plating layer is formed on the surface of the conductive layer. The electroless plating layer is composed of, for example, a nickel layer and a gold layer formed on the nickel layer. The gold layer has a high electrical conductivity and has good solder wettability when electronic components are mounted. Therefore, the gold layer is used to form a surface layer such as a wiring pattern layer. The nickel layer constituting the underlayer of the gold layer has a property of high resistance to solder erosion.
一般的に無電解めっき層の形成は、還元剤の作用により金属イオンを金属として析出させることによって行われる。このため、無電解めっきが施される表面には、還元反応に対して触媒作用を示すパラジウムなどの触媒性物質が付与されている必要がある。 In general, the electroless plating layer is formed by depositing metal ions as a metal by the action of a reducing agent. For this reason, a catalytic substance such as palladium that exhibits a catalytic action for the reduction reaction needs to be applied to the surface to be electrolessly plated.
たとえば、導電層としての配線パターン層の表面上に無電解めっき層を形成する場合に、配線パターン層が形成された基材の表面に上記の触媒性物質を付与すると、触媒性物質は配線パターン層の表面上に選択的に付着する。しかし、触媒性物質が付与される基材の表面には、配線パターン層が形成されていない領域にも微小な導電体部分が存在する。たとえば、セラミック基板などの基材においては、配線パターン層を形成するために塗布された金属厚膜ペーストと基板を形成するセラミックとが共焼結される場合に、配線パターン層以外の領域に金属成分が拡散または飛散していることがある。このような金属成分に起因して、配線パターン層以外の領域に微小な導電体部分が存在している。 For example, when the electroless plating layer is formed on the surface of the wiring pattern layer as the conductive layer, if the above-mentioned catalytic substance is applied to the surface of the substrate on which the wiring pattern layer is formed, the catalytic substance becomes the wiring pattern. Selectively deposit on the surface of the layer. However, on the surface of the base material to which the catalytic substance is applied, a minute conductor portion is also present in a region where the wiring pattern layer is not formed. For example, in a base material such as a ceramic substrate, when a metal thick film paste applied to form a wiring pattern layer and a ceramic that forms the substrate are co-sintered, a metal is formed in a region other than the wiring pattern layer. Ingredients may be diffused or scattered. Due to such a metal component, a minute conductor portion exists in a region other than the wiring pattern layer.
このため、配線パターン層以外の領域にも触媒性物質が付着する場合がある。この付着した触媒性物質を核として無電解めっきによる金属が析出してしまうという問題がある。 For this reason, the catalytic substance may adhere to the region other than the wiring pattern layer. There is a problem that a metal is deposited by electroless plating using the attached catalytic substance as a nucleus.
このような問題を解決するための無電解ニッケル‐金めっき方法が、たとえば、特開2004−332035号公報(以下、特許文献1という)で提案されている。この無電解ニッケル‐金めっき方法は、基体に形成された導体部上に無電解ニッケルめっき皮膜を形成する無電解ニッケルめっき工程と、この無電解ニッケルめっき皮膜上に置換金めっき皮膜を形成する置換金めっき工程と、この置換金めっき皮膜上にさらに無電解金めっき皮膜を形成する無電解金めっき工程とを含む無電解ニッケル‐金めっき方法において、無電解ニッケルめっき工程と置換金めっき工程との間に、無機硫黄化合物を含有する水溶液を用いて、無電解ニッケルめっき工程により得られた被めっき物を処理する硫黄処理工程を含む。この硫黄処理工程によって形成された無機硫黄化合物が、導体パターン領域からはみ出した位置に形成された微量の導体部上に吸着することにより、その微量の導体部上への金めっき皮膜の形成を防止することができるとされている。
特許文献1で提案された方法では、置換金めっき工程の前に形成される無機硫黄化合物は、無電解ニッケルめっき工程で形成された無電解ニッケルめっき皮膜中のニッケルと、金との間の置換反応を抑制するように働くものと考えられる。しかし、無電解ニッケルめっき工程の前に付与されたパラジウムなどの触媒性物質が、導体パターン以外の領域に存在する微小な導体部分の上にも付着している。この触媒性物質が存在することにより、導体パターン以外の領域に存在する微小な導体部分の上には、無電解金めっき工程にて金が析出してしまう。このため、導体パターン以外の領域への金めっき皮膜の形成を十分に防止することができないという問題がある。さらに、硫黄化合物の付与は無電解ニッケルめっき後に行われるため、パターン外に無電解ニッケルが付着したままになる部分も生じる。 In the method proposed in Patent Document 1, the inorganic sulfur compound formed before the replacement gold plating step is a replacement between nickel and gold in the electroless nickel plating film formed in the electroless nickel plating step. It is thought to work to suppress the reaction. However, a catalytic substance such as palladium applied before the electroless nickel plating step is also attached to a minute conductor portion existing in a region other than the conductor pattern. Due to the presence of the catalytic substance, gold is deposited on the minute conductor portion existing in the region other than the conductor pattern in the electroless gold plating step. For this reason, there exists a problem that formation of the gold plating film to areas other than a conductor pattern cannot fully be prevented. Furthermore, since the application of the sulfur compound is performed after electroless nickel plating, a portion where electroless nickel remains attached outside the pattern also occurs.
そこで、この発明の目的は、基材の表面上に形成された導電層の表面上に無電解めっき層を形成するための無電解めっき方法において、導電層以外の領域への無電解めっき層の形成をより効果的に防止することが可能な無電解めっき方法を提供することである。 Therefore, an object of the present invention is to provide an electroless plating method for forming an electroless plating layer on the surface of a conductive layer formed on the surface of a substrate. It is to provide an electroless plating method capable of preventing formation more effectively.
この発明に従った無電解めっき方法は、基材の表面上に形成された銀を主成分とする導電層の表面上に無電解めっき層を形成するための無電解めっき方法であって、導電層を含む基材の表面上にヨウ素含有物質を付与する工程と、ヨウ素含有物質を付与した後、導電層を含む基材の表面上にパラジウムを主成分とする触媒を付与する工程と、触媒を付与した後、導電層の表面上に無電解めっき層を形成する無電解めっき工程とを備える。 The electroless plating method according to the present invention is an electroless plating method for forming an electroless plating layer on the surface of a conductive layer mainly composed of silver formed on the surface of a base material. A step of applying an iodine-containing substance on the surface of the substrate including the layer, a step of applying a catalyst mainly composed of palladium on the surface of the substrate including the conductive layer after applying the iodine-containing substance, and a catalyst Then, an electroless plating step of forming an electroless plating layer on the surface of the conductive layer is provided.
この発明の無電解めっき方法においては、まず、銀を主成分とする導電層を含む基材の表面上にヨウ素含有物質を付与する。導電層中の銀と付与されたヨウ素含有物質中のヨウ素とが反応することにより、導電層の表面上にヨウ化銀が生成する。このとき、基材の表面上で導電層が形成されていない領域にもヨウ化銀が生成する。このヨウ化銀は、銀とパラジウムとの置換反応によるパラジウムの付着を妨げる作用を有する。 In the electroless plating method of the present invention, first, an iodine-containing substance is applied on the surface of a substrate including a conductive layer mainly composed of silver. When silver in the conductive layer reacts with iodine in the provided iodine-containing substance, silver iodide is generated on the surface of the conductive layer. At this time, silver iodide is also generated in a region where the conductive layer is not formed on the surface of the substrate. This silver iodide has an effect of preventing the adhesion of palladium by a substitution reaction between silver and palladium.
その後、パラジウムを主成分とする触媒を付与すると、基材の表面上で導電層が形成されていない領域に生成されたヨウ化銀が、導電層が形成されていない領域へのパラジウムの付着を効果的に妨げる。これにより、その後、無電解めっき工程を行っても、導電層が形成されていない領域には還元作用による無電解めっきが行われない。一方、導電層の表面上にもヨウ化銀が生成している。しかし、導電層の表面上には一定量のパラジウムが付着するため、導電層の表面上には無電解めっき層が形成される。これは、以下のように考えられる。 Thereafter, when a catalyst containing palladium as a main component is applied, the silver iodide produced in the region where the conductive layer is not formed on the surface of the base material adheres to the region where the conductive layer is not formed. Effectively hinder. Thereby, even if it performs an electroless-plating process after that, the electroless plating by a reducing action is not performed to the area | region in which the conductive layer is not formed. On the other hand, silver iodide is also generated on the surface of the conductive layer. However, since a certain amount of palladium adheres on the surface of the conductive layer, an electroless plating layer is formed on the surface of the conductive layer. This is considered as follows.
導電層以外の領域に存在する銀からなる導電体部分は微小であるため、銀の大部分がヨウ素と反応してヨウ化銀を生成する。これに対して、導電層を形成する銀は、一定量の面積を有するので、導電層の表面に存在する一部の銀がヨウ素と反応してヨウ化銀を生成しても、相当量の銀が導電層の表面に残存する。これにより、導電層の表面上では、銀とパラジウムとの置換反応によって一定量のパラジウムが付着するため、導電層の表面上には無電解めっき層が形成される。なお、上記の生成されるヨウ化銀は、無電解めっき層を形成した後にそのまま残留していてもよい。 Since the conductor portion made of silver existing in a region other than the conductive layer is very small, most of the silver reacts with iodine to generate silver iodide. On the other hand, since the silver forming the conductive layer has a certain amount of area, even if some silver existing on the surface of the conductive layer reacts with iodine to produce silver iodide, a considerable amount of silver is formed. Silver remains on the surface of the conductive layer. As a result, a certain amount of palladium is deposited on the surface of the conductive layer by a substitution reaction of silver and palladium, so that an electroless plating layer is formed on the surface of the conductive layer. The silver iodide produced as described above may remain as it is after the electroless plating layer is formed.
したがって、導電層以外の領域への無電解めっき層の形成をより効果的に防止することが可能になる。 Accordingly, it is possible to more effectively prevent the formation of the electroless plating layer in the region other than the conductive layer.
この発明の無電解めっき方法において、ヨウ素含有物質を付与する工程は、ヨウ素と、ヨウ化カリウムまたはヨウ化ナトリウムとを含む水溶液を付与することによって行われることが好ましい。この場合、被めっき対象物としての基材をヨウ素含有溶液に浸漬させることによって、導電層を含む基材の表面上にヨウ素含有物質を簡単に付与することができる。 In the electroless plating method of the present invention, the step of providing the iodine-containing substance is preferably performed by applying an aqueous solution containing iodine and potassium iodide or sodium iodide. In this case, the iodine-containing substance can be easily applied on the surface of the substrate including the conductive layer by immersing the substrate as the object to be plated in the iodine-containing solution.
また、この発明の無電解めっき方法において、無電解めっき工程は、少なくとも無電解ニッケルめっき層を形成する工程を含むことが好ましい。 In the electroless plating method of the present invention, the electroless plating step preferably includes at least a step of forming an electroless nickel plating layer.
なお、この発明の無電解めっき方法によって得られた電子部品は、基材の表面上に形成された銀を主成分とする導電層と、導電層の表面上に形成された無電解めっき層とを備えた電子部品であって、基材の表面上で導電層が形成されていない領域に、ヨウ化銀を主成分とする付着物を有する。 The electronic component obtained by the electroless plating method of the present invention includes a conductive layer mainly composed of silver formed on the surface of the substrate, and an electroless plated layer formed on the surface of the conductive layer. In the electronic component provided with the above, an adhesive containing silver iodide as a main component is provided in a region where the conductive layer is not formed on the surface of the substrate.
以上のようにこの発明によれば、簡単な一つの工程を追加するだけで導電層以外の領域への無電解めっき層の形成をより効果的に防止することが可能になる。 As described above, according to the present invention, it is possible to more effectively prevent the formation of the electroless plating layer in the region other than the conductive layer only by adding one simple process.
以下の表1に示す試料番号1〜8の被めっき対象物として、100mm角の大きさのアルミナとガラス成分とを主成分とする低温同時焼成基板(LTCC:Low Temperature Co-fired Ceramic)を8枚準備した。この基板の表面には、銀を主成分とする導電層として幅が5mm、厚みが10μmの配線パターン層が形成されている。配線パターン層の面積割合は50%であった。また、配線パターン層以外の基板の表面領域には、外径が1〜10μm程度の微小な銀の付着物が数十個程度存在している。 As an object to be plated of sample numbers 1 to 8 shown in Table 1 below, 8 low temperature co-fired ceramics (LTCC: Low Temperature Co-fired Ceramic) mainly composed of 100 mm square alumina and glass components are used. I prepared a sheet. A wiring pattern layer having a width of 5 mm and a thickness of 10 μm is formed on the surface of the substrate as a conductive layer mainly composed of silver. The area ratio of the wiring pattern layer was 50%. In addition, on the surface region of the substrate other than the wiring pattern layer, there are several tens of fine silver deposits having an outer diameter of about 1 to 10 μm.
まず、上記で準備された各基板を温度50℃に保持された脱脂液(株式会社ワールドメタル製の商品名LT−2000C)に2分間浸漬することにより脱脂した。 First, each substrate prepared above was degreased by immersing it in a degreasing liquid (trade name LT-2000C manufactured by World Metal Co., Ltd.) maintained at a temperature of 50 ° C. for 2 minutes.
次に、温度25℃に保持されたヨウ素含有溶液(ヨウ化カリウムとヨウ素を含む溶液)に各基板を2分間浸漬することにより、配線パターン層を含む各基板の表面上にヨウ素含有物質を付与した。ここで、試料番号1〜7では、ヨウ素とヨウ化カリウムの濃度が表1に示す値であるヨウ素含有溶液に基板を浸漬した。試料番号8では基板をヨウ素含有溶液に浸漬しなかった。 Next, an iodine-containing substance is imparted on the surface of each substrate including the wiring pattern layer by immersing each substrate in an iodine-containing solution (a solution containing potassium iodide and iodine) maintained at a temperature of 25 ° C. for 2 minutes. did. Here, in the sample numbers 1-7, the board | substrate was immersed in the iodine containing solution whose density | concentration of an iodine and potassium iodide is a value shown in Table 1. In sample number 8, the substrate was not immersed in the iodine-containing solution.
その後、温度25℃に保持されたパラジウム触媒付与液(株式会社ワールドメタル製の商品名AT−909)に各基板を3分間浸漬することにより、配線パターン層を含む各基板の表面上にパラジウムを主成分とする触媒を付与した。 Thereafter, each substrate is immersed for 3 minutes in a palladium catalyst applying liquid (trade name AT-909 manufactured by World Metal Co., Ltd.) maintained at a temperature of 25 ° C., so that palladium is deposited on the surface of each substrate including the wiring pattern layer. A catalyst having a main component was added.
さらに、温度70℃に保持された無電解ニッケルめっき液(株式会社ワールドメタル製の商品名リンデン204L)に各基板を30分間浸漬することにより、配線パターン層の表面上に無電解ニッケルめっき層を形成した。 Further, each substrate is immersed in an electroless nickel plating solution (trade name Linden 204L manufactured by World Metal Co., Ltd.) maintained at a temperature of 70 ° C. for 30 minutes, whereby an electroless nickel plating layer is formed on the surface of the wiring pattern layer. Formed.
以上のようにして得られた試料番号1〜8の各試料において、配線パターン層以外の基板の表面領域に存在する微小な銀の付着物20個について、無電解ニッケルめっきによるニッケルの析出の有無を光学顕微鏡(倍率50倍)を用いて調べた。その結果を以下のようにして評価した。 In each sample Nos. 1 to 8 obtained as described above, the presence or absence of nickel deposition by electroless nickel plating on 20 minute silver deposits existing in the surface region of the substrate other than the wiring pattern layer Were examined using an optical microscope (50 times magnification). The results were evaluated as follows.
A:微小な銀の付着物20個中、ニッケルの析出が観察された個数の割合0%
B:微小な銀の付着物20個中、ニッケルの析出が観察された個数の割合30%未満
C:微小な銀の付着物20個中、ニッケルの析出が観察された個数の割合30%以上
D:配線パターン層以外の基板の表面領域におけるニッケルの析出の有無にかかわらず、配線パターン層の表面上にニッケルめっきが付着されていない箇所があるもの。
A: 0% of the number of nickel deposits observed in 20 minute silver deposits
B: Less than 30% of the number of nickel deposits observed in 20 fine silver deposits C: 30% or more of the number of nickel deposits observed in 20 fine silver deposits D: A portion where there is no nickel plating on the surface of the wiring pattern layer regardless of the presence or absence of nickel deposition on the surface region of the substrate other than the wiring pattern layer.
その評価結果を表1に示す。 The evaluation results are shown in Table 1.
表1に示す試料番号4〜6の結果から、一定濃度のヨウ素含有物質を基板に付与することにより、配線パターン層以外の基板の表面領域への無電解ニッケルめっき層の形成、すなわちニッケルの析出をより効果的に防止することができることがわかる。 From the results of sample numbers 4 to 6 shown in Table 1, by applying a certain concentration of iodine-containing substance to the substrate, formation of an electroless nickel plating layer on the surface region of the substrate other than the wiring pattern layer, that is, precipitation of nickel It can be seen that can be prevented more effectively.
また、試料番号4〜6の試料では、基板の表面上で配線パターン層が形成されていない領域に、ヨウ化銀を主成分とする付着物が形成されていた。このことから、たとえば、本発明の無電解めっき方法を電子部品に適用すると、基材の表面上に形成された銀を主成分とする配線パターン層と、この配線パターン層の表面上に無電解ニッケルめっき層とが形成された電子部品においては、基材の表面上で配線パターン層が形成されていない領域に、ヨウ化銀を主成分とする付着物が形成されることになる。 Moreover, in the samples of sample numbers 4 to 6, deposits mainly composed of silver iodide were formed in a region where the wiring pattern layer was not formed on the surface of the substrate. From this, for example, when the electroless plating method of the present invention is applied to an electronic component, a wiring pattern layer mainly composed of silver formed on the surface of the substrate and an electroless pattern on the surface of the wiring pattern layer In the electronic component on which the nickel plating layer is formed, the deposit containing silver iodide as a main component is formed in a region where the wiring pattern layer is not formed on the surface of the base material.
配線パターン層の表面上へのニッケルめっきの不着を防止するためには、基板上に付与されるヨウ素含有物質のヨウ素濃度を適宜調整すればよい。 In order to prevent nickel plating from adhering to the surface of the wiring pattern layer, the iodine concentration of the iodine-containing substance applied on the substrate may be adjusted as appropriate.
なお、基板上に付与されるヨウ素含有物質のヨウ素濃度は、被めっき対象物の基板の大きさ、配線パターン層の面積、めっき金属の種類、触媒中のパラジウムの濃度等によって適宜調整すればよい。 The iodine concentration of the iodine-containing substance provided on the substrate may be appropriately adjusted depending on the size of the substrate to be plated, the area of the wiring pattern layer, the type of plating metal, the concentration of palladium in the catalyst, and the like. .
上記の実施例では、ヨウ素含有物質としてのヨウ素含有液は、ヨウ素とヨウ化カリウムを含む溶液を用いたが、ヨウ素とヨウ化ナトリウムを含む溶液を用いてもよい。また、ヨウ素含有液は、ヨウ素やヨウ化カリウムに硝酸等の酸化剤を加えてヨウ素酸としたものを用いてもよい。 In the above embodiment, the iodine-containing liquid as the iodine-containing substance is a solution containing iodine and potassium iodide. However, a solution containing iodine and sodium iodide may be used. The iodine-containing liquid may be iodic acid obtained by adding an oxidizing agent such as nitric acid to iodine or potassium iodide.
上記の実施例では、無電解めっきとして無電解ニッケルめっきの例について説明したが、無電解ニッケルめっきの後に無電解金めっきを行ってもよく、無電解めっきの触媒としてパラジウムを用いるものであるなら、無電解めっきの金属の種類、めっき層の数は特に限定されるものではない。 In the above embodiment, an example of electroless nickel plating was described as electroless plating. However, electroless gold plating may be performed after electroless nickel plating, and if palladium is used as a catalyst for electroless plating. The type of electroless plating metal and the number of plating layers are not particularly limited.
今回開示された実施例はすべての点で例示であって制限的なものではないと考慮されるべきである。本発明の範囲は以上の実施例ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての修正や変形を含むものであることが意図される。 It should be considered that the embodiments disclosed herein are illustrative and non-restrictive in every respect. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the embodiments described above, and is intended to include any modifications and variations within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.
この発明の無電解めっき方法は、チップコンデンサ等の電子部品の外部電極の表面を被覆して仕上げるために利用することができる。 The electroless plating method of the present invention can be used to coat and finish the surface of an external electrode of an electronic component such as a chip capacitor.
Claims (4)
前記導電層を含む基材の表面上にヨウ素含有物質を付与する工程と、
ヨウ素含有物質を付与した後、前記導電層を含む基材の表面上にパラジウムを主成分とする触媒を付与する工程と、
触媒を付与した後、前記導電層の表面上に無電解めっき層を形成する無電解めっき工程とを備えた、無電解めっき方法。 An electroless plating method for forming an electroless plating layer on the surface of a conductive layer mainly composed of silver formed on the surface of a substrate,
Providing an iodine-containing substance on the surface of the substrate including the conductive layer;
After providing the iodine-containing substance, applying a catalyst mainly composed of palladium on the surface of the base material including the conductive layer;
An electroless plating method comprising: an electroless plating step of forming an electroless plating layer on the surface of the conductive layer after applying a catalyst.
前記基材の表面上で前記導電層が形成されていない領域に、ヨウ化銀を主成分とする付着物を有する、電子部品。 An electronic component comprising a conductive layer mainly composed of silver formed on the surface of a substrate and an electroless plating layer formed on the surface of the conductive layer,
The electronic component which has the deposit | attachment which has silver iodide as a main component in the area | region in which the said conductive layer is not formed on the surface of the said base material.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008045501A JP2009203505A (en) | 2008-02-27 | 2008-02-27 | Electroless plating method, and electronic component |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008045501A JP2009203505A (en) | 2008-02-27 | 2008-02-27 | Electroless plating method, and electronic component |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009203505A true JP2009203505A (en) | 2009-09-10 |
Family
ID=41146065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008045501A Pending JP2009203505A (en) | 2008-02-27 | 2008-02-27 | Electroless plating method, and electronic component |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009203505A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015513617A (en) * | 2012-03-15 | 2015-05-14 | アトテツク・ドイチユラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングAtotech Deutschland GmbH | Method for metallizing non-conductive plastic surface |
-
2008
- 2008-02-27 JP JP2008045501A patent/JP2009203505A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015513617A (en) * | 2012-03-15 | 2015-05-14 | アトテツク・ドイチユラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングAtotech Deutschland GmbH | Method for metallizing non-conductive plastic surface |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6092489B1 (en) | Pretreatment method for electroless plating | |
JP2016160504A (en) | ELECTROLESS Ni/Au PLATED FILM FORMING METHOD, AND ELECTROLESS Ni/Au PLATED FILM OBTAINED BY THE FORMING METHOD | |
JP2019007067A (en) | Electroless plating process | |
TWI645071B (en) | Electroless palladium / gold plating method | |
KR20120075852A (en) | Board structure and method for manufacturing the same | |
JP6811041B2 (en) | Electroless platinum plating bath | |
KR102116055B1 (en) | Electroless nickel strike plating solution | |
JP2004019003A (en) | Printed circuit board and plating method thereon | |
JP5843249B2 (en) | Activation liquid for pretreatment of electroless palladium plating or electroless palladium alloy plating | |
JP4831710B1 (en) | Electroless gold plating solution and electroless gold plating method | |
JP2009203505A (en) | Electroless plating method, and electronic component | |
JP4230813B2 (en) | Gold plating solution | |
JP2010196121A (en) | Electroless palladium plating bath and electroless palladium plating method | |
JP5278685B2 (en) | Manufacturing method of electronic parts | |
JP6521553B1 (en) | Substitution gold plating solution and substitution gold plating method | |
JP2005163153A (en) | Electroless nickel substituted gold plating treatment layer, electroless nickel plating solution, and electroless nickel substituted gold plating treatment method | |
JP2649749B2 (en) | Selective electroless plating method on copper material | |
JP5990789B2 (en) | Activation liquid for pretreatment of electroless palladium plating or electroless palladium alloy plating | |
JP2004332036A (en) | Electroless plating method | |
JP4842620B2 (en) | Method for manufacturing printed wiring board having high-density copper pattern | |
JP4839509B2 (en) | Ceramic electronic components | |
JP2005068489A (en) | Palladium catalyst solution for electroless plating and catalyst treatment method | |
JP4577156B2 (en) | Electroless nickel plating bath and electroless plating method using the same | |
Liu et al. | Effects of pH on the immersion gold process from a sulfite-thiosulfate solution based on the electroless Ni-P alloy substrate | |
JP2003226981A (en) | Method of plating electronic part, and electronic part |