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JP2009245652A - Insulated wire - Google Patents

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JP2009245652A
JP2009245652A JP2008088297A JP2008088297A JP2009245652A JP 2009245652 A JP2009245652 A JP 2009245652A JP 2008088297 A JP2008088297 A JP 2008088297A JP 2008088297 A JP2008088297 A JP 2008088297A JP 2009245652 A JP2009245652 A JP 2009245652A
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resin layer
insulated wire
resin
dielectric constant
thickness
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Application number
JP2008088297A
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Japanese (ja)
Inventor
Daisuke Muto
大介 武藤
Tsuneo Aoi
恒夫 青井
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Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an insulated wire capable of suppressing charge degradation under a high temperature environment and increasing a charge life. <P>SOLUTION: The insulated wire T1 includes a first resin layer 1 coating the periphery of a conductor 4 and a second resin layer 2 coating the periphery of the first resin layer 1. The first resin layer 1 has a relative dielectric constant ε1; and the second resin layer 2 has a relative dielectric constant ε2. The relative dielectric constants ε1 and ε2 satisfy the relationship of ε1/ε2>1 or preferably ε1/ε2>1.1 at a temperature of 150°C or higher. The first and second resin layers 1 and 2 are made of substances selected from an amorphous resin whose glass transition temperature (Tg) is 150°C or higher and a crystalline resin whose melting point (Tm) is 150°C or higher. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、導体の外周に少なくとも2層の絶縁皮膜を被覆してなる絶縁電線に関し、特に、自動車等のような高温環境下で用いられるのに適する絶縁電線に関する。   The present invention relates to an insulated wire obtained by coating an outer periphery of a conductor with at least two layers of an insulating film, and more particularly to an insulated wire suitable for use in a high-temperature environment such as an automobile.

従来の絶縁電線は、例えば特許文献1に示すように、導体に絶縁皮膜を被覆して構成されている。   As shown in Patent Document 1, for example, a conventional insulated wire is configured by covering a conductor with an insulating film.

導体は、例えば銅、アルミニウム等の導電性の金属で作られ、絶縁皮膜は、例えば絶縁性の樹脂で作られている。
特開平2005−268082号公報
The conductor is made of a conductive metal such as copper or aluminum, and the insulating film is made of an insulating resin, for example.
Japanese Patent Laid-Open No. 2005-268082

図7は、ポリフェニレンサルファイド(PPS)の樹脂を被覆した絶縁電線の場合の高温課電状態における電流特性を示すグラフである。   FIG. 7 is a graph showing current characteristics in a high temperature applied state in the case of an insulated wire coated with a polyphenylene sulfide (PPS) resin.

図7から、高温になるに従い、オームの法則から導き出される電流(点線で示す)よりも大きな電流(実線で示す)が流れることがわかる。   From FIG. 7, it can be seen that as the temperature increases, a current (indicated by a solid line) flows that is larger than the current derived from Ohm's law (indicated by a dotted line).

そのため、従来の絶縁電線では、高温環境下での課電劣化が大きく、課電寿命が短いという課題があった。   For this reason, the conventional insulated wires have a problem in that the degradation of electricity under a high temperature environment is large and the life of electricity is short.

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、高温環境下での課電劣化を抑制し、かつ課電寿命を向上させることができる絶縁電線を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an insulated wire that can suppress the degradation of electricity under a high temperature environment and can improve the life of electricity.

本発明者らは、自動車等の高温環境下での絶縁電線の課電劣化や寿命は、電極からの電荷注入(ショットキー放出)に大きく影響されることを突き止めた。
一般に、ショットキー放出電流iは次式で表される。
The inventors of the present invention have found that the degradation and life of an insulated wire under a high temperature environment such as an automobile are greatly influenced by charge injection (Schottky emission) from the electrode.
In general, the Schottky emission current i is expressed by the following equation.

Figure 2009245652
Figure 2009245652

ここで、Aはリチャードソン-ダッシュマン定数、Tは絶対温度、Eは電界、φDは金属の誘電体に対する仕事関数、kはボルツマン定数である。 Here, A is the Richardson-Dashman constant, T is the absolute temperature, E is the electric field, φ D is the work function for the metal dielectric, and k is the Boltzmann constant.

すなわち、高温環境下では電極からの電荷注入に支配的な電気伝導となり、電極面に大きな電界がかかると電荷注入がさらに促進され、急激な電流増加が樹脂を劣化させるとともに、絶縁破壊に導くのである。   In other words, electrical conduction is dominant in charge injection from the electrode in a high temperature environment, and when a large electric field is applied to the electrode surface, charge injection is further promoted, and a rapid current increase degrades the resin and leads to dielectric breakdown. is there.

そこで、本発明の絶縁電線は、導体の外周に少なくとも2層の絶縁皮膜を被覆してなる絶縁電線において、
前記導体の外周に被覆された比誘電率ε1の第1の樹脂層と、
前記第1の樹脂層の外周に被覆された比誘電率ε2の第2の樹脂層とを有し、
150℃以上で、ε1/ε2>1の関係にある、
ことを特徴とするものである。
Therefore, the insulated wire of the present invention is an insulated wire formed by coating an outer periphery of a conductor with at least two layers of an insulating film.
A first resin layer having a relative dielectric constant ε1 coated on the outer periphery of the conductor;
A second resin layer having a relative dielectric constant ε2 coated on the outer periphery of the first resin layer,
At 150 ° C. or higher, ε1 / ε2> 1
It is characterized by this.

150℃以上で、ε1/ε2>1.1の関係にあるのが望ましい。   It is desirable that ε1 / ε2> 1.1 at 150 ° C. or higher.

前記第1の樹脂層の厚さは、前記第1の樹脂層及び前記第2の樹脂層の合計の厚さの0%より大きく、30%以下であってもよい。   The thickness of the first resin layer may be greater than 0% and 30% or less of the total thickness of the first resin layer and the second resin layer.

前記第1の樹脂層の厚さは、前記第1の樹脂層及び前記第2の樹脂層の合計の厚さの0%より大きく、20%以下であるのが望ましい。   The thickness of the first resin layer is preferably greater than 0% and not more than 20% of the total thickness of the first resin layer and the second resin layer.

前記第1の樹脂層及び第2の樹脂層は、ガラス転移温度が150℃以上の非晶性樹脂又は融点が150℃以上の結晶性樹脂から選択される物質で作られていてもよい。   The first resin layer and the second resin layer may be made of a material selected from an amorphous resin having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher or a crystalline resin having a melting point of 150 ° C. or higher.

前記第2の樹脂層の外周に被覆された比誘電率ε3の第3の樹脂層を有し、
150℃以上において、ε3/ε2>1の関係にあるものでもよい。
A third resin layer having a relative dielectric constant ε3 coated on the outer periphery of the second resin layer;
At 150 ° C. or higher, ε3 / ε2> 1 may be satisfied.

150℃以上で、ε3/ε2>1.1の関係にあるのが望ましい。   It is desirable that the relationship is ε3 / ε2> 1.1 at 150 ° C. or higher.

前記第1の樹脂層と前記第3の樹脂層との合計の厚さは、前記第1の樹脂層、前記第2の樹脂層及び前記第3の樹脂層の合計の厚さの0%より大きく、30%以下であってもよい。   The total thickness of the first resin layer and the third resin layer is more than 0% of the total thickness of the first resin layer, the second resin layer, and the third resin layer. It may be large and 30% or less.

前記第1の樹脂層と前記第3の樹脂層との合計の厚さは、前記第1の樹脂層、前記第2の樹脂層及び前記第3の樹脂層の合計の厚さの0%より大きく、20%以下であるのが望ましい。
前記第3の樹脂層は、ガラス転移温度が150℃以上の非晶性樹脂又は融点が150℃以上の結晶性樹脂から選択される物質で作られていてもよい。
前記導体と前記第1の樹脂層との間には、前記導体による樹脂層の劣化を防止するための劣化防止層が形成されていてもよい。
The total thickness of the first resin layer and the third resin layer is more than 0% of the total thickness of the first resin layer, the second resin layer, and the third resin layer. It is desirable to be large and 20% or less.
The third resin layer may be made of a material selected from an amorphous resin having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher or a crystalline resin having a melting point of 150 ° C. or higher.
A deterioration preventing layer for preventing deterioration of the resin layer due to the conductor may be formed between the conductor and the first resin layer.

請求項1に係る発明によれば、150℃以上で、導体表面に隣接する第1の樹脂層の比誘電率ε1の方が、第1の樹脂層の外周に被覆された第2の樹脂層の比誘電率ε2よりも高いため、導体表面の電界を小さくでき、絶縁電線への電荷注入を抑制できる。その結果、高温環境下での課電劣化を抑制できるとともに、課電寿命を向上させることができる。   According to the first aspect of the present invention, the second resin layer is coated at the outer periphery of the first resin layer with the relative dielectric constant ε1 of the first resin layer adjacent to the conductor surface at 150 ° C. or higher. Therefore, the electric field on the conductor surface can be reduced, and the charge injection into the insulated wire can be suppressed. As a result, it is possible to suppress the degradation of electricity under a high temperature environment and to improve the life of electricity.

請求項2に係る発明によれば、比誘電率ε1が比誘電率ε2よりもさらに高くなるため、電圧低減効果がさらに向上する。   According to the second aspect of the present invention, since the relative dielectric constant ε1 becomes higher than the relative dielectric constant ε2, the voltage reduction effect is further improved.

請求項3に係る発明によれば、誘電率の高い第1の樹脂層が薄いため、第2の樹脂層にかかる電界の増加を抑えられるため、絶縁破壊電圧特性を損なうことがない。   According to the invention of claim 3, since the first resin layer having a high dielectric constant is thin, an increase in the electric field applied to the second resin layer can be suppressed, so that the breakdown voltage characteristics are not impaired.

また、空気ギャップを伴う場合、空気ギャップの電界増加を抑えられるため、耐インバータサージ(コロナ開始電圧)特性を損なうことがない。   In addition, when an air gap is involved, an increase in the electric field of the air gap can be suppressed, so that the inverter surge resistance (corona start voltage) characteristics are not impaired.

請求項4に係る発明によれば、第1の樹脂層がさらに薄いため、絶縁破壊電圧特性や耐インバータサージ特性がより向上する。   According to the invention of claim 4, since the first resin layer is further thin, the breakdown voltage characteristics and the inverter surge resistance characteristics are further improved.

請求項5に係る発明によれば、上記効果をより確実に奏することができる。   According to the invention which concerns on Claim 5, the said effect can be show | played more reliably.

請求項6に係る発明によれば、150℃以上で、第2の樹脂層の外周に被覆された第3の樹脂層の比誘電率ε3の方が、第2の樹脂層の比誘電率ε2よりも高いため、絶縁電線への電荷注入を抑制できる。その結果、高温環境下での課電劣化を抑制できるとともに、課電寿命を向上させることができる。   According to the sixth aspect of the invention, the relative dielectric constant ε3 of the third resin layer coated on the outer periphery of the second resin layer at 150 ° C. or higher is higher than that of the second resin layer. Therefore, charge injection into the insulated wire can be suppressed. As a result, it is possible to suppress the degradation of electricity under a high temperature environment and to improve the life of electricity.

請求項7に係る発明によれば、比誘電率ε3が比誘電率ε2よりもさらに高くなるため、電圧低減効果がさらに向上する。   According to the seventh aspect of the present invention, since the relative dielectric constant ε3 becomes higher than the relative dielectric constant ε2, the voltage reduction effect is further improved.

請求項8に係る発明によれば、誘電率の高い第1の樹脂層及び第3の樹脂層が薄いため、第2の樹脂層にかかる電界が小さくなり、絶縁破壊電圧特性を損なうことがない。   According to the invention of claim 8, since the first resin layer and the third resin layer having a high dielectric constant are thin, the electric field applied to the second resin layer is reduced, and the breakdown voltage characteristics are not impaired. .

また、空気ギャップを伴う場合、空気ギャップの電界増加を抑えられるため、耐インバータサージ(コロナ開始電圧)特性を損なうことがない。   In addition, when an air gap is involved, an increase in the electric field of the air gap can be suppressed, so that the inverter surge resistance (corona start voltage) characteristics are not impaired.

請求項9に係る発明によれば、第1の樹脂層及び第3の樹脂層がさらに薄いため、絶縁破壊電圧特性や耐インバータサージ特性がより向上する。   According to the ninth aspect of the invention, since the first resin layer and the third resin layer are thinner, the dielectric breakdown voltage characteristics and the inverter surge resistance characteristics are further improved.

請求項10に係る発明によれば、上記効果をより確実に奏することができる。   According to the invention which concerns on Claim 10, the said effect can be show | played more reliably.

請求項11に係る発明によれば、金属との接触による樹脂の酸化劣化促進作用を防止することができる。   According to the invention which concerns on Claim 11, the oxidation deterioration promotion effect | action of resin by the contact with a metal can be prevented.

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の第1の実施形態例に係る絶縁電線を示す断面図であり、(A)は断面が丸形の場合、(B)は断面が方形の場合を示す。   1A and 1B are cross-sectional views showing an insulated wire according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1A shows a case where the cross section is round, and FIG. 1B shows a case where the cross section is square.

図1(A)及び(B)に示すように、本発明の第1の実施形態例に係る絶縁電線T1は、導体4の外周に被覆された比誘電率ε1の第1の樹脂層1と、第1の樹脂層1の外周に被覆された比誘電率ε2の第2の樹脂層2とを有し、150℃以上で、ε1/ε2>1、望ましくは、ε1/ε2>1.1の関係にあることを特徴としている。   As shown in FIGS. 1A and 1B, the insulated wire T1 according to the first embodiment of the present invention includes a first resin layer 1 having a relative dielectric constant ε1 coated on the outer periphery of a conductor 4 and And the second resin layer 2 having a relative dielectric constant ε2 coated on the outer periphery of the first resin layer 1, and ε1 / ε2> 1, preferably ε1 / ε2> 1.1 at 150 ° C. or higher. It is characterized by having a relationship.

導体4は、例えば銅、アルミニウム等の導電性の金属で作られている。   The conductor 4 is made of a conductive metal such as copper or aluminum.

第1の樹脂層1及び第2の樹脂層2は、ガラス転移温度(Tg)が150℃以上の非晶性樹脂又は融点(Tm)が150℃以上の結晶性樹脂から選択される物質で作られている。   The first resin layer 1 and the second resin layer 2 are made of a material selected from an amorphous resin having a glass transition temperature (Tg) of 150 ° C. or higher or a crystalline resin having a melting point (Tm) of 150 ° C. or higher. It has been.

ガラス転移温度が150℃以上の非晶性樹脂としては、例えば、ポリイミド(PI)、ポリアミドイミド(PAI)、ポリエステルイミド、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリイミドヒダントイン変性ポリエステル、ポリエーテルサルホン(PES)、ポリサルホン(PSU)、ポリフェニルサルホン(PPSU)ポリアリレート(PAR)等が挙げられる。またこれら複数のコポリマー、複数のポリマーアロイも含まれる。   Examples of the amorphous resin having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher include polyimide (PI), polyamideimide (PAI), polyesterimide, polyetherimide (PEI), polyimide hydantoin-modified polyester, and polyethersulfone (PES). , Polysulfone (PSU), polyphenylsulfone (PPSU) polyarylate (PAR), and the like. These plural copolymers and plural polymer alloys are also included.

融点が150℃以上の結晶性樹脂としては、例えば、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、ポリメチルペンテン(PMP)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体(FEP)、テトラフルオロエチレン−エチレン共重合体(ETFE)、テトラフルオロエチレン・パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体(PFA)、ポリアミド6、66、11、12、610、46を含む脂肪族ポリアミド、ポリアミド6T、9T、MXD6、ポリフタルアミドを含む芳香族ポリアミド、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリブチレンナフタレート(PBT)、ポリブチレンナフタレート(PBN)、ポリフェニレンエーテル(PPE)、ポリフェニレンオキサイト(PPO)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、液晶ポリマー(LCP)を含む芳香族ポリエステル、シンジオタクチックポリスチレン(SPS)、ポリアセタール(POM)等が挙げられる。またこれら複数のコポリマー、複数のポリマーアロイも含まれる。   Examples of the crystalline resin having a melting point of 150 ° C. or higher include polyphenylene sulfide (PPS), polymethylpentene (PMP), polytetrafluoroethylene (PTFE), tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer (FEP), tetra Fluoroethylene-ethylene copolymer (ETFE), tetrafluoroethylene / perfluoroalkyl vinyl ether copolymer (PFA), polyamide 6, 66, 11, 12, 610, 46 aliphatic polyamide, polyamide 6T, 9T, MXD6 , Aromatic polyamides containing polyphthalamide, polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate (PBT), polyethylene naphthalate (PEN), polybutylene naphthalate (PBT), polybutylene naphthalate (PBN), polyphenylene ether (PPE), polyphenylene oxide (PPO), polyether ether ketone (PEEK), aromatic polyester including liquid crystal polymer (LCP), syndiotactic polystyrene (SPS), polyacetal (POM), etc. Can be mentioned. These plural copolymers and plural polymer alloys are also included.

なお、第1の樹脂層1及び第2の樹脂層2として同じ組成の樹脂を用い、第1の樹脂層1の誘電率を上げるために、第1の樹脂層1の樹脂にカーボン、シリカ(SiO2)、酸化チタン(TiO2)、アルミナ(Al23)等のフィラーを添加してもよい。 In addition, in order to raise the dielectric constant of the 1st resin layer 1 using the resin of the same composition as the 1st resin layer 1 and the 2nd resin layer 2, carbon, silica ( A filler such as SiO 2 ), titanium oxide (TiO 2 ), or alumina (Al 2 O 3 ) may be added.

図2は、本発明の第1の実施形態例に係る絶縁電線T1(図1(B)参照)に対して電圧Vを印加した状態を示す説明図である。   FIG. 2 is an explanatory diagram showing a state in which the voltage V is applied to the insulated wire T1 (see FIG. 1B) according to the first embodiment of the present invention.

第1の樹脂層1の比誘電率をε1、その厚さをTa、第2の樹脂層2の比誘電率をε2、その厚さをTbとすると、導体表面の電界Eは、
E=ε2×V/(ε1×Tb+ε2×Ta)
となる。
When the relative dielectric constant of the first resin layer 1 is ε1, the thickness is Ta, the relative dielectric constant of the second resin layer 2 is ε2, and the thickness is Tb, the electric field E on the conductor surface is
E = ε2 × V / (ε1 × Tb + ε2 × Ta)
It becomes.

150℃以上の高温環境下においては、電圧Vからの電荷注入は導体4表面の電界Eに依存するため、導体4表面の電界Eを小さくすることで、電荷注入を抑制できる。導体4表面の電界を小さくするには、導体4に隣接する第1の樹脂層1の誘電率を上げればよい。   In a high temperature environment of 150 ° C. or higher, charge injection from the voltage V depends on the electric field E on the surface of the conductor 4, so that the charge injection can be suppressed by reducing the electric field E on the surface of the conductor 4. In order to reduce the electric field on the surface of the conductor 4, the dielectric constant of the first resin layer 1 adjacent to the conductor 4 may be increased.

本発明の第1の実施形態例に係る絶縁電線T1によれば、150℃以上で、導体4表面に隣接する第1の樹脂層1の比誘電率ε1の方が、第1の樹脂層1の外周に被覆された第2の樹脂層2の比誘電率ε2よりも高いため、導体4表面の電界を小さくでき、絶縁電線T1への電荷注入を抑制できる。その結果、高温環境下での課電劣化を抑制できるとともに、課電寿命を向上させることができる。   According to the insulated wire T1 according to the first embodiment of the present invention, the relative dielectric constant ε1 of the first resin layer 1 adjacent to the surface of the conductor 4 at 150 ° C. or higher is higher than that of the first resin layer 1. Since the relative dielectric constant ε2 of the second resin layer 2 coated on the outer periphery of the conductor 4 is higher, the electric field on the surface of the conductor 4 can be reduced, and charge injection into the insulated wire T1 can be suppressed. As a result, it is possible to suppress the degradation of electricity under a high temperature environment and to improve the life of electricity.

本発明者らは、第1の樹脂層1の比誘電率ε1の方が、第2の樹脂層2の比誘電率ε2よりも高くなるように異なる材質を用いた場合(実施例(1)〜(4))、第1の樹脂層1の比誘電率ε1と第2の樹脂層2の比誘電率ε2が等しくなるように同じ材質を用いた場合(比較例(1))、第1の樹脂層1の比誘電率ε1よりも、第2の樹脂層2の比誘電率ε2の方が高くなるように異なる材質を用いた場合(比較例(2))における導体4表面の電界を測定する実験を行った。   The inventors use a different material so that the relative dielectric constant ε1 of the first resin layer 1 is higher than the relative dielectric constant ε2 of the second resin layer 2 (Example (1)). To (4)), when the same material is used so that the relative dielectric constant ε1 of the first resin layer 1 is equal to the relative dielectric constant ε2 of the second resin layer 2 (Comparative Example (1)), the first The electric field on the surface of the conductor 4 when a different material is used so that the relative dielectric constant ε2 of the second resin layer 2 is higher than the relative dielectric constant ε1 of the resin layer 1 (comparative example (2)). Experiments to measure were performed.

表1は、その実験結果、比較例(1)との比率及び電界低減効果を示す。   Table 1 shows the experimental results, the ratio with Comparative Example (1), and the electric field reduction effect.

Figure 2009245652
この実験において、実施例(1)では、第1の樹脂層1としてPAI、第2の樹脂層2としてPPSを用い、実施例(2)では、第1の樹脂層1としてPEEK、第2の樹脂層2としてPPSを用い、実施例(3)では、第1の樹脂層1としてPET、第2の樹脂層2としてPPSを用い、実施例(4)では、第1の樹脂層1としてNy66、第2の樹脂層2としてPPSを用いた。
Figure 2009245652
In this experiment, in Example (1), PAI was used as the first resin layer 1 and PPS was used as the second resin layer 2, and in Example (2), PEEK was used as the first resin layer 1, and the second resin layer 1 was used. PPS is used as the resin layer 2. In Example (3), PET is used as the first resin layer 1, PPS is used as the second resin layer 2, and Ny66 is used as the first resin layer 1 in Example (4). PPS was used as the second resin layer 2.

比較例(1)では、第1の樹脂層1及び第2の樹脂層2としてPPSを用い、比較例(2)では、第1の樹脂層1としてPPS、第2の樹脂層2としてNy66を用いた。   In Comparative Example (1), PPS is used as the first resin layer 1 and the second resin layer 2, and in Comparative Example (2), PPS is used as the first resin layer 1, and Ny66 is used as the second resin layer 2. Using.

また、第1の樹脂層1の厚さTaは10μm、第2の樹脂層2の厚さTbは90μm、全体膜厚T(Ta+Tb)は100μm、印加電圧は1.0kVとした。   The thickness Ta of the first resin layer 1 was 10 μm, the thickness Tb of the second resin layer 2 was 90 μm, the total film thickness T (Ta + Tb) was 100 μm, and the applied voltage was 1.0 kV.

表1から、実施例(1)〜(4)の場合、比較例(1)の場合に比べ、導体4表面の電界が10%以上低減していることがわかる。このことから、150℃以上で、ε1/ε2>1の関係、望ましくはε1/ε2>1.1の関係にあると、絶縁電線T1への電荷注入を抑制でき、高温環境下での課電劣化を抑制できるとともに、課電寿命を向上させることができることがわかる。   From Table 1, it can be seen that in the case of Examples (1) to (4), the electric field on the surface of the conductor 4 is reduced by 10% or more compared to the case of Comparative Example (1). Therefore, when the relationship is ε1 / ε2> 1, more preferably ε1 / ε2> 1.1 at 150 ° C. or higher, charge injection into the insulated wire T1 can be suppressed, and charging in a high temperature environment is possible. It can be seen that deterioration can be suppressed and the service life can be improved.

図3は、全体膜厚Tに対する第1の樹脂層1の厚さTaの比率と電界低減効果との関係を示すグラフである。   FIG. 3 is a graph showing the relationship between the ratio of the thickness Ta of the first resin layer 1 to the total film thickness T and the electric field reduction effect.

図3からわかるように、第1の樹脂層1を厚くすると電界低減効果が小さくなるため、電界低減効果を奏するためには、全体膜厚Tに対する第1の樹脂層1の厚さTaの比率が30%以下、望ましくは、20%以下になるように形成する必要がある。   As can be seen from FIG. 3, since the electric field reduction effect is reduced when the first resin layer 1 is thickened, the ratio of the thickness Ta of the first resin layer 1 to the total film thickness T is required to obtain the electric field reduction effect. Is 30% or less, and desirably 20% or less.

本発明者らは、全体膜厚Tを50μmに薄くして、第1の樹脂層1の厚さTaと第2の樹脂層2の厚さTbの比率を同じにした場合(実施例(5))と、第1の樹脂層1を形成せず、第2の樹脂層2だけの場合(比較例(3))における導体4表面の電界を測定する実験を行った。   In the case where the total film thickness T is reduced to 50 μm and the ratio between the thickness Ta of the first resin layer 1 and the thickness Tb of the second resin layer 2 is made the same (Example (5 )), And the first resin layer 1 was not formed, and an experiment was conducted to measure the electric field on the surface of the conductor 4 in the case of only the second resin layer 2 (Comparative Example (3)).

表2は、その実験結果、比較例(3)との比率を示す。   Table 2 shows the ratio of the experimental result and Comparative Example (3).

Figure 2009245652
表2からわかるように、全体膜厚を薄くしても、全体膜厚Tに対する第1の樹脂層1の厚さTaの比率が同じであれば、同様の電界低減効果を奏する。
Figure 2009245652
As can be seen from Table 2, even if the total film thickness is reduced, the same electric field reducing effect can be obtained as long as the ratio of the thickness Ta of the first resin layer 1 to the total film thickness T is the same.

図4は、全体膜厚Tに対する第1の樹脂層1の厚さTaの比率と第2の樹脂層2にかかる電界、導体4表面の電界との関係を示すグラフである。   FIG. 4 is a graph showing the relationship between the ratio of the thickness Ta of the first resin layer 1 to the total film thickness T, the electric field applied to the second resin layer 2, and the electric field of the conductor 4 surface.

ここで、ε1は4.0、ε2は2.8、印加電圧Vは1kV、全体膜厚は100μmである。   Here, ε1 is 4.0, ε2 is 2.8, the applied voltage V is 1 kV, and the total film thickness is 100 μm.

図4からわかるように、誘電率の高い第1の樹脂層1が厚くなると、第2の樹脂層2にかかる電界が大きくなるため、絶縁破壊電圧が低下するおそれがある。   As can be seen from FIG. 4, when the first resin layer 1 having a high dielectric constant is thickened, the electric field applied to the second resin layer 2 is increased, which may reduce the dielectric breakdown voltage.

そこで、電界上昇を抑制し、絶縁破壊電圧特性を損なわないためには、全体膜厚Tに対する第1の樹脂層1の厚さTaの比率が30%以下、望ましくは、20%以下になるように形成する必要がある。   Therefore, in order to suppress the electric field rise and not impair the dielectric breakdown voltage characteristics, the ratio of the thickness Ta of the first resin layer 1 to the total film thickness T is 30% or less, preferably 20% or less. Need to be formed.

図5は、全体膜厚Tに対する第1の樹脂層1の厚さTaの比率と、空気ギャップの電界増加率との関係を示すグラフである。   FIG. 5 is a graph showing the relationship between the ratio of the thickness Ta of the first resin layer 1 to the total film thickness T and the electric field increase rate of the air gap.

ここで、ε1は4.0、ε2は2.8、空気ギャップは、30μmである。   Here, ε1 is 4.0, ε2 is 2.8, and the air gap is 30 μm.

図5からわかるように、誘電率の高い第1の樹脂層1が厚くなると、空気ギャップの電界が高くなり、コロナ開始電圧の低下を招く。   As can be seen from FIG. 5, when the first resin layer 1 having a high dielectric constant becomes thicker, the electric field in the air gap becomes higher, causing a decrease in the corona start voltage.

そこで、耐インバータサージ(コロナ開始電圧)特性を損なわないためには、全体膜厚Tに対する第1の樹脂層1の厚さTaの比率が30%以下、望ましくは、20%以下になるように形成する必要がある。   Therefore, in order not to impair the inverter surge (corona start voltage) characteristics, the ratio of the thickness Ta of the first resin layer 1 to the total film thickness T is 30% or less, preferably 20% or less. Need to form.

図6は、本発明の第2の実施形態例に係る絶縁電線を示す断面図であり、(A)は断面が丸形の場合、(B)は断面が方形の場合を示す。   6A and 6B are cross-sectional views showing an insulated wire according to a second embodiment of the present invention. FIG. 6A shows a case where the cross section is round, and FIG. 6B shows a case where the cross section is square.

本発明の第2の実施形態例に係る絶縁電線T2は、第1の樹脂層1及び第2の樹脂層2の他に、第2の樹脂層2の外周に被覆された比誘電率ε3の第3の樹脂層3を有し、150℃以上において、ε3/ε2>1の関係、望ましくはε3/ε2>1.1の関係にあることを特徴としている。   The insulated wire T2 according to the second embodiment of the present invention has a relative dielectric constant ε3 covered on the outer periphery of the second resin layer 2 in addition to the first resin layer 1 and the second resin layer 2. It has the 3rd resin layer 3, and has the relationship of (epsilon) 3 / (epsilon) 2> 1 at 150 degreeC or more, Preferably it is the relationship of (epsilon) 3 / (epsilon) 2> 1.1.

第3の樹脂層3は、ガラス転移温度が150℃以上の非晶性樹脂又は融点が150℃以上の結晶性樹脂から選択される物質で作られている。具体的な物質は、前述した第1の樹脂層1及び第2の樹脂層2の場合と同様である。   The third resin layer 3 is made of a material selected from an amorphous resin having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher or a crystalline resin having a melting point of 150 ° C. or higher. Specific materials are the same as those of the first resin layer 1 and the second resin layer 2 described above.

本発明の第2の実施形態例に係る絶縁電線T2によれば、150℃以上で、第2の樹脂層2の外周に被覆された第3の樹脂層3の比誘電率ε3の方が、第2の樹脂層2の比誘電率ε2よりも高いため、絶縁電線T1への電荷注入を抑制できる。その結果、高温環境下での課電劣化を抑制できるとともに、課電寿命を向上させることができる。   According to the insulated wire T2 according to the second embodiment of the present invention, the relative dielectric constant ε3 of the third resin layer 3 coated on the outer periphery of the second resin layer 2 is 150 ° C. or higher. Since the relative dielectric constant ε2 of the second resin layer 2 is higher, charge injection into the insulated wire T1 can be suppressed. As a result, it is possible to suppress the degradation of electricity under a high temperature environment and to improve the life of electricity.

また、第1の樹脂層1の厚さTaと第3の樹脂層3の厚さTcとの合計の厚さ(Ta+Tc)は、第1の樹脂層1、第2の樹脂層2及び第3の樹脂層3の合計膜厚Tの30%以下、望ましくは20%以下になるように形成されている。これによって、第1の樹脂層1及び第3の樹脂層3が第2の樹脂層2よりもかなり薄いため、絶縁破壊特性や耐インバータサージ(コロナ開始電圧)特性を損なうことがなくなる。   The total thickness (Ta + Tc) of the thickness Ta of the first resin layer 1 and the thickness Tc of the third resin layer 3 is determined by the first resin layer 1, the second resin layer 2, and the third resin layer 3. The total thickness T of the resin layers 3 is 30% or less, preferably 20% or less. As a result, the first resin layer 1 and the third resin layer 3 are considerably thinner than the second resin layer 2, so that the dielectric breakdown characteristics and the inverter surge resistance (corona start voltage) characteristics are not impaired.

本発明者らは、第1の樹脂層1としてPAI、第2の樹脂層2としてPPS、第3の樹脂層3としてPAIを用い、第1の樹脂層1の厚さTa及び第3の樹脂層3の厚さTcを5μm、第2の樹脂層2の厚さTbを90μmにした場合(実施例(6))と、第2の樹脂層2だけを形成し、その厚さTbを100μmにした場合(比較例(4))と、第1の樹脂層1及び第2の樹脂層2だけを形成し、厚さTaを10μm、厚さTbを90μmにした場合(比較例(5))における導体4表面の電界を測定する実験を行った。   The present inventors use PAI as the first resin layer 1, PPS as the second resin layer 2, PAI as the third resin layer 3, the thickness Ta of the first resin layer 1, and the third resin. When the thickness Tc of the layer 3 is 5 μm and the thickness Tb of the second resin layer 2 is 90 μm (Example (6)), only the second resin layer 2 is formed, and the thickness Tb is 100 μm. (Comparative Example (4)) and the case where only the first resin layer 1 and the second resin layer 2 are formed and the thickness Ta is 10 μm and the thickness Tb is 90 μm (Comparative Example (5)) The experiment of measuring the electric field on the surface of the conductor 4 in FIG.

ここで、ε1は4.0、ε2は2.8、印加電圧Vは1kV、全体膜厚は100μmである。   Here, ε1 is 4.0, ε2 is 2.8, the applied voltage V is 1 kV, and the total film thickness is 100 μm.

表3は、その実験結果、比較例(4)との比率を示す。   Table 3 shows the ratio of the experimental results and Comparative Example (4).

Figure 2009245652
表3からわかるように、第1の樹脂層1、第2の樹脂層2及び第3の樹脂層3を形成した実施例(6)の場合は、第1の樹脂層1及び第2の樹脂層2を形成した場合(比較例(5))と同様に、第2の樹脂層2だけを形成した比較例(4)の場合に比べ、電界低減効果を奏する。
Figure 2009245652
As can be seen from Table 3, in the case of Example (6) in which the first resin layer 1, the second resin layer 2, and the third resin layer 3 were formed, the first resin layer 1 and the second resin Similar to the case where the layer 2 is formed (Comparative Example (5)), the electric field reducing effect is achieved as compared with the case of the Comparative Example (4) where only the second resin layer 2 is formed.

本発明は、上記実施の形態に限定されることはなく、特許請求の範囲に記載された技術的事項の範囲内において、種々の変更が可能である。例えば、導体と第1の樹脂層との間に、金属酸化を防止するために金属酸化物又はコーディング層等からなる金属酸化防止層が形成されていてもよい。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made within the scope of the technical matters described in the claims. For example, a metal antioxidant layer made of a metal oxide or a coding layer may be formed between the conductor and the first resin layer in order to prevent metal oxidation.

本発明の絶縁電線は、自動車等のような高温環境下で用いられるのに適している。   The insulated wire of the present invention is suitable for use in a high temperature environment such as an automobile.

本発明の第1の実施形態例に係る絶縁電線を示す断面図であり、(A)は断面が丸形の場合、(B)は断面が方形の場合を示す。It is sectional drawing which shows the insulated wire which concerns on the 1st Example of this invention, (A) shows the case where a cross section is a round shape, (B) shows the case where a cross section is a square. 本発明の第1の実施形態例に係る絶縁電線に対して電圧Vを印加した状態を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the state which applied the voltage V with respect to the insulated wire which concerns on the 1st Example of this invention. 全体膜厚Tに対する第1の樹脂層の厚さTaの比率と電界低減効果との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the ratio of the thickness Ta of the 1st resin layer with respect to the whole film thickness T, and an electric field reduction effect. 全体膜厚Tに対する第1の樹脂層の厚さTaの比率と電界との関係を示すグラフである。6 is a graph showing the relationship between the ratio of the thickness Ta of the first resin layer to the total film thickness T and the electric field. 全体膜厚Tに対する第1の樹脂層の厚さTaの比率と空気ギャップの電界増加率との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the ratio of the thickness Ta of the 1st resin layer with respect to the whole film thickness T, and the electric field increase rate of an air gap. 本発明の第2の実施形態例に係る絶縁電線を示す断面図であり、(A)は断面が丸形の場合、(B)は断面が方形の場合を示す。It is sectional drawing which shows the insulated wire which concerns on the 2nd Example of this invention, (A) shows the case where a cross section is a round shape, (B) shows the case where a cross section is a square. ポリフェニレンサルファイド(PPS)の樹脂を被覆した絶縁電線の場合の高温課電状態における電流特性を示すグラフである。It is a graph which shows the electric current characteristic in the high-temperature applied state in the case of the insulated wire which coat | covered the resin of polyphenylene sulfide (PPS).

符号の説明Explanation of symbols

T1,T2:絶縁電線
1:第1の樹脂層
2:第2の樹脂層
3:第3の樹脂層
4:導体
T1, T2: Insulated wire 1: First resin layer 2: Second resin layer 3: Third resin layer 4: Conductor

Claims (11)

導体の外周に少なくとも2層の絶縁皮膜を被覆してなる絶縁電線において、
前記導体の外周に被覆された比誘電率ε1の第1の樹脂層と、
前記第1の樹脂層の外周に被覆された比誘電率ε2の第2の樹脂層とを有し、
150℃以上で、ε1/ε2>1の関係にある、
ことを特徴とする絶縁電線。
In an insulated wire formed by coating an outer periphery of a conductor with at least two layers of an insulating film,
A first resin layer having a relative dielectric constant ε1 coated on the outer periphery of the conductor;
A second resin layer having a relative dielectric constant ε2 coated on the outer periphery of the first resin layer,
At 150 ° C. or higher, ε1 / ε2> 1
An insulated wire characterized by that.
150℃以上で、ε1/ε2>1.1の関係にあることを特徴とする請求項1に記載の絶縁電線。   The insulated wire according to claim 1, wherein the relationship is ε1 / ε2> 1.1 at 150 ° C. or higher. 前記第1の樹脂層の厚さは、前記第1の樹脂層及び前記第2の樹脂層の合計の厚さの0%より大きく、30%以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載の絶縁電線。   The thickness of the first resin layer is greater than 0% and 30% or less of the total thickness of the first resin layer and the second resin layer. The insulated wire as described in 1. 前記第1の樹脂層の厚さは、前記第1の樹脂層及び前記第2の樹脂層の合計の厚さの0%より大きく、20%以下であることを特徴とする請求項3に記載の絶縁電線。   The thickness of the first resin layer is greater than 0% and not more than 20% of the total thickness of the first resin layer and the second resin layer. Insulated wires. 前記第1の樹脂層及び第2の樹脂層は、ガラス転移温度が150℃以上の非晶性樹脂又は融点が150℃以上の結晶性樹脂から選択される物質で作られていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1つの項に記載の絶縁電線。   The first resin layer and the second resin layer are made of a material selected from an amorphous resin having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher or a crystalline resin having a melting point of 150 ° C. or higher. The insulated wire according to any one of claims 1 to 4. 前記第2の樹脂層の外周に被覆された比誘電率ε3の第3の樹脂層を有し、
150℃以上において、ε3/ε2>1の関係にある、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1つの項に記載の絶縁電線。
A third resin layer having a relative dielectric constant ε3 coated on the outer periphery of the second resin layer;
At 150 ° C. or higher, there is a relationship of ε3 / ε2> 1.
The insulated wire according to any one of claims 1 to 5, wherein
150℃以上で、ε3/ε2>1.1の関係にあることを特徴とする請求項6に記載の絶縁電線。   The insulated wire according to claim 6, wherein the relation is ε3 / ε2> 1.1 at 150 ° C or higher. 前記第1の樹脂層と前記第3の樹脂層との合計の厚さは、前記第1の樹脂層、前記第2の樹脂層及び前記第3の樹脂層の合計の厚さの0%より大きく、30%以下であることを特徴とする請求項6又は7に記載の絶縁電線。   The total thickness of the first resin layer and the third resin layer is more than 0% of the total thickness of the first resin layer, the second resin layer, and the third resin layer. The insulated wire according to claim 6 or 7, which is large and 30% or less. 前記第1の樹脂層と前記第3の樹脂層との合計の厚さは、前記第1の樹脂層、前記第2の樹脂層及び前記第3の樹脂層の合計の厚さの0%より大きく、20%以下であることを特徴とする請求項8に記載の絶縁電線。   The total thickness of the first resin layer and the third resin layer is more than 0% of the total thickness of the first resin layer, the second resin layer, and the third resin layer. The insulated wire according to claim 8, which is large and 20% or less. 前記第3の樹脂層は、ガラス転移温度が150℃以上の非晶性樹脂又は融点が150℃以上の結晶性樹脂から選択される物質で作られていることを特徴とする請求項6乃至9のいずれか1つの項に記載の絶縁電線。   10. The third resin layer is made of a material selected from an amorphous resin having a glass transition temperature of 150 ° C. or higher or a crystalline resin having a melting point of 150 ° C. or higher. The insulated wire according to any one of the items. 前記導体と前記第1の樹脂層との間には、前記導体による樹脂層の劣化を防止するための劣化防止層が形成されていることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1つの項に記載の絶縁電線。   The deterioration prevention layer for preventing deterioration of the resin layer by the said conductor is formed between the said conductor and the said 1st resin layer, The any one of Claim 1 thru | or 10 characterized by the above-mentioned. The insulated wire as described in the item.
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