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JP2009055078A - Load drive circuit - Google Patents

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JP2009055078A
JP2009055078A JP2007216958A JP2007216958A JP2009055078A JP 2009055078 A JP2009055078 A JP 2009055078A JP 2007216958 A JP2007216958 A JP 2007216958A JP 2007216958 A JP2007216958 A JP 2007216958A JP 2009055078 A JP2009055078 A JP 2009055078A
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JP
Japan
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semiconductor element
voltage
load
power supply
driving circuit
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Pending
Application number
JP2007216958A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuji Kato
祐司 加藤
Keiichi Sekiguchi
恵一 関口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanken Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanken Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sanken Electric Co Ltd filed Critical Sanken Electric Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a load drive circuit which prevents unintended malfunctions due to load current, by preventing semiconductor element conduction due to the variations in the output voltage of a DC power supply, using a simple configuration. <P>SOLUTION: The load drive circuit, having a semiconductor element 3 connected in series with a power supply route from a power supply 2 to a load 1 and controlling the current flowing through the load 1 by on/off operation, is further provided with a section 4 for controlling on/off of the semiconductor element 3; a section 5 for detecting variation in output voltage from the power supply 2 and generating a detection signal; and an interruption section 6 for forcibly turning off the semiconductor element 3 off, before it is turned on due to the variations in the output voltage from the power supply 2, when the detection signal generated from the voltage variation detecting section 5 is inputted. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、負荷に電流を流すための負荷駆動回路に関する。   The present invention relates to a load driving circuit for flowing a current through a load.

従来から、FET(Field Effect Transistor)等の半導体素子を用いて電流を流すことによって負荷を駆動させる負荷駆動回路は、様々な分野で利用されている。1例として、励磁コイルに電圧を印加して磁気力によって可動鉄心に直接直線的な運動を与えるリニアソレノイドは、負荷駆動回路により出力された制御電流に応じて油圧をリニアに制御することができ、カーエレクトロニクス等の分野で多用されている。   2. Description of the Related Art Conventionally, load driving circuits that drive a load by flowing a current using a semiconductor element such as a field effect transistor (FET) have been used in various fields. As an example, a linear solenoid that applies a linear motion to a movable iron core by applying a voltage to an exciting coil and magnetic force can linearly control the hydraulic pressure according to the control current output by the load drive circuit. It is widely used in fields such as car electronics.

図6は、従来から用いられている一般的な負荷駆動回路の構成を示すブロック図であり、非特許文献1等に記載されているこの負荷駆動回路は、負荷1、電源2、半導体素子3、及び制御部4で構成されている。   FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a general load driving circuit that has been conventionally used. This load driving circuit described in Non-Patent Document 1 or the like includes a load 1, a power supply 2, and a semiconductor element 3. , And the control unit 4.

制御部4は、例えばチャージポンプであり、信号端子101に印加された電圧を昇圧して、電源2の出力電圧以上の電圧を半導体素子3のゲートに印加し、半導体素子3のオン/オフを制御する。図6に示す従来例において、半導体素子3は、ハイサイドスイッチとして使用される。したがって、制御部4は、半導体素子3をオンにするために必要不可欠な構成であり、電源2の出力電圧よりも高い電圧を半導体素子3のゲートに出力して制御を行う。   The control unit 4 is, for example, a charge pump, boosts the voltage applied to the signal terminal 101, applies a voltage higher than the output voltage of the power supply 2 to the gate of the semiconductor element 3, and turns on / off the semiconductor element 3. Control. In the conventional example shown in FIG. 6, the semiconductor element 3 is used as a high-side switch. Therefore, the control unit 4 is indispensable for turning on the semiconductor element 3, and performs control by outputting a voltage higher than the output voltage of the power supply 2 to the gate of the semiconductor element 3.

半導体素子3は、一般的にFETが使用され、電源2から負荷1への電力供給経路に直列に接続され、オン/オフ動作により負荷1に流れる電流を制御する。なお、半導体素子3は、バイポーラトランジスタでもよい。   The semiconductor element 3 is generally an FET and is connected in series to a power supply path from the power source 2 to the load 1 and controls a current flowing through the load 1 by an on / off operation. The semiconductor element 3 may be a bipolar transistor.

次に、従来の負荷駆動回路の動作を説明する。図7は、図6に示す従来の負荷駆動回路の動作タイムチャート図である。図7中に記載された(A)〜(D)の記号は、図6に記載された(A)〜(D)の位置の電圧に対応している。まず、電源2の電圧(A)が立ち上がった状態において信号端子101の印加電圧(B)がオンになると(時刻t)、制御部4は、信号端子101から入力された印加電圧(B)を昇圧して、半導体素子3のゲートに入力する。半導体素子3は、自己のゲート電圧(C)が制御部4により電源2の出力電圧(A)以上に昇圧され、導通(オン)する。半導体素子3が導通状態になることにより、半導体素子3のソース電圧(D)が上昇し始め、電源2から負荷1に電流が流れる。 Next, the operation of the conventional load driving circuit will be described. FIG. 7 is an operation time chart of the conventional load driving circuit shown in FIG. Symbols (A) to (D) shown in FIG. 7 correspond to voltages at positions (A) to (D) shown in FIG. First, when the voltage (B) applied to the signal terminal 101 is turned on in the state where the voltage (A) of the power supply 2 has risen (time t 0 ), the control unit 4 applies the voltage applied (B) input from the signal terminal 101. Is boosted and input to the gate of the semiconductor element 3. The semiconductor element 3 is turned on by turning on its own gate voltage (C) by the control unit 4 to be higher than the output voltage (A) of the power supply 2. When the semiconductor element 3 becomes conductive, the source voltage (D) of the semiconductor element 3 starts to rise, and a current flows from the power source 2 to the load 1.

信号端子101の印加電圧がオフである場合には、制御部4は、半導体素子3を遮断(オフ)させる。したがって、半導体素子3は、負荷1に電流を供給せず、ソース電圧(D)も上昇しない。   When the voltage applied to the signal terminal 101 is off, the control unit 4 blocks (turns off) the semiconductor element 3. Therefore, the semiconductor element 3 does not supply current to the load 1 and the source voltage (D) does not increase.

図8は、半導体素子3に使用されているFETの一般的な等価回路である。このFETは、ドレイン1001、ゲート1002、及びソース1003を有し、ゲート・ソース間電圧VGSが所定の値以上になると、ドレイン1001からソース1003に電流を流す。また、このFETの各端子間には、寄生容量CGD1004、CGS1005、及びCDS1006が存在する。 FIG. 8 is a general equivalent circuit of an FET used in the semiconductor element 3. This FET has a drain 1001, a gate 1002, and a source 1003. When the gate-source voltage V GS becomes a predetermined value or more, a current flows from the drain 1001 to the source 1003. Further, parasitic capacitances C GD 1004, C GS 1005, and C DS 1006 exist between the respective terminals of the FET.

信号端子101に印加される電圧がオンである場合には、制御部4は、半導体素子3のゲート1002に電流を流すことにより、ゲート1002の電位をソース1003よりも高くする。このため、半導体素子3は、負荷1に電流を供給する。   When the voltage applied to the signal terminal 101 is on, the control unit 4 makes the potential of the gate 1002 higher than that of the source 1003 by passing a current through the gate 1002 of the semiconductor element 3. For this reason, the semiconductor element 3 supplies a current to the load 1.

また、特許文献1には、容量性負荷の電源電圧変動に起因する不所望な状態を回避する負荷駆動回路が記載されている。この負荷駆動回路は、例えばインクジェットヘッドにおける圧電素子の駆動回路として用いられる。圧電素子は、容量性負荷であり、電圧を印加されることによりノズル孔からインクを吐出する。しかしながら、この圧電素子を利用したインクジェットプリンタは、電源ラインの電圧変動が生じた場合に駆動中の容量性負荷の端子にノイズが発生することにより、インク吐出状態から突然インク吸引状態になることが考えられ、印字精度の劣化を招くおそれがある。そこで、特許文献1記載の負荷駆動回路は、容量性負荷を駆動させるための駆動素子と、容量性負荷の端子電圧と電源電圧とを比較することによって電源電圧の変動を検出するとともに、その検出結果に応じて駆動素子を非導通状態にするための制御論理とを備える。   Patent Document 1 describes a load driving circuit that avoids an undesired state caused by fluctuations in the power supply voltage of a capacitive load. This load drive circuit is used as a drive circuit for a piezoelectric element in an inkjet head, for example. The piezoelectric element is a capacitive load, and ejects ink from the nozzle holes when a voltage is applied. However, an ink jet printer using this piezoelectric element may suddenly go from an ink ejection state to an ink suction state due to noise generated at the terminal of the capacitive load being driven when the voltage fluctuation of the power supply line occurs. This may cause a deterioration in printing accuracy. Therefore, the load drive circuit described in Patent Document 1 detects a fluctuation in the power supply voltage by comparing the drive element for driving the capacitive load, the terminal voltage of the capacitive load, and the power supply voltage, and the detection thereof. And a control logic for bringing the drive element into a non-conductive state according to the result.

この制御論理は、例えば充電側において、圧電素子の端子電圧と電源電圧とを比較するためのコンパレータと、このコンパレータの出力信号と充電側コントローラからの信号とのオア論理を得るオアゲートを有し、圧電素子の端子電圧が電源電圧を上回る場合に、駆動素子を非導通状態にする。したがって、特許文献1記載の負荷駆動回路は、電源電圧が変動された場合に駆動素子が非導通状態とされることによって容量性負荷の駆動が停止されるため、容量性負荷の電源電圧変動に起因する不所望な状態を回避することができる。
特開2004−82596号公報 B.Murari,et.al.,“Smart Power ICs”, Advanced Microelectronics.
This control logic has, for example, a comparator for comparing the terminal voltage of the piezoelectric element and the power supply voltage on the charge side, and an OR gate that obtains an OR logic between the output signal of this comparator and the signal from the charge-side controller, When the terminal voltage of the piezoelectric element exceeds the power supply voltage, the drive element is brought into a non-conductive state. Therefore, in the load driving circuit described in Patent Document 1, since driving of the capacitive load is stopped when the driving element is turned off when the power supply voltage is changed, the power supply voltage of the capacitive load is changed. Undesirable undesired conditions can be avoided.
JP 2004-82596 A B. Murari, et. al. "Smart Power ICs", Advanced Microelectronics.

しかしながら、図6に示す従来の負荷駆動回路は、以下のような問題点がある。図9は、図6に示す従来の負荷駆動回路における電源電圧変動時の動作タイムチャートである。図9に示すように、時刻tにおいて電源2の電圧(A)がノイズ等により上昇変動した場合には、信号端子101の印加電圧(B)がオフ(0V)の状態であっても、半導体素子3は、ゲート・ドレイン間の寄生容量CGD1004を介して電源2からゲート1002に電流を流す。その結果、半導体素子3は、ゲート電圧(C)の上昇により導通状態になるという誤動作を起こし、半導体素子3のソース電圧(D)が上昇して負荷1に電流を流してしまう。 However, the conventional load driving circuit shown in FIG. 6 has the following problems. FIG. 9 is an operation time chart when the power supply voltage fluctuates in the conventional load driving circuit shown in FIG. As shown in FIG. 9, when the voltage (A) of the power source 2 rises and fluctuates due to noise or the like at time t 0 , even if the applied voltage (B) of the signal terminal 101 is off (0 V), The semiconductor element 3 causes a current to flow from the power supply 2 to the gate 1002 via the parasitic capacitance C GD 1004 between the gate and the drain. As a result, the semiconductor element 3 malfunctions to be in a conductive state due to an increase in the gate voltage (C), and the source voltage (D) of the semiconductor element 3 is increased, causing a current to flow through the load 1.

また、電源2の電圧(A)は、ノイズのみならず、例えば電源2に対して他に接続された機器や回路等がある場合に、それらの機器がオンオフして電流量が急変した際に回路の配線が持つインダクタンスや抵抗に起因して電圧変動が生じることも考えられるため、その対策は必要である。   The voltage (A) of the power source 2 is not only noise, but when there are other devices or circuits connected to the power source 2, for example, when those devices are turned on and off and the amount of current changes suddenly. Since voltage fluctuations may occur due to the inductance and resistance of the circuit wiring, countermeasures are necessary.

特許文献1に記載された負荷駆動回路は、容量性負荷の端子電圧と電源電圧とを比較することによって電源電圧の変動を検出するので、その検出精度は、容量性負荷の端子電圧に左右される。しかしながら、図6に示す負荷駆動回路の負荷1に上述したようなリニアソレノイド等のコイルを想定している場合、電源2の電圧変動は、必ずしも負荷1の端子電圧が電源2の電圧以上の値になることを意味するものではないため、その検出方法は使用できない。さらに半導体素子3のソース電圧(負荷1の端子電圧)が上昇するのを待って電源2の電圧変動を検出した場合、既に負荷1に電流が流れて、負荷1に用いられる機器は誤動作を起こしていることも考えられる。また、コンパレータやOR回路等を必要とするため、回路の複雑化や高コストといった問題も生じる。   Since the load driving circuit described in Patent Document 1 detects the fluctuation of the power supply voltage by comparing the terminal voltage of the capacitive load and the power supply voltage, the detection accuracy depends on the terminal voltage of the capacitive load. The However, when a coil such as a linear solenoid as described above is assumed for the load 1 of the load driving circuit shown in FIG. 6, the voltage fluctuation of the power source 2 is not necessarily the value at which the terminal voltage of the load 1 is higher than the voltage of the power source 2. Does not mean that the detection method cannot be used. Further, when the voltage fluctuation of the power source 2 is detected after waiting for the source voltage of the semiconductor element 3 (the terminal voltage of the load 1) to rise, the current has already flowed into the load 1 and the device used for the load 1 will malfunction. It is also possible that Further, since a comparator, an OR circuit, and the like are required, problems such as circuit complexity and high cost arise.

本発明は上述した従来技術の問題点を解決するもので、簡易な構成で、直流電源の出力電圧の変動による半導体素子の導通を防止して、意図しない負荷電流による誤動作を防止する負荷駆動回路を提供することを課題とする。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art, and a load driving circuit which prevents a malfunction due to an unintended load current by preventing conduction of a semiconductor element due to fluctuation of an output voltage of a DC power supply with a simple configuration. It is an issue to provide.

本発明に係る負荷駆動回路は、上記課題を解決するために、直流電源から負荷への電力供給経路に直列に接続されオン/オフ動作により負荷に流れる電流を制御する第1半導体素子を有する負荷駆動回路において、前記第1半導体素子のオン/オフを制御する制御部と、前記直流電源の出力電圧の変動を検出して検出信号を生成する検出部と、前記検出部により生成された検出信号が入力された場合に、前記直流電源の出力電圧の変動により前記第1半導体素子がオンする前に前記第1半導体素子を強制的にオフさせる遮断部とを備えることを特徴とする。   In order to solve the above problems, a load driving circuit according to the present invention includes a first semiconductor element that is connected in series to a power supply path from a DC power source to a load and controls a current flowing through the load by an on / off operation. In the drive circuit, a control unit that controls on / off of the first semiconductor element, a detection unit that detects a change in the output voltage of the DC power supply and generates a detection signal, and a detection signal generated by the detection unit And a blocking unit that forcibly turns off the first semiconductor element before the first semiconductor element is turned on due to a change in the output voltage of the DC power supply.

本発明によれば、簡易な構成で、直流電源の出力電圧の変動による半導体素子の導通を防止して、意図しない負荷電流による誤動作を防止することができる。   According to the present invention, with a simple configuration, it is possible to prevent conduction of the semiconductor element due to fluctuations in the output voltage of the DC power supply and prevent malfunction due to unintended load current.

以下、本発明の負荷駆動回路の実施の形態を、図面に基づいて詳細に説明する。   Embodiments of a load drive circuit according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の実施例1の負荷駆動回路の構成を示すブロック図である。また図2は、図1に示す負荷駆動回路の電圧変動検出部5及び遮断部6の詳細な構成を示すブロック図である。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a load driving circuit according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a block diagram showing a detailed configuration of the voltage fluctuation detecting unit 5 and the blocking unit 6 of the load driving circuit shown in FIG.

まず、本実施の形態の構成を説明する。本実施例の負荷駆動回路は、図1に示すように、電源2、半導体素子3、制御部4、電圧変動検出部5、及び遮断部6で構成され、負荷1を駆動する。   First, the configuration of the present embodiment will be described. As shown in FIG. 1, the load driving circuit according to the present embodiment includes a power source 2, a semiconductor element 3, a control unit 4, a voltage fluctuation detection unit 5, and a cutoff unit 6, and drives the load 1.

半導体素子3は、本発明の第1半導体素子に対応し、直流電源である電源2から負荷への電力供給経路に直列に接続されオン/オフ動作により負荷1に流れる電流を制御する。   The semiconductor element 3 corresponds to the first semiconductor element of the present invention, and is connected in series to the power supply path from the power source 2 which is a DC power source to the load, and controls the current flowing through the load 1 by the on / off operation.

制御部4は、図6で説明した従来の負荷駆動回路における制御部4と同様であり、信号端子101に対する印加電圧に応じて、半導体素子3のオン/オフを制御する。   The control unit 4 is the same as the control unit 4 in the conventional load driving circuit described with reference to FIG.

電圧変動検出部5は、本発明の検出部に対応し、電源2の出力電圧の変動を検出して検出信号を生成し、遮断部6に対して出力する。また、電圧変動検出部5は、信号端子101に対する印加電圧に応じて、制御部4が半導体素子3に対してオフ制御を行っている場合にのみ検出信号を生成する。すなわち、信号端子101に対する印加電圧がオンである場合には、電圧変動検出部5は、電源2の出力電圧が変動しても、検出信号を生成しない。   The voltage fluctuation detection unit 5 corresponds to the detection unit of the present invention, detects fluctuations in the output voltage of the power supply 2, generates a detection signal, and outputs the detection signal to the interruption unit 6. In addition, the voltage variation detection unit 5 generates a detection signal only when the control unit 4 performs off control on the semiconductor element 3 in accordance with the voltage applied to the signal terminal 101. That is, when the applied voltage to the signal terminal 101 is on, the voltage fluctuation detection unit 5 does not generate a detection signal even if the output voltage of the power supply 2 fluctuates.

遮断部6は、電圧変動検出部5により生成された検出信号が入力された場合に、電源2の出力電圧の変動により半導体素子3がオンする前に、半導体素子3を強制的にオフさせる。   When the detection signal generated by the voltage fluctuation detection unit 5 is input, the cutoff unit 6 forcibly turns off the semiconductor element 3 before the semiconductor element 3 is turned on due to fluctuations in the output voltage of the power supply 2.

図2の電圧変動検出部5a及び遮断部6aは、図1における電圧変動検出部5及び遮断部6の具体的な回路図を示す。   2 shows a specific circuit diagram of the voltage fluctuation detection unit 5 and the cutoff unit 6 in FIG.

電圧変動検出部5aは、電源2の出力端子とグランドとの間にコンデンサ7と抵抗8とを直列に接続した直列回路からなり、電源2の出力電圧の変動に基づいて抵抗8の両端に生じる電圧を検出信号とする。コンデンサ7は、電源2の電圧が変動したときに電流を流す。抵抗8は、コンデンサ7に流れた電流を電圧に変換する。また、電圧変動検出部5aは、抵抗8に並列に接続され制御部4が半導体素子3に対してオン制御を行っている場合にオンする第1トランジスタ9を備える。この第1トランジスタ9は、信号端子101の印加電圧がオン(数V)である場合に導通して、抵抗8の両端に電位差を発生させない。   The voltage fluctuation detector 5a is formed of a series circuit in which a capacitor 7 and a resistor 8 are connected in series between the output terminal of the power source 2 and the ground, and is generated at both ends of the resistor 8 based on the fluctuation of the output voltage of the power source 2. The voltage is used as a detection signal. The capacitor 7 allows a current to flow when the voltage of the power supply 2 fluctuates. The resistor 8 converts the current flowing through the capacitor 7 into a voltage. The voltage fluctuation detection unit 5 a includes a first transistor 9 that is connected in parallel to the resistor 8 and is turned on when the control unit 4 controls the semiconductor element 3 to be on. The first transistor 9 is turned on when the voltage applied to the signal terminal 101 is on (several volts) and does not generate a potential difference across the resistor 8.

遮断部6aは、半導体素子3の制御端子とグランドとの間に接続された第2トランジスタ10からなり、電圧変動検出部5aにより生成された検出信号に応じて第2トランジスタ10をオンさせる。   The blocking unit 6a includes a second transistor 10 connected between the control terminal of the semiconductor element 3 and the ground, and turns on the second transistor 10 in accordance with the detection signal generated by the voltage variation detection unit 5a.

次に、上述のように構成された本実施の形態の作用を説明する。まず、制御部4は、信号端子101の印加電圧に応じて、半導体素子3のオン/オフ(導通/遮断)を制御する。信号端子101の印加電圧がオン(数V)である場合には、制御部4が半導体素子3をオンさせるので、半導体素子3は、電源2から負荷1に電流を流す。   Next, the operation of the present embodiment configured as described above will be described. First, the control unit 4 controls on / off (conduction / cutoff) of the semiconductor element 3 according to the voltage applied to the signal terminal 101. When the applied voltage of the signal terminal 101 is on (several volts), the control unit 4 turns on the semiconductor element 3, so that the semiconductor element 3 passes a current from the power source 2 to the load 1.

信号端子101の印加電圧がオフ(0V)の場合には、制御部4が半導体素子3をオフ(遮断)させるので、半導体素子3は、電源2から負荷1に電流を流さない。この際、電源2の電圧が変動すると、電圧変動検出部5は、電源2の出力電圧の変動を検出して、検出信号を遮断部6に出力する。具体的には、電源2の電圧が時間的に変動すると、コンデンサ7は、過渡的に電流を流す。コンデンサ7に流れた電流は、抵抗8に流れることにより抵抗8の両端に電圧を生じさせる。この際、第1トランジスタ9は、信号端子101の印加電圧がオフ(0V)であるため、遮断されている。抵抗8の両端に生じた電圧(電位差)は、検出信号として遮断部6に入力される。   When the voltage applied to the signal terminal 101 is off (0 V), the control unit 4 turns off (cuts off) the semiconductor element 3, so that the semiconductor element 3 does not flow current from the power source 2 to the load 1. At this time, when the voltage of the power supply 2 fluctuates, the voltage fluctuation detection unit 5 detects a fluctuation in the output voltage of the power supply 2 and outputs a detection signal to the blocking unit 6. Specifically, when the voltage of the power supply 2 fluctuates with time, the capacitor 7 causes a current to flow transiently. The current that flows through the capacitor 7 flows through the resistor 8, thereby generating a voltage across the resistor 8. At this time, the first transistor 9 is cut off because the voltage applied to the signal terminal 101 is off (0 V). A voltage (potential difference) generated at both ends of the resistor 8 is input to the blocking unit 6 as a detection signal.

遮断部6は、電圧変動検出部5により生成された検出信号が入力された場合に、電源2の出力電圧の変動により半導体素子3がオンする前に、半導体素子3を強制的にオフさせる。具体的には、遮断部6を構成する第2トランジスタ10は、抵抗8の両端に生じた電位差により導通状態になる。したがって、第2トランジスタ10は、半導体素子3の制御端子(図8におけるゲート1002)の電位を下げる。これにより、半導体素子3は、電圧変動により電源2からゲート・ドレイン間の寄生容量(図8におけるCGD1004)を介してゲート1002に電流が流れた場合でも、ゲート1002の電圧が上昇しないため、遮断状態を維持し、負荷1に電流を流さない。 When the detection signal generated by the voltage fluctuation detection unit 5 is input, the cutoff unit 6 forcibly turns off the semiconductor element 3 before the semiconductor element 3 is turned on due to fluctuations in the output voltage of the power supply 2. Specifically, the second transistor 10 constituting the blocking unit 6 becomes conductive due to a potential difference generated between both ends of the resistor 8. Therefore, the second transistor 10 lowers the potential of the control terminal (gate 1002 in FIG. 8) of the semiconductor element 3. Thereby, the semiconductor element 3 does not increase the voltage of the gate 1002 even when a current flows from the power source 2 to the gate 1002 via the parasitic capacitance between the gate and the drain (C GD 1004 in FIG. 8) due to voltage fluctuation. , Maintain the cut-off state, do not flow current through the load 1.

なお、半導体素子3が導通する前に第2トランジスタ10をオンして負荷電流が負荷1に流れるのを防ぐため、設計者は、コンデンサ7の容量やチップサイズ、他の部品が持つ寄生容量等との兼ね合いを考慮して、最適な容量のコンデンサ7を選択して実装し、第2トランジスタ10の反応速度を調整する必要がある。   In order to prevent the load current from flowing into the load 1 by turning on the second transistor 10 before the semiconductor element 3 is turned on, the designer must set the capacitance of the capacitor 7, the chip size, the parasitic capacitance of other components, etc. In consideration of this, it is necessary to select and mount the capacitor 7 having the optimum capacity and adjust the reaction speed of the second transistor 10.

一方、信号端子101の印加電圧がオン(数V)である場合には、半導体素子3は、負荷1に電流を流している状態である。この場合において、電源2の出力電圧が変動しても、半導体素子3は負荷1に電流を流し続ける必要があるため、電圧変動検出部5aは、検出信号を遮断部6aに出力しない。具体的に言うと、信号端子101の印加電圧がオンである場合には、第1トランジスタ9は導通状態になる。したがって、電源2の出力電圧が時間的に変動することによりコンデンサ7が過渡的に電流を流しても、抵抗8は、両端に検出信号たる電位差を生じない。それ故、電圧変動検出部5aは検出信号を出力しないので、第2トランジスタ10は遮断状態を維持する。その結果、半導体素子3は、遮断部6により強制的にオフにされることなく、信号端子101の印加電圧がオンである間に、負荷1に電流を流し続ける。   On the other hand, when the voltage applied to the signal terminal 101 is on (several volts), the semiconductor element 3 is in a state of passing a current through the load 1. In this case, even if the output voltage of the power supply 2 fluctuates, the semiconductor element 3 needs to continue to pass a current through the load 1, so that the voltage fluctuation detection unit 5 a does not output a detection signal to the cutoff unit 6 a. Specifically, when the voltage applied to the signal terminal 101 is on, the first transistor 9 is in a conducting state. Therefore, even if the capacitor 7 transiently passes a current due to the temporal change in the output voltage of the power supply 2, the resistor 8 does not generate a potential difference as a detection signal at both ends. Therefore, since the voltage variation detector 5a does not output a detection signal, the second transistor 10 maintains the cutoff state. As a result, the semiconductor element 3 continues to flow current to the load 1 while the voltage applied to the signal terminal 101 is on without being forcibly turned off by the blocking unit 6.

図3は、本実施例の形態の負荷駆動回路の動作タイムチャート図である。図3の動作タイムチャート図中の記号(A)〜(E)は、図1に記載の(A)〜(E)点の電圧に対応している。図3に示すように、信号端子101の印加電圧(B)が0Vの状態において、電源2の電圧(A)が変動すると(時刻t)、電圧変動検出部5は、その電圧変動を検出し、オンレベルの電圧(検出信号)を出力する(電圧(E))。遮断部6は、入力された電圧変動検出部5の出力電圧(E)に基づき、検出信号が入力された場合に、半導体素子3のゲート電圧(C)の上昇を妨げる。したがって、半導体素子3のゲート電圧(C)は上昇しないので、半導体3は、遮断状態を維持し、半導体素子3のソース電圧(D)を上昇させず、結果として負荷1に電流を流さない。すなわち、信号端子101の印加電圧がオフの場合には、電源2の出力電圧が変動したとしても、半導体素子3は、誤ってオンすることはなく、負荷1に電流を流さない。 FIG. 3 is an operation time chart of the load driving circuit according to this embodiment. Symbols (A) to (E) in the operation time chart of FIG. 3 correspond to voltages at points (A) to (E) shown in FIG. As shown in FIG. 3, when the voltage (A) of the power supply 2 varies (time t 0 ) when the applied voltage (B) of the signal terminal 101 is 0 V, the voltage variation detector 5 detects the voltage variation. Then, an on-level voltage (detection signal) is output (voltage (E)). The blocking unit 6 prevents the gate voltage (C) of the semiconductor element 3 from increasing when a detection signal is input based on the output voltage (E) of the input voltage fluctuation detection unit 5. Therefore, since the gate voltage (C) of the semiconductor element 3 does not increase, the semiconductor 3 maintains the cutoff state, does not increase the source voltage (D) of the semiconductor element 3, and as a result, no current flows through the load 1. That is, when the voltage applied to the signal terminal 101 is off, even if the output voltage of the power supply 2 fluctuates, the semiconductor element 3 does not turn on accidentally and does not pass current through the load 1.

もちろん、図3に示すように、電源2の電圧(A)が立ち上がった状態で信号端子101の印加電圧(B)がオン(数V)になった場合には、通常通り、半導体素子3のゲート電圧(C)が上昇するので、半導体素子3は導通状態となる。それ故、半導体素子3のソース電圧(D)は上昇し、半導体素子3は、負荷1に電流を流す。なお、この場合において、電源2の電圧(A)が変動したとしても、電圧変動検出部5は、電圧の変動を検出せず、出力電圧(E)はオフレベルのままである。   Of course, as shown in FIG. 3, when the voltage (B) applied to the signal terminal 101 is turned on (several volts) in a state where the voltage (A) of the power source 2 has risen, Since the gate voltage (C) rises, the semiconductor element 3 becomes conductive. Therefore, the source voltage (D) of the semiconductor element 3 rises, and the semiconductor element 3 passes a current through the load 1. In this case, even if the voltage (A) of the power supply 2 fluctuates, the voltage fluctuation detector 5 does not detect the voltage fluctuation, and the output voltage (E) remains at the off level.

上述のとおり、本発明の実施例1の形態に係る負荷駆動回路によれば、簡易な構成で、直流電源である電源2の出力電圧の変動による半導体素子3の導通を防止して、意図しない負荷電流が負荷1に流れることによる誤動作を防止することができる。   As described above, according to the load driving circuit according to the first embodiment of the present invention, the conduction of the semiconductor element 3 due to the fluctuation of the output voltage of the power supply 2 that is a DC power supply is prevented with a simple configuration, which is not intended. A malfunction due to the load current flowing through the load 1 can be prevented.

また、遮断部6を構成する第2トランジスタ10は、電圧変動検出部5が電源2の電圧変動を検出した場合に、半導体素子3がオンする前に半導体素子3を強制的にオフさせるので、半導体素子3がわずかの時間でも導通状態になり負荷1に電流を流すのを防ぐことができる。   Further, the second transistor 10 constituting the blocking unit 6 forcibly turns off the semiconductor element 3 before the semiconductor element 3 is turned on when the voltage fluctuation detection unit 5 detects the voltage fluctuation of the power supply 2. It is possible to prevent the semiconductor element 3 from being in a conductive state even for a short time and flowing a current to the load 1.

また、電圧変動検出部5及び遮断部6は、第1トランジスタ9、第2トランジスタ10、コンデンサ7、及び抵抗8により構成されるので、簡易な構成で実現することができ、低コストであるという利点もある。   Further, since the voltage fluctuation detection unit 5 and the cutoff unit 6 are configured by the first transistor 9, the second transistor 10, the capacitor 7, and the resistor 8, it can be realized with a simple configuration and is low in cost. There are also advantages.

さらに、第1トランジスタ9を備えているので、電圧変動検出部5aは、信号端子101の印加電圧がオン(数V)である場合、すなわち制御部4が半導体素子3に対してオン制御を行っている場合に、検出信号を生成しない。したがって、半導体素子3をオンにして負荷1に電流を流している間に電源2の電圧が変動した場合でも、電圧変動の検出による負荷電流の遮断を行うことなく、安定した動作を継続することができる。   Further, since the first transistor 9 is provided, the voltage fluctuation detection unit 5a performs the on-control on the semiconductor element 3 when the applied voltage of the signal terminal 101 is on (several volts). If it is, no detection signal is generated. Therefore, even when the voltage of the power source 2 fluctuates while the semiconductor element 3 is turned on and a current is flowing through the load 1, stable operation can be continued without interrupting the load current by detecting voltage fluctuation. Can do.

図4は、本発明の実施例2の負荷駆動回路の構成を示すブロック図である。実施例1の構成と異なる点は、電圧変動検出部5bにおいて、コンデンサ7の代わりに半導体素子12が備えられている点である。   FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the load drive circuit according to the second embodiment of the present invention. The difference from the configuration of the first embodiment is that the voltage fluctuation detecting unit 5 b includes a semiconductor element 12 instead of the capacitor 7.

半導体素子12は、本発明の第2半導体素子に対応し、電源2の出力端子と抵抗8との間に直列に接続されている。この半導体素子12は、例えば半導体素子3と同じ形状のFETでもよく、またバイポーラトランジスタを用いてもよい。本実施例においては、半導体素子12は、FETであるものとする。   The semiconductor element 12 corresponds to the second semiconductor element of the present invention, and is connected in series between the output terminal of the power source 2 and the resistor 8. The semiconductor element 12 may be, for example, an FET having the same shape as the semiconductor element 3 or a bipolar transistor. In this embodiment, it is assumed that the semiconductor element 12 is an FET.

また、半導体素子12のゲートは、半導体素子12自身のソースに接続されている。そのため、本実施例において半導体素子12は、ゲート電圧の上昇に基づく導通状態になることはない。   The gate of the semiconductor element 12 is connected to the source of the semiconductor element 12 itself. Therefore, in this embodiment, the semiconductor element 12 does not enter a conductive state based on the increase in the gate voltage.

その他の構成は、実施例1と同様であり、重複した説明を省略する。   Other configurations are the same as those of the first embodiment, and redundant description is omitted.

次に、上述のように構成された本実施の形態の作用を説明する。基本的な動作は実施例1の負荷駆動回路と同じである。ただし、本実施例において、半導体素子12の寄生容量は、実施例1におけるコンデンサ7の役割を担う。   Next, the operation of the present embodiment configured as described above will be described. The basic operation is the same as that of the load driving circuit of the first embodiment. However, in this embodiment, the parasitic capacitance of the semiconductor element 12 plays the role of the capacitor 7 in the first embodiment.

図8で説明したように、半導体素子12は、ドレイン1001とゲート1002との間に寄生容量であるCGD1004を有する。したがって、電源2の電圧が時間的に変動すると、半導体素子12の寄生容量CGD1004は、過渡的に電流を流す。寄生容量CGD1004に流れた電流は、ゲート1002からソース1003に流れ込み、その後、抵抗8に流れることにより抵抗8の両端に電圧を生じさせる。なお、電源2の電圧が時間的に変動した際に、半導体素子12の寄生容量CGD1004のみならず、寄生容量CDS1006も過渡的に電流を流す。しかしながら、一般的にFETの寄生容量は、CDS1006よりCGD1004の方が非常に大きいため、寄生容量CGD1004の流す電流が支配的になる。したがって、設計者は、寄生容量CGD1004の容量を考慮に入れて半導体素子12を選択して実装し、第2トランジスタ10の反応速度を調整する必要がある。 As described with reference to FIG. 8, the semiconductor element 12 includes the C GD 1004 that is a parasitic capacitance between the drain 1001 and the gate 1002. Accordingly, when the voltage of the power supply 2 varies with time, the parasitic capacitance C GD 1004 of the semiconductor element 12 causes a current to flow transiently. The current that flows through the parasitic capacitance C GD 1004 flows from the gate 1002 to the source 1003 and then flows to the resistor 8, thereby generating a voltage across the resistor 8. Note that when the voltage of the power supply 2 fluctuates with time, not only the parasitic capacitance C GD 1004 of the semiconductor element 12 but also the parasitic capacitance C DS 1006 flows a current transiently. However, in general, the parasitic capacitance of the FET is much larger in the C GD 1004 than in the C DS 1006, so that the current flowing through the parasitic capacitance C GD 1004 becomes dominant. Therefore, the designer needs to select and mount the semiconductor element 12 in consideration of the capacitance of the parasitic capacitance C GD 1004 and adjust the reaction speed of the second transistor 10.

その他の動作は、実施例1と同様であり、重複した説明を省略する。   Other operations are the same as those in the first embodiment, and a duplicate description is omitted.

上述のとおり、本発明の実施例2の形態に係る負荷駆動回路によれば、実施例1の効果に加え、新たにコンデンサ7を用意して実装しなくても、同じ材料からチップ面積を変えて半導体素子3及び半導体素子12を製造することにより本発明を実現することができるので、コストの削減を図ることができる。   As described above, according to the load driving circuit according to the second embodiment of the present invention, in addition to the effects of the first embodiment, the chip area can be changed from the same material without newly preparing and mounting the capacitor 7. Since the present invention can be realized by manufacturing the semiconductor element 3 and the semiconductor element 12, the cost can be reduced.

図5は、本発明の実施例3の負荷駆動回路の構成を示すブロック図である。実施例2の構成と異なる点は、信号端子101の代わりに制御部4の出力端子が第1トランジスタ9の制御端子に接続されている点と、抵抗8の一端、第1トランジスタ9のソース側、及び第2トランジスタ10のソース側がグランドの代わりに負荷1の一端(半導体素子3のソース側)に接続されている点である。   FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the load drive circuit according to the third embodiment of the present invention. The difference from the configuration of the second embodiment is that the output terminal of the control unit 4 is connected to the control terminal of the first transistor 9 instead of the signal terminal 101, one end of the resistor 8, and the source side of the first transistor 9. The source side of the second transistor 10 is connected to one end of the load 1 (the source side of the semiconductor element 3) instead of the ground.

制御部4は、信号端子101に対する印加電圧に応じて、半導体素子3及び第1トランジスタ9のオン/オフを制御する。   The control unit 4 controls on / off of the semiconductor element 3 and the first transistor 9 according to the voltage applied to the signal terminal 101.

電圧変動検出部5cは、電源2の出力電圧の変動を検出して検出信号を生成し、遮断部6cに対して出力する。また、電圧変動検出部5cは、信号端子101に対する印加電圧に応じて、制御部4が半導体素子3に対してオフ制御を行っている場合にのみ検出信号を生成する。   The voltage fluctuation detection unit 5c detects a fluctuation in the output voltage of the power supply 2, generates a detection signal, and outputs the detection signal to the cutoff unit 6c. In addition, the voltage fluctuation detection unit 5 c generates a detection signal only when the control unit 4 performs off control on the semiconductor element 3 in accordance with the voltage applied to the signal terminal 101.

電圧変動検出部5cは、電源2の出力端子と負荷1との間に半導体素子12と抵抗8とを直列に接続した直列回路からなり、電源2の出力電圧の変動に基づいて抵抗8の両端に生じる電圧を検出信号とする。半導体素子12の寄生容量は、本発明のコンデンサに対応し、電源2の電圧が変動したときに電流を流す。抵抗8は、半導体素子12の寄生容量に流れた電流を電圧に変換する。また、電圧変動検出部5cは、実施例2と同様に、抵抗8に並列に接続され制御部4が半導体素子3に対してオン制御を行っている場合にオンする第1トランジスタ9を備える。この第1トランジスタ9は、信号端子101の印加電圧がオン(数V)である場合に、制御部4により制御されて導通し、抵抗8の両端に電位差を発生させない。なお、第1トランジスタ9をオン(導通)させるために、第1トランジスタ9の制御端子(ゲート)は、半導体素子3のソース電圧よりも高い電圧を有する半導体素子3のゲートに接続されている。   The voltage fluctuation detection unit 5c includes a series circuit in which a semiconductor element 12 and a resistor 8 are connected in series between the output terminal of the power source 2 and the load 1, and both ends of the resistor 8 are based on fluctuations in the output voltage of the power source 2. The voltage generated in is used as a detection signal. The parasitic capacitance of the semiconductor element 12 corresponds to the capacitor of the present invention, and a current flows when the voltage of the power supply 2 fluctuates. The resistor 8 converts the current flowing through the parasitic capacitance of the semiconductor element 12 into a voltage. Similarly to the second embodiment, the voltage fluctuation detection unit 5 c includes a first transistor 9 that is connected in parallel to the resistor 8 and is turned on when the control unit 4 performs on-control on the semiconductor element 3. When the voltage applied to the signal terminal 101 is on (several volts), the first transistor 9 is controlled by the control unit 4 to be conductive and does not generate a potential difference between both ends of the resistor 8. In order to turn on (conduct) the first transistor 9, the control terminal (gate) of the first transistor 9 is connected to the gate of the semiconductor element 3 having a voltage higher than the source voltage of the semiconductor element 3.

遮断部6cは、半導体素子3の制御端子と負荷1との間に接続された第2トランジスタ10からなり、電圧変動検出部5cにより生成された検出信号に応じて第2トランジスタ10をオンさせる。   The interruption unit 6c includes a second transistor 10 connected between the control terminal of the semiconductor element 3 and the load 1, and turns on the second transistor 10 in accordance with the detection signal generated by the voltage variation detection unit 5c.

その他の構成は、実施例2と同様であり、重複した説明を省略する。   Other configurations are the same as those of the second embodiment, and a duplicate description is omitted.

次に、上述のように構成された本実施の形態の作用を説明する。基本的な動作は実施例2の負荷駆動回路と同じである。まず、制御部4は、信号端子101の印加電圧に応じて、半導体素子3及び第1トランジスタ9のオン/オフ(導通/遮断)を制御する。信号端子101の印加電圧がオン(数V)である場合には、制御部4が半導体素子3をオンさせるので、半導体素子3は、電源2から負荷1に電流を流す。   Next, the operation of the present embodiment configured as described above will be described. The basic operation is the same as that of the load driving circuit of the second embodiment. First, the control unit 4 controls on / off (conduction / cutoff) of the semiconductor element 3 and the first transistor 9 according to the voltage applied to the signal terminal 101. When the applied voltage of the signal terminal 101 is on (several volts), the control unit 4 turns on the semiconductor element 3, so that the semiconductor element 3 passes a current from the power source 2 to the load 1.

信号端子101の印加電圧がオフ(0V)の場合には、制御部4が半導体素子3及び第1トランジスタ9をオフ(遮断)させるので、半導体素子3は、電源2から負荷1に電流を流さない。この際、電源2の電圧が変動すると、電圧変動検出部5cは、電源2の出力電圧の変動を検出して、検出信号を遮断部6cに出力する。具体的には、電源2の電圧が時間的に変動すると、半導体素子12のゲート・ドレイン間の寄生容量は、過渡的に電流を流す。半導体素子12の寄生容量に流れた電流は、抵抗8に流れることにより抵抗8の両端に電圧を生じさせる。この際、第1トランジスタ9は、上述したように遮断されている。抵抗8の両端に生じた電圧(電位差)は、検出信号として遮断部6cに入力される。   When the voltage applied to the signal terminal 101 is off (0 V), the control unit 4 turns off (shuts off) the semiconductor element 3 and the first transistor 9, so that the semiconductor element 3 passes a current from the power supply 2 to the load 1. Absent. At this time, when the voltage of the power supply 2 fluctuates, the voltage fluctuation detection unit 5c detects the fluctuation of the output voltage of the power supply 2 and outputs a detection signal to the blocking unit 6c. Specifically, when the voltage of the power supply 2 fluctuates with time, the parasitic capacitance between the gate and the drain of the semiconductor element 12 causes a current to flow transiently. The current flowing through the parasitic capacitance of the semiconductor element 12 flows through the resistor 8, thereby generating a voltage across the resistor 8. At this time, the first transistor 9 is cut off as described above. The voltage (potential difference) generated at both ends of the resistor 8 is input to the blocking unit 6c as a detection signal.

遮断部6cは、電圧変動検出部5cにより生成された検出信号が入力された場合に、電源2の出力電圧の変動により半導体素子3がオンする前に、半導体素子3を強制的にオフさせる。具体的には、遮断部6cを構成する第2トランジスタ10は、抵抗8の両端に生じた電位差により導通状態になる。したがって、第2トランジスタ10は、半導体素子3の制御端子の電位(ゲート電圧)とソース電圧とを同電位にする。これにより、半導体素子3は、電圧変動により電源2からゲート・ドレイン間の寄生容量を介してゲート1002に電流が流れた場合でも、ゲート1002の電圧が上昇しないため、遮断状態を維持し、負荷1に電流を流さない。   When the detection signal generated by the voltage fluctuation detection unit 5c is input, the cutoff unit 6c forcibly turns off the semiconductor element 3 before the semiconductor element 3 is turned on due to fluctuations in the output voltage of the power supply 2. Specifically, the second transistor 10 constituting the blocking unit 6 c becomes conductive due to a potential difference generated between both ends of the resistor 8. Therefore, the second transistor 10 sets the potential (gate voltage) of the control terminal of the semiconductor element 3 and the source voltage to the same potential. Thus, even when a current flows from the power supply 2 to the gate 1002 through the parasitic capacitance between the gate and the drain due to voltage fluctuation, the semiconductor element 3 maintains the cutoff state because the voltage of the gate 1002 does not increase. No current flows through 1.

一方、信号端子101の印加電圧がオン(数V)である場合には、制御部4は、半導体素子3及び第1トランジスタ9のゲート電圧を電源2の出力電圧以上に昇圧し、半導体素子3及び第1トランジスタ9をオン(導通)させる。したがって、半導体素子3は、負荷1に電流を流している状態である。この場合において、電源2の出力電圧が変動しても、半導体素子3は負荷1に電流を流し続ける必要があるため、電圧変動検出部5cは、検出信号を遮断部6cに出力しない。具体的に言うと、第1トランジスタ9が上述したように導通状態であるため、電源2の出力電圧が時間的に変動することにより半導体素子12の寄生容量が過渡的に電流を流しても、当該電流は瞬時に第1トランジスタ9を介して半導体素子3のソース端子に流れるため、抵抗8は、両端に検出信号たる電位差を生じない。ここで、第2トランジスタ10のゲート電圧は、半導体素子3のソース電圧と同電位である。それ故、電圧変動検出部5cは検出信号を出力しないので、第2トランジスタ10は遮断状態を維持する。その結果、半導体素子3は、遮断部6cにより強制的にオフにされることなく、信号端子101の印加電圧がオンである間に、負荷1に電流を流し続ける。   On the other hand, when the applied voltage of the signal terminal 101 is ON (several V), the control unit 4 boosts the gate voltage of the semiconductor element 3 and the first transistor 9 to be equal to or higher than the output voltage of the power supply 2, and the semiconductor element 3. The first transistor 9 is turned on (conductive). Therefore, the semiconductor element 3 is in a state where a current is passed through the load 1. In this case, even if the output voltage of the power supply 2 fluctuates, the semiconductor element 3 needs to continue to pass a current through the load 1, so the voltage fluctuation detection unit 5c does not output a detection signal to the blocking unit 6c. More specifically, since the first transistor 9 is in the conductive state as described above, even if the parasitic capacitance of the semiconductor element 12 causes a transient current to flow due to the temporal change in the output voltage of the power supply 2, Since the current instantaneously flows to the source terminal of the semiconductor element 3 through the first transistor 9, the resistor 8 does not generate a potential difference as a detection signal at both ends. Here, the gate voltage of the second transistor 10 is the same potential as the source voltage of the semiconductor element 3. Therefore, since the voltage variation detector 5c does not output a detection signal, the second transistor 10 maintains the cutoff state. As a result, the semiconductor element 3 continues to flow current to the load 1 while the voltage applied to the signal terminal 101 is on without being forcibly turned off by the blocking unit 6c.

その他の動作は、実施例2と同様であり、重複した説明を省略する。   Other operations are the same as those in the second embodiment, and redundant description is omitted.

上述のとおり、本発明の実施例3の形態に係る負荷駆動回路によれば、実施例1及び2の効果に加え、電圧変動検出部5c及び遮断部6cに流れる電流をグランドの代わりに負荷1に流すので、電圧変動検出部5c及び遮断部6cに使用されるFET(又はトランジスタ)に耐圧の低い素子を使用することができ、コストを抑えることができる。   As described above, according to the load driving circuit according to the third embodiment of the present invention, in addition to the effects of the first and second embodiments, the current flowing through the voltage fluctuation detection unit 5c and the cutoff unit 6c is changed to the load 1 instead of the ground. Therefore, an element with a low withstand voltage can be used for the FET (or transistor) used for the voltage fluctuation detecting unit 5c and the blocking unit 6c, and the cost can be reduced.

なお、電圧変動検出部5cや遮断部6cを介して負荷1に流れる電流は、非常に微量であるため、負荷1の動作に影響を与えることはない。   Note that the current flowing through the load 1 via the voltage fluctuation detection unit 5c and the blocking unit 6c is very small and does not affect the operation of the load 1.

本発明に係る負荷駆動回路は、制御電流に応じて油圧をリニアに制御するリニアソレノイドを駆動する負荷駆動回路に利用可能である。   The load drive circuit according to the present invention can be used in a load drive circuit that drives a linear solenoid that linearly controls hydraulic pressure in accordance with a control current.

本発明の実施例1の形態の負荷駆動回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the load drive circuit of the form of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1の形態の負荷駆動回路の電圧変動検出部及び遮断部の詳細な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the detailed structure of the voltage fluctuation detection part and interruption | blocking part of the load drive circuit of the form of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1の形態の負荷駆動回路の動作タイムチャート図である。It is an operation | movement time chart figure of the load drive circuit of the form of Example 1 of this invention. 本発明の実施例2の形態の負荷駆動回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the load drive circuit of the form of Example 2 of this invention. 本発明の実施例3の形態の負荷駆動回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the load drive circuit of the form of Example 3 of this invention. 従来の負荷駆動回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the conventional load drive circuit. 従来の負荷駆動回路の動作タイムチャート図である。It is an operation time chart figure of the conventional load drive circuit. 従来の負荷駆動回路の半導体素子として用いられるFETの一般的な等価回路図である。It is a general equivalent circuit diagram of FET used as a semiconductor element of the conventional load drive circuit. 従来の負荷駆動回路における電源電圧変動時の動作タイムチャート図である。It is an operation | movement time chart figure at the time of the power supply voltage fluctuation | variation in the conventional load drive circuit.

符号の説明Explanation of symbols

1 負荷
2 電源
3 半導体素子
4 制御部
5,5a,5b,5c 電圧変動検出部
6,6a,6b,6c 遮断部
7 コンデンサ
8 抵抗
9 第1トランジスタ
10 第2トランジスタ
12 半導体素子
101 信号端子
1001 ドレイン
1002 ゲート
1003 ソース
1004 CGD
1005 CGS
1006 CDS
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Load 2 Power supply 3 Semiconductor element 4 Control part 5, 5a, 5b, 5c Voltage fluctuation detection part 6, 6a, 6b, 6c Blocking part 7 Capacitor 8 Resistance 9 1st transistor 10 2nd transistor 12 Semiconductor element 101 Signal terminal 1001 Drain 1002 Gate 1003 Source 1004 C GD
1005 C GS
1006 C DS

Claims (6)

直流電源から負荷への電力供給経路に直列に接続されオン/オフ動作により負荷に流れる電流を制御する第1半導体素子を有する負荷駆動回路において、
前記第1半導体素子のオン/オフを制御する制御部と、
前記直流電源の出力電圧の変動を検出して検出信号を生成する検出部と、
前記検出部により生成された検出信号が入力された場合に、前記直流電源の出力電圧の変動により前記第1半導体素子がオンする前に前記第1半導体素子を強制的にオフさせる遮断部と、
を備えることを特徴とする負荷駆動回路。
In a load driving circuit having a first semiconductor element connected in series to a power supply path from a DC power supply to a load and controlling a current flowing through the load by an on / off operation,
A controller for controlling on / off of the first semiconductor element;
A detection unit that detects a change in the output voltage of the DC power supply and generates a detection signal;
A blocking unit that forcibly turns off the first semiconductor element before the first semiconductor element is turned on due to a change in the output voltage of the DC power supply when a detection signal generated by the detection unit is input;
A load driving circuit comprising:
前記検出部は、前記制御部が前記第1半導体素子に対してオフ制御を行っている場合にのみ検出信号を生成することを特徴とする請求項1記載の負荷駆動回路。   The load driving circuit according to claim 1, wherein the detection unit generates a detection signal only when the control unit performs off control on the first semiconductor element. 前記検出部は、前記直流電源の出力端子とグランド又は前記負荷との間にコンデンサと抵抗とを直列に接続した直列回路からなり、前記直流電源の出力電圧の変動に基づいて前記抵抗の両端に生じる電圧を前記検出信号とすることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の負荷駆動回路。   The detection unit includes a series circuit in which a capacitor and a resistor are connected in series between an output terminal of the DC power supply and a ground or the load, and is connected to both ends of the resistor based on fluctuations in the output voltage of the DC power supply. The load drive circuit according to claim 1, wherein the generated voltage is used as the detection signal. 前記コンデンサは、前記直流電源の出力端子と前記抵抗との間に直列に接続された第2半導体素子の寄生容量からなることを特徴とする請求項3記載の負荷駆動回路。   4. The load driving circuit according to claim 3, wherein the capacitor comprises a parasitic capacitance of a second semiconductor element connected in series between the output terminal of the DC power supply and the resistor. 前記検出部は、前記抵抗に並列に接続され前記制御部が前記第1半導体素子に対してオン制御を行っている場合にオンする第1トランジスタを備えることを特徴とする請求項3又は請求項4記載の負荷駆動回路。   The said detection part is equipped with the 1st transistor connected in parallel with the said resistance, and turns on when the said control part is carrying out ON control with respect to a said 1st semiconductor element, The Claim 3 or Claim characterized by the above-mentioned. 4. The load driving circuit according to 4. 前記遮断部は、前記第1半導体素子の制御端子とグランド又は前記負荷との間に接続された第2トランジスタからなり、前記検出部により生成された検出信号に応じて前記第2トランジスタをオンさせることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の負荷駆動回路。   The blocking unit includes a second transistor connected between a control terminal of the first semiconductor element and a ground or the load, and turns on the second transistor according to a detection signal generated by the detection unit. 6. The load driving circuit according to claim 1, wherein the load driving circuit is characterized in that:
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