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JP2008528971A - 非破壊ストリンガ検査装置および方法 - Google Patents

非破壊ストリンガ検査装置および方法 Download PDF

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JP2008528971A JP2007552215A JP2007552215A JP2008528971A JP 2008528971 A JP2008528971 A JP 2008528971A JP 2007552215 A JP2007552215 A JP 2007552215A JP 2007552215 A JP2007552215 A JP 2007552215A JP 2008528971 A JP2008528971 A JP 2008528971A
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Abstract

ハットストリンガ検査装置によって、1つ以上のプローブがハットストリンガの長さ部に沿って移動するときにハットストリンガの連続的な検査が可能となる。プローブは、たとえばプローブのうちの1つがハットストリンガの内側に配置され、プローブがハットストリンガの表面にわたって磁気的に結合されるところを含む、構造物の対向表面と磁気的に結合されてもよい。装置は、ハットストリンガに沿って検査デバイスを駆動するためのフィードバック制御されたモータで独立していてもよい。磁気結合はまた、ハットストリンガの変化、またはハットストリンガの形状、寸法および構成の変化に対して、プローブの位置のおよび/または位置合わせの向きかえをするためにも使用される。

Description

技術分野
本発明は一般に構造物を検査するための装置および方法に関し、より詳細には、接近が限られた構造物の特徴の非破壊検査のための装置および方法に関する。
背景
構造物の非破壊検査(NDI)は、構造物を損なわずに、または構造物を大幅に分解する必要なく、構造物を完全に調べることが必要である。検査のために一部分を除去することに関連する予定、労力およびコストを避けるため、ならびに構造物に損傷を与える可能性を回避するために、非破壊検査が一般的に好ましい。非破壊検査は、構造物の外部および/または内部を完全に検査することが必要な多くの応用分野に有利である。たとえば、構造物のいかなる種類の内部損傷または外部損傷を求めて航空機の構造物を調べるために、非破壊検査が航空機産業において一般に使用される。構造物を製造する間、および/または一度構造物が稼働中になると、検査が実行されてもよい。たとえば、製造時に連続して使用し、また稼働中に将来に継続して使用すべく、構造物の整合性および適合性を検証するのに検査が必要とされ得る。しかし、検査のための一部分を航空機から除去するなどの分解をせずに内面へ接近することは、たいてい困難であるか、不可能である。
定期的に非破壊試験される構造物には、複合材料のサンドイッチ構造物など複合構造物、ならびに、炭素繊維強化エポキシおよびグラファイト強化エポキシ(Gr/Ep)材料から製作されるハットストリンガまたはハットスティフナおよび一体的に硬化したか一体的に結合されたハットストリンガなど、他の接着結合パネルおよびアセンブリがある。この点に関しては、複合構造物は、工学的品質、設計の自由度、および重量に対する剛性比など低重量のために、航空機産業全体で一般に用いられる。したがって、複合構造物の性能に悪影響を及ぼし得る亀裂、空隙または多孔性などのいかなる傷をも識別するために、複合構造物を検査することがしばしば望ましい。
非破壊検査を実行するために、さまざまな種類のセンサを用いてもよい。1つ以上のセンサが、調べるべき構造物の部分上を移動し、構造物に関するデータを受信することができる。たとえば、構造物における隙間ゲージ、薄層の欠陥および多孔性の検出および/または亀裂の検出など超音波データを得るために、パルスエコー(PE)、透過探傷(TT)、または剪断波センサが使用されてもよい。構造物の接着線などにおける空隙または多孔性を示すために、共鳴、パルスエコーまたは機械インピーダンスセンサを用いてもよい。航空機構造の高解像度の検査は、半自動化超音波試験(UT)を使用して一般に実行され、検査中の一部分または構造物の平面画像を提供する。たとえば、片側パルスエコー超音波(PEU)検査を使用して中実の積層板(solid laminates)が検査されてもよく、両側透過探傷超音波(TTU)検査を使用して複合材料のサンドイッチ構造物が検査されてもよい。パルスエコー超音波(PEU)検査において、超音波変換器など超音波センサは、検査されるべき構造物の1つの表面に隣接するかまたはその近くに配置される。たとえば、PEU変換器は検査中に超音波信号を構造物に伝達し、構造物から超音波信号の反射を受ける。透過探傷超音波検査において、変換器など対超音波センサ、または変換器と受信器との組合せが他方に対向して配置されるが、構造物の両側と接触している。超音波信号が変換器のうちの少なくとも1つの変換器によって伝達され、構造物を介して伝播され、他方の変換器によって受信される。PEU変換器およびTTU変換器などのセンサによって取得されたデータは一般に処理要素によって処理され、処理されたデータはディスプレイを介してユーザに示されてもよい。検査の対応色および/またはグラフィックデータで補われる、ハットストリンガなどの検査中の構造物の画像表現としてのデータをコンピュータモニタに表示するなど、検査データの集計および表示のために、データ取得ボードおよびデータ処理ソフトウェアが使用されてもよく、有資格の検査者による検査が可能になる。
非破壊検査は、一般に、適切なセンサを構造物にわたって動かす技術者によって手動で行なわれてもよい。手動による走査は、訓練された技術者が検査を必要とする構造物のすべての部分にわたってセンサを動かす必要がある。手動による走査では、技術者が、センサを一方向に左右に繰返して動かしつつ、別の方向にセンサを同時に割出ししなければならない。さらに、センサは一般には取得したデータに場所情報を関連付けないので、構造
物を手動で走査する同じ技術者はまた、構造物に欠陥がもしあればそれが構造物のどこにあるのかを特定するよう構造物を走査しつつ、センサディスプレイをも観察しなければならない。したがって、検査の質は、センサの動きだけでなく表示されたデータも解釈する技術者の注意力を考慮すると、主に技術者の能力に左右される。したがって、手動による構造物の走査は時間がかかり、大きな労働力を要し、人為的なミスを起こしやすい。
半自動化検査システムもまた、開発されている。たとえば、可動式自動スキャナ(MAUS(登録商標))システムは、概して固定フレームおよび一般的に超音波検査に適合される1つ以上の自動走査ヘッドを利用する可動性の走査システムである。MAUシステムは、パルスエコーセンサ、剪断波センサおよび透過探傷センサで使用されてもよい。固定フレームは、真空カップ、マグネットまたはその他の固定方法によって、検査されるべき構造物の表面に取付けられてもよい。より小型のMAUシステムは、技術者によって構造物の表面にわたって手動で移動するポータブルユニットであってもよい。
自動検査システムもまた、開発されている。たとえば、自動超音波走査システム(AUSS(登録商標))のシステムは、透過探傷超音波検査を用いることのできる複雑な機械的走査システムである。AUSSシステムはまた、パルスエコー検査および同時2周波数検査を行なうこともできる。AUSSシステムは、ロボットによって制御されるプローブアームを有し、プローブアームはたとえばTTU検査のために検査を受ける構造物の両側の面に近接して位置決めされてもよく、一方のプローブアームは構造物の一方の面に沿って超音波送信機を移動させ、他方のプローブアームは構造物の反対側の面に沿って対応するように超音波受信機を移動させる。超音波送信機および超音波受信機を互いに対しかつ検査を受ける構造物に対し適切に位置合わせをし、かつ適切な間隔を維持するために、従来の自動検査システムは、10本の軸で動作制御を行なうAUSS−Xシステムなど多数の軸で動作制御を提供する複雑な位置決めシステムを有する。しかし、自動検査システムおよびその他のロボットシステムは、極端に高価となり得る。さらに、構造物に対して、かつTTU検査のために互いに対してセンサを向けて間隔をあけることは、湾曲した構造物およびハットストリンガの検査など、非平面形状を備えた構造物に関連して特に困難となり得る。また、AUSSーXシステムなど従来の自動走査システムは、特に極めて大型または小型の構造物に対しては、少なくともいくつかの状況で不可能ではないとしても問題のある構造物の両側へ接近する必要があり得る。さらにまた、走査システムは数平方メートルまでの限られた領域を検査する。
検査を必要とする構造物および特定の特徴に接近できることはまた、重要な考慮事項でもある。接近することは限られるので、手動の検査または自動検査は不可能である。たとえば、航空機の胴体のハットストリンガの内側は、検査のための特に端部から離れた接近が限られる。
発明の概要
ハットストリンガなどの構造物を検査する装置は、胴体に結合される独立したクローラを含み、検査デバイスを駆動するためのフィードバック制御されたモータを使用してハットストリンガを検査する。本システムは、特に、複合材料のハットストリンガを検査するのに適合される。
磁気結合によって、透過探傷検査のために検査中の構造物上の検査デバイスが両側で保持される。検査デバイスの第1のプローブがハットストリンガの外側に沿って動く一方、第2のプローブがハットストリンガより下で、またはハットストリンガの内側で動く。超音波変換器またはX線供給源およびX線検出器などの検査デバイス保持検査センサの構成
と共に、磁気結合は、検査デバイスがハットストリンガの長さ部に沿って移動するときハットストリンガを検査するために位置合わせされる。磁気結合によっては、構造物の表面に結合され物理的に接触する変換器が保持される。強力で一貫した信号伝送を提供するためなど高信頼性の検査を保証するために、構造物に結合される変換器を保持することは重要となる。検査デバイスの設計によってまた、正確な位置の測定、またはエンコーダを使用した構造物の長さ部に沿った検出が可能にもなる。
本発明の実施形態は、ハットストリンガを検査するための、2004年1月7日出願の米国特許出願第10/752,890号に記載されているような遠隔接近の接着線検査工具(RABIT)の一般的な特徴および機能を改良する。
好ましい設計は、異なるハットストリンガ設計の形状および寸法の変形、ならびに、軸方向の部分の厚さの違いなど部分の厚さの変化に適応する。たとえば、内側のプローブの中央部および側方部は、側方部がハットストリンガの側面の角度に合致するように移動できるよう配置されてもよい。プローブは、ばね荷重または調整スロットやジャッキねじのようなより複雑な調節手段を使用して、自動調節していてもよい。ハットストリンガの幅が増加するとき、ハットストリンガの角部を検査するために向けられる変換器は、中央部にはめ込むことによって角部と位置合わせされたままとなる。変換器の選択は、材料のタイプおよびその厚さによる。より高周波数の変換器は、通常、より薄いハットストリンガの厚みに使用される。
詳細な説明
添付図面を参照して、本発明をより完全に説明する。本発明のいくつかの実施形態が示されているが、すべてではない。本発明は多くの異なる形態で実施可能であり、説明される実施形態に制限されるように解釈されるべきではない。同様の数字および変数は、図面全体を通して同様の要素を表す。
本発明の非破壊ストリンガ検査の装置および方法の実施形態が、ハットストリンガ、特に航空機胴体用の複合材料のハットストリンガに関して説明されている。しかし、装置および方法は、検査が困難な幾何学的構成および/または遠隔位置を備えた他の複合構造物を含み、非破壊検査を必要とする同様の応用分野に使用されてもよい。ハットストリンガ検査の装置および方法の実施形態は、同時係属中の特許出願第10/943,088号、第10/943,135号、第10/752,890号、または第10/943,170号に記載されているような磁気的に結合されたプローブを含んでもよい。
検査装置は、さまざまな材料から形成されるさまざまな構造物を検査することができる。しかし、構造物を通して磁界を伝えるデバイスのために、検査中の構造物は好ましくは非磁性であり、すなわち、構造物に透磁性がないのが好ましい。このような構造物は、炭素繊維強化エポキシまたはグラファイト強化エポキシ(Gr/Ep)、および非強磁性金属(たとえばアルミニウム合金、チタン合金、またはGLAREまたはTi/Grなどのアルミニウムまたはチタンの混成の積層板)などの複合材料を含む。試験物品を集合的に画定する表面および中間の隔壁は非磁性であり、プローブ間を磁気結合することができる。
ハットストリンガを検査することは、パルスエコー超音波(PEU)検査など通常片側の検査技術が必要である。しかし、ハットストリンガの形状によって、検査が複雑になる。ハットストリンガ検査デバイスは、パルスエコー検査または透過探傷超音波検査(TTU)を行なうことができる。
プローブの検査センサは、ハットストリンガ全体の完全な検査を保証するために、変換器をハットスティフナの角部または縁部に向けるなど戦略的に配置されて向けられてもよい。変換器ホルダとも呼ばれる検査センサのための支持構造物は、ハットストリンガの意図された形状および寸法に応じて検査センサを特定して配置し向けるために製作されてもよい。たとえば、変換器ホルダ84を備えた図8から図12に示される第1の検査プローブ80は、ハットストリンガの片側の12個の検査センサ38とハットストリンガの頂部の6つの検査センサ38とを使用して、手持ち式パルスエコー(PE)検査のために使用されてもよい。頂部と側面のうちの片側との間のハットストリンガの交差する角部の近くに配置される検査センサは、角部を検査するために向けられてもよい。あるいは、またはさらに、ハットストリンガの角部を検査するために、検査センサが側面と頂部との間に含まれてもよい。図8から図12に示される変換器ホルダ84を使用する検査デバイスは、ハットストリンガのどちらかの側面に沿って一度ハットストリンガを走査することが必要となるであろう。他の実施形態は、単一パスの検査を可能にするためにハットストリンガの両側および頂部を走査するように構成されてもよい。
3つのタイプの検査プローブが提供されている。固定された向きのプローブは、検査センサ、接触部材および磁気結合デバイスのいずれかを支持するハウジングを含むので、検査プローブが1つの一体化したデバイスとして機能する。セグメント化されたプローブは、任意の接触部材および/または磁気結合デバイスを支持するハウジングを、検査センサを支持する変換器ホルダから切り離すので、プローブは変換器ホルダを向きかえることができ、それによって、任意の検査センサが検査中のハットストリンガの形状および構造を備える。部分的に固定された向きのプローブは、検査プローブを限定して向きかえることのできるヒンジ部を含んでもよく、このヒンジ部によって、検査センサをより良好に位置合わせし、または磁気結合デバイスおよび/または接触部材をより良好に位置決めすることが可能になる。検査プローブのこれら3つの変形物は、検査の特定の状況に応じて異なる組合せで使用されてもよい。
図1は、2つのハットストリンガを備えた構造物の斜視図である。これらの構造物は外板12を含み、全体の構造物を補強するために個々のまたは接続されたハットストリンガ10が外板12に取付けられてもよい。図2において、ハットストリンガは、外面16および内面18を有する。外板12は、上表面15および下表面14を有する。ハットストリンガ10は台形の構造物であり、角部または縁部20、26で外板12に固定される。ハットストリンガ10は、外板から離されている(lifted off)角部または縁部22、24を有する。
胴体の外面のハットストリンガの下に接近可能な場合、図3に示されるように、胴体の壁部を介する磁気結合によって、第1のプローブがハットストリンガ上に保持され、第2のプローブが胴体の内面に保持される。胴体の外面に接近できない場合、および/または、ハットストリンガが検査デバイスの内側のプローブの挿入および取りはずしが可能な開口端を有する場合、図4に示されるようにハットストリンガを介して磁気結合が生じる。内部への接近と共に、透過探傷超音波検査(TTU)技術が使用されてもよい。
図3において、プローブ40は、外板12の表面14に沿って動く。プローブ30は、ハットストリンガ10の外表面16および外板12の表面15に沿って動く。ハットストリンガの内側で動くプローブは、ハットストリンガの外側で動くプローブと磁気的に結合されてもよい。各プローブ30、40は、マグネットまたは強磁性材料のインサートなど1つ以上の磁気結合デバイス42を含み、プローブ30、40を位置合せして保持するように2つのプローブ30、40の間を磁気結合し、協力して原動−従動運動してもよい。磁気結合は、マグネットの寸法および/または強度を変化させることによって調整されてもよい。
少なくとも1つのプローブは、パルスエコーセンサ、超音波変換器、X線供給源、X線検出器、エンコーダまたはカメラなどの検査センサを含んでもよい。超音波変換器は、アグファ/クラウトクレーマー(Agfa/Krautkramer)、ペンシルヴェニア州、ルイスタウンによる1MHz投込型変換器であってもよい。図3に示されるように、1つのプローブ30は、ハットストリンガ10のさまざまな構成要素を検査するために向けられる超音波変換器36、37、38、39を含む。変換器36は、角部24を検査する。変換器37は、外板12に取付ける角部26を検査する。変換器38は、側面を検査する。変換器39は、外板12から最も遠くにあるハットストリンガ10の部分を検査する。
プローブ30、40はまた、車輪、ベアリング、またはスキッドなど接触部材41も含み、接触部材41によってプローブ30、40が表面14、15および16にわたり容易に移動することができる。各接触部材41は、表面14、15および16から適切な間隔でプローブ30、40を支持し、摩擦抵抗を減少させて表面にわたるプローブの円滑な並進運動を可能にする。
プローブ30、40を検査中の構造物の対向する表面14、15および16上で互いに磁気的に結合することによって、どちらかのプローブが駆動されてもよく、すなわち、どちらかのプローブが検査中の構造物のそれぞれの表面にわたり並進力によって移動してもよく、それによって、対向する磁気的に結合されたプローブを移動させる。各プローブ30、40は、ハウジング34、44を含み、磁気結合デバイス42、接触部材41、および検査センサ36、37、38、39などのさまざまなプローブの要素を支える。ハウジングは、たとえば、プレクシガラス、プラスチック、または他の材料から作られてもよく、他の材料は、構造上の支持や耐久性を提供し、検査方法を妨害せず、かつ、たとえば接触するときに表面を傷つけることによるなど検査中に部分の表面に損傷を与えそうにないものである。
プローブ30は、異なる幅のハットストリンガ、および幅が変動するハットストリンガに適応するように設計されてもよい。プローブ30は、2つの側面46、48から形成されてもよい。ハットストリンガの幅が増加する場合、または、検査プローブ30が大きな幅を備えたハットストリンガに配置されるとき、プローブ30は、第1および第2の側面46、48に分離することができる。第1および第2の側面46、48をハットストリンガの外表面16に支持し、第1および第2の側面46、48が検査中にハットストリンガの幅よりも大きく分離しないように、第1および第2の側面46、48は、磁気結合デバイスを使用するなどして互いに磁気的に結合されてもよい。
図4において、プローブ40はハットストリンガ10の内側に設置され、ハットストリンガ10の内表面18に支持される。
図5Aは、検査プローブの一部分の底面図である。図5Bは、図5Aのプローブの一部分の横断面概略図である。図5Aおよび図5Bに示されるプローブは、プローブをハットストリンガに支持し、ハットストリンガの側面および頂部を検査するための磁気結合デバイス42を含む。プローブは、図6A、図6B、および図6Cに示されるプローブの一部分に取付けられてもよく、またはプローブの一部分に一体的に形成されてもよい。図6A、図6B、および図6Cに示されるプローブは、連続的な検査のためにハットストリンガの長さ部に沿った運動を提供する。図6A、図6B、および図6Cに示される検査プローブの部分は、プローブを支持するための構造部材、フレーム、本体、または外骨格と呼ばれてもよい。ハウジング60は、車軸70を駆動するモータ62を支持してもよい。車軸は、ハウジング60を構造物に支持する1つ以上の接触部材64を回転させてもよい。車
軸70はまた、他の接触部材66を駆動する歯車68を支持してもよい。
図7は、ハットストリンガより下で、または内側で動く別の検査プローブ70の斜視図である。プローブ70は、接触部材72、74、および磁気結合デバイス42を含む。
図8、図9、図10、図11、および図12において、プローブ80は、一方向に移動するときにはハットストリンガの2つの表面を、反対方向に走査するときに残りの面を検査することができる。変換器ホルダ84は、検査センサ38を支持して位置合わせする。変換器ホルダ84の溝136、138、139は、検査センサを受けて、ハットストリンガの表面の完全な走査を達成するようにセンサを配置する。溝139は、ハットストリンガの上面を走査するためのセンサを位置合わせするために設置される。溝136は、ハットストリンガの角部または縁部を走査するためのセンサを位置合わせする。端部の溝138は、ハットストリンガの側面を走査するためのセンサを配置する。
超音波検査のために、水または空気のような流体が、供給管路を通って検査デバイス上のチャネルに供給され、デバイスと構造物との間に水を散布し、検査デバイスと構造物との間の検査信号を結合することができる。流体入口86によって、ハウジング82を通ってチャネルへ流体を転送し、流体を散布することが可能になる。図8の設計は、図11および図12に示すように検査プローブ80のほんの一部分がハットストリンガの上にあるときに、検査センサ38とハットストリンガとの間にある流体を結合する経路を維持する。好都合にも、流体は、信号対雑音比に悪影響を及ぼすであろう泡、キャビテーションまたは乱流なしで滑らかに流れる。
また、接触部材の代わりに、ハウジングと構造物の表面との間に水または空気のような流体の薄層を注入することによって、流体ベアリングが作成されてもよい。流体ベアリングは、表面のスクラッチングをさらに防ぐことができる。
プローブが流体ベアリングを有する場合であっても、プローブは1つ以上の接触部材を含んでもよい。スキッドは、最初にプローブを構造物に配置するかまたは構造物の両側に2つのプローブを磁気的に結合するとき、特に流体ベアリングが使用されない場合に、流体ベアリングのプローブが構造物の表面の損傷または擦傷を防ぐのに有益となり得る。
図13において、プローブ200は、3つの別個の変換器ホルダ202、204、206を含み、これらはそれぞれ検査センサのための磁気結合デバイス42および溝138、139を含む。各変換器ホルダ202、204、206を分離することによって、プローブ200は、各変換器ホルダ202、204、206、および、任意の検査センサを向きかえることが可能となる。それにより、検査センサは、異なる形状、ハットストリンガの両側面に沿った異なる角度、および/またはハットストリンガの異なる高さを備えたハットストリンガを検査するのに必要とされるようにそれらによって支持される。プローブ200は、図14に示すようなプローブ90で使用される。プローブ90は、第2の検査プローブ90の側面部分93、94がハットストリンガの両側面の対応角に合致するように回転することのできるヒンジ92または他の回転可能な仕組みを含む。このように、第1および第2のプローブ200、90の磁気結合デバイス42間の磁気吸引によって、ハットストリンガの両側面の対応角に合致するように側面の変換器ホルダ202、204を向きかえることができるようになる。したがって、第1の検査プローブ200の側面変換器ホルダ202、204は、ハットストリンガ10の外表面16の角度に合致し、第2の検査プローブ90の側面部分93、94は、ハットストリンガ10の内表面18の角度に合致する。
図15、図16および図17は、本発明のさらに別の検査プローブを示す図である。こ
れらの図に示された検査プローブの実施形態は、図6A、図6B、および図6Cに示される検査プローブの部分に類似しているので、第1の検査プローブ210のハウジング260は、第1の検査プローブ210の変換器ホルダまたは検査シュー202、204、206から切り離される。第1の検査プローブ210のハウジングまたは外骨格260は、第1の検査プローブ210の各種要素を支持して、第1の検査プローブ210を支持し、位置合わせをし、連続的な検査のためのハットストリンガに沿った並進運動を提供する。モータ262は、摩擦輪など接触部材266を駆動するために使用される。歯車268は、ドライブチェーン269やその他並進手段および歯車伝動装置のための車軸270を使用して、モータ262の回転を接触部材266へ伝達するために使用されてもよい。第1の検査プローブはまた、光学シャフトエンコーダ、直線エンコーダ、光センサ、方向性センサまたは車輪エンコーダなど直線エンコーダ261を含んでもよい。直線エンコーダ261は、第1の検査プローブ210の位置、速さ(speed)、方向および/または速度(velocity)のフィードバックを提供するために、第1の検査プローブ210のハウジング260に取付けられてもよい。本発明の実施形態は、車輪と検査デバイスの位置および速度を表示する光学エンコーダとを駆動する高性能のステッパモータを使用してもよい。たとえば、使用時に走査技術の速さに有利な方法で検査デバイスを移動するために、検査デバイスは、1分あたりハットストリンガの長さ10フィートと同じかそれ以上の割合(rate)で検査することができ、また高性能ステッパモータは、制御ソフトウェアを備えたコンピュータなど電子制御器で動作することができる。
第1の検査プローブ210は、図17に示すように第2の検査プローブ211と協動してもよい。第1の検査プローブ210の変換器ホルダまたはシュー202、204、206は、第2の検査プローブ211の磁気結合デバイス42と一致する磁気結合デバイス42を含んでもよい。第1および第2の検査プローブ210、211の対応する磁気結合デバイス42間の磁気吸引は、ハットストリンガの外表面に沿った変換器ホルダ202、204、206の支持および向きを提供する。第2の検査プローブ211および変換器ホルダ202、204、206は、接触部材41を含んでもよい。変換器ホルダ202、204、206の適切な位置合わせを維持するために、分離した支持部が使用され、変換器ホルダ202、204、206の位置合わせまたは向きを調整する。プローブ210は、ばね213および垂直の調整ドライブ212を含む。
プローブ210は、ハットストリンガをまたぎ、検査のため第1のプローブ210のハットストリンガの長さ部に沿った運動が可能になる。プローブ211は、図17の応用例ではハットストリンガの内側にある。第1および第2のプローブ210、211の磁気結合デバイス42は、プローブ210、211間の磁気吸引を提供し、構造物の両面との接触を維持し、プローブ210、211が協同運動する間を含み、他方のプローブに対する関係位置の対応を維持する。プローブ210、211の接触部材41によって、ハットストリンガの検査のための構造物のそれぞれの表面にわたるプローブ210、211の制御された運動が可能になる。プローブ210、211がハットストリンガの長さ部に沿ってモータ262によって移動するとき、超音波変換器など検査センサは、ハットストリンガを検査するために作動する。あるいは、自動制御システムによって、または、手動操作によって、プローブの運動が与えられてもよい。ハットストリンガの検査の品質を向上させるために、接触媒質が使用されてもよい。
検査デバイスがハットストリンガの長さ部に沿って移動するとき、プローブ210、211は、ハットストリンガの両側面の角度の変化を補償するように、磁気結合デバイス42および/または検査センサをハットストリンガの形状に向きかえることができる。
図18、図19、図20、図21、および図22において、プローブ300は、どちらかの端部に調節可能な磁気結合デバイス342を含む。ハットストリンガの異なる高さを
示すことのできるスライド可能な部分302を使用して、磁気結合デバイス342を調整することができる。図21および図22においてより明らかに視認できるように、検査プローブ300は、2つの変換器ホルダ304、306を含む。変換器ホルダのうちの1つ304は、ハットストリンガの側面を走査するための位置決めおよび位置合わせを提供するように構成される。他方の変換器ホルダ306は、ハットストリンガの上面を走査するための位置合わせを提供するように配置される。対応する溝338、339によって、検査センサのアレイがこれらの変換器ホルダ304、306のそれぞれに設置されることができる。検査プローブ300は、変換器ホルダ304、306をハウジング360から切り離すように構成され、変換器ホルダ304、306および検査センサが走査されている表面に対して向きかえることができる。たとえば、ハットストリンガの側面を走査するように構成された変換器ホルダ304は、支持要素314に取付けられ、支持要素314は、バネで付勢されたダンパ318を備えたハウジング360に取付けられ、ダンパ318によって、支持要素314がある程度までハウジング360に対して3つの自由度を達成することができる。バネで付勢されたダンパ318は、ハットストリンガの表面に位置合わせするための運動の角自由度に加えて、ハットストリンガの表面に向かう運動およびハットストリンガの表面から離れる運動を提供するための、ベアリングを備えた線形のロッドを有する線形のスライドであってもよい。変換器ホルダ304は、ちょうつがい式の取付け装置315によって支持要素314に取付けられ、取付け装置315によってさらなる自由度が可能になる。変換器ホルダ304、306は、ハットストリンガの内側のプローブの磁気結合デバイスに引力するによって変換器ホルダ304、306をハットストリンガの表面に結合する磁気結合デバイスを有する。図23Aから図23Hにおいて、切り離された変換器ホルダ304、306に設置された検査センサからの、検査品質を悪化させ得る振動および/または振幅を低下させるためのエアポット(airpot)またはダッシュポット312、313が含まれる。
図24、図25、および図26において、プローブ400は、第1および第2の側面402、404に分離され、検査プローブ400がさまざまな幅を得ることができる。磁気結合デバイス442は、プローブ400をハットストリンガの表面に支持するために、プローブ400の磁気吸引を提供する。
図27、図28、図29、図30、図31A、図31Bおよび図32Aから図32Eにおいて、プローブ500は、モータハウジング463に包囲されるモータ462を含み、モータ462は検査中の構造物の表面に沿ってプローブ500を駆動して、連続的な走査を提供する。たとえば、モータは、外板の表面に沿って動く踏み面440を駆動する、車輪466などの接触部材を駆動してもよい。モータ468は、ベルトまたはチェーンなどドライブチェーン469を使用して、歯車468から接触部材にその回転力を移動させてもよい。検査センサの構成は、ハットストリンガの全面を走査するために検査プローブ500上に配置されるアレイを含んでもよい。
本発明は、特定の開示された実施形態に限られるべきでない。特定の用語は、一般的な記述の意味でのみ使用され、制限する目的のために使用されていない。
2つのハットストリンガを備えた構造物の斜視図である。 ハットストリンガの等角図である。 ハットストリンガを検査するための本発明の検査装置の横断面概略図である 検査装置の別の実施形態の横断面概略図である。 検査プローブの一部分の底面図である。 図5Aのプローブの一部分の横断面概略図である。 別の検査プローブの一部分の横断面概略図である。 図6Aのプローブの一部分の横断面概略図である。 図6Aのプローブの一部分の別の横断面概略図である。 別の検査プローブの斜視図である。 さらに別の検査プローブの斜視図である。 図8の検査プローブの斜視図である。 図8の検査プローブの斜視図である。 図8の検査プローブの斜視図である。 図8の検査プローブの斜視図である。 さらに他の検査プローブの斜視図である。 さらに他の検査プローブの斜視図である。 さらに他の検査プローブの平面図である。 図15のプローブの側面図である。 図15のプローブの横断面図である。 さらに別の検査プローブの斜視図である。 図18のプローブの斜視図である。 図18のプローブの斜視図である。 図18のプローブの斜視図である。 図18のプローブの斜視図である。 さらに別のプローブの右側正面図である。 図23Aのプローブの底面図である。 図23Aのプローブの左側正面図である。 図23Aのプローブの正面図である。 図23Aのプローブの上面図である。 図23Aのプローブの部分正面図である。 図23Aのプローブの部分底面図である。 図23Aのプローブの部分右側正面図である。 さらに別の検査プローブの斜視図である。 図24のプローブの斜視図である。 図24のプローブの斜視図である。 さらに別の検査プローブの斜視図である。 図27のプローブの斜視図である。 図27のプローブの斜視図である。 図27のプローブの斜視図である。 図27のプローブの横断面概略図である。 図27のプローブの横断平面図である。 図31BのA−Aによって示される図27のプローブの部分の横断面概略図である。 図31BのB−Bによって示される図27のプローブの部分の横断面概略図である。 図31BのC−Cによって示される図27のプローブの部分の横断面概略図である。 図31BのD−Dによって示される図27のプローブの部分の横断面概略図である。 図31BのE−Eによって示される図27のプローブの部分の横断面概略図である。

Claims (25)

  1. 構造物を検査するための非破壊検査装置であって、
    検査中に前記構造物の第1の表面にわたって移動するために構成される第1のプローブであって、前記第1のプローブは、前記第1のプローブが前記構造物の前記第1の表面にわたって動くときに前記構造物を検査するための少なくとも1つの検査センサと、少なくとも1つの磁気結合デバイスとを備え、前記第1のプローブが、前記構造物の前記第1の表面から突出する前記構造物の横断面にまたがるようにさらに構成される、第1のプローブと、
    前記構造物の第2の表面にわたって移動するために構成され、前記第1のプローブに磁気的に結合される、第2のプローブであって、前記第2のプローブは、少なくとも1つの磁気結合デバイスを備え、前記プローブが、対応する磁気結合デバイス間の磁気吸引によって協動して、磁気的に結合されたプローブを前記構造物のそれぞれの表面にわたって対応して動かす、第2のプローブと、
    を備える、非破壊検査装置。
  2. 前記第1のプローブが、前記構造物の前記第1の表面から突出する前記構造物の横断面の3つの側面にまたがるようにさらに構成され、台形、箱形、三角形、部分的な楕円、部分的な円、部分的な長円形、および懸垂曲線の群から選択される形状を形成する、請求項1に記載の装置。
  3. 前記第1のプローブが、前記構造物の前記第1の表面から突出する前記構造物の横断面にまたがるようにさらに構成され、ハットストリンガを形成する、請求項1に記載の装置。
  4. 前記第2のプローブが、前記構造物の前記第1の表面から突出する前記構造物の横断面内に嵌合するようにさらに構成され、ハットストリンガを形成する、請求項1に記載の装置。
  5. 前記プローブのうちの1つが、前記構造物のそれぞれの表面にわたってプローブを動かし、それによって、前記磁気的に結合されたプローブを前記構造物の対向表面にわたって前記第1および第2のプローブ間の磁気結合の磁気吸引によって動かすためのモータをさらに備える、請求項1に記載の装置。
  6. 前記第1のプローブが、第1の側面および第2の側面に分離され、かつ前記第1のプローブの前記第1の側面および前記第1のプローブの前記第2の側面のそれぞれが、少なくとも1つの検査センサを備える、請求項1に記載の装置。
  7. 前記第1のプローブの前記第1の側面および前記第2の側面のそれぞれが、前記第2の側面および前記第1の側面それぞれの対応する磁気結合デバイスと磁気的に結合されるように配置され、それによって、前記第1および第2の側面を前記構造物の前記第1の表面に保持する、少なくとも1つの磁気結合デバイスを備える、請求項6に記載の装置。
  8. 前記第1のプローブおよび前記第2のプローブそれぞれが、前記第1のプローブがまたがる前記構造物の前記横断面の両側で前記第2のプローブの対応する磁気結合デバイスに磁気的に結合されるように配置される、少なくとも1つの磁気結合デバイスを備える、請求項6に記載の装置。
  9. 前記第1のプローブおよび前記第2のプローブのうちの少なくとも1つが、前記構造物の前記それぞれの表面を接触させるための、かつそれぞれのプローブが前記構造物の前記
    それぞれの表面にわたり平行移動するようにその上を動く少なくとも1つの接触部材を備え、前記接触部材が、車輪、ボールベアリング、流体ベアリング、スキッド、および踏み面から成る群から選択される、請求項1に記載の装置。
  10. 構造物を検査するためのプローブであって、
    検査中に前記構造物の前記第1の表面にわたって移動するように構成されるハウジングであって、前記ハウジングが、前記構造物の前記第1の表面から突出する前記構造物の横断面にまたがるようにさらに構成される、ハウジングと、
    前記プローブが前記構造物の前記第1の表面にわたって動くときに前記構造物を検査するために前記ハウジングによって支えられる、少なくとも1つの検査センサと、
    を備える、プローブ。
  11. 前記ハウジングが、前記構造物の前記第1の表面から突出する前記構造物の横断面の横断面の3つの側面にまたがるようにさらに構成され、台形を形成する、請求項10に記載のプローブ。
  12. 前記ハウジングが、前記構造物の前記第1の表面から突出する前記構造物の横断面にまたがるようにさらに構成され、ハットストリンガを形成する、請求項10に記載のプローブ。
  13. 前記プローブが、前記ハットストリンガの第1の端部を検査するために向けられる少なくとも1つの検査センサと、第1の角部に隣接した前記ハットストリンガの第2の端部を検査するために向けられる少なくとも1つの検査センサとを備える、請求項12に記載のプローブ。
  14. 前記プローブが、前記第2の端部に隣接した前記ハットストリンガの第3の端部を検査するために向けられる少なくとも1つの検査センサと、第3の角部に隣接した前記ハットストリンガの第4の端部を検査するために向けられる少なくとも1つの検査センサとを備える、請求項13に記載のプローブ。
  15. 前記プローブの前記少なくとも1つの検査センサが、検査センサのアレイを備える、請求項10に記載のプローブ。
  16. 前記プローブが、前記ハウジングに接続され、検査センサの前記アレイを支持して向けるための少なくとも1つの変換器ホルダをさら備える、請求項15に記載のプローブ。
  17. 前記プローブが、第1の側面および第2の側面に分離され、かつ前記プローブの前記第1の側面および前記プローブの前記第2の側面のそれぞれが、少なくとも1つの検査センサを備える、請求項10に記載のプローブ。
  18. 前記プローブの前記第1および第2の側面のそれぞれが、前記第2の側面および前記第1の側面それぞれの対応する磁気結合デバイスと磁気的に結合されるように配置され、それによって、前記第1および第2の側面を前記構造物の前記第1の表面に保持する、少なくとも1つの磁気結合デバイスを備える、請求項17に記載のプローブ。
  19. 前記プローブが、前記ハウジングに接続され、前記構造物の前記第1の表面にわたり前記プローブを動かすためのモータをさらに備える、請求項10に記載のプローブ。
  20. 前記プローブが、前記ハウジングによって支えられる少なくとも1つの磁気結合デバイスを備える、請求項10に記載のプローブ。
  21. 構造物を検査する方法であって
    第1のプローブを前記構造物の第1の表面上で、第2のプローブを前記構造物の対向する第2の表面上で支持することであって、前記第1のプローブが、前記構造物の前記第1の表面から突出する前記構造物の横断面にまたがるようにさらに構成され、ハットストリンガを形成する、支持することと、
    前記ハットストリンガにわたり前記第1のプローブを配置することと、
    前記第1および第2のプローブが前記構造物の前記第1の面および第2の面それぞれの方に引き付けられるように前記第1および第2のプローブ間に磁気吸引を確立することと、
    一方のプローブを前記構造物の一方の表面に沿って動かし、このことによって他方のプローブが前記構造物の対向表面に沿って移動するようになることと、
    前記プローブが前記構造物に沿って動くときに、前記構造物への検査信号を前記構造物に伝え検査信号を前記構造物から受信することと、
    を備える、方法。
  22. 前記第2のプローブが、前記構造物の突出する横断面内に嵌合するように構成されてハットストリンガを形成し、かつ、前記方法が、前記第2のプローブを前記ハットストリンガ内に配置するステップをさらに備える、請求項21に記載の方法。
  23. 前記第2のプローブが、前記ハットストリンガが前記構造物の外板に取付けられるときに前記ハットストリンガ内に嵌合するように構成される、請求項22に記載の方法。
  24. 前記第1および第2のプローブの少なくとも1つのうちの1つ以上の検査センサまたは磁気結合デバイスを前記ハットストリンガの前記それぞれの表面に対して向きかえるステップをさらに備える、請求項21に記載の方法。
  25. 前記ハットストリンガをまたぐために前記第1のプローブを第1および第2の側面に分離するステップであって、前記ハットストリンガの幅が前記第1のプローブの構成よりも大きい、分離するステップと、
    前記第1および第2のプローブが互いの方に引き付けられるように前記第1および第2のプローブ間に磁気吸引を確立し、それによって、前記構造物の前記第1の表面上の前記第1のプローブの支持を維持するステップと、
    をさらに備える、請求項21に記載の方法。
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