JP2008516213A - 非理想的チャープ形状の決定による電気光学的距離測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
fs = 10 MHz サンプリング周波数
T = 1 ms チャープ持続時間
m = 9980 サンプリング点の数
f0= 600 MHz 中心周波数
B = 100 MHz チャープ帯域幅
d0= 0 信号オフセット
BS ユーザ・インターフェイス
DE 検出器
DE1 第1の検出器
DE2 第2の検出器
DSP デジタル信号処理装置
EO 受信光学システム
MI ミキサー
MI1 第1のミキサー
MI2 第2のミキサー
MS 混合信号
NL 非線形性
SD ビームスプリッタ
SG 信号発生器
SO 送信光学システム
ST 制御部
TF 低域フィルタ
TL ドライバとレーザ
UE 重畳
ZA カウンタ
90° 90度位相シフト器
Claims (16)
- 調査される少なくとも一つの目標物に、周波数変調された光学電磁放射、すなわち、位相周波数φ(t)を有するf(t)=dΦ(t)/dtにより記述される放射に重畳された周波数としてのチャープを送信すること、
上記目標物により散乱された放射を受信すること、
受信した上記放射を少なくとも一つの受信信号に、ホモダインあるいはヘテロダイン・ミキシングで、変換すること、
上記受信信号から上記少なくとも一つの目標物への少なくとも一つの距離を決定すること、のステップを有し、そして
上記位相周波数φ(t)が、パラメータcjによりモデル化され、該パラメータのいくつかは上記受信した信号から決定されることを特徴とする電気光学距離測定方法。 - 上記パラメータのいくつかは、位相の値の決定なしに、上記受信信号から直接決定されることを特徴とする請求項1記載の距離測定方法。
- 上記パラメータcjの基数が、有限であることを特徴とする請求項1あるいは2記載の距離測定方法。
- 上記パラメータcjが、それぞれの測定において、更なるシステムパラメータおよび/あるいは少なくとも一つの距離と同等な伝達時間tkと共に決定されることを特徴とする請求項1、2あるいは3記載の距離測定方法。
- 既知の時間間隔、たとえば測定間隔の間に、上記伝達信号内での総位相変化φtot=φ(tb)-φ(ta)が、ゼロを通る上記伝達信号の通過を計数することにより、測定されることを特徴とする請求項1から4のいずれか記載の距離測定方法。
- 一般あるいは線形二次条件の選択的な使用による最小二乗法により、更なるシステムパラメータと求められた上記走行時間tkと共に、上記パラメータcjが、最尤法をもって決定されることを特徴とする請求項4、6、あるいは7記載の距離測定方法。
- 解決されるべき最適化問題が上記パラメータc1,..,cmに関し非線形であるように、上記位相関数φ(t)=φ(t;c1,..,cm)が、非線形パラメータc1,..,cmでモデル化されていることを特徴とする請求項1から5のいずれか記載の距離測定方法。
- 線形性から上記チャープが小さな偏差の場合、上記伝達時間tkとのための近似初期値が周波数分析により計算され、上記パラメータの近似値で、ホモダインに対しfk(t)=2e(t0-tk)、ヘテロダインに対しfk(t)=d+2e(t-tk)-f0が計算され、ここにe(t)はエコー信号を示し、dは信号オフセットを示すことを特徴とする請求項1から9のいずれか記載の距離測定方法。
- 請求項1から10のいずれか記載の方法を実施するための、コンピュータで実行されるプログラムであり、機械的に読み出し可能な媒体に保存された、あるいは電磁波により記録されたプログラムコードを有することを特徴とするコンピュータ・プログラム製造物。
- 調査される目標物への光学的放射の生成および放出のための変調可能光学放射源(TL)と、
位相周波数φ(t)を有するf(t)=dΦ(t)/dtにより記述される放射に重畳された周波数としてのチャープである、上記放射源(TL)の変調のための信号発生器(SG)と、
後方散乱放射を受信し、信号に変換する検出器(DE、DE1、DE2)と、
上記信号を処理するための、特にデジタル信号処理装置(DSP)である信号処理装置と、
ホモダインあるいはヘテロダイン・ミキシング工程を実行するミキサー(MI、MI1、MI2)と、を少なくとも備え、そして
上記信号発生器(SG)と上記検出器(DE、DE1、DE2)と上記信号処理装置が、上記位相関数をモデル化するための上記パラメータのいくつかが受信された放射において測定から決定されるように、配置され、設計されていることを特徴とする請求項1から10のいずれか記載の距離測定方法を実行するための電気光学距離測定装置。 - 上記信号発生器(SG)と上記検出器(DE、DE1、DE2)と上記信号処理装置が、上記パラメータcjが、それぞれの測定において、更なるシステムパラメータおよび/あるいは少なくとも一つの距離と同等な伝達時間tkと共に決定されるように、配置され、設計されていることを特徴とする請求項12記載の距離測定装置。
- 上記送信信号の全位相(TP)を決定する装置、例えばカウンタ(ZA)を備えることを特徴とする請求項12あるいは13記載の距離測定装置。
- 下流の回路の低域通過フィルタ(TF)のような混合された項を生成するため、ミキシング信号を有する上記後方散乱放射の光学的あるいは電気的重畳(UE)と、二次の非線形性のような非線形性(NL)の工程を備えることを特徴とする請求項12、13、あるいは14記載の距離測定装置。
- 線形の周波数輪郭からの上記チャープの偏差がリアルタイムで補正されるように、信号発生器(SG)を駆動する制御部(ST)を備えることを特徴とする請求項12から15のいずれか記載の距離測定装置。
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