JP2008542535A - スパッタ用マグネトロン - Google Patents
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Abstract
本発明は、平板状ターゲット(20)と平板状磁石システム(1)とを有するマグネトロンに関する。平板状磁石システムは、端部が拡大された棒状の第1の磁極(26)と枠状の第2の磁極(2)とを有し、ターゲットが定置された場合は、可動磁石システムの各点が円軌道上を移動する。磁石システムが定置された場合は、ターゲットの各点が同様の円軌道上を移動する。磁石システムとターゲットは互いに相対運動をする間、平行な面上にある。この場合、円軌道の直径(D)は、スパッタリングプロセスで第1の磁極と第2の磁極との間に形成されるプラズマチューブの2本の平行な腕の平均間隔に相当する。プラズマチューブの曲線領域で極線が円弧又は円形面を形成するように、磁石が同領域に配置されていることにより、ターゲット内に孔の生じることが回避される。
Description
本発明は請求項1の前文に記載したスパッタ用マグネトロンに関する。
基板に単数の薄い材料膜又は複数の薄い材料膜を成膜することは、数多くの技術分野で重要な役割を担っている。
例えば、CDディスクに保護膜を施したり、時計ケースにセラミック膜を施したりすることができる。ガラスに、特定の波長のみを透過又は反射させる膜を成膜することも、重要な意味を持つようになった。薄膜を施したいわゆる建築ガラスを用いて、建物に大面積のガラスファサードが設けられる。また、成膜はプラスチックフォイルやプラスチック瓶を気密にする目的に用いることもできる。
上記の材料を成膜する方法として、スパッタ法もしくはスパッタリング法が非常に頻繁に用いられる。スパッタ法では真空チャンバー内でプラズマを発生させる。ここでプラズマとは、比較的高密度の正と負の荷電体、中性粒子及び光子の混合物を意味する。プラズマの正イオンは負の電位によって陰極に吸引され、陰極にはいわゆるターゲットが設けられている。プラズマの正イオンがターゲットに衝突すると、ターゲットから小さい粒子が叩き出され、これらの粒子がターゲットと反対側に位置する基板上に再び堆積する。この粒子の叩き出しを「スパッタ」と呼び、反応性スパッタと非反応性スパッタとに区別される。非反応性スパッタでは作用ガスとして働く希ガスを用い、その正のガスイオンがターゲットから粒子を叩き出す。反応性スパッタではさらに酸素などの反応性ガスを加えて作用し、これらのガスが基板上に堆積する前にターゲットの粒子と化合する。
スパッタプロセスに必要とされるイオンは、例えばグロー放電において気体原子と電子の衝突によって発生し、電界を用いて陰極を形成するターゲットに打ち込まれる。
このような電離を引き起こすのは何よりも自由電子である。自由電子は磁石を用いてターゲットの手前で濃縮され、それによって電離を強化できる。陰極と磁石を組み合わせたものをマグネトロンと呼ぶ。
マグネトロンには、磁界が一様ではないためにターゲット材料が不均一に侵食されるという問題がある。例えば磁界の極線近傍ではターゲット材料の侵食は起こらない。極線とは、磁界線がスパッタ側のターゲット表面を垂直に貫通する領域をいう。ターゲット材料が不均一に侵食される結果、基板も不均一にしか成膜されない。
それ故、不均一な侵食という欠点を取り除く努力がなされている。
それ故、不均一な侵食という欠点を取り除く努力がなされている。
磁石システムをターゲット材料と平行に動かすようにしたマグネトロンが公知である(EP1 120 811 A2)。磁石システムとは、ターゲット表面に対して相対的かつ平行に軌道上を移動する複数の磁石をいう。この磁石システムにより磁界はより均一になり、ターゲット材料の均一な侵食が保証される。
管状ターゲットを使用しても、高いターゲット利用率を達成することができる。このターゲットにおいては磁石システムがターゲットと相対的に移動するか、又は磁石システムが定置されて、管状ターゲットが磁石システムの周りを移動する(DE 41 17 367 C2)。
最後に、複数の磁石が閉じたループの形をした磁界を限定して、ターゲット上にプラズマチューブを発生させる平板型マグネトロンも公知である(EO 0 918 351 A1)。この場合は、磁石とターゲット表面との間で循環運動を行わせる装置が設けられている。この運動の一つは円運動である。
本発明の課題は、スパッタプロセスにおいて平板状の矩形ターゲットの利用率を改善することである。
上記の課題は特許請求の範囲1に記載した特徴によって解決される。
本発明は、平板状ターゲットと平板状磁石システムとを有するマグネトロンに関する。平板状磁石システムは、端部が拡大された棒状の第1の磁極と枠状の第2の磁極とを有しており、磁極とターゲットとの間の相対運動は、ターゲットが定置された場合は可動な磁石システムの各点が円軌道上を移動するようになっている。磁石システムが定置された場合は、ターゲットの各点が同様の円軌道上を移動する。磁石システムとターゲットは互いに相対運動をする間、平行な平面上にある。この場合、円軌道の直径は、スパッタリングプロセスで第1の磁極と第2の磁極との間に形成されるプラズマチューブの2本の平行な腕の平均間隔に相当する。プラズマチューブの曲線領域で極線が円弧又は円形面を形成するように、同領域に磁石を配置することにより、ターゲット内に孔の生じることが回避される。
本発明の効果は、特に静止運転において磁界線がターゲットを直角に貫通する箇所でもターゲットがスパッタされる点である。特に矩形ターゲットの短辺側で侵食率が高くなることが回避される。
図1に示されているのは、平板状ターゲットのスパッタリングに使用する磁石構成1である。このような磁石構成は、例えば、US5 382 344の図10に記載されている。
磁石構成1は第1の磁極、例えばN極2と、第2の磁極、例えばS極3からなる。N極2は、棒状のS極3を包囲する矩形枠の形状をしている。
N極2は2本の長辺4、5と2本の短辺6、7からなる。S極3も同様に2本の長辺8、9と2本の短辺10、11を有しているが、短辺10、11はN極2の短辺6、7よりも著しく短い。
N極2とS極3の間には、N極2とS極3の間の隙間をほぼ完全に占めるプラズマチューブ12が見られる。このプラズマチューブ12は磁石構成1の磁界と、図1に示されていない陰極に印加された電圧との組合せによって形成される。この陰極は磁石構成1と接続している。N極2とS極3はヨークを介して互いに結合されている。
やはり図1に示されていないターゲットは、少なくとも磁石構成1と等しい大きさで、磁石構成1に対して平行に配置されている。これにより、磁石構成1とターゲットは平行な平面上に位置している。
プラズマチューブ12は4つの領域に区分できる。2つの領域13、14はN極2の長辺4、5と平行に延びており、他の2つの領域15、16はS極3の端部を半楕円形にとりまいている。
Dはプラズマチューブ12の平行な領域13、14それぞれの中心線の間隔を表す。
この磁石構成1をマグネトロンに挿入すると、静止運転では概ねプラズマチューブ12と直接向き合うターゲットの部分がスパッタされる。それ以外の領域はほぼ侵食されない。
図2は、本発明による磁石構成1のターゲット20に対する配置を示している。このターゲット20は矩形であり、寸法は磁石構成1よりやや大きい。N極2とS極3は図示されていないヨーク板を介して互いに結合されているので、N極2に対するS極3の相対的な位置は常に一定である。
ターゲット20のスパッタリングを一様にするために、仮想軸21を中心にS極・N極構成を直径Dの円22上で回転させる。
これにより磁石システム1は、その各点が等しく直径Dの円を描くように動かされる。その際、磁石システム1とターゲット20は、互いに平行に置かれた平面内にある。
図示されていない陰極に電圧を印加すると、プラズマが点火する。そうすることによって図1に示されている閉じたプラズマチューブ12が形成され、その形状は磁石構成1の磁界によって規定される。
磁石構成1をターゲット20に相対的に動かすと、プラズマチューブ12も一緒に動き、ここでは定置されているターゲット表面の大部分の上を通る。それによりプラズマチューブ12は、静止運転ではスパッタされないであろうターゲット20の領域上も通過する。
侵食されたターゲット材料がターゲット表面に再堆積するのを回避するために、ターゲット20の各箇所は一定の時間、プラズマチューブ12により蔽われるべきである。
図1と図2に示された磁石構成1にはまだ、磁石システム1の曲線領域23、24で材料が強く侵食されるという欠点がある。そのためこの曲線領域23、24でターゲット20内に孔が生じる。
この孔を防ぐために、内側の磁極を図3に示すように変化させる。
図3に示す磁石構成25では、外側の磁石2は図1に示す外側の磁石と同じ構成である。
しかし、内側の磁石26は別の形状を有している。これも2本の長辺27、28と2本の短辺24、30を有する棒状をなしているが、長辺27、28は図1に示す内側の磁石3のものより短い。
短辺24、30にそれぞれ5個の小さい棒磁石31〜35もしくは36〜40が接続しており、これらが共に概ね円形体を形成しているため、内側の磁極は骨のような形状をしている。ここでは小さい棒磁石33及び38は外側の磁極の短辺7、6と平行に延びており、小さい棒磁石32、34もしくは37、39は外側の磁極の長辺4、5と平行に延びている。小さい棒磁石31、35と36、40は、それぞれ棒磁石32、34もしくは37、39と、内側の磁極26の短辺24、30とを結び付けている。これらは内側の磁石26の長辺に対して約45度の角度で配置されている。
この磁石構成25に基づいて生じるプラズマチューブ45が図4に、磁石構成25を省いて再現されている。
図4の表現は、磁石構成25がターゲット20上を円運動する際に、ターゲットの特定の箇所42、43、44においてターゲット20から侵食される材料の量を、どのようにして求めるかを説明するためのものである。
このために直径Dの円軌道46に沿って、プラズマ密度が数学的に積分される(Shunji Ido、 Koji Nakamura: Computational studies on the Shape and Control of Plasmas in Magnetron Sputtering Systems、 Jpn. J.Appl. Phys、 32;
5698-5702、1993参照)。この場合は閉じた積分となる。円軌道46の内部にプラズマは存在しないので、円軌道46についての積分値はゼロとなる。
5698-5702、1993参照)。この場合は閉じた積分となる。円軌道46の内部にプラズマは存在しないので、円軌道46についての積分値はゼロとなる。
円軌道47においてはプラズマチューブ45が円軌道47内に入り込んでいるため、プラズマ密度は特定の正の値を取る。円軌道48についても、円軌道46におけると同様に値はゼロである。
プラズマが曲線領域49、50で狭くなっていることによって、図1に示す磁石構成1を使用する際にターゲット20内に孔の生じることが回避される。
この狭い部分の大きさは、プラズマチューブ45が円軌道46上で曲線状に案内される程度のものとする。この場合、プラズマチューブ45の内側は、図1に示した間隔Dと等しい直径Dの円軌道を描く。
この狭い部分の大きさは、プラズマチューブ45が円軌道46上で曲線状に案内される程度のものとする。この場合、プラズマチューブ45の内側は、図1に示した間隔Dと等しい直径Dの円軌道を描く。
このような狭い部分は非常に幅の広い磁石によって、又は幅の狭い磁石を複数個、並べて配置することによって達成できる。
図5にそのような磁石構成52を示す。図3に示す準円形に配置された棒磁石31〜35もしくは36〜40の代わりに、図5に示す磁石構成52では磁極26の短辺29、30に、それぞれ5個の棒磁石53〜57もしくは58〜62が、N極2の長辺4、5に対して平行に配置されている。
図5にそのような磁石構成52を示す。図3に示す準円形に配置された棒磁石31〜35もしくは36〜40の代わりに、図5に示す磁石構成52では磁極26の短辺29、30に、それぞれ5個の棒磁石53〜57もしくは58〜62が、N極2の長辺4、5に対して平行に配置されている。
この場合、それぞれ中央の磁石55及び60が最大で、その両側に続く磁石54、53;56、57もしくは58、59;61、62は外側に向かって次第に短くなっている。
図6は、磁石構成41における内側の磁極26の別の態様を示している。ここでは棒26の各端部29、30に、それぞれ1個の磁石リング70、71が接続している。
図7に示す態様では、リングの代わりに円板72、73が設けられている。
図8に、図6に示す磁石構成を、ターゲット20及び概略的な駆動体と共に再度示している。ここでは2個の磁石26、2の上にヨーク板75が見られる。76で示された駆動板の外周にピン77が下方に向けて配置され、ヨーク板75と結合されている。駆動板76は上方に向けられたシャフト78と結合されており、シャフト78はモーター79によって駆動される。
ピボット77が駆動板76の中心からD/2の距離に配置されていて、モーター79が運転されると、ヨーク板75は磁石システムと共に上述のように、すなわちヨークと磁石システムの各点が円軌道上を移動するように動く。この場合、ピン77はヨーク板75と剛性結合しておらず、ヨーク板75の孔内に導入されて回転できるようになっているので、ヨーク板75が全体としてシャフト78の周りを回転することを妨げる。回転運動中に、ヨーク板75の短辺と長辺との幾何的位置関係(x軸、y軸)は変化しない。
ピン77はヨーク板75自体の開口部内に突入する必要はない。この目的のためにヨーク板75と結合した追加の板を設けてもよい。またそれぞれ別の駆動体を使用して、磁石構成にターゲットに対して所望の動きをさせることも可能である(EP0 918 351A1、図6参照)。重要なのは、磁石構成上の各点が必ず直径Dの円周上を動くようにすることである。
内側の棒状の磁極26を構成する磁石は、磁界線がターゲット20の表面に対して20度より大きい角度をなすことが望ましい。
本発明の実施例を図面に示し、以下に詳細に説明する。
Claims (9)
- 平板状ターゲットと平板状磁石構成とを有するスパッタ用マグネトロンであって、当該スパッタ用マグネトロンが棒状の第1の磁極と枠状の第2の磁極とを有しており、前記ターゲットと前記磁石構成とが互いに相対的に移動可能であり、しかも前記ターゲットの各点が磁石構成に対して相対的に円上を移動するようにしたものにおいて、棒状の第1の磁極(3、26)の端部が円形に拡張されていることを特徴とするスパッタ用マグネトロン。
- 拡張された端部の直径Dが、スパッタリングプロセスで第1の磁極(3)と第2の磁極(2)との間に形成されるプラズマチューブの2本の平行な腕(12、13)の平均間隔に少なくとも等しいことを特徴とする請求項1記載のスパッタ用マグネトロン。
- 棒状の第1の磁極(3、26)の端部が、それぞれ複数の小さい棒磁石から形成されていることを特徴とする請求項1記載のスパッタ用マグネトロン。
- 各端部が、枠状磁極(2)の短辺(6、7)に対して平行に延びる1個の棒磁石(33、38)と、長辺(4、5)に対して平行に延びる2個の棒磁石(32、34、37、39)と、棒状の第1の磁極(26)の長辺に対して約45度の角度で延びる2個の棒磁石(31、35)とからなることを特徴とする請求項3記載のスパッタ用マグネトロン。
- 小さい棒磁石(33、38、32、34、37、39、31、35)が空間的に連続して配置されていることを特徴とする請求項4記載のスパッタ用マグネトロン。
- 各端部が、枠状磁極(2)の長辺(4、5)に対して平行に延び、かつ長さが長辺(4、5)に向かってしだいに減少する複数の棒磁石(53〜57)からなることを特徴とする請求項3記載のスパッタ用マグネトロン。
- 棒状の第1の磁極(3、26)の各端部が環状磁石(70、71)からなることを特徴とする請求項1記載のスパッタ用マグネトロン。
- 棒状の第1の磁極(3、26)の各端部が円形板(72、73)からなることを特徴とする請求項1記載のスパッタ用マグネトロン。
- 第1の磁極(3、26)の円形に拡張された端部の磁界線が、ターゲット(20)の表面に対して20度より大きい角度を有していることを特徴とする請求項1記載のスパッタ用マグネトロン。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/EP2005/006032 WO2006131128A1 (de) | 2005-06-04 | 2005-06-04 | Sputter-magnetron |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008542535A true JP2008542535A (ja) | 2008-11-27 |
Family
ID=35517984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008513937A Pending JP2008542535A (ja) | 2005-06-04 | 2005-06-04 | スパッタ用マグネトロン |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080190765A1 (ja) |
EP (1) | EP1889280A1 (ja) |
JP (1) | JP2008542535A (ja) |
CN (1) | CN101203935A (ja) |
TW (1) | TWI315749B (ja) |
WO (1) | WO2006131128A1 (ja) |
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---|---|---|---|---|
US11646140B2 (en) | 2020-11-12 | 2023-05-09 | Samsung Display Co., Ltd. | Magnet module and sputtering apparatus including the same |
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- 2005-06-04 US US11/914,935 patent/US20080190765A1/en not_active Abandoned
- 2005-06-04 WO PCT/EP2005/006032 patent/WO2006131128A1/de active Application Filing
- 2005-06-04 EP EP05747554A patent/EP1889280A1/de not_active Withdrawn
- 2005-06-04 CN CNA2005800498463A patent/CN101203935A/zh active Pending
- 2005-06-04 JP JP2008513937A patent/JP2008542535A/ja active Pending
- 2005-06-30 TW TW094122126A patent/TWI315749B/zh not_active IP Right Cessation
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---|---|
CN101203935A (zh) | 2008-06-18 |
EP1889280A1 (de) | 2008-02-20 |
WO2006131128A1 (de) | 2006-12-14 |
US20080190765A1 (en) | 2008-08-14 |
TWI315749B (en) | 2009-10-11 |
TW200643203A (en) | 2006-12-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110222 |
|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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