JP2008298468A - 基板検査装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 44
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 59
- 238000013508 migration Methods 0.000 abstract description 44
- 230000005012 migration Effects 0.000 abstract description 44
- 241001125929 Trisopterus luscus Species 0.000 description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
【解決手段】ハイサイド型マイグレーションテスター1では、リード線L1及びリード線L2が接続されている場合、オペアンプA5の出力電圧は、電流端子Tc1の電圧と等しい。一方、リード線L1及びリード線L2が接続されていない場合、オペアンプA5の出力電圧は、電流端子Tc1の電圧に警告用電源Ed1の電圧を加えた電圧となる。このように、リード線L1及びリード線L2が接続されている場合とリード線L1若しくはリード線L2、又は両方が接続されていない場合とでは、オペアンプA5から出力される電圧が異なるので、この電圧に基づき、使用者に対して、リード線L1、リード線L2の接続状態に対する警告を発することができる。
【選択図】 図1
Description
本発明に係る基板検査装置の一例であるハイサイド型マイグレーションテスター1を説明する。ハイサイド型マイグレーションテスターとは、プリント基板の配線間抵抗を検査するものであり、測定対象とする抵抗(被測定抵抗)と電源部との間で、被測定抵抗の抵抗値を測定する抵抗測定装置をいう。
図1に示すハイサイド型マイグレーションテスター1の動作を以下において説明する。ハイサイド型マイグレーションテスター1では、リード線L1、リード線L2を入力端パッドPinに、リード線L3、リード線L4を出力端パッドPoutに、それぞれ接続し、被測定抵抗Rxに対する4端子のケルビン接続を形成している。ここで、電流端子Tc1はケルビン接続のハイ・フォース(High Force)端子に、電圧端子Tp1はケルビン接続のハイ・センス(High Sense)端子に、電流端子Tc2はケルビン接続のロー・フォース(Low Force)端子に、電圧端子Tp2はケルビン接続のロー・センス(Low Sense)端子に、それぞれ対応する。
ハイサイド型マイグレーションテスタ1では、リード線L1及びリード線L2が接続されている場合、入力端パッドPinが導電体であることから、電流端子Tc1、入力端パッドPin、電圧端子Tp1の電圧が等しくなり、この電圧がオペアンプA3の入力電圧となる。つまり、警告用電源Ed1の両端の点P1、点P2は同電位となるため、警告用電源Ed1が供給する電圧は、オペアンプA3の入力電圧には影響しない。オペアンプA3の利得は「1」であるので、オペアンプA3の入力電圧は、出力電圧となる。
出力端パッドPout側の動作も、入力端パッドPin側の動作と同様である。ハイサイド型マイグレーションテスタ1では、リード線L3及びリード線L4が接続されている場合、出力端パッドPoutが導電体であることから、電流端子Tc2、入力端パッドPout、電圧端子Tp2の電圧が等しくなる。電流端子Tc2、電圧端子Tp2は接地されていることから、警告用電源Ed2の両端の点P3、点P4は同電位となるため、警告用電源Ed2と直列に配置されたフォト・カプラーPCには電流は流れない。
(1)被測定抵抗
前述の実施例1においては、基板検査装置の一例としてプリント基板の配線間の抵抗を測定するマイグレーションテスターを示したが、ケルビン接続を用いるものであれば、例示のものに限定されない。
前述の実施例1においては、一つの被測定抵抗Rxに対して電流値の測定を行うハイサイド型マイグレーションテスタ1について、入力端パッドPin側、及び、出力端パッドPout側に、それぞれ一つのリード線接続状態警告回路を設けた。しかし、いずれか一方にだけ、リード線接続状態警告回路を設けるようにしてもよい。
前述の実施例1においては、警告用電源Ed1として、光電池を用いることとしたが、リード線の接続状態を知らせることができる電圧を提供できるものであれば例示のものに限定されない。例えば、ボタン電池等、一般的な電源であってもよい。さらに、警告用電源Ed2に対して、光電池を用いるようにしてもよい。
前述の実施例1においては、警告用電源Ed1については、当該警告用電源Ed1の電圧を検知するオペアンプA4、オペアンプA5を用い、警告用電源Ed2については、警告用電源Ed2に基づく電流を検知するフォト・カプラーPCを用いることとしたが、例示のものに限定されない。例えば、警告用電源Ed1、警告用電源Ed2の両方に対して、電圧を検知するオペアンプを設けるようにしてもよい。また、警告用電源Ed1、警告用電源Ed2の両方に対して、電流を検知するフォト・カプラーPCを設けるようにしてもよい。
A1・・・オペアンプ
A3・・・オペアンプ
A4・・・オペアンプ
A5・・・オペアンプ
L1・・・リード線
L2・・・リード線
L3・・・リード線
L4・・・リード線
Pin・・・入力端パッド
Pout・・・出力端パッド
Tc1・・・電流端子
Tc2・・・電流端子
Tp1・・・電圧端子
Tp2・・・電圧端子
Ed1・・・警告用電源
Ed2・・・警告用電源
PC・・・フォト・カプラー
Claims (8)
- 基板上の被測定部に流れる電流値を測定する基板検査装置において、
前記基板検査装置は、
前記被測定部と電圧の入力側で接続される第1の接続端子及び第2の接続端子、また、前記被測定部の電圧の出力側で接続される第3の接続端子及び第4の接続端子であって、前記被測定部とのケルビン接続を構成するもの、
前記第1の接続端子と前記第2の接続端子との間、若しくは前記第3の接続端子と前記第4の接続端子との間の少なくともいずれかに一方に配置される警告用電源、
を有する基板検査装置。 - 請求項1に係る基板検査装置において、
前記被測定部が複数存在する場合に、前記被測定部のそれぞれに対応する警告用電源を有すること、
を特徴とする基板検査装置。 - 請求項2に係る基板検査装置において、
複数の前記被測定部の出力が共通化されてる場合には、当該共通化された出力に対して、前記第3の接続端子及び前記第4の接続端子との接続が行われ、
前記警告用電源は、
前記第3の接続端子と前記第4の接続端子との間のに配置されること、
を特徴とする基板検査装置。 - 請求項1〜請求項3に係る基板検査装置のいずれかにおいて、
前記警告用電源は、
光電池を含むこと、
を特徴とする基板検査装置。 - 請求項1〜請求項4にかかる基板検査装置のいずれかにおいて、さらに、
前記警告用電源の電圧差を検知して警告を発する警告回路、
を有する基板検査装置。 - 請求項1〜請求項4に係る基板検査装置のいずれかにおいて、さらに、
前記警告用電源に基づく電流検知して警告を発する警告回路、
を有する基板検査装置。 - 基板上の被測定部に流れる電流値を測定する基板検査方法において、
前記被測定部の電圧の入力側で、当該被測定部と基板検査装置の第1の接続端子及び第2の接続端子とを接続し、また、前記被測定部の電圧の出力側で、当該被測定部と前記基板検査装置の第3の接続端子及び第4の接続端子とを接続し、前記被測定部とのケルビン接続を構成し、
前記第1の接続端子と前記第2の接続端子との間、若しくは前記第3の接続端子と前記第4の接続端子との間の少なくともいずれかに一方に配置される警告用電源の電圧差を検知して警告を発すること、
を特徴とする基板検査方法。 - 基板上の被測定部に流れる電流値を測定する基板検査方法において、
前記被測定部の電圧の入力側で、当該被測定部と基板検査装置の第1の接続端子及び第2の接続端子とを接続し、また、前記被測定部の電圧の出力側で、当該被測定部と前記基板検査装置の第3の接続端子及び第4の接続端子とを接続し、前記被測定部とのケルビン接続を構成し、
前記第1の接続端子と前記第2の接続端子との間、若しくは前記第3の接続端子と前記第4の接続端子との間の少なくともいずれかに一方に配置される警告用電源に基づく電流を検知して警告を発すること、
を特徴とする基板検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007142208A JP4876026B2 (ja) | 2007-05-29 | 2007-05-29 | 基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007142208A JP4876026B2 (ja) | 2007-05-29 | 2007-05-29 | 基板検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008298468A true JP2008298468A (ja) | 2008-12-11 |
JP4876026B2 JP4876026B2 (ja) | 2012-02-15 |
Family
ID=40172134
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007142208A Active JP4876026B2 (ja) | 2007-05-29 | 2007-05-29 | 基板検査装置 |
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JP2009274998A (ja) * | 2008-05-15 | 2009-11-26 | National Cardiovascular Center | 遺伝子導入剤及びその製造方法並びに核酸複合体 |
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