JP2008241475A - Measuring instrument - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、測定装置に係り、特に、測定対象とする検体物質に様々な溶液を各々個別に供給して検体物質の屈折率の変化を測定する測定装置に関する。 The present invention relates to a measuring apparatus, and more particularly, to a measuring apparatus that measures changes in the refractive index of an analyte substance by individually supplying various solutions to the analyte substance to be measured.
従来より、液体が流通可能に液体流路が形成されると共に、液体流路内の壁面に測定対象とする検体物質が付着された測定チップの前記液体流路に対して、様々な溶液を各々個別に供給して検体物質の屈折率の変化を測定することにより、当該検体物質の特性を測定する測定装置が知られている。 Conventionally, a liquid flow path is formed so that liquid can flow, and various solutions are respectively applied to the liquid flow path of the measurement chip in which the analyte substance to be measured is attached to the wall surface in the liquid flow path. There is known a measuring apparatus that measures the characteristics of a specimen material by separately supplying and measuring the change in the refractive index of the specimen material.
例えば、特許文献1には、流路に様々な溶液を各々個別に供給し、検体物質が付着した付着部分の界面に対して光ビームを種々の角度で入射させて界面で全反射した光ビームの反射角度毎の光強度分布を検出し、検出した光強度分布から表面プラズモン共鳴現象(Surface Plasmon Resonance:SPR)による全反射減衰の発生によって暗線が発生した反射角度を検出することにより検体物質の屈折率の変化を測定して、検体物質の特性を測定する測定装置が開示されている。 For example, in Patent Document 1, various solutions are individually supplied to a flow path, and a light beam is incident at various angles on an interface of an attachment portion to which an analyte is attached, and is totally reflected at the interface. By detecting the light intensity distribution at each reflection angle, and detecting the reflection angle at which the dark line is generated by the occurrence of total reflection attenuation due to the surface plasmon resonance phenomenon (SPR) from the detected light intensity distribution. A measuring apparatus for measuring a change in refractive index to measure a characteristic of an analyte is disclosed.
ところで、この種の測定装置では、液体流路に対して溶液を流したこと等によって検体物質の付着状態が変化し、検体物質の膜厚が経時的に減少して検体物質の屈折率が経時的に変化するドリフトと呼ばれる現象が発生する場合がある。 By the way, in this type of measuring apparatus, the attachment state of the specimen material changes due to the solution flowing through the liquid flow path, etc., the thickness of the specimen substance decreases with time, and the refractive index of the specimen substance changes with time. There is a case where a phenomenon called drift that changes with time is generated.
例えば、測定装置が、液体流路に対して、測定の基準となる基準溶液と様々な種類の溶液を交互に個別に供給して、基準溶液と当該基準溶液後に溶液を供給した際の暗線が発生した反射角度の角度差を求めることにより検体物質の屈折率の変化を測定して、検体物質の特性を測定するものとした場合、図23に示すように、検体物質の屈折率が経時的に変化することにより、基準溶液と各溶液を供給した際に検出される反射角度が経時的に減少するドリフト現象が発生して、反射角度の角度差より測定される検体物質の屈折率の変化の測定結果が、図24に示すように、推定される測定結果よりもマイナス側へシフトしてしまう。なお、図23の縦軸は基準溶液と当該基準溶液後に溶液を各々個別に供給した際の暗線が発生した反射角度(1RU=1/10000゜)を示しており、横軸は時間を示している。 For example, a dark line is generated when a measurement device supplies a reference solution serving as a measurement reference and various types of solutions alternately and individually to a liquid flow path, and supplies the solution after the reference solution. When the change in the refractive index of the specimen substance is measured by determining the difference in the generated reflection angles and the characteristics of the specimen substance are measured, as shown in FIG. 23, the refractive index of the specimen substance changes with time. As a result, a drift phenomenon occurs in which the reflection angle detected when the reference solution and each solution are supplied decreases with time, and the change in the refractive index of the sample substance measured from the angle difference between the reflection angles occurs. As shown in FIG. 24, the measurement result is shifted to the minus side from the estimated measurement result. Note that the vertical axis in FIG. 23 indicates the reflection angle (1RU = 1/10000 °) where the dark line is generated when the reference solution and the solution are individually supplied after the reference solution, and the horizontal axis indicates time. Yes.
このドリフトを補正する技術として、特許文献1には、溶液を供給した後の検体物質の屈折率が一定値を示すと推定される基準期間において、時間に対する屈折率の変化率を算出し、溶液を供給した瞬間を基準として、測定期間中の全ての期間にわたって算出された変化率で屈折率が変化する成分をドリフト成分として、このドリフト成分を除去するように測定結果を補正する技術が開示されている。
そこで、特許文献1の技術を適用して、例えば、図25に示すように、各基準溶液を供給した際の各反射角度に基づいて屈折率が経時的な変化を示す変化情報(図25では近似直線)を導出し、導出した変化情報に基づいて基準溶液及び各溶液を供給した際の反射角度を補正するものとした場合、ドリフト現象による屈折率の変化を補正できるため、図26に示されるよに、反射角度の角度差の測定精度が向上する。 Therefore, by applying the technique of Patent Document 1, for example, as shown in FIG. 25, change information indicating a change in refractive index with time based on each reflection angle when each reference solution is supplied (in FIG. 25, change information). FIG. 26 shows that the refractive index change due to the drift phenomenon can be corrected when the reflection angle when the reference solution and each solution are supplied is corrected based on the derived change information. As a result, the measurement accuracy of the angle difference of the reflection angle is improved.
しかしながら、液体流路に溶液を供給した際に溶液と検体物質とが反応した場合に検体物質の折率が変化し、次に基準溶液を供給した際の測定結果に検体物質が溶液と反応したことによる屈折率の変化の影響が残ってしまい、導出される変化情報に屈折率の変化の影響が含まれてしまうため、ドリフト現象を精度良く補正できない場合がある、という問題点があった。 However, when the solution and the sample substance react when the solution is supplied to the liquid flow path, the ratio of the sample substance changes, and the sample substance reacts with the solution in the measurement result when the reference solution is supplied next. As a result, the influence of the change in the refractive index remains, and the derived change information includes the influence of the change in the refractive index. Therefore, there is a problem in that the drift phenomenon may not be accurately corrected.
本発明は上記問題点を解消するためになされたものであり、屈折率が経時的に変化するドリフト現象を精度良く補正することができる測定装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a measuring apparatus capable of accurately correcting a drift phenomenon in which the refractive index changes with time.
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、光透過性を有し、一部に薄膜層が形成されると共に当該薄膜層上に測定対象とする検体物質が付着された光透過性部材と、前記薄膜層上の前記検体物質の付着領域に、前記検体物質の特性の測定に用いる複数種類の溶液、及び測定の基準となる所定の基準溶液を各々供給する供給手段と、前記供給手段により前記複数種類の溶液を各々個別に供給させると共に、前記溶液を所定回供給する度に前記基準溶液を供給させて、前記薄膜層上に付着した前記検体物質の屈折率情報を複数回測定する測定手段と、前記供給手段により前記基準溶液が供給された状態で前記測定手段により測定された各屈折率情報に基づき、屈折率情報が1回前に測定された屈折率情報よりも所定値以上増加している場合に当該所定値以上増加した屈折率情報が測定された回以降の所定回数分の屈折率情報の測定結果を除外して、屈折率情報の経時的な変化を示す変化情報を導出する導出手段と、前記導出手段により導出された変化情報に基づいて前記測定手段による測定結果を補正する補正手段と、を備えている。 In order to achieve the above object, the invention described in claim 1 has a light transmission property, and a light transmission in which a thin film layer is partially formed and a sample substance to be measured is attached on the thin film layer. And a supply means for supplying a plurality of types of solutions used for measuring the characteristics of the analyte substance and a predetermined reference solution serving as a measurement reference to the adhesion area of the analyte substance on the thin film layer, Each of the plurality of types of solutions is individually supplied by the supply means, and the reference solution is supplied every time the solution is supplied a predetermined number of times, and the refractive index information of the analyte substance adhered on the thin film layer is supplied a plurality of times. Based on the refractive index information measured by the measuring means for measuring and the refractive index information measured by the measuring means in a state where the reference solution is supplied by the supplying means, the refractive index information is more predetermined than the refractive index information measured once before. Has increased more than the value In this case, the derivation means for deriving change information indicating temporal change of the refractive index information by excluding the measurement result of the refractive index information for a predetermined number of times after the measurement of the refractive index information increased by the predetermined value or more. And correction means for correcting the measurement result by the measurement means based on the change information derived by the derivation means.
請求項1記載の発明は、光透過性を有する光透過性部材の一部に薄膜層が形成されると共に当該薄膜層上に測定対象とする検体物質が付着されており、供給手段により、薄膜層上の検体物質の付着領域に、検体物質の特性の測定に用いる複数種類の溶液、及び測定の基準となる所定の基準溶液が各々供給され、測定手段により、供給手段により複数種類の溶液を各々個別に供給させると共に、溶液を所定回供給する度に前記基準溶液を供給させて、薄膜層上に付着した前記検体物質の屈折率情報が複数回測定される。 According to the first aspect of the present invention, a thin film layer is formed on a part of a light transmissive member having light transmissivity, and an analyte substance to be measured is attached on the thin film layer. A plurality of types of solutions used for measuring the characteristics of the sample substance and a predetermined reference solution serving as a measurement reference are respectively supplied to the adhesion area of the sample substance on the layer. Each is supplied individually, and the reference solution is supplied every time the solution is supplied a predetermined number of times, and the refractive index information of the analyte substance adhered on the thin film layer is measured a plurality of times.
そして、本発明は、導出手段により、供給手段により基準溶液が供給された状態で測定手段により測定された各屈折率情報に基づき、屈折率情報が1回前に測定された屈折率情報よりも所定値以上増加している場合に当該所定値以上増加した屈折率情報が測定された回以降の所定回数分の屈折率情報の測定結果を除外して、屈折率情報の経時的な変化を示す変化情報が導出され、補正手段により、導出手段により導出された変化情報に基づいて測定手段による測定結果が補正される。 And this invention is based on each refractive index information measured by the measurement means in the state by which the reference | standard solution was supplied by the supply means by the derivation | leading-out means, and refractive index information is more than the refractive index information measured 1 time ago. In the case where the refractive index information is increased by a predetermined value or more, the measurement result of the refractive index information for a predetermined number of times after the measurement of the refractive index information increased by the predetermined value or more is excluded, and the change in refractive index information with time is shown The change information is derived, and the correction result is corrected by the correction means based on the change information derived by the derivation means.
このように請求項1記載の発明によれば、薄膜層上の検体物質の付着領域に、検体物質の特性の測定に用いる複数種類の溶液を各々個別に供給させると共に、溶液を所定回供給する度に測定の基準となる所定の基準溶液を供給させて、薄膜層上に付着した検体物質の屈折率情報を複数回測定しており、基準溶液が供給された状態で測定された各屈折率情報に基づき、屈折率情報が1回前に測定された屈折率情報よりも所定値以上増加している場合に当該所定値以上増加した屈折率情報が測定された回以降の所定回数分の屈折率情報の測定結果を除外して、屈折率情報の経時的な変化を示す変化情報を導出し、導出した変化情報に基づいて測定結果を補正しているので、屈折率情報が経時的に変化するドリフト現象を精度良く補正することができる。 Thus, according to the first aspect of the present invention, the plurality of types of solutions used for measuring the characteristics of the specimen substance are individually supplied to the adhesion area of the specimen substance on the thin film layer, and the solution is supplied a predetermined number of times. Refractive index information of the sample substance adhering to the thin film layer is measured multiple times by supplying a predetermined reference solution as a measurement reference each time, and each refractive index measured with the reference solution supplied Based on the information, when the refractive index information is increased by a predetermined value or more than the refractive index information measured one time before, the refraction for a predetermined number of times after the time when the refractive index information increased by the predetermined value or more is measured. Since the change information indicating the change in refractive index information over time is derived by excluding the measurement result of the refractive index information, and the measurement result is corrected based on the derived change information, the refractive index information changes over time. It is possible to correct the drift phenomenon That.
なお、本発明の測定手段は、請求項2記載の発明ように、前記光透過性部材と前記薄膜層との界面において全反射されるように複数の角度で前記光透過性部材に入射されて当該界面において全反射された光ビームの光強度分布から全反射減衰によって暗線が発生した反射角度を検出することにより前記検体物質の屈折率情報を測定してもよい。 The measuring means of the present invention is incident on the light transmissive member at a plurality of angles so as to be totally reflected at the interface between the light transmissive member and the thin film layer. The refractive index information of the specimen substance may be measured by detecting a reflection angle at which a dark line is generated due to total reflection attenuation from the light intensity distribution of the light beam totally reflected at the interface.
また、請求項2記載の発明は、請求項3記載の発明ように、前記薄膜層に、前記検体物質が付着された付着領域、及び前記検体物質が付着していない未着領域が設けられ、前記測定手段が、前記光透過性部材と前記薄膜層との界面の前記付着領域及び前記未着領域において各々全反射された光ビームの光強度分布から暗線が発生した反射角度を各々測定し、前記付着領域において暗線が発生した反射角度を、前記未着領域において暗線が発生した反射角度で校正して前記検体物質の屈折率情報を測定してもよい。 Further, in the invention of claim 2, as in the invention of claim 3, the thin film layer is provided with an attachment region to which the sample substance is attached and an unattached region to which the sample substance is not attached. The measuring means measures a reflection angle at which a dark line is generated from a light intensity distribution of a light beam totally reflected at each of the attached region and the non-attached region at the interface between the light transmissive member and the thin film layer; The refractive index information of the specimen substance may be measured by calibrating the reflection angle at which the dark line is generated in the attached region with the reflection angle at which the dark line is generated in the non-attached region.
また、本発明の測定手段は、請求項4記載の発明ように、屈折率情報を測定する際に、前記供給手段により前記溶液の種類が切り替わる度に、前記基準溶液を供給してもよい。 Moreover, the measuring means of this invention may supply the said reference | standard solution, whenever the kind of the said solution switches by the said supply means, when measuring refractive index information like invention of Claim 4.
このように、本発明によれば、薄膜層上の検体物質の付着領域に、検体物質の特性の測定に用いる複数種類の溶液を各々個別に供給させると共に、溶液を所定回供給する度に測定の基準となる所定の基準溶液を供給させて、薄膜層上に付着した検体物質の屈折率情報を複数回測定しており、基準溶液が供給された状態で測定された各屈折率情報に基づき、屈折率情報が1回前に測定された屈折率情報よりも所定値以上増加している場合に当該所定値以上増加した屈折率情報が測定された回以降の所定回数分の屈折率情報の測定結果を除外して、屈折率情報の経時的な変化を示す変化情報を導出し、導出した変化情報に基づいて測定結果を補正しているので、屈折率情報が経時的に変化するドリフト現象を精度良く補正することができる、という効果が得られる。 As described above, according to the present invention, each of a plurality of types of solutions used for measuring the characteristics of the specimen material is individually supplied to the adhesion area of the specimen material on the thin film layer, and the measurement is performed each time the solution is supplied a predetermined number of times. Measure the refractive index information of the sample substance adhering to the thin film layer multiple times by supplying a predetermined reference solution that is the reference for the reference, and based on each refractive index information measured with the reference solution supplied When the refractive index information is increased by a predetermined value or more than the refractive index information measured one time before, the refractive index information for a predetermined number of times after the measurement of the refractive index information increased by the predetermined value or more is performed. Since the measurement information is excluded, change information indicating the change in refractive index information over time is derived, and the measurement result is corrected based on the derived change information, so the drift phenomenon in which the refractive index information changes over time Can be corrected accurately. Effect can be obtained.
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。なお、以下では、本発明を表面プラズモン共鳴現象(Surface Plasmon Resonance:SPR)を利用して検体物質の特性を測定するバイオセンサーに適用した場合について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following, the case where the present invention is applied to a biosensor that measures the characteristics of a specimen substance using a surface plasmon resonance (SPR) will be described.
図1〜図4に示すように、本実施の形態に係るバイオセンサー10は、下部筐体11及び上部筐体12を備えている。上部筐体12は、断熱部材で構成されており、バイオセンサー10の上半分全体を覆っている。上部筐体12内と、外部及び下部筐体11内との間は、断熱されている。上部筐体12の手前側は、上方へ開放可能とされており、把手13が取り付けられている。上部筐体12の外側には、ディスプレイ14及び入力部16が設置されている。 As shown in FIGS. 1 to 4, the biosensor 10 according to the present embodiment includes a lower housing 11 and an upper housing 12. The upper housing 12 is made of a heat insulating member and covers the entire upper half of the biosensor 10. The interior of the upper housing 12 is insulated from the outside and the interior of the lower housing 11. The front side of the upper housing 12 can be opened upward, and a handle 13 is attached. A display 14 and an input unit 16 are installed outside the upper housing 12.
図2は、上部筐体12を取り去って、図1の奥側からみたバイオセンサー10の内部を示す図であり、図3は筐体の内部を上面からみた図、図4は図2の手前側からみた内部の側面図である。 2 is a view showing the inside of the biosensor 10 as seen from the back side of FIG. 1 with the upper case 12 removed, FIG. 3 is a view of the inside of the case from the top, and FIG. 4 is a front view of FIG. It is an internal side view seen from the side.
上部筐体12の内部には、分注ヘッド20、測定部30、試料ストック部40、ピペットチップストック部42、バッファストック部44、保冷部46、測定チップストック部48、ラジエータ60、ラジエータ送風ファン62、水平方向送風ファン64が備えられている。 Disposed inside the upper housing 12 are a dispensing head 20, a measurement unit 30, a sample stock unit 40, a pipette tip stock unit 42, a buffer stock unit 44, a cold insulation unit 46, a measurement tip stock unit 48, a radiator 60, and a radiator blower fan. 62, a horizontal blower fan 64 is provided.
試料ストック部40は、試料積層部40A及び試料セット部40Bで構成されている。試料積層部40Aには、個々のセルに検体物質の特性の測定に用いる試料として各々異なるアナライト溶液をストックする試料プレート40Pが、Z方向(鉛直方向)に積層されて収容されている。試料セット部40Bには、1枚の試料プレート40Pが、図示しない搬送機構により試料積層部40Aから搬送されてセットされる。 The sample stock unit 40 includes a sample stacking unit 40A and a sample setting unit 40B. In the sample stacking section 40A, sample plates 40P for stocking different analyte solutions as samples used for measuring the characteristics of the specimen substance are stacked in the Z direction (vertical direction) and stored in individual cells. One sample plate 40P is transported and set from the sample stacking section 40A by a transport mechanism (not shown) to the sample setting section 40B.
ピペットチップストック部42は、ピペットチップ積層部42A及びピペットチップセット部42Bで構成されている。ピペットチップ積層部42Aには、複数のピペットチップを保持するピペットチップストッカー42Pが、Z方向に積層されて収容されている。ピペットチップセット部42Bには、1枚のピペットチップストッカー42Pが、図示しない搬送機構によりピペットチップ積層部42Aから搬送されてセットされる。 The pipette tip stock portion 42 includes a pipette tip stacking portion 42A and a pipette tip setting portion 42B. In the pipette chip stacking part 42A, pipette chip stockers 42P for holding a plurality of pipette chips are stacked and accommodated in the Z direction. One pipette chip stocker 42P is transported and set from the pipette chip stacking section 42A by a transport mechanism (not shown) to the pipette chip setting section 42B.
バッファストック部44は、ボトル収容部44A及びバッファ供給部44Bで構成されている。ボトル収容部44Aには、測定の基準となる基準試料としてのバッファー液が貯留された複数本のボトル44Cが収容されている。バッファ供給部44Bには、バッファプレート44Pがセットされている。バッファプレート44Pは、複数筋に区画されており、各々の区画には濃度の異なるバッファー液が貯留されている。また、バッファプレート44Pの上部には、分注ヘッド20のアクセス時にピペットチップCPが挿入される孔Hが構成されている。バッファプレート44Pへは、ホース44Hによりボトル44Cからバッファ液が供給される。 The buffer stock unit 44 includes a bottle storage unit 44A and a buffer supply unit 44B. A plurality of bottles 44C storing a buffer solution as a reference sample serving as a reference for measurement are stored in the bottle storage portion 44A. A buffer plate 44P is set in the buffer supply unit 44B. The buffer plate 44P is partitioned into a plurality of muscles, and buffer solutions having different concentrations are stored in each partition. Further, a hole H into which the pipette tip CP is inserted when the dispensing head 20 is accessed is formed in the upper part of the buffer plate 44P. The buffer liquid is supplied from the bottle 44C to the buffer plate 44P through the hose 44H.
バッファ供給部44Bの隣には、補正用プレート45が配置され、その隣に保冷部46が配置されている。補正用プレート45は、バッファー液の濃度調整を行うためのプレートであり、マトリクス状に複数セルが構成されている。保冷部46には、冷蔵の必要な試料が配置される。保冷部は低温とされており、この上で試料は低温状態に保たれる。 A correction plate 45 is disposed next to the buffer supply unit 44B, and a cold insulation unit 46 is disposed next to the correction plate 45. The correction plate 45 is a plate for adjusting the concentration of the buffer solution, and a plurality of cells are formed in a matrix. A sample that needs to be refrigerated is placed in the cold insulation unit 46. The cold insulation part is set to a low temperature, and the sample is kept at a low temperature.
測定チップストック部48には、測定チップ収容プレート48Pがセットされている。測定チップ収容プレート48Pには、測定チップ50が複数本収納されている。 In the measurement chip stock portion 48, a measurement chip accommodation plate 48P is set. A plurality of measurement chips 50 are accommodated in the measurement chip accommodation plate 48P.
測定チップストック部48と測定部30との間には、測定チップ搬送機構49が備えられている。測定チップ搬送機構49は、測定チップ50を両側から挟み込んで保持する保持アーム49A、回転により保持アーム49AをY方向に移動させるボールねじ49B、Y方向に配置され、測定チップ50が載せられる搬送レール49C、を含んで構成されている。測定の際には、1本の測定チップ50が測定チップ搬送機構49により測定チップ収容プレート48Pから搬送レール49C上に載せられ、保持アーム49Aにより挟持されつつ測定部30へ移動してセットされる。 A measurement chip transport mechanism 49 is provided between the measurement chip stock unit 48 and the measurement unit 30. The measuring chip transport mechanism 49 includes a holding arm 49A that sandwiches and holds the measuring chip 50 from both sides, a ball screw 49B that moves the holding arm 49A in the Y direction by rotation, and a transport rail on which the measuring chip 50 is placed. 49C. At the time of measurement, one measurement chip 50 is placed on the transport rail 49C from the measurement chip storage plate 48P by the measurement chip transport mechanism 49, and is moved and set to the measurement unit 30 while being held by the holding arm 49A. .
測定チップ50は、図5及び図6に示すように、誘電体ブロック52、流路部材54、及び、保持部材56、で構成されている。 As shown in FIGS. 5 and 6, the measurement chip 50 includes a dielectric block 52, a flow path member 54, and a holding member 56.
誘電体ブロック52は、光ビームに対して透明な透明樹脂等で構成されており、断面が台形の棒状とされたプリズム部52A、及び、プリズム部52Aの両端部にプリズム部52Aと一体的に形成された被保持部52Bを備えている。プリズム部52Aの互いに平行な2面の内の広い側の上面には、金属性の薄膜57が形成されている。誘電体ブロック52は、いわゆるプリズムとして機能し、バイオセンサー10での測定の際には、プリズム部52Aの対向する互いに平行でない2つの側面の内の一方から光ビームが入射され、他方から薄膜57との界面で全反射された光ビームが出射される。 The dielectric block 52 is made of a transparent resin or the like that is transparent to the light beam, and has a prism portion 52A having a trapezoidal cross section, and the prism portion 52A integrally with both ends of the prism portion 52A. A formed held portion 52B is provided. A metallic thin film 57 is formed on the upper surface on the wider side of the two parallel surfaces of the prism portion 52A. The dielectric block 52 functions as a so-called prism. When the measurement is performed by the biosensor 10, a light beam is incident from one of two opposing non-parallel sides of the prism portion 52A and the thin film 57 is incident from the other. A light beam totally reflected at the interface is emitted.
薄膜57の表面には、測定対象とする検体物質としてタンパクTaを薄膜57上に付着させるための、リンカー層57Aが形成されている。このリンカー層57A上にタンパクTaが付着される。 On the surface of the thin film 57, there is formed a linker layer 57A for attaching protein Ta on the thin film 57 as a sample substance to be measured. Protein Ta is attached on this linker layer 57A.
プリズム部52Aの両側面には、上側の端辺に沿って保持部材56と係合される係合凸部52Cが形成されている。また、プリズム部52Aの下側には、側端辺に沿って搬送レール49Cと係合されるフランジ部52Dが形成されている。 Engaging convex portions 52C that are engaged with the holding member 56 are formed along the upper side edge on both side surfaces of the prism portion 52A. Further, a flange portion 52D that is engaged with the transport rail 49C is formed along the side end side below the prism portion 52A.
図6に示すように、流路部材54は、6個のベース部54Aを備え、ベース部54Aの各々に4本の円筒部材54Bが立設されている。ベース部54Aは、3個のベース部54A毎に、立設された円筒部材54Bのうちの1本の上部が連結部材54Dによって連結されている。流路部材54は、軟質で弾性変形可能な材料、例えば非晶質ポリオフィレンエラストマーで構成されている。このように、流路部材54を弾性変形可能な材料で構成することにより、誘電体ブロック52との密着性を高め、誘電体ブロック52との間に構成される液体流路55の密閉性を確保している。 As shown in FIG. 6, the flow path member 54 includes six base portions 54A, and four cylindrical members 54B are erected on each of the base portions 54A. In the base portion 54A, for each of the three base portions 54A, one upper portion of the standing cylindrical members 54B is connected by a connecting member 54D. The channel member 54 is made of a soft and elastically deformable material, for example, an amorphous polyolefin elastomer. In this manner, by configuring the flow path member 54 with a material that can be elastically deformed, the adhesion with the dielectric block 52 is enhanced, and the sealing performance of the liquid flow path 55 configured between the dielectric block 52 is improved. Secured.
保持部材56は、長尺とされ、上面部材56A及び2枚の側面板56Bが蓋状に構成された形状とされている。側面板56Bには、誘電体ブロック52の係合凸部52Cと係合される係合孔56C、及び、上記光ビームの光路に対応する部分に窓56Dが形成されている。保持部材56は、係合孔56Cと係合凸部52Cとが係合されて、誘電体ブロック52に取り付けられる。流路部材54は、保持部材56と一体成形されており、保持部材56と誘電体ブロック52の間に配置される。上面部材56Aには、流路部材54の円筒部材54Bに対応する位置に、受部59が形成されている。受部59は略円筒状とされている。 The holding member 56 is long and has a shape in which the upper surface member 56A and the two side plates 56B are formed in a lid shape. The side plate 56B is formed with an engagement hole 56C to be engaged with the engagement protrusion 52C of the dielectric block 52, and a window 56D at a portion corresponding to the optical path of the light beam. The holding member 56 is attached to the dielectric block 52 with the engagement hole 56 </ b> C and the engagement protrusion 52 </ b> C engaged. The flow path member 54 is integrally formed with the holding member 56 and is disposed between the holding member 56 and the dielectric block 52. A receiving portion 59 is formed on the upper surface member 56A at a position corresponding to the cylindrical member 54B of the flow path member 54. The receiving part 59 is substantially cylindrical.
ベース部54Aには、図7に示すように、底面側に略S字状の2本の流路溝54Cが形成されている。流路溝54Cは、端部の各々が1の円筒部材54Bの中空部と連通されている。ベース部54Aは、底面が誘電体ブロック52の上面と密着され、流路溝54Cと誘電体ブロック52の上面との間に構成される空間と前記中空部とで、液体流路55が構成される。なお、本実施の形態に係る液体流路55の容量は、7μlとされている。 As shown in FIG. 7, the base portion 54A has two substantially S-shaped channel grooves 54C formed on the bottom surface side. Each of the end portions of the flow channel 54C communicates with the hollow portion of one cylindrical member 54B. The bottom surface of the base portion 54A is in close contact with the upper surface of the dielectric block 52, and the liquid channel 55 is configured by the space formed between the channel groove 54C and the upper surface of the dielectric block 52 and the hollow portion. The The capacity of the liquid channel 55 according to the present embodiment is 7 μl.
1個のベース部54Aには、2本の液体流路55が構成される。各々の液体流路55において、円筒部材54Bの上端面に液体流路55の出入口53が構成される。 Two liquid channels 55 are formed in one base portion 54A. In each liquid channel 55, an entrance / exit 53 of the liquid channel 55 is formed on the upper end surface of the cylindrical member 54B.
ここで、2本の液体流路55のうち、1本は測定流路55Aとして用いられ、他の1本は参照流路55Rとして用いられる。測定流路55Aの薄膜57上(リンカー層57A上)にはタンパクTaを付着させ、参照流路55Rの薄膜57上(リンカー層57A上)にはタンパクTaを付着させない状態で測定が行われる。 Here, one of the two liquid channels 55 is used as the measurement channel 55A, and the other one is used as the reference channel 55R. The measurement is performed in a state where the protein Ta is attached on the thin film 57 (on the linker layer 57A) of the measurement channel 55A and the protein Ta is not attached on the thin film 57 (on the linker layer 57A) of the reference channel 55R.
測定流路55A及び参照流路55Rには、図7に示すように、各々光ビームL1、L2が入射される。光ビームL1、L2は、図8に示すように、ベース部54Aの中心線M上に配置されるS字の屈曲部分に照射される。以下、測定流路55Aにおける光ビームL1の照射領域を測定領域E1、参照流路55Rにおける光ビームL2の照射領域を参照領域E2という。参照領域E2は、タンパクTaが付着した測定領域E1から得られるデータを補正するための測定を行う領域である。 As shown in FIG. 7, light beams L1 and L2 are incident on the measurement channel 55A and the reference channel 55R, respectively. As shown in FIG. 8, the light beams L1 and L2 are applied to an S-shaped bent portion disposed on the center line M of the base portion 54A. Hereinafter, the irradiation region of the light beam L1 in the measurement channel 55A is referred to as a measurement region E1, and the irradiation region of the light beam L2 in the reference channel 55R is referred to as a reference region E2. The reference area E2 is an area for performing measurement for correcting data obtained from the measurement area E1 to which the protein Ta is attached.
図9には、分注ヘッド20の詳細な構成が示されている。 FIG. 9 shows a detailed configuration of the dispensing head 20.
分注ヘッド20は、12本の分注管20Aを備えている。各分注管20Aは、X方向と直交する矢印Y方向に沿って1列に配置されるように保持部材20Bにより保持されている。分注管20Aは、隣り合う2本で一対とされ、一方が液体供給用、他方が液体排出用とされている。分注管20Aの先端部には、ピペットチップCPが取り付けられる。ピペットチップCPは、ピペットチップストッカー42Pにストックされており、必要に応じて交換可能とされている。 The dispensing head 20 includes 12 dispensing tubes 20A. Each dispensing tube 20A is held by a holding member 20B so as to be arranged in a line along an arrow Y direction orthogonal to the X direction. Two adjacent pipes 20A are used as a pair, one for supplying liquid and the other for discharging liquid. A pipette tip CP is attached to the tip of the dispensing tube 20A. The pipette tip CP is stocked in the pipette tip stocker 42P and can be exchanged as necessary.
図2に示すように、分注ヘッド20は、上部筐体12内の上部に設けられ、水平駆動機構22により矢印X方向に移動可能とされている。水平駆動機構22は、ボールねじ22A、モータ22B、ガイドレール22Cにより構成されている。ボールねじ22A及びガイドレール22Cは、X方向に配置されている。ガイドレール22Cは平行に2本配置され、そのうちの1本はボールねじ22Aの下側に所定間隔離れて配置されている。分注ヘッド20は、モータ22Bの回転駆動によってボールねじ22Aが回転することにより、ガイドレール22Cに沿ってX方向に移動される。このX方向移動により、分注ヘッド20は、保冷部46、補正用プレート45、バッファ供給部44B(バッファプレート44P)、測定部30(測定チップ50)、試料セット部40B(試料プレート40P)、及びピペットチップセット部42B(ピペットチップストッカー42P)に対向する位置にそれぞれ移動可能とされている。 As shown in FIG. 2, the dispensing head 20 is provided in the upper part of the upper housing 12 and can be moved in the arrow X direction by the horizontal drive mechanism 22. The horizontal drive mechanism 22 includes a ball screw 22A, a motor 22B, and a guide rail 22C. The ball screw 22A and the guide rail 22C are arranged in the X direction. Two guide rails 22C are arranged in parallel, and one of them is arranged below the ball screw 22A at a predetermined interval. The dispensing head 20 is moved in the X direction along the guide rail 22C when the ball screw 22A is rotated by the rotational drive of the motor 22B. By this movement in the X direction, the dispensing head 20 is cooled, the correction plate 45, the buffer supply unit 44B (buffer plate 44P), the measurement unit 30 (measurement chip 50), the sample setting unit 40B (sample plate 40P), The pipette tip set unit 42B (pipette tip stocker 42P) can be moved to a position facing it.
また、図9に示すように、分注ヘッド20には、分注ヘッド20を矢印Z方向に移動させる鉛直駆動機構24が設けられている。鉛直駆動機構24は、モータ24A及びZ方向に配置された駆動軸24Bを含んで構成され、モータ24Aの回転駆動によって駆動軸24Bが回転することにより、分注ヘッド20をZ方向に移動させる。このZ方向移動により、分注ヘッド20は、ピペットチップセット部42Bにセットされたピペットチップストッカー42P、試料セット部40Bにセットされた試料プレート40P、バッファ供給部44Bにセットされたバッファプレート44P、補正用プレート45、保冷部46にセットされたプレート、及び測定部30にセットされた測定チップ50などにアクセス可能となっている。 As shown in FIG. 9, the dispensing head 20 is provided with a vertical drive mechanism 24 that moves the dispensing head 20 in the arrow Z direction. The vertical drive mechanism 24 includes a motor 24A and a drive shaft 24B disposed in the Z direction, and the drive shaft 24B is rotated by the rotational drive of the motor 24A, thereby moving the dispensing head 20 in the Z direction. By this movement in the Z direction, the dispensing head 20 has a pipette tip stocker 42P set in the pipette tip setting portion 42B, a sample plate 40P set in the sample setting portion 40B, a buffer plate 44P set in the buffer supply portion 44B, The correction plate 45, the plate set in the cold insulation unit 46, the measurement chip 50 set in the measurement unit 30, and the like can be accessed.
図10に示されるように、分注ヘッド20には、吸排駆動部26が接続されている。吸排駆動部26は、第1ポンプ27、第2ポンプ28を備えている。第1ポンプ27及び第2ポンプ28は、前述の一対の分注管20Aに各々対応して設けられている。第1ポンプ27は、シリンジポンプで構成されており、第1シリンダ27A、第1ピストン27B、及び、第1ピストン27Bを駆動させる第1モータ27Cを備えている。第1シリンダ27Aは、配管27Hを介して分注ヘッド20と接続されている。また、第2ポンプ28も、シリンジポンプで構成されており、第2シリンダ28A、第2ピストン28B、及び、第2ピストン28Bを駆動させる第2モータ28Cを備えている。第2シリンダ28Aは、配管28Hを介して分注ヘッド20と接続されている。 As shown in FIG. 10, a suction / discharge drive unit 26 is connected to the dispensing head 20. The intake / exhaust drive unit 26 includes a first pump 27 and a second pump 28. The first pump 27 and the second pump 28 are provided corresponding to the pair of dispensing pipes 20A described above. The first pump 27 includes a syringe pump, and includes a first cylinder 27A, a first piston 27B, and a first motor 27C that drives the first piston 27B. The first cylinder 27A is connected to the dispensing head 20 via a pipe 27H. The second pump 28 is also a syringe pump, and includes a second cylinder 28A, a second piston 28B, and a second motor 28C that drives the second piston 28B. The second cylinder 28A is connected to the dispensing head 20 via a pipe 28H.
分注ヘッド20は、第1モータ27C及び第2モータ28Cの回転駆動が各々制御されて第1ピストン27B及び第2ピストン28Bの駆動が制御されることにより、吸引、排出する溶液の液量、及び吸引、排出する際の溶液の速度が調整可能とされている。 The dispensing head 20 controls the rotational drive of the first motor 27C and the second motor 28C, and controls the drive of the first piston 27B and the second piston 28B. In addition, the speed of the solution when sucking and discharging is adjustable.
測定時には、分注管20Aにより、測定チップ50へ試料やバッファー液が供給される。これらの液体の供給は、分注ヘッド20を、保冷部46、試料セット部40B、バッファ供給部44B上へ移動させ、液体供給用の6本の分注管20Aに取り付けられたピペットチップCPで試料やバッファー液を吸引する。このときの吸引量は、2本分の流路に供給するための量である。そして、試料やバッファー液を吸引した6本の分注管20A側のピペットチップCPを、測定チップ50の測定流路55A側の片方の出入口53(以下「供給口53A」という)へ挿入すると共に、排出用の列の6本の分注管20Aに取り付けられたピペットチップCPを他方の出入口53(以下「排出口53B」という)へ挿入する。そして、供給口53A側の分注管20Aから半量の液体を吐出すると共に、排出口53B側の分注管20Aで液体を吸入することにより行われる。続いて、参照流路55R側へも、同様にしてピペットチップCPの残り半量の液体が供給される。 At the time of measurement, a sample and a buffer solution are supplied to the measurement chip 50 through the dispensing tube 20A. These liquids are supplied by moving the dispensing head 20 onto the cold insulation unit 46, the sample setting unit 40B, and the buffer supply unit 44B, and using pipette tips CP attached to the six dispensing tubes 20A for liquid supply. Aspirate sample and buffer solution. The suction amount at this time is an amount to be supplied to two channels. Then, the six pipette tips CP on the side of the pipe 20A that sucked the sample and the buffer solution are inserted into one of the inlet / outlet 53 (hereinafter referred to as “supply port 53A”) on the side of the measurement channel 55A of the measurement tip 50. The pipette tips CP attached to the six dispensing pipes 20A in the discharge row are inserted into the other inlet / outlet 53 (hereinafter referred to as “discharge outlet 53B”). Then, half of the liquid is discharged from the dispensing tube 20A on the supply port 53A side, and the liquid is sucked through the dispensing tube 20A on the discharge port 53B side. Subsequently, the remaining half amount of liquid of the pipette tip CP is also supplied to the reference channel 55R side in the same manner.
一方、図4に示すように、測定部30は、光学定盤32、光出射部34、受光部36を含んで構成されている。光学定盤32には、側方向から見て、上部中央の水平平面で構成される上部台32A、上部台32Aから離れる方向に向かって低くなる出射傾斜部32B、上部台32Aを挟んで出射傾斜部32Bと逆側に配置される受光傾斜部32Cが形成されている。上部台32Aには、Y方向沿って測定チップ50がセットされるものとされている。光学定盤32の出射傾斜部32Bには、測定チップ50へ向かって光ビームL1、L2を出射する光出射部34が設置されている。また、受光傾斜部32Cには、受光部36が設置されている。光学定盤32の隣には、光学定盤32を冷却する水冷ジャケット32Jが設けられている。 On the other hand, as shown in FIG. 4, the measuring unit 30 includes an optical surface plate 32, a light emitting unit 34, and a light receiving unit 36. The optical surface plate 32 has an upper base 32A composed of a horizontal plane in the upper center as viewed from the side, an outgoing inclined portion 32B that decreases in a direction away from the upper base 32A, and an outgoing slope across the upper base 32A. A light receiving inclined portion 32C disposed on the side opposite to the portion 32B is formed. The measurement chip 50 is set on the upper base 32A along the Y direction. A light emitting portion 34 that emits the light beams L 1 and L 2 toward the measurement chip 50 is installed on the emission inclined portion 32 B of the optical surface plate 32. In addition, a light receiving portion 36 is installed in the light receiving inclined portion 32C. Next to the optical surface plate 32, a water cooling jacket 32J for cooling the optical surface plate 32 is provided.
図11に示すように、光出射部34には、光源34A、レンズユニット34Bが備えられている。また、受光部36には、レンズユニット36A、CCD36Bが備えられている。 As shown in FIG. 11, the light emitting unit 34 includes a light source 34A and a lens unit 34B. Further, the light receiving unit 36 includes a lens unit 36A and a CCD 36B.
光源34Aからは、発散状態の光ビームLが出射される。レンズユニット34Bは、偏光ビームスプリッタを内蔵しており、光源34Aから入射する光ビームLのP偏光成分とS偏光成分に分離し、光ビームLのP偏光成分をZ方向に対して一定の幅を持った比較的太い2本の平行な光ビームL1、L2に分ける。そして、レンズユニット34Bは、この2本の平行な光ビームL1、L2を薄膜57と誘電体ブロック52との界面の測定領域E1と参照領域E2に対して全反射角以上の種々の入射角で測定領域E1と参照領域E2において収束光状態となるように入射させる。よって、測定領域E1及び参照領域E2に入射する光ビームL1、L2は、誘電体ブロック52と薄膜57との界面において種々の反射角で全反射される。この全反射された光ビームL1、L2は、レンズユニット36Aを経てCCD36Bに結像される。CCD36Bは、全反射された2本の光ビームL1、L2を共に受光可能な面積の受光面を有するエリアセンサとされており、受光面に結像した像を示す画像情報を生成して出力する。 A divergent light beam L is emitted from the light source 34A. The lens unit 34B has a built-in polarization beam splitter, which separates the P-polarized component and the S-polarized component of the light beam L incident from the light source 34A. The P-polarized component of the light beam L has a certain width with respect to the Z direction. Are divided into two relatively thick parallel light beams L1 and L2. The lens unit 34B then applies the two parallel light beams L1 and L2 at various incident angles that are greater than the total reflection angle with respect to the measurement region E1 and the reference region E2 at the interface between the thin film 57 and the dielectric block 52. Incident light is incident on the measurement region E1 and the reference region E2 so as to be in a convergent light state. Therefore, the light beams L1 and L2 incident on the measurement region E1 and the reference region E2 are totally reflected at various reflection angles at the interface between the dielectric block 52 and the thin film 57. The totally reflected light beams L1 and L2 are focused on the CCD 36B through the lens unit 36A. The CCD 36B is an area sensor having a light receiving surface having an area capable of receiving both of the totally reflected light beams L1 and L2, and generates and outputs image information indicating an image formed on the light receiving surface. .
図12には、本実施の形態に係るバイオセンサー10の電気系の構成が示されている。 FIG. 12 shows the configuration of the electrical system of biosensor 10 according to the present embodiment.
同図に示すように、バイオセンサー10は、CPU70A、ROM70B、RAM70C、HDD70D等を含んで構成され、装置全体の動作を司る制御部70と、上記モータ22Bとモータ24Aの回転駆動、及び上記第1モータ27Cと第2モータ28Cの回転駆動を制御することにより、分注ヘッド20のX方向及びZ方向への移動及び分注ヘッド20の各分注管20Aに取り付けられたピペットチップCPへの試料やバッファ液の吸引や排出を制御する分注ヘッド駆動制御部72と、保持アーム49Aを動作及びボールねじ49Bを回転させるさせる不図示のモータの回転駆動を制御することにより、測定チップ搬送機構49の動作を制御する測定チップ搬送制御部74と、CCD36Bの撮像動作の制御するCCD制御部76と、光源34Aへの電力供給を制御することにより、光源34Aの点灯を制御する点灯制御部78と、を備えている。 As shown in the figure, the biosensor 10 includes a CPU 70A, a ROM 70B, a RAM 70C, an HDD 70D, and the like. The biosensor 10 controls the operation of the entire apparatus, the rotational drive of the motor 22B and the motor 24A, and the first By controlling the rotational drive of the first motor 27C and the second motor 28C, the dispensing head 20 moves in the X direction and the Z direction, and the pipette tip CP attached to each dispensing pipe 20A of the dispensing head 20 A dispensing chip drive control unit 72 that controls the suction and discharge of the sample and the buffer solution, and the rotation of a motor (not shown) that rotates the holding arm 49A and rotates the ball screw 49B, thereby controlling the measurement chip transport mechanism. A measurement chip conveyance control unit 74 that controls the operation of 49, a CCD control unit 76 that controls the imaging operation of the CCD 36B, By controlling the power supply to the source 34A, and includes a lighting control unit 78 for controlling the lighting of the light source 34A, a.
制御部70には、分注ヘッド駆動制御部72、測定チップ搬送制御部74、CCD制御部76、点灯制御部78、ディスプレイ14、及び入力部16が接続されている。 A dispensing head drive control unit 72, a measurement chip transport control unit 74, a CCD control unit 76, a lighting control unit 78, a display 14, and an input unit 16 are connected to the control unit 70.
従って、制御部70は、分注ヘッド駆動制御部72を介した分注ヘッド20の移動及びピペットチップCPへの試料やバッファ液の吸引や排出の制御と、測定チップ搬送制御部74を介した測定チップ50の搬送の制御と、CCD制御部76を介したCCD36Bの撮像動作の制御と、点灯制御部78を介して光源34Aの点灯を制御と、ディスプレイ14への操作画面、各種メッセージ等の各種情報の表示の制御と、を各々行うことができる。また、制御部70は、入力部16に対する操作内容を把握することができる。 Therefore, the control unit 70 controls the movement of the dispensing head 20 via the dispensing head drive control unit 72 and the suction and discharge of the sample and buffer liquid to the pipette tip CP, and the measurement chip conveyance control unit 74. Control of conveyance of the measurement chip 50, control of the imaging operation of the CCD 36B via the CCD controller 76, control of lighting of the light source 34A via the lighting controller 78, operation screens for the display 14, various messages, etc. Control of display of various types of information can be performed. Further, the control unit 70 can grasp the operation content for the input unit 16.
制御部70では、CCD制御部76を介して入力された画像情報に基づいて所定の処理を行なって、測定領域E1及び参照領域E2での屈折率変化データを導出する。 The control unit 70 performs predetermined processing based on the image information input via the CCD control unit 76, and derives refractive index change data in the measurement region E1 and the reference region E2.
この屈折率変化データは、測定チップ50に試料及びバッファー液を個別に供給して光出射部34から光ビームLを出射させて測定領域E1及び参照領域E2に光ビームL1、L2を照射し、測定領域E1において全反射された光ビームL1の暗線が発生した反射角度と参照領域E2において全反射された光ビームL2の暗線が発生した反射角度との角度差に基づいて求められるものである。薄膜57と誘電体ブロック52との界面に特定の入射角で入射した光ビームL1、L2は、界面に表面プラズモンを励起させ、これにより、特定の入射角で入射した光ビームL1、L2の反射光の強度が鋭く低下して暗線として観察される。この暗線となる光ビームL1、L2の入射角が全反射減衰角θSPであり、バッファー液を測定チップ50に供給した場合の測定領域E1及び参照領域E2において検出される全反射減衰角θSPの角度差と、試料を測定チップ50に供給した場合の測定領域E1及び参照領域E2において検出される全反射減衰角θSPの角度差との差が屈折率変化データとなる。 The refractive index change data is obtained by individually supplying a sample and a buffer solution to the measurement chip 50, emitting the light beam L from the light emitting unit 34, and irradiating the measurement region E1 and the reference region E2 with the light beams L1 and L2. This is obtained based on the angle difference between the reflection angle at which the dark line of the light beam L1 totally reflected in the measurement region E1 is generated and the reflection angle at which the dark line of the light beam L2 totally reflected in the reference region E2 is generated. The light beams L1 and L2 incident on the interface between the thin film 57 and the dielectric block 52 at a specific incident angle excite surface plasmons on the interface, thereby reflecting the light beams L1 and L2 incident on the specific incident angle. The intensity of light sharply decreases and is observed as a dark line. The incident angles of the light beams L1 and L2, which are dark lines, are the total reflection attenuation angle θ SP , and the total reflection attenuation angle θ SP detected in the measurement region E1 and the reference region E2 when the buffer liquid is supplied to the measurement chip 50. And the difference between the total reflection attenuation angle θ SP detected in the measurement region E1 and the reference region E2 when the sample is supplied to the measurement chip 50 is the refractive index change data.
次に、本実施の形態に係るバイオセンサー10の作用について説明する。 Next, the operation of the biosensor 10 according to the present embodiment will be described.
タンパクTaの特性の測定を行う場合、制御部70は、分注ヘッド駆動制御部72を介して分注ヘッド20を制御して、測定対象とする測定チップ50に分注ヘッド20から所定の濃度のバッファー液と様々な種類のアナライト溶液を交互に個別に供給させる。 When measuring the characteristics of the protein Ta, the control unit 70 controls the dispensing head 20 via the dispensing head drive control unit 72 and applies a predetermined concentration from the dispensing head 20 to the measurement chip 50 to be measured. The buffer solution and various types of analyte solutions are alternately supplied separately.
また、制御部70は、測定チップ搬送制御部74を介して測定チップ搬送機構49を制御して、所定の測定周期毎に、バッファー液やアナライト溶液が供給された測定チップ50を上部台32Aに搬送して測定対象とする測定流路55Aの測定領域E1及び参照流路55Rの参照領域E2を各々光ビームL1、L2が入射する位置に配置する。そして、制御部70は、点灯制御部78を制御して光源34Aの点灯させ、光出射部34から光ビームを出射させて測定領域E1、参照領域E2の各々に、光ビームL1、L2を各々照射させる。これらの光ビームL1、L2は、測定領域E1、参照領域E2で全反射され、発散しながら誘電体ブロック52のプリズム面を通って外部に出射される。外部に出射された光ビームL1、L2は、レンズユニット36Aを経てCCD36Bの受光面に結像される。 Further, the control unit 70 controls the measurement chip transport mechanism 49 via the measurement chip transport control unit 74 so that the measurement chip 50 supplied with the buffer solution or the analyte solution is supplied to the upper base 32A at every predetermined measurement cycle. The measurement region E1 of the measurement channel 55A to be measured and the reference region E2 of the reference channel 55R are respectively arranged at positions where the light beams L1 and L2 are incident. Then, the control unit 70 controls the lighting control unit 78 to turn on the light source 34A, emits a light beam from the light emitting unit 34, and applies the light beams L1 and L2 to the measurement region E1 and the reference region E2, respectively. Irradiate. These light beams L1 and L2 are totally reflected by the measurement region E1 and the reference region E2, and are emitted to the outside through the prism surface of the dielectric block 52 while diverging. The light beams L1 and L2 emitted to the outside are focused on the light receiving surface of the CCD 36B through the lens unit 36A.
制御部70は、CCD制御部76を介してCCD36Bの撮像動作の制御して、CCD36Bの受光面に結像した像の撮像を行わせ、当該像を示す画像情報をCCD36Bから出力させる。出力された画像情報はCCD制御部76を介して制御部70に入力する。 The control unit 70 controls the imaging operation of the CCD 36B via the CCD control unit 76, causes the image formed on the light receiving surface of the CCD 36B to be captured, and outputs image information indicating the image from the CCD 36B. The output image information is input to the control unit 70 via the CCD control unit 76.
図13(A)には、画像情報により示される画像の一例が示されている。 FIG. 13A shows an example of an image indicated by image information.
同図に示されるように、画像情報により示される画像には、測定領域E1、参照領域E2で全反射された2本の光ビームL1、L2の像が含まれている。 As shown in the figure, the image indicated by the image information includes images of two light beams L1 and L2 totally reflected by the measurement region E1 and the reference region E2.
制御部70は、画像情報が入力されると、以下の暗線位置導出処理を行う。 When the image information is input, the control unit 70 performs the following dark line position derivation process.
図14には、制御部70により実行される暗線位置導出処理の流れを示すフローチャートが示されている。以下、同図を参照して、当該暗線位置導出処理について説明する。 FIG. 14 is a flowchart showing the flow of dark line position derivation processing executed by the control unit 70. Hereinafter, the dark line position deriving process will be described with reference to FIG.
同図のステップ100では、画像情報により示される画像の光ビームL1の像が含まれる領域Aの画像及び光ビームL2の像が含まれる領域B(図13(A)も参照。)の画像に対してそれぞれ畳み込み演算を行なって光ビームL1、L2の1次元の光強度分布を示す分布情報をそれぞれ導出する。図13(B)には、領域Bの画像に対して畳み込み演算を行なって導出された分布情報により示される光ビームL2の1次元の光強度分布が示されている。なお、図13(B)では、横軸が反射角度方向を示しており、横軸の各位置が反射角度に対応している。 In step 100 in the figure, the image of the region A including the image of the light beam L1 and the image of the region B including the image of the light beam L2 (see also FIG. 13A) are displayed. The respective convolution operations are performed on each of them to derive distribution information indicating the one-dimensional light intensity distributions of the light beams L1 and L2. FIG. 13B shows a one-dimensional light intensity distribution of the light beam L2 indicated by distribution information derived by performing a convolution operation on the image of the region B. In FIG. 13B, the horizontal axis indicates the reflection angle direction, and each position on the horizontal axis corresponds to the reflection angle.
次のステップ102では、導出された各分布情報読により示される光強度分布からそれぞれ暗線位置の検出を行なうことにより、測定領域E1及び参照領域E2で全反射された光ビームの光強度分布から暗線が発生した反射角度を各々検出する。 In the next step 102, dark line positions are detected from the light intensity distributions indicated by the derived distribution information readings, so that dark lines are derived from the light intensity distributions of the light beams totally reflected in the measurement area E1 and the reference area E2. Each of the reflection angles at which is generated is detected.
なお、本ステップ102では、各分布情報読に対して図15(A)〜(E)に示される処理を行なうことにより暗線が発生した反射角度の検出を行なう。 In step 102, the reflection angle at which the dark line is generated is detected by performing the processing shown in FIGS. 15A to 15E on each distribution information reading.
すなわち、まず、分布情報により示される光強度分布(図15(A))に対して平滑化処理を行なって平滑化した光強度分布を求める(図15(B))。次に、分布情報により示される光強度分布から平滑化した光強度分布を減算して差分強度分布を導出する(図15(C))。そして、導出した差分強度分布により示される各強度に所定の閾値を加算する(図15(D))。最後に、閾値を加算した差分強度分布において強度がゼロ以下となる領域を特定し(図15(F))、強度がゼロ以下となる領域の面積の重心位置を求めることにより、暗線が発生した反射角度を検出する。 That is, first, a smoothing process is performed on the light intensity distribution (FIG. 15A) indicated by the distribution information to obtain a smoothed light intensity distribution (FIG. 15B). Next, a difference intensity distribution is derived by subtracting the smoothed light intensity distribution from the light intensity distribution indicated by the distribution information (FIG. 15C). Then, a predetermined threshold value is added to each intensity indicated by the derived difference intensity distribution (FIG. 15D). Finally, a region where the intensity is zero or less in the difference intensity distribution to which the threshold is added is identified (FIG. 15F), and a dark line is generated by obtaining the barycentric position of the area of the region where the intensity is zero or less. Detect the reflection angle.
次のステップ104では、測定領域E1において暗線が発生した反射角度から参照領域E2において暗線が発生した反射角度を減算し、減算後の反射角度の角度差を示す角度差情報をHDD70Dに記憶させて、本暗線位置導出処理を終了する。このように、測定領域E1において暗線が発生した反射角度から参照領域E2において暗線が発生した反射角度を減算することにより、供給した溶液の影響による暗線が発生した反射角度の変化を校正することができる。 In the next step 104, the reflection angle at which the dark line is generated in the reference area E2 is subtracted from the reflection angle at which the dark line is generated in the measurement area E1, and angle difference information indicating the angle difference of the reflection angle after the subtraction is stored in the HDD 70D. Then, the dark line position derivation process ends. As described above, by subtracting the reflection angle at which the dark line is generated at the reference region E2 from the reflection angle at which the dark line is generated at the measurement region E1, the change in the reflection angle at which the dark line is generated due to the influence of the supplied solution can be calibrated. it can.
これにより、HDD70Dには、測定対象とする測定チップ50に分注ヘッド20から所定の濃度のバッファー液と様々な種類のアナライト溶液を交互に個別に供給されて所定の測定周期毎に求められた角度差情報が記憶される。 As a result, the HDD 70D is supplied with a predetermined concentration of buffer solution and various types of analyte solutions alternately from the dispensing head 20 to the measurement chip 50 to be measured, and is obtained every predetermined measurement cycle. The angle difference information is stored.
制御部70は、ユーザによって入力部16に対して屈折率変化データの導出を指示する所定の操作が行われると、以下の屈折率変化データ導出処理を行なって屈折率変化データを導出する。 When the user performs a predetermined operation for instructing the input unit 16 to derive the refractive index change data, the control unit 70 performs the following refractive index change data derivation process to derive the refractive index change data.
図16には、制御部70により実行される屈折率変化データ導出処理の流れを示すフローチャートが示されている。以下、同図を参照して、当該屈折率変化データ導出処理について説明する。 FIG. 16 shows a flowchart showing the flow of refractive index change data derivation processing executed by the control unit 70. Hereinafter, the refractive index change data deriving process will be described with reference to FIG.
同図のステップ150では、HDD70Dから測定対象とする測定チップ50の各角度差情報をそれぞれ読み出し、各角度差情報が求められた時間順に各角度差情報により示される反射角度の角度差を並べる。 In step 150 of the figure, each angle difference information of the measurement chip 50 to be measured is read from the HDD 70D, and the angle differences of the reflection angles indicated by the angle difference information are arranged in the order in which each angle difference information was obtained.
図17には、測定対象とする測定チップ50に分注ヘッド20から所定の濃度のバッファー液と様々な種類のアナライト溶液を交互に個別に供給して求められた反射角度の角度差の経時的な変化の一例が示されている。なお、図17では、バッファー液とアナライト溶液の供給が切り替わるタイミングで液体流路55内の溶液が不安定となるため、ノイズが発生している。 FIG. 17 shows the time difference of the reflection angle obtained by alternately supplying a buffer solution of a predetermined concentration and various types of analyte solutions from the dispensing head 20 to the measuring chip 50 to be measured. An example of a typical change is shown. In FIG. 17, since the solution in the liquid channel 55 becomes unstable at the timing when the supply of the buffer solution and the analyte solution is switched, noise is generated.
次のステップ152では、上記図17のバッファー液が供給された各期間毎、及び各アナライト溶液が供給された各期間毎に、反射角度の角度差を平均化した平均角度差を求める。 In the next step 152, an average angle difference obtained by averaging the angle difference of the reflection angles is obtained for each period when the buffer solution of FIG. 17 is supplied and for each period when each analyte solution is supplied.
図18には、上記図17のバッファー液及びアナライト溶液が供給された各期間を液体流路55への1回の送液として、測定開始時から順に測定チップ50の液体流路55にバッファー液やアナライト溶液が送液された送液回数毎に平均角度差をプロットしたグラフが示されている。 In FIG. 18, each period in which the buffer solution and the analyte solution in FIG. 17 are supplied is sent to the liquid channel 55 once, and the buffer is sequentially added to the liquid channel 55 of the measurement chip 50 from the start of measurement. A graph is shown in which the average angle difference is plotted for each number of times the liquid or the analyte solution has been fed.
ここで、図18に示されるように、平均角度差のグラフには、タンパクTaの付着状態が変化して膜厚が減少することによってタンパクTaの屈折率が経時的に変化して平均角度差が経時的に減少するドリフト現象が発生している。また、特定のアナライト溶液(図18の矢印t参照)を供給した際に、当該アナライト溶液に含まれるアナライトがタンパクTaに付着して屈折率が増加することにより平均角度差が増加しており、タンパクTaに付着したアナライトがその後のバッファー液やアナライト溶液の供給によって少しずつ剥がれるため、バッファー液を供給した際のドリフト成分に影響が残ってしまう。 Here, as shown in FIG. 18, in the graph of the average angle difference, the refractive index of the protein Ta changes over time due to the change in the attachment state of the protein Ta and the decrease in the film thickness. There is a drift phenomenon that decreases with time. Further, when a specific analyte solution (see arrow t in FIG. 18) is supplied, the average angle difference increases due to the increase in the refractive index due to the analyte contained in the analyte solution adhering to the protein Ta. Since the analyte adhering to the protein Ta is peeled off little by little by the subsequent supply of the buffer solution or the analyte solution, the drift component when the buffer solution is supplied remains affected.
そこで、次のステップ154では、各平均角度差を、時間順に比較し、平均角度差が1回前に測定された平均角度差よりも所定値ΔS以上増加している場合に当該所定値ΔS以上増加した平均角度差が測定された回以降の所定回数分(本実施の形態では、6回分)の屈折率の測定結果を除外する(図19参照)。なお、この上記所定値ΔSには、装置の製造上の誤差や測定条件の変化に起因する誤差等の各種誤差を考慮した上でタンパクTaにアナライトが付着して屈折率が増加したと判別することができる値を設定するとよい。また、上記所定回数分は、タンパクTaに付着したアナライトが要求される測定精度を満たす程度に剥がれる送液回数を設定するとよい。 Therefore, in the next step 154, each average angle difference is compared in time order, and when the average angle difference is increased by a predetermined value ΔS or more than the average angle difference measured one time before, the predetermined value ΔS or more. The measurement results of the refractive index for a predetermined number of times after the time when the increased average angle difference is measured (in this embodiment, 6 times) are excluded (see FIG. 19). It should be noted that the predetermined value ΔS is determined that the refractive index has increased due to an analyte adhering to the protein Ta after taking into account various errors such as errors in manufacturing the apparatus and errors due to changes in measurement conditions. Set a value that can be used. In addition, the predetermined number of times may be set to the number of times of liquid feeding that is separated to the extent that the analyte attached to the protein Ta satisfies the required measurement accuracy.
そして、次のステップ156では、図20に示されるように、除外されずに残った各平均角度差のうちバッファー液が供給された期間に求められた平均角度差を特定し、バッファー液が供給された期間の平均角度差に基づいて屈折率の経時的な変化を示す変化情報を導出する。 Then, in the next step 156, as shown in FIG. 20, among the average angle differences remaining without being excluded, the average angle difference obtained in the period during which the buffer solution is supplied is specified, and the buffer solution is supplied. Based on the average angle difference of the determined period, change information indicating a change in refractive index with time is derived.
なお、本ステップ156では、変化情報として、図21に示されるように、例えば、最小二乗法により各反射角度を結ぶ近似直線を導出する。 In step 156, as the change information, as shown in FIG. 21, for example, an approximate straight line connecting the reflection angles is derived by the least square method.
次のステップ158では、導出した近似直線に基づいて、図22に示されるように、測定結果を補正し、次のステップ160では、補正後の測定結果においてバッファ液と当該バッファ液後にアナライト溶液を供給した際の平均角度差の変化(差)を測定し、当該差を屈折率変化データとしてHDD70Dに記憶させて、本屈折率変化データ導出処理を終了する。 In the next step 158, the measurement result is corrected based on the derived approximate straight line as shown in FIG. 22, and in the next step 160, the buffer solution and the analyte solution after the buffer solution are corrected in the corrected measurement result. The change (difference) in the average angle difference at the time of supply is measured, the difference is stored in the HDD 70D as refractive index change data, and the refractive index change data deriving process is terminated.
制御部70は、HDD70Dに記憶した屈折率変化データに基づいて、タンパクTaと試料Aとの反応状態を測定し、測定結果をディスプレイ14に表示させる。 The control unit 70 measures the reaction state between the protein Ta and the sample A based on the refractive index change data stored in the HDD 70D, and displays the measurement result on the display 14.
以上のように本実施の形態によれば、薄膜57上のタンパクTaの付着領域に、タンパクTaの特性の測定に用いる複数種類のアナライト溶液と測定の基準となる所定濃度のバッファ液を交互に供給させて、薄膜57上に付着したタンパクTaの屈折率を複数回測定しており、バッファ液が供給された状態で測定された各屈折率に基づき、屈折率が1回前に測定された屈折率よりも所定値ΔS以上増加している場合に当該所定値ΔS以上増加した屈折率が測定された回以降の所定回数分の屈折率の測定結果を除外して、屈折率の経時的な変化を示す変化情報を導出し、導出した変化情報に基づいて測定結果を補正しているので、屈折率が経時的に変化するドリフト現象を精度良く補正することができる。 As described above, according to the present embodiment, a plurality of types of analyte solutions used for measuring the characteristics of protein Ta and a buffer solution having a predetermined concentration serving as a reference for measurement are alternately applied to the protein Ta adhesion region on the thin film 57. The refractive index of the protein Ta adhering to the thin film 57 is measured several times, and the refractive index is measured once before based on each refractive index measured with the buffer solution supplied. When the refractive index is increased by a predetermined value ΔS or more than the measured refractive index, the refractive index measurement result for a predetermined number of times after the measurement of the refractive index increased by the predetermined value ΔS is excluded. Since the change information indicating the change is derived and the measurement result is corrected based on the derived change information, the drift phenomenon in which the refractive index changes with time can be accurately corrected.
また、本実施の形態によれば、薄膜57上のタンパクTaの付着領域に、アナライト溶液とバッファ液を交互に供給しているので、タンパクTaとアナライトが反応した場合であっても次に供給されるバッファ液で洗い流されるため、各アナライト溶液を供給した際の反応状態を精度良く検出することができる。 In addition, according to the present embodiment, the analyte solution and the buffer solution are alternately supplied to the adhesion region of the protein Ta on the thin film 57, so even if the protein Ta and the analyte react, Therefore, the reaction state when each analyte solution is supplied can be accurately detected.
なお、本実施の形態では、薄膜57上のタンパクTaの付着領域に、アナライト溶液とバッファ液を交互に供給する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、アナライト溶液を所定回(例えば、3回)供給する度にバッファ溶液を供給するものとしてもよい。 In the present embodiment, the case where the analyte solution and the buffer solution are alternately supplied to the protein Ta adhesion region on the thin film 57 has been described. However, the present invention is not limited to this, for example, The buffer solution may be supplied every time the analyte solution is supplied a predetermined number of times (for example, three times).
また、本実施の形態では、変化情報として近似直線を導出する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、特定の関数を用いて近似してもよい。 In the present embodiment, the case where an approximate line is derived as change information has been described. However, the present invention is not limited to this, and approximation may be performed using a specific function.
また、本実施の形態では、CCD36Bにより生成された画像情報により示される2次元の画像に対して畳み込み演算を行うことにより1次元の光強度分布を示す分布情報を取得する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、比較的細い光ビームを入射角を変化させて界面に入射させ、入射した光ビームの入射角の変化に従って、反射角が変化する光ビームを、反射角の変化に同期して移動する小さな光検出器によって検出して光ビームの光強度分布を示す分布情報を取得するものとしてもよい。 In the present embodiment, a case has been described in which distribution information indicating a one-dimensional light intensity distribution is acquired by performing a convolution operation on a two-dimensional image indicated by the image information generated by the CCD 36B. The present invention is not limited to this. For example, a relatively thin light beam is incident on the interface while changing the incident angle, and a light beam whose reflection angle changes according to a change in the incident angle of the incident light beam. Alternatively, distribution information indicating the light intensity distribution of the light beam may be acquired by detection with a small photodetector that moves in synchronization with the change in the reflection angle.
また、本実施の形態では、分布情報により示される光強度分布から平滑化した光強度分布を減算して暗線位置を検出する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、全反射減衰が発生していない状態の光ビームの光強度分布を示す基準データを予め暗線位置検出部84に記憶させておき、暗線位置検出部84が、分布情報により示される光強度分布と記憶した基準データにより示される光強度分布との差分や除算を求めることにより、差分強度分布を導出するものとしてもよい。 In the present embodiment, the case where the dark line position is detected by subtracting the smoothed light intensity distribution from the light intensity distribution indicated by the distribution information has been described, but the present invention is not limited to this. For example, reference data indicating the light intensity distribution of a light beam in a state where total reflection attenuation has not occurred is stored in the dark line position detection unit 84 in advance, and the dark line position detection unit 84 stores the light intensity distribution indicated by the distribution information. The difference intensity distribution may be derived by obtaining a difference or division from the light intensity distribution indicated by the stored reference data.
また、本実施の形態では、分布情報により示される光強度分布から平滑化した光強度分布を減算して暗線位置を検出する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、光強度分布において暗線が発生する範囲が特定できる場合、分布情報により示される光強度分布の強度が閾値以下でかつ暗線が発生する範囲内の領域の面積から暗線位置を検出するものとしもよい。 In the present embodiment, the case where the dark line position is detected by subtracting the smoothed light intensity distribution from the light intensity distribution indicated by the distribution information has been described, but the present invention is not limited to this. For example, when the range where the dark line is generated in the light intensity distribution can be specified, the dark line position may be detected from the area of the area within the range where the intensity of the light intensity distribution indicated by the distribution information is equal to or less than the threshold and the dark line is generated. Good.
さらに、本実施の形態の全反射減衰を利用する他の測定装置としては、漏洩モード検出器をあげることができる。漏洩モードセンサは、誘電体と、この上に順に層設されたクラッド層と光導波層とによって構成された薄膜とからなり、この薄膜の一方の面がセンサ面となり、他方の面が光入射面となる。光入射面に全反射条件を満たすように光を入射させると、その一部が前記クラッド層を透過して前記光導波層に取り込まれる。そして、この光導波層において、導波モードが励起されると、前記光入射面における反射光が大きく減衰する。導波モードが励起される入射角は、表面プラズモン共鳴角と同様に、センサ面上の媒質の屈折率に応じて変化する。この反射光の減衰を検出することにより、前記センサ面上の反応を測定することができる。 Furthermore, a leaky mode detector can be given as another measuring apparatus using the total reflection attenuation of the present embodiment. The leakage mode sensor is composed of a dielectric, and a thin film composed of a clad layer and an optical waveguide layer that are sequentially layered thereon. One surface of the thin film serves as a sensor surface, and the other surface receives light. It becomes a surface. When light is incident on the light incident surface so as to satisfy the total reflection condition, a part of the light is transmitted through the cladding layer and taken into the optical waveguide layer. In this optical waveguide layer, when the waveguide mode is excited, the reflected light at the light incident surface is greatly attenuated. The incident angle at which the waveguide mode is excited varies according to the refractive index of the medium on the sensor surface, similarly to the surface plasmon resonance angle. By detecting the attenuation of the reflected light, the reaction on the sensor surface can be measured.
その他、本実施の形態で説明した測定装置の構成(図1〜図12参照。)は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。 In addition, the configuration of the measurement apparatus described in this embodiment (see FIGS. 1 to 12) is merely an example, and it is needless to say that the measurement apparatus can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention.
また、本実施の形態で説明した暗線位置導出処理(図14参照。)と屈折率変化データ導出処理(図16参照)の処理の流れも一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。 Further, the flow of the dark line position deriving process (see FIG. 14) and the refractive index change data deriving process (see FIG. 16) described in the present embodiment is also an example, and within the scope not departing from the gist of the present invention. Needless to say, it can be changed as appropriate.
10 バイオセンサー(測定装置)
20 分注ヘッド(供給手段)
52 誘電体ブロック(光透過性部材)
70 制御部(測定手段、導出手段、補正手段)
10 Biosensor (measuring device)
20 dispensing head (supply means)
52 Dielectric block (light transmissive member)
70 Control unit (measuring means, deriving means, correcting means)
Claims (4)
前記薄膜層上の前記検体物質の付着領域に、前記検体物質の特性の測定に用いる複数種類の溶液、及び測定の基準となる所定の基準溶液を各々供給する供給手段と、
前記供給手段により前記複数種類の溶液を各々個別に供給させると共に、前記溶液を所定回供給する度に前記基準溶液を供給させて、前記薄膜層上に付着した前記検体物質の屈折率情報を複数回測定する測定手段と、
前記供給手段により前記基準溶液が供給された状態で前記測定手段により測定された各屈折率情報に基づき、屈折率情報が1回前に測定された屈折率情報よりも所定値以上増加している場合に当該所定値以上増加した屈折率情報が測定された回以降の所定回数分の屈折率情報の測定結果を除外して、屈折率情報の経時的な変化を示す変化情報を導出する導出手段と、
前記導出手段により導出された変化情報に基づいて前記測定手段による測定結果を補正する補正手段と、
を備えた測定装置。 A light-transmitting member having a light-transmitting property, in which a thin-film layer is formed in part and a specimen substance to be measured is attached on the thin-film layer;
Supply means for supplying each of a plurality of types of solutions used for measuring the characteristics of the specimen substance and a predetermined reference solution serving as a measurement reference to the specimen substance adhesion region on the thin film layer;
A plurality of types of solutions are individually supplied by the supply means, and the reference solution is supplied each time the solution is supplied a predetermined number of times, so that a plurality of pieces of refractive index information of the analyte substance adhering to the thin film layer are supplied. Measuring means for measuring times,
Based on each refractive index information measured by the measuring means in a state where the reference solution is supplied by the supplying means, the refractive index information is increased by a predetermined value or more than the refractive index information measured once before. In this case, a derivation means for deriving change information indicating a change in refractive index information over time by excluding a predetermined number of refractive index information measurement results after the measurement of the refractive index information increased by a predetermined value or more. When,
Correction means for correcting the measurement result by the measurement means based on the change information derived by the derivation means;
Measuring device.
請求項1記載の測定装置。 The measuring means is a light intensity distribution of a light beam incident on the light transmissive member at a plurality of angles and totally reflected at the interface so as to be totally reflected at the interface between the light transmissive member and the thin film layer. The measurement apparatus according to claim 1, wherein the refractive index information of the specimen substance is measured by detecting a reflection angle at which a dark line is generated due to total reflection attenuation.
前記測定手段は、前記光透過性部材と前記薄膜層との界面の前記付着領域及び前記未着領域において各々全反射された光ビームの光強度分布から暗線が発生した反射角度を各々測定し、前記付着領域において暗線が発生した反射角度を、前記未着領域において暗線が発生した反射角度で校正して前記検体物質の屈折率情報を測定する
請求項2記載の測定装置。 The thin film layer is provided with an attachment region to which the specimen material is attached and an unattached region to which the specimen material is not attached,
The measuring means measures a reflection angle at which a dark line is generated from a light intensity distribution of a light beam totally reflected in each of the adhesion region and the non-attachment region at the interface between the light transmissive member and the thin film layer, The measuring apparatus according to claim 2, wherein the refractive index information of the specimen substance is measured by calibrating the reflection angle at which the dark line is generated in the adhesion region with the reflection angle at which the dark line is generated in the non-attached region.
請求項1から請求項3の何れか1項記載の測定装置。 The measurement apparatus according to claim 1, wherein the measurement unit supplies the reference solution every time the type of the solution is switched by the supply unit when measuring refractive index information.
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