[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2008047744A - 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 - Google Patents

照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008047744A
JP2008047744A JP2006222906A JP2006222906A JP2008047744A JP 2008047744 A JP2008047744 A JP 2008047744A JP 2006222906 A JP2006222906 A JP 2006222906A JP 2006222906 A JP2006222906 A JP 2006222906A JP 2008047744 A JP2008047744 A JP 2008047744A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
illumination
optical
light
integrator
diffractive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006222906A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4883482B2 (ja
Inventor
Hirohisa Tanaka
裕久 田中
Osamu Tanitsu
修 谷津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2006222906A priority Critical patent/JP4883482B2/ja
Publication of JP2008047744A publication Critical patent/JP2008047744A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4883482B2 publication Critical patent/JP4883482B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】 並列配置された2つの内面反射型のオプティカルインテグレータを用いて、2つの領域を所要の照明条件で個別に照明することのできる照明光学装置。
【解決手段】 第1照明領域(IR1)を照明する第1照明系は、その照明瞳に所望の光強度分布を形成する第1回折光学素子(3A)と、第1照明領域を照明する光を均一化する内面反射型の第1オプティカルインテグレータ(5A)と、第1回折光学素子と第1オプティカルインテグレータとを光学的に共役にする第1リレー光学系(7)とを有する。第2照明領域(IR2)を照明する第2照明系は、その照明瞳に所望の光強度分布を形成する第2回折光学素子(3B)と、第2照明領域を照明する光を均一化する内面反射型の第2オプティカルインテグレータ(5B)と、第2回折光学素子と第2オプティカルインテグレータとを光学的に共役にする第2リレー光学系(7)とを有する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法に関し、特に半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等のデバイスをリソグラフィー工程で製造するための露光装置に好適な照明光学装置に関するものである。
半導体素子等を製造するためのフォトリソグラフィー工程において、マスク(またはレチクル)のパターン像を、投影光学系を介して、感光性基板(フォトレジストが塗布されたウェハ、ガラスプレート等)上に投影露光する露光装置が使用されている。通常の露光装置では、1種類のパターンを感光性基板上の1つのショット領域(単位露光領域)に形成している。
これに対し、スループットを向上させるために、2種類のパターンを感光性基板上の同一ショット領域に重ね焼きして1つの合成パターンを形成する二重露光方式が提案されている(特許文献1を参照)。
特開2000−21748号公報
二重露光方式の露光装置では、2つの領域を個別に照明すること、例えば転写パターンの特性に応じた所要の照明条件で個別に照明することが重要である。一方、マスク上の照度を均一化し、ひいては感光性基板上の照度を均一化するためのオプティカルインテグレータとして、フライアイレンズやマイクロフライアイレンズのような波面分割型のオプティカルインテグレータ以外に、ロッドインテグレータのような内面反射型のオプティカルインテグレータが知られている。
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであり、並列配置された2つの内面反射型のオプティカルインテグレータを用いて、2つの領域を所要の照明条件で個別に照明することのできる照明光学装置を提供することを目的とする。また、本発明は、2つの領域を所要の照明条件で個別に照明する照明光学装置を用いて、二重露光方式により微細パターンを感光性基板に高スループットで露光することのできる露光装置を提供することを目的とする。
前記課題を解決するために、本発明の第1形態では、第1照明領域を照明する第1照明系と、第2照明領域を照明する第2照明系とを備えた照明光学装置であって、
前記第1照明系は、前記第1照明系の照明瞳に所望の光強度分布を形成するために入射光を回折させる第1回折光学素子と、前記第1照明領域を照明する光を均一化する内面反射型の第1オプティカルインテグレータと、前記第1回折光学素子の回折面と前記第1オプティカルインテグレータの入射面とを光学的に共役にする第1リレー光学系とを有し、
前記第2照明系は、前記第2照明系の照明瞳に所望の光強度分布を形成するために入射光を回折させる第2回折光学素子と、前記第2照明領域を照明する光を均一化する内面反射型の第2オプティカルインテグレータと、前記第2回折光学素子の回折面と前記第2オプティカルインテグレータの入射面とを光学的に共役にする第2リレー光学系とを有することを特徴とする照明光学装置を提供する。
本発明の第2形態では、第1形態の照明光学装置を備え、該照明光学装置により照明されたパターンを感光性基板に露光することを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第3形態では、第2形態の露光装置を用いて、前記パターンを前記感光性基板に露光する露光工程と、
前記露光工程を経た前記感光性基板を現像する現像工程とを含むことを特徴とするデバイス製造方法を提供する。
本発明の照明光学装置では、並列配置された2つの内面反射型のオプティカルインテグレータを用いて、照明瞳での光強度分布の形状または大きさをパラメータとする所要の照明条件で、2つの領域を個別に照明することができる。したがって、本発明の露光装置では、2つの領域を所要の照明条件で個別に照明する照明光学装置を用いて、二重露光方式により微細パターンを感光性基板に高スループットで露光することができ、ひいては良好なデバイスを高スループットで製造することができる。
本発明の実施形態を、添付図面に基づいて説明する。図1は、本発明の実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。図1において、感光性基板であるウェハWの法線方向に沿ってY軸を、ウェハWの面内において図1の紙面に平行な方向にZ軸を、ウェハWの面内において図1の紙面に垂直な方向にX軸をそれぞれ設定している。図1を参照すると、本実施形態の露光装置は、露光光(照明光)を供給するための光源1を備えている。
光源1として、たとえば約193nmの波長を有する光を供給するArFエキシマレーザ光源や約248nmの波長を有する光を供給するKrFエキシマレーザ光源などを用いることができる。光源1から光軸AXに沿って射出された光束は、整形光学系2により所要の断面形状の光束に拡大された後、一対の回折光学素子3Aおよび3Bを介して、アフォーカルレンズ4に入射する。回折光学素子3Aは、マスクM上の第1照明領域IR1を照明する第1照明系の光路に対して挿脱自在に構成され、そのファーフィールドに異なる光強度分布を形成する他の回折光学素子と交換可能に構成されている。
回折光学素子3Bは、マスクM上の第2照明領域IR2を照明する第2照明系の光路に対して挿脱自在に構成され、そのファーフィールドに異なる光強度分布を形成する他の回折光学素子と交換可能に構成されている。回折光学素子3A,3Bの交換は、制御部20からの指令に基づいて動作する駆動部(不図示)により行われる。以下、説明を簡単にするために、第1照明系の光路中に配置された回折光学素子3Aおよび第2照明系の光路中に配置された回折光学素子3Bがともに2極照明用の回折光学素子であるものとする。
第1照明系と第2照明系とに共通のアフォーカルレンズ4は、前側レンズ群4aの前側焦点位置と回折光学素子3A,3Bの位置とがほぼ一致し且つ後側レンズ群4bの後側焦点位置と一対のロッドインテグレータ5A,5Bの入射面の位置とがほぼ一致するように設定されたアフォーカル系(無焦点光学系)である。すなわち、アフォーカルレンズ4は、回折光学素子3A,3Bの回折面とロッドインテグレータ5A,5Bの入射面とを光学的に共役にするリレー光学系を構成している。
一般に、回折光学素子は、基板に露光光(照明光)の波長程度のピッチを有する段差を形成することによって構成され、入射ビームを所望の角度に回折する作用を有する。具体的に、一対の回折光学素子3Aおよび3Bは、図2(a)に示すように、照明光学装置の光軸AXを挟んでZ方向に並んで配置されている。第1照明系の回折光学素子3Aは、矩形状の断面を有する平行光束が入射した場合、そのファーフィールド(またはフラウンホーファー回折領域)にZ方向に間隔を隔てた2極状の光強度分布を形成する機能を有する。したがって、回折光学素子3Aに入射したほぼ平行光束は、図2(b)に示すように、アフォーカルレンズ4の瞳面に、第1照明系の光軸AX1を中心としてZ方向に間隔を隔てた2つの光強度分布を形成する。
第2照明系の回折光学素子3Bは、矩形状の断面を有する平行光束が入射した場合、そのファーフィールド(またはフラウンホーファー回折領域)にX方向に間隔を隔てた2極状の光強度分布を形成する機能を有する。したがって、回折光学素子3Bに入射したほぼ平行光束は、図2(c)に示すように、アフォーカルレンズ4の瞳面に、第2照明系の光軸AX2を中心としてX方向に間隔を隔てた2つの光強度分布を形成する。回折光学素子3Aおよびアフォーカルレンズ4を介した光束は第1照明系中のロッドインテグレータ5Aに入射し、回折光学素子3Bおよびアフォーカルレンズ4を介した光束は第2照明系中のロッドインテグレータ5Bに入射する。
ロッドインテグレータ5A,5Bは、照明領域IR1,IR2を照明する光の照度を均一化する内面反射型のオプティカルインテグレータであって、例えば矩形状の断面を有し、矩形状の断面の隣り合う2つの辺がX方向およびZ方向にそれぞれ平行になるような姿勢で位置決めされている。ロッドインテグレータ5A,5Bは、例えば石英や蛍石のような光学材料からなる内面反射型のロッドであり、内部と外部との境界面すなわち内面での全反射を利用して集光点を通りロッド入射面に平行な面に沿って内面反射数に応じた数の光源像を形成する。ここで、形成される光源像のほとんどは虚像であるが、中心(集光点)の光源像のみが実像となる。すなわち、ロッドインテグレータ5A,5Bに入射した光束は、内面反射により角度方向に分割され、集光点を通りその入射面に平行な面に沿って多数の光源像からなる二次光源が形成される。
具体的に、第1照明系のロッドインテグレータ5Aに入射した光束は、回折光学素子3Aを介した光束がアフォーカルレンズ4の瞳面に形成する光強度分布に対応して、二次光源としてZ方向2極状の光強度分布を形成する。一方、第2照明系のロッドインテグレータ5Bに入射した光束は、回折光学素子3Bを介した光束がアフォーカルレンズ4の瞳面に形成する光強度分布に対応して、二次光源としてX方向2極状の光強度分布を形成する。ロッドインテグレータ5A,5Bによりその入射側に形成された二次光源からの光束は、その射出面の近傍に配置されたマスクブラインド6A,6Bを重畳的に照明する。
照明視野絞りとしてのマスクブラインド6Aおよび6Bの矩形状の開口部(光透過部)を介した光束は、前側レンズ群7aと後側レンズ群7bとからなる結像光学系7の集光作用を受けた後、マスクM上の第1照明領域IR1および第2照明領域IR2をそれぞれ重畳的に照明する。すなわち、第1照明系と第2照明系とに共通の結像光学系7は、マスクブラインド6Aの矩形状開口部の像を第1照明領域IR1に形成し、マスクブラインド6Bの矩形状開口部の像を第2照明領域IR2に形成する。このとき、ロッドインテグレータ5Aからの光束は、前側レンズ群7aと後側レンズ群7bとの間の結像光学系7の瞳面に、図2(b)に示すようなZ方向2極状の光強度分布を形成する。また、ロッドインテグレータ5Bからの光束は、結像光学系7の瞳面に、図2(c)に示すようなX方向2極状の光強度分布を形成する。
なお、マスクブラインド6Aの直後には1/2波長板8Aが第1照明系の光路に対して挿脱自在に設けられ、マスクブラインド6Bの直後には1/2波長板8Bが第2照明系の光路に対して挿脱自在に設けられている。1/2波長板8A,8Bの照明光路に対する挿脱動作は、制御部20からの指令に基づいて動作する駆動部(不図示)により行われる。1/2波長板8A,8Bの作用については後述する。マスクステージMSにより保持されたマスクM上の第1照明領域IR1を通過した第1光束および第2照明領域IR2を通過した第2光束は、投影光学系PLを介して、ウェハステージWSにより保持されたウェハ(感光性基板)W上に、第1照明領域IR1の光により照明されたパターン像および第2照明領域IR2の光により照明されたパターン像を形成する。
さらに詳細には、ロッドインテグレータ5Aの入射側の照明瞳(第1照明系の照明瞳)にZ方向2極状の光強度分布を形成した第1光束は、結像光学系7の瞳面に同じくZ方向2極状の光強度分布を形成した後、図3(a)に示すように、マスクM上においてX方向に細長く延びる矩形状の第1照明領域IR1を照明する。ロッドインテグレータ5Bの入射側の照明瞳(第2照明系の照明瞳)にX方向2極状の光強度分布を形成した第2光束は、結像光学系7の瞳面に同じくX方向2極状の光強度分布を形成した後、図3(a)に示すように、マスクM上においてX方向に細長く延びる矩形状の第2照明領域IR2を照明する。
ここで、第1照明領域IR1と第2照明領域IR2とは互いに同じ大きさを有し、光軸AXを挟んでZ方向に並んで形成される。そして、マスクMのパターン領域PAのうち、第1照明領域IR1に対応するパターンがZ方向2極照明され、第2照明領域IR2に対応するパターンがX方向2極照明される。こうして、図3(b)に示すように、投影光学系PLの矩形状の有効結像領域ERには、第1照明領域IR1の光により照明されたマスクMのパターン像IM1と第2照明領域IR2の光により照明されたマスクMのパターン像IM2とがZ方向に並んで形成される。
本実施形態では、投影光学系PLに対してマスクMおよびウェハWをZ方向に沿って同期的に移動させつつ、ウェハW上の1つのショット領域に、第1照明領域IR1の光により照明されたマスクMのパターンと第2照明領域IR2の光により照明されたマスクMのパターンとを重ねて走査露光して1つの合成パターンを形成する。そして、投影光学系PLに対してウェハWをXZ平面に沿って二次元的にステップ移動させつつ、上述の重ね走査露光を繰り返すことにより、ウェハW上の各ショット領域に、第1照明領域IR1の光により照明されたマスクMのパターンと第2照明領域IR2の光により照明されたマスクMのパターンとの合成パターンが逐次形成される。
図4(a)はロッドインテグレータの作用を、(b)はロッドインテグレータの瞳面内偏光分布を模式的に示す図である。図4(a)に示すように、ロッドインテグレータ5A,5Bは、内部と外部との境界面すなわち内面での全反射を利用して集光点を通りロッド入射面に平行な面に沿って内面反射数に応じた数の光源像を形成する。すなわち、ロッドインテグレータ5A,5Bに入射した光束は内面反射により角度方向に分割され、集光点を通りその入射面に平行な面(ロッドインテグレータ5A,5Bの瞳面)に沿って多数の光源像からなる二次光源が形成される。
例えばX方向に偏光するX方向直線偏光状態の光がロッドインテグレータ5A,5Bに入射する場合、ロッド内の全反射により位相飛びが発生し、図4(b)の瞳面内偏光分布に示すように、反射面に直角な方向以外では偏光状態が変化する。図4(b)において、両方向矢印は光が矢印方向に偏光する直線偏光状態であることを示し、円は光が円偏光状態であることを示し、楕円は光が楕円偏光状態であることを示している。上述したように、ロッドインテグレータ5A,5Bは矩形状の断面を有し、その反射面はXY平面またはXZ平面に平行である。
したがって、ロッドインテグレータ5A,5Bの瞳面内においてX方向に沿った中央領域(図中の水平中央領域)では光の偏光状態が変化することなくX方向直線偏光状態であり、Z方向に沿った中央領域(図中の鉛直中央領域)においても光の偏光状態が変化することなくX方向直線偏光状態である。本実施形態では、図2(b)および(c)に示すように、ロッドインテグレータ5Aおよび5Bの瞳面内にZ方向2極状の光強度分布およびX方向2極状の光強度分布がそれぞれ形成されるため、ロッドインテグレータ5Aおよび5Bから射出される光束の偏光状態はほとんどX方向直線偏光状態のまま維持される。
本実施形態では、偏光子としての1/2波長板8Aを第1照明系の光路中に挿入することにより、ロッドインテグレータ5Aから射出される光束の偏光状態を任意の方向に偏光する直線偏光状態に変更することができる。同様に、偏光子としての1/2波長板8Bを第2照明系の光路中に挿入することにより、ロッドインテグレータ5Bから射出される光束の偏光状態を任意の方向に偏光する直線偏光状態に変更することができる。一般に、露光装置では、ウェハWに照射される光がS偏光を主成分とする偏光状態になるように、所要の直線偏光状態の光でマスクMのパターンを照明することが好ましい。
ここで、S偏光とは、入射面に対して垂直な方向に偏光方向を有する直線偏光(入射面に垂直な方向に電気ベクトルが振動している偏光)のことである。また、入射面は、光が媒質の境界面(ウェハWの表面)に達したときに、その点での境界面の法線と光の入射方向とを含む面として定義される。このように、ウェハWに照射される光がS偏光を主成分とする偏光状態になるように所要の直線偏光状態の光でマスクパターンを照明することにより、投影光学系PLの光学性能(焦点深度など)の向上を図ることができ、ウェハW上においてコントラストの高いパターン像を得ることができる。
本実施形態では、回折光学素子5Aの作用により、第1照明領域IR1に対応するパターンに対して、図5(a)に示すようなZ方向2極照明を行う。そして、1/2波長板8Aを第1照明系の光路から退避させることにより、第1照明系の照明瞳(ロッドインテグレータ5Aの瞳面内)に光軸AX1を挟んでZ方向に間隔を隔てて形成される2極状の二次光源からの光束を、X方向に偏光するX方向直線偏光状態に設定する。その結果、第1照明領域IR1の光により照明されたマスクMのパターンのうち、X方向に沿って細長く延びるX方向パターンが最終的な被照射面としてのウェハWに結像する光はS偏光を主成分とする偏光状態になり、ウェハW上においてコントラストの高いパターン像を得ることができる。
同様に、回折光学素子5Bの作用により、第2照明領域IR2に対応するパターンに対して、図5(b)に示すようなX方向2極照明を行う。そして、1/2波長板8Bを第2照明系の光路中に設定することにより、第2照明系の照明瞳(ロッドインテグレータ5Bの瞳面内)に光軸AX2を挟んでX方向に間隔を隔てて形成される2極状の二次光源からの光束を、Z方向に偏光するZ方向直線偏光状態に設定する。その結果、第2照明領域IR2の光により照明されたマスクMのパターンのうち、Z方向に沿って細長く延びるZ方向パターンがウェハWに結像する光はS偏光を主成分とする偏光状態になり、ウェハW上においてコントラストの高いパターン像を得ることができる。
本実施形態では、2極照明用の回折光学素子3A,3Bに代えて、円形照明用の回折光学素子(不図示)を照明光路中に設定することによって、円形照明を行うことができる。具体的に、円形照明用の回折光学素子は、矩形状の断面を有する平行光束が入射した場合に、そのファーフィールドに円形状の光強度分布を形成する機能を有する。したがって、一対の円形照明用の回折光学素子を介した光束は、第1照明系の照明瞳および第2照明系の照明瞳に、たとえば光軸AX1およびAX2を中心とした円形状の二次光源をそれぞれ形成する。本実施形態では、第1照明系の照明瞳および第2照明系の照明瞳において比較的小さい円形状の二次光源を形成し、これらの円形状の二次光源からの光束をX方向直線偏光状態とZ方向直線偏光状態とにそれぞれ設定しても上述の2極照明の場合と同様の効果が得られる。
また、2極照明用の回折光学素子3A,3Bに代えて、輪帯照明用の回折光学素子(不図示)や他の複数極照明用の回折光学素子(不図示)を照明光路中に設定することによって、輪帯照明や複数極照明(3極照明、4極照明、5極照明など)を行うことができる。すなわち、例えば輪帯照明、円形照明、複数極照明などから選択された任意の照明形態で、第1照明領域IR1および第2照明領域IR2を独立に照明することができる。また、1/2波長板8A,8Bの照明光路に対する挿脱動作を制御することにより、第1照明領域IR1を照明する光と第2照明領域IR2を照明する光とを互いに異なる偏光状態に設定したり、互いに同じ偏光状態に設定したりすることができる。
以上のように、本実施形態の照明光学装置では、並列配置された2つの内面反射型のロッドインテグレータ5A,5Bを用いて、照明瞳での光強度分布の形状または大きさ、照明光の偏光状態などをパラメータとする所要の照明条件で、マスクM上の第1照明領域IR1および第2照明領域IR2を個別に照明することができる。その結果、本実施形態の露光装置では、2つの照明領域IR1およびIR2を所要の照明条件で個別に照明する照明光学装置を用いて、二重露光方式によりマスクMの微細パターンをウェハWに高精度に且つ高スループットで露光することができる。
図6は、本実施形態の変形例にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。図6の変形例は、図1の実施形態と類似の構成を有するが、整形光学系2と一対の回折光学素子3A,3Bとの間の光路中に偏光ビームスプリッター9を付設するとともに1/2波長板8A,8Bの配置を省略している点が図1の実施形態と基本的に相違している。図6では、図1の実施形態における構成要素と同じ機能を果たす要素に、図1と同じ参照符号を付している。以下、図1の実施形態との相違点に着目して、図6の変形例の構成および作用を説明する。
図6の変形例では、光源1からの光束が、整形光学系2を介して、偏光ビームスプリッター9に入射する。偏光ビームスプリッター9で反射されたS偏光の光すなわちX方向に偏光する直線偏光の光は、第1照明系の光軸AX1に沿って回折光学素子3Aに入射する。一方、偏光ビームスプリッター9を透過したP偏光の光すなわちY方向に偏光する直線偏光の光は、光路折り曲げ反射鏡10により反射されてZ方向に偏光する直線偏光の光となり、第2照明系の光軸AX2に沿って回折光学素子3Bに入射する。
こうして、第1照明系中の回折光学素子3Aに入射した光は、アフォーカルレンズ4、ロッドインテグレータ5A、マスクブラインド6A、および結像光学系7を介して、X方向に偏光するX方向直線偏光状態のZ方向2極照明で、マスクM上の第1照明領域IR1を照明する。また、第2照明系中の回折光学素子3Bに入射した光は、アフォーカルレンズ4、ロッドインテグレータ5B、マスクブラインド6B、および結像光学系7を介して、Z方向に偏光するZ方向直線偏光状態のX方向2極照明で、マスクM上の第2照明領域IR2を照明する。
さらに、2極照明用の回折光学素子3A,3Bに代えて、円形照明用や輪帯照明用や他の複数極照明用の回折光学素子(不図示)を照明光路中に設定することによって、例えば輪帯照明、円形照明、複数極照明などから選択された任意の照明形態で、第1照明領域IR1および第2照明領域IR2を独立に照明することができる。また、偏光ビームスプリッター9の作用により、第1照明領域IR1を照明する光と第2照明領域IR2を照明する光とを互いに異なる偏光状態に設定することができる。
なお、上述の実施形態および変形例では、第1照明系と第2照明系とに共通のアフォーカルレンズ(リレー光学系)を用いているが、これに限定されることなく、第1照明系および第2照明系にそれぞれリレー光学系を個別配置することもできる。同様に、第1照明系と第2照明系とに共通の結像光学系を用いているが、これに限定されることなく、第1照明系および第2照明系にそれぞれ結像光学系を個別配置することもできる。
また、上述の実施形態では、第1照明領域を照明する光と第2照明領域を照明する光とを互いに異なる偏光状態に設定する偏光設定部として、ロッドインテグレータの射出面の近傍位置において照明光路に対して挿脱自在な1/2波長板を用いている。しかしながら、これに限定されることなく、例えば1/2波長板以外の偏光子をロッドインテグレータの射出面とマスクとの間の適当な位置に挿脱自在に配置することにより、第1照明領域を照明する光と第2照明領域を照明する光とを互いに異なる偏光状態に設定することができる。すなわち、偏光設定部の構成については様々な形態が可能である。
また、上述の実施形態および変形例では、第1照明領域と第2照明領域とが走査方向(スキャン方向)であるZ方向に並ぶように形成されている。しかしながら、これに限定されることなく、図7(a)に示すように、第1照明領域IR1と第2照明領域IR2とが走査方向であるX方向と直交するZ方向に並ぶように形成することも可能である。この場合、図7(b)に示すように、投影光学系PLの矩形状の有効結像領域ERには、第1照明領域IR1の光により照明されたマスクMのパターン像IM1と第2照明領域IR2の光により照明されたマスクMのパターン像IM2とが走査方向であるX方向と直交するZ方向に並んで形成される。
ところで、上述の実施形態および変形例において、例えばアフォーカルレンズ4の前側レンズ群4aの光路中にアキシコン系(円錐アキシコン系、角錐アキシコン系、V溝アキシコン系など)を配置して、第1照明系および第2照明系の照明瞳に形成される光強度分布の形状を変化させることができる。また、アフォーカルレンズ4をアフォーカルズームレンズとして構成することにより、第1照明系および第2照明系の照明瞳に形成される光強度分布の大きさを変化させることができる。
円錐アキシコン系は光軸を中心とする円錐体の側面に対応する形状の屈折面を有し、角錐アキシコン系は光軸を中心とする角錐体の側面に対応する形状の屈折面を有し、V溝アキシコン系は光軸を通る所定の軸線に関してほぼ対称なV字状の断面形状の屈折面を有する。円錐アキシコン系、角錐アキシコン系およびV溝アキシコン系の構成および作用については、特開2002−231619号公報などを参照することができる。なお、ロッドインテグレータ7A,7BとマスクMとの間に光路折り曲げ反射鏡を配置する場合、この反射鏡に起因して光の偏光状態が実質的に変化することがないように、反射鏡のP−S反射率差(P偏光とS偏光との間の反射率差)およびP−S位相差(P偏光とS偏光との間に反射により発生する位相差)の設計に配慮が必要である。
なお、上述の実施形態および変形例では、第1照明領域に対応するパターンと第2照明領域に対応するパターンとを感光性基板(ウェハ)上の同一ショット領域に重ね焼きして1つの合成パターンを形成する二重露光に関連して本発明を説明している。しかしながら、これに限定されることなく、3つ以上のパターンを感光性基板上の同一ショット領域に重ね焼きして1つの合成パターンを形成する多重露光に対しても同様に本発明を適用することができる。
また、上述の実施形態および変形例では、第1照明領域のパターン像と第2照明領域のパターン像とが感光性基板上において並列的に形成されている。しかしながら、これに限定されることなく、第1照明領域のパターン像と第2照明領域のパターン像とを合致させて感光性基板上に形成することもできる。
また、上述の実施形態および変形例では、1つのマスク上に第1照明領域と第2照明領域とを互いに隣接または近接するように形成している。しかしながら、これに限定されることなく、第1マスク上に第1照明領域を形成し、第2マスク上に第2照明領域を形成することもできる。この場合、例えば図8に示すように屈折系と偏向ミラーとからなる双頭型の投影光学系PLや、図9に示すような反射屈折型で双頭型の投影光学系PLや、図10に示すようなビームスプリッターを用いる双頭型の投影光学系PLなどを用いることができる。
上述の実施形態にかかる露光装置では、照明光学装置によってマスク(レチクル)を照明し(照明工程)、投影光学系を用いてマスクに形成された転写用のパターンを感光性基板に露光する(露光工程)ことにより、マイクロデバイス(半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等)を製造することができる。以下、本実施形態の露光装置を用いて感光性基板としてのウェハ等に所定の回路パターンを形成することによって、マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法の一例につき図11のフローチャートを参照して説明する。
先ず、図11のステップ301において、1ロットのウェハ上に金属膜が蒸着される。次のステップ302において、その1ロットのウェハ上の金属膜上にフォトレジストが塗布される。その後、ステップ303において、本実施形態の露光装置を用いて、マスク上のパターンの像がその投影光学系を介して、その1ロットのウェハ上の各ショット領域に順次露光転写される。その後、ステップ304において、その1ロットのウェハ上のフォトレジストの現像が行われた後、ステップ305において、その1ロットのウェハ上でレジストパターンをマスクとしてエッチングを行うことによって、マスク上のパターンに対応する回路パターンが、各ウェハ上の各ショット領域に形成される。
その後、更に上のレイヤの回路パターンの形成等を行うことによって、半導体素子等のデバイスが製造される。上述の半導体デバイス製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する半導体デバイスをスループット良く得ることができる。なお、ステップ301〜ステップ305では、ウェハ上に金属を蒸着し、その金属膜上にレジストを塗布、そして露光、現像、エッチングの各工程を行っているが、これらの工程に先立って、ウェハ上にシリコンの酸化膜を形成後、そのシリコンの酸化膜上にレジストを塗布、そして露光、現像、エッチング等の各工程を行っても良いことはいうまでもない。
また、本実施形態の露光装置では、プレート(ガラス基板)上に所定のパターン(回路パターン、電極パターン等)を形成することによって、マイクロデバイスとしての液晶表示素子を得ることもできる。以下、図12のフローチャートを参照して、このときの手法の一例につき説明する。図12において、パターン形成工程401では、本実施形態の露光装置を用いてマスクのパターンを感光性基板(レジストが塗布されたガラス基板等)に転写露光する、所謂光リソグラフィー工程が実行される。この光リソグラフィー工程によって、感光性基板上には多数の電極等を含む所定パターンが形成される。その後、露光された基板は、現像工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の各工程を経ることによって、基板上に所定のパターンが形成され、次のカラーフィルター形成工程402へ移行する。
次に、カラーフィルター形成工程402では、R(Red)、G(Green)、B(Blue)に対応した3つのドットの組がマトリックス状に多数配列されたり、またはR、G、Bの3本のストライプのフィルターの組を複数水平走査線方向に配列されたりしたカラーフィルターを形成する。そして、カラーフィルター形成工程402の後に、セル組み立て工程403が実行される。セル組み立て工程403では、パターン形成工程401にて得られた所定パターンを有する基板、およびカラーフィルター形成工程402にて得られたカラーフィルター等を用いて液晶パネル(液晶セル)を組み立てる。
セル組み立て工程403では、例えば、パターン形成工程401にて得られた所定パターンを有する基板とカラーフィルター形成工程402にて得られたカラーフィルターとの間に液晶を注入して、液晶パネル(液晶セル)を製造する。その後、モジュール組み立て工程404にて、組み立てられた液晶パネル(液晶セル)の表示動作を行わせる電気回路、バックライト等の各部品を取り付けて液晶表示素子として完成させる。上述の液晶表示素子の製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する液晶表示素子をスループット良く得ることができる。
なお、上述の実施形態では、光源としてKrFエキシマレーザ光源またはArFエキシマレーザ光源を用いているが、これに限定されることなく、例えばF2レーザ光源のように他の適当な光源を用いる露光装置に対して本発明を適用することもできる。また、上述の実施形態では、露光装置に搭載されてマスクを照明する照明光学装置を例にとって本発明を説明しているが、マスク以外の被照射面を照明するための一般的な照明光学装置に本発明を適用することができることは明らかである。
本発明の実施形態にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。 (a)は一対の回折光学素子が並んで配置されている様子を、(b)および(c)はアフォーカルレンズの瞳面に形成される光強度分布を示す図である。 (a)は第1照明領域と第2照明領域とが走査方向に並んで形成される様子を、(b)は2つのパターン像がウェハ上で走査方向に並んで形成される様子を示す図である。 (a)はロッドインテグレータの作用を、(b)はロッドインテグレータの瞳面内偏光分布を模式的に示す図である。 (a)は第1照明系の照明瞳に形成される光強度分布を、(b)は第2照明系の照明瞳に形成される光強度分布を示す図である。 本実施形態の変形例にかかる露光装置の構成を概略的に示す図である。 (a)は第1照明領域と第2照明領域とが走査方向と直交する方向に並んで形成される様子を、(b)は2つのパターン像がウェハ上で走査方向と直交する方向に並んで形成される様子を示す図である。 屈折系と偏向ミラーとからなる双頭型の投影光学系の構成を概略的に示す図である。 反射屈折型で双頭型の投影光学系の構成を概略的に示す図である。 ビームスプリッターを用いる双頭型の投影光学系の構成を概略的に示す図である。 マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法のフローチャートである。 マイクロデバイスとしての液晶表示素子を得る際の手法のフローチャートである。
符号の説明
1 光源
3A,3B 回折光学素子
4 アフォーカルレンズ
5A,5B ロッドインテグレータ(内面反射型のオプティカルインテグレータ)
6A,6B マスクブラインド
7 結像光学系
8A,8B 1/2波長板(偏光子)
9 偏光ビームスプリッター
20 制御部
M マスク
PL 投影光学系
W ウェハ

Claims (12)

  1. 第1照明領域を照明する第1照明系と、第2照明領域を照明する第2照明系とを備えた照明光学装置であって、
    前記第1照明系は、前記第1照明系の照明瞳に所望の光強度分布を形成するために入射光を回折させる第1回折光学素子と、前記第1照明領域を照明する光を均一化する内面反射型の第1オプティカルインテグレータと、前記第1回折光学素子の回折面と前記第1オプティカルインテグレータの入射面とを光学的に共役にする第1リレー光学系とを有し、
    前記第2照明系は、前記第2照明系の照明瞳に所望の光強度分布を形成するために入射光を回折させる第2回折光学素子と、前記第2照明領域を照明する光を均一化する内面反射型の第2オプティカルインテグレータと、前記第2回折光学素子の回折面と前記第2オプティカルインテグレータの入射面とを光学的に共役にする第2リレー光学系とを有することを特徴とする照明光学装置。
  2. 前記第1リレー光学系および前記第2リレー光学系は、前記第1照明系と前記第2照明系とに共通のリレー光学系を有することを特徴とする請求項1に記載の照明光学装置。
  3. 前記第1照明領域を照明する光を第1偏光状態に設定し且つ前記第2照明領域を照明する光を前記第1偏光状態とは異なる第2偏光状態に設定する偏光設定部を備えていることを特徴とする請求項1または2に記載の照明光学装置。
  4. 前記偏光設定部は、前記第1オプティカルインテグレータの射出面と前記第1照明領域との間の光路中および前記第2オプティカルインテグレータの射出面と前記第2照明領域との間の光路中のうちの少なくとも一方に配置されて入射光の偏光状態を変化させる偏光子を有することを特徴とする請求項3に記載の照明光学装置。
  5. 前記第1照明系と前記第2照明系とに共通の光源を備え、
    前記偏光設定部は、前記共通の光源からの光を偏光分離し、偏光分離した一方の光を前記第1回折光学素子へ導き且つ偏光分離した他方の光を前記第2回折光学素子へ導く偏光ビームスプリッターを有することを特徴とする請求項3に記載の照明光学装置。
  6. 前記第1照明系は、前記第1オプティカルインテグレータの射出面と前記第1照明領域とを光学的に共役にする第1結像光学系を有し、
    前記第2照明系は、前記第2オプティカルインテグレータの射出面と前記第2照明領域とを光学的に共役にする第2結像光学系を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の照明光学装置。
  7. 前記第1結像光学系および前記第2結像光学系は、前記第1照明系と前記第2照明系とに共通の結像光学系を有することを特徴とする請求項6に記載の照明光学装置。
  8. 前記第1オプティカルインテグレータおよび前記第2オプティカルインテグレータはともに矩形状の断面を有し、
    前記第1回折光学素子は、前記第1オプティカルインテグレータの断面の一辺の方向に対応する第1方向に沿って間隔を隔てた2極状の光強度分布を前記照明瞳に形成し、
    前記第2回折光学素子は、前記第2オプティカルインテグレータの断面の一辺の方向に対応する第2方向に沿って間隔を隔てた2極状の光強度分布を前記照明瞳に形成することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の照明光学装置。
  9. 前記第1方向と前記第2方向とは互いに直交することを特徴とする請求項8に記載の照明光学装置。
  10. 前記偏光設定部は、前記第1照明系の照明瞳での光束の偏光状態を前記第2方向に偏光する直線偏光状態に設定し、前記第2照明系の照明瞳での光束の偏光状態を前記第1方向に偏光する直線偏光状態に設定することを特徴とする請求項9に記載の照明光学装置。
  11. 請求項1乃至10のいずれか1項に記載の照明光学装置を備え、該照明光学装置により照明されたパターンを感光性基板に露光することを特徴とする露光装置。
  12. 請求項11に記載の露光装置を用いて、前記パターンを前記感光性基板に露光する露光工程と、
    前記露光工程を経た前記感光性基板を現像する現像工程とを含むことを特徴とするデバイス製造方法。
JP2006222906A 2006-08-18 2006-08-18 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 Expired - Fee Related JP4883482B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006222906A JP4883482B2 (ja) 2006-08-18 2006-08-18 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006222906A JP4883482B2 (ja) 2006-08-18 2006-08-18 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008047744A true JP2008047744A (ja) 2008-02-28
JP4883482B2 JP4883482B2 (ja) 2012-02-22

Family

ID=39181173

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006222906A Expired - Fee Related JP4883482B2 (ja) 2006-08-18 2006-08-18 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4883482B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9341954B2 (en) 2007-10-24 2016-05-17 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9678332B2 (en) 2007-11-06 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
US10101666B2 (en) 2007-10-12 2018-10-16 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05226227A (ja) * 1992-02-17 1993-09-03 Nikon Corp 投影露光装置
JPH05259033A (ja) * 1992-03-10 1993-10-08 Nikon Corp 投影露光装置
JPH07263313A (ja) * 1994-03-23 1995-10-13 Olympus Optical Co Ltd 投影露光装置用照明光学系
JPH10232497A (ja) * 1997-02-20 1998-09-02 Nikon Corp 露光装置
JPH11162837A (ja) * 1997-11-27 1999-06-18 Canon Inc 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
JP2000021748A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Canon Inc 露光方法および露光装置
JP2001291654A (ja) * 2000-04-07 2001-10-19 Canon Inc 投影露光装置および方法
JP2001297976A (ja) * 2000-04-17 2001-10-26 Canon Inc 露光方法及び露光装置
JP2002064045A (ja) * 2000-08-21 2002-02-28 Nikon Corp 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置
JP2002231619A (ja) * 2000-11-29 2002-08-16 Nikon Corp 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置
WO2004090952A1 (ja) * 2003-04-09 2004-10-21 Nikon Corporation 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
JP2005236088A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP2005268781A (ja) * 2004-03-16 2005-09-29 Carl Zeiss Smt Ag 多重露光方法、マイクロリソグラフィー投影露光装置および投影系
JP2007287760A (ja) * 2006-04-12 2007-11-01 Nikon Corp 照明光学装置、投影露光装置、投影光学系、及びデバイス製造方法
WO2008007633A1 (fr) * 2006-07-12 2008-01-17 Nikon Corporation Appareil optique d'éclairage, appareil d'exposition, et procédé de fabrication du dispositif

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05226227A (ja) * 1992-02-17 1993-09-03 Nikon Corp 投影露光装置
JPH05259033A (ja) * 1992-03-10 1993-10-08 Nikon Corp 投影露光装置
JPH07263313A (ja) * 1994-03-23 1995-10-13 Olympus Optical Co Ltd 投影露光装置用照明光学系
JPH10232497A (ja) * 1997-02-20 1998-09-02 Nikon Corp 露光装置
JPH11162837A (ja) * 1997-11-27 1999-06-18 Canon Inc 照明装置及びそれを用いた投影露光装置
JP2000021748A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Canon Inc 露光方法および露光装置
JP2001291654A (ja) * 2000-04-07 2001-10-19 Canon Inc 投影露光装置および方法
JP2001297976A (ja) * 2000-04-17 2001-10-26 Canon Inc 露光方法及び露光装置
JP2002064045A (ja) * 2000-08-21 2002-02-28 Nikon Corp 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置
JP2002231619A (ja) * 2000-11-29 2002-08-16 Nikon Corp 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置
WO2004090952A1 (ja) * 2003-04-09 2004-10-21 Nikon Corporation 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
JP2005236088A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Nikon Corp 照明光学装置、露光装置、および露光方法
JP2005268781A (ja) * 2004-03-16 2005-09-29 Carl Zeiss Smt Ag 多重露光方法、マイクロリソグラフィー投影露光装置および投影系
JP2007287760A (ja) * 2006-04-12 2007-11-01 Nikon Corp 照明光学装置、投影露光装置、投影光学系、及びデバイス製造方法
WO2008007633A1 (fr) * 2006-07-12 2008-01-17 Nikon Corporation Appareil optique d'éclairage, appareil d'exposition, et procédé de fabrication du dispositif

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10101666B2 (en) 2007-10-12 2018-10-16 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9341954B2 (en) 2007-10-24 2016-05-17 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9857599B2 (en) 2007-10-24 2018-01-02 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9678332B2 (en) 2007-11-06 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Also Published As

Publication number Publication date
JP4883482B2 (ja) 2012-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2620799B1 (en) Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP5158439B2 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP4998803B2 (ja) 露光装置、デバイス製造方法、および露光方法
JPWO2008007633A1 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
EP1837895B1 (en) Optical integrator, illumination optical apparatus, exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
JP5365982B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5105316B2 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5688672B2 (ja) 光伝送装置、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP4883482B2 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
WO2012017783A1 (ja) 伝送光学系、照明光学系、露光装置、及びデバイス製造方法
JP2008021767A (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5604813B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2008047745A (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2010283101A (ja) 偏光子ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2007158271A (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイスの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090609

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100208

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110708

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110713

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110912

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111114

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111127

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees