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JP2008044033A - Wire electric discharge machine and wire discharge machining method - Google Patents

Wire electric discharge machine and wire discharge machining method Download PDF

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JP2008044033A
JP2008044033A JP2006219660A JP2006219660A JP2008044033A JP 2008044033 A JP2008044033 A JP 2008044033A JP 2006219660 A JP2006219660 A JP 2006219660A JP 2006219660 A JP2006219660 A JP 2006219660A JP 2008044033 A JP2008044033 A JP 2008044033A
Authority
JP
Japan
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workpiece
machining
inclination
wire
measuring
Prior art date
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Pending
Application number
JP2006219660A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masanobu Takemoto
政信 嶽本
Toshiyuki Ogata
俊幸 緒方
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
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Publication date
Application filed by Fanuc Corp filed Critical Fanuc Corp
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  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently perform an auxiliary operation associated with measurement of the work parallelism in accordance with the taper processing and vertical processing. <P>SOLUTION: The operations and associated processing S1-S4 are executed under the condition that the mode of vertical processing is set, while the operations/processing S11-S16 are conducted under the condition that the mode of taper processing is set. At S1 and S11, the XY positions of P1-P3 corresponding to three measuring points not lying on one straight line on the work oversurface and the Z positions corresponding to a small distance over the work oversurface are entered into the screen. At S12, the height of the reference surface (work thickness) is entered, and at S2 and S13, the measuring program is started. At S14, the components Δx, Δy, Δz of the offset are determined using a tool and stored. At S3 and S15, the three-dimensional positions of the contacting points Q1-Q3 on the work oversurface corresponding to the points P1-P3 specified using a touch probe are measured. The overhung setting direction of a wire electrode is adjusted by using the data entered or measured in each mode, and straight processing or taper processing is executed upon calculating (S4 and S16) the correction amount of a command based on the processing program. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、ワイヤ放電加工機及びワイヤ放電加工方法に関し、更に詳しく言えば、それらワイヤ放電加工機及びワイヤ放電加工方法において、テーパ加工あるいは垂直加工のいずれを実行するかに応じてワーク傾斜の影響除去のための手順を合理化する技術に関する。   The present invention relates to a wire electric discharge machine and a wire electric discharge machining method, and more specifically, in the wire electric discharge machine and the wire electric discharge machining method, the influence of workpiece inclination depending on whether taper machining or vertical machining is performed. The present invention relates to a technique for rationalizing a removal procedure.

一般に、ワイヤ放電加工機を用いた加工においては、被加工ワークはテーブル上に載置され、X軸及びX軸と直交するY軸からなるXY平面においてワイヤ電極を前記テーブルに対して相対移動させることで、前記ワークに対して加工が行われる。その際、理想的には、ワークの載置姿勢が「基準面(上面または下面)がXY平面に対して完全に平行」となるものであることが前提とされる。そして、ワイヤ電極のテーブルに対する相対移動を定める加工プログラムに従った各軸の移動指令は、この前提の下で希望する加工経路が実現するように出力されることが基本となっている。   In general, in machining using a wire electric discharge machine, a workpiece is placed on a table, and a wire electrode is moved relative to the table on an XY plane composed of an X axis and a Y axis perpendicular to the X axis. Thus, the workpiece is processed. In this case, ideally, it is assumed that the workpiece mounting posture is such that “the reference surface (upper surface or lower surface) is completely parallel to the XY plane”. The movement command of each axis according to the machining program for determining the relative movement of the wire electrode with respect to the table is basically output so as to realize a desired machining path under this assumption.

しかし、実際の加工においては、そのような「完全に平行」な姿勢からのずれがあり、ワークはXY平面に対していずれかの方向(傾きの方向)に、ある大きさ(傾きの大きさ)をもって傾斜していることが通例である。良く知られているように、この傾斜を無視して加工を実行すると、意図した通りの加工が実現しない。即ち、図1(a)に示したように、傾き角Eが無視できない場合、ワーク基準面(ここでは上面)における加工距離が指令通りにならず、加工形状にも狂いが生じる。   However, in actual machining, there is a deviation from such a “perfectly parallel” posture, and the workpiece is in a certain direction (inclination size) in either direction (inclination direction) with respect to the XY plane. ) Is usually inclined. As is well known, if processing is performed while ignoring this inclination, the intended processing cannot be realized. That is, as shown in FIG. 1A, when the inclination angle E cannot be ignored, the machining distance on the workpiece reference surface (here, the upper surface) does not follow the command, and the machining shape is also distorted.

これを避けるために、図1(b)に示したように、ワイヤ電極(以下、単に「ワイヤ」ともいう)の張架方向をワークの傾斜に対応させて変更するとともに、指令CをC+α(α=要補正量)に補正する手法が既に提案されている(例えば下記特許文献1、2参照)。   In order to avoid this, as shown in FIG. 1B, the stretching direction of the wire electrode (hereinafter also simply referred to as “wire”) is changed corresponding to the inclination of the workpiece, and the command C is changed to C + α ( A method of correcting to α = necessary correction amount) has already been proposed (see, for example, Patent Documents 1 and 2 below).

このように、ワイヤ放電加工機を用いた加工において、加工するワークの平行度を測定し、3次元方向に傾いたワークに対して垂直となるようワイヤの傾きを補正すると共にワイヤの移動量(加工距離)を補正する。そして、これにより傾いて取り付けられたワークを、指令どおりに加工する技術(以下、ワーク水平補正と称する)は既に確立されている。   Thus, in the machining using the wire electric discharge machine, the parallelism of the workpiece to be machined is measured, the inclination of the wire is corrected to be perpendicular to the workpiece inclined in the three-dimensional direction, and the amount of movement of the wire ( Correct machining distance). And the technique (henceforth a workpiece | work horizontal correction | amendment) which processes the workpiece | work inclined by this according to a command has been already established.

ところで、ワーク水平補正を目的とするワークの平行度の測定に際しては、後述する実施形態中で示される如く、昇降式のタッチプローブ(測定子)が上ガイドに取付けられる。これは、制御点となる上ガイドを直接ワークに接触させることができない(ノズルに覆われている)等のために、このような手段が用いられている。タッチプローブは上ガイドから一定量オフセットした位置に取り付けられている。
測定を行うときタッチプローブの先端は上ガイド先端より下へ下降し、測定を行わない(加工時など)ときは上ガイド先端より上へ上昇する。測定時には、タッチプローブが下降した状態で、Z軸(上ガイドの上下移動軸)が下降し、プローブの先端がワーク上面に接触したときのXYZ軸座標値を読み取る。この測定は、一直線上に並ばない3つ以上の点について行われる。そして、下記(1)、(2)のデータが取得される。
By the way, when measuring the parallelism of a workpiece for the purpose of workpiece horizontal correction, an elevating touch probe (measuring element) is attached to the upper guide, as shown in an embodiment described later. This means is used because the upper guide serving as a control point cannot be brought into direct contact with the workpiece (covered by the nozzle). The touch probe is attached at a position offset by a certain amount from the upper guide.
When performing measurement, the tip of the touch probe descends below the top guide tip, and when not performing measurement (such as during processing), it rises above the top guide tip. At the time of measurement, with the touch probe lowered, the Z axis (the vertical movement axis of the upper guide) is lowered, and the XYZ axis coordinate values when the tip of the probe contacts the workpiece upper surface are read. This measurement is performed for three or more points that are not aligned. Then, the following data (1) and (2) are acquired.

(1)ワークの傾き角及び傾きの方向。このデータは、各測定点の座標の相関関係より求められる。
(2)ワーク上面(測定面)の3次元位置。このデータは、各測定点の座標より求められる。但し、各測定点の直接の座標値は、プローブ先端がワーク上面に接触したときの座標値であるため、制御点となる上ガイドからある一定量ずれた座標である。従って、このずれ量(プローブ取付けオフセット量)を測定しておく必要がある。
(1) The tilt angle and tilt direction of the workpiece. This data is obtained from the correlation of the coordinates of each measurement point.
(2) Three-dimensional position of the workpiece upper surface (measurement surface). This data is obtained from the coordinates of each measurement point. However, since the direct coordinate value of each measurement point is a coordinate value when the probe tip contacts the workpiece upper surface, the coordinate value is deviated from the upper guide serving as the control point by a certain amount. Therefore, it is necessary to measure this deviation amount (probe mounting offset amount).

そして、ワーク水平補正では3次元方向に傾いたワークに対し、UV軸(ワイヤの傾き移動軸)の位置修正によってワイヤの傾きをワーク上面に垂直となるようにする。この補正に必要なデータは上記の(1)のデータ(傾き角・方向)である。   In the workpiece horizontal correction, the tilt of the wire is made perpendicular to the upper surface of the workpiece by correcting the position of the UV axis (wire tilt movement axis) with respect to the workpiece tilted in the three-dimensional direction. The data necessary for this correction is the above-mentioned data (1) (tilt angle / direction).

次にワイヤの移動量補正については、水平及び傾いて設置された両ワークの同じ面の移動量が同じになるように補正される。例えば、水平に設置された(と仮定された)ワーク上面(以下、基準面と称する)と、傾いて設置されたワーク上面(プローブで測定される面。以下、補正対象面)の移動量が同じとなるようXY軸及びUV軸を補正する。
この補正に必要なデータとして先ず基準面があり、このデータはワーク厚さ等の予め機外で測定されたデータを入力する。次に補正対象面で、これは上記の(2)のデータで与えることができる。
Next, the movement amount correction of the wire is corrected so that the movement amount of the same surface of both the workpieces installed horizontally and inclined is the same. For example, the amount of movement between a workpiece upper surface (hereinafter referred to as a reference surface) installed horizontally (hereinafter referred to as a reference surface) and a workpiece upper surface (surface measured by a probe; hereinafter referred to as a correction target surface) installed at an inclination is The XY axis and the UV axis are corrected so as to be the same.
First, there is a reference plane as data necessary for this correction, and this data is input beforehand as data measured outside the machine, such as the workpiece thickness. Next, on the correction target surface, this can be given by the data of (2) above.

特許第2667475号公報Japanese Patent No. 2667475 特開平2−139129号公報JP-A-2-139129

このようにワーク水平補正およびワーク平行度測定においては、基準面高さのデータ入力やプローブ先端ずれ量の測定などの付帯操作が必要であり、煩雑な作業が常に必要であった。本発明は、ワーク加工がテーパ加工か非テーパ加工(垂直加工)かに応じて、これらの付帯操作を無駄なく効率よく行えるようにすることを基本的な目的とするものである。   As described above, in the workpiece horizontal correction and the workpiece parallelism measurement, ancillary operations such as data input of the reference surface height and measurement of the probe tip deviation amount are necessary, and complicated operations are always necessary. The basic object of the present invention is to make it possible to efficiently perform these incidental operations without waste depending on whether the workpiece machining is tapered or non-tapered (vertical machining).

本発明は、被加工ワークをテーブル上に載置し、上ガイドと下ガイドの間で張架されたワイヤ電極をX軸及びX軸と直交するY軸からなるXY平面において前記テーブルに対して相対移動させ、前記ワークに対して加工を行うワイヤカット放電加工機、あるいは、同ワイヤカット放電加工機を用いたワイヤカット放電加工方法において、テーパ加工と非テーパ加工(垂直加工)のモードを選択可能とし、後者の選択時には、基準面高さのデータの入力やプローブの取付けオフセット量の測定、入力などの付帯的な操作の必要量を減ずることで、上記課題を解決したものである。   According to the present invention, a workpiece is placed on a table, and a wire electrode stretched between an upper guide and a lower guide is placed on the table in an XY plane composed of an X axis and a Y axis perpendicular to the X axis. Select the mode of taper machining and non-taper machining (vertical machining) in the wire-cut electric discharge machine that moves relative to the workpiece, or the wire-cut electric discharge machine using the same wire-cut electric discharge machine When the latter is selected, the above-mentioned problem is solved by reducing the necessary amount of incidental operations such as input of reference plane height data, measurement of probe offset, and input.

本発明に従えば、上記ワイヤカット放電加工機は、テーパ加工を行うテーパ加工モードと、テーパ加工を行わない垂直加工モードのいずれかを選択する加工モード選択手段と、前記上ガイドの位置との間で一定のオフセット量を維持して移動可能な測定子を含み、該測定子を用いて前記テーブル上に載置された前記ワークの傾きを測定する傾斜測定手段と、前記加工モード選択手段によってテーパ加工モードが選択された場合に、前記傾斜測定手段によって測定された前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさ及び傾きの方向と、前記ワークの基準面高さと、前記オフセット量に基づいて、前記ワイヤ電極をXY平面に対して垂直な±Z方向に対して傾ける傾斜補正、並びに、加工プログラムで指定された加工経路に関して前記ワイヤ電極のXY位置補正を行う第1の補正手段と、前記加工モード選択手段によって垂直加工モードが選択された場合に、前記傾斜測定手段によって測定された前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさ及び傾きの方向に基づいて、前記ワイヤ電極の傾斜補正、並びに、加工プログラムで指定された加工経路に関して前記ワイヤ電極のXY位置補正を行う第2の補正手段と、前記第1の補正手段または前記第2の補正手段による、ワイヤ電極の傾斜補正及びXY位置補正の下で加工プログラムに従った加工を実行する実行手段とを備えている。   According to the present invention, the wire cut electric discharge machine includes a machining mode selection unit that selects one of a taper machining mode in which taper machining is performed and a vertical machining mode in which taper machining is not performed, and the position of the upper guide. An inclination measuring means for measuring the inclination of the workpiece placed on the table using the measuring element, and a machining mode selecting means. When the taper machining mode is selected, based on the magnitude and direction of the inclination of the workpiece with respect to the XY plane measured by the inclination measuring means, the reference surface height of the workpiece, and the offset amount, Tilt correction for inclining the wire electrode with respect to the ± Z direction perpendicular to the XY plane, and the wire electrode with respect to the machining path specified by the machining program When the vertical correction mode is selected by the first correction unit that performs XY position correction and the processing mode selection unit, the magnitude and direction of the inclination of the workpiece with respect to the XY plane measured by the inclination measurement unit The second correction means for correcting the inclination of the wire electrode and the XY position of the wire electrode with respect to the machining path specified by the machining program, and the first correction means or the second correction. Means for executing machining according to the machining program under the correction of the inclination of the wire electrode and the XY position correction by the means.

ここで、前記基準面高さは、前記テーブル上に水平に載置された前記ワークの下面から見た前記ワークの上面までの高さとされる。また、前記傾斜測定手段は、前記測定子を用いて、前記テーブルに載置された前記ワークの上面における一直線上に並ばない少なくとも3点の3次元相対位置関係を求める手段を含み、該手段によって求められた前記3次元相対位置関係に基づいて前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさと傾きの方向を測定することができるものを採用して良い。
また、前記オフセット量は、3次元位置が既知である基準位置を前記測定子で測定することによって求めることができる。
Here, the reference surface height is a height from the lower surface of the workpiece placed horizontally on the table to the upper surface of the workpiece. Further, the inclination measuring means includes means for obtaining a three-dimensional relative positional relationship of at least three points that are not aligned on a straight line on the upper surface of the work placed on the table, using the measuring element. A device capable of measuring the magnitude and the direction of the inclination of the workpiece with respect to the XY plane based on the obtained three-dimensional relative positional relationship may be adopted.
The offset amount can be obtained by measuring a reference position whose three-dimensional position is known with the measuring element.

本発明に従ったワイヤカット放電加工方法は、被加工ワークをテーブル上に載置し、上ガイドと下ガイドの間で張架されたワイヤ電極をX軸及びX軸と直交するY軸からなるXY平面において前記テーブルに対して相対移動させる手段と、前記上ガイドの位置との間で一定のオフセット量を維持して移動可能な測定子を含み、該測定子を用いて前記テーブル上に載置された前記ワークの傾きを測定する傾斜測定手段とを備えたワイヤカット放電加工機を用いたワイヤカット放電加工方法に適用される。   In the wire-cut electric discharge machining method according to the present invention, a workpiece is placed on a table, and a wire electrode stretched between an upper guide and a lower guide is composed of an X axis and a Y axis perpendicular to the X axis. A measuring element that moves relative to the table in the XY plane and a position that is movable between the upper guide and the position of the upper guide, and is mounted on the table using the measuring element. The present invention is applied to a wire cut electric discharge machining method using a wire cut electric discharge machine equipped with an inclination measuring means for measuring the inclination of the placed workpiece.

その特徴は、前記ワークに対してテーパ加工を行うテーパ加工モード及びテーパ加工を行わない垂直加工モードのいずれかを選択するステップと、前記第1のステップにおける選択結果に応じて第1のステップ群または第2のステップ群のいずれか一方を実行するステップからなることである。
ここで、前記第1のステップ群は、前記ワークの基準面高さを前記ワイヤカット放電加工機に入力する入力ステップと、前記オフセット量を測定するオフセット量測定ステップと、前記傾斜測定手段を用いて前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさと傾きの方向とを測定する傾斜測定ステップと、前記傾斜測定ステップで測定された、前記テーブルに載置された前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさ及び傾きの方向と、前記入力ステップで入力された基準面高さと、前記オフセット量測定ステップで測定されたオフセット量に基づいて、前記ワイヤ電極をXY平面に対して垂直な±Z方向に対して傾斜させるとともに、加工プログラムで指定された加工経路に関して前記ワイヤ電極のXY位置補正を行いながら加工を実行する第1の加工ステップとからなる。
The feature is that a step of selecting one of a taper machining mode in which taper machining is performed on the workpiece and a vertical machining mode in which taper machining is not performed are selected, and a first step group according to a selection result in the first step. Or it consists of the step which performs either one of the 2nd step group.
Here, the first step group uses an input step for inputting the reference surface height of the workpiece to the wire cut electric discharge machine, an offset amount measuring step for measuring the offset amount, and the inclination measuring means. A tilt measuring step for measuring a tilt magnitude and a tilt direction of the workpiece with respect to the XY plane, and a tilt magnitude with respect to the XY plane of the workpiece placed on the table, measured in the tilt measuring step; The wire electrode is inclined with respect to the ± Z direction perpendicular to the XY plane based on the direction of inclination, the reference surface height input in the input step, and the offset amount measured in the offset amount measuring step. First, the machining is performed while correcting the XY position of the wire electrode with respect to the machining path specified by the machining program. Consisting of a processing step.

一方、前記第2のステップ群は、前記傾斜測定手段を用いて前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさと傾きの方向とを測定する傾斜測定ステップと、前記傾斜測定ステップで測定された、前記テーブルに載置された前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさ及び傾きの方向に基づいて、XY平面に対して垂直な±Z方向に対して前記ワイヤ電極を傾斜させるとともに、加工プログラムで指定された加工経路を補正して加工を実行する第2の加工ステップからなる。そして、前記基準面高さは、前記テーブル上に水平に載置された前記ワークの下面から見た前記ワークの上面までの高さとされる。   On the other hand, the second step group includes an inclination measuring step for measuring the magnitude and direction of inclination of the workpiece with respect to the XY plane using the inclination measuring means, and the table measured in the inclination measuring step. The wire electrode is inclined with respect to the ± Z direction perpendicular to the XY plane based on the magnitude and direction of the inclination of the workpiece placed on the XY plane and specified by the machining program. It consists of a second processing step for correcting the processing path and executing processing. The reference surface height is a height from the lower surface of the workpiece placed horizontally on the table to the upper surface of the workpiece.

本発明によれば、ワーク平行度測定及び水平補正に関連する、基準面高さのデータの入力やプローブの取付けオフセット量の測定などの付帯的な操作の必要性について、ワーク加工がテーパ加工か非テーパ加工(垂直加工)かに応じてこれらの付帯操作を無駄なく効率よく行えるようになる。   According to the present invention, whether the workpiece machining is a taper machining or not in connection with the necessity of ancillary operations related to workpiece parallelism measurement and horizontal correction, such as input of reference plane height data and measurement of probe mounting offset. Depending on whether it is non-taper processing (vertical processing), these incidental operations can be performed efficiently without waste.

図2は、本発明の実施形態で採用されるワイヤ放電加工機の概略構成を略示した図で、ワイヤ放電加工機の加工に関わる部分の構成は、従来のものと同様である。即ち、符号1は加工対象とされるワーク30を設置・固定するワークテーブルで、平坦な載置面2を有している。加工時に、ワーク30はその下面32が載置面2に接するようにワークテーブルに設置・固定される。ワーク30は、上面31の全体が下面32と平行な面となっている。ワーク30としては、下面32と平行な面(平坦領域)を持つものを想定する。ここではワーク30として直方形状のものが例示されており、上面31の全体が下面32と平行な面となっているが、上面の一部領域のみが下面と平行な面であっても構わない。   FIG. 2 is a diagram schematically showing a schematic configuration of the wire electric discharge machine employed in the embodiment of the present invention, and the configuration of the part related to the processing of the wire electric discharge machine is the same as the conventional one. In other words, reference numeral 1 denotes a work table on which a work 30 to be processed is set and fixed, and has a flat mounting surface 2. At the time of processing, the work 30 is installed and fixed to the work table so that the lower surface 32 thereof is in contact with the placement surface 2. The work 30 has a surface whose entire upper surface 31 is parallel to the lower surface 32. The workpiece 30 is assumed to have a surface (flat region) parallel to the lower surface 32. Here, a rectangular shape is illustrated as the work 30, and the entire upper surface 31 is a surface parallel to the lower surface 32, but only a part of the upper surface may be a surface parallel to the lower surface. .

符号7はワーク30に放電加工を施すためにワイヤ供給部12からガイドローラ11等を経て供給されるワイヤ電極で、加工時には、結線操作により上下ガイド5、6間に張架され、ワーク30との間に放電を起こさせるための電圧が印加される。符号14はワイヤ巻取部で下ガイド6、ガイドローラ13等を経たワイヤ電極7を所定の張力で引っ張り、巻取る機能を有している。   Reference numeral 7 denotes a wire electrode that is supplied from the wire supply unit 12 through the guide roller 11 and the like in order to perform electric discharge machining on the workpiece 30, and is stretched between the upper and lower guides 5 and 6 by a connection operation at the time of machining. During this period, a voltage for causing discharge is applied. Reference numeral 14 denotes a wire take-up portion that has a function of pulling and winding the wire electrode 7 that has passed through the lower guide 6 and the guide roller 13 with a predetermined tension.

加工箇所は、ワイヤ電極7がワーク30を貫く線状部分で、上面31上の加工点33で代表される。ワーク30上で意図した軌跡(加工線とも呼ばれ、通常、加工プログラムで指定される)に沿って加工点33を移動させるために、ワークテーブル1は、夫々サーボモータを駆動源とするX軸駆動機構3及びY軸駆動機構4によりXY平面内で動くことができるようになっている。符号34は、加工点33の移動軌跡(加工済みの加工線)を例示したものである。   The machining location is a linear portion where the wire electrode 7 penetrates the workpiece 30, and is represented by a machining point 33 on the upper surface 31. In order to move the machining point 33 along the intended trajectory on the workpiece 30 (also called a machining line, which is usually specified by a machining program), the work table 1 has an X-axis that uses a servo motor as a drive source. The drive mechanism 3 and the Y-axis drive mechanism 4 can move in the XY plane. Reference numeral 34 exemplifies the movement trajectory (machined machining line) of the machining point 33.

また、上ガイド5はZ軸駆動機構8、U軸駆動機構9及びV軸駆動機構10により、そのXYZ位置が調整できるようになっている。一般に、Z位置の調整は加工時に上ガイド5とワーク30の上面31との距離を所定の適正値とするために利用されるが、本実施形態ではこの他に、ワーク30の設置姿勢の水平度計測の際にも利用される。一方、U軸/V軸駆動機構9、10は、一般には、前述したテーパ加工の角度調整のために使用されるものであるが、本実施形態では、上記の計測結果に基づいてワーク30の設置姿勢誤差を補償するための上ガイド位置調整にも用いられる。   Further, the XYZ position of the upper guide 5 can be adjusted by a Z-axis drive mechanism 8, a U-axis drive mechanism 9 and a V-axis drive mechanism 10. In general, adjustment of the Z position is used to set the distance between the upper guide 5 and the upper surface 31 of the workpiece 30 to a predetermined appropriate value during processing. It is also used when measuring the degree. On the other hand, the U-axis / V-axis drive mechanisms 9 and 10 are generally used for adjusting the angle of the taper processing described above, but in this embodiment, the workpiece 30 is adjusted based on the measurement result. It is also used for upper guide position adjustment to compensate for installation posture errors.

符号100は、上記のワーク設置姿勢の水平度計測のために、上ガイド5に取り付けられたタッチプローブユニットで、ワーク30の上面31に接触するプローブ(測定子)を備えている。タッチプローブユニットの構造と機能、水平度計測の手順及び同計測結果に基づく調整の詳細等については後述する。
符号20は電装部で、周知の態様で、CPU、CNC、メモリ、入出力装置(対外部装置用)を含む制御装置の他、ワイヤ電極を含む電気的要素に所要の電圧/電流を供給するための電源等が組み込まれている。CNCは、XYZ各軸及びUV各軸を駆動するサーボモータを制御し、入出力装置(I/O)は、放電用の電源の制御(図示省略)、ワイヤの給送制御、ディスプレイ(操作パネル21に装備)の表示制御等を行なう。
Reference numeral 100 denotes a touch probe unit attached to the upper guide 5 for measuring the level of the workpiece installation posture, and includes a probe (measuring element) that contacts the upper surface 31 of the workpiece 30. The structure and function of the touch probe unit, the procedure for measuring the levelness, the details of the adjustment based on the measurement result, etc. will be described later.
Reference numeral 20 denotes an electrical component, which supplies a required voltage / current to a control device including a CPU, CNC, memory, input / output device (for external device) as well as an electrical element including a wire electrode in a known manner. Power supply for the purpose is incorporated. The CNC controls servo motors that drive the XYZ axes and the UV axes, and the input / output device (I / O) controls the power supply for discharge (not shown), wire feeding control, display (operation panel) 21) is controlled.

また、電装部20内には、周知の態様でXYZUV各軸の負荷電流をモニタし、ディスプレイ画面(図示省略)上に表示する機能、ワーク30に対するワイヤ電極7の電位、放電電流等をモニタする機能等が備わっている。更に、後述するように、ワークの設置姿勢計測のために、上記のタッチプローブユニット100に備わったプローブがワーク30の上面31に接触した時に発せられる接触検出信号(接点信号)を受け、検知する機能を有している。 更に、上記のディスプレイ画面は、本発明の特徴に関連して、加工モードの選択(テーパ加工/垂直加工の別)に関する事項や、テーパ加工選択時に必要となるデータ入力や測定結果の表示等にも使用される(詳細は後述)。   Further, in the electrical unit 20, the load current of each axis of XYZUV is monitored in a known manner, and the function of displaying on the display screen (not shown), the potential of the wire electrode 7 with respect to the workpiece 30, the discharge current, etc. are monitored. It has functions. Further, as will be described later, a contact detection signal (contact signal) generated when the probe provided in the touch probe unit 100 contacts the upper surface 31 of the workpiece 30 is received and detected in order to measure the installation posture of the workpiece. It has a function. Further, the display screen described above is related to the features of the present invention for matters relating to the selection of the machining mode (taper machining / vertical machining), data input required when selecting the taper machining, display of measurement results, etc. Is also used (details will be described later).

ワイヤ放電加工のされ方自体は周知なので極く簡単に説明すると、制御装置のメモリに記憶された加工プログラムに従って、XYZUV各軸の位置がCNCでサーボ制御される一方、ワイヤ電極7に所定の放電電圧/電流が供給されてワーク30に、所定のカットライン乃至カット面に沿った加工がなされる。既述のように、通常、加工点33のXY位置の移動はXY軸の移動で行なわれるが、U軸/V軸で代用される場合もある。X軸/Y軸/Z軸は、上記の測定用のプローブ(タッチプローブユニット100)の移動にも利用されること、及び、U軸/V軸は同計測結果に基づく上ガイド位置調整にも用いられることについては既述した通りである。   Since the method of wire electric discharge machining is well known, it will be described in a very simple manner. According to the machining program stored in the memory of the control device, the position of each axis of XYZUV is servo-controlled by the CNC, while the wire electrode 7 has a predetermined electric discharge. A voltage / current is supplied, and the workpiece 30 is processed along a predetermined cut line or cut surface. As described above, the movement of the XY position of the machining point 33 is normally performed by the movement of the XY axis, but the U axis / V axis may be substituted. The X-axis / Y-axis / Z-axis is also used for movement of the measurement probe (touch probe unit 100), and the U-axis / V-axis is also used for adjusting the upper guide position based on the measurement result. What is used is as described above.

なお、図示は省略したが、周知のように、ワークテーブル1は加工液を満たした加工槽に設置され、ワーク30に対する放電加工は加工液中で行なわれる。また、加工液を恒温装置、清浄化装置(イオン交換樹脂)等を通るように循環させて加工液の温度や清浄度を管理する装備が付設され、電装部20によって制御されるが、これらについては本発明と特に関連はないので、詳細説明は省く。   Although not shown, as is well known, the work table 1 is installed in a machining tank filled with machining fluid, and electric discharge machining for the workpiece 30 is performed in the machining fluid. In addition, equipment for controlling the temperature and cleanliness of the processing liquid by circulating the processing liquid through a constant temperature device, a cleaning device (ion exchange resin), etc. is attached and controlled by the electrical component 20. Is not particularly relevant to the present invention, and therefore will not be described in detail.

さて、背景技術の欄で既に述べたように、放電加工を行なうためにワーク30のワークテーブル1への設置姿勢が水平(上面31及び下面32がXY平面内にあること)にならず、誤差が生じることがある。図3はその様子を例示したもので、ワークテーブル1の載置面2上にスラッジ40が存在し、同スラッジ40上にワーク30の右端部が乗っているケースが描かれている。このような場合、ワーク30の下面32は右端部周辺で載置面2から僅かではあるが浮き上がり、密着することができなくなる。そのため、上面31及び下面32がXY平面内に対して少角度傾斜する。   As already described in the section of the background art, the installation posture of the work 30 on the work table 1 is not horizontal (the upper surface 31 and the lower surface 32 are in the XY plane) in order to perform electric discharge machining. May occur. FIG. 3 exemplifies such a situation, in which a sludge 40 is present on the mounting surface 2 of the work table 1 and the right end of the work 30 is on the sludge 40. In such a case, the lower surface 32 of the workpiece 30 floats slightly from the placement surface 2 around the right end portion, and cannot be brought into close contact. Therefore, the upper surface 31 and the lower surface 32 are inclined at a small angle with respect to the XY plane.

同様の事態は、ワークテーブル1の載置面2の加工誤差等によって起こり得る。いずれにしろ、本来XY面と平行であるべき上面31/下面32の傾斜に気付かず、あるいは気付いても無視して加工を行なうと、前述した通り、加工精度が劣化する。例えば、垂直加工を意図して上下ガイド5、6のXY位置を正確に一致させた状態とした場合、ワイヤ電極7はZ軸に平行(XY平面に垂直)に張架されるが、ワーク30の上面31及び下面32に対しては垂直とならない加工が実行されてしまう。テーパ加工の場合は、意図したテーパ角の加工が実現できない。また、垂直加工、テーパ加工いずれの場合も、加工プログラムに基づく指令による移動距離がワーク30の基準面上で実現されない。   A similar situation may occur due to a processing error or the like of the mounting surface 2 of the work table 1. In any case, if the machining is performed without ignoring or ignoring the inclination of the upper surface 31 / lower surface 32, which should be essentially parallel to the XY plane, the machining accuracy deteriorates as described above. For example, in the case where the XY positions of the upper and lower guides 5 and 6 are exactly matched with the intention of vertical machining, the wire electrode 7 is stretched parallel to the Z axis (perpendicular to the XY plane), but the workpiece 30 Processing that is not perpendicular to the upper surface 31 and the lower surface 32 is performed. In the case of taper machining, the intended taper angle machining cannot be realized. Further, in either case of vertical machining or taper machining, the movement distance based on the command based on the machining program is not realized on the reference surface of the workpiece 30.

従って、垂直加工、テーパ加工いずれの場合であっても、加工精度を低下させないために、ワイヤ電極7の張架方向をワーク30の傾斜を補償するように傾斜させる必要があり、そのために、上ガイド5に取付けられたタッチプローブユニット100が用いられる。図4(a)〜(d)は、タッチプローブユニット100について説明する図で、図4(a)は上ガイド5への取付け態様を示す概観図である。また、図4(b)〜図4(d)は、タッチプローブユニット100の上ガイド5への取付けにおけるオフセットについて説明するための正面図と2つの側面図1、2であり、各々オフセットのX成分、Y成分、Z成分を表わしている。   Therefore, in either case of vertical machining or taper machining, it is necessary to incline the stretching direction of the wire electrode 7 so as to compensate for the inclination of the workpiece 30 in order not to reduce the machining accuracy. A touch probe unit 100 attached to the guide 5 is used. 4A to 4D are diagrams for explaining the touch probe unit 100, and FIG. 4A is an overview diagram showing an attachment manner to the upper guide 5. FIG. FIGS. 4B to 4D are a front view and two side views 1 and 2 for explaining the offset in the mounting of the touch probe unit 100 to the upper guide 5. This represents the component, the Y component, and the Z component.

図4(a)に示したように、タッチプローブユニット100は先端点101を持つタッチプローブ102を備えたもので、上ガイド5の側部(または前部)に取付けられている。タッチプローブ102は図示を省略した進退機能によって、下降位置と退避位置(破線で表示)の間で進退可能であり、測定時以外は退避位置に引き上げられ、加工の邪魔にならないようになっている。なお、進退機構には例えばエアシリンダの機構が利用でき、それの進退制御は、電装部20からの信号によって行われる。   As shown in FIG. 4A, the touch probe unit 100 includes a touch probe 102 having a tip point 101 and is attached to a side portion (or front portion) of the upper guide 5. The touch probe 102 can be moved back and forth between a lowered position and a retracted position (indicated by a broken line) by an advance / retreat function (not shown), and is lifted to the retracted position except during measurement so as not to interfere with processing. . For example, an air cylinder mechanism can be used as the advance / retreat mechanism, and the advance / retreat control thereof is performed by a signal from the electrical unit 20.

タッチプローブユニット100が取付けられる上ガイド5(制御点)の3次元位置(XYZ位置)は、X軸/Y軸/Z軸の位置として電装部20のCPUで認識可能である。ところで先端点101がワーク上面31に接触したときのXYZ座標値を、そのまま制御点の座標値として利用することはできない。即ち、上ガイド5の位置と先端点101の位置(接触位置)との間には、取り付け時の状態で決まる一定のずれが存在する。これが「オフセット」で、図4(b)の正面図、図4(c)の側面図1、図4(d)の側面図2は順に、オフセットのX成分、Y成分及びZ成分を表わしている。   The three-dimensional position (XYZ position) of the upper guide 5 (control point) to which the touch probe unit 100 is attached can be recognized by the CPU of the electrical component unit 20 as the position of the X axis / Y axis / Z axis. By the way, the XYZ coordinate value when the tip point 101 contacts the workpiece upper surface 31 cannot be used as it is as the coordinate value of the control point. That is, there is a certain shift determined by the state at the time of attachment between the position of the upper guide 5 and the position (contact position) of the tip point 101. This is “offset”. The front view of FIG. 4B, the side view 1 of FIG. 4C, and the side view 2 of FIG. 4D sequentially represent the X component, the Y component, and the Z component of the offset. Yes.

さて、本実施形態では、ワークテーブル1の載置面2上に設置・固定されたワーク30に対して、上記したタッチプローブユニット100を取付けた状態のワイヤカット放電加工機を用いて、加工に先立つ準備(いわゆる“ 段取り”)並びにそれに基づく加工を実行しようとする際には、先ず、図5に示す如きモード設定画面が前述のディスプレイに表示される。オペレータは、これから実行する加工が「垂直加工」か、「テーパ加工」かに応じていずれか(□欄)を指定(例えばマウスでクリック)する。   Now, in this embodiment, the work 30 installed and fixed on the mounting surface 2 of the work table 1 is processed using the wire-cut electric discharge machine with the touch probe unit 100 attached. When the preparation (so-called “setup”) and the machining based thereon are to be executed, a mode setting screen as shown in FIG. 5 is first displayed on the display. The operator designates (for example, clicks with a mouse) one (□ column) depending on whether the machining to be executed is “vertical machining” or “taper machining”.

図5の設定画面で「垂直加工」を指定した場合、図6に示した「画面1」が表示される。また、「テーパ加工」を指定すると、図7に示した「画面2」が表示される。なお、図6、図7では、画面1あるいは画面2に諸数値が入力された状態を示した。   When “vertical machining” is designated on the setting screen of FIG. 5, “screen 1” shown in FIG. 6 is displayed. When “taper processing” is designated, “screen 2” shown in FIG. 7 is displayed. 6 and 7 show a state in which various numerical values are input to the screen 1 or the screen 2.

次に、モード設定結果に応じて、画面1の表示の下で図8の左側のフロー(ステップS1〜S4)に従って、あるいは、画面2の表示の下で図8の右側のフロー(ステップS11〜S16)に従って、操作並びに関連処理が進められる。図8から明らかなように、左右のフローの違いは、テーパ加工選択時には「基準面高さの入力」(ステップS12)と「オフセット量測定」(ステップS14)があるが、垂直加工選択時にはそれらが無いことである(その理由は後述する)。   Next, according to the mode setting result, the flow on the left side of FIG. 8 (steps S1 to S4) under the display of screen 1 or the flow on the right side of FIG. In accordance with S16), the operation and related processes are advanced. As is clear from FIG. 8, the difference between the left and right flows includes “input of reference surface height” (step S12) and “offset amount measurement” (step S14) when taper machining is selected. (The reason will be described later).

以下、各ステップについて簡単に説明すれば、次のようになる。
●ステップS1、S11について;
タッチプローブユニット100を用いて測定を行う3点P1、P2、P3のXY位置を画面1上(ステップS1)、あるいは、画面2上(ステップS11)で行う。また、P1、P2、P3に対応させてZ位置の入力も併せて行う。Z位置を入力する理由は、測定時にプローブの降下を高速/低速の2段階で行うためである。
The following is a brief description of each step.
● About steps S1 and S11;
The XY positions of the three points P1, P2, and P3 that are measured using the touch probe unit 100 are measured on the screen 1 (step S1) or on the screen 2 (step S11). In addition, the Z position is also input corresponding to P1, P2, and P3. The reason for inputting the Z position is that the probe is lowered in two stages of high speed and low speed during measurement.

従って、Z位置は、ワーク30の上面31よりも適当な小距離(例えば1cm程度)だけ上方にプローブが来るようなZ軸の位置とする。後述するように、測定時にプローブは、入力されたZ位置まで高速で下降し、そこから低速に切り替わり、接触が検知されるまでワーク30の上面31に向かって下降する。   Therefore, the Z position is a Z-axis position where the probe is positioned above the upper surface 31 of the work 30 by an appropriate small distance (for example, about 1 cm). As will be described later, at the time of measurement, the probe descends at a high speed to the input Z position, switches from there to a low speed, and descends toward the upper surface 31 of the workpiece 30 until contact is detected.

図6、図7に記した諸数値はあくまで例示であり、画面1、2における数値が同じになっているが、違っていても良いことは言うまでもない。一般に、タッチプローブユニット100の可動範囲を逸脱しない範囲で、XY平面上で一直線上に並ばない3点を選べば良い。   The numerical values shown in FIGS. 6 and 7 are merely examples, and the numerical values in the screens 1 and 2 are the same, but it goes without saying that they may be different. In general, three points that do not line up on the XY plane within a range that does not deviate from the movable range of the touch probe unit 100 may be selected.

数値を入力したら、「入力完了」のキーをクリックする。なお、指定した3点が一直線上に並んでいないことをソフトウェアで確認できるようにしておき、もしも一直線上に並ぶ3点が指定された場合には再入力を促すアラームメッセージを表示するようにしても良い。また、指定する測定点は4点以上としても良い。その場合には、P4, P5・・・等の数値を入力する。   After entering the numerical value, click the “Input Complete” key. It should be noted that the software can confirm that the three specified points are not aligned on a straight line, and if three points aligned on a straight line are specified, an alarm message prompting re-input is displayed. Also good. Also, the number of measurement points to be specified may be four or more. In that case, a numerical value such as P4, P5.

●ステップS12について;
このステップは、テーパ加工モード選択時のみ実行される。「基準面の高さ」とは、テーブル1の載置面2から測った「基準面」の高さである。ここで、基準面はワーク30の上面31である。従って、「基準面高さ」はワーク30の厚さということになる。このデータには、別途計測された厚さの値を採用することができ、これを図7に示した画面2上で行う。なお、h=24.5mmは、1つの例示に過ぎない。
● About step S12;
This step is executed only when the taper machining mode is selected. The “reference surface height” is the height of the “reference surface” measured from the placement surface 2 of the table 1. Here, the reference surface is the upper surface 31 of the workpiece 30. Therefore, the “reference surface height” is the thickness of the workpiece 30. For this data, a separately measured thickness value can be adopted, which is performed on the screen 2 shown in FIG. Note that h = 24.5 mm is merely an example.

●ステップS2、S13について;
画面1あるいは画面2で所要のデータを行い、入力完了キーをクリックすると、測定プログラムが起動可能な状態となる。そして、安全確認等行った上で起動キーをクリックすると、測定プログラムが起動される。
測定プログラムによって実行される測定は、「垂直加工モード」選択時には「ワーク上面の3点の位置計測」(ステップS3)であり、「テーパ加工モード」選択時には「オフセット量の測定」(ステップS14)と「ワーク上面の3点の位置計測」(ステップS15)である。
● About steps S2 and S13;
When the required data is performed on screen 1 or screen 2 and the input completion key is clicked, the measurement program can be activated. Then, when the safety key is checked and the activation key is clicked, the measurement program is activated.
The measurement executed by the measurement program is “position measurement of three points on the workpiece upper surface” (step S3) when “vertical machining mode” is selected, and “measurement of offset amount” (step S14) when “taper machining mode” is selected. And “Measurement of three positions on the upper surface of the workpiece” (step S15).

●ステップS14について;
このステップは、テーパ加工モード選択時のみ実行される。オフセット量測定の手順を図9(a)〜図9(c)を参照して説明すれば次のようになる。ワークテーブル1の載置面2上でワーク30(図9(a)〜図9(c)では図示省略)で占拠されていない部分(予め用意された空き領域)に治具50を設置する。治具50はタッチプローブの先端点101よりも大きな径を持つ穴51を有している。
なおここでは、ワイヤ電極7はZ軸に平行(XY平面に垂直)に張架されるよう予め調整されているものとする。
● About step S14;
This step is executed only when the taper machining mode is selected. The procedure for measuring the offset amount will be described as follows with reference to FIGS. 9 (a) to 9 (c). On the mounting surface 2 of the work table 1, a jig 50 is installed in a portion (a preliminarily prepared empty area) that is not occupied by the work 30 (not shown in FIGS. 9A to 9C). The jig 50 has a hole 51 having a diameter larger than the tip point 101 of the touch probe.
Here, it is assumed that the wire electrode 7 is adjusted in advance so as to be stretched parallel to the Z axis (perpendicular to the XY plane).

まず、上下ガイド5、6が冶具50の穴51の位置へ移動し、この穴51にワイヤ電極7を通す(図9(a)参照)。なお、ここで移動する穴51の位置は、ワイヤ電極7を穴51へ通すのに支障のないおおよその位置が、予めメモリに記憶されている。次に+X(または−X)方向にガイド5、6を移動させ冶具50とワイヤ電極7が接触した位置を記憶する。次に反対方向、つまり−X(または+X)方向に移動し、同様に冶具50とワイヤ電極7が接触した位置を記憶する。この記憶された2つの位置データの中心、つまり穴51のX方向の中心位置を求める。同様の手順で穴51のY方向の中心を求める。ここで求められた穴51の中心座標位置(x1,y1)を電装部20のメモリに記憶する。
なお測定精度を高めるために、これらの手順を複数回行い、得られた中心座標位置の平均値をとっても良い。
First, the upper and lower guides 5 and 6 move to the position of the hole 51 of the jig 50, and the wire electrode 7 is passed through the hole 51 (see FIG. 9A). The position of the hole 51 that moves here is stored in advance in the memory as an approximate position that does not hinder the wire electrode 7 from passing through the hole 51. Next, the guides 5 and 6 are moved in the + X (or -X) direction, and the position where the jig 50 and the wire electrode 7 are in contact is stored. Next, it moves in the opposite direction, that is, in the −X (or + X) direction, and similarly stores the position where the jig 50 and the wire electrode 7 are in contact with each other. The center of the two stored position data, that is, the center position of the hole 51 in the X direction is obtained. The center in the Y direction of the hole 51 is obtained in the same procedure. The central coordinate position (x1, y1) of the hole 51 obtained here is stored in the memory of the electrical equipment unit 20.
In order to increase the measurement accuracy, these procedures may be performed a plurality of times, and the average value of the obtained center coordinate positions may be taken.

次いで、ワイヤ電極7を一旦上下ガイドから外し、タッチプローブユニット100に制御信号を送り、プローブ102の先端点101を下降させる(図4(a)参照)。そして図9(b)に示したように、穴51の中へ先端点101が入る位置へ上下ガイド5、6を移動する。なおここで移動する位置は、先端点101が穴51の中へ入るのに支障のないおおよその位置が、予めメモリに記憶されている。   Next, the wire electrode 7 is once removed from the vertical guide, a control signal is sent to the touch probe unit 100, and the tip point 101 of the probe 102 is lowered (see FIG. 4A). Then, as shown in FIG. 9B, the upper and lower guides 5 and 6 are moved to a position where the tip point 101 enters the hole 51. In addition, the approximate position that does not hinder the tip point 101 from entering the hole 51 is stored in the memory in advance.

次に+X(または−X)方向にガイド5、6を移動、つまりタッチブローブを移動させ冶具50と先端点101が接触した位置を記憶する。次に反対方向、つまり−X(または+X)方向に移動し、同様に冶具50と先端点101が接触した位置を記憶する。この記憶された2つの位置データの中心、つまり穴51のX方向の中心位置を求める。同様の手順で穴51のY方向の中心を求める。ここで求められた穴51の中心座標位置(x2,y2)を電装部20のメモリに記憶する。   Next, the guides 5 and 6 are moved in the + X (or -X) direction, that is, the touch probe is moved, and the position where the jig 50 and the tip point 101 are in contact is stored. Next, it moves in the opposite direction, that is, in the −X (or + X) direction, and similarly stores the position where the jig 50 and the tip point 101 are in contact with each other. The center of the two stored position data, that is, the center position of the hole 51 in the X direction is obtained. The center in the Y direction of the hole 51 is obtained in the same procedure. The center coordinate position (x2, y2) of the hole 51 obtained here is stored in the memory of the electrical equipment unit 20.

なお、測定精度を高めるために、これらの手順を複数回行い、得られた中心座標位置の平均値をとっても良い。またここでは、冶具50の穴51を基準位置としたが、冶具50のコーナ部を基準位置とし、そのための測定シーケンスを用いても良い。
これらの両測定結果の差分からオフセット量ΔのX成分Δx、Y成分Δyを求めることができる。Δx=x2-x1、Δy=y2-y1となる。これらを電装部20のメモリに記憶する。
In order to improve measurement accuracy, these procedures may be performed a plurality of times, and an average value of the obtained center coordinate positions may be taken. Here, the hole 51 of the jig 50 is used as the reference position, but the corner portion of the jig 50 may be used as the reference position, and a measurement sequence for that purpose may be used.
From the difference between these two measurement results, the X component Δx and the Y component Δy of the offset amount Δ can be obtained. Δx = x2−x1 and Δy = y2−y1. These are stored in the memory of the electrical unit 20.

オフセット量ΔのZ成分Δzを求めるには、図9(c)に示したように、ワイヤ電極7を上ガイド5から取り外し、タッチプローブユニット100は退避させた状態で、例えばワークテーブル1の載置面2または治具50の上面に、上ガイド5を手動操作して接触さた時のZ座標値を求めて予め記憶しておく。これをz0とする。そして、タッチプローブユニット100を測定用の位置まで下降させた状態で、同じ面(ワークテーブル1の載置面2または治具50の上面)に接触させた時のZ座標値を求める。これをz3とすれば、オフセット量ΔのZ成分Δzは、Δz=z0−z3となる。これを電装部20のメモリに記憶する。以上でオフセット量の測定は完了する。   In order to obtain the Z component Δz of the offset amount Δ, as shown in FIG. 9C, the wire electrode 7 is detached from the upper guide 5 and the touch probe unit 100 is retracted. A Z coordinate value is obtained and stored in advance when the upper guide 5 is manually operated and brought into contact with the placement surface 2 or the upper surface of the jig 50. Let this be z0. Then, the Z coordinate value when the touch probe unit 100 is brought into contact with the same surface (the placement surface 2 of the work table 1 or the upper surface of the jig 50) while being lowered to the measurement position is obtained. If this is z3, the Z component Δz of the offset amount Δ is Δz = z0−z3. This is stored in the memory of the electrical unit 20. This completes the measurement of the offset amount.

●ステップS3、S15について;
画面1あるいは画面2で入力された位置P1へ上ガイド5を移動させる(位置P1に一旦位置決め)。既述の通り、P1のZ位置はこの移動でプローブがワーク30の上面31に接触(衝突)してしまわないように指定(入力)されているので、この移動は高速で行うことができる。
● About steps S3 and S15;
The upper guide 5 is moved to the position P1 input on the screen 1 or 2 (positioning to the position P1 once). As described above, the Z position of P1 is designated (input) so that the probe does not come into contact (collision) with the upper surface 31 of the workpiece 30 by this movement, so this movement can be performed at high speed.

この移動後、Z軸に沿ってタッチプローブユニット100を徐々に降下させ(低速降下)、その先端点101をワーク上面31に接触させる。前述した通り、この接触により接点信号が電装部20に送られ、接触が検出されることになる。なお、接触検出と同時にZ軸(プローブ)は自動的に移動停止する。そして、この接触検出時のXYZ位置を記憶する。位置P2、P3についても同様の手順で、ワーク上面31への接触時のXYZ位置を記憶する。   After this movement, the touch probe unit 100 is gradually lowered along the Z axis (low speed descent), and the tip point 101 is brought into contact with the workpiece upper surface 31. As described above, the contact signal is sent to the electrical component 20 by this contact, and the contact is detected. Note that the Z-axis (probe) automatically stops moving simultaneously with contact detection. And the XYZ position at the time of this contact detection is memorize | stored. The XYZ position at the time of contact with the workpiece upper surface 31 is stored in the same procedure for the positions P2 and P3.

ここで記憶された接触検出時のXYZ位置は、タッチプローブの先端点101がワークに接触したときの位置なので、前述のオフセット量ΔxΔyΔzを用いて、上ガイド位置(制御点)を求める。
測定点nの上ガイド位置(制御点)の座標(Xn,Yn,Zn)
=接触検出時の座標(xn,yn,zn)+オフセット量(Δx,Δy,Δz) (n=1,2,3)
Since the stored XYZ position at the time of contact detection is the position when the tip point 101 of the touch probe contacts the workpiece, the upper guide position (control point) is obtained using the above-described offset amount ΔxΔyΔz.
Coordinates (Xn, Yn, Zn) of upper guide position (control point) of measurement point n
= Coordinates (xn, yn, zn) + offset amount (Δx, Δy, Δz) (n = 1, 2, 3)

●ステップS4、S16について;
これら補正のステップでは、まずステップS3、S15で求められた測定点の上ガイド位置(制御点)の座標(Xn,Yn,Zn)より、ワークの傾きとワーク上面の3次元位置を求める。図10は、その求め方の例を説明する図である。ここでは説明を簡単にするために、ワークがXZ平面に対してのみ傾いているとしている。そのため、以下の説明では測定された2点のデータのみで傾きを求めることができるがこれは一例である。
● About steps S4 and S16;
In these correction steps, first, the workpiece inclination and the three-dimensional position of the workpiece upper surface are obtained from the coordinates (Xn, Yn, Zn) of the upper guide position (control point) obtained in steps S3 and S15. FIG. 10 is a diagram for explaining an example of how to obtain it. Here, in order to simplify the explanation, it is assumed that the workpiece is inclined only with respect to the XZ plane. Therefore, in the following description, the inclination can be obtained only from the measured data of two points, but this is an example.

ワーク傾きθは θ=tan-1[(z2-z1)/(x2-x1)]で求めることができる。また、傾いたワーク上面のZ位置は Z=tanθ*X+b となる。
bの値は、下記の連立方程式を解くことにより求められる。
z1= tanθ*x1+b
z2= tanθ*x2+b
The workpiece inclination θ can be obtained by θ = tan −1 [(z2−z1) / (x2−x1)]. Also, the Z position of the tilted workpiece upper surface is Z = tan θ * X + b.
The value of b can be obtained by solving the following simultaneous equations.
z1 = tanθ * x1 + b
z2 = tanθ * x2 + b

また、基準面と傾いたワーク上面の交点Pのガイド位置は Px=(t-b)/ tanθ となる。 ここでtは入力された基準面高さにおけるZ座標である。(既値として登録されているテーブル面のZ座標と基準面高さの値から求めることができる。)
図11〜図13は、補正の流れを示す。先ず図11は、補正が行われた瞬間を表したものである。ワイヤ位置A(破線)は補正前のワイヤ位置である。補正が起動されると、まずワイヤ位置Aと基準面の交点座標Paを得る。これによりPxからの距離Daを求めることができる。次にPxを始点として傾いたワーク上面を距離Daだけ離れたワイヤ位置QとPaの差△1を求めると、△1=Da−Da*cosθとなる。
The guide position of the intersection point P between the reference surface and the tilted workpiece upper surface is Px = (tb) / tan θ. Here, t is the Z coordinate at the input reference plane height. (It can be obtained from the Z coordinate of the table surface registered as the existing value and the value of the reference surface height.)
11 to 13 show the flow of correction. First, FIG. 11 shows the moment when correction is performed. The wire position A (broken line) is the wire position before correction. When the correction is started, first, an intersection coordinate Pa between the wire position A and the reference plane is obtained. Thereby, the distance Da from Px can be obtained. Next, when the difference Δ1 between the wire positions Q and Pa that are separated by a distance Da from the upper surface of the workpiece tilted starting from Px, Δ1 = Da−Da * cos θ.

次にワイヤ位置Qと傾いたワーク上面の交点を中心としてワイヤを傾ける(傾いたワークに対してワイヤが垂直になるようにする)ための上ガイド移動量△2Uと下ガイド移動量△2Lを求めると、△2U=(L−Da*sinθ−L1−L2)*tanθ、△2L=(Da*sinθ+L1+L2)*tan−θとなる。ここでL1は入力された基準面高さ、L2はテーブル−下ガイド間の距離(予め登録されている既値)。従って補正が行われた瞬間の上ガイド移動量△Uと下ガイド移動量△Lは、△U=△1+△2U、△L=△1+△2Lとなり、ワイヤはA‘の位置へ移動する。   Next, an upper guide movement amount Δ2U and a lower guide movement amount Δ2L for inclining the wire about the intersection point of the wire position Q and the inclined workpiece upper surface (so that the wire is perpendicular to the inclined workpiece) When calculated, Δ2U = (L−Da * sin θ−L1−L2) * tan θ, Δ2L = (Da * sin θ + L1 + L2) * tan−θ. Here, L1 is the input reference surface height, and L2 is the distance between the table and the lower guide (the existing value registered in advance). Accordingly, the upper guide movement amount ΔU and the lower guide movement amount ΔL at the moment of correction are ΔU = Δ1 + Δ2U and ΔL = Δ1 + Δ2L, and the wire moves to the position A ′.

次に、図12は、ワイヤ位置Aからワイヤ位置Bへ垂直加工を行う場合である。先ず、Paと移動指令DよりPxからの距離Dbを求める。
Pxを始点として傾いたワーク上面を距離Dbだけ離れたワイヤ位置Qのガイド位置GはG=Px+Db*cosθとなる。ワイヤを傾けるための上ガイド移動量△2Uと下ガイド移動量△2Lは△2U=(L−Db*sinθ−L1−L2)*tanθ、△2L=(Db*sinθ+L1+L2)*tan−θとなる。従って、ワイヤ位置B‘での上ガイド位置BUと下ガイド位置BLは、BU=G+△2U、BL=G+△2Lとなる。
Next, FIG. 12 shows a case where vertical machining is performed from the wire position A to the wire position B. First, the distance Db from Px is obtained from Pa and the movement command D.
The guide position G of the wire position Q that is separated from the upper surface of the workpiece inclined by Px by the distance Db is G = Px + Db * cos θ. The upper guide movement amount Δ2U and the lower guide movement amount Δ2L for inclining the wire are Δ2U = (L−Db * sin θ−L1−L2) * tan θ and Δ2L = (Db * sin θ + L1 + L2) * tan−θ. . Accordingly, the upper guide position BU and the lower guide position BL at the wire position B ′ are BU = G + Δ2U and BL = G + Δ2L.

次に、図13は、ワイヤ位置Aからワイヤ位置Bへテーパ加工を行う場合である。
一般的に移動指令Dはプログラム面における指令であり、基準面(ワーク上面)の指令ではない。基準面での移動量Duを求めるとDu=D+(L1−L3)*tanΦとなり、Paと基準面の移動指令Duより、Pxからの距離Dbを求める。
Next, FIG. 13 shows a case where taper processing is performed from the wire position A to the wire position B.
In general, the movement command D is a command on the program surface, not a command on the reference surface (work upper surface). When the movement amount Du on the reference plane is obtained, Du = D + (L1−L3) * tanΦ, and the distance Db from Px is obtained from Pa and the movement instruction Du of the reference plane.

前述の垂直加工と比べて指令されたΦの角度だけワイヤが傾くので、ワイヤを傾けるための上ガイド移動量△2Uと下ガイド移動量△2Lは△2U=(L−Db*sinθ−L1−L2)*tan(θ+Φ)、△2L=(Db*sinθ+L1+L2)*tan−(θ+Φ)となる。従って、ワイヤ位置B‘での上ガイド位置BUと下ガイド位置BLは、BU=G+△2U、BL=G+△2Lとなる。   Since the wire is inclined by the angle of Φ commanded compared to the above-described vertical machining, the upper guide movement amount Δ2U and the lower guide movement amount Δ2L for inclining the wire are Δ2U = (L−Db * sin θ−L1−). L2) * tan (θ + Φ), Δ2L = (Db * sin θ + L1 + L2) * tan− (θ + Φ). Accordingly, the upper guide position BU and the lower guide position BL at the wire position B ′ are BU = G + Δ2U and BL = G + Δ2L.

図14は、垂直加工の場合に、誤った基準面の値が設定(例えばオペレータの入力ミスや外部装置でのワーク厚さ測定ミス等)された場合の例である。垂直加工の場合、移動指令に対するワーク上のどの高さの移動量も同じであるので、距離Dbを求めるのには影響がない。従って本補正方法においては垂直加工の場合、基準面の値に関係なく正しく補正を行うことができる。
図15は、垂直加工の場合に、ワーク上面の位置が正しく測定されていなかった(ステップ14のプローブの取り付けオフセット量測定のミス等)場合の例である。
FIG. 14 shows an example in the case where an incorrect reference plane value is set (for example, an operator input error or an workpiece thickness measurement error in an external device) in the case of vertical machining. In the case of vertical machining, the movement amount at any height on the workpiece with respect to the movement command is the same, so there is no influence on obtaining the distance Db. Therefore, in the present correction method, in the case of vertical machining, correct correction can be performed regardless of the value of the reference surface.
FIG. 15 shows an example of a case where the position of the upper surface of the workpiece has not been correctly measured in the case of vertical machining (such as an error in measuring the probe mounting offset in step 14).

垂直加工の場合、移動指令に対するワーク上のどの高さの移動量も同じであるので、補正対象面(傾いたワーク上面)の位置が違っても、正しい加工を行うことができる。
図16は、テーパ加工の場合に、誤った基準面の値が設定された場合の例である。テーパ加工の場合、ワークの高さ位置によって移動指令に対する移動量が変わるので、間違った基準面が指定されると、距離Dbの値が正しい基準面での移動量と異なり、正しい補正を行うことができない。
図17は、テーパ加工の場合に、ワーク上面の位置が正しく測定されていなかった場合の例である。
In the case of vertical machining, since the amount of movement at any height on the workpiece with respect to the movement command is the same, correct machining can be performed even if the position of the correction target surface (inclined workpiece upper surface) is different.
FIG. 16 is an example in which an incorrect reference surface value is set in the case of taper machining. In taper machining, the amount of movement relative to the movement command varies depending on the workpiece height position. If an incorrect reference plane is specified, the distance Db value differs from the amount of movement on the correct reference plane, and correct correction is performed. I can't.
FIG. 17 shows an example in which the position of the workpiece upper surface is not correctly measured in the case of taper machining.

この場合、誤ったワーク上面上に対して正しい補正を行うため、実際のワーク上面では正しい補正が行われない。
このように垂直加工においては、入力された基準面のデータ及び測定されたワーク上面の位置(測定されたプローブの取付けオフセット量の影響)は補正に影響を与えないので
これらを省略することができる。
In this case, since correct correction is performed on the wrong workpiece upper surface, correct correction is not performed on the actual workpiece upper surface.
As described above, in the vertical machining, the input reference plane data and the measured position of the workpiece upper surface (the influence of the measured probe mounting offset amount) do not affect the correction, and therefore can be omitted. .

ワイヤ放電加工において、ワークが傾斜している場合にワイヤを傾斜させて加工を行うことを説明する図で、(a)はワーク傾斜時にワイヤを傾斜させないで加工を行った場合を表わし、(b)はワーク傾斜時にワイヤを適正に傾斜させて加工を行った場合を表わしている。In the wire electric discharge machining, when the workpiece is inclined, the drawing is performed to incline the wire and (a) shows the case where the workpiece is processed without inclining the wire when the workpiece is inclined. ) Represents a case where machining is performed by properly tilting the wire when the workpiece is tilted. 本発明の実施形態で採用されるワイヤ放電加工機の概略構成を略示した図である。It is the figure which showed schematically the schematic structure of the wire electric discharge machine employ | adopted by embodiment of this invention. ワークの設置姿勢が傾斜する様子を例示した図である。It is the figure which illustrated a mode that the installation posture of a work inclines. タッチプローブとそのオフセットについて説明する図で、(a)は上ガイド5への取付け態様を示す概観図、(b)〜(d)は、それぞれタッチプローブユニット100の上ガイド5への取付けにおけるオフセットのX成分、Y成分、Z成分について説明するための正面図と2つの側面図1、2である。It is a figure explaining a touch probe and its offset, (a) is a general-view figure which shows the attachment aspect to the upper guide 5, (b)-(d) is the offset in the attachment to the upper guide 5 of the touch probe unit 100, respectively. It is the front view and two side views 1 and 2 for demonstrating X component of this, Y component, and Z component. モード設定画面を例示したものである。It illustrates a mode setting screen. 垂直加工モード選択のデータ入力画面を例示したものである。FIG. 6 illustrates a data input screen for selecting a vertical machining mode. FIG. テーパ加工モード選択のデータ入力画面を例示したものである。FIG. 6 illustrates a data input screen for selecting a taper machining mode. FIG. 垂直加工モード選択時及びテーパ加工モード選択時のフローを示した図である。It is the figure which showed the flow at the time of vertical process mode selection and taper process mode selection. タッチプローブのオフセット量の計測手順について説明する図で、(a)・(b)はオフセット量のXY成分の計測手順、(c)はオフセット量のZ成分の計測手順をそれぞれ表わしている。It is a figure explaining the measurement procedure of the offset amount of a touch probe, (a) * (b) represents the measurement procedure of XY component of offset amount, (c) represents the measurement procedure of Z component of offset amount, respectively. ワークの傾きとワーク上面の3次元位置の求め方の例を説明する図である。It is a figure explaining the example of how to obtain | require the inclination of a workpiece | work, and the three-dimensional position of a workpiece | work upper surface. 入力された基準面高さに基づいて補正が行われた瞬間を表しす図である。It is a figure showing the moment when correction | amendment was performed based on the input reference plane height. ワイヤ位置Aからワイヤ位置Bへ垂直加工を行う場合における補正について説明する図である。It is a figure explaining the correction | amendment in the case of performing a vertical process from the wire position A to the wire position B. FIG. ワイヤ位置Aからワイヤ位置Bへテーパ加工を行う場合における補正について説明する図である。It is a figure explaining correction in the case of performing taper processing from wire position A to wire position B. 垂直加工の場合に、誤った基準面の値が設定(例えばオペレータの入力ミスや外部装置でのワーク厚さ測定ミス等)された場合の例について、説明する図である。It is a figure explaining the example when the value of an incorrect reference plane is set (for example, the operator's input mistake, the workpiece thickness measurement mistake in an external device, etc.) in the case of perpendicular processing. 垂直加工の場合に、ワーク上面の位置が正しく測定されていなかった(ステップ14のプローブの取り付けオフセット量測定のミス等)場合の例について説明する図である。It is a figure explaining the example when the position of the workpiece | work upper surface is not measured correctly in the case of vertical processing (a mistake of the probe attachment offset amount measurement of step 14, etc.). テーパ加工の場合に、誤った基準面の値が設定された場合の例について説明する図である。It is a figure explaining the example when the value of an incorrect reference plane is set in the case of taper processing. テーパ加工の場合に、ワーク上面の位置が正しく測定されていなかった場合の例について説明する図である。It is a figure explaining the example when the position of the workpiece | work upper surface is not correctly measured in the case of a taper process.

符号の説明Explanation of symbols

1 ワークテーブル
2 載置面
3 X軸駆動機構
4 Y軸駆動機構
5 上ガイド
6 下ガイド
7 ワイヤ電極
8 Z軸駆動機構
9 U軸駆動機構
10 V軸駆動機構
11、13 ガイドローラ
12 ワイヤ供給部
14 ワイヤ巻取部
20 電装部
21 操作パネル
30 ワーク
31 上面(下面と平行な面ワーク面)
32 下面
33 加工点
34 加工線(加工済み)
40 スラッジ
50 治具
51 穴
100 タッチプローブユニット
101 タッチプローブの先端点
102 タッチプローブ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Worktable 2 Mounting surface 3 X-axis drive mechanism 4 Y-axis drive mechanism 5 Upper guide 6 Lower guide 7 Wire electrode 8 Z-axis drive mechanism 9 U-axis drive mechanism 10 V-axis drive mechanism 11, 13 Guide roller 12 Wire supply part 14 Wire winding part 20 Electrical part 21 Operation panel 30 Work piece 31 Upper surface (surface work surface parallel to the lower surface)
32 Lower surface 33 Processing point 34 Processing line (machined)
40 Sludge 50 Jig 51 Hole 100 Touch probe unit 101 Touch probe tip point 102 Touch probe

Claims (4)

被加工ワークをテーブル上に載置し、上ガイドと下ガイドの間で張架されたワイヤ電極をX軸及びX軸と直交するY軸からなるXY平面において前記テーブルに対して相対移動させ、前記ワークに対して加工を行うワイヤカット放電加工機において、
テーパ加工を行うテーパ加工モードと、テーパ加工を行わない垂直加工モードのいずれかを選択する加工モード選択手段と、
前記上ガイドの位置との間で一定のオフセット量を維持して移動可能な測定子を含み、該測定子を用いて前記テーブル上に載置された前記ワークの傾きを測定する傾斜測定手段と、
前記加工モード選択手段によってテーパ加工モードが選択された場合に、前記傾斜測定手段によって測定された前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさ及び傾きの方向と、前記ワークの基準面高さと、前記オフセット量に基づいて、前記ワイヤ電極をXY平面に対して垂直な±Z方向に対して傾ける傾斜補正、並びに、加工プログラムで指定された加工経路に関して前記ワイヤ電極のXY位置補正を行う第1の補正手段と、
前記加工モード選択手段によって垂直加工モードが選択された場合に、前記傾斜測定手段によって測定された前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさ及び傾きの方向に基づいて、前記ワイヤ電極の傾斜補正、並びに、加工プログラムで指定された加工経路に関して前記ワイヤ電極のXY位置補正を行う第2の補正手段と、
前記第1の補正手段または前記第2の補正手段による、ワイヤ電極の傾斜補正及びXY位置補正の下で加工プログラムに従った加工を実行する実行手段とを備え、
前記基準面高さは、前記テーブル上に水平に載置された前記ワークの下面から見た前記ワークの上面までの高さであることを特徴とする、ワイヤカット放電加工機。
Place the workpiece on the table, move the wire electrode stretched between the upper guide and the lower guide relative to the table in the XY plane consisting of the X axis and the Y axis perpendicular to the X axis, In a wire cut electric discharge machine that processes the workpiece,
Machining mode selection means for selecting one of a taper machining mode for performing taper machining and a vertical machining mode for not performing taper machining;
Inclination measuring means for measuring the inclination of the workpiece placed on the table using the measuring element, including a measuring element that is movable while maintaining a certain offset amount with respect to the position of the upper guide; ,
When the taper machining mode is selected by the machining mode selection means, the magnitude and direction of the inclination of the workpiece with respect to the XY plane measured by the inclination measurement means, the reference surface height of the workpiece, and the offset Based on the amount, a first correction for tilting the wire electrode with respect to the ± Z direction perpendicular to the XY plane and correcting the XY position of the wire electrode with respect to the machining path specified by the machining program Means,
When the vertical machining mode is selected by the machining mode selection unit, the inclination correction of the wire electrode is performed based on the magnitude and direction of the inclination of the workpiece with respect to the XY plane measured by the inclination measurement unit, and Second correction means for correcting the XY position of the wire electrode with respect to the processing path specified by the processing program;
Execution means for executing processing according to a processing program under the correction of the inclination of the wire electrode and the correction of the XY position by the first correction means or the second correction means,
The wire-cut electric discharge machine, wherein the reference surface height is a height from the lower surface of the workpiece placed horizontally on the table to the upper surface of the workpiece.
前記傾斜測定手段は、前記測定子を用いて、前記テーブルに載置された前記ワークの上面における一直線上に並ばない少なくとも3点の3次元相対位置関係を求める手段を含み、該手段によって求められた前記3次元相対位置関係に基づいて前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさと傾きの方向を測定することを特徴とする、請求項1に記載のワイヤカット放電加工機。   The inclination measuring means includes means for obtaining a three-dimensional relative positional relationship of at least three points that are not aligned on a straight line on the upper surface of the workpiece placed on the table using the measuring element, and is obtained by the means. The wire-cut electric discharge machine according to claim 1, wherein a magnitude and a direction of inclination of the workpiece with respect to the XY plane are measured based on the three-dimensional relative positional relationship. 前記オフセット量は、3次元位置が既知である基準位置を前記測定子で測定することによって求められることを特徴とする、請求項1または請求項2に記載のワイヤカット放電加工機。   The wire-cut electric discharge machine according to claim 1 or 2, wherein the offset amount is obtained by measuring a reference position whose three-dimensional position is known with the measuring element. 被加工ワークをテーブル上に載置し、上ガイドと下ガイドの間で張架されたワイヤ電極をX軸及びX軸と直交するY軸からなるXY平面において前記テーブルに対して相対移動させる手段と、前記上ガイドの位置との間で一定のオフセット量を維持して移動可能な測定子を含み、該測定子を用いて前記テーブル上に載置された前記ワークの傾きを測定する傾斜測定手段とを備えたワイヤカット放電加工機を用いたワイヤカット放電加工方法において、
前記ワークに対してテーパ加工を行うテーパ加工モード及びテーパ加工を行わない垂直加工モードのいずれかを選択するステップと、
前記第1のステップにおける選択結果に応じて第1のステップ群または第2のステップ群のいずれか一方を実行するステップからなり、
前記第1のステップ群は、
前記ワークの基準面高さを前記ワイヤカット放電加工機に入力する入力ステップと、
前記オフセット量を測定するオフセット量測定ステップと、
前記傾斜測定手段を用いて前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさと傾きの方向とを測定する傾斜測定ステップと、
前記傾斜測定ステップで測定された、前記テーブルに載置された前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさ及び傾きの方向と、前記入力ステップで入力された基準面高さと、前記オフセット量測定ステップで測定されたオフセット量に基づいて、前記ワイヤ電極をXY平面に対して垂直な±Z方向に対して傾斜させるとともに、加工プログラムで指定された加工経路に関して前記ワイヤ電極のXY位置補正を行いながら加工を実行する第1の加工ステップとからなり、
前記第2のステップ群は、
前記傾斜測定手段を用いて前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさと傾きの方向とを測定する傾斜測定ステップと、
前記傾斜測定ステップで測定された、前記テーブルに載置された前記ワークのXY平面に対する傾きの大きさ及び傾きの方向に基づいて、XY平面に対して垂直な±Z方向に対して前記ワイヤ電極を傾斜させるとともに、加工プログラムで指定された加工経路を補正して加工を実行する第2の加工ステップからなり、
前記基準面高さは、前記テーブル上に水平に載置された前記ワークの下面から見た前記ワークの上面までの高さであることを特徴とする、ワイヤ放電加工方法。
Means for placing a workpiece on a table and moving a wire electrode stretched between an upper guide and a lower guide relative to the table on an XY plane composed of an X axis and a Y axis perpendicular to the X axis Inclination measurement that measures the inclination of the workpiece placed on the table using a measuring element that is movable while maintaining a certain offset amount between the upper guide position and the position of the upper guide In a wire cut electric discharge machining method using a wire cut electric discharge machine equipped with means,
Selecting one of a taper machining mode for performing taper machining on the workpiece and a vertical machining mode for not performing taper machining;
The method includes a step of executing either the first step group or the second step group according to the selection result in the first step,
The first step group includes:
An input step of inputting the reference surface height of the workpiece into the wire cut electric discharge machine;
An offset amount measuring step for measuring the offset amount;
An inclination measuring step for measuring the magnitude and direction of the inclination of the workpiece with respect to the XY plane using the inclination measuring means;
The magnitude and direction of the inclination of the workpiece placed on the table with respect to the XY plane measured in the inclination measurement step, the reference surface height input in the input step, and the offset amount measurement step Based on the measured offset amount, the wire electrode is tilted with respect to the ± Z direction perpendicular to the XY plane, and processing is performed while correcting the XY position of the wire electrode with respect to the processing path specified by the processing program. And a first machining step that executes
The second step group includes:
An inclination measuring step for measuring the magnitude and direction of the inclination of the workpiece with respect to the XY plane using the inclination measuring means;
The wire electrode with respect to the ± Z direction perpendicular to the XY plane based on the magnitude and the direction of the inclination of the workpiece placed on the table with respect to the XY plane measured in the inclination measuring step. And a second machining step for performing machining by correcting the machining path specified by the machining program,
The wire electric discharge machining method, wherein the reference surface height is a height from the lower surface of the workpiece placed horizontally on the table to the upper surface of the workpiece.
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