JP2007207283A - 周波数検出装置と周波数検出方法及び光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 再生信号からの周波数検出に際して、符号間干渉に影響されない正確な周波数検出を行なう周波数検出装置を提供する。
【解決手段】 再生信号の複数のサンプリング値と基準値（Ｖ０）とを比較し、再生信号と基準値とのグラフ上の第１の交差点である第１ゼロクロス点（Ｚ０）の近傍のサンプリング値である第１サンプル点（Ｓ０）と第２サンプル点（Ｓ１）を特定し、これらの格差により定義される第１傾き値（α）を求め、同様に、第３サンプル点と第４サンプル点との格差により定義される第２傾き値（β）、第５サンプル点と第６サンプル点との格差により定義される第３傾き値（γ）を求め、第１ゼロクロス点から第３ゼロクロス点までの時間を、第１乃至第３傾き値（α，β，γ）に基づいて補正し、補正された時間に基づいて再生信号の周波数を検出する周波数検出装置（１４，図２，図３）。
【選択図】 図１

Description

この発明は、光ディスク等のサンプリングされた再生信号のＳＹＮＣパターン長を測定して周波数（誤差）を検出する周波数検出装置及び周波数検出方法に関する。

光ディスクの高密度化が進むにつれて、波形検出の精度向上が望まれてきている。特許文献１には、光ディスクから再生されるＲＦ信号をＡ／Ｄ変換したディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出し、波形の波長を計測して、この波長に基づいてＡ／Ｄ変換することで、精度のよい波形検出を行なう技術が記載されている。
特開２００５−２４３０８７公報

しかし、特許文献１においては、再生信号の周波数と再生回路の周波数の誤差を検出するために、再生信号のゼロクロス長を計測しているが、この技術をＨＤ ＤＶＤのような高密度記録メディアに適用した場合、強い符号間干渉によってゼロクロス長を正しく計測することが困難であり、高精度の周波数制御ができないという問題がある。

本発明は、再生信号からの周波数検出に際して、符号間干渉に影響されない正確な周波数検出を行なう周波数検出装置を提供することを目的とする。

本発明の一実施形態は、再生信号（ＲＦ）の複数のサンプリング値を求め、この複数のサンプリング値と基準値（Ｖ０）とを比較し、再生信号と基準値とのグラフ上の第１の交差点である第１ゼロクロス点（Ｚ０）の近傍の前記サンプリング値である第１サンプル点（Ｓ０）と第２サンプル点（Ｓ１）を特定し、前記第１サンプル点と第２サンプル点との格差により定義される第１傾き値（α）を求め、前記再生信号と基準値とのグラフ上の第２の交差点である第２ゼロクロス点（Ｚ１）の近傍の前記サンプリング値である第３サンプル点（Ｓ２）と第４サンプル点（Ｓ３）を特定し、前記第３サンプル点と前記第４サンプル点との格差により定義される第２傾き値（β）を求め、前記再生信号と基準値とのグラフ上の第３の交差点である第３ゼロクロス点（Ｚ２）の近傍の前記サンプリング値である第５サンプル点（Ｓ４）と第６サンプル点（Ｓ５）を特定し、前記第５サンプル点と前記第６サンプル点との格差により定義される第３傾き値（γ）を求め、前記第１ゼロクロス点から前記第３ゼロクロス点までの時間を、前記第１乃至第３傾き値（α，β，γ）に基づいて補正し、補正された時間に基づいて前記再生信号の周波数を検出することを特徴とする周波数検出装置である。

光ディスクからの再生信号から符号間干渉に影響されない正確な周波数検出を行なう周波数検出装置を提供する。

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図、図２は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が有する周波数検出器の構成の一例を示すブロック図、図３は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が有する周波数検出器の構成の他の一例を示すブロック図、図４は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が読み取ったＲＦ信号の変化の一例を示すグラフ、図５は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が読み取ったＲＦ信号のゼロクロス点とサンプル点と波長Ｔとサンプル数Ｎとの関係の一例を示すグラフ、図６は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が読み取ったＲＦ信号のゼロクロス点とサンプル点と波長Ｔとサンプル数Ｎとの関係の一例を示すグラフ、図７は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が読み取ったＲＦ信号のゼロクロス点とサンプル点と波長Ｔとサンプル数Ｎ１と時間差ｅとの関係の一例を示すグラフ、図８は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置において波長Ｔ１から周期１３Ｔの値を求めるためのフローチャート、図９は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置において波長Ｔ２から周期３Ｔの値を求めるためのフローチャートである。

＜＜本発明の一実施形態である光ディスク装置＞＞
＜光ディスク装置の構成＞
初めに、本発明の一実施形態である光ディスク装置の構成の一例を説明する。図１において、光ディスク装置１０は、光ディスク媒体Ｄからの情報の読み取りを行う装置であり、ピックアップヘッド（ＰＵＨ）１１、Ａ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）１２、位相比較器１３、周波数検出器１４、ループフィルタ１５、ＶＣＯ（Voltage Controlled Oscillator：電圧制御発振器）１６、トランスバーサルフィルタ１７、ビタビ復号器１８を有する。

ピックアップヘッド１１は、光ディスク媒体Ｄに記録された情報に対応する信号を再生するものであり、光ディスク媒体Ｄにレーザ光を照射するレーザ光源、光ディスク媒体Ｄから反射されたレーザ光を受光する受光器（図示せず）を備える。受光器から出力される再生信号は、再生アンプ（図示せず）によって増幅されて再生ＲＦ信号となる。

Ａ／Ｄコンバータ１２は、入力された再生ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換してディジタルＲＦ信号（多値化ＲＦ信号）を出力する素子である。このディジタルＲＦ信号は、略一定時間間隔で出力される多値のディジタル値である。

Ａ／Ｄコンバータ１２でのＡ／Ｄ変換は、ＶＣＯ１６から出力される制御信号によって制御される。即ち、Ａ／Ｄ変換の周期（時間間隔）がＶＣＯ１６の発振周波数に基づいて定まる。

Ａ／Ｄコンバータ１２は、入力された再生ＲＦ信号のオフセット（ゼロレベル／スライスレベル）及び振幅を調整する調整機構（一種のアンプ）を有し、この調整機構で調整された再生ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換する。なお、この調整機構での再生ＲＦ信号の調整は、トランスバーサルフィルタ１７からの信号調整情報に基づいて行われる。

位相比較器１３は、Ａ／Ｄコンバータ１２から出力される多値化ＲＦ信号とＶＣＯ１６からの出力信号との位相を比較し、位相差を出力する回路である。

周波数検出器１４は、Ａ／Ｄコンバータ１２から入力される多値化ＲＦ信号の周波数を検出（測定）し、この周波数とＶＣＯ１６からの出力信号の周波数の差を表す周波数誤差信号を出力する回路である。又、周波数検出器１４は、出力する周波数誤差信号をループフィルタ１５で使用するか否かを制御する誤差情報制御信号として用いられる周波数誤差検出信号をも出力する。なお、周波数検出器１４の内部構成の詳細は後述する。

ループフィルタ１５は、位相比較器１３から出力される位相誤差、及び周波数検出器１４から出力される周波数誤差に基づいて、ＶＣＯ１６を制御する電圧を発生する回路である。

ＶＣＯ１６は、ループフィルタ１５から出力された制御電圧に対応する周波数で発振する発振回路であり、制御信号発生器として機能する。

トランスバーサルフィルタ１７は、多値化ＲＦ信号をＰＲ波形に等化するフィルタである。トランスバーサルフィルタ１７は、波形等化器として機能し、再生歪みを修整すると共に、再生ＲＦ信号のオフセット（ゼロレベル／スライスレベル）及び振幅を調整するための信号調整情報をＡ／Ｄコンバータ１２へと出力する。

ビタビ復号器１８は、トランスバーサルフィルタ１７で等化されたデータを復号する。

（周波数検出器）
次に、本発明の一実施形態である、符号間干渉の影響を回避する動作を行なうことができる周波数検出器の構成の一例を図面を用いて説明する。

・概要
図２は、周波数検出器１４の機能の概要を説明する図であり、周波数検出器１４は、ＲＦ信号を受けて、例えば１３Ｔ３Ｔ波形を検出する１３Ｔ３Ｔ波形検出部２７と、１３Ｔ３Ｔ波形検出部２７が検出したゼロクロス点の近傍にある複数のサンプル点Ｓ０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４，Ｓ５を受けて、誤差を補正する誤差補正部２８と、誤差補正部２８から補正された周波数信号を受け、基準周波数と比較して、周波数誤差信号ｄを出力する演算器２９とを有している。すなわち、周波数検出器１４は、再生信号から１３Ｔ３Ｔ波形を検出し、更に、符号間干渉による時間的誤差を補正するものである。

・詳細
次に図３は、更に詳細な周波数検出器１４の構成の一例を示すブロック図である。
周波数検出器１４は、図３において、波形検出部２２、波長計測部２３、パターン波長比率評価部２４、ピークホールド部２５、相対周波数誤差算出部２６を備え、多値化ＲＦ信号を入力し、周波数誤差信号および周波数誤差検出信号を出力するものである。

波形検出部２２は、Ａ／Ｄコンバータ１２から出力される多値化ＲＦ信号を入力し、所定の波形が含まれるか否かを検出する。この波形の検出は、多値化ＲＦ信号からシンクパターン（同期信号波形）を取り出して、このシンクパターンに基づいてＡ／Ｄコンバータ１２でのＡ／Ｄ変換の時間間隔を制御するために行われる。

なお、後述のように、波形検出部２２は、第１、第２、第３の閾値Ｖｔｈ、Ｖｔｃ、Ｖｔｌと３つの閾値を記憶し、これら３つの閾値を用いて多値化ＲＦ信号中の第１、第２の波形Ｗ１、Ｗ２を検出する。

波長計測部２３は、波形検出部２２で検出された所定の波形の波長を計測する。このとき、所定の波形が複数の波長を含むときにはその比率を算出する。

ここでいう「波長」とは多値化ＲＦ信号がスライスレベルを横切るに要する時間間隔に対応する量であり、多値化ＲＦ信号がスライスレベル（ゼロ点）から山（正の極値）に達してスライスレベルに戻るか、又はスライスレベル（ゼロ点）から谷（負の極値）に達して再度スライスレベルに戻るまでの時間間隔に対応する。即ち、「波長」は山又は谷が現れて消滅するのに要する時間である。

所定の波形が複数の波長を含む場合とは、例えば、シンクパターンが１３Ｔ、３Ｔの山谷の場合である。このとき、山の部分での波長（スライスレベルから出て戻るまでの時間間隔）１３Ｔと谷の部分の波長３Ｔとの比率１３／３（＝４．３３）が波長の比率である。

以上から判るように、「波長」は、時間、例えば、秒を単位として計測することが可能である。これに換えてその間に出力される多値化ＲＦ信号の個数（Ａ／Ｄコンバータ１２でのＡ／Ｄ変換の回数）を単位として計測することができ、又これで充分である。Ａ／Ｄ変換の時間間隔を制御するためには、絶対的な時間が判らなくても、変換の回数等で定まる相対的な時間が判れば足りるからである。

パターン波長比率評価部２４は、波長計測部２３で算出された波長比率に基づき、検出された波形がシンクパターンである可能性の有無を判定する。例えば、シンクパターンが１３Ｔ、３Ｔの山谷の場合には、検出された波長の比率が４．３３に近ければその波形はシンクパターンである可能性がある。

ピークホールド部２５は、パターン波長比率評価部２４でシンクパターンの可能性があると判定された波形での波長の最大値を保持する（ピークホールド）。これはシンクパターンが多値化ＲＦ信号中で最長の波長（最長波長）となるように設定されていることと対応し、シンクパターンの検出をより確実に行うためである。

ピークホールド部２５でのピークホールドはある一定周期で行われ、周期の終わり毎に周波数誤差が検出されたか否かを通知する周波数誤差検出信号を出力する。

このとき、ピークホールドされる波長は、最長波長期待値に対応して定まる波長の範囲に制限される。例えば、最長波長期待値の±１０％の範囲の波長がピークホールド部２５に入力されたときに、そのときの波長がピークホールド部２５で保持される。この上限、下限の範囲（例えば、最長波長期待値の±１０％の範囲）内において保持された波長の値よりも大きな値の波長が入力されたときに、保持された波長の値が更新される。もしこの範囲外の値の波長が入力されたときには、保持された波長の値が入力された値に最も近い範囲内の値（上限値又は下限値）が入力されたかのように処理が行われる。

なお、最長波長期待値は、システムで発生しうる最長波長であり、記憶部（例えば、メモリ、レジスタ）に記憶されているものとする。これは、既述のように、シンクパターンが多値化ＲＦ信号中で最長の波長（最長波長）となるように設定されていることと対応する。例えば、シンクパターンが１３Ｔ、３Ｔの場合には、最長波長期待値は１６Ｔとなる。

相対周波数誤差算出部２６は、ピークホールド部２５で求められた最長波長からシステムで発生しうる最長波長である最長波長期待値を減算し、算出された波長差に基づく周波数誤差を出力する。

（周波数検出方法）
次に、主に波長計測部２３による周波数検出方法を、図８及び図９のフローチャートを用いて、以下に詳細に説明する。

入力されたＲＦ信号からマーク／スペースパターンを検出し、そのパターンの波長を計測する。波長比率評価部２４が計測された波長をある比率に収まると評価した場合にシンクパターンと判定し、シンクパターン長を求める。求められたシンクパターン長から期待値を減算した値を周波数誤差として出力する。

連続するマーク＋スペース、又はスペース＋マークにおける第１の波長をＴ１、第２の波長をＴ２として、Ｔ１及びＴ２を求める。これは、サンプリングされた必要データとデータ数の計測結果を用い、内挿／外挿補間により求める。なお、Ｔはチャネルクロック周期を示す。

ディスクからの再生信号であるＲＦ信号をＰＳＣＫでサンプリングしたデータ列が入力データになる。

ここで、ｎＴ長のマーク／スペースの再生ＲＦ信号をある周波数のＰＳＣＫで非同期サンプルした場合を考える。チャネルレートとＰＳＣＫ周波数が同じであれば、ｎＴ長マーク／スペースに相当するデータ数はｎになる。もし、チャネルレートよりＰＳＣＫ周波数が高ければ、ｎＴ長マーク／スペースに相当するデータ数はｎより大きくなる。逆に、チャネルレートよりＰＳＣＫ周波数が低ければ、データ数はｎより小さくなる。なお、１つのマーク／スペース区間はある信号レベルの交叉により検出できる。このように、既知のマーク／スペース区間におけるサンプル数を数えることによりチャネルレートとＰＳＣＫ周波数の差異を知ることができる。

次世代ＤＶＤは超高密度記録のため、相対的に短いＴ長の再生ＲＦ信号のＤＣレベルは前後のマーク／スペースのパターン（Ｔ長）に強く影響される。このため、単に平均ＤＣレベル近傍の信号レベルの交叉を検出するだけでは、１つのマーク／スペース区間を正しく検出できない。

そこで、図４に示すように、３つの基準レベル（Ｖｔｈ＞Ｖｔｃ＞Ｖｔｌ）を与え、それぞれの基準レベルを交叉する近傍データ（Ｓ０乃至Ｓ５）を用いて交叉時間を内挿／外挿予測することにより、検出精度の向上を図る。

検出すべきマーク＋スペース又はスペース＋マークと判断されると、３つの基準レベルを交叉する前後のデータをサンプリングする。又、各交叉間のデータ数を数える。

図４、図５に示すように、最初の立上がりゼロクロス点Ｚ０の前後に検出されるサンプル点をサンプル点Ｓ０、Ｓ１とし、立下がりゼロクロス点Ｚ１の前後に検出されるサンプル点をサンプル点Ｓ２、Ｓ３とし、続く立上がりゼロクロス点Ｚ２の前後に検出されるサンプル点をサンプル点Ｓ４、Ｓ５とする(ステップＳＴ１１)。

実際には図４に示すように、Ｖｔｈを立上がりつつ跨いだ後に、Ｖｔｃを立ち下がりつつ跨ぎ、Ｖｔｌを立上がりつつ跨いだ場合に計測対象とみなし、Ｖｔｈを立上がりつつ跨ぐサンプルを、Ｓ０、Ｓ１、Ｖｔｃを立ち下がりつつ跨ぐサンプルをＳ２、Ｓ３、Ｖｔｌを立上がりつつ跨ぐサンプルをＳ４、Ｓ５としている(ステップＳ２１)。

なお、この例ではＰＲクラスとしてＰＲ１２２２１に近い特性を持った波形であると仮定している。

内挿／外挿予測により、図６に示すように、サンプル点Ｓ０、Ｓ２、Ｓ４と実際のゼロクロス点Ｚ０，Ｚ１，Ｚ２との差をそれぞれ時間差ｅ０、時間差ｅ２、時間差ｅ４とすれば、以下の式で求められる(ステップＳＴ１２，ステップＳＴ２２)。

ｅ０＝Ｓ０／（Ｓ１−Ｓ０）
ｅ２＝Ｓ２／（Ｓ３−Ｓ２）
ｅ４＝Ｓ４／（Ｓ５−Ｓ４）
次に、サンプル数Ｎ１、Ｎ２を
Ｎ１：Ｓ０とＳ３の間に含まれるサンプル数
Ｎ２：Ｓ２とＳ５の間に含まれるサンプル数
とする(ステップＳＴ１３，ＳＴ２３)。

更に、傾きαは、１３Ｔ３Ｔ先頭のゼロクロス点のサンプル間の傾き情報であり次の式で与えられる(ステップＳＴ１４)。

α＝｜Ｓ１−Ｓ０｜
ここで傾きβは、１３Ｔ３Ｔ中間のゼロクロス点（Ｚ１）のサンプル間の傾き情報であり次の式で与えられる(ステップＳＴ１５，ＳＴ２４)。

β＝｜Ｓ３−Ｓ２｜
ここで傾きγは、１３Ｔ３Ｔ末尾のゼロクロス点（Ｚ２）のサンプル間の傾き情報であり次の式で与えられる(ステップＳＴ２５)。

γ＝｜Ｓ５−Ｓ４｜
以上を用いて、図５及び図６に示すように、内挿／外挿予測後のゼロクロス点Ｚ０，Ｚ１間の波長Ｔ１，ゼロクロス点Ｚ１，Ｚ２間の波長Ｔ２は次の式で求められる。

Ｔ１＝Ｎ１＋ｅ０−ｅ２
Ｔ２＝Ｎ２＋ｅ２−ｅ４
ここで、ＴＡをＴ１とＴ２をあわせたシンクパターン全体の長さを表すとすれば、内挿／外挿予測後のシンクパターン長は以下の式になる。

ＴＡ＝Ｔ１＋Ｔ２＝Ｎ１＋Ｎ２＋ｅ０−ｅ４
ここまでが、符号間干渉を考慮しない、内挿／外挿予測のみをもちいたシンクパターン長の計測方法である。

次に、符号間干渉を考慮した補正を含めたシンクパターン長の計測方法について図５、図７を用いて説明する。

符号間干渉を考慮した補正を含めたシンクパターン長Ｔ１の計測の式は以下のようになる(ステップＳＴ１６)。

Ｔ１＝Ｎ１＋ｅ０−ｅ２＋（α／β−１）
又、符号間干渉を考慮した補正を含めたシンクパターン長Ｔ２の計測の式は以下のようになる(ステップＳＴ２６)。

Ｔ２＝Ｎ２＋ｅ２−ｅ４＋（γ／β−１）
この結果、求めるべき周波数ＴＡは、以下の式により表される。

ＴＡ＝Ｔ１＋Ｔ２＝Ｎ１＋Ｎ２＋ｅ０−ｅ４＋（α／β−１）＋（γ／β−１）
（補正処理により符号間干渉が解消される理由）
次に、傾き情報による補正が有効な理由を説明する。強い符合間干渉があると、図７の１３Ｔ３Ｔ２Ｔの線に示すように、実際に計りたいＴ２とゼロクロス点（Ｚ２）との間隔により計測した値との間に差が発生する。

１３Ｔ３Ｔの後に続くマーク長、あるいはスペース長が異なるため、これが短い場合と長い場合とで誤差が生じる。例えば、短いパターンが続いた場合には実際より長く計測されることがある。

短いパターンが続いた場合には、一般的に符号間干渉によりその部分の振幅は小さくなり、ゼロクロス点の近傍の傾きは小さくなる。

この形状をモデルとして補正量を考えると、傾きが２の場合は補正量は０Ｔ、傾きが１の場合には補正量は−０.５Ｔ必要になる。又、クロック周波数と波形データのチャネル周波数が一致している保証は無く、更に、正しい傾きの値が不明であることから、補正量に対してなんらかの基準値が必要になる。この基準値としては前後のパターン長が規定されている１３Ｔ３Ｔの中間のゼロクロス点の部分を用いるのが合理的である。つまりβとγが等しい場合は補正の必要がないが、βに比べてγが小さい場合には計測結果が短くなるように補正すればよい。

γ／βが１／２の場合に−０.５Ｔとなるように、線形式で表せば、
補正量ΔＴ＝γ／β−１
となる。従って、この補正量により符号間干渉が解消することがわかる。

以上の様な方法を用いることで簡便な方法でより精度の高い周波数計測が可能となる。ただし、このような精度が必要となるのは、クロック周波数がチャネル周波数に近くなった時点から、更に位相引込みを行うに十分なＰＬＬのキャプチャレンジの範囲まで周波数を追い込む場合であり、起動直後のように周波数が大きく異なる時点ではこのような仮定が成立しない。このため、ＳＹＮＣパターン長が所定の範囲内１５Ｔから１７Ｔに入った際に前記補正を行うことが好適である。

又、符号間干渉が大きいために周波数計測の誤差が大きい場合に、ＰＬＬのキャプチャレンジの範囲まで周波数を追い込むことが困難になる場合があるが、上記方法を用いることで問題を回避できる。

又、ＨＤ ＤＶＤに代表される高密度記録の光ディスクにおいても、高精度の周波数検出を行うことができる。

以上記載した様々な実施形態により、当業者は本発明を実現することができるが、更にこれらの実施形態の様々な変形例を思いつくことが当業者によって容易であり、発明的な能力をもたなくとも様々な実施形態へと適用することが可能である。従って、本発明は、開示された原理と新規な特徴に矛盾しない広範な範囲に及ぶものであり、上述した実施形態に限定されるものではない。

本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図。 本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が有する周波数検出器の構成の一例を示すブロック図。 本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が有する周波数検出器の構成の他の一例を示すブロック図。 本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が読み取ったＲＦ信号の変化の一例を示すグラフ。 本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が読み取ったＲＦ信号のゼロクロス点とサンプル点と波長Ｔとサンプル数Ｎとの関係の一例を示すグラフ。 本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が読み取ったＲＦ信号のゼロクロス点とサンプル点と波長Ｔとサンプル数Ｎとの関係の一例を示すグラフ。 本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が読み取ったＲＦ信号のゼロクロス点とサンプル点と波長Ｔとサンプル数Ｎ１と時間差ｅとの関係の一例を示すグラフ。 本発明の一実施形態に係る光ディスク装置において波長Ｔ１から周期１３Ｔの値を求めるためのフローチャート。 本発明の一実施形態に係る光ディスク装置において波長Ｔ２から周期３Ｔの値を求めるためのフローチャート。

符号の説明

Ｄ…光ディスク、１１…光学ピックアップ、１２…Ａ／Ｄコンバータ、１３…位相比較器、１４…周波数検出器、１５…ループフィルタ、１６…ＶＣＯ、１７…トランスバーサルフィルタ、１８…ビタビ復号器。

Claims (13)

1. 再生信号の複数のサンプリング値を求め、この複数のサンプリング値と基準値とを比較し、再生信号と基準値とのグラフ上の第１の交差点である第１ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第１サンプル点と第２サンプル点を特定し、前記第１サンプル点と第２サンプル点との格差により定義される第１傾き値を求め、
   前記再生信号と基準値とのグラフ上の第２の交差点である第２ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第３サンプル点と第４サンプル点を特定し、前記第３サンプル点と前記第４サンプル点との格差により定義される第２傾き値を求め、
   前記再生信号と基準値とのグラフ上の第３の交差点である第３ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第５サンプル点と第６サンプル点を特定し、前記第５サンプル点と前記第６サンプル点との格差により定義される第３傾き値を求め、
   前記第１ゼロクロス点から前記第３ゼロクロス点までの時間を、前記第１乃至第３傾き値に基づいて補正し、補正された時間に基づいて前記再生信号の周波数を検出することを特徴とする周波数検出装置。
2. 前記第１ゼロクロス点から前記第２ゼロクロス点までの時間を、前記第１傾き値を前記第２傾き値で割った値から１を引いた値により補正することを特徴とする請求項１記載の周波数検出装置。
3. 前記第２ゼロクロス点から前記第３ゼロクロス点までの時間を、前記第３傾き値を前記第２傾き値で割った値から１を引いた値により補正することを特徴とする請求項１記載の周波数検出装置。
4. 前記第１傾き値は、１３Ｔ３Ｔ先頭のゼロクロスサンプル間の傾き値であることを特徴とする請求項１記載の周波数検出装置。
5. 前記第２傾き値は、１３Ｔ３Ｔ中間のゼロクロスサンプル間の傾き値であることを特徴とする請求項１記載の周波数検出装置。
6. 前記第３傾き値は、１３Ｔ３Ｔ末尾のゼロクロスサンプル間の傾き値であることを特徴とする請求項１記載の周波数検出装置。
7. 再生信号の複数のサンプリング値を求め、
   この複数のサンプリング値と基準値とを比較し、
   再生信号と基準値とのグラフ上の第１の交差点である第１ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第１サンプル点と第２サンプル点を特定し、
   前記第１サンプル点と第２サンプル点との格差により定義される第１傾き値を求め、
   前記再生信号と基準値とのグラフ上の第２の交差点である第２ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第３サンプル点と第４サンプル点を特定し、前記第３サンプル点と前記第４サンプル点との格差により定義される第２傾き値を求め、
   前記再生信号と基準値とのグラフ上の第３の交差点である第３ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第５サンプル点と第６サンプル点を特定し、前記第５サンプル点と前記第６サンプル点との格差により定義される第３傾き値を求め、
   前記第１ゼロクロス点から前記第３ゼロクロス点までの時間を、前記第１乃至第３傾き値に基づいて補正し、補正された時間に基づいて前記再生信号の周波数を検出することを特徴とする周波数検出方法。
8. 前記第１ゼロクロス点から前記第２ゼロクロス点までの時間を、前記第１傾き値を前記第２傾き値で割った値から１を引いた値により補正することを特徴とする請求項７記載の周波数検出方法。
9. 前記第２ゼロクロス点から前記第３ゼロクロス点までの時間を、前記第３傾き値を前記第２傾き値で割った値から１を引いた値により補正することを特徴とする請求項７記載の周波数検出方法。
10. 前記第１傾き値は、１３Ｔ３Ｔ先頭のゼロクロスサンプル間の傾き値であることを特徴とする請求項７記載の周波数検出方法。
11. 前記第２傾き値は、１３Ｔ３Ｔ中間のゼロクロスサンプル間の傾き値であることを特徴とする請求項７記載の周波数検出方法。
12. 前記第３傾き値は、１３Ｔ３Ｔ末尾のゼロクロスサンプル間の傾き値であることを特徴とする請求項７記載の周波数検出方法。
13. 光ディスクから再生信号を読み取るピックアップヘッドと、
    前記ピックアップヘッドが読み取った前記再生信号を複数のサンプリング値にＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄコンバータ部と、
    前記複数のサンプリング値を求め、この複数のサンプリング値と基準値とを比較し、再生信号と基準値とのグラフ上の第１の交差点である第１ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第１サンプル点と第２サンプル点を特定し、前記第１サンプル点と第２サンプル点との格差により定義される第１傾き値を求め、
    前記再生信号と基準値とのグラフ上の第２の交差点である第２ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第３サンプル点と第４サンプル点を特定し、前記第３サンプル点と前記第４サンプル点との格差により定義される第２傾き値を求め、
    前記再生信号と基準値とのグラフ上の第３の交差点である第３ゼロクロス点の近傍の前記サンプリング値である第５サンプル点と第６サンプル点を特定し、前記第５サンプル点と前記第６サンプル点との格差により定義される第３傾き値を求め、
    前記第１ゼロクロス点から前記第３ゼロクロス点までの時間を、前記第１乃至第３傾き値に基づいて補正し、補正された時間に基づいて前記再生信号の周波数を検出する検出部と、を具備することを特徴とする光ディスク装置。

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