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JP2007129197A - 共通結合領域を持つ埋め込みキャパシタデバイス - Google Patents

共通結合領域を持つ埋め込みキャパシタデバイス Download PDF

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JP2007129197A JP2006252760A JP2006252760A JP2007129197A JP 2007129197 A JP2007129197 A JP 2007129197A JP 2006252760 A JP2006252760 A JP 2006252760A JP 2006252760 A JP2006252760 A JP 2006252760A JP 2007129197 A JP2007129197 A JP 2007129197A
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Abstract

【課題】ICと外部キャパシタとの間に長い配線経路を持つ。
【解決手段】
上に集積回路を持つ回路基板内の埋め込みキャパシタデバイスが提供される。回路基板は、集積回路下に共通結合領域を持つ。埋め込みキャパシタデバイスは、少なくとも1つのキャパシタを集積回路の第1の組みの端子に与える第1のキャパシタセクションと、少なくとも1つのキャパシタを集積回路の第2の組みの端子に与える第2のキャパシタセクションとを含む。第1のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域内にあり、そして、共通結合領域内に位置する第1の組みの端子への結合を持つ。同様に、第2のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域内にあり、そして、共通結合領域内に位置する第2の組みの端子への結合を持つ。
【選択図】図6

Description

この出願は、2005年9月19日に出願された暫定的な特許出願、シリアル No.60/718,413の「共通結合領域を持つ埋め込みキャパシタデバイス」を優先権主張するものである。この出願は、2005年9月6日に出願された同時係属中の出願、シリアル No.60/718,382の「多層構造を持つ埋め込みキャパシタコア」に関連する。
この発明は、共通結合領域を持つ埋め込みキャパシタデバイスに関し、特に、回路基板内に埋め込みでき、かつ、集積回路のための共通結合領域を提供する埋め込みキャパシタコアに関する。
キャパシタは、電荷を保存するか、または吸収できる電気的デバイスである。電荷を保存する容量のために、キャパシタには、集積回路("IC)"を含む電気回路の設計と動作において広い適用を持つ。例として、IC自体は、信号処理などのようなICの動作のために他の部品と結合した数個のキャパシタを含むかもしれない。また、内部のキャパシタに加えて、ICは、電源を安定させるか、望ましくない変動を吸収するか、または信号干渉または雑音を抑えるために外部のキャパシタを当てにするかもしれない。例えば、プリント回路基板("PCB")に取り付けられたICは、またそれらの目的の1つのためにPCBに取り付けられるセラミックキャパシタと結合されてもよく、そのキャパシタは、公知の表面マウント技術("SMT")を使用することで取り付けられてもよい。代わりに、他のタイプのキャパシタは、回路基板上に取り付けられるか、その内部に取り付けられ、そして、それらのSMTキャパシタとして同様の効果を与えるために、ICに結合されてもよい。
一般に、ICと外部のキャパシタとの間の結合は、配線経路を構成することによって、達成され、これは、IC自体内部での結合に較べ、極めて大きい長さをもつかも知れない。ある適用では、巻回長または細い経路は、その経路自体にインダクタンスを生じ、望ましくないインダクタンスの影響は、ICの信号または動作に作用する。さらに、SMTキャパシタは、サイズが小さいが、また、キャパシタンスの範囲、それが扱うことができる信号周波数またはそれらの双方が制限され、設計要求を満足できるSMTキャパシタを見つけることは挑戦となる。また、ICの端子および配列される端子の密度の増大に伴い、外部のキャパシタとICを結合するための配線設計は別の大きな挑戦となるかもしれない。
したがって、回路基板などのような他の基板に埋め込むことができるキャパシタデバイスを提供することは望ましいかもしれない。より広い範囲のキャパシタンスを提供するキャパシタ設計を提供することが望ましいかも知れない。ICからキャパシタまたは容量性、誘導性ネットワークのような外部デバイスへの経路を減少させることも望ましいかもしれない。
この発明に基づく実施例は、集積回路を上に持つ回路基板内に埋め込みキャパシタデバイスを提供するかもしれない。特に、その回路基板は、集積回路の下に共通結合領域を持つ。そのキャパシタデバイスは、少なくとも1つのキャパシタを、集積回路の第1の組みの端子に与える第1のキャパシタセクションと、少なくとも1つのキャパシタを、集積回路の第2の組みの端子に与える第2のキャパシタセクションとを備え、第1のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域内にあり、そして、共通結合領域内に位置する第1の組みの端子へのそれの結合を持ち、第2のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域内にあり、そして、共通結合領域内に位置する第2の組みの端子へのそれの結合を持つ。1実施例では、第1および第2のキャパシタセクションは、水平方向に配置された少なくとも2つのキャパシタセクションを持つ少なくとも1つの平面に属する。
この発明に基づく別の実施例は、上に集積回路を持つ回路基板内の埋め込みキャパシタデバイスを提供する。その回路基板は、集積回路の下に共通結合領域を持つ。その埋め込みキャパシタデバイスは、少なくとも1つのキャパシタを、集積回路の第1の組みの端子に与える第1のキャパシタセクションと、少なくとも1つのキャパシタを、集積回路の第2の組みの端子に与える第2のキャパシタセクションとを備え、第1のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域にあり、そして、共通結合領域に位置する第1の組みの端子への結合を持ち、第2のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域にあり、そして、共通結合領域に位置する第2の組みの端子への結合を持つ。
この発明に基づく別の実施例はプリント回路基板を提供する。そのプリント回路基板は、少なくとも1つの埋め込みキャパシタデバイスを備え、前記埋め込みキャパシタデバイスの各々は、複数のキャパシタ構造を形成するため、複数の層を含む。特に、前記埋め込みキャパシタデバイスは、少なくとも2つのキャパシタセクションを備え、前記キャパシタセクションの各々は、少なくとも1つの集積回路のために、共通結合領域内にキャパシタセクションの一部を持つ。
この発明の具体化の以下の記述は、添付された図面に関連して読まれた時、より明確に理解されるであろう。図面は発明のある具体化を例証する目的のためのものでる。しかしながら、この発明が示された正確な構成及び手段に限定されないことが理解されるべきである。
以下に詳述されるように、この発明に基づく実施例は、実施例として、埋め込みキャパシタデバイスは、導電性パターンで形成された多層キャパシタ構造を含み、そして、埋め込み減結合キャパシタ(EDC)として役立つために、回路基板またはPCB(プリント回路基板)内に埋め込みできる。1実施例では、回路基板は、その上に少なくとも1つの集積回路を持ち、そして、共通結合領域は、集積回路の下にあってもよい。ある実施例では、それ自身の回路基板も、キャパシタデバイスに対する共通結合領域を提供してもよい。
この発明の実施例は、共通結合領域を持つ埋め込みキャパシタデバイスを含む。実施例として、埋め込みキャパシタは、導電性パターンで形成した多層キャパシタ構造を含んでもよく、そして、埋め込み減結合キャパシタ(EDC)のように役立つために、回路基板またはPCB(プリント回路基板)内に埋め込みできる。1実施例では、回路基板は、上に少なくとも1つの集積回路を持ち、そして、共通結合領域は、集積回路の下にあってもよい。ある実施例では、回路基板自身は、キャパシタデバイスのために共通結合領域を持ってもよい。
ICの設計では、パワー、グランド及び他の信号端子を通じて電流が流れる。不幸にも、誤りの信号は、パワー/グランドの反射おび電圧/電流のスイッチングノイズにより生じるかも知れない。減結合キャパシタ回路のように適した外部回路は、回路動作への意図していない影響を最小にするために、パワー端子または信号ノイズにおける望ましくない反射を分配または減結合してもよい。望ましくないパワー/グランドの反射または信号ノイズの低減または除去は、他の周りの回路またはシステムに影響ずあるかも知れない、ICまたはシステムにより生じた電磁干渉(EMI)も低減するかも知れない。減結合キャパシタのキャパシタンス値、減結合キャパシタの個数、配線経路長、信号ノイズの周波数などのような、減結合キャパシタの効率に影響する多くの要因が存在する。ICの動作がより高速になるにつれ、新ゴアまたはパワーのスイッチングノイズのような関連したノイズの周波数もより高くなり、そのことが、より高い特性のより大きい減結合キャパシタを要求する。
図1は、回路基板4上に又はその回路基板4へ装着されるIC2に対する外部の減結合キャパシタ構成の概略例を示す。図1を参照すると、IC2の1組以上のパワーまたは信号の端子は、外部キャパシタ6のような一つ以上の外部の容量性ループに結合されてもよい。キャパシタ6と結合するために、IC2のパワー端子VCCは、PCB4の下部配線層(図1に示したVCC面のごとき)を通じて配線されてもよい。そして、IC2のグランド端子は、PCB4の上部配線層(図1に示したグランド面のごとき)を通じて配線されてもよい。しかしながら図1に示したように、延長された配線構成は、キャパシタ結合に対し、大きなインダクタンスの影響を持つかも知れない長い電流ループとなる。そのインダクタンスの影響は、いくつかの実施例では、グランドまたはパワーの好ましくない反射またはノイズの低減での外部キャパシタの有効性に作用するかも知れない。
インダクタンスの影響の発生に加え、回路基板の表面領域での発生があるかも知れない。IC 2の動作速度が増すにつれ、SMTキャパシタを含むより大きいキャパシタが必要となるかも知れず、その結果、追加的な回路基板領域を占有し、そして、より長い配線経路を要求する。図2は、IC2に対するSMTグループ6aおよび6bのような複数のSMTキャパシタの概略例を示す。図示したように、IC2は、ノイズを低減するため、パワー/グランドの反射を低減するため、および/または、電圧レベルを安定にするため、外部キャパシタを必要とするかも知れない、1組以上のパワー端子を持つかも知れない。しかしながら、SMTキャパシタのかなりの個数が必要となり、パワー端子からキャパシタグループへの結合はまた、長くされた電流ループを必要とする。その結果、SMTキャパシタは、ある場合には適切な解決法ではないかも知れない。
この発明の実施例は、多層構造を持つことにより十分なキャパシタンスを提供し、かつ、回路基板の表面領域を占有するのを回避する埋め込みキャパシタデバイスを提供する。例えば、埋め込みキャパシタデバイスは、表面スペースを占有することなく、回路基板またはプリント回路基板内に組み込まれてもよい。図3は、埋め込みキャパシタコア100の概略例を示す。いくつかの実施例では、一つ以上のコア100は、埋め込みキャパシタデバイスとして役立つ。この実施例で図示したように、埋め込みキャパシタコア100は、複数のサブの構造を含み、その各々は、1組のキャパシタを含むかも知れない。例えば、埋め込みキャパシタコア100は、第1のコア10、第2のコア20、全て同様に、N番目のコア90まで含み、その各々は、1組のキャパシタを含むかも知れない。いくつかの実施例では、一つ以上のICは、一つ以上の共通結合領域を持つ一つ以上の埋め込みキャパシタ構造を共有する。
図3を参照すると、第1の組みのキャパシタ10は、2つ以上の導電性電極を持つ第1の導電性パターン12、第1の導電性パターン12の2つの導電性電極に対応するかも知れない2つ以上の導電性電極を持つ第2の導電性パターン14を含む。2つの導電性パターン12および14の間に、第1の誘電性のフィルムまたは材料がある。いくつかの実施例における“対応する”の用語は、2つの電極間の相互作用のような機能的な対応または、2つの電極の物理的な位置またはサイズのような物理的な対応を包含できる。第1の組みのキャパシタ10と似て、第2の組みのキャパシタ20は、2つ以上の導電性電極を持つ第3の導電性パターン22、第3の導電性パターン22の2つの導電性電極に対応するかも知れない2つ以上の導電性電極を持つ第4の導電性パターン14を含む。
上に示した2組以上のキャパシタをスタックにするため、中間層の誘電性のフィルムまたは材料10aは、第1の組みのキャパシタ10と第2の組みのキャパシタ20との間に備えることができる。上で気付くように、埋め込みキャパシタコア100は、回路基板内に埋め込まれてもよい。更に、図4に示した導電性パターンは、単に例示的な実施例であり、導電性パターンおよび誘電性フィルムの各層は、キャパシタンス、動作周波数、ICの端子位置などのような種々の設計考察に対して、形状、サイズおよび厚さが変化する。1実施例では、第3の組みのキャパシタを形成するために、第1または第2の導電性パターン10の少なくとも1つの導電性電極は、第3または第4の導電性パターンの少なくとも1つの導電性電極に電気的に接続される。電極を提供するために、第1、第2、第3および第4の導電性パターン12、14、22および24は、金属のような導電性材料を含み、1実施例では銅が使用されてもよい。異なる誘電体材料が、誘電性のフィルム16または材料26として使用されてもよい。1実施例では、第1および第2の誘電性フィルム16および26の少なくとも一方は、およそ40またはそれ以上の誘電率を持つかもしれない。更に、有機または無機の材料またはそれらの結合が、第1および第2の誘電性フィルム16および26として使用されてもよい。
第1、第2、第3および第4の導電性パターンの電極の間でのキャパシタの形成は、多数の可能性を持つ。電極の結合および形態に依存して、図3に図示の埋め込みキャパシタコア100は、全ての電極により共通に形成された単一のキャパシタまたは、電極対から個別に形成された数個の個別電極を提供するかも知れない。言い換えれば、多数のキャパシタは、水平方向に、垂直方向に、または、その2つが結合した方法で配列されてもよい。図4は、コア10およびコア20の個別の電極がどのようにして結合されるかを例証する。いくつかの実施例では、電極は、一つ以上のキャパシタを提供するため、“交差して”結合される。例えば、コア10およびコア20は、単一のキャパシタまたは2つ以上のキャパシタとして、多数のキャパシタを結合して提供する。1実施例では、電極A1からA6は、一つの端子として共通に結合でき、そして、電極B1からB6は、別の端子として、共通に結合でき、これにより、少なくとも、A1-B1, A2-B2, A3-B3, A4-B4, A5-B5, A6-B6, A1-B2, B2-A3, B1-A2, A2-B3, B1-A4, A2-B5, B3-A6, A4-B5, B5-A6, B4-A5, およびA5-B6の各々の電極対の間でキャパシタを形成する。
導電性パターンの設計およびこれらの導電性パターン内の電極の結合は、埋め込み減結合キャパシタまたは他の容量性デバイスとしていずれかの異なる設計要求に適合させるために、多数の方法で変更できる。上の実施例は、単に例示的なものであり、当業者により実施されるかも知れない種々の設計は、この出願の教示に基づき異なる適用に対して変更される。
上で図示したような埋め込みキャパシタの設計では、埋め込みコアは、回路基板の表面領域を占有することなく、十分なキャパシタンスを提供するために、回路基板内に組み込まれる。図5は、内部に埋め込みキャパシタコア510を組み込んだ回路基板510の概略例を図示する。いくつかの実施例では、埋め込みキャパシタコア510は、一つ以上のキャパシタを提供してもよく、そして、個別のキャパシタは、IC400の個別の端子または個別の対の端子に結合されてもよい。そして、導電性のバイアのような垂直方向の接続512は、そのような接続に使用されてもよい。1実施例では、コア510に似る一つ以上の埋め込みコアは、回路基板500内に組み込まれてもよい。例えば、回路基板500は、2つ以上の埋め込みキャパシタコアおよび一つ以上の配線層を持つ多層構造を持つかもしれない。
図6は、回路基板をトップから見た埋め込みキャパシタデバイス510の概略例を図示する。実施例として、図示したような埋め込みキャパシタデバイス510は、多層の回路基板内の一つ以上の層のように、回路基板の一部として回路基板内に組み込まれてもよい。いくつかの実施例では、回路基板上のICの個別の端子または組みの端子は、個別の減結合キャパシタのように、個別のキャパシタと結合される。従って、埋め込みキャパシタデバイス510は、ICの端子または組みの端子への直接結合を得るために、共通結合領域を有する個別のキャパシタセクションに分割されてもよく、そして、その共通結合領域は、IC1の下に、またはICの直ぐ下に存在してもよい。
図5に示した回路基板500のような回路基板は、多層回路基板であり、その層の一部として、埋め込みキャパシタデバイス510を持つようにしてもよい。回路基板500は、その上に備えられるか、その上に装着されるIC400を持つかも知れない。例えば、内部に電気回路を有するチップの形態、または、パッケージ化されたチップまたはパッケージ化されていないチップであってもよい、IC400は、図6で示したようにその領域402またはその一部を占有してもよい。いくつかの実施例では、回路基板500は、ICの下に、またはICのすぐ下にある共通結合領域404を持ち、そして、その共通結合領域404は、導電性の配線またはバイアの形態のような形態で、ICのいくつかの端子から、埋め込みキャパシタデバイスへの直接の結合が形成されることを可能にする。図6の共通結合領域404に対する領域は、単に例示的なものであり、その共通結合領域404は、ICの領域402、または、図5のIC400の全てのピンを包含する領域と同じ大きさであってもよい。
1実施例では、埋め込みキャパシタデバイスは、同じ水平面上に位置する2つ以上のキャパシタセクションを持ち、その面は、図6で描いた面と平行な面である。例えば、図6を参照すると、埋め込みキャパシタは、第1のキャパシタセクション510aおよび第2のキャパシタセクション510bを含み、それらは、両セクション間の絶縁性材料512に対し、互いに接近して位置する。図6は、一つの埋め込みキャパシタデバイス510内に12個の個別のキャパシタセクションを持つ例を示すが、一つの埋め込みキャパシタデバイス内のセクションの個数は、異なる設計要求に適合させるために変化してもよい。追加的に、各々のキャパシタセクションは、適したキャパシタンス値および動作特性を得るために、共通結合領域404から外側に延在し、そして、その形状は、領域404内でまたは、領域404から拡がった後で、変化してもよい。
図6を参照すると、例として、第1のキャパシタセクション510aを取り上げると、キャパシタセクション510aは、少なくとも1つのキャパシタを、IC(これは領域404上にある)の第1の組みの端子に提供するかも知れない。また、第1のキャパシタセクション510aの一部は、共通結合領域404内にあり、そして、共通結合領域404内に位置する第1の組みの端子への結合を持つかも知れない。一つ以上の結合は、一つ以上の配線、または垂直のバイア(これらは領域404内の小円で示される)により達成されてもよい。設計および/または動作要求に応じて、ICは、キャパシタへの外部結合を要求する一つ以上の組みの端子を持つかも知れない。例として、第1の組みの端子は、ICのパワー供給端子に結合されてもよい。第1のキャパシタセクション510aと同様に、第1のキャパシタセクション510bは、少なくとも1つのキャパシタを、ICの第2の組みの端子に提供してもよい。そして、第2のキャパシタセクション510bの一部は、共通結合領域404内にあり、そして、共通結合領域404内に位置する第2の組みの端子への結合を持つかも知れない。一つ以上の結合は、一つ以上の配線、または垂直のバイアにより達成されてもよい。例として、第2の組みの端子は、ICの別の対のパワー供給端子または、対の信号端子に結合されてもよい。いくつかの実施例では、キャパシタセクションが、垂直方向に配置された層を持つ多層構造を持つなら、共通結合領域は、多層構造の一つ以上の層に延在するかも知れない。更に、図示したような個別のキャパシタセクションは水平方向に配置されるが、他の実施例では、それらは、垂直の配置、または結合(いくつかが垂直でいくつかが水平)を持つことができる。
図6に図示した実施例では、第1および第2のキャパシタセクション510aおよび510bは、回路基板500内に埋め込まれた埋め込みキャパシタコアの少なくとも1つの共通の面に属するかも知れない。例として図4の埋め込みキャパシタコアを用いると、第1のキャパシタセクション510aは、電極A1、B1、A4およびB4により形成され、そして、第2のキャパシタセクション510bは、電極B2、A2、B5およびA5により形成されてもよい。埋め込みキャパシタコアがより多くの層を持つなら、各々のキャパシタセクションも、キャパシタコアの追加的な層内に電極を含む。
図7は、埋め込みキャパシタデバイスを分割する別の概略例を図示する。図7を参照すると、埋め込みキャパシタデバイスは、図7に示したいくつかの長方形のキャパシタセクション510aから510hおよび、図7で示されていない追加的なセクション510iから510jに分割されてもよい。この実施例では、キャパシタセクション510aから510dは、それらの一部が、ICの下にある共通結合領域404内に留まり、これにより、引き延ばされた配線経路を用いることなく、ICからこれらの4つのキャパシタセクションへの直接の結合を可能にする。しかしながら、いくつかの実施例では、ICは、4つ以上の端子、または、4つ以上の外部キャパシタまたは、4つ以上のキャパシタセクションを要求する組みの端子を、持つかも知れない。キャパシタセクション510e、510f、510g、510h、510i、510jのような、キャパシタセクションを、これらの追加的なキャパシタに結合するために、ICは、長い配線経路の配線を必要とする。いくつかの実施例では、図7で示したようなこれらの配線経路は、いくらかのインダクタンスの影響を生じさせる薄い経路であるかも知れない。埋め込みキャパシタデバイスおよび配線層を含む回路基板の設計に依存して、インダクタンスの影響は、いくつかの場合に望ましくなく、キャパシタセクション510eから510jを含む外部キャパシタループに影響を与えるかも知れない。
図8は、埋め込みキャパシタデバイスを分割する別の概略例を図示する。図8を参照すると、埋め込みキャパシタデバイスは、多数の長方形のキャパシタセクションに分割されるかも知れない。いくつかの実施例では、これらのキャパシタセクションは、対応するICに対する領域または、キャパシタセクションを要求する、対応する共通結合領域に、適合するか、またはそれらの領域に接近する方法で分割されてもよく、それにより、ICから対応するキャパシタセクションへの直接的な、またはより少ない非間接的な結合を可能にする。しかしながら、いくつかの実施例では、いくつかのICは、3つまたは4つ以上の端子または、3つまたは4つ以上の外部キャパシタまたは3つまたは4つ以上のキャパシタセクションを要求するかも知れない組みの端子を持つかもしれない。ICからいくつかのそれらの対応するキャパシタセクションは、引き延ばされた配線経路を必要とするかも知れず、このことは、いくつかの場合で、外部キャパシタループに影響を与えるかも知れない。
いくつかの実施例では、埋め込みキャパシタデバイスは、ICの減結合キャパシタとして採用されてもよい。ICの種々の設計要求のために、ある場合には、ICの組みの端子のいくつかまたは全てに対して一つ以上のキャパシタを要求するかも知れない。例えば、異なった周波数のノイズを低減するなどのように、より良い特性を得るために、1対のパワー端子の組みは、2つまたは3つの並列のキャパシタを要求するかも知れない。実施例として、異なるキャパシタンスの値のキャパシタまたは、異なる構成のキャパシタは、異なる周波数応答を持つかも知れず、これにより、種々の周波数をカバーするノイズに対し、より良いノイズ低減効果を提供する。
2つ以上のキャパシタを持つキャパシタセクションは、垂直に、水平に、またはその双方に結合されたキャパシタを持つかも知れない。図9A、9Bは、垂直に結合された3つのキャパシタを持つキャパシタセクションを提供する2つの概略例を示す。図9Aを参照すると、左で垂直に配置された3つのキャパシタは、垂直方向のバイアを通じて、ICの第1の組みの端子に結合され、そして、右で垂直に配置された3つのキャパシタも、垂直方向のバイアを通じて、ICの第2の組みの端子に結合される。図9Bを参照すると、左で垂直に配置された3つのキャパシタは、第1のキャパシタセクションに属し、垂直のバイアを通じてICの第1の組みの端子に結合される。右で垂直に配置された3つのキャパシタは、第2のキャパシタセクションに属し、同様に垂直のバイアを通じてICの第2の組みの端子に結合される。図9Bでは、第1および第2のキャパシタセクションの垂直のバイアは、IC下またはIC直下の一つの共通結合領域内にて、接近して配置される。
図10A、10Bは、水平方向に結合された3つのキャパシタを持つキャパシタセクションの概略例を示す。図10Aは、キャパシタセクションの斜視図を示し、図10Bは、キャパシタセクションの平面図を示す。図10Aを参照すると、キャパシタセクションは、同じ形状の2つ以上の導電性パターンを持つかも知れない。各導電性パターンは、第1の電極510a1、第2の電極510a2および第3の電極510a3のように、相互接続された状態の数個の電極に分割されてもよい。図10Aに示した多層の導電性パターン構成を備えることで、第1の電極510a1および、導電性パターンの他の層からオーバーラップするか、対応する電極は、第1のキャパシタを与え、第2の電極510a2および、導電性パターンの他の層からオーバーラップするか、対応する電極は、第2のキャパシタを与え、そして、第3の電極510a3および、導電性パターンの他の層からオーバーラップするか、対応する電極は、第3のキャパシタを与えてもよい。
1実施例では、異なるキャパシタンス値の3つのキャパシタは、そのような構成から備えられてもよい。例えば、第1の電極510a1を含むキャパシタは、3つの中で最大のキャパシタンス値を与え、第2の電極510a2を含むキャパシタンスは、3つの中で2番目に大きいキャパシタンスを与え、第3の電極510a3を含むキャパシタンスは、3つの中で最小の大きいキャパシタンスを与えてもよい。複数のキャパシタを持つことで、個別の周波数スペクトラムで良好なノイズ低減効果を与えるように、良好な周波数応答を、結合されたデバイスに与える。図10Aおよび図10Bで示した実施例では、図示したようなキャパシタセクションは、並列に結合された3つの水平方向に結合されたキャパシタを含むかも知れない。図示した例では、第1、第2および第3の電極510a1-a3の間の相互接続の設計により、追加的な配線に頼ることなく、キャパシタ自身が並列に接続される。従って、キャパシタセクションは、いくつかの例で長い配線長により引き起こされる好ましくない影響を持つことなく、複数のキャパシタを提供するかも知れない。図10Bは、図10Aで示したキャパシタセクションをトップから見ている。
一つのキャパシタセクションを与えるために、2つ以上のキャパシタを結合する構成は、上で示した共通結合領域を持つ構成に適用されてもよい。図11Aおよび11Bは、4つのキャパシタセクションを持つ埋め込みキャパシタデバイスの概略例を示し、各キャパシタセクションは、水平方向に結合された2つ以上のキャパシタを持つ。多層構造の回路基板は、その層の一つとして、図11Aで図示した物に似た埋め込みキャパシタデバイスを組み込んでもよい。その回路基板は、その上に、図11Bで示した複数のピンを持つようなICが備えられるか、装着されてもよい。図11Aの中央に示された共通結合領域406(つまり、点線で囲んだ領域)は、ICの下、または直下にあり、そして、いくつかのICから埋め込みキャパシタデバイスへの少なくともいくつかの直接の結合を提供するために用いられてもよい。例えば、直接の結合は、IC端子から、キャパシタセクション510m〜510pのような対応するキャパシタセクションへ垂直に延在するバイアの形態であってもよい。図11Bで示したように、共通結合領域408を備えたことで、延長した配線や、しばしば垂直のバイアを用いることなく、一つ以上のキャパシタがICのピンや端子に直接的に結合されることを可能にする。ある実施例では、共通結合領域408は、延長配線を用いることなく、同時に、ICの1つ以上の組みの端子から複数のキャパシタへの結合を提供してもよい。
図6に図示のキャパシタセクションと同様に、図11Aに示したこれらのキャパシタセクションは、図11Aの描画面と平行な面である同じ水平面に置かれてもよい。例えば、図11Aを参照すると、埋め込みキャパシタは、第1のキャパシタセクション510mおよび、第2のキャパシタセクション510nを含み、両セクションは、互いに接近し、両セクション間に絶縁材料を持つ。図11Aは、一つの埋め込みキャパシタデバイス内に4つのキャパシタセクションを持つ概略例であるが、一つの埋め込みキャパシタデバイス内にキャパシタセクションの個数は、異なる設計要求に適合するために変更してもよい。更に、各キャパシタセクションは、適切なキャパシタンス値および動作特性を得るために、共通結合領域から外方向に延在してもよく、そして、領域404内で、または、領域404から突き出した後で、その形状を変更してもよい。
単一のキャパシタセクションのキャパシタを垂直にまたは水平に結合することに加え、キャパシタセクションは、より大きいキャパシタまたはキャパシタンス値のより多い選択を与えるために、両方の結合を同時に持つようにしてもよい。更に、いくつかの実施例では、一つ以上のキャパシタを含むキャパシタデバイスは、回路基板内の種々の位置内に組み込まれてもよい。例えば、埋め込みキャパシタデバイスは、回路基板の中央の層に、またはその近くに配置されてもよい。別の実施例では、埋め込みキャパシタデバイスは、2つ以上の埋め込みキャパシタコアを含んでもよく、それらの一つは、回路基板のトップ部の近くにあり、それらの第2の物は、回路基板の底部の近くに位置する。いくつかの実施例では、埋め込みキャパシタデバイスは、回路基板内に一つのパワー配線層およびグランド配線層を持ってもよく、そして、パワー配線層および/または、グランド配線層は、必要な結合を得るために、埋め込みキャパシタデバイスまたは、その埋め込みコアの一つに接近または近接して配置されてもよい。
上で述べたように、埋め込みキャパシタコア、その構成、および関連する適用に関する例が提供される。当業者は、ここで説明された広い発明の概念からそれることなく、上で述べた実施例を変形できることに理解するであろう。従って、この発明は、開示した特定の実施例で限定されるのではなく、この発明の範囲は添付されたクレームにより限定される趣旨および範囲内で変形をカバーするように意図される。
ICに対する外部の減結合キャパシタ構造の概略図を例証する。 ICに対する複数のSMTキャパシタの概略図を例証する。 埋め込みキャパシタコアの個別電極の結合を示す概略の例を例証する。 埋め込みキャパシタコアの個別電極の結合を示す概略の例を例証する。 埋め込みキャパシタコアを組み込む回路基板の概略の例を例証する。 回路基板のトップから見た埋め込みキャパシタデバイスの概略の例を例証する。 埋め込みキャパシタデバイスを複数キャパシタセクション内へ分割する概略例を例証する。 埋め込みキャパシタデバイスを長方形のキャパシタセクション内へ分割する別の概略例を例証する。 垂直方向に結合した3つのキャパシタを持つキャパシタセクションを提供する概略の例を例証する。 垂直方向に結合した3つのキャパシタを持つキャパシタセクションを提供する概略の例を例証する。 斜め方向から見た、水平方向に結合した3つのキャパシタを持つキャパシタセクションを提供する概略の例を例証する。 トップから見た、水平方向に結合した3つのキャパシタを持つキャパシタセクションを提供する概略の例を例証する。 各々が水平方向に結合した2つ以上のキャパシタを持つ、4個のキャパシタセクションを持つ埋め込みキャパシタデバイスの概略の例を例証する。 各々が水平方向に結合した2つ以上のキャパシタを持つ、4個のキャパシタセクションを持つ埋め込みキャパシタデバイスの概略の例を例証する。
符号の説明
2:IC
4:PCB
6;キャパシタ
10:第1のコア
12:導電性パターン
16:第1の誘電性のフィルム
26:第2の誘電性フィルム
100:キャパシタコア
500:回路基板

Claims (21)

  1. 上に集積回路を持つ回路基板内の埋め込みキャパシタデバイスであり、
    少なくとも1つのキャパシタを、集積回路の第1の組みの端子に与える第1のキャパシタセクションと、
    少なくとも1つのキャパシタを、集積回路の第2の組みの端子に与える第2のキャパシタセクションとを備え、
    第1のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域内にあり、そして、共通結合領域内に位置する第1の組みの端子への結合を持ち、
    第2のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域内にあり、そして、共通結合領域内に位置する第2の組みの端子への結合を持ち、
    第1および第2のキャパシタセクションは、水平方向に配置された少なくとも2つのキャパシタセクションを持つ少なくとも1つの平面に属することを特徴とする埋め込みキャパシタデバイス。
  2. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第1の導電性パターンと、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第2の導電性パターンと、
    第1の導電性パターンと第2の導電性パターンとの間の第1の誘電体材料とを備え、
    第2の導電性パターンの第1の導電性電極は、第1の導電性パターンの第1の導電性電極に対応し、そして、第2の導電性パターンの第2の導電性電極は、第1の導電性パターンの第2の導電性電極に対応する請求項1記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  3. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションの双方は、水平方向に配置された少なくとも2つのキャパシタセクションを提供する少なくとも1つの平面の多層構造に属し、そして、第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは更に、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第3の導電性パターンと、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第4の導電性パターンと、
    第1の導電性パターンと第2の導電性パターンとの間の第2の誘電体材料と、および
    第1および第2の導電性パターンの一方と、第3および第4の導電性パターンの一方との間の中間誘電体材料とを備え、
    第3および第4の導電性パターンの第1の導電性電極は、第1の導電性パターンの第1の導電性電極に対応し、そして、第3および第4の導電性パターンの第2の導電性電極は、第1の導電性パターンの第2の導電性電極に対応する請求項2記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  4. 第1のキャパシタセクションは、第1、第2、第3および第4の導電性パターンによる第1の電極および、第2のキャパシタセクションは、第1、第2、第3および第4の導電性パターンによる第2の電極を備える請求項3記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  5. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは、共通結合領域な位置する少なくとも1つの導電性バイアを通じて互いに電気的に結合される請求項1記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  6. 埋め込みキャパシタデバイスは、集積回路に対する少なくとも1つの埋め込み減結合キャパシタとして役立つ請求項1記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  7. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションの少なくとも一方は、は、電気的に並列に接続された少なくとも2つの個別の容量性デバイスを備える請求項1記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  8. 上に主浦城回路を持つ回路基板内の埋め込みキャパシタデバイスであり、前記回路基板は、集積回路下の共通結合領域を持ち、前記埋め込みキャパシタデバイスは、
    少なくとも1つのキャパシタを、集積回路の第1の組みの端子に与える第1のキャパシタセクションと、
    少なくとも1つのキャパシタを、集積回路の第2の組みの端子に与える第2のキャパシタセクションとを備え、
    第1のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域にあり、そして、共通結合領域に位置する第1の組みの端子への結合を持ち、
    第2のキャパシタセクションの一部は、共通結合領域にあり、そして、共通結合領域に位置する第2の組みの端子への結合を持つことを特徴とする埋め込みキャパシタデバイス。
  9. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第1の導電性パターンと、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第2の導電性パターンと、および
    第1の導電性パターンと第2の導電性パターンとの間の第1の誘電体材料とを備え、
    第2の導電性パターンの第1の導電性電極は、第1の導電性パターンの第1の導電性電極に対応し、そして、第2の導電性パターンの第2の導電性電極は、第1の導電性パターンの第2の導電性電極に対応する請求項8記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  10. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは共に、水平方向に配置された少なくとも2つのキャパシタセクションを持つ少なくとも1つの平面の多層構造に属し、そして、第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは更に、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第3の導電性パターンと、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第4の導電性パターンと、
    第1の導電性パターンと第2の導電性パターンとの間の第2の誘電体材料と、および
    第1および第2の導電性パターンの一方と、第3および第4の導電性パターンの一方との間の中間誘電体材料とを備え、
    第3および第4の導電性パターンの第1の導電性電極は、第1の導電性パターンの第1の導電性電極に対応し、そして、第3および第4の導電性パターンの第2の導電性電極は、第1の導電性パターンの第2の導電性電極に対応する請求項9記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  11. 第1のキャパシタセクションは、第1、第2、第3および第4の導電性パターンの第1の電極を備え、そして、第2のキャパシタセクションは、第1、第2、第3および第4の導電性パターンの第2の電極を備える請求項10記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  12. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは、共通結合領域な位置する少なくとも1つの導電性バイアを通じて互いに電気的に結合される請求項8記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  13. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションの少なくとも一方は、は、電気的に並列に接続された少なくとも2つの個別のキャパシタデバイスを備える請求項8記載の埋め込みキャパシタデバイス。
  14. 少なくとも1つの埋め込みキャパシタデバイスを備え、前記埋め込みキャパシタデバイスの各々は、複数のキャパシタ構造を形成するため、複数の層を含み、前記埋め込みキャパシタデバイスは、少なくとも2つのキャパシタセクションを備え、前記キャパシタセクションの各々は、少なくとも1つの集積回路のために、共通結合領域内にキャパシタセクションの一部を持つことを特徴とするプリント回路基板。
  15. 前記複数の層は、複数の導電性パターンの間に少なくとも1つの誘電体層を持つ導電性パターンの複数の層を含む請求項14記載のプリント回路基板。
  16. 2つのキャパシタセクションは共に、水平方向に配置された少なくとも2つのキャパシタセクションを持つ少なくとも1つの平面の多層構造に属し、そして、2つのキャパシタセクションは、
    少なくとも1つの減結合キャパシタを集積回路に与える第1のキャパシタセクションと、
    少なくとも1つの減結合キャパシタを集積回路に与える第2のキャパシタセクションとを備える請求項14記載のプリント回路基板。
  17. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第1の導電性パターンと、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第2の導電性パターンと、
    第1の導電性パターンと第2の導電性パターンとの間の第1の誘電体材料とを備え、
    第2の導電性パターンの第1の導電性電極は、第1の導電性パターンの第1の導電性電極に対応し、そして、第2の導電性パターンの第2の導電性電極は、第1の導電性パターンの第2の導電性電極に対応する請求項16記載のプリント回路基板。
  18. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは更に、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第3の導電性パターンと、
    少なくとも第1の導電性電極および第2の導電性電極を備える第4の導電性パターンと、
    第1の導電性パターンと第2の導電性パターンとの間の第2の誘電体材料と、および
    第1および第2の導電性パターンの一方と、第3および第4の導電性パターンの一方との間の中間誘電体材料とを備え、
    第3および第4の導電性パターンの第1の導電性電極は、第1の導電性パターンの第1の導電性電極に対応し、そして、第3および第4の導電性パターンの第2の導電性電極は、第1の導電性パターンの第2の導電性電極に対応する請求項17記載のプリント回路基板。
  19. 第1のキャパシタセクションは、第1、第2、第3および第4の導電性パターンの第1の電極を備え、そして、第2のキャパシタセクションは、第1、第2、第3および第4の導電性パターンの第2の電極を備える請求項18記載の埋め込みプリント回路基板。
  20. 第1のキャパシタセクションおよび第2のキャパシタセクションは、共通結合領域な位置する少なくとも1つの導電性パスを通じて互いに電気的に結合される請求項16記載のプリント回路基板。
  21. 2つのキャパシタセクションの少なくとも一方は、電気的に並列に接続された少なくとも2つの個別の容量性デバイスを備える請求項16記載のプリント回路基板。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7957150B2 (en) * 2008-02-21 2011-06-07 Hitachi, Ltd. Support method and apparatus for printed circuit board
US8125761B2 (en) * 2008-02-22 2012-02-28 Industrial Technology Research Institute Capacitor devices with co-coupling electrode planes
TWI393155B (zh) * 2008-02-29 2013-04-11 Ind Tech Res Inst 電容器裝置與電路
US9628052B2 (en) 2014-02-18 2017-04-18 Qualcomm Incorporated Embedded multi-terminal capacitor
KR102320399B1 (ko) * 2014-08-26 2021-11-03 삼성전자주식회사 전원 관리 칩, 그것을 포함하는 모바일 장치 및 그것의 클록 조절 방법
DE102015112253A1 (de) 2014-08-26 2016-03-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Integrierte Leistungsverwaltungsschaltung, Leistungsverwaltungsverfahren, mobile Vorrichtung und Takteinstellverfahren
US9866014B2 (en) * 2015-02-11 2018-01-09 Allegro Microsystems, Llc Electronic device with shared EOS protection and power interruption mitigation

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63117416A (ja) 1986-11-06 1988-05-21 株式会社村田製作所 積層形多端子電子部品
US5027253A (en) 1990-04-09 1991-06-25 Ibm Corporation Printed circuit boards and cards having buried thin film capacitors and processing techniques for fabricating said boards and cards
US5422782A (en) 1992-11-24 1995-06-06 Circuit Components Inc. Multiple resonant frequency decoupling capacitor
JP3154594B2 (ja) 1993-07-13 2001-04-09 日本特殊陶業株式会社 キャパシタ内蔵多層配線基板とその製造方法
US5972231A (en) 1997-10-31 1999-10-26 Ncr Corporation Imbedded PCB AC coupling capacitors for high data rate signal transfer
US6775150B1 (en) 2000-08-30 2004-08-10 Intel Corporation Electronic assembly comprising ceramic/organic hybrid substrate with embedded capacitors and methods of manufacture
US6388207B1 (en) 2000-12-29 2002-05-14 Intel Corporation Electronic assembly with trench structures and methods of manufacture
CN1376021A (zh) * 2001-03-16 2002-10-23 矽统科技股份有限公司 具有内建电容的多层基板及其制造方法
KR100455890B1 (ko) 2002-12-24 2004-11-06 삼성전기주식회사 커패시터 내장형 인쇄회로기판 및 그 제조 방법
KR100455891B1 (ko) 2002-12-24 2004-11-06 삼성전기주식회사 커패시터 내장형 인쇄회로기판 및 그 제조 방법
JP2004281169A (ja) 2003-03-14 2004-10-07 Rikogaku Shinkokai ポリマーコンポジット高誘電率材料、多層配線板及びモジュール基板
TWI226101B (en) 2003-06-19 2005-01-01 Advanced Semiconductor Eng Build-up manufacturing process of IC substrate with embedded parallel capacitor
TW591676B (en) 2003-06-20 2004-06-11 Ind Tech Res Inst Base board structure with hidden capacitor
JP4365166B2 (ja) 2003-08-26 2009-11-18 新光電気工業株式会社 キャパシタ、多層配線基板及び半導体装置
CN1317923C (zh) 2003-09-29 2007-05-23 财团法人工业技术研究院 一种具内藏电容的基板结构
US20060158828A1 (en) * 2004-12-21 2006-07-20 Amey Daniel I Jr Power core devices and methods of making thereof
US7548432B2 (en) * 2005-03-24 2009-06-16 Agency For Science, Technology And Research Embedded capacitor structure

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