[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2007183225A - 光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法 - Google Patents

光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007183225A
JP2007183225A JP2006003022A JP2006003022A JP2007183225A JP 2007183225 A JP2007183225 A JP 2007183225A JP 2006003022 A JP2006003022 A JP 2006003022A JP 2006003022 A JP2006003022 A JP 2006003022A JP 2007183225 A JP2007183225 A JP 2007183225A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
inspection
shape
light
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006003022A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuji Takagishi
修治 高岸
Toru Nagashima
徹 長嶋
Hisaaki Hosoi
久晃 細居
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP2006003022A priority Critical patent/JP2007183225A/ja
Publication of JP2007183225A publication Critical patent/JP2007183225A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

【課題】車両ボディ表面などの凹曲面又は凸曲面等の複雑な曲面を被検査面とする面形状検査において、受光手段が捉えた被検査面の任意の位置において像対象物の鏡像が映るようにして、一度の検査で被検査面の曲面形状を残らず検出することのできる技術を提案する。
【解決手段】被検査面Fを略中心として放射状に、且つ、併せて検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されている略直線状の光線照射部21a・21a・・・を備えた像対象物21から、被検査面Fに光線束を照射することによって、該被検査面Fに明部と暗部とを形成する。そして、被検査面Fの明部と暗部の表れ方や形状等に基づいて該被検査面Fの形状を特定し、品質の良否を判定する。
【選択図】図5

Description

本発明は、車両ボディの表面等、凹曲面や凸曲面が含まれる被検査面の品質を検査するための技術に関する。
従来、車両ボディ等の表面の品質を検査するに当たって、被検査面に照明を照射することにより該被検査面に表れる陰影を、検査員が視覚や触覚等の官能に基づいて観察し、面品質の良否判定を行う手法が採用されていた。
しかし、被検査面に表れる陰影では、該被検査面から光源までの距離や被検査面の光沢や色により明るさに差異が生じて誤判定が生じたり、官能検査では検査官の疲労度などのコンディションや個々の検査官により判定基準にばらつきが生じたりするという、課題があった。
そこで、車両ボディが滑らかな反射率の高い面であり鏡面の性質を持つことを利用して、特許文献1では、被検査面に複数の明るい線(以下、『ハイライト線』と記載する)を映して、このハイライト線の歪みやうねり等を検出することによって、被検査面の品質を検査する技術が提案されている。
この技術は、長尺スリット光線を被検査面に照射する光源を複数略平行に並設した装置と、被検査面に映ったハイライト線を撮像する装置と、撮像された画像を分析する装置とを備えて、被検査面の品質の良否を判定するものである。
しかし、特許文献1に記載の技術では、被検査面に映り前記ハイライト線を形成する物体が或限られた範囲において略同一平面上に配置されている。
例えば、図12に示すように、或限られた範囲において略同一平面上に配置された光源61・61・・・を、凸曲面や凹曲面等の曲面が含まれる被検査面Fに映し、これを受光手段62にて受光して検査を行う場合に、図13に示すように、受光手段から見た被検査面に表れるハイライト線の間隔に大小が生じたり、ハイライト線が映らない部位が生じたりする。
被検査面Fに含まれる凸曲面は、凸面鏡の性質を有するため、得られる像は全て正立虚像となり、また、拡大鏡に似た性質を有するため、幅が太く間隔の大きいハイライト線が見える。
一方、凹曲面は凹面鏡の性質を有するため、焦点よりも外側にある物体は倒立実像となり、内側にある物体は正立虚像となり、また、広角鏡に似た性質を有するため、幅が細く間隔の狭いハイライト線が見える。
上述のように被検査面Fに、平面鏡とは性質の異なる球面鏡となる部分が含まれる場合には、受光手段が捉えることができない範囲に光源の像が結ばれて、受光手段が捉えた被検査面にハイライト線が映らない部位が生じることがある。
このような場合には、被検査面の検査領域ごとに該被検査面に像を形成する物体や受光手段を移動させながら検査を行う必要が生じ、この結果、品質不良の見落としが発生したり、検出不良が発生したりすることが危惧される。
特開平6−194148号公報
そこで、本発明は、車両ボディ表面などの凹曲面又は凸曲面等の複雑な曲面を被検査面とする面形状検査において、受光手段が捉えた被検査面の任意の位置において像対象物の鏡像が映るようにして、一度の検査で被検査面の曲面形状を特定することのできる技術を提案する。
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
即ち、請求項1においては、像対象物より被検査面に光線束を照射して該被検査面に明部と暗部とを形成するための光照射装置において、前記像対象物が、単数又は複数の規則性を有する形状の光線照射部を有し、前記被検査面を包囲するように形成されているものである。
請求項2においては、前記像対象物が有する光線照射部は、略直線状であって、被検査面を略中心として放射状に、且つ、被検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されているものである。
請求項3においては、前記光線照射部は発光体にて構成され、前記像対象物は、前記被検査面を包囲するように形成された板体と、該板体に固定された前記光線照射部とで構成されるものである。
請求項4においては、前記請求項1〜3のいずれか一項に記載の光照射装置と、被検査面を撮像する撮像装置と、前記撮像装置にて撮像された被検査面の像を画像化する画像処理装置と、前記画像処理装置にて画像化された被検査面に表れる明部及び暗部に基づいて、該被検査面の品質の良否を判定する判定装置とを、備える面形状検査システムである。
請求項5においては、前記判定装置は、画像化された被検査面に表れる明部及び暗部と、予め設定された基準被検査面の理想的な形状を表す明部及び暗部とを、比較することにより、該画像化された被検査面の品質の良否を判定するものである。
請求項6においては、単数又は複数の規則性を有する形状の光線照射部を有し、前記被検査面を包囲するように形成されて成る像対象物より、被検査面に光線束を照射し、前記被検査面に表れる明部及び暗部に基づいて該被検査面の形状を検査する面形状検査方法である。
請求項7においては、前記像対象物が有する光線照射部は、略直線状であって、被検査面を略中心として放射状に、且つ、被検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されているものである。
請求項8においては、前記光線照射部は発光体にて構成され、前記像対象物は、前記被検査面を包囲するように形成された板体と、該板体に固定された前記光線照射部とで構成されるものである。
請求項9においては、前記像対象物が映った被検査面を撮像し、撮像された被検査面に表れる明部及び暗部を画像化し、画像化された被検査面に表れる明部及び暗部と、予め設定された基準被検査面の理想的な形状を表す明部及び暗部とを、比較することにより、該画像化された被検査面の品質の良否を判定するものである。
本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。
受光手段にて捉える被検査面の任意の位置に像対象物が映るため、被検査面の任意の位置において明部と暗部とを確認することができる。よって、被検査面の測定領域ごとに受光手段や像対象物を移動させる必要が無くなる。
次に、発明の実施の形態を説明する。
図1は本発明の実施例に係る面形状検査システムの最小限構成図、図2は像対象物と被検査面と受光手段との関係の一例を説明する図、図3は像対象物と被検査面と受光手段との関係の一例を説明する図、図4は被検査面に表れるハイライト線を示す図である。
なお、図12は従来の像対象物と被検査面と受光手段との関係を説明する図、図13は従来の手段にて被検査面に表れるハイライト線を示す図である。
本発明の実施例に係る面形状検査システムは、車輌ボディ表面等の滑らかで反射率の高い面の形状を検査するためのものである。
図1に示すように、面形状検査システム10には、被検査面Fに映る物体(以下、『像対象物21』と記載する)と、該被検査面Fに映る像対象物21の像を捉える受光手段31とが備えられる。
被検査面Fは、滑らかで反射率の高い面であり鏡面としての性質を有するため、像対象物21から出た光線束は被検査面Fにて反射し、受光手段31は、この反射した光を受光することによって、被検査面Fに映る像対象物21の像を捉える。
前記像対象物21は、少なくとも規則性を有する形状の光線照射部21aを有する。
この光線照射部21aの『規則性を有する形状』は直線状であって、該光線照射部21aは、複数が略平行に所定間隔をあけて配列されることが望ましい。
前記像対象物21の光線照射部21aが被検査面Fに映ることによって、該被検査面Fに明部と暗部とが表れる(光線照射部21aが映っている部分が明部となり、それ以外の部分が暗部となる)。以下、受光手段31が捉えた被検査面Fに映る明部を『ハイライト線』と記載する。
このハイライト線の流れ(位置、曲率などの形状)、ハイライト線同士の間隔、ハイライト線の幅の変化、ハイライト線の輪郭線の変化等、ハイライト線の表れ方や形状等に基づいて、被検査面Fの面形状を特定し、被検査面Fに生じた歪等の表面不良を検出して、該被検査面Fの形状の検査を行うことができる。また、ハイライト線の流れと、予め定められた理想的なハイライト線の流れとを比較することにより、被検査面Fの形状が設計通りであるか否かを検出することができる。
上述のように、像対象物21の光線照射部21aを略直線状とすれば、被検査面Fに表れる明部の形状や、明部と暗部の境界線の歪みなどから、該被検査面Fの凹凸等の曲面形状を容易に特定することができる。
但し、像対象物21の光線照射部21aの形状は、規則性を有する形状であればよく、波線状や鎖線状等であっても、その規則性の変化に基づいて、該被検査面Fの形状を特定することができる。
また、上述のように、複数の光線照射部21aを略平行に所定間隔をあけて配列すれば、受光手段31が捉える被検査面Fには、明暗の縞模様が形成され、より被検査面Fの形状を明確に捉えることができる。但し、像対象物21の光線照射部21aは単数とすることもできる。
前記像対象物21は、例えば、図2に示すように、円弧を成して被検査面Fを包囲したり、図3に示すように、複数の平面を成して被検査面Fを包囲したりするようにして、像対象物21が被検査面Fを包囲するように設けられる。
なお、被検査面Fの形状にもよるが、像対象物21が円弧を成す方(図2)が、被検査面Fから像対象物21までの距離が略均一となり、ハイライト線の輝度に変化が生じにくいので望ましい。
上述のように、像対象物21が被検査面Fを包囲するように設けられているため、受光手段31が捉える被検査面Fの任意の位置に必ず像対象物21が映り、被検査面Fの任意の位置でハイライト線を確認することができる。
つまり、例えば図4に示すように、受光手段31が捉えた被検査面Fにハイライト線が映らない部位を無くすことができる。
よって、一度に被検査面F全体を検査して面形状を特定することができ、被検査面の測定領域ごとに受光手段や像対象物を移動させる必要が無いので、見落としによる検査不良を防止することができる。
なお、前記像対象物21は、光線照射部21aに相当する発光部と非発光部とを備えて発光部自らが光を発して被検査面Fに光を照射するもの、光線照射部21aに相当する反射部と非反射部とを備えて被検査面Fに反射光を照射するもの、又は、光の遮光部と光線照射部21aに相当する透光部とを備えて被検査面Fに透過光を照射するもの等と、することができる。
但し、前記像対象物21の光線照射部21aは、自ら光を発して被検査面Fに光を照射する発光体であることが望ましい。このように、像対象物21の光線照射部21aを発光体とすることによれば、被検査面Fの色彩に拘わらず、被検査面Fに像対象物21が映る明部と暗部との差異が明らかとなり、ハイライト線をより明確に捉えることができる。
続いて、上記面形状検査システム10の実施例について説明する。
次に、本発明の実施例1に係る面形状検査システム10Aについて説明する。
図5は本発明の実施例1に係る面形状検査システムの構成図、図6は面形状検査システムの構成を示すブロック図、図7は光照射装置を示す図、図8はアクチャル画像とバーチャル画像の比較図、図9はアクチャル画像とバーチャル画像の比較図である。
図5及び図6に示すように、面形状検査システム10Aは、像対象物21を備える光照射装置20と、受光手段31としての撮像装置30と、該撮像装置30で撮像された像を画像化処理する画像処理装置40と、被検査面Fの品質の良否を判定する判定装置50等で構成される。
但し、面形状検査システム10として前記光照射装置20を備え、受光手段31としての検査官が、被検査面Fに映る像対象物21により形成されるハイライト線を視認することにより検査を行い、該被検査面Fの品質の良否判定を行うこともできる。
前記光照射装置20は、像対象物21を備え、該像対象物21から放出される光線束を被検査面Fに照射して、該被検査面Fにハイライト線を表すための手段である。
図7にも示すように、光照射装置20は、被検査面Fを包囲するように略円弧形状を成す板体である曲板24と、該曲板24に固定された複数の直管蛍光灯22・22・・・と、該曲板24を姿勢変化可能に支承するスタンド23とで構成される。このうち、前記直管蛍光灯22・22・・・と、前記曲板24とによって、像対象物21が構成される。直管蛍光灯22は、像対象物21の光線照射部21aに相当する。
前記直管蛍光灯22・22・・・は、曲板24が形成する略円弧形状の内側に沿って、各直管蛍光灯22が略水平方向であって、且つ、各直管蛍光灯22・22間が略等間隔となるように、曲板24に並設される。従って、複数の直管蛍光灯22・22・・・は、被検査面Fを中心として放射状であって、併せて被検査面Fを包囲する略円弧形状を成すように配置されることとなる。
前記曲板24は、スタンド23に支承されて姿勢変化可能であるとともに、スタンド23に具備される車輪23cにより移動可能である。
そして、直管蛍光灯22・22・・・と曲板24から成る像対象物21が、被検査面Fを包囲し、且つ、該被検査面Fから像対象物21までの距離がなるべく均一となるように、光照射装置20の位置や姿勢が定められる。
上記構成の光照射装置20にて、像対象物21から出る光線束を被検査面Fに照射すれば、被検査面Fに直管蛍光灯22・22・・・が映って成る明部と、同じく、被検査面Fに曲板24が映って成る暗部とにより、受光手段31が捉える被検査面Fに複数のハイライト線(明暗の縞模様)が表れることとなる。
このハイライト線は、前記直管蛍光灯22・22・・・は略等間隔に配置されるので、略等間隔に表れ、特に複雑な表面形状である被検査面Fにおいては、より明確に被検査面Fの表面形状の凹凸を観察することができる。
但し、前記複数の直管蛍光灯22・22・・・は略等間隔で配置されることに限定されず、被検査面Fの形状に応じて適宜間隔を調整することもできる。
また、前記ハイライト線は、像対象物21である直管蛍光灯22が発光体であるので被検査面Fには明るく映り、該直管蛍光灯22の輪郭である明暗の境界線を明確とすることができる。なお、被検査面Fの色彩に応じて、被検査面Fにより明確に映る色の光を発光する直管蛍光灯22を選択することができる。
なお、上記構成の光照射装置20において、直管蛍光灯22に代えて、ハロゲン光源と、拡散板と、略平行に複数のスリットが形成された遮光板とを像対象物21として備えることもできる。
この場合、ハロゲン光源から出力した光線を、拡散板を通じて平行光線とし、さらに遮光板を通じて方向性を有し且つ細長い光線として、被検査面Fに照射することができる。これにより、より明暗のはっきりした縞状のハイライト線を被検査面Fに映し出すことができる。
前記撮像装置30は、受光手段31として機能するものであり、該被検査面Fに対して正面に近い斜め方向から被検査面Fを撮像するように配置される。
撮像装置30として、例えば、CCDカメラを採用することができる。この撮像装置30で撮像された被検査面Fの像は、画像処理装置40に画像データとして取り込まれる。
前記画像処理装置40又は前記判定装置50は、各種計算を行うCPU46と、情報を入力する入力部47と、画像データ、形状データ、判定結果などの演算結果が表示出力される表示部48等にて構成される。これらは、単数又は複数の汎用コンピュータ45等にて構成することができる。
前記画像処理装置40では、前記画像データに基づいて、受光手段31が捉えた被検査面Fが画像化されたうえで、ハイライト線(又はハイライト線の輪郭)が抽出され、これが曲線近似されて数値として表される。この曲線より、被検査面Fの表面形状の曲率半径や中心の向き、曲率半径等の数値が算出される。
さらに、前記判定装置50では、画像処理装置40にて画像化又は数値化された被検査面Fの表面形状に基づいて、被検査面Fの品質の良否判定が行われる。この判定結果は表示部48に出力表示される。
上記判定装置50における、被検査面Fの良否判定の手法として、画像処理装置40にて数値化された被検査面Fの表面形状の曲率半径や中心の向き、曲率半径等の数値と、予め設定された所定の基本値との比較演算処理が行われ、その差異が予め設定された許容範囲内にあるか否かが判断されることによって、被検査面Fの品質の良否判定が行われる。
また、上記判定装置50における、被検査面Fの良否判定の手法として、画像処理装置40にて画像化された被検査面Fに表れるハイライト線(アクチャル画像)と、被検査面Fの理想的な膨らみやリバース等を表す線(バーチャル画像)とを、比較することによって、被検査面Fの歪みの有無や、被検査面Fの曲面形状が設計通りであるか否かを判断し、被検査面Fの品質の良否判定が行われる。
被検査面Fの理想的な膨らみやリバース等を表す線(バーチャル画像)は、予め設計に基づく数値解析(シミュレーション)を行ったり、或いは、面形状検査システム10にて良品を検査対象として検査を行ったりすることによって、予め設定された基準被検査面から得ることができる。
なお、図8(a)は数値解析による被検査面Fの理想的な膨らみやリバース等を表す線を示し、図8(b)は画像化された被検査面Fに表れるハイライト線を示している。同様に、図9(a)は数値解析による被検査面Fの理想的な膨らみやリバース等を表す線を示し、図9(b)は画像化された被検査面Fに表れるハイライト線を示している。
これらの図から、画像処理装置40にて画像化された被検査面Fに表れるハイライト線(アクチャル画像)と、数値解析による被検査面Fの理想的な膨らみやリバース等を表す線(バーチャル画像)とが、よく対応していることが分かる。
なお、画像処理装置40にて画像化された被検査面Fは、検査官が視認できる被検査面Fの像と殆ど差異がないため、被検査面Fに表れるハイライト線(アクチャル画像)と、被検査面Fの理想的な膨らみやリバース等を表す線(バーチャル画像)とを検査官が視認により比較して、該被検査面Fの膨らみやリバース等の曲面形状が、設計通りであるか否かを容易に判断することができる。
続いて、本発明の実施例2に係る面形状検査システム10Bについて説明する。
図10は本発明の実施例2に係る面形状検査システムの構成図、図11は被検査面に表れるハイライト線を示す図である。
図10に示すように、面形状検査システム10Bは、車両ボディ表面の周囲等、被検査物Faの周囲全体が被検査面Fである場合に、該被検査面Fの面形状を一度に検査するためのシステムである。
面形状検査システム10Bは、像対象物21を備える光照射装置20と、受光手段31としての撮像装置30と、該撮像装置30で撮像された像を処理する画像処理装置40と、被検査面Fの品質の良否を判定する判定装置50等で構成される。
上記面形状検査システム10Bを構成する要素のうち、撮像装置30、画像処理装置40、及び、判定装置50の構成及び動作は、前述の実施例1に記載の面形状検査システム10Aに備えられるものと略同一であるので、説明を省略する。
前記光照射装置20は、像対象物21を備え、該像対象物21から放出される光線束を被検査面Fに照射して、該被検査面Fにハイライト線を表すための手段である。
光照射装置20は、光照射装置20は、略円弧形状を成す板体である曲板24と、該曲板24に固定された複数の直管蛍光灯22・22・・・と、該曲板24を姿勢変化可能に支承するスタンド23とで構成される。このうち、前記曲板24と前記直管蛍光灯22とで像対象物21が構成され、該直管蛍光灯22は光線照射部21aに相当する。
前記曲板24は、被検査面Fを備える被検査物Faを包囲する略円弧形状、つまり、被検査面Fを備える被検査物Faを包囲するドーム形状に形成される。
なお、曲板24は一枚ではなく、複数枚で成る分割構成とすることもできる。
前記直管蛍光灯22・22・・・は、各直管蛍光灯22が略水平方向であって、且つ、各直管蛍光灯22・22間が略等間隔となるように、曲板24が形成する略円弧形状の内側に沿って該曲板24に並設される。従って、複数の直管蛍光灯22・22・・・は、被検査面Fを備える被検査物Faの略中心を中心として放射状であって、併せて被検査面Fを備える被検査物Faを包囲する円弧を成すように配置されることとなる。
上記構成の光照射装置20を備えた面形状検査システム10Bでは、直管蛍光灯22・22・・・と曲板24で成る像対象物21にて形成されるドーム形状の空間の略中央に被検査物Faが配置され、像対象物21から出る光線束が被検査面Fに照射される。これにより、被検査面Fである被検査物Faの周囲には、被検査面Fに直管蛍光灯22・22・・・が映って成る明部と、同じく、被検査面Fに曲板24が映って成る暗部とにより、複数のハイライト線(明暗の縞模様)が表れ、これが撮像装置30にて撮像される。
なお、前記受光手段31としての撮像装置30は、被検査面Fである被検査物Faの周囲全体を撮像できるように、該被検査物Faの周囲に複数配置することができる。
そして、本実施例に係る面形状検査システム10Bにおいても、実施例1と同様に、撮像装置30にて撮像された像が画像処理装置40にて画像化され、判定装置50にて、画像化された被検査面Fの明部と暗部の表れ方や形状等に基づいて該被検査面Fの形状を特定し、該被検査面Fの品質の良否が判定される。
なお、上記面形状検査システム10Bでは、光照射装置20に具備される像対象物21は、被検査物Faの全周囲を包囲するように構成されるが、像対象物21は被検査物Faを包囲することに限定されない。
例えば、光照射装置20に具備される像対象物21を門形状に形成し、該像対象物21により形成された門を被検査物Faが通過するときに、該被検査物Faの被検査面Fに映るハイライト線を、受光手段31にて捉えることもできる。
本発明の実施例に係る面形状検査システムの最小限構成図。 像対象物と被検査面と受光手段との関係の一例を説明する図。 像対象物と被検査面と受光手段との関係の一例を説明する図。 被検査面に表れるハイライト線を示す図。 本発明の実施例1に係る面形状検査システムの構成図。 面形状検査システムの構成を示すブロック図。 光照射装置を示す図。 アクチャル画像とバーチャル画像の比較図。 アクチャル画像とバーチャル画像の比較図。 本発明の実施例2に係る面形状検査システムの構成図。 被検査面に表れるハイライト線を示す図。 従来の像対象物と被検査面と受光手段との関係を説明する図。 従来の手段にて被検査面に表れるハイライト線を示す図。
符号の説明
F 被検査面
10 面形状検査システム
20 光照射装置
21 像対象物
21a 光線照射部
22 直管蛍光灯
23 スタンド
24 曲板
30 撮像装置
31 受光手段
40 画像処理装置
50 判定装置

Claims (9)

  1. 像対象物より被検査面に光線束を照射して該被検査面に明部と暗部とを形成するための光照射装置において、
    前記像対象物が、単数又は複数の規則性を有する形状の光線照射部を有し、前記被検査面を包囲するように形成されていることを特徴とする、
    光照射装置。
  2. 前記像対象物が有する光線照射部は、略直線状であって、被検査面を略中心として放射状に、且つ、被検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されていることを特徴とする、
    請求項1記載の光照射装置。
  3. 前記光線照射部は発光体にて構成され、
    前記像対象物は、前記被検査面を包囲するように形成された板体と、該板体に固定された前記光線照射部とで構成されることを特徴とする、
    請求項1又は請求項2に記載の光照射装置。
  4. 前記請求項1〜3のいずれか一項に記載の光照射装置と、
    被検査面を撮像する撮像装置と、
    前記撮像装置にて撮像された被検査面の像を画像化する画像処理装置と、
    前記画像処理装置にて画像化された被検査面に表れる明部及び暗部に基づいて、該被検査面の品質の良否を判定する判定装置とを、
    備えることを特徴とする面形状検査システム。
  5. 前記判定装置は、
    画像化された被検査面に表れる明部及び暗部と、予め設定された基準被検査面の理想的な形状を表す明部及び暗部とを、比較することにより、該画像化された被検査面の品質の良否を判定することを特徴とする、
    請求項4に記載の面形状検査システム。
  6. 単数又は複数の規則性を有する形状の光線照射部を有し、前記被検査面を包囲するように形成されて成る像対象物より、被検査面に光線束を照射し、
    前記被検査面に表れる明部及び暗部に基づいて該被検査面の形状を検査することを特徴とする、
    面形状検査方法。
  7. 前記像対象物が有する光線照射部は、略直線状であって、被検査面を略中心として放射状に、且つ、被検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されていることを特徴とする、
    請求項6記載の面形状検査方法。
  8. 前記光線照射部は発光体にて構成され、
    前記像対象物は、前記被検査面を包囲するように形成された板体と、該板体に固定された前記光線照射部とで構成されることを特徴とする、
    請求項6又は請求項7に記載の面形状検査方法。
  9. 前記像対象物が映った被検査面を撮像し、
    撮像された被検査面に表れる明部及び暗部を画像化し、
    画像化された被検査面に表れる明部及び暗部と、予め設定された基準被検査面の理想的な形状を表す明部及び暗部とを、比較することにより、該画像化された被検査面の品質の良否を判定することを特徴とする、
    請求項6〜請求項8の何れか一項に記載の面形状検査方法。
JP2006003022A 2006-01-10 2006-01-10 光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法 Pending JP2007183225A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006003022A JP2007183225A (ja) 2006-01-10 2006-01-10 光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006003022A JP2007183225A (ja) 2006-01-10 2006-01-10 光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007183225A true JP2007183225A (ja) 2007-07-19

Family

ID=38339444

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006003022A Pending JP2007183225A (ja) 2006-01-10 2006-01-10 光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007183225A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2251639A1 (de) * 2009-05-12 2010-11-17 Carl Zeiss OIM GmbH Vorrichtung und Verfahren zum optischen Inspizieren eines Gegenstandes
WO2011095322A1 (de) * 2010-02-03 2011-08-11 Carl Zeiss Oim Gmbh Verfahren und vorrichtung zum optischen inspizieren eines prüflings mit einer zumindest teilweise reflektierenden oberfläche
JP2012007950A (ja) * 2010-06-23 2012-01-12 Hitachi High-Technologies Corp 車両寸法測定方法及び装置
JP2013092465A (ja) * 2011-10-26 2013-05-16 Fukuoka Institute Of Technology 三次元表面検査装置および三次元表面検査方法
JP2014032114A (ja) * 2012-08-03 2014-02-20 Dainippon Printing Co Ltd 質感計測装置
US9341578B2 (en) * 2014-10-06 2016-05-17 GM Global Technology Operations LLC LED-based inspection of a painted surface finish
KR20170016464A (ko) * 2014-06-09 2017-02-13 케이엘에이-텐코 코포레이션 웨이퍼 에지용 소형화 촬영 장치
CN106813570A (zh) * 2015-11-30 2017-06-09 中国科学院沈阳自动化研究所 基于线结构光扫描的长圆柱形物体三维识别与定位方法
JP2018063207A (ja) * 2016-10-14 2018-04-19 矢崎総業株式会社 検査装置
JP6482710B1 (ja) * 2018-09-06 2019-03-13 五洋商事株式会社 外観検査装置及び検査システム
WO2020025086A1 (de) * 2018-07-31 2020-02-06 Dhruv Kasavala Verfahren und vorrichtung zur erkennung und analyse von oberflaechenfehlern dreidimensionaler objekte mit einer reflektierenden oberflaeche, insbesondere von kraftfahrzeugkarosserien

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06194148A (ja) * 1992-12-25 1994-07-15 Toyota Motor Corp ハイライト線の定量化方法
US5414518A (en) * 1992-08-10 1995-05-09 Chrysler Corporation Method and apparatus for the evaluation of reflective surfaces
JPH09318337A (ja) * 1996-05-31 1997-12-12 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置
JP2000009454A (ja) * 1998-06-25 2000-01-14 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5414518A (en) * 1992-08-10 1995-05-09 Chrysler Corporation Method and apparatus for the evaluation of reflective surfaces
JPH06194148A (ja) * 1992-12-25 1994-07-15 Toyota Motor Corp ハイライト線の定量化方法
JPH09318337A (ja) * 1996-05-31 1997-12-12 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置
JP2000009454A (ja) * 1998-06-25 2000-01-14 Nissan Motor Co Ltd 表面欠陥検査装置

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2251639A1 (de) * 2009-05-12 2010-11-17 Carl Zeiss OIM GmbH Vorrichtung und Verfahren zum optischen Inspizieren eines Gegenstandes
WO2011095322A1 (de) * 2010-02-03 2011-08-11 Carl Zeiss Oim Gmbh Verfahren und vorrichtung zum optischen inspizieren eines prüflings mit einer zumindest teilweise reflektierenden oberfläche
US8823869B2 (en) 2010-02-03 2014-09-02 Carl Zeiss Oim Gmbh Method and apparatus for optically inspecting a test specimen having an at least partly reflective surface
JP2012007950A (ja) * 2010-06-23 2012-01-12 Hitachi High-Technologies Corp 車両寸法測定方法及び装置
JP2013092465A (ja) * 2011-10-26 2013-05-16 Fukuoka Institute Of Technology 三次元表面検査装置および三次元表面検査方法
JP2014032114A (ja) * 2012-08-03 2014-02-20 Dainippon Printing Co Ltd 質感計測装置
KR102279614B1 (ko) * 2014-06-09 2021-07-19 케이엘에이 코포레이션 웨이퍼 에지용 소형화 촬영 장치
KR20170016464A (ko) * 2014-06-09 2017-02-13 케이엘에이-텐코 코포레이션 웨이퍼 에지용 소형화 촬영 장치
US9341578B2 (en) * 2014-10-06 2016-05-17 GM Global Technology Operations LLC LED-based inspection of a painted surface finish
CN106813570A (zh) * 2015-11-30 2017-06-09 中国科学院沈阳自动化研究所 基于线结构光扫描的长圆柱形物体三维识别与定位方法
CN106813570B (zh) * 2015-11-30 2019-04-09 中国科学院沈阳自动化研究所 基于线结构光扫描的长圆柱形物体三维识别与定位方法
US10352869B2 (en) 2016-10-14 2019-07-16 Yazaki Corporation Inspection apparatus
JP2018063207A (ja) * 2016-10-14 2018-04-19 矢崎総業株式会社 検査装置
WO2020025086A1 (de) * 2018-07-31 2020-02-06 Dhruv Kasavala Verfahren und vorrichtung zur erkennung und analyse von oberflaechenfehlern dreidimensionaler objekte mit einer reflektierenden oberflaeche, insbesondere von kraftfahrzeugkarosserien
US11674907B2 (en) 2018-07-31 2023-06-13 Dhruv Kasavala Method and device for recognising and analysing surface defects in three-dimensional objects having a reflective surface, in particular motor vehicle bodies
JP6482710B1 (ja) * 2018-09-06 2019-03-13 五洋商事株式会社 外観検査装置及び検査システム
JP2020041800A (ja) * 2018-09-06 2020-03-19 五洋商事株式会社 外観検査装置及び検査システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007183225A (ja) 光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法
EP3088874B1 (en) Surface defect detection method and surface defect detection device
JP6370177B2 (ja) 検査装置および検査方法
EP3203217B1 (en) Inspection device and inspection method
RU2426981C2 (ru) Осветительное устройство для цилиндрических объектов
JP2010223621A (ja) 管状品の内表面検査方法
JPWO2011064969A1 (ja) 検査装置、三次元形状測定装置、構造物の製造方法
JP2017009523A (ja) 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法
EP3315952A1 (en) Surface flaw detection method, surface flaw detection device, and manufacturing method for steel material
JP6772084B2 (ja) 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法
JP2015040796A (ja) 欠陥検出装置
JP5466048B2 (ja) 車両検査装置
JP5481484B2 (ja) 3次元物体を2次元平面画像に光学的に変換する装置および方法
TWI497059B (zh) Multi - surface detection system and method
JP2009097977A (ja) 外観検査装置
JP2017067632A (ja) 検査装置および物品製造方法
KR20140065347A (ko) 외관 검사 장치 및 외관 검사 방법
US9194810B2 (en) Method and device for the detection of surface defects of a component
JP2014240766A (ja) 表面検査方法および表面検査装置
KR101464877B1 (ko) 불규칙 패턴을 가지는 대상물을 검사하는 불량 검사 시스템
JP2020041800A (ja) 外観検査装置及び検査システム
JP6387909B2 (ja) 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法
JP5959430B2 (ja) ボトルキャップの外観検査装置及び外観検査方法
KR20160149883A (ko) 렌즈 결함 검사 장치
JP2013185831A (ja) 表面欠陥検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20080401

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Effective date: 20100922

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20101012

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20101208

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A02 Decision of refusal

Effective date: 20110105

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02