JP2007183225A - 光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被検査面Fを略中心として放射状に、且つ、併せて検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されている略直線状の光線照射部21a・21a・・・を備えた像対象物21から、被検査面Fに光線束を照射することによって、該被検査面Fに明部と暗部とを形成する。そして、被検査面Fの明部と暗部の表れ方や形状等に基づいて該被検査面Fの形状を特定し、品質の良否を判定する。
【選択図】図5
Description
しかし、被検査面に表れる陰影では、該被検査面から光源までの距離や被検査面の光沢や色により明るさに差異が生じて誤判定が生じたり、官能検査では検査官の疲労度などのコンディションや個々の検査官により判定基準にばらつきが生じたりするという、課題があった。
この技術は、長尺スリット光線を被検査面に照射する光源を複数略平行に並設した装置と、被検査面に映ったハイライト線を撮像する装置と、撮像された画像を分析する装置とを備えて、被検査面の品質の良否を判定するものである。
例えば、図12に示すように、或限られた範囲において略同一平面上に配置された光源61・61・・・を、凸曲面や凹曲面等の曲面が含まれる被検査面Fに映し、これを受光手段62にて受光して検査を行う場合に、図13に示すように、受光手段から見た被検査面に表れるハイライト線の間隔に大小が生じたり、ハイライト線が映らない部位が生じたりする。
一方、凹曲面は凹面鏡の性質を有するため、焦点よりも外側にある物体は倒立実像となり、内側にある物体は正立虚像となり、また、広角鏡に似た性質を有するため、幅が細く間隔の狭いハイライト線が見える。
図1は本発明の実施例に係る面形状検査システムの最小限構成図、図2は像対象物と被検査面と受光手段との関係の一例を説明する図、図3は像対象物と被検査面と受光手段との関係の一例を説明する図、図4は被検査面に表れるハイライト線を示す図である。
なお、図12は従来の像対象物と被検査面と受光手段との関係を説明する図、図13は従来の手段にて被検査面に表れるハイライト線を示す図である。
図1に示すように、面形状検査システム10には、被検査面Fに映る物体(以下、『像対象物21』と記載する)と、該被検査面Fに映る像対象物21の像を捉える受光手段31とが備えられる。
この光線照射部21aの『規則性を有する形状』は直線状であって、該光線照射部21aは、複数が略平行に所定間隔をあけて配列されることが望ましい。
このハイライト線の流れ(位置、曲率などの形状)、ハイライト線同士の間隔、ハイライト線の幅の変化、ハイライト線の輪郭線の変化等、ハイライト線の表れ方や形状等に基づいて、被検査面Fの面形状を特定し、被検査面Fに生じた歪等の表面不良を検出して、該被検査面Fの形状の検査を行うことができる。また、ハイライト線の流れと、予め定められた理想的なハイライト線の流れとを比較することにより、被検査面Fの形状が設計通りであるか否かを検出することができる。
但し、像対象物21の光線照射部21aの形状は、規則性を有する形状であればよく、波線状や鎖線状等であっても、その規則性の変化に基づいて、該被検査面Fの形状を特定することができる。
なお、被検査面Fの形状にもよるが、像対象物21が円弧を成す方(図2)が、被検査面Fから像対象物21までの距離が略均一となり、ハイライト線の輝度に変化が生じにくいので望ましい。
つまり、例えば図4に示すように、受光手段31が捉えた被検査面Fにハイライト線が映らない部位を無くすことができる。
よって、一度に被検査面F全体を検査して面形状を特定することができ、被検査面の測定領域ごとに受光手段や像対象物を移動させる必要が無いので、見落としによる検査不良を防止することができる。
但し、前記像対象物21の光線照射部21aは、自ら光を発して被検査面Fに光を照射する発光体であることが望ましい。このように、像対象物21の光線照射部21aを発光体とすることによれば、被検査面Fの色彩に拘わらず、被検査面Fに像対象物21が映る明部と暗部との差異が明らかとなり、ハイライト線をより明確に捉えることができる。
図5は本発明の実施例1に係る面形状検査システムの構成図、図6は面形状検査システムの構成を示すブロック図、図7は光照射装置を示す図、図8はアクチャル画像とバーチャル画像の比較図、図9はアクチャル画像とバーチャル画像の比較図である。
図7にも示すように、光照射装置20は、被検査面Fを包囲するように略円弧形状を成す板体である曲板24と、該曲板24に固定された複数の直管蛍光灯22・22・・・と、該曲板24を姿勢変化可能に支承するスタンド23とで構成される。このうち、前記直管蛍光灯22・22・・・と、前記曲板24とによって、像対象物21が構成される。直管蛍光灯22は、像対象物21の光線照射部21aに相当する。
そして、直管蛍光灯22・22・・・と曲板24から成る像対象物21が、被検査面Fを包囲し、且つ、該被検査面Fから像対象物21までの距離がなるべく均一となるように、光照射装置20の位置や姿勢が定められる。
但し、前記複数の直管蛍光灯22・22・・・は略等間隔で配置されることに限定されず、被検査面Fの形状に応じて適宜間隔を調整することもできる。
この場合、ハロゲン光源から出力した光線を、拡散板を通じて平行光線とし、さらに遮光板を通じて方向性を有し且つ細長い光線として、被検査面Fに照射することができる。これにより、より明暗のはっきりした縞状のハイライト線を被検査面Fに映し出すことができる。
撮像装置30として、例えば、CCDカメラを採用することができる。この撮像装置30で撮像された被検査面Fの像は、画像処理装置40に画像データとして取り込まれる。
これらの図から、画像処理装置40にて画像化された被検査面Fに表れるハイライト線(アクチャル画像)と、数値解析による被検査面Fの理想的な膨らみやリバース等を表す線(バーチャル画像)とが、よく対応していることが分かる。
図10は本発明の実施例2に係る面形状検査システムの構成図、図11は被検査面に表れるハイライト線を示す図である。
面形状検査システム10Bは、像対象物21を備える光照射装置20と、受光手段31としての撮像装置30と、該撮像装置30で撮像された像を処理する画像処理装置40と、被検査面Fの品質の良否を判定する判定装置50等で構成される。
光照射装置20は、光照射装置20は、略円弧形状を成す板体である曲板24と、該曲板24に固定された複数の直管蛍光灯22・22・・・と、該曲板24を姿勢変化可能に支承するスタンド23とで構成される。このうち、前記曲板24と前記直管蛍光灯22とで像対象物21が構成され、該直管蛍光灯22は光線照射部21aに相当する。
なお、曲板24は一枚ではなく、複数枚で成る分割構成とすることもできる。
なお、前記受光手段31としての撮像装置30は、被検査面Fである被検査物Faの周囲全体を撮像できるように、該被検査物Faの周囲に複数配置することができる。
例えば、光照射装置20に具備される像対象物21を門形状に形成し、該像対象物21により形成された門を被検査物Faが通過するときに、該被検査物Faの被検査面Fに映るハイライト線を、受光手段31にて捉えることもできる。
10 面形状検査システム
20 光照射装置
21 像対象物
21a 光線照射部
22 直管蛍光灯
23 スタンド
24 曲板
30 撮像装置
31 受光手段
40 画像処理装置
50 判定装置
Claims (9)
- 像対象物より被検査面に光線束を照射して該被検査面に明部と暗部とを形成するための光照射装置において、
前記像対象物が、単数又は複数の規則性を有する形状の光線照射部を有し、前記被検査面を包囲するように形成されていることを特徴とする、
光照射装置。 - 前記像対象物が有する光線照射部は、略直線状であって、被検査面を略中心として放射状に、且つ、被検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されていることを特徴とする、
請求項1記載の光照射装置。 - 前記光線照射部は発光体にて構成され、
前記像対象物は、前記被検査面を包囲するように形成された板体と、該板体に固定された前記光線照射部とで構成されることを特徴とする、
請求項1又は請求項2に記載の光照射装置。 - 前記請求項1〜3のいずれか一項に記載の光照射装置と、
被検査面を撮像する撮像装置と、
前記撮像装置にて撮像された被検査面の像を画像化する画像処理装置と、
前記画像処理装置にて画像化された被検査面に表れる明部及び暗部に基づいて、該被検査面の品質の良否を判定する判定装置とを、
備えることを特徴とする面形状検査システム。 - 前記判定装置は、
画像化された被検査面に表れる明部及び暗部と、予め設定された基準被検査面の理想的な形状を表す明部及び暗部とを、比較することにより、該画像化された被検査面の品質の良否を判定することを特徴とする、
請求項4に記載の面形状検査システム。 - 単数又は複数の規則性を有する形状の光線照射部を有し、前記被検査面を包囲するように形成されて成る像対象物より、被検査面に光線束を照射し、
前記被検査面に表れる明部及び暗部に基づいて該被検査面の形状を検査することを特徴とする、
面形状検査方法。 - 前記像対象物が有する光線照射部は、略直線状であって、被検査面を略中心として放射状に、且つ、被検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されていることを特徴とする、
請求項6記載の面形状検査方法。 - 前記光線照射部は発光体にて構成され、
前記像対象物は、前記被検査面を包囲するように形成された板体と、該板体に固定された前記光線照射部とで構成されることを特徴とする、
請求項6又は請求項7に記載の面形状検査方法。 - 前記像対象物が映った被検査面を撮像し、
撮像された被検査面に表れる明部及び暗部を画像化し、
画像化された被検査面に表れる明部及び暗部と、予め設定された基準被検査面の理想的な形状を表す明部及び暗部とを、比較することにより、該画像化された被検査面の品質の良否を判定することを特徴とする、
請求項6〜請求項8の何れか一項に記載の面形状検査方法。
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Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2251639A1 (de) * | 2009-05-12 | 2010-11-17 | Carl Zeiss OIM GmbH | Vorrichtung und Verfahren zum optischen Inspizieren eines Gegenstandes |
WO2011095322A1 (de) * | 2010-02-03 | 2011-08-11 | Carl Zeiss Oim Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum optischen inspizieren eines prüflings mit einer zumindest teilweise reflektierenden oberfläche |
JP2012007950A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 車両寸法測定方法及び装置 |
JP2013092465A (ja) * | 2011-10-26 | 2013-05-16 | Fukuoka Institute Of Technology | 三次元表面検査装置および三次元表面検査方法 |
JP2014032114A (ja) * | 2012-08-03 | 2014-02-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 質感計測装置 |
US9341578B2 (en) * | 2014-10-06 | 2016-05-17 | GM Global Technology Operations LLC | LED-based inspection of a painted surface finish |
KR20170016464A (ko) * | 2014-06-09 | 2017-02-13 | 케이엘에이-텐코 코포레이션 | 웨이퍼 에지용 소형화 촬영 장치 |
CN106813570A (zh) * | 2015-11-30 | 2017-06-09 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 基于线结构光扫描的长圆柱形物体三维识别与定位方法 |
JP2018063207A (ja) * | 2016-10-14 | 2018-04-19 | 矢崎総業株式会社 | 検査装置 |
JP6482710B1 (ja) * | 2018-09-06 | 2019-03-13 | 五洋商事株式会社 | 外観検査装置及び検査システム |
WO2020025086A1 (de) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | Dhruv Kasavala | Verfahren und vorrichtung zur erkennung und analyse von oberflaechenfehlern dreidimensionaler objekte mit einer reflektierenden oberflaeche, insbesondere von kraftfahrzeugkarosserien |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06194148A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-15 | Toyota Motor Corp | ハイライト線の定量化方法 |
US5414518A (en) * | 1992-08-10 | 1995-05-09 | Chrysler Corporation | Method and apparatus for the evaluation of reflective surfaces |
JPH09318337A (ja) * | 1996-05-31 | 1997-12-12 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP2000009454A (ja) * | 1998-06-25 | 2000-01-14 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
-
2006
- 2006-01-10 JP JP2006003022A patent/JP2007183225A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5414518A (en) * | 1992-08-10 | 1995-05-09 | Chrysler Corporation | Method and apparatus for the evaluation of reflective surfaces |
JPH06194148A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-15 | Toyota Motor Corp | ハイライト線の定量化方法 |
JPH09318337A (ja) * | 1996-05-31 | 1997-12-12 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP2000009454A (ja) * | 1998-06-25 | 2000-01-14 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2251639A1 (de) * | 2009-05-12 | 2010-11-17 | Carl Zeiss OIM GmbH | Vorrichtung und Verfahren zum optischen Inspizieren eines Gegenstandes |
WO2011095322A1 (de) * | 2010-02-03 | 2011-08-11 | Carl Zeiss Oim Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum optischen inspizieren eines prüflings mit einer zumindest teilweise reflektierenden oberfläche |
US8823869B2 (en) | 2010-02-03 | 2014-09-02 | Carl Zeiss Oim Gmbh | Method and apparatus for optically inspecting a test specimen having an at least partly reflective surface |
JP2012007950A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 車両寸法測定方法及び装置 |
JP2013092465A (ja) * | 2011-10-26 | 2013-05-16 | Fukuoka Institute Of Technology | 三次元表面検査装置および三次元表面検査方法 |
JP2014032114A (ja) * | 2012-08-03 | 2014-02-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 質感計測装置 |
KR102279614B1 (ko) * | 2014-06-09 | 2021-07-19 | 케이엘에이 코포레이션 | 웨이퍼 에지용 소형화 촬영 장치 |
KR20170016464A (ko) * | 2014-06-09 | 2017-02-13 | 케이엘에이-텐코 코포레이션 | 웨이퍼 에지용 소형화 촬영 장치 |
US9341578B2 (en) * | 2014-10-06 | 2016-05-17 | GM Global Technology Operations LLC | LED-based inspection of a painted surface finish |
CN106813570A (zh) * | 2015-11-30 | 2017-06-09 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 基于线结构光扫描的长圆柱形物体三维识别与定位方法 |
CN106813570B (zh) * | 2015-11-30 | 2019-04-09 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 基于线结构光扫描的长圆柱形物体三维识别与定位方法 |
US10352869B2 (en) | 2016-10-14 | 2019-07-16 | Yazaki Corporation | Inspection apparatus |
JP2018063207A (ja) * | 2016-10-14 | 2018-04-19 | 矢崎総業株式会社 | 検査装置 |
WO2020025086A1 (de) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | Dhruv Kasavala | Verfahren und vorrichtung zur erkennung und analyse von oberflaechenfehlern dreidimensionaler objekte mit einer reflektierenden oberflaeche, insbesondere von kraftfahrzeugkarosserien |
US11674907B2 (en) | 2018-07-31 | 2023-06-13 | Dhruv Kasavala | Method and device for recognising and analysing surface defects in three-dimensional objects having a reflective surface, in particular motor vehicle bodies |
JP6482710B1 (ja) * | 2018-09-06 | 2019-03-13 | 五洋商事株式会社 | 外観検査装置及び検査システム |
JP2020041800A (ja) * | 2018-09-06 | 2020-03-19 | 五洋商事株式会社 | 外観検査装置及び検査システム |
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