[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2007176761A - シリコン単結晶の製造方法および製造装置 - Google Patents

シリコン単結晶の製造方法および製造装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007176761A
JP2007176761A JP2005378618A JP2005378618A JP2007176761A JP 2007176761 A JP2007176761 A JP 2007176761A JP 2005378618 A JP2005378618 A JP 2005378618A JP 2005378618 A JP2005378618 A JP 2005378618A JP 2007176761 A JP2007176761 A JP 2007176761A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
single crystal
silicon single
raw material
material melt
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005378618A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4986452B2 (ja
Inventor
Shinichi Kubu
真一 久府
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siltronic Japan Corp
Original Assignee
Siltronic Japan Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siltronic Japan Corp filed Critical Siltronic Japan Corp
Priority to JP2005378618A priority Critical patent/JP4986452B2/ja
Publication of JP2007176761A publication Critical patent/JP2007176761A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4986452B2 publication Critical patent/JP4986452B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

【課題】テール部の形成を省略して生産性良くシリコン単結晶を製造できる製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン単結晶Sの直胴部S1を成長させた後、原料融液Mの入った坩堝4をシリコン単結晶Sの引き上げ速度と同速度で上昇させることにより、シリコン単結晶Sの熱履歴を大きく変化させることなくシリコン単結晶Sの引き上げを実質的に停止させる。その状態で、原料融液Mからのシリコン単結晶Sの切り離しを行うことにより、シリコン単結晶Sの成長面の形状を下向きの凸形状にして、シリコン単結晶Sを無転移状態のまま原料融液Mから切り離す。シリコン単結晶Sの原料融液Mからの無転移切り離しを再現性良く実施して、テール部の形成を省略したシリコン単結晶を製造できる。
【選択図】図7

Description

本発明は、チョクラルスキ法(以下、CZ法と記す。)によるシリコン単結晶製造技術に関し、特に、テール部の形成を省略して生産性良くシリコン単結晶を製造する技術に関する。
CZ法では、シリコン多結晶原料を坩堝内で加熱し融解させて原料融液を生成し、その原料融液の液面に種結晶を浸漬した後、種結晶を保持している引上ワイヤを徐々に巻き取ることにより、シリコン単結晶の引き上げを行う。その際、先ず、種結晶との接触部をから徐々に拡経したコーン部(拡径部)を成長させ、結晶径が目標の径に達したら直径が一定の直胴部(定径部)を成長させる。そして、直胴部の長さが所定の長さに到達したら、シリコン単結晶を原料融液から切り離す。
シリコン単結晶を原料融液から切り離す際、単に切り離しを行ったのでは、切り離し部位であるシリコン単結晶の下端部に急激な温度低下が起こる。その結果、引き上げられたシリコン単結晶内にスリップ転移が発生し、単結晶化率を大きく低下させてしまう。
そこで、通常は、シリコン単結晶の直胴部の成長後、徐々に直径を細く絞っていき、シリコン単結晶と原料融液との接触面積を十分に小さくした状態で、シリコン単結晶を原料融液から切り離すことにより、スリップ転移の発生を防止している。この細く絞られた縮径部位はテール部と呼ばれる。
しかし、テール部は、その直径が一定でないという理由から、ウエハ加工時には切り落とされてしまう不要の部位となる。したがって、シリコン単結晶の生産性を高める上でテール部の形成工程を短縮または省略することが望ましい。
シリコン単結晶のテール部の形成工程を短縮または省略する技術は既に幾つか存在し、その一つとして、シリコン単結晶を融液につけ込み、その後、当該シリコン単結晶を融液から切り離す方法が知られている(特許文献1)。
しかし、上記文献記載の従来技術では、シリコン単結晶を融液につけ込む時に異物の巻き込み等が起こり易く、歩留を低下させてしまうという問題がある。
特開平11−335197号公報
本発明が解決しようとする課題は、テール部の形成を省略して生産性良くシリコン単結晶を製造することができるシリコン単結晶の製造方法および製造装置、更には、当該製造装置用のプログラムおよび当該プログラムを記録した記録媒体提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明の製造方法は、シリコン単結晶の直胴部を成長させた後、当該シリコン単結晶の引き上げ速度と同速度で当該シリコン単結晶の原料融液の入った坩堝を上昇させ、その後、当該原料融液から当該シリコン単結晶を切り離すようにした。
この製造方法によれば、シリコン単結晶の直胴部を成長させた後、原料融液の入った坩堝を育成中のシリコン単結晶の引き上げ速度と同じ速度で上昇させることにより、シリコン単結晶の熱履歴を大きく変化させることなくシリコン単結晶の引き上げを実質的に停止させ、その状態で、原料融液からのシリコン単結晶の切り離しを行うことにより、シリコン単結晶の下端面すなわち原料融液との界面の形状を下向きの凸形状にして、シリコン単結晶を無転移状態のまま原料融液から切り離すことが可能となる。
本発明の製造装置は、原料融液の入った坩堝を昇降移動させる坩堝駆動機構と、前記坩堝内の原料融液からシリコン単結晶を成長させつつ引き上げるための単結晶引き上げ機構と、シリコン単結晶の直胴部を成長させた後、当該シリコン単結晶の引き上げ速度と同速度で前記坩堝を上昇させ、その後、前記原料融液から当該シリコン単結晶を切り離すように前記坩堝駆動機構および前記単結晶引き上げ機構の動作を制御する制御装置と、を備えたものである。
この製造装置によれば、本発明の製造方法を容易に実施することができる。すなわち、シリコン単結晶の直胴部を成長させた後、原料融液の入った坩堝を育成中のシリコン単結晶の引き上げ速度と同じ速度で上昇させて、シリコン単結晶の熱履歴を大きく変化させることなくシリコン単結晶の引き上げを実質的に停止させ、その状態で、原料融液からのシリコン単結晶の切り離しを行うことにより、シリコン単結晶の下端面の形状を下向きの凸形状にして、シリコン単結晶を無転移状態のまま原料融液から切り離すことが可能となる。
本発明のプログラムは、本発明の製造装置が備える前記制御装置をコンピュータを用いて実現するためのプログラムである。
本発明の記録媒体は、本発明のプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
本発明にかかる製造方法および製造装置によれば、シリコン単結晶の直胴部を成長させた後、原料融液の入った坩堝を育成中のシリコン単結晶の引き上げ速度と同じ速度で上昇させることにより、シリコン単結晶の熱履歴を大きく変化させることなくシリコン単結晶の引き上げを実質的に停止させ、その状態で、原料融液からのシリコン単結晶の切り離しを行うことにより、シリコン単結晶の下端面すなわち原料融液との界面の形状を下向きの凸形状にして、シリコン単結晶を無転移状態のまま原料融液から切り離すことが可能となるので、テール部の形成を省略して生産性良くシリコン単結晶を製造することができる。
本発明のプログラムによれば、これをコンピュータにインストールすることにより、本発明の製造装置が備える制御装置を容易に実現することができる。
本発明の記録媒体によれば、これに記録されているプログラムをコンピュータにインストールすることにより、本発明の製造装置が備える制御装置を容易に実現することができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について説明する。
図1〜図6は本発明の製造方法でシリコン単結晶を製造する際に用いる製造装置(本発明の製造装置)の形態例を示す概略断面図である。また、図1〜図6は本発明の製造方法における製造工程を示す一連の工程図でもある。
この製造装置1は、引上炉2と、引上炉2の底部中央を貫通して設けられた坩堝支持軸3と、坩堝支持軸3の上端部に装填された石英製の坩堝4と、坩堝4とその周辺を周囲から加熱するべく引上炉2のメイン水冷チャンバ2bの内側に同心円状に配されたヒータ5と、坩堝支持軸3を昇降及び回転させる坩堝支持軸駆動機構(坩堝駆動機構)6と、種結晶7を保持するシードチャック8と、シードチャック8を釣支する引上ワイヤ9と、引上ワイヤ9を巻き取るワイヤ巻取り機構(単結晶引き上げ機構)10と、坩堝支持軸駆動機構6およびワイヤ巻取り機構10の動作を制御する制御装置11と、を備えている。
制御装置11は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、および入出力インタフェースといったコンピュータの基本要素を全て備えている。ROMには、本発明にかかる制御プログラムがインストールされている。CPUは、ROMにインストールされた制御プログラムに従ってRAMを作業領域に使用しつつ演算処理を実行することにより各種制御信号を生成する。この制御装置11が坩堝支持軸駆動機構6とワイヤ巻取り機構10の動作、更にはヒータ5や真空ポンプ(図示せず)、Arガス供給系(図示せず)などの動作を制御することにより、製造装置1によるシリコン単結晶の製造が実施される。
この製造装置1によりシリコン単結晶を製造する際、まず図1に示すように、シリコン単結晶の原料となるシリコン多結晶原料Pを坩堝4側に充填する。
つぎに、図2に示すように、引上炉2のメイン水冷チャンバ2bの上部を上部水冷チャンバ2aで密閉した後、真空ポンプ(図示せず)を稼働させて底部水冷チャンバ2cの排ガス管12より排気をしながら上部水冷チャンバ2aのポートよりArガスを供給して、引上炉2内をAr雰囲気に置換する。その後、ヒータ5を作動させて坩堝4内に充填されたシリコン多結晶原料Pを融解させ、原料融液Mを得る。
つぎに、ワイヤ巻取り機構10により引上ワイヤ9を繰り出すことにより、図3に示すように、シードチャック8に取り付けた種結晶8をシリコン融液Mの表面まで降下させて浸漬する。その後、ワイヤ巻取り機構10により引上ワイヤ9を徐々に巻き取ることにより、図4に示すようにシリコン単結晶Sの引き上げを行い、シリコン単結晶Sがコーン部(拡径部)S0の成長を経て目標の直径に到達したら、直胴部(定径部)S1を成長させていく。
そして、直胴部S1が設定長さに到達したら、坩堝支持軸駆動機構6による坩堝支持軸3の上昇を開始することにより、図5に示すように、シリコン単結晶Sの引き上げ速度と同速度で坩堝4を上昇させていく。
そして、坩堝4が所定の高さまで上昇したら、坩堝支持軸駆動機構6による坩堝支持軸3の上昇およびワイヤ巻取り機構10による引上ワイヤ9の巻き取りを停止させる。その後、坩堝支持軸駆動機構6により坩堝支持軸3を下降させることにより坩堝4を下降させ、図6に示すように原料融液Mからシリコン単結晶Sを切り離す。
図7(a)〜(d)は、シリコン単結晶Sの成長面(原料融液との界面)の形状変化の過程を示している。直胴部S1を育成している時のシリコン単結晶Sの成長面すなわち原料融液Mとの界面の形状は、図7(a)に示すように上向きの凸形状になっているが、坩堝4をシリコン単結晶Sの引き上げ速度と同じ速度で上昇させ始めると、シリコン単結晶Sの引き上げが実質的に停止(坩堝4とシリコン単結晶Sとが上下方向に関して相対移動停止)するため、シリコン単結晶Sの成長面の上向きの凸形状が図7(b)に示すように徐々に緩和されていく。そして、この実質的停止状態が所定時間維持されると、シリコン単結晶Sの成長面の形状が図7(c)に示すように徐々に下向きの凸形状に変化していく。そして、シリコン単結晶Sの成長面の形状が下向きの凸形状の状態で、シリコン単結晶Sの成長面を原料融液Mから切り離すことにより、原料融液Mの波立ちを極力小さく抑えつつ切り離しがなされる。シリコン単結晶Sの切り離しに伴う原料融液Mの波立ちが小さいため、シリコン単結晶Sを無転移に保ったまま、原料融液Mからシリコン単結晶Sを切り離すことができる。
上記のように、この製造方法によれば、シリコン単結晶Sの直胴部S1を成長させた後、原料融液Mの入った坩堝4を育成中のシリコン単結晶Sの引き上げ速度と同じ速度で上昇させることにより、シリコン単結晶Sの熱履歴を大きく変化させることなくシリコン単結晶Sの引き上げを実質的に停止させることができ、その状態で、原料融液Mからのシリコン単結晶Sの切り離しを行うことにより、シリコン単結晶Sの成長面(下端面)の形状を下向きの凸形状にして、シリコン単結晶Sを無転移状態のまま原料融液Mから切り離すことができ、且つ、シリコン単結晶Sの原料融液Mからの無転移切り離しを再現性良く実施できる。
なお、上記の例では坩堝4とシリコン単結晶Sの上昇を停止させた後、坩堝4を下降させることによりシリコン単結晶Sを原料融液Mから切り離すようにしたが、坩堝4の上昇停止後、シリコン単結晶Sをさらに上昇させることにより切り離しを行うようにしてもよい。
本発明の製造方法でシリコン単結晶を製造する際に用いる製造装置の形態例を示す断面図 本発明の製造方法でシリコン単結晶を製造する際に用いる製造装置の形態例を示す断面図 本発明の製造方法でシリコン単結晶を製造する際に用いる製造装置の形態例を示す断面図 本発明の製造方法でシリコン単結晶を製造する際に用いる製造装置の形態例を示す断面図 本発明の製造方法でシリコン単結晶を製造する際に用いる製造装置の形態例を示す断面図 本発明の製造方法でシリコン単結晶を製造する際に用いる製造装置の形態例を示す断面図 (a)〜(d)はシリコン単結晶の成長面の形状変化の過程を示す説明図
符号の説明
1 製造装置
2 引上炉
3 坩堝支持軸
4 坩堝
5 ヒータ
6 坩堝支持軸駆動機構(坩堝駆動機構)
7 種結晶
8 シードチャック
9 引上ワイヤ
10 ワイヤ巻取り機構(単結晶引き上げ機構)
11 制御装置
M シリコン融液
S シリコン単結晶
S1 直胴部

Claims (4)

  1. チョクラルスキ法によるシリコン単結晶の製造方法であって、
    シリコン単結晶の直胴部を成長させた後、当該シリコン単結晶の引き上げ速度と同速度で当該シリコン単結晶の原料融液の入った坩堝を上昇させ、その後、当該原料融液から当該シリコン単結晶を切り離すようにしたことを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。
  2. チョクラルスキ法によるシリコン単結晶の製造装置であって、
    原料融液の入った坩堝を昇降移動させる坩堝駆動機構と、
    前記坩堝内の原料融液からシリコン単結晶を成長させつつ引き上げるための単結晶引き上げ機構と、
    シリコン単結晶の直胴部を成長させた後、当該シリコン単結晶の引き上げ速度と同速度で前記坩堝を上昇させ、その後、前記原料融液から当該シリコン単結晶を切り離すように前記坩堝駆動機構および前記単結晶引き上げ機構の動作を制御する制御装置と、
    を備えたことを特徴とするシリコン単結晶の製造装置。
  3. 請求項2の製造装置が備える前記制御装置をコンピュータを用いて実現するためのプログラム。
  4. 請求項3のプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
JP2005378618A 2005-12-28 2005-12-28 シリコン単結晶の製造方法および製造装置 Active JP4986452B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005378618A JP4986452B2 (ja) 2005-12-28 2005-12-28 シリコン単結晶の製造方法および製造装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005378618A JP4986452B2 (ja) 2005-12-28 2005-12-28 シリコン単結晶の製造方法および製造装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007176761A true JP2007176761A (ja) 2007-07-12
JP4986452B2 JP4986452B2 (ja) 2012-07-25

Family

ID=38302299

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005378618A Active JP4986452B2 (ja) 2005-12-28 2005-12-28 シリコン単結晶の製造方法および製造装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4986452B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2415910A1 (en) 2010-08-06 2012-02-08 Siltronic AG Silicon single crystal production method
WO2013097953A1 (en) * 2011-12-26 2013-07-04 Siltronic Ag Method for manufacturing single-crystal silicon
CN105040099A (zh) * 2014-04-21 2015-11-11 环球晶圆日本股份有限公司 单晶提取方法
US9611566B2 (en) 2011-12-26 2017-04-04 Siltronic Ag Method for manufacturing single-crystal silicon

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09208379A (ja) * 1996-01-26 1997-08-12 Sumitomo Sitix Corp 単結晶引き上げ方法
JPH09208376A (ja) * 1996-01-26 1997-08-12 Sumitomo Sitix Corp 単結晶引き上げ方法
JPH1095689A (ja) * 1996-09-17 1998-04-14 Sumitomo Sitix Corp 単結晶成長方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09208379A (ja) * 1996-01-26 1997-08-12 Sumitomo Sitix Corp 単結晶引き上げ方法
JPH09208376A (ja) * 1996-01-26 1997-08-12 Sumitomo Sitix Corp 単結晶引き上げ方法
JPH1095689A (ja) * 1996-09-17 1998-04-14 Sumitomo Sitix Corp 単結晶成長方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2415910A1 (en) 2010-08-06 2012-02-08 Siltronic AG Silicon single crystal production method
CN102373504A (zh) * 2010-08-06 2012-03-14 硅电子股份公司 硅单晶生产方法
KR101289961B1 (ko) 2010-08-06 2013-07-26 실트로닉 아게 실리콘 단결정 제조 방법
TWI424104B (zh) * 2010-08-06 2014-01-21 Siltronic Ag 矽單晶生產方法
US9051661B2 (en) 2010-08-06 2015-06-09 Siltronic Ag Silicon single crystal production method
WO2013097953A1 (en) * 2011-12-26 2013-07-04 Siltronic Ag Method for manufacturing single-crystal silicon
JP2013133243A (ja) * 2011-12-26 2013-07-08 Siltronic Ag 単結晶シリコンの製造方法
CN104011271A (zh) * 2011-12-26 2014-08-27 硅电子股份公司 制造单晶硅的方法
US9611566B2 (en) 2011-12-26 2017-04-04 Siltronic Ag Method for manufacturing single-crystal silicon
US9702055B2 (en) 2011-12-26 2017-07-11 Siltronic Ag Method for manufacturing single-crystal silicon
CN104011271B (zh) * 2011-12-26 2017-11-07 硅电子股份公司 制造单晶硅的方法
CN105040099A (zh) * 2014-04-21 2015-11-11 环球晶圆日本股份有限公司 单晶提取方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4986452B2 (ja) 2012-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20010022656A (ko) 단결정 실리콘을 성장시키기 위한 비-대시 넥 방법
JP2008019125A (ja) 半導体ウェーハ素材の溶解方法及び半導体ウェーハの結晶育成方法
JP2010018446A (ja) 単結晶の製造方法及び単結晶引上装置
KR20150107241A (ko) 잉곳 제조 방법 및 잉곳 제조 장치
US20240035197A1 (en) Crystal Puller, Method for Manufacturing Monocrystalline Silicon Ingots and Monocrystalline Silicon Ingots
JP2008162809A (ja) 単結晶引上装置及び単結晶の製造方法
JP4986452B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法および製造装置
JP6547839B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法
JP5509188B2 (ja) 単結晶シリコンの製造方法
WO2023051616A1 (zh) 一种用于拉制单晶硅棒的拉晶炉
JP2009242237A (ja) 単結晶インゴット製造装置及び方法
KR100848549B1 (ko) 실리콘 단결정 성장 방법
CN105401211B (zh) 拉制c轴蓝宝石单晶长晶炉及方法
JPH11255575A (ja) 単結晶引上げ装置及びその冷却方法
JP4702266B2 (ja) 単結晶の引上げ方法
JP2010248003A (ja) SiC単結晶の製造方法
JP4785762B2 (ja) 単結晶の製造方法
JP4341379B2 (ja) 単結晶の製造方法
JP2006273685A (ja) 単結晶製造装置
JP4640796B2 (ja) シリコン単結晶の製造方法
US20240018689A1 (en) Crystal Puller for Pulling Monocrystalline Silicon Ingots
JP5053426B2 (ja) シリコン単結晶製造方法
JP2006160552A (ja) シリコン単結晶の製造方法
JP5018670B2 (ja) 単結晶の育成方法
JP2783624B2 (ja) 単結晶の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081003

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20081006

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100518

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100823

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101228

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20111024

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111115

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20111116

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20111116

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120327

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120424

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4986452

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250