JP2007051226A - Resin composition with low dielectric constant - Google Patents
Resin composition with low dielectric constant Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007051226A JP2007051226A JP2005237848A JP2005237848A JP2007051226A JP 2007051226 A JP2007051226 A JP 2007051226A JP 2005237848 A JP2005237848 A JP 2005237848A JP 2005237848 A JP2005237848 A JP 2005237848A JP 2007051226 A JP2007051226 A JP 2007051226A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin composition
- curable resin
- group
- copper foil
- cured product
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Laminated Bodies (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Adhesive Tapes (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Reinforced Plastic Materials (AREA)
Abstract
Description
本発明は多層プリント配線板などの電子部品、特に高周波領域で使用される電子部品に用いるのに有用な硬化性樹脂組成物に関する。また本発明は該硬化性樹脂組成物を使用して作成された接着フィルム、銅箔付き接着フィルム、プリプレグ、及び該硬化性樹脂組成物の硬化物等により絶縁層が構成されるプリント配線板等の電子部品にも関する。 The present invention relates to a curable resin composition useful for use in electronic parts such as multilayer printed wiring boards, particularly electronic parts used in a high frequency region. In addition, the present invention provides an adhesive film, an adhesive film with a copper foil, a prepreg, a printed wiring board in which an insulating layer is composed of a cured product of the curable resin composition, and the like prepared using the curable resin composition Also related to electronic components.
コンピューターや情報通信機器は近年ますます高性能・高機能化し、大量のデータを高速で処理する為に、扱う信号が高周波化する傾向にある。特に携帯電話や衛星放送に使用される電波の周波数領域はGHz帯の高周波領域のものが使用されており、高周波数化による伝送損失を抑制するため、高誘電容量材料に使用する有機絶縁材料として、比誘電率および誘電正接が低い材料が望まれる。 In recent years, computers and information communication devices have become increasingly high-performance and highly functional, and in order to process a large amount of data at high speed, the signals handled tend to be high-frequency. In particular, the frequency range of radio waves used for mobile phones and satellite broadcasts is in the high frequency range of the GHz band, and as an organic insulating material used for high dielectric capacitance materials to suppress transmission loss due to higher frequencies. A material having a low relative dielectric constant and dielectric loss tangent is desired.
上記特性に優れた有機絶縁材料に有用な化合物として、本願のポリビニルベンジルエーテル化合物については、例えば、特許文献1が知られている。 As a compound useful for an organic insulating material having excellent characteristics as described above, for example, Patent Document 1 is known for the polyvinyl benzyl ether compound of the present application.
これらの化合物の硬化物は、低誘電正接、高耐熱性、低吸水性であり、上記のような有機絶縁材料用として有用であり、プリント配線板や電子部品の高誘電材料として用いる場合に必要とされる銅箔との密着性について、特許文献2にて記述されている。それによると、ポリビニルベンジルエーテル化合物とスチレン系エラストマーとを含有する硬化性ポリビニルベンジルエーテル樹脂組成物が開示されており、該組成物の硬化物が、ポリビニルベンジルエーテル化合物の物性を大きく損なうことなく、可とう性が付与され、銅箔との密着性が向上することが報告されている。 Cured products of these compounds have a low dielectric loss tangent, high heat resistance, and low water absorption, and are useful for the above organic insulating materials, and are necessary when used as high dielectric materials for printed wiring boards and electronic components. Patent Document 2 describes the adhesion to a copper foil. According to this, a curable polyvinyl benzyl ether resin composition containing a polyvinyl benzyl ether compound and a styrenic elastomer is disclosed, and the cured product of the composition does not significantly impair the physical properties of the polyvinyl benzyl ether compound. It has been reported that flexibility is imparted and adhesion to copper foil is improved.
しかしながら、該組成物の硬化物において、銅箔との密着性は十分なものでなかった。またメッキによる導体層形成は全く検討されていない。
本発明の目的は、硬化物の比誘電率および誘電正接が低く、かつ導体と密着強度に優れた樹脂組成物を提供することにあり、さらには、該硬化性樹脂組成物を用いた接着フィルム、銅箔付き接着フィルムおよびプリプレグ、該接着フィルム等を用いたプリント配線板等の電子部品、並びにその製造方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a resin composition having a low relative dielectric constant and dielectric loss tangent of a cured product and excellent adhesion strength to a conductor, and further an adhesive film using the curable resin composition Another object is to provide an adhesive film and a prepreg with copper foil, an electronic component such as a printed wiring board using the adhesive film and the like, and a method for producing the same.
上記課題を解決するために、本発明者等は鋭意研究した結果、(A)硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物および(B)ヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基および酸無水物基からなる群より選択される1種以上の官能基を1以上有する変性スチレン系エラストマーを含有する硬化性樹脂組成物の硬化物が銅箔との密着性に優れ、また硬化物表面を粗化し、メッキにより導体層を形成した場合でも、密着強度に優れた導体層が得られることを見出し、本発明を完成するに至った。 In order to solve the above-mentioned problems, the present inventors have intensively studied, and as a result, selected from the group consisting of (A) a curable polyvinyl benzyl ether compound and (B) a hydroxyl group, a carboxyl group, an amino group, and an acid anhydride group. The cured product of the curable resin composition containing one or more modified styrene elastomers having one or more functional groups has excellent adhesion to the copper foil, and the surface of the cured product is roughened to form a conductor layer by plating. In this case, the present inventors have found that a conductor layer having excellent adhesion strength can be obtained and completed the present invention.
すなわち、本発明は以下の内容を含むものである。
[1] (A)硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物、(B)ヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基および酸無水物基からなる群より選択される1種以上の官能基を1以上有する変性スチレン系エラストマー、並びに(C)誘電体粉末を含有する硬化性樹脂組成物。
[2] (A)硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物が、下式(1):
で表される硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物である、上記[1]記載の硬化性樹脂組成物。
[3] (B)変性スチレン系エラストマーの官能基がカルボキシル基および酸無水物基からなる群より選択される1種以上である、上記[1]または上記[2]記載の硬化性樹脂組成物。
[4] 成分(A)と成分(B)の質量比が97:3〜50:50である、上記[1]〜[3]いずれかに記載の硬化性樹脂組成物。
[5] 上記[1]〜[4]いずれかに記載の硬化性樹脂組成物が支持フィルム上に層形成された接着フィルム。
[6] 上記[1]〜[4]いずれかに記載の硬化性樹脂組成物が銅箔上に層形成された銅箔付き接着フィルム。
[7] 上記[1]〜[4]いずれかに記載の硬化性樹脂組成物がシート状繊維基材に含浸されているプリプレグ。
[8] 以下の工程(1)〜(7)を含む多層プリント配線板の製造方法:
(1)上記[5]記載の接着フィルムを回路基板にラミネートする工程、
(2)支持フィルムを剥離するか、または剥離しない工程、
(3)硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程、
(4)支持フィルムが存在する場合に該支持フィルムを剥離する工程、
(5)硬化物表面を、アルカリ性酸化剤水溶液で粗化する工程、
(6)粗化された硬化物表面にメッキにより導体層を形成する工程、および
(7)導体層に回路形成する工程。
[9] 以下の工程(1)〜(6)を含む多層プリント配線板の製造方法:
(1)上記[6]記載の銅箔付き接着フィルムを回路基板にラミネートする工程、
(2)硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程、
(3)銅箔を溶解除去する工程、
(4)硬化物表面を、アルカリ性酸化剤水溶液で粗化する工程、
(5)粗化された硬化物表面にメッキにより導体層を形成する工程、および
(6)導体層に回路形成する工程。
[10] 以下の工程(1)〜(3)を含む多層プリント配線板の製造方法:
(1)上記[6]記載の銅箔付き接着フィルムを回路基板にラミネートする工程、
(2)硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程、および
(3)銅箔層に回路形成する工程。
[11] 以下の工程(1)〜(5)を含む多層プリント配線板の製造方法:
(1)上記[7]記載のプリプレグを回路基板にラミネートする工程、
(2)硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程、
(3)硬化物表面を、アルカリ性酸化剤水溶液で粗化する工程、
(4)粗化された硬化物表面にメッキにより導体層を形成する工程、および
(5)導体層に回路形成する工程。
[12] 上記[1]〜[4]いずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物の硬化物により絶縁層の一部または全部が形成されている多層プリント配線板。
[13] 上記[1]〜[4]いずれか1項に記載の硬化性樹脂組成物の硬化物により絶縁層の一部または全部が形成されている電子部品。
[14] 上記[7]に記載のプリプレグの硬化物により絶縁層の一部または全部が形成されている多層プリント配線板。
[15] 上記[11]に記載のプリプレグの硬化物により絶縁層の一部または全部が形成されている電子部品。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] (A) Modified styrenic elastomer having one or more functional groups selected from the group consisting of (A) curable polyvinyl benzyl ether compound, (B) hydroxyl group, carboxyl group, amino group and acid anhydride group And (C) a curable resin composition containing a dielectric powder.
[2] (A) The curable polyvinyl benzyl ether compound has the following formula (1):
The curable resin composition according to the above [1], which is a curable polyvinyl benzyl ether compound represented by the formula:
[3] The curable resin composition according to [1] or [2] above, wherein the functional group of the (B) modified styrene elastomer is at least one selected from the group consisting of a carboxyl group and an acid anhydride group. .
[4] Curable resin composition in any one of said [1]-[3] whose mass ratio of a component (A) and a component (B) is 97: 3-50: 50.
[5] An adhesive film in which the curable resin composition according to any one of [1] to [4] is layered on a support film.
[6] An adhesive film with a copper foil in which the curable resin composition according to any one of [1] to [4] is layered on a copper foil.
[7] A prepreg in which a sheet-like fiber base material is impregnated with the curable resin composition according to any one of [1] to [4].
[8] A method for producing a multilayer printed wiring board including the following steps (1) to (7):
(1) A step of laminating the adhesive film according to the above [5] on a circuit board,
(2) A step of peeling or not peeling the support film,
(3) a step of thermosetting the curable resin composition;
(4) a step of peeling the support film when the support film is present;
(5) A step of roughening the surface of the cured product with an aqueous alkaline oxidant solution,
(6) A step of forming a conductor layer on the roughened cured product surface by plating, and (7) a step of forming a circuit on the conductor layer.
[9] A method for producing a multilayer printed wiring board including the following steps (1) to (6):
(1) A step of laminating the adhesive film with a copper foil according to the above [6] on a circuit board,
(2) a step of thermosetting the curable resin composition;
(3) a step of dissolving and removing the copper foil,
(4) A step of roughening the surface of the cured product with an aqueous alkaline oxidant solution,
(5) A step of forming a conductor layer on the roughened cured product surface by plating, and (6) a step of forming a circuit on the conductor layer.
[10] A method for producing a multilayer printed wiring board including the following steps (1) to (3):
(1) A step of laminating the adhesive film with a copper foil according to the above [6] on a circuit board,
(2) a step of thermosetting the curable resin composition, and (3) a step of forming a circuit on the copper foil layer.
[11] A method for producing a multilayer printed wiring board comprising the following steps (1) to (5):
(1) A step of laminating the prepreg described in [7] above on a circuit board,
(2) a step of thermosetting the curable resin composition;
(3) a step of roughening the surface of the cured product with an aqueous alkaline oxidant solution;
(4) A step of forming a conductor layer on the roughened cured product surface by plating, and (5) a step of forming a circuit on the conductor layer.
[12] A multilayer printed wiring board in which a part or all of the insulating layer is formed of a cured product of the curable resin composition according to any one of [1] to [4].
[13] An electronic component in which a part or all of the insulating layer is formed of a cured product of the curable resin composition according to any one of [1] to [4].
[14] A multilayer printed wiring board in which a part or all of the insulating layer is formed of a cured product of the prepreg according to [7].
[15] An electronic component in which a part or all of the insulating layer is formed of a cured product of the prepreg according to [11].
本発明の硬化性樹脂組成物は、低誘電率、低誘電正接、高耐熱性、低吸水性で、温度および吸湿による誘電特性の変動が起こりにくいという硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物の特性を損なうことなく、硬化物と銅箔およびメッキ導体層間の密着強度に優れたプリント配線板等の電子部品を提供することができる。また、本発明の硬化性樹脂組成物はフィルム状に加工することができ、接着フィルムの形態で用いることで、より効率的に、プリント配線板等の電子部品を製造することが可能である。 The curable resin composition of the present invention has a low dielectric constant, a low dielectric loss tangent, a high heat resistance, a low water absorption, and impairs the characteristics of the curable polyvinyl benzyl ether compound, which is less likely to vary in dielectric properties due to temperature and moisture absorption. In addition, it is possible to provide an electronic component such as a printed wiring board having excellent adhesion strength between the cured product, the copper foil, and the plated conductor layer. Moreover, the curable resin composition of this invention can be processed into a film form, and it can manufacture electronic components, such as a printed wiring board, more efficiently by using with the form of an adhesive film.
本発明における硬化性ポリビニルベンジルエ−テル化合物は、例えば、1分子中に2個以上のヒドロキシベンジル基を有する化合物(ポリフェノール化合物)をビニルベンジルハライドとアルカリ存在下に反応させることによって得ることが出来る(特開平9−31006号公報、特開2001−181383号公報参照)。 The curable polyvinyl benzyl ether compound in the present invention can be obtained, for example, by reacting a compound (polyphenol compound) having two or more hydroxybenzyl groups in one molecule with vinyl benzyl halide in the presence of an alkali. (See JP-A-9-31006 and JP-A-2001-181383).
ポリフェノール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、ビフェノール、フェノールノボラック樹脂、フェノールとベンズアルデヒドの縮合物、ザイロック(Xylok)型フェノール樹脂等が挙げられる。これら化合物の芳香環はアルキル基、ハロゲンなどで置換されていてもよい。 Examples of the polyphenol compound include hydroquinone, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, biphenol, phenol novolak resin, a condensate of phenol and benzaldehyde, xylok type phenol resin, and the like. The aromatic ring of these compounds may be substituted with an alkyl group, halogen or the like.
ビニルベンジルハライドとしては、p−ビニルベンジルクロライド、m−ビニルベンジルクロライド及びこれらの任意の混合物等が挙げられる。 Examples of the vinyl benzyl halide include p-vinyl benzyl chloride, m-vinyl benzyl chloride, and any mixture thereof.
代表的なポリビニルベンジルエーテル化合物としては、以下の式(1)で表されるものを挙げることができる(特開平9−31006号公報、特開2001−181383号公報等参照)。 Typical polyvinyl benzyl ether compounds include those represented by the following formula (1) (see JP-A-9-31006, JP-A-2001-181383, etc.).
これらポリビニルベンジルエーテル化合物は特開平9−31006号公報、特開2001−181383号公報の記載に従って容易に製造することができる。 These polyvinyl benzyl ether compounds can be easily produced according to the descriptions in JP-A-9-31006 and JP-A-2001-181383.
市場で入手可能なものとしては昭和高分子(株)製V−1000X(硬化物のTg160℃、比誘電率2.7、誘電正接0.0045)、V−1100X(硬化物のTg171℃、比誘電率2.56、誘電正接0.0038)などが挙げられる。 The products available on the market are Showa Polymer Co., Ltd. V-1000X (Tg 160 ° C. of cured product, relative dielectric constant 2.7, dielectric loss tangent 0.0045), V-1100X (Tg 171 ° C. of cured product, ratio) Dielectric constant 2.56, dielectric loss tangent 0.0038) and the like.
ポリビニルベンジルエーテル化合物は異なる種類のものを2種以上混合して用いてもよい。 Two or more different types of polyvinyl benzyl ether compounds may be mixed and used.
本発明における、「ヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基および酸無水物基からなる群より選択される1種以上の官能基を1以上有する変性スチレン系エラストマー」(以下、変性スチレン系エラストマーと略称することがある)は、ブタジエン、イソプレン、エチレン、ブチレン、プロピレン等の熱可塑性エラストマーとスチレンとの共重合体の分子鎖に、ヒドロキシル基等の官能基を1以上有する構造を有するものをいう。 In the present invention, “modified styrene elastomer having one or more functional groups selected from the group consisting of hydroxyl group, carboxyl group, amino group and acid anhydride group” (hereinafter abbreviated as modified styrene elastomer). May have one or more functional groups such as hydroxyl groups in the molecular chain of a copolymer of a thermoplastic elastomer such as butadiene, isoprene, ethylene, butylene, and propylene and styrene.
本発明における変性スチレン系エラストマーは、例えば、有機リチウム化合物を重合触媒として、スチレン系エラストマーのリビング末端に、ヒドロキシル基、アミノ基、カルボキシル基および酸無水物基からなる群より選択される1種以上の官能基を1以上有する変性剤を付加反応させる方法や、リビング末端を有さないスチレン系エラストマーに有機リチウム化合物等の有機アルカリ金属化合物を反応させ、有機アルカリ金属が付加したスチレン系エラストマーに上記所定の官能基を有する変性剤を付加反応させる方法が挙げられる(例えば、特開2004−59741号公報等参照)。スチレン系エラストマーのリビング末端に変性剤を反応させる場合、全てのリビング末端が変性される必要はなく、本発明の変性スチレン系エラストマーは一部のリビング末端が変性されたものでもよい。変成剤としては、例えば、特公平4−39495号公報に記載された末端変性処理剤などを用いることができる。 The modified styrene elastomer in the present invention is, for example, one or more selected from the group consisting of a hydroxyl group, an amino group, a carboxyl group, and an acid anhydride group at the living end of the styrene elastomer using an organolithium compound as a polymerization catalyst. A method of adding a modifier having one or more functional groups of the above, or reacting an organic alkali metal compound such as an organolithium compound with a styrene elastomer having no living terminal, and adding the organic alkali metal to the styrene elastomer Examples thereof include a method in which a modifying agent having a predetermined functional group is subjected to an addition reaction (see, for example, JP-A-2004-59741). When the modifying agent is allowed to react with the living end of the styrene elastomer, it is not necessary that all living ends are modified, and the modified styrene elastomer of the present invention may be one in which some living ends are modified. As the modifying agent, for example, a terminal modification treatment agent described in Japanese Patent Publication No. 4-39495 can be used.
本発明における変成スチレン系エラストマーは、水素添加することにより、水添型の変性スチレン系エラストマーとすることもできる。水添の方法は特に限定されず、例えば、特公平1−37970号公報、特公平1−53851号公報等に記載の方法のように、チタノセン化合物や還元性有機金属化合物等の水添触媒の存在下に、水素ガスを導入して所定圧に加圧することにより実施することができる。水素添加の反応は、スチレン系エラストマーがリビング末端を有する場合には、変性剤の付加反応の後に行えばよく、リビング末端を有さない場合には、変性剤の付加反応の前後いずれに行ってもよい。 The modified styrene elastomer in the present invention can be made into a hydrogenated modified styrene elastomer by hydrogenation. The method of hydrogenation is not particularly limited. For example, a hydrogenation catalyst such as a titanocene compound or a reducing organometallic compound can be used as described in JP-B-1-37970 and JP-B-1-53851. In the presence, hydrogen gas can be introduced and pressurized to a predetermined pressure. The hydrogenation reaction may be performed after the addition reaction of the modifier when the styrene-based elastomer has a living end, and it may be performed either before or after the addition reaction of the modifier when it does not have a living end. Also good.
未変性のスチレン系エラストマーの製造方法は特に限定されないが、例えば、スチレン等のビニル系芳香族化合物とブタジエン等の共役ジエンとを、アニオン重合活性があることが知られているn−ブチルリチウム等の脂肪族炭化水素アルカリ金属化合物を用い、攪拌装置付き槽型反応器内にて共重合させることで製造することができる。共重合の方法はバッチ重合であっても連続重合であっても、或いはそれらの組み合わせであってもよい。 The production method of the unmodified styrene elastomer is not particularly limited. For example, n-butyllithium or the like known to have anionic polymerization activity between a vinyl aromatic compound such as styrene and a conjugated diene such as butadiene. The aliphatic hydrocarbon alkali metal compound can be used for copolymerization in a tank reactor equipped with a stirrer. The copolymerization method may be batch polymerization, continuous polymerization, or a combination thereof.
スチレン系エラストマーとしては、例えば、スチレン−ブタジエン−スチレンブロック共重合体(SBS)、スチレン−イソプレン−スチレンブロック共重合体(SIS)、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロック共重合体(SEBS)、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロック共重合体(SEPS)、スチレン−エチレン−エチレン−プロピレン-スチレンブロック共重合体(SEEPS)、スチレン−ブタジエン−ブチレン−スチレンブロック共重合体(SBBS)等が挙げられる。中でも、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロック共重合体(SEBS)のように、芳香環以外の分子内不飽和二重結合が水素添加されているものが、酸化による誘電特性の低下を避ける観点から好ましい。市販されている未変性のスチレン系エラストマーとしては「セプトンS8104」((株)クラレ製 SEBS)、「タフテックH1043」(旭化成ケミカルズ(株)製 SEBS)、等を挙げることができる。 Examples of the styrene elastomer include styrene-butadiene-styrene block copolymer (SBS), styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS), styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), and styrene. -Ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEPS), styrene-ethylene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS), styrene-butadiene-butylene-styrene block copolymer (SBBS) and the like. Among these, those in which intramolecular unsaturated double bonds other than aromatic rings are hydrogenated, such as styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer (SEBS), are used from the viewpoint of avoiding deterioration of dielectric properties due to oxidation. preferable. Examples of commercially available unmodified styrenic elastomers include “Septon S8104” (SEBS manufactured by Kuraray Co., Ltd.), “Tuftec H1043” (SEBS manufactured by Asahi Kasei Chemicals Co., Ltd.), and the like.
本発明における変性スチレン系エラストマーは、重量平均分子量が1万〜100万のものが好ましい。重量平均分子量が上記範囲の下限より低くなると、耐熱性が低下するだけでなく、銅箔およびメッキ導体層との密着強度が低下する傾向にある。また重量平均分子量が上記範囲の上限より高くなると、溶剤への溶解性低下や、ビニルベンジル樹脂との相溶性が低下する傾向にある。 The modified styrenic elastomer in the present invention preferably has a weight average molecular weight of 10,000 to 1,000,000. When the weight average molecular weight is lower than the lower limit of the above range, not only the heat resistance is lowered, but also the adhesion strength between the copper foil and the plated conductor layer tends to be lowered. Moreover, when the weight average molecular weight is higher than the upper limit of the above range, the solubility in a solvent and the compatibility with a vinylbenzyl resin tend to be reduced.
なお本発明において、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定した値である。GPC法による重量平均分子量は、具体的には、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)社製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルムを用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。 In the present invention, the weight average molecular weight is a value measured by gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). Specifically, the weight average molecular weight by the GPC method is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K-804L / K manufactured by Showa Denko KK as a column. -804L can be measured using chloroform as a mobile phase at a column temperature of 40 ° C. and calculated using a standard polystyrene calibration curve.
また本発明における変性スチレン系エラストマーにおいて、スチレンの含有率は20〜80質量%であるのが好ましく、さらには30〜70質量%であるのが好ましい。スチレン含有率が上記範囲より低くなると、ビニルベンジルエーテル樹脂との相溶性が低下する傾向にあり、含有率が上記範囲より高くなると、銅箔やメッキ導体層との密着強度が低下する傾向にある。スチレンの含有率は、スチレン等のビニル系芳香族化合物とブタジエン等の共役ジエンの反応割合から調整することができ、またスチレンの含有率は、例えば、紫外分光光度計により、一定濃度の変性スチレン系エラストマー溶液において、スチレン部位の吸光度値を測定することにより求めることができる。 In the modified styrene elastomer of the present invention, the content of styrene is preferably 20 to 80% by mass, and more preferably 30 to 70% by mass. When the styrene content is lower than the above range, the compatibility with the vinyl benzyl ether resin tends to be reduced, and when the content is higher than the above range, the adhesion strength with the copper foil or the plated conductor layer tends to be reduced. . The styrene content can be adjusted from the reaction ratio of a vinyl aromatic compound such as styrene and a conjugated diene such as butadiene, and the styrene content can be determined by, for example, a modified styrene having a constant concentration by an ultraviolet spectrophotometer. It can be determined by measuring the absorbance value of the styrene site in the system elastomer solution.
本発明における変性スチレン系エラストマーは、市販されているものを用いることができる。市販されているものとしては、例えば、ヒドロキシル基を有する変成スチレン系エラストマー(変性SEEPS)である「セプトンHG252」((株)クラレ製)、カルボキシル基を有する変性スチレン系エラストマー(変性SBBS)である「タフテック N503M」、アミノ基を有する変性スチレン系エラストマー(変性SBBS)である「タフテック N501」、酸無水物基を有する変性スチレン系エラストマー(変性SEBS)である「タフテック M1913」(いずれも旭化成ケミカルズ(株)製)等を挙げることができる。 As the modified styrenic elastomer in the present invention, a commercially available one can be used. Examples of commercially available products include “Septon HG252” (manufactured by Kuraray Co., Ltd.), which is a modified styrene elastomer (modified SEEPS) having a hydroxyl group, and a modified styrene elastomer (modified SBBS) having a carboxyl group. “Tuftec N503M”, “Tuftec N501” which is a modified styrene elastomer (modified SBBS) having an amino group, “Tuftec M1913” which is a modified styrene elastomer (modified SEBS) having an acid anhydride group (all Asahi Kasei Chemicals ( And the like).
本発明における変性スチレン系エラストマーは異なる種類のものを2種以上混合して用いてもよい。 Two or more different types of modified styrenic elastomers in the present invention may be mixed and used.
本発明の硬化性樹脂組成物における硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物(成分A)および変性スチレン系エラストマー(成分B)の質量比は97:3〜50:50であるのが好ましく、さらには90:10〜70:30であるのがより好ましい。硬化性ポリビニルベンジル化合物の割合が多すぎると、銅箔やメッキ導体層との密着性において十分な効果が得られない傾向にあり、少なすぎると誘電特性等の硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物本来の特性が十分に発揮されない傾向にある。 The mass ratio of the curable polyvinyl benzyl ether compound (component A) and the modified styrene elastomer (component B) in the curable resin composition of the present invention is preferably 97: 3 to 50:50, more preferably 90:10. More preferably, it is ˜70: 30. If the ratio of the curable polyvinyl benzyl compound is too large, there is a tendency that a sufficient effect cannot be obtained in the adhesion with the copper foil or the plated conductor layer, and if it is too small, the inherent characteristics of the curable polyvinyl benzyl ether compound such as dielectric properties. Tend not to be fully utilized.
本発明の硬化性樹脂組成物は、必要に応じて、他の重合可能な化合物を含んでいてもよい。重合可能な化合物としては、例えばスチレン、ジビニルベンゼン、アリルエステル、アクリレート、メタクリレート等を挙げることができる。また必要に応じて、熱硬化性樹脂等の他の樹脂、例えばエポキシ樹脂、臭素化エポキシ樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂等を含んでいてもよい。本発明における硬化性ポリビニルベンジル化合物は、熱硬化の際に硬化触媒がなくとも硬化が可能であるが、他の重合可能な化合物や樹脂等を配合する場合に、それらに適した硬化触媒を適宜添加してもよい。例えば、アリルエステル等を添加した場合には、ジクミルパーオキサイド、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)3,3,5−トリメチルシクロヘキサン等の半減期が比較的長いラジカル重合開始剤を硬化触媒として添加する方が好ましい。硬化触媒を使用する場合の使用量は、に対して、通常0.1〜10質量%の範囲で用いられる。これらの成分は、硬化性樹脂組成物中に含まれる成分(A)、(B)の合計を100質量部とした場合、30質量部以下の割合で含有されるのが好ましい。 The curable resin composition of this invention may contain the other polymerizable compound as needed. Examples of the polymerizable compound include styrene, divinylbenzene, allyl ester, acrylate, and methacrylate. If necessary, other resins such as a thermosetting resin, for example, an epoxy resin, a brominated epoxy resin, a maleimide resin, a cyanate resin and the like may be contained. The curable polyvinyl benzyl compound in the present invention can be cured without a curing catalyst at the time of thermosetting, but when other polymerizable compounds or resins are blended, a curing catalyst suitable for them is appropriately selected. It may be added. For example, when allyl ester is added, a radical polymerization initiator having a relatively long half-life such as dicumyl peroxide, 1,1-bis (t-butylperoxy) 3,3,5-trimethylcyclohexane is used. It is preferable to add it as a curing catalyst. The amount used in the case of using a curing catalyst is usually in the range of 0.1 to 10% by mass relative to the amount. These components are preferably contained in a proportion of 30 parts by mass or less when the total of components (A) and (B) contained in the curable resin composition is 100 parts by mass.
また本発明の硬化性樹脂組成物には、硬化物の機械強度の向上や難燃性の向上の為、有機フィラーや無機フィラーを添加することできる。有機フィラーとしては、コアシェル構造を有するアクリルゴム微粒子、シリコンパウダー、ナイロンパウダー等を挙げることができ、また無機フィラーとしては、シリカ、アルミナ、水酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、ホウ酸亜鉛、酸化アンチモン等を挙げることができる。特に硬化性樹脂組成物の熱膨張率を下げる目的でシリカ等の無機フィラーを含有することができる。この場合、無機フィラーは硬化性樹脂組成物中、好ましくは30〜70質量%、さらに好ましくは40〜60質量%以下の範囲で含有される。無機フィラーの平均粒子径は0.01〜5μm以下であるのが好ましい。また10μm以上の粒子が除去されているものが好ましい。平均粒径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折式粒度分布測定装置により、フィラーの粒度分布を体積基準で作成してメディアン径(d50)を測定し、該メディアン径を平均粒径とする。測定サンプルは、フィラー粉末を超音波により水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折式粒度分布測定装置としては、株式会社堀場製作所製 LA−500等を使用することができる。無機フィラーはシラン系表面処理剤等の表面処理剤で表面処理して使用してもよい。 In addition, an organic filler or an inorganic filler can be added to the curable resin composition of the present invention in order to improve the mechanical strength or flame retardancy of the cured product. Examples of the organic filler include acrylic rubber fine particles having a core-shell structure, silicon powder, and nylon powder. Examples of the inorganic filler include silica, alumina, magnesium hydroxide, aluminum hydroxide, zinc borate, and antimony oxide. Can be mentioned. In particular, an inorganic filler such as silica can be contained for the purpose of reducing the thermal expansion coefficient of the curable resin composition. In this case, the inorganic filler is contained in the curable resin composition in an amount of preferably 30 to 70% by mass, and more preferably 40 to 60% by mass. The average particle size of the inorganic filler is preferably 0.01 to 5 μm or less. Moreover, what removed the particle | grains 10 micrometers or more is preferable. The average particle diameter can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the filler is created on a volume basis by a laser diffraction particle size distribution measuring device, the median diameter (d 50 ) is measured, and the median diameter is defined as the average particle diameter. A measurement sample in which filler powder is dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As a laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus, LA-500 manufactured by Horiba Ltd. can be used. The inorganic filler may be used after being surface-treated with a surface treatment agent such as a silane surface treatment agent.
本発明の硬化性樹脂組成物は、主として回路基板に代表される電子部品用の材料として好適に使用できる。本発明の硬化性樹脂組成物は、有機溶剤に溶解させてワニス状態とし、該樹脂ワニスを支持フィルムや銅箔上に塗布し、加熱や熱風吹きつけ等により有機溶剤を乾燥させて硬化性樹脂組成物層を形成することで、接着フィルムの形態で用いることができる。本発明の硬化性樹脂組成物はこのようにフィルム化することができるため、多層プリント配線板等の電子部品の生産性を向上させることができ、また絶縁層厚を容易に薄くできるため、小型化が要求されるプリント配線板等の電子部品の製造に好適である。 The curable resin composition of the present invention can be suitably used as a material for electronic components represented mainly by circuit boards. The curable resin composition of the present invention is dissolved in an organic solvent to form a varnish, the resin varnish is applied onto a support film or copper foil, and the organic solvent is dried by heating, hot air blowing, etc. By forming the composition layer, it can be used in the form of an adhesive film. Since the curable resin composition of the present invention can be formed into a film in this way, the productivity of electronic parts such as multilayer printed wiring boards can be improved, and the insulating layer thickness can be easily reduced. This is suitable for the manufacture of electronic parts such as printed wiring boards that are required to be manufactured.
樹脂ワニスの乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層への有機溶剤の含有割合が通常5質量%以下、好ましくは3質量%以下となるように乾燥させる。例えば30〜60質量%の有機溶剤を含むワニスであれば、50〜150℃で3〜10分程度乾燥させることができる。乾燥条件は、簡単な実験により、適宜、好適な乾燥条件を設定することができる。接着フィルムにおいて、形成される樹脂組成物層の厚さは、通常、導体層の厚さ以上とする。回路基板が有する導体層の厚さは通常5〜70μmの範囲であるので、樹脂組成物層の厚さは10〜100μmの厚みを有するのが好ましい。 The drying conditions of the resin varnish are not particularly limited, but the resin varnish is dried so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is usually 5% by mass or less, preferably 3% by mass or less. For example, if it is a varnish containing 30-60 mass% of organic solvents, it can be dried at 50-150 degreeC for about 3 to 10 minutes. As drying conditions, suitable drying conditions can be appropriately set by simple experiments. In the adhesive film, the thickness of the resin composition layer to be formed is usually not less than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the thickness of the resin composition layer is preferably 10 to 100 μm.
樹脂ワニスの調製に用いられる有機溶剤として特に限定するものではないが、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ、ブチルセロソルブ等のセロソルブ類、カルビトール、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン、ソルベントナフサ等の芳香族炭化水素、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド類を挙げることができる。これらの有機溶剤は2種以上を組み合わせて用いることもできる。 The organic solvent used for preparing the resin varnish is not particularly limited, but ketones such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, carbitol acetate, etc. Acetic esters, cellosolves such as cellosolve and butylcellosolve, carbitols such as carbitol and butylcarbitol, aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene and solvent naphtha, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide And amides such as N-methylpyrrolidone. These organic solvents can be used in combination of two or more.
本発明の接着フィルムにおける支持フィルムの材料としては、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン類、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル類等を挙げることができる。特にポリエチレンテレフタレートが好ましい。これらの支持フィルム表面は、マッド処理、コロナ処理の他、離型処理が施してあってもよい。支持フィルムの厚さは特に限定されないが、通常10〜150μmであり、好ましくは25〜50μmの範囲で用いられる。硬化性樹脂組成物層は保護フィルムで保護されていてもよい。保護フィルムで保護することにより、樹脂組成物層表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。保護フィルムとしては上記支持フィルムと同じ材料を用いることができる。保護フィルムの厚さは1〜40μmとするのが好ましい。 Examples of the material for the support film in the adhesive film of the present invention include polyolefins such as polyethylene and polypropylene, and polyesters such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate. Polyethylene terephthalate is particularly preferable. These support film surfaces may be subjected to a release treatment in addition to the mud treatment and the corona treatment. Although the thickness of a support film is not specifically limited, Usually, it is 10-150 micrometers, Preferably it is used in 25-50 micrometers. The curable resin composition layer may be protected with a protective film. By protecting with a protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches. The same material as the support film can be used as the protective film. The thickness of the protective film is preferably 1 to 40 μm.
本発明の銅箔付き接着フィルムにおける銅箔としては、電解銅箔、圧延銅箔等の他、キャリア付きの極薄銅箔、離型処理が施されたポリエチレンテレフタレート等の剥離性フィルムに銅の蒸着層が形成されたものなどを用いることができる。 As copper foil in the adhesive film with copper foil of the present invention, in addition to electrolytic copper foil, rolled copper foil, etc., ultrathin copper foil with carrier, peelable film such as polyethylene terephthalate subjected to release treatment, copper What formed the vapor deposition layer etc. can be used.
銅箔の厚みは通常9〜35μmが好ましい。キャリア付きの極薄銅箔の場合は1〜5μmの銅箔が好ましく使用される。また、剥離性フィルムに銅の蒸着層が形成された銅蒸着フィルムの場合、蒸着層の厚みは通常100Å〜5000Åである。 The thickness of the copper foil is usually preferably 9 to 35 μm. In the case of an ultrathin copper foil with a carrier, a copper foil of 1 to 5 μm is preferably used. Moreover, in the case of the copper vapor deposition film in which the copper vapor deposition layer was formed in the peelable film, the thickness of the vapor deposition layer is usually 100 to 5000 mm.
本発明に用いる銅箔は投錨効果による接着強度向上をはかるために、本発明の硬化性樹脂組成物が層形成される面が粗化処理されていることが好ましい。粗化処理の方法は特に限定されず、例えば、エッチングにより粗化する方法や、硫酸銅水溶液に銅箔を浸漬し、電気分解により銅を析出させて、微細な銅粒子を銅箔表面に形成する方法等の公知の方法で行うことができる。また、表面粗化処理の後、防錆処理を施したり、クロメート処理や黒化処理などの樹脂との接着性を向上させる処理を施したりしてもよい。伝送損失を抑制する観点から、銅箔の表面粗度(Rz)は、好ましくは6.0μm以下、より好ましくは4.0μm以下、さらに好ましくは3.0μm以下とするのがよい。なお、本発明における表面粗度は、JIS B 0601−1994「表面粗さの定義と表示」の十点平均粗さ(Rz)で定義される。 In order that the copper foil used for this invention may improve the adhesive strength by a throwing effect, it is preferable that the surface by which the curable resin composition of this invention is layered is roughened. The method of the roughening treatment is not particularly limited. For example, the method of roughening by etching or the copper foil is immersed in an aqueous copper sulfate solution, and copper is deposited by electrolysis to form fine copper particles on the surface of the copper foil. It can carry out by well-known methods, such as the method of doing. Moreover, after a surface roughening process, you may give a rust prevention process or the process which improves adhesiveness with resin, such as a chromate process and a blackening process. From the viewpoint of suppressing transmission loss, the surface roughness (Rz) of the copper foil is preferably 6.0 μm or less, more preferably 4.0 μm or less, and even more preferably 3.0 μm or less. The surface roughness in the present invention is defined by the ten-point average roughness (Rz) in JIS B 0601-1994 “Definition and display of surface roughness”.
市販されている銅箔としては、JTC-LP箔、JTC-AM箔(いずれも(株)日鉱マテリアルズ製)、GTS-MP箔、F2-WS(いずれも古河サーキットフォイル(株)製)などが挙げられる。 Commercially available copper foils include JTC-LP foil, JTC-AM foil (all manufactured by Nikko Materials Co., Ltd.), GTS-MP foil, F2-WS (all manufactured by Furukawa Circuit Foil Co., Ltd.), etc. Is mentioned.
硬化物表面に微細回路を形成する観点から、本発明の硬化性樹脂組成物は、銅箔付き接着フィルムの形態で用い、銅箔をエッチングにより除去した後、メッキにより導体層を形成するのが好ましい。この場合、銅箔付き接着フィルムを回路基板にラミネートし、硬化性樹脂組成物を熱硬化した後、銅箔層を溶解除去し、次いで銅箔層が除去された硬化物表面をアルカリ性酸化剤水溶液で粗化する。銅箔層除去後、硬化物表面には凹凸が形成されるが、密着強度の高いメッキ導体層を得る上で、さらに該硬化物表面をアルカリ性酸化剤溶液で粗化処理することが好ましい。なお銅箔層を溶解除去することなく、該銅箔層に回路形成することもできるが、電解銅箔、圧延銅箔は微細回路形成には不利である。また、極薄銅箔や銅蒸着フィルムはコストが高くなり、また本発明の銅箔付き接着フィルムを製造する際の作業性が十分でないなどの問題がある。従って、上記のように、メッキによる導体層形成が微細回路形成に有利である。 From the viewpoint of forming a fine circuit on the surface of the cured product, the curable resin composition of the present invention is used in the form of an adhesive film with a copper foil, and after removing the copper foil by etching, a conductor layer is formed by plating. preferable. In this case, after laminating the adhesive film with copper foil on the circuit board and thermosetting the curable resin composition, the copper foil layer is dissolved and removed, and then the surface of the cured product from which the copper foil layer has been removed is treated with an aqueous alkaline oxidant solution. Roughen with After removing the copper foil layer, irregularities are formed on the surface of the cured product, but it is preferable to further roughen the surface of the cured product with an alkaline oxidant solution in order to obtain a plated conductor layer with high adhesion strength. Although a circuit can be formed on the copper foil layer without dissolving and removing the copper foil layer, the electrolytic copper foil and the rolled copper foil are disadvantageous for forming a fine circuit. In addition, the ultrathin copper foil and the copper vapor-deposited film are expensive, and there are problems such as insufficient workability when producing the adhesive film with a copper foil of the present invention. Therefore, as described above, formation of a conductor layer by plating is advantageous for forming a fine circuit.
保護フィルムで硬化性樹脂組成物層が保護された、保護フィルム/硬化性樹脂組成物層/支持フィルムの層構成を有する接着フィルム、および保護フィルム/硬化性樹脂組成物層/銅箔の層構成を有する銅箔付き接着フィルムは、ロール状に巻き取って貯蔵することもできる。 Adhesive film having a layer structure of protective film / curable resin composition layer / support film, and protective film / curable resin composition layer / copper foil layer structure in which the curable resin composition layer is protected by a protective film The adhesive film with copper foil having can be rolled up and stored.
本発明の硬化性樹脂組成物は、前記のように樹脂ワニスを調製し、該樹脂ワニスをクロス、不織布等のシート状繊維基材にホットメルト法、ソルベント法等により含浸し、乾燥させてプリプレグの形態で用いることもできる。ホットメルト法は、樹脂を有機溶剤に溶解することなく、樹脂を樹脂と剥離性の良い塗工紙に一旦コーティングし、それをシート状補強基材にラミネートする、あるいはダイコーターにより直接塗工するなどして、プリプレグを製造する方法である。またソルベント法は、接着フィルムと同様、樹脂を有機溶剤に溶解した樹脂ワニスにシート状補強基材を浸漬し、樹脂ワニスをシート状補強基材に含浸させ、その後乾燥させる方法である。 The curable resin composition of the present invention is prepared by preparing a resin varnish as described above, impregnating the resin varnish into a sheet-like fiber base material such as a cloth or a nonwoven fabric by a hot melt method, a solvent method, or the like, and drying the prepreg. It can also be used in the form. In the hot melt method, without dissolving the resin in an organic solvent, the resin is once coated on the resin and a coated paper having good releasability, and then laminated on a sheet-like reinforcing substrate or directly applied by a die coater. Thus, a prepreg is manufactured. Similarly to the adhesive film, the solvent method is a method in which a sheet-like reinforcing base material is immersed in a resin varnish in which a resin is dissolved in an organic solvent, the resin varnish is impregnated into the sheet-like reinforcing base material, and then dried.
本発明のプリプレグに使用するシート状繊維基材としては、クロス、不織布などが挙げられる。クロスとしては、ガラスクロス、アラミドクロス、カーボンクロス、延伸多孔質ポリテトラフルオロエチレン等を挙げられる。不織布としては、アラミド不織布、ガラスペーパー等を挙げられる。 Examples of the sheet-like fiber base material used for the prepreg of the present invention include cloth and nonwoven fabric. Examples of the cloth include glass cloth, aramid cloth, carbon cloth, stretched porous polytetrafluoroethylene, and the like. Examples of the nonwoven fabric include an aramid nonwoven fabric and glass paper.
本発明の銅箔付き接着フィルムを用いて本発明の多層プリント配線板を製造する方法について説明する。樹脂組成物層が保護フィルムで保護されている場合はこれらを剥離した後、樹脂組成物層が回路基板に接するように、回路基板の片面又は両面に接着フィルムをラミネートする。ラミネートは真空ラミネーターを使用し減圧下で行うのが好ましい。ラミネート方法はバッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。またラミネートを行う前に接着フィルムや回路基板を必要により加熱しておいてもよい。プレス温度を好ましくは70〜140℃、プレス圧力を好ましくは1〜11kgf/cm2(9.8×104〜107.9×104N/m2)とし、真空ラミネーター内の空気圧が20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートするのが好ましい。 A method for producing the multilayer printed wiring board of the present invention using the adhesive film with copper foil of the present invention will be described. When the resin composition layer is protected with a protective film, after peeling them off, an adhesive film is laminated on one side or both sides of the circuit board so that the resin composition layer is in contact with the circuit board. Lamination is preferably performed under reduced pressure using a vacuum laminator. The lamination method may be a batch method or a continuous method using a roll. Moreover, you may heat an adhesive film and a circuit board as needed before laminating. The press temperature is preferably 70 to 140 ° C., the press pressure is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107.9 × 10 4 N / m 2 ), and the air pressure in the vacuum laminator is 20 mmHg ( It is preferable to laminate under a reduced pressure of 26.7 hPa) or less.
真空ラミネートは市販の真空ラミネーターを使用して行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン(株)製 バキュームアップリケーター、(株)名機製作所製 真空加圧式ラミネーター、(株)日立インダストリイズ製 ロール式ドライコータ、日立エーアイーシー(株)製真空ラミネーター等を挙げることができる。 The vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., a roll dry coater manufactured by Hitachi Industries, Ltd., and Hitachi AIC Co., Ltd. ) Made vacuum laminator and the like.
本発明における回路基板としては特に限定されないが、主として、ガラスエポキシ、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の基板の片面又は両面に回路が形成されたものをいう。また導体層(回路)と絶縁層が交互に層形成され、最外層の片面又は両面に回路形成された多層プリント配線板も本発明にいう回路基板に含まれる。なお導体回路層表面は黒化処理等により予め粗化処理が施されていた方が絶縁層の回路基板への密着性の観点から好ましい。 Although it does not specifically limit as a circuit board in this invention, The circuit was mainly formed in the single side | surface or both surfaces of boards, such as a glass epoxy, a metal board | substrate, a polyester board | substrate, a polyimide board | substrate, a BT resin board | substrate, and a thermosetting type polyphenylene ether board | substrate. Say. Further, a multilayer printed wiring board in which conductor layers (circuits) and insulating layers are alternately formed and a circuit is formed on one or both surfaces of the outermost layer is also included in the circuit board referred to in the present invention. The surface of the conductor circuit layer is preferably roughened by blackening or the like in advance from the viewpoint of adhesion of the insulating layer to the circuit board.
ラミネート工程後、回路基板にラミネートされた銅箔付き接着フィルムの樹脂組成物層を熱硬化により硬化する。熱硬化の条件は通常150℃〜220℃で20分〜180分の範囲で選択され、より好ましくは160℃〜200℃で30〜120分の範囲である。次に、銅箔をエッチング溶液により溶解除去する。エッチング溶液としては、塩化第二鉄溶液、塩化第二銅溶液等が挙げられる。エッチング溶液により銅箔が溶解除去された硬化物表面には凹凸面が形成される。 After the laminating step, the resin composition layer of the adhesive film with copper foil laminated on the circuit board is cured by thermosetting. The thermosetting conditions are usually selected in the range of 150 ° C. to 220 ° C. for 20 minutes to 180 minutes, and more preferably in the range of 160 ° C. to 200 ° C. for 30 to 120 minutes. Next, the copper foil is removed by dissolution with an etching solution. Examples of the etching solution include a ferric chloride solution and a cupric chloride solution. An uneven surface is formed on the surface of the cured product from which the copper foil has been dissolved and removed by the etching solution.
次に必要により回路基板上に形成された絶縁層(硬化物)に穴開けを行いビアホールやスルーホールを形成する。穴あけは例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等の公知の方法により、またこれらの方法を組み合わせて行うことができるが、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーによる穴あけが最も一般的な方法である。 Next, if necessary, a hole is formed in the insulating layer (cured product) formed on the circuit board to form a via hole or a through hole. Drilling can be performed by a known method such as drilling, laser, or plasma, or a combination of these methods, but drilling by a laser such as a carbon dioxide laser or YAG laser is the most common method.
次いで、絶縁層表面をアルカリ性酸化剤水溶液により粗化処理を行う。穴開けをした場合は、本工程がホール内のデスミア工程も兼ねることになる。アルカリ性酸化剤水溶液としては、過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム等の水溶液が挙げられる。このように、銅箔のエッチング溶液による溶解除去処理と、溶解除去処理後の硬化物表面を後述するアルカリ性酸化剤水溶液による表面処理を組み合わせることにより、硬化物表面にメッキによる導体層形成に適した凹凸面を形成することができ、密着強度に優れるメッキ導体層を形成することができる。 Next, the surface of the insulating layer is roughened with an aqueous alkaline oxidizer solution. When drilling, this process also serves as a desmear process in the hole. Examples of the alkaline oxidizing agent aqueous solution include aqueous solutions of potassium permanganate, sodium permanganate and the like. Thus, by combining the dissolution removal treatment with the etching solution of the copper foil and the surface treatment with the alkaline oxidant aqueous solution described later on the cured product surface after the dissolution removal treatment, it is suitable for forming a conductor layer by plating on the cured product surface. An uneven surface can be formed, and a plated conductor layer having excellent adhesion strength can be formed.
硬化物表面に、無電解メッキと電解メッキを組み合わせた方法で導体層を形成することができる。導体層としては通常銅メッキにより銅層が形成される。また導体層とは逆パターンのめっきレジストを形成し、無電解めっきのみで導体層を形成することもできる。なお導体層形成後、例えば150〜200℃で20〜90分間程度アニール処理を行ってもよい。導体層をパターン加工し回路形成する方法としては、例えば当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディディブ法などを用いることができる。 A conductor layer can be formed on the cured product surface by a method combining electroless plating and electrolytic plating. As a conductor layer, a copper layer is usually formed by copper plating. Further, a plating resist having a pattern opposite to that of the conductor layer can be formed, and the conductor layer can be formed only by electroless plating. After forming the conductor layer, for example, annealing may be performed at 150 to 200 ° C. for about 20 to 90 minutes. As a method for forming a circuit by patterning the conductor layer, for example, a subtractive method or a semi-additive method known to those skilled in the art can be used.
メッキによる導体層形成は導体層厚を薄くできるため、微細回路形成に適している。なお回路ピッチの要求を満たせば、銅箔層をそのままサブトラクティブ法などによりパターン加工し回路形成することもできる。 Conductive layer formation by plating is suitable for forming fine circuits because the conductive layer thickness can be reduced. If the requirements of the circuit pitch are satisfied, the copper foil layer can be patterned as it is by a subtractive method or the like to form a circuit.
本発明の接着フィルムを用いて本発明の多層プリント配線板を製造する方法について説明する。ラミネートの方法および条件等は前記銅箔付き接着フィルムと同様である。接着フィルムを回路基板にラミネートした後、支持フィルムを剥離する場合は剥離し、熱硬化することにより回路基板に絶縁層を形成することができる。加熱硬化の条件も前記と同様である。熱硬化前に支持フィルムを剥離せず、熱硬化後に支持フィルムが存在する場合にはこれを剥離する。次に必要により回路基板上に形成された絶縁層(硬化物)に穴開けを行いビアホールやスルーホールを形成する。穴あけの方法、条件も前記と同様である。次いで、絶縁層表面をアルカリ性酸化剤水溶液により粗化処理を行う。粗化処理の方法および条件も前記と同様である。粗化処理により粗面が形成された硬化物表面に、無電解めっきと電解めっきを組み合わせた方法で導体層を形成する。また導体層とは逆パターンのめっきレジストを形成し、無電解めっきのみで導体層を形成することもできる。なお導体層形成後、例えば150〜200℃で20〜90分間程度アニール処理を行ってもよい。導体層をパターン加工し回路形成する方法としては、例えば当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディディブ法などを用いることができる。 A method for producing the multilayer printed wiring board of the present invention using the adhesive film of the present invention will be described. The laminating method and conditions are the same as those of the adhesive film with copper foil. After laminating the adhesive film on the circuit board, when the support film is peeled off, the insulating film can be formed on the circuit board by peeling and thermosetting. The conditions for heat curing are the same as described above. If the support film is not peeled off before thermosetting and a support film exists after thermosetting, it is peeled off. Next, if necessary, a hole is formed in the insulating layer (cured product) formed on the circuit board to form a via hole or a through hole. The drilling method and conditions are the same as described above. Next, the surface of the insulating layer is roughened with an aqueous alkaline oxidizer solution. The method and conditions for the roughening treatment are the same as described above. A conductor layer is formed on the surface of the cured product on which the rough surface has been formed by the roughening treatment by a method combining electroless plating and electrolytic plating. Further, a plating resist having a pattern opposite to that of the conductor layer can be formed, and the conductor layer can be formed only by electroless plating. After forming the conductor layer, for example, annealing may be performed at 150 to 200 ° C. for about 20 to 90 minutes. As a method for forming a circuit by patterning the conductor layer, for example, a subtractive method or a semi-additive method known to those skilled in the art can be used.
次に本発明のプリプレグを用いて本発明の多層プリント配線板を製造する方法について説明する。回路基板に本発明のプリプレグを1枚あるいは必要により数枚重ね、離型フィルムを介して金属プレートを挟み加圧・加熱条件下でプレス積層する。圧力は好ましくは5〜50kgf/cm2、温度は好ましくは100〜200℃で20〜100分の範囲で成型するのが好ましい。また接着フィルムと同様に真空ラミネート法により回路基板にラミネートした後、加熱硬化することによっても製造可能である。その後、前に記載した方法と同様、アルカリ性酸化剤水溶液により硬化したプリプレグ表面を粗化した後、導体層をめっきにより形成して多層プリント配線板を製造することができる。 Next, a method for producing the multilayer printed wiring board of the present invention using the prepreg of the present invention will be described. One or several prepregs of the present invention are stacked on a circuit board, a metal plate is sandwiched through a release film, and press lamination is performed under pressure and heating conditions. The pressure is preferably 5 to 50 kgf / cm 2 and the temperature is preferably 100 to 200 ° C. for 20 to 100 minutes. Moreover, it can also be manufactured by laminating on a circuit board by a vacuum laminating method as in the case of an adhesive film, and then curing by heating. Thereafter, similarly to the method described above, the surface of the prepreg cured with an alkaline oxidant aqueous solution is roughened, and then a conductor layer is formed by plating to produce a multilayer printed wiring board.
本発明の硬化性樹脂組成物は、多層プリント配線板の他、発信器、共振器、キャパシタ、アンテナ、パワーアンプ、フィルタ、RFモジュール、インダクタ等の各種電子部品用の絶縁材料として好適に用いることができる。 The curable resin composition of the present invention is suitably used as an insulating material for various electronic parts such as a transmitter, a resonator, a capacitor, an antenna, a power amplifier, a filter, an RF module, and an inductor in addition to a multilayer printed wiring board. Can do.
以下に実施例により本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。 EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
ポリビニルベンジルエーテル化合物のトルエンワニス(昭和高分子(株)製 V1100X、不揮発分60%)40質量部[樹脂成分24質量部]、カルボキシル基を有する変性スチレン系エラストマー(変性SBBS)(旭化成ケミカルズ(株)製 N503M、スチレン含量30%)、6質量部、トルエン18質量部を添加し、完全に分散するまで攪拌して、ワニス状の硬化性樹脂組成物を作製した。該硬化性樹脂組成物ワニスを厚さ38μmのポリエチレンテレフタレート(以下、PETと略称する)フィルム上に塗布し、70〜120℃で12分乾燥させ、硬化性樹脂組成物層の厚さ50μmの接着フィルムを得た。また、上記のワニス状の樹脂組成物を古河サーキットフォイル社製の電解銅箔(F2−WS箔、厚さ18μm、処理面のRz=2.3μm)の銅箔上に塗布し、70〜120℃で12分乾燥させ、硬化性樹脂組成物層の厚さ50μmの銅箔付き接着フィルムを得た。 Polyvinylbenzyl ether compound toluene varnish (Showa High Polymer Co., Ltd. V1100X, nonvolatile content 60%) 40 parts by mass [resin component 24 parts by mass], carboxyl group-modified styrene elastomer (modified SBBS) (Asahi Kasei Chemicals Corporation) N503M, styrene content 30%), 6 parts by mass, and 18 parts by mass of toluene were added and stirred until completely dispersed to prepare a varnish-like curable resin composition. The curable resin composition varnish is applied onto a 38 μm thick polyethylene terephthalate (hereinafter abbreviated as PET) film, dried at 70 to 120 ° C. for 12 minutes, and a curable resin composition layer having a thickness of 50 μm is adhered. A film was obtained. Moreover, said varnish-like resin composition is apply | coated on the copper foil of the electrolytic copper foil (F2-WS foil, thickness 18micrometer, Rz = 2.3micrometer of a process surface) by Furukawa Circuit Foil, 70-120 The film was dried at 20 ° C. for 12 minutes to obtain an adhesive film with a copper foil having a thickness of 50 μm of the curable resin composition layer.
ポリビニルベンジルエーテル化合物のトルエンワニス(昭和高分子(株)製 V1100X、不揮発分60%)36.3質量部[樹脂成分21.8質量部]、酸無水物基を有する変性スチレン系エラストマー(変性SEBS)(旭化成ケミカルズ(株)製 M1913、スチレン含量30%)、5.5質量部、トルエン18質量部を添加した後、ポリビニルベンジルエーテル化合物と共重合可能なイソシアヌル骨格を有する3官能アクリレートモノマー(日本化薬(株)製 KAYARAD R790)2.7質量部を加え、完全に分散するまで攪拌して、ワニス状の硬化性樹脂組成物を作製した。該硬化性樹脂組成物ワニスを厚さ38μmのPETフィルム上に塗布し、70〜120℃で12分乾燥させ、硬化性樹脂組成物層の厚さ50μmの接着フィルムを得た。また、上記の硬化性樹脂組成物ワニスを古河サーキットフォイル(株)製の電解銅箔(F2−WS箔、厚さ18μm、処理面のRz=2.3μm)の銅箔上に塗布し、70〜120℃で12分乾燥させ、硬化性樹脂組成物層の厚さが50μmの銅箔付き接着フィルムを得た。
<比較例1>
Toluene varnish of polyvinyl benzyl ether compound (V1100X, Showa High Polymer Co., Ltd. V1100X, nonvolatile content 60%) 36.3 parts [resin component 21.8 parts by weight], modified styrene elastomer having acid anhydride group (modified SEBS ) (M1913 manufactured by Asahi Kasei Chemicals Co., Ltd., styrene content 30%) After adding 5.5 parts by mass and 18 parts by mass of toluene, a trifunctional acrylate monomer having an isocyanuric skeleton copolymerizable with a polyvinylbenzyl ether compound (Japan) 2.7 parts by mass of Kayaku Co., Ltd. KAYARAD R790) was added and stirred until completely dispersed to prepare a varnish-like curable resin composition. The curable resin composition varnish was applied on a PET film having a thickness of 38 μm and dried at 70 to 120 ° C. for 12 minutes to obtain an adhesive film having a thickness of 50 μm of the curable resin composition layer. Further, the curable resin composition varnish described above was applied onto a copper foil of Furukawa Circuit Foil Co., Ltd. electrolytic copper foil (F2-WS foil, thickness 18 μm, treated surface Rz = 2.3 μm), 70 It dried at -120 degreeC for 12 minutes, and obtained the adhesive film with a copper foil whose thickness of a curable resin composition layer is 50 micrometers.
<Comparative Example 1>
ポリビニルベンジルエーテル化合物のトルエンワニス(昭和高分子(株)製 V1100X、不揮発分60%)40質量部[樹脂成分24質量部]、不飽和二重結合部分が水素添加されたスチレン−ブタジエン−スチレンブロック共重合体((株)クラレ製 S8104、スチレン含量60%)6質量部、トルエン18質量部を添加し、完全に分散するまで攪拌して、ワニス状の硬化性樹脂組成物を作製した。該硬化性樹脂組成物ワニスを厚さ38μmのPETフィルム上に塗布し、70〜120℃で12分乾燥させ、硬化性樹脂組成物層の厚さ50μmの接着フィルムを得た。また、上記のワニス状の樹脂組成物を古河サーキットフォイル社製の電解銅箔(F2−WS箔、厚さ18μm、処理面のRz=2.3μm)の銅箔上に塗布し、70〜120℃で12分乾燥させ、硬化性樹脂組成物層の厚さ50μmの銅箔付き接着フィルムを得た。 Polyvinylbenzyl ether compound toluene varnish (Showa Polymer Co., Ltd. V1100X, nonvolatile content 60%) 40 parts by mass [resin component 24 parts by mass], unsaturated double bond styrene-butadiene-styrene block hydrogenated 6 parts by mass of a copolymer (manufactured by Kuraray Co., Ltd. S8104, styrene content 60%) and 18 parts by mass of toluene were added and stirred until completely dispersed to prepare a varnish-like curable resin composition. The curable resin composition varnish was applied on a PET film having a thickness of 38 μm and dried at 70 to 120 ° C. for 12 minutes to obtain an adhesive film having a thickness of 50 μm of the curable resin composition layer. Moreover, said varnish-like resin composition is apply | coated on the copper foil of the electrolytic copper foil (F2-WS foil, thickness 18micrometer, Rz = 2.3micrometer of a process surface) by Furukawa Circuit Foil, 70-120 The film was dried at 20 ° C. for 12 minutes to obtain an adhesive film with a copper foil having a thickness of 50 μm of the curable resin composition layer.
[硬化性樹脂組成物の比誘電率(εr)、誘電正接(tanδ)の測定]
PETフィルム上に得られた接着フィルムの樹脂面同士を合わせて真空ラミネーターにより、温度80℃、圧力1kgf/cm2(9.8×104Pa)空気圧5mmHg(6.7×102Pa)以下の条件でラミネートした。ラミネート後PETフィルムを剥離し、さらに同接着フィルムの樹脂面同士を合わせて同条件でのラミネート、PETフィルム剥離、ラミネートを繰り返し行い、厚さ約1.2mmの樹脂板を作製した。この樹脂板を100mm×100mm×1mmの金型に入れ、150℃/30分+180℃/90分、50MPaの圧力で加圧真空プレス成型を行い、さらに180℃/60分のポストキュア後厚さ1mmの硬化物樹脂板を得た。
[Measurement of relative dielectric constant (εr) and dielectric loss tangent (tan δ) of curable resin composition]
The resin surfaces of the adhesive film obtained on the PET film were put together and laminated by a vacuum laminator at a temperature of 80 ° C., a pressure of 1 kgf / cm 2 (9.8 × 104 Pa), an air pressure of 5 mmHg (6.7 × 10 2 Pa) or less. . After laminating, the PET film was peeled, and the resin surfaces of the adhesive film were put together to repeat lamination, PET film peeling and laminating under the same conditions to produce a resin plate having a thickness of about 1.2 mm. This resin plate is put into a 100 mm × 100 mm × 1 mm mold, subjected to pressure vacuum press molding at a pressure of 150 ° C./30 minutes + 180 ° C./90 minutes, 50 MPa, and further post-cure thickness after 180 ° C./60 minutes. A 1 mm thick cured resin plate was obtained.
得られた硬化物樹脂板を長さ80mm、幅2mmに切り出し評価サンプルとした。この評価サンプルについてアジレントテクノロジーズ(Agilent Technologies)社製HP8362B装置を用い空洞共振摂動法により測定周波数5.8GHz、測定温度23℃にて比誘電率、誘電正接を測定した。 The obtained cured resin plate was cut into a length of 80 mm and a width of 2 mm to obtain an evaluation sample. With respect to this evaluation sample, relative permittivity and dielectric loss tangent were measured at a measurement frequency of 5.8 GHz and a measurement temperature of 23 ° C. by a cavity resonance perturbation method using an HP 8362B apparatus manufactured by Agilent Technologies.
[ピール強度測定]
銅箔付き接着フィルムを銅板上に真空ラミネーターにより、温度120℃、圧力5kgf/cm(4.9×105Pa)、空気圧5mmHg(6.7×102Pa)以下の条件でラミネートして得られる導体層に挟まれた樹脂組成物を180℃で2時間加熱してピール強度測定用サンプルを作製した。メッキによるピール強度測定用としては、銅箔付き接着フィルムを銅板上に真空ラミネーターにより、温度120℃、圧力5kgf/cm(4.9×105Pa)、空気圧5mmHg(6.7×102Pa)以下の条件でラミネート後、180℃で30分硬化させてからその銅箔部分を溶解除去し、該接着フィルム表面をアルカリ性酸化剤水溶液で粗化し、導体層をメッキにより形成することで測定用サンプルとした。サンプルのピール強度については日本工業規格(JIS)C6481に準じて評価した。
[Peel strength measurement]
An adhesive film with copper foil is laminated on a copper plate by a vacuum laminator under conditions of a temperature of 120 ° C., a pressure of 5 kgf / cm (4.9 × 10 5 Pa), and an air pressure of 5 mmHg (6.7 × 10 2 Pa) or less. The resin composition sandwiched between the conductor layers was heated at 180 ° C. for 2 hours to produce a peel strength measurement sample. For peel strength measurement by plating, an adhesive film with copper foil is placed on a copper plate with a vacuum laminator at a temperature of 120 ° C., a pressure of 5 kgf / cm (4.9 × 10 5 Pa), an air pressure of 5 mmHg (6.7 × 10 2 Pa). ) After lamination under the following conditions, after curing at 180 ° C. for 30 minutes, the copper foil portion is dissolved and removed, the surface of the adhesive film is roughened with an aqueous alkaline oxidant solution, and the conductor layer is formed by plating. A sample was used. The peel strength of the sample was evaluated according to Japanese Industrial Standard (JIS) C6481.
実施例1〜2、比較例1の硬化性樹脂組成物の組成を表1に示し、各試験の結果を表2に示す。 The compositions of the curable resin compositions of Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 are shown in Table 1, and the results of each test are shown in Table 2.
表2から、本発明の硬化性樹脂組成物によれば、硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物の優れた特性を損なうことなく、銅箔およびメッキ銅との良好な密着性を達成できることが分かる。 From Table 2, it can be seen that according to the curable resin composition of the present invention, good adhesion to the copper foil and plated copper can be achieved without impairing the excellent properties of the curable polyvinyl benzyl ether compound.
Claims (15)
で表される硬化性ポリビニルベンジルエーテル化合物である、請求項1記載の硬化性樹脂組成物。 (A) The curable polyvinyl benzyl ether compound has the following formula (1):
The curable resin composition of Claim 1 which is a curable polyvinyl benzyl ether compound represented by these.
(1)請求項5記載の接着フィルムを回路基板にラミネートする工程、
(2)支持フィルムを剥離するか、または剥離しない工程、
(3)硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程、
(4)支持フィルムが存在する場合に該支持フィルムを剥離する工程、
(5)硬化物表面を、アルカリ性酸化剤水溶液で粗化する工程、
(6)粗化された硬化物表面にメッキにより導体層を形成する工程、および
(7)導体層に回路形成する工程。 A method for producing a multilayer printed wiring board comprising the following steps (1) to (7):
(1) Laminating the adhesive film according to claim 5 on a circuit board,
(2) A step of peeling or not peeling the support film,
(3) a step of thermosetting the curable resin composition;
(4) a step of peeling the support film when the support film is present;
(5) A step of roughening the surface of the cured product with an aqueous alkaline oxidant solution,
(6) A step of forming a conductor layer on the roughened cured product surface by plating, and (7) a step of forming a circuit on the conductor layer.
(1)請求項6記載の銅箔付き接着フィルムを回路基板にラミネートする工程、
(2)硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程、
(3)銅箔を溶解除去する工程、
(4)硬化物表面を、アルカリ性酸化剤水溶液で粗化する工程、
(5)粗化された硬化物表面にメッキにより導体層を形成する工程、および
(6)導体層に回路形成する工程。 A method for producing a multilayer printed wiring board including the following steps (1) to (6):
(1) A step of laminating the adhesive film with copper foil according to claim 6 on a circuit board,
(2) a step of thermosetting the curable resin composition;
(3) a step of dissolving and removing the copper foil,
(4) A step of roughening the surface of the cured product with an aqueous alkaline oxidant solution,
(5) A step of forming a conductor layer on the roughened cured product surface by plating, and (6) a step of forming a circuit on the conductor layer.
(1)請求項6記載の銅箔付き接着フィルムを回路基板にラミネートする工程、
(2)硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程、および
(3)銅箔層に回路形成する工程。 A method for producing a multilayer printed wiring board comprising the following steps (1) to (3):
(1) A step of laminating the adhesive film with copper foil according to claim 6 on a circuit board,
(2) a step of thermosetting the curable resin composition, and (3) a step of forming a circuit on the copper foil layer.
(1)請求項7記載のプリプレグを回路基板にラミネートする工程、
(2)硬化性樹脂組成物を熱硬化する工程、
(3)硬化物表面を、アルカリ性酸化剤水溶液で粗化する工程、
(4)粗化された硬化物表面にメッキにより導体層を形成する工程、および
(5)導体層に回路形成する工程。 A method for producing a multilayer printed wiring board including the following steps (1) to (5):
(1) A step of laminating the prepreg according to claim 7 on a circuit board,
(2) a step of thermosetting the curable resin composition;
(3) a step of roughening the surface of the cured product with an aqueous alkaline oxidant solution;
(4) A step of forming a conductor layer on the roughened cured product surface by plating, and (5) a step of forming a circuit on the conductor layer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005237848A JP2007051226A (en) | 2005-08-18 | 2005-08-18 | Resin composition with low dielectric constant |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005237848A JP2007051226A (en) | 2005-08-18 | 2005-08-18 | Resin composition with low dielectric constant |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007051226A true JP2007051226A (en) | 2007-03-01 |
Family
ID=37915888
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005237848A Pending JP2007051226A (en) | 2005-08-18 | 2005-08-18 | Resin composition with low dielectric constant |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007051226A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008133293A1 (en) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Adhesive sheet |
KR20100095378A (en) * | 2009-02-20 | 2010-08-30 | 아지노모토 가부시키가이샤 | Resin composition |
KR20110117158A (en) * | 2009-01-19 | 2011-10-26 | 아지노모토 가부시키가이샤 | Resin composition |
TWI679257B (en) * | 2017-02-20 | 2019-12-11 | 日商有澤製作所股份有限公司 | Resin composition, adhesive film, cover film, laminated board, copper foil with resin and copper foil laminated board with resin |
WO2022255141A1 (en) * | 2021-06-02 | 2022-12-08 | 信越ポリマー株式会社 | Adhesive composition |
WO2022255137A1 (en) * | 2021-06-02 | 2022-12-08 | 信越ポリマー株式会社 | Adhesive composition |
-
2005
- 2005-08-18 JP JP2005237848A patent/JP2007051226A/en active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008133293A1 (en) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Adhesive sheet |
JPWO2008133293A1 (en) * | 2007-04-25 | 2010-07-29 | 日立化成工業株式会社 | Adhesive sheet |
KR20110117158A (en) * | 2009-01-19 | 2011-10-26 | 아지노모토 가부시키가이샤 | Resin composition |
KR101694138B1 (en) * | 2009-01-19 | 2017-01-09 | 아지노모토 가부시키가이샤 | Resin composition |
KR20100095378A (en) * | 2009-02-20 | 2010-08-30 | 아지노모토 가부시키가이샤 | Resin composition |
KR101681512B1 (en) * | 2009-02-20 | 2016-12-01 | 아지노모토 가부시키가이샤 | Resin composition |
TWI679257B (en) * | 2017-02-20 | 2019-12-11 | 日商有澤製作所股份有限公司 | Resin composition, adhesive film, cover film, laminated board, copper foil with resin and copper foil laminated board with resin |
WO2022255141A1 (en) * | 2021-06-02 | 2022-12-08 | 信越ポリマー株式会社 | Adhesive composition |
WO2022255137A1 (en) * | 2021-06-02 | 2022-12-08 | 信越ポリマー株式会社 | Adhesive composition |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20080004367A1 (en) | Curable resin composition | |
TWI781918B (en) | Resin composition, prepreg, metal foil-clad laminate, resin sheet, printed wiring board, and semiconductor device | |
KR101677461B1 (en) | Epoxy resin composition | |
TW201934631A (en) | Resin composition, prepreg, metal foil-clad laminate, resin composite sheet, and printed wiring board | |
JP2009155354A (en) | Resin composition for insulating layer | |
WO2017170521A1 (en) | Resin composition and multilayer substrate | |
JP2017047686A (en) | Method for manufacturing flexible copper-clad laminated sheet and flexible copper-clad laminated sheet | |
KR20140121783A (en) | Curable resin composition | |
JP5011641B2 (en) | Thermosetting resin composition, adhesive film using the same, and multilayer printed wiring board | |
JP2005244150A (en) | Resin composition, adhesive film using it, and multi-layer printed wiring board | |
WO2010082658A1 (en) | Resin composition | |
KR20140102613A (en) | Curable resin composition | |
JP2020029494A (en) | Resin composition for insulation layer, sheet-like laminated material, multilayer printed wiring board and semiconductor device | |
CN113950509A (en) | Resin composition, prepreg, film with resin, metal foil with resin, metal-clad laminate, and wiring board | |
JP2008074929A (en) | Flame retardant epoxy resin composition, resin film, prepreg and multilayered printed circuit board | |
WO2007114464A1 (en) | Resin composition for forming insulating layer | |
JP2005281673A (en) | Thermosetting resin composition, resin film and product | |
JP2004140268A (en) | Manufacturing method of multilayer printed circuit board for high frequency | |
JP6269401B2 (en) | Surface-treated inorganic filler, method for producing the inorganic filler, and resin composition containing the inorganic filler | |
JP2007051226A (en) | Resin composition with low dielectric constant | |
CN108136736B (en) | Method for producing laminate and metal foil with resin layer | |
JP2003283098A (en) | Laminated material for manufacturing printed wiring board, laminate, copper foil with resin, printed wiring board and multilayer printed wiring board | |
KR20140102612A (en) | Curable resin composition | |
JP2007273616A (en) | Manufacturing method for multilayer printed circuit board | |
JP2007051225A (en) | Resin composition with high dielectric constant |