JP2006317196A - 水素ガスセンサ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 水素吸蔵により物性値が変化するアモルファス合金をセンサ素子12とし、該センサ素子12の物性値変化および/またはセンサ素子12での発熱を計測することにより、水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を検出することを特徴とする水素ガスセンサ10。
【選択図】 図1
Description
(1)検知可能な水素濃度範囲
(2)測定精度(分解能)
(3)応答速度
(4)水素選択性
(5)耐久性
また、金属絶縁体半導体(MIS)若しくは金属酸化物半導体(MOS)のコンデンサ−及び電界効果トランジスタ−、並びに白金ゲ−トダイオ−ドなどのセンサーは、一般的には水素の検知濃度領域が低濃度領域に限定される。
また、その他の水素ガスセンサとしては、ガラス等の基板上にPd−Ag合金層を蒸着し、水素吸蔵によるPd−Ag合金層の膨張を基板の歪として検出するバイメタル方式のものなどがある(特許文献2)。しかし、PdやAgは希少金属であり、また、高濃度の水素存在下では水素脆性のために繰り返し検出に対する信頼性は十分とはいえない。
すなわち、本発明の水素ガスセンサは、水素との侵入型化合物の形成および/または水素の吸着により、水素を吸蔵し、物性値が変化するアモルファス合金をセンサ素子とし、該センサ素子の物性値変化および/またはセンサ素子での発熱を計測することにより、水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を検出することを特徴とする。また、前記センサ素子として用いられるアモルファス合金が耐酸化性を有する金属ガラスであることが好適である。
ここで、「物性値の変化を計測する」とは、物性値そのものの値を直接計測する場合だけでなく、物性値の変化に伴う現象の変化(例えば、電気抵抗値の変化による電流値、電圧値の変化)を計測することも意味する。
上記のセンサにおいて、前記センサ素子の力学的物性値の変化を計測することにより、水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を好適に検出することができる。ここで、力学的物性値とは物質の力学的な現象に対する物性値のことを意味し、例えば、長さ、面積、体積、質量、密度、弾性率、粘性率、等のことを意味する。
上記のセンサにおいて、前記センサ素子の光学的物性値変化を計測することにより、水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を好適に検出することができる。ここで、光学的物性値とは物質の光学的な現象に対する物性値のことを意味し、例えば、光の反射率、吸収率、屈折率等のことを意味する。
また、上記のセンサにおいて、少なくとも水素ガス検出時にセンサ素子が加温されることが好適である。
また、アモルファス合金が金属ガラスであることが好適である。金属ガラスは繰り返し加熱に対しても脆化が起こりにくく、長期間に亘り安定な水素吸蔵特性を示す。さらに、金属ガラスは耐酸化性を有するものであることが望ましい。具体的な組成としてはFe43Cr16Mo16C10BxP15−x(原子%:0<x<15)が挙げられる。耐酸化性を有する金属ガラスを用いることで、より耐久性、信頼性の高いセンサとすることができる。
図1に本発明の一実施形態にかかる水素ガスセンサの概略構成図を示す。本実施形態はアモルファス合金の電気的物性値の変化を計測することにより、水素ガスの検出を行うものである。すなわち、本実施形態にかかる水素ガスセンサ10は、水素吸蔵性を有するアモルファス合金板よりなるセンサ素子12と、該センサ素子12の同一面上に設けられた2つの電極14a及び14bと、を備えている。なお、電極の個数は特に限定されず、電気的物性値の計測方法に応じて、2つ以上の電極をセンサ素子に設けるような構成としてもよい。
まず、センサ素子12を被験雰囲気中に露出し、ヒータ16によりセンサ素子12のアモルファス合金板が一定温度になるよう加温しておく。この場合、アモルファス合金板は温度及び被験雰囲気中の水素ガス濃度に依存した水素吸蔵状態となり、且つ、アモルファス合金からの水素ガスの吸蔵と放出とが平衡状態となる。
アモルファス合金板は、その水素吸蔵量、すなわち被験雰囲気中の水素ガス濃度が高くなるほど、その電気抵抗値は一般に高くなる。従って、センサ素子12に通電しておき、センサ素子12の電気抵抗値の変化を検出することで、水素ガス濃度を検知することができる。ここで、電気抵抗値変化の計測の形態は特に限定されず、例えば、センサ素子に印加する電圧を一定にしてセンサ素子に流れる電流値の変化を計測する、センサ素子に流れる電流値を一定にしてセンサ素子に加わる電圧値の変化を計測する、もしくは電流値、電圧値を共に計測し、それらの値から電気抵抗値を求めてその変化を計測する、等のいずれの形態でもよい。
本実施形態の水素センサの特徴として、
(1)水素のみに反応する。
(2)計測範囲が広い。
(3)ガス濃度とセンサ感度との間のリニア特性が優れている。
(4)FETとの組合せによって集積化が容易である。
などが挙げられる。特に、応答性の点では、気体熱伝導式、光学式とともに数秒以内の応答が可能である。
加温手段24は、センサ素子12のアモルファス合金板裏面に設けられたヒータ16にヒータ電極18a、18bを介して加熱電流を供給する加熱電源28を有し、センサ素子12のアモルファス合金板を一定温度に維持する。センサ素子を一定温度に維持することで、被験雰囲気温度による影響を小さくすることができる。
また、計測手段26は、安定化電源30と、導通計32とを、前記センサ手段22を構成するセンサ素子12にセンサ電極14a、14bを介して直列に接続してなり、センサ素子12の電気抵抗値の変化を電流の変化として導通計32により検知することができる。この検知信号により、警報、点灯等の報知や、回路保護、回路遮断など、必要に応じた措置が行われるようにすることができる。例えば、通常は非作動状態にある他の系を作動させるような作動器、あるいは通常は作動状態にある他の系を遮断するような遮断器にも使用可能である。
図3は図2の実施形態の水素ガス検出器の変形例であり、図2と対応する部材には符号100を加え説明を省略する。図3に示す実施形態においては、センサ素子のインピーダンス変化を四端子法にて計測することで、水素ガスの検出を行っている。本実施形態の計測手段126は、センサ手段122のセンサ素子に所定周波数の交流電圧を印加する電源部130と、センサ素子に流れる電流値を計測する電流計132と、センサ素子両端の電位差を計測する電圧計134と、電源部130の制御や、電流計132、電圧計134からの信号の処理を行う制御/処理部136と、を備える。制御/処理部136は電源部130を制御してセンサ素子に印加する交流電圧の周波数の変更を行ったり、電圧計134、電流計132からの信号を基にセンサ素子のインピーダンスの算出を行う。センサ素子は水素吸蔵量に応じてインピーダンスが変化するため、計測したインピーダンスから水素濃度の検出を行うことができる。ここで、センサ素子への電圧の印加は少なくとも水素ガス検出時に行えばよい。
まず、アモルファス合金の力学的物性値変化を計測して、水素ガスの検出を行う実施形態について説明する。図4は水素ガスセンサとしてQCM(Quartz Crystal Microbalance)を利用した水素ガス検出器の概略構成を示す。図4の水素ガス検出器200は、水素ガスセンサ(センサ手段)としての水晶振動子210と、水晶振動子の共振振動数もしくはインピーダンスの変化を検出する計測手段212とを備える。
水晶振動子210は、水晶等の圧電材料板214と、該圧電材料板の両面に形成された電極216a,216bと、該電極216a,216b上に形成されたセンサ素子膜218a,218bとで構成される。センサ素子膜218a,218bは、水素の吸蔵および放出を行うアモルファス合金によって形成されている。ここでは、センサ素子膜を水晶振動子210の両面に形成した例を示したが、片面のみに形成する構成としてもよい。
水素の吸蔵および放出に伴うアモルフォス合金(センサ素子膜218a,218b)の力学的物性の変化(長さ変化、体積変化、質量変化、粘弾性変化等)に応じて、水晶振動子210の共振周波数もしくはインピーダンスが変化する。この水晶振動子の共振周波数もしくはインピーダンスの変化を計測手段212によって計測することで水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を検出することができる。また、ナノグラムの質量変化に対して、1ヘルツ程度の周波数変化となるため低周波での計測が有用であり、シールドが重要である。
計測手段412は、センサ手段410のアモルファス合金膜へ光を照射する光照射部414と、アモルファス合金膜からの反射光を検知する光検知部416とを備える。光照射部414からの光は光ファイバ418を通り、センサ手段410のアモルファス合金膜へ照射される。該アモルファス合金膜からの反射光は光ファイバ420の端部で集光され、光検知部416へ送られる。光検知部416はこの反射光を検知することで、センサ素子の光学的変化(反射率、吸収率など)を計測する。
センサ手段510は、基板514上に形成された熱電変換材料層516と、該熱電変換材料層516の両端位置に接続された電極518a、518bと、熱電変換材料層516上の一部に設けられたアモルファス合金層520(センサ素子)と、を備えている。アモルファス合金層520は熱電変換材料層516の電極518a側(図中左側)のみに設けられており、熱電変換材料層516の電極518b側(図中右側)には設けられていない。
水素の反応などによってアモルファス合金層520で熱が発生すると、熱電変換材料層516の電極518a側と電極518b側とに温度差が生じ、電極518aと電極518b間に起電力が発生する。この起電力を計測手段512によって計測することにより水素ガスを検出することができる。
また、結晶合金は、アモルファス合金に比べて強度が弱く、水素吸蔵によって微粉化しやすく、耐久性に劣る
これに対して、アモルファス合金では、平衡水素圧(水素ガス濃度)と水素吸蔵量とが連続的に、且つ比較的リニアに変化する。さらに、アモルファス合金は、結晶合金に比べて硬くて強いので、耐久性にも優れている。
このため、通常のアモルファス合金では、104〜106K/秒という急速冷却でしかアモルファス相が形成できないのに対し、金属ガラスでは、10―2〜103K/秒という非常に遅い冷却速度でもアモルファス相を形成することができる。従って、通常のアモルファス合金では合金物性に冷却速度が非常に大きく影響するが、金属ガラスでは冷却速度によらず非常に均一なアモルファス相を得ることができる。また、過冷却液体領域では粘性が低く、加工が容易であり、鋳造法などにより種々の形状のものを製造することができる。
金属ガラスを形成するための組成に関しては、(1)3成分以上の多元系であること、(2)主要3成分の原子径が互いに12%以上異なっていること、及び(3)主要3成分の混合熱が互いに負の値を有していること、が経験則として知られている(ガラス合金の発展経緯と合金系:機能材料、vol.22,No.6,p.5−9(2002))。これまで、例えば、Zr−Al−(Ni,Cu)−(Ti,Nb)、Zr−Ti−Ni−Cu−Beなど、種々の金属ガラス組成が報告されている。
一方、従来の水素吸蔵結晶合金、例えばマグネシウム・ニッケル合金薄膜は、蒸着直後の膜は金属光沢を持ちよく光を反射する。この膜を水素へ暴露することにより水素化が起こり、電気抵抗が増大すると共に光学透過率が増大する。この時の抵抗変化もしくは透過率変化を測定することで水素の濃度に関する情報を得ることができる。しかしこれらの合金は酸化により長期安定性が十分ではない。
それに対し、本発明のように耐酸化性の金属ガラスをセンサ素子として使用した場合には、長期安定性を改善することが可能となる。
センサ素子の温度を保つには、MEMS構造によるミクロホットプレートと結合させるといった構成もある。この結果センサーは応答速度、感度、安定性の点で飛躍的に高性能化できる。
金属の水素による物性変化は、金属表面に接触した水素ガスが金属表面の触媒作用によって原子状となり、金属に吸収されることによって生じると考えられているため、短時間に安定した物性変化を検出するには、吸収した原子状水素の拡散が均一且つ迅速に行われる必要がある。そのため、金属の水素原子の拡散方向の厚みは薄い方が好適であり、例えば、片面のみガスに暴露されるリボン状や薄膜状のものでは0.2mm以下、また、ワイヤー、スプリングなどの線状のものでは0.4mm以下が好適である。
過冷却液体領域では、金属ガラスは粘性流動を示し、粘性が低い。このため、過冷却液体状態にある金属ガラスが基材表面に衝突すると、瞬時に薄く潰れて基材表面に広がり、厚みが非常に薄い良好なスプラットを形成することができる。そして、このようなスプラットの堆積により、気孔が非常に少ない緻密な膜を形成することができる。
従って、金属ガラス粒子を溶射によって過冷却状態で基材表面に衝突させることにより、均一な金属ガラスのアモルファス固体相からなり、且つ気孔がほとんどない緻密な金属皮膜を基材上に強固に形成することができる。
溶射方法としては、大気圧プラズマ溶射、減圧プラズマ溶射、フレーム溶射、高速フレーム溶射(HVOF)、アーク溶射などがあるが、高速フレーム溶射が簡便に高密度膜を得る上で特に優れている。
試験では、サンプル片として、「材料テクノロジー20 アモルファス材料(東京大学出版会)p.71〜72、単ロール法装置」に記載の方法に準じて作製したZr55Al8Nb2Cu30Ni5金属ガラス板(幅約2mm、長さ約15mm、厚さ約20μm)を用いた。
サンプル片にPCT特性測定装置 PCT−2SD−2((株)鈴木商館)中で平衡状態となるまで水素を吸蔵させ、サンプル片中の水素吸蔵量を測定した(質量%)。サンプル片を測定機から取り出し、その電気抵抗値を測定した。
このように、金属ガラスの水素吸蔵量と、電気抵抗値との間には相関関係があり、水素吸蔵に伴う電気抵抗値の変化を利用して、水素ガス濃度を測定することが可能である。
センサ材料としては、Ni60Nb20Zr20(例えば、幅0.639mm×厚み0.022mm)、Zr55Al8Nb2Cu30Ni5(例えば、幅0.673mm×厚み0.018mm)、Fe43Cr16Mo16C15B10(例えば、幅1.807mm×厚み0.040mm)なども代表的な金属ガラスとして使用可能である。
図11からわかるように、時定数は20秒未満であり、応答速度が比較的速く、薄膜化によりさらなる高感度化が可能である。また、H2含有ガスのON/OFF繰り返しによって抵抗値が速やかに可逆的に変化し、そのセンシング性能にはほどんど変動がなく、非常に安定した検出を長期に亘って行うことができる。
12 センサ素子
14a,14b センサ電極
16 ヒータ
18a,18b ヒータ電極
20 水素ガス検知器
22 センサ手段(水素ガスセンサ10)
24 加温手段
26 計測手段
28 加温電源
30 安定化電源
32 導通計
Claims (9)
- 水素吸蔵により物性値が変化するアモルファス合金をセンサ素子とし、該センサ素子の物性値変化および/またはセンサ素子での発熱を計測することにより、水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を検出することを特徴とする水素ガスセンサ。
- 請求項1記載のセンサにおいて、
前記アモルファス合金が耐酸化性を有する金属ガラスであることを特徴とする水素ガスセンサ。 - 請求項1または2に記載のセンサにおいて、
前記センサ素子の電磁気的物性値の変化を計測することにより、水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を検出することを特徴とする水素ガスセンサ。 - 請求項3に記載のセンサにおいて、
前記電磁気的物性値の変化を電気抵抗値および/または交流インピーダンスの変化として計測することを特徴とする水素ガスセンサ。 - 請求項1または2に記載のセンサにおいて、前記センサ素子の力学的物性値の変化を計測することにより、水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を検出することを特徴とする水素センサ。
- 請求項1または2に記載のセンサにおいて、前記センサ素子の光学的物性値変化を計測することにより、水素ガスの有無および/または水素ガス濃度を検出することを特徴とする水素センサ。
- 請求項1から6のいずれかに記載のセンサにおいて、少なくとも水素ガス検出時にセンサ素子が加温されることを特徴とする水素ガスセンサ。
- 請求項1から7に記載の水素ガスセンサを含むセンサ手段と、
前記センサ素子の物性値の変化を計測する計測手段と、
を備えることを特徴とする水素ガス検出器。 - 請求項8に記載の水素ガス検出器において、前記計測手段が前記センサ素子の異なる複数の物性値変化を計測することを特徴とする水素ガス検出器。
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