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JP2006242719A - Solder material deterioration degree determining device, solder printer, solder material deterioration degree determination method, solder printing method, solder material deterioration degree determination program, solder printing program and computer-readable recording medium - Google Patents

Solder material deterioration degree determining device, solder printer, solder material deterioration degree determination method, solder printing method, solder material deterioration degree determination program, solder printing program and computer-readable recording medium Download PDF

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JP2006242719A
JP2006242719A JP2005058112A JP2005058112A JP2006242719A JP 2006242719 A JP2006242719 A JP 2006242719A JP 2005058112 A JP2005058112 A JP 2005058112A JP 2005058112 A JP2005058112 A JP 2005058112A JP 2006242719 A JP2006242719 A JP 2006242719A
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JP
Japan
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solder material
solder
deterioration
deterioration degree
degree
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Application number
JP2005058112A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuhiro Onishi
康裕 大西
Masanobu Horino
昌伸 堀野
Katsumi Ohashi
勝己 大橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a solder material deterioration degree determining device for determining the degree of deterioration of a solder material in a short time, in parallel with solder printing process. <P>SOLUTION: This device is equipped with an illumination part 20 for irradiating the surface of the solder material 1 with an inspection light, an imaging part 30 for imaging the surface of the solder material 1, and a deterioration degree determining part 42 for determining the degree of deterioration of the solder material 1, based on an imaged image imaged by the imaging part 30. In the constitution, the illumination part 20 irradiates the surface of the solder material 1 with the inspection light, and the imaging part 30 images the surface of the solder material 1. The degree of deterioration of the solder material 1 is determined by the deterioration degree determining part 42, based on the imaged image. Hereby, the degree of deterioration of the solder material can be determined simply, in a short time. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半田材の劣化度を判断する装置および劣化度の判断方法に関するものである。   The present invention relates to an apparatus for determining the degree of deterioration of a solder material and a method for determining the degree of deterioration.

プリント配線基板などの基板上に電子部品を半田付けする場合には、まず、当該基板上に半田材を印刷し、印刷された半田の上に電子部品を実装する。その後、上記基板の温度を上げることにより基板上の半田を溶かし、上記電子部品を溶接する。   When soldering an electronic component on a substrate such as a printed wiring board, first, a solder material is printed on the substrate, and the electronic component is mounted on the printed solder. Thereafter, by raising the temperature of the substrate, the solder on the substrate is melted and the electronic component is welded.

上記の半田材の印刷工程において、印刷不良を引き起こす原因のひとつとして、半田材の劣化が挙げられる。この半田材の劣化を示す指標のひとつとして、半田材の粘度が高まることが挙げられる。半田材の粘度は、当該半田材の調製時には低く、時間経過に伴い高まっていく。すなわち、半田材はしだいに硬くなっていく。半田材の粘度が高まると、当該半田材は上記基板に印刷されにくくなり、印刷かすれが生じる。そこで、上記のような半田材の劣化に伴う印刷不良を防止するためには、半田材の粘度を監視する必要がある。   In the solder material printing process described above, deterioration of the solder material can be cited as one of the causes of printing defects. One of the indexes indicating the deterioration of the solder material is an increase in the viscosity of the solder material. The viscosity of the solder material is low when the solder material is prepared, and increases with time. That is, the solder material becomes harder gradually. When the viscosity of the solder material increases, the solder material becomes difficult to be printed on the substrate, and printing blur occurs. Therefore, in order to prevent printing defects due to the deterioration of the solder material as described above, it is necessary to monitor the viscosity of the solder material.

上記半田材は、固体の金属ボールとフラックス(有機溶剤成分)とを混合することによって調製される。当該半田材および当該固体の半田材の劣化度を測定する方法は、これまでに考案されている。   The solder material is prepared by mixing a solid metal ball and a flux (organic solvent component). Methods for measuring the degree of deterioration of the solder material and the solid solder material have been devised so far.

例えば、回転式の羽を半田材の中で回転させ、当該羽にかかる負荷により粘度を測定する粘度計が実用化されている。   For example, a viscometer that rotates a rotary wing in a solder material and measures the viscosity by a load applied to the wing has been put into practical use.

また、特許文献1に開示されている発明では、レーザセンサにより、上記基板上で回転する半田材の流動速度を測定し、予め求めた当該半田材の粘度と流動速度との相関関係に基づいて、測定された半田材の流動速度から当該半田材の粘度を算出している。   In the invention disclosed in Patent Document 1, the flow rate of the solder material rotating on the substrate is measured by a laser sensor, and based on the correlation between the viscosity of the solder material and the flow rate obtained in advance. The viscosity of the solder material is calculated from the measured flow rate of the solder material.

また、特許文献2に開示されている発明では、フラックスの酸値を化学的に測定することにより、半田材の劣化度を測定している。この方法は、半田が劣化すれば酸化するという性質を利用したものである。   In the invention disclosed in Patent Document 2, the deterioration degree of the solder material is measured by chemically measuring the acid value of the flux. This method utilizes the property of oxidizing when solder deteriorates.

また、特許文献3に開示されている発明では、大気雰囲気紫外線光電子分光法により固体の半田材の大気雰囲気紫外線光電子スペクトルを測定し、得られた光電子スペクトルから当該半田材の表面酸化膜より放出される光電子の放出強度Sを求め、求めた光電子放出強度Sを、予め求めた半田材の表面酸化率と表面酸化膜より放出される光電子の放出強度Sとの関係にあてはめて、当該半田材の表面酸化率を求めている。
特開平5−99831号公報(1993年4月23日公開) 特公平8−20434号公報(1996年3月4日公開) 特開平10−082737号公報(1998年3月31日公開)
Further, in the invention disclosed in Patent Document 3, the atmospheric air ultraviolet photoelectron spectrum of a solid solder material is measured by atmospheric air ultraviolet photoelectron spectroscopy, and the obtained photoelectron spectrum is emitted from the surface oxide film of the solder material. The photoelectron emission intensity S is determined, and the obtained photoelectron emission intensity S is applied to the relationship between the previously obtained surface oxidation rate of the solder material and the photoelectron emission intensity S emitted from the surface oxide film. The surface oxidation rate is obtained.
JP 5-99831 A (published on April 23, 1993) Japanese Patent Publication No. 8-20434 (published March 4, 1996) Japanese Patent Laid-Open No. 10-082737 (published March 31, 1998)

ところが、上記従来の構成では、いくつかの問題が生じる。例えば、上記の回転式の羽を有する粘度計においては、ポットに入れた半田材の中に粘度計を挿入するため、ポットを満たすだけの半田材が必要であり、時間と手間がかかるという問題がある。さらに、半田材の粘度測定後に、当該半田材を半田印刷工程に戻し、半田印刷を再開しなければならないため、半田印刷工程を止めて粘度を計測する必要があるという問題がある。   However, the conventional configuration has several problems. For example, in the viscometer having the rotary wing described above, since the viscometer is inserted into the solder material put in the pot, it is necessary to have enough solder material to fill the pot, which takes time and labor. There is. Furthermore, after the viscosity of the solder material is measured, the solder material must be returned to the solder printing process and the solder printing must be resumed. Therefore, it is necessary to stop the solder printing process and measure the viscosity.

また、特許文献1に記載の発明においては、スキージ駆動時のみしか半田材の粘度を計測することができず、検査対象が印刷工程で使用中の半田材のみに限られるという問題が生じる。   Further, in the invention described in Patent Document 1, the viscosity of the solder material can be measured only when the squeegee is driven, and there is a problem that the inspection object is limited to only the solder material being used in the printing process.

また、特許文献2に記載の発明においては、特別な試薬が必要であるため、手間がかかり、半田材を基板に印刷する工程と並行して、リアルタイムに当該半田材の劣化度を測定すること、すなわちインラインで半田材の劣化度を測定することが困難であるという問題がある。   In addition, in the invention described in Patent Document 2, since a special reagent is required, it takes time and measures the deterioration degree of the solder material in real time in parallel with the process of printing the solder material on the substrate. That is, there is a problem that it is difficult to measure the degree of deterioration of the solder material in-line.

また、特許文献3に記載の発明においては、固体の半田材に対する測定はできるが、その表面がフラックスにより覆われている半田材に対する測定は困難であるという問題がある。さらに、人体に有害な紫外線を必要とするという問題もある。   The invention described in Patent Document 3 can measure a solid solder material, but has a problem that it is difficult to measure a solder material whose surface is covered with a flux. Furthermore, there is a problem that ultraviolet rays harmful to the human body are required.

本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、半田材の劣化度を短時間で手間なく判断することができる半田材劣化度判断装置を提供することにある。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a solder material deterioration degree determination device that can determine the deterioration degree of a solder material in a short time without trouble. .

本発明に係る半田材劣化度判断装置は、上記の課題を解決するために、半田材の表面に検査光を照射する照明部と、上記照明部によって照射された上記半田材の表面を撮像する撮像部と、上記撮像部によって撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断手段とを備えることを特徴としている。   In order to solve the above-described problem, the solder material deterioration degree determination device according to the present invention images the illumination unit that irradiates the surface of the solder material with the inspection light and the surface of the solder material that is irradiated by the illumination unit. It is characterized by comprising an image pickup unit and a deterioration degree judging means for judging the degree of deterioration of the solder material based on a picked-up image picked up by the image pickup unit.

上記の構成では、照明部が被検査体である半田材の表面に検査光を照射し、撮像部が上記半田材の表面を撮像する。このとき、上記半田材の表面に凹凸が形成されていると、照明部から照射された検査光の正反射成分の一部が撮像部方向に反射する。
換言すれば、上記半田材表面の凹凸に依存して上記撮像部が撮像した撮像画像は変化する。そして、予め求めておいた上記半田材の劣化度と上記撮像画像の変化との相関関係に基づいて、劣化度判断手段が上記半田材の劣化度を判断する。なお、上記検査光は上記半田材に対して斜め方向から照射することが好ましい。
In the above configuration, the illumination unit irradiates the surface of the solder material, which is an object to be inspected, with inspection light, and the imaging unit images the surface of the solder material. At this time, if irregularities are formed on the surface of the solder material, part of the regular reflection component of the inspection light emitted from the illumination unit is reflected in the direction of the imaging unit.
In other words, the captured image captured by the imaging unit changes depending on the unevenness on the surface of the solder material. Then, based on the correlation between the degree of deterioration of the solder material obtained in advance and the change in the captured image, the degree of deterioration determination means determines the degree of deterioration of the solder material. In addition, it is preferable to irradiate the said inspection light from the diagonal direction with respect to the said solder material.

上記半田材表面の凹凸は、当該半田材の劣化に伴って形成される。すなわち、半田材が劣化すると、当該半田材の粘度は高まり、当該半田材の表面の凹凸は増える。そこで、この性質を利用して当該半田材の劣化度を判断することができる。換言すれば、半田材表面の凹凸の増加に起因する上記撮像画像の変化を検知することにより、当該半田材の劣化度を判断することができる。   The unevenness on the surface of the solder material is formed as the solder material deteriorates. That is, when the solder material deteriorates, the viscosity of the solder material increases, and the unevenness of the surface of the solder material increases. Therefore, the deterioration degree of the solder material can be determined using this property. In other words, the degree of deterioration of the solder material can be determined by detecting the change in the captured image due to the increase in the unevenness on the surface of the solder material.

そのため、半田材に接触することなく、短時間で簡単に半田材の劣化度を判断できる。しかも、少量の半田材であってもその劣化度を判断できる。さらに、本発明の半田材劣化度判断装置を半田印刷機と併用した場合には、半田印刷工程と並行して、リアルタイムに上記半田印刷機において使用される半田材の劣化度を判断できる。   Therefore, it is possible to easily determine the degree of deterioration of the solder material in a short time without contacting the solder material. Moreover, the degree of deterioration can be determined even with a small amount of solder material. Furthermore, when the solder material deterioration degree judging device of the present invention is used in combination with a solder printer, the degree of deterioration of the solder material used in the solder printer can be judged in real time in parallel with the solder printing process.

また、上記劣化度判断手段は、上記撮像画像から取得した輝度情報に基づいて上記半田材の劣化度を判断してもよい。   Further, the deterioration degree determination means may determine the deterioration degree of the solder material based on luminance information acquired from the captured image.

半田材表面の凹凸に由来する上記撮像画像の変化のひとつとして輝度の変化を挙げることができる。すなわち、半田材表面の凹凸が増加すれば、当該半田材表面を撮像した撮像画像における輝度のばらつきが大きくなる。   One of the changes in the captured image derived from the unevenness of the solder material surface is a change in luminance. That is, if the unevenness on the surface of the solder material increases, the luminance variation in the captured image obtained by imaging the surface of the solder material increases.

そこで、上記の構成では、劣化度判断手段は、上記撮像画像から輝度情報を抽出し、当該輝度情報を基に上記半田材の劣化度を判断する。そのため、複雑な処理を行うことなく、簡単に上記半田材の劣化度を算出することができる。   Therefore, in the above configuration, the deterioration degree determination means extracts luminance information from the captured image, and determines the deterioration degree of the solder material based on the luminance information. Therefore, it is possible to easily calculate the degree of deterioration of the solder material without performing complicated processing.

また、本発明の半田材劣化度判断装置は、上記半田材の種類および組成に関する情報と撮像条件に関する情報との少なくとも一方を含むパラメータを取得するパラメータ取得手段をさらに備え、上記劣化度判断手段は、さらに、上記パラメータに基づいて上記半田材の劣化度を判断してもよい。   Further, the solder material deterioration degree judging device of the present invention further comprises parameter obtaining means for obtaining a parameter including at least one of information relating to the kind and composition of the solder material and information relating to the imaging condition, and the deterioration degree judging means includes Further, the degree of deterioration of the solder material may be determined based on the parameter.

上記の構成では、パラメータ取得手段が上記半田材の種類や撮像条件に関するパラメータを取得し、当該パラメータに基づいて劣化度判断手段が上記半田材の劣化度を判断する。そのため、半田材の種類・組成や撮像条件が測定ごとに異なる場合であっても、半田材の種類・組成や撮像条件に関する情報をパラメータ取得手段を介して取得することにより、劣化度判断手段は、半田材の種類・組成や撮像条件に応じた劣化度判断を行うことができる。   In the above configuration, the parameter acquisition unit acquires parameters relating to the type of the solder material and the imaging conditions, and the deterioration level determination unit determines the deterioration level of the solder material based on the parameters. Therefore, even when the type / composition of the solder material and the imaging conditions are different for each measurement, the deterioration degree judging means is obtained by acquiring information about the type / composition of the solder material and the imaging conditions via the parameter acquiring means. Therefore, it is possible to determine the degree of deterioration according to the type / composition of the solder material and the imaging conditions.

本発明に係る半田印刷機は、上記の課題を解決するために、塗布具により開口部を有するマスクに半田材を塗布することにより、上記開口部を介して基板に上記半田材を印刷する半田印刷機であって、上記塗布具の動作を検出する検出部と、上記マスクに塗布された上記半田材の表面に検査光を照射する照明部と、上記検出部の検出結果に基づいて、上記照明部によって照射された検査光の下で、上記マスクに塗布された上記半田材の表面を撮像する撮像部と、上記撮像部によって撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断手段とを備えることを特徴としている。   In order to solve the above problems, a solder printing machine according to the present invention applies a solder material to a mask having an opening with an applicator, thereby printing the solder material on a substrate through the opening. A printer, a detection unit for detecting the operation of the applicator, an illumination unit for irradiating the surface of the solder material applied to the mask with inspection light, and a detection result of the detection unit, An imaging unit that images the surface of the solder material applied to the mask under the inspection light irradiated by the illumination unit, and a degree of deterioration of the solder material is determined based on the captured image captured by the imaging unit It is characterized by comprising a deterioration degree judging means.

上記の構成では、塗布具によって半田材がマスクに塗布されたことを検出部が検出すると、撮像部が上記半田材の表面を撮像する。この構成により、半田印刷が終了するとすぐに撮像部による撮像が行われる。このとき、上記半田材の表面に凹凸が形成されていると、照明部から照射された検査光の正反射成分の一部が撮像部に入射する。そして、当該撮像部によって撮像された撮像画像に基づいて劣化度判断手段が上記半田材の劣化度を判断する。   In the above configuration, when the detection unit detects that the solder material is applied to the mask by the applicator, the imaging unit images the surface of the solder material. With this configuration, imaging by the imaging unit is performed as soon as solder printing is completed. At this time, if irregularities are formed on the surface of the solder material, a part of the regular reflection component of the inspection light emitted from the illumination unit enters the imaging unit. Then, the deterioration degree determination means determines the deterioration degree of the solder material based on the captured image picked up by the image pickup unit.

上記の構成により、短時間で簡単に半田材の劣化度を判断でき、しかも、少量の半田材であってもその劣化度を判断できる。そのため、半田印刷の工程と並行して、すなわち、半田印刷の工程を止めることなくリアルタイムで、半田材の劣化度を判断できる。   With the configuration described above, the degree of deterioration of the solder material can be easily determined in a short time, and the degree of deterioration can be determined even with a small amount of solder material. Therefore, the degree of deterioration of the solder material can be determined in parallel with the solder printing process, that is, in real time without stopping the solder printing process.

また、上記劣化度判断手段は、上記撮像画像から取得した輝度情報に基づいて上記半田材の劣化度を判断してもよい。   Further, the deterioration degree determination means may determine the deterioration degree of the solder material based on luminance information acquired from the captured image.

上記の構成では、劣化度判断手段は、上記撮像画像から輝度情報を抽出し、当該輝度情報を基に上記半田材の劣化度を判断する。そのため、複雑な処理を行うことなく、簡単に短時間で上記半田材の劣化度を判断することができ、半田印刷の工程を止めることなくリアルタイムで半田材の劣化度を判断することができる。   In the above configuration, the deterioration degree determination means extracts luminance information from the captured image, and determines the deterioration degree of the solder material based on the luminance information. Therefore, the degree of deterioration of the solder material can be easily determined in a short time without performing complicated processing, and the degree of deterioration of the solder material can be determined in real time without stopping the solder printing process.

また、本発明の半田印刷機は、上記半田材に関する情報と撮像条件に関する情報との少なくとも一方を含むパラメータを取得するパラメータ取得手段をさらに備え、上記劣化度判断手段は、さらに、上記パラメータに基づいて上記半田材の劣化度を判断してもよい。   The solder printing machine of the present invention further includes parameter acquisition means for acquiring a parameter including at least one of information relating to the solder material and information relating to imaging conditions, and the deterioration degree determination means is further based on the parameter. The degree of deterioration of the solder material may be determined.

上記の構成では、パラメータ取得手段が上記半田材の種類や撮像条件に関するパラメータを取得し、当該パラメータに基づいて劣化度判断手段が上記半田材の劣化度を算出する。そのため、半田印刷において用いられる半田材の種類および組成や当該半田材の印刷環境(撮像条件)が異なる場合であっても、劣化度の判断に必要な情報をパラメータ取得手段を介して取得することにより、劣化度判断手段は、上記印刷環境(撮像条件)に対応した劣化度の判断を行うことができる。   In the above configuration, the parameter acquisition unit acquires parameters related to the type of solder material and the imaging conditions, and the deterioration level determination unit calculates the deterioration level of the solder material based on the parameters. Therefore, even if the type and composition of the solder material used in solder printing and the printing environment (imaging conditions) of the solder material are different, information necessary for determining the degree of deterioration is acquired via the parameter acquisition means. Thus, the deterioration degree determination means can determine the deterioration degree corresponding to the printing environment (imaging condition).

さらに、本発明の半田印刷機は、上記劣化度判断手段の判断結果に基づいて印刷条件を変更する制御手段を備えてもよい。   Furthermore, the solder printer of the present invention may include a control unit that changes a printing condition based on a determination result of the deterioration degree determination unit.

上記の構成では、劣化度判断手段が半田材の劣化度をリアルタイムに判断しつつ、制御手段が劣化度判断手段の判断結果に基づいて半田印刷条件を最適化する。そのため、半田材の劣化度が高まるのに伴い、印刷速度や塗布具の印圧などを調節することができる。その結果、使用している半田材の劣化度に応じて最適な印刷状態を維持しながら半田印刷を行うことができる。   In the above configuration, the deterioration degree determination unit determines the deterioration degree of the solder material in real time, and the control unit optimizes the solder printing conditions based on the determination result of the deterioration degree determination unit. Therefore, as the degree of deterioration of the solder material increases, the printing speed and the printing pressure of the applicator can be adjusted. As a result, it is possible to perform solder printing while maintaining an optimal printing state according to the degree of deterioration of the solder material being used.

本発明の半田材劣化度判断方法は、上記の課題を解決するために、半田材の表面に検査光を照射する照明工程と、上記照明工程において照射された上記半田材の表面を撮像する撮像工程と、上記撮像工程において撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断工程とを含むことを特徴としている。   In order to solve the above-described problems, the solder material deterioration degree determination method of the present invention is configured to illuminate the surface of the solder material with inspection light, and to capture an image of the surface of the solder material irradiated in the illumination step. And a deterioration degree determination step of determining the degree of deterioration of the solder material based on the captured image captured in the imaging step.

上記の構成により、半田材に接触することなく、短時間で簡単に半田材の劣化度を判断でき、しかも、少量の半田材であってもその劣化度を判断することができる。   With the above configuration, the degree of deterioration of the solder material can be easily determined in a short time without contacting the solder material, and the degree of deterioration can be determined even with a small amount of solder material.

本発明の半田材劣化度判断方法は、上記の課題を解決するために、塗布具により開口部を有するマスクに半田材を塗布することにより、上記開口部を介して基板に上記半田材を印刷する半田印刷機において、上記マスクに塗布された半田材の劣化度を判断する半田材劣化度判断方法であって、上記塗布具の動作を検出する検出工程と、上記マスクに塗布された上記半田材の表面に検査光を照射する照明工程と、上記検出工程において得られた検出結果に基づいて、上記照明工程において照射された検査光の下で、上記マスクに塗布された上記半田材の表面を撮像する撮像工程と、上記撮像工程において撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断工程とを含むことを特徴としている。   In order to solve the above-described problem, the solder material deterioration degree determination method of the present invention prints the solder material on the substrate through the opening by applying the soldering material to the mask having the opening with an applicator. A solder material deterioration degree determination method for determining a deterioration degree of a solder material applied to the mask in a solder printer, wherein a detection step of detecting an operation of the applicator and the solder applied to the mask An illumination process for irradiating the surface of the material with inspection light, and a surface of the solder material applied to the mask under the inspection light irradiated in the illumination process based on the detection result obtained in the detection process And a deterioration degree determining step of determining the deterioration degree of the solder material based on the captured image picked up in the imaging step.

上記の構成により、半田印刷の工程を止めることなく半田材の劣化度を短時間に簡易に判断することができる。   With the above configuration, it is possible to easily determine the degree of deterioration of the solder material in a short time without stopping the solder printing process.

なお、上記半田材劣化度判断装置および半田印刷機は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを上記各手段として動作させることにより上記半田材劣化度判断装置および半田印刷機をコンピュータにて実現させる半田材劣化度判断装置および半田印刷機の半田材劣化度判断プログラム、半田印刷プログラムおよびそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も本発明の範疇に入る。   The solder material deterioration degree judging device and the solder printing machine may be realized by a computer. In this case, the solder material deterioration degree judging device and the solder printing machine are operated by operating the computer as the respective means. A solder material deterioration degree determination device, a solder printing machine deterioration degree determination program for a solder printer, a solder printing program, and a computer-readable recording medium recording the same are also included in the scope of the present invention.

本発明に係る半田材劣化度判断装置は、以上のように、半田材の表面に検査光を照射する照明部と、上記照明部によって照射された上記半田材の表面を撮像する撮像部と、上記撮像部によって撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断手段とを備える構成である。   The solder material deterioration degree judging device according to the present invention, as described above, an illumination unit that irradiates the surface of the solder material with inspection light, an imaging unit that images the surface of the solder material irradiated by the illumination unit, Deterioration degree determination means for determining the deterioration degree of the solder material based on the captured image captured by the imaging unit.

それゆえ、半田材に接触することなく、短時間で簡単に半田材の劣化度を判断でき、しかも、少量の半田材であってもその劣化度を判断できることができるという効果を奏する。   Therefore, it is possible to easily determine the degree of deterioration of the solder material in a short time without coming into contact with the solder material, and to determine the degree of deterioration even with a small amount of solder material.

本発明に係る半田印刷機は、以上のように、塗布具により開口部を有するマスクに半田材を塗布することにより、上記開口部を介して基板に上記半田材を印刷する半田印刷機であって、上記塗布具の動作を検出する検出部と、上記マスクに塗布された上記半田材の表面に検査光を照射する照明部と、上記検出部の検出結果に基づいて、上記照明部によって照射された検査光の下で、上記マスクに塗布された上記半田材の表面を撮像する撮像部と、上記撮像部によって撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断手段とを備えること構成である。   As described above, the solder printer according to the present invention is a solder printer that prints the solder material on the substrate through the opening by applying the solder material to the mask having the opening with the applicator. A detection unit that detects the operation of the applicator, an illumination unit that irradiates the surface of the solder material applied to the mask with inspection light, and an illumination unit that irradiates the detection unit based on the detection result of the detection unit. An imaging unit that images the surface of the solder material applied to the mask under the inspected light, and a deterioration degree determination that determines a deterioration level of the solder material based on a captured image captured by the imaging unit Means.

それゆえ、半田印刷の工程を止めることなく、短時間で簡単に半田材の劣化度を判断できるという効果を奏する。   Therefore, it is possible to easily determine the degree of deterioration of the solder material in a short time without stopping the solder printing process.

〔実施の形態1〕
本発明の実施の一形態について図1〜図7に基づいて説明すれば、以下のとおりである。本発明の半田材劣化度判断装置は、オフラインでもインラインでも使用可能であるが、本実施の形態では、オフラインにおける形態の一例について説明する。ここで、インラインとは、半田印刷の工程を止めることなく、上記工程と並行して上記半田印刷において使用される半田材の劣化度を判断する形態を意味する。一方、オフラインとは、半田印刷の工程とは独立して、半田材の劣化度を判断する形態を意味している。
[Embodiment 1]
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. The solder material deterioration degree determination apparatus of the present invention can be used both offline and inline. In this embodiment, an example of an offline form will be described. Here, the in-line means a form in which the degree of deterioration of the solder material used in the solder printing is determined in parallel with the above process without stopping the solder printing process. On the other hand, the off-line means a form in which the degree of deterioration of the solder material is determined independently of the solder printing process.

まず、図2を参照しつつ、本実施の形態において用いられる測定試料7の作製方法について説明する。   First, a manufacturing method of the measurement sample 7 used in the present embodiment will be described with reference to FIG.

図2は、本発明の半田材劣化度判断装置を用いて半田材の劣化度を判断するための測定試料を作製する方法を示す斜視図である。   FIG. 2 is a perspective view showing a method for producing a measurement sample for judging the degree of deterioration of the solder material using the solder material deterioration degree judging device of the present invention.

測定試料7は、本実施の形態にかかる半田材劣化度判断装置10の被検査体であり、平坦な板の表面に半田材が塗布されたものである。本実施の形態では、図2に示すように、簡易マスク6に半田材1を塗布することにより測定試料7を作製する。簡易マスク6は、型枠部分2(10×15mm)が抜かれたアルミテープ3(厚さ0.1mm)を銅版4に貼り付けたものである。上記型枠部分2に適量の半田材1を載せ、塗布具である手動スキージ5の一辺をアルミテープ3が添付された表面に密着させながら摺動させることにより、型枠部分2に半田材1が塗着される。一度の摺動で半田材が十分量塗着されない場合には、上記の操作を複数回繰り返す。   The measurement sample 7 is an object to be inspected of the solder material deterioration determination device 10 according to the present embodiment, and is obtained by applying a solder material to the surface of a flat plate. In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the measurement sample 7 is produced by applying the solder material 1 to the simple mask 6. The simple mask 6 is obtained by attaching an aluminum tape 3 (thickness 0.1 mm) from which a mold part 2 (10 × 15 mm) is removed to a copper plate 4. An appropriate amount of the solder material 1 is placed on the mold part 2 and slid while one side of the manual squeegee 5 as an applicator is in close contact with the surface to which the aluminum tape 3 is attached. Is applied. If a sufficient amount of solder material is not applied by one slide, the above operation is repeated a plurality of times.

なお、簡易マスク6の構成は、上記の構成に限定されるものではなく、適宜変更が可能である。ただし、型枠部分2の大きさが小さくなりすぎると、型枠部分2に塗着された半田材の表面を撮像することが困難になるため、型枠部分2は、撮像に適した大きさにすることが好ましい。   In addition, the structure of the simple mask 6 is not limited to said structure, It can change suitably. However, if the size of the mold part 2 becomes too small, it becomes difficult to image the surface of the solder material applied to the mold part 2, so that the mold part 2 has a size suitable for imaging. It is preferable to make it.

次に、図1を参照しつつ、本実施の形態にかかる半田材劣化度判断装置10の構成について説明する。   Next, the configuration of the solder material deterioration degree determination apparatus 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIG.

図1は、本実施の形態にかかる半田材劣化度判断装置10の構成を表す概略ブロック図である。   FIG. 1 is a schematic block diagram showing a configuration of a solder material deterioration degree judging device 10 according to the present embodiment.

本半田材劣化度判断装置10は、図1に示すように、測定試料7の表面に塗布された半田材1の劣化度を判断するものであって、測定試料7の表面に光を照射する照明部20、測定試料7に塗布された半田材1の表面を撮像する撮像部30、上記撮像部30によって撮像された画像に対して後述する所定の処理を施す劣化度判断手段としての画像処理部40、当該画像処理部40に判断に必要な情報を入力するとともに、画像処理部40の判断結果を出力するための入出力手段としての入出力部50を備えている。   As shown in FIG. 1, the solder material deterioration degree judging device 10 judges the degree of deterioration of the solder material 1 applied to the surface of the measurement sample 7, and irradiates the surface of the measurement sample 7 with light. Image processing as an illuminating unit 20, an imaging unit 30 that images the surface of the solder material 1 applied to the measurement sample 7, and a deterioration degree determination unit that performs predetermined processing to be described later on an image captured by the imaging unit 30 And an input / output unit 50 as input / output means for inputting information necessary for the determination to the image processing unit 40 and outputting the determination result of the image processing unit 40.

照明部20は、測定試料7の表面に対して検査光を照射できるように、測定試料7の斜め上方に位置している。照明部20が発する光の波長は、特に限定されず、可視光線であってもよいし、赤外線であってもよく、半田材表面の形状を撮像するのに適したものであればよい。また、照明部20が発する光の種類も、特に限定されず、通常の光線であってもよいし、レーザ光線であってもよく、半田材表面の形状を撮像するのに適したものであればよい。   The illumination unit 20 is positioned obliquely above the measurement sample 7 so that the surface of the measurement sample 7 can be irradiated with inspection light. The wavelength of the light emitted from the illuminating unit 20 is not particularly limited, and may be visible light or infrared light, as long as it is suitable for imaging the shape of the solder material surface. Also, the type of light emitted from the illumination unit 20 is not particularly limited, and it may be a normal light beam or a laser beam, which is suitable for imaging the shape of the solder material surface. That's fine.

撮像部30は、測定試料7に塗布された半田材1の表面に反射した光を受け取り、半田材1の表面形状を示す撮像画像を形成するものであり、半田材1の上方に位置している。この撮像部30として、例えば、CCDカメラやCCDラインセンサを使用することができる。撮像部30が検知できる光の種類は、照明部20が照射する検査光の種類と一致していればよい。また、撮像部30が撮像する範囲は、測定試料7に塗布された半田材1の領域の全部であってもよいし、一部であってもよく、再現性の高い(バラつきの少ない)測定結果が得られる範囲であればよい。   The imaging unit 30 receives light reflected on the surface of the solder material 1 applied to the measurement sample 7 and forms a captured image indicating the surface shape of the solder material 1, and is positioned above the solder material 1. Yes. As this imaging unit 30, for example, a CCD camera or a CCD line sensor can be used. The type of light that can be detected by the imaging unit 30 only needs to match the type of inspection light emitted by the illumination unit 20. In addition, the range captured by the imaging unit 30 may be the entire region of the solder material 1 applied to the measurement sample 7 or a part thereof, and measurement with high reproducibility (less variation). It may be in a range where results can be obtained.

画像処理部40は、半田材1の表面を撮像した撮像画像を基に当該半田材1が劣化しているかどうかを判断するものであり、半田材1の表面凹凸度を算出する凹凸度算出部41と、算出された上記凹凸度を基に当該半田材1の劣化度を判断する劣化度判断部42とを備えている。   The image processing unit 40 determines whether or not the solder material 1 is deteriorated based on a captured image obtained by imaging the surface of the solder material 1, and calculates the degree of unevenness of the surface of the solder material 1. 41 and a deterioration degree determination unit 42 that determines the deterioration degree of the solder material 1 based on the calculated degree of unevenness.

凹凸度算出部41は、上記撮像画像から半田材1の表面形状を示す表面形状情報を抽出し、当該表面形状情報を基に半田材1の表面の凹凸度を算出する。この凹凸度算出の方法については後述する。   The unevenness degree calculation unit 41 extracts surface shape information indicating the surface shape of the solder material 1 from the captured image, and calculates the unevenness degree of the surface of the solder material 1 based on the surface shape information. A method for calculating the degree of unevenness will be described later.

劣化度判断部42は、凹凸度算出部41によって算出された、半田材1の表面の凹凸度と、入力部51を介して入力される、後述するパラメータとに基づいて上記の劣化度を判断する。この劣化度の判断方法については後述する。   The deterioration degree determination unit 42 determines the deterioration degree based on the unevenness degree of the surface of the solder material 1 calculated by the unevenness degree calculation unit 41 and the parameters described later input via the input unit 51. To do. A method for determining the degree of deterioration will be described later.

また、入出力部50は、劣化度判断に関わる情報を入力する入力部51と、劣化度判断部によって得られた判断結果を出力する出力部52とを備えている。   The input / output unit 50 includes an input unit 51 that inputs information related to the deterioration degree determination, and an output unit 52 that outputs a determination result obtained by the deterioration degree determination unit.

入力部51は、半田材劣化度判断装置10の使用者が、半田材の劣化度を判断するのに必要なパラメータを入力するためのものであり、パラメータ取得手段として機能する。上記パラメータは、被検査体である半田材の種類や組成に関する情報や、撮像条件、例えば、照明部20から照射される検査光の種類や光量、に関する情報を含んでいる。入力部51は、上記使用者が上記パラメータを入力できるものであればよく、複数のボタン(キー)を有するものであってもよいし、タッチパネル式の設定操作部を有する表示装置であってもよい。   The input unit 51 is used by the user of the solder material deterioration degree determination apparatus 10 to input parameters necessary for determining the deterioration degree of the solder material, and functions as a parameter acquisition unit. The parameters include information on the type and composition of the solder material that is the object to be inspected, and information on the imaging conditions, for example, the type and amount of the inspection light emitted from the illumination unit 20. The input unit 51 may be anything as long as the user can input the parameters, may have a plurality of buttons (keys), or may be a display device having a touch panel type setting operation unit. Good.

上記パラメータの入力形式は、特に限定されず、上記表示装置に表示された所定のテーブルの中から選択する形式にしてもよいし、半田材の名称や撮像条件に関する数値を上記使用者が入力する形式にしてもよい。   The input format of the parameters is not particularly limited, and may be a format selected from a predetermined table displayed on the display device, or the user inputs numerical values related to the name of the solder material and the imaging conditions. It may be formatted.

出力部52は、劣化度判断部42の判断結果を上記使用者に通知するものである。出力部52は、液晶画面等を有する表示装置(図示せず)を有するものであってもよいし、紙媒体によって上記の通知を行うプリンタ(図示せず)を備えていてもよいし、音声によって上記の通知を行うスピーカー(図示せず)を有するものであってもよい。また、出力部52は、入力部51と独立していてもよいし、一体となっていてもよい。   The output unit 52 notifies the determination result of the deterioration level determination unit 42 to the user. The output unit 52 may include a display device (not shown) having a liquid crystal screen or the like, or may include a printer (not shown) that performs the above notification using a paper medium. May have a speaker (not shown) for performing the above notification. The output unit 52 may be independent from the input unit 51 or may be integrated.

次に、図1および図3を参照しつつ、半田材劣化度判断装置10における処理の大まかな流れについて説明する。   Next, a general flow of processing in the solder material deterioration degree determination apparatus 10 will be described with reference to FIGS. 1 and 3.

図3は、本発明の半田材劣化度判断装置をオフラインで用いた場合の実施形態の一例を示す模式図である。   FIG. 3 is a schematic diagram showing an example of an embodiment when the solder material deterioration degree judging device of the present invention is used offline.

半田材1が塗着された測定試料7は、撮像部30の直下に配置され、照明部20から発せられた検査光が照射される。測定試料7に照射された上記検査光の正反射成分の一部は撮像部30の方向に反射する。撮像部30は、測定試料7の表面に反射した上記の正反射成分の一部を捉えて、測定試料7の表面を撮像する。   The measurement sample 7 to which the solder material 1 is applied is disposed immediately below the imaging unit 30 and irradiated with inspection light emitted from the illumination unit 20. A part of the regular reflection component of the inspection light irradiated on the measurement sample 7 is reflected in the direction of the imaging unit 30. The imaging unit 30 captures a part of the regular reflection component reflected on the surface of the measurement sample 7 and images the surface of the measurement sample 7.

撮像部30によって撮像された撮像画像は、凹凸度算出部41に送られる。凹凸度算出部41は、上記撮像画像から輝度情報を抽出し、当該輝度情報から表面凹凸度を算出する。上記表面凹凸度は、半田材1の表面にどの程度凹凸があるのかを表す値であり、半田材1の表面が粗くなれば上記表面凹凸度は高まる。上記の表面凹凸度の算出方法については後述する。   The captured image captured by the imaging unit 30 is sent to the unevenness calculation unit 41. The unevenness degree calculation unit 41 extracts luminance information from the captured image, and calculates the surface unevenness degree from the luminance information. The surface unevenness is a value representing how uneven the surface of the solder material 1 is. The surface unevenness increases as the surface of the solder material 1 becomes rough. A method for calculating the degree of surface irregularity will be described later.

凹凸度算出部41によって算出された表面凹凸度に関する情報は、劣化度判断部42に送られる。劣化度判断部42では、算出された半田材1の凹凸度と所定の値(基準値)との相対値を算出し、当該相対値の大きさから半田材1の劣化度を算出する。すなわち、どの程度半田材の表面凹凸度が高まれば当該半田材は劣化しているのかという基準値(閾値)を予め設定しておき、当該基準に基づいて半田材の劣化度を判定する。   Information about the surface unevenness calculated by the unevenness calculating unit 41 is sent to the deterioration determining unit 42. The deterioration degree determination unit 42 calculates a relative value between the calculated unevenness degree of the solder material 1 and a predetermined value (reference value), and calculates the deterioration degree of the solder material 1 from the magnitude of the relative value. That is, a reference value (threshold value) is set in advance as to how much the surface unevenness of the solder material is deteriorated, and the deterioration degree of the solder material is determined based on the reference.

そして、劣化度判断部42によって導き出された判断結果は、出力部52によって出力される。出力部52による出力は、半田材劣化度判断装置の操作者に対して液晶画面等を有する表示装置(図示せず)を介して行うものであってもよいし、プリンタ等(図示せず)によって紙媒体に出力するものであってもよいし、音声を伴っていてもよい。   Then, the determination result derived by the deterioration degree determination unit 42 is output by the output unit 52. The output by the output unit 52 may be performed via a display device (not shown) having a liquid crystal screen or the like to the operator of the solder material deterioration degree judging device, or a printer or the like (not shown). May be output to a paper medium or may be accompanied by sound.

次に、図4〜図7を参照しつつ、本発明の半田材劣化度判断方法の原理について、説明する。   Next, the principle of the solder material deterioration degree determination method of the present invention will be described with reference to FIGS.

図4は、新品および劣化品の半田材の表面を撮像した画像を示す図である。   FIG. 4 is a diagram illustrating an image obtained by imaging the surface of a new and deteriorated solder material.

図5は、半田材の表面凹凸度と粘度との相関関係を示すグラフである。   FIG. 5 is a graph showing the correlation between the surface roughness of the solder material and the viscosity.

図6は、本実施の形態における半田材表面状態の検出原理を示す模式図である。   FIG. 6 is a schematic diagram showing the principle of detection of the solder material surface state in the present embodiment.

図4に示すように、半田材は劣化に伴い表面の凹凸度が高まる。この現象は、劣化に伴い半田材の粘度が高まることに起因している(図5参照)。すなわち、半田材の劣化度と表面凹凸度と粘度とは相関関係にあり、半田材の劣化が進むと、粘度が向上しその結果として半田材の表面凹凸度が高まる。そのため、半田材の表面凹凸度を測定することにより、当該半田材の劣化度を算出することができる。   As shown in FIG. 4, the unevenness of the surface increases as the solder material deteriorates. This phenomenon is caused by an increase in the viscosity of the solder material as it deteriorates (see FIG. 5). That is, the degree of deterioration of the solder material, the degree of surface unevenness, and the viscosity are correlated, and as the deterioration of the solder material proceeds, the viscosity is improved and as a result, the degree of surface unevenness of the solder material increases. Therefore, the degree of deterioration of the solder material can be calculated by measuring the degree of surface irregularity of the solder material.

半田材の表面凹凸度は、図6に示す原理に基づいて検出される。測定試料7に対して斜め方向に位置する照明部20から照射された検査光は、半田材1の表面に反射する。このとき、半田材1の表面に凹凸がない場合、すなわち、新品の半田材の場合には、上記検査光は一様に照明部20とは反対の方向に正反射する。このため、撮像部30は、輝度ばらつきの少ない画像を撮像する。   The surface unevenness degree of the solder material is detected based on the principle shown in FIG. The inspection light irradiated from the illumination unit 20 located obliquely with respect to the measurement sample 7 is reflected on the surface of the solder material 1. At this time, when the surface of the solder material 1 is not uneven, that is, in the case of a new solder material, the inspection light is regularly regularly reflected in the direction opposite to the illumination unit 20. For this reason, the imaging unit 30 captures an image with little luminance variation.

これに対して、半田材1の表面に凹凸がある場合、すなわち劣化した半田材の場合には、上記検査光の正反射成分の一部が撮像部30に入射する。そのため、半田材1の表面を撮像した撮像画像の一部の輝度が高まる。その結果、劣化した半田材の表面を撮像した撮像画像においては、輝度のばらつきが大きくなる。   On the other hand, when the surface of the solder material 1 is uneven, that is, in the case of a deteriorated solder material, a part of the regular reflection component of the inspection light enters the imaging unit 30. Therefore, the luminance of a part of the captured image obtained by imaging the surface of the solder material 1 is increased. As a result, in the captured image obtained by imaging the surface of the deteriorated solder material, the luminance variation becomes large.

ここで、上記表面凹凸度の算出方法について具体的に説明する。   Here, the calculation method of the surface unevenness will be specifically described.

半田材の表面凹凸度は、当該半田材の表面を撮像した撮像画像に基づいて算出される。その算出方法はどのようなものであってもよいが、本実施の形態では、上記撮像画像から抽出した輝度情報(輝度値)を基に上記表面凹凸度を算出する方法を用いる。   The degree of unevenness of the surface of the solder material is calculated based on a captured image obtained by imaging the surface of the solder material. Any calculation method may be used, but in the present embodiment, a method of calculating the degree of surface unevenness based on luminance information (luminance value) extracted from the captured image is used.

上記輝度値を基に上記表面凹凸度を算出する方法も複数考えられるが、本実施の形態では、上記輝度値の標準偏差から上記表面凹凸度を算出する方法を用いる。   There are a plurality of methods for calculating the degree of surface irregularity based on the luminance value, but in this embodiment, a method for calculating the degree of surface irregularity from the standard deviation of the luminance value is used.

上記輝度値の標準偏差から上記表面凹凸度を算出する方法は、上記撮像画像における輝度値のばらつき(標準偏差)から上記表面凹凸度を算出するものである。この方法では、まず、上記撮像画像において特定の面積を有する領域を設定する。そして、上記領域内における平均輝度値を算出する。上記のように算出された平均値と上記領域内における各画素ごとの輝度値(測定値)、及び上記領域内の画素数(データ数)を用いて以下の数式(数1)に当てはめ、標準偏差を求めて、この標準偏差を表面凹凸度として使用する。   The method of calculating the surface unevenness from the standard deviation of the brightness value is to calculate the surface unevenness from the variation (standard deviation) of the brightness value in the captured image. In this method, first, a region having a specific area is set in the captured image. Then, an average luminance value in the area is calculated. The average value calculated as described above, the luminance value (measured value) for each pixel in the region, and the number of pixels in the region (number of data) are applied to the following formula (Equation 1), and the standard The deviation is obtained, and this standard deviation is used as the degree of surface irregularity.

上記のように算出された、半田材1の表面凹凸度に基づいて、劣化度判断部42が当該半田材1の劣化度を判断する。どの程度表面凹凸度が高まれば、その半田材が劣化していると判断するのかという基準は、半田材の種類や、半田材の組成、すなわち、固体の金属ボールとフラックスとの混合割合、によって異なる。また、撮像条件、例えば、照明部20の検査光の光量や種類、によっても上記基準が異なる場合がある。常に同じ組成の半田材を用いて、同じ撮像条件下で上記劣化度を判断する場合には、劣化度判断部42が有する補助記憶部(図示せず)に格納された所定の基準値(閾値)を用いて、上記劣化度を判断すればよい。すなわち、算出された上記表面凹凸度と上記基準値とを比較し、当該表面凹凸度が当該基準値を上回っていた場合に被検査体の半田材は劣化していると判断される。   Based on the surface unevenness degree of the solder material 1 calculated as described above, the deterioration degree determination unit 42 determines the deterioration degree of the solder material 1. The standard of how much the surface roughness is judged to be that the solder material has deteriorated depends on the type of solder material and the composition of the solder material, that is, the mixing ratio of solid metal balls and flux. Different. Moreover, the said reference | standard may change with imaging conditions, for example, the light quantity and kind of the test | inspection light of the illumination part 20. When using the same composition of solder material and determining the above-mentioned deterioration level under the same imaging conditions, a predetermined reference value (threshold value) stored in an auxiliary storage unit (not shown) included in the deterioration level determination unit 42 is used. ) To determine the degree of deterioration. That is, the calculated surface irregularity is compared with the reference value, and when the surface irregularity exceeds the reference value, it is determined that the solder material of the object to be inspected is deteriorated.

一方、半田材の組成や撮像条件が変わる場合には、測定ごとに、あるいは上記撮像条件が変わるごとに、劣化度の判断に必要な情報(パラメータ)を入力部51(パラメータ取得手段)を介して劣化度判断部42へ供給すればよい。そして、劣化度判断部42は、入力された上記パラメータと、半田材1の表面凹凸度とに基づいて、半田材1の劣化度を判断する。   On the other hand, when the composition of the solder material and the imaging conditions change, information (parameters) necessary for determining the degree of deterioration is input via the input unit 51 (parameter acquisition means) for each measurement or each time the imaging conditions change. Then, it may be supplied to the deterioration degree determination unit 42. Then, the deterioration degree determination unit 42 determines the deterioration degree of the solder material 1 based on the input parameters and the surface unevenness degree of the solder material 1.

例えば、照明部から照射される検査光の光量が少ない場合には、上記基準値(閾値)を下げる必要がある。   For example, when the amount of inspection light emitted from the illumination unit is small, the reference value (threshold value) needs to be lowered.

上記パラメータの入力形式は、上記使用者が上記基準値を直接入力する形式であってもよいし、上記使用者が半田材の種類や組成、撮像条件を入力する形式にして、入力された条件に相当する上記基準値を劣化度判断部42が算出するようにしてもよい。   The parameter input format may be a format in which the user directly inputs the reference value, or a format in which the user inputs the type, composition, and imaging conditions of the solder material. The deterioration level determination unit 42 may calculate the reference value corresponding to the above.

劣化度判断部42による判断結果は、「劣化している」または「劣化していない」という二者択一のものであってもよいし、劣化度を数段階にレベル分けしたものであってもよい。また、上記判断結果に加えて、上記表面凹凸度を数値として表示してもよい。   The determination result by the deterioration degree determination unit 42 may be one of “degraded” or “not deteriorated”, or the deterioration degree is divided into several levels. Also good. Further, in addition to the determination result, the surface unevenness degree may be displayed as a numerical value.

上述の説明では、表面凹凸度の算出方法として、輝度値の標準偏差から上記表面凹凸度を算出する方法について述べたが、上記隣接する画素間の輝度値の差の平均値から上記表面凹凸度を算出する方法を用いてもよい。   In the above description, the method for calculating the surface unevenness from the standard deviation of the luminance values is described as the method for calculating the surface unevenness, but the surface unevenness is calculated from the average value of the luminance values between the adjacent pixels. You may use the method of calculating.

図7は、半田材の表面凹凸度の算出方法を説明するための図である。   FIG. 7 is a diagram for explaining a method of calculating the surface irregularity degree of the solder material.

この方法では、まず、図7に示すように、上記撮像画像のある画素(ここでは、a22と称する)における輝度値と、上記画素a22の周囲の8画素(a11〜13、a21、a23、a31〜33)における輝度値との差を算出し加算する。そして、上記算出を設定された領域内の全画素に対して行い、算出した値を合計する。合計した値を領域内の画素数で割ることにより、隣接する画素間の輝度差の平均値を算出する。
以上の算出を下記の数式(数2)に表される計算によって行う。
In this method, first, as shown in FIG. 7, the luminance value in a certain pixel (referred to herein as a22) of the captured image and eight pixels (a11-13, a21, a23, a31) around the pixel a22. The difference from the luminance value in (33) is calculated and added. Then, the above calculation is performed for all the pixels in the set area, and the calculated values are summed. By dividing the total value by the number of pixels in the region, an average value of luminance differences between adjacent pixels is calculated.
The above calculation is performed by the calculation represented by the following mathematical formula (Equation 2).

そして、算出された隣接する画素間の輝度差の平均値を表面凹凸度として使用する。 And the average value of the brightness | luminance difference between the adjacent pixels calculated is used as a surface unevenness degree.

上記のように算出された表面凹凸度と、上述した基準値(閾値)との差を求め、上記表面凹凸度が上記基準値を上回っていた場合に、被検査体の半田材は劣化していると判断する。また、上記表面凹凸度と上記基準値との差(相対値)に基づいて劣化度を段階的にレベル分けしてもよい。   The difference between the surface unevenness calculated as described above and the above-described reference value (threshold value) is obtained, and when the surface unevenness exceeds the reference value, the solder material of the object to be inspected deteriorates. Judge that Further, the degree of deterioration may be classified in stages based on the difference (relative value) between the surface roughness and the reference value.

上述の構成では、凹凸度算出部41が算出した凹凸度に基づいて劣化度判断部42が半田材1の劣化度を判断しているが、上記凹凸度を算出しない構成にしてもよい。その場合には、撮像部30が取得した、半田材1表面の撮像画像は、劣化度判断部42に送られ、当該撮像画像を基に劣化度判断部42が当該半田材1の劣化度を判断する。この場合の劣化度判断部42による劣化度判断方法としては、例えば、上記撮像画像の輝度のばらつきと半田材の劣化度との相関関係に基づいて、半田材の劣化度を判断する方法が挙げられる。すなわち、上記撮像画像の輝度のばらつきがどの程度高まれば半田材が劣化していると判断するのかという判断基準に基づいて、劣化度の判断を行ってもよい。   In the above configuration, the deterioration degree determination unit 42 determines the deterioration degree of the solder material 1 based on the unevenness degree calculated by the unevenness degree calculation unit 41. However, the unevenness degree may not be calculated. In that case, the captured image of the surface of the solder material 1 acquired by the imaging unit 30 is sent to the degradation level determination unit 42, and the degradation level determination unit 42 determines the degradation level of the solder material 1 based on the captured image. to decide. In this case, the deterioration level determination method by the deterioration level determination unit 42 includes, for example, a method of determining the deterioration level of the solder material based on the correlation between the luminance variation of the captured image and the deterioration level of the solder material. It is done. That is, the degree of deterioration may be determined based on a criterion for determining how much the luminance variation of the captured image is increased and determining that the solder material is deteriorated.

また、上述の構成では、上記撮像画像に基づいて凹凸度算出部41が凹凸度を算出しているが、上記撮像画像に基づいて被検査体である半田材1の粘度を算出してもよい。その場合には、粘度算出部(図示しない)を設け、撮像部30が取得した、半田材1の表面の撮像画像を当該粘度算出部に送り、当該粘度算出部が、例えば、上記撮像画像の輝度のばらつきと半田材の粘度との相関関係に基づいて、半田材1の粘度を判断する構成にしてもよい。そして、上記粘度算出部が算出した粘度に基づいて劣化度判断部42が半田材1の劣化度を判断してもよい。   In the above-described configuration, the unevenness degree calculation unit 41 calculates the unevenness degree based on the captured image. However, the viscosity of the solder material 1 that is an object to be inspected may be calculated based on the captured image. . In that case, a viscosity calculation unit (not shown) is provided, and the captured image of the surface of the solder material 1 acquired by the imaging unit 30 is sent to the viscosity calculation unit. The viscosity of the solder material 1 may be determined based on the correlation between the luminance variation and the viscosity of the solder material. Then, the degradation level determination unit 42 may determine the degradation level of the solder material 1 based on the viscosity calculated by the viscosity calculation unit.

以上のように、本実施の形態に係る半田材劣化度判断装置10は、半田材1の表面に検査光を照射する照明部20と、照明部20によって照射された半田材1の表面を撮像する撮像部30と、撮像部30によって撮像された撮像画像に基づいて半田材1の劣化度を判断する劣化度判断部42とを備える構成である。   As described above, the solder material deterioration degree determination apparatus 10 according to the present embodiment images the illumination unit 20 that irradiates the surface of the solder material 1 with the inspection light and the surface of the solder material 1 that is irradiated by the illumination unit 20. The image pickup unit 30 and the deterioration degree determination unit 42 that determines the deterioration degree of the solder material 1 based on the picked-up image picked up by the image pickup unit 30.

上記の構成によれば、照明部20が被検査体である半田材1の表面に検査光を照射し、撮像部30が半田材1の表面を撮像し、半田材1の表面形状情報を含む撮像画像を形成する。そして、上記撮像画像に基づいて劣化度判断手段が半田材1の劣化度を判断する。そのため、半田材に接触することなく、短時間で簡単に半田材の劣化度を判断できる。しかも、少量の半田材であってもその劣化度を判断できる。   According to said structure, the illumination part 20 irradiates the test | inspection light to the surface of the solder material 1 which is a to-be-inspected object, the imaging part 30 images the surface of the solder material 1, and includes the surface shape information of the solder material 1 A captured image is formed. Then, based on the captured image, the deterioration degree determination means determines the deterioration degree of the solder material 1. Therefore, it is possible to easily determine the degree of deterioration of the solder material in a short time without contacting the solder material. Moreover, the degree of deterioration can be determined even with a small amount of solder material.

また、本実施の形態に係る半田材劣化度判断装置10は、劣化度判断部42が、上記撮像画像から取得した輝度情報に基づいて半田材1の劣化度を判断する構成であってもよい。   Moreover, the solder material deterioration degree determination apparatus 10 according to the present embodiment may be configured such that the deterioration degree determination unit 42 determines the deterioration degree of the solder material 1 based on the luminance information acquired from the captured image. .

上記の構成によれば、劣化度判断部42は、上記撮像画像から輝度情報を抽出し、上記撮像画像の輝度のばらつきと半田材の劣化度との相関関係に基づいて、半田材1の劣化度を判断する。そのため、複雑な処理を行うことなく、短時間で半田材の劣化度を算出することができる。   According to the above configuration, the degradation level determination unit 42 extracts luminance information from the captured image, and based on the correlation between the luminance variation of the captured image and the degradation level of the solder material, the degradation of the solder material 1 Judge the degree. Therefore, the deterioration degree of the solder material can be calculated in a short time without performing complicated processing.

また、本実施の形態に係る半田材劣化度判断装置10は、半田材1の種類および組成に関する情報と撮像条件に関する情報との少なくとも一方を含むパラメータを取得するパラメータ取得手段としての入力部51をさらに備え、劣化度判断部42は、さらに、上記パラメータに基づいて上記の劣化度を判断する構成であってもよい。   In addition, the solder material deterioration degree determination apparatus 10 according to the present embodiment includes an input unit 51 as a parameter acquisition unit that acquires parameters including at least one of information on the type and composition of the solder material 1 and information on imaging conditions. Further, the deterioration degree determination unit 42 may further be configured to determine the deterioration degree based on the parameters.

上記の構成では、入力部51が半田材1の種類・組成や撮像条件に関するパラメータを取得するとともに、当該パラメータを劣化度判断部42に出力し、当該パラメータに基づいて劣化度判断部42が半田材1の劣化度を判断する。そのため、半田材1の種類・組成や撮像条件が測定ごとに異なる場合であっても、半田材1の種類・組成や撮像条件に関する情報を入力部51を介して取得することにより、劣化度判断部42は半田材1の種類・組成や撮像条件に応じた劣化度判断を行うことができる。   In the above configuration, the input unit 51 acquires parameters relating to the type / composition of the solder material 1 and the imaging conditions, and outputs the parameters to the deterioration level determination unit 42, and the deterioration level determination unit 42 performs soldering based on the parameters. The degree of deterioration of the material 1 is determined. Therefore, even if the type / composition of the solder material 1 and the imaging conditions are different for each measurement, it is possible to determine the degree of deterioration by acquiring information about the type / composition of the solder material 1 and the imaging conditions via the input unit 51. The unit 42 can determine the degree of deterioration according to the type and composition of the solder material 1 and the imaging conditions.

また、本実施の形態に係る半田材劣化度判断装置10は、半田材1の表面形状を示す撮像画像に基づいて半田材1の表面の凹凸度を算出する凹凸度算出部41と、凹凸度算出部41によって算出された上記凹凸度に基づいて半田材1の劣化度を判断する劣化度判断部42とを備える構成であってもよい。   In addition, the solder material deterioration degree determination device 10 according to the present embodiment includes an unevenness degree calculation unit 41 that calculates the unevenness degree of the surface of the solder material 1 based on a captured image indicating the surface shape of the solder material 1, and the unevenness degree. It may be configured to include a deterioration degree determination unit 42 that determines the deterioration degree of the solder material 1 based on the degree of unevenness calculated by the calculation unit 41.

上記の構成によれば、凹凸度算出部41が上記撮像画像を基に半田材1の表面の凹凸度を算出し、上記凹凸度と半田材の劣化度との相関関係に基づいて劣化度判断部42が半田材1の劣化度を判断する。そのため、半田材の表面の凹凸度を基に半田材の劣化度を短時間で簡単に判断することができる。   According to said structure, the unevenness | corrugation degree calculation part 41 calculates the unevenness | corrugation degree of the surface of the solder material 1 based on the said captured image, and a deterioration degree judgment is based on the correlation with the said unevenness | corrugation degree and the deterioration degree of a solder material. The part 42 determines the degree of deterioration of the solder material 1. Therefore, the degree of deterioration of the solder material can be easily determined in a short time based on the degree of unevenness on the surface of the solder material.

また、本実施の形態に係る半田材劣化度判断装置10は、半田材の表面に検査光を照射する照明部と、上記照明部によって照射された上記半田材の表面を撮像する撮像部と、上記撮像部によって撮像された撮像画像から上記半田材の表面形状情報を取得する表面形状情報取得部と、上記表面形状情報に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断部とを備える構成であってもよい。   Further, the solder material deterioration degree determination device 10 according to the present embodiment includes an illumination unit that irradiates the surface of the solder material with inspection light, an imaging unit that images the surface of the solder material irradiated by the illumination unit, A surface shape information acquisition unit that acquires surface shape information of the solder material from a captured image captured by the imaging unit, and a deterioration degree determination unit that determines a deterioration degree of the solder material based on the surface shape information. It may be a configuration.

また、本実施の形態に係る半田材劣化度判断装置10において、上記表面形状情報は、輝度情報であってもよい。   Further, in the solder material deterioration degree determination device 10 according to the present embodiment, the surface shape information may be luminance information.

また、本実施の形態に係る半田材劣化度判断装置10は、半田材に光を照射する照明部と、上記照明部により照射された半田材の表面を撮像する撮像部と、上記撮像部により撮像された画像から上記半田材の劣化度を計測する処理部と、上記処理部により得られた計測結果を表示および出力する出力部とを備える構成であってもよい。   Further, the solder material deterioration degree determination device 10 according to the present embodiment includes an illumination unit that irradiates light to the solder material, an imaging unit that images the surface of the solder material irradiated by the illumination unit, and the imaging unit. A configuration may be provided that includes a processing unit that measures the degree of deterioration of the solder material from a captured image and an output unit that displays and outputs the measurement result obtained by the processing unit.

〔実施の形態2〕
本発明の他の実施形態について図8〜図11に基づいて説明すれば、以下のとおりである。本実施の形態では、本発明の半田材劣化度測定をインラインで用いた場合の形態の一例について説明する。なお、実施の形態1と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。
[Embodiment 2]
The following will describe another embodiment of the present invention with reference to FIGS. In the present embodiment, an example of a mode in which the solder material deterioration degree measurement of the present invention is used in-line will be described. In addition, about the member similar to Embodiment 1, the same code | symbol is attached | subjected and the description is abbreviate | omitted.

まず、図8および図9を参照しつつ、本実施の形態にかかる半田印刷機100の構成について説明する。   First, the configuration of the solder printer 100 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 8 and 9.

図8は、本実施の形態にかかる半田印刷機100の構成を表す模式図である。   FIG. 8 is a schematic diagram showing the configuration of the solder printer 100 according to the present embodiment.

図9は、本実施の形態にかかる半田印刷機100の構成を表す平面図である。図9は、半田印刷機100を上観した図であり、この図には画像処理部40および入出力部50は図示されていない。   FIG. 9 is a plan view showing the configuration of the solder printer 100 according to the present embodiment. FIG. 9 is a top view of the solder printer 100, and the image processing unit 40 and the input / output unit 50 are not shown in this figure.

図8および図9に示すように、半田印刷機100は、半田材劣化度判断装置10の構成に加えて、半田材101をメタルマスク102に塗布するスキージ103と、スキージ103の動きを検出する検出部110とを備えている。   As shown in FIGS. 8 and 9, the solder printer 100 detects the movement of the squeegee 103 and the squeegee 103 that applies the solder material 101 to the metal mask 102 in addition to the configuration of the solder material deterioration degree determination device 10. And a detection unit 110.

半田印刷機100は、スキージ103により開口部を有するメタルマスク102に半田材101を塗布することにより、上記開口部を介して配線基板などの基板に半田材101を印刷する。半田材劣化度判断装置10とは異なり、半田印刷機100では、被検査体は上記メタルマスク上に塗布された半田材101であり、スキージ103による印刷工程と並行して、半田材101の劣化度が判断される。   The solder printing machine 100 prints the solder material 101 on a substrate such as a wiring board through the opening by applying the solder material 101 to the metal mask 102 having the opening with the squeegee 103. Unlike the solder material deterioration degree determination device 10, in the solder printer 100, the object to be inspected is the solder material 101 applied on the metal mask, and the solder material 101 deteriorates in parallel with the printing process by the squeegee 103. Degree is judged.

メタルマスク102は、被印刷物である基板(図示せず)の上に載置される金属プレートであり、特定のパターンの開口部(図示せず)を有している。スキージ103によってメタルマスク102に半田材101が塗布されると、上記開口部に充填された半田材101が上記基板に印刷される。   The metal mask 102 is a metal plate placed on a substrate (not shown) that is a substrate to be printed, and has an opening (not shown) with a specific pattern. When the solder material 101 is applied to the metal mask 102 by the squeegee 103, the solder material 101 filled in the opening is printed on the substrate.

スキージ103は、その一辺がメタルマスク102の上面に圧接するように配置された板状の塗布具である。スキージ103の素材は特に限定されず、ウレタンゴムや金属であってもよい。スキージ103は、メタルマスク102の上面を摺動することにより、半田材101をメタルマスク102の表面に塗布する。図8では、スキージ103はひとつしか示されていないが、複数のスキージを備える構成にしてもよい。   The squeegee 103 is a plate-shaped applicator arranged so that one side thereof is in pressure contact with the upper surface of the metal mask 102. The material of the squeegee 103 is not particularly limited, and may be urethane rubber or metal. The squeegee 103 applies the solder material 101 to the surface of the metal mask 102 by sliding on the upper surface of the metal mask 102. Although only one squeegee 103 is shown in FIG. 8, a configuration including a plurality of squeegees may be used.

検出部110は、スキージ103の動きを検出するものであり、例えば、光電センサなど、物体の動きを検出できるものであればよい。検出部110は、スキージ103が特定の位置に動いたことを検出し、その位置検出情報を撮像部30に出力する。上記の構成により、スキージ103による半田印刷工程が終了した時点で、撮像部30によって半田材101の表面を撮像することが可能となる。すなわち、上記特定の位置とは、半田印刷工程の終了時点におけるスキージ103の位置を意味しており、上記位置検出情報とは、半田印刷工程の終了情報であると理解できる。   The detection unit 110 detects the movement of the squeegee 103, and may be anything that can detect the movement of an object, such as a photoelectric sensor. The detection unit 110 detects that the squeegee 103 has moved to a specific position, and outputs the position detection information to the imaging unit 30. With the configuration described above, the surface of the solder material 101 can be imaged by the imaging unit 30 when the solder printing process by the squeegee 103 is completed. That is, the specific position means the position of the squeegee 103 at the end of the solder printing process, and the position detection information can be understood as the end information of the solder printing process.

また、スキージ103がどの位置に動いたときに1回の印刷工程が終了したと見なすか、換言すれば、スキージ103がどの位置に動いたときに撮像部30による撮像を行うかは、適宜設定すればよく、スキージ103がメタルマスク102の一方の端部に移動した時点でもよいし、スキージ103が上昇することによりメタルマスク102から離れた時点であってもよいし、スキージ103の上昇が完了した時点であってもよい。   In addition, the position at which the squeegee 103 is moved is regarded as the end of one printing process, in other words, the position at which the squeegee 103 is moved to be imaged by the imaging unit 30 is appropriately set. The squeegee 103 may be moved to one end of the metal mask 102, or may be separated from the metal mask 102 as the squeegee 103 is lifted. It may be a point in time.

照明部20は、半田材101の表面に対して検査光を照射できるように、半田材101の斜め上方に位置している。照明部20は、常に検査光を照射していてもよいし、撮像部30の撮像動作と連動して、撮像部30の撮像時にのみ検査光を照射してもよい。   The illumination unit 20 is located obliquely above the solder material 101 so that the surface of the solder material 101 can be irradiated with inspection light. The illumination unit 20 may always irradiate the inspection light, or may irradiate the inspection light only at the time of imaging by the imaging unit 30 in conjunction with the imaging operation of the imaging unit 30.

撮像部30は、半田材101の表面に反射した光を受け取り、上記半田材101の表面形状を示す撮像画像を形成するものであり、半田材101の上方に位置している。撮像部30は、検出部110から出力された上記位置検出情報に基づいて上記撮像画像を形成する、すなわち、半田材101の表面を撮像する。   The imaging unit 30 receives light reflected on the surface of the solder material 101 and forms a captured image indicating the surface shape of the solder material 101, and is positioned above the solder material 101. The imaging unit 30 forms the captured image based on the position detection information output from the detection unit 110, that is, images the surface of the solder material 101.

撮像部30が撮像する範囲は、半田材101が塗布されたメタルマスク102の領域のうち、上記基板と接触していない非接触領域であることが好ましい。上述したように、メタルマスク102は上記基板の上に載置されている。上記基板と接触している(上記基板を下敷きしている)メタルマスク102の接触領域においては、半田材101の塗布量が極めて少なくなる。なぜなら、上記基板を下敷きしているために、スキージ103の印圧が高くなり、スキージ103によって上記接触領域表面の半田材101ははがされやすくなるからである。そのため、信頼性の高い測定を行うには、上記非接触領域に塗布された半田材101の表面凹凸を撮像することが好ましい。   It is preferable that the imaging region 30 capture an image is a non-contact region that is not in contact with the substrate in the region of the metal mask 102 to which the solder material 101 is applied. As described above, the metal mask 102 is placed on the substrate. In the contact region of the metal mask 102 that is in contact with the substrate (underlying the substrate), the amount of solder material 101 applied is extremely small. This is because the printing pressure of the squeegee 103 becomes high because the substrate is laid down, and the solder material 101 on the surface of the contact area is easily peeled off by the squeegee 103. Therefore, in order to perform highly reliable measurement, it is preferable to image the surface irregularities of the solder material 101 applied to the non-contact region.

また、撮像部30が撮像する範囲は、メタルマスク102の上記開口部を除く領域であることが好ましい。なぜなら、一般に上記開口部の面積は狭く、上記開口部のみを撮像することは困難であるからである。   Moreover, it is preferable that the range imaged by the imaging unit 30 is a region excluding the opening of the metal mask 102. This is because the area of the opening is generally small and it is difficult to image only the opening.

次に、図10を参照しつつ、半田印刷機100における処理の大まかな流れについて説明する。   Next, a general flow of processing in the solder printer 100 will be described with reference to FIG.

図10は、半田印刷機100における処理の流れを表すフローチャートである。図10では、スキージ103の上昇が完了した時点で撮像部30による撮像を行う場合の処理の流れが示されている。   FIG. 10 is a flowchart showing the flow of processing in the solder printer 100. FIG. 10 shows the flow of processing when imaging by the imaging unit 30 is performed when the squeegee 103 is lifted.

半田印刷の1工程が終了し、スキージ103がメタルマスク102の上方へと移動すると、この移動を検出部110が検出する(ステップ1)。   When one step of the solder printing is completed and the squeegee 103 moves above the metal mask 102, the detection unit 110 detects this movement (step 1).

検出部110の検出結果(位置検出情報)は撮像部30に送られる。撮像部30は、上記位置検出情報を受け取ると、半田材101の表面を撮像する(ステップ2)。   The detection result (position detection information) of the detection unit 110 is sent to the imaging unit 30. When receiving the position detection information, the imaging unit 30 images the surface of the solder material 101 (step 2).

撮像部30によって撮像された撮像画像は、劣化度判断部42に送られる。劣化度判断部42は、上記撮像画像を基に半田材101が劣化しているかどうかを判断する(ステップ3)。   The captured image captured by the imaging unit 30 is sent to the degradation degree determination unit 42. The deterioration degree determination unit 42 determines whether or not the solder material 101 has deteriorated based on the captured image (step 3).

劣化度判断部42の判断結果は、出力部52に送られ、出力部52は上記判断結果を出力する(ステップ4)。   The determination result of the deterioration degree determination unit 42 is sent to the output unit 52, and the output unit 52 outputs the determination result (step 4).

上記の処理では、撮像部30によって撮像された撮像画像は、劣化度判断部42に送られ、上記撮像画像に基づき劣化度判断部42が半田材101の劣化度を判断している。しかしながら、実施の形態1において説明したように、上記撮像画像に基づいて半田材101の表面凹凸度を算出してもよいし、上記撮像画像に基づいて半田材101の粘度を算出してもよいし、算出された上記表面凹凸度または上記粘度に基づいて劣化度判断部42が半田材101の劣化度を判断してもよい。   In the processing described above, the captured image captured by the imaging unit 30 is sent to the degradation level determination unit 42, and the degradation level determination unit 42 determines the degradation level of the solder material 101 based on the captured image. However, as described in the first embodiment, the surface unevenness degree of the solder material 101 may be calculated based on the captured image, or the viscosity of the solder material 101 may be calculated based on the captured image. The deterioration degree determination unit 42 may determine the deterioration degree of the solder material 101 based on the calculated surface unevenness degree or the viscosity.

また、劣化度判断部42が、半田材101の劣化度が所定の値を超えたと判断した場合に、出力部52は、半田材101の劣化度が所定の値を超えたという旨を報知してもよい。この場合の報知方法として、「半田材が劣化しました」という文字を表示部(図示せず)に表示してもよいし、スピーカー(図示せず)から警報音を発してもよい。   Further, when the deterioration degree determination unit 42 determines that the deterioration degree of the solder material 101 has exceeded a predetermined value, the output unit 52 notifies that the deterioration degree of the solder material 101 has exceeded a predetermined value. May be. As a notification method in this case, a character “Solder material has deteriorated” may be displayed on a display unit (not shown), or an alarm sound may be emitted from a speaker (not shown).

また、図11に示すように、本実施の形態にかかる半田印刷機100は、印刷速度および/または印圧を制御する制御手段としての制御部120をさらに備えていてもよい。   As shown in FIG. 11, the solder printer 100 according to the present embodiment may further include a control unit 120 as a control unit that controls the printing speed and / or the printing pressure.

図11は、制御部120を備えた、本実施の形態にかかる半田印刷機100の構成を示す模式図である。   FIG. 11 is a schematic diagram showing a configuration of the solder printer 100 according to the present embodiment including the control unit 120.

制御部120は、劣化度判断部42から半田材101の劣化度の判断結果を受け取り、上記判断結果に基づいて自装置、すなわち、半田印刷機100の印刷速度および/または印圧を制御する。換言すれば、半田印刷機100は、制御部120を介して、半田材101の劣化度の判断結果をフィードバックすることにより、自装置の印刷速度および/または印圧を制御する。   The control unit 120 receives the determination result of the deterioration level of the solder material 101 from the deterioration level determination unit 42, and controls the printing speed and / or printing pressure of the own apparatus, that is, the solder printer 100, based on the determination result. In other words, the solder printing machine 100 controls the printing speed and / or printing pressure of its own device by feeding back the determination result of the degree of deterioration of the solder material 101 via the control unit 120.

上記印刷速度を制御する方法として、スキージ103の動作を制御することが挙げられる。具体的には、半田材101が劣化するのに伴い、スキージ103の動作速度を低下させる、すなわち、印刷速度を低下させることが好ましい。なぜなら、半田材101が劣化すると半田材101の粘度は高まり、印刷かすれが生じやすくなるからであり、印刷速度を低下させることにより、印刷かすれを防止しやすくなるからである。   Controlling the operation of the squeegee 103 is a method for controlling the printing speed. Specifically, it is preferable to reduce the operating speed of the squeegee 103 as the solder material 101 deteriorates, that is, to reduce the printing speed. This is because when the solder material 101 is deteriorated, the viscosity of the solder material 101 is increased and printing fading is likely to occur, and it is easy to prevent printing fading by reducing the printing speed.

上記印圧を制御する方法として、スキージ103の動作を制御することが挙げられる。具体的には、半田材101が劣化するのに伴い、スキージ103の動作圧力を上昇させる、すなわち、印圧を上昇させることが好ましい。なぜなら、半田材101が劣化すると半田材101の粘度は高まり、印刷かすれが生じやすくなるからであり、印圧を上昇させることにより、印刷かすれを防止しやすくなるからである。   One method for controlling the printing pressure is to control the operation of the squeegee 103. Specifically, it is preferable to increase the operating pressure of the squeegee 103, that is, increase the printing pressure as the solder material 101 deteriorates. This is because when the solder material 101 is deteriorated, the viscosity of the solder material 101 is increased, and printing fading is likely to occur, and by increasing the printing pressure, it is easy to prevent printing fading.

また、劣化度判断部42が、半田材101の劣化度が所定の値を超えたと判断した場合に、制御部120はスキージ103の動作を一時停止させてもよい。そして、上述したように、半田材101の劣化度が所定の値を超えた旨を報知し、半田印刷機100の使用者に半田材の交換を促せばよい。   Further, when the deterioration degree determination unit 42 determines that the deterioration degree of the solder material 101 exceeds a predetermined value, the control unit 120 may temporarily stop the operation of the squeegee 103. Then, as described above, the fact that the degree of deterioration of the solder material 101 has exceeded a predetermined value may be notified, and the user of the solder printer 100 may be prompted to replace the solder material.

以上のように、本実施の形態にかかる半田印刷機100は、スキージ103により開口部を有するメタルマスク102に半田材101を塗布することにより、基板に半田材101を塗布するものであって、スキージ103の動作を検出する検出部110と、メタルマスク102に塗布された半田材101の表面に検査光を照射する照明部20と、検出部110の検出結果に基づいて、照明部20によって照射された検査光の下で、メタルマスク102に塗布された半田材101の表面を撮像する撮像部30と、撮像部30によって撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断部42とを備える構成である。   As described above, the solder printing machine 100 according to the present embodiment applies the solder material 101 to the substrate by applying the solder material 101 to the metal mask 102 having the opening by the squeegee 103. Irradiation by the illumination unit 20 based on the detection unit 110 that detects the operation of the squeegee 103, the illumination unit 20 that irradiates the surface of the solder material 101 applied to the metal mask 102 with inspection light, and the detection result of the detection unit 110 The imaging unit 30 that images the surface of the solder material 101 applied to the metal mask 102 under the inspection light, and the deterioration that determines the degree of degradation of the solder material based on the captured image captured by the imaging unit 30 The degree determination unit 42 is provided.

上記の構成により、短時間で簡単に半田材の劣化度を判断でき、しかも、少量の半田材であってもその劣化度を判断できる。そのため、半田印刷の工程と並行して、すなわち、半田印刷の工程を止めることなくリアルタイムで、半田材の劣化度を判断できる。その結果、半田材の劣化進行が予測でき、適切なタイミングで半田材を交換できるため、半田材の劣化に伴う半田印刷不良を未然に防ぐことができる。よって、半田印刷ラインの稼働率を低下させることなく、半田印刷された基板の品質を維持することができる。   With the configuration described above, the degree of deterioration of the solder material can be easily determined in a short time, and the degree of deterioration can be determined even with a small amount of solder material. Therefore, the degree of deterioration of the solder material can be determined in parallel with the solder printing process, that is, in real time without stopping the solder printing process. As a result, the progress of deterioration of the solder material can be predicted, and the solder material can be exchanged at an appropriate timing, so that it is possible to prevent solder printing defects due to the deterioration of the solder material. Therefore, it is possible to maintain the quality of the solder-printed board without reducing the operating rate of the solder printing line.

また、本実施の形態にかかる半田印刷機100において、劣化度判断部42は、上記撮像画像から取得した輝度情報に基づいて半田材101の劣化度を判断する構成であってもよい。   In the solder printer 100 according to the present embodiment, the deterioration degree determination unit 42 may be configured to determine the deterioration degree of the solder material 101 based on the luminance information acquired from the captured image.

上記の構成によれば、劣化度判断部42は、上記撮像画像から輝度情報を抽出し、当該輝度情報を基に半田材101の劣化度を判断する。そのため、上記撮像画像の画像処理を行うだけで、簡単に短時間で半田材101の劣化度を判断することができる。その結果、半田印刷の工程を止めることなくリアルタイムで半田材の劣化度を判断することができる。   According to the above configuration, the deterioration degree determination unit 42 extracts luminance information from the captured image, and determines the deterioration degree of the solder material 101 based on the luminance information. Therefore, it is possible to easily determine the degree of deterioration of the solder material 101 in a short time simply by performing image processing on the captured image. As a result, the deterioration degree of the solder material can be determined in real time without stopping the solder printing process.

また、本実施の形態にかかる半田印刷機100は、半田材101の種類および組成に関わる情報と撮像条件に関する情報との少なくとも一方を含むパラメータを取得する入力部51をさらに備え、劣化度判断部42は、さらに、上記パラメータに基づいて半田材101の劣化度を判断する構成であってもよい。   The solder printer 100 according to the present embodiment further includes an input unit 51 that acquires a parameter including at least one of information related to the type and composition of the solder material 101 and information related to the imaging conditions, and a deterioration degree determination unit. Further, 42 may be configured to determine the degree of deterioration of the solder material 101 based on the above parameters.

上記の構成によれば、入力部51が半田材101の種類・組成に関するパラメータや照明部20から照射される検査光の光量などの撮像条件に関するパラメータを取得し、当該パラメータに基づいて劣化度判断部42が半田材101の劣化度を算出する。そのため、半田印刷機100において用いられる半田材の種類・組成や当該半田材の判断条件(印刷環境)が異なる場合であっても、適宜劣化度の判断に必要な情報を入力部51を介して劣化度判断部42に提供することにより、上記印刷条件(判断条件)に対応した最適な劣化度の判断を行うことができる。   According to the above configuration, the input unit 51 acquires parameters regarding the imaging conditions such as the parameters regarding the type and composition of the solder material 101 and the amount of the inspection light emitted from the illumination unit 20, and the deterioration degree is determined based on the parameters. The unit 42 calculates the degree of deterioration of the solder material 101. Therefore, even when the type and composition of the solder material used in the solder printing machine 100 and the judgment condition (printing environment) of the solder material are different, information necessary for judging the degree of deterioration is appropriately input via the input unit 51. By providing it to the deterioration degree determination unit 42, it is possible to determine the optimum deterioration degree corresponding to the printing condition (determination condition).

さらに、本実施の形態にかかる半田印刷機100は、劣化度判断部42の判断結果に基づいて自機の印刷条件を変更する制御部120を備える構成であってもよい。   Furthermore, the solder printer 100 according to the present embodiment may be configured to include a control unit 120 that changes the printing conditions of the own machine based on the determination result of the deterioration degree determination unit 42.

上記の構成によれば、劣化度判断部42が半田材101の劣化度をリアルタイムに判断しつつ、制御部120が劣化度判断部42の判断結果に基づいて自機の半田印刷条件を最適化する。そのため、使用している半田材の劣化度に応じて最適な印刷状態を維持しながら半田印刷を行うことができる。また、劣化度判断部42が、半田材101の劣化度が所定の値を超えたと判断した場合に、制御部120はスキージ103の動作を一時停止させることも可能となる。その結果、印刷不良状態のまま半田印刷機100が稼動し続けることを防止することができる。   According to the above configuration, the deterioration degree determination unit 42 determines the deterioration degree of the solder material 101 in real time, and the control unit 120 optimizes the solder printing conditions of the own machine based on the determination result of the deterioration degree determination unit 42. To do. Therefore, it is possible to perform solder printing while maintaining an optimal printing state according to the degree of deterioration of the solder material being used. Further, when the deterioration degree determination unit 42 determines that the deterioration degree of the solder material 101 exceeds a predetermined value, the control unit 120 can also temporarily stop the operation of the squeegee 103. As a result, it is possible to prevent the solder printer 100 from continuing to operate while in a defective printing state.

本実施の形態にかかる半田印刷機100は、スキージ103により開口部を有するメタルマスク102に半田材101を塗布することにより、基板に半田材101を塗布するものであって、スキージ103の動作を検出する検出部110と、メタルマスク102に塗布された半田材101の表面に検査光を照射する照明部20と、検出部110の検出結果に基づいて、照明部20によって照射された検査光の下で、メタルマスク102に塗布された半田材101の表面を撮像する撮像部30と、撮像部30によって撮像された撮像画像に基づいて半田材101の表面の凹凸度を算出する凹凸度算出部41と、凹凸度算出部41によって算出された上記凹凸度に基づいて半田材101の劣化度を判断する劣化度判断部42とを構成であってもよい。   The solder printing machine 100 according to the present embodiment applies the solder material 101 to the metal mask 102 having an opening by the squeegee 103, thereby applying the solder material 101 to the substrate. The detection unit 110 to detect, the illumination unit 20 that irradiates the surface of the solder material 101 applied to the metal mask 102 with the inspection light, and the inspection light irradiated by the illumination unit 20 based on the detection result of the detection unit 110 Below, the imaging part 30 which images the surface of the solder material 101 apply | coated to the metal mask 102, and the unevenness | corrugation degree calculation part which calculates the unevenness | corrugation degree of the surface of the solder material 101 based on the captured image imaged by the imaging part 30 41 and a deterioration degree determination unit 42 that determines the deterioration degree of the solder material 101 based on the unevenness degree calculated by the unevenness degree calculation part 41. .

本実施の形態にかかる半田印刷機100は、スキージ構造をもつ半田印刷機において、スキージの上昇完了を検知する検出部と、半田材に光を照射する照明部と、照明部により照射された半田材の表面を撮像する撮像部と、撮像部により撮像された画像から半田材の劣化度を計測する処理部と、計測結果を表示および外部出力する出力部とを備える構成であってもよい。   The solder printer 100 according to the present embodiment is a solder printer having a squeegee structure, and includes a detection unit that detects completion of the squeegee lift, an illumination unit that irradiates light to the solder material, and solder that is irradiated by the illumination unit. A configuration may be provided that includes an imaging unit that images the surface of the material, a processing unit that measures the degree of deterioration of the solder material from an image captured by the imaging unit, and an output unit that displays and outputs the measurement result to the outside.

最後に、半田材劣化度判断装置10、および半田印刷機100の各ブロックは、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにCPUを用いてソフトウェアによって実現してもよい。   Finally, each block of the solder material deterioration degree determination device 10 and the solder printer 100 may be configured by hardware logic, or may be realized by software using a CPU as follows.

すなわち、半田材劣化度判断装置10、および半田印刷機100、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するCPU(central processing unit)、上記プログラムを格納したROM(read only memory)、上記プログラムを展開するRAM(random access memory)、上記プログラムおよび各種データを格納するメモリ等の記憶装置(記録媒体)などを備えている。そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである半田材劣化度判断装置10、および半田印刷機100の制御プログラムのプログラムコード(実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム)をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、上記半田材劣化度判断装置10、および半田印刷機100に供給し、そのコンピュータ(またはCPU52やMPU)が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。   That is, the solder material deterioration degree judging device 10 and the solder printer 100, a CPU (central processing unit) for executing a control program instruction for realizing each function, a ROM (read only memory) storing the program, and the program A RAM (random access memory) to be developed, a storage device (recording medium) such as a memory for storing the program and various data, and the like are provided. An object of the present invention is to provide a computer program code (execution format program, intermediate code program, source program) of a control program for the solder material degradation degree determination device 10 and the solder printer 100 that is software for realizing the above-described functions. Is supplied to the solder material deterioration degree determination device 10 and the solder printer 100, and the computer (or CPU 52 or MPU) reads out and executes the program code recorded on the recording medium. Can also be achieved.

上記記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー(登録商標)ディスク/ハードディスク等の磁気ディスクやCD−ROM/MO/MD/DVD/CD−R等の光ディスクを含むディスク系、ICカード(メモリカードを含む)/光カード等のカード系、あるいはマスクROM/EPROM/EEPROM/フラッシュROM等の半導体メモリ系などを用いることができる。   Examples of the recording medium include tapes such as magnetic tapes and cassette tapes, magnetic disks such as floppy (registered trademark) disks / hard disks, and disks including optical disks such as CD-ROM / MO / MD / DVD / CD-R. Card system such as IC card, IC card (including memory card) / optical card, or semiconductor memory system such as mask ROM / EPROM / EEPROM / flash ROM.

また、半田材劣化度判断装置10、および半田印刷機100を通信ネットワークと接続可能に構成し、上記プログラムコードを通信ネットワークを介して供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、LAN、ISDN、VAN、CATV通信網、仮想専用網(virtual private network)、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、IEEE1394、USB、電力線搬送、ケーブルTV回線、電話線、ADSL回線等の有線でも、IrDAやリモコンのような赤外線、Bluetooth(登録商標)、802.11無線、HDR、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。なお、本発明は、上記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。   Further, the solder material deterioration degree determination device 10 and the solder printer 100 may be configured to be connectable to a communication network, and the program code may be supplied via the communication network. The communication network is not particularly limited. For example, the Internet, intranet, extranet, LAN, ISDN, VAN, CATV communication network, virtual private network, telephone line network, mobile communication network, satellite communication. A net or the like is available. Further, the transmission medium constituting the communication network is not particularly limited. For example, even in the case of wired such as IEEE 1394, USB, power line carrier, cable TV line, telephone line, ADSL line, etc., infrared rays such as IrDA and remote control, Bluetooth ( (Registered trademark), 802.11 wireless, HDR, mobile phone network, satellite line, terrestrial digital network, and the like can also be used. The present invention can also be realized in the form of a computer data signal embedded in a carrier wave in which the program code is embodied by electronic transmission.

このように本明細書において、手段とは必ずしも物理的手段を意味するものではなく、各手段の機能がソフトウェアによって実現される場合も包含する。さらに、一つの手段の機能が、二つ以上の物理的手段により実現されても、もしくは、二つ以上の手段の機能が、一つの物理的手段により実現されてもよい。   Thus, in this specification, the means does not necessarily mean physical means, but includes cases where the functions of the means are realized by software. Further, the function of one means may be realized by two or more physical means, or the functions of two or more means may be realized by one physical means.

本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made within the scope of the claims, and embodiments obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. Is also included in the technical scope of the present invention.

半田材の劣化度を短時間で簡単に判断することができるため、リアルタイムで半田材の劣化度を判断する必要のある半田印刷に適用できる。   Since the deterioration degree of the solder material can be easily determined in a short time, the present invention can be applied to solder printing that needs to determine the deterioration degree of the solder material in real time.

本実施の形態にかかる半田材劣化度判断装置10の構成を表す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram showing the structure of the solder material deterioration degree judgment apparatus 10 concerning this Embodiment. 本発明の半田材劣化度判断装置を用いて半田材の劣化度を判断するための測定試料を作製する方法を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the method of producing the measurement sample for judging the deterioration degree of a solder material using the solder material deterioration degree judgment apparatus of this invention. 本発明の半田材劣化度判断装置をオフラインで用いた場合の実施形態の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of embodiment at the time of using the solder material degradation degree judgment apparatus of this invention offline. 新品および劣化品の半田材の表面を撮像した画像を示す図である。It is a figure which shows the image which imaged the surface of the solder material of a new article and deteriorated goods. 半田材の表面凹凸度と粘度との相関関係を示すグラフである。It is a graph which shows the correlation with the surface unevenness degree of a solder material, and a viscosity. 本実施の形態における半田材表面状態の検出原理を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the detection principle of the solder material surface state in this Embodiment. 半田材の表面凹凸度の算出方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the calculation method of the surface unevenness degree of a solder material. 本実施の形態にかかる半田印刷機100の構成を表す模式図である。It is a schematic diagram showing the structure of the solder printer 100 concerning this Embodiment. 本実施の形態にかかる半田印刷機100の構成を表す平面図である。It is a top view showing the structure of the solder printer 100 concerning this Embodiment. 半田印刷機100における処理の流れを表すフローチャートである。3 is a flowchart showing a flow of processing in the solder printer 100. 制御部120を備えた、本実施の形態にかかる半田印刷機100の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the solder printing machine 100 provided with the control part 120 concerning this Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1 半田材
10 半田材劣化度判断装置
20 照明部
30 撮像部
42 劣化度判断部(劣化度判断手段)
51 入力部(パラメータ取得手段)
100 半田印刷機
110 検出部
120 制御部(制御手段)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Solder material 10 Solder material degradation degree judgment apparatus 20 Illumination part 30 Imaging part 42 Degradation degree judgment part (degradation degree judgment means)
51 Input unit (parameter acquisition means)
100 Solder Printer 110 Detection Unit 120 Control Unit (Control Unit)

Claims (12)

半田材の表面に検査光を照射する照明部と、
上記照明部によって照射された上記半田材の表面を撮像する撮像部と、
上記撮像部によって撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断手段とを備えることを特徴とする半田材劣化度判断装置。
An illumination unit that irradiates the surface of the solder material with inspection light;
An imaging unit for imaging the surface of the solder material irradiated by the illumination unit;
A solder material deterioration degree judging device comprising: a deterioration degree judging means for judging the degree of deterioration of the solder material based on a picked up image picked up by the image pickup section.
上記劣化度判断手段は、上記撮像画像から取得した輝度情報に基づいて上記半田材の劣化度を判断することを特徴とする請求項1に記載の半田材劣化度判断装置。   The solder material deterioration degree determination apparatus according to claim 1, wherein the deterioration degree determination means determines the deterioration degree of the solder material based on luminance information acquired from the captured image. 上記半田材の種類および組成に関する情報と撮像条件に関する情報との少なくとも一方を含むパラメータを取得するパラメータ取得手段をさらに備え、
上記劣化度判断手段は、さらに、上記パラメータに基づいて上記半田材の劣化度を判断することを特徴とする請求項1または2に記載の半田材劣化度判断装置。
A parameter acquisition means for acquiring a parameter including at least one of the information on the type and composition of the solder material and the information on the imaging condition;
The solder material deterioration degree judging device according to claim 1, wherein the deterioration degree judging means further judges the degree of deterioration of the solder material based on the parameter.
塗布具により開口部を有するマスクに半田材を塗布することにより、上記開口部を介して基板に上記半田材を印刷する半田印刷機であって、
上記塗布具の動作を検出する検出部と、
上記マスクに塗布された上記半田材の表面に検査光を照射する照明部と、
上記検出部の検出結果に基づいて、上記照明部によって照射された検査光の下で、上記マスクに塗布された上記半田材の表面を撮像する撮像部と、
上記撮像部によって撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断手段とを備えることを特徴とする半田印刷機。
A solder printing machine that prints the solder material on a substrate through the opening by applying a solder material to a mask having an opening with an applicator,
A detection unit for detecting the operation of the applicator;
An illumination unit for irradiating the surface of the solder material applied to the mask with inspection light;
Based on the detection result of the detection unit, under the inspection light irradiated by the illumination unit, an imaging unit that images the surface of the solder material applied to the mask;
A solder printing machine, comprising: a deterioration degree determination unit that determines a deterioration degree of the solder material based on a captured image picked up by the image pickup unit.
上記劣化度判断手段は、上記撮像画像から取得した輝度情報に基づいて上記半田材の劣化度を判断することを特徴とする請求項4に記載の半田印刷機。   5. The solder printing machine according to claim 4, wherein the deterioration degree determination means determines the deterioration degree of the solder material based on luminance information acquired from the captured image. 上記半田材の種類および組成に関する情報と撮像条件に関する情報との少なくとも一方を含むパラメータを取得するパラメータ取得手段をさらに備え、
上記劣化度判断手段は、さらに、上記パラメータに基づいて上記半田材の劣化度を判断することを特徴とする請求項4または5に記載の半田印刷機。
A parameter acquisition means for acquiring a parameter including at least one of the information on the type and composition of the solder material and the information on the imaging condition;
6. The solder printing machine according to claim 4, wherein the deterioration degree determining means further determines the deterioration degree of the solder material based on the parameter.
上記劣化度判断手段の判断結果に基づいて印刷条件を変更する制御手段をさらに備えることを特徴とする請求項4〜6のいずれか1項に記載の半田印刷機。   The solder printer according to claim 4, further comprising a control unit that changes a printing condition based on a determination result of the deterioration degree determination unit. 半田材の表面に検査光を照射する照明工程と、
上記照明工程において照射された上記半田材の表面を撮像する撮像工程と、
上記撮像工程において撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断工程とを含むことを特徴とする半田材劣化度判断方法。
An illumination process for irradiating the surface of the solder material with inspection light;
An imaging step of imaging the surface of the solder material irradiated in the illumination step;
A deterioration degree determination step of determining a deterioration degree of the solder material based on a captured image picked up in the imaging step.
塗布具により開口部を有するマスクに半田材を塗布することにより、上記開口部を介して基板に上記半田材を印刷する半田印刷機において、上記マスクに塗布された上記半田材の劣化度を判断する半田材劣化度判断方法であって、
上記塗布具の動作を検出する検出工程と、
上記マスクに塗布された上記半田材の表面に検査光を照射する照明工程と、
上記検出工程において得られた検出結果に基づいて、上記照明工程において照射された検査光の下で、上記マスクに塗布された上記半田材の表面を撮像する撮像工程と、
上記撮像工程において撮像された撮像画像に基づいて上記半田材の劣化度を判断する劣化度判断工程とを含むことを特徴とする半田材劣化度判断方法。
By applying a solder material to a mask having an opening with an applicator, in a solder printer that prints the solder material on a substrate through the opening, the degree of deterioration of the solder material applied to the mask is determined. A method for judging the degree of deterioration of solder material,
A detection step of detecting the operation of the applicator;
An illumination step of irradiating the surface of the solder material applied to the mask with inspection light;
Based on the detection result obtained in the detection step, an imaging step of imaging the surface of the solder material applied to the mask under the inspection light irradiated in the illumination step;
A deterioration degree determination step of determining a deterioration degree of the solder material based on a captured image picked up in the imaging step.
請求項1〜3のいずれか1項に記載の半田材劣化度判断装置を動作させる半田材劣化度判断プログラムであって、コンピュータを上記の各手段として機能させるための半田材劣化度判断プログラム。   A solder material deterioration degree determination program for operating the solder material deterioration degree determination device according to any one of claims 1 to 3, wherein the computer functions as each of the above means. 請求項4〜7のいずれか1項に記載の半田印刷機を動作させる半田印刷プログラムであって、コンピュータを上記の各手段として機能させるための半田印刷プログラム。   A solder printing program for operating the solder printing machine according to any one of claims 4 to 7, wherein the computer functions as the above-described means. 請求項10または11に記載のプログラムをコンピュータ読取可能に記録した記録媒体。
The recording medium which recorded the program of Claim 10 or 11 so that computer reading was possible.
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