JP2006170974A - 分析試験エレメント上での液体試料の分析用分析システム - Google Patents

Abstract

【課題】本発明は、分析試験エレメント上での液体試料の分析用分析システムおよび方法の提供。
【解決手段】該分析システムは、電気信号の評価用評価機器と、分析試験エレメント（６）を測定位置に保持し、かつ位置づけるための試験エレメントホルダー（２３）と、分析試験エレメント（６）の少なくとも１つの電気的接触表面（１６）と電気的接触をさせるために、また該評価機器に電気的接続を生じさせるために使用される少なくとも１つの電気的接触エレメント（４）とを含む。この場合、少なくとも１つの接触エレメント（４）は、試験エレメントホルダー（２３）に対して相対的に移動可能なように配置されている。さらに該分析システムは、試験エレメントホルダー（２３）中の測定位置に位置決めされる分析試験エレメント（６）の電気的接触表面（１６）に、電気的接触エレメントを移動させるための手段（２４）を持っている。
【選択図】図６Ａ

Description

本発明は、分析システムに関するものであり、またテストエレメント上の試料の電気化学的分析方法に関するものである。

測定予定のサンプル液体中の個々のパラメーターを可能にする分析システムは、長いあいだ公知であり、それらの多くの種類は、市場で入手可能である。特に、医療診断および環境分析の分野に対しては、あまり訓練を受けていない人物によっても、操作可能な機器類が、提案されている。液体試薬を使用しないで操作されかつ、一般的には、サンプル材料の調製も、あるいは少なくともサンプル材料の複雑な調製も必要とされないものなどのシステムは、操作が簡単である。「ドライケミストリー」は、これらのいわゆる迅速テスト用に、これまで開発されてきており、サンプル液体中に含まれる液体は、それ自身の溶媒として使用される。

例として、血液中のグルコースの定量用のシステムは、使用され、その中では、患者は、テストエレメント上に少量の血液を置き、かつ操作の簡単な機器を用いて測定を行う。

従来の分析機器類は、開口たとえば、スロットを持っており、その中へ、テストエレメントを手で挿入できる。テストエレメントが、意図する方向へ挿入されることを、ガイドエレメントが、保証している。機器は、テストエレメントを望みの位置に位置づけられるように、デザイン特性を持たなければならない。

テストエレメントの形状は、種々ある。公知のものとして、たとえば、本質的に正方形の小さな箔が、挙げられ、それらは、スライドするものとされ、その中心では、多層のテスト領域が、置かれている。細長い一片の形状をしている診断テストエレメントが、テストストリップ（細長い一片）とされている。検出ゾーンおよびテストエレメント上でのサンプル適用点の３次元分離に対して、毛細血管のテストエレメントは、先行技術、たとえば、ＷＯ９９／２９４２９から公知である。

検体の濃度、たとえば、血液サンプル中のグルコースの濃度を測定するための方法は、多数知られている。このような方法は、通常は、２つの範疇：光学的方法あるいは電気化学的方法のいずれかに再分割される。

光学的方法は、定量される検体が存在するときに、検定反応の過程で兆候を生じる色変化に基づいている。試験エレメント上で起こる色変化は、反射光度測定法で検出できる。透過率測定も可能ではあるが、ある場合には、透明な試験ストリップの使用を必要とする。

検体の濃度定量のための電気化学的方法は、たとえば、電流測定法あるいは、電量分析法に基づいている。このような方法は、たとえば、米国特許第４，６５４，１９７号、欧州特許第０ ５０５ ４７５ Ｂ１，米国特許第２００２／００５７９９３Ａ１号、欧州特許第１ ３２１ ７６９Ａ１，ＷＯ０３／０８３４６９Ａ２，あるいは米国特許第５，１０８，５６４号の文献から公知である。 電気信号は、電気化学的分析を行うためには、試験エレメントおよび分析システムのあいだに送信されなければならない。したがって、分析システム中に導入された試験エレメントは、電気的接続システムの助けを借りて、分析システム中にそれと共に作られた電気的接触を持たなければならない。

従来技術に使用されている試験エレメントは、一般的に層状に設計されており、電気的接触を行うために、薄層の形状で接触表面を持っている。当面市場で入手しうる分析機器の場合には、装置の接触は、試験エレメントの挿入時に接触表面に亘りスライドし、そのプロセス中にエレメントに損傷を与えうる。さらに材料の蓄積が、分析機器の接触時に起きる。したがって、信頼できる接触は、確実なものと出来ない。

このようにして、本発明の１つの目的は、先行技術の記述された種々の欠点を避け、かつ分析試験エレメントに対する電気的接触システムを持った分析システム、および試験エレメントと信頼できる接触を可能にする分析システム中での試験エレメントの接触表面の電気的接続を行う方法を提供するものである。更なる目的は、分析システム内の測定位置へ該試験エレメントの挿入中に、分析システムの電気的接触によって、該試験エレメントへの研磨による損傷を避けることである。

本発明によれば、この目的は、
電気信号の評価用評価機器と、
分析試験エレメントを測定位置に保持し、かつ位置決めするための試験エレメントホルダーと、
分析試験エレメントの少なくとも１つの電気的接触表面と電気的接触をさせるために、また該評価機器に電気的接続を生じさせるために使用される少なくとも１つの電気的接触エレメントとを含む分析試験エレメント上での液体試料の分析用分析システムであって、
その際、接触エレメントは、試験エレメントホルダーに対して相対的に移動可能なように配置され、かつ該分析システムが、試験エレメントホルダー中の測定位置に位置決めされる分析試験エレメントの電気的接触表面に、接触エレメントを移動させるための手段を持っていることを特徴とする分析システムにより達成される。

この目的は、分析試験エレメント上での液体試料の分析方法であって、
分析システム中の試験エレメントホルダー中の測定位置に、分析試験エレメントを移動させる工程と、該分析試験エレメントと電気的に接触させるために、また評価機器への電気的接続を生じさせるために、測定位置に配置されている試験エレメントの接触表面に向けて、該試験エレメントホルダーに相対的に、接触エレメントを移動させる工程と、
該接触表面および該接触エレメントを経由して試験エレメントから送信される電気信号を、評価機器により評価する工程とを含む
ことを特徴とする分析方法により達成することも出来る。

本発明による分析システムは、たとえば、体液、特に血液中のグルコースの分析機器であっても良い。分析する予定の液体サンプルを、適切な場合には、サンプルの成分と反応する試薬を含む試験エレメントに通すことである。分析目的に対しては、本試験エレメントは、サンプルを取る前後で、分析システム中の試験エレメントホルダー中の測定位置に、手動であるいは自動で移動される。この場合には、測定位置は、試験エレメント上のサンプルの電気化学的分析が起こる分析機器中の試験エレメントの位置である。

該電気的接触エレメントは、試験エレメントと接触しており、それが、電気化学的分析のために、測定位置に配列されている。本目的のためには、該電気的接触エレメントは、該電気的接触エレメントを移動させるための該手段により、試験エレメント上の接触表面に向けて移動し、またそれに適用される。したがって、電気的接続は、試験エレメントと評価機器のあいだに作られる。電気信号は、この評価機器への接続を経由して送信され、かつ試験エレメント上での試料中のグルコース含量あるいはいくつかの他の電気化学的法で検出可能な検体を定量するために使用される。

本発明による分析システムを用いたおよび本発明による方法を用いた試験エレメントとの電気的接触を作ることは、試験エレメントが、測定位置に置かれるまで、接触エレメントが、分析試験エレメントの接触表面を触れることは無いという利点を持っている。試験エレメントの位置決めとそれとの接触を行わせるプロセスの分離は、接触エレメントが、接触表面を粉砕したり、あるいは引っ掻いたりすることを防止する。このように、試験エレメントの電極構造は、損傷を受けることも無く、信頼性にある接触が行われることを確かなものとしている。実際には、少なくとも１つの接触エレメントと少なくとも１つの接触表面とのあいだには、摩擦がまったく起こらないため、非常に小さな接触表面を使用できるために、高度に微細化の潜在性が生じる。本発明による分析システムおよび本発明による方法も、接触エレメントが除去前に試験エレメントから再び分離されるため、分析後測定位置から、サンプルと共に試験エレメントを除去するあいだ、サンプルによる接触エレメントへの汚染のリスクは少なくなる。試験エレメントとの接触が行われるときには、測定位置中での位置決め後まで、電気的接触エレメントは、接触表面に対して高い接触力を用いて押すことは無く、このために、信頼性のある接触が確実なものとなり、適切な場合には、接触エレメントによる試験エレメントのさらなる固定化が確保される。

本発明の１つの好ましい実施形態によると、接触エレメントは、試験エレメントホルダー中に保持される分析試験エレメントの接触表面に対して、本質的に直角に移動できる。したがって、このことは、接触表面に対して、接触エレメントの平行移動を防ぐことになり、このために、その表面上を接触エレメントがスライドすることから生じる試験エレメントの損傷を避けることが出来る。さらに、接触エレメントは、試験エレメントホルダー中に保持される分析試験エレメントの接触表面に対して、回転移動により移動できる。

締め付け装置は、測定位置に位置づけられる試験エレメントを、試験エレメントホルダー中に固定するように、該締め付け装置が、試験エレメントホルダー中に配置されているのが、好ましい。

本発明の１つの好ましい実施形態によると、該分析機器は、該試験エレメントホルダーを持った、および／またはハウジングに対して相対的に移動できるように配置されている該電気的接触エレメントを移動させるための該手段を持ったハウジングを含む。該接触エレメントは、該試験エレメントホルダーの移動により接触エレメントを動かす手段および／またはハウジングに相対的に、また特に、もうひとつの他のハウジングに相対的に、電気的接触エレメントを動かす手段により操作可能であり、このために、それが、該試験エレメントホルダーに向けておよび該試験エレメントに向けて移動され、試験エレメントは、その中の測定位置中に位置づけられ、該試験エレメントと電気接触が行われる。分析システムは、該試験エレメントホルダーの移動用の駆動部および／または電気的接触エレメントの移動用手段の駆動部を含んでいることが好ましく、あるいは該試験エレメントホルダーおよび／または該電気的接触エレメントの該移動用手段が、手動で駆動できる。

さらに、本発明による分析システムは、少なくとも２つの試験エレメントを保持するための試験エレメントマガジンおよび該試験エレメントマガジンから試験エレメントを自動的に除去するための、かつ試験エレメントを試験エレメントホルダー中の測定位置に移送させるための試験エレメント除去装置を含むことが好ましい。種々の試験エレメントマガジンは、先行技術から公知である。

たとえば、ＤＥ１９８ １９ ４０７は、使い捨てタイプの試験ストリップを使用して操作される血液グルコース測定機器用容器あるいは他の測定機器用容器を開示しており、それは、２つの部分から形成される容器と共に、第１部中に保持されているテストストリップおよび第２部中に回収されていている使用済みテストストリップと共に、測定用センサーに供給できる。この場合、テストストリップは、１列に配置することが出来て、そのためにテストストリップは、オーデイオテープカセットにおけるテープと同様に再生できるストリップを形成する。この代わりに、テストストリップは、それらが、円盤ディスクを形成するように配置することも出来て、それらは、ディスクの円周領域に互いに定められた距離で配置されているために、新しいテスト領域は、ディスクの回転により適当な測定位置に移動する。さらなる選択肢は、メカニズムにより個別に処理され、かつ引き続いて適当な測定位置に移動されるテストストリップを用いて、１つの堆積物を形成し、また測定が行われたときには、集合区画となるテストストリップである。

ＤＥ１９８ ５４ ３１６ Ａ１は、ドラムの形状をしており、また試験エレメント用の水蒸気耐性のある分離された室を有する試験エレメントマガジンを記載している。各室は、少なくとも２つの対向する開口部を持ち、それらは、各々シールフィルムにより閉じられている。試験エレメントを除去するために、プランジャーの助けを借りて、１つの試験エレメントをその室から押し出している。このプロセスのあいだ、プランジャーは、室の片側上のシールフィルムをカットし、その後試験エレメントに対して押し付け、それは、プランジャーからの圧力の結果として、シールフィルムを対向する側にカットしているため、試験エレメントは、室から押し出され、かつ測定位置に移送できる。試験エレメントマガジンからの自動試験エレメント除去用のさらなる試験エレメント除去装置が、ＥＰ０ ７３８ ６６６ Ｂ１，ＤＥ１９７ １５ ０３１ Ａ１，ＵＳ５，５７５，４０３，ＤＥ１９９ ０２ ６０１ Ａ１およびＤＥ４３ ２６ ３３９ Ａ１に開示されている。

本発明は、少なくとも１つの接触表面を持った試験エレメントとともに、分析試験エレメント用の電気的接続システムを持った分析システムにも関するものである。この分析システムは、ハウジング中の開始位置と終点位置とのあいだで移動することが出来て、また該試験エレメントを保持するための入り口開口部を持った保持空間を含み、該保持空間は、ストップにより結合されているスライドと；該スライドが、開始位置にあるとき、少なくとも１つの接触エレメントが、保持空間内に保持されている試験エレメントの接触表面からの距離になるように、また該スライドの移動によりそれが、開始位置から終点位置まで移動するように、配置されている少なくとも１つの接触エレメント（該スライドに搭載可能である）とを持っている。本発明による分析システムも、該スライドの少なくとも終点位置における該接触エレメントに、電気的に接続されている電気化学的評価回路とを持っており、接触表面に対して押し付けられる。この場合、該スライドは、該試験エレメントホルダーとして使用されている。このスライドの移動のあいだ、電気的接触エレメントの移動を行わせる手段は、電気的接触エレメントに作用し、かつ接触表面に向けてそれを移動させる。電気化学的評価回路は、分析機器中に含まれる評価機器中に、配置されている。

分析システムの本実施形態において、試験エレメントは、試験エレメント上の液体サンプルの分析用スライド中の保持空間中の入り口開口部を経由して試験エレメントホルダー中に押し込まれ、このスライドは、開始位置に位置づけられる。試験エレメントをストリップの形状で使用するとき、たとえば、入り口開口部は、延びたスロットの形状になる。この保持空間は、スライド中に形成される空隙であり、またその中には、試験エレメントを、ストップに達するまで挿入できる。このスライドが、開始位置にあるときには、その上に搭載されている接触エレメントは、試験エレメントの接触表面からある距離を隔てている。試験エレメントをスライド中に押し込むときには、接触エレメントは、試験エレメントには触れない。このことにより、接触エレメントは、挿入のあいだに、機械的に試験エレメントに損傷を与えることはありえないという利点が、生じる。

試験エレメントが、ストップまでスライド中に挿入されるとすぐに、スライドは、開始位置から終了位置までなお挿入方向に維持される力によって移動される。試験エレメントは、スライドを開始位置から終了位置まで動かすあいだに、保持空間中に好適に締め付けられ、このようにして、スライドに相対的な位置変更は、防がれる。たとえば、スライドの終了位置は、台車の動きを制限する更なるストップにより定めても良い。開始位置から終了位置までのスライドの移動により、接触エレメントは、接触表面の方向に移動しそして接触表面に対して押し付けられ、その結果、試験エレメントと電気的接触を生じる。

スライドを開始位置から終了位置まで移動するあいだに、試験エレメントは、スライドおよび接触エレメントに対してスライド中に移動しない。それは、スライド中の保持空間中の同じ位置に配置されたまま残り、ストップの上に載っている。電気的接触は、このようにして接触エレメントと行われ、接触エレメントは、試験エレメントに対して押し付けられ、スライドと共に移動し、その上に搭載され、一方、試験エレメントが、接触エレメント上をスライドすることを避け、試験エレメントに対するこれにより生じた損傷、あるいは接触エレメント上への材料の蓄積を避けることになる。

試験エレメントに位置するサンプルは、終了位置において、電気化学的に解析することが出来る。電気化学的評価回路は、この目的のために使用され、少なくともスライドが、終了位置にあるときには、電気的に接触エレメントに電気的に接続される。この電気的接続は、スライドを終了位置へと動かすことにより生み出すことが出来る。しかし、評価回路も、連続的に、電気的に接触エレメントに接続されうる。

電気化学的評価回路は、たとえば、接触が行われる試験エレメント上の検体の濃度に依存している測定される電気信号の評価用に使用される。これらのような電気化学的評価回路は、従来技術により、たとえば、ＥＰ−Ｂ１ ０５０５４７５から、あるいは米国特許第５，１０８，５６４号から公知である。

本発明の１つの好ましい実施形態において、該スライドが、そこに含まれる試験エレメントに対して開始位置にあるとき、該接触エレメントは、該スライド中の保持空間中の凹部中に埋め込まれて配置されている。接触エレメントの凹部は、スライドが開始位置にあるとき（特に試験エレメントを保持空間に挿入するあいだに）、試験エレメントの表面から、ある距離を生じることになる。

締め付け装置は、ストップまで遠く挿入された試験エレメントを、保持空間中に固定するように、保持空間中に配置されることが好ましい。

該接触エレメントは、該スライド中の開口部を経由して、該内部配列された保持空間から、該スライドの外側に好適に延びており、該接触エレメントは、該スライドの外側上にある接触圧力エレメントと相互作用するように配置されている。本発明の１つの好ましい実施形態において、該接触圧力エレメントは、ガイド表面が、開始位置から終点位置までの該スライド移動のあいだに、その中に含まれている該試験エレメントの該接触エレメントに向けて、該接触エレメントを該保持空間中に押し付けるように、配置されているガイド表面を持っている。スライドを開始位置から終了位置まで移動させるあいだに、スライドの外側に配置されている接触圧力エレメントのガイド表面は、接触エレメントを駆動し、エレメントは、開口部を経由してスライドの外側に伸びて、そのために、電気的接触が、試験エレメントと形成されるまで、それは、内側の保持空間中に押し付けられる。この場合、該ガイド表面は、傾斜台の形態であり、かつ曲面あるいは傾斜面を有することが、好ましい。

分析機器中での電気化学的評価回路の電気的接続は、接触エレメントに直接接続することが出来る。しかし、それらは、接触圧力エレメントに接続することも出来るし、また試験エレメントを接触エレメントとの相互作用に基づいて、電気的接触を達成させるために、このエレメントは、電気的伝導性でなければならない。

本発明の１つの好ましい実施形態において、該接触圧力エレメントは、弾性があり、かつ該スライドの終点位置に弾性的に変形され、そのためそれは、さらなる力をもって、該試験エレメントの該接触表面に対して、該接触エレメントを押し付けている。接触圧力エレメントの接触エレメントに対する圧力、たとえば、曲げにより生じる弾性的変形により、接触エレメントは、変形力に対して反対方向へ力を受けることになり、試験エレメントの接触表面に対して接触エレメントを押し付けることになる。

さらに、接触エレメント自身は、弾性的でもよい。接触エレメントは、そのときには、好ましくは弾性的に変形され、一方試験エレメントとの電気的接触は、まだ存在し、このため、それは、力を用いて接触表面に対して押し付ける（適切であれば、変形力と反対側）。

本発明は、分析システム中の分析試験エレメント用の電気的接続システムにも関しており、試験エレメントは、少なくとも１つの接触表面を持っている。該電気的接続システムは、ハウジング中で開始位置と終了位置のあいだで移動でき、かつ試験エレメントの保持用入り口開口部を持った保持空間を含んでいるスライドを持っており、該保持空間は、ストップにより結ばれている。それも、少なくとも１つの接触エレメントを持ち、このエレメントは、スライドが開始位置にあるとき、それは、保持空間中に保持されている試験エレメントの接触表面からある距離だけはなれるようにし、またスライドの移動により接触表面に向けて開始位置から終了位置まで移動し、接触表面に対して押し付けるように、配置されている。

本発明は、液体サンプル中の検体の分析用分析システムにも関しており、それは、本発明による少なくとも１つの電気的接続システムを含んでいる。さらに、該分析システムは、身体部分から体液を除去するための装置を持っていることが好ましい。多数の体液除去装置は、先行技術から、たとえば、ＷＯ０１／８９３８３から公知である。たとえば、これらは、指先から毛細血管血液、あるいは血液あるいは他の身体部分からの間質液を得るために使用されている。この方法で得られた体液は、分析システム中で分析されるためのたとえば、グルコース含有量に対する試験エレメントに用いられる。

さらに、本分析システムは、試験エレメント用の供給容器および該供給容器から少なくとも１つの試験エレメントを自動的に除去するための除去装置を含むことが、好ましい。本発明による分析システムは、集積システムであることが好ましく、それにより、サンプル取得（たとえば、皮膚の穿孔および供給容器から取得された試験エレメントに対する血液の適用は、サンプル取得位置に移され、またそこに位置決めされてきた）およびサンプル分析（たとえば、分析位置におけるサンプルを用いた試験エレメントの移送および位置決め、関係する変数の測定および評価、分析結果の表示）を、完全に自動的に行われる。

本発明は、試験エレメント上の液体サンプル分析用分析システムであって、ハウジング、電気信号を評価する評価機器、分析試験エレメントの少なくとも１つの接触表面に電気的接触を行わせるために、また評価機器への電気的接続を生み出すために使用される少なくとも１つの電気的接触エレメントを含むことを特徴とする分析システムにも関する。本発明による分析機器も、分析システムのハウジングに相対的に強固に配置されている試験エレメントホルダーを含んでいる。このように、試験エレメントホルダーは、ハウジングに相対的に移動することは出来ない。本発明による分析システムにおいては、試験エレメントホルダーに相対的に移動できるように、少なくとも１つの接触エレメントを配置する。この分析システムも、試験エレメントホルダー中の測定位置中に位置づけされる分析試験エレメントの電気的接触表面に向けて、電気的接触エレメントを移動させる手段を持っている。

本発明による本実施形態において、電気的接触エレメントを移動する手段は、電気的接触エレメントを操作するために、手動であるいは自動で（たとえば、電気モーターの手段により）移動され、そのため、それは、試験エレメントの接触表面まで移動される。

本発明の１つの実施形態によれば、該分析システムは、少なくとも２つの試験エレメント用該試験エレメントマガジンと該試験エレメントマガジンから試験エレメントを除去するための試験エレメント除去装置を持っており、該試験エレメント除去装置は、駆動部を持っており、この駆動部により該電気的接触エレメントを移動させるための該手段も移動できる。たとえば、プランジャー付の先行技術からの既に記述した除去装置においては、プランジャーは、電気モーターにより回転されるネジ棒への連結を経由して駆動される。本発明による分析システムにおいて、接触エレメントを移動させる手段は、たとえば、除去装置の電気モーターによりネジ棒への連結を経由して、同様に移動しても良い。この場合、電気的接触エレメントを移動させる手段は、本質的に縦方向に移動でき、かつロッド端を持っているロッドであり、それにより電気的トグル・レバーの形状をしている該電気的接触エレメントは、該試験エレメントホルダー中の測定位置に位置づけられている試験エレメントの接触表面に対して移動できることが、好ましい。この場合、該トグル・レバーは、ばねエレメントによりあらかじめ荷重をかけておくことが好ましく、それにより、それが、ロッド端により操作されるまで、試験エレメントホルダーから離れた位置に置かれることになる。この試験エレメントマガジンから試験エレメントを除去するあいだに、除去された試験エレメントが、試験エレメントホルダー中の測定位置に到達したときのみ、ロッドは、プランジャーに平行に移動し、またロッド端は、トグル・レバーに到達し、かつ操作する。そこでロッド端は、接触エレメントとして設けられているトグル・レバーを傾斜させ、それにより、試験エレメントとの電気的接触が行われ、評価機器への電気的接続が行われる。

本発明による電気的接続システムおよび本発明による分析システムを参照して、以上で行われた記述は、本発明による方法に対しても同様に適用される（それらが、適用可能な程度に）。

本発明は、分析システム中の試験エレメントの接触表面の電気的接続の方法であって、Ａ）該試験エレメントを、開始位置と終点位置とのあいだに移動できるように、ハウジング内に配置されているスライド中の保持空間中のストップまで、挿入し、
該スライドを開始位置に置き、かつ接触エレメントを該試験エレメントの該接触表面から離間したスライドと接触させる工程、および
Ｂ）分析システムに含まれている試験エレメント（６）を用いて、スライド（２）を前記開始位置から終点位置まで移動させ、前記接触エレメント（４）を該試験エレメント（６）の該接触表面（１６）に向けて移動させ、該接触表面（１６）に対して押し付ける工程とを有する
ことを特徴とする分析方法にも関している。

本発明は、分析試験エレメント上での液体試料の分析方法であって、次の工程：
・分析システム中の試験エレメントホルダー中の測定位置に、分析試験エレメントを移動させる工程と、
該分析試験エレメントと電気的に接触させるために、また評価機器への電気的接続を生じさせるために、測定位置に配置されている試験エレメントの接触表面に向けて、該試験エレメントホルダーに相対的に、接触エレメントを移動させる工程、および
該接触表面および該接触エレメントを経由して試験エレメントから送信される電気信号を、評価機器により評価する工程とを含む
ことを特徴とする分析方法にも関しており、分析試験エレメントは、分析機器のハウジングに相対的に固定されて配置されている試験エレメントホルダー中の測定位置に移動されることが、好ましい。

本発明を、図を参照して、次の文中により詳細に説明する。

図１は、本発明による分析システム中に含まれる電気的接続システムの１つの特定の実施形態を示している。

試験エレメントホルダー２３の形状であるスライド２は、ハウジング１内に配置されている。スライド２は、双頭の矢３で示されている移動方向に、ハウジング１内で移動することが出来る。電気的接触エレメント４は、スライド２上に搭載され、かつスライド２の移動のあいだに、移動方向３にも移動する。スライド２は、図１の開始位置に示されている。スライド２は、試験エレメント６を保持するための保持空間５を含んでいる。保持空間５は、入り口開口部７（スロット形状である）からストップ８までスライド２中で延びている。試験エレメント６は、開始位置にあるスライド２を用いて、開口部７を経由して、ストップ８まで保持空間５中に挿入される。スライド２が、開始位置にあるとき、接触エレメント４は、保持空間５中の凹部９中に、試験エレメント６に対して窪ませて配置される。このようにして、接触エレメント４は、試験エレメント６からある距離だけ離れており、試験エレメント６には、接触しない。試験エレメント６は、（図１中の下面１０上に）少なくとも１つの接触表面を持っており、それは、試験エレメント６が、スライド２中の保持空間５中にストップ８まで挿入されたときに、接触エレメント４に直接対向して配置される。

接触エレメント４は、内部に配置されている保持空間５からスライド２の外側まで、スライド２中の開口部１１を経由して伸びている。接触圧力エレメント１２は、接触エレメントの移動手段２４として、スライド２の外側に配置されており、図２Ａから２Ｃを参照して、次の文中により詳細に説明するように、接触エレメント４と相互作用する。

図２Ａから２Ｃは、図１に示された電気的接続システム中の試験エレメントの少なくとも１つの接触表面と接触する３つの工程を示している。

図２Ａは、ハウジング１中の開始位置にあるスライド２を示している。この場合、スライド２は、ハウジング１中の第１ストップ１３に対して位置づけられている。接触エレメント４は、保持空間５中の凹部９中に窪ませて配置される。試験エレメント６は、ストップ８に突き当たるまで、入り口開口部７を経由して、保持空間５中に挿入される。このプロセスのあいだ、スライド２は、開始位置のままである。保持空間５中の接触エレメント４の分離された（窪んだ）配置は、試験エレメント６が、保持空間５中に挿入されるあいだ接触エレメント４を越えてスライドすることを防ぎ、またこのプロセスのあいだに生じるような試験エレメント６への損傷あるいは接触エレメント４の汚染を防いでいる。さらに、接触エレメント４は、スライド２中の開口部１１を経由して外側に延びているが、接触圧力エレメント１２からある距離だけ離れている。

図２Ｂは、ハウジング１中の位置にあるスライド２を示しており、その位置は、開始位置と終点位置のあいだにある。ひとたび試験エレメント６が、図２Ａに示すようにストップ８までスライド２中に挿入されると、スライド２は、手動あるいは自動での連続的に印加される力により、挿入方向に試験エレメント６と共に、その終点位置まで移動する。このプロセスのあいだ、接触エレメント４は、それが、接触圧力エレメント１２に到達するとすぐに、曲面ガイド表面１４を越えてスライドし、それは、接触圧力エレメント１２上で斜面形状をしており、またこれにより開口部１１を経由して、保持空間５中に押し込まれ、試験エレメント６の接触表面にまで押されるような方法で、接触圧力エレメント１２と相互作用する。接触エレメント４は、このプロセスのあいだでは、接触表面に対して本質的に直角に移動する。対照的に、表面に損傷を生じるような試験エレメント６に平行な接触エレメント４の相対的移動は、スライド２中の接触エレメント４の搭載により、生じない。スライド２を挿入しているあいだに、試験エレメント６は、それがストップ８上に置かれるように保持空間５中にある締め付け装置（図示していない）の手段により、固定されることが好ましく、それにより、スライド２の挿入中に、それは動かない。

図２Ｃは、ハウジング１中での終点位置にあるスライド２を示している。終点位置は、ハウジング１中のスライド２に対して第２ストップ１５により定められ、また試験エレメントに対する測定位置を表示しており、それはスライド２中の保持空間５中のストップ８上に置かれる。接触エレメント４は、試験エレメント６の下面１０上の接触表面に対して押し付けられ、その結果電気的接触が、生じる。接触圧力エレメント１２は、弾性材料から構成されている。このようにして、接触圧力エレメント１２は、接触エレメント４により下方へ曲げられ、図２Ｃに図示しているように終点位置において、試験エレメント６に対して押し付け、それにより接触エレメント４上に上向きの対応する対向力を示す（接触エレメント４に対して）。

ひとたび、評価機器（図示していない）中に置かれている電気化学的評価回路（図示していない）の助けを借りて分析を行うと、試験エレメント６は、スライド２の開始位置の方向に引かれる。その結果、スライド２は、試験エレメント６と共に、第１ストップ１３まで移動し、そこで固定されて、試験エレメント６は、その後第１ストップ１３に移動し、また試験エレメント６は、その後保持空間５から引き抜かれ、図２Ａに示すように、接触エレメント４を用いて、凹部９中の試験エレメント６に対して再び窪ませる。電気的接続システムは、再び開始位置に一度置かれ、次の接触作業プロセスに備える。

図３は、本発明による分析システムにおける電気的接続システムの第２の実施形態およびその中に包含されている試験エレメントに接触するプロセスの概略図を示している。

電気的接続システムは、ハウジング１を有しており、その中では、スライド２（試験エレメントホルダー２３）は、開始位置（図３、トップ）と終点位置（図３、一番下）のあいだで移動できる。スライド２は、入り口開口部７を持った保持空間５を含んでおり、その中では、試験エレメント６が、図３中に保持されている。保持空間５は、ストップ８により境界を付けられている。図３に図示する電気的接続システムは、電気的接触エレメント４も持っており、それは、スライド２が、開始位置（図３、トップ）にあるとき、試験エレメント６の接触表面１６から距離を置いている。開始位置においては、スライド２は、第１ストップ１３上に置かれる。接触エレメント４は、複数の曲がりを持ち、１端のハウジング１と他端のスライド２に接触している。開始位置（図３、トップ）から終点位置（図３、一番下）までそこに含まれる試験エレメント６を伴ったスライド２を、手動であるいは自動で移動させるあいだは、接触エレメント４は、弾性的に変形する。弾性変形が、接触エレメント４の端末に生じて、それが、ハウジング１に相対的にスライド２と共に移動したスライド２に付着し、一方、ハウジング１に付着したその端は、その位置を変化させない。接触エレメント４の弾性変形の結果、試験エレメント６の接触表面１６に近接して配置されている接触エレメント４のサブエリア１７は、接触表面１６に向けて移動し、またスライド２の端の位置で接触表面１６に押し付けられ、このようにして、測定位置での電気的接触を生じる。このようにして、スライド２自身は、接触エレメント４の移動用の手段として使用される。この終点位置（図３、一番下）においては、スライド２は、第２ストップ１５上に置かれる。終点位置から開始位置までのスライド２の戻りの移動のあいだ、接触エレメント４の移動は、逆になり、電気的接触は、再びはずされる。

図４は、本発明による分析システムにおける電気的接続システムの第３の実施形態およびその中に包含されている試験エレメントに電気的に接触するプロセスを示している。

電気的接続システムは、ハウジング１とスライド２からなり、それは、試験エレメントホルダー２３として設けられ、かつ開始位置（図４、トップ）と終点位置（図４、一番下）のあいだで移動できる（移動方向３）。このプロセスのあいだに、スライド２は、第１ストップ１３から第２ストップ１５に移動する。試験エレメント６は、入り口開口部７およびストップ８を持った保持空間５中に配置される。軸１８の周りに回転可能なように搭載されている電気的接触エレメント４は、スライド２上に搭載されている。試験エレメント６は、接触表面１６を持っている。（ｚの形状をした）接触エレメント４の一端１９は、スライド２が、終点位置にあるときには、電気的接触２０に当接する。電気的接触２０は、接触エレメントの移動手段２４として使用され、また接触エレメント４が、他端２１と共に軸１８の周りでの回転運動により、試験エレメント６の接触表面１６に向けて移動するように、接触エレメント４の端１８に対して押し付けて、それは、スライド中の測定位置に保持され、かつそれと電気的接触を形成する。そこで、電気的接触は、試験エレメント６の接触表面１６と、接触エレメント４とコンタクト２０のあいだに存在し、それは、たとえば、分析システム中の評価機器中の電気化学的評価回路（図示していない）の電線２２に接続されている。

図５は、本発明による分析システムにおける電気的接続システムの第４の実施形態およびその中に包含されている試験エレメントに接触するプロセスを示している。

スライド２（試験エレメントホルダー２３）は、ハウジング１中に配置され、また開始位置（図５、トップ）と終点位置（図５、一番下）のあいだで２つのストップ１３および１５のあいだで移動できる。スライド２は、保持空間５中に試験エレメント６を含んでおり、それは、入り口開口部７およびストップ８を持っている。接触エレメント４は、スライド２に接続され、また開始位置における試験エレメント６の接触表面１６からある距離を隔てている。終点位置（図５、一番下）へのスライド２の移動のあいだに、接触エレメント４は、ハウジング１に接続されている接触圧力エレメント１２に沿ってスライドする。その結果、接触エレメント４は、弾性的に変形され、そのため、第1端２１は、試験エレメント６の接触表面１６に向けて移動し、また接触圧力エレメント１２により終点位置にある接触表面１６に対して押し付けられ、該接触圧力エレメント１２は、電気的接触が生じるように、試験エレメント６の残りの表面にある開口を経由して、接触エレメントを移動する手段として設けられている。スライド２が、終点位置にあるとき、スライド２を越えて突出している接触エレメント４の一端１９は、電気的コンタクト２０上に置かれる。その後、電気的接触は、試験エレメント６の接触表面１６と、接触エレメント４とコンタクト２０のあいだに存在し、そして、それは、たとえば、分析システム中の電気化学的評価回路（図示していない）の電線２２に接続されている。

図６Ａは、本発明による分析システムの第５の実施形態を示している。

分析システム中の試験エレメントホルダー２３は、電気的接触エレメント４の下に置かれ、それは、トグル・レバー２５の形状をしており、分析試験エレメント（図示していない）の少なくとも１つの電気的接触表面と電気的接触を形成するように、また分析システムにより形成される評価機器（図示していない）に電気的接続を生じるように使用される。接触エレメント４は、それが、試験エレメントホルダー２３に相対的に移動できるように、配置されている。接触エレメント４は、試験エレメントホルダー２３中の測定位置中に配置されている試験エレメントの接触表面に向けて、回転軸２６の周りの回転運動により、移動できる。

試験エレメントホルダー２３は、それが、ハウジング１（詳細は図示している）に相対的に固定され、かつスクリュー２７によりそれに固定されるように、配置されている。ハウジング１に対しておよび試験エレメントホルダー２３に対して本質的に縦方向２８に移動できるロッド２９が、電気的接触エレメント４の移動用手段２４として設けられ、またロッド端３０が、測定位置に配置されている試験エレメントの接触表面上に接触エレメント４を移動させるために、このような方法で、トグル・レバー２５を操作できる。トグル・レバー２５は、図示された開始位置におけるばねエレメント３１により保持され、その中では、それが、試験エレメントホルダー２３に向けて、ばねエレメント３１の力に対抗してロッド端３０により動かされない限り、それは、試験エレメントホルダー２３からある距離を隔てている。

図６Ａに示しているように、本発明による分析システムにおいては、電気的接触エレメント４の移動用手段２４は、駆動部（図示していない）により、自動的に移動される。駆動は、電気モーターであり、それは、試験エレメントマガジン３３から試験エレメントを自動的に除去するための試験エレメント除去装置３２を駆動する。試験エレメントマガジン３３は、ドラム形状の容器であり、それは、個別にシールされた室３４中に多数の試験エレメントを保持できる。試験エレメント除去装置３２は、プランジャー３５を含む。このプランジャー３５は、伝達エレメント３６を経由して、ネジ棒３７に連結されている。ネジ棒３７は、試験エレメント除去装置３２の操作中は、駆動部（図示していない）により、回転される。伝達エレメント３６は、ネジ棒３７のこの回転運動を縦方向２８への直線運動に変換する。その結果、プランジャー３５は、縦方向２８に同様に移動する。試験エレメントマガジン３３から試験エレメントを除去するために、除去予定の試験エレメントを含む室３４が、試験エレメントホルダー２３の前に配置されている位置に向けて、それは回転される。その後、プランジャー３５は、縦方向２８に直線的に移動し、室３４上のシールを打ち破り、そして室３４の外側の試験エレメントを試験エレメントホルダー２３中に押し付ける。

ロッド２９は、ネジ棒３７にも連結されているため、伝達エレメント３６を経由して、プランジャー３５と平行に、縦方向に同様に移動する。試験エレメントマガジン３３から除去され、かつ測定位置中の試験エレメントホルダー２３中にある試験エレメントを、プランジャー３５が押し付けるとすぐに、ロッド端３０は、トグル・レバー２５に到達し、またこれを試験エレメントのほうに向けて傾け、それにより、接触エレメント４は、試験エレメントの接触表面と接触を形成する。この位置において、接触エレメント４は、試験エレメントと評価機器（図示していない）とのあいだの電気的接続を生じさせ、かくして、試験エレメント上のサンプルに対する電気化学的分析が、行われる。電気的接続に対しては、たとえば、接触エレメントは、弾性コンタクトを経由して、プリント回路基板に接続することも可能である。

図６Ｂは、図６Ａ中に示した分析システムの平面図を示す。

この平面図は、特に、電気的接触エレメント４（トグル・レバー２５）、接触エレメント４の移動用手段２４（ロッド端３０を持つロッド２９）、ネジ棒３７、伝達エレメント３６、プランジャー３５、試験エレメントマガジン３３、ハウジング１およびスクリュー２７を図示している。

試験エレメントに対する本発明による分析システム中に含まれる電気的接続システムの１つの実施形態の概略図を示している。 図１に示された電気的接続システム中の試験エレメントと接触するプロセスにおける３つの工程を示している。 図１に示された電気的接続システム中の試験エレメントと接触するプロセスにおける３つの工程を示している。 図１に示された電気的接続システム中の試験エレメントと接触するプロセスにおける３つの工程を示している。 本発明による分析システムの第２の実施形態およびその中に包含されている試験エレメントに接触するプロセスの概略図を示している。 本発明による分析システムの第３の実施形態およびその中に包含されている試験エレメントに接触するプロセスの概略図を示している。 本発明による分析システムの第４の実施形態およびその中に包含されている試験エレメントに接触するプロセスの概略図を示している。 本発明による分析システムの第５の実施形態を示している。 図６Ａに示す分析システムの平面図を示している。

符号の説明

１ ハウジング
２ スライド
３ スライドの移動方向
４ 接触エレメント
５ 保持空間
６ 試験エレメント
７ 入り口開口部
８ 試験エレメント用ストップ
９ 凹部
１０ 試験エレメントの下面
１１ 開口部
１２ 接触圧力エレメント
１３ スライド用第１ストップ
１４ ガイド表面
１５ スライド用第２ストップ
１６ 接触表面
１７ 接触エレメントのサブ領域
１８ 軸
１９ 接触エレメントの片端
２０ 電気的接触
２１ 接触エレメントの他端
２２ 電線
２３ 試験エレメントホルダー
２４ 電気的接触エレメントの移動用手段
２５ トグル・レバー
２６ 回転軸
２７ スクリュー
２８ 縦方向
２９ ロッド
３０ ロッド端
３１ ねじエレメント
３２ 試験エレメント除去装置
３３ 試験エレメントマガジン
３４ 室
３５ プランジャー
３６ 伝達エレメント
３７ ネジ棒

Claims (22)

1. 電気信号の評価用評価機器と、
   分析試験エレメント（６）を測定位置に保持し、かつ位置決めするための試験エレメントホルダー（２３）と、
   分析試験エレメント（６）の少なくとも１つの電気的接触表面（１６）と電気的接触をさせるために、また該評価機器に電気的接続を生じさせるために使用される少なくとも１つの電気的接触エレメント（４）とを含む分析試験エレメント（６）上での液体試料の分析用分析システムであって、
   少なくとも１つの接触エレメント（４）は、試験エレメントホルダー（２３）に対して相対的に移動可能なように配置され、かつ該分析システムが、試験エレメントホルダー（２３）中の測定位置に位置決めされる分析試験エレメント（６）の電気的接触表面（１６）に、電気的接触エレメント（４）を移動させるための手段（２４）を持っていることを特徴とする分析システム。
2. 前記接触エレメント（４）が、試験エレメントホルダー（２３）中に保持される分析試験エレメント（６）の接触表面（１６）に対して、本質的に直角に移動できることを特徴とする請求項１記載の分析システム。
3. 前記接触エレメント（４）は、試験エレメントホルダー（２３）中に保持される分析試験エレメント（６）の接触表面（１６）に対して、回転移動により移動できることを特徴とする請求項１または２記載の分析システム。
4. 測定位置に位置決めされる前記試験エレメント（６）を、試験エレメントホルダー（２３）中に固定するように、締め付け装置が、試験エレメントホルダー（２３）中に配置されていることを特徴とする請求項１、２、または３記載の分析システム。
5. 前記試験エレメントホルダー（２３）を有するか、またはハウジング（１）に対して相対的に移動できるように配置されている前記電気的接触エレメント（４）を移動させるための手段（２４）を有する分析システムのハウジング（１）を備えることを特徴とする請求項１、２、３、または４記載の分析システム。
6. 前記試験エレメントホルダー（２３）の移動用の駆動部または電気的接触エレメント（４）の移動用手段（２４）の駆動部が当該分析システム中に含まれているか、もしくは前記試験エレメントホルダー（２３）または前記電気的接触エレメント（４）の移動用手段（２４）が手動で駆動できることを特徴とする請求項５記載の分析システム。
7. 少なくとも２つの前記試験エレメント（６）を保持するための試験エレメントマガジン（３３）および該試験エレメントマガジン（３３）から試験エレメント（６）を自動的に除去し、かつ試験エレメント（６）を試験エレメントホルダー（２３）中の測定位置に移送させるための試験エレメント除去装置（３２）を含むことを特徴とする請求項１、２、３、４、５、または６記載の分析システム。
8. ハウジング（１）中の開始位置と終点位置とのあいだで移動することができ、前記試験エレメント（６）を保持するための入り口開口部（７）を持った保持空間（５）を含み、該保持空間（５）は、ストップ（８）により結合されているスライド（２）と、
   前記スライド（２）が、開始位置にあるとき、少なくとも１つの接触エレメント（４）が、保持空間（５）内に保持されている試験エレメント（６）の接触表面（１６）からの距離になるように、また前記スライド（２）の移動によりそれが、接触表面（１６）に対して開始位置から終点位置まで移動するようにまた、該接触表面（１６）に対して押し付けるように配置されている少なくとも１つの接触エレメント（４）と、
   前記スライド（２）の少なくとも終点位置における該接触エレメント（４）電気的に接続されている電気化学的評価回路とを含んでいることを特徴とする分析システムであって、
   少なくとも１つの接触表面（１６）を有する試験エレメント（６）とともに、分析試験エレメント（６）用の電気的接続システムを有してなる請求項１、２、３、４、５、６、または７記載の分析システム。
9. 前記接触エレメント（４）が、前記スライド（２）上に設けられていることを特徴とする請求項８記載の分析システム。
10. 前記スライド（２）が開始位置にあるとき、前記接触エレメント（４）が、その中に含まれている試験エレメント（６）に関して、前記スライド（２）中の保持空間（５）中の凹部（９）中に埋め込まれて配置されていることを特徴とする請求項８または９記載の分析システム。
11. 前記接触エレメント（４）が、前記スライド（２）中の開口部（１１）を経由して、前記内部に設けられた保持空間（５）から、前記スライド（２）の外側に延びており、前記接触エレメント（４）が、前記スライド（２）の外側上にある接触圧力エレメント（１２）と相互作用するように配置されていることを特徴とする請求項８、９、または１０記載の分析システム。
12. ガイド表面（１４）が開始位置から終点位置までの該スライド（２）が移動するあいだに、前記接触圧力エレメント（１２）が、その中に含まれている前記試験エレメント（６）の接触表面（１６）に向けて、前記接触エレメント（４）を保持空間（５）中に押し付けるように配置されていることを特徴とする請求項１１記載の分析システム。
13. 前記ガイド表面（１４）が傾斜台の形態であり、曲面または傾斜面を有することを特徴とする請求項１２記載の分析システム。
14. 前記接触圧力エレメント（１２）が電気伝導性を有することを特徴とする請求項１１、１２、または１３記載の分析システム。
15. 前記接触圧力エレメント（１２）が弾性が有し、かつ前記スライド（２）の終点位置に弾性的に変形され、そのためそれは、さらなる力をもって、前記試験エレメント（６）の接触表面（１６）に対して、前記接触エレメント（４）を押し付けることを特徴とする請求項１１、１２、１３、または１４記載の分析システム。
16. 前記接触エレメント（４）が弾性を有することを特徴とする請求項１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、または１５記載の分析システム。
17. 当該分析システムのハウジング（１）に相対的に固定されて配置されている試験エレメントホルダー（２３）を含んでいることを特徴とする請求項１、２、３、４、５、６、または７記載の分析システム。
18. 当該分析システムが、少なくとも２つの試験エレメント用該試験エレメントマガジン（３３）と該試験エレメントマガジン（３３）から試験エレメントを除去するための試験エレメント除去装置（３２）を有し、該試験エレメント除去装置（３２）が駆動部を有し、外駆動部により電気的接触エレメント（４）を移動させるための手段（２４）も移動することができることを特徴とする請求項１７記載の分析システム。
19. 前記電気的接触エレメント（４）を移動させるための手段（２４）が、本質的に縦方向（２８）に移動でき、かつロッド端（３０）を有するロッド（２９）であり、それによりトグル・レバー（２５）の形状をしている前記電気的接触エレメント（４）が、前記試験エレメントホルダー（２３）中の測定位置に位置づけられている試験エレメントの接触表面に対して移動できることを特徴とする請求項１７または１８記載の分析システム。
20. 分析試験エレメント上での液体試料の分析方法であって、
    分析システム中の試験エレメントホルダー中の測定位置に、分析試験エレメントを移動させる工程と、
    該分析試験エレメントと電気的に接触させるために、また評価機器への電気的接続を生じさせるために、測定位置に配置されている試験エレメントの接触表面に向けて、該試験エレメントホルダーに相対的に、接触エレメントを移動させる工程と、
    該接触表面および該接触エレメントを経由して試験エレメントから送信される電気信号を、評価機器により評価する工程とを含む
    ことを特徴とする分析方法。
21. 分析システム中の試験エレメント（６）の接触表面の電気的接続の方法であって、
    Ａ）開始位置と終点位置とのあいだに移動できるように、ハウジング（１）内に配置されているスライド（２）中の保持空間（５）中のストップ（８）まで、該試験エレメント（６）を挿入し、該スライド（２）を開始位置に置き、かつ接触エレメント（４）を該試験エレメント（６）の該接触表面（１６）から離間する工程、および
    Ｂ）分析システムに含まれている該試験エレメント（６）を用いて、該スライド（２）を該開始位置から該終点位置まで移動させ、該接触エレメント（４）を該試験エレメント（６）の該接触表面（１６）に向けて移動させ、該接触表面（１６）に対して押し付ける工程とを有する
    ことを特徴とする請求項２０記載の分析方法。
22. 前記分析試験エレメントを、分析機器のハウジングに相対的に固定されて配置されている試験エレメントホルダー（２３）中の測定位置に移動させることを特徴とする請求項２０記載の方法。

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