JP2006170792A - Electronic controller - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、センサに関する各種制御を行う電子制御装置に関する。 The present invention relates to an electronic control device that performs various types of control related to sensors.
従来、車両には各種のセンサが設けられており、電子制御ユニット(ECU)は、これら各センサが検出した情報に基づいて、車両の各部を制御する(例えば、特許文献1参照)。例えば、車両に搭載される光度センサは車両外の光度を検出し、ECUは、この光度が予め定められた所定値以下である場合には、車両のランプを点灯させる。これにより、例えば、車両がトンネル内に進入した場合には、運転者の操作によることなくランプを点灯させることが可能となる。
上述した従来のECUは、予め定められた固定のタイミングでサンプリングしたセンサ値を各センサの異常を検出するために用いている。しかしながら、センサの故障率は、使用開始直後やある一定の時間使用した後は高いが、その間は低い等、通算の使用時間によって変動する性質を有する。従って、故障率が低い時にも故障率が高い時と同様のタイミングで各センサの異常を検出する処理が行われると、必ずしも必要でない処理のためにECUが用いられることになり負荷が大きい。 The above-described conventional ECU uses a sensor value sampled at a predetermined fixed timing to detect an abnormality of each sensor. However, the failure rate of the sensor has a property that varies depending on the total use time, such as being high immediately after the start of use or after being used for a certain period of time, but being low during that time. Therefore, when processing for detecting an abnormality of each sensor is performed at the same timing as when the failure rate is high even when the failure rate is low, the ECU is used for processing that is not necessarily required, resulting in a heavy load.
そこで、本発明は、故障率の時間変動に応じた適切なセンサの異常検出を行うことが可能な電子制御装置を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an electronic control device capable of detecting an abnormality of an appropriate sensor in accordance with a time variation of a failure rate.
本発明に係る電子制御装置は、センサの通算使用時間を取得する第1の取得手段と、前記第1の取得手段により取得されたセンサの通算使用時間に応じた故障率を導出する導出手段と、前記導出手段により導出された通算使用時間に応じた故障率に基づいて、前記センサの異常検出処理タイミングを決定する決定手段とを有する。 The electronic control device according to the present invention includes a first acquisition unit that acquires the total usage time of the sensor, and a derivation unit that derives a failure rate according to the total usage time of the sensor acquired by the first acquisition unit. Determining means for determining the abnormality detection processing timing of the sensor based on the failure rate according to the total usage time derived by the deriving means.
この構成により、センサの通算使用時間に伴って変動する故障率に基づいて、適切な異常検出処理タイミングを決定してセンサの異常検出処理を行うことが可能となり、更には、装置の負荷の軽減を図ることが可能となる。 With this configuration, it is possible to determine the appropriate abnormality detection processing timing based on the failure rate that fluctuates with the total usage time of the sensor and perform the sensor abnormality detection processing, and further reduce the load on the device. Can be achieved.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記導出手段が、前記センサの通算使用時間と前記通算使用時間に対応する故障率との対応関係を表すバスタブ曲線に基づいて、前記通算使用時間に対応する故障率を導出する。 Further, in the electronic control device according to the present invention, the derivation unit corresponds to the total use time based on a bathtub curve representing a correspondence relationship between the total use time of the sensor and a failure rate corresponding to the total use time. The failure rate to be derived is derived.
センサをはじめとする製品の通算使用時間と故障率との対応関係は、一般にいわゆるバスタブ曲線に従う。従って、このバスタブ曲線に基づいて、適切なセンサの故障率の導出が可能となる。 The correspondence relationship between the total usage time of a product such as a sensor and the failure rate generally follows a so-called bathtub curve. Therefore, it is possible to derive an appropriate sensor failure rate based on the bathtub curve.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記決定手段が、前記通算使用時間に対応する故障率が高くなるにしたがって、前記センサの異常検出処理タイミングの周期を短くする。 In the electronic control device according to the present invention, the determination unit shortens the cycle of the abnormality detection processing timing of the sensor as the failure rate corresponding to the total usage time increases.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータを取得する第2の取得手段を有し、前記決定手段が、前記第2の取得手段により取得されたセンサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータに基づいて、前記センサの異常検出処理タイミングを決定する。 The electronic control device according to the present invention further includes a second acquisition unit that acquires a parameter that represents a degree of a factor that increases the failure rate of the sensor, and the determination unit is acquired by the second acquisition unit. The abnormality detection processing timing of the sensor is determined based on the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor.
この構成により、センサの通算使用時間に応じた故障率のみならず、センサの故障率を上昇させる要因をも考慮した、より適切な異常検出処理タイミングを決定することが可能となる。 With this configuration, it is possible to determine a more appropriate abnormality detection processing timing in consideration of not only a failure rate corresponding to the total usage time of the sensor but also a factor that increases the failure rate of the sensor.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記決定手段が、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが大きくなるにしたがって、前記センサの異常検出処理タイミングの周期を短くする。 In the electronic control device according to the present invention, the determination unit shortens the cycle of the abnormality detection processing timing of the sensor as the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor increases.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記決定手段が、前記通算使用時間に対応する故障率を、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータに基づいて補正し、補正後の通算使用時間に対応する故障率に基づいて、前記センサの異常検出処理タイミングを決定する。 Further, in the electronic control device according to the present invention, the determination unit corrects the failure rate corresponding to the total usage time based on a parameter representing a degree of a factor that increases the failure rate of the sensor, Based on the failure rate corresponding to the total usage time, the abnormality detection processing timing of the sensor is determined.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記通算使用時間に対応する故障率と前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータに対応する故障率とによって一意に定まるセンサの異常検出処理タイミングによって構成されるテーブルを有し、前記決定手段が、前記テーブルから前記第1の取得手段により取得された通算使用時間に対応する故障率と前記第2の取得手段により取得されたセンサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータとによって一意に定まるセンサの異常検出処理タイミングを得る。 Further, the electronic control device according to the present invention provides a sensor abnormality detection process that is uniquely determined by a failure rate corresponding to the total usage time and a failure rate corresponding to a parameter indicating a degree of a factor that increases the failure rate of the sensor. A failure rate corresponding to the total usage time acquired by the first acquisition unit from the table and a sensor failure acquired by the second acquisition unit. The sensor abnormality detection processing timing uniquely determined by the parameter representing the degree of the factor that increases the rate is obtained.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサが車両に搭載される場合におけるエンジン負荷率である。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is an engine load factor when the sensor is mounted on a vehicle.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサの温度である。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is the temperature of the sensor.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサの水濡れである。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is water wetting of the sensor.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサを濡らす液体のpH濃度である。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is the pH concentration of the liquid that wets the sensor.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサが車両に搭載される場合における路面状況である。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is a road surface condition when the sensor is mounted on a vehicle.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサが車両に搭載される場合における運転者の過去の運転状況である。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is a past driving situation of the driver when the sensor is mounted on a vehicle.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサが車両に搭載される場合における運転者の現在の運転状況である。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is a current driving situation of the driver when the sensor is mounted on a vehicle.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサが車両に搭載される場合における該車両の走行地域である。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter representing the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is a travel region of the vehicle when the sensor is mounted on the vehicle.
また、本発明に係る電子制御装置は、前記センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータが、前記センサの品質である。 In the electronic control device according to the present invention, the parameter indicating the degree of the factor that increases the failure rate of the sensor is the quality of the sensor.
本発明に係る電子制御装置は、センサの通算使用時間に伴って変動する故障率に基づいて、センサの異常検出処理タイミングを決定しており、適切なタイミングでセンサの異常検出処理を行うことが可能となる。 The electronic control device according to the present invention determines the sensor abnormality detection processing timing based on the failure rate that fluctuates with the total usage time of the sensor, and can perform the sensor abnormality detection processing at an appropriate timing. It becomes possible.
以下、本発明の実施形態に係る電子制御装置としての電子制御ユニット(ECU)について、図面を用いて説明する。図1aは、ECUの構成を示す図である。同図に示すECU100は、車両に搭載されるものであり、車両の各部に設けられた、エンジン冷却水の温度を検知する水温センサ210、車速を検知するスピードセンサ220、エンジンの負荷率を検知するエンジンセンサ230、車両外の光度を検知する光度センサ240、及び、スロットルポジション(アクセル位置)を検出するスロットルポジションセンサ250からの各センサ値を、所定のタイミングでサンプリングすることによって取得し、この取得したセンサ値に基づいて、同様に車両の各部に設けられたソレノイド310、ランプ320及びタイアグノーシス端子330を制御する。また、ECU100は、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250の破壊等の異常を検出する処理(センサ異常検出処理)を行う。
Hereinafter, an electronic control unit (ECU) as an electronic control device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1a is a diagram showing the configuration of the ECU. The ECU 100 shown in the figure is mounted on a vehicle, and is provided in each part of the vehicle to detect a
このECU100は、入力インタフェース回路110、A/Dコンバータ120、CPU130、バックアップ回路140、定電圧電源150及び出力インタフェース回路150を有する。これらのうち、CPU130は、メモリ132を有する。
The ECU 100 includes an
入力インタフェース回路110は、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250(以下、適宜「各センサ」と称する)からのセンサ値を入力する。
The
また、入力インタフェース回路110は、センサ温度、ワイパ稼働情報、pH濃度、路面凹凸情報、運転者識別情報、ブレーキ位置情報、ハンドル角情報、走行地域情報、車載カメラ情報及びナビ情報を入力する。
The
センサ温度は、異常検出対象である水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250の温度であり、例えば、これら各センサに設けられた温度計から出力される。ワイパ稼働情報は、車両に設けられたワイパが稼働している時に、例えば、当該ワイパの稼働を検知する装置から出力される。pH濃度は、異常検出対象である水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250を濡らす液体のpH濃度であり、例えば、これら各センサに設けられたpH濃度を検出する装置から出力される。路面凹凸情報は、車両が走行している路面の凹凸を表す情報であり、例えば、車両のサスペンションの状態を検出する装置から出力される。なお、車両に設けられた路面監視カメラの撮影によって得られる画像データである車載カメラ情報や、ナビゲーション装置から出力される路面情報であるナビ情報も路面の凹凸を表す情報として用いられる。運転者識別情報は、運転者の指紋等の個々の運転者を識別するための情報であり、例えば、車両に設けられた指紋を検出する装置から出力される。ブレーキ位置情報は、運転者によるブレーキの踏み込み状態を表す情報であり、例えば、当該ブレーキに設けられた踏み込み状態を検知する装置から出力される。ハンドル角情報は、ハンドルの回転角を表す情報であり、例えば、当該ハンドルに設けられた回転角を検知する装置から出力される。走行地域情報は、平地、山地等の車両の走行地域を特徴付ける情報であり、例えば、車両に搭載されたナビゲーション装置やビーコン受信機から出力される。
The sensor temperature is the temperature of the
入力インタフェース回路110は、入力した各データについて、デジタルデータとアナログデータとに分類し、デジタルデータについてはCPU130へ出力し、アナログデータについてはA/Dコンバータ120へ出力する。
The
A/Dコンバータ120は、入力インタフェース回路110からのアナログデータをデジタルデータに変換して、CPU130へ出力する。
The A /
CPU130は、メモリ132内の制御プログラムを実行して、車両の各部を制御する。具体的には、CPU130は、入力インタフェース回路110及びA/Dコンバータ120から出力される、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250のセンサ値を所定のタイミングで取得し、これら各センサ値に基づいて、ソレノイド310、ランプ320及びタイアグノーシス端子330を制御する処理を行う。
図1bは、スロットルポジションセンサ250とECU100の構成を示す図である。図1bに示すスロットルポジションセンサ250は、運転者により操作されたスロットルの開度を検出し、ECU100内のCPU130へ出力する。具体的には、スロットルポジションセンサ250は、ECU100内の定電圧電源150からの電力供給を受ける抵抗251と、可動接点252を含む。一方、ECU100においては、定電圧電源150とA/Dコンバータ120との間に抵抗r1が設けられ、A/Dコンバータ120と接地間に抵抗r2が設けられている。運転者により操作されたスロットルの開度の量に応じて、抵抗251において可動接点252が接する位置は移動し、これにより可動接点252の電圧VTAが変化する。ECU100内のCPU130は、A/Dコンバータ120を介して、この電圧VTAをスロットル開度情報として検知することにより、スロットルの開度を認識することができる。
FIG. 1 b is a diagram showing the configuration of the
また、CPU130内のメモリ132には、通算使用時間情報、時間−故障率情報、パラメータ−故障率情報、タイミングテーブル及び運転状況情報が記憶されている。
The memory 132 in the
通算使用時間情報は、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250のそれぞれの通算の使用時間を表す。通算の使用時間とは、例えば、センサへ一定電圧以上の通電が行われている通算の時間、又は、センサが値を出力している通算の時間である。CPU130は、これら各センサ毎に通算の使用時間を測定し、通算使用時間情報としてメモリ132に保持する。
The total use time information represents the total use time of each of the
時間−故障率情報は、各センサ毎に設定される情報であり、センサの通算使用時間と、当該センサの通算使用時間に応じて定められる故障率(通算使用時間故障率)との対応関係を表す情報である。図2は、通算使用時間と通算使用時間故障率との対応関係の一例を示す図である。同図に示すように、通算使用時間と通算使用時間故障率との対応関係は、いわゆるバスタブ曲線によって表される。このバスタブ曲線によれば、センサの使用開始直後は初期不良等によって通算使用時間故障率は高くなっており、その後は通算使用時間が増加するに従って、通算使用時間故障率は漸減していく。そして、通算使用時間が例えば予め定められた耐用時間に近づいたり、耐用時間を超えたような場合には、再び、通算使用時間故障率が徐々に漸増していく。 The time-failure rate information is information set for each sensor, and shows the correspondence between the total usage time of the sensor and the failure rate (total usage time failure rate) determined according to the total usage time of the sensor. It is information to represent. FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a correspondence relationship between the total usage time and the total usage time failure rate. As shown in the figure, the correspondence between the total usage time and the total usage time failure rate is expressed by a so-called bathtub curve. According to this bathtub curve, the total use time failure rate is high immediately after the start of use of the sensor due to an initial failure or the like, and thereafter, the total use time failure rate gradually decreases as the total use time increases. When the total usage time approaches, for example, a predetermined service time or exceeds the service life, the total service time failure rate gradually gradually increases again.
パラメータ−故障率情報は、センサ毎、且つ、センサの故障率を上昇させる要因毎に設定される情報であり、センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータ(要因パラメータ)と、当該要因パラメータに応じて定められる故障率(要因パラメータ故障率)との対応関係を表す情報である。 The parameter-failure rate information is information set for each sensor and for each factor that increases the sensor failure rate. The parameter (factor parameter) that indicates the degree of the factor that increases the sensor failure rate and the factor This is information representing a correspondence relationship with a failure rate (factor parameter failure rate) determined according to a parameter.
要因パラメータとしては、車両に搭載されるエンジンの負荷率、センサの温度、センサの水濡れ、センサを濡らす液体のpH濃度、車両が走行する路面の状況、運転者の過去の運転状況、運転者の現在の運転状況、車両の走行地域、及び、センサの品質がある。これらセンサの故障率を上昇させる要因に対応する要因パラメータと、要因パラメータ故障率とは、図3に示すように、要因パラメータのパラメータ値が大きくなるに従って、要因パラメータ故障率が増加するという対応関係を有する。 Factor parameters include the load factor of the engine mounted on the vehicle, the temperature of the sensor, the wetness of the sensor, the pH concentration of the liquid that wets the sensor, the road surface on which the vehicle travels, the past driving situation of the driver, the driver Current driving situation, vehicle travel area, and sensor quality. The factor parameter corresponding to the factor that increases the failure rate of these sensors and the factor parameter failure rate are, as shown in FIG. 3, a correspondence relationship that the factor parameter failure rate increases as the parameter value of the factor parameter increases. Have
具体的には、エンジン負荷率は、エンジンセンサ230によって検出され、入力インタフェース回路110を介して入力されるエンジン回転数が増加するほど、パラメータ値が増加する。センサの温度は、入力インタフェース回路110を介して入力されるセンサ温度であり、センサ温度が高いほど、パラメータ値が増加する。センサの水濡れは、入力インタフェース回路110を介して入力されるワイパ稼働情報に対応するものであり、ワイパが稼働してセンサが濡れやすい場合にはパラメータ値が増加する。センサを濡らす液体のpH濃度は、入力インタフェース回路110を介して入力されるpH濃度であり、センサが金属製の場合には酸性度が高く錆びやすくなるほど、パラメータ値が増加する。車両が走行する路面の状況は、入力インタフェース回路110を介して入力される路面凹凸情報に対応するものであり、路面の凹凸が大きいためにセンサの振動が大きくなるほど、パラメータ値が増加する。
Specifically, the engine load factor is detected by the
運転者の過去の運転状況は、メモリ132内の運転状況情報に対応するものである。運転状況情報は、運転者毎に設定され、当該運転者の運転の丁重さの度合いを示す。この運転状況情報は、過去の運転において入力インタフェース回路110を介して入力された、スロットルポジションセンサ250からのスロットル開度情報、ブレーキ位置情報及びハンドル角情報から求められ、運転者識別情報を含む。運転者の過去の運転状況が丁重でなく、センサの振動が大きくなるほど、パラメータ値が増加する。運転者の現在の運転状況は、運転中において入力インタフェース回路110を介して入力される、スロットルポジションセンサ250からのスロットル開度情報、ブレーキ位置情報及びハンドル角情報に対応するものであり、運転者の運転状況が丁重でなく、センサの振動が大きくなるほど、パラメータ値が増加する。車両の走行地域は、入力インタフェース回路110を介して入力される走行地域情報に対応するものであり、山地等の環境が厳しい地域ほど、パラメータ値が増加する。センサの品質は、予め定められているセンサの品質に関する情報に対応するものであり、品質の低いものほど、パラメータ値が増加する。
The past driving situation of the driver corresponds to the driving situation information in the memory 132. The driving status information is set for each driver and indicates the level of driving importance of the driver. This driving state information is obtained from throttle opening information, brake position information, and steering wheel angle information from the
タイミングテーブルは、センサ毎に設定されるものであり、通算使用時間故障率と要因パラメータ故障率とによって一意に定まる異常検出処理タイミングによって構成される。図4は、タイミングテーブルの一例を示す図である。図4では、通算使用時間故障率の各範囲毎、且つ、要因パラメータ故障率の各範囲毎に異常検出処理タイミングが一意に定まる。例えば、通算使用時間故障率がa1〜a2の範囲内であり、且つ、要因パラメータ故障率がb2〜b3の範囲内である場合には、異常検出処理タイミングは24ms毎となる。 The timing table is set for each sensor, and is configured by abnormality detection processing timing uniquely determined by the total usage time failure rate and the factor parameter failure rate. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a timing table. In FIG. 4, the abnormality detection processing timing is uniquely determined for each range of the total usage time failure rate and for each range of the factor parameter failure rate. For example, when the total use time failure rate is in the range of a1 to a2 and the factor parameter failure rate is in the range of b2 to b3, the abnormality detection processing timing is every 24 ms.
これらメモリ132内の通算使用時間情報、時間−故障率情報、パラメータ−故障率情報、タイミングテーブル及び運転状況情報は、イグニションスイッチがオフになったり、バッテリ電源からの電力供給が遮断された場合でも消去されることなく、定電圧電源150から供給される電力によって保持される。
The total usage time information, time-failure rate information, parameter-failure rate information, timing table, and operation status information in the memory 132 are stored even when the ignition switch is turned off or the power supply from the battery power source is cut off. It is held by the power supplied from the constant
CPU130は、上述したメモリ132内の通算使用時間情報、時間−故障率情報、パラメータ−故障率情報、タイミングテーブル及び運転状況情報に基づいて、異常検出処理タイミングを決定する。異常検出処理タイミングの決定動作の詳細については後述する。そして、CPU130は、異常検出処理タイミングが到来する毎に、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250についてセンサ異常検出処理を行う。
The
次に、フローチャートを参照しつつ、異常検出処理タイミングの決定動作を説明する。図5は、第1の異常検出処理タイミングの決定動作を示すフローチャートである。 Next, the determination operation of the abnormality detection processing timing will be described with reference to a flowchart. FIG. 5 is a flowchart showing the determination operation of the first abnormality detection processing timing.
CPU130は、イグニションスイッチがオン状態になると、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250のそれぞれに対応する通算使用時間情報と、時間−故障率情報とをメモリ132から読み出す。更に、CPU130は、これら通算使用時間情報と時間−故障率情報とに基づいて、通算使用時間故障率を各センサ毎に導出する(S101)。
When the ignition switch is turned on, the
次に、CPU130は、各センサ毎に、車両に搭載されるエンジンの負荷率、センサの温度、センサの水濡れ、センサを濡らす液体のpH濃度、車両が走行する路面の状況、運転者の過去の運転状況、運転者の現在の運転状況、車両の走行地域、及び、センサの品質の各要因パラメータの中から必要なものを選択する(S102)。例えば、水濡れすることのない箇所に設けられているセンサについては、センサの水濡れに関する要因パラメータは必要でないため、除かれることになる。
Next, for each sensor, the
次に、CPU130は、各センサ毎に、選択した要因パラメータに基づいて通算使用時間故障率を補正する(S103)。具体的には、CPU130は、選択した要因パラメータのパラメータ値が大きいほど、通算使用時間故障率が大きくなるように、当該通算使用時間故障率を補正する。ここでは、例えば、要因パラメータのパラメータ値が所定値以上の場合には、通算使用時間故障率が1.2倍になる等の補正が行われる。なお、1つのセンサに対して、複数の要因パラメータが選択された場合には、CPU130は、そのセンサの通算使用時間故障率について、選択した複数の要因パラメータのそれぞれのパラメータ値に基づいて補正する。
Next, the
次に、CPU130は、補正後の通算使用時間故障率が大きいほど、異常検出処理タイミングの周期が短くなるように、各センサに対応する異常検出処理タイミングを決定する(S104)。その後、CPU130は、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250のそれぞれについて、異常検出処理タイミングが到来する毎に、センサ異常検出処理を行う。
Next, the
このように、ECU100は、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250のそれぞれについて、通算使用時間故障率を導出し、更に、この通算使用時間故障率を、センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータに基づいて補正する。そして、ECU100は、補正後の通算使用時間故障率に応じた異常検出処理タイミングを決定する。従って、センサの通算使用時間に伴って変動する故障率と、センサの故障率を上昇させる要因とを考慮した適切な異常検出処理タイミングを決定して、センサ異常検出処理を行うことが可能となり、更には、負荷の軽減を図ることが可能となる。
Thus, the
図6は、第2の異常検出処理タイミングの決定動作を示すフローチャートである。S201及びS202の動作は、図5におけるS101及びS102の動作と同様であり、CPU130は、イグニションスイッチがオン状態になると、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250のそれぞれについて、通算使用時間故障率を導出し(S201)、各要因パラメータの中から必要なものを選択する(S202)。 FIG. 6 is a flowchart showing the determination operation of the second abnormality detection processing timing. The operation of S201 and S202 is the same as the operation of S101 and S102 in FIG. For each of 250, a total use time failure rate is derived (S201), and a necessary one is selected from each factor parameter (S202).
次に、CPU130は、各センサ毎に、選択した要因パラメータに対応するパラメータ−故障率情報をメモリ132から読み出す。更に、CPU130は、要因パラメータのパラメータ値とパラメータ−故障率情報とに基づいて、要因パラメータ故障率を取得する(S204)。なお、1つのセンサに対して、複数の要因パラメータが選択された場合には、CPU130は、そのセンサの通算使用時間故障率について、選択した複数の要因パラメータのそれぞれに対応する要因パラメータ故障率を取得し、これら複数の要因パラメータ故障率の平均値を算出する。
Next, the
次に、CPU130は、各センサ毎に、メモリ132内のタイミングテーブル(図4参照)を参照し、S201において導出した通算使用時間故障率と、S203において取得した要因パラメータ故障率とによって一意に定まる異常検出処理タイミングを決定する(S204)。図4に示すタイミングテーブルは、通算使用時間故障率が大きいほど、且つ、要因パラメータ故障率が大きいほど、異常検出処理タイミングの周期が短くなるように構成されている。従って、CPU130は、図4に示すタイミングテーブルを参照することにより、通算使用時間故障率が大きいほど、且つ、要因パラメータ故障率が大きいほど、異常検出処理タイミングの周期が短くなるように、各センサに対応する異常検出処理タイミングを決定することになる。その後、CPU130は、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250のそれぞれについて、異常検出処理タイミングが到来する毎に、センサ異常検出処理を行う。
Next, the
このように、ECU100は、水温センサ210、スピードセンサ220、エンジンセンサ230、光度センサ240及びスロットルポジションセンサ250のそれぞれについて、通算使用時間故障率を導出し、更に、この通算使用時間故障率と、センサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータに応じた故障率とによって一意に定まる異常検出処理タイミングを決定する。従って、センサの通算使用時間に伴って変動する故障率と、センサの故障率を上昇させる要因とを考慮した適切な異常検出処理タイミングを決定して、センサ異常検出処理を行うことが可能となり、更には、負荷の軽減を図ることが可能となる。
Thus, the
なお、上述した実施形態では、ECU100は、通算使用時間故障率とともに、センサの故障率を上昇させる要因を考慮して異常検出処理タイミングを決定したが、通算使用時間故障率のみを考慮して異常検出処理タイミングを決定するようにしてもよい。
In the above-described embodiment, the
以上のように、本発明に係る電子制御装置は、適切なタイミングでセンサの異常検出処理を行うことが可能となり、更には、負荷の軽減を図ることが可能となり、電子制御装置として有用である。 As described above, the electronic control device according to the present invention can perform sensor abnormality detection processing at an appropriate timing, can further reduce the load, and is useful as an electronic control device. .
100 ECU
110 入力インタフェース回路
120 A/Dコンバータ
130 CPU
132 メモリ
140 バックアップ回路
150 定電圧電源
210 水温センサ
220 スピードセンサ
230 エンジンセンサ
240 光度センサ
250 スロットルポジションセンサ
251 抵抗
252 可動接点
100 ECU
110 Input interface circuit 120 A /
132
Claims (16)
前記第1の取得手段により取得されたセンサの通算使用時間に応じた故障率を導出する導出手段と、
前記導出手段により導出された通算使用時間に応じた故障率に基づいて、前記センサの異常検出処理タイミングを決定する決定手段とを有する電子制御装置。 First acquisition means for acquiring the total usage time of the sensor;
Derivation means for deriving a failure rate according to the total usage time of the sensor acquired by the first acquisition means;
An electronic control unit comprising: a determination unit that determines an abnormality detection processing timing of the sensor based on a failure rate according to the total usage time derived by the deriving unit.
前記決定手段は、前記第2の取得手段により取得されたセンサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータに基づいて、前記センサの異常検出処理タイミングを決定する請求項1乃至3のいずれかに記載の電子制御装置。 Second acquisition means for acquiring a parameter representing a degree of a factor that increases a failure rate of the sensor;
The determination unit determines the abnormality detection processing timing of the sensor based on a parameter representing a degree of a factor that increases the failure rate of the sensor acquired by the second acquisition unit. The electronic control apparatus as described in.
前記決定手段は、前記テーブルから前記第1の取得手段により取得された通算使用時間に対応する故障率と前記第2の取得手段により取得されたセンサの故障率を上昇させる要因の度合を表すパラメータとによって一意に定まるセンサの異常検出処理タイミングを得る請求項4又は5に記載の電子制御装置。 A table configured by sensor abnormality detection processing timing uniquely determined by a failure rate corresponding to the total usage time and a failure rate corresponding to a parameter indicating a degree of a factor that increases the failure rate of the sensor;
The determination means is a parameter representing the degree of a factor that increases the failure rate corresponding to the total use time acquired by the first acquisition means from the table and the sensor failure rate acquired by the second acquisition means. The electronic control device according to claim 4, wherein the abnormality detection processing timing of the sensor uniquely determined by
The electronic control device according to claim 4, wherein the parameter representing the degree of a factor that increases the failure rate of the sensor is the quality of the sensor.
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-
2004
- 2004-12-15 JP JP2004363466A patent/JP2006170792A/en not_active Withdrawn
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