JP2006015134A - 光走査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】漏水による不具合を解消し、また光走査型プローブと制御装置との接続が外れているときはレーザの駆動を停止する。
【解決手段】 光走査型プローブ１は、光源を備えた光走査部としての体腔内に挿入可能な先端構成部２と、先端構成部２による光走査を制御する制御部３によって構成され、先端構成部２と制御部３とは電気ケーブル４３が複数本通った細いチューブ４により接続されている。チューブ４の端部には電気コネクタ１１が水密に固定して設けられており、制御部３にはこの電気コネクタ１１が着脱自在に電気的に接続可能に設けられている。制御部３に対する電気コネクタ１１の接続状態を検出し、電気コネクタ１１が接続されることによりレーザ光を出射できるようにレーザ駆動回路６４を制御するコネクタ接続検出回路７１が設けられている。
【選択図】 図７

Description

本発明は、光走査装置、更に詳しくは光走査型プローブと制御装置との接続部分に特徴のある光走査装置に関する。

近年、生体組織を診断する装置としては、その組織の表面状態の光学的情報を得るイメージング装置の他に、組織内部の光学的情報を得ることのできる光ＣＴ装置が提案されている。この光ＣＴ装置としてはピコ秒パルスを用いて、生体内部の情報を検出し、断層像を得る。しかしながら、ピコ秒パルスオーダの極短パルス光を発生するレーザ光源は高価で大型となり、取扱いも面倒である。

最近になって、光ＣＴ装置としては、低干渉性光を用いて被検体に対する断層像を得る干渉型のＯＣＴ（オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィ）が例えば特表平６ー５１１３１２号公報に開示されている。

また、生体組織や細胞を光軸方向に分解能を良好にして観察する装置としては、光走査型の共焦点顕微鏡が知られている。しかしながら、この場合、通常の共焦点顕微鏡はサイズが大きく、そのためサンプルを小さく切り出して顕微鏡に載せて観察している。また、この共焦点顕微鏡を小さくして、生物の消化管などに誘導して観察する微小共焦点内視鏡が、例えば特開平９−２３０２４８号公報等に開示されている。
特表平６ー５１１３１２号公報 特開平９−２３０２４８号公報

しかしながら、上記干渉型のＯＣＴや微小共焦点内視鏡は、光走査型プローブと制御装置のコネクタが非水密構造であるため、使用後に洗浄・消毒液に浸漬するとコネクタ内部が漏水し故障の原因となるといった問題がある。また、上記干渉型のＯＣＴや微小共焦点内視鏡は、光走査型プローブと制御装置とが接続されていないときでもレーザが駆動されるという問題もある。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、漏水による不具合を解消し、また光走査型プローブと制御装置との接続が外れているときはレーザの駆動を停止することのできる光走査装置を提供することを目的としている。

本発明の一態様による光走査装置は、光走査手段を有し水密的に構成されて体腔内に挿入可能な光走査型プローブと、前記光走査型プローブが着脱自在に設けられ、前記光走査型プローブの検出信号及び/又は検出光を受ける信号検出手段を有する制御部と、前記制御部に内蔵され、光を照射する光源装置と、前記光走査手段を駆動する光走査駆動手段と、前記光走査型プローブの着脱状態を検知する着脱状態検知手段と、を備えることを特徴とする。

本発明によれば、漏水による不具合を解消し、また光走査型プローブと制御装置との接続が外れているときはレーザの駆動を停止することができる。

以下、図面を参照しながら本発明の実施例について述べる。

図１ないし図９は本発明の実施例１に係わり、図１は光走査型プローブの構成を示す構成図、図２は図１の電気コネクタの構成を示す断面図、図３は図１の先端構成部の構成を示す構成図、図４は図３の光学ユニットの構成を示す構成図、図５は図４の光学ユニットのスキャンミラーの製造方法を説明する第１の説明図、図６は図４の光学ユニットのスキャンミラーの製造方法を説明する第２の説明図、図７は図１の制御部の構成を示す構成図、図８は図４の光学ユニットによる焦点走査を説明する説明図、図９は図１の電気コネクタの変形例の構成を示す断面図である。

（構成）
図１に示すように、本実施例の光走査装置としての光走査型プローブ１は、光源を備えた光走査部としての体腔内に挿入可能な先端構成部２と、先端構成部２による光走査を制御する制御部３によって構成され、先端構成部２と制御部３とは電気ケーブル４３が複数本通った細いチューブ４により接続されている。

チューブ４の端部には電気コネクタ１１が水密に固定して設けられており、制御部３にはこの電気コネクタ１１が着脱自在に電気的に接続可能に設けられている。

電気コネクタ１１の断面図を図２に示す。電気コネクタ１１の本体１２には接続部１３とが、図２のように水密的に接着固定されている。チューブ４内を通る電気ケーブル１５は、電気コネクタ１１が制御部３に接続されているとき、後述する図３の電気ケーブル４３と電気的に接続されて、後述する図３の光学ユニット２２を制御するようになっている。

一方、導電性のピン１４とチューブ４内を通る電気ケーブル１５が、図２のようにはんだ付け固定されている。ピン１４は、電気コネクタ１１を制御部３に接続すると、制御部３に設けられた導電性のピン１９と接触して電気的に接続される。制御部３には、フォトダイオード１７とフォトトランジスタ１８が、電気コネクタ１１が制御部３に接続されたときに接続部１３と接する部分に、接続部１３によっておおわれるような位置に設けられている。フォトダイオード１７とフォトトランジスタ１８は、各々抵抗と＋５Ｖの電源と０ＶのＧＮＤに電気的に接続されて電気回路をなしており、フォトトランジスタ１８にはさらにその動作状態を出力する出力部２０が設けられている。また、フォトダイオード１７の出射光が透光するように穴１６ａと、その出射光をフォトトランジスタ１８で受光できるように穴１６ｂが、各々設けられている。

図３に示すように、先端構成部２は、本体２１、光学ユニット２２及び図中のＺ軸方向に可動なＺ軸アクチュエータ２３からなり、本体２１は透明な窓部２４を有している。Ｚ軸アクチュエータ２３は、バイモルフ型の圧電アクチュエータによって構成され、電圧を印加することによって光学ユニット２２を方向２５へアクチュエーションする。Ｚ軸アクチュエータ２３の一端は本体２１に接着され、このＺ軸アクチュエータ２３からの配線は電気ケーブル４３を通って図１に示した制御部３へと接続されている。

ここで、本体２１は、内部に光学ユニット２２等を有する中空のパイプになっており、このパイプを前側からふさぐ前フタ２１ａと根本側からふさぐ後フタ２１ｂとがパイプに接着固定されており、さらに透明な窓部２４も本体２１の内部が水密構造となるように接着固定されている。

図４に示すように、光学ユニット２２は、Ｚ軸アクチュエータ２３の端部に接着されたシリコン基板３１と、前記シリコン基板３１に接着したプレート３２と、前記プレート３２に接着されたスペーサ３３と、スペーサ３３に接着された上板３４とによって構成されている。このスペーサ３３には、波長７８０ｎｍのレーザ光を発生する小型の半導体レーザ３５が接着固定されている。また、シリコン基板３１とプレート３２によって、スキャンミラー３６が構成されており、スキャンミラー３６はいわゆるジンバルミラーである。また、スペーサ３３はミラー部３７を有し、上板３４には回折格子レンズ３８が設けられている。

ここで、半導体レーザ３５から出射される光が、最初にスペーサ３３のミラー部３７で反射し、次にスキャンミラー３６で反射した後に、上板３４の回折格子レンズ３８を透過することによって焦点３９を結ぶように導かれるような位置関係に、それぞれが構成されている。

また、半導体レーザ３５の出射端面にはレーザが出射される範囲にのみハーフミラー膜４０が設けられており、焦点３９からの戻り光の一部がプレート３２面に導かれるように構成されている。また、レーザの導かれるプレート３２面上には光を検知するフォトダイオード４１が設けられている。

また、スキャンミラー３６、半導体レーザ３５及びフォトダイオード４１は、プレート３２上の図示しないパターンを介してランド部４２に電気的に接続され、このランド部４２に電気ケーブル４３が接続される。そして、このケーブル４３はチューブ４の内部を通り、制御部３へ接続される（図１参照）。

次に、光学ユニット２２の製法について説明する。
シリコン基板３１は低抵抗値（約１０Ωｃｍ以下）のものを用い、くぼみ５２を形成する部分以外の表面をレジスト等によりマスクを形成して、ＫＯＨあるいはＴＭＡＨ等の異方性湿式エッチング法、あるいはドライエッチング法によりくぼみ５２を形成する。くぼみ５２の深さについては、スキャンミラー３６の可動範囲をカバーするような深さに設定する。

また、プレート３２はシリコンからなり、プレート３２はシリコン基板３１上に、シリコン基板３１の表面に形成したＳｉＯ2 等の基板上の酸化物層（図示せず）を介在するようにして接合させる。ここで、該プレート３２とシリコン基板３１は図示しない絶縁膜層により電気的に絶縁されている。

そして、プレート３２はシリコン基板３１との接合後に、スキャンミラー３６等を加工形成する。すなわち、プレート３２の表面に、まず窒化膜をＣＶＤ（Chemical Vapor Deposition）法等により形成し、スキャンミラー３６を形成するために、窒化膜をホトリソグラフィ法／エッチング法により加工する。

この時のスキャンミラー３６を上方から見た平面図を図５に示す。図５の黒塗り部５３ａは、プレート３２をエッチング法により加工する際に、マスクとなる窒化膜を設けなかった部分、つまり窒化膜が除去されている部分であり、白い部分は窒化膜により覆われている。

この黒ぬり部５３ａに対応するプレート３２を加工する前に、アルミニウムなどの金属薄膜をデポジッションし、ホトリソグラフィ法によりパターニングすることにより、選択的に導電膜層を形成する。この導電膜層としては、図６に示すように、スキャンミラー３６の電極５４ａ、５４ｂ、５４ｃ、５４ｄ、配線５５ａ、５５ｂ、５５ｃ、５５ｄ等が含まれる。これらの配線５５ａ、５５ｂ、５５ｃ、５５ｄはランド部４２までパターンがつながっており、このときに同時に半導体レーザ３５の配線（図示しない）、フォトダイオード４１の配線（図示しない）、ランド部４２も形成する。ここで、電極５４ａ、５４ｂ、５４ｃ、５４ｄはミラーの役割も兼ねる。

導電層を成膜・加工した後、シリコン窒化膜をマスクにしてプレート３２をエッチングしてスキャンミラー３６等を形成する。なお、エッチング液、あるいはエッチングガスが電極５４ａ等を侵す場合には、これら導電パターン上をレジスト等を用いて保護すればよい。

このエッチング処理により、図５に示した窒化膜に覆われていない黒ぬり部５３ａに対応したプレート３２の部分が除去され、ジンバル構造のスキャンミラー３６等が形成される。スキャンミラー３６のヒンジ部５６、５７は、両側からアンダーエッチされることにより窒化膜部分のみが残って形成され、このヒンジ部５６、５７を軸にしてスキャンミラー３６の中心部５８がＸ方向、Ｙ方向２次元に回転できるようになる。

フォトダイオード４１は、別途製作したものを接着し、プレート３２上の配線と導通するようにする。なお、本実施の形態では、フォトダイオード４１を別途製作し、接着する例を示したが、上記の半導体プロセスで、プレート３２またはシリコン基板３１にフォトダイオード４１を製作しても構わない。

図４に戻り、スペーサ３３はシリコンから成り、ホトリソグラフィ法とエッチング法によりシリコンをエッチングして開口部を作ることにより開口部側部内面にミラー部３７が形成され、また、同時に半導体レーザ３５をガイドして固定する部分も形成し、ここに別途製作した半導体レーザ３５を接着する。なお、ミラー部３７のミラーはシリコン加工後、スパッタ法や蒸着法等により形成される。ミラー部３７がアルミニウムよりなる場合、その厚さは１５０〜２００ｎｍが最適である。

このスペーサ３３をプレート３２と接着するが、このとき半導体レーザ３５の底面に設けられた配線と、プレート３２に設けられた配線と導通するようにする。

また、本実施例では、半導体レーザ３５を別途製作して、スペーサ３３に組み込んだが、スペーサ３３を製作するときに、半導体レーザ３５を直接つくりこんでも構わない。
上板３４は石英ガラスで構成され、回折格子レンズ３８は電子ビームリソグラフィーによるパターンの転写と、異方性リアクティブイオンエッチングによって製作される。その後スペーサ３３に接着される。

制御部３は、図７に示すように、半導体レーザ３５を駆動制御するするレーザ駆動回路６４と、電極５４ａ、５４ｂ、５４ｃ、５４ｄに接続されスキャンミラー３６を駆動しＸＹ走査を行うＸＹ駆動回路６５と、Ｚ軸アクチュエータ２３を駆動しＺ走査を行うＺ駆動回路６６、フォトダイオード４１からの検出信号を増幅する増幅回路６７と、フォトトランジスタ１８からの信号により電気コネクタ１１の接続状態を検出し電気コネクタ１１が接続されるとレーザ光を出射できるようにレーザ駆動回路６４を制御するコネクタ接続検出回路７１と、ＸＹ駆動回路６５及びＺ駆動回路６６から駆動信号を入力し増幅回路６７が増幅した検出信号に基づき走査画像を生成する画像処理回路６８と、画像処理回路６８が生成した走査画像を表示するモニタ６９と、画像処理回路６８が生成した走査画像を記録する記録装置７０によって構成されている。

（作用）
レーザ駆動回路６４により駆動された半導体レーザ３５からレーザ光が発せられる。このレーザ光は図４のようにミラー部３７で反射し、次にスキャンミラー３６に反射し、上板の回折格子レンズ３８を透過することによって、焦点３９を結ぶ。この焦点３９の位置に物体があって光が反射される場合、反射光は入射光と同じ光路を通り、再び半導体レーザ３５の出射口で焦点を結び、この端面に設けられたハーフミラー膜４０によって、その光の一部がフォトダイオード４１へ導かれる。

この時、焦点以外からの反射光は、入射光と同じ光路を通ることができず、半導体レーザ３５の出射口端面で焦点を結ぶことができない。ハーフミラー膜４０はレーザ出射口の範囲にのみ設けられているので、ここで焦点を結ばない光はほとんどハーフミラー膜４０で反射せず、したがってフォトダイオード４１に入射しない。つまり、この半導体レーザ３５のハーフミラー膜４０が小さいピンホールの働きをし、共焦点光学系をなすようになる。

また、この状態で制御部３のＸＹ駆動回路６５によってスキャンミラー４８の電極５４ａ、５４ｂを交互に正に帯電させ、シリコン基板３１をグランドに接続すると、スキャンミラー３６の電極５４ａ、５４ｂはそれぞれ正に帯電させた時には静電気力で基板と引き合い、スキャンミラー３６の中心部５８はヒンジ５７を回転軸にして振動する。これにともなって、図４に示すように、レーザ光の焦点３９の位置は走査面のＸ方向（紙面に垂直方向）に走査される。また、電極５４ｃ、５４ｄを、交互に正の電荷を帯電させることによって、スキャンミラー３６の中心部５８はヒンジ５６を回転軸にして振動する。これにともなってレーザ光の焦点３９の位置は走査面のＹ方向（Ｘ方向に垂直）に走査される。

ここで、Ｙ方向の振動の周波数を、Ｘ方向の走査の周波数よりも充分に遅くし、適切なタイミングで制御することで、焦点３９は図８のように対象物面を順に走査する。これにともなって、この対象物面の各点の反射光がフォトダイオード４１で受光される。

このフォトダイオード４１によって光は電気信号に変換され、これらの電気信号は制御部３の増幅回路６７で増幅される。ここで増幅された信号は、画像処理回路６８に送られる。画像処理回路６８では、ＸＹ駆動回路６５の駆動波形を参照して、どの焦点位置からの信号出力であるかを計算し、さらにこの点における反射光の強さを計算し、モニタに表示させる。これらを繰り返すことによって走査面の反射光をモニタに画像化する。また、必要に応じて画像データを記録装置７０に記録する。

また、Ｚ駆動回路６６で、Ｚ軸アクチュエータ３５を駆動することによって、焦点位置を図４に示すＺ方向に移動させることができる。この状態で上記のように画像の取り込みを行うことによって、試料のＺ方向に移動した別の断面を観察することができる。さらに、画像処理回路６８はＺ方向に位置の異なる複数の走査画像のデータと、各画像におけるＺ軸駆動回路６６の出力を適宜記録装置７０に記録し、これらを参照することによって３次元画像を構築し、モニタに表示することもできる。

また、図２のように、フォトダイオード１７は抵抗Ｒ１を介して電源に接続されており、制御部３の電源がＯＮのときは常に発光している。電気コネクタ１１が制御部３に接続されたときに、フォトダイオード１７の出射光が接続部１３が遮られ、抵抗Ｒ２を介して電源に接続されているフォトトランジスタ１８に光が入射せず、抵抗Ｒ２の両端に電位差が生じず、出力部２０の電位は＋５Ｖとなる。一方、電気コネクタ１１が制御部３からはずれたときに、フォトダイオード１７の出射光がフォトトランジスタ１８に受光され、抵抗Ｒ２の両端に電位差が生じ、出力部２０の電位は０Ｖとなる。出力部２０が０Ｖのとき、図４の半導体レーザ３５が駆動し、＋５Ｖのとき半導体レーザ３５が停止するように、図７のコネクタ接続検出回路７１でレーザ駆動回路６４を制御する。

なお、図２では電気ケーブル１５が３本しか示されていないが、図７に示すように、制御部３がフォトダイオード４１、およびフォトトランジスタ１８からの信号を受け取り、かつ半導体レーザ３５、電極５４ａ，５４ｂ，５５ｃ，５５ｄ、およびＺ軸アクチュエータ２３を制御する制御信号を送るのに必要な本数分の電気ケーブルを有している。

本実施例では、半導体レーザ３５の先端にハーフミラー膜４０を設けたが、この膜はハーフミラー膜に限らず、波長によって反射率の異なるダイクロックミラー膜を設けてもよい。

なお、本実施例の変形例として、図２のピン１４の代わりに、図９に示すように、ピン８１がショートされており、制御部３側にピン８２が設けられ、これがコネクタ接続時にピン８１とショートし、信号出力回路８３の出力部８４の電位が０Ｖとなり、一方、非接続時にはピン８１がオープンで、出力部８４の電位が＋５Ｖとなり、出力部８４が０Ｖのときレーザ駆動、＋５Ｖのときレーザ停止するようにコネクタ接続検出回路７１を制御するようにしてもよい。

（実施例１の効果）
以上のように本実施例の光走査型プローブ１では、体腔内に挿入可能なチューブ４の先端の先端構成部２に、被検部に光を照射するための半導体レーザ３５を設けたので、光ファイバを用いてレーザ光を伝達する必要がなくなり、伝達部分の外径を細くすることができる。また、光ファイバへのレーザ光の導入時の位置あわせの調整の煩わしさがなくなる。さらに、光を伝達するときのレーザ光の損失がないので、レーザ光源の出力は必要最小限で済む。

また、スキャンミラー３６としてジンバルミラー構造を用いたので、簡単な構造で２方向にレーザ点を走査できる。

さらに、半導体レーザ３５の出射口にのみ、ハーフミラー膜４０を設けたので、このハーフミラー膜４０がピンホールの役割となり、簡単に共焦点光学系を形成することができる。

また、先端構成部２内部にフォトダイオード４１を設けたので、全部の光学系を先端構成部２内部で構成でき、コンパクトにすることができる。しかも検出光をファイバで伝送することなく検出できるので、光量の損失がないばかりかファイバ途中での外乱によるノイズのない像をとることができる。

また、電気コネクタ１１、先端構成部２ともに水密構造を保っているので、本プローブ使用後、電気コネクタ１１を制御部３から外し、洗滌・消毒するときに、洗滌・消毒液に浸漬可能である。

また、電気コネクタ１１が制御部に接続されているときはレーザ駆動し、接続が外れると、レーザへの電源供給を停止するので、感電を防止することができる。

図１０ないし図１４は本発明の実施例２に係わり、図１０は光走査装置の構成を示す構成図、図１１は図１０の先端部の構成を示す構成図、図１２は図１０の先端部の断面を示す断面図、図１３は図１０の電気・光コネクタの構成を示す断面図、図１４は図１０の電気・光コネクタの変形例の構成を示す断面図である。

実施例２は、実施例１とほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し、同一の構成には同じ符号をつけ説明は省略する。

（構成）
本実施例の全体図は図１と同じであるが、図 中の電気コネクタ１１が電気・光コネクタ２０１に、制御部３が図１０の制御部１５０になっている。また、チューブ４の中にさらにシングルモードファイバ１５６が通っている。また、図３の先端構成部２の中身が図１１の先端部１５３となっており、ケーブルとして、各々が電気的に接続されている図４の電気ケーブル４３、および図２の電気ケーブル１５に加えて、シングルモードファイバ１５６がさらに通っている。

詳細には、制御部１５０は、図１０に示すように、光源部１５１、光伝達部１５２、先端部１５３、光検出部１５４によって構成されている。

光源部１５１は、波長６３５ｎｍのレーザ光を発生するヘリウムネオンレーザ光源１５５によって構成され、また、光伝達部１５２は、前記レーザ光源１５５のレーザ光が入射され、そのレーザ光を双方向に分岐するシングルモードファイバ１５６からなる４端子カプラ１５７によって構成されている。この４端子カプラ１５７の他端の一つは電気・光コネクタ２０１を介して先端部１５３に接続され、もう一つの端部は閉塞されている。また、光検出部１５４は４端子カプラ１５７に設けられた光検出器であるフォトディテクタ１５８と、フォトディテクタ１５８に接続された画像処理部１５９で構成される。

先端部１５３は、図１１に示すように、基板１６１、スペーサ１６２、上板１６３からなり、基板１６１は、レーザ光の焦点を対象物に対して走査するために向きが可変の２枚の可変ミラー１６４ａ、１６４ｂを有する。この２枚の可変ミラー１６４ａ、１６４ｂは２つのヒンジ部１６５ａ、１６５ｂによって支持され、このヒンジ部１６５ａ、１６５ｂを回転軸にして静電気力によって回転可動に構成されている。ここで、この２枚の可変ミラー１６４ａ、１６４ｂの回転軸は直交する図中のＸ軸及びＹ軸にそれぞれ平行になるように構成されている。

また、図１２に示すように、スペーサ１６２にはミラー１６６が、また上板１６３にはミラー１６７及びレーザ光に焦点１６８を結ばせるための回折格子レンズ１６９が設けられている。

図１３に示すように、電気・光コネクタ２０１の根本に切欠部２０２を設け、その切欠部２０２にＯリング２０３を略密着させている。このＯリング２０３により、電気・光コネクタ２０１に金属製の水密キャップ２０４を接合したときに接続部内部が水密を保つ構造となっている。また、光コネクタ２０１の先端にはネジ部２０５が水密キャップ２０４の根本にもネジ部２０６が切ってあり、水密キャップ２０４を電気・光コネクタ２０１に最後まどねじ込んで水密を保つような構造となっている。

また、電気・光コネクタ２０１と制御部１５０との接続検出のために、第１の実施の形態と同様に、制御部１５０側に設けられたフォトダイオード１７（図示せず）の出射光をフォトトランジスタ１８（図示せず）へ、電気・光コネクタ２０１の接続／非接続により、透光／遮光されて、コネクタ接続検出回路７１で検出する。そしてレーザ光源１５１の出射を、第１の実施の形態と同様に制御する。

なお、図１３には電気ケーブル１０５が図示されていないが、第１の実施の形態と同様に、電気・光コネクタ２０１が制御部１５０に接続されると、図４の電気ケーブル４３と電気的に接続されて、図１１の先端部１５３を制御する。

なお、本実施例の変形例として、図１３における電気・光コネクタ２０１の代わりに、図１４の電気・光コネクタ２１１とし、図のようにシングルモードファイバ１５６を電気・光コネクタ２１１に接着固定して、水密を保つようにしてもよい。図示しない電気接続ピンも実施例１と同様に構成されている。

（作用）
制御部１５０では、レーザ光源１５５からのレーザ光は４端子カプラ１５７で二つの方向に分割され、その内の一方が先端部１５３に入射される。

このレーザ光は、ミラー１６６、可変ミラー１６４ａ、ミラー１６７、可変ミラー１６４ｂの順に反射し、回折格子レンズ１６９によって焦点１６８を結ぶように導かれ、さらに静電気力によって向きが可変の２枚の可変ミラー１６４ａ、１６４ｂによってその焦点１６８が略平面１７０上に走査される。

焦点１６８に物質がある場合は、反射光は照射されたレーザ光とまったく同じ光路を通って、４端子カプラ１５７のシングルモードファイバ１５６の端面１７１で焦点を結び、シングルモードファイバ１５６へ再び入射する。そして、シングルモードファイバ１５６へ再び入射したこの光は、４端子カプラ１５７によって分割され、フォトディテクタ１５８で検出されるようになっている。

また、焦点１６８に対象物が無い場合は、反射する光がなくシングルモードファイバ１５６にも光が入射されず、従ってフォトディテクタ１５８からも出力がない。また、レーザ光の焦点１６８からずれた位置にある物体からの反射光は、入射光とは異なる光路となり、シングルモードファイバ１５６の端面１７１で焦点を結ばず、従ってシングルモードファイバ１５６にはほとんど光が入射されず、フォトディテクタ１５８でもほとんど出力されない。

また、図１３のように、電気・光コネクタ２０１に水密キャップ２０４を最後までねじ込むと、電気・光コネクタ２０１と水密キャップ２０４とがＯリング２０３により水密され、コネクタ内部が水密構造となる。

（実施例２の効果）
レーザ光をミラー１６４ａ、１６４ｂでＸ，Ｙ方向へ走査することによって、レーザ光の焦点１６８が走査する略平面１７０の反射と散乱の強度の変化を２次元的に検出し、さらに画像処理部１５９はフォトディテクタ１５８からの信号を用いてこれを画像化することができる。さらに、これら先端部１５３に設けられたバイモルフ型圧電素子（図示せず）によって、先端部１５３と対象物との距離を変化させることにより、前記走査面を図１２における法線方向１７２に移動させ、対象物を３次元的に検出し、画像化することもできる。

また、水密キャップ２０４を着脱可能としたことにより、洗滌・消毒液に浸漬したときに、電気・光コネクタ端面が汚れるのを防ぐことができる。

また、電気・光コネクタ２０１が制御部１５０に接続されているときはレーザ駆動し、接続が外れると、レーザの駆動を停止するので、レーザ光の漏えいや、感電を防止することができる。

図１５ないし図２０は本発明の実施例３に係わり、図１５は光断層画像装置（光イメージング装置）の構成を示す構成図、図１６は図１５の光走査プローブが挿通される内視鏡を示す図、図１７は図１５の光走査プローブの後端側部分を示す断面図、図１８は図１５の光走査プローブの全体構成を示す断面図、図１９は図１５の光走査プローブに取り付けられる防水キャップを説明する説明図、図２０は図１５の光走査プローブの前端側部分を示す断面図である。

（構成）
図１５に示す光断層画像装置３０１は、超高輝度発光ダイオード（以下、ＳＬＤと略記）等の低干渉性光源３０２を有する。この低干渉性光源２はその波長が例えば１３００ｎｍで、その可干渉距離が例えば１７μｍ程度であるような短い距離範囲のみで干渉性を示す低干渉性光の特徴を備えている。つまり、この光を例えば２つに分岐した後、再び混合した場合には分岐した点から混合した点までの２つの光路長の差が１７μｍ程度の短い距離範囲内の場合には干渉した光として検出され、それより光路長が大きい場合には干渉しない特性を示す。

この低干渉性光源３０２の光は第１のシングルモードファイバ３０３の一端に入射され、他方の端面（先端面）側に伝送される。
この第１のシングルモードファイバ３０３は途中の光カップラ部３０４で第２のシングルモードファイバ３０５と光学的に結合されている。従って、この光カップラ３０４部分で２つに分岐されて伝送される。

第１のシングルモードファイバ３０３の（光カップラ部４より）先端側には、非回転部と回転部とで光を伝送可能な結合を行う光ロータリジョイント３０６が介挿され、この光ロータリジョイント３０６内の第３のシングルモードファイバ３０７を介して実施例１の光走査プローブ装置（以下、光走査プローブと略記）３０８内に挿通され、回転駆動される第４のシングルモードファイバ３０９に低干渉光源３０２の光が伝送（導光）される。

そして、伝送された光は光走査プローブ３０８の先端側から生体組織３１１側に走査されながら照射される。また、生体組織３１１側での表面或いは内部での散乱などした反射光の一部が取り込まれ、逆の光路を経て第１のシングルモードファイバ３０３側に戻り、光カップラ部３０４によりその一部が第２のシングルモードファイバ３０５側に移り、第２のシングルモードファイバ３０５の一端から光検出器としての例えばフォトダイオード３１２に入射される。なお、光ロータリジョイント３０６のロータ側は回転駆動装置３１３によって回転駆動される。

また、第２のシングルモードファイバ３０５の光カップラ部３０４より先端側となる途中には光ループ部３１４が設けてあり、さらにその先端には光路長の可変機構３１５が設けてある。

つまり、第２のシングルモードファイバ３０５の先端面に対向してレンズ３１６と、ミラー３１７とが配置され、このミラー３１７はアクチュエータ３１８により、矢印ａで示すように光路長を変化できるようにしている。このミラー３１７で反射された光は光カップラ部３０４で第１のシングルモードファイバ３０３側から漏れた光と混合されて、共にフォトダイオード３１２で受光される。なお、アクチュエータ３１８及び回転駆動装置３１３は制御装置３１９により制御される。

なお、ループ部３１４は光走査プローブ３０８側の第４のシングルモードファイバ３０９等による光路長とほぼ等しい長さとなるように設定される。また第２のシングルモードファイバ３０５の先端面からミラー３１７で反射されて第２のシングルモードファイバ３０５の先端面に戻る光路長は第４のシングルモードファイバ３０９の先端面から後述するマイクロプリズムなどを介して生体組織３１１側に照射され、生体組織３１１の内部等で反射されて第４のシングルモードファイバ３０９の先端面に戻る光路長と等しくできるようにしている。

そして、基準光側の光路長の可変機構３１５におけるミラー３１７の位置を変えてその光路長を変化することにより、この光路長と等しい値となる生体組織３１１の深さ位置での反射光とを干渉させ、他の深さ部分での反射光は非干渉にすることができるようにしている。

上記フォトダイオード３１２で光電変換された信号はアンプ３２１により増幅された後、復調器３２２に入力される。この復調器３２２では干渉した光の信号部分のみを抽出する復調処理を行い、その出力はＡ／Ｄ変換器３２３を経てコンピュータ３２４に入力される。このコンピュータ３２４では断層像に対応した画像データを生成し、モニタ３２５に出力し、その表示面にＯＣＴ像３２６を表示する。

このコンピュータ３２４は制御装置３１９と接続され、コンピュータ３２４は制御装置３１９を介してアクチュエータ３１８を介して基準光の光路長の可変制御と、回転駆動装置３１３による回転による光走査方向の制御を行うようにしている。

また、光ロータリジョイント３０６と光走査プローブ３０８とは着脱自在に構成されており、光ロータリジョイント３０６と光走査プローブ３０８との接続状態を検出する、たとえば図示しないフォトセンサからなるプローブ接続状態検出部３１０が設けられている。このプローブ接続状態検出部３１０は、低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３と電気的に接続されていて、プローブ接続状態を示す検出信号を低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３に出力するようになっている。

光走査プローブ３０８は、図１６に示すように、内視鏡３２７の鉗子挿通口３２８から鉗子挿通用チャンネルを経てその先端開口から光走査プローブ３０８の先端側を突出させることができる。

この内視鏡３２７は体腔内に挿入し易いように細長の挿入部３２９を有し、この挿入部３２９の後端には太幅の操作部３３０が設けてある。この挿入部３３０の前端付近には鉗子挿通口３２８が設けてあり、この鉗子挿通口３２８はその内部で鉗子挿通用チャンネルと連通している。

挿入部３２９内には図示しないライトガイドが挿通され、このライトガイドの入射端を光源装置に接続し、照明光を伝送して挿入部３２９の先端部に設けた照明窓から出射し、患部等を照明する。また、照明窓に隣接して観察窓が設けられ、この観察窓には対物光学系が取り付けられ、照明された患部等を光学系に観察できるようにしている。

そして、内視鏡３２７の先端部の観察光学系の観察の下で、患部等の注目する部分の生体組織３１１側に光走査プローブ３０８により、低干渉光を照射し、その生体組織３１１の内部の断層画像データを得て、モニタ３２５の表示面にＯＣＴ像３２６を表示できるようにしている。

前記光走査プローブ３０８の構成を図１７ないし図２０を参照して以下に説明する。 第１のシングルモードファイバ３０３の先端側は、図１７に示す光ロータリジョイント３０６内の第３のシングルモードファイバ３０７を介して光走査プローブ３０８内に挿通される第４のシングルモードファイバ３０９と光学的に結合されている。

第１のシングルモードファイバ３０３の先端には回転子受け３３１が設けてあり、この回転子受け３３１の凹部に回転子３３２が嵌合し、両者の間に介挿した２箇所の軸受け３３３により回転子３３２は（回転されない回転子受け３３１側に対して）回転自在に支持されている。

回転子受け３３１及び回転子３３２の中心に沿ってそれぞれ第１のシングルモードファイバ３及び第３のシングルモードファイバ３０７が挿通され、両ファイバ３０３、３０７が対向する端面にはそれぞれ凸レンズ３３４、３３５を配置して、回転されないファイバ３と回転されるファイバ７との間で効率良く光の伝送できるようにしている。

また、回転子３３２は例えばベルト３３６を介して回転駆動装置３１３を構成するモータ３３７のプーリ３３８と連結されている。モータ３３７の回転により、矢印ｂで示すように回転子３３２も回転され、従って第３のシングルモードファイバ３０７も共に回転される。モータ３３７は回転制御部３３９からのモータ駆動信号により、一定速度で回転駆動する。

この回転子３３２の先端には光走査プローブ３０８の後端に設けたコネクタ部３４１が接続される。

図１８に示すように、光走査プローブ３０８は外套チューブとなる細長で円管形状のシース３４２の中心軸に沿って第４のシングルモードファイバ３０９を配置し、この第４のシングルモードファイバ３０９の後端及び先端をコネクタ本体３４３及び先端本体３４４にそれぞれ固定し、この第４のシングルモードファイバ３０９を中空で柔軟な回転力伝達部材としてのフレキシブルシャフト３４５で覆うようにしている。このフレキシブルシャフト３４５の内径は第４のシングルモードファイバ３０９の外径より僅かに大きい。
なお、第４のシングルモードファイバ３０９は例えばそのコア径が９μｍ程度である。

シース３４２は例えばポリメチルペンテン製、フッ素樹脂製、ナイロン製等、（低干渉光に対して）透明で光透過性が良いチューブで形成されている。また、フレキシブルシャフト３４５は密巻きのコイルを２重或いは３重にして、柔軟性を有し、一端に加えられた回転を他端に効率良く伝達する機能を有する。このフレキシブルシャフト３４５の後端及び先端もコネクタ本体３４３及び先端本体３４４に固定されている。

シース３４２の後端にはコネクタ部３４１を形成する円筒状のコネクタカバー３４６に固着され、このコネクタカバー３４６の内側に円柱状のコネクタ本体３４３が２箇所に設けた軸受け３４７を介挿して回転自在に支持されている。そして、このコネクタ本体３４３の中心軸に設けた孔に第４のシングルモードファイバ３０９の後端が挿入されて接着剤等で固着されている。

このコネクタ本体３４３の後端面には凸部３４８が設けられ、一方回転子３３２の先端面にはこの凸部３４８に嵌合する凹部３４９が設けてあり、これらは互いに嵌合する。そして、両者を突き当てた状態で回転子３３２を回転した場合にはコネクタ本体３４３も回転する。この回転力がフレキシブルシャフト３４５の後端に付与され、このフレキシブルシャフト３４５によりその先端に伝達し、その先端に取り付けた先端本体３４４を回転させるようにしている。

また、上述したように、光ロータリジョイント３０６と光走査プローブ３０８とは着脱自在に構成されており、図１９に示すように、光走査プローブ３０８を光ロータリジョイント３０６から取り外した際には、光走査プローブ３０８のコネクタ部３４１に防水キャップ３４１ａを取り付けることにより、光走査プローブ３０８の内部を水密・気密な構造にすることができるようになっている。

図２０にも示すように、第４のシングルモードファイバ３０９の先端は先端本体３４４の中心軸に設けた孔に挿入して接着剤等で固着され、第４のシングルモードファイバ３０９の先端面の前側の孔径を拡げて第４のシングルモードファイバ３０９の先端から出射される光を所定の位置に集光するセルフォックレンズ（ＧＲＩＮレンズ）３５１を固着している。このＧＲＩＮレンズ３５１の先端面には光路を反射により変更するマイクロプリズム３５２を接着剤等で固着している。

そして、第４のシングルモードファイバ３０９で導光され、先端面に所定距離離間して配置された光をＧＲＩＮレンズ３５１で集光し、マイクロプリズム３５２で直角方向に反射して、透明のシース３４２を透過させて外部に集光した（低干渉光による）出射光５３を出射できるようにしている。そして、所定の距離で集光される集光点では例えば１０μｍないし３０μｍの光束径となるようにしている。

なお、第４のシングルモードファイバ３０９の先端面は斜めにカットされ、ＧＲＩＮレンズ３５１の後面で反射された光がこの先端面に入射するのを低減している。また、ＧＲＩＮレンズ３５１の後面及びマイクロプリズム３５２の前面に反射防止部材をコーティングするなどして反射防止膜３５４を設け、反射光が生じるのを低減している。

なお、シース３４２の先端は半球状にして先端を閉じている。本実施の形態の光走査プローブ３０８はその全長Ｌがほぼ２０００ｍｍ程度、シース径Ｄが２．４ｍｍにしている。

（作用）
図示しない内視鏡光源装置からの照明光を内視鏡３２７のライトガイドで導光することにより、挿入部３２９の先端部の照明窓から生体組織３１１側を照明する。照明された生体組織３１１は観察窓の対物光学系により、固体撮像素子に結像され、ビデオプロセッサで信号処理された後、表示用モニタに内視鏡像を表示する。

低干渉光での断層像の表示を行う場合には、図１６に示すように内視鏡３２７の鉗子挿入口３２８に光走査プローブ３０８を通し、鉗子チャンネル内を経て先端開口から光走査プローブ３０８の先端部を突出させる。

また、この光走査プローブ３０８の後端のコネクタ部３４１を光ロータリジョイント３０６の前端の回転子３３２に接続して図１５の光断層画像装置３０１を構成する。

すると低干渉光源３０２の低干渉光は第１のシングルモードファイバ３０３の後端に入射され、この低干渉光は光ロータリジョイント３０６内の第３のシングルモードファイバ３０７を介して光走査プローブ３０８内の第４のシングルモードファイバ３０９の後端に入射される。

入射された低干渉光は、この第４のシングルモードファイバ３０９によって導光されてその先端面から図１８或いは図２０に示すように対向するＧＲＩＮレンズ３５１側に出射され、このＧＲＩＮレンズ３５１により集光され、このＧＲＩＮレンズ３５１の先端面に接着固定されたマイクロプリズム３５２に入射され、その斜面で全反射されて進行方向が９０°異なる方向に出射光５３が出射され、この出射光３５３が出射される方向の生体組織３１１側に照射される。

図１７に示すように、光ロータリジョイント３０６を構成する回転子３３２はモータ３３７の回転軸に取り付けたプーリ３３８とベルト３３６で接続されているので、モータ３３７を一定速度で回転させることにより、回転子３３２も矢印ｂで示す方向に一定速度で回転し、この回転子３３２の先端に接続されたコネクタ部３４１におけるコネクタ本体３４３も共に回転する。

このコネクタ本体３４３には第４のシングルモードファイバ３０９を覆うフレキシブルシャフト３４５の後端が固着されているので、このフレキシブルシャフト３４５も回転し、この回転はフレキシブルシャフト３４５によりその先端にも伝達される。この場合、コネクタ本体３４３の中心の孔には第４のシングルモードファイバ３０９の後端が固着されているので、この第４のシングルモードファイバ３０９もフレキシブルシャフト３４５と共に回転する。

このフレキシブルシャフト３４５の先端に取り付けられ、その中心の孔に第４のシングルモードファイバ３０９の先端が固着された先端本体３４４も回転し、この先端本体３４４に固着したＧＲＩＮレンズ３５１及びマイクロプリズム３５２も回転するので、図１８或いは図２０に示す出射光３５３は光走査プローブ３０８の軸に垂直な方向に放射状に走査する。

そして、生体組織３１１の表面及びその表面近くの内部組織の光学的な特性が異なる部分（屈折率の変化部分）で反射及び組織中で散乱され、一部は照射時とは逆の光路となるマイクロプリズム３５２及びＧＲＩＮレンズ３５１を経て第４のシングルモードファイバ３０９の先端面に入射され、その後端側に伝送される。

そして、光ロータリジョイント３０６内の第３のシングルモードファイバ３０７を経て第１のシングルモードファイバ３０３の先端面に入射され、その途中の光カップラ部３０４によって第２のシングルモードファイバ３０５側に一部が移り、その際基準光側の光（ミラー３１７で反射された光）と混合されてフォトダイオード２１２で受光され、光電変換されて電気信号となる。

この信号は、アンプ３２１で増幅された後、復調器３２２により、干渉光成分のみが抽出されて検波される。そして、デジタル信号に変換されてコンピュータ３２４に入力される。

コンピュータ３２４は、光路長の可変機構３１５により光路長を変化させるようにして生体組織３１１の深さ方向の断層像データを得ると共に、制御装置３１９を介して回転駆動装置３１３を制御してその内部のモータ３３７を一定速度で回転させ、１フレーム分の断層像データを得る。

コンピュータ３２４では、順次得られた断層像データをその内部の画像メモリに一旦格納し、所定の周期で読み出してモニタ３２５に断層像或いはＯＣＴ像３２６を図１４のように表示することができる。

また、光ロータリジョイント３０６に光走査プローブ３０８が接続されていない場合には、プローブ接続状態検出部３１０より低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３に対して「プローブ脱」を表すモード信号が出力され、低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３はインターロックされて動作不可の状態となる。その後、光走査プローブ３０８が光ロータリジョイント３０６に接続された場合、プローブ接続状態検出部３１０より低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３に対して「プローブ着」を表すモード信号が出力され、低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３のインターロックは解除される。

逆に、光走査プローブ３０８が光ロータリジョイント３０６に接続されていて低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３が動作状態にある場合において、光走査プローブ３０８が光ロータリジョイント３０６より取り外された場合には、「プローブ脱」を表すモード信号がプローブ接続状態検出部３１０より低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３に出力され、直ちに低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３の動作は停止される。

また、光ロータリジョイント３０６と光走査プローブ３０８とは着脱自在に構成されているので、例えば光走査プローブ３０８が破損して検査不能になった場合、操作者は予備の光走査プローブと交換することができる。また、検査終了後、光ロータリジョイント３０６から光走査プローブ３０８を取り外し、光走査プローブ３０８のコネクタ部３４１に防水キャップ３４１ａを取り付けることにより、光走査プローブ３０８の内部機能を損なうことなく、薬液等の液体に浸すことができる。

（実施例３の効果）
本実施例では、光走査プローブ３０８の中心軸に沿って配置した第４のシングルモードファイバ３０９を回転駆動し、その先端側に設けたＧＲＩＮレンズ３５１及びマイクロプリズム３５２も回転駆動することにより、光走査プローブ３０８の中心軸に垂直な方向に対して低干渉光を安定して走査でき、従って周方向に２次元的に広がり、深さ方向の断層像を安定して得ることができる。

具体的には、例えば狭い管腔内壁部分でこのように周方向の走査を行って周方向の断層像を得ることにより、内視鏡３２７による表面状態の観察と、断層像による表面を含むその内部の病変部位の性状を検出するなどの診断を有効に行うことができる。

また、他の使用例として例えば、内視鏡３２７により体腔内の生体組織３１１において、患部等の注目する部位を観察し、その内部の状態を主に観察したい場合には、注目する部位に光走査プローブ３０８の先端の側面を接近させて（例えば光走査プローブ３０８の先端の側面を注目する部位の表面とほぼ平行にする）、同様に周方向の走査により断層像を得る。

そして、表示の際には全周方向の断層像を表示しないで、注目する部位を含む狭い範囲をモニタ３２５に表示するようにしても良い。この場合には、広い管腔内部でも適用できる。また、狭い管腔部位でもその一部に対する詳細な断層像を得る場合にも適用できる。

また、このように全周に対する断層像をを得る場合と全周の一部の領域に対する断層像を得る場合とで、回転速度（換言すると走査速度）を変更できるようにしても良い。

本実施例によれば、鉗子チャンネルを備えた既存の内視鏡３２７に広く適用できると共に、この適用により患部等のその表面の内視鏡像の他に、安定した光走査機構によってその内部の断層像を安定して得ることができるので、より的確な診断を行うのに適した光走査プローブ３０８を提供できる。

また、低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３のインターロック機能により、光走査プローブ３０８が装着されていない状態では、低干渉性光源３０２及び回転駆動装置３１３は動作しないために、操作者や患者を不要な危険にさらすことから回避することができる。

さらに、光走査プローブ３０８が破損した場合、装置全体を交換することなく、光走査プローブのみを予備と交換することで、検査を再開することができる。とくに、高価な光ロータリージョイントを交換することなく、比較的安価な光走査プローブだけを交換すればよい。

また、食道、胃、大腸等、検査部位に応じて組み合わせて使用する内視鏡では、長さもまちまちであるが、それらに応じて適当な長さを有する光走査プローブプローブに交換して検査することができる。

さらに、検査終了後、薬液に所定時間、光走査プローブを浸すことにより、光走査プローブの機能にダメージを与えることなく、消毒、滅菌することができるので、患者毎に光走査プローブを交換する必要がない。

［付記］
（付記項１−１） 体腔内に挿入可能な挿入部に光走査手段を有する光走査型プローブと、前記光走査型プローブが着脱自在に設けられ前記光走査型プローブの検出信号および／または検出光を受ける制御装置とを有する光走査装置において、
前記光走査型プローブは、
前記挿入部を有し水密的に構成されたプローブ本体と、
前記プローブ本体と水密的に固着され、それ自体も水密的に構成された前記制御装置に接続可能なコネクタと
からなることを特徴とする光走査装置。

（付記項１−２） 前記光走査型プローブは、
前記制御装置内の点光源から照射される光を導光し、前記光を前記体腔内の被検部位に照射すると共に前記被検部位からの反射光を受け取る一方の端部を有するシングルモードファイバと、
前記シングルモードファイバの前記一方の端部から照射される前記光を前記被検部位の焦点面上で走査させる光走査手段と、
前記光走査手段により走査された前記シングルモードファイバの前記一方の端部からの前記光を前記被検部位に合焦させると共に、前記被検部位からの前記反射光を集光して前記シングルモードファイバの前記一方の端部上に合焦させる光学系と
を有し、
前記制御装置は、
前記点光源と、
前記点光源から照射される前記光を前記シングルモードファイバへ導光すると共に、前記シングルモードファイバから前記被検部位からの前記反射光を受け取り導光する導光手段と、
導光手段からの前記反射光を前記点光源からの前記光より分離する光分離手段と、
前記光分離手段により分離された前記反射光を検出する反射光検出手段と、
前記光走査手段を駆動する光走査駆動手段と、
を有し、
前記光走査型プローブが、前記コネクタで前記制御装置に接続されると、
前記シングルモードファイバと前記導光手段とが光学的に接続されると共に、前記光分離手段により前記反射光が前記点光源からの前記光から分離され、
さらに、前記光走査手段と前記光走査駆動手段とが電気的に接続される
ことを特徴とする付記項１−１に記載の光走査装置。

（付記項１−３） 前記光走査型プローブは、
前記制御装置内の点光源から照射される光を導光し、前記光を前記体腔内の被検部位に照射する一方の端部を有するシングルモードファイバと、
前記シングルモードファイバの前記一方の端部から照射される前記光を前記被検部位の焦点面上で走査させる光走査手段と、
前記被検部位から反射された反射光を検出し電気信号に変換する反射光検出手段と、
前記シングルモードファイバの前記一方の端部からの前記光を前記被検部位に合焦させると共に、前記被検部位からの前記反射光を集光して前記反射光検出手段に合焦させる光学系と
を有し、
前記制御装置は、
前記点光源と、
前記点光源から照射される前記光を前記シングルモードファイバへ導光する導光手段と、
前記光走査手段を駆動する光走査駆動手段と、
前記反射光検出手段からの前記電気信号を受け取る信号検出回路と
を有し、
前記光走査型プローブが、前記コネクタで前記制御装置に接続されると、
前記シングルモードファイバと前記導光手段とが光学的に接続され、
さらに、前記光走査手段前記光走査駆動手段とが電気的に接続されると共に、前記反射光検出手段と前記信号検出回路とが電気的に接続される
ことを特徴とする付記項１−１に記載の光走査装置。

（付記項１−４） 前記光走査型プローブは、
点光源と、
前記点光源からの光を前記体腔内の被検部位の焦点面上で走査させる光走査手段と、
前記被検部位からの反射光を受け取る一方の端部を有するシングルモードファイバと、
前記点光源からの前記光を前記被検部位に合焦させると共に、前記被検部位からの反射光を集光して前記シングルモードファイバの前記一方の端部上に合焦させる光学系と
を有し、
前記制御装置は、
前記被検部位からの前記反射光を前記シングルモードファイバより受け取り導光する導光手段と、
前記導光手段により導光された前記反射光を検出し電気信号に変換する反射光検出手段と、
前記点光源を電気的に駆動する点光源駆動手段と、
前記光走査手段を電気的に駆動する光走査駆動手段と、
を有し、
前記光走査型プローブが、前記コネクタで前記制御装置に接続されると、
前記シングルモードファイバと前記導光手段とが光学的に接続され、
さらに、前記光走査手段前記光走査駆動手段とが電気的に接続されると共に、前記点光源と前記点光源駆動手段とが電気的に接続される
ことを特徴とする付記項１−１に記載の光走査装置。

（付記項１−５） 前記光走査手段は、
シリコン部材からなるマイクロマシンスキャニングミラー手段と、
前記マイクロマシンスキャニングミラー手段を支持して回転させるシリコン窒化物ヒンジと、
前記シングルモードファイバから光を受け取るためにシリコン部材によって導通される反射表面と、
第１の方向から第２の方向に光をスキャンするために静電的に前記マイクロマシンスキャニングミラー手段を動かすミラー駆動手段と
を
備えたことを特徴とする付記項１−２または１−３に記載の光走査装置。

（付記項１−６） 前記光走査手段は、
前記シングルモードファイバから光を受け取り、第１方向に光を走査する第１マイクロマシンスキャニングミラーと、
前記第１ミラーから光を受け取り、第１方向と直交する第２方向に光を走査する第２マイクロマシンスキャニングミラーと
から構成される
ことを特徴とする付記項１−２または１−３に記載の光走査装置。

（付記項１−７） 前記光走査手段は、
ヒンジによって支持され、第１軸と、第２軸に関して回転するフレームを有する
ことを特徴とする付記項１−２、１−３または１−４に記載の光走査装置。

（付記項１−８） 前記フレームは、
シリコンプレートで形成され、
前記ヒンジは、
シリコン窒化物で形成され、直交する第１軸及び第２軸に関して回転される前記フレームを支持し、前記フレームによって導通される導電性の表面に配置され、導電性の表面と基層との間に電圧をかけることで前記フレームを回転させる
ことを特徴とする付記項１−７に記載の光走査装置。

（付記項１−９） 前記分離手段は、光カプラからなる
ことを特徴とする付記項１−２に記載の光走査装置。

（付記項１−１０） 前記分離手段は、被検部位からの光を反射するビームスプリッタからなる
ことを特徴とする付記項１−２に記載の光走査装置。

（付記項１−１１） 前記光学系は、オフアクシスバイナリレンズを含む
ことを特徴とする付記項１−２、１−３または１−４に記載の光走査装置。

（付記項１−１２） 前記光学系は、回折レンズを含む
ことを特徴とする付記項１−２、１−３または１−４に記載の光走査装置。

（付記項１−１３） 前記光学系は、シリコン部材によって導通される
ことを特徴とする付記項１−２、１−３または１−４に記載の光走査装置。

（付記項１−１４） 光を供給する点光源と、
前記点光源からの前記光を導光する光ファイバと、
前記光ファイバにより導光された前記光を反射し前記体腔内の被検部位に照射するミラー手段と、
前記被検部位上に前記光を合焦させ、前記被検部位からの反射光を前記ミラー手段及び前記光ファイバに戻すレンズと
を備え、
ミラー手段は、
低抵抗基層と、
第１軸に関して回転させるために基層上にヒンジで支持される低抵抗フレームと、
前記第１軸に直交する第２軸に関して回転させるために、前記低抵抗フレームによって前記低抵抗基層上にヒンジで支持される高抵抗部材と、
前記高抵抗部材の表面に導通され、前記低抵抗基層との間に電圧をかけることで、前記高抵抗部材を前記第１軸に関して静電的に回転させる、一対の間隔を置いて配置された導電性フィルムと
を有して構成され、前記被検部位上に前記光を走査する
ことを特徴とする付記項１−１に記載の光走査装置。

（付記項１−１５） 前記光ファイバの一端に、前記被検部位の焦点からの反射光を前記点光源からの前記光より分離する光カプラを配置した
ことを特徴とする付記項１−１４に記載の光走査装置。

（付記項１−１６） 前記光ファイバの一端に、前記被検部位の焦点からの反射光を反射するビームスプリッタを配置した
ことを特徴とする付記項１−１４に記載の光走査装置。

（付記項１−１７） 前記レンズは、オフアクシスバイナリレンズを含む
ことを特徴とする付記項１−１４に記載の光走査装置。

（付記項１−１８） 前記レンズは、回折レンズを含む
ことを特徴とする付記項１−１４に記載の光走査装置。

（付記項１−１９） 前記低抵抗基層と前記高抵抗部材は、シリコンである
ことを特徴とする付記項１−１４に記載の光走査装置。

（付記項１−２０） 前記低抵抗フレームは、シリコン窒化物である
ことを特徴とする付記項１−１４に記載の光走査装置。

（付記項１−２１） 一端が点光源として作用するシングルモードファイバと、
焦点面上の点に前記シングルモードファイバの一端からの光を合焦し、前記焦点面上から反射する反射光を回収し、前記シングルモードファイバの一端に合焦するレンズと、
シリコン基板上に形成された、第１の高抵抗シリコンからなるマイクロマシンスキャニングミラー手段と、
第１軸に関して回転する第１ミラーを支持するシリコン窒化物ヒンジからなるシリコン窒化層と、
前記第１ミラー上に配置される低抵抗基層と、
前記シングルモードファイバから光を受け取るために、シリコン部材によって導通され、前記低抵抗基層との間に電圧をかけることで前記ミラーを回転させる、間隔を置いて配置された反射可能な導電性表面と
を備えて構成されることを特徴とする付記項１−１に記載の光走査装置。

（付記項１−２２） 前記シリコン基板上に形成される第２の高抵抗シリコン部材からなる第２ミラーと、
前記シングルモードファイバから光を受け取るために、導電性高抵抗部材によって導通される、間隔をおいて配置される反射表面と
を備え、
前記低抵抗基層及び前記反射表面は、
静電的に前記第２ミラーを回転させ、前記第１および第２ミラーの組み合わせで、光を第１および第２の方向に向ける
ことを特徴とする付記項１−２１に記載の光走査装置。

（付記項１−２３） 前記導電性表面と前記導電性高抵抗部材との間にｐ−ｎダイオードを形成した
ことを特徴とする付記項１−２２に記載の光走査装置。

（付記項１−２４） 前記マイクロマシンスキャニングミラー手段は、
半導体基板と、
前記半導体基板を回転可能にする薄膜ヒンジと、
導電性の電極基板表面上のある面に導通された、間隔を置いて配置された導電性の電極と、
前記導電性の電極と前記半導体基板との間に形成されるｐ−ｎ接合部と、
前記導電性の電極との間に電圧をかけることで、電極の下の領域は自由キャリアで空乏となり、ねじれ力が発生し、前記半導体基板を前記薄膜ヒンジに関して回転させる導電性部材と
ことを特徴とする付記項１−２１に記載の光走査装置。

（付記項２−１） 体腔内に挿入可能な挿入部に光走査手段を有する光走査型プローブと、
前記光走査型プローブが着脱自在に設けられ、光走査型プローブの検出信号及び／または検出光を受ける制御装置と、
前記制御装置に内蔵され光を照射する点光源と
を有する光走査装置において、
前記光走査型プローブが前記制御装置からはずされたとき、少なくとも前記点光源の駆動を停止させる
ことを特徴とする光走査装置。

（付記項２−２） 前記光走査型プローブは、
前記制御装置内の点光源から照射される光を導光し、前記光を前記体腔内の被検部位に照射すると共に前記被検部位からの反射光を受け取る一方の端部を有するシングルモードファイバと、
前記シングルモードファイバの前記一方の端部から照射される前記光を前記被検部位の焦点面上で走査させる光走査手段と、
前記光走査手段により走査された前記シングルモードファイバの前記一方の端部からの前記光を前記被検部位に合焦させると共に、前記被検部位からの前記反射光を集光して前記シングルモードファイバの前記一方の端部上に合焦させる光学系と、
前記制御装置に接続可能なコネクタと
を有し、
前記制御装置は、
前記点光源と、
前記点光源から照射される前記光を前記シングルモードファイバへ導光すると共に、前記シングルモードファイバから前記被検部位からの前記反射光を受け取り導光する導光手段と、
導光手段からの前記反射光を前記点光源からの前記光より分離する光分離手段と、
前記光分離手段により分離された前記反射光を検出する反射光検出手段と、
前記光走査手段を駆動する光走査駆動手段と、
を有し、
前記光走査型プローブが、前記コネクタで前記制御装置に接続されると、
前記シングルモードファイバと前記導光手段とが光学的に接続されると共に、前記光分離手段により前記反射光が前記点光源からの前記光から分離され、
さらに、前記光走査手段と前記光走査駆動手段とが電気的に接続され、
また、前記光走査型プローブが前記制御装置からはずされたとき、少なくとも前記制御装置内の前記点光源の駆動を停止させる
ことを特徴とする付記項２−１に記載の光走査装置。

（付記項２−３） 前記光走査型プローブは、
前記制御装置内の点光源から照射される光を導光し、前記光を前記体腔内の被検部位に照射する一方の端部を有するシングルモードファイバと、
前記シングルモードファイバの前記一方の端部から照射される前記光を前記被検部位の焦点面上で走査させる光走査手段と、
前記被検部位から反射された反射光を検出し電気信号に変換する反射光検出手段と、
前記シングルモードファイバの前記一方の端部からの前記光を前記被検部位に合焦させると共に、前記被検部位からの前記反射光を集光して前記反射光検出手段に合焦させる光学系と、
前記制御装置に接続可能なコネクタと
を有し、
前記制御装置は、
前記点光源と、
前記点光源から照射される前記光を前記シングルモードファイバへ導光する導光手段と、
前記光走査手段を駆動する光走査駆動手段と、
前記反射光検出手段からの前記電気信号を受け取る信号検出回路と
を有し、
前記光走査型プローブが、前記コネクタで前記制御装置に接続されると、
前記シングルモードファイバと前記導光手段とが光学的に接続され、
さらに、前記光走査手段前記光走査駆動手段とが電気的に接続されると共に、前記反射光検出手段と前記信号検出回路とが電気的に接続され、
また、前記光走査型プローブが前記制御装置からはずされたとき、少なくとも前記制御装置内の前記点光源の駆動を停止させる
ことを特徴とする付記項２−１に記載の光走査装置。

（付記項２−４） 前記光走査型プローブは、
点光源と、
前記点光源からの光を前記体腔内の被検部位の焦点面上で走査させる光走査手段と、
前記被検部位からの反射光を受け取る一方の端部を有するシングルモードファイバと、
前記点光源からの前記光を前記被検部位に合焦させると共に、前記被検部位からの反射光を集光して前記シングルモードファイバの前記一方の端部上に合焦させる光学系と、
前記制御装置に接続可能なコネクタと
を有し、
前記制御装置は、
前記被検部位からの前記反射光を前記シングルモードファイバより受け取り導光する導光手段と、
前記導光手段により導光された前記反射光を検出し電気信号に変換する反射光検出手段と、
前記点光源を電気的に駆動する点光源駆動手段と、
前記光走査手段を電気的に駆動する光走査駆動手段と、
を有し、
前記光走査型プローブが、前記コネクタで前記制御装置に接続されると、
前記シングルモードファイバと前記導光手段とが光学的に接続され、
さらに、前記光走査手段前記光走査駆動手段とが電気的に接続されると共に、前記点光源と前記点光源駆動手段とが電気的に接続され、
また、前記光走査型プローブが前記制御装置からはずされたとき、少なくとも前記制御装置内の前記点光源の駆動を停止させる
ことを特徴とする付記項２−１に記載の光走査装置。

（付記項２−５） 前記光走査型プローブが前記制御装置からはずされたとき、前記制御装置内の前記点光源以外に、前記制御装置内の前記光走査駆動手段の駆動も停止させる
ことを特徴とする付記項２−２に記載の光走査装置。

（付記項２−６） 前記光走査型プローブが前記制御装置からはずされたとき、前記制御装置内の前記点光源以外に、前記光走査型プローブ内の前記反射光検出手段の前記電気信号の出力と、前記制御装置内の前記光走査駆動手段の駆動も停止させる
ことを特徴とする付記項２−３に記載の光走査装置。

（付記項２−７） 前記光走査型プローブが前記制御装置からはずされたとき、前記制御装置内の前記点光源以外に、前記制御装置内の前記光走査駆動手段の駆動も停止させる
ことを特徴とする付記項２−４に記載の光走査装置。

（付記項２−８） 前記光走査手段は、
前記シングルモードファイバから光を受け取り、第１方向に光を走査する第１マイクロマシンスキャニングミラーと、
前記第１ミラーから光を受け取り、第１方向と直交する第２方向に光を走査する第２マイクロマシンスキャニングミラーと
から構成される
ことを特徴とする付記項２−２、２−３または２−４に記載の光走査装置。

（付記項３−１） 体腔内に挿入可能な挿入部に設けられた点光源から照射される光を光走査する光走査型プローブと、前記光走査型プローブが着脱自在に設けられ、前記光走査型プローブの検出信号を受信する制御装置とを有する光走査装置において、
前記光走査型プローブは、
前記挿入部を有し水密的に構成されたプローブ本体と、
前記プローブ本体と水密的に固着され、それ自体も水密的に構成された前記制御装置に接続可能なコネクタと
からなることを特徴とする光走査装置。

（付記項３−２） 前記挿入部は、
レーザ光源と、
前記レーザ光を被検部位に合焦させる光学系と、
前記レーザ光を前記被検部位の焦点面上で走査させる光走査手段と、
前記被検部位から反射された反射光を検出する検出手段と
を内蔵して構成される
ことを特徴とする付記項３−１に記載の光走査装置。

（付記項３−３） 前記レーザ光源は、半導体レーザである
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−４） 前記レーザ光源、前記光学系及び前記光走査手段を前記挿入部の先端に内蔵した
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−５） 前記検出手段を前記挿入部の先端に内蔵した
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−６） 前記反射光を、前記レーザ光源からのレーザの光路より分離する分離手段を設けた
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−７） 前記分離された前記反射光は、前記挿入部内を通る光ファイバによって体外に導かれ、体外に設けられた光検出手段で検出される
ことを特徴とする付記項３−６に記載の光走査装置。

（付記項３−８） 前記光走査手段は、前記レーザ光を２次元走査可能な少なくとも一つのスキャンミラーを有する
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−９） 前記光走査手段は、前記レーザ光を前記２次元走査手段の他に、２次元走査面の垂直方向に走査する垂直走査手段を有する
ことを特徴とする付記項３−８に記載の光走査装置。

（付記項３−１０） 前記光走査手段は静電気力で駆動される
ことを特徴とする付記項３−８に記載の光走査装置。

（付記項３−１１） 前記光走査手段はジンバル構造で持つ
ことを特徴とする付記項３−８に記載の光走査装置。

（付記項３−１２） 前記光走査手段は磁気力で駆動される
ことを特徴とする付記項３−８に記載の光走査装置。

（付記項３−１３） 前記光学系は、少なくとも一つのレンズからなる
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−１４） 前記光学系は、少なくとも一つの凹面ミラーからなる
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−１５） 前記光学系は、少なくとも一つの回折素子からなる
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−１６） 前記分離手段は、ビームスプリッタである
ことを特徴とする付記項３−６に記載の光走査装置。

（付記項３−１７） 前記ビームスプリッタは、ダイクロックミラーである
ことを特徴とする付記項３−１６に記載の光走査装置。

（付記項３−１８） 前記ビームスプリッタは、レーザ光源の出射面に設けられている
ことを特徴とする付記項３−１６に記載の光走査装置。

（付記項３−１９） 前記分離手段は、前記レーザ光と前記反射光に光路差が生じるように分離する
ことを特徴とする付記項３−６に記載の光走査装置。

（付記項３−２０） 前記反射光の光路に前記検知手段を設けた
ことを特徴とする付記項３−１９に記載の光走査装置。

（付記項３−２１） 前記検出手段は、フォトダイオードである
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−２２） 前記レーザ光源は半導体レーザ光源で、前記フォトダイオードと前記半導体レーザ光源が同一半導体上に設けられている
ことを特徴とする付記項３−２１に記載の光走査装置。

（付記項３−２３） 前記検出手段は、フォトトランジスタである
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−２４） 前記レーザ光源は半導体レーザ光源で、前記フォトトランジスタと前記半導体レーザ光源が同一半導体上に設けられている
ことを特徴とする付記項３−２２に記載の光走査装置。

（付記項３−２５） 前記検出手段の前面に、ピンホールを設けた
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−２６） 前記光走査装置は内視鏡である
ことを特徴とする付記項３−２ないし３−２５のいずれか１つに記載の光走査装置。

（付記項３−２７） 前記点光源と、前記光走査手段と、前記検出手段とが、
中空のパイプと、前記パイプを前側からふさぐ前フタと、前記パイプを後側からふさぐ後フタと、前記レンズから前記光を照射する透明な窓とで、水密に固定される
ことを特徴とする付記項３−２に記載の光走査装置。

（付記項３−２８） 水密キャップが、前記コネクタに水密に着脱可能に設けられている
ことを特徴とする付記項３−１に記載の光走査装置。

（付記項３−２９） 前記制御装置は、少なくとも異なる２種類以上の光走査型プローブを制御可能である
ことを特徴とする付記項３−１に記載の光走査装置。

（付記項３−３０） 前記コネクタを前記制御装置に接続したとき、前記コネクタが接続されているプローブの種類を検知可能な、プローブ検知手段を設けた
ことを特徴とする付記項３−１に記載の光走査装置。

（付記項４−１） 体腔内に挿入可能な挿入部に設けられた点光源から照射される光を光走査する光走査型プローブと、前記光走査型プローブが着脱自在に設けられ、前記光走査型プローブの検出信号を受信する制御装置とを有する光走査装置において、
前記光走査型プローブが前記制御装置からはずれたとき、少なくとも前記点光源の駆動を停止させる
ことを特徴とする光走査装置。

（付記項４−２） 前記挿入部は、
レーザ光源と、
前記レーザ光を被検部位に合焦させる光学系と、
前記レーザ光を前記被検部位の焦点面上で走査させる光走査手段と、
前記被検部位から反射された戻り光を検出する検出手段と
を内蔵して構成される
ことを特徴とする付記項４−１に記載の光走査装置。

（付記項４−３） 前記光走査型プローブが前記制御装置に接続されているとき、前記コネクタが前記制御装置から外れたとき、前記点光源以外に、前記光走査手段と、前記検出手段の駆動も停止させる
ことを特徴とする付記項４−１に記載の光走査装置。

（付記項４−４） 前記コネクタが前記制御装置に接続されたときは、前記点光源を駆動する
ことを特徴とする付記項４−４に記載の光走査装置。

（付記項５−１）
（付記項５） 体腔内に挿入可能な挿入部に光走査手段を有する光走査型プローブと、前記光走査型プローブが着脱自在に設けられ、光走査型プローブの検出信号及び／または検出光を受ける制御装置と
を備えたことを特徴とする光走査装置。

（付記項６−１） 被検体に低干渉性の光を照射し、被検体において散乱した光の情報から被検体の断層画像を構築する光イメージング装置用の光走査プローブ装置であって、
内視鏡の鉗子チャンネル内に挿通可能であり先端が開口していない細長く柔軟な筒状のシースであって、少なくともその先端側の側面は光透過性のよい素材で成形されているシースと、
前記シースの内部に長手方向の軸まわりに回転自在に設けられている柔軟なコイルシャフトと、
前記コイルシャフトに回転力を付与する回転駆動装置と、
前記柔軟なコイルシャフトの内部に設けられているシングルモードファイバで形成され、その基端部および先端部はそれぞれ前記コイルシャフトの基端および先端に固定されており、低干渉光源から出射される光がその基端に入射されるように設けられているファイバと、
前記ファイバの先端からある特定の距離をおいて設けられており前記ファイバから出射される光を特定の位置に集光させるためのレンズと、
出射光の光路を変更するために前記レンズに固定されている出射光路変更手段と、
からなり、
前記回転駆動装置と前記シースとが着脱自在に構成される
ことを特徴とする光走査プローブ装置。

（付記項６−２） 前記回転駆動装置は、前記シースの着脱状態を検知する着脱状態検知手段を有し、
前記着脱状態検知手段は、前記シースの着脱状態を表示する表示モード信号を、前記低干渉性の光を照射する光源装置及び／または前記回転駆動装置を制御する回転制御装置に供給するように電気的に接続されており、
前記モード信号に応じて前記光源装置の出力及び／または前記回転駆動装置の動作を制御する
ことを特徴とする付記項６−１に記載の光走査プローブ装置。

（付記項６−３） 前記着脱状態検知手段から前記シースが装着されていない旨を示す前記モード信号が送信された場合には、前記回転駆動装置が動作不能な状態となるように制御する
ことを特徴とする付記項６−２に記載の光走査プローブ装置。

（付記項６−４） 前記着脱状態検知手段から前記シースが装着されていない旨を示す前記モード信号が送信された場合には、前記光源装置の出力が停止されるように制御する
ことを特徴とする付記項６−２に記載の光走査プローブ装置。

（付記項６−５） 前記回転駆動装置には、非回転部と回転部とで光を伝送可能な結合を行う光ロータリージョイントが介挿されており、前記光ロータリージョイントと前記シースとが着脱自在に設けられている
ことを特徴とする付記項６−１に記載の光走査プローブ装置。

（付記項６−６） 前記シースは、前記回転駆動装置とのコネクタ一部に防水キャップを嵌め合わせることで、水密・気密な状態となる
ことを特徴とする付記項６−１に記載の光走査プローブ装置。

本発明の実施例１に係る光走査型プローブの構成を示す構成図 図１の電気コネクタの構成を示す断面図 図１の先端構成部の構成を示す構成図 図３の光学ユニットの構成を示す構成図 図４の光学ユニットのスキャンミラーの製造方法を説明する第１の説明図 図４の光学ユニットのスキャンミラーの製造方法を説明する第２の説明図 図１の制御部の構成を示す構成図 図４の光学ユニットによる焦点走査を説明する説明図 図１の電気コネクタの変形例の構成を示す断面図 本発明の実施例２に係る光走査装置の構成を示す構成図 図１０の先端部の構成を示す構成図 図１０の先端部の断面を示す断面図 図１０の電気・光コネクタの構成を示す断面図 図１０の電気・光コネクタの変形例の構成を示す断面図 本発明の実施例３に係る光断層画像装置（光イメージング装置）の構成を示す構成図 図１５の光走査プローブが挿通される内視鏡を示す図 図１５の光走査プローブの後端側部分を示す断面図 図１５の光走査プローブの全体構成を示す断面図 図１５の光走査プローブに取り付けられる防水キャップを説明する説明図 図１５の光走査プローブの前端側部分を示す断面図

符号の説明

１…光走査型プローブ
２…先端構成部
３…制御部
４…チューブ
１２…本体
１３…接続部
１７…フォトダイオード
１８…フォトトランジスタ
２０…出力部
３５…半導体レーザ
６４…レーザ駆動回路
７１…コネクタ接続検知回路

Claims (5)

1. 光走査手段を有し水密的に構成されて体腔内に挿入可能な光走査型プローブと、
   前記光走査型プローブが着脱自在に設けられ、前記光走査型プローブの検出信号及び/又は検出光を受ける信号検出手段を有する制御部と、
   前記制御部に内蔵され、光を照射する光源装置と、
   前記光走査手段を駆動する光走査駆動手段と、
   前記光走査型プローブの着脱状態を検知する着脱状態検知手段と、
   を備えることを特徴とする光走査装置。
2. 前記着脱状態検知手段は、前記光源装置、前記光走査駆動手段、及び前記信号検出手段の少なくとも一つに電気的に接続され、
   前記着脱状態検知手段から供給された前記光走査プローブの着脱状態を表示する表示モード信号に応じて前記光源装置、前記光走査駆動手段、及び前記信号検出手段の少なくとも一つの動作を制御することを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
3. 前記着脱状態検知手段から前記光走査プローブが装着されていない旨を示す前記表示モード信号が送信された場合に、前記光源装置、前記光走査駆動手段、及び前記信号検出手段の少なくとも一つの動作を停止するように設定されていることを特徴とする請求項２に記載の光走査装置。
4. 前記光走査プローブは、前記制御部からの光を導光する機能を有し、かつ前記光を前記体腔内の被検部位に照射すると共に、前記被検部位からの反射光を受け取る一方の端部を有するシングルモードファイバと、
   前記シングルモードファイバの前記一方の端部からの光を前記被検部位に合焦させると共に、前記被検部位からの前記反射光を集光して前記シングルモードファイバの前記一方の端部上に合焦させる光学系と、
   前記制御部に接続されるコネクタと、
   を備え、
   前記制御部は、
   前記光源装置から照射される光を前記シングルモードファイバへ導光すると共に、前記シングルモードファイバからの前記反射光を受け取り導光する導光手段と、
   前記導光手段からの前記反射光を前記光源装置から照射される光より分離する光分離手段と、
   前記分離手段により分離された前記反射光を検出する反射光検出手段と、
   を備え、
   前記光源装置は、点光源であり、
   前記光走査手段は、前記シングルモードファイバの前記一方の端部から照射される前記光を前記被検部位の焦点面上で走査させ、
   前記光走査型プローブが前記コネクタにより前記制御部に接続されると、着脱状態検知手段が前記光走査プローブの着脱状態を検知するように設定されていることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一つに記載の光走査装置。
5. 前記光走査型プローブは、先端が開口していない細長く柔軟な筒状のシースであって、少なくともその先端側の側面は光透過性を有する素材により形成されているシースと、
   前記シースの内部に長手方向の軸まわりに回転自在に設けられている柔軟なコイルシャフトと、
   前記コイルシャフトの内部に設けられているシングルモードファイバで形成され、その基端部及び先端部はそれぞれ前記コイルシャフトの基端及び先端に固定されているファイバと、
   前記ファイバの前記先端部からある特定の距離をおいて設けられ、前記ファイバから出射される光を特定の位置に集光させるためのレンズと、
   前記レンズに固定され、前記出射される光の光路を変更する出射光路変更手段と、
   を備え、
   前記制御部は、低干渉性光源と、
   前記低干渉性光源に接続され、前記低干渉性光源からの光を観察光と参照光とに分離する光分離手段と、
   前記観察光の被検体内における散乱又は反射による戻り光と前記参照光とを干渉させる光干渉手段と、
   前記光干渉手段で生成された干渉光を検出する光検出手段と、
   前記コイルシャフトに回転力を付与する回転駆動装置と、
   を備え、
   前記ファイバは、前記光分離手段から分離された前記観察光が前記基端部に入射するように設けられていることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一つに記載の光走査装置。
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   

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