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JP2006013715A - ゲインコントロール回路 - Google Patents

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JP2006013715A
JP2006013715A JP2004185392A JP2004185392A JP2006013715A JP 2006013715 A JP2006013715 A JP 2006013715A JP 2004185392 A JP2004185392 A JP 2004185392A JP 2004185392 A JP2004185392 A JP 2004185392A JP 2006013715 A JP2006013715 A JP 2006013715A
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Ritsuko Tono
律子 東野
Akinobu Soneta
昭伸 曽根田
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

【課題】
回路規模の増大を抑えつつVGA回路におけるゲイン制御信号とゲインの関係がばらついている場合などであっても、帰還ループを開放にした際のゲインを正確に設定できるゲインコントロール回路を提供する。
【解決手段】
所定電圧のゲイン調整用電圧源120がVGA回路101に入力される。
VGA回路101のゲインが正確に目標ゲインGVGAである場合のVGA回路101の出力電圧とVGA回路101の実際のゲインがG′VGAである場合のVGA回路101の実際の出力電圧との差が0となるようにフィードバック制御が行われることにより、VGA回路101のゲインが正確に目標ゲインGVGAになる場合の制御値が求められる。前記制御値がメモリ104に保持された状態で、VGA回路101の出力に応じた制御値の更新が停止され、VGA回路101のゲインが正確に目標ゲインに設定される。
【選択図】 図1

Description

本発明は、ゲインコントロール回路(自動利得制御回路)に関するものであり、特に負帰還回路によって成立する帰還ループを開放したときのゲインを一定値に設定する技術に関するものである。
ゲイン制御信号によってゲインが可変な増幅器(VGA回路:Variable Gain Amplifier)と、上記ゲインを制御するゲインコントロール回路とを用いてゲインがフィードバック制御される増幅回路(AGCシステム)は、例えば光ディスク再生装置において、一定の出力振幅の再生信号を得るために用いられる。
上記のような増幅回路は、具体的には、例えば図6に示すように、VGA回路601、A/Dコンバータ602、演算器603、VGAコントロール回路604、および基準電圧610を備えて構成される。
A/Dコンバータ602は、VGA回路601の出力信号電圧(振幅)をデジタルデータに変換するものである。
演算器603は、前記デジタルデータをあらかじめ設定された目標振幅を示す値(AGC設定レベル)と比較し、その差に応じたゲイン制御信号に対応する制御値をVGAコントロール回路604に出力するものである。
VGAコントロール回路604は、前記制御値をアナログ信号に変換し、VGA回路601のゲインを制御するゲイン制御信号として出力するものである。
また、VGA回路601は、ゲイン制御信号の電圧によって制御されるゲインで、入力信号を増幅するもので、このようなVGA回路601はオペレーショナルアンプよりも広い周波数特性を得やすいことや、ゲインの制御範囲を広く設定したり、ゲインを高分解能に制御したりすることが容易なため、上記のような増幅回路に多く用いられている。このVGA回路601は、より詳しくは、例えば図8に示すように、それぞれNチャネル型のトランジスタ802〜807と、抵抗808とを備えて構成され、2つの差動入力端子810a・810aに入力された信号の電圧差をゲイン制御端子809に入力されるゲイン制御信号の電圧に応じたゲインで増幅するようになっている。
トランジスタ802・803は差動構成をなし、これらのゲート電圧をVg、ドレイン電圧をVdとし、Vd<Vg−Vtの条件が成立するとき、これらのトランジスタ802・803に流れる電流Idsは、
Figure 2006013715
で表される。ここで、K1、Vtはトランジスタ固有の値である。(1)式によって示されるように、Vdを変化させることによってIdsを制御することができる。
また、ゲイン制御端子809に入力される電圧をVctrとすれば、前記Vdは、
Figure 2006013715
で表される。ここで、K2、Vtはトランジスタ固有の値である。前記(1)式および(2)式から、トランジスタ802・803の電流値はゲイン制御端子809に入力する電圧Vctrによって制御できることが解る。
また、2つの差動入力端子810a・810aに差動電圧信号が入力されれば、Idsは差動電流となる。この差動電流に応じた差電流が、トランジスタ806・807で構成されるカレントミラー回路によって抵抗808に流れ、電圧信号に変換される。すなわち、2つの差動入力端子810a・810aに入力された電圧の差電圧がゲイン制御端子809に印可される電圧によって制御されるゲインで増幅された振幅の電圧となって、出力端子801から出力される。
上記のようなVGA回路601の入力信号振幅をVi、ゲインをGvga、出力信号振幅をVoとすれば、Vo=Vi×Gvgaとなる。上記Viは、VGA回路601の入力端子に入力される差動信号であり、一方の入力端子に基準電圧Vrが入力され、この基準電圧Vrを中心とした信号が他方の入力端子に入力された場合には、Viは上記一方の入力端子に入力される信号の振幅で表される。
上記のような増幅回路において、演算器603と、VGAコントロール回路604の入出力特性、およびVGA回路601のゲイン制御特性が図7(a)〜(c)のように表されるとすると、VGA回路601の出力振幅が目標振幅に達していない場合(出力振幅に相当するA/Dコンバータ602の出力データの値が小さい場合)には、演算器603から出力される制御値が大きくなり、これに応じてVGAコントロール回路604から出力されるゲイン制御信号の電圧が上昇し、VGA回路601のゲインが高くなることによって出力振幅が大きくなる。逆に、VGA回路601の出力振幅が目標振幅より大きい場合には、演算器603の制御値が減少し、ゲイン制御信号の電圧が低下することによってVGA回路601のゲインが低くなって、出力振幅が小さくなる。
このような帰還ループによって、入力信号の振幅が変動する場合でも、(VGA回路601に設定されるべきゲインがVGA回路601の最小、最大ゲインの範囲内であれば、)VGA回路601の出力振幅があらかじめ設定された目標振幅に等しくなるように制御される。また、図7(a)〜(c)に示したような特性が変動する場合、すなわち、例えばトランジスタ固有の値である前記(1)、(2)式のK1、K2、Vtや、抵抗808の抵抗値が製造ばらつきによって変動したりする場合でも、(同一の制御信号Vctrの電圧に対する個々のVGA回路601のゲインは同じになるとは限らないが、)出力振幅は一定に保たれる。
ところで、上記のような増幅回路では、出力振幅が一定になるような増幅に限らず、ゲインが、あらかじめ定められた一定の目標ゲインになるような増幅が必要とされることもある。すなわち、増幅回路が例えば前記のように光ディスク再生装置に適用される場合、再生しようとする光ディスクの種類の判別(再生専用のもの、一回だけ記録できるもの、何度も記録消去を繰り返すことのできるものなど多種多様のメディアのうちの何れであるかのメディア判別)を必要とされることがあり、そのような場合に、一定強度のレーザ光を光ディスクに照射したときの反射光強度によって反射率を検出するために、反射光の受光信号を一定のゲインで増幅する必要がある。
このような場合、例えば、所定の電荷がチャージされたコンデンサに生じる電圧をVGA回路にゲイン制御信号として入力することによって、VGA回路のゲインが一定になるように設定される(例えば、特許文献1参照。)。
特開2002−319137号公報
しかしながら、上記従来のゲインコントロール回路を用いた増幅回路においては、たとえゲイン制御信号が正確な電圧に設定されたとしても、前記のようにトランジスタの特性のばらつきなどに起因して、正確に一定のゲインを得ることは困難であるという問題点があった。なお、一定のゲインで入力信号を増幅するためには、VGA回路のゲイン制御電圧に対するゲインばらつきを補償するような回路を設けたり、VGA回路とは別に固定ゲインの増幅回路を設けたりすることも考えられるが、これでは、回路規模の増大を招くことになる。
本発明は、前記のような点に着目してなされたものであり、回路規模の増大を抑えつつ、VGA回路におけるゲイン制御信号とゲインの関係がばらついている場合などであっても、帰還ループを開放にした際のゲインを正確に設定できるようにすることを課題とする。
前記の課題を解決するため、請求項1の発明は、
ゲイン制御信号によってゲインが可変な差動増幅器のゲインを制御するゲインコントロール回路であって、
差動増幅器から出力される電圧をデジタル値に変換して検出するA/D変換器と、
所定のゲイン調整用電圧を前記差動増幅器に入力する調整用電圧入力手段と、
前記所定のゲイン調整用電圧が入力されたときに、前記差動増幅器のゲインが所定の目標ゲインである場合に出力されるべき電圧と、実際に出力される電圧との差が所定以下となる前記ゲイン制御信号に対応する制御値を求める演算手段と、
前記制御値を記憶する制御値記憶手段と、
前記制御値記憶手段に記憶されている制御値に応じた前記ゲイン制御信号を出力し、前記差動増幅器のゲインを前記目標ゲインに設定する制御信号生成手段と、
を備えたことを特徴とする。
また、請求項2の発明は、
請求項1のゲインコントロール回路であって、
前記所定のゲイン調整用電圧が入力されたときに前記差動増幅器から出力される電圧に基づくフィードバック制御が行われることによって、前記制御値が求められるように構成されていることを特徴とする。
これらより、帰還ループを開放にした場合に差動増幅器のゲインが目標ゲインに設定される。
また、請求項3の発明は、
請求項1のゲインコントロール回路であって、
さらに、差動増幅器の差動入力端子を同電位に設定する手段を備え、
前記演算手段は、前記差動増幅器のゲインが所定の目標ゲインで、かつ、入力オフセット電圧が発生しない場合に前記ゲイン調整用電圧が入力されたときに出力されるべき電圧と、前記差動増幅器に前記ゲイン調整用電圧が入力されたときに実際に出力される電圧から差動入力端子が同電位の場合に実際に出力される電圧を差し引いた電圧と、の差が所定以下となる前記ゲイン制御信号に対応する制御値を求めるように構成されていることを特徴とする。
これにより、差動増幅器のオフセット電圧が検出され、正確な制御値の算出、およびゲイン設定が行われる。
また、請求項4の発明は、
請求項1のゲインコントロール回路であって、
さらに、前記ゲイン調整用電圧をデジタル値に変換して検出するA/D変換器を備え、
前記演算手段は、検出されたゲイン調整用電圧と前記目標ゲインの積と、前記実際に出力される電圧との差が所定以下となる前記ゲイン制御信号に対応する制御値を求めるように構成されていることを特徴とする。
また、請求項5の発明は、
請求項4のゲインコントロール回路であって、
前記ゲイン調整用電圧をデジタル値に変換して検出するA/D変換器は、前記差動増幅器の出力電圧をデジタル値に変換して検出するA/D変換器と兼用されるように構成されていることを特徴とする。
これらにより、ゲイン調整用電圧源の電圧が検出され、ゲイン調整用電圧源の電圧が正確に所定の電圧でない場合であっても、正確なゲイン設定が行われる。
また、請求項6の発明は、
請求項1のゲインコントロール回路であって、
さらに、ゲインが固定的に設定された基準増幅器を備え、
前記演算手段は、前記所定のゲイン調整用電圧が前記基準増幅器に入力されたときに前記基準増幅器から実際に出力される電圧と、前記所定のゲイン調整用電圧が前記差動増幅器に入力されたときに前記差動増幅器から実際に出力される電圧との差が所定以下となる前記ゲイン制御信号に対応する制御値を求めるように構成されていることを特徴とする。
これにより、ゲインが固定的に設定された基準増幅器でゲイン調整用電圧を増幅することによって、ゲイン調整用電圧源を所定ゲインで増幅した際に、実際に出力される電圧が検出され、ゲイン調整用電圧源の電圧が正確に所定の電圧でない場合であっても、正確なゲイン設定が行われる。
また、請求項7の発明は、
請求項1から請求項6の何れか1項のゲインコントロール回路であって、
前記A/D変換器は、基準電圧に応じた範囲の電圧をデジタル値に変換するA/D変換器であって、
前記A/D変換器に入力される電圧の範囲に応じて、前記基準電圧が選択されるように構成されていることを特徴とする。
これにより、入力される信号の電圧変動範囲に応じた基準電圧で信号のデジタル化が行われ、通常の増幅時に必要とされるA/D変換の分解能に応じて比較的少ないビット数のA/Dコンバータが用いられる場合でも、固定ゲイン調整時のA/D変換の分解能を高くして、高い精度でゲインが調整される。
本発明にかかるゲインコントロール回路によれば、回路規模の増大を抑えつつ、VGA回路におけるゲイン制御信号とゲインの関係がばらついている場合などであっても、帰還ループを開放にした際のゲインを正確に設定できる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。
《発明の実施形態1》
(ゲインコントロール回路の構成)
図1は、本発明の実施形態1におけるゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。この増幅回路は、一定の出力振幅が得られるように増幅器のゲインが制御される通常の増幅動作を行えるとともに、一定値のゲインでの増幅動作も行えるようになっている。このような増幅回路は、例えば、光ディスク再生装置に用いられ、光ディスクに記録されている信号の再生時には、増幅器のゲインが制御されることによって一定の出力振幅が得られるように増幅動作が行われる一方、再生を開始する前には、一定強度のレーザー光を光ディスクに照射した時の反射光の強度によって、どのような光ディスクが用いられているかを判別(メディア判別)するため、一定値に設定したゲインで受光信号の増幅動作が行われる。
この増幅回路は、具体的には、図1に示すように、VGA回路101、A/Dコンバータ102、演算器103、メモリ104、VGAコントロール回路105、セレクタ130、およびセレクタ130の切り替え等を行う図示しない制御部を備えている。
前記VGA回路101は、セレクタ130から差動入力端子101aに入力される電圧と差動入力端子101bに入力される基準電圧源110の電圧(Vr)との電圧差をゲイン制御信号に応じたゲインで増幅する増幅器である。
セレクタ130は、増幅回路に入力される通常入力信号、またはゲイン調整用電圧源120(例えば、直流電圧Va)の何れか一方を選択して、差動入力端子101aに入力するようになっている。
A/Dコンバータ102は、VGA回路101の出力電圧をデジタル値に変換して検出するもので、変換されたデジタル値は、演算器103に入力される。
演算器103は、A/Dコンバータ102から出力されたデジタル値と予め設定された所定の目標値との差に応じて、ゲイン制御信号の電圧に対応する制御値を算出するようになっている。
メモリ104は、前記演算器103によって算出された制御値を保持するようになっている。
また、VGAコントロール回路105は、メモリ104に保持されている制御値に基づいたゲイン制御信号をVGA回路101に入力することによって、VGA回路101のゲインを制御するようになっている。
また、この増幅回路では、後に詳述するように、VGA回路101のゲインが、あらかじめ定められた目標ゲインになるような制御値が求められ、その制御値が上記メモリ104に固定的に保持されることによって、上記目標ゲインでの増幅が行われるようになっている。
(ゲインコントロール回路の動作)
(一定振幅出力の増幅動作)
まず、説明の便宜上、増幅回路の外部から入力された通常入力信号が、目標とする一定の出力振幅の信号に増幅されるようにゲインが制御される場合の動作について説明する。
通常入力信号がセレクタ130を介してVGA回路101に入力されると、差動入力端子101bに入力されている基準電圧源110との電圧差が増幅されて出力され、その出力電圧がA/Dコンバータ102によりデジタル信号に変換されて、演算器103に入力される。
演算器103は、VGA回路101の出力信号の振幅と、あらかじめ設定された目標振幅との差に応じたゲインの制御値を出力する。この制御値は、メモリ104に保持されるとともに(この保持は振幅一定の増幅の場合は特に必要ではない。)VGAコントロール回路105に入力される。VGAコントロール回路105は、上記制御値に応じた電圧のゲイン制御信号をVGA回路101に出力する。これにより、負帰還ループが形成され、VGA回路101の出力信号の振幅が目標振幅に収束するように、VGA回路101のゲインが制御される。すなわち、外部から入力される信号の振幅が変動する場合や、VGA回路101におけるゲイン制御信号のレベルとゲインとの関係がばらついたりする場合などでも、VGA回路101からは一定の振幅の信号が出力される。
(一定ゲインの増幅動作)
増幅回路の外部から入力された入力信号が、あらかじめ定められた一定の目標ゲインで増幅される場合には、メモリ104に所定の制御値が固定的に保持され、その制御値に応じたゲイン制御信号が、VGAコントロール回路105からVGA回路101に入力される。
ここで、上記メモリ104に保持される制御値は次のようにして求められることにより、VGA回路101の特性のばらつきなどに係わらず、補正された正確なゲインが得られる。すなわち、まず、セレクタ130によりゲイン調整用電圧源120の電圧Vaが選択されて、VGA回路101に入力される。VGA回路101は、上記電圧Vaを増幅して出力する。このとき、VGA回路101のゲインが正確に目標ゲインGVGAになっていたとすると、VGA回路101の出力電圧(目標出力電圧)Voは、
Vo=Va×GVGA となる。
そこで、VGA回路101の実際の出力電圧をVo′とすると、Vo′−Vo=0となるように(許容誤差範囲に入るように)、前記振幅一定の増幅の場合と同様のフィードバック制御が行われることにより、VGA回路101のゲインが正確に目標ゲインGVGAになる場合の制御値が求められる。
つまり、VGA回路101の実際のゲインがG′VGAだとすると、VGA回路101の実際の出力電圧Vo′は、
Vo′=Va×G′VGA となるので、これが目標出力電圧Voに等しくなるようにすることによって、上記ゲインG′VGAを正確に目標ゲインGVGAに等しくすることができる。
上記のようにして求められた制御値がメモリ104に保持された状態で、VGA回路101の出力に応じた制御値の更新が停止される(帰還ループが開放にされる)とともに、セレクタ130が増幅回路の外部から入力される入力信号を選択するように切り替わると、その入力信号は、VGA回路101によって所定の目標ゲインで増幅される。それゆえ、例えば上記のような増幅回路が光ディスク装置に適用される場合に、光ディスクの反射率に正確に対応した増幅信号を得ることなどが容易にできる。
《発明の実施形態2》
図2は、本発明の実施形態2におけるゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。
なお、以下の実施形態において前記実施形態1等と同様の機能を有する構成要素については、同一の符号を付して説明を省略する。
この増幅回路は実施形態1のセレクタ130に代えてセレクタ230を備え、増幅器の外部から入力される入力信号、またはゲイン調整用電圧源120の電圧に加え、さらにVGA回路101の差動入力端子101bと同電位の基準電圧源110の電圧を選択して差動入力端子101aに入力できるように構成されている。また、演算器103に代えて演算器203を備え、VGA回路101のオフセット電圧が生じる場合でも正確な制御値の算出、およびゲイン設定が行えるようになっている。
すなわち、VGA回路101では、通常、差動入力部を構成する素子のミスマッチなどによってオフセット電圧Vofsが発生し、入力電圧がVa、ゲインがG′VGAのときの出力電圧Vo′は、
Vo′=Va×G′VGA+Vofs となる。
そこで、あらかじめオフセット電圧Vofsを求めて、(Vo′−Vofs)−Vo=0となるように、すなわちVa×G′VGAとVa×GVGA(=Vo)との差が0になるように(許容誤差範囲に入るように)、ゲインの制御値を設定することにより、VGA回路101の実際のゲインG′VGAが正確に目標ゲインGVGAと等しくなるようにすることができる。
具体的には、本実施形態の増幅回路は次のような動作をするようになっている。
まず、セレクタ230が、基準電圧源110の電圧Vrを選択するように切り替わり、VGA回路101の2つの差動入力端子101a・101bが同電位にされる。この時にVGA回路101から出力される電圧は、オフセット電圧Vofsそのもので、これがA/Dコンバータ102でデジタル信号に変換されて読み取られる(なお、実際には、VGA回路101の出力は直流動作電圧だけのDC電圧を有しているが、ここではDC動作点を基準として説明する)。
次に、セレクタ230が、差動入力端子101aにゲイン調整用電圧源120の電圧Vaを入力するように切り替わり、演算器203およびVGAコントロール回路105を介した帰還ループによって、上記のように(Vo′−Vofs)−Vo=0となるような(許容誤差範囲に入るような)制御値、すなわち、オフセット電圧に係わらずVGA回路101のゲインが目標ゲインGVGAと等しくなる制御値が求められる。
そこで、上記のようにして求められた制御値がメモリ104に固定的に保持されるとともに、セレクタ230が増幅回路の外部から入力される入力信号を選択するように切り替わると、その入力信号は、VGA回路101によって、より正確に所定の目標ゲインで増幅される。
《発明の実施形態3》
図3は、本発明の実施形態3におけるゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。
同図に示すように、本実施形態は、実施形態1の演算器103の代わりに演算器303を備えるとともに、さらにVGA回路101とA/Dコンバータ102の間にセレクタ330を備え、A/Dコンバータ102に、VGA回路101の出力、基準電圧源110、またはゲイン調整用電圧源120のうちの何れか1つが選択的に接続されるように構成されている。この増幅回路では、以下のようにゲイン調整用電圧源120の電圧が測定されることによって、ゲイン調整用電圧源120の電圧が正確に所定の電圧Vaでない場合であっても、正確なゲイン設定が行われるようになっている。
すなわち、まず、セレクタ330によって基準電圧源110が選択され、基準電圧VrがA/Dコンバータ102でデジタル信号に変換されて演算器303に入力される。
次に、セレクタ330によってゲイン調整用電圧源120の+側が選択され、
接地電位に対するゲイン調整用電圧源120の+側の電位Vref2(=基準電圧Vr+調整用電圧Va)がA/Dコンバータ102でデジタル信号に変換されて演算器303に入力される。
そこで、実際の調整用電圧Va′が、
Va′=Vref2−Vr として求められ、VGA回路101のゲインが正確に目標ゲインGVGAになっている場合のVGA回路101の出力電圧(目標出力電圧)Voは、
Vo=Va′×GVGA(=(Vref2−Vr)×GVGA) として求めることができる。
一方、VGA回路101の実際のゲインがG′VGAで、入力電圧がVa′の場合にVGA回路101から実際に出力される出力電圧Vo′は、
Vo′=Va′×G′VGA となるので、セレクタ330がゲイン調整用電圧源120を選択するように切り替わり、演算器303およびVGAコントロール回路105を介した帰還ループによって、上記実際の出力電圧Vo′が上記目標出力電圧Vo′に等しくなるようにすることによって、調整用電圧Va′に係わらず、ゲインG′VGAが正確に目標ゲインGVGAに等しくなるような制御値が求められる。
したがって、上記のように、ゲイン調整用電圧源120の電圧Va′をA/Dコンバータ102で一旦取り込み、目標とする出力信号レベルを製品ごとに算出して得られた制御値をメモリ104に固定的に保持させることによって、ゲインG′VGAがより高精度に目標ゲインGVGAに等しくなるようにすることができる。
《発明の実施形態4》
図4は、本発明の実施形態4におけるゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。
この増幅回路では、A/Dコンバータ102に与えられる基準電圧が、通常の増幅時と固定ゲイン調整時とで切り替えられるようになっている。すなわち、VGA回路101に増幅回路の外部からの信号が入力される場合と、ゲイン調整用電圧源120の電圧が入力される場合とで、VGA回路101からA/Dコンバータ102に入力される電圧の範囲が異なるのに対応して、A/Dコンバータ102によって変換可能な電圧の範囲が設定されるようになっている。
具体的には、例えば図4に示すように、セレクタ430a・430bによる切り替えによって、通常動作時用高圧側基準電圧450aと通常動作時用低圧側基準電圧450cと、またはゲイン調整時用高圧側基準電圧450bとゲイン調整時用低圧側基準電圧450dとが、A/Dコンバータ102に与えられるようになっている。
ここで、一般的に、A/DコンバータにはLo(低圧)側の基準電圧とHi(高圧)側の基準電圧が供給されて、これらの基準電圧の差(変換可能電圧範囲)がビット数に応じて分割され、入力されたアナログ信号電圧がどの分割点の電圧に相当するのかが判別されてデジタルコードに変換される。例えば、7ビットのA/Dコンバータでは、Lo側の基準電圧とHi側の基準電圧間が128ポイントに分割され、10ビットのA/Dコンバータでは1024ポイントに分割される。上記ビット数が多ければ分解能が高くなるが回路規模が大きくなる。
本実施形態の増幅回路においては、前記のように基準電圧が切り替えられるように構成されていることによって、上記変換可能電圧範囲を通常の増幅時と固定ゲイン調整時とで独立に設定することができる。例えば固定ゲイン調整時の変換可能電圧範囲は、想定されるVGA回路101のゲインの製造ばらつき範囲や、ゲイン調整用電圧源120の電圧等から、固定ゲイン調整時にVGA回路101から出力される電圧の変動範囲を推定し、この範囲をカバーするように設定される。すなわち、A/Dコンバータ102に入力される最低、最高信号電圧に所定のマージンを含めて設定すればよい。これによって、固定ゲイン調整時におけるVGA回路101の出力変動範囲は、通常の増幅時(外部からの入力信号を一定の振幅になるように増幅する時)よりも狭いので、ビット数の増加による回路規模の増大を招くことなく、より高い分解能でA/D変換させることが容易にできる。
したがって、通常の増幅時に必要とされるA/D変換の分解能に応じて比較的少ないビット数のA/Dコンバータ102が用いられる場合でも、固定ゲイン調整時のA/D変換の分解能を高くして、高い精度でゲイン調整することができる。
《発明の実施形態5》
図5(a)は、本発明の実施形態5におけるゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。
同図に示すように、本実施形態は、実施形態1にゲインばらつきの少ない例えば固定ゲインの増幅器501とセレクタ530を追加し、ゲイン調整用電圧源120の電圧が増幅器501で増幅されて出力される電圧とゲイン調整用電圧源120の電圧がVGA回路101で増幅されて出力される電圧との差が許容誤差範囲に入るようにVGA回路101のゲインが設定されることによって、VGA回路101のゲインが増幅器501のゲインと等しく設定されるようになっている。
上記増幅器501は、具体的には、例えば、図5(b)に示すように、オペレーショナルアンプ501a、抵抗501b(抵抗値R1)、および抵抗501c(抵抗値R2)を備え、入力端子501dにはゲイン調整用電圧源120が入力され、入力端子501eには、基準電圧源110が入力されるようになっている。この増幅器501のゲインGaは、
Ga=1+R2/R1によって定まり、これが所定の目標ゲインになるように設定されている。
上記の抵抗501b、501cが同じ種類の抵抗であれば、製造ばらつきによるゲインばらつきへの影響は、抵抗の相対精度だけで決定される。したがって、増幅器501のゲインは、極めて安定したものになる。そこで、以下のようにして、VGA回路101のゲインを増幅器501と同じ正確な目標ゲインに設定できる。
すなわち、まず、セレクタ130を切り替えることによって、ゲイン調整用電圧源120の電圧をVGA回路101、および増幅器501に入力する。
ここで、増幅器501のゲインをGa、ゲイン調整用電圧源120の電圧をVaとすれば、増幅器501の出力端子501fから出力される出力電圧Voは、
Vo=Va×Gaである。
次に、セレクタ530でVGA回路101の出力を選択する。VGA回路101のゲインがG′VGAだとすれば、VGA回路101からの出力信号の電圧Vo′は、
Vo′=Va×G′VGAとなる。
演算器503によって算出されるVo′とVoとの差が、許容誤差範囲に入るまで帰還ループを繰り返し、許容誤差範囲に収まった時の制御値をメモリ104に固定的に保持させることによって、VGAコントロール回路105のゲイン制御信号の電圧が上記制御値に応じた電圧になり、VGA回路101のゲインが増幅器501のゲインと同じ目標ゲインGaになる。
このように本実施形態によれば、ゲイン調整用電圧源120をゲインばらつきの少ない増幅器501に入力して、この出力レベルとVGA回路101の出力レベルを比較することによって、ゲイン調整用電圧源120の電圧等がばらついても、その影響を受けることなくVGA回路101のゲインを正確に目標ゲインに設定することができる。
なお、前記各実施形態で説明した構成要素は、論理的に可能な範囲で種々に組み合わせてもよい。具体的には、例えば、実施形態2で示したようにセレクタ230によって、VGA回路101の2つの入力端子に同電位の電圧を入力し、オフセット電圧が検出される構成を実施形態3〜5に適用してもよい。また、 実施形態3で示したようなゲイン調整用電圧源120の電圧を検出する構成を実施形態4に適用したり、実施形態4で示した、A/Dコンバータ102の基準電圧の選択が入力電圧範囲に応じて行われる構成を実施形態5に適用するなどしてもよい。
本発明にかかるゲインコントロール回路は、回路規模の増大を抑えつつ、VGA回路におけるゲイン制御信号とゲインの関係がばらついている場合などであっても、帰還ループを開放にした際のゲインを正確に設定できるという効果を有し、負帰還回路によって成立する帰還ループを開放したときのゲインを一定値に設定する技術等として有用である。
本発明の実施形態1のゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態2のゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態3のゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態4のゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態5のゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。 従来技術にかかるゲインコントロール回路を含む増幅回路の構成を示すブロック図である。 従来技術にかかるゲインコントロール回路の帰還ループにおける演算器、VGAコントロール回路の入出力特性、およびVGA回路のゲイン制御特性である。 MOSトランジスタで構成されたVGA回路の例である。
符号の説明
101 VGA回路
101a・101b 差動入力端子
102 A/Dコンバータ
103 演算器
104 メモリ
105 VGAコントロール回路
110 基準電圧源
120 ゲイン調整用電圧源
130 セレクタ
203 演算器
230 セレクタ
303 演算器
330 セレクタ
430a・430b セレクタ
450a 通常動作時用高圧側基準電圧
450b ゲイン調整時用高圧側基準電圧
450c 通常動作時用低圧側基準電圧
450d ゲイン調整時用低圧側基準電圧
501 増幅器
501a オペレーショナルアンプ
501b・501c 抵抗
501d 入力端子
501e 入力端子
501f 出力端子
503 演算器
530 セレクタ
601 VGA回路
602 A/Dコンバータ
603 演算器
604 VGAコントロール回路
610 基準電圧
801 出力端子
802〜807 トランジスタ
808 抵抗
809 ゲイン制御端子
810a 差動入力端子

Claims (7)

  1. ゲイン制御信号によってゲインが可変な差動増幅器のゲインを制御するゲインコントロール回路であって、
    差動増幅器から出力される電圧をデジタル値に変換して検出するA/D変換器と、
    所定のゲイン調整用電圧を前記差動増幅器に入力する調整用電圧入力手段と、
    前記所定のゲイン調整用電圧が入力されたときに、前記差動増幅器のゲインが所定の目標ゲインである場合に出力されるべき電圧と、実際に出力される電圧との差が所定以下となる前記ゲイン制御信号に対応する制御値を求める演算手段と、
    前記制御値を記憶する制御値記憶手段と、
    前記制御値記憶手段に記憶されている制御値に応じた前記ゲイン制御信号を出力し、前記差動増幅器のゲインを前記目標ゲインに設定する制御信号生成手段と、
    を備えたことを特徴とするゲインコントロール回路。
  2. 請求項1のゲインコントロール回路であって、
    前記所定のゲイン調整用電圧が入力されたときに前記差動増幅器から出力される電圧に基づくフィードバック制御が行われることによって、前記制御値が求められるように構成されていることを特徴とするゲインコントロール回路。
  3. 請求項1のゲインコントロール回路であって、
    さらに、差動増幅器の差動入力端子を同電位に設定する手段を備え、
    前記演算手段は、前記差動増幅器のゲインが所定の目標ゲインで、かつ、入力オフセット電圧が発生しない場合に前記ゲイン調整用電圧が入力されたときに出力されるべき電圧と、前記差動増幅器に前記ゲイン調整用電圧が入力されたときに実際に出力される電圧から差動入力端子が同電位の場合に実際に出力される電圧を差し引いた電圧と、の差が所定以下となる前記ゲイン制御信号に対応する制御値を求めるように構成されていることを特徴とするゲインコントロール回路。
  4. 請求項1のゲインコントロール回路であって、
    さらに、前記ゲイン調整用電圧をデジタル値に変換して検出するA/D変換器を備え、
    前記演算手段は、検出されたゲイン調整用電圧と前記目標ゲインの積と、前記実際に出力される電圧との差が所定以下となる前記ゲイン制御信号に対応する制御値を求めるように構成されていることを特徴とするゲインコントロール回路。
  5. 請求項4のゲインコントロール回路であって、
    前記ゲイン調整用電圧をデジタル値に変換して検出するA/D変換器は、前記差動増幅器の出力電圧をデジタル値に変換して検出するA/D変換器と兼用されるように構成されていることを特徴とするゲインコントロール回路。
  6. 請求項1のゲインコントロール回路であって、
    さらに、ゲインが固定的に設定された基準増幅器を備え、
    前記演算手段は、前記所定のゲイン調整用電圧が前記基準増幅器に入力されたときに前記基準増幅器から実際に出力される電圧と、前記所定のゲイン調整用電圧が前記差動増幅器に入力されたときに前記差動増幅器から実際に出力される電圧との差が所定以下となる前記ゲイン制御信号に対応する制御値を求めるように構成されていることを特徴とするゲインコントロール回路。
  7. 請求項1から請求項6の何れか1項のゲインコントロール回路であって、
    前記A/D変換器は、基準電圧に応じた範囲の電圧をデジタル値に変換するA/D変換器であって、
    前記A/D変換器に入力される電圧の範囲に応じて、前記基準電圧が選択されるように構成されていることを特徴とするゲインコントロール回路。
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