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JP2006054259A - Optical semiconductor module, its manufacturing method and semiconductor device using the same - Google Patents

Optical semiconductor module, its manufacturing method and semiconductor device using the same Download PDF

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JP2006054259A
JP2006054259A JP2004233750A JP2004233750A JP2006054259A JP 2006054259 A JP2006054259 A JP 2006054259A JP 2004233750 A JP2004233750 A JP 2004233750A JP 2004233750 A JP2004233750 A JP 2004233750A JP 2006054259 A JP2006054259 A JP 2006054259A
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英人 古山
Hiroshi Hamazaki
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical semiconductor module which is miniaturized and whose cost is made low while mounting each component element required for short distance light wiring such as LSI wiring. <P>SOLUTION: A guide 2 has a positioning part 4 of an optical transmission line and an optical semiconductor mounting face 5 from which one end face of the optical transmission line arranged by the positioning part 4 is exposed. The optical semiconductor element 8 is mounted on the optical semiconductor mounting face 5 of the guide 2 so that a light emitting face or a light receiving face faces the one end face of the optical transmission line. A driving semiconductor element 10 driving the optical semiconductor element 8 is laminated on the optical semiconductor element 8 and is incorporated in the optical semiconductor module 1, for example. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、短距離光配線用として比較的簡易な構造で光結合を実現する光半導体モジュールとその製造方法、およびそれを用いた半導体装置に関する。   The present invention relates to an optical semiconductor module that realizes optical coupling with a relatively simple structure for short-distance optical wiring, a manufacturing method thereof, and a semiconductor device using the same.

バイポーラトランジスタや電界効果トランジスタ等の電子デバイスの性能向上によって、大規模集積回路(LSI)では飛躍的な動作速度の向上が図られている。しかし、LSIの内部動作が高速化されても、それを実装するプリント基板レベルの動作速度はLSIの内部動作より低く抑えられ、そのプリント基板を装着するラックレベルではさらに動作速度が低く抑えられている。これらは動作周波数の上昇に伴う電気配線の伝送損失、雑音や電磁障害の増大等に起因するものであり、信号品質を確保するために長い配線ほど動作周波数は低く抑えられる。このため、半導体装置においてはLSI自体の動作速度より実装技術がシステム動作速度を支配するという傾向が益々強まってきている。   By improving the performance of electronic devices such as bipolar transistors and field effect transistors, large-scale integrated circuits (LSIs) have been dramatically improved in operating speed. However, even if the internal operation of the LSI is accelerated, the operation speed at the printed circuit board level for mounting the LSI is kept lower than the internal operation of the LSI, and the operation speed is further reduced at the rack level where the printed circuit board is mounted. Yes. These are caused by transmission loss of electric wiring accompanying an increase in operating frequency, increase in noise and electromagnetic interference, and the operating frequency is kept lower for longer wiring in order to ensure signal quality. For this reason, in semiconductor devices, the tendency that the mounting technology dominates the system operation speed rather than the operation speed of the LSI itself is increasing.

上述したような半導体装置が直面している問題に対して、LSI間を光で接続する光配線技術の適用が検討されており、またそのような光配線を実現するための光半導体モジュールが提案されている(例えば特許文献1参照)。光配線は直流から100GHzの周波数領域で損失等の周波数依存性がほとんどなく、配線路の電磁障害や接地電位変動雑音もないため、数10Gbpsの配線を容易に実現することができる。この種のLSI間の光配線を実現するためには、例えば特許文献1に示されているような簡易構造の光半導体モジュールが必要となる。また、LSI配線には多数の光伝送路が必要であることから、光半導体モジュールの低コスト化を図ることが重要となる。
特開2000-347072号公報
In response to the problems faced by the semiconductor devices as described above, application of optical wiring technology for connecting LSIs with light is being studied, and an optical semiconductor module for realizing such optical wiring is proposed. (For example, refer to Patent Document 1). Optical wiring has almost no frequency dependency such as loss in the frequency range from DC to 100 GHz, and there is no electromagnetic interference in the wiring path or ground potential fluctuation noise. Therefore, wiring of several tens of Gbps can be easily realized. In order to realize this type of optical interconnection between LSIs, for example, an optical semiconductor module having a simple structure as shown in Patent Document 1 is required. Further, since a large number of optical transmission lines are required for LSI wiring, it is important to reduce the cost of the optical semiconductor module.
JP 2000-347072 A

一般的な光半導体モジュールは、結像用のレンズ等を組み込んだり、また光ファイバの結合部をコネクタ構造としたりするため、あまり小型化できないものが多い。それに比べて、例えば特許文献1に記載されているような光半導体モジュールは、光ファイバ等の光伝送路と光半導体素子とを直接結合して一体化しているため、比較的小型化が容易であるという利点を有している。ただし、特許文献1に記載されている光半導体モジュールは、以下に示すような難点を有している。   Many common optical semiconductor modules cannot be miniaturized much because they incorporate an imaging lens or the like, and have a connector structure at the optical fiber coupling portion. In comparison, for example, an optical semiconductor module as described in Patent Document 1 is relatively easy to downsize because an optical transmission line such as an optical fiber and an optical semiconductor element are directly coupled and integrated. Has the advantage of being. However, the optical semiconductor module described in Patent Document 1 has the following disadvantages.

すなわち、通常の光半導体モジュールでは光半導体素子を駆動するために、高速信号対応のドライバ素子やレシーバ素子が必要とされるが、特許文献1にはこれら駆動素子の搭載方法が何等示されていない。例えば、駆動素子の搭載形態によっては、光半導体モジュールが大型化したり、また光半導体素子と駆動素子との間の電気配線部分が長くなるというような問題が生じる。さらに、受光素子側では非常に微弱な信号をレシーバ素子まで伝える必要があり、仮にモジュール外にレシーバ素子を設置した場合にはノイズ対策に非常に多大なコストが必要となる。   That is, in order to drive an optical semiconductor element in a normal optical semiconductor module, a driver element and a receiver element corresponding to a high-speed signal are required, but Patent Document 1 does not show any mounting method of these driving elements. . For example, depending on the mounting form of the drive element, there arises a problem that the optical semiconductor module becomes large and the electric wiring portion between the optical semiconductor element and the drive element becomes long. Furthermore, it is necessary to transmit a very weak signal to the receiver element on the light receiving element side. If the receiver element is installed outside the module, a very large cost is required for noise countermeasures.

また、特許文献1記載の光半導体モジュールは、光ファイバとその支持部材を一体形成し、その上で光半導体素子搭載用の電極を形成している。このため、電極のパターン描画もしくはパターン転写を、光ファイバを保持した支持部材の非常に狭い端面に行う必要がある。すなわち、数mから数10mの光ファイバを取り付けたままの状態で、数μm精度のパターンニングを支持部材端面の微小領域に行う必要がある。このような支持部材端面へのパターンニングを含む電極の形成工程は、光半導体モジュールの製造コストの大幅な増加や製造歩留りの低下等を招いてしまう。   In the optical semiconductor module described in Patent Document 1, an optical fiber and a supporting member thereof are integrally formed, and an electrode for mounting an optical semiconductor element is formed thereon. For this reason, it is necessary to perform electrode pattern drawing or pattern transfer on a very narrow end face of the support member holding the optical fiber. That is, it is necessary to perform patterning with an accuracy of several μm on a minute region on the end surface of the support member with an optical fiber of several meters to several tens of meters being attached. The electrode forming process including patterning on the end face of the support member causes a significant increase in the manufacturing cost of the optical semiconductor module and a decrease in manufacturing yield.

本発明はこのような課題に対処するためになされたものであって、LSI配線等の短距離光配線に必要とされる各構成要素を搭載した上で、小型化や低コスト化等を図ることを可能にして光半導体モジュールとその製造方法、およびそれを用いた半導体装置を提供することを目的としている。   The present invention has been made to cope with such problems, and is equipped with each component required for short-distance optical wiring such as LSI wiring, and is aimed at miniaturization and cost reduction. An object of the present invention is to provide an optical semiconductor module, a method of manufacturing the same, and a semiconductor device using the same.

本発明の一態様に係る光半導体モジュールは、光伝送路の位置決め部と、前記位置決め部に配置される光伝送路の一端面が露出する光半導体搭載面とを有するガイドと、前記光伝送路の一端面と発光面または受光面が対向するように、前記ガイドの前記光半導体搭載面に搭載された光半導体素子と、前記光半導体素子上に積層された半導体素子とを具備することを特徴としている。   An optical semiconductor module according to an aspect of the present invention includes a guide having a positioning portion of an optical transmission path, an optical semiconductor mounting surface on which one end face of the optical transmission path disposed in the positioning section is exposed, and the optical transmission path An optical semiconductor element mounted on the optical semiconductor mounting surface of the guide, and a semiconductor element stacked on the optical semiconductor element so that one end surface of the guide faces a light emitting surface or a light receiving surface. It is said.

また、本発明の一態様に係る光半導体モジュールの製造方法は、上記した本発明の光半導体モジュールを製造するにあたり、複数の前記ガイドを、前記光半導体搭載面を上方に向けて整列させ、かつ枠体で連結した状態で一体的に作製する工程と、前記複数のガイドの前記光半導体搭載面に前記光半導体素子と前記半導体素子とを積層しつつ搭載する工程とを具備することを特徴としている。   Further, in the method of manufacturing an optical semiconductor module according to one aspect of the present invention, in manufacturing the optical semiconductor module of the present invention described above, a plurality of the guides are aligned with the optical semiconductor mounting surface facing upward, and And a step of integrally manufacturing the plurality of guides in a state of being connected by a frame, and a step of mounting the optical semiconductor element and the semiconductor element on the optical semiconductor mounting surface of the plurality of guides while being stacked. Yes.

本発明の一態様に係る半導体装置は、上記した本発明の光半導体モジュールと、前記光半導体モジュールが搭載され、かつ前記光半導体モジュールの前記半導体素子と接続された信号配線を有する基板と、前記基板上に搭載され、かつ前記基板の信号配線と接続された信号処理用半導体素子とを具備することを特徴としている。   A semiconductor device according to an aspect of the present invention includes the above-described optical semiconductor module according to the present invention, a substrate on which the optical semiconductor module is mounted, and a signal wiring connected to the semiconductor element of the optical semiconductor module; And a signal processing semiconductor element mounted on the substrate and connected to the signal wiring of the substrate.

本発明の一態様に係る光半導体モジュールによれば、光半導体素子上に例えば駆動用半導体素子を積層した状態でガイドに搭載しているため、小型化や低コスト化等を図った上で信号信頼性を高めることが可能となる。また、本発明の一態様に係る光半導体モジュールの製造方法によれば、そのような光半導体モジュールの生産性を向上させることができる。さらに、本発明の一態様に係る半導体装置によれば、そのような光半導体モジュールを用いることで、LSI間の高速配線を低コストで実現することが可能となる。   According to the optical semiconductor module of one aspect of the present invention, since the driving semiconductor element is stacked on the optical semiconductor element, for example, the guide is mounted on the guide. Reliability can be increased. Moreover, according to the manufacturing method of the optical semiconductor module which concerns on 1 aspect of this invention, the productivity of such an optical semiconductor module can be improved. Furthermore, according to the semiconductor device of one embodiment of the present invention, by using such an optical semiconductor module, high-speed wiring between LSIs can be realized at low cost.

以下、本発明を実施するための形態について図面を参照して説明する。まず、図1ないし図3を参照して、本発明の第1の実施形態による光半導体モジュールについて述べる。図1は本発明の第1の実施形態による光半導体モジュールの構成を示す断面図、図2および図3は図1に示す光半導体モジュールに光伝送路として光ファイバを配置した状態を示す断面図および斜視図である。   Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings. First, an optical semiconductor module according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a cross-sectional view showing a configuration of an optical semiconductor module according to a first embodiment of the present invention. FIGS. 2 and 3 are cross-sectional views showing a state in which an optical fiber is arranged as an optical transmission line in the optical semiconductor module shown in FIG. FIG.

図1に示す光半導体モジュール1は、例えば光ファイバのような光伝送路を位置決めするガイド2を有している。ガイド2は例えばエポキシ樹脂にガラスフィラーを混入させた部材からなり、光電気フェルールの本体を構成するものである。ガイド2の内部には、光ファイバ3を挿入して保持する位置決め用貫通孔4が位置決め部として形成されている。位置決め用貫通孔4は光配線に使用する光ファイバ3の数に応じて複数形成されている。なお、図1は4チャンネル光半導体素子アレイに用いるガイド2を示している。   An optical semiconductor module 1 shown in FIG. 1 has a guide 2 for positioning an optical transmission line such as an optical fiber. The guide 2 is made of, for example, a member obtained by mixing a glass filler with an epoxy resin, and constitutes the main body of the photoelectric ferrule. A positioning through hole 4 for inserting and holding the optical fiber 3 is formed in the guide 2 as a positioning portion. A plurality of positioning through holes 4 are formed according to the number of optical fibers 3 used for the optical wiring. FIG. 1 shows a guide 2 used for a four-channel optical semiconductor element array.

ここで、複数の位置決め用貫通孔4はガイド2に所定のピッチで高精度に形成することが求められる。このような点に対して、複数の位置決め用貫通孔4を個々に形成してもよいが、例えば複数の位置決め用貫通孔4…を連通孔として形成してもよい。すなわち、隣接する断面円形の貫通孔4間を連通させた連通孔とすることによって、各貫通孔4を形成する際の位置精度を高めることができる。従って、ガイド2で保持した光ファイバ3と後述する光半導体素子との位置合せ精度を向上させることが可能となる。   Here, the plurality of positioning through holes 4 are required to be formed in the guide 2 at a predetermined pitch with high accuracy. For such a point, a plurality of positioning through holes 4 may be individually formed. For example, a plurality of positioning through holes 4 may be formed as communication holes. That is, by using the communication holes in which the adjacent through-holes 4 having a circular cross section communicate with each other, the positional accuracy when forming each through-hole 4 can be improved. Therefore, it is possible to improve the alignment accuracy between the optical fiber 3 held by the guide 2 and an optical semiconductor element described later.

ガイド2の位置決め用貫通孔4の一端開口部が形成された面は、光半導体搭載面5とされている。すなわち、位置決め用貫通孔4内に挿入配置される光ファイバ3は、その一端面が光半導体搭載面5に露出される。このようなガイド2の光半導体搭載面5には、一般的な金属メッキによる配線層6が設けられている。このメッキ配線層6は光半導体搭載面5からガイド2の側面7にかけて直角折り曲げ状態に形成されている。   The surface of the guide 2 on which the one end opening of the positioning through hole 4 is formed is an optical semiconductor mounting surface 5. That is, one end surface of the optical fiber 3 inserted and disposed in the positioning through hole 4 is exposed to the optical semiconductor mounting surface 5. A wiring layer 6 by general metal plating is provided on the optical semiconductor mounting surface 5 of such a guide 2. The plated wiring layer 6 is formed in a right-angle bent state from the optical semiconductor mounting surface 5 to the side surface 7 of the guide 2.

ガイド2の光半導体搭載面5に形成された配線層部分6Aは、後述する光半導体素子や駆動用半導体素子の搭載部や配線部となる部分であり、またガイド2の側面7に引き出された配線層部分6Bは他の部品と接続する際の電極となる部分である。このようなメッキ配線層6は予めガイド2の光半導体搭載面5および側面7に形成されているため、低コストでかつ精度よく形成することができる。これは光半導体モジュール1の製造コストの低減や製造歩留りの向上に寄与するものである。なお、メッキ配線層6の具体的な製造工程については後に詳述する。   A wiring layer portion 6 </ b> A formed on the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2 is a portion that becomes a mounting portion or wiring portion for an optical semiconductor element or a driving semiconductor element described later, and is drawn out to the side surface 7 of the guide 2. The wiring layer portion 6B is a portion that becomes an electrode when connected to other components. Since such a plated wiring layer 6 is formed in advance on the optical semiconductor mounting surface 5 and the side surface 7 of the guide 2, it can be formed at low cost and with high accuracy. This contributes to a reduction in manufacturing cost of the optical semiconductor module 1 and an improvement in manufacturing yield. The specific manufacturing process of the plated wiring layer 6 will be described in detail later.

上述したガイド2の光半導体搭載面5には光半導体素子8が搭載されている。ガイド2に搭載される光半導体素子8には、LED等の発光素子またはフォトダイオード等の受光素子が適用される。このような光半導体素子8は、発光面(光半導体素子8が発光素子の場合)または受光面(光半導体素子8が受光素子の場合)が位置決め用貫通孔4内に挿入配置される光ファイバ3の一端面と対向するように、位置合せされた状態でガイド2の光半導体搭載面5に固定されている。   An optical semiconductor element 8 is mounted on the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2 described above. A light emitting element such as an LED or a light receiving element such as a photodiode is applied to the optical semiconductor element 8 mounted on the guide 2. Such an optical semiconductor element 8 includes an optical fiber in which a light emitting surface (when the optical semiconductor element 8 is a light emitting element) or a light receiving surface (when the optical semiconductor element 8 is a light receiving element) is inserted into the positioning through hole 4. 3 is fixed to the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2 in an aligned state so as to face one end surface of the guide 2.

光半導体素子8の位置合せは、ガイド2の位置決め用貫通孔4の位置と、光半導体素子8の発光面または受光面とを基準にして行う。位置合せ精度は概ね1μm以下である。光半導体素子8の固定は、具体的には光半導体素子8のバンプ9をメッキ配線層6に接合することで行われている。このようなバンプ9による接合によって、光半導体素子8はガイド2に機械的に固定されている共に、メッキ配線層6と電気的に接続されている。   The alignment of the optical semiconductor element 8 is performed based on the position of the positioning through hole 4 of the guide 2 and the light emitting surface or the light receiving surface of the optical semiconductor element 8. The alignment accuracy is approximately 1 μm or less. Specifically, the optical semiconductor element 8 is fixed by bonding the bumps 9 of the optical semiconductor element 8 to the plated wiring layer 6. The optical semiconductor element 8 is mechanically fixed to the guide 2 and is electrically connected to the plated wiring layer 6 by the bonding by the bumps 9.

上述した光半導体素子8の裏面上には、光半導体素子8を駆動する駆動用半導体素子10が積層されている。駆動用半導体素子10には、光半導体素子8が発光素子の場合にはドライバ素子が適用され、また光半導体素子8が受光素子の場合にはレシーバ素子が適用される。駆動用半導体素子10は、例えば接着樹脂11を介して光半導体素子8の裏面に接着・固定されている。光半導体素子8と駆動用半導体素子10とは、駆動用半導体素子10の図示を省略した電極が積層構造の最表面に露出するように、各素子8、10の裏面同士を接着している。   A driving semiconductor element 10 for driving the optical semiconductor element 8 is stacked on the back surface of the optical semiconductor element 8 described above. As the driving semiconductor element 10, a driver element is applied when the optical semiconductor element 8 is a light emitting element, and a receiver element is applied when the optical semiconductor element 8 is a light receiving element. The driving semiconductor element 10 is bonded and fixed to the back surface of the optical semiconductor element 8 via, for example, an adhesive resin 11. The optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 are bonded to the back surfaces of the elements 8 and 10 so that the electrode of the driving semiconductor element 10 not shown is exposed on the outermost surface of the laminated structure.

また、駆動用半導体素子10の図示を省略した電極は、ボンディングワイヤ12を介してメッキ配線層6と電気的に接続されている。すなわち、光半導体素子8と駆動用半導体素子10とは、メッキ配線層6とボンディングワイヤ12とを介して電気的に接続されている。さらに、駆動用半導体素子10はボンディングワイヤ12を介して、他の部品と接続する際の電極となるメッキ配線層6、すなわちガイド2の側面7に引き出された配線層部分6Bに接続されている。なお、光半導体素子8が駆動回路等を内蔵する場合には、光半導体素子8上には例えば信号をパラレルからシリアルに変換する半導体素子(変換回路用半導体素子)等が積層される。また、これら以外の半導体素子であってもよい。   The electrode of the driving semiconductor element 10 (not shown) is electrically connected to the plated wiring layer 6 via the bonding wire 12. That is, the optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 are electrically connected via the plated wiring layer 6 and the bonding wire 12. Further, the driving semiconductor element 10 is connected via a bonding wire 12 to a plated wiring layer 6 serving as an electrode when connecting to other components, that is, a wiring layer portion 6B drawn to the side surface 7 of the guide 2. . When the optical semiconductor element 8 includes a drive circuit or the like, for example, a semiconductor element (conversion circuit semiconductor element) for converting a signal from parallel to serial is stacked on the optical semiconductor element 8. Further, other semiconductor elements may be used.

上述したように、駆動用半導体素子10を光半導体素子8の裏面上に積層することによって、光半導体モジュール1の動作に必要な各構成要素を内蔵した上で、光半導体モジュール1の小型化や低コスト化を図ることが可能となる。さらに、微弱な電気信号を扱う電気配線部分(メッキ配線層6やボンディングワイヤ12による電気配線)の距離を短縮することができるため、光半導体モジュール1で信号品質の劣化を抑制することが可能となる。すなわち、光半導体モジュール1の小型化や低コスト化等を図った上で、信号信頼性を大幅に高めることが可能となる。   As described above, by laminating the driving semiconductor element 10 on the back surface of the optical semiconductor element 8, each component necessary for the operation of the optical semiconductor module 1 is built in, and the optical semiconductor module 1 can be downsized. Cost reduction can be achieved. Furthermore, since the distance of the electric wiring part (electric wiring by the plating wiring layer 6 and the bonding wire 12) that handles a weak electric signal can be shortened, the optical semiconductor module 1 can suppress deterioration of signal quality. Become. That is, the signal reliability can be significantly increased after the optical semiconductor module 1 is reduced in size and cost.

ガイド2の光半導体搭載面5に積層・搭載された光半導体素子8および駆動用半導体素子10は、光半導体搭載面5に形成されたメッキ配線層6(配線層部分6A)やボンディングワイヤ12と共に封止樹脂13により絶縁封止されている。この絶縁性の封止樹脂13は光半導体素子8の表面側(発光面または受光面側)に回り込まないように成分が調整されている。従って、光半導体素子8の発光面または受光面は、位置決め用貫通孔4内に挿入配置される光ファイバ3の一端面と対向配置される。これら各構成要素によって、光半導体モジュール1が構成されている。   The optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 stacked and mounted on the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2 are together with the plated wiring layer 6 (wiring layer portion 6A) and the bonding wire 12 formed on the optical semiconductor mounting surface 5. It is insulated and sealed with a sealing resin 13. The component of the insulating sealing resin 13 is adjusted so as not to go around to the surface side (light emitting surface or light receiving surface side) of the optical semiconductor element 8. Accordingly, the light emitting surface or the light receiving surface of the optical semiconductor element 8 is disposed opposite to one end surface of the optical fiber 3 inserted and disposed in the positioning through hole 4. The optical semiconductor module 1 is configured by these components.

上述した光半導体モジュール1は、図2および図3に示したように、ガイド2の位置決め用貫通孔4に光ファイバ3を差し込んで固定し、光インターフェースモジュールとして使用されるものである。ここで、光ファイバ3の先端は例えば光半導体素子8の発光面または受光面上に配置された透明樹脂14に突き当てた状態で接着固定することが好ましい。透明樹脂14は予め配置した樹脂シートで形成してもよいし、また樹脂を注入して形成してもよい。透明樹脂14の構成材料は特に限定されるものではなく、透明度をある程度有していれば半導体素子保護膜で代用してもよい。   The optical semiconductor module 1 described above is used as an optical interface module by inserting and fixing the optical fiber 3 into the positioning through hole 4 of the guide 2 as shown in FIGS. Here, it is preferable that the tip of the optical fiber 3 is bonded and fixed in a state where it abuts against the transparent resin 14 disposed on the light emitting surface or the light receiving surface of the optical semiconductor element 8, for example. The transparent resin 14 may be formed of a resin sheet arranged in advance, or may be formed by injecting resin. The constituent material of the transparent resin 14 is not particularly limited, and a semiconductor element protective film may be substituted as long as it has a certain degree of transparency.

上述した実施形態の光半導体モジュール1は、例えば以下のようにして作製される。まず、位置決め用貫通孔4を有するガイド2を射出成形等により作製する。ここで、ガイド2は個々に作製してもよいが、例えば図4に示すように、複数のガイド2、2を枠体21で連結した状態で一体的に作製することが好ましい。さらに、複数のガイド2、2は光半導体搭載面5を上方に向けて整列させた状態で一体化することが好ましい。このように、複数のガイド2、2を一体化した部品22によれば、既存の半導体製造工程で容易に取り扱うことができ、光半導体モジュール1の生産性を高めることが可能となる。   The optical semiconductor module 1 of the above-described embodiment is manufactured as follows, for example. First, the guide 2 having the positioning through holes 4 is produced by injection molding or the like. Here, the guides 2 may be produced individually, but for example, as shown in FIG. Furthermore, it is preferable that the plurality of guides 2 and 2 are integrated in a state where the optical semiconductor mounting surface 5 is aligned upward. Thus, according to the component 22 in which the plurality of guides 2 and 2 are integrated, it can be easily handled in an existing semiconductor manufacturing process, and the productivity of the optical semiconductor module 1 can be increased.

図4に示す一体化部品22において、複数のガイド2、2は光半導体搭載面5を上方に向けて整列しており、この状態で干渉部23を介して搬送用の枠体21に支持されている。枠体21はワイヤーボンダ、ダイボンダ、モールド装置等のほとんど装置でレール上を滑るように搬送され、その際の保持用途や幅方向規制用途等に使用される。干渉部23はガイド2を固定する際の位置誤差を許容する変形部である。すなわち、ガイド2に各素子8、10を搭載する際、一体化部品22を加工位置まで順次搬送し、その上でガイド2を吸着や挟み込みにより固定する。この際の誤差を許容するために、変形可能な干渉部23を介して各ガイド2を枠体21で支持している。   In the integrated component 22 shown in FIG. 4, the plurality of guides 2, 2 are aligned with the optical semiconductor mounting surface 5 facing upward, and in this state, supported by the transport frame 21 via the interference portion 23. ing. The frame body 21 is conveyed so as to slide on the rail by almost all devices such as a wire bonder, a die bonder, and a molding device, and is used for holding purposes, width direction regulating purposes, and the like. The interference unit 23 is a deforming unit that allows a position error when the guide 2 is fixed. That is, when the elements 8 and 10 are mounted on the guide 2, the integrated component 22 is sequentially conveyed to the processing position, and the guide 2 is fixed by suction or pinching thereon. In order to allow an error at this time, each guide 2 is supported by the frame body 21 via a deformable interference portion 23.

上述したような一体化部品22を用いて、各ガイド2の光半導体搭載面5および側面7にメッキ法を適用して配線層6を形成する。なお、図4は各ガイド2にメッキ配線層6を形成した状態を示している。次いで、ガイド2の光半導体搭載面5に光半導体素子8を搭載する。上述したように、光半導体素子8の固定はバンプ9を用いて実施する。また、光半導体素子8の位置合せは、ガイド2の位置決め用貫通孔4の位置と、光半導体素子8の発光面または受光面とを基準にして行う。位置合せ精度は概ね1μm以下である。   Using the integrated component 22 as described above, the wiring layer 6 is formed by applying a plating method to the optical semiconductor mounting surface 5 and the side surface 7 of each guide 2. FIG. 4 shows a state in which the plated wiring layer 6 is formed on each guide 2. Next, the optical semiconductor element 8 is mounted on the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2. As described above, the optical semiconductor element 8 is fixed using the bumps 9. The alignment of the optical semiconductor element 8 is performed based on the position of the positioning through hole 4 of the guide 2 and the light emitting surface or the light receiving surface of the optical semiconductor element 8. The alignment accuracy is approximately 1 μm or less.

次に、光半導体素子8の裏面側に駆動用半導体素子10を固定する。駆動用半導体素子10の固定は、予め光半導体素子4の裏面に接着樹脂11を貼り付けておき、この接着樹脂11上に駆動用半導体素子10を載置して加熱圧着することにより行われる。続いて、ワイヤボンディングを実施して、駆動用半導体素子10とメッキ配線層6とを電気的に接続する。この後、光半導体素子8と駆動用半導体素子10を封止樹脂13で絶縁封止する。このような一連の製造工程が終了した後に、ガイド2の両端を枠体21から切り離すことによって、光半導体モジュール1が完成する。   Next, the driving semiconductor element 10 is fixed to the back side of the optical semiconductor element 8. The driving semiconductor element 10 is fixed by pasting the adhesive resin 11 on the back surface of the optical semiconductor element 4 in advance, placing the driving semiconductor element 10 on the adhesive resin 11, and thermocompression bonding. Subsequently, wire bonding is performed to electrically connect the driving semiconductor element 10 and the plated wiring layer 6. Thereafter, the optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 are insulated and sealed with a sealing resin 13. After such a series of manufacturing steps is completed, the optical semiconductor module 1 is completed by separating both ends of the guide 2 from the frame body 21.

上述した第1の実施形態による光半導体モジュール1は、発光用光半導体素子8を駆動するドライバ素子や受光用光半導体素子8を駆動するレシーバ素子等の駆動用半導体素子10を、光半導体素子8上に積層した状態で内蔵している。従って、非常に微弱な電気信号を扱うアナログ回路部分の配線が短縮されることから、信号品質の劣化を大幅に低減することが可能となる。さらに、そのような駆動用半導体素子10を内蔵した光半導体モジュール1の小型化を実現することができる。また、光半導体モジュール1の小型化に加えて電気配線に一般的なメッキ配線を適用しているため、光半導体モジュール1の低コスト化を実現することが可能となる。これは多数の光伝送路が必要とされるLSIの光配線の実用化に大きく寄与するものである。   The optical semiconductor module 1 according to the first embodiment described above includes a driving semiconductor element 10 such as a driver element that drives the light emitting optical semiconductor element 8 and a receiver element that drives the light receiving optical semiconductor element 8. Built-in in a stacked state. Accordingly, since the wiring of the analog circuit portion that handles very weak electric signals is shortened, it is possible to greatly reduce signal quality degradation. Furthermore, the optical semiconductor module 1 incorporating such a driving semiconductor element 10 can be reduced in size. In addition to the miniaturization of the optical semiconductor module 1, since a general plated wiring is applied to the electrical wiring, the cost of the optical semiconductor module 1 can be reduced. This greatly contributes to practical application of LSI optical wiring that requires a large number of optical transmission lines.

次に、本発明の第2の実施形態による光半導体モジュールについて、図5を参照して説明する。図5は本発明の第2の実施形態による光半導体モジュールの構成を示す断面図である。なお、第1の実施形態と同一部分には同一符号を付し、その説明を一部省略する。図5に示す第2の実施形態による光半導体モジュール30は、光半導体素子8と駆動用半導体素子10との接続にスループラグ31を利用したものである。なお、それ以外の構成については第1の実施形態と同様とされている。   Next, an optical semiconductor module according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a cross-sectional view showing the configuration of the optical semiconductor module according to the second embodiment of the present invention. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as 1st Embodiment, and the description is partially abbreviate | omitted. The optical semiconductor module 30 according to the second embodiment shown in FIG. 5 uses a through plug 31 for connection between the optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10. Other configurations are the same as those in the first embodiment.

すなわち、光半導体素子8はチップ内を貫通するスループラグ31を有しており、スループラグ31のチップ裏面側には電極が形成されている。駆動用半導体素子10はこのような光半導体素子8の裏面側に積層されている。具体的には、駆動用半導体素子10に形成されたバンプ32を光半導体素子8の裏面電極に接続することによって、光半導体素子8と駆動用半導体素子10との機械的な固定と電気的な接続が実施されている。このような光半導体モジュール30では、電気配線部分の距離がさらに短縮されることから、信号品質の劣化をより高度に抑制することが可能となる。   That is, the optical semiconductor element 8 has a through plug 31 that penetrates through the chip, and an electrode is formed on the back surface side of the through plug 31. The driving semiconductor element 10 is stacked on the back side of the optical semiconductor element 8. Specifically, the bump 32 formed on the driving semiconductor element 10 is connected to the back electrode of the optical semiconductor element 8, thereby mechanically fixing and electrically connecting the optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10. A connection has been made. In such an optical semiconductor module 30, since the distance of the electrical wiring portion is further shortened, it is possible to suppress degradation of signal quality to a higher degree.

次に、本発明の第3の実施形態による光半導体モジュールについて、図6および図7を参照して説明する。図6は本発明の第3の実施形態による光半導体モジュールの構成を示す断面図、図7は図6に示す光半導体モジュールの素子部分を示す断面図である。なお、第1の実施形態と同一部分には同一符号を付し、その説明を一部省略する。図6に示す第3の実施形態による光半導体モジュール40は、ガイド2の光半導体搭載面5に接合されたリードフレーム41で電気配線を構成している。   Next, an optical semiconductor module according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a cross-sectional view showing a configuration of an optical semiconductor module according to the third embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a cross-sectional view showing an element portion of the optical semiconductor module shown in FIG. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as 1st Embodiment, and the description is partially abbreviate | omitted. In the optical semiconductor module 40 according to the third embodiment shown in FIG. 6, an electrical wiring is constituted by a lead frame 41 joined to the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2.

すなわち、図7に示すように、光半導体素子8はリードフレーム41上に搭載されている。光半導体素子8はバンプ9をリードフレーム41に接合することで接続・固定されている。このような光半導体素子8の裏面上には、第1の実施形態と同様に、接着樹脂11を介して駆動用半導体素子10が積層・固定されている。さらに、駆動用半導体素子10の図示を省略した電極は、ボンディングワイヤ12を介してリードフレーム41と電気的に接続されている。光半導体素子8および駆動用半導体素子10は封止樹脂13により絶縁封止されている。このようなリードフレーム41への各素子8、10の搭載工程や接続工程等は、一般的な半導体装置の組立工程を適用して実施することができる。   In other words, the optical semiconductor element 8 is mounted on the lead frame 41 as shown in FIG. The optical semiconductor element 8 is connected and fixed by bonding the bump 9 to the lead frame 41. On the back surface of the optical semiconductor element 8, the driving semiconductor element 10 is laminated and fixed via the adhesive resin 11, as in the first embodiment. Further, the electrode of the driving semiconductor element 10 (not shown) is electrically connected to the lead frame 41 via the bonding wire 12. The optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 are insulated and sealed with a sealing resin 13. The mounting process and connection process of the elements 8 and 10 to the lead frame 41 can be performed by applying a general assembly process of a semiconductor device.

そして、上記したリードフレーム41上に各素子8、10を搭載して作製した素子モジュール42を、ガイド2の光半導体搭載面5に接着することで、光半導体モジュール40が構成されている。この光半導体モジュール40は第1の実施形態と同様に、ガイド2の位置決め用貫通孔4に光ファイバ3を差し込んで使用される。なお、リードフレーム41のガイド2から突き出た部分は、他の部品と接続する際のコネクタとして使用することができる。この部分はガイド2の側面に沿って折り曲げて電極として使用してもよい。   Then, the optical semiconductor module 40 is configured by adhering the element module 42 manufactured by mounting the elements 8 and 10 on the lead frame 41 to the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2. As in the first embodiment, the optical semiconductor module 40 is used by inserting the optical fiber 3 into the positioning through hole 4 of the guide 2. The portion protruding from the guide 2 of the lead frame 41 can be used as a connector when connecting to other components. This portion may be bent along the side surface of the guide 2 and used as an electrode.

第3の実施形態による光半導体モジュール40は、駆動用半導体素子10を光半導体素子8上に積層した状態で内蔵しているため、信号品質の劣化抑制と光半導体モジュール40の小型化を実現することができる。また、光半導体モジュール40の小型化に加えて、電気配線にリードフレーム41を適用しているため、光半導体モジュール40の製造コストを低減することができる。これは多数の光伝送路が必要とされるLSIの光配線の実用化に大きく寄与するものである。なお、素子8、10間の接続は、第2の実施形態と同様にスループラグを用いて実施してもよい。   Since the optical semiconductor module 40 according to the third embodiment incorporates the driving semiconductor element 10 in a state of being stacked on the optical semiconductor element 8, it realizes suppression of signal quality deterioration and miniaturization of the optical semiconductor module 40. be able to. In addition to the downsizing of the optical semiconductor module 40, the lead frame 41 is applied to the electrical wiring, so that the manufacturing cost of the optical semiconductor module 40 can be reduced. This greatly contributes to practical application of LSI optical wiring that requires a large number of optical transmission lines. The connection between the elements 8 and 10 may be performed using a through plug as in the second embodiment.

次に、本発明の第4の実施形態による光半導体モジュールについて、図8、図9および図10を参照して説明する。図8は本発明の第4の実施形態による光半導体モジュールの構成を示す断面図、図9および図10は図8に示す光半導体モジュールの素子部分を示す断面図である。なお、第1の実施形態と同一部分には同一符号を付し、その説明を一部省略する。図8に示す第4の実施形態による光半導体モジュール50は、各素子8、10間の接続にスループラグ51、52を用いると共に、電気配線に駆動用半導体素子10に接続したリードフレーム53を用いたものである。   Next, an optical semiconductor module according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 8 is a cross-sectional view showing a configuration of an optical semiconductor module according to the fourth embodiment of the present invention, and FIGS. 9 and 10 are cross-sectional views showing element portions of the optical semiconductor module shown in FIG. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as 1st Embodiment, and the description is partially abbreviate | omitted. The optical semiconductor module 50 according to the fourth embodiment shown in FIG. 8 uses through plugs 51 and 52 for connection between the elements 8 and 10 and uses a lead frame 53 connected to the driving semiconductor element 10 for electric wiring. It was.

すなわち、光半導体素子8および駆動用半導体素子10はそれぞれチップ内を貫通するスループラグ51、52を有しており、スループラグ51、52のチップ裏面側には電極が形成されている。まず、図9に示すように、スループラグ52を有する駆動用半導体素子10を、リードフレーム53にバンプ54を用いて接続・固定する。次いで、駆動用半導体素子10上にバンプ55を用いて光半導体素子8を接続・固定する。さらに、光半導体素子8上にバンプ56を形成する。   That is, the optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 each have through plugs 51 and 52 penetrating through the chip, and electrodes are formed on the chip back surfaces of the through plugs 51 and 52. First, as shown in FIG. 9, the driving semiconductor element 10 having the through plug 52 is connected and fixed to the lead frame 53 using bumps 54. Next, the optical semiconductor element 8 is connected and fixed on the driving semiconductor element 10 using the bumps 55. Further, bumps 56 are formed on the optical semiconductor element 8.

このような素子モジュール57のリードフレーム53を、図10に示すように所望形状に成形した後、ガイド2の光半導体搭載面5にバンプ56を用いて接合・固定する。なお、バンプ56は光半導体素子8の機械的な固定のみに用いられるものであり、他の固定構造を適用してもよい。そして、ガイド2に接合した素子モジュール57を封止樹脂13で絶縁封止することによって、光半導体モジュール50が構成される。この実施形態の光半導体モジュール50において、リードフレーム53のガイド2から突き出た部分は他の部品と接続する際のコネクタとして使用することができる。   The lead frame 53 of such an element module 57 is formed into a desired shape as shown in FIG. 10 and then bonded and fixed to the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2 using bumps 56. Note that the bumps 56 are used only for mechanical fixing of the optical semiconductor element 8, and other fixing structures may be applied. Then, the optical module 50 is configured by insulatingly sealing the element module 57 bonded to the guide 2 with the sealing resin 13. In the optical semiconductor module 50 of this embodiment, the portion protruding from the guide 2 of the lead frame 53 can be used as a connector when connecting to other components.

第4の実施形態による光半導体モジュール50は、前述した各実施形態と同様に、駆動用半導体素子10を光半導体素子8上に積層した状態で内蔵しているため、信号品質の劣化抑制と光半導体モジュール40の小型化を実現することが可能となる。また、光半導体モジュール40の小型化に加えて、電気配線にリードフレーム41を適用しているため、光半導体モジュール40の製造コストを低減することができる。さらに、リードフレーム53の引き出し方向がガイド2の長手方向と同一であるため、他の部品と接続した際に薄型化することができる。   Since the optical semiconductor module 50 according to the fourth embodiment incorporates the driving semiconductor element 10 in a state of being stacked on the optical semiconductor element 8 as in the above-described embodiments, it is possible to suppress deterioration in signal quality and reduce the light. The semiconductor module 40 can be downsized. In addition to the downsizing of the optical semiconductor module 40, the lead frame 41 is applied to the electrical wiring, so that the manufacturing cost of the optical semiconductor module 40 can be reduced. Furthermore, since the lead frame 53 is pulled out in the same direction as the longitudinal direction of the guide 2, the lead frame 53 can be thinned when connected to other components.

次に、本発明の第5の実施形態による光半導体モジュールについて、図11、図12および図13を参照して説明する。なお、第1、第2、第3および第4の実施形態と同一部分には同一符号を付し、その説明を一部省略する。これらの図に示す第5の実施形態による光半導体モジュール60は、電気配線にプリント配線板61を用いたものである。   Next, an optical semiconductor module according to a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same part as 1st, 2nd, 3rd and 4th embodiment, and the description is partially abbreviate | omitted. The optical semiconductor module 60 according to the fifth embodiment shown in these drawings uses a printed wiring board 61 for electrical wiring.

図11に示す光半導体モジュール60は、第3の実施形態のリードフレーム41に代えてプリント配線板61を用いたものである。すなわち、光半導体素子8はバンプ9をプリント配線板61に接合することで接続・固定されている。光半導体素子8の裏面上には接着樹脂11を介して駆動用半導体素子10が積層・固定されている。さらに、駆動用半導体素子10の図示を省略した電極は、ボンディングワイヤ12を介してプリント配線板61と電気的に接続されている。光半導体素子8および駆動用半導体素子10は封止樹脂13により絶縁封止されている。このようなプリント配線板61への各素子8、10の搭載工程や接続工程等は、一般的な半導体装置の組立工程を適用して実施することができる。   An optical semiconductor module 60 shown in FIG. 11 uses a printed wiring board 61 instead of the lead frame 41 of the third embodiment. That is, the optical semiconductor element 8 is connected and fixed by bonding the bump 9 to the printed wiring board 61. A driving semiconductor element 10 is laminated and fixed on the back surface of the optical semiconductor element 8 via an adhesive resin 11. Furthermore, the electrode of the driving semiconductor element 10 (not shown) is electrically connected to the printed wiring board 61 via the bonding wire 12. The optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 are insulated and sealed with a sealing resin 13. The mounting process, the connection process, and the like of the elements 8 and 10 on the printed wiring board 61 can be performed by applying a general semiconductor device assembly process.

そして、上記したプリント配線板61上に各素子8、10を搭載して作製した素子モジュール62を、ガイド2の光半導体搭載面5に接着することによって、光半導体モジュール60が構成される。この光半導体モジュール60は他の実施形態と同様に、ガイド2の位置決め用貫通孔4に光ファイバ3を差し込んで使用される。なお、プリント配線板61のガイド2から突き出た部分は、他の部品と接続する際のコネクタとして使用することができる。この部分はガイド2の側面に沿って折り曲げて電極として使用してもよい。   The optical semiconductor module 60 is configured by adhering the element module 62 produced by mounting the elements 8 and 10 on the printed wiring board 61 to the optical semiconductor mounting surface 5 of the guide 2. This optical semiconductor module 60 is used by inserting the optical fiber 3 into the positioning through hole 4 of the guide 2 as in the other embodiments. The portion protruding from the guide 2 of the printed wiring board 61 can be used as a connector when connecting to other components. This portion may be bent along the side surface of the guide 2 and used as an electrode.

また、図12に示す光半導体モジュール60は、光半導体素子8と駆動用半導体素子10との接続に、第2の実施形態と同様にスループラグ31を適用したものである。さらに、図13に示す光半導体モジュール60は、第4の実施形態と同様に、各素子8、10間の接続にスループラグ51、52を用いると共に、電気配線に駆動用半導体素子10に接続されたプリント配線板61を用いたものである。図13に示す光半導体モジュール60はフレキシブルなプリント配線板61を適用しており、ガイド2から突き出た部分はガイド2の長手方向と同一方向に湾曲させて使用することができる。   Further, in the optical semiconductor module 60 shown in FIG. 12, the through plug 31 is applied to the connection between the optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 as in the second embodiment. Furthermore, the optical semiconductor module 60 shown in FIG. 13 uses through plugs 51 and 52 for connection between the elements 8 and 10 and is connected to the driving semiconductor element 10 for electric wiring, as in the fourth embodiment. The printed wiring board 61 is used. An optical semiconductor module 60 shown in FIG. 13 employs a flexible printed wiring board 61, and a portion protruding from the guide 2 can be used by being bent in the same direction as the longitudinal direction of the guide 2.

第5の実施形態による光半導体モジュール60は、前述した各実施形態と同様に、駆動用半導体素子10を光半導体素子8上に積層した状態で内蔵しているため、信号品質の劣化抑制と光半導体モジュール60の小型化を実現することが可能となる。また、光半導体モジュール60の小型化に加えて、電気配線にプリント配線板61を適用しているため、光半導体モジュール40の製造コストを低減することができる。   Since the optical semiconductor module 60 according to the fifth embodiment incorporates the driving semiconductor element 10 in a state of being stacked on the optical semiconductor element 8 as in the above-described embodiments, it is possible to suppress degradation of signal quality and reduce light. It is possible to reduce the size of the semiconductor module 60. Further, since the printed wiring board 61 is applied to the electrical wiring in addition to the downsizing of the optical semiconductor module 60, the manufacturing cost of the optical semiconductor module 40 can be reduced.

なお、上述した各実施形態では光半導体素子8と駆動用半導体素子10との積層体を内蔵した光半導体モジュールについて説明したが、内蔵素子はこれらに限られるものではない。例えば、図14に示すように、駆動用半導体素子10上にさらに他の半導体素子や受動部品等の部品71を積層してもよい。また、光半導体素子8がガイドの光半導体搭載面に搭載されていれば、他の素子の積層順は特に限定されるものではない。なお、図14に示す電気配線72は前述した各実施形態に示したメッキ配線層、リードフレーム、プリント配線板のいずれであってもよい。また、図14ではガイドの図示を省略したが、光半導体モジュールの全体構成は前述した各実施形態と同様である。   In each of the above-described embodiments, the optical semiconductor module including the laminated body of the optical semiconductor element 8 and the driving semiconductor element 10 has been described. However, the embedded element is not limited thereto. For example, as shown in FIG. 14, a component 71 such as another semiconductor element or a passive component may be stacked on the driving semiconductor element 10. In addition, as long as the optical semiconductor element 8 is mounted on the optical semiconductor mounting surface of the guide, the stacking order of the other elements is not particularly limited. Note that the electrical wiring 72 shown in FIG. 14 may be any of the plated wiring layer, the lead frame, and the printed wiring board shown in the above-described embodiments. Further, although the guide is not shown in FIG. 14, the overall configuration of the optical semiconductor module is the same as that of each of the embodiments described above.

次に、本発明の光半導体モジュールを適用した半導体装置の実施形態について、図15を参照して説明する。図15に示す半導体装置80は、信号処理用LSI81を有している。信号処理用LSI81は高速信号配線82を有する基板83上にバンプ84を介してフリップチップ接続されている。信号処理用LSI81と基板83との間にはアンダフィル剤85が充填されている。   Next, an embodiment of a semiconductor device to which the optical semiconductor module of the present invention is applied will be described with reference to FIG. A semiconductor device 80 shown in FIG. 15 has a signal processing LSI 81. The signal processing LSI 81 is flip-chip connected to the substrate 83 having the high-speed signal wiring 82 via the bumps 84. An underfill agent 85 is filled between the signal processing LSI 81 and the substrate 83.

信号処理用LSI81が搭載された基板83には、前述した各実施形態で構成を示した光半導体モジュール86が搭載されている。光半導体モジュール86の構成は第1ないし第5の実施形態のいずれであってもよい。光半導体モジュール86は、その内部の駆動用半導体素子が高速信号配線82と電気的に接続されるように、基板83上に接続・固定されている。光半導体モジュール86には光ファイバ87が接続されている。なお、図示を省略したが、基板83は電源、接地ライン、低速の制御信号ラインを構成する配線層を有しており、この配線層は基板83の下部に形成されたバンプ電極88に接続されている。   On the substrate 83 on which the signal processing LSI 81 is mounted, the optical semiconductor module 86 having the configuration shown in each of the above embodiments is mounted. The configuration of the optical semiconductor module 86 may be any of the first to fifth embodiments. The optical semiconductor module 86 is connected and fixed on the substrate 83 so that the driving semiconductor element in the optical semiconductor module 86 is electrically connected to the high-speed signal wiring 82. An optical fiber 87 is connected to the optical semiconductor module 86. Although not shown, the substrate 83 has a wiring layer constituting a power source, a ground line, and a low-speed control signal line, and this wiring layer is connected to a bump electrode 88 formed in the lower portion of the substrate 83. ing.

上述した実施形態の半導体装置80によれば、光結合に簡易な構造の光半導体モジュール86を適用しているため、LSI配線に光配線を適用した配線構造を安価に実現することが可能となる。これはLSIの高速チップ間配線の低コスト化に大きく寄与するものである。従って、情報通信機器等の高度化や高性能化等を図ることが可能となる。なお、本発明の光半導体モジュールの用途はLSI配線に限定されるものではなく、各種の短距離光伝送に適用することができる。   According to the semiconductor device 80 of the above-described embodiment, since the optical semiconductor module 86 having a simple structure is applied for optical coupling, a wiring structure in which optical wiring is applied to LSI wiring can be realized at low cost. . This greatly contributes to cost reduction of LSI high-speed inter-chip wiring. Accordingly, it is possible to improve the sophistication and performance of information communication devices. The application of the optical semiconductor module of the present invention is not limited to LSI wiring, but can be applied to various short-distance optical transmissions.

本発明の第1の実施形態による光半導体モジュールの概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the optical semiconductor module by the 1st Embodiment of this invention. 図1に示す光半導体モジュールに光ファイバを配置した状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which has arrange | positioned the optical fiber to the optical semiconductor module shown in FIG. 図1に示す光半導体モジュールに光ファイバを配置した状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state which has arrange | positioned the optical fiber to the optical semiconductor module shown in FIG. 図1に示す光半導体モジュールの要部製造工程を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the principal part manufacturing process of the optical semiconductor module shown in FIG. 本発明の第2の実施形態による光半導体モジュールの概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the optical semiconductor module by the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態による光半導体モジュールの概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the optical semiconductor module by the 3rd Embodiment of this invention. 図6に示す光半導体モジュールの素子部分を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the element part of the optical semiconductor module shown in FIG. 本発明の第4の実施形態による光半導体モジュールの概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the optical semiconductor module by the 4th Embodiment of this invention. 図8に示す光半導体モジュールの素子部分の製造過程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing process of the element part of the optical semiconductor module shown in FIG. 図8に示す光半導体モジュールの素子部分を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the element part of the optical semiconductor module shown in FIG. 本発明の第5の実施形態による光半導体モジュールの概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the optical semiconductor module by the 5th Embodiment of this invention. 図11に示す光半導体モジュールの一変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of the optical semiconductor module shown in FIG. 図11に示す光半導体モジュールの他の変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other modification of the optical semiconductor module shown in FIG. 本発明の光半導体モジュールにおける素子積層構造の他の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example of the element laminated structure in the optical semiconductor module of this invention. 本発明の一実施形態による半導体装置の概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the semiconductor device by one Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1,30,40,50,60,86…光半導体モジュール、2…ガイド、3,87…光ファイバ、4…位置決め用貫通孔、5…光半導体搭載面、6…メッキ配線層、8…光半導体素子、10…駆動用半導体素子、12…ボンディングワイヤ、21…枠体、31,51,52…スループラグ、41,53…リードフレーム、61…プリント配線板、81…信号処理用LSI、82…高速信号配線、83…基板。     DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,30,40,50,60,86 ... Optical semiconductor module, 2 ... Guide, 3,87 ... Optical fiber, 4 ... Positioning through-hole, 5 ... Optical semiconductor mounting surface, 6 ... Plated wiring layer, 8 ... Light Semiconductor element 10... Semiconductor element for driving, 12... Bonding wire, 21... Frame, 31, 51, 52... Through plug, 41 and 53. ... high-speed signal wiring, 83 ... substrate.

Claims (5)

光伝送路の位置決め部と、前記位置決め部に配置される光伝送路の一端面が露出する光半導体搭載面とを有するガイドと、
前記光伝送路の一端面と発光面または受光面が対向するように、前記ガイドの前記光半導体搭載面に搭載された光半導体素子と、
前記光半導体素子上に積層された半導体素子と
を具備することを特徴とする光半導体モジュール。
A guide having a positioning part of the optical transmission line, and an optical semiconductor mounting surface at which one end face of the optical transmission line arranged in the positioning part is exposed;
An optical semiconductor element mounted on the optical semiconductor mounting surface of the guide so that one end surface of the optical transmission path and a light emitting surface or a light receiving surface face each other;
An optical semiconductor module comprising: a semiconductor element stacked on the optical semiconductor element.
請求項1記載の光半導体モジュールにおいて、
少なくとも前記光半導体搭載面に形成されたメッキ配線層、前記光半導体搭載面に接合されたリードフレーム、前記半導体素子に接続されたリードフレーム、前記光半導体搭載面に接合されたプリント配線板、および前記半導体素子に接続されたプリント配線板から選ばれる電気配線を有することを特徴とする半導体モジュール。
The optical semiconductor module according to claim 1,
A plated wiring layer formed on at least the optical semiconductor mounting surface, a lead frame bonded to the optical semiconductor mounting surface, a lead frame connected to the semiconductor element, a printed wiring board bonded to the optical semiconductor mounting surface, and A semiconductor module comprising electrical wiring selected from printed wiring boards connected to the semiconductor element.
請求項1または請求項2記載の光半導体モジュールにおいて、
前記光半導体素子と前記半導体素子とは、少なくともボンディングワイヤまたは前記素子内のスループラグを介して、電気的に接続されていることを特徴とする光半導体モジュール。
The optical semiconductor module according to claim 1 or 2,
The optical semiconductor module, wherein the optical semiconductor element and the semiconductor element are electrically connected through at least a bonding wire or a through plug in the element.
請求項1記載の光半導体モジュールを製造するにあたり、
複数の前記ガイドを、前記光半導体搭載面を上方に向けて整列させ、かつ枠体で連結した状態で一体的に作製する工程と、
前記複数のガイドの前記光半導体搭載面に前記光半導体素子と前記半導体素子とを積層しつつ搭載する工程と
を具備することを特徴とする光半導体モジュールの製造方法。
In manufacturing the optical semiconductor module according to claim 1,
A plurality of the guides are integrally manufactured in a state in which the optical semiconductor mounting surface is aligned upward and connected by a frame,
And a step of stacking and mounting the optical semiconductor element and the semiconductor element on the optical semiconductor mounting surface of the plurality of guides.
請求項1ないし請求項3のいずれか1項記載の光半導体モジュールと、
前記光半導体モジュールが搭載され、かつ前記光半導体モジュールの前記半導体素子と接続された信号配線を有する基板と、
前記基板上に搭載され、かつ前記基板の信号配線と接続された信号処理用半導体素子と
を具備することを特徴とする半導体装置。
An optical semiconductor module according to any one of claims 1 to 3,
A substrate on which the optical semiconductor module is mounted and having signal wiring connected to the semiconductor element of the optical semiconductor module;
A semiconductor device comprising: a signal processing semiconductor element mounted on the substrate and connected to a signal wiring of the substrate.
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