[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2005528010A - 同調可能なmemsフィルムバルク音響波マイクロ共振器 - Google Patents

同調可能なmemsフィルムバルク音響波マイクロ共振器 Download PDF

Info

Publication number
JP2005528010A
JP2005528010A JP2003568775A JP2003568775A JP2005528010A JP 2005528010 A JP2005528010 A JP 2005528010A JP 2003568775 A JP2003568775 A JP 2003568775A JP 2003568775 A JP2003568775 A JP 2003568775A JP 2005528010 A JP2005528010 A JP 2005528010A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microresonator
electrode
applying
resonator
piezoelectric material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003568775A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4521537B2 (ja
Inventor
フィリップ・ロバート
Original Assignee
コミツサリア タ レネルジー アトミーク
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by コミツサリア タ レネルジー アトミーク filed Critical コミツサリア タ レネルジー アトミーク
Publication of JP2005528010A publication Critical patent/JP2005528010A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4521537B2 publication Critical patent/JP4521537B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/15Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/17Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
    • H03H9/171Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
    • H03H9/172Means for mounting on a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/15Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/17Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
    • H03H9/171Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
    • H03H9/172Means for mounting on a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
    • H03H9/173Air-gaps
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/24Constructional features of resonators of material which is not piezoelectric, electrostrictive, or magnetostrictive
    • H03H9/2405Constructional features of resonators of material which is not piezoelectric, electrostrictive, or magnetostrictive of microelectro-mechanical resonators
    • H03H2009/241Bulk-mode MEMS resonators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Abstract

本発明は、懸架されたバルク音響波マイクロ共振器に関するものであって、圧電材料製の梁(1)を具備している。この梁は、支持体(3)に対して連結されているとともに、励起電極(4,5)の間に介装されている。本発明による共振器は、さらに、共振周波数を変更し得るよう、励起された梁を備えて構成された共振器の制限条件を変更するための変更手段を具備している。

Description

本発明は、同調可能なMEMS(Micro-Electro-Mechanical System,あるいは、マイクロマシン技術、あるいは、MST)フィルムバルク音響波マイクロ共振器に関するものである。
例えば移動体通信のための送受信システムといったようなシステムにおいては、バンドとしてのアンテナ出力や非通過フィルタ等といったように、いくつものフィルタリングレベルが必要とされる。現在のところ、2つの主要な手法を使用して、RFフィルタが形成されている。
−SAW(Surface Acoustic Wave,表面音響波)素子。このSAW素子は、優秀な結果をもたらすものの、集積回路内に直接的に組み込むことができない。
−RLC回路。このRLC回路は、組込が可能ではあるけれども、各構成要素の性能のために、特にインダクタンスの性能のために(集積型インダクタンスの品質係数が30を超えることは困難である)、特性が平凡である。
研究の第3の方向性は、機械的なフィルムを使用したバルク音響波共振器(Film Bulk Acoustic Resonators,FBAR)の使用を原理とするものである。このような共振器は、集積化し得るとともに、大きな品質係数(1000よりも大)をもたらすことができる。したがって、このような共振器は、通常的に良好な性能(大きな品質係数)をもたらすことにより、また、製造コストが安価であることにより(集積化が可能なデバイス)、有効なデバイスである。
したがって、音響波共振器は、2つのカテゴリーに分類される。すなわち、表面音響波(SAW)共振器と、フィルムバルク音響共振器(FBAR)と、に分類される。
SAW共振器の場合には、表面波が、櫛形電極ネットワークを使用して、圧電性材料(石英、LiNbO 、LiTaO )を励起することにより、生成される。この表面波は、第2の組をなす相互噛合電極によって検出される。励起用櫛の幅や間隔や数、および、検出用櫛の幅や間隔や数、によって、発振器の共振周波数すなわちフィルタ通過バンドが制御される。SAWフィルタは、100MHz〜約2.5GHzという周波数範囲で使用される。このようなデバイスの表面積は、数mm の程度であり、使用される圧電性材料(石英、LiNbO 、LiTaO 、等)は、集積回路上における製造には不適切であるような原理を利用している。このタイプの素子は、高性能であって広く検証されているけれども、特にハイブリッド技術には、適用されていない。
FBAR共振器の場合には、バルク音響波が、2つの電極間において、薄い圧電層(AlNやPZTやZnOからなる層)を励起することにより、生成される。このような微小機械的共振器においては、フィルタは、通常、このような複数の共振器を互いに結合させることによって、形成される。各共振器の共振周波数は、通常は互いに近接したものとされるものであって、フィルタの中心周波数を固定する。フィルタの通過バンドは、結合特性(配置、絶縁耐性)に依存し、一方、共振器の数は、フィルタの次数をもたらす。このタイプの共振器は、300MHz〜12.5GHzという周波数範囲内においてフィルタを形成するために使用することができる。
FBAR共振器は、特殊な文献において、2つのグループに分類することができる。すなわち、FBAR−MEMSと称されるものと、SMRと称されるものと、に分類することができる。FBAR−MEMSの場合には、圧電材料共振器が、基板から離間されており、これにより、音響波の消費が防止されている。このような離間は、基板の背面をエッチングすることによって、あるいは、犠牲層を使用することにより共振器を懸架することによって、得られている。SMR(Solidly Mounted Resonator,剛直に取り付けられた共振器)の場合には、圧電材料共振器の直下において、音響波ブラッグ格子が使用される。この音響波ブラッグ格子は、複数の材料層から構成されており、これら複数の材料層をなす各層は、λ/4(ここで、λは、共振器の周波数に対応した波長)という厚さを有しているとともに、各層ごとに大きく異なるヤング率を有している。このような複数層は、音響波を反射する。
このようなタイプのフィルムバルク音響波共振器においては、共振周波数は、圧電性層の厚さに反比例する。例えば、AlN共振器の場合には、約1μmという厚さに対して、1GHzという周波数が得られる。
RF応用においては、ほぼ1μm(通常は、1〜数μm)という厚さの圧電性材料に対応して1GHzの程度の共振周波数に関して、数MHz〜数十MHzという範囲内での周波数制御でもって、従来より研究がなされてきた。この周波数変動範囲は、共振器のうちの、10nm未満という圧電材料層の厚さの制御に対応している(1%未満という分散に対応する)。このような厚さのチェックは、工業的規模では、行うことができない。
さらに、従来技術による素子の中で、同調可能なものは見あたらない。なお、本出願人の知る限りにおいては、本出願に関連性を有する先行技術文献は存在しない。
本発明は、共振器に対して可変的な機械的応力を付与し得るシステムを備えているような、FBAR−MEMSタイプの共振器(言い換えれば、懸架されたフィルムバルク音響波共振器)を使用することによって、従来技術における弱点を克服する。
本発明の目的は、懸架されたフィルムバルク音響波マイクロ共振器であって、支持体に対して固定されているとともに、与えられた共振周波数で動作し得るように選択された厚さのものとされた、圧電材料製の梁を具備してなり、この梁が、この梁の厚さ方向において励起電極の間に介装されているような、マイクロ共振器において、さらに、共振周波数を変更し得るよう、励起された梁を備えて構成された共振器の制限条件を変更するための変更手段を具備していることを特徴とするマイクロ共振器である。
第1変形例によれば、共振器の制限条件を変更するための変更手段は、梁に対して機械的応力を印加する手段を備えている。
第1の実施態様においては、梁に対して機械的応力を印加する手段は、梁に対して静電力を印加することによって梁を曲げることができる。梁は、この梁の両端部において、あるいは、この梁の両端部のうちの一方の端部のみにおいて、支持体に対して固定することができる。梁が、この梁に対向しているキャビティの存在によって支持体から分離されている場合には、梁に対して静電力を印加する手段は、梁上に配置された少なくとも1つの電極と、この電極に対向しかつキャビティ内に位置した少なくとも1つの電極と、を備えることができる。静電力を印加するために使用されかつ梁上に配置された電極は、複数の励起電極のうちの一方の励起電極とすることができる。
第2の実施態様においては、梁に対して機械的応力を印加する手段は、バイメタルストリップ効果を生成し得る手段とされる。バイメタルストリップ効果を生成し得る手段は、梁の一方の面上に形成された金属層と加熱部材とからなる少なくとも1つのバイメタルストリップ効果デバイスを備えることができる。その場合、バイメタルストリップ効果を生成し得る手段は、梁の同じ面上に配置することができる。また、バイメタルストリップ効果を生成し得る手段は、少なくとも1つのダブル型バイメタルストリップを形成することができ、このダブル型バイメタルストリップの第1バイメタルストリップ効果デバイスは、梁の一方の面上に配置され、ダブル型バイメタルストリップの第2バイメタルストリップ効果デバイスは、梁の他方の面上に配置され、これら2つのバイメタルストリップ効果デバイスは、互いに対向して配置される。加熱部材は、金属層によって支持されておりかつ電気絶縁層を介することによってこの金属層から絶縁された電気抵抗とすることができる。加熱部材は、また、バイメタルストリップ効果デバイスの金属層から構成することができる。
第3の実施態様においては、梁に対して機械的応力を印加する手段は、圧電手段とすることができる。圧電手段は、梁に対して電界を印加することにより梁がなす面内に圧縮応力や膨張応力や剪断応力を印加し得るよう、梁の少なくとも1つの面上に配置された電極を備えることができる。 圧電手段の電極の中の1つの電極は、励起電極とすることができる。
第2変形例によれば、共振器の制限条件を変更するための変更手段は、梁に対して機械的負荷を印加する手段を備えている。有利には、梁に対して機械的負荷を印加する手段は、支持体に対して固定されているとともに圧電材料製梁に対向配置された少なくとも1つの負荷梁を備え、これにより、静電力を負荷梁に対して印加することによって梁に対して機械的負荷を印加し得るものとされている。負荷梁に対して静電力を印加するための手段は、負荷梁上に配置された第1電極と、励起電極の一方からなる第2電極と、を備えることができる。
第3変形例によれば、共振器の制限条件を変更するための変更手段は、圧電材料製梁の温度を変更する手段を備えている。有利には、圧電材料製梁の温度を変更する手段は、少なくとも1つの電気抵抗を備えている。電気抵抗は、励起電極の中の1つの励起電極に設け得るとともに、電気絶縁体層を介することによってその励起電極から絶縁されることができる。
圧電材料製梁は、励起電極を備えているとともに、誘電体材料層を介して支持体に対して固定することができる。
本発明や本発明の利点や格別の特徴点は、添付図面を参照しつつ、本発明を何ら限定するものではなく単なる例示としての好ましい実施形態に関する以下の詳細な説明を読むことにより、明瞭となるであろう。
以下の説明においては、3つの変形例を例示する。
第1変形例においては、共振器の制限条件は、共振器を形成する梁に対して機械的応力を印加することによって、変更される。機械的応力は、静電力に起因するものとすることができ、これにより、端部の曲げ状況の変更の有無は別として、梁の曲げを引き起こすことができる。機械的応力は、また、熱的バイメタルストリップタイプの効果に起因するものとすることができる。これにより、圧縮効果だけをもたらすことも(ダブル型バイメタルストリップの場合)、また、曲げモーメントと圧縮との組み合わせをもたらすことも(単一のバイメタルストリップの場合)、できる。機械的応力は、また、共振器自体の励起によって導入された圧電的応力に起因するものとすることができる(例えば、長手方向または厚さ方向における共振器の変形)。
第2変形例においては、共振器の制限条件は、共振器に対して可変的負荷を適用することにより、変更される。可変負荷は、付加的な梁上における結合に起因するものとも、また、静電力を使用しての共振器に対しての負荷梁の結合に起因するものとも、することができる。
第3変形例においては、共振器の制限条件は、共振器の温度を変更することによって、変更される。共振器の温度は、共振器を形成している梁に設置された加熱抵抗を制御することによって、変更することができる。
任意の機械的共振器の場合と同じく、制限条件(応力、負荷、温度)の変更は、システム(制限条件の変更)の共振周波数の変化として顕在化する。
本発明において、発振器の共振周波数を制御し得るという可能性は、第1に、圧電材料層の厚さの制御に関する精度を緩和し得ることを意味しており、第2に、各発振器の共振を動的に制御することができて、同調可能なフィルタを形成し得ることを意味している。
図1は、本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を示す断面図であり、この場合、梁に対して印加される応力は、静電力に起因している。
圧電材料層(1)は、支持体(3)に形成されたキャビティ(2)の上方に懸架されている。圧電材料層(1)は、両端において作りつけられたタイプの梁とされている。例えば、キャビティ(2)の深さは、0.1μm〜数十μmとすることができ、例えば、1〜2μmとすることができる。圧電材料製の梁(1)は、第1組をなす電極の間に介装されている。すなわち、上電極(4)と下電極(5)との間に介装されている。この第1組をなす電極は、梁に対して1つまたは複数の共振モードを印加することを意図したものである。これは、選択されたモードの共振周波数とされた交流電源(6)に対して電極(4,5)を接続することによって、得られる。
第2組をなす電極を使用することにより、梁に対して静電力を印加することができる。この第2組をなす電極は、キャビティ(2)の底部に配置された電極(7)と、この電極(7)に対向して位置している下電極(5)と、から構成することができる。DC電流源(8)からの分極電圧出力が、電極(5,7)間に印加され、これにより、梁の曲がりが誘発される。この曲がりによって、共振器に応力が発生し、この応力が、共振器の共振周波数の変化へと変換される。発生応力が分極電圧の関数であることにより、共振周波数も、また、分極電圧に相関する。
製造に関する技術的理由により、支持梁をなす層(9)を、支持体(3)と共振器との間に、介装することができる。この層(9)は、窒化シリコンまたは酸化シリコンから形成することができる。
静電力の作用によって梁(1)が変形した状況は、破線によって示されている。
図2は、本発明の第1変形例による他のマイクロ共振器を示す断面図であり、この場合にも、梁に対して印加される応力は、静電力に起因している。図1の梁とは異なり、共振器を構成する梁は、片持ち支持された梁とされている。
圧電材料製の梁(91)は、支持体(93)内のキャビティまたは凹所(92)の上方において、片持ち梁として懸架されている。この梁(91)は、上電極(94)と下電極(95)との間に介装されている。これら電極(94,95)は、梁に対して1つまたは複数の共振モードを印加するためのものである。これを得るために、電極(94,95)は、選択されたモードの共振周波数とされた交流電源(96)に対して接続されている。
電極(97)が、キャビティ(92)の底部に配置されているとともに、誘電体材料層(99)によってコーティングされている。DC電圧源(98)からの分極電圧出力が、電極(95,97)間に印加され、これにより、梁の曲がりが誘発される。
図2においては、破線によって、分極電圧が印加されていない場合の梁(91)が示されており、実線によって、分極電圧が印加されている場合の梁(91)が示されている。誘電体材料からなる連続的な層または不連続な層(例えば、小さな複数の誘電体パッドからなる層)(99)が、電極(95,97)間の短絡を防止している。印加される分極電圧に応じて、キャビティ(92)の底部に向けての、梁(91)の引き付けられ度合いが、変化する。
図3は、本発明の第1変形例によるさらに他のマイクロ共振器を示す断面図であり、この場合、梁に対して印加される応力は、バイメタルストリップによる熱的効果に起因している。
図1の場合と同様に、圧電材料製の梁(11)は、支持体(13)に形成されたキャビティ(12)の上方に懸架されている。キャビティ(12)の深さは、0.1μm〜数十μmとすることができ、例えば、1〜2μmとすることができる。圧電材料製の梁(11)は、上電極(14)と下電極(15)との間に介装されている。これら電極(14,15)は、梁(11)に対して1つまたは複数の共振モードを印加することを意図したものである。これを得るために、電極(14,15)は、選択されたモードの共振周波数とされた交流電源(16)に対して接続される。
梁の1つまたは複数の部分に対して、かつ、梁の直上または直下に、熱的バイメタルストリップを、配置することができる。図3に図示した例においては、梁は、圧電材料製梁(11)の両面に、2つの熱的バイメタルストリップ(17,18)を支持している。各熱的バイメタルストリップ(17,18)は、小さな熱膨張係数を有した圧電性材料から形成された梁に当接して配置されかつ大きな熱膨張係数を有した層(通常は、金属層)と、電気抵抗から形成された加熱部材と、を備えている。加熱部材は、大きな熱膨張係数を有した層の一部として形成することも、また、薄い誘電体層を介することによって大きな熱膨張係数を有した層から隔離された追加層(あるいは、アドオン層)とすることも、できる。
加熱部材をなす電気抵抗に電流を流すことにより、バイメタルストリップ(大きな熱膨張係数を有した層と、梁と、から構成されている)の温度が上昇する。この温度上昇の作用により、バイメタルストリップをなす2つの材料の熱膨張度合いの差によって、梁に対して、圧縮力と曲げモーメントとが生成される。梁が、図2に示すようにして配置された2つのバイメタルストリップを支持している場合には、梁は、圧縮力のみを受けることとなる。
図4〜図6は、バイメタルストリップに関しての、可能ないくつかの構成を示す平面図である。
図4は、梁を形成している圧電材料層(21)を示している。この圧電材料層(21)は、梁に対して交流電圧を印加するために設けられた上電極(24)を、支持している。バイメタルストリップ(27)は、梁の上面の一端部上に配置されているとともに、梁上に成膜された金属層(27 )と、電気絶縁層(27 )と、電気抵抗(27 )と、を備えている。
図5は、梁を形成している圧電材料層(31)を示している。この圧電材料層(31)は、共振器の励起用の上電極(34)を支持している。梁(31)は、梁の上面の両端部のところに、図4に関して上述したタイプのバイメタルストリップ(37,37’)を支持している。
図6は、梁を形成している圧電材料層(51)を示している。この圧電材料層(51)は、共振器の励起用の上電極を構成する2つの電極部分(54,54’)を支持している。梁(51)の中央部分には、図4に関して上述したタイプのバイメタルストリップ(57)が配置されている。
図7は、本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を示す断面図であり、この場合、梁に対して印加される応力は、圧電効果による共振器の変形に起因している。
図1および図3の場合と同様に、圧電材料からなる梁(61)は、支持体(63)に形成されたキャビティ(62)の上方に懸架されている。キャビティ(62)の深さは、0.1μm〜数十μmとすることができ、例えば、1〜2μmとすることができる。圧電材料製の梁(61)は、上電極(64)と下電極(65)との間に介装されている。これら電極(64,65)は、梁を励起するために使用される。これを得るために、電極(64,65)は、選択されたモードの共振周波数とされた交流電源(66)に対して接続されている。
梁の一部分または複数の部分において上面および/または下面に、付加的な電極が設けられる。これら電極は、圧電材料製の梁(61)の中に連続的な電界を生成する。これら電極の配置は、圧電性結晶の配向性や、所望の変形方向、に依存する。図7に図示した例においては、付加的な電極(67)が、梁の上面に配置されており、さらに、付加的な電極(68)が、梁の下面に配置されている。電極(64,67)は、第1のDC電圧源(69)に対して接続されている。電極(65,68)は、第2の連続的な電圧源(60)に対して接続されている。それらDC電圧によって生成された局所的変形は、まず最初に、電極(64,67)に対して印加され、第2に、電極(65,68)に対して印加される。これらは、共振器の共振周波数を変化させるという効果を有している。
図8〜図10は、付加的な電極に関しての、可能ないくつかの構成を示す平面図である。
図8は、圧電材料からなる梁(61)の上面を示している。この場合、共振器の励起電極(64)と、付加的な電極(67)とが、DC電源(69)(図7参照)に対して接続されている。機械的応力は、電極(64,67)間のDC電圧によって誘起された電界に起因する。
図9は、圧電材料からなる梁(71)が、上面上に共振器の励起電極(74)を支持しているとともに、励起電極(74)の両サイドに、2つの付加的な電極(77,77)を支持しているという、変形例を示している。電極(74,77 )が、第1のDC電源(79 )に対して接続されており、これにより、これら電極(74,77 )間に電界を誘起している。電極(74,77 )が、第2のDC電源(79 )に対して接続されており、これにより、これら電極(74,77 )間に電界を誘起している。両DC電源によって誘起された両電界は、圧電性材料からなる梁(71)に機械的応力を誘起する。
図10は、圧電材料からなる梁(81)が、上面上に、共振器の励起電極をなす2つの電極部分(84,84)を支持しているという、変形例を示している。各電極部分(84,84)は、DC電源(89)に対して接続されており、これにより、これら電極部分(84,84)間の離間領域内に電界を誘起している。
図11Aおよび図11Bは、本発明の第2変形例によるマイクロ共振器を示す断面図である。この変形例においては、共振器に対して可変負荷が適用されている。
圧電材料からなる梁(121)は、支持体(123)に形成されたキャビティ(122)の上方に懸架されている。キャビティ(122)の深さは、1〜2μmとすることができる。圧電材料製の梁(121)は、上電極(124)と下電極(125)との間に介装されている。これら電極(124,125)は、梁を励起するために使用される。これを得るために、電極(124,125)は、選択されたモードの共振周波数とされた交流電源(126)に対して接続されている。
梁(121)と電極(124,125)とからなるアセンブリは、部材(127,129,120,130)を介して、支持体(123)に対して固定されている。部材(127)は、支持体(123)に対して固定された電極であって、キャビティ(122)の上方を跨っている。電極(127)は、誘電体材料層(129)によってコーティングされている。部材(120,130)は、スペーサであって、電圧源(128)が電極(125,127)間にDC電圧を印加していないときには、部材(125,121,124)からなる組と、部材(127,129)とからなる組と、の間の隔離を維持している。これにより、負荷梁が形成されている。この状況は、図11Aに示されている。
図11Bは、電圧源(128)が、電極(125,127)間に分極電圧を印加しており、これにより、負荷梁の一部を、部材(125,121,124)からなる組に対して引き寄せている。接触面のサイズは、分極電圧に応じて、可変とされている。接触面は、共振器に対して印加する負荷を変化させることができる。このため、共振器の共振周波数を変化させることができる。
図12Aおよび図12Bは、本発明の第2変形例による他のマイクロ共振器を示すそれぞれ断面図および平面図である。
圧電材料からなる梁(141)は、支持体(143)に形成されたキャビティ(142)の上方に懸架されている。キャビティ(142)の深さは、1〜2μmとすることができる。圧電材料製の梁(141)は、上電極(144)と下電極(145)との間に介装されている。これら電極(144,145)は、梁を励起するために使用される。これを得るために、電極(144,145)は、選択されたモードの共振周波数とされた交流電源(146)に対して接続されている。
ただ1つの負荷梁を備えているような図11Aおよび図11Bに示すマイクロ共振器とは異なり、図12Aおよび図12Bに示すマイクロ共振器とは異なり、複数の負荷梁を備えている。複数の負荷梁(149)は、梁(141)の上方または下方に配置される。それら負荷梁(149)は、それぞれ対応する電極(147)によって起動される。図示の例においては、複数の負荷梁は、支持体(143)によって支持された連続的なまたは不連続な誘電体層であって、梁(141)の上方に配置されている。起動電極(147)は、負荷梁(149)の表面上に成膜された金属層である。DC電圧源(148)が、上電極(144)と複数の起動電極(147)との間にわたって、それぞれ対応する各スイッチ(150)を介して、接続されている。
図12Aは、梁(141)に対して全く機械的応力が印加されていない状況で、マイクロ共振器を示している。共振周波数の変更は、各負荷梁をゲート(141)に対して接触させるという互いに個別的な各ステップによって、行われる。すなわち、図13は、2つの負荷梁(149)が、これら負荷梁に対応するスイッチ(150)を閉塞したことに基づいて、梁(141)に対して引き寄せられた状況を示している。
上記においては、負荷梁を変位させるために使用される対向電極は、圧電材料製梁の上電極とされている。しかしながら、上電極とは異なる対向電極を使用することもできる。その状況は、図14に示されている。図14は、本発明の第2変形例によるさらに他のマイクロ共振器を示す平面図である。
図14は、圧電材料製の梁(161)を示しており、この梁(161)は、長手方向軸に沿って、励起用の上電極(164)を支持している。梁(161)は、さらに、対向電極(160)を支持している。対向電極(160)は、励起電極(164)の両サイドに配置された2つの導電性ストリップとして形成されている。複数の負荷梁は、上述したように、梁(161)の上方に配置されており、梁(161)を横断している。これら負荷梁は、起動電極(167)によって被覆されている。各起動電極(167)は、対向電極(160)をなす導電性ストリップに対向した部分において、広幅とされている。DC電圧源(168)が、対向電極(160)と複数の起動電極(167)との間にわたって、それぞれ対応する各スイッチ(170)を介して、接続されている。
図15Aおよび図15Bは、本発明の第3変形例によるマイクロ共振器を示すそれぞれ断面図および平面図である。この第3変形例においては、マイクロ共振器の温度を変更することができる。
圧電材料からなる梁(41)は、支持体(43)に形成されたキャビティ(42)の上方に懸架されている。キャビティ(42)の深さは、1〜2μmとすることができる。圧電材料製の梁(41)は、上電極(44)と下電極(45)との間に介装されている。これら電極(44,45)は、梁を励起するために使用される。これを得るために、電極(44,45)は、選択されたモードの共振周波数とされた交流電圧源(46)に対して接続されている。
励起電極(44)は、電気絶縁機能を果たす誘電体材料層(49)と糸状加熱抵抗(47)とからなるシーケンスを支持している。抵抗(47)に電流を流すことによって誘起された温度上昇は、共振器の特性を変更することができ、共振周波数を変更することができる。
上記マイクロ共振器の他の変形例においては、梁が、キャビティの存在によって支持体から分離される。他のアプローチは、支持体の背面全体をエッチングすることによって、梁を解放することである。
図1において支持梁を形成する層(9)は、また、本発明によるマイクロ共振器の他の変形例においても存在することができる。
次に、本発明によるマイクロ共振器の製造方法について説明する。この実施態様は、図16A〜図16Hに図示されている。
図16Aは、シリコン基板(100)を示しており、このシリコン基板(100)の表面上には、2μm厚さの酸化シリコン層(103)が、既に成膜されている。
1.5μm深さのキャビティ(102)を、酸化シリコン層(103)内に形成する。この状況は、図16Bに示されている。
0.8μm厚さの金属成膜体を、図16Cに示すように、キャビティ(102)の底部に形成する。これにより、共振器を変形させて歪ませるための電極(107)が形成される。
その後、キャビティの残部に、犠牲層(110)を成膜することにより、キャビティ(103)の上面まで、キャビティを充填する。この様子は、図16Dに示されている。
0.2μm厚さの金属成膜体を、成膜し、これにより、共振器の励起用の下電極(105)を形成する。この様子は、図16Eに示されている。
次に、圧電性材料製の共振器梁(101)を、下電極(105)上に成膜する。この様子は、図16Fに示されている。
その後、0.2μm厚さの金属成膜体を、圧電材料製梁(101)上において成膜し、これにより、共振器の励起用の上電極(104)を形成する。この様子は、図16Gに示されている。
次なるステップは、犠牲層(110)を除去することである。これにより、共振器が解放され、図16Hに示すような構造が得られる。
したがって、本発明によれば、集積回路の製造に適合した製造プロセスを使用して、集積化された同調可能なRF共振器およびフィルタを製造することができる。本発明によれば、より『好適な』フィルタを製造することができる。それは、圧電材料製梁の厚さを高精度で制御する必要なく機械的応力を制御することによって、各発振器の共振周波数を、製造後に調節し得るからである。本発明によれば、同調可能なフィルタを製造することができる。
本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を示す断面図である。 本発明の第1変形例による他のマイクロ共振器を示す断面図である。 本発明の第1変形例によるさらに他のマイクロ共振器を示す断面図である。 図2のマイクロ共振器に関して可能ないくつかの構成のうちの、ある構成を示す平面図である。 図2のマイクロ共振器に関して可能ないくつかの構成のうちの、他の構成を示す平面図である。 図2のマイクロ共振器に関して可能ないくつかの構成のうちの、さらに他の構成を示す平面図である。 本発明の第1変形例によるさらなるマイクロ共振器を示す断面図である。 図7のマイクロ共振器に関して可能ないくつかの構成のうちの、ある構成を示す平面図である。 図7のマイクロ共振器に関して可能ないくつかの構成のうちの、他の構成を示す平面図である。 図7のマイクロ共振器に関して可能ないくつかの構成のうちの、さらに他の構成を示す平面図である。 本発明の第2変形例によるマイクロ共振器を示す断面図である。 本発明の第2変形例によるマイクロ共振器を示す断面図である。 本発明の第2変形例による他のマイクロ共振器を示す断面図である。 本発明の第2変形例による他のマイクロ共振器を示す平面図である。 マイクロ共振器に関し、図12Aに対応した断面図であって、使用時の状況を示している。 本発明の第2変形例によるさらに他のマイクロ共振器を示す平面図である。 本発明の第3変形例によるマイクロ共振器を示す断面図である。 本発明の第3変形例によるマイクロ共振器を示す平面図である。 本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を形成するためのプロセスにおける各ステップを示す断面図である。 本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を形成するためのプロセスにおける各ステップを示す断面図である。 本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を形成するためのプロセスにおける各ステップを示す断面図である。 本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を形成するためのプロセスにおける各ステップを示す断面図である。 本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を形成するためのプロセスにおける各ステップを示す断面図である。 本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を形成するためのプロセスにおける各ステップを示す断面図である。 本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を形成するためのプロセスにおける各ステップを示す断面図である。 本発明の第1変形例によるマイクロ共振器を形成するためのプロセスにおける各ステップを示す断面図である。
符号の説明
1 圧電材料製梁
2 キャビティ
3 支持体
4 励起電極
5 励起電極
7 電極
11 圧電材料製梁
13 支持体
14 励起電極
15 励起電極
17 第1バイメタルストリップ効果デバイス
18 第2バイメタルストリップ効果デバイス
27 金属層
27 電気絶縁層
27 加熱部材
47 電気抵抗
49 電気絶縁体層
61 圧電材料製梁
63 支持体
64 励起電極
65 励起電極
67 電極
68 電極
91 圧電材料製梁
93 支持体
94 励起電極
95 励起電極
101 圧電材料製梁
103 支持体
104 励起電極
105 励起電極
121 圧電材料製梁
123 支持体
124 励起電極
125 励起電極
129 負荷梁
141 圧電材料製梁
143 支持体
149 負荷梁
161 圧電材料製梁

Claims (23)

  1. 懸架されたフィルムバルク音響波マイクロ共振器であって、
    支持体(3,13,63,93,103,123)に対して固定されているとともに、与えられた共振周波数で動作し得るように選択された厚さのものとされた、圧電材料製の梁(1,11,61,91,101,121)と;
    この梁の厚さ方向においてこの梁を挟み込んでいる励起電極(4,5;14,15;64,65;94,95;104,105;124,125)と;
    を具備してなり、
    さらに、前記共振周波数を変更し得るよう、励起された前記梁を備えて構成された前記共振器の制限条件を変更するための変更手段を具備していることを特徴とするマイクロ共振器。
  2. 請求項1記載のマイクロ共振器において、
    前記共振器の制限条件を変更するための前記変更手段が、前記梁に対して機械的応力を印加する手段を備えていることを特徴とするマイクロ共振器。
  3. 請求項2記載のマイクロ共振器において、
    前記梁に対して機械的応力を印加する前記手段が、前記梁に対して静電力を印加することによって前記梁を曲げることができることを特徴とするマイクロ共振器。
  4. 請求項3記載のマイクロ共振器において、
    前記梁(1)が、この梁(1)の両端部において、前記支持体(3)に対して固定されていることを特徴とするマイクロ共振器。
  5. 請求項3記載のマイクロ共振器において、
    前記梁(91)が、この梁(91)の両端部のうちの一方の端部のみにおいて、前記支持体(93)に対して固定されていることを特徴とするマイクロ共振器。
  6. 請求項3〜5のいずれか1項に記載のマイクロ共振器において、
    前記梁(1)が、この梁(1)に対向しているキャビティ(2)の存在によって前記支持体(3)から分離されている場合には、
    前記梁に対して静電力を印加する前記手段が、前記梁上に配置された少なくとも1つの電極(5)と、この電極(5)に対向しかつ前記キャビティ(2)内に位置した少なくとも1つの電極(7)と、を備えていることを特徴とするマイクロ共振器。
  7. 請求項6記載のマイクロ共振器において、
    静電力を印加するために使用されかつ前記梁上に配置された前記電極が、前記複数の励起電極のうちの一方の励起電極とされていることを特徴とするマイクロ共振器。
  8. 請求項2記載のマイクロ共振器において、
    前記梁に対して機械的応力を印加する前記手段が、バイメタルストリップ効果を生成し得る手段(17,18)とされていることを特徴とするマイクロ共振器。
  9. 請求項8記載のマイクロ共振器において、
    バイメタルストリップ効果を生成し得る前記手段が、前記梁の一方の面上に形成された金属層(27 )と加熱部材(27 )とからなる少なくとも1つのバイメタルストリップ効果デバイスを備えていることを特徴とするマイクロ共振器。
  10. 請求項9記載のマイクロ共振器において、
    バイメタルストリップ効果を生成し得る前記手段が、前記梁の一方の面上に配置されていることを特徴とするマイクロ共振器。
  11. 請求項9記載のマイクロ共振器において、
    バイメタルストリップ効果を生成し得る前記手段が、少なくとも1つのダブル型バイメタルストリップを形成し、
    このダブル型バイメタルストリップの第1バイメタルストリップ効果デバイス(17)が、前記梁の一方の面上に配置され、
    前記ダブル型バイメタルストリップの第2バイメタルストリップ効果デバイス(18)が、前記梁の他方の面上に配置され、
    これら2つのバイメタルストリップ効果デバイスが、互いに対向して配置されていることを特徴とするマイクロ共振器。
  12. 請求項9記載のマイクロ共振器において、
    前記加熱部材が、前記金属層(27 )によって支持されておりかつ電気絶縁層(27 )を介することによってこの金属層(27 )から絶縁された電気抵抗(27 )とされていることを特徴とするマイクロ共振器。
  13. 請求項9記載のマイクロ共振器において、
    前記加熱部材が、前記バイメタルストリップ効果デバイスの前記金属層から構成されていることを特徴とするマイクロ共振器。
  14. 請求項2記載のマイクロ共振器において、
    前記梁に対して機械的応力を印加する前記手段が、圧電手段とされていることを特徴とするマイクロ共振器。
  15. 請求項14記載のマイクロ共振器において、
    前記圧電手段が、前記梁に対して電界を印加することにより前記梁がなす面内に圧縮応力や膨張応力や剪断応力を印加し得るよう、前記梁の少なくとも1つの面上に配置された電極(64,67,65,68)を備えていることを特徴とするマイクロ共振器。
  16. 請求項15記載のマイクロ共振器において、
    前記圧電手段の前記電極の中の1つの電極が、励起電極とされていることを特徴とするマイクロ共振器。
  17. 請求項1記載のマイクロ共振器において、
    前記共振器の制限条件を変更するための前記変更手段が、前記梁に対して機械的負荷を印加する手段を備えていることを特徴とするマイクロ共振器。
  18. 請求項17記載のマイクロ共振器において、
    前記梁(121,141,161)に対して機械的負荷を印加する前記手段が、前記支持体(123,143)に対して固定されているとともに前記圧電材料製梁(121,141,161)に対向配置された少なくとも1つの負荷梁(129,149)を備え、これにより、静電力を前記負荷梁に対して印加することによって前記梁に対して機械的負荷を印加し得るものとされていることを特徴とするマイクロ共振器。
  19. 請求項18記載のマイクロ共振器において、
    前記負荷梁に対して前記静電力を印加するための手段が、前記負荷梁上に配置された第1電極(127,147)と、前記励起電極(125,145)の一方からなる第2電極と、を備えていることを特徴とするマイクロ共振器。
  20. 請求項1記載のマイクロ共振器において、
    前記共振器の制限条件を変更するための前記変更手段が、前記圧電材料製梁の温度を変更する手段を備えていることを特徴とするマイクロ共振器。
  21. 請求項20記載のマイクロ共振器において、
    前記圧電材料製梁(41)の温度を変更する前記手段が、少なくとも1つの電気抵抗(47)を備えていることを特徴とするマイクロ共振器。
  22. 請求項21記載のマイクロ共振器において、
    前記電気抵抗(47)が、前記励起電極の中の1つの励起電極(44)に設けられるとともに、電気絶縁体層(49)を介することによってその励起電極から絶縁されていることを特徴とするマイクロ共振器。
  23. 請求項1〜22のいずれか1項に記載のマイクロ共振器において、
    前記圧電材料製梁(1)が、励起電極(4,5)を備えているとともに、誘電体材料層(9)を介して前記支持体(3)に対して固定されていることを特徴とするマイクロ共振器。
JP2003568775A 2002-02-13 2003-02-11 同調可能なmemsフィルムバルク音響波マイクロ共振器 Expired - Lifetime JP4521537B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0201759A FR2835981B1 (fr) 2002-02-13 2002-02-13 Microresonateur mems a ondes acoustiques de volume accordable
PCT/FR2003/000427 WO2003069776A2 (fr) 2002-02-13 2003-02-11 Microresonateur mems a ondes acoustiques de volume accordable

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005528010A true JP2005528010A (ja) 2005-09-15
JP4521537B2 JP4521537B2 (ja) 2010-08-11

Family

ID=27620154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003568775A Expired - Lifetime JP4521537B2 (ja) 2002-02-13 2003-02-11 同調可能なmemsフィルムバルク音響波マイクロ共振器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7592739B2 (ja)
EP (1) EP1474866B1 (ja)
JP (1) JP4521537B2 (ja)
FR (1) FR2835981B1 (ja)
WO (1) WO2003069776A2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006352808A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Hitachi Ltd 電気・音響変換素子、アレイ型超音波トランスデューサおよび超音波診断装置
JP2007229328A (ja) * 2006-03-03 2007-09-13 Olympus Medical Systems Corp マイクロマシンプロセスにより製造された超音波振動子、超音波振動子装置、その体腔内超音波診断装置、及びその制御方法
JP2007288321A (ja) * 2006-04-13 2007-11-01 Toshiba Corp 共振回路、フィルタ回路および発振回路
JP2008541420A (ja) * 2005-05-02 2008-11-20 エヌエックスピー ビー ヴィ 統合減結合コンデンサを有する容量性rf−mems装置
JP2009171394A (ja) * 2008-01-18 2009-07-30 Oki Semiconductor Co Ltd 共振器
JP2011211741A (ja) * 2004-04-28 2011-10-20 Robert Bosch Gmbh Mem共振器の周波数を調整するための方法
WO2012073829A1 (ja) * 2010-11-30 2012-06-07 株式会社 村田製作所 バルク弾性波共振子
JP2012517097A (ja) * 2009-02-03 2012-07-26 エプコス アーゲー 電気的多層コンポーネント
WO2016114173A1 (ja) * 2015-01-13 2016-07-21 株式会社村田製作所 圧電デバイスの製造方法
JP2018129755A (ja) * 2017-02-10 2018-08-16 株式会社東芝 トランスデューサおよびトランスデューサアレイ

Families Citing this family (77)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2852165A1 (fr) * 2003-03-06 2004-09-10 St Microelectronics Sa Procede de realisation d'un microresonateur piezolectrique accordable
FR2853487A1 (fr) * 2003-04-01 2004-10-08 St Microelectronics Sa Composant electronique permettant le decodage de signaux de television numerique par satellite
FR2853486B1 (fr) * 2003-04-03 2005-08-05 St Microelectronics Sa Composant electronique permettant le decodage de signaux de television numerique ou par cable
FR2853795B1 (fr) * 2003-04-11 2005-07-01 St Microelectronics Sa Composant electronique avec dispositif de syntonisation integre, permettant le decodage de signaux de television numerique terrestre ou par cable.
FR2853796B1 (fr) * 2003-04-11 2005-07-01 St Microelectronics Sa Composant electronique permettant le decodage de signaux de television numerique terrestre ou par cable.
WO2005064634A1 (de) * 2003-12-22 2005-07-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Elektronisches gerät mit einem mikro-elektromechanischen schalter aus piezoelektrischem material
EP1548768B1 (en) * 2003-12-24 2012-02-22 Imec Micromachined film bulk acoustic resonator
US7068125B2 (en) * 2004-03-04 2006-06-27 Robert Bosch Gmbh Temperature controlled MEMS resonator and method for controlling resonator frequency
JP2005311568A (ja) * 2004-04-20 2005-11-04 Sony Corp フィルタ装置及び送受信機
JP4377740B2 (ja) * 2004-04-28 2009-12-02 株式会社東芝 圧電駆動型mems素子およびこの圧電駆動型mems素子を有する移動体通信機
WO2006000731A1 (fr) * 2004-06-14 2006-01-05 Stmicroelectronics Sa Microcommutateur a commande piezoelectrique
WO2006055960A2 (en) * 2004-11-20 2006-05-26 Scenterra, Inc. Device for emission of high frequency signals
US7280078B2 (en) * 2004-11-20 2007-10-09 Scenterra, Inc. Sensor for detecting high frequency signals
KR100639918B1 (ko) * 2004-12-16 2006-11-01 한국전자통신연구원 Mems 액츄에이터
KR100629488B1 (ko) * 2005-02-28 2006-09-28 삼성전자주식회사 공진기
JP2006289520A (ja) * 2005-04-06 2006-10-26 Toshiba Corp Mems技術を使用した半導体装置
WO2007092991A1 (en) * 2006-02-13 2007-08-23 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation A low frequency acoustic transducer for a probe for non-destructive testing
FR2911448B1 (fr) * 2007-01-16 2009-07-10 St Microelectronics Sa Resonateur acoustique en volume a frequence de resonance reglable et utilisation d'un tel resonateur dans le domaine de la telephonie
US20080283944A1 (en) * 2007-05-18 2008-11-20 Geefay Frank S PHOTOSTRUCTURABLE GLASS MICROELECTROMECHANICAL (MEMs) DEVICES AND METHODS OF MANUFACTURE
JP2009055683A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Toshiba Corp 圧電駆動型mems装置および携帯端末
JP5352975B2 (ja) * 2007-08-31 2013-11-27 オムロン株式会社 素子集合体及びその製造方法
WO2010096077A1 (en) * 2008-06-26 2010-08-26 Cornell University Method for making a transducer, transducer made therefrom, and applications thereof
US7834524B2 (en) * 2009-01-30 2010-11-16 Integrated Device Technology, Inc. Micro-electromechanical devices having variable capacitors therein that compensate for temperature-induced frequency drift in acoustic resonators
DE102010013611A1 (de) * 2010-03-22 2011-09-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Hybridaktorelement und Verfahren zu seiner Herstellung
FR2965991B1 (fr) * 2010-10-12 2013-07-12 St Microelectronics Tours Sas Dispositif acoustique d'isolation galvanique
US20120245408A1 (en) * 2011-03-22 2012-09-27 University Of Washington Through Its Center For Commercialization Methods and systems for improving actuator performance by reducing tensile stresses in piezoelectric thin films
JP5921079B2 (ja) * 2011-04-06 2016-05-24 キヤノン株式会社 電気機械変換装置及びその作製方法
CN103765769B (zh) * 2011-09-01 2016-12-28 株式会社村田制作所 压电体波装置及其制造方法
US9054671B2 (en) 2011-11-09 2015-06-09 International Business Machines Corporation Tunable filter structures and design structures
US8723399B2 (en) * 2011-12-27 2014-05-13 Massachusetts Institute Of Technology Tunable ultrasound transducers
US9225311B2 (en) 2012-02-21 2015-12-29 International Business Machines Corporation Method of manufacturing switchable filters
US20130300571A1 (en) * 2012-04-18 2013-11-14 Farrokh Mohamadi Interrogation of active and passive proppants for real-time monitoring of fractured wells
US8902010B2 (en) 2013-01-02 2014-12-02 Motorola Mobility Llc Microelectronic machine-based ariable
DE102013209804A1 (de) * 2013-05-27 2014-11-27 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Elektrostatischer aktuator und verfahren zum herstellen desselben
DE102013209823B4 (de) * 2013-05-27 2015-10-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Optische Struktur mit daran angeordneten Stegen und Verfahren zur Herstellung derselben
DE102013209814B4 (de) * 2013-05-27 2015-01-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Optische Struktur mit daran angeordneten Stegen und Verfahren zur Herstellung derselben
SG10201407632UA (en) * 2013-11-26 2015-06-29 Agency Science Tech & Res Transducer and method for forming the same
US10445547B2 (en) 2016-05-04 2019-10-15 Invensense, Inc. Device mountable packaging of ultrasonic transducers
US10656255B2 (en) 2016-05-04 2020-05-19 Invensense, Inc. Piezoelectric micromachined ultrasonic transducer (PMUT)
US10315222B2 (en) 2016-05-04 2019-06-11 Invensense, Inc. Two-dimensional array of CMOS control elements
US10325915B2 (en) 2016-05-04 2019-06-18 Invensense, Inc. Two-dimensional array of CMOS control elements
US10670716B2 (en) 2016-05-04 2020-06-02 Invensense, Inc. Operating a two-dimensional array of ultrasonic transducers
US10408797B2 (en) 2016-05-10 2019-09-10 Invensense, Inc. Sensing device with a temperature sensor
US10441975B2 (en) * 2016-05-10 2019-10-15 Invensense, Inc. Supplemental sensor modes and systems for ultrasonic transducers
US10452887B2 (en) 2016-05-10 2019-10-22 Invensense, Inc. Operating a fingerprint sensor comprised of ultrasonic transducers
US10632500B2 (en) 2016-05-10 2020-04-28 Invensense, Inc. Ultrasonic transducer with a non-uniform membrane
US11673165B2 (en) 2016-05-10 2023-06-13 Invensense, Inc. Ultrasonic transducer operable in a surface acoustic wave (SAW) mode
US10539539B2 (en) 2016-05-10 2020-01-21 Invensense, Inc. Operation of an ultrasonic sensor
US10706835B2 (en) 2016-05-10 2020-07-07 Invensense, Inc. Transmit beamforming of a two-dimensional array of ultrasonic transducers
US10562070B2 (en) 2016-05-10 2020-02-18 Invensense, Inc. Receive operation of an ultrasonic sensor
US10600403B2 (en) 2016-05-10 2020-03-24 Invensense, Inc. Transmit operation of an ultrasonic sensor
CN106449960B (zh) * 2016-07-01 2018-12-25 中国计量大学 一种基于静电激励/电容检测微桥谐振器的薄膜热电变换器的结构与制作方法
US10891461B2 (en) 2017-05-22 2021-01-12 Invensense, Inc. Live fingerprint detection utilizing an integrated ultrasound and infrared sensor
US10474862B2 (en) 2017-06-01 2019-11-12 Invensense, Inc. Image generation in an electronic device using ultrasonic transducers
US10643052B2 (en) 2017-06-28 2020-05-05 Invensense, Inc. Image generation in an electronic device using ultrasonic transducers
US10984209B2 (en) 2017-12-01 2021-04-20 Invensense, Inc. Darkfield modeling
US10997388B2 (en) 2017-12-01 2021-05-04 Invensense, Inc. Darkfield contamination detection
US10936841B2 (en) 2017-12-01 2021-03-02 Invensense, Inc. Darkfield tracking
US11151355B2 (en) 2018-01-24 2021-10-19 Invensense, Inc. Generation of an estimated fingerprint
US10901021B2 (en) 2018-02-27 2021-01-26 Applied Materials, Inc. Method for detecting wafer processing parameters with micro resonator array sensors
US10755067B2 (en) 2018-03-22 2020-08-25 Invensense, Inc. Operating a fingerprint sensor comprised of ultrasonic transducers
US10936843B2 (en) 2018-12-28 2021-03-02 Invensense, Inc. Segmented image acquisition
US11188735B2 (en) 2019-06-24 2021-11-30 Invensense, Inc. Fake finger detection using ridge features
US11216681B2 (en) 2019-06-25 2022-01-04 Invensense, Inc. Fake finger detection based on transient features
US11176345B2 (en) 2019-07-17 2021-11-16 Invensense, Inc. Ultrasonic fingerprint sensor with a contact layer of non-uniform thickness
US11216632B2 (en) 2019-07-17 2022-01-04 Invensense, Inc. Ultrasonic fingerprint sensor with a contact layer of non-uniform thickness
EP4017650B1 (en) * 2019-08-21 2025-06-04 Vermon S.A. Frequency-tunable ultrasonic device
US11232549B2 (en) 2019-08-23 2022-01-25 Invensense, Inc. Adapting a quality threshold for a fingerprint image
US11392789B2 (en) 2019-10-21 2022-07-19 Invensense, Inc. Fingerprint authentication using a synthetic enrollment image
IT201900023943A1 (it) * 2019-12-13 2021-06-13 St Microelectronics Srl Trasduttore mut comprendente un risuonatore di helmoltz accordabile
CN115551650A (zh) 2020-03-09 2022-12-30 应美盛公司 具有非均匀厚度的接触层的超声指纹传感器
US11243300B2 (en) 2020-03-10 2022-02-08 Invensense, Inc. Operating a fingerprint sensor comprised of ultrasonic transducers and a presence sensor
US11328165B2 (en) 2020-04-24 2022-05-10 Invensense, Inc. Pressure-based activation of fingerprint spoof detection
US11995909B2 (en) 2020-07-17 2024-05-28 Tdk Corporation Multipath reflection correction
US12174295B2 (en) 2020-08-07 2024-12-24 Tdk Corporation Acoustic multipath correction
CN113714071B (zh) * 2021-08-10 2022-05-24 中北大学 高灵敏度微压检测倒置台形空腔结构电容式微机械超声换能器
US12197681B2 (en) 2021-08-25 2025-01-14 Tdk Corporation Anchor configurations for an array of ultrasonic transducers

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60187116A (ja) * 1984-03-07 1985-09-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜振動共振子の共振周波数調整方法
JPS6382116A (ja) * 1986-09-26 1988-04-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電薄膜共振子およびその製造方法
JPS63187713A (ja) * 1987-01-29 1988-08-03 Toshiba Corp 集積型圧電薄膜機能素子
JPH07203593A (ja) * 1993-12-13 1995-08-04 Trw Inc 薄膜電圧同調型半導体バルク音響共振器
JPH07226648A (ja) * 1994-02-15 1995-08-22 Murata Mfg Co Ltd 共振周波数可変型共振子
JPH11284481A (ja) * 1998-03-30 1999-10-15 Murata Mfg Co Ltd 圧電薄膜振動子およびその製造方法
JP2000030595A (ja) * 1998-06-02 2000-01-28 Nokia Mobile Phones Ltd 共振器の構造
JP2001156350A (ja) * 1999-11-25 2001-06-08 Matsushita Electric Works Ltd 半導体マイクロアクチュエータ
JP2002016477A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Kyocera Corp 弾性表面波装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6359374B1 (en) * 1999-11-23 2002-03-19 Mcnc Miniature electrical relays using a piezoelectric thin film as an actuating element
DE10013424A1 (de) * 2000-03-17 2001-09-20 Bosch Gmbh Robert Filter für elektrische Signale
US6936954B2 (en) * 2001-08-29 2005-08-30 Honeywell International Inc. Bulk resonator
US7038355B2 (en) * 2003-04-03 2006-05-02 Stmicroelectronics Sa Tunable microresonator on an insulating beam deformable by the difference in thermal expansion coefficients
FR2857785B1 (fr) * 2003-07-17 2005-10-21 Commissariat Energie Atomique Resonateur acoustique de volume a frequence de resonance ajustee et procede de realisation
US7323805B2 (en) * 2004-01-28 2008-01-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Piezoelectric thin film device and method for manufacturing the same
JP4408266B2 (ja) * 2004-04-22 2010-02-03 日本碍子株式会社 マイクロスイッチ及びその製造方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60187116A (ja) * 1984-03-07 1985-09-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜振動共振子の共振周波数調整方法
JPS6382116A (ja) * 1986-09-26 1988-04-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電薄膜共振子およびその製造方法
JPS63187713A (ja) * 1987-01-29 1988-08-03 Toshiba Corp 集積型圧電薄膜機能素子
JPH07203593A (ja) * 1993-12-13 1995-08-04 Trw Inc 薄膜電圧同調型半導体バルク音響共振器
JPH07226648A (ja) * 1994-02-15 1995-08-22 Murata Mfg Co Ltd 共振周波数可変型共振子
JPH11284481A (ja) * 1998-03-30 1999-10-15 Murata Mfg Co Ltd 圧電薄膜振動子およびその製造方法
JP2000030595A (ja) * 1998-06-02 2000-01-28 Nokia Mobile Phones Ltd 共振器の構造
JP2001156350A (ja) * 1999-11-25 2001-06-08 Matsushita Electric Works Ltd 半導体マイクロアクチュエータ
JP2002016477A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Kyocera Corp 弾性表面波装置

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011211741A (ja) * 2004-04-28 2011-10-20 Robert Bosch Gmbh Mem共振器の周波数を調整するための方法
JP2008541420A (ja) * 2005-05-02 2008-11-20 エヌエックスピー ビー ヴィ 統合減結合コンデンサを有する容量性rf−mems装置
JP4814316B2 (ja) * 2005-05-02 2011-11-16 エプコス アーゲー 統合減結合コンデンサを有する容量性rf−mems装置
JP2006352808A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Hitachi Ltd 電気・音響変換素子、アレイ型超音波トランスデューサおよび超音波診断装置
US7817811B2 (en) 2005-06-20 2010-10-19 Hitachi, Ltd. Sound-electricity conversion device, array-type ultrasonic transducer, and ultrasonic diagnostic apparatus
JP2007229328A (ja) * 2006-03-03 2007-09-13 Olympus Medical Systems Corp マイクロマシンプロセスにより製造された超音波振動子、超音波振動子装置、その体腔内超音波診断装置、及びその制御方法
JP2007288321A (ja) * 2006-04-13 2007-11-01 Toshiba Corp 共振回路、フィルタ回路および発振回路
JP2009171394A (ja) * 2008-01-18 2009-07-30 Oki Semiconductor Co Ltd 共振器
JP2012517097A (ja) * 2009-02-03 2012-07-26 エプコス アーゲー 電気的多層コンポーネント
WO2012073829A1 (ja) * 2010-11-30 2012-06-07 株式会社 村田製作所 バルク弾性波共振子
US8717121B2 (en) 2010-11-30 2014-05-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Bulk acoustic wave resonator
WO2016114173A1 (ja) * 2015-01-13 2016-07-21 株式会社村田製作所 圧電デバイスの製造方法
JPWO2016114173A1 (ja) * 2015-01-13 2017-09-21 株式会社村田製作所 圧電デバイスの製造方法
US10862018B2 (en) 2015-01-13 2020-12-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method for manufacturing a piezoelectric device
JP2018129755A (ja) * 2017-02-10 2018-08-16 株式会社東芝 トランスデューサおよびトランスデューサアレイ

Also Published As

Publication number Publication date
EP1474866A2 (fr) 2004-11-10
FR2835981A1 (fr) 2003-08-15
EP1474866B1 (fr) 2012-08-29
WO2003069776A2 (fr) 2003-08-21
FR2835981B1 (fr) 2005-04-29
JP4521537B2 (ja) 2010-08-11
WO2003069776A3 (fr) 2004-04-08
US20050162040A1 (en) 2005-07-28
US7592739B2 (en) 2009-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4521537B2 (ja) 同調可能なmemsフィルムバルク音響波マイクロ共振器
JP4429918B2 (ja) Mems圧電共振器
US7804382B2 (en) Tunable resonator using film bulk acoustic resonator (FBAR)
Yantchev et al. Thin film Lamb wave resonators in frequency control and sensing applications: a review
JP4087790B2 (ja) 極超短波mem共振器のための中心質量の減少したマイクロブリッジ構造
US11158783B2 (en) Piezoelectric cross-sectional Lamé mode transformer
JP2018506930A5 (ja)
KR20120029465A (ko) 2개의 압전층을 구비한 압전 공진기
US8729779B2 (en) Wide bandwidth slanted-finger contour-mode piezoelectric devices
CN110024284B (zh) 角耦接谐振器阵列
US9954513B1 (en) Methods and apparatus for anchoring resonators
JP2008504771A (ja) 変形量が大きな複合型微小共振器
Gong et al. An 880 MHz ladder filter formed by arrays of laterally vibrating thin film Lithium Niobate resonators
US9837975B2 (en) Temperature drift compensation of MEMS resonators
US6897744B2 (en) Longitudinally-coupled multi-mode piezoelectric bulk wave filter and electronic component
US9246472B2 (en) Volume wave resonator using excitation/detection of vibrations
JP5064155B2 (ja) 発振器
Shahraini et al. CROSS-SECTIONAL QUASI-LAMÉ MODES IN THIN-FILM PIEZOELECTRIC-ONSILICON RESONATORS
JP2004276200A (ja) マイクロ構造体およびその製造方法
JP3922094B2 (ja) 縦結合型マルチモード圧電フィルタ及び電子部品
JP3922095B2 (ja) 縦結合型マルチモード圧電フィルタ
Zadehsafari et al. A piezoelectric lamb-wave disk-shape MEMS resonator for RF applications
JPS6348448B2 (ja)
KR20200058215A (ko) 가변 공진 특성을 갖는 체적탄성파 공진기 및 그 방법
JP2004247051A (ja) マイクロデバイス

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081003

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081014

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090114

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090121

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090414

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090728

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091028

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20091105

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100127

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100323

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100422

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4521537

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term