JP2005331439A - 探傷信号の分析方法及び分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
入力される探傷信号18をフィルタリング処理する空間フィルタ装置11と、欠陥エコーの見本特徴量データ及び疑似エコーの見本特徴量データを備えた見本特徴量データベース15と、見本特徴量データベース15と探傷信号又はフィルタリング処理した後の探傷信号から求めた特徴量とをマッチングして分析する自動分析装置14と、探傷信号又はフィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に最適な表示を行う最適表示装置16と、探傷信号又はフィルタリング処理した後の探傷信号の表示画面に被検体モデルの画像を表示する相対位置表示装置17とを有する分析装置10として、欠陥エコーを抽出、分析する。
【選択図】 図1
Description
センサを移動させ、又は超音波又はレーダの入射角を変化させて、被検体に超音波又はレーダを入射して得られる探傷信号を分析する分析方法において、
前記探傷信号を多次元の空間フィルタによりフィルタリング処理し、欠陥エコーを抽出することを特徴とする探傷信号の分析方法である。
前記多次元の空間フィルタは、前記被検体の形状又は組織に由来する疑似エコーをフィルタリングする機能を有することを特徴とする探傷信号の分析方法である。
前記多次元の空間フィルタは、モフォロジー型フィルタ又はメディアン型フィルタであることを特徴とする探傷信号の分析方法である。
更に、前記欠陥エコーの見本信号及び/又は前記疑似エコーの見本信号またはその特徴量からなるデータベースと、前記探傷信号またはその特徴量または前記フィルタリング処理した後の探傷信号またはその特徴量とをマッチングして分析することを特徴とする探傷信号の分析方法である。
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分とからなることを特徴とする探傷信号の分析方法である。
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分と、前記超音波又はレーダの入射方向である入射角成分からなることを特徴とする探傷信号の分析方法である。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーを含む表示となるように前記X,Y成分及び時間成分からなる空間中の最適断面を自動で選択処理することを特徴とする探傷信号の分析方法である。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーに向く入射方向となるように前記入射角成分を自動で選択処理することを特徴とする探傷信号の分析方法である。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号を表示する際に、前記被検体のモデルを対応させて表示することを特徴とする探傷信号の分析方法である。
センサを移動させ、又は超音波又はレーダの入射角を変化させて、被検体に超音波又はレーダを入射して得られる探傷信号を分析する分析装置において、
前記探傷信号を多次元の空間フィルタによりフィルタリング処理するフィルタリング手段を有し、前記欠陥エコーを抽出することを特徴とする探傷信号の分析装置である。
前記多次元の空間フィルタは、前記被検体の形状又は組織に由来する疑似エコーをフィルタリングする機能を有することを特徴とする探傷信号の分析装置である。
前記多次元の空間フィルタは、モフォロジー型フィルタ又はメディアン型フィルタであることを特徴とする探傷信号の分析装置である。
更に、前記欠陥エコーの見本信号及び/又は前記疑似エコーの見本信号またはその特徴量からなるデータベースを有し、当該データベースと、前記探傷信号またはその特徴量または前記フィルタリング処理した後の探傷信号またはその特徴量とをマッチングして分析する自動分析手段を有することを特徴とする探傷信号の分析装置である。
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分とからなることを特徴とする探傷信号の分析装置である。
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分と、前記超音波又はレーダの入射方向である入射角成分からなることを特徴とする探傷信号の分析装置である。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーを含む表示となるように前記X,Y成分及び時間成分からなる空間中の最適断面を自動で選択処理する最適断面選択手段を有することを特徴とする探傷信号の分析装置である。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーに向く入射方向となるように前記入射角成分を自動で選択処理する最適入射角選択手段を有することを特徴とする探傷信号の分析装置である。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号を表示する際に、前記被検体のモデルを対応させて表示する相対位置表示手段を有することを特徴とする探傷信号の分析装置である。
センサを移動させ、又は超音波又はレーダの入射角を変化させて、被検体に超音波又はレーダを入射して得られる探傷信号を分析する分析方法、分析装置において、
前記探傷信号を多次元の空間フィルタによりフィルタリング処理し、欠陥エコーを抽出することとしたので、
林状エコー、形状エコー等の疑似エコーを低減して、抽出する欠陥エコーのS/N比を向上させることができる。
前記多次元の空間フィルタは、前記被検体の形状又は組織に由来する疑似エコーをフィルタリングする機能を有することとしたので、
形状や組織の分布が一様と分かっている方向の疑似エコーをフィルタリング、除去して、欠陥エコーのS/N比を向上させることができる。
前記多次元の空間フィルタは、モフォロジー型フィルタ又はメディアン型フィルタであることとしたので、
フィルタリング前後の欠陥エコーの信号波形の変化を抑制することができる。
更に、前記欠陥エコーの見本信号及び/又は前記疑似エコーの見本信号またはその特徴量からなるデータベースと、前記探傷信号またはその特徴量または前記フィルタリング処理した後の探傷信号またはその特徴量とをマッチングして分析することとしたので、
分析の精度を向上させることができる。
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分とからなることとしたので、
被検体の表面上で探触子を2次元でスキャンする、いわゆる2次元スキャンの探傷方法(得られる探傷信号は、時間成分を加えた3次元信号となる。)に本発明を適用することができる。
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分と、前記超音波又はレーダの入射方向である入射角成分からなることとしたので、
上記2次元スキャンに加えて、超音波又はレーダの入射方向を変化させてスキャニングする、いわゆるフェーズドアレイセンサを用いた探傷方法(得られる探傷信号は、入射角成分を加えた4次元信号となる。)に本発明を適用することができる。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーを含む表示となるように前記X,Y成分及び時間成分からなる空間中の最適断面を自動で選択処理することとしたので、
分析の手間を軽減し、また処理するデータ量を削減することができる。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーに向く入射方向となるように前記入射角成分を自動で選択処理することとしたので、
分析の手間を軽減し、また処理するデータ量を削減することができる。
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号を表示する際に、前記被検体のモデルを対応させて表示することとしたので、
被検体の特有の形状に基づく疑似エコーを推定するなど、疑似エコー源か欠陥エコー源かの可能性を判断しやすくして、分析の手間を軽減し、かつ分析精度を向上させることができる。
同図に示すように、本実施形態に係る分析装置10は、分析装置10に入力される探傷信号18をフィルタリング処理する空間フィルタ装置11(フィルタリング手段)と、欠陥エコーの見本特徴量データ及び疑似エコーの見本特徴量データを備えた見本特徴量データベース15と、見本特徴量データベース15と探傷信号又はフィルタリング処理した後の探傷信号から求めた特徴量とをマッチングして分析する自動分析装置14(自動分析手段)と、探傷信号をBスコープ表示する際に最適な表示を行う最適表示装置16と、探傷信号又はフィルタリング処理した後の探傷信号の表示画面に被検体モデルの画像を表示する相対位置表示装置17(相対位置表示手段)とからなる。
探傷信号18には、例えば、1次元スキャンした探傷信号、2次元スキャンした探傷信号やフェーズドアレイ超音波探傷装置により得られる探傷信号等がある。2次元スキャンとは、被検体の表面において探触子を2次元でスキャンして探傷する方法であり、探傷信号は、被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、被検体へ入射した超音波の深さ方向である時間t成分(定義域が合計3次元の信号である。)とからなる。
図2は、空間周波数によるフィルタリング処理を説明する説明図である。同図には、得られた探傷信号のうち、時間成分tとスキャン方向の成分Xとを変化させたときの探傷信号の値Vを示す表示、すなわちBスコープ表示(V=V(t,X))を示している。なお、スキャン方向の成分X及びYを固定して時間成分tに対する探傷信号の値Vの表示を、Aスコープ表示(V=V(t))という。更に、成分X,Y及び時間成分tを変化させたときの探傷信号の値Vを示す表示を、Cスコープ表示(V=V(t,X,Y))という。
また、空間フィルタ装置11としては、モフォロジー型のフィルタ装置12aやメディアン型のフィルタ装置12b等の形状フィルタ装置が好ましい。
図4は、被検体の形状に由来する特有の疑似エコーの一例を説明する図である。同図には、溶接部を有するパイプ状の被検体(同図(a))と、図4(a)に示すA−A断面図(同図(b))と、被検体の表面を2次元スキャンしたときの探傷信号V(X,Y,t)(同図(c))を示してある。同図に基づいて、形状ノイズフィルタ装置13について説明する。
2次元スキャンによる探傷検査により得られた探傷信号について、上述するような各種の空間フィルタリング処理を行うことにより、例えば、われ欠陥のS/N比を向上させることができる。
また、フェーズドアレイによる探傷検査により得られた探傷信号については、更に、溶接部ノイズなどを低減し、欠陥エコーのS/N比を向上させることができる。図5は、フェーズドアレイセンサによる探傷信号の一例を説明する図である。斜角探傷検査の場合、欠陥からのエコーは、コーナーエコー(同図(a))と、端部エコー(同図(b))の2種類がある。
上述するように多次元用の空間フィルタ装置11により、探傷検査により得られた探傷信号から、欠陥エコーや疑似エコーを抽出することができる。探傷信号又はこれらフィルタリング処理後の探傷信号は、自動分析装置14により自動分析される。
最適表示装置16は、例えば、2次元スキャン探傷方法やフェーズドアレイセンサによる探傷方法で得られた探傷信号について、欠陥エコーを含む表示となるような最適なX,Y成分及び時間成分からなる空間中の最適断面を自動で選択処理する最適断面選択装置16a(最適断面選択手段)や、更にフェーズドアレイセンサによる探傷方法については、欠陥エコーに向く入射方向となるように入射角成分を自動で選択処理する最適入射角選択装置16b(最適入射角選択手段)がある。
相対位置表示装置17は、画面に表示した探傷信号またはフィルタリング処理した後の探傷信号(各スコープ表示)と被検体のモデルを対応させて表示する機能を有する。これらの探傷信号のみでは、分析対象エコーが被検体のいずれの箇所からのエコーであるか、またいずれの角度から反射した信号であるか等を把握することが難しいため、探傷信号を表示する画面上に、例えば、被検体モデルの画像を重ね合わせたり、被検体モデルに探傷信号又はフィルタリング信号をはりつけて表示したり、また別ウインドウで表示したりする。
1a 超音波送受信部
1b 表示部
1c 記録部
2 被検体
2a 欠陥
3 探触子
4 分析装置
10 分析装置
11 空間フィルタ装置(多次元用)
12a モフォロジー型フィルタ装置
12b メディアン型フィルタ装置
13 形状ノイズフィルタ装置
13a モフォロジー型・メディアン型
14 自動分析装置
15 見本特徴量データベース
16 最適表示装置
16a 最適断面選択装置
16b 最適入射角選択装置
17 相対位置表示装置
18 探傷信号
19 分析結果
20 被検体
21 探触子
22 溶接部
23 シーニング
24 欠陥
30 欠陥エコー
31 疑似エコー
32 シーニングエコー
33 林状エコー
Claims (18)
- センサを移動させ、又は超音波又はレーダの入射角を変化させて、被検体に超音波又はレーダを入射して得られる探傷信号を分析する分析方法において、
前記探傷信号を多次元の空間フィルタによりフィルタリング処理し、欠陥エコーを抽出することを特徴とする探傷信号の分析方法。 - 請求項1に記載する探傷信号の分析方法において、
前記多次元の空間フィルタは、前記被検体の形状又は組織に由来する疑似エコーをフィルタリングする機能を有することを特徴とする探傷信号の分析方法。 - 請求項1又は2に記載する探傷信号の分析方法において、
前記多次元の空間フィルタは、モフォロジー型フィルタ又はメディアン型フィルタであることを特徴とする探傷信号の分析方法。 - 請求項1ないし3のいずれかに記載する探傷信号の分析方法において、
更に、前記欠陥エコーの見本信号及び/又は前記疑似エコーの見本信号またはその特徴量からなるデータベースと、前記探傷信号またはその特徴量または前記フィルタリング処理した後の探傷信号またはその特徴量とをマッチングして分析することを特徴とする探傷信号の分析方法。 - 請求項1ないし4のいずれかに記載する探傷信号の分析方法において、
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分とからなることを特徴とする探傷信号の分析方法。 - 請求項1ないし4のいずれかに記載する探傷信号の分析方法において、
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分と、前記超音波又はレーダの入射方向である入射角成分からなることを特徴とする探傷信号の分析方法。 - 請求項5又は6に記載する探傷信号の分析方法において、
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーを含む表示となるように前記X,Y成分及び時間成分からなる空間中の最適断面を自動で選択処理することを特徴とする探傷信号の分析方法。 - 請求項6に記載する探傷信号の分析方法において、
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーに向く入射方向となるように前記入射角成分を自動で選択処理することを特徴とする探傷信号の分析方法。 - 請求項1ないし8のいずれかに記載する探傷信号の分析方法において、
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号を表示する際に、前記被検体のモデルを対応させて表示することを特徴とする探傷信号の分析方法。 - センサを移動させ、又は超音波又はレーダの入射角を変化させて、被検体に超音波又はレーダを入射して得られる探傷信号を分析する分析装置において、
前記探傷信号を多次元の空間フィルタによりフィルタリング処理するフィルタリング手段を有し、前記欠陥エコーを抽出することを特徴とする探傷信号の分析装置。 - 請求項10に記載する探傷信号の分析装置において、
前記多次元の空間フィルタは、前記被検体の形状又は組織に由来する疑似エコーをフィルタリングする機能を有することを特徴とする探傷信号の分析装置。 - 請求項10又は11に記載する探傷信号の分析装置において、
前記多次元の空間フィルタは、モフォロジー型フィルタ又はメディアン型フィルタであることを特徴とする探傷信号の分析装置。 - 請求項10ないし12のいずれかに記載する探傷信号の分析装置において、
更に、前記欠陥エコーの見本信号及び/又は前記疑似エコーの見本信号またはその特徴量からなるデータベースを有し、当該データベースと、前記探傷信号またはその特徴量または前記フィルタリング処理した後の探傷信号またはその特徴量とをマッチングして分析する自動分析手段を有することを特徴とする探傷信号の分析装置。 - 請求項10ないし13のいずれかに記載する探傷信号の分析装置において、
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分とからなることを特徴とする探傷信号の分析装置。 - 請求項10ないし13のいずれかに記載する探傷信号の分析装置において、
前記探傷信号は、前記被検体表面のスキャン方向であるX,Y成分と、前記被検体へ入射した超音波又はレーダの深さ方向である時間成分と、前記超音波又はレーダの入射方向である入射角成分からなることを特徴とする探傷信号の分析装置。 - 請求項14又は15に記載する探傷信号の分析装置において、
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーを含む表示となるように前記X,Y成分及び時間成分からなる空間中の最適断面を自動で選択処理する最適断面選択手段を有することを特徴とする探傷信号の分析装置。 - 請求項15に記載する探傷信号の分析装置において、
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号をBスコープ表示する際に、前記欠陥エコーに向く入射方向となるように前記入射角成分を自動で選択処理する最適入射角選択手段を有することを特徴とする探傷信号の分析装置。 - 請求項10ないし17のいずれかに記載する探傷信号の分析装置において、
前記探傷信号または前記フィルタリング処理した後の探傷信号を表示する際に、前記被検体のモデルを対応させて表示する相対位置表示手段を有することを特徴とする探傷信号の分析装置。
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