JP2005222996A - Treating device and treatment method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、基板の塗布装置等の処理装置および処理方法に関するものである。 The present invention relates to a processing apparatus such as a substrate coating apparatus and a processing method.
液晶表示装置等のカラーフィルタの製造工程において、矩形のガラス基板の表面にブラックマトリクスやR、G、B(Red、Green、Blue)の着色パターンなどを形成する際に、基板上に所定の塗布液を塗布して塗布膜を形成する塗布処理が行われる。 In the manufacturing process of color filters such as liquid crystal display devices, when a black matrix or a colored pattern of R, G, B (Red, Green, Blue) is formed on the surface of a rectangular glass substrate, a predetermined coating is applied on the substrate. A coating process for coating the liquid to form a coating film is performed.
上述の塗布処理は、通常、基板を載置する載置台と、塗布液を吐出するダイヘッドとを有する塗布装置を用いて行われる。ダイヘッドは、ガラス基板の一辺程度の長さの直方体形状で、下面にスリット状の吐出口を備えている。このダイヘッドを、所定の塗布液を吐出口から吐出させながら、ガラス基板の一端部から他端部まで載置台に沿って移動させることによって塗布処理が行なわれる。 The above-described coating process is usually performed using a coating apparatus having a mounting table on which a substrate is mounted and a die head that discharges a coating liquid. The die head has a rectangular parallelepiped shape with a length of about one side of the glass substrate, and includes a slit-like discharge port on the lower surface. A coating process is performed by moving the die head along the mounting table from one end to the other end of the glass substrate while discharging a predetermined coating liquid from a discharge port.
塗布処理時には、載置台上に載置したガラス基板の表面の平坦性を維持し、また、ガラス基板の位置のずれを防ぐために、ガラス基板を載置台に密着させた状態で塗布を行う。また、ガラス基板の排出時には、載置台に設けたリフトピンを上昇させ、載置台に密着したガラス基板を載置台から持ち上げた上で、ガラス基板と載置台の隙間にアームを挿入し、ガラス基板を載置台上から搬出する。 During the coating process, the coating is performed with the glass substrate in close contact with the mounting table in order to maintain the flatness of the surface of the glass substrate mounted on the mounting table and to prevent the position of the glass substrate from shifting. Also, when discharging the glass substrate, the lift pins provided on the mounting table are raised, the glass substrate that is in close contact with the mounting table is lifted from the mounting table, an arm is inserted into the gap between the glass substrate and the mounting table, and the glass substrate is Unload from the mounting table.
このような塗布装置として、塗布後のガラス基板を容易に載置台から取り外すことが可能な塗布装置が提案されている(特許文献1参照)。
しかしながら、この塗布装置は、ガラス基板の供給時には、リフトピンの降下およびガラス基板の吸着によって、ガラス基板の位置ずれや空気溜りを起こさないよう、また、ガラス基板の排出時には、リフトピンを上昇し、密着を解除する際に、剥離帯電等によりガラス基板を破損しないよう注意しなければならないという問題がある。 However, this coating apparatus prevents the glass substrate from being displaced or trapped due to the lowering of the lift pins and the adsorption of the glass substrate when the glass substrate is supplied. When canceling, there is a problem that care must be taken not to damage the glass substrate due to peeling charging or the like.
さらに、位置ずれや空気溜り、ガラス基板の破損を回避するためには、リフトピンの昇降をゆっくり行わなければならず、ガラス基板の給排出に時間がかかるという問題がある。また、リフトピンの昇降用等のために塗布ステージ上に開けた穴等の切り欠き溝があると、その部分の熱伝導度が塗布ステージの他の部分と異なり、塗布膜に跡が残るという問題もある。 Furthermore, in order to avoid displacement, air accumulation, and damage to the glass substrate, the lift pins must be lifted and lowered slowly, and there is a problem that it takes time to feed and discharge the glass substrate. Also, if there is a notch groove such as a hole opened on the application stage for lifting and lowering the lift pin, the thermal conductivity of that part is different from other parts of the application stage, leaving a mark on the application film There is also.
本発明は、このような問題を鑑みてなされたもので、その目的は、ガラス基板の給排出時間が短く、しかも、むらのない安定した塗布が可能な処理装置および処理方法を提供することである。 The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to provide a processing apparatus and a processing method capable of performing stable coating without unevenness while the supply and discharge time of the glass substrate is short. is there.
前述の課題を解決するための第1の発明は、処理部ステージ上に載置された基板を処理する処理装置であって、基板を処理部ステージ上に載置する基板搬入機構と、処理済みの基板を処理部ステージ上から搬出する基板搬出機構とを備え、基板搬出機構により基板が処理部ステージ上から搬出されると、同時に、基板搬入機構が次の基板を処理部ステージ上に載置することを特徴とする処理装置である。 A first invention for solving the above-described problem is a processing apparatus for processing a substrate placed on a processing unit stage, and a substrate carry-in mechanism for mounting the substrate on the processing unit stage, and a processed unit A substrate unloading mechanism for unloading the substrate from the processing unit stage. When the substrate is unloaded from the processing unit stage by the substrate unloading mechanism, the substrate loading mechanism simultaneously places the next substrate on the processing unit stage. It is the processing device characterized by doing.
基板搬入機構および基板搬出機構は、回転コロまたはベルトを、基板搬入機構、処理部ステージ、および基板搬出機構は、ウォーキング・ビームが移動する溝を有し、基板搬入機構の回転コロまたはベルトで処理装置に搬入された基板を、ウォーキング・ビームを溝内で移動、昇降させることにより処理部ステージ上に載置し、処理部ステージ上での処理が完了した基板を、ウォーキング・ビームを溝内で移動、昇降させることにより処理部ステージ上から搬出し、基板搬出機構の回転コロまたはベルトが基板を他の処理装置に搬出する。基板搬入機構では、基板の整列および厚み測定を予め処理することが望ましい。 The substrate carry-in mechanism and the substrate carry-out mechanism have a rotating roller or belt, and the substrate carry-in mechanism, the processing unit stage, and the substrate carry-out mechanism have a groove in which the walking beam moves, and are processed by the rotary roller or belt of the substrate carry-in mechanism The substrate loaded in the apparatus is placed on the processing unit stage by moving and moving the walking beam in the groove, and the substrate that has been processed on the processing unit stage is placed in the groove. The substrate is unloaded from the processing unit stage by moving and moving up and down, and the rotating roller or belt of the substrate unloading mechanism unloads the substrate to another processing apparatus. In the substrate carry-in mechanism, it is desirable to process the alignment and thickness measurement of the substrate in advance.
また、塗布ステージは複数のピンを有し、基板載置時に、基板は、ピンとの点接触により支持される。これら複数のピンは、先端部が凸状の曲面で、例えば、回転可能な球を有するものであることが望ましい。また、ピンは、高さ1.0mm以上、基板接触点から1mm以内の投影面積の比率が5%以下であり、隣接するピンとの距離が60mm以下になるように配置されることが望ましい。 The coating stage has a plurality of pins, and the substrate is supported by point contact with the pins when the substrate is placed. It is desirable that the plurality of pins have a curved surface with a convex tip and have, for example, a rotatable sphere. In addition, the pins are preferably arranged so that the height is 1.0 mm or more, the ratio of the projected area within 1 mm from the substrate contact point is 5% or less, and the distance from the adjacent pins is 60 mm or less.
さらに、これらの複数のピンは、塗布ステージの基部に対して別構造体として設けられ、交換や、高さの調節が可能であることが望ましい。 Further, it is desirable that these pins are provided as separate structures with respect to the base of the coating stage, and can be exchanged or the height can be adjusted.
また、第2の発明は、処理装置を用いて基板を処理する方法であって、基板搬入機構の回転コロまたはベルトで処理装置に搬入された基板を、ウォーキング・ビームを溝内で移動、昇降させることにより処理部ステージ上に載置する載置工程と、処理部ステージ上での処理が完了した基板を、ウォーキング・ビームを溝内で移動、昇降させることにより処理部ステージ上から搬出し、基板搬出機構の回転コロまたはベルトが基板を他の処理装置に搬出する搬出工程を有することを特徴とする処理方法である。 Further, the second invention is a method of processing a substrate using a processing apparatus, wherein a walking beam is moved in a groove and moved up and down a substrate carried into the processing apparatus by a rotating roller or belt of a substrate carry-in mechanism. The loading process to be placed on the processing unit stage and the substrate that has been processed on the processing unit stage are moved out of the processing unit stage by moving the walking beam in the groove and moving up and down, A rotating roller or belt of a substrate carry-out mechanism has a carry-out process for carrying the substrate to another processing apparatus.
ここで、基板搬入機構、処理部ステージ、および、基板搬出機構に設けられた溝内をウォーキング・ビームが前進、後退、昇降することにより、載置工程と搬出工程を連続して行い、処理を高速にすることができる。 Here, the walking beam advances, retreats, and moves up and down in the grooves provided in the substrate carry-in mechanism, the processing unit stage, and the substrate carry-out mechanism, so that the placement process and the carry-out process are continuously performed. It can be fast.
本発明の処理装置および処理方法は、処理装置に、ウォーキング・ビームを進入させるための溝を設け、ウォーキング・ビームを前進、後退させ、また、上下方向に動かすことにより、基板を次々に処理部ステージ上に載置でき、また、基板を点接触で支持する複数のピンを塗布ステージ上に設けることにより、ガラス基板を塗布ステージと真空密着させることなく、安定した塗布が可能である。 In the processing apparatus and the processing method of the present invention, a groove for allowing the walking beam to enter is provided in the processing apparatus, and the walking beam is moved forward and backward, and moved vertically to move the substrate one after another. By providing a plurality of pins on the coating stage that can be placed on the stage and supporting the substrate by point contact, stable coating can be achieved without vacuum-adhering the glass substrate to the coating stage.
以下、図面に基づいて本発明の形態を詳細に説明する。図1は、本発明の実施の形態にかかる塗布装置1の構成を示す斜視図、図2は、塗布装置1の構成を示す平面図、図3は、塗布装置1の塗布ステージ5の構造を示す図、図4は、ガラス基板の塗布装置1への給排出の手順を示す図、図5は、塗布ステージ5のピン43の形状および配置を示す図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of a
図1に示すように、塗布装置1は、基台3、塗布ステージ5、ダイヘッド7、ダイヘッド7を移動させるレール9aおよび9bを有し、X方向の両側に基板搬入部11および基板搬出部12を有する。基台3上の中央部に、ガラス基板を載置する塗布ステージ5が設置され、基板搬入部11によって搬入されるガラス基板が塗布ステージ5上に搬送され、塗布ステージ5上に載置される。塗布ステージ5は石等の素材から成る。
As shown in FIG. 1, the
基台3の四隅にはそれぞれ直方柱状の支持部材8a、8b、8c、8dが設けられ、支持部材8a、8bがレール9aを、支持部材8c、8dがレール9bを支持する。レール9aおよび9bには、両レール9aおよび9b間を渡すようにダイヘッド7が取り付けられており、ダイヘッド7は、レール9aおよび9bに沿って塗布ステージ5上を移動する。レール9aおよび9bはエアスライダー機構を備え、ダイヘッド7は、図示していない例えばリニアモータ等の駆動部により駆動されて、レール9aおよび9b上をスライドする。
The four corners of the
ダイヘッド7は、X方向を長手方向とする略直方体形状で、ガラス基板に対向する下面に塗布液を吐出するためのスリットが設けられている。ダイヘッド7をレール9aおよび9bに沿ってY方向に移動させることにより、塗布ステージ5上に載置したガラス基板上に塗布液を吐出し、塗布処理を行う。
The
基板搬入部11、塗布ステージ5、および基板搬出部13は一体化した構造であり、X方向に長さを有する貫通した溝27a、27b、27cを備えている。さらに、溝27a、27b、27cは、ガイドレール17a、17b、17cを具備している。このガイドレール17a、17b、17cは、基板搬入部11、塗布ステージ5、および基板搬出部13の溝27a、27b、27c内で連続して設けられている。それぞれの溝27a、27b、27c内には、ウォーキングビーム15a、15b、15cが備えられる。
The substrate carry-in
基板搬入部11は、このほか、コロコンベア19を有し、また、基板搬出部13は、コロコンベア25を有する。基板搬入部11は、ガラス基板をX方向に搬送し、塗布ステージ5上に載置し、基板搬出部13は、塗布処理を完了した塗布ステージ5上のガラス基板をX方向に搬送し、次の処理装置に搬出する。
In addition to this, the substrate carry-in
図2は、図1の塗布装置1のX1における断面図で、溝27a、27b、27c内のウォーキングビーム15a、15b、15cの構造を示している。溝27は基板搬入部11、塗布ステージ5、基板搬出部13を貫通しており、溝27内には、基板搬入部11、塗布ステージ5、基板搬出部13で連続したガイドレール17が設けられている。
Figure 2 is a cross-sectional view at X 1 of the
ウォーキングビーム15は、基板搬入部11および塗布ステージ5のX方向の長さを合わせた長さをおおよその長さとし、リフト23a、23b、23cによって走行部21a、21b、21cに取り付けられている。ガイドレール17は、例えばリニア・ガイドレールであり、走行部21a、21b、21cは、図示していないボールネジ等により駆動され、ガイドレール17上をスライドし移動する。一方、リフト23a、23b、23cは、図示していない駆動機構により回転し、ウォーキングビーム15を昇降させる。
The walking beam 15 is attached to the
図1には3本の溝27a、27b、27cとウォーキングビーム15a、15b、15cを図示しているが、その本数はこれに限るものではない。また、図2ではウォーキングビーム15を3組の走行部21とリフト23で支持しているが、その組数もこれに限るものではない。
Although FIG. 1 shows three
基板搬入部11のコロコンベア19は、図1に示すように、溝27a、27b、27cを挟むように配置され、複数のコロで構成される。コロコンベア19は、例えば、Y軸に平行な複数の回転軸を持ち、各回転軸に数枚の円盤状のコロが取り付けられている。各回転軸は図示されていない駆動装置により所定の同一の回転速度で回転し、ガラス基板をX方向の塗布ステージ5に向かって搬送する。各軸に取り付ける円盤状のコロの枚数は、図示してある枚数に限るものではない。
As shown in FIG. 1, the
また、基板搬出部13のコロコンベア25も、基板搬入部11のコロコンベア19と同様であり、溝27a、27b、27cを挟むように配置された複数のコロで構成される。コロコンベア25は図示されていない駆動装置により所定の同一の回転速度で回転し、ガラス基板をX方向の他の処理装置に向かって搬送する。
Further, the
さらに、塗布ステージ5の表面には、図3に示すように、複数のピン43および吸気孔41が設けられる。図3(a)は塗布ステージ5の斜視図、図3(b)は、図3(a)のX2における断面図である。
Further, a plurality of pins 43 and intake holes 41 are provided on the surface of the
ピン43の素材、形状、配置については後述するが、ピン43の先端は球状であり、その上に載置されるガラス基板と点接触する。複数のピン43を塗布ステージ5上に配置することにより、ガラス基板は、それらのピン43の先端との微小な点接触により支持され、塗布ステージ5上に載置される。
Although the material, shape, and arrangement of the pin 43 will be described later, the tip of the pin 43 has a spherical shape and makes point contact with a glass substrate placed thereon. By arranging the plurality of pins 43 on the
塗布ステージ5に設けられた吸気孔41は、図3(b)に示すように、塗布ステージ5の内部で吸気管45につながっており、吸気管45は、例えば、塗布ステージ5の外部に設けられたポンプ47等に接続され、塗布処理時に吸気管45を通してガラス基板51と塗布ステージ5間の空気を吸引することにより、ガラス基板51が塗布ステージ5上に安定して載置されるようにする。ポンプ47による減圧度は例えば20mmH2Oに設定し、吸気孔41の開口率は例えば5%以上にする。
As shown in FIG. 3B, the suction hole 41 provided in the
すなわち、基板搬入部11によりガラス基板51が塗布ステージ5上に載置されると、ポンプ47により減圧し、ガラス基板51の塗布ステージ5上での載置を安定させて塗布処理を行い、塗布処理が終了すると、ポンプ47を大気開放して吸引をやめ、基板搬出部12により、ガラス基板51を搬出する。
That is, when the
次に、基板搬入部11によるガラス基板51の塗布ステージ5への搬入、ダイヘッド7による塗布処理、および、基板搬出部13によるガラス基板51の搬出の手順を詳しく説明する。
Next, procedures for carrying the
図4は、図1のX1における断面図である。中央に塗布ステージ5があり、塗布ステージ5の左側にコロコンベア19を持つ基板搬入部11が、塗布ステージ5の右側にコロコンベア25を有する基板搬出部13がある。コロコンベア19および25は、図示されていない駆動装置により所定の回転速度で時計回りに回転しており、ガラス基板51aを右方向に移動させる。
Figure 4 is a cross-sectional view in X 1 of FIG. There is a
図4(a)は、塗布ステージ5においてガラス基板51aにダイヘッド7による塗布処理が行われている状態を示している。ガラス基板51aは塗布ステージ5のピン43上に載置され、レール9a、9bにそって移動するダイヘッド7によって塗布される。このとき、ガラス基板51aは塗布ステージ5の複数のピン43により支持され、図3(b)に示したポンプ47により吸気管45、吸気孔41を介して空気を吸引し、ガラス基板51aを塗布ステージ5上の複数のピン43上に固定されている。図4には、吸気孔41、吸気管45およびポンプ47は図示していない。
FIG. 4A shows a state where the coating process is performed on the
ガラス基板51aへの塗布処理実行中は、リフト23a、23b、23cは縮んだ状態で、ウォーキングビーム15は降りており、次に塗布処理を行うガラス基板51bが、前の処理装置からコロコンベア19によって矢印A方向に移動し、基板搬入部11に搬入される。ガラス基板51bが基板搬入部11の所定の位置まで搬入されると、基板搬入部11は、ガラス基板51bの整列、厚み測定等の処理を行う。
During the execution of the coating process on the
塗布ステージ5によけるガラス基板51aへの塗布処理が完了すると、図4(b)に示すように、リフト23a、23b、23cが矢印B方向に伸び、ウォーキングビーム15は上昇し、ガラス基板51aおよびガラス基板51bがウォーキングビーム15上に乗る。そして、図4(c)に示すように、走行部21a、21b、21cがガイドレール17上を矢印C方向に移動し、ウォーキングビーム15も矢印C方向に移動する。これにより、ガラス基板51aは基板搬出部13に移動し、同時に、ガラス基板51bは塗布ステージ5上に移動する。
When the coating process on the
次に、リフト23a、23b、23cが矢印D方向に縮み、ウォーキングビーム15も矢印D方向に下降する。これにより、塗布済みのガラス基板51aは基板搬出部13のコロコンベア25に乗り、次のガラス基板51bが塗布ステージ5のピン43上に載置される。そして、図3(b)に示したポンプ47により吸気管45、吸気孔41を介して空気を吸引し、ガラス基板51bを塗布ステージ5上の複数のピン43上に固定し、載置を完了し、ダイヘッド7による塗布処理が開始される。
Next, the
次に、図4(e)に示すように、基板搬出部13のコロコンベア25上に乗った塗布済みのガラス基板51aは、コロコンベア25により矢印F方向に移動し、次の処理装置に向けて搬出される。このとき、ガラス基板52bは塗布ステージ5上で塗布処理中であり、一方、基板搬入部11には、その次に塗布処理を行うガラス基板51cがコロコンベア19上を矢印G方向に移動し、前の処理装置から基板搬入部11に搬入される。また、このとき、ウォーキングビーム15は下降した状態のままで、走行部21a、21b、21cが矢印E方向にガイドレール17上を移動し、図4(a)に示した位置まで戻る。
Next, as shown in FIG. 4 (e), the
そして、以上の工程を繰り返すことにより、ガラス基板51は前の処理装置から順次連続的に塗布装置1に搬入され、塗布処理が行われ、次の処理装置へ搬出される。
Then, by repeating the above steps, the
以上のように、基板搬入部11および塗布ステージ5のX方向の長さを合わせた長さのウォーキングビーム15を右方向、および左方向に交互に移動させることにより、ガラス基板51を次々に塗布ステージ5上に載置することが可能になり、塗布処理工程のスループットが向上する。また、ガラス基板全面を塗布ステージ上に真空吸着しないですむので、剥離帯電等によるガラス基板の破損が起こることがなく、ガラス基板の搬入搬出を高速に行うことができる。
As described above, the
また、ガラス基板51は、塗布ステージ5上で複数のピン43の先端の微小面により支持されており、塗布処理中もガラス基板51の全面を空気層が覆ってるので、熱伝導度が一定で、塗布液の蒸発に場所による差が生じず、塗布膜に跡が出ることがなく、膜厚が均一な安定した塗布が可能である。
Further, the
次に、ガラス基板51の支持に適するピン43の形状と配置、材質について説明する。図5に示すように、ピン43は塗布ステージ5の上に取り付けられ、その先端部でガラス基板51を支持する。
Next, the shape, arrangement, and material of the pins 43 suitable for supporting the
ピン43は、例えば、樹脂や金属等の素材で構成する。塗布ステージ5のベース面は例えば石等の素材で構成されており、ピン43は塗布ステージ5のベースとは別体構造である。塗布ステージ5上にピン43を接着したり、ピン43を脱着可能にして、ガラス基板の大きさ等に依存してピンを交換したり、高さを調整できるようにすることもできる。
The pin 43 is made of a material such as resin or metal, for example. The base surface of the
ピン43の先端の形状は、ガラス基板51と微小面積で点接触するよう、球状等にすることが望ましい。例えば、図5に示すように、柱状の軸の先端部に直径2mm以下の球を接合する。ピン43の高さh1は1.0mm以上、ガラス基板51との接触点から1mm以内のピン43の投影面積の比率を5%以下にするとよい。さらに、ピン43の配置は、間隔dが60mm以下になるようにするとよい。
It is desirable that the tip of the pin 43 has a spherical shape or the like so as to make point contact with the
ウォーキングビーム15の動作制御、および、ポンプ47による吸気、大気開放の制御は、図示していない、例えばコンピュータで行う。
The operation control of the walking beam 15 and the control of intake and release to the atmosphere by the
尚、本発明は、前述した実施の形態に限定されるものではなく、種々の改変が可能であり、それらも、本発明の技術範囲に含まれる。例えば、コロコンベア19、25に代えてベルトを用いることができ、さらに、ウォーキングビーム15の駆動機構としてボールネジ、エアシリンダ等を用いることもできる。また、塗布装置に限らず、露光装置等の他の処理装置にも本発明を適用することが可能である。
The present invention is not limited to the embodiment described above, and various modifications are possible, and these are also included in the technical scope of the present invention. For example, a belt can be used in place of the
本発明によれば、基板を効率よく、高速に搬入搬出することができ、液晶用カラーフィルタ等の製造ラインに用いることが可能である。また、塗布面に跡が出ず高精度の塗布処理が可能であり、蒸発しやすい材料、例えば有機EL(エレクトロ・ルミネサンス)材等の塗布装置に用いることができる。 According to the present invention, the substrate can be carried in and out efficiently at high speed, and can be used in a production line for liquid crystal color filters and the like. In addition, the coating surface does not leave a mark and can be applied with high precision, and can be used for a coating apparatus such as a material that easily evaporates, such as an organic EL (electroluminescence) material.
1………塗布装置
3………基台
5………塗布ステージ
7………ダイヘッド
11………基板搬入部
13………基板搬出部
15………ウォーキングビーム
17………ガイドレール
19、25………コロコンベア
27………溝
43………ピン
DESCRIPTION OF
Claims (12)
基板を処理部ステージ上に載置する基板搬入機構と、
処理済みの基板を処理部ステージ上から搬出する基板搬出機構とを備え、
前記基板搬出機構により基板が塗布ステージ上から搬出されると、同時に、基板搬入機構が次の基板を塗布ステージ上に載置することを特徴とする処理装置。 A processing apparatus for processing a substrate placed on a coating stage,
A substrate carry-in mechanism for placing the substrate on the processing unit stage;
A substrate unloading mechanism for unloading the processed substrate from the processing unit stage;
When the substrate is unloaded from the coating stage by the substrate unloading mechanism, the substrate loading mechanism places the next substrate on the coating stage at the same time.
前記基板搬入機構の回転コロまたはベルトで前記処理装置に搬入された基板を、前記ウォーキング・ビームを前記溝内で移動、昇降させることにより前記処理部ステージ上に載置し、前記処理部ステージ上での処理が完了した基板を、前記ウォーキング・ビームを前記溝内で移動、昇降させることにより前記処理部ステージ上から搬出し、前記基板搬出機構の回転コロまたはベルトが基板を他の処理装置に搬出することを特徴とする請求項2に記載の処理装置。 The substrate carry-in mechanism, the processing unit stage, and the substrate carry-out mechanism have a groove in which the walking beam moves,
The substrate carried into the processing apparatus by the rotating roller or belt of the substrate carrying mechanism is placed on the processing unit stage by moving the walking beam in the groove and moving up and down, and on the processing unit stage. The substrate that has been processed in (1) is unloaded from the processing unit stage by moving the walking beam in the groove and moving it up and down, and the rotating roller or belt of the substrate unloading mechanism transfers the substrate to another processing apparatus. The processing apparatus according to claim 2, wherein the processing apparatus is carried out.
前記基板搬入機構の回転コロまたはベルトで前記処理装置に搬入された基板を、前記ウォーキング・ビームを前記溝内で移動させることにより前記処理部ステージ上に載置する載置工程と、
前記処理部ステージ上での処理が完了した基板を、前記ウォーキング・ビームを前記溝内で移動させることにより前記処理部ステージ上から搬出し、前記基板搬出機構の回転コロまたはベルトが基板を他の処理装置に搬出する搬出工程を有することを特徴とする処理方法。 A method of processing a substrate using the processing apparatus,
A placing step of placing the substrate carried into the processing apparatus with a rotating roller or belt of the substrate carrying-in mechanism on the processing unit stage by moving the walking beam in the groove;
The substrate that has been processed on the processing unit stage is unloaded from the processing unit stage by moving the walking beam in the groove, and the rotating roller or belt of the substrate unloading mechanism moves the substrate to another substrate. A processing method comprising an unloading step of unloading to a processing apparatus.
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JP2005222996A true JP2005222996A (en) | 2005-08-18 |
Family
ID=34998421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004026696A Pending JP2005222996A (en) | 2004-02-03 | 2004-02-03 | Treating device and treatment method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005222996A (en) |
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2004
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