JP2005204983A - Radiographic system - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、医療分野や、非破壊検査,RI(Radio isotope)検査,および光学検査などの工業分野や、原子力分野などに用いられる放射線撮像装置に係り、特に、画素について校正を行う技術に関する。 The present invention relates to a radiation imaging apparatus used in the medical field, industrial fields such as non-destructive inspection, RI (Radio isotope) inspection, and optical inspection, and nuclear power field, and more particularly to a technique for calibrating pixels.
従来、放射線を遮蔽する遮蔽物として代表的なものに、散乱するX線を除去するX線グリッドや、撮像画像の画素に関するフィルタを行う補償フィルタや、被検体を載置する天板(ベッド)がある。X線グリッドは、鉛(Pb)とアルミニウム(Al)とを交互に並設して構成されており、散乱したX線は鉛によって遮られる。X線グリッドは、例えばフラットパネル型放射線検出器(FPD)などに代表される放射線検出手段のX線照射側(検出側)に隣接して配設される。 Conventionally, as a typical shielding object for shielding radiation, an X-ray grid that removes scattered X-rays, a compensation filter that performs filtering on pixels of a captured image, and a top plate (bed) on which a subject is placed There is. The X-ray grid is configured by alternately arranging lead (Pb) and aluminum (Al), and scattered X-rays are blocked by lead. The X-ray grid is disposed adjacent to the X-ray irradiation side (detection side) of radiation detection means represented by, for example, a flat panel radiation detector (FPD).
ところで、上述したFPDは、感応膜が基板上に積層されて構成されており、その感応膜に入射した放射線を検出して、検出された放射線を電荷に変換して、2次元アレイ状に配置されたキャパシタに電荷を蓄積する。蓄積された電荷はスイッチング素子をONすることで読み出されて、電気信号として画像処理手段に送り込まれる。したがって、キャパシタやスイッチング素子を構成する検出素子ごとに蓄積される電荷の量にバラツキがあり、それによって検出素子ごとの電気信号に基づく画素についてもバラツキがある。かかるバラツキをなくすために、例えば検出素子ごとの増幅器(アンプ)のゲインをそれぞれ調節して出力側をそろえるキャリブレーション(校正)を行う(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、被検体の撮像部位や撮像の対象となる被検体に応じて撮像に用いる各々のX線グリッドは異なる。キャリブレーション時には、各々のX線グリッドに応じてキャリブレーションデータ(校正情報、すなわち補正係数)が異なるので、被検体の撮像部位や撮像の対象となる被検体に応じたX線グリッドに切り換えてキャリブレーションを行う。 However, each X-ray grid used for imaging differs depending on the imaging region of the subject and the subject to be imaged. At the time of calibration, calibration data (calibration information, that is, correction coefficient) differs depending on each X-ray grid. Therefore, the calibration is performed by switching to the X-ray grid corresponding to the imaging region of the subject or the subject to be imaged. Perform
X線グリッドを切り換えたにも関わらずキャリブレーションを行うのを忘れたり、逆にX線グリッドを切り換えていないにも関わらずキャリブレーションを行ったりする事態がある。また、X線グリッド以外にも天板や補償フィルタのような遮蔽物にも考慮して今回のキャリブレーション(校正)が正しいか否かを決定しなければならない。 There are situations in which the user forgets to perform the calibration even when the X-ray grid is switched, or the calibration is performed although the X-ray grid is not switched. In addition to the X-ray grid, it is necessary to determine whether or not the current calibration is correct in consideration of a shielding object such as a top plate or a compensation filter.
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、今回の校正が正しいか否かを確実に決定することができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a radiation imaging apparatus that can reliably determine whether or not the current calibration is correct.
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。 In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
すなわち、請求項1に記載の発明は、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、検出された放射線に基づく画素について放射線検出手段を構成する各々の検出素子ごとに校正を行う画素校正手段と、検出された放射線に基づいて画像処理を行う画像処理手段とを備え、画素校正手段で画素の校正を行い画像処理手段で画像処理を行うことで、被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、過去に求められた画素の校正のための校正情報を記憶する校正情報記憶手段と、今回の校正における校正情報・校正情報記憶手段から読み出された前回または前回よりも過去の校正における校正情報の両者を比較する校正情報比較手段と、校正情報の比較結果に基づいて今回の撮像における校正情報が異常か否かを検出する異常検出手段とを備えることを特徴とするものである。 That is, the invention according to claim 1 is a pixel detection unit that calibrates each detection element constituting the radiation detection unit with respect to a radiation detection unit that detects radiation transmitted through the subject and a pixel based on the detected radiation. And a radiographic imaging device that images a subject by calibrating the pixel by the pixel calibration unit and performing the image processing by the image processing unit, and image processing unit that performs image processing based on the detected radiation The calibration information storage means for storing the calibration information for pixel calibration obtained in the past, and the previous calibration read from the calibration information / calibration information storage means in the current calibration or a past calibration from the previous time. Calibration information comparing means for comparing the calibration information in the camera and an abnormality detecting means for detecting whether or not the calibration information in the current imaging is abnormal based on the comparison result of the calibration information. It is characterized by that.
[作用・効果]請求項1に記載の発明によれば、校正情報比較手段は、今回の校正における校正情報・校正情報記憶手段から読み出された前回または前回よりも過去の校正における校正情報の両者を比較し、異常検出手段は、校正情報の比較結果に基づいて今回の校正における校正情報が異常か否かを検出する。したがって、過去に行われた校正における校正情報と比較して今回の校正情報が異常でないか否かがわかり、比較結果および異常検出により今回の校正が正しいか否かを確実に決定することができる。 [Operation / Effect] According to the invention described in claim 1, the calibration information comparison unit reads the calibration information in the previous calibration or the previous calibration read from the calibration information / calibration information storage unit in the current calibration. Comparing the two, the abnormality detection means detects whether or not the calibration information in the current calibration is abnormal based on the comparison result of the calibration information. Therefore, it can be determined whether or not the current calibration information is not abnormal compared with the calibration information in the calibration performed in the past, and whether or not the current calibration is correct can be reliably determined by the comparison result and the abnormality detection. .
上述した発明において、校正情報は、放射線検出手段の検出側より手前で放射線を遮蔽する遮蔽物(例えばX線グリッドや天板など)を挿入した状態で校正を行って得られた情報であり、校正情報記憶手段は、遮蔽物を挿入して得られた両校正情報を比較しもよいし、遮蔽物を除いた状態で校正を行って得られた情報であり、校正情報記憶手段は、遮蔽物を除いて得られた両校正情報を比較してもよい(請求項2に記載の発明)。 In the above-described invention, the calibration information is information obtained by performing calibration in a state in which a shielding object (for example, an X-ray grid, a top plate, etc.) that shields radiation from the detection side of the radiation detection means is inserted, The calibration information storage means may compare both calibration information obtained by inserting the shielding object, or is information obtained by performing calibration in a state where the shielding object is removed. You may compare the both calibration information obtained except the thing (invention of Claim 2).
後者のように遮蔽物を除いた場合には、前回あるいは前回よりも過去の校正における校正情報と今回の校正における校正情報とは、ともに遮蔽物を除いた同じ条件で本来は得られるはずである。したがって、今回の校正で遮蔽物を除くことを仮に忘れたとしても、遮蔽物を除くことを忘れることで得られた今回の校正情報は比較結果および異常検出により異常であることが即座にわかる。よって、後者の方が好ましい。また、遮蔽物を除くことを忘れて校正を行う事態を防止することができる。また、遮蔽物を除くことで放射線に基づくデータの最大値を得て、最大値のデータを得ることで遮蔽物を挿入した場合と比較して分解能が向上して(すなわちダイナミックレンジが広くなって)、画素の校正の実行で、より正確な撮像を行うことができる。 When the shielding is removed as in the latter case, both the calibration information in the previous calibration and the calibration information in the previous calibration and the calibration information in the current calibration should both be obtained under the same conditions except for the shielding. . Therefore, even if it is forgotten to remove the shielding object in the current calibration, it is immediately understood that the current calibration information obtained by forgetting to remove the shielding object is abnormal by the comparison result and the abnormality detection. Therefore, the latter is preferable. In addition, it is possible to prevent a situation where calibration is forgotten to remove the shielding object. In addition, the maximum value of the radiation-based data is obtained by removing the shielding object, and the resolution is improved compared to the case where the shielding object is inserted by obtaining the maximum value data (that is, the dynamic range is widened). ) By performing pixel calibration, more accurate imaging can be performed.
また、異常検出手段から異常を検出したら報知する報知手段を備えること(請求項3に記載の発明)で、今回の校正における校正情報が異常であれば報知手段からの報知によりかかる異常が即座にわかる。 Further, by providing a notifying means for notifying when an abnormality is detected from the abnormality detecting means (the invention according to claim 3), if the calibration information in the current calibration is abnormal, the abnormality is immediately reported by the notification from the notifying means. Understand.
この発明に係る放射線撮像装置によれば、校正情報比較手段は、今回の校正における校正情報・校正情報記憶手段から読み出された前回または前回よりも過去の校正における校正情報の両者を比較し、異常検出手段は、校正情報の比較結果に基づいて今回の校正における校正情報が異常か否かを検出するので、過去に行われた校正における校正情報と比較して今回の校正情報が異常でないか否かがわかり、比較結果および異常検出により今回の校正が正しいか否かを確実に決定することができる。 According to the radiation imaging apparatus according to the present invention, the calibration information comparison unit compares both the calibration information in the previous calibration read from the calibration information / calibration information storage unit in the current calibration or the previous calibration from the previous calibration, The abnormality detection means detects whether or not the calibration information in the current calibration is abnormal based on the comparison result of the calibration information, so whether or not the current calibration information is abnormal compared to the calibration information in the calibration performed in the past. Whether or not the current calibration is correct can be surely determined based on the comparison result and the abnormality detection.
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1は、実施例に係るX線診断装置のブロック図であり、図2は、X線診断装置に用いられる側面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路であり、図3は、平面視したフラットパネル型X線検出器の等価回路である。本実施例では、放射線検出手段としてフラットパネル型X線検出器(以下、適宜「FPD」という)を例に採るとともに、放射線撮像装置としてX線診断装置を例に採って説明する。 FIG. 1 is a block diagram of an X-ray diagnostic apparatus according to an embodiment, FIG. 2 is an equivalent circuit of a flat panel X-ray detector used in the X-ray diagnostic apparatus as viewed from the side, and FIG. It is the equivalent circuit of the seen flat panel type X-ray detector. In this embodiment, a flat panel X-ray detector (hereinafter referred to as “FPD” as appropriate) is taken as an example of radiation detection means, and an X-ray diagnostic apparatus is taken as an example of a radiation imaging apparatus.
本実施例に係るX線診断装置は、図1に示すように、被検体Mを載置する天板1と、その被検体Mに向けてX線を照射するX線管2と、被検体Mを透過したX線を検出するFPD3や散乱するX線を除去するX線グリッド4やX線グリッド4を移動させるグリッド駆動機構5などを内部に有した検出ユニット6とを備えている。X線グリッド4は、FPD3の検出側(X線照射側)に隣接して配設される。グリッド駆動機構5は、撮像位置と退避位置との間でX線グリッド4を移動させる機構である。FPD3はこの発明における放射線検出手段に相当し、天板1やX線グリッド4はこの発明における遮蔽物に相当する。
As shown in FIG. 1, the X-ray diagnostic apparatus according to the present embodiment includes a top plate 1 on which a subject M is placed, an X-ray tube 2 that irradiates the subject M with X-rays, and a subject. An
X線診断装置は、他に、天板1の昇降および水平移動を制御する天板制御部7や、検出ユニット6の走査を制御するユニット制御部8や、X線管2の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部9を有するX線管制御部10や、FPD3から電荷信号であるX線検出信号についてキャリブレーションを行うキャリブレーション部11や、キャリブレーションされたX線検出信号をディジタル化して取り出すA/D変換器12や、A/D変換器12から出力されたX線検出信号に基づいて種々の処理を行う画像処理部13や、キャリブレーションのためのキャリブレーションデータを比較するデータ比較部14や、データ比較部14での比較結果に基づいて今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータが異常か否かを検出する異常検出部15や、これらの各構成部を統括するコントローラ16や、処理された画像やキャリブレーションデータや異常検出の目安となる異常設定値などを記憶するメモリ部17や、オペレータが入力設定を行う入力部18や、異常検出部15で異常を検出したらオペレータに報知するランプ19・ブザー20や、処理された画像などを表示するモニタ21などを備えている。キャリブレーション部はこの発明における画素校正手段に相当し、A/D変換器12および画像処理部13はこの発明における画像処理手段に相当し、データ比較部14はこの発明における校正情報比較手段に相当し、異常検出部15はこの発明における異常検出手段に相当し、ランプ19やブザー20はこの発明における報知手段に相当する。
In addition, the X-ray diagnostic apparatus includes a top
天板制御部7は、天板1を水平移動させて被検体Mを撮像位置にまで収容したり、昇降よび水平移動させて被検体Mを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ユニット制御部8は、FPD3を水平移動させたり、被検体Mの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部9は、X線を照射させるための管電圧や管電流を発生してX線管2に与え、X線管制御部10は、X線管2を水平移動させたり、被検体Mの体軸の軸心周りに回転移動させるによる走査に関する制御や、X線管3側のコリメータ(図示省略)の照視野の設定の制御などを行う。なお、X線管2やFPD3の走査の際には、X線管2から照射されたX線をFPD3が検出できるようにX線管2およびFPD3が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。
The top
キャリブレーション部11は、FPD3から出力された電荷信号、すなわち画素について校正を行うものであって、本実施例では後述するスイッチング素子32ごとの増幅器(アンプ)38(図3参照)のゲインをそれぞれ調節して出力側をそろえる。A/D変換器12は、キャリブレーションされた電荷信号をアナログからディジタルに変換して、ディジタル化したX線検出信号を出力する。コントローラ16は、中央演算処理装置(CPU)などで構成されており、メモリ部17は、ROM(Read-only Memory)やRAM(Random-Access Memory)などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部18は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。X線診断装置では、被検体Mを透過したX線をFPD3が検出して、検出されたX線に基づいてキャリブレーション部11でキャリブレーションを行い画像処理部13で画像処理を行うことで被検体Mの撮像を行う。なお、上述した過去のキャリブレーションにおけるゲインはキャリブレーションを行うためのキャリブレーションデータとして後述するキャリブレーションメモリ部22に予め記憶されている。
The
本実施例では、メモリ部15は、過去に求められたキャリブレーションデータを記憶するキャリブレーションデータメモリ部22と、上述した異常設定値を記憶する異常設定値メモリ部23とをさらに備えている。したがって、キャリブレーションデータはこの発明における校正情報に相当し、キャリブレーションデータメモリ部22はこの発明における校正情報記憶手段に相当する。
In the present embodiment, the
データ比較部14および異常検出部15は、比較器などで構成されている。データ比較部14の場合には、今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータと、キャリブレーションデータメモリ部15から読み出された前回または前回よりも過去のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータとを比較する。異常検出部15は、データ比較部14での比較結果と、異常設定値メモリ部23から読み出された異常設定値とを比較して、さらにその比較結果とで今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータが異常か否かを検出する。例えば、今回のキャリブレーションを行うための増幅器38のゲインの値がaであって、前回または前回よりも過去のキャリブレーションにおける増幅器38のゲインの値がbのときには、データ比較部14で比較結果として『(a−b)』を求める。異常設定値は過去に異常とみなされた所定値以上のゲイン差がキャリブレーションデータメモリ部15に記憶されている。ゲイン差をcとすると、(a−b)の絶対値がその異常設定差でもあるゲイン差c未満であれば、異常検出部15は異常でないと判定し、(a−b)の絶対値がゲイン差c以上であれば、異常検出部15は異常であると判定する。
The
FPD3は、図2に示すように、ガラス基板31と、ガラス基板31上に形成された薄膜トランジスタTFTとから構成されている。薄膜トランジスタTFTについては、図2、図3に示すように、縦・横式2次元マトリクス状配列でスイッチング素子32が多数個(例えば、1024個×1024個)形成されており、キャリア収集電極33ごとにスイッチング素子32が互いに分離形成されている。すなわち、FPD3は、2次元アレイ放射線検出器でもある。
As shown in FIG. 2, the
図2に示すようにキャリア収集電極33の上にはX線感応型半導体34が積層形成されており、図2、図3に示すようにキャリア収集電極33は、スイッチング素子32のソースSに接続されている。ゲートドライバ35からは複数本のゲートバスライン36が接続されているとともに、各ゲートバスライン36はスイッチング素子32のゲートGに接続されている。一方、図3に示すように、電荷信号を収集して1つに出力するマルチプレクサ37には増幅器38を介して複数本のデータバスライン39が接続されているとともに、図2、図3に示すように各データバスライン39はスイッチング素子32のドレインDに接続されている。
As shown in FIG. 2, an X-ray
図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン36の電圧を印加(または0Vに)することでスイッチング素子32のゲートがONされて、キャリア収集電極33は、検出面側で入射したX線からX線感応型半導体34を介して変換された電荷信号(キャリア)を、スイッチング素子32のソースSとドレインDとを介してデータバスライン39に読み出す。なお、スイッチング素子がONされるまでは、電荷信号はキャパシタ(図示省略)で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン39に読み出された電荷信号を増幅器38で増幅して、マルチプレクサ37で1つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をA/D変換器12でディジタル化してX線検出信号として出力する。
With the bias voltage applied to the common electrode (not shown), the gate of the switching
次に、本実施例装置における一連のキャリブレーションの制御シーケンスについて、図4のフローチャートを参照して説明する。なお、このシーケンスでは取り忘れを除いて、天板1やX線グリッド4などの遮蔽物は退避位置に既に移動しているとして説明する。 Next, a series of calibration control sequences in the apparatus of this embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. In this sequence, the description will be made on the assumption that the obstruction such as the top plate 1 and the X-ray grid 4 has already moved to the retreat position except forgetting to remove it.
(ステップS1)キャリブレーションデータを求める
キャリブレーション部11は、出力側となるスイッチング素子32ごとの画素が同じになるように、各々の増幅器38のゲインを求める。求められたゲインをキャリブレーションデータとして、キャリブレーション部11を介してデータ比較部14に送る。このとき、電荷信号の値に応じてゲインを実際に調節するキャリブレーションを行わない。
(Step S1) Obtaining Calibration Data The
(ステップS2)データ比較
データ比較部14に送られた今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータと、キャリブレーションデータメモリ部15から読み出された前回または前回よりも過去のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータとをデータ比較部14は比較する。この比較結果を異常検出部15に送る。
(Step S2) Data comparison The calibration data in the current calibration sent to the
(ステップS3)異常検出?
異常検出部15に送られたデータ比較部14での比較結果と、異常設定値メモリ部23から読み出された異常設定値とを比較して、さらにその比較結果とで今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータが異常か否かを異常検出部15は検出する。異常検出の場合には、今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションが間違っているとして、オペレータに報知するためにステップS4に移行する。異常検出でない場合には、今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータが正しいとして、キャリブレーションを実際に行うためにステップS6に跳ぶ。
(Step S3) Abnormality detection?
The comparison result in the
(ステップS4)ランプ・ブザーで報知
オペレータに報知するために、ランプ19を点灯させてブザー20を鳴らす。
(Step S4) Notification with lamp / buzzer In order to notify the operator, the
(ステップS5)遮蔽物退避
天板1やX線グリッド4などの遮蔽物を取り除くのを忘れたことで今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションが間違っているとして、オペレータは遮蔽物を退避位置に移動させることで取り除く。そして、ステップS1に戻る。
(Step S5) Shield evacuation The operator moves the shield to the evacuation position on the assumption that the calibration in the current calibration is wrong due to forgetting to remove the shield such as the top board 1 and the X-ray grid 4 Remove it. Then, the process returns to step S1.
(ステップS6)キャリブレーション実行
今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータが正しいとして、そのキャリブレーションデータを用いてキャリブレーションを実行する。
(Step S6) Calibration Execution Assuming that the calibration data in this calibration is correct, calibration is executed using the calibration data.
(ステップS7)キャリブレーションデータ記憶
キャリブレーションを実行したら、次回のキャリブレーションに備えて今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータをキャリブレーションデータメモリ部22に書き込んで記憶する。
(Step S7) Calibration Data Storage When calibration is executed, calibration data in the current calibration is written and stored in the calibration
以上のように構成された本実施例装置によれば、データ比較部14は、今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータ・キャリブレーションメモリ部22から読み出された前回または前回よりも過去のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータの両者を比較し、異常検出部15は、キャリブレーションデータの比較結果に基づいて今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータが異常か否かを検出する。したがって、過去に行われたキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータと比較して今回のキャリブレーションデータが異常でないか否かがわかり、比較結果および異常検出により今回のキャリブレーションが正しいか否かを確実に決定することができる。
According to the apparatus of the present embodiment configured as described above, the
本実施例では、キャリブレーションデータは、天板1やX線グリッド4などの遮蔽物を除いた状態でキャリブレーションを行って得られたゲインであり、データ比較部14は、遮蔽物を除いて得られた両キャリブレーションデータを比較している。このように遮蔽物を除いた場合には、前回あるいは前回よりも過去の校正におけるキャリブレーションデータと今回の校正におけるキャリブレーションデータとは、ともに遮蔽物を除いた同じ条件で本来は得られるはずである。したがって、今回の校正で遮蔽物を除くことを仮に忘れたとしても、遮蔽物を除くことを忘れることで得られた今回のキャリブレーションデータはステップS2での比較結果およびステップS3での異常検出により異常であることが即座にわかる。また、遮蔽物を除くことを忘れてキャリブレーションを行う事態を防止することができる。また、遮蔽物を除くことで放射線に基づく画素の最大値を得て、最大値のデータを得ることで遮蔽物を挿入した場合と比較して分解能が向上して(すなわちダイナミックレンジが広くなって)、キャリブレーションの実行で、より正確な撮像を行うことができる。
In this embodiment, the calibration data is a gain obtained by performing calibration in a state in which the shielding object such as the top plate 1 or the X-ray grid 4 is excluded, and the
本実施例では、異常検出部15から異常を検出したら報知するランプ19・ブザー20を備えることで、今回のキャリブレーションにおけるキャリブレーションデータが異常であればランプ19・ブザー20からの報知によりかかる異常が即座にわかる。
In the present embodiment, the
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be modified as follows.
(1)上述した実施例では、図1に示すようなX線診断装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばC型アームに配設されたX線診断装置にも適用してもよい。また、この発明は、X線CT装置にも適用してもよい。 (1) In the above-described embodiment, the X-ray diagnostic apparatus as shown in FIG. 1 has been described as an example. However, the present invention is also applied to an X-ray diagnostic apparatus disposed on a C-type arm, for example. Also good. The present invention may also be applied to an X-ray CT apparatus.
(2)上述した実施例では、フラットパネル型X線検出器(FPD)3を例に採って説明したが、各々の検出素子から構成されるX線検出器であれば、この発明は適用することができる。 (2) In the above-described embodiment, the flat panel X-ray detector (FPD) 3 has been described as an example. However, the present invention is applicable to any X-ray detector configured from each detection element. be able to.
(3)上述した実施例では、X線を検出するX線検出器を例に採って説明したが、この発明は、ECT(Emission Computed Tomography)装置のように放射性同位元素(RI)を投与された被検体から放射されるγ線を検出するγ線検出器に例示されるように、放射線を検出する放射線検出器であれば特に限定されない。同様に、この発明は、上述したECT装置に例示されるように、放射線を検出して撮像を行う装置であれば特に限定されない。 (3) In the above-described embodiments, the X-ray detector for detecting X-rays has been described as an example. However, in the present invention, a radioisotope (RI) is administered like an ECT (Emission Computed Tomography) apparatus. The radiation detector is not particularly limited as long as it is a radiation detector that detects radiation, as exemplified by a γ-ray detector that detects γ-rays emitted from a subject. Similarly, the present invention is not particularly limited as long as it is an apparatus that performs imaging by detecting radiation, as exemplified by the ECT apparatus described above.
(4)上述した実施例では、FPD3は、放射線(実施例ではX線)感応型の半導体を備え、入射した放射線を放射線感応型の半導体で直接的に電荷信号に変換する直接変換型の検出器であったが、放射線感応型の替わりに光感応型の半導体を備えるとともにシンチレータを備え、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、変換された光を光感応型の半導体で電荷信号に変換する間接変換型の検出器であってもよい。
(4) In the above-described embodiment, the
(5)遮蔽物は、上述した天板1やX線グリッド4に限定されない。撮像画像の画素に関するフィルタを行う補償フィルタなどに例示されるように、放射線検出手段(実施例ではFPD)の検出側より手前で放射線を遮蔽する遮蔽物であれば、この発明は適用することができる。 (5) The shield is not limited to the top plate 1 and the X-ray grid 4 described above. The present invention can be applied to any shielding object that shields radiation before the detection side of the radiation detection means (FPD in the embodiment), as exemplified by a compensation filter that performs a filter related to pixels of the captured image. it can.
(6)上述した実施例では、ランプ19やブザー20をこの発明における報知手段としたが、オペレータの視覚や聴覚などの五感に訴えかけて報知するものであれば特に限定されない。
(6) In the above-described embodiment, the
(7)上述した実施例では、ランプ19やブザー20に代表される報知手段を備えたが、報知手段は必ずしも必要でない。例えば、実施例のステップS3で異常を検出したら、オペレータに報知せずにコントローラ16がグリッド駆動機構5や天板制御部7などを制御して、X線グリッド4や天板1などの遮蔽物を自動で退避させた後に、キャリブレーションを実行するようにコントローラ16がキャリブレーション部11を制御してもよい。また、かかる制御と報知とを両方組み合わせてもよい。
(7) In the above-described embodiment, the notification means represented by the
(8)上述した実施例では、増幅器のゲインをキャリブレーションデータとして比較したが、出力側となるスイッチング素子32ごとの画素をキャリブレーションデータとして比較してもよい。
(8) In the above-described embodiment, the gain of the amplifier is compared as calibration data. However, the pixel for each switching
(9)上述した実施例では、遮蔽物を除いた状態でキャリブレーションデータを比較したが、遮蔽物を挿入した状態でのキャリブレーションデータを比較して異常を検出してもよい。この場合には、遮蔽物を考慮してキャリブレーションデータを比較する。ただ、遮蔽物を考慮してキャリブレーションデータを比較するので、異常であることを即座にわかる点を鑑みれば実施例の方が好ましい。 (9) In the above-described embodiment, the calibration data is compared in a state where the shielding object is removed. However, the abnormality may be detected by comparing the calibration data in a state where the shielding object is inserted. In this case, the calibration data is compared in consideration of the shielding object. However, since the calibration data is compared in consideration of the shielding object, the embodiment is preferable in view of the fact that it can be immediately recognized that it is abnormal.
1 … 天板
3 … フラットパネル型X線検出器(FPD)
4 … X線グリッド
11 … キャリブレーション部
12 … A/D変換器
13 … 画像処理部
14 … データ比較部
15 … 異常検出部
19 … ランプ
20 … ブザー
22 … キャリブレーションデータメモリ部
M … 被検体
1 ...
DESCRIPTION OF SYMBOLS 4 ...
Claims (3)
The radiation imaging apparatus according to claim 1, further comprising a notification unit that notifies when an abnormality is detected from the abnormality detection unit.
Priority Applications (1)
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007222447A (en) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Fujifilm Corp | Radiographic imaging system and method |
JP2008228750A (en) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Fujifilm Corp | Radiation image photographing apparatus, and method of detecting abnormality in radiation image photographing apparatus |
JP2010029238A (en) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Hitachi Medical Corp | X-ray diagnostic apparatus |
JP2011075337A (en) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Radiation detecting device |
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2004
- 2004-01-23 JP JP2004015436A patent/JP2005204983A/en active Pending
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